JP2019049439A - Method of manufacturing measuring device - Google Patents
Method of manufacturing measuring device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019049439A JP2019049439A JP2017172987A JP2017172987A JP2019049439A JP 2019049439 A JP2019049439 A JP 2019049439A JP 2017172987 A JP2017172987 A JP 2017172987A JP 2017172987 A JP2017172987 A JP 2017172987A JP 2019049439 A JP2019049439 A JP 2019049439A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesive
- recess
- pipe
- sensor chip
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims abstract description 77
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims abstract description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 abstract description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 27
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 5
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 5
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011231 conductive filler Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Abstract
【課題】センサチップの接着作業を簡素にしつつ、センサチップに対する接着剤の厚さを均一にして、接着剤の厚さ不均一に起因するセンサチップの破損を防止することができる測定装置の製造方法を提供する。【解決手段】配管11の外面にセンサチップ12,13を接着剤51を用いて固定する測定装置の製造方法であって、第1凹部41を配管11に加工し、配管11とセンサチップ12,13との間における予め設定された接着膜厚と同じ寸法となる深さ寸法及びセンサチップ12,13の幅寸法よりも広い幅寸法を有する第2凹部42を、第1凹部41の第1底面41aに加工し、第2凹部42内に接着剤51を供給し、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面を、第1底面41aと同一平面となるように均し、センサチップ12,13を、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面のみに接触させ、センサチップ12,13が接触した接着剤51を硬化させる。【選択図】図7[PROBLEMS] To manufacture a measuring device capable of simplifying the bonding operation of a sensor chip, making the thickness of the adhesive to the sensor chip uniform, and preventing damage to the sensor chip due to the non-uniform thickness of the adhesive. Provide a method. A method for manufacturing a measuring device for fixing sensor chips (12, 13) to an outer surface of a pipe (11) using an adhesive (51), wherein a first recess (41) is processed into the pipe (11), and the pipe (11), the sensor chip (12), The second recess 42 having a depth dimension that is the same as the preset adhesive film thickness between the sensor chip 12 and the width dimension of the sensor chips 12, 13 is defined as the first bottom surface of the first recess 41. 41a, the adhesive 51 is supplied into the second recess 42, the surface of the adhesive 51 filled in the second recess 42 is leveled so as to be flush with the first bottom surface 41a, and the sensor chip 12 , 13 is brought into contact with only the surface of the adhesive 51 filled in the second recess 42, and the adhesive 51 in contact with the sensor chips 12, 13 is cured. [Selection] Figure 7
Description
本発明は、配管内を流れる流体の流量を測定するためのセンサチップを備えた測定装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a method of manufacturing a measuring device provided with a sensor chip for measuring the flow rate of fluid flowing in piping.
従来から、各種流体の流量を測定する測定装置として、様々な形式のものが提供されている。その中でも、低コスト化や省電力化等を図ることが比較的容易であるという理由から、熱式のものが多く利用され始めている。 Conventionally, various types of measuring devices have been provided as measuring devices for measuring the flow rates of various fluids. Among them, the thermal type is beginning to be widely used because it is relatively easy to achieve cost reduction and power saving.
熱式の測定装置においては、半導体製造プロセス技術を利用して製造されたセンサチップ(フローセンサ)を、流量測定手段としており、流体によって奪われたヒータ熱が流量に依存して変化するという原理を用いたものがある。そして、このような、熱式の測定装置としては、例えば、特許文献1−3に開示されている。 In a thermal measurement device, a sensor chip (flow sensor) manufactured using semiconductor manufacturing process technology is used as a flow rate measuring means, and the principle that heater heat taken away by fluid changes depending on the flow rate There is one using. And as such a thermal type measuring device, it is indicated by patent documents 1-3, for example.
ここで、上記従来の測定装置においては、センサチップを配管の外面に固定することにより、配管内を流れる流体の流量をセンサチップによって測定可能としている。このとき、センサチップは、配管の外面に接着剤を用いて取り付けられており、その接着剤が硬化することによって、完全に固定されることになる。 Here, in the above-mentioned conventional measuring device, by fixing the sensor chip to the outer surface of the pipe, the flow rate of the fluid flowing in the pipe can be measured by the sensor chip. At this time, the sensor chip is attached to the outer surface of the pipe using an adhesive, and the adhesive is completely fixed by curing.
このため、センサチップの取付面(接着面)が接着剤と部分的に接触した状態で、その接着剤を硬化させてしまうと、当該取付面に局所的な負荷が掛ってしまい、センサチップを破損させるおそれがある。特に、センサチップの取付面が薄膜状となる場合には、上述した問題が顕著となる。 For this reason, when the adhesive is cured in a state where the mounting surface (adhesive surface) of the sensor chip is in partial contact with the adhesive, a local load is applied to the mounting surface, and the sensor chip is There is a risk of damage. In particular, in the case where the mounting surface of the sensor chip is in the form of a thin film, the above-mentioned problems become significant.
これに対して、接着剤をその厚さが均一になるように塗布する場合には、マスキングテープを使用することが考えられる。しかしながら、その貼り付け作業においては、テープ長さやテープ幅に関わらず、煩雑になり易く、貼り付けたマスキングテープに皺が発生してしまい、接着剤塗布領域を精度良く区画形成することが困難となる。 On the other hand, when applying an adhesive so that the thickness may become uniform, it is possible to use a masking tape. However, in the affixing operation, regardless of the tape length and the tape width, it is easy to be complicated, wrinkles are generated in the affixing masking tape, and it is difficult to accurately define the adhesive application region. Become.
また、マスキングテープの厚さの種類には、限度があるため、塗布する接着剤の厚さを、所望の厚さにすることができないおそれがある。このため、センサチップに対する接着剤の厚さ管理を厳しく行う場合には、マスキングテープを使用することは不適格であると思われる。 In addition, the thickness of the masking tape is limited, so there is a possibility that the thickness of the applied adhesive can not be made the desired thickness. For this reason, in the case of strict control of the adhesive thickness on the sensor chip, the use of the masking tape seems to be disqualified.
従って、本発明は上記課題を解決するものであって、センサチップの接着作業を簡素にしつつ、センサチップに対する接着剤の厚さを均一にして、接着剤の厚さ不均一に起因するセンサチップの破損を防止することができる測定装置の製造方法を提供することを目的とする。 Accordingly, the present invention solves the above-mentioned problems, and while simplifying the bonding operation of the sensor chip, the thickness of the adhesive to the sensor chip is made uniform, and the sensor chip is caused by the uneven thickness of the adhesive. It is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a measuring device capable of preventing the damage of
この発明に係る測定装置の製造方法は、管状部材の外面に、センサを接着剤を用いて固定するようにした測定装置の製造方法であって、外面から凹んだ平坦面を、管状部材に加工し、管状部材とセンサとの間における予め設定された接着膜厚と同じ寸法となる深さ寸法及びセンサの幅寸法よりも広い幅寸法を有する凹部を、平坦面に加工し、凹部内に、接着剤を供給し、凹部内に充填した接着剤の表面を、平坦面と同一平面となるように均し、センサを、凹部内に充填した接着剤の表面のみに接触させ、センサが接触した接着剤を硬化させるものである。 A method of manufacturing a measuring device according to the present invention is a method of manufacturing a measuring device in which a sensor is fixed to the outer surface of a tubular member using an adhesive, and a flat surface recessed from the outer surface is processed into a tubular member. And processing a recess having a depth dimension equal to a preset adhesion film thickness between the tubular member and the sensor and a width dimension wider than the width dimension of the sensor into a flat surface, and The adhesive was supplied, the surface of the adhesive filled in the recess was leveled so as to be flush with the flat surface, and the sensor was brought into contact with only the surface of the adhesive filled in the recess, and the sensor was in contact It cures the adhesive.
この発明によれば、センサチップの接着作業を簡素にしつつ、センサチップに対する接着剤の厚さを均一にして、接着剤の厚さ不均一に起因するセンサチップの破損を防止することができる。 According to the present invention, it is possible to simplify the bonding operation of the sensor chip, make the thickness of the adhesive with respect to the sensor chip uniform, and prevent the sensor chip from being damaged due to the uneven thickness of the adhesive.
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
実施の形態1.
図1に示すように、本実施の形態に係る測定装置(例えば、熱式の流量測定装置)は、配管11、一対のセンサチップ12,13、ワイヤ14、及び、基板15等を備えている。そして、各センサチップ12,13と基板15とは、配管11に接着固定されると共に、導電性のワイヤ14によって電気的に接続されている。
Embodiment 1
As shown in FIG. 1, the measuring apparatus (for example, a thermal flow rate measuring apparatus) according to the present embodiment includes a
配管11は、その内部流路に流体(気体または液体)を通過可能とする円形管状部材である。この配管11の材質は、例えば、ガラス、セラミックス、プラスチック、及び、ステンレス等のいずれかである。なお、図1に記載した矢印の方向は、流体の流れ方向を示している。
The
流体流れ方向前後一対のセンサチップ12,13は、配管11内を流れる流体の流量を測定する熱式のフローセンサであって、半導体製造プロセス技術を利用して製造されたものである。このような、半導体チップとなる熱式のセンサチップ12,13は、配管11の外面に、当該配管11の軸方向(流体流れ方向)に沿って順に設けられている。
The pair of
このとき、流体流れ方向上流側に配置されるセンサチップ12は、配管11内を流れる流体の温度を測定する測温機能を有する温度センサチップとなっている。一方、流体流れ方向下流側に配置されるセンサチップ13は、配管11内を流れる流体の温度を測定する測温機能、及び、配管11内を流れる流体に所定の熱量を供給する発熱(熱供給)機能を有するヒータチップとなっている。以下、センサチップ12を温度センサチップ12と称する一方、センサチップ13をヒータチップ13と称して、本実施の形態を説明する。
At this time, the
図2及び図3に示すように、温度センサチップ12は、例えば、ベース基板21、絶縁膜22、測温部23、及び、電気接続部24等を備えており、基板15から分離された構造となっている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
具体的に、ベース基板21の表面は、絶縁膜22によって覆われている。また、絶縁膜22の表面中央部には、測温部23が設けられており、この測温部23には、電気接続部24が電気的に接続されている。測温部23は、配管11内を流れる流体の温度を測定するものである。電気接続部24は、絶縁膜22の表面上において、測温部23からチップ外側に向けて延びている。そして、電気接続部24は、ワイヤ14を介して、基板15のリードと電気的に接続されている。これにより、測温部23から出力された流体温度測定信号は、電気接続部24からワイヤ14を介して、基板15に中継された後、当該基板15から基板外部の流量測定部(図示省略)に送信される。
Specifically, the surface of the
一方、図4及び図5に示すように、ヒータチップ13は、例えば、ベース基板31、絶縁膜32、測温部33、及び、電気接続部34等を備えており、基板15から分離された構造となっている。
On the other hand, as shown in FIGS. 4 and 5, the
具体的に、ベース基板31の中央部には、キャビティ31aが、当該ベース基板31をその厚さ方向に貫通するように形成されている。これに対して、ベース基板31の表面は、絶縁膜32によって覆われており、この絶縁膜32の中央部には、断熱性を有する薄膜状のダイヤフラム32aが設けられている。即ち、ダイヤフラム32aは、キャビティ31aの上端開口部全域を、外側から覆っている。
Specifically, a
また、ダイヤフラム32aの表面中央部には、測温部33が設けられており、この測温部33には、電気接続部34が電気的に接続されている。測温部33は、配管11内を流れる流体の温度を測定すると共に、配管11内を流れる流体を一定温度に加熱するものである。電気接続部34は、絶縁膜32の表面上において、測温部33からチップ外側に向けて延びている。そして、電気接続部34は、ワイヤ14を介して、基板15のリードと電気的に接続されている。
In addition, a
これにより、測温部33から出力された流体温度測定信号は、電気接続部34からワイヤ14を介して、基板15に中継された後、当該基板15から基板外部の流量測定部に送信される。一方、流体を加熱するための電力は、基板外部の電力供給装置(図示省略)から基板15に中継された後、ワイヤ14を介して、測温部33に送られる。
As a result, the fluid temperature measurement signal output from the
更に、図1及び図6に示すように、基板15の先端には、矩形をなす先端突出部15aが形成されている。この先端突出部15aは、基板15の先端中央部から基板外側に向けて、配管11の径方向に突出している。そして、先端突出部15aの左右両側(配管11の軸方向両側)には、基板15から分離されたチップ12,13が、それぞれ配置されている。
Furthermore, as shown in FIG. 1 and FIG. 6, a
これにより、先端突出部15aは、チップ12,13と共に、配管11の第1凹部41内に設置されており、接着剤52によって、その第1凹部41の第1底面41aに固定されている。つまり、基板15は、先端突出部15aのみが、配管11に接着固定されている。
Thus, the tip
従って、配管11内を流れる流体の流量を測定する場合には、温度センサチップ12によって、配管11内を流れる流体の温度を測定する。これに対して、ヒータチップ13によって、配管11内を流れる流体の温度が、温度センサチップ12によって測定された流体の温度(測定温度)よりも、一定温度高くなるように、流体に熱量を供給する。
Therefore, when the flow rate of the fluid flowing in the
即ち、ヒータチップ13に設定された発熱温度は、温度センサチップ12によって測定された測定温度に応じて変化することになり、当該ヒータチップ13は、測定温度と発熱温度との温度差に対応した熱量を、流体に供給する。
That is, the heat generation temperature set in the
そして、ヒータチップ13が上記熱量を流体に供給するときの電力量は、配管11内を流れる流体の流量と相関関係があることが、従来から知られている。これにより、流量測定部は、上記電力量に基づいて、配管11内を流れる流体の流量を算出(測定)することができる。
It is conventionally known that the amount of electric power when the
ここで、温度センサチップ12及びヒータチップ13は、接着剤51によって、配管11の外面に固定されている。以下に、そのようなチップ接着構造について、詳細に説明する。
Here, the
図1から図6、及び、図7Aに示すように、配管11の軸方向途中部分には、第1凹部41が形成されている。この第1凹部41は、配管11の径方向内側に向けて凹んでおり、その第1底面41aは、配管11の軸方向に延びる平坦面となっている。
As shown in FIG. 1 to FIG. 6 and FIG. 7A, a
更に、第1凹部41の第1底面41aには、2つの第2凹部42が、チップ12,13に対応して形成されている。第2凹部42は、配管11の径方向内側に向けて凹んでおり、チップ12,13を接着固定する際に使用する接着剤51を収納するための凹みとなっている。そして、第2凹部42の第2底面42aは、配管11の軸方向に延びる平坦面であって、第1底面41aと平行になっている。
Furthermore, in the
このとき、第2凹部42の幅寸法(配管11の軸方向における長さ寸法)、即ち、第2底面42aの幅寸法は、チップ12,13の幅寸法よりも幅広となっている。また、第2凹部42の長さ寸法(配管11の径方向における長さ寸法)、即ち、第2底面42aの長さ寸法は、チップ12,13の長手方向寸法よりも短くなっている。
At this time, the width dimension of the second recess 42 (the length dimension in the axial direction of the pipe 11), that is, the width dimension of the second
本実施の形態においては、チップ12,13を接着固定する際に、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面を、第1底面41aと同一平面となるように均した後、その均した接着剤51の表面のみに、チップ12,13の接着面(絶縁膜22,32の表面)を載せ置いて接触させる。つまり、チップ12,13の接着面は、その長手方向両端部が接着剤51の表面から長手方向外側に向けて突出した状態で、且つ、第1底面41aと接触することなく、接着剤51の表面に接着される。
In the present embodiment, when bonding and fixing the
これにより、チップ12,13の接着面における長手方向両端部は、接着剤51の表面とは接触しておらず、その接着面の長手方向一端部に設定されたワイヤボンディング位置となる電気接続部24,34は、開放されている。よって、チップ12,13を配管11に接着剤51を用いて固定した場合であっても、チップ12,13におけるワイヤ14のボンディング位置を確保することができる。また同時に、チップ12,13にボンディングされたワイヤ14と、チップ12,13が固定された配管11との干渉を防止することができる。
As a result, the longitudinal ends of the bonding surfaces of the
なお、チップ12,13の接着面における長手方向他端部には、電気接続部24,34を設けて、ワイヤ14のボンディング位置を設定する必要がないため、当該長手方向他端部については、接着剤51の表面から長手方向外側に向けて突出させることなく、当該接着剤51の表面に接着させても構わない。
In addition, since it is not necessary to set the bonding position of the
また、第2凹部42の深さ寸法、即ち、第1底面41aと第2底面42aとの間における配管11の径方向距離は、チップ12,13を配管11に接着固定する際の接着膜厚の寸法となるものである。この接着膜厚は、接着剤51に接着したチップ12,13がその接着剤51の硬化に伴って破損することなく、且つ、チップ12,13が接着剤51から剥がれることのない、所定の基準接着膜厚以上となっている。
Further, the depth dimension of the
つまり、第2凹部42は、その深さ寸法が、予め設定された接着膜厚と同じ寸法で、且つ、第2底面42aが第1底面41aと平行になるように加工されている。従って、このように加工された第2凹部42内に接着剤51を充填することにより、接着剤51の厚さは、上記接着膜厚と同じ寸法で均一となる。
That is, the
接着剤51は、配管11と各チップ12,13との間における熱伝導性の向上を図ることを目的として、熱伝導性フィラーを含んだ、シリコーン系の熱伝導性接着剤となっている。これにより、接着剤51は、配管11内を流れる流体の熱を、温度センサチップ12に伝達させることができる一方、ヒータチップ13の発熱を、配管11内を流れる流体に伝達させることができる。
The adhesive 51 is a silicone-based thermally conductive adhesive containing a thermally conductive filler for the purpose of improving the thermal conductivity between the
次に、チップ12,13を配管11に接着固定するときの方法について、図7Aから図7Dを用いて詳細に説明する。
Next, a method for bonding and fixing the
先ず、図7Aに示すように、配管11の軸方向途中部分に、第1凹部41及び第2凹部42を加工する。このとき、第1凹部41と第2凹部42とは、第1底面41aと第2底面42aとが平行となるように加工される。また、第2凹部42においては、その深さ寸法が、予め設定された接着膜厚と同じ寸法となると共に、その幅寸法が、チップ12,13の幅寸法よりも幅広となるように加工される。
First, as shown to FIG. 7A, the 1st recessed
次いで、図7Bに示すように、接着剤51を、第2凹部42内に滴下して供給する。なお、図7Bにおいては、2つの第2凹部42のうち、一方の第2凹部42のみに接着剤51を供給した場合について図示している。
Next, as shown in FIG. 7B, the adhesive 51 is dropped and supplied into the
そして、図7Cに示すように、第2凹部42内に供給した接着剤51を、スキージと称するへら状工具を使用して、その第2凹部42内に充填する。このとき、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面を、第1底面41aと同一平面となるように均す。
Then, as shown in FIG. 7C, the adhesive 51 supplied into the
例えば、へら状工具を、接着剤51を供給した第2凹部42を跨ぐようにして、第1底面41a上を滑り移動させたりすることによって、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面と、第1底面41aとを面一にすることができる。つまり、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面には、凹凸が無くなり、その表面は平坦面となる。
For example, the surface of the adhesive 51 filled in the
次いで、図7Dに示すように、温度センサチップ12における絶縁膜22の表面、及び、ヒータチップ13における絶縁膜32の表面を、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面のみに接着する。
Then, as shown in FIG. 7D, the surface of the insulating
続いて、チップ12,13を、接着剤51によって配管11に接着させた状態で、その接着剤51を、所定の温度以上に加熱して、硬化させる。これにより、チップ12,13は、配管11に対して、均一の接着膜厚で接着固定されることになる。
Subsequently, in a state where the
以上より、本発明に係る測定装置の製造方法によれば、配管11に加工した第1凹部41の第1底面41aに、均一な深さ寸法及びチップ12,13の幅寸法よりも広い幅寸法を有する第2凹部42を加工した後、第2凹部42に充填した接着剤51の表面を、第1底面41aと同一平面となるように均して、その接着剤51の表面のみにチップ12,13を接着する。これにより、マスキングテープ等を使用することなく、接着剤51の塗布領域を精度良く区画形成することができるので、チップ12,13の接着作業の簡素化を図ることができる。
As mentioned above, according to the manufacturing method of the measuring apparatus which concerns on this invention, the width dimension wider than the uniform depth dimension and the width dimension of chip |
また、接着剤51の厚さを均一にすることができるので、厚さが不均一となる接着剤51が硬化する際に発生する、チップ12,13の破損を防止することができる。特に、ヒータチップ13のダイヤフラム32aは、薄膜状になっているのに関わらず、第2凹部42内に充填した接着剤51の表面に接着固定されることになるが、その接着剤51の表面は、凹凸が無い平坦面となっているため、接着剤51が硬化しても、ダイヤフラム32aに局所的な負荷が掛ることが無い。よって、接着剤51の厚さ不均一に起因するダイヤフラム32aの破損を防止することができる。
Further, since the thickness of the adhesive 51 can be made uniform, it is possible to prevent the breakage of the
なお、本願発明は、その発明の範囲内において、実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは、実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。例えば、上述した実施の形態においては、配管内を流れる流体の流量を測定するフローセンサとして、温度センサとヒータとを別々のフローセンサとした構成を挙げているが、このような構成に替えて、温度センサとヒータとを1つのフローセンサに組み込むようにした構成を採用することも可能である。 In the present invention, within the scope of the invention, modification of any component of the embodiment or omission of any component of the embodiment is possible. For example, in the above-described embodiment, as the flow sensor for measuring the flow rate of the fluid flowing in the pipe, the configuration in which the temperature sensor and the heater are separate flow sensors is mentioned, but in place of such a configuration It is also possible to adopt a configuration in which the temperature sensor and the heater are incorporated into one flow sensor.
11 配管
12 温度センサチップ
13 ヒータチップ
14 ワイヤ
15 基板
15a 先端突出部
21,31 ベース基板
22,32 絶縁膜
23,33 測温部
24,34 電気接続部
31a キャビティ
32a ダイヤフラム
41 第1凹部
41a 第1底面
42 第2凹部
42a 第2底面
51 接着剤
52 接着剤
11
Claims (2)
前記外面から凹んだ平坦面を、前記管状部材に加工し、
前記管状部材と前記センサとの間における予め設定された接着膜厚と同じ寸法となる深さ寸法及び前記センサの幅寸法よりも広い幅寸法を有する凹部を、前記平坦面に加工し、
前記凹部内に、前記接着剤を供給し、
前記凹部内に充填した前記接着剤の表面を、前記平坦面と同一平面となるように均し、
前記センサを、前記凹部内に充填した前記接着剤の表面のみに接触させ、
前記センサが接触した前記接着剤を硬化させる
ことを特徴とする測定装置の製造方法。 What is claimed is: 1. A method of manufacturing a measuring device, comprising: fixing a sensor to the outer surface of a tubular member using an adhesive;
Processing the flat surface recessed from the outer surface into the tubular member;
A recess having a depth dimension equal to a preset adhesion film thickness between the tubular member and the sensor and a width dimension wider than the width dimension of the sensor is processed on the flat surface;
Supplying the adhesive into the recess;
Leveling the surface of the adhesive filled in the recess to be flush with the flat surface,
Bringing the sensor into contact only with the surface of the adhesive filled in the recess;
A method of manufacturing a measuring device, comprising curing the adhesive in contact with the sensor.
ことを特徴とする請求項1記載の測定装置の製造方法。 The method according to claim 1, wherein the flat surface and the bottom surface of the recess are processed to be parallel to each other.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017172987A JP2019049439A (en) | 2017-09-08 | 2017-09-08 | Method of manufacturing measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017172987A JP2019049439A (en) | 2017-09-08 | 2017-09-08 | Method of manufacturing measuring device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019049439A true JP2019049439A (en) | 2019-03-28 |
Family
ID=65906191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017172987A Pending JP2019049439A (en) | 2017-09-08 | 2017-09-08 | Method of manufacturing measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2019049439A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021131323A (en) * | 2020-02-20 | 2021-09-09 | サーパス工業株式会社 | Flowmeter and flowmeter manufacturing method |
-
2017
- 2017-09-08 JP JP2017172987A patent/JP2019049439A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021131323A (en) * | 2020-02-20 | 2021-09-09 | サーパス工業株式会社 | Flowmeter and flowmeter manufacturing method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4845187B2 (en) | Sensor package structure and flow sensor having the same | |
JP4577370B2 (en) | Sensor device and manufacturing method thereof | |
US8935843B2 (en) | Temperature sensor and method for its manufacture | |
US10309837B2 (en) | Measuring device, in particular for use in the process measurement technology, comprising a cylindrical sensor tip | |
TWI432709B (en) | Device for temperature measurement | |
CN108353469B (en) | Heating device | |
CN219792943U (en) | Reaction module and nucleic acid amplification device | |
US8529127B2 (en) | Construction and manufacturing method for a sensor of a thermal flow measuring device | |
JP2019049439A (en) | Method of manufacturing measuring device | |
JP4882967B2 (en) | Pressure temperature sensor | |
JP2018100969A (en) | Sensor unit for measuring mass flow rate of liquid hot-melt adhesive | |
JP5366772B2 (en) | Temperature detection device | |
CN109307536B (en) | Measuring apparatus | |
JP2011189190A (en) | Contact-type heater | |
JP4349144B2 (en) | Thermal air flow sensor and method for manufacturing thermal air flow sensor | |
US10768032B2 (en) | Sensor for a thermal flow meter, a thermal flowmeter and a method for producing a sensor of a thermal flow meter | |
JP2004219123A (en) | Temperature measuring probe | |
JP2019020219A (en) | Measuring device and method for manufacturing measuring device | |
CN109416269B (en) | Sensor, heat flow measuring device and method for producing a sensor | |
JP6856357B2 (en) | heater | |
JP2017026428A (en) | Manufacturing method of measuring apparatus and measuring apparatus | |
JP2019039855A (en) | Measuring apparatus | |
JP2013156122A (en) | Heating device | |
JP5276490B2 (en) | Sensor, sensor manufacturing method, die bonding method | |
JP2009019991A (en) | Substrate temperature measurement device for anodic bonding device, and method for diagnosis of anodic bonding device with the use of the same |