JP2021062498A - Production method of metal structure forming original plate, production method of metal structure, metal structure forming original plate, metal structure, and resin molded article - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、金属構造体形成用原版の製造方法、金属構造体の製造方法、金属構造体形成用原版、金属構造体、及び樹脂成形品に関するものである。 The present disclosure relates to a method for producing an original plate for forming a metal structure, a method for producing a metal structure, an original plate for forming a metal structure, a metal structure, and a resin molded product.
樹脂成形品は、金属製金型を用いて射出成形、ブロー成形、或いはプレス成形により製造されている(例えば、特許文献1等)。金属製金型を作製する方法としては、鋳型を原版として用い、メッキ処理によって金属を堆積して所望の形状を造形して金属製金型を作製する方法や、切削法により金属製金型を作製する方法が挙げられる。
The resin molded product is manufactured by injection molding, blow molding, or press molding using a metal mold (for example,
しかしながら、従来の鋳型を使用して金属製金型を作製する場合には、鋳型の精度に限界があるため、それを用いた金属製金型への造形範囲に制約があった。また、鋳型から金属製金型を分離する際に破損してしまう等の問題もあり、微細構造を有する金属製金型を製造することが困難であった。 However, when a metal mold is manufactured using a conventional mold, the accuracy of the mold is limited, so that the range of molding into a metal mold using the mold is limited. In addition, there is a problem that the metal mold is damaged when it is separated from the mold, and it is difficult to manufacture a metal mold having a fine structure.
また、切削法により金属製金型を作製する場合も、切削バイトの切削精度に限界があり、微細な金属製金型を作製する場合には、多大な手間及びコストがかかった。 Further, even when the metal mold is manufactured by the cutting method, the cutting accuracy of the cutting tool is limited, and when the fine metal mold is manufactured, a great deal of labor and cost are required.
また、メイン部(基材部)とピン部(階段構造部)を分離した入れ子式金属製金型では、精密かつ微細な形状を実現できる一方で、多面付けによる製造を考えた際に金属製金型のコストが非常に高くなってしまう、という問題があった。 In addition, the nested metal mold in which the main part (base material part) and the pin part (staircase structure part) are separated can realize a precise and fine shape, but when considering manufacturing by multi-imposition, it is made of metal. There was a problem that the cost of the mold became very high.
そのため、いずれの方法を用いても、微細構造を有する金属製金型等の金属構造体を、容易に、かつ、安価に得ることができなかった。 Therefore, no matter which method is used, a metal structure such as a metal mold having a fine structure cannot be easily and inexpensively obtained.
本開示は、金属構造体を、容易に、かつ、安価に製造することが可能な金属構造体形成用原版の製造方法を提供することを主目的とする。 A main object of the present disclosure is to provide a method for producing an original plate for forming a metal structure, which can easily and inexpensively produce a metal structure.
本開示は、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第1のパターンを有する保護膜を形成する工程と、上記第1のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部を形成する工程と、上記第1の凹部の表面に保護膜を形成した後、上記第1底面に上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第2のパターンを有する保護膜を上記シリコン基板上に形成する工程と、上記第2のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部を形成する工程と、を有し、上記第1底面に上記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成された金属構造体形成用原版を製造する、金属構造体形成用原版の製造方法を提供する。 In the present disclosure, a step of forming a protective film having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface, and the first step. Wet anisotropic etching is performed on the silicon substrate using a protective film having a pattern as a mask, and the silicon substrate is arranged on the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and around the first bottom surface, and is placed on the first bottom surface. On the other hand, a step of forming a first recess having a first side surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 °, and after forming a protective film on the surface of the first recess, on the first bottom surface. A step of forming a protective film having a second pattern on the silicon substrate on which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged, and using the protective film having the second pattern as a mask on the silicon substrate. A second bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and a second bottom surface that is arranged around the second bottom surface and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the bottom surface. An original plate for forming a metal structure having a step of forming a second recess having a side surface and having a stepped shape of two or more steps in which the second recess is arranged on the first bottom surface. Provided is a method for manufacturing an original plate for forming a metal structure.
また、本開示は、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第1のパターンを有する保護膜を形成する工程と、上記第1のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、仮の凹部を形成する工程と、上記仮の凹部の外周部に配置された保護膜を除去し、平面視して上記仮の凹部よりも大きい開口部を有する第2のパターンを有する保護膜を上記シリコン基板上に形成する工程と、上記第2のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行うことで、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および上記第1底面に形成され、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記底面に対し、54.7°より小さい傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を同時に形成する工程と、を有し、上記第1底面に上記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成された金属構造体形成用原版を製造する、金属構造体形成用原版の製造方法を提供する。 Further, the present disclosure comprises a step of forming a protective film having a first pattern on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface, in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged. Wet anisotropic etching was performed on the silicon substrate using the protective film having the pattern of 1 as a mask to form a temporary recess, and the protective film arranged on the outer periphery of the temporary recess was removed. A step of forming a protective film having a second pattern having an opening larger than the temporary recess in a plan view on the silicon substrate, and using the protective film having the second pattern as a mask on the silicon substrate. On the other hand, by performing wet anisotropic etching, it is arranged around the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and the first bottom surface, and is inclined by 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A first side surface having a corner, a first recess having a corner, a second bottom surface formed on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate, and a second bottom surface arranged around the second bottom surface and formed on the bottom surface. On the other hand, it has a step of simultaneously forming a second side surface having an inclination angle smaller than 54.7 ° and a second recess having the second recess, and the second recess is arranged on the first bottom surface. Provided is a method for manufacturing a metal structure forming original plate, which manufactures a metal structure forming original plate in which two or more steps are formed.
また、本開示は、金属構造体の製造方法であって、上述した金属構造体形成用原版の製造方法により金属構造体形成用原版を製造する工程と、上記金属構造体形成用原版上、メッキ処理によって金属を堆積して金属構造体を形成する工程と、上記金属構造体を、上記金属構造体形成用原版から分離する工程と、を有することを特徴とする金属構造体の製造方法を提供する。 Further, the present disclosure is a method for manufacturing a metal structure, which is a step of manufacturing a metal structure forming original plate by the above-mentioned method for manufacturing a metal structure forming original plate, and plating on the metal structure forming original plate. Provided is a method for producing a metal structure, which comprises a step of depositing a metal by a treatment to form a metal structure and a step of separating the metal structure from the original plate for forming the metal structure. To do.
さらに、本開示は、樹脂成形品の製造方法であって、上述の金属構造体の製造方法により金属構造体を製造し、上記金属構造体を射出成形用金型として用い、樹脂を流動状態で射出し、成形することで樹脂成形品を得ることを特徴とする、樹脂成形品の製造方法を提供する。 Further, the present disclosure is a method for manufacturing a resin molded product, in which a metal structure is manufactured by the above-mentioned manufacturing method for a metal structure, the metal structure is used as an injection molding mold, and the resin is in a fluid state. Provided is a method for producing a resin molded product, which comprises obtaining a resin molded product by injecting and molding the product.
また、本開示は、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および、上記第1底面に配置され、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記第2底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、上記第1の凹部および上記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体形成用原版を提供する。 Further, the present disclosure is arranged on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface, a first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate, and around the first bottom surface, and 54 with respect to the first bottom surface. A first recess having a first side surface having an inclination angle of .7 ° ± 1 °, a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate, and the second bottom surface. It has a second side surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the second bottom surface, and a second recess having the first recess and the second recess. Provided is an original plate for forming a metal structure, in which two or more steps are formed by recesses.
また、(100)面を表面に有するシリコン基板に、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および、上記第1底面に配置され、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記第2底面に対し54.7°より小さい傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、上記第1の凹部および上記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体形成用原版を提供する。 Further, the silicon substrate having the (100) plane as the surface is arranged around the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and the first bottom surface, and is 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A first recess having a first side surface having an inclination angle of, and a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate, and around the second bottom surface. It has a second side surface having an inclination angle smaller than 54.7 ° with respect to the second bottom surface, and a second recess having the first recess and the second recess, so that the stairs have two or more steps. Provided is an original plate for forming a metal structure having a configured shape.
さらに、本開示は、金属基体、上記金属基体から突出し、上記金属基体表面と平行な第1天面と、上記第1天面の周囲に配置され、上記金属基体表面に対し、54.7°±1°の傾斜角を有する第1側壁面と、を有する第1の凸部、および、上記第1天面から突出し、上記第1天面と平行な第2天面と、上記第2天面の周囲に配置された第2側壁面と、を有する第2の凸部、で構成され、上記第1の凸部および上記第2の凸部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体を提供する。 Further, the present disclosure discloses a metal substrate, a first top surface protruding from the metal substrate and parallel to the surface of the metal substrate, and arranged around the first top surface at 54.7 ° with respect to the surface of the metal substrate. A first convex portion having a first side wall surface having an inclination angle of ± 1 °, a second top surface protruding from the first top surface and parallel to the first top surface, and the second top surface. It is composed of a second side wall surface arranged around the surface and a second convex portion having the first convex portion and the second convex portion, and a stepped shape of two or more steps is formed. , Provides a metal structure.
また、本開示は、樹脂基板に、上記樹脂基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および上記第1底面に配置され、上記樹脂基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置された第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、上記第1の凹部および上記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、樹脂成形品を提供する。 Further, in the present disclosure, the resin substrate is arranged around the first bottom surface parallel to the surface of the resin substrate and the first bottom surface, and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A first side surface having a first side surface, a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the resin substrate, and a second side surface arranged around the second bottom surface. Provided is a resin molded product having a second recess having a structure of two or more steps formed by the first recess and the second recess.
本開示によれば、微細な構造を有する金属構造体を、容易に、かつ、安価に製造することが可能な金属構造体形成用原版の製造方法を提供することができるという効果を奏する。 According to the present disclosure, there is an effect that it is possible to provide a method for producing an original plate for forming a metal structure, which can easily and inexpensively produce a metal structure having a fine structure.
本開示は、金属構造体形成用原版の製造方法、金属構造体の製造方法、金属構造体形成用原版、金属構造体、及び樹脂成形品を実施態様に含む。以下、本開示の実施態様を、図面等を参照しながら説明する。 The present disclosure includes, in the embodiments, a method for producing a metal structure original plate, a method for producing a metal structure, a metal structure forming original plate, a metal structure, and a resin molded product. Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described with reference to drawings and the like.
但し、本開示は多くの異なる態様で実施することが可能であり、以下に例示する実施の態様の記載内容に限定して解釈されるものではない。また、図面は説明をより明確にするため、実施の態様に比べ、各部の幅、厚み、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本開示の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。また、説明の便宜上、上方又は下方という語句を用いて説明する場合があるが、上下方向が逆転してもよい。 However, the present disclosure can be implemented in many different embodiments and is not construed as limited to the description of the embodiments exemplified below. Further, in order to clarify the explanation, the drawings may schematically represent the width, thickness, shape, etc. of each part as compared with the embodiment, but this is merely an example and the interpretation of the present disclosure is limited. It's not something to do. Further, in the present specification and each figure, the same elements as those described above with respect to the above-mentioned figures may be designated by the same reference numerals, and detailed description thereof may be omitted as appropriate. Further, for convenience of explanation, the phrase "upper" or "lower" may be used for explanation, but the vertical direction may be reversed.
また、本明細書において、ある部材又はある領域等のある構成が、他の部材又は他の領域等の他の構成の「上に(又は下に)」あるとする場合、特段の限定がない限り、これは他の構成の直上(又は直下)にある場合のみでなく、他の構成の上方(又は下方)にある場合を含み、すなわち、他の構成の上方(又は下方)において間に別の構成要素が含まれている場合も含む。 Further, in the present specification, there is no particular limitation when a certain structure such as a certain member or a certain area is "above (or below)" another structure such as another member or another area. As long as this includes not only the case of being directly above (or directly below) the other configuration, but also the case of being above (or below) the other configuration, that is, separately above (or below) the other configuration. Including the case where the component of is included.
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討した結果、(100)面を表面に有するシリコン基板に対し、湿式異方性エッチングを行うことにより少なくとも2段以上の階段形状を形成する方法であれば、所定の形状の金属構造体を、容易に、かつ、安価に製造することが可能な金属構造体形成用原版を製造することができることを見出した。 As a result of diligent studies to solve the above problems, the present inventors have formed a stepped shape of at least two steps or more by performing wet anisotropic etching on a silicon substrate having a (100) surface as a surface. According to the method, it has been found that a metal structure for forming a metal structure, which can easily and inexpensively manufacture a metal structure having a predetermined shape, can be manufactured.
I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態)
本実施形態の金属構造体形成用原版の製造方法は、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第1のパターンを有する保護膜を形成する工程と、上記第1のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部を形成する工程と、上記第1の凹部の表面に保護膜を形成した後、上記第1底面に上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第2のパターンを有する保護膜を上記シリコン基板上に形成する工程と、上記第2のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部を形成する工程と、を有し、上記第1底面に上記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成された金属構造体形成用原版を製造する、金属構造体形成用原版の製造方法である。
I. Method for manufacturing original plate for forming metal structure (first embodiment)
The method for manufacturing the original plate for forming a metal structure of the present embodiment has a protection having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface. The step of forming the film and the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and the first bottom surface are obtained by performing wet anisotropic etching on the silicon substrate using the protective film having the first pattern as a mask. A step of forming a first recess having a first side surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface, and protection on the surface of the first recess. After forming the film, a step of forming a protective film having a second pattern on the silicon substrate in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the first bottom surface and the second pattern are performed. Wet anisotropic etching was performed on the silicon substrate using the protective film as a mask, and the second bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and around the second bottom surface were arranged, and 54.7 with respect to the bottom surface. A two- or more staircase having a second side surface having an inclination angle of ° ± 1 ° and a step of forming a second recess having the second recess arranged on the first bottom surface. This is a method for manufacturing a metal structure forming original plate, which manufactures a metal structure forming original plate having a formed shape.
本実施形態の金属構造体形成用原版は、第1側面および第2側面の傾斜角を、容易に上述した角度とすることができるので、例えば上記金属構造体形成用原版を用いて金属構造体を製造する際に、上記金属構造体形成用原版から金属構造体を分離することが容易なテーパー角度を有する金属構造体形成用原版を容易に製造することができる。また、保護膜をマスクとして用いる製造方法であるので、形状等を高精細に製造することが可能となるといった利点を有するものである。さらに、各側面の傾斜角が高い精度で一定の角度とすることができるので、マスクの開口部の形状を正確に底面の形状に反映させることができるという利点も有する。なお、54.7°±1°の±1°の差は、例えば、シリコン基盤に含まれる不純物が原因で傾斜面が凹凸となる場合があること等に由来するものである。 In the original plate for forming a metal structure of the present embodiment, the inclination angles of the first side surface and the second side surface can be easily set to the above-mentioned angles. Therefore, for example, the original plate for forming a metal structure of the above-mentioned metal structure can be used. It is possible to easily manufacture a metal structure forming original plate having a taper angle at which it is easy to separate the metal structure from the metal structure forming original plate. Further, since it is a manufacturing method using a protective film as a mask, it has an advantage that it is possible to manufacture a shape or the like with high definition. Further, since the inclination angle of each side surface can be set to a constant angle with high accuracy, there is an advantage that the shape of the opening of the mask can be accurately reflected in the shape of the bottom surface. The difference of ± 1 ° of 54.7 ° ± 1 ° is due to, for example, that the inclined surface may be uneven due to impurities contained in the silicon substrate.
以下、本実施形態における金属構造体形成用原版の製造方法の各工程について、説明する。
A.第1保護膜形成工程
本工程は、(100)面を表面に有するシリコン基板表面に、上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第1のパターンを有する保護膜を形成する工程である。具体的には、図1(A)〜(D)に示すように、(100)面を表面に有するシリコン基板1の表面全体に、保護膜2を形成し、保護膜2上にフォトレジスト膜を形成し、露光、現像してレジストパターン3を形成し、レジストパターン3をマスクとしてエッチングを施すことにより、シリコン基板1を一部露出する開口部を有する第1のパターンを有する保護膜2’を形成する。
Hereinafter, each step of the method for producing the original plate for forming a metal structure in the present embodiment will be described.
A. First Protective Film Forming Step This step is a step of forming a protective film having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface. is there. Specifically, as shown in FIGS. 1A to 1D, a
1.シリコン基板
本工程で使用するシリコン基板は、表面に(100)面を有するものである。このような表面が(100)面であるシリコン基板は、一般的に用いられているものであれば良く、例えばCZ法で育成したシリコン単結晶棒からスライスして作製されたものを用いればよい。
1. 1. Silicon Substrate The silicon substrate used in this step has a (100) surface on its surface. The silicon substrate having such a surface of (100) plane may be a generally used one, and for example, a silicon substrate produced by slicing from a silicon single crystal rod grown by the CZ method may be used. ..
シリコン基板としては、n型又はp型にドープされた又はドープされていないシリコン基板のいずれでも良い。 The silicon substrate may be either an n-type or p-type doped or undoped silicon substrate.
シリコン基板の直径は特に限定されないが、約12.7mm(0.5インチ)〜約400mm(16インチ)、特には、約100mm(4インチ)〜約200mm(8インチ)が入手が容易であるため好ましい。このような範囲内の直径であれば、1枚のシリコン基板に2段以上の階段形状を数多く形成することができ、金属構造体の多面付け原版とすることができ、安価に製造を行うことができる金属構造体形成用原版となる。 The diameter of the silicon substrate is not particularly limited, but is easily available from about 12.7 mm (0.5 inches) to about 400 mm (16 inches), particularly from about 100 mm (4 inches) to about 200 mm (8 inches). Therefore, it is preferable. If the diameter is within such a range, many step shapes of two or more steps can be formed on one silicon substrate, and it can be used as a multi-imposed original plate of a metal structure, and can be manufactured at low cost. It becomes the original plate for forming a metal structure.
シリコン基板の厚さは、例えば、JEITA規格では、280±10μm(基板直径2インチ)〜775±25μm(基板直径12インチ)、SEMI規格では、279±25μm(基板直径2インチ)〜775±20μm(基板直径12インチ)のものが用いられる。上記厚さ以上であれば、十分な強度を有する金属構造体形成用原版となり、また、階段形状の段数を2段以上とすることが容易であるからである。また、ハンドリングの観点から400μm以上とすることが好ましい。 For example, the thickness of the silicon substrate is 280 ± 10 μm (2 inches in substrate diameter) to 775 ± 25 μm (12 inches in substrate diameter) according to the JEITA standard, and 279 ± 25 μm (2 inches in substrate diameter) to 775 ± 20 μm according to the SEMI standard. (Substrate diameter 12 inches) is used. This is because if the thickness is more than the above, the original plate for forming a metal structure having sufficient strength can be obtained, and the number of steps in the staircase shape can be easily set to two or more. Further, from the viewpoint of handling, it is preferably 400 μm or more.
2.保護膜
保護膜としては、湿式異方性エッチング時のマスク(エッチング保護膜)として機能すれば良く、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、又はシリコン酸化膜とシリコン窒化膜の積層体でもよい。これらの保護膜は、いずれも気相成長法で形成することができる。保護膜がシリコン酸化膜の場合は、熱酸化により膜形成することも可能であり、また後工程での除去が容易であるために好ましい。
2. Protective film The protective film may function as a mask (etching protective film) during wet anisotropic etching, and may be a silicon oxide film, a silicon nitride film, or a laminate of a silicon oxide film and a silicon nitride film. All of these protective films can be formed by the vapor phase growth method. When the protective film is a silicon oxide film, it is possible to form a film by thermal oxidation, and it is preferable because it can be easily removed in a subsequent step.
保護膜の膜厚は、50nm以上2μm以下、中でも、100nm以上500nm以下が好ましい。
上記範囲内の膜厚であれば、エッチング加工時間が長くなる恐れがなく、また、湿式異方性エッチング時のマスクとして十分に機能するために好ましい。
The film thickness of the protective film is preferably 50 nm or more and 2 μm or less, and more preferably 100 nm or more and 500 nm or less.
If the film thickness is within the above range, there is no possibility that the etching processing time will be long, and it is preferable because it functions sufficiently as a mask during wet anisotropic etching.
3.第1のパターンを有する保護膜
第1のパターンを有する保護膜は、シリコン基板を一部露出する開口部を有するものである。このような第1のパターンを有する保護膜の形成方法は特に限定されるものでは無いが、例えば、保護膜が形成されたシリコン基板上にフォトレジスト膜を形成し、フォトマスクを介して露光、現像液により現像を行うことで、フォトレジスト膜にレジストパターンを形成し、該レジストパターンをマスクとして保護膜をエッチング加工することにより得られる。
3. 3. Protective film having the first pattern The protective film having the first pattern has an opening that partially exposes the silicon substrate. The method for forming the protective film having such a first pattern is not particularly limited, but for example, a photoresist film is formed on a silicon substrate on which the protective film is formed, and the photoresist film is exposed through a photomask. It is obtained by forming a resist pattern on a photoresist film by developing with a developing solution and etching a protective film using the resist pattern as a mask.
(a)フォトレジスト膜形成
フォトレジスト膜は、フォトレジスト組成物からなり、通常、フォトレジスト組成物を、スピンコート法などで塗布し、プリベークを行うことで形成可能である。フォトレジスト組成物としては、化学増幅型レジスト組成物であることが好ましく、ポジ型、ネガ型のいずれでも良い。ポジ型レジスト組成物を用いれば、露光された部分のレジストのみが現像時に除去され、ネガ型レジスト組成物を用いれば、非露光部分のレジストのみが現像時に除去される。レジスト組成物としては、例えば、ノボラック系のポジ型レジスト、環化ゴム系ネガ型フォトレジスト、エポキシ樹脂ベースのネガ型フォトレジストが挙げられる。また、レジスト層として、ドライフィルムレジストを用いてもよい。レジスト層の塗布方法の他の例として、キャスティング法、ディップコート法、バーコート法、ブレードコート法、ロールコート法、グラビアコート法、スプレーコート法、フレキソ印刷法などが挙げられる。
(A) Forming of a photoresist film The photoresist film is composed of a photoresist composition, and can be usually formed by applying a photoresist composition by a spin coating method or the like and prebaking. The photoresist composition is preferably a chemically amplified resist composition, and may be either a positive type or a negative type. If a positive resist composition is used, only the resist in the exposed portion is removed during development, and if a negative resist composition is used, only the resist in the non-exposed portion is removed during development. Examples of the resist composition include a novolac-based positive resist, a cyclized rubber-based negative photoresist, and an epoxy resin-based negative photoresist. Moreover, you may use a dry film resist as a resist layer. Other examples of the resist layer coating method include a casting method, a dip coating method, a bar coating method, a blade coating method, a roll coating method, a gravure coating method, a spray coating method, and a flexographic printing method.
(b)露光、現像
露光時に使用するフォトマスクとしては、後述する第1の凹部の形状を形成可能な所定のパターンを有するものであれば特に限定されない。
(B) Exposure and Development The photomask used during exposure is not particularly limited as long as it has a predetermined pattern capable of forming the shape of the first recess, which will be described later.
露光波長としては一般的には10〜600nm、好ましくは190〜500nmである。この場合、フォトマスクは、上記波長の光を遮蔽するものが好ましく、例えば所望のパターンをくりぬいたものでもよい。なお、上記波長の光としては、例えば放射線発生装置により発生された種々の波長の光、例えば、g線、h線、i線等の紫外線光、遠紫外線光(248nm、193nm)等が挙げられる。これらのうち、波長248〜436nmの光が特に好ましい。露光量は、10〜10,000mJ/cm2が好ましい。露光は、場合によっては、水等の液浸露光液を介し、所定のパターンを有するマスクを介して放射線を照射することにより行う。
露光後は、必要に応じて加熱処理を行うことが好ましい。
The exposure wavelength is generally 10 to 600 nm, preferably 190 to 500 nm. In this case, the photomask preferably shields light of the above wavelength, and may be, for example, a photomask in which a desired pattern is hollowed out. Examples of the light having the above wavelengths include light of various wavelengths generated by a radiation generator, such as ultraviolet light such as g-line, h-line, and i-line, and far-ultraviolet light (248 nm, 193 nm). .. Of these, light having a wavelength of 248 to 436 nm is particularly preferable. The exposure amount is preferably 10 to 10,000 mJ / cm 2. In some cases, the exposure is performed by irradiating radiation through an immersion exposure solution such as water and a mask having a predetermined pattern.
After the exposure, it is preferable to perform heat treatment as needed.
現像液としては、例えば、一般的に使用されている有機アルカリ系現像液を使用でき、また、無機アルカリ系現像液や、レジスト層の現像が可能な水溶液を使用することもできる。通常、10〜300秒間、好ましくは0.5〜2分間、浸漬(dip)法、パドル(puddle)法、スプレー(spray)法等の常法により現像して、レジストパターンが形成される。レジスト層を現像した後は、水等で洗浄することが好ましい。 As the developing solution, for example, a generally used organic alkaline developing solution can be used, or an inorganic alkaline developing solution or an aqueous solution capable of developing a resist layer can also be used. Usually, the resist pattern is formed by developing for 10 to 300 seconds, preferably 0.5 to 2 minutes, by a conventional method such as a dip method, a paddle method, or a spray method. After developing the resist layer, it is preferable to wash it with water or the like.
(c)保護膜エッチング加工
保護膜を、上記レジストパターンをマスクとしてエッチング加工することで、シリコン基板を一部露出し、即ち、後述する第1の凹部となる部分の窓開け加工を行い、第1のパターンを有する保護膜を得ることができる。エッチング加工は、従来よりシリコン窒化膜やシリコン酸化膜のドライエッチングに用いられている反応性イオンエッチングにより行うことができる。
(C) Protective film etching process By etching the protective film using the resist pattern as a mask, a part of the silicon substrate is exposed, that is, a window opening process is performed on a portion to be a first recess, which will be described later. A protective film having the pattern of 1 can be obtained. The etching process can be performed by reactive ion etching, which has been conventionally used for dry etching of a silicon nitride film or a silicon oxide film.
反応性イオンエッチングは、平行平板型電極をもった真空容器内に上記保護膜及びレジストパターンが形成されたシリコン基板を入れ、真空容器内に反応性ガスを導入した後、平行平板電極に高周波電力を印加することにより反応性ガスを放電させ、発生したプラズマ中の反応性イオンにより保護膜をエッチングし、所望の形状を得る方法である。反応性ガスとしては、CF4(四フッ化炭素)やCHF3(トリフロルメタン)等のガスを用いることができる。
また、保護膜のエッチング加工方法としては、ドライエッチングに限定されず、ウェットエッチングを用いることもできる。
In reactive ion etching, a silicon substrate on which the protective film and the resist pattern are formed is placed in a vacuum vessel having a parallel plate electrode, a reactive gas is introduced into the vacuum vessel, and then high frequency power is applied to the parallel plate electrode. This is a method in which the reactive gas is discharged by applying the above, and the protective film is etched by the reactive ions in the generated plasma to obtain a desired shape. As the reactive gas, a gas such as CF 4 (carbon tetrafluoride) or CHF 3 (trifluoromethane) can be used.
Further, the method for etching the protective film is not limited to dry etching, and wet etching can also be used.
B.第1凹部形成工程
本工程は、図1(E)に示すように、第1のパターンを有する保護膜2‘をマスクとしてシリコン基板1に対して湿式異方性エッチングを行い、第1の凹部4を形成する工程である。
湿式異方性エッチングに用いるエッチング液としては、例えばアルカリ性水溶液があげられる。具体的には、水酸化テトラヒドロキシメチルアンモニウム水溶液、水酸化カリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶液、ヒドラジンヒドラート、ヒドラジン等である。
B. First recess forming step As shown in FIG. 1 (E), in this step, wet anisotropic etching is performed on the
Examples of the etching solution used for wet anisotropic etching include an alkaline aqueous solution. Specifically, it is an aqueous solution of tetrahydroxymethylammonium hydroxide, an aqueous solution of potassium hydroxide, an aqueous solution of sodium hydroxide, hydrazine hydrate, hydrazine and the like.
シリコン基板の(100)面に湿式異方性エッチングを行う場合、(100)面方向と(111)面方向とのエッチング速度比が非常に大きくなり、従って、ほとんど(100)面方向のみエッチングされる。
そのため、第1の凹部は、断面形状において、開口部の面積より、第1の凹部の底面である第1底面の面積が狭くなるように形成され、第1の凹部の側面である第1側面は(111)面方向を有し、第1底面は(100)面方向を有する。即ち、第1側面は、シリコン基板の表面や、これと平行な第1底面の(100)面に対し、54.7°±1°の傾斜角を有することとなる。
When wet anisotropic etching is performed on the (100) plane of a silicon substrate, the etching rate ratio between the (100) plane direction and the (111) plane direction becomes very large, and therefore, almost only the (100) plane direction is etched. Etching.
Therefore, the first recess is formed so that the area of the first bottom surface, which is the bottom surface of the first recess, is smaller than the area of the opening in the cross-sectional shape, and the first side surface, which is the side surface of the first recess. Has a (111) plane direction and the first bottom surface has a (100) plane direction. That is, the first side surface has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the surface of the silicon substrate and the (100) surface of the first bottom surface parallel to the surface.
第1の凹部の平面視の形状は特に限定されず、目的とする金属構造体の形状によって異なるが、例えば、通常、矩形状(例えば長方形若しくは正方形)である。また、第1の凹部の深さ、第1の凹部の開口幅としては、後述する「III.金属構造体形成用原版(第1実施形態)」で説明する。 The shape of the first recess in a plan view is not particularly limited and varies depending on the shape of the target metal structure, but is usually rectangular (for example, rectangular or square). The depth of the first recess and the opening width of the first recess will be described in "III. Original plate for forming a metal structure (first embodiment)" described later.
C.第2保護膜形成工程
本工程は、上記第1の凹部の表面に保護膜を形成した後、上記第1底面に上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第2のパターンを有する保護膜を上記シリコン基板上に形成する工程である。
C. Second Protective Film Forming Step This step has a second pattern in which after forming a protective film on the surface of the first recess, an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the first bottom surface. This is a step of forming a protective film on the silicon substrate.
具体的には、図2(F)〜(H)に示すように、第1の凹部の表面を含むシリコン基板表面全体に保護膜5を形成し、保護膜5上にフォトレジスト膜を形成し、露光、現像してレジストパターン3を形成し、レジストパターンをマスクとしてエッチングを施すことにより、開口部の外周が第1底面の外周よりも内側に設けられた、シリコン基板1を一部露出する第2のパターンを有する保護膜5’を形成する。
Specifically, as shown in FIGS. 2 (F) to 2 (H), a
1.保護膜
保護膜は、上記第1凹部形成工程後、第1のパターンを有する保護膜を除去しないまま、熱酸化等により、第1の凹部の表面を含むシリコン基板の表面全体に、熱酸化膜からなる保護膜を再形成することで行うことができる。
1. 1. Protective film After the first recess forming step, the protective film is applied to the entire surface of the silicon substrate including the surface of the first recess by thermal oxidation or the like without removing the protective film having the first pattern. This can be done by reforming the protective film made of.
また、第1のパターンを有する保護膜をフッ酸溶液などにより全て除去してから、新たにシリコン基板表面全体に保護膜を再形成してもよい。
保護膜は、上述した「A.第1保護膜形成工程 2.保護膜」と同様の方法で再形成することができる。
Further, after removing all the protective film having the first pattern with a hydrofluoric acid solution or the like, the protective film may be newly formed on the entire surface of the silicon substrate.
The protective film can be reformed in the same manner as in "A. First protective
2.第2のパターンを有する保護膜
第2のパターンを有する保護膜は、シリコン基板表面全体に再形成した保護膜をフォトリソグラフィによりパターニングを施すことにより得ることができるが、これらの具体的方法は、上述した「A.第1保護膜形成工程 3.第1のパターンを有する保護膜」と同様の方法とすることができる。ただし、フォトレジスト膜の露光の際に、フォトレジスト膜の現像時での除去部分が、平面視して第1底面よりも内側部分となるように、フォトマスクを設計し、露光条件を調整することが好ましい。また、位置合わせを行うアライメント露光を行うことが好ましい。このようにすることで、平面視において、開口部の外周が第1底面の外周よりも内側に設けられた、シリコン基板を一部露出する第2のパターンを有する保護膜を精度良く、確実に得ることができる。
2. Protective film having a second pattern A protective film having a second pattern can be obtained by patterning a protective film reformed on the entire surface of a silicon substrate by photolithography. The same method as the above-mentioned "A. First protective
D.第2凹部形成工程
本工程は、図2(I)に示すように、第2のパターンを有する保護膜5’をマスクとしてシリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、第2の凹部6を形成する工程である。
本工程で用いるエッチング液は、上記「B.第1凹部形成工程」で挙げたものと同様のものを使用することができる。
D. Second recess forming step As shown in FIG. 2 (I), in this step, wet anisotropic etching is performed on the silicon substrate using the protective film 5'having the second pattern as a mask, and the
As the etching solution used in this step, the same etching solution as that mentioned in the above "B. First recess forming step" can be used.
上述したように、シリコン基板の(100)面に湿式異方性エッチングを行う場合、(100)面方向と(111)面方向とのエッチング速度比が非常に大きくなり、従って、ほとんど(100)面方向のみエッチングされるため、第2の凹部は、第2の凹部の側面である第2側面が(111)面方向を有し、第2の凹部の底面である第2底面が(100)面方向を有する。すなわち、第2側面は、基板表面、およびこれと平行な第2底面((100)面)に対し、54.7°±1°の傾斜角を有することとなる。 As described above, when wet anisotropic etching is performed on the (100) plane of a silicon substrate, the etching rate ratio between the (100) plane direction and the (111) plane direction becomes very large, and therefore, almost (100). Since only the surface direction is etched, the second side surface, which is the side surface of the second recess, has the (111) surface direction, and the second bottom surface, which is the bottom surface of the second recess, is (100). Has a plane direction. That is, the second side surface has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the substrate surface and the second bottom surface ((100) surface) parallel to the substrate surface.
上記第2底面の平面視形状は特に限定されず、目的とする金属構造体の形状によって異なるが、例えば、通常、矩形状(例えば長方形若しくは正方形)である。また、第2の凹部の深さ、第2の凹部の開口幅としては、後述する「III.金属構造体形成用原版(第1実施形態)」で説明する。 The plan-view shape of the second bottom surface is not particularly limited and varies depending on the shape of the target metal structure, but is usually rectangular (for example, rectangular or square). The depth of the second recess and the opening width of the second recess will be described in "III. Original plate for forming a metal structure (first embodiment)" described later.
E.その他
第2の凹部形成後に、第2のパターンを有する保護膜と、裏面に形成されている保護膜をフッ酸溶液により除去することが好ましい。
E. Others After forming the second recess, it is preferable to remove the protective film having the second pattern and the protective film formed on the back surface with a hydrofluoric acid solution.
このように製造された金属構造体形成用原版は、上記第1底面に上記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成されたものとなる。2段以上の階段形状は、少なくとも第1の凹部及び第2の凹部を含む窪みの少なくとも1の側面に形成されていればよく、また、全ての側面に形成されていてもよい。 The original plate for forming a metal structure thus produced has a stepped shape of two or more steps in which the second recess is arranged on the first bottom surface. The two or more staircase shapes may be formed on at least one side surface of the recess including at least the first recess and the second recess, or may be formed on all the side surfaces.
また、図1および図2中では、第1の凹部、および第2の凹部を含む窪みを1つ形成する場合を図示しているが、1枚のシリコン基板に、第1の凹部および第2の凹部を含む窪みが多数形成された多面付の原版とすることも可能である。 Further, in FIGS. 1 and 2, a case where one recess including the first recess and the second recess is formed is shown, but the first recess and the second recess are formed on one silicon substrate. It is also possible to use a multi-faceted original plate in which a large number of recesses including the recesses of the above are formed.
II.金属構造体形成用原版の製造方法(第2実施形態)
本実施形態では、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第1のパターンを有する保護膜を形成する工程と、上記第1のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、仮の凹部を形成する工程と、上記仮の凹部の外周部に配置された保護膜を除去し、平面視して上記仮の凹部よりも大きい開口部を有する第2のパターンを有する保護膜を上記シリコン基板上に形成する工程と、上記第2のパターンを有する保護膜をマスクとして上記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行うことで、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および上記第1底面に形成され、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記底面に対し、54.7°より小さい傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を同時に形成する工程と、を有し、上記第1底面に上記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成された金属構造体形成用原版を製造する、金属構造体形成用原版の製造方法を提供する。
II. Method for manufacturing original plate for forming metal structure (second embodiment)
In the present embodiment, a step of forming a protective film having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface, and the first. Wet anisotropic etching is performed on the silicon substrate using the protective film having the above pattern as a mask to form a temporary recess, and the protective film arranged on the outer periphery of the temporary recess is removed to form a flat surface. A step of forming a protective film having a second pattern having an opening larger than the temporary recess on the silicon substrate, and using the protective film having the second pattern as a mask on the silicon substrate. By performing wet anisotropic etching, it is arranged around the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and the first bottom surface, and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A first side surface having a silicon substrate, a first recess having a silicon substrate, a second bottom surface formed on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate, and a second bottom surface arranged around the second bottom surface, with respect to the bottom surface. A step of simultaneously forming a second side surface having an inclination angle smaller than 54.7 ° and a second recess having the second recess is arranged on the first bottom surface. Provided is a method for manufacturing a metal structure forming original plate, which manufactures a metal structure forming original plate having a stepped shape of steps or more.
以下、本実施形態における金属構造体形成用原版の製造方法の各工程について、説明する。
A.第1保護膜形成工程
本工程は、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第1のパターンを有する保護膜を形成する第1保護膜形成工程である。
Hereinafter, each step of the method for producing the original plate for forming a metal structure in the present embodiment will be described.
A. First Protective Film Forming Step In this step, a protective film having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged is formed on the surface of a silicon substrate having a (100) surface as a surface. 1 Protective film forming step.
具体的には、図3(A)〜(D)に示すように、(100)面を表面に有するシリコン基板1の表面全体に、保護膜2を形成し、保護膜2上にフォトレジスト膜3を形成し、露光、現像、及びエッチングを施すことにより、シリコン基板1を一部露出する開口部を有する第1のパターンを有する保護膜2’を形成する。
Specifically, as shown in FIGS. 3A to 3D, a
本工程で用いるシリコン基板や、形成する保護膜、フォトレジスト膜については、上記「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) A.第1保護膜形成工程」で説明したものと同様のものを使用することができる。 The silicon substrate used in this step, the protective film to be formed, and the photoresist film have been described in the above-mentioned "I. Manufacturing method of original plate for forming metal structure (first embodiment) A. First protective film forming step". You can use something similar to the one.
B.仮凹部形成工程
本工程は、図3(E)に示すように、第1のパターンを有する保護膜2’をマスクとしてシリコン基板1に対して湿式異方性エッチングを行い、仮の凹部7を形成する工程である。
湿式異方性エッチングに用いるエッチング液としては、上記「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) B.第1凹部形成工程」で説明したものと同様のものを使用することができる。
B. Temporary recess forming step As shown in FIG. 3 (E), in this step, wet anisotropic etching is performed on the
As the etching solution used for wet anisotropic etching, the same etching solution as described in "I. Method for producing original plate for forming metal structure (first embodiment) B. First recess forming step" is used. be able to.
第一実施態様と同様、シリコン基板の(100)面に湿式異方性エッチングを行う場合、(100)面方向と(111)面方向とのエッチング速度比が非常に大きくなり、従って、ほとんど(100)面方向のみエッチングされる。そのため、仮の凹部の側面は、(111)面方向を有し、凹部の底面((100)面)に対し、54.7°±1°の傾斜角を有することとなる。 Similar to the first embodiment, when wet anisotropic etching is performed on the (100) plane of the silicon substrate, the etching rate ratio between the (100) plane direction and the (111) plane direction becomes very large, and therefore most of them ( 100) Etched only in the plane direction. Therefore, the side surface of the temporary recess has a (111) plane direction, and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the bottom surface ((100) plane) of the recess.
仮の凹部の底面の形状は特に限定されず、例えば、通常、矩形状(例えば長方形若しくは正方形)である。ここで、仮の凹部の底面とは、シリコン基板の(100)面から構成される仮の凹部の底面の領域をいう。 The shape of the bottom surface of the temporary recess is not particularly limited, and is, for example, usually rectangular (for example, rectangular or square). Here, the bottom surface of the temporary recess refers to a region of the bottom surface of the temporary recess composed of the (100) surface of the silicon substrate.
仮の凹部の深さ、および仮の凹部の開口幅については、上記「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) B.第1凹部形成工程」で説明した第1凹部と同様であるので、ここでの説明は省略する。 Regarding the depth of the temporary recess and the opening width of the temporary recess, the first recess described in "I. Manufacturing method of original plate for forming a metal structure (first embodiment) B. First recess forming step" described above. Since it is the same as the above, the description here is omitted.
C.第2保護膜形成工程
本工程は、上記仮の凹部の外周部に配置された保護膜を除去し、平面視して上記仮の凹部よりも大きい開口部を有する第2のパターンを有する保護膜を上記シリコン基板上に形成する工程である。
C. Second protective film forming step In this step, the protective film arranged on the outer peripheral portion of the temporary recess is removed, and the protective film has a second pattern having an opening larger than the temporary recess in a plan view. Is a step of forming on the silicon substrate.
具体的には、図4(F)〜(H)に示すように、第1のパターンを有する保護膜上にフォトレジスト膜3を形成し、露光、現像及びエッチングを施すことにより、第1のパターンを有する保護膜の開口部の外周部分を除去し、開口部の外周が平面視において仮の凹部の開口領域よりも外側に設けられた、シリコン基板1を一部露出する開口部を有する第2のパターンを有する保護膜5’を形成する。
Specifically, as shown in FIGS. 4 (F) to 4 (H), the
上記第2のパターンを有する保護膜は、上記凹部形成工程後、第1のパターンを有する保護膜上にフォトレジスト膜を形成し、露光、現像してレジストパターンを形成し、該レジストパターンをマスクとしてエッチングを施すことにより得ることができる。これらの具体的方法は、上述した「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) A.第1保護膜形成工程 3.第1のパターンを有する保護膜」と同様の方法とすることができる。ただし、露光の際に、フォトレジスト膜の現像時での除去部分が、平面視において仮の凹部の開口領域よりも大きくなるようにフォトマスクを設計し、露光条件を調整することが好ましい。また、位置合わせを行うアライメント露光を行うことが好ましい。このようにすることで、開口部の外周が第1の凹部の開口領域よりも外側に設けられた、シリコン基板を一部露出する第2のパターンを有する保護膜を精度良く、確実に得ることができる。
After the recess forming step, the protective film having the second pattern forms a photoresist film on the protective film having the first pattern, and is exposed and developed to form a resist pattern, and masks the resist pattern. It can be obtained by subjecting it to etching. These specific methods are the same as the above-mentioned "I. Method for manufacturing original plate for forming metal structure (first embodiment) A. First protective
また、上述したように、第2のパターンを有する保護膜は、第1のパターンを有する保護膜を部分的に除去することによって得る方法が容易であり好ましいが、場合によっては、上記第1凹部形成工程後に第1のパターンを有する保護膜を全て除去し、保護膜を再形成し、エッチング加工して第2のパターンを有する保護膜を形成してもよい。また、上記第1凹部形成工程後に第1のパターンを有する保護膜を除去しないで、表面全体に保護膜を再形成し、エッチング加工して第2のパターンを有する保護膜を形成してもよい。 Further, as described above, the protective film having the second pattern is preferably obtained by partially removing the protective film having the first pattern, but in some cases, the first concave portion is described above. After the forming step, all the protective film having the first pattern may be removed, the protective film may be reformed, and the protective film may be etched to form the protective film having the second pattern. Further, the protective film having the first pattern may not be removed after the first recess forming step, but the protective film may be re-formed on the entire surface and etched to form the protective film having the second pattern. ..
D.第1凹部及び第2凹部形成工程
本工程は、図4(I)に示すように、第2のパターンを有する保護膜5’をマスクとしてシリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行うことにより、第1の凹部4と第2の凹部6を同時に形成する工程である。
本工程で用いるエッチング液は、上記「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) B. 第1凹部形成工程」で挙げたものと同様のものを使用することができる。
D. First concave portion and second concave portion forming step As shown in FIG. 4 (I), this step is performed by performing wet anisotropic etching on a silicon substrate using a protective film 5'having a second pattern as a mask. , Is a step of forming the first recess 4 and the
As the etching solution used in this step, the same etching solution as that mentioned in "I. Manufacturing method of original plate for forming metal structure (first embodiment) B. First recess forming step" can be used.
このように製造された金属構造体形成用原版は、上記第1底面に上記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成されたものである。 The original plate for forming a metal structure manufactured in this way has a stepped shape of two or more steps in which the second recess is arranged on the first bottom surface.
第1の凹部の深さ、第1の凹部の開口幅、第2の凹部の深さ、第2の凹部の開口幅としては、後述する「III.金属構造体形成用原版(第1実施形態)」で説明する。 The depth of the first recess, the opening width of the first recess, the depth of the second recess, and the opening width of the second recess are described in "III. Original plate for forming a metal structure (first embodiment)" described later. ) ”.
上述したように、シリコン基板の(100)面に湿式異方性エッチングを行う場合、(100)面方向と(111)面方向とのエッチング速度比が非常に大きくなり、従って、ほとんど(100)面方向のみエッチングされるため、第1側面は、(111)面方向を有し、即ち、第1の凹部の底面((100)面)に対し、54.7°±1°の傾斜角を有することとなる。 As described above, when wet anisotropic etching is performed on the (100) plane of a silicon substrate, the etching rate ratio between the (100) plane direction and the (111) plane direction becomes very large, and therefore, almost (100). Since only the plane direction is etched, the first side surface has a (111) plane direction, that is, an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the bottom surface ((100) plane) of the first recess. Will have.
一方で、第2の凹部の第2側面は、シリコン基板の表面もしくは第2底面である(100)面に対し、54.7°より小さい角度、具体的には、53.6°〜11.2°の範囲内、より特徴的には33.0°〜18.5°の範囲内の傾斜角を有する。 On the other hand, the second side surface of the second recess has an angle smaller than 54.7 ° with respect to the surface of the silicon substrate or the (100) surface which is the second bottom surface, specifically, 53.6 ° to 11. It has a tilt angle in the range of 2 °, more preferably in the range of 33.0 ° to 18.5 °.
本発明者らは、第2側面の傾斜角は、本工程(2回目のエッチング)でのエッチング深さによって変動すること、より具体的には、本工程でのエッチング深さが深いほど、第2側面の傾斜角は小さくなる傾向となることを知見した。このような第2側面の傾斜角の変動傾向は、予め検量線を作成しておくことで、把握することができる。そのため、本工程においてエッチング深さを調整することで、第2側面の傾斜角度の調整が可能となり、ひいては金属構造体の形状の調整も可能となる。 The present inventors have found that the inclination angle of the second side surface varies depending on the etching depth in this step (second etching), and more specifically, the deeper the etching depth in this step, the more the first. It was found that the inclination angles of the two sides tend to be smaller. Such a fluctuation tendency of the inclination angle of the second side surface can be grasped by creating a calibration curve in advance. Therefore, by adjusting the etching depth in this step, the inclination angle of the second side surface can be adjusted, and the shape of the metal structure can also be adjusted.
III.金属構造体形成用原版(第1実施形態)
本実施形態では、(100)面を表面に有するシリコン基板の表面に、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および、上記第1底面に配置され、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、上記第1の凹部および上記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体形成用原版を提供する。
III. Original plate for forming a metal structure (first embodiment)
In the present embodiment, the surface of the silicon substrate having the surface (100) is arranged around the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and the first bottom surface, and 54. A first recess having a first side surface having an inclination angle of 7 ° ± 1 °, a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate, and the second bottom surface. It has a second side surface that is arranged around and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the bottom surface, and has a second recess, which is formed by the first recess and the second recess. Provided is an original plate for forming a metal structure in which two or more steps are formed.
本実施形態の金属構造体形成用原版について、図5を用いて詳述する。図5(A)、(B)は、本実施形態の金属構造体形成用原版の一例を示す上面図及び概略断面図である。図5に示すように、金属構造体形成用原版10は、(100)面を表面に有するシリコン基板1に、第1の凹部4と、第1の凹部4と連通し、平面視して第1の凹部の内側に設けられた第2の凹部6とが形成されたものであり、第1の凹部4と、第2の凹部6とからなる2段以上の階段形状が形成されたものである。図5(C)は、図5(A)、(B)に記載の第1の凹部及び第2の凹部を含む窪みが複数形成された本開示の金属構造体形成用原版を使用して製造された金属構造体を金型として成形された樹脂成形品であるシャーレの概略上面図を示す。
The original plate for forming a metal structure of the present embodiment will be described in detail with reference to FIG. 5 (A) and 5 (B) are a top view and a schematic cross-sectional view showing an example of the original plate for forming a metal structure of the present embodiment. As shown in FIG. 5, the
本実施形態では、第1側面4a及び第2側面6aが、それぞれ、第1底面、および第2底面(シリコン基板の(100)面)に対して54.7°±1°の傾斜角(それぞれ、図5中の角度α、角度β)を有する。
In the present embodiment, the
第2底面の平面視形状や、平面視で第2の凹部を内側に含む第1底面の形状は特に限定されないが、通常は、矩形状(例えば長方形若しくは正方形)とされる。 The shape of the second bottom surface in a plan view and the shape of the first bottom surface including the second recess in the plan view are not particularly limited, but are usually rectangular (for example, rectangular or square).
第1の凹部の開口幅や深さとしては、金属構造体の用途に応じて適宜設定されるため、特に限定されるものではないが、本実施形態の金属構造体形成用原版は、上記のようにリソグラフィ技術、エッチング等により製造することができるため、凹部のパターンの微細化が可能である。第1の凹部の深さとは、シリコン基板の凹部側の表面から、第1底面までの垂直方向の距離であり、図5中(h1)で示される距離をいう。第1の凹部の深さ(h1)は、0.1μm〜750μm、中でも1μm〜750μm、特に10μm〜200μmとすることが好ましい。上記範囲であれば、スフェロイドを形成する細胞や受精卵などの細胞を収容できる窪み構造や、細胞が配向するなどの応答ができる凹凸形状を形成可能な設計となるからである。 The opening width and depth of the first recess are appropriately set according to the use of the metal structure, and are not particularly limited. However, the original plate for forming a metal structure of the present embodiment is described above. Since it can be manufactured by lithography technology, etching, etc., it is possible to miniaturize the pattern of the recesses. The depth of the first recess is the distance in the vertical direction from the surface of the silicon substrate on the recess side to the first bottom surface, and refers to the distance shown in FIG. 5 (h1). The depth (h1) of the first recess is preferably 0.1 μm to 750 μm, particularly preferably 1 μm to 750 μm, and particularly preferably 10 μm to 200 μm. This is because, within the above range, the design can form a recessed structure capable of accommodating cells forming spheroids and cells such as a fertilized egg, and an uneven shape capable of responding such as cell orientation.
また、第1の凹部の開口幅とは、平面視して第1の凹部の開口領域の長手方向における幅であり、図5中(X1)で示される距離をいう。第1の凹部の開口幅(X1)は、得られる金属構造体の用途等を考慮すると、1μm〜100mmといった形状のものとなる。上記上限値以下であれば、最終的に樹脂成型品を製造する際に、樹脂成形品(例えばシャーレ)全体に微細構造を形成することが可能となる。例えば、第1の凹部の開口幅(X1)が100mmであれば、JIS K 0950:1988記載の最大寸法(100mm)のシャーレの全体に微細構造が形成可能である。一方、上記フォトマスクの解像度を考慮すると、20μm以上とすることが好ましい。20μm以上であれば、マスクの解像度を高くする必要がなく、マスク製作費用を抑えることができる。 The opening width of the first recess is the width in the longitudinal direction of the opening region of the first recess in a plan view, and refers to the distance shown in FIG. 5 (X1). The opening width (X1) of the first recess has a shape of 1 μm to 100 mm in consideration of the use of the obtained metal structure and the like. If it is not more than the above upper limit value, it is possible to form a fine structure in the entire resin molded product (for example, a petri dish) when the resin molded product is finally manufactured. For example, if the opening width (X1) of the first recess is 100 mm, a fine structure can be formed on the entire petri dish having the maximum dimension (100 mm) described in JIS K 0950: 1988. On the other hand, considering the resolution of the photomask, it is preferably 20 μm or more. If it is 20 μm or more, it is not necessary to increase the resolution of the mask, and the mask manufacturing cost can be suppressed.
第2の凹部の開口幅や深さとしては、金属構造体の用途に応じて適宜設定されるため、特に限定されるものではないが、本実施形態の金属構造体形成用原版は、上記のようにリソグラフィ技術、エッチング等により製造することができるため、凹部のパターンの微細化が可能である。第2の凹部の深さとは、第1底面から第2底面までの垂直方向の距離であり、図5中(h2)で示される距離をいう。第2の凹部の深さ(h2)は、上記第1の凹部の深さと同等とすることができる。 The opening width and depth of the second recess are appropriately set according to the use of the metal structure, and are not particularly limited. However, the original plate for forming the metal structure of the present embodiment is described above. Since it can be manufactured by lithography technology, etching, etc., it is possible to miniaturize the pattern of the recesses. The depth of the second recess is the distance in the vertical direction from the first bottom surface to the second bottom surface, and refers to the distance shown in FIG. 5 (h2). The depth (h2) of the second recess can be the same as the depth of the first recess.
また、第2の凹部の開口幅とは、平面視して第2の凹部の開口領域の長手方向における幅であり、図5中(X2)で示される距離をいう。第2の凹部の開口幅(X2)は、上記フォトマスクの解像度を考慮すると、1μm以上100mm未満とすることができ、好ましくは、20μm以上100mm未満の範囲内である。 The opening width of the second recess is the width in the longitudinal direction of the opening region of the second recess in a plan view, and refers to the distance shown in FIG. 5 (X2). The opening width (X2) of the second recess can be 1 μm or more and less than 100 mm in consideration of the resolution of the photomask, and is preferably in the range of 20 μm or more and less than 100 mm.
また、第2の凹部の深さ及び開口幅は特に限定されないが、開口幅(X2)と深さ(h2)が以下の関係式を満たすことが好ましい。
(X2)> 2×(h2)÷tan54.7°
上記式を満たすことにより、第2の凹部の断面形状がV溝形状にならないため、階段形状を形成することができる点で好ましい。
The depth and opening width of the second recess are not particularly limited, but it is preferable that the opening width (X2) and the depth (h2) satisfy the following relational expression.
(X2)> 2 × (h2) ÷ tan 54.7 °
By satisfying the above formula, the cross-sectional shape of the second recess does not become a V-groove shape, which is preferable in that a staircase shape can be formed.
第1の凹部及び第2の凹部が形成されるシリコン基板としては、上述した「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) A.第1保護膜形成工程 1.シリコン基板」で例示したものが挙げられる。
As the silicon substrate on which the first recess and the second recess are formed, the above-mentioned "I. Manufacturing method of original plate for forming a metal structure (first embodiment) A. First protective
また、本実施形態の金属構造体形成用原版は、図5に示すように、2段以上の階段形状が、第1の凹部及び第2の凹部を含む窪みの全ての側面(図5においては4面)に形成されていてもよいし、また、図6に示すように2段以上の階段形状が、第1の凹部及び第2の凹部を含む窪みの一部の側面(図6においては2面)に形成されていてもよい。 Further, in the original plate for forming a metal structure of the present embodiment, as shown in FIG. 5, the staircase shape having two or more steps has all the side surfaces of the recess including the first recess and the second recess (in FIG. 5). It may be formed on four surfaces), and as shown in FIG. 6, a step shape having two or more steps is formed on a part of a side surface (in FIG. 6) of the recess including the first recess and the second recess. It may be formed on two sides).
本実施形態の金属構造体形成用原版は、上述の「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態)」により製造することができる。 The original plate for forming a metal structure of the present embodiment can be produced by the above-mentioned "I. Manufacturing method of original plate for forming a metal structure (first embodiment)".
IV.金属構造体形成用原版(第2実施形態)
本実施形態では、(100)面を表面に有するシリコン基板に、上記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および、上記第1底面に配置され、上記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置され、上記底面に対し54.7°より小さい傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、上記第1の凹部および上記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体形成用原版を提供する。
IV. Original plate for forming a metal structure (second embodiment)
In the present embodiment, the silicon substrate having the (100) plane as a surface is arranged around the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and the first bottom surface, and is 54.7 ° with respect to the first bottom surface. A first recess having a first side surface having an inclination angle of ± 1 °, a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate, and around the second bottom surface. It has a second side surface that is arranged and has an inclination angle of less than 54.7 ° with respect to the bottom surface, and has a second recess, which has two or more steps due to the first recess and the second recess. Provided is an original plate for forming a metal structure having a staircase shape.
本実施形態の金属構造体形成用原版について、図7を用いて詳述する。図7に示すように、金属構造体形成用原版10は、(100)面を表面に有するシリコン基板1に、第1の凹部4が形成され、平面視して上記第1の凹部の内側に設けられた第2の凹部6が形成されたものである。そのため、本実施形態の金属構造体形成用原版は、第1の凹部と、第2の凹部とが連通してなる2段以上の階段形状を有する。
The original plate for forming a metal structure of the present embodiment will be described in detail with reference to FIG. 7. As shown in FIG. 7, in the metal structure forming
本実施形態では、第1側面4aは、第1底面(シリコン基板の(100)面)に対して
54.7°±1°の傾斜角(図7中の角度α)を有する。また、第2側面6aは、第2底面(シリコン基板の(100)面)に対して54.7°より小さい傾斜角(図7中の角度β)、具体的には53.6°〜11.2°、特には、33.0°〜18.5°の角度を有する。
In the present embodiment, the
第2底面の形状や、第2の凹部を内側に含む第1底面の形状、第1の凹部、第2の凹部の開口幅や深さは、上述した「III.金属構造体形成用原版(第1実施形態)」と同様とすることができる。 The shape of the second bottom surface, the shape of the first bottom surface including the second recess, the opening width and depth of the first recess and the second recess are described in the above-mentioned "III. The same can be applied to the first embodiment).
シリコン基板としては、上述した「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態) A.第1保護膜形成工程 1.シリコン基板」で例示したものが挙げられる。
Examples of the silicon substrate include those exemplified in the above-mentioned "I. Manufacturing method of original plate for forming a metal structure (first embodiment) A. First protective
本実施形態の金属構造体形成用原版は、上述の「II.金属構造体形成用原版の製造方法(第2実施形態)」により製造することができる。 The original plate for forming a metal structure of the present embodiment can be produced by the above-mentioned "II. Method for producing an original plate for forming a metal structure (second embodiment)".
また、本実施形態の金属構造体形成用原版も、第1実施形態の金属構造体形成用原版と同様に、2段以上の階段形状が、第1の凹部及び第2の凹部を含む窪みの全ての側面に形成されていてもよいし、また、第1の凹部及び第2の凹部を含む窪みの一部の側面に形成されていてもよい。 Further, the metal structure forming original plate of the present embodiment also has a stepped shape having two or more steps, like the metal structure forming original plate of the first embodiment, having a recess including a first recess and a second recess. It may be formed on all side surfaces, or may be formed on a part of the side surface of the recess including the first recess and the second recess.
V.金属構造体の製造方法
本開示では、さらに、金属構造体の製造方法であって、上述の金属構造体形成用原版の製造方法により金属構造体形成用原版を製造する工程と、上記金属構造体形成用原版上に、メッキ処理によって金属を堆積して金属構造体を形成する工程と、上記金属構造体を、上記金属構造体形成用原版から分離する工程と、を有することを特徴とする金属構造体の製造方法を提供する。
V. Method for Manufacturing Metal Structure In the present disclosure, a method for manufacturing a metal structure, further comprising a step of manufacturing a metal structure original plate by the above-mentioned method for manufacturing a metal structure forming original plate, and the above-mentioned metal structure manufacturing method. A metal characterized by having a step of depositing a metal on a forming master plate by a plating treatment to form a metal structure, and a step of separating the metal structure from the metal structure forming master plate. A method for manufacturing a structure is provided.
A.金属構造体形成用原版製造工程
本工程は、上述した「I.金属構造体形成用原版の製造方法(第1実施形態)」や「II.金属構造体形成用原版の製造方法(第2実施形態)」によって、図8(A)に示す金属構造体形成用原版10を製造する工程である。
A. Metal structure forming original plate manufacturing process This step includes the above-mentioned "I. Metal structure forming original plate manufacturing method (first embodiment)" and "II. Metal structure forming original plate manufacturing method (second embodiment)". Form) ”is a step of manufacturing the
B.金属堆積工程
本工程は、図8(B)に示すように、上記金属構造体形成用原版上に、メッキ処理によって金属を堆積して金属構造体11を形成する工程である。
B. Metal deposition step As shown in FIG. 8B, this step is a step of depositing metal on the metal structure forming master plate by plating to form the
金属を堆積させるメッキ方法は特に限定されないが、例えば電解メッキ、無電解メッキ等を挙げることができる。用いられる金属は特に限定されないが、ニッケル、銅、金を挙げることができ、経済性、および耐久性等の観点からニッケルが好ましく用いられる。金属構造体はその表面状態に応じて研磨しても構わない。 The plating method for depositing metal is not particularly limited, and examples thereof include electrolytic plating and electroless plating. The metal used is not particularly limited, and examples thereof include nickel, copper, and gold, and nickel is preferably used from the viewpoint of economy, durability, and the like. The metal structure may be polished depending on its surface condition.
C.金属構造体分離工程
本工程は、図8(C)に示すように、金属構造体11を、金属構造体形成用原版10から分離する工程である。このように分離した金属構造体は、少なくとも2段以上の階段構造を有し、各段差部分の傾斜角が54.7°程度か、54.7°程度より小さいものである。そのため、金属構造体を分離する際に、破損する恐れが少ないものとなる。
C. Metal structure separation step As shown in FIG. 8C, this step is a step of separating the
このような本開示の金属構造体の製造方法によると、微細な構造の金属構造体を、容易に、かつ、安価に製造することが可能となる。このような方法で製造された金属構造体の詳細については、後述の「VI.金属構造体」で説明する。 According to the method for producing a metal structure of the present disclosure, it is possible to easily and inexpensively produce a metal structure having a fine structure. Details of the metal structure manufactured by such a method will be described in "VI. Metal Structure" described later.
VI.金属構造体
本開示の金属構造体は、金属基体、上記金属基体から突出し、上記金属基体表面と平行な第1天面と、上記第1天面の周囲に配置され、上記金属基体表面に対し、54.7°±1°の傾斜角を有する第1側壁面と、を有する第1の凸部、および、上記第1天面から突出し、上記第1天面と平行な第2天面と、上記第2天面の周囲に配置された第2側壁面と、を有する第2の凸部、で構成され、上記第1の凸部および上記第2の凸部により、2段以上の階段形状が構成されたものである。
VI. Metal Structure The metal structure of the present disclosure is a metal substrate, a first top surface that protrudes from the metal substrate and is parallel to the surface of the metal substrate, and is arranged around the first top surface, with respect to the surface of the metal substrate. , A first side wall surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 °, a first convex portion having, and a second top surface protruding from the first top surface and parallel to the first top surface. , A second side wall surface arranged around the second top surface, and a second convex portion having the first convex portion and the second convex portion, two or more stairs. The shape is constructed.
A.第1実施態様
本実施形態の金属構造体は、例えば、少なくとも、金属基体と、該金属基体から突出した第1の凸部と、上記第1の凸部の天面から突出した第2の凸部とを含む、2段以上の階段構造が形成された金属構造体であり、上記第1側壁面が、上記金属基体の平面方向に対して、54.7°±1°の傾斜角を有する傾斜面をなし、上記第2側壁面が、上記第1天面に対して54.7°±1°の傾斜角を有する傾斜面をなすものが挙げられる。
A. First Embodiment The metal structure of the present embodiment is, for example, at least a metal substrate, a first convex portion protruding from the metal substrate, and a second convex portion protruding from the top surface of the first convex portion. It is a metal structure in which a step structure of two or more steps including a portion is formed, and the first side wall surface has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the plane direction of the metal substrate. An inclined surface is formed, and the second side wall surface forms an inclined surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first top surface.
B.第2実施態様
また、別の実施態様として、第1側壁面が、金属基体の平面方向に対し、54.7°±1°の傾斜角を有する傾斜面をなし、第2側壁面が、第1の凸部の天面に対し、54.7°より小さい傾斜角を有する傾斜面をなすものが挙げられる。
B. Second Embodiment As another embodiment, the first side wall surface forms an inclined surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the plane direction of the metal substrate, and the second side wall surface has a second side wall surface. An inclined surface having an inclination angle smaller than 54.7 ° with respect to the top surface of the convex portion of 1 can be mentioned.
C.その他
上記第1実施態様および第2実施態様における第1の凸部および第2の凸部の断面形状は、共に、テーパー形状であり、金属基体の平面方向に対する傾斜角は上述した角度となる。
C. Others The cross-sectional shapes of the first convex portion and the second convex portion in the first embodiment and the second embodiment are both tapered shapes, and the inclination angle of the metal substrate with respect to the plane direction is the above-mentioned angle.
このような金属構造体は、上記「III.金属構造体形成用原版(第1実施形態)」や「IV.金属構造体形成用原版(第2実施形態)」を用いる上記「V.金属構造体の製造方法」によって製造することができる。
そのため、本実施形態の金属構造体の第1の凸部及び第2の凸部は、それぞれ、上記金属構造体形成用原版の第1の凹部及び第2の凹部に対応するものであり、第1の凸部及び第2の凸部の高さ及び幅も、上記金属構造体形成用原版の第1の凹部及び第2の凹部によって形成可能な値とすることができる。
また、本実施形態の金属構造体は、上述したようなテーパー形状であることから、金属構造体形成用原版から分離する際に、破損する恐れが少ないものとなる。
Such a metal structure is the above-mentioned "V. metal structure" using the above-mentioned "III. Original plate for forming a metal structure (first embodiment)" and "IV. Original plate for forming a metal structure (second embodiment)". It can be manufactured by the "manufacturing method of the body".
Therefore, the first convex portion and the second convex portion of the metal structure of the present embodiment correspond to the first concave portion and the second concave portion of the original plate for forming the metal structure, respectively. The height and width of the
Further, since the metal structure of the present embodiment has a tapered shape as described above, there is little risk of damage when the metal structure is separated from the original plate for forming the metal structure.
金属構造体を構成する金属としては、「V.金属構造体の製造方法 B.金属堆積工程」で説明したものと同様のものが挙げられる。 Examples of the metal constituting the metal structure include the same as those described in "V. Manufacturing method of metal structure B. Metal deposition process".
本開示の金属構造体の用途は特に限定されないが、例えば、射出成型用金型や、プレス成形、モノマーキャスト成形、溶剤キャスト成形、押出成形によるロール転写法の金型等として使用することができる。 The use of the metal structure of the present disclosure is not particularly limited, but it can be used, for example, as a mold for injection molding, a mold for press molding, monomer cast molding, solvent cast molding, a roll transfer method by extrusion molding, or the like. ..
VII.樹脂成型品の製造方法
本開示では、樹脂成形品の製造方法であって、上述の金属構造体の製造方法により金属構造体を製造し、上記金属構造体を射出成形用金型として用い、樹脂を流動状態で射出し、成形することで樹脂成形品を得る、樹脂成形品の製造方法を提供する。
具体的には、上記「VI.金属構造体」で説明した金属構造体を射出成形用金型として用い、樹脂を流動状態で射出し、成形することで得ることができる。そのため、本開示の樹脂成型品の第1の凹部及び第2の凹部は、それぞれ、金属構造体の第1の凸部及び第2の凸部に対応するものであり、製造される樹脂成型品の第1の凹部及び第2の凹部の開口幅や深さは、上記金属構造体の第1の凸部及び第2の凸部によって形成可能な値とすることができる。
VII. Manufacturing Method of Resin Molded Product In the present disclosure, which is a manufacturing method of a resin molded product, a metal structure is manufactured by the above-mentioned manufacturing method of a metal structure, and the above metal structure is used as an injection molding mold to form a resin. Provided is a method for producing a resin molded product, which obtains a resin molded product by injecting and molding the product in a fluid state.
Specifically, it can be obtained by using the metal structure described in the above "VI. Metal structure" as a mold for injection molding, injecting a resin in a fluid state, and molding the resin. Therefore, the first recess and the second recess of the resin molded product of the present disclosure correspond to the first convex portion and the second convex portion of the metal structure, respectively, and the resin molded product to be manufactured. The opening width and depth of the first concave portion and the second concave portion of the metal structure can be set to values that can be formed by the first convex portion and the second convex portion of the metal structure.
樹脂としては、基本的には特に制限はなく公知の樹脂でよい。製品の要求物性やコスト等に応じて選定すればよい。熱可塑性樹脂であれば、ABS(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体)樹脂、ポリカーボネート樹脂、スチレン樹脂、アクリル樹脂、塩化ビニル樹脂、ポリエチレン樹脂やポリプロピレン樹脂等のポリオレフィン系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリ乳酸樹脂、シクロオレフィンコポリマー(COC)、シクロオレフィンポリマー(COP)等である。また、硬化性樹脂であれば、2液硬化型の樹脂、例えば、ウレタン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂等の未硬化樹脂液等である。
熱可塑性樹脂は加熱熔融して流動状態で射出し、また硬化性樹脂は(その未硬化物を)室温又は適宜加熱して流動状態で射出する。
The resin is basically not particularly limited and may be a known resin. It may be selected according to the required physical properties and cost of the product. For thermoplastic resins, ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer) resin, polycarbonate resin, styrene resin, acrylic resin, vinyl chloride resin, polyolefin resin such as polyethylene resin and polypropylene resin, polyester resin, polylactic acid resin , Cycloolefin copolymer (COC), cycloolefin polymer (COP) and the like. Further, if it is a curable resin, it is a two-component curable resin, for example, an uncured resin solution such as a urethane resin, an unsaturated polyester resin, or an epoxy resin.
The thermoplastic resin is melted by heating and injected in a fluid state, and the curable resin (the uncured product) is injected in a fluid state by heating at room temperature or appropriately.
なお、上記樹脂は、用途に応じて、適宜、着色剤、シリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシウム、水酸化アルミニウム等の無機物粉末、ガラス繊維等の充填剤、安定剤、滑剤等の公知の各種添加剤を含有させてもよい。 The above resin may be appropriately added with various known additives such as colorants, silica, alumina, talc, calcium carbonate, aluminum hydroxide and other inorganic powders, glass fiber fillers, stabilizers, lubricants and the like. The agent may be contained.
VIII.樹脂成型品
本開示では、樹脂基板に、上記樹脂基板の表面と平行な第1底面と、上記第1底面の周囲に配置され、上記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および上記第1底面に配置され、上記樹脂基板の表面と平行な第2底面と、上記第2底面の周囲に配置された第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、上記第1の凹部および上記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、樹脂成形品を提供する。
VIII. Resin molded product In the present disclosure, the resin substrate is arranged on the first bottom surface parallel to the surface of the resin substrate and around the first bottom surface, and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A first side surface having a surface, a first recess having a surface, a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the resin substrate, and a second side surface arranged around the second bottom surface. Provided is a resin molded product having a second recess having a, and having a stepped shape of two or more steps formed by the first recess and the second recess.
本開示の樹脂成型品は、第2側面の傾斜角が54.7°±1°である第1実施形態と、第2側面の傾斜角が54.7°より小さい第2実施形態とがある。
本開示の樹脂成型品は、上述した「VII.樹脂成型品の製造方法」によって製造することができる。上述した金属構造体を金型として使用することで、微細な構造を有する樹脂成形品を得ることができる。
The resin molded product of the present disclosure includes a first embodiment in which the inclination angle of the second side surface is 54.7 ° ± 1 ° and a second embodiment in which the inclination angle of the second side surface is smaller than 54.7 °. ..
The resin molded product of the present disclosure can be manufactured by the above-mentioned "VII. Method for manufacturing a resin molded product". By using the above-mentioned metal structure as a mold, a resin molded product having a fine structure can be obtained.
本開示の樹脂成形品の用途は特に限定されないが、例えば、三次元細胞培養容器、マイクロパターン細胞培養容器、マイクロウェル受精卵培養容器などとして使用することができる。 The use of the resin molded product of the present disclosure is not particularly limited, but it can be used, for example, as a three-dimensional cell culture container, a micropattern cell culture container, a microwell fertilized egg culture container, or the like.
本開示は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本開示の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本開示の技術的範囲に包含される。 The present disclosure is not limited to the above embodiments. The above embodiment is an example, and any object having substantially the same structure as the technical idea described in the claims of the present disclosure and exhibiting the same effect and effect is the present invention. Included in the technical scope of the disclosure.
以下に実施例を示し、本開示をさらに詳細に説明する。
(実施例)
図3、4に示す方法で、金属構造体形成用原版を製造した。具体的には、表面に(100)面を有するシリコン基板を準備した(図3(A))。準備したシリコン基板を熱酸化して、両面に熱酸化膜からなるエッチング保護膜を形成した(図3(B))。次いで、エッチング保護膜上にフォトレジスト膜を形成し、露光、現像工程を行い、レジストパターンを形成し(図3(C))、該レジストパターンをマスクとして、保護膜に、エッチング工程により凹部となる部分の窓開け加工を行い、第1のパターンを有する保護膜を形成した(図3(D))。
Examples are shown below, and the present disclosure will be described in more detail.
(Example)
An original plate for forming a metal structure was manufactured by the method shown in FIGS. 3 and 4. Specifically, a silicon substrate having a (100) surface on its surface was prepared (FIG. 3 (A)). The prepared silicon substrate was thermally oxidized to form an etching protective film composed of thermal oxide films on both sides (FIG. 3 (B)). Next, a photoresist film is formed on the etching protective film, exposure and development steps are performed to form a resist pattern (FIG. 3 (C)), and the resist pattern is used as a mask to form a concave portion on the protective film by the etching step. A protective film having the first pattern was formed by opening the window of the portion (FIG. 3 (D)).
次に、エッチング液により、湿式異方性エッチングを行い、仮の凹部を形成した(図3(E))。仮の凹部の深さは5μmとした。さらに、フォトレジスト膜を形成し、露光、現像を行うことによりレジストパターンを形成した(図4(F))。この際、第1の凹部領域が含まれる新たなパターンを形成するようアライメント露光を行った。該レジストパターンをマスクとして、保護膜に、新たな窓開け加工を行い、第1のパターンを有する保護膜を形成(図4(G)、(H))した。エッチング液により、湿式異方性エッチングを行うことで、第1の凹部と、平面視で第1の凹部の内側に含まれる第2の凹部とを同時に形成(図4(I))した。第1の凹部、第2の凹部の深さは共に5μmであった。最後に、エッチング保護膜をフッ酸溶液により除去した。 Next, wet anisotropic etching was performed with an etching solution to form a temporary recess (FIG. 3 (E)). The depth of the temporary recess was 5 μm. Further, a photoresist film was formed, and a resist pattern was formed by exposure and development (FIG. 4 (F)). At this time, alignment exposure was performed so as to form a new pattern including the first concave region. Using the resist pattern as a mask, a new window opening process was performed on the protective film to form a protective film having the first pattern (FIGS. 4 (G) and 4 (H)). By performing wet anisotropic etching with an etching solution, a first recess and a second recess included inside the first recess in a plan view were formed at the same time (FIG. 4 (I)). The depth of both the first recess and the second recess was 5 μm. Finally, the etching protective film was removed with a hydrofluoric acid solution.
上記方法にて、第1の凹部が深さ5μm、第2の凹部が深さ5μmとなる階段構造をシリコン基板に形成し、各凹部の側面の傾斜角を測定した結果、第1の凹部(α):54.7°、第2の凹部(β):54.7°より小さく、25.7°以上となり、第1の凹部と第2の凹部で側面の傾斜角が異なった。 By the above method, a staircase structure having a depth of 5 μm in the first recess and a depth of 5 μm in the second recess was formed on the silicon substrate, and the inclination angle of the side surface of each recess was measured. α): 54.7 °, second recess (β): smaller than 54.7 ° and 25.7 ° or more, and the inclination angle of the side surface was different between the first recess and the second recess.
なお、図9に、仮の凹部を形成した後(図9(A))、第1の凹部と第2の凹部とを同時に形成した後(図9(B))の金属構造体形成用原版の断面形状の変化を示す。
この結果から、第2側面の傾斜角は、2回目のエッチングでのエッチング深さによって変動すること、より具体的には、2回目のエッチングでのエッチング深さが深いほど、第2側面の傾斜角は小さくなる傾向となることが判った。
In addition, in FIG. 9, after forming a temporary recess (FIG. 9 (A)), after forming the first recess and the second recess at the same time (FIG. 9 (B)), the original plate for forming a metal structure. The change in the cross-sectional shape of is shown.
From this result, the inclination angle of the second side surface varies depending on the etching depth in the second etching. More specifically, the deeper the etching depth in the second etching, the more the inclination of the second side surface is inclined. It was found that the horns tended to be smaller.
1 … シリコン基板
2 … 第1の保護膜
2’… 第1のパターンを有する保護膜
3 … レジスト膜
4 … 第1の凹部
5 … 第2の保護膜
5’… 第2のパターンを有する保護膜
6 … 第2の凹部
7 … 仮の凹部
10 … 金属構造体形成用原版
11 … 金属構造体
1 ...
Claims (12)
前記第1のパターンを有する保護膜をマスクとして前記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、前記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、前記第1底面の周囲に配置され、前記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部を形成する工程と、
前記第1の凹部の表面に保護膜を形成した後、前記第1底面に前記シリコン基板を一部露出する開口部が配置された第2のパターンを有する保護膜を前記シリコン基板上に形成する工程と、
前記第2のパターンを有する保護膜をマスクとして前記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、前記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、前記第2底面の周囲に配置され、前記底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部を形成する工程と、を有し、
前記第1底面に前記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成された金属構造体形成用原版を製造する、金属構造体形成用原版の製造方法。 (100) A step of forming a protective film having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the surface of a silicon substrate having a surface as a surface.
Wet anisotropic etching is performed on the silicon substrate using the protective film having the first pattern as a mask, and the silicon substrate is arranged on the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and around the first bottom surface. A step of forming a first recess having a first side surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface, and a step of forming the first recess.
After forming a protective film on the surface of the first recess, a protective film having a second pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the first bottom surface is formed on the silicon substrate. Process and
Wet anisotropic etching is performed on the silicon substrate using the protective film having the second pattern as a mask, and the second bottom surface is arranged parallel to the surface of the silicon substrate and around the second bottom surface. It has a second side surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the bottom surface, and a step of forming a second recess having the second side surface.
A method for producing a metal structure-forming original plate, which comprises producing a metal structure-forming original plate having two or more steps formed by arranging the second recess on the first bottom surface.
前記第1のパターンを有する保護膜をマスクとして前記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行い、仮の凹部を形成する工程と、
前記仮の凹部の外周部に配置された保護膜を除去し、平面視して前記仮の凹部よりも大きい開口部を有する第2のパターンを有する保護膜を前記シリコン基板上に形成する工程と、
前記第2のパターンを有する保護膜をマスクとして前記シリコン基板に対して湿式異方性エッチングを行うことで、前記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、前記第1底面の周囲に配置され、前記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および前記第1底面に形成され、前記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、前記第2底面の周囲に配置され、前記底面に対し、54.7°より小さい傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を同時に形成する工程と、を有し、
前記第1底面に前記第2の凹部が配置されてなる2段以上の階段形状が形成された金属構造体形成用原版を製造する、金属構造体形成用原版の製造方法。 (100) A step of forming a protective film having a first pattern in which an opening for partially exposing the silicon substrate is arranged on the surface of a silicon substrate having a surface as a surface.
A step of forming a temporary recess by performing wet anisotropic etching on the silicon substrate using the protective film having the first pattern as a mask.
A step of removing the protective film arranged on the outer peripheral portion of the temporary recess and forming a protective film having a second pattern having an opening larger than the temporary recess on the silicon substrate in a plan view. ,
By performing wet anisotropic etching on the silicon substrate using the protective film having the second pattern as a mask, it is arranged on the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and around the first bottom surface. , A first recess having a first side surface having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface, and a second surface formed on the first bottom surface and parallel to the surface of the silicon substrate. It has a step of simultaneously forming a bottom surface and a second recess having a second side surface arranged around the second bottom surface and having an inclination angle smaller than 54.7 ° with respect to the bottom surface. ,
A method for producing a metal structure-forming original plate, which comprises producing a metal structure-forming original plate having two or more steps formed by arranging the second recess on the first bottom surface.
請求項1から請求項6までのいずれかの請求項に記載の金属構造体形成用原版の製造方法により金属構造体形成用原版を製造する工程と、
前記金属構造体形成用原版に、メッキ処理によって金属を堆積して金属構造体を形成する工程と、
前記金属構造体を、前記金属構造体形成用原版から分離する工程と、
を有することを特徴とする金属構造体の製造方法。 It is a method of manufacturing a metal structure.
A step of manufacturing a metal structure forming original plate by the method for manufacturing a metal structure forming original plate according to any one of claims 1 to 6.
A step of depositing metal by plating on the original plate for forming a metal structure to form a metal structure,
A step of separating the metal structure from the original plate for forming the metal structure, and
A method for producing a metal structure, which comprises.
請求項7に記載の金属構造体の製造方法により金属構造体を製造し、
前記金属構造体を射出成形用金型として用い、樹脂を流動状態で射出し、成形することで樹脂成形品を得ることを特徴とする、樹脂成形品の製造方法。 It is a manufacturing method of resin molded products.
A metal structure is manufactured by the method for manufacturing a metal structure according to claim 7.
A method for producing a resin molded product, which comprises using the metal structure as a mold for injection molding, injecting a resin in a fluid state, and molding the resin to obtain a resin molded product.
前記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、前記第1底面の周囲に配置され、前記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および
前記第1底面に配置され、前記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、前記第2底面の周囲に配置され、前記第2底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、
前記第1の凹部および前記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体形成用原版。 (100) On the surface of a silicon substrate having a surface on the surface,
A first surface having a first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and a first side surface arranged around the first bottom surface and having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A second bottom surface which is arranged in the recess and the first bottom surface and is parallel to the surface of the silicon substrate, and is arranged around the second bottom surface and has an inclination of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the second bottom surface. It has a second side surface with corners and a second recess with.
An original plate for forming a metal structure, in which two or more steps are formed by the first recess and the second recess.
前記シリコン基板の表面と平行な第1底面と、前記第1底面の周囲に配置され、前記第1底面に対し54.7°±1°の傾斜角を有する第1側面と、を有する第1の凹部、および
前記第1底面に配置され、前記シリコン基板の表面と平行な第2底面と、前記第2底面の周囲に配置され、前記第2底面に対し54.7°より小さい傾斜角を有する第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、
前記第1の凹部および前記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体形成用原版。 (100) On a silicon substrate having a surface as a surface,
A first surface having a first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate and a first side surface arranged around the first bottom surface and having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface. A second bottom surface arranged in the recess and the first bottom surface parallel to the surface of the silicon substrate, and an inclination angle smaller than 54.7 ° with respect to the second bottom surface arranged around the second bottom surface. Has a second side surface, and has a second recess, which has.
An original plate for forming a metal structure, in which two or more steps are formed by the first recess and the second recess.
前記金属基体から突出し、前記金属基体表面と平行な第1天面と、前記第1天面の周囲に配置され、前記金属基体表面に対し、54.7°±1°の傾斜角を有する第1側壁面と、を有する第1の凸部、および
前記第1天面から突出し、前記第1天面と平行な第2天面と、前記第2天面の周囲に配置された第2側壁面と、を有する第2の凸部、で構成され、
前記第1の凸部および前記第2の凸部により、2段以上の階段形状が構成された、金属構造体。 Metal substrate,
A first top surface that protrudes from the metal substrate and is parallel to the surface of the metal substrate, and is arranged around the first top surface and has an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the surface of the metal substrate. A first convex portion having one side wall surface, a second top surface protruding from the first top surface and parallel to the first top surface, and a second side arranged around the second top surface. Consists of a wall surface and a second convex portion having
A metal structure in which two or more steps are formed by the first convex portion and the second convex portion.
前記第1底面に配置され、前記樹脂基板の表面と平行な第2底面と、前記第2底面の周囲に配置された第2側面と、を有する第2の凹部、を有し、
前記第1の凹部および前記第2の凹部により、2段以上の階段形状が構成された、樹脂成形品。 On the resin substrate, a first bottom surface parallel to the surface of the resin substrate, a first side surface arranged around the first bottom surface and having an inclination angle of 54.7 ° ± 1 ° with respect to the first bottom surface, and A second recess having a first recess having a structure, a second bottom surface arranged on the first bottom surface and parallel to the surface of the resin substrate, and a second side surface arranged around the second bottom surface. Have,
A resin molded product in which two or more steps are formed by the first recess and the second recess.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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