JP2020170784A - 光電変換装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】フローティングディフュージョンの容量を切り替える光電変換装置において、フローティングディフュージョンに対する不要な電荷の流入を抑制する。【解決手段】光電変換装置は、入射した光を電荷に変換する光電変換部と、電荷が転送される、第1導電型のFD部と、第1導電型のソース領域と第1導電型のドレイン領域とゲートを有する容量切替部と、第1導電型のソース領域と第1導電型のドレイン領域とを有するリセット部と、を有し、FD部と容量切替部のソース領域とが接続されており、容量切替部のドレイン領域とリセット部のソース領域とが接続されており、電荷に対する容量切替部のゲート下におけるポテンシャルが、ドレイン領域側よりもソース領域側の方が高く、FD部が出力する電圧信号に応じた画素信号が読み出される場合には、容量切替部がオフ状態であり、リセット部がオン状態である。【選択図】図3
Description
本発明は、光電変換装置に関する。
近年、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像装置には、低消費電力や高速読み出しに適したCMOS(Complementary MOS)イメージセンサが広く用いられている。CMOSイメージセンサにおいては、フォトダイオードの電荷をフローティングディフュージョンへ転送し、電圧に変換することにより信号が読み出される。このとき、フローティングディフュージョンの容量が小さいと扱える電荷量が小さい。一方、フローティングディフュージョンの容量が大きいと電圧に変換されるゲインが小さく、以降の工程におけるノイズが大きく見える。
これに対して、最適なフローティングディフュージョンの容量を選択できるようにするために、特許文献1,2には、フローティングディフュージョンの容量を切り替える機能を有するCMOSイメージセンサが提案されている。
特許文献1,2に記載のCMOSイメージセンサ(光電変換装置)では、フローティングディフュージョンに対して2個直列にMOSが接続された回路が構成されている。ここで、2個のMOSのうち、フローティングディフュージョンに接続されたトランジスタを容量切り替えMOSとして、容量切り替えMOSと電源に接続されたMOSをリセットMOSとする。この構成において、容量切り替えMOSのオン/オフが切り替わることにより、フローティングディフュージョンの容量が切り替わる。
しかし、上記構成では、容量切り替えMOSがオフ状態であり、フローティングディフュージョンが出力する電圧信号に応じた画素信号が読み出される場合、容量切り替えMOSの形状に起因するチャネルの電荷が、フローティングディフュージョンに流入する。そのため、CMOSイメージセンサ(光電変換装置)がダーク画像の信号を読み出す際に、フローティングディフュージョンの電位が下がり、白キズが発生することが課題であった。
そこで、本発明は、フローティングディフュージョンの容量を切り替える光電変換装置において、フローティングディフュージョンに対する不要な電荷の流入を抑制することを目的とする。
本発明の1つの態様は、
入射した光を電荷に変換する光電変換部と、
前記電荷が転送される、第1導電型のフローティングディフュージョン部と、
前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域とゲートを有する容量切替部と、
前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域とを有するリセット部と、
を有し、
前記フローティングディフュージョン部と前記容量切替部のソース領域とが接続されており、
前記容量切替部のドレイン領域と前記リセット部のソース領域とが接続されており、
電荷に対する前記容量切替部のゲート下におけるポテンシャルが、ドレイン領域側よりもソース領域側の方が高く、
前記フローティングディフュージョン部が出力する電圧信号に応じた画素信号が読み出される場合には、前記容量切替部がオフ状態であり、かつ、前記リセット部がオン状態である、
ことを特徴とする光電変換装置である。
入射した光を電荷に変換する光電変換部と、
前記電荷が転送される、第1導電型のフローティングディフュージョン部と、
前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域とゲートを有する容量切替部と、
前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域とを有するリセット部と、
を有し、
前記フローティングディフュージョン部と前記容量切替部のソース領域とが接続されており、
前記容量切替部のドレイン領域と前記リセット部のソース領域とが接続されており、
電荷に対する前記容量切替部のゲート下におけるポテンシャルが、ドレイン領域側よりもソース領域側の方が高く、
前記フローティングディフュージョン部が出力する電圧信号に応じた画素信号が読み出される場合には、前記容量切替部がオフ状態であり、かつ、前記リセット部がオン状態である、
ことを特徴とする光電変換装置である。
本発明によれば、フローティングディフュージョンの容量を切り替える光電変換装置において、フローティングディフュージョンに対する不要な電荷の流入を抑制することができる。
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説明するが、この発明は、以下の実施例に限定されるものではない。
<実施例1>
[固体撮像装置の構成]
図1は、本実施例に係る固体撮像装置101(CMOSセンサ;光電変換装置)の構成を示す概略ブロック図である。固体撮像装置101は、複数の画素が行列状に配列された撮像領域102、画素に含まれる各部を駆動するための垂直走査回路103、電源供給部104、画素の電気信号を読み出すための水平走査回路105、画素の電気信号が出力される出力部106を含む。このような構成により、固体撮像装置101は、撮像領域102上の光量(光)を、二次元の電気信号として出力することができる。
[固体撮像装置の構成]
図1は、本実施例に係る固体撮像装置101(CMOSセンサ;光電変換装置)の構成を示す概略ブロック図である。固体撮像装置101は、複数の画素が行列状に配列された撮像領域102、画素に含まれる各部を駆動するための垂直走査回路103、電源供給部104、画素の電気信号を読み出すための水平走査回路105、画素の電気信号が出力される出力部106を含む。このような構成により、固体撮像装置101は、撮像領域102上の光量(光)を、二次元の電気信号として出力することができる。
[画素の等価回路]
図2は、撮像領域102に含まれる単位画素201の等価回路図である。図2においては、簡略化のために、単位画素201が2行2列で並べられている構成を例示しているが、画素の数はこれに限定されるものではない。
図2は、撮像領域102に含まれる単位画素201の等価回路図である。図2においては、簡略化のために、単位画素201が2行2列で並べられている構成を例示しているが、画素の数はこれに限定されるものではない。
単位画素201は、光電変換部1、FD部2(フローティングディフュージョン部)、光電変換部1とFD部2との間に設けられた転送部11を含む。また、単位画素201は
、FD部2の容量を切り替えるための容量切替部12と、FD部2の電位をリセットするためのリセット部13を含む。さらに、単位画素201は、FD部2の信号を出力するための増幅部15と、必要に応じて設けられる行選択部16とを含む。
、FD部2の容量を切り替えるための容量切替部12と、FD部2の電位をリセットするためのリセット部13を含む。さらに、単位画素201は、FD部2の信号を出力するための増幅部15と、必要に応じて設けられる行選択部16とを含む。
光電変換部1は、単位画素201に入射した光を受け、その受光量に応じた電荷を発生する。つまり、光電変換部1は、入射された光を電荷に変換して出力(蓄積)する。なお、以下の説明では、光電変換部1は電子を電荷として出力(蓄積)するものとする。しかし、光電変換部1が出力する電荷は正孔であってもよい。
FD部2(フローティングディフュージョン部)は、転送部11によって、光電変換部1から転送された電荷を一時的に保持し、保持した電荷を電圧信号に変換する電荷電圧変換部である。
FD部2(フローティングディフュージョン部)は、転送部11によって、光電変換部1から転送された電荷を一時的に保持し、保持した電荷を電圧信号に変換する電荷電圧変換部である。
転送部11は、転送部駆動パルスpTXによって駆動され、光電変換部1が発生する電荷をFD部2に転送する。なお、図2におけるpTX(n)とは、撮像領域102におけるn番目の行に対する転送部駆動パルスpTXを示しており、pFDinc(n)やpTX(n)についても同様である。
容量切替部12は、ゲートを含み、切り替えパルスpFDincによって駆動され、FD2に接続されている。容量切替部12は、FD部2に接続する半導体領域であるソース領域と、拡散層14に接続する半導体領域であるドレイン領域を有する。また、容量切替部12は、FD部2の容量を切り替える。より詳細には、容量切替部12がオン状態されると、容量切替部12のゲート容量分がFD部2に付加されることにより、FD部2の容量が切り替わる。つまり、容量切替部12は、FD部2に必要な容量に応じて、オン状態でもあり得るし、オフ状態でもあり得る。
リセット部13は、リセット部駆動パルスpRESによって駆動される。リセット部13は、拡散層14に接続する半導体領域であるソース領域と、後述する電源17に接続する半導体領域であるドレイン領域を含む。リセット部13と容量切替部12が同時にオン状態にされることにより、FD部2の電位をリセットすることができる。
拡散層14では、容量切替部12のドレイン領域とリセット部13のソース領域とが接続される。なお、拡散層14と、容量切替部12のドレイン領域と、リセット部13のソース領域とは、同じ半導体領域において形成されている。このため、拡散層14は、容量切替部12のドレイン領域とリセット部13のソース領域を含むといえる。なお、同様に、FD部2は、容量切替部12のソース領域を含んでいるといえ、電源17は、リセット部13のドレイン領域を含んでいるといえる。
増幅部15は、FD部2が変換した電圧信号を増幅して、画素信号として出力する。
行選択部16は、行選択駆動パルスpSELによって駆動され、増幅部15から取得した画素信号を垂直出力線Voutに出力する。なお、図2におけるVout(m)とは、撮像領域102におけるm番目の列に対する垂直出力線Voutを示している。
行選択部16は、行選択駆動パルスpSELによって駆動され、増幅部15から取得した画素信号を垂直出力線Voutに出力する。なお、図2におけるVout(m)とは、撮像領域102におけるm番目の列に対する垂直出力線Voutを示している。
[単位画素の構成]
図3(A)は、単位画素201を示す平面図を示す。なお、図3(A)が示す平面図においては簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。
図3(A)は、単位画素201を示す平面図を示す。なお、図3(A)が示す平面図においては簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。
容量切替部12のゲート幅に関して、FD部2側が幅W1であり、拡散層14側が幅W2である。このとき、幅W2の方が幅W1よりも大きい(広い;長い)ことによって、容量切替部12において、電荷に対するFD部2側のポテンシャルが高いポテンシャル分布
が形成できる。なお、容量切替部12において、FD部2側とはソース領域側であり、拡散層14側とはドレイン領域側である。また、画素トランジスタ領域301には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。なお、本実施形態では、ポテンシャルとは、電荷の位置エネルギーを示し、ポテンシャルが高い部分から低い部分へは電荷が移動しやすく、ポテンシャルが低い部分から高い部分へは電荷が移動しにくい。
が形成できる。なお、容量切替部12において、FD部2側とはソース領域側であり、拡散層14側とはドレイン領域側である。また、画素トランジスタ領域301には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。なお、本実施形態では、ポテンシャルとは、電荷の位置エネルギーを示し、ポテンシャルが高い部分から低い部分へは電荷が移動しやすく、ポテンシャルが低い部分から高い部分へは電荷が移動しにくい。
図3(B)は、図3(A)が示す単位画素201を断面A−A′において切断した断面図を示している。単位画素201において、半導体基板302上に、第1導電型とは異なる第2導電型のウェル303が形成されている。また、光電変換部1は、第1導電型の光電変換領域304と、第2導電型の表面保護層305とから構成されている。さらに、ウェル303上には、第1導電型のFD部2、容量切替部12、リセット部13、第1導電型の拡散層14、第1導電型の電源17が形成されている。なお、図3(A)および図3(B)においては、容量切替部12におけるゲートのみを図示しており、同様に、リセット部13におけるゲートのみを図示している。また、容量切替部12におけるソース領域およびドレイン領域は、第1導電型である。リセット部13におけるソース領域およびドレイン領域は、第1導電型である。
ここで、容量切替部12に対して電圧が印加されると、電流が流れる領域であるチャネルが容量切替部12のゲート下に形成される。そして、このチャネルに存在する電荷が、FD部2に流入してしまうと、画素信号(電圧信号)にノイズが発生して、白キズなどが発生してしまう可能性がある。
また、光電変換領域304、表面保護層305、FD部2、拡散層14、電源17のそれぞれは、半導体領域である。なお、本実施例では、電荷が電子であるため、第1導電型はN型であり、第2導電型はP型であるとするが、電荷が正孔であれば、第1導電型はP型であり、第2導電型はN型であってもよい。
[パルスのタイミングチャート]
図4は、低輝度の画素信号を出力する際のタイミングチャートを示す。タイミングチャートにおいて、横軸が、時刻を示しており、縦軸が、各駆動パルスに対応する電圧を示している。なお、図4が示す各パルスにおいて、縦軸方向に大きいほど、高い電圧であることを示している。本実施例では、光電変換部1が電荷として電子を出力するため、各構成に印加される電圧が大きいほど、当該構成における電荷に対するポテンシャルは小さい。一方、光電変換部1が電荷として正孔を出力する場合には、各構成に付加される電圧が大きいほど、当該構成における電荷に対するポテンシャルは大きい。なお、上述のように、行選択駆動パルスpSELは、行選択部16を駆動するパルスであり、リセット部駆動パルスpRESは、リセット部13を駆動するパルスである。切り替えパルスpFDincは、容量切替部12を駆動するパルスであり、転送部駆動パルスpTXは、転送部11を駆動するパルスである。
図4は、低輝度の画素信号を出力する際のタイミングチャートを示す。タイミングチャートにおいて、横軸が、時刻を示しており、縦軸が、各駆動パルスに対応する電圧を示している。なお、図4が示す各パルスにおいて、縦軸方向に大きいほど、高い電圧であることを示している。本実施例では、光電変換部1が電荷として電子を出力するため、各構成に印加される電圧が大きいほど、当該構成における電荷に対するポテンシャルは小さい。一方、光電変換部1が電荷として正孔を出力する場合には、各構成に付加される電圧が大きいほど、当該構成における電荷に対するポテンシャルは大きい。なお、上述のように、行選択駆動パルスpSELは、行選択部16を駆動するパルスであり、リセット部駆動パルスpRESは、リセット部13を駆動するパルスである。切り替えパルスpFDincは、容量切替部12を駆動するパルスであり、転送部駆動パルスpTXは、転送部11を駆動するパルスである。
時刻t1では、容量切替部12、リセット部13、行選択部16がオン状態にされる。これによって、画素信号を出力する画素が選択されるとともに、FD部2の電位がリセットされる。
時刻t2では、容量切替部12がオフ状態にされる。これによって、読み出し時のFD部2の容量を小さくできるため、画素信号におけるノイズを低減することができる。また、FD部2は、電荷を変換した電圧信号を増幅部15に出力する。増幅部15は、電圧信号を増幅してリセットレベル信号として行選択部16に出力し、行選択部16は、垂直出力線Voutを介してリセットレベル信号を出力部106に出力する。ここで、リセットレベル信号は、FD部2の電位がリセットされている状態における画素信号である。
時刻t3では、転送部11がオン状態にされる。これにより、転送部11は、光電変換部1に蓄積された電荷をFD部2へ転送する。
時刻t4では、転送部11がオフ状態にされる。また、FD部2は、電荷を変換した電圧信号を増幅部15に出力する。増幅部15は、電圧信号を増幅して画素信号として行選択部16に出力し、行選択部16は、垂直出力線Voutを介して画素信号を出力部106に出力する。
[ポテンシャル分布]
図5(A)〜図5(D)はそれぞれ、時刻t1〜時刻t4における、図3(A)が示す単位画素201のA−A′断面のポテンシャル分布を示す。また、図5(A)〜図5(D)における、縦軸は、電荷に対するポテンシャルの大きさを示し、縦軸は、時刻を示し、斜線部は、電荷量を示している。
図5(A)〜図5(D)はそれぞれ、時刻t1〜時刻t4における、図3(A)が示す単位画素201のA−A′断面のポテンシャル分布を示す。また、図5(A)〜図5(D)における、縦軸は、電荷に対するポテンシャルの大きさを示し、縦軸は、時刻を示し、斜線部は、電荷量を示している。
図5(A)は、時刻t1におけるポテンシャル分布を示している。このとき、容量切替部12がオン状態であるため、容量切替部12のゲート下のチャネルに起因する電荷が形成されている。
図5(B)は、時刻t2におけるポテンシャル分布を示している。このとき、容量切替部12がオフ状態にされており、容量切替部12のポテンシャルは、FD部2および拡散層14のポテンシャルよりも高い。また、容量切替部12のポテンシャル(容量切替部12のゲート下のポテンシャル)は、FD部2側の方が拡散層14側よりも高い。これは、容量切替部12のゲートにおけるFD部2側のゲート幅W1が狭く、拡散層14側のゲート幅W2がそれよりも広いからある。これによって、時刻t1において形成されたチャネルの電荷が、FD部2に流入することを抑制する。このため、リセット部13がオン状態にされていることにより、形成されたチャネルの電荷が電源17へ向かって排出されていく。
図5(C)は、時刻t3におけるポテンシャル分布を示している。時刻t3において、転送部11がオン状態にされており、転送部11のポテンシャルが、光電変換部1のポテンシャルよりも低い。このため、光電変換部1に蓄積された電荷が、転送部11を介して、FD部2に転送される。
図5(D)は、時刻t4におけるポテンシャル分布を示している。転送部11による光電変換部1からFD部2へ電荷の転送が完了し、転送部11がオフ状態にされる。
このように、本実施例では、容量切替部12のポテンシャル分布を図5(A)〜図5(D)が示すようにするために、容量切替部12のゲートにおけるFD部2側のゲート幅を狭く、拡散層14側のゲート幅を広くする。また、FD部2が出力する電圧信号に応じた画素信号が読み出される場合に、容量切替部12がオフ状態であり、リセット部13がオン状態である。これによって、容量切替部12に形成されるチャネルの電荷がFD部2へ流入することを抑制できる。このため、固体撮像装置が生成するダーク画像における白キズの発生を抑制することができる。これは、リセットレベル信号が読み出される時刻t2から画素信号が読み出される時刻t4前までの期間において、FD部2の電位が一定に保たれるからである。
<実施例2>
図6(A)は、実施例2に係る固体撮像装置101の単位画素201の平面図を示す。なお、実施例1において示した要素と同一、または対応する要素には、同じ番号を付して
いる。また、図6(A)が示す平面図においては、簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。画素トランジスタ領域601には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。なお、本実施例では、容量切替部12のゲートにおけるFD部2側のゲート幅と、拡散層14側のゲート幅とは同じ大きさである。
図6(A)は、実施例2に係る固体撮像装置101の単位画素201の平面図を示す。なお、実施例1において示した要素と同一、または対応する要素には、同じ番号を付して
いる。また、図6(A)が示す平面図においては、簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。画素トランジスタ領域601には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。なお、本実施例では、容量切替部12のゲートにおけるFD部2側のゲート幅と、拡散層14側のゲート幅とは同じ大きさである。
図6(B)は、図6(A)が示す単位画素201を断面B−B′において切断した断面図を示している。単位画素201において、半導体基板602上には、第2導電型のウェル603、素子分離領域604が形成されている。さらに、素子分離領域604の側壁には、第2導電型の第1チャネルストップ層605が形成されている。
図6(C)は、図6(A)単位画素201を断面C−C′において切断した断面図を示している。単位画素201において、半導体基板602上には、第2導電型のウェル603、素子分離領域604が形成されている。さらに、素子分離領域604の側壁に第2導電型の第2チャネルストップ層606が形成されている。
このとき、FD部2側の第1チャネルストップ層605は、拡散層14側の第2チャネルストップ層606よりも高い、第2導電型の不純物濃度を有している。これによれば、電荷に対する容量切替部12におけるポテンシャルを、図5(A)〜図5(D)が示すように、FD2側(ソース領域側)よりも拡散層14側(ドレイン領域側)の方を高くすることができる。
なお、第1チャネルストップ層605と第2チャネルストップ層606とは、一体の層であるため、第1チャネルストップ層605と第2チャネルストップ層606とを合わせて埋め込み層ということができる。また、当該埋め込み層は、容量切替部12のゲート下部に存在するため、容量切替部12が埋め込み層を有しているということができる。つまり、容量切替部12が有する埋め込み層における、FD部2側の第2導電型の不純物濃度が、拡散層14側の第2導電型の不純物濃度よりも高いともいえる。
このように、本実施例によれば、チャネルの電荷がFD部2へ流入することを抑制し、ダーク画像における白キズの発生を抑制することができる。
<実施例3>
図7(A)は、実施例3に係る固体撮像装置101の単位画素201の平面図を示す。実施例2で示した要素と同一、または対応する要素には同じ番号を付している。また、図7(A)が示す平面図においては簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。画素トランジスタ領域701には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。
図7(A)は、実施例3に係る固体撮像装置101の単位画素201の平面図を示す。実施例2で示した要素と同一、または対応する要素には同じ番号を付している。また、図7(A)が示す平面図においては簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。画素トランジスタ領域701には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。
図7(B)は、図7(A)が示す単位画素201を断面D−D′において切断した断面図を示している。単位画素201において、半導体基板702上には、第2導電型のウェル703が形成されている。さらに、単位画素201には、第1導電型のFD部2、容量切替部12、リセット部13、第1導電型の拡散層14、第1導電型の電源17が形成されている。
容量切替部12のゲートの下部において、2つの半導体領域が形成されている。より詳細には、ゲートの下部に、FD部2側には電荷障壁領域704が設けられており、拡散層14側には第1導電型領域705が設けられている。このとき、電荷障壁領域704は、第1導電型領域705よりも低い第1導電型の不純物濃度を有している。なお、電荷障壁領域704は第2導電型であってもよい。
これによれば、電荷に対する容量切替部12におけるポテンシャルを、図5(A)〜図5(D)が示すように、FD2側よりも拡散層14側の方を高くすることができる。
従って、本実施例によれば、チャネルの電荷がFD部2へ流入することを抑制し、ダーク画像における白キズの発生を抑制することができる。
<実施例4>
図8(A)は、実施例4に係る固体撮像装置101の単位画素201の平面図を示す。実施例1において示した要素と同一、または対応する要素には同じ番号を付している。また、図8(A)が示す平面図においては簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。画素トランジスタ領域801には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。
図8(A)は、実施例4に係る固体撮像装置101の単位画素201の平面図を示す。実施例1において示した要素と同一、または対応する要素には同じ番号を付している。また、図8(A)が示す平面図においては簡略化のため各領域を矩形で示してはいるが、各部の形状を表すものではなく、この領域に各部が少なくとも配置されていることを示している。画素トランジスタ領域801には、増幅部15、行選択部16などが配置されている。
図8(B)は、図8(A)が示す単位画素201を断面E−E′において切断した断面図を示す。単位画素201において、半導体基板802上には、第2導電型のウェル803が形成されている。さらに、単位画素201において、第1導電型のFD部2、容量切替部12、リセット部13、第1導電型の拡散層14、第1導電型の電源17が形成されている。
ここで、容量切替部12における、FD部2側の第1ゲート804は、第2導電型の極性であり、拡散層14側の第2ゲート805は、第1導電型の極性である。つまり、容量切替部12のゲートのFD部2側は、第2導電型の極性を有し、容量切替部12のゲートの拡散層14側は、第1導電型の極性を有する。
これによれば、電荷に対する容量切替部12におけるポテンシャルを、図5(A)〜図5(D)が示すように、FD2側よりも拡散層14側の方を高くすることができる。
従って、本実施例によれば、チャネルの電荷がFD部2へ流入することを抑制し、ダーク画像における白キズの発生を抑制することができる。
<実施例5>
本発明の実施例5に係る撮像システムについて、図9を用いて説明する。図9は、本実施例による撮像システムの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施例5に係る撮像システムについて、図9を用いて説明する。図9は、本実施例による撮像システムの概略構成を示すブロック図である。
上記実施例1乃至実施例4で述べた固体撮像装置101は、種々の撮像システムに適用可能である。適用可能な撮像システムとしては、特に限定されるものではないが、例えば、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダ、監視カメラ、複写機、ファックス、携帯電話、車載カメラ、観測衛星、医療用カメラなどの各種の機器が挙げられる。また、レンズなどの光学系と撮像装置(光電変換装置)とを備えるカメラモジュールも、撮像システムに含まれる。図9にはこれらのうちの一例として、デジタルスチルカメラのブロック図を例示している。
撮像システム2000は、図9に示すように、撮像装置2001、撮像光学系2002、CPU2010、レンズ制御部2012、撮像装置制御部2014、画像処理部2016を備える。また、撮像システム2000は、絞りシャッター制御部2018、表示部2020、操作スイッチ2022、記録媒体2024を備える。
撮像光学系2002は、被写体の光学像を形成するための光学系であり、レンズ群、絞
り2004等を含む。絞り2004は、その開口径を調節することで撮影時の光量調節を行なう機能を備えるほか、静止画撮影時には露光秒時調節用シャッターとしての機能も備える。レンズ群及び絞り2004は、光軸方向に沿って進退可能に保持されており、これらの連動した動作によって変倍機能(ズーム機能)や焦点調節機能を実現する。撮像光学系2002は、撮像システムに一体化されていてもよいし、撮像システムへの装着が可能な撮像レンズでもよい。
り2004等を含む。絞り2004は、その開口径を調節することで撮影時の光量調節を行なう機能を備えるほか、静止画撮影時には露光秒時調節用シャッターとしての機能も備える。レンズ群及び絞り2004は、光軸方向に沿って進退可能に保持されており、これらの連動した動作によって変倍機能(ズーム機能)や焦点調節機能を実現する。撮像光学系2002は、撮像システムに一体化されていてもよいし、撮像システムへの装着が可能な撮像レンズでもよい。
撮像光学系2002の像空間には、その撮像面が位置するように撮像装置2001が配置されている。撮像装置2001は、実施例1乃至実施例4で説明した固体撮像装置101であり、CMOSセンサ(画素部)とその周辺回路(周辺回路領域)とを含んで構成される。撮像装置2001は、複数の光電変換部を有する画素が2次元配置され、これらの画素に対してカラーフィルタが配置されることで、2次元単板カラーセンサを構成している。撮像装置2001は、撮像光学系2002により結像された被写体像を光電変換し、画像信号や焦点検出信号として出力する。
レンズ制御部2012は、撮像光学系2002のレンズ群の進退駆動を制御して変倍操作や焦点調節を行うためのものであり、その機能を実現するように構成された回路や処理装置により構成されている。絞りシャッター制御部2018は、絞り2004の開口径を変化して(絞り値を可変として)撮影光量を調節するためのものであり、その機能を実現するように構成された回路や処理装置により構成される。
CPU2010は、カメラ本体の種々の制御を司るカメラ内の制御装置であり、演算部、ROM、RAM、A/Dコンバータ、D/Aコンバータ、通信インターフェイス回路等を含む。CPU2010は、ROM等に記憶されたコンピュータプログラムに従ってカメラ内の各部の動作を制御し、撮像光学系2002の焦点状態の検出(焦点検出)を含むAF、撮像、画像処理、記録等の一連の撮影動作を実行する。CPU2010は、信号処理部でもある。
撮像装置制御部2014は、撮像装置2001の動作を制御するとともに、撮像装置2001から出力された信号をA/D変換してCPU2010に送信するためのものであり、それら機能を実現するように構成された回路や制御装置により構成される。A/D変換機能は、撮像装置2001が備えていてもかまわない。画像処理部2016は、A/D変換された信号に対してγ変換やカラー補間等の画像処理を行って画像信号を生成する処理装置であり、その機能を実現するように構成された回路や制御装置により構成される。表示部2020は、液晶表示装置(LCD)等の表示装置であり、カメラの撮影モードに関する情報、撮影前のプレビュー画像、撮影後の確認用画像、焦点検出時の合焦状態等を表示する。操作スイッチ2022は、電源スイッチ、レリーズ(撮影トリガ)スイッチ、ズーム操作スイッチ、撮影モード選択スイッチ等で構成される。記録媒体2024は、撮影済み画像等を記録するためのものであり、撮像システムに内蔵されたものでもよいし、メモリカード等の着脱可能なものでもよい。
このようにして、実施例1乃至実施例4に係る固体撮像装置101を適用した撮像システム2000を構成することにより、高性能の撮像システムを実現することができる。
<実施例6>
本発明の実施例6に係る撮像システム及び移動体について、図10(A)及び図10(B)を用いて説明する。図10(A)及び図10(B)は、本実施例による撮像システム及び移動体の構成を示す図である。
本発明の実施例6に係る撮像システム及び移動体について、図10(A)及び図10(B)を用いて説明する。図10(A)及び図10(B)は、本実施例による撮像システム及び移動体の構成を示す図である。
図10(A)は、車載カメラに関する撮像システム2100の一例を示したものである
。撮像システム2100は、撮像装置2110を有する。撮像装置2110は、上述の実施例1乃至実施例4に記載の固体撮像装置101のいずれかである。撮像システム2100は、画像処理部2112と視差取得部2114を有する。画像処理部2112は、撮像装置2110により取得された複数の画像データに対し、画像処理を行う処理装置である。視差取得部2114は、撮像装置2110により取得された複数の画像データから視差(視差画像の位相差)の算出を行う処理装置である。また、撮像システム2100は、算出された視差に基づいて対象物までの距離を算出する処理装置である距離取得部2116と、算出された距離に基づいて衝突可能性があるか否かを判定する処理装置である衝突判定部2118と、を有する。ここで、視差取得部2114や距離取得部2116は、対象物までの距離情報等の情報を取得する情報取得手段の一例である。すなわち、距離情報とは、視差、デフォーカス量、対象物までの距離等に関する情報である。衝突判定部2118はこれらの距離情報のいずれかを用いて、衝突可能性を判定してもよい。上述の処理装置は、専用に設計されたハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアモジュールに基づいて演算を行う汎用のハードウェアによって実現されてもよい。また、処理装置はFPGA(Field Programmable Gate Array)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)等によって実現されてもよい。または、処理装置は、これらの組合せによって実現されてもよい。
。撮像システム2100は、撮像装置2110を有する。撮像装置2110は、上述の実施例1乃至実施例4に記載の固体撮像装置101のいずれかである。撮像システム2100は、画像処理部2112と視差取得部2114を有する。画像処理部2112は、撮像装置2110により取得された複数の画像データに対し、画像処理を行う処理装置である。視差取得部2114は、撮像装置2110により取得された複数の画像データから視差(視差画像の位相差)の算出を行う処理装置である。また、撮像システム2100は、算出された視差に基づいて対象物までの距離を算出する処理装置である距離取得部2116と、算出された距離に基づいて衝突可能性があるか否かを判定する処理装置である衝突判定部2118と、を有する。ここで、視差取得部2114や距離取得部2116は、対象物までの距離情報等の情報を取得する情報取得手段の一例である。すなわち、距離情報とは、視差、デフォーカス量、対象物までの距離等に関する情報である。衝突判定部2118はこれらの距離情報のいずれかを用いて、衝突可能性を判定してもよい。上述の処理装置は、専用に設計されたハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアモジュールに基づいて演算を行う汎用のハードウェアによって実現されてもよい。また、処理装置はFPGA(Field Programmable Gate Array)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)等によって実現されてもよい。または、処理装置は、これらの組合せによって実現されてもよい。
撮像システム2100は、車両情報取得装置2120と接続されており、車速、ヨーレート、舵角などの車両情報を取得することができる。また、撮像システム2100は、衝突判定部2118での判定結果に基づいて、車両に対して制動力を発生させる制御信号を出力する制御装置である制御ECU2130が接続されている。すなわち、制御ECU2130は、距離情報に基づいて移動体を制御する移動体制御手段の一例である。また、撮像システム2100は、衝突判定部2118での判定結果に基づいて、ドライバーへ警報を発する警報装置2140とも接続されている。例えば、衝突判定部2118の判定結果として衝突可能性が高い場合、制御ECU2130はブレーキをかける、アクセルを戻す、エンジン出力を抑制するなどして衝突を回避、被害を軽減する車両制御を行う。警報装置2140は音等の警報を鳴らす、カーナビゲーションシステムなどの画面に警報情報を表示する、シートベルトやステアリングに振動を与えるなどしてユーザに警告を行う。
本実施例では、車両の周囲、例えば前方又は後方を撮像システム2100で撮像する。図10(B)に、車両前方(撮像範囲2150)を撮像する場合の撮像システム2100を示した。車両情報取得装置2120は、撮像システム2100を動作させ撮像を実行させるように指示を送る。上述の実施例1乃至実施例4に係る固体撮像装置101を撮像装置2110として用いることにより、本実施例の撮像システム2100は、測距の精度をより向上させることができる。
以上の説明では、他の車両と衝突しないように制御する例を述べたが、他の車両に追従して自動運転する制御、車線からはみ出さないように自動運転する制御等にも適用可能である。更に、撮像システムは、自動車等の車両に限らず、例えば、船舶、航空機あるいは産業用ロボットなどの移動体(輸送機器)に適用することができる。移動体(輸送機器)における移動装置はエンジン、モーター、車輪、プロペラなどの各種の駆動源である。加えて、移動体に限らず、高度道路交通システム(ITS)等、広く物体認識を利用する機器に適用することができる。
(その他の実施例)
以上に説明した本発明の各実施例や変形例に記載された構成や処理は、互いに任意に組み合わせて利用できる。
以上に説明した本発明の各実施例や変形例に記載された構成や処理は、互いに任意に組み合わせて利用できる。
101:固体撮像装置、1:光電変換部
2:FD部(フローティングディフュージョン部)、12:容量切替部、
13:リセット部、14:拡散層
2:FD部(フローティングディフュージョン部)、12:容量切替部、
13:リセット部、14:拡散層
Claims (8)
- 入射した光を電荷に変換する光電変換部と、
前記電荷が転送される、第1導電型のフローティングディフュージョン部と、
前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域とゲートを有する容量切替部と、
前記第1導電型のソース領域と前記第1導電型のドレイン領域とを有するリセット部と、
を有し、
前記フローティングディフュージョン部と前記容量切替部のソース領域とが接続されており、
前記容量切替部のドレイン領域と前記リセット部のソース領域とが接続されており、
電荷に対する前記容量切替部のゲート下におけるポテンシャルが、ドレイン領域側よりもソース領域側の方が高く、
前記フローティングディフュージョン部が出力する電圧信号に応じた画素信号が読み出される場合には、前記容量切替部がオフ状態であり、かつ、前記リセット部がオン状態である、
ことを特徴とする光電変換装置。 - 前記容量切替部のゲートにおいて、ソース領域側のゲート幅が、ドレイン領域側のゲート幅よりも狭い、
ことを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。 - 前記容量切替部は、前記第1導電型とは異なる第2導電型の埋め込み層を有し、
前記埋め込み層における、ソース領域側の前記第2導電型の不純物濃度が、ドレイン領域側の前記第2導電型の不純物濃度よりも高い、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光電変換装置。 - 前記容量切替部のゲート下の半導体領域における、ソース領域側の前記第1導電型の不純物濃度が、ドレイン領域側の前記第1導電型の不純物濃度よりも低い、
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光電変換装置。 - 前記容量切替部のゲート下の半導体領域において、
ソース領域側は、前記第1導電型とは異なる第2導電型であり、
ドレイン領域側は、前記第1導電型である、
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光電変換装置。 - 前記容量切替部のゲートのソース領域側は、前記第1導電型とは異なる第2導電型の極性を有し、
前記容量切替部のゲートのドレイン領域側は、第1導電型の極性を有する、
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の光電変換装置。 - 請求項1から6のいずれか1項に記載の光電変換装置と、
前記光電変換装置から出力される信号を処理する信号処理部と、
を有することを特徴とする撮像システム。 - 移動体であって、
請求項1から6のいずれか1項に記載の光電変換装置と、
移動装置と、
前記光電変換装置から出力される信号から情報を取得する処理装置と、
前記情報に基づいて前記移動装置を制御する制御装置と、
を有することを特徴とする移動体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019071205A JP2020170784A (ja) | 2019-04-03 | 2019-04-03 | 光電変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2019071205A JP2020170784A (ja) | 2019-04-03 | 2019-04-03 | 光電変換装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2020170784A true JP2020170784A (ja) | 2020-10-15 |
Family
ID=72746837
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2019071205A Pending JP2020170784A (ja) | 2019-04-03 | 2019-04-03 | 光電変換装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2020170784A (ja) |
-
2019
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