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JP2021018959A - Interposer - Google Patents

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信一 橋本
白井 浩史
Hiroshi Shirai
浩史 白井
相澤 正幸
Masayuki Aizawa
正幸 相澤
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Abstract

【課題】ハウジングの、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザを提供する。【解決手段】コンタクト30は、ハウジング20の貫通孔21内に圧入された基部と、第1のコンタクトビーム32と、第2のコンタクトビーム33を有する。第1のコンタクトビーム32は、基部から第1面20Aより外側に延出している。また、第2のコンタクトビーム33は、基部から第2面20Bより外側に延出している。ここで、幅方向に隣接する2つのコンタクト30の第1のコンタクトビーム32どうしの第1の間隔x1が第2のコンタクトビームどうしの第2の間隔x2よりも狭くなるように第1のコンタクトビーム32が第2のコンタクトビーム33よりも幅広に形成されている。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an interposer having improved electrical characteristics while keeping a partition wall separating adjacent through holes of a housing having a predetermined thickness or more. A contact 30 has a base press-fitted into a through hole 21 of a housing 20, a first contact beam 32, and a second contact beam 33. The first contact beam 32 extends outward from the first surface 20A from the base. Further, the second contact beam 33 extends outward from the second surface 20B from the base portion. Here, the first contact beam so that the first distance x1 between the first contact beams 32 of the two contacts 30 adjacent to each other in the width direction is narrower than the second distance x2 between the second contact beams. 32 is formed wider than the second contact beam 33. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明は、2つの電子部品(回路基板を含む)に挟まれて、それら2つの電子部品の各々に形成されている接続パッドに接してそれらの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザに関する。 The present invention relates to an interposer that is sandwiched between two electronic components (including a circuit board) and is in contact with a connection pad formed on each of the two electronic components to electrically connect the electronic components to each other.

従来より、2つの電子部品に挟まれて、それらの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザが知られている。このインターポーザは、配列された多数の貫通孔を有する板状のハウジングと、それら多数の貫通孔の各々に挿し込まれてハウジングに保持された多数のコンタクトとを備えている。 Conventionally, an interposer that is sandwiched between two electronic components and electrically connects the electronic components has been known. The interposer comprises a plate-like housing having a large number of arranged through holes and a large number of contacts inserted into each of the large number of through holes and held in the housing.

ここで、特許文献1には、プラスチック本体がオーバーモールドされた幅広の中央部から先端を除き一定幅のアームが上下に延びているコンタクトを備えたインターポーザが開示されている。 Here, Patent Document 1 discloses an interposer including a contact in which an arm having a constant width extends vertically from a wide central portion in which a plastic body is overmolded except for a tip.

特表2016−503946号公報Special Table 2016-503946

インターポーザを構成するコンタクトは、ハウジングの貫通孔内に配置されてハウジングに保持される基部を備えている。そして、そのコンタクトは、基部からハウジングの第1面および第2面にそれぞれ延出する2つのコンタクトビームを備えている。 The contacts that make up the interposer include a base that is located in the through hole of the housing and held in the housing. The contact then comprises two contact beams extending from the base to the first and second surfaces of the housing, respectively.

それら2つのコンタクトビームは、上掲の特許文献1のように、例えば互いに同一形状に形成される。この特許文献1の場合、2つのコンタクトビームは、先端側ほど狭幅、すなわち先細りの形状を有する。また、それらのコンタクトビームは基部を貫通孔内に配置する必要上、基部よりも狭幅に形成される。また、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁は、強度を保持するため、所定以上の厚みが必要である。このような事情から、隣接するコンタクトの間隔は隔壁以上の間隔となる。 The two contact beams are formed in the same shape, for example, as in Patent Document 1 described above. In the case of Patent Document 1, the two contact beams have a narrower width, that is, a tapered shape toward the tip end side. Further, these contact beams are formed to be narrower than the base because the base needs to be arranged in the through hole. Further, the partition wall separating the adjacent through holes needs to have a thickness of a predetermined value or more in order to maintain the strength. Under these circumstances, the distance between adjacent contacts is greater than or equal to the partition wall.

ところが、幅方向に隣接する2つのコンタクトを隔壁の厚みよりも狭めることが、電気的な特性の向上のために好ましいことがある。 However, it may be preferable to make the two contacts adjacent to each other in the width direction narrower than the thickness of the partition wall in order to improve the electrical characteristics.

本発明は、ハウジングの、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザを提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an interposer having improved electrical characteristics while maintaining a partition wall of a housing that separates adjacent through holes from each other to a predetermined thickness or more.

上記目的を達成する本発明のインターポーザは、
2つの電子部品に挟まれて、2つの電子部品の各々に形成されている接続パッドに接して2つの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザであって、
2つの電子部品のうちの第1の電子部品側を向いた第1面と、2つの電子部品のうちの第2の電子部品側を向いた第2面と、第1面と第2面とに貫通する複数の貫通孔とを有するハウジング、および
貫通孔に圧入された基部と、基部から第1面より外側に第1面に対しハウジングの厚み方向に斜めに延出し先端部に第1の電気部品に接する第1の接点部を有する第1のコンタクトビームと、基部から第2面より外側に第2面に対し厚み方向に斜めに延出し先端部に第2の電気部品に接する第2の接点部を有する第2のコンタクトビームとを備えた複数のコンタクトを有し、
互いに幅方向に隣接する2つの隣接コンタクトの第1のコンタクトビームどうしの最近接した部分の第1の間隔が2つの隣接コンタクトの第2のコンタクトビームどうしの最近接した部分の第2の間隔よりも狭くなるように第1のコンタクトビームが第2のコンタクトビームよりも幅広であることを特徴とする。
The interposer of the present invention that achieves the above object is
An interposer that is sandwiched between two electronic components and is in contact with a connection pad formed on each of the two electronic components to electrically connect the two electronic components.
The first surface of the two electronic components facing the first electronic component side, the second surface of the two electronic components facing the second electronic component side, and the first and second surfaces. A housing having a plurality of through holes penetrating through the holes, and a base portion press-fitted into the through holes, and a first portion extending obliquely from the base portion to the outside of the first surface in the thickness direction of the housing with respect to the first surface. A first contact beam having a first contact portion in contact with an electric component, and a second contacting a second electrical component at a tip portion extending diagonally in the thickness direction with respect to a second surface outward from the base portion and a second surface. Having a plurality of contacts with a second contact beam having a contact portion of
The first distance between the first contact beams of two adjacent contacts adjacent to each other in the width direction is larger than the second distance between the second contact beams of the second contact beams of the two adjacent contacts. The first contact beam is wider than the second contact beam so as to be narrower.

本発明のインターポーザの場合、第1の間隔が第2の間隔よりも狭い。そこで、狭幅の第2のコンタクトビーム側から貫通孔に挿入して基部を貫通孔内に圧入する。こうすることで、隣接する貫通孔どうしの隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザが実現する。 In the case of the interposer of the present invention, the first interval is narrower than the second interval. Therefore, it is inserted into the through hole from the narrow second contact beam side and the base portion is press-fitted into the through hole. By doing so, an interposer having improved electrical characteristics is realized while keeping the partition walls between adjacent through holes having a predetermined thickness or more.

ここで、本発明のインターポーザにおいて、上記の第1の間隔が2つの隣接コンタクトの基部が圧入される2つの貫通孔を隔てる隔壁の厚みよりも狭くなるように第1のコンタクトビームが幅広であることが好ましい。 Here, in the interposer of the present invention, the first contact beam is wide so that the first distance is narrower than the thickness of the partition wall separating the two through holes into which the bases of the two adjacent contacts are press-fitted. Is preferable.

第1のコンタクトビームは、貫通孔への挿通が可能である必要はない。したがって、第1のコンタクトビームを、上記の第1の間隔が2つの貫通孔を隔てる隔壁の厚みよりも狭くなるように幅広とすることにより、電気的特性の改善が図られる。 The first contact beam need not be able to penetrate through the through hole. Therefore, the electrical characteristics can be improved by widening the first contact beam so that the above-mentioned first spacing is narrower than the thickness of the partition wall separating the two through holes.

また、本発明のインターポーザにおいて、第1のコンタクトビームの、第1の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の第1の幅を有するとともに、第2のコンタクトビームの、第2の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の、上記の第1の幅よりも狭幅の第2の幅を有することが好ましい。 Further, in the interposer of the present invention, the portion of the first contact beam excluding the tip portion having the first contact portion has a uniform first width and the second contact beam of the second contact beam. It is preferable that the portion excluding the tip portion having the contact portion has a uniform second width narrower than the first width described above.

第1のコンタクトビームおよび第2のコンタクトビームを均一の幅に形成すると、上掲の特許文献1のような先細りの形状のコンタクトビームと比べ、高速信号の伝送に優れたコンタクトとなる。したがって、そのコンタクトを採用することで、高速信号の伝送に優れたインターポーザが実現する。 When the first contact beam and the second contact beam are formed to have a uniform width, the contact is excellent in high-speed signal transmission as compared with the tapered contact beam as in Patent Document 1 described above. Therefore, by adopting the contact, an interposer excellent in high-speed signal transmission is realized.

さらに、本発明のインターポーザにおいて、コンタクトが、幅方向に左右対称な構造を有することが好ましい。 Further, in the interposer of the present invention, it is preferable that the contacts have a symmetrical structure in the width direction.

コンタクトビームは電子部品に押されて弾性的に変形する。ここで、コンタクトが幅方向に左右対称な構造を有すと、電気部品に押された時の力が幅方向左右に均等に分散するため、座屈等が生じにくく高い信頼性を確保できる。 The contact beam is pushed by the electronic component and elastically deformed. Here, if the contact has a structure symmetrical in the width direction, the force when pressed by the electric component is evenly distributed in the left and right sides in the width direction, so that buckling and the like are less likely to occur and high reliability can be ensured.

以上の本発明によれば、ハウジングの、隣接する貫通孔どうしを隔てる隔壁を所定厚み以上に保ちつつ、電気的な特性を向上させたインターポーザが実現する。 According to the above invention, an interposer having improved electrical characteristics is realized while keeping the partition wall separating the adjacent through holes of the housing at a predetermined thickness or more.

本発明の一実施形態のインターポーザの斜視図である。It is a perspective view of the interposer of one Embodiment of this invention. 図1に示したインターポーザを構成している1つのコンタクトを示した図である。It is a figure which showed one contact which constitutes the interposer shown in FIG. 図1に示したインターポーザを構成しているハウジングを示した図である。It is a figure which showed the housing which constitutes the interposer shown in FIG. 貫通孔の変形例を示した図である。It is a figure which showed the modification of the through hole.

以下、本発明の実施の形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.

図1は、本発明の一実施形態のインターポーザの斜視図である。ここで、図1(A)はハウジングの第1面を上に向けた姿勢の斜視図、図1(B)はハウジングの第2面を上に向けた姿勢の斜視図である。インターポーザには例えば4000個ものコンタクトが配置されているが、同じ構造の繰り返しであり、ここではその一部分のみが示されている。 FIG. 1 is a perspective view of an interposer according to an embodiment of the present invention. Here, FIG. 1A is a perspective view of a posture in which the first surface of the housing is facing upward, and FIG. 1B is a perspective view of a posture in which the second surface of the housing is facing upward. For example, 4000 contacts are arranged in the interposer, but it is a repetition of the same structure, and only a part of them is shown here.

インターポーザ10は、板状のハウジング20と、複数のコンタクト30とを有する。ハウジング20には、その第1面20Aと第2面20Bとに貫通した、格子状に配列された複数の貫通孔21(図3を合わせて参照)が形成されている。そして、各貫通孔21に、コンタクト30が1つずつ圧入されている。 The interposer 10 has a plate-shaped housing 20 and a plurality of contacts 30. The housing 20 is formed with a plurality of through holes 21 (see also FIG. 3) arranged in a grid pattern penetrating the first surface 20A and the second surface 20B. Then, one contact 30 is press-fitted into each through hole 21.

図2は、図1に示したインターポーザを構成している1つのコンタクトを示した図である。ここで、図2(A)は斜視図、図2(B)は正面図である。 FIG. 2 is a diagram showing one contact constituting the interposer shown in FIG. Here, FIG. 2A is a perspective view, and FIG. 2B is a front view.

また、図3は、図1に示したインターポーザを構成しているハウジングを示した図である。ここで、図3(A)は斜視図、図3(B)は平面図である。 Further, FIG. 3 is a diagram showing a housing constituting the interposer shown in FIG. Here, FIG. 3A is a perspective view, and FIG. 3B is a plan view.

このコンタクト30は、平板状の基部31と、基部31の上端および下端からそれぞれ延びる第1のコンタクトビーム32および第2のコンタクトビーム33とを有する。 The contact 30 has a flat plate-shaped base portion 31 and a first contact beam 32 and a second contact beam 33 extending from the upper end and the lower end of the base portion 31, respectively.

基部31には、幅方向に突き出た圧入部311が設けられている。この圧入部311は、このコンタクト30が貫通孔21内に圧入されたときに貫通孔21の内壁面に食い込んで、コンタクト30を貫通孔21内に保持させる部分である。 The base portion 31 is provided with a press-fitting portion 311 protruding in the width direction. The press-fitting portion 311 is a portion that, when the contact 30 is press-fitted into the through-hole 21, bites into the inner wall surface of the through-hole 21 and holds the contact 30 in the through-hole 21.

このコンタクト30は、基部31が貫通孔21の1つの内壁面211に沿うように、ハウジング20の第1面20A側から貫通孔21内に圧入される。 The contact 30 is press-fitted into the through hole 21 from the first surface 20A side of the housing 20 so that the base 31 is along one inner wall surface 211 of the through hole 21.

また、第1のコンタクトビーム32は、基部31からハウジング20の第1面20Aより外側に、第1面20Aに対し斜めに延出している。そして、その第1のコンタクトビーム32の延出した先端部には、第1の接点部321が設けられている。第1面20Aに対面する位置に、本発明の第1の電子部品の一例である、不図示のIC(Integrated Circuit)が搭載される。このICの第1面20A側を向いた面には、コンタクト20と同じ配列および同じピッチで配列された接続パッドが設けられている。そして、ICが搭載されると、各コンタクト30の各第1のコンタクトビーム32の先端部に設けられた各第1の接点部321が接続パッドに電気的に接触する。接触パッドに接触する接点部321の面は、接続パッド上を摺動できるよう丸められている。 Further, the first contact beam 32 extends obliquely from the base 31 to the outside of the first surface 20A of the housing 20 with respect to the first surface 20A. A first contact portion 321 is provided at the extended tip portion of the first contact beam 32. An IC (Integrated Circuit) (not shown), which is an example of the first electronic component of the present invention, is mounted at a position facing the first surface 20A. Connection pads arranged in the same arrangement as the contact 20 and at the same pitch are provided on the surface of the IC facing the first surface 20A. Then, when the IC is mounted, each of the first contact portions 321 provided at the tip of each first contact beam 32 of each contact 30 electrically contacts the connection pad. The surface of the contact portion 321 that contacts the contact pad is rounded so that it can slide on the connection pad.

この第1のコンタクトビーム32の、先端部を除く中央部分には開口322が形成されている。この第1のコンタクトビーム32は、この開口322によって2本のサブビーム323に分かれている。第1のコンタクトビーム32を、開口322を挟んだ2本のサブビーム323で構成することで、ICが搭載された際の弾性変形のばね力が調整されている。すなわち、第1のコンタクトビーム32の幅、すなわち2本のサブビーム323の、開口322から離れた側の側縁どうしの間の距離は、一定幅d1となっている。これに対し、開口322は、先端に向かう方ほど幅広に形成されている。これらの構成により、応力集中が生じにくい、先細りのサブビームが形成される。 An opening 322 is formed in the central portion of the first contact beam 32 excluding the tip portion. The first contact beam 32 is divided into two sub-beams 323 by the opening 322. By configuring the first contact beam 32 with two sub-beams 323 sandwiching the opening 322, the spring force of elastic deformation when the IC is mounted is adjusted. That is, the width of the first contact beam 32, that is, the distance between the side edges of the two sub-beams 323 on the side away from the opening 322 is a constant width d1. On the other hand, the opening 322 is formed wider toward the tip. With these configurations, a tapered sub-beam that is less likely to cause stress concentration is formed.

コンタクト30とICとの間では、例えば100GHzもの高速信号が伝送される。この高速信号の伝送には、コンタクトビーム全体の幅が重要である。すなわち、コンタクトビームが、間にスリットを挟んだ2本のサブビームで構成されているか、あるいは、スリットのない、一体のビームとして構成されているかは重要ではない。そこで、本実施形態では、第1のコンタクトビーム32を、開口322を間に挟んだ2本のサブビーム323で構成することで、一定幅d1に形成して高速信号伝送性能を確保するとともに、コンタクトビームのばね性を適度に調整している。 A high-speed signal of, for example, 100 GHz is transmitted between the contact 30 and the IC. The width of the entire contact beam is important for the transmission of this high-speed signal. That is, it does not matter whether the contact beam is composed of two sub-beams with slits in between, or is configured as an integral beam without slits. Therefore, in the present embodiment, the first contact beam 32 is composed of two sub-beams 323 with an opening 322 sandwiched between them to form a constant width d1 to ensure high-speed signal transmission performance and contact. The springiness of the beam is adjusted appropriately.

また、第2のコンタクトビーム33は、基部31からハウジング20の第2面20Bより外側に、第2面20Bに対し斜めに延出している。そして、その第2のコンタクトビーム33の延出した先端部には、第2の接点部331が設けられている。ここで、このインターポーザ10は、その第2面20B側を、本発明の第2の電子部品の一例である回路基板(不図示)に向けた姿勢で、その回路基板に搭載される。この回路基板の、第2面20B側を向いた面には、コンタクト20と同じ配列および同じピッチで配列された接続パッドが設けられている。そして、このインターポーザ10が回路基板に搭載されると、各コンタクト30の各第2のコンタクトビーム33の先端部に設けられた各第2の接点部331が回路基板上の接続パッドに電気的に接触する。すなわち、このインターポーザ10は、一例として、このインターポーザ10が搭載される回路基板と、このインターポーザ10に搭載されるICとの間の信号伝送を仲介するインターポーザである。 Further, the second contact beam 33 extends obliquely from the base 31 to the outside of the second surface 20B of the housing 20 with respect to the second surface 20B. A second contact portion 331 is provided at the extended tip portion of the second contact beam 33. Here, the interposer 10 is mounted on the circuit board with its second surface 20B side facing the circuit board (not shown) which is an example of the second electronic component of the present invention. Connection pads arranged in the same arrangement as the contacts 20 and at the same pitch are provided on the surface of the circuit board facing the second surface 20B side. Then, when the interposer 10 is mounted on the circuit board, each of the second contact portions 331 provided at the tip of each second contact beam 33 of each contact 30 is electrically attached to the connection pad on the circuit board. Contact. That is, the interposer 10 is, for example, an interposer that mediates signal transmission between the circuit board on which the interposer 10 is mounted and the IC mounted on the interposer 10.

この第2のコンタクトビーム33の、先端部を除く部分には開口332が形成されている。第2のコンタクトビーム33は、この開口332によって2本のサブビーム333に分かれている。第2のコンタクトビーム33を、開口332を挟んだ2本のサブビーム333で構成することで、ICが搭載された際の変形のばね力が調整されている。各サブビーム333が先細りの形状をなす点は、サブビーム323と同様である。すなわち、第2のコンタクトビーム33の幅、すなわち2本のサブビーム333の開口332から離れた側の側縁どうしの間の距離は、一定幅d2となっている。これに対し、開口332は、先端に向かうほど幅広に形成されている。 An opening 332 is formed in a portion of the second contact beam 33 other than the tip portion. The second contact beam 33 is divided into two sub-beams 333 by the opening 332. By configuring the second contact beam 33 with two sub-beams 333 sandwiching the opening 332, the spring force of deformation when the IC is mounted is adjusted. The point that each sub-beam 333 forms a tapered shape is the same as that of the sub-beam 323. That is, the width of the second contact beam 33, that is, the distance between the side edges of the two sub-beams 333 on the side away from the opening 332 is a constant width d2. On the other hand, the opening 332 is formed wider toward the tip.

ICと回路基板との間ではコンタクト30を介して高速信号が伝送される。この高速信号の伝送には、コンタクトビームの幅が一定であることが好ましい。そこで、本実施形態では、第1のコンタクトビーム32と同様、第2のコンタクトビーム33についても開口332を間に挟んだ2本のサブビーム333で構成している。これにより、一定幅に形成して高速信号伝送性能を確保するとともに、第2のコンタクトビームのばね性を適度に調整している。 A high-speed signal is transmitted between the IC and the circuit board via the contact 30. For the transmission of this high-speed signal, it is preferable that the width of the contact beam is constant. Therefore, in the present embodiment, like the first contact beam 32, the second contact beam 33 is also composed of two sub-beams 333 with an opening 332 sandwiched between them. As a result, the width is formed to be constant to ensure high-speed signal transmission performance, and the springiness of the second contact beam is appropriately adjusted.

ここで、基部31の最大幅をd3としたとき、
d1>d3>d2
となっている。
Here, when the maximum width of the base 31 is d3,
d1>d3> d2
It has become.

このコンタクト30は、第2のコンタクトビーム33がハウジング20の貫通孔21に挿し込まれて貫通孔21を通り抜け、基部31が貫通孔21内に圧入される。このため、第2のコンタクトビーム33の幅d2は、貫通孔21を通り抜けることができる幅である必要がある。また、基部31の幅d3は、貫通孔21内に圧入される必要があり、圧入部311が突き出ている分だけ貫通孔21よりも幅広となっている。 In this contact 30, the second contact beam 33 is inserted into the through hole 21 of the housing 20, passes through the through hole 21, and the base 31 is press-fitted into the through hole 21. Therefore, the width d2 of the second contact beam 33 needs to be a width that can pass through the through hole 21. Further, the width d3 of the base portion 31 needs to be press-fitted into the through-hole 21, and is wider than the through-hole 21 by the amount that the press-fitting portion 311 protrudes.

ここで、図3(B)に示すように、貫通孔21の、圧入された基部31が接する側の内壁面211に沿う貫通孔21の幅w1は、その壁面211から離れた部分の貫通孔21の幅w2よりも幅広となっている。これは、第2のコンタクトビーム33は幅w2の部分を通り抜けることができる寸法であるとともに、基部31が圧入される部分を幅w1に広げた形状とすることによって、貫通孔21内での基部31の位置を安定化させるためである。 Here, as shown in FIG. 3B, the width w1 of the through hole 21 along the inner wall surface 211 of the through hole 21 on the side where the press-fitted base 31 contacts is the through hole of the portion away from the wall surface 211. It is wider than the width w2 of 21. This is because the second contact beam 33 has a size capable of passing through a portion having a width w2, and the portion into which the base portion 31 is press-fitted is widened to a width w1 so that the base portion in the through hole 21 is formed. This is to stabilize the position of 31.

一方、第1のコンタクトビーム32は、貫通孔21には挿し込むことができない幅d1となっている。貫通孔21には、第2のコンタクトビーム33が挿し込まれる。したがって、第1のコンタクトビーム32を貫通孔21に挿し込む必要はない。このため、隣接する2つのコンタクト30の第1のコンタクトビーム32どうしの間隔x1(図1(A)参照)が、隣接する2つの第2のコンタクトビーム33どうしの間隔x2(図1(B)参照)よりも狭くなっている。また、隣接する2つの貫通孔21を隔てる隔壁22の厚みをx3(図3参照)とすると、
x2≧x3>x1
の関係を満たしている。
On the other hand, the first contact beam 32 has a width d1 that cannot be inserted into the through hole 21. A second contact beam 33 is inserted into the through hole 21. Therefore, it is not necessary to insert the first contact beam 32 into the through hole 21. Therefore, the distance x1 between the first contact beams 32 of the two adjacent contacts 30 (see FIG. 1A) is the distance x2 between the two adjacent second contact beams 33 (FIG. 1B). See) is narrower. Further, assuming that the thickness of the partition wall 22 separating the two adjacent through holes 21 is x3 (see FIG. 3),
x2 ≧ x3> x1
Meet the relationship.

本実施形態の場合、これらの関係を満たすように第1のコンタクトビーム32を広い幅d1とし、幅方向に隣接するコンタクト30どうしの距離を近づけて特性インピーダンスを下げることで、電気的特性を向上させている。 In the case of the present embodiment, the first contact beam 32 has a wide width d1 so as to satisfy these relationships, and the distance between the contacts 30 adjacent to each other in the width direction is reduced to lower the characteristic impedance, thereby improving the electrical characteristics. I'm letting you.

なお、ここでは、第1のコンタクトビーム32を、先端部にある第1の接点部321の部分を除き一定幅d1とし、第2のコンタクトビーム33を、先端部にある第2の接点部331の部分を除き一定幅d2としている。そして、基部31、第1のコンタクトビーム32、および第2のコンタクトビーム33を、d1>d3>d2およびx2≧x3>x1を満たす幅としている。ただし、第1のコンタクトビーム32や第2のコンタクトビーム33がそれぞれ一定幅d1,d2である必要はない。一定幅ではないときは、第1のコンタクトビーム32や第2のコンタクトビーム33の各最大幅d1,d2どうし、および隣接する2つのコンタクトビーム32,33どうしの最近接間隔x1,x2どうし比較して、d1>d3>d2、x2≧x3>x1を満たせばよい。 Here, the first contact beam 32 has a constant width d1 except for the portion of the first contact portion 321 at the tip portion, and the second contact beam 33 is the second contact portion 331 at the tip portion. The constant width d2 is used except for the part. The base 31, the first contact beam 32, and the second contact beam 33 have widths that satisfy d1> d3> d2 and x2 ≧ x3> x1. However, the first contact beam 32 and the second contact beam 33 do not have to have constant widths d1 and d2, respectively. When the widths are not constant, the maximum widths d1 and d2 of the first contact beam 32 and the second contact beam 33 and the closest distances x1 and x2 between the two adjacent contact beams 32 and 33 are compared. Then, d1> d3> d2 and x2 ≧ x3> x1 may be satisfied.

図4は、貫通孔の変形例を示した図である。 FIG. 4 is a diagram showing a modified example of the through hole.

貫通孔21の形状は、この図4に示されるようにw1=w2’に設定してもよい。この場合においても、第2コンタクトビーム33の幅d2と基部31の幅d3は、d3>d2の関係にある。 The shape of the through hole 21 may be set to w1 = w2'as shown in FIG. Also in this case, the width d2 of the second contact beam 33 and the width d3 of the base 31 have a relationship of d3> d2.

10 インターポーザ
20 ハウジング
20A ハウジングの第1面
20B ハウジングの第2面
21 貫通孔
22 隣接する貫通孔を隔てる隔壁
30 コンタクト
31 基部
311 圧入部
32 第1のコンタクトビーム
321 第1の接点部
33 第2のコンタクトビーム
331 第2の接点部
d1 第1の幅
d2 第2の幅
x1 第1の間隔
x2 第2の間隔
10 Interposer 20 Housing 20A Housing 20A Housing first surface 20B Housing second surface 21 Through hole 22 Partition wall separating adjacent through holes 30 Contact 31 Base 311 Press-fit 32 First contact beam 321 First contact 33 Second Contact beam 331 2nd contact part d1 1st width d2 2nd width x1 1st interval x2 2nd interval

Claims (4)

2つの電子部品に挟まれて、該2つの電子部品の各々に形成されている接続パッドに接して該2つの電子部品どうしを電気的に接続するインターポーザであって、
前記2つの電子部品のうちの第1の電子部品側を向いた第1面と、前記2つの電子部品のうちの第2の電子部品側を向いた第2面と、該第1面と該第2面とに貫通する複数の貫通孔とを有するハウジング、および
前記貫通孔に圧入された基部と、該基部から前記第1面より外側に該第1面に対し前記ハウジングの厚み方向に斜めに延出し先端部に前記第1の電気部品に接する第1の接点部を有する第1のコンタクトビームと、該基部から前記第2面より外側に該第2面に対し前記厚み方向に斜めに延出し先端部に前記第2の電気部品に接する第2の接点部を有する第2のコンタクトビームとを備えた複数のコンタクトを有し、
互いに幅方向に隣接する2つの隣接コンタクトの前記第1のコンタクトビームどうしの最近接した部分の第1の間隔が該2つの隣接コンタクトの前記第2のコンタクトビームどうしの最近接した部分の第2の間隔よりも狭くなるように該第1のコンタクトビームが該第2のコンタクトビームよりも幅広であることを特徴とするインターポーザ。
An interposer that is sandwiched between two electronic components and is in contact with a connection pad formed on each of the two electronic components to electrically connect the two electronic components to each other.
The first surface of the two electronic components facing the first electronic component side, the second surface of the two electronic components facing the second electronic component side, the first surface and the said A housing having a plurality of through holes penetrating the second surface, a base portion press-fitted into the through holes, and an oblique portion of the base portion outward from the first surface in the thickness direction of the housing with respect to the first surface. A first contact beam having a first contact portion in contact with the first electric component at the extending tip portion, and an oblique portion in the thickness direction with respect to the second surface from the base portion to the outside of the second surface. It has a plurality of contacts having a second contact beam having a second contact portion in contact with the second electric component at the extending tip portion.
The first distance between the closest portions of the first contact beams of two adjacent contacts adjacent to each other in the width direction is the second of the closest portions of the second contact beams of the two adjacent contacts. An interposer characterized in that the first contact beam is wider than the second contact beam so as to be narrower than the distance between the two.
前記第1の間隔が前記2つの隣接コンタクトの前記基部が圧入される2つの貫通孔を隔てる隔壁の厚みよりも狭くなるように該第1のコンタクトビームが幅広であることを特徴とする請求項1に記載のインターポーザ。 A claim characterized in that the first contact beam is wide such that the first spacing is narrower than the thickness of the bulkhead separating the two through holes into which the base of the two adjacent contacts is press-fitted. The interposer according to 1. 前記第1のコンタクトビームの、前記第1の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の第1の幅を有するとともに、前記第2のコンタクトビームの、前記第2の接点部を有する先端部を除いた部分が、均一の、該第1の幅よりも狭幅の第2の幅を有することを特徴とする請求項1または2に記載のインターポーザ。 The portion of the first contact beam excluding the tip portion having the first contact portion has a uniform first width and has the second contact portion of the second contact beam. The interposer according to claim 1 or 2, wherein the portion excluding the tip portion has a uniform second width narrower than the first width. 前記コンタクトが、幅方向に左右対称な構造を有することを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか1項に記載のインターポーザ。 The interposer according to any one of claims 1 to 3, wherein the contact has a structure symmetrical in the width direction.
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