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JP2018091769A - Displacement detector - Google Patents

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JP2018091769A
JP2018091769A JP2016236367A JP2016236367A JP2018091769A JP 2018091769 A JP2018091769 A JP 2018091769A JP 2016236367 A JP2016236367 A JP 2016236367A JP 2016236367 A JP2016236367 A JP 2016236367A JP 2018091769 A JP2018091769 A JP 2018091769A
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貢 吉弘
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Abstract

【課題】原点位置の検出精度を高めることができる変位検出装置を提供することにある。【解決手段】変位検出装置1は、光源11と、ホログラムレンズ17と、受光部12と、を備えている。ホログラムレンズ17は、スケール2に設けられ、光源11から出射された光L1を集光させる。受光部12は、ヘッド3に設けられ、ホログラムレンズ17によって集光された光L1を受光する。そして、ホログラムレンズ17の焦点位置は、受光部12が配置された位置となる。【選択図】図1An object of the present invention is to provide a displacement detection device that can improve the accuracy of detecting an origin position. A displacement detection device 1 includes a light source 11, a hologram lens 17, and a light receiving section 12. The hologram lens 17 is provided on the scale 2 and focuses the light L1 emitted from the light source 11. The light receiving section 12 is provided in the head 3 and receives the light L1 focused by the hologram lens 17. The focal position of the hologram lens 17 is the position where the light receiving section 12 is placed. [Selection diagram] Figure 1

Description

本発明は、光源から出射された光を用いた非接触センサによってヘッドとスケールの相対的な変位量を検出する変位検出装置に関し、特に原点位置を検出可能な変位検出装置に関するものである。   The present invention relates to a displacement detection device that detects a relative displacement amount of a head and a scale by a non-contact sensor using light emitted from a light source, and more particularly to a displacement detection device that can detect an origin position.

従来、直線変位や回転変位等の精密な測定を行う測定器として、スケールと検出ヘッドを備えた変位検出装置が広く利用されている。近年では、発光ダイオードやレーザの光を用いた変位検出装置が用いられている。そして、1nm以下の変位の測定が行える高分解能化された変位検出装置が求められている。   2. Description of the Related Art Conventionally, a displacement detection device including a scale and a detection head has been widely used as a measuring instrument that performs precise measurement such as linear displacement and rotational displacement. In recent years, a displacement detector using a light emitting diode or laser light has been used. Further, there is a demand for a displacement detection apparatus with a high resolution capable of measuring a displacement of 1 nm or less.

従来の、この種の変位検出装置としては、例えば、特許文献1に記載されているようなものがある。この特許文献1に記載された変位検出装置では、原点位置である基準位置を検出するために、第1パターン領域と第2パターン領域からなる定点検出用回折格子をスケールに設けている。また、ヘッドには、第1パターン領域により回折された光を受光する第1センサと、第2パターン領域により回折された光を受光する第2センサが設けられている。   As a conventional displacement detection device of this type, for example, there is one described in Patent Document 1. In the displacement detection apparatus described in Patent Document 1, a fixed point detection diffraction grating including a first pattern region and a second pattern region is provided on a scale in order to detect a reference position that is an origin position. The head is also provided with a first sensor that receives light diffracted by the first pattern region and a second sensor that receives light diffracted by the second pattern region.

そして、特許文献1に記載された変位検出装置では、第1センサの出力波形と第2センサの出力波形の差動波形を取得し、この差動波形の中点を原点位置として認識している。   In the displacement detection device described in Patent Document 1, a differential waveform between the output waveform of the first sensor and the output waveform of the second sensor is acquired, and the midpoint of this differential waveform is recognized as the origin position. .

特開2008−256655号公報JP 2008-256655 A

しかしながら、従来の特許文献1に記載された変位検出装置では、光を第1パターン領域と第2パターン領域の境界において第1パターン領域と第2パターン領域の両方に跨って照射させる必要があった。その結果、特許文献1に記載された変位検出装置では、光のスポット径が大きくなり、原点位置の検出精度を高めることが困難である、という問題を有していた。   However, in the conventional displacement detection device described in Patent Document 1, it is necessary to irradiate light across both the first pattern region and the second pattern region at the boundary between the first pattern region and the second pattern region. . As a result, the displacement detection device described in Patent Document 1 has a problem that the spot diameter of light becomes large and it is difficult to increase the detection accuracy of the origin position.

本発明の目的は、原点位置の検出精度を高めることができる変位検出装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a displacement detection device capable of increasing the detection accuracy of the origin position.

上記課題を解決し、本発明の目的を達成するため、本発明の変位検出装置は、スケールと、スケールと対向して配置されるヘッドと、を備え、ヘッドにおけるスケールに対する測定方向の原点位置を検出可能な変位検出装置である。変位検出装置は、光源と、ホログラムレンズと、受光部と、を備えている。光源は、ヘッドに設けられ、スケールに向けて光を照射する。ホログラムレンズは、スケールに設けられ、光源から出射された光を集光させる。受光部は、ヘッドに設けられ、ホログラムレンズによって集光された光を受光する。そして、ホログラムレンズの焦点位置は、受光部が配置された位置となる。   In order to solve the above problems and achieve the object of the present invention, a displacement detection device of the present invention comprises a scale and a head disposed opposite the scale, and the origin position in the measurement direction relative to the scale in the head is determined. This is a detectable displacement detection device. The displacement detection device includes a light source, a hologram lens, and a light receiving unit. The light source is provided in the head and irradiates light toward the scale. The hologram lens is provided on the scale and collects light emitted from the light source. The light receiving unit is provided in the head and receives light collected by the hologram lens. The focal position of the hologram lens is the position where the light receiving unit is disposed.

また、本発明の他の変位検出装置は、スケールと、ヘッドとを備えている。そして、変位検出装置は、光源と、反射ミラー又は回折格子と、コーナーキューブと、ホログラムレンズと、受光部と、を備えている。光源は、ヘッドに設けられ、スケールに向けて光を照射する。反射ミラー又は回折格子は、スケールに設けられ、光源から出射された光を反射する。コーナーキューブは、ヘッドに設けられ、反射ミラー又は回折格子により反射された光を再びスケールに向けて反射させる。ホログラムレンズは、スケールに設けられ、コーナーキューブにより反射された光を集光させる。受光部は、ヘッドに設けられ、ホログラムレンズによって集光された光を受光する。そして、ホログラムレンズの焦点位置は、受光部が配置された位置となる。   Another displacement detection apparatus of the present invention includes a scale and a head. The displacement detection device includes a light source, a reflection mirror or diffraction grating, a corner cube, a hologram lens, and a light receiving unit. The light source is provided in the head and irradiates light toward the scale. The reflection mirror or the diffraction grating is provided on the scale and reflects light emitted from the light source. The corner cube is provided in the head and reflects the light reflected by the reflecting mirror or the diffraction grating toward the scale again. The hologram lens is provided on the scale and collects the light reflected by the corner cube. The light receiving unit is provided in the head and receives light collected by the hologram lens. The focal position of the hologram lens is the position where the light receiving unit is disposed.

さらに、本発明の他の変位検出装置は、スケールと、ヘッドとを備えている。変位検出装置は、光源と、ホログラムレンズと、受光部と、を備えている。光源は、ヘッドに設けられ、スケールに向けて光を照射する。ホログラムレンズは、スケールに設けられ、光源から出射された光を集光させる。受光部は、ヘッドに設けられ、ホログラムレンズによって集光された光を受光する。また、ヘッドには、スケールに対する測定方向の相対位置を検出する際に用いられる相対位置用受光部が設けられている。そして、受光部は、スケールに対して、スケールの測定面と平行でかつ測定方向と直交する幅方向の位置が、相対位置用受光部におけるスケールに対する幅方向の位置と同じになる位置に配置されている。また、ホログラムレンズの焦点位置は、受光部が配置された位置となる。   Furthermore, another displacement detection apparatus of the present invention includes a scale and a head. The displacement detection device includes a light source, a hologram lens, and a light receiving unit. The light source is provided in the head and irradiates light toward the scale. The hologram lens is provided on the scale and collects light emitted from the light source. The light receiving unit is provided in the head and receives light collected by the hologram lens. The head is provided with a light receiving portion for relative position used when detecting the relative position in the measurement direction with respect to the scale. The light receiving unit is disposed at a position where the position in the width direction parallel to the measurement surface of the scale and perpendicular to the measurement direction is the same as the position in the width direction with respect to the scale in the light receiving unit for relative position. ing. Further, the focal position of the hologram lens is the position where the light receiving unit is arranged.

本発明の変位検出装置によれば、原点位置の検出精度を高めることができる。   According to the displacement detection device of the present invention, the detection accuracy of the origin position can be increased.

本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置の構成を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置のホログラムレンズの格子の間隔を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the space | interval of the grating | lattice of the hologram lens of the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置のホログラムレンズによって反射された光の強度を示すグラフである。It is a graph which shows the intensity | strength of the light reflected by the hologram lens of the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置のホログラムレンズ及びスケールを示す平面図である。It is a top view which shows the hologram lens and scale of the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置のホログラムレンズと受光部の位置関係を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the positional relationship of the hologram lens and light-receiving part of the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置における原点検出用の制御部の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the control part for the origin detection in the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置における受光部によって出力される信号の波形と、受光部に反射された光の強度を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the waveform of the signal output by the light-receiving part in the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention, and the intensity | strength of the light reflected by the light-receiving part. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置におけるスケールがピッチ方向に傾いた場合を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the case where the scale in the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention inclines in the pitch direction. 従来の変位検出装置におけるスケールがピッチ方向に傾いた場合を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the case where the scale in the conventional displacement detection apparatus inclines in the pitch direction. 本発明の第1の実施の形態例にかかる変位検出装置におけるスケールがヨー方向に傾いた場合を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the case where the scale in the displacement detection apparatus concerning the 1st Example of this invention inclines in the yaw direction. 受光部が原点検出用の回折格子上に配置された変位検出装置におけるスケールがヨー方向に傾いた場合を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the case where the scale in the displacement detection apparatus by which the light-receiving part is arrange | positioned on the diffraction grating for origin detection inclines in the yaw direction. 本発明の第2の実施の形態例にかかる変位検出装置の構成を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the displacement detection apparatus concerning the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施の形態例にかかる変位検出装置におけるスケールがピッチ方向に傾いた場合を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the case where the scale in the displacement detection apparatus concerning the 2nd Example of this invention inclines in the pitch direction.

以下、本発明の変位検出装置の実施の形態例について、図1〜図13を参照して説明する。なお、各図において共通の部材には、同一の符号を付している。また、本発明は、以下の形態に限定されるものではない。
また、以下の説明において記載される各種のレンズは、単レンズであってもよいし、レンズ群であってもよい。
Hereinafter, embodiments of the displacement detection device of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the common member in each figure. The present invention is not limited to the following form.
The various lenses described in the following description may be a single lens or a lens group.

1.第1の実施の形態例
1−1.変位検出装置の構成例
まず、第1の実施の形態例(以下、「本例」という。)にかかる変位検出装置の構成を図1〜図6を参照して説明する。
図1は、変位検出装置の構成を示す概略構成図である。
1. First embodiment example 1-1. Configuration Example of Displacement Detection Device First, the configuration of a displacement detection device according to a first embodiment (hereinafter referred to as “this example”) will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating a configuration of a displacement detection device.

本例の変位検出装置1は、ヘッドとスケールを測定方向(以下、「第1の方向X」という)に相対的に移動させた際に原点位置からの第1の方向Xの変位量を検出する装置である。図1に示すように、変位検出装置1は、スケール2と、このスケール2と対向するヘッド3とを有している。   The displacement detection device 1 of this example detects the displacement amount in the first direction X from the origin position when the head and the scale are moved relative to each other in the measurement direction (hereinafter referred to as “first direction X”). It is a device to do. As shown in FIG. 1, the displacement detection device 1 includes a scale 2 and a head 3 that faces the scale 2.

スケール2は、ヘッド3から照射された光を反射させる反射型のスケールである。スケール2は、平板状に形成されている。スケール2におけるヘッド3と対向する測定面2aには、図示しない相対位置検出用のトラックが設けられている。また、スケール2における測定面2aと平行をなし、第1の方向Xと直交する幅方向(以下、「第2の方向Y」という)の一端部には、後述する原点位置検出用の反射ミラー16と、ホログラムレンズ17が配置されている。なお、第1の方向X及び第2の方向Yと直交する方向、すなわちスケール2とヘッド3が対向する方向を第3の方向Zとする。   The scale 2 is a reflective scale that reflects the light emitted from the head 3. The scale 2 is formed in a flat plate shape. On the measurement surface 2 a facing the head 3 in the scale 2, a track for detecting a relative position (not shown) is provided. In addition, a reflection mirror for detecting an origin position, which will be described later, is provided at one end of a width direction (hereinafter referred to as “second direction Y”) that is parallel to the measurement surface 2a of the scale 2 and is orthogonal to the first direction X. 16 and a hologram lens 17 are arranged. A direction orthogonal to the first direction X and the second direction Y, that is, the direction in which the scale 2 and the head 3 face each other is defined as a third direction Z.

ヘッド3には、スケール2に設けた相対位置検出用のトラックを用いて、第1の方向Xの変位量を検出する相対位置用検出部が設けられている。さらに、ヘッド3は、原点位置検出用の光源11と、受光部12と、レンズ13と、コーナーキューブ14が設けられている。   The head 3 is provided with a relative position detection unit that detects a displacement amount in the first direction X using a relative position detection track provided on the scale 2. Further, the head 3 is provided with a light source 11 for detecting the origin position, a light receiving unit 12, a lens 13, and a corner cube 14.

光源11としては、例えば、半導体レーザダイオードや、スーパールミネッセンスダイオード、ガスレーザ、固体レーザ、発光ダイオード等を用いることができる。そして、光源11は、スケール2におけるY方向の一端部に向けて光L1を出射する。光源11における光L1が出射される側には、レンズ13が配置されている。   As the light source 11, for example, a semiconductor laser diode, a super luminescence diode, a gas laser, a solid-state laser, a light emitting diode, or the like can be used. The light source 11 emits light L1 toward one end portion of the scale 2 in the Y direction. A lens 13 is disposed on the side of the light source 11 where the light L1 is emitted.

このレンズ13は、光源11とスケール2の測定面2aの間に配置される。レンズ13は、光源11から出射された光L1を平行光にコリメートする。そして、レンズ13によって平行光にコリメートされた光L1は、スケール2の測定面2aに入射する。   The lens 13 is disposed between the light source 11 and the measurement surface 2 a of the scale 2. The lens 13 collimates the light L1 emitted from the light source 11 into parallel light. The light L1 collimated into parallel light by the lens 13 is incident on the measurement surface 2a of the scale 2.

反射ミラー16には、レンズ13によって平行光にコリメートされた光L1が入射する。そして、反射ミラー16は、入射した光L1を再びヘッド3に設けたコーナーキューブ14に向けて反射させる。   Light L1 collimated into parallel light by the lens 13 is incident on the reflection mirror 16. The reflection mirror 16 reflects the incident light L1 toward the corner cube 14 provided in the head 3 again.

なお、本例では、反射ミラー16を用いた例を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、コーナーキューブ14に向けて光L1を反射させる際に、レンズ13から入射する角度と、コーナーキューブ14に向かう角度が異なる場合には、反射ミラー16の代わりに回折格子を用いてもよい。これにより、レンズ13から入射した光L1を所定の角度で回折させると共に反射させることができ、ヘッド3に設けたコーナーキューブ14に所定の角度で光L1を入射させることができる。   In addition, although the example using the reflective mirror 16 was demonstrated in this example, it is not limited to this. For example, when reflecting the light L <b> 1 toward the corner cube 14, if the angle incident from the lens 13 is different from the angle toward the corner cube 14, a diffraction grating may be used instead of the reflection mirror 16. Accordingly, the light L1 incident from the lens 13 can be diffracted and reflected at a predetermined angle, and the light L1 can be incident on the corner cube 14 provided on the head 3 at a predetermined angle.

コーナーキューブ14は、第1反射部14aと、第2反射部14bとを有する光学部品である。第1反射部14aと第2反射部14bは、略直角に組み合わさっている。第1反射部14aと第2反射部14bは、入射した光L1を反射させる。そして、コーナーキューブ14は、光L1が入射した方向に向けて反射光を出射する。なお、コーナーキューブ14に入射した光L1の入射角と、コーナーキューブ14によって反射された光L1の反射角は、等しくなる。   The corner cube 14 is an optical component having a first reflecting portion 14a and a second reflecting portion 14b. The first reflecting portion 14a and the second reflecting portion 14b are combined at a substantially right angle. The first reflecting portion 14a and the second reflecting portion 14b reflect the incident light L1. The corner cube 14 emits reflected light in the direction in which the light L1 is incident. The incident angle of the light L1 incident on the corner cube 14 and the reflection angle of the light L1 reflected by the corner cube 14 are equal.

コーナーキューブ14としては、2つの反射ミラーによって構成されてもよく、あるいはプリズム等を用いてもよい。   The corner cube 14 may be constituted by two reflecting mirrors, or a prism or the like may be used.

コーナーキューブ14により反射された光L1は、スケール2の測定面2aに設けたホログラムレンズ17に入射する。ホログラムレンズ17は、入射した光L1を回折させて受光部12に向けて反射させる。また、ホログラムレンズ17は、複数の格子を有する反射型の回折格子である。   The light L1 reflected by the corner cube 14 enters a hologram lens 17 provided on the measurement surface 2a of the scale 2. The hologram lens 17 diffracts the incident light L1 and reflects it toward the light receiving unit 12. The hologram lens 17 is a reflective diffraction grating having a plurality of gratings.

図2は、ホログラムレンズ17を第1の方向Xに沿って切断した場合のホログラムレンズ17の格子の間隔を示す説明図、なお、図2における横軸は、第1の方向Xを示し、縦軸は、ホログラムレンズ17の格子の高さを示している。   FIG. 2 is an explanatory diagram showing the lattice spacing of the hologram lens 17 when the hologram lens 17 is cut along the first direction X. Note that the horizontal axis in FIG. The axis indicates the height of the grating of the hologram lens 17.

図2に示すように、格子の間隔は、ホログラムレンズ17における第1の方向Xの中心が広く設定されている。そして、格子の間隔は、中心から第1の方向Xの両側に離れるにつれて狭まっている。すなわち、ホログラムレンズ17における格子は、中心に向かうにつれて疎になり、中心から離れるにつれて密になっている。   As shown in FIG. 2, the center of the hologram lens 17 in the first direction X is set wide as the grating interval. The interval between the lattices becomes narrower as the distance from the center increases to both sides in the first direction X. That is, the grating in the hologram lens 17 becomes sparse as it goes to the center and becomes dense as it goes away from the center.

図3は、ホログラムレンズ17によって反射された光L1における第1の方向Xの強度を示すグラフである。また、図3における横軸は、スケール2とヘッド3における第1の方向Xの相対位置を示し、縦軸は、ホログラムレンズ17によって反射された光の強度を示している。この図3では、第1の方向Xの長さが、1mmであるホログラムレンズ17にスポット径がφ1mmの平行光を入射させた例を示している。   FIG. 3 is a graph showing the intensity in the first direction X in the light L <b> 1 reflected by the hologram lens 17. 3 represents the relative position of the scale 2 and the head 3 in the first direction X, and the vertical axis represents the intensity of light reflected by the hologram lens 17. In FIG. FIG. 3 shows an example in which parallel light having a spot diameter of φ1 mm is incident on the hologram lens 17 whose length in the first direction X is 1 mm.

図3に示すように、ホログラムレンズ17は、第1の方向Xの中心においてその反射させた光の強度が最も高くなる。すなわち、ホログラムレンズ17は、入射した光L1を回折し、反射させることで第1の方向Xの中心に集光させている。図3に示す例では、焦点距離10mmの位置に、スポット径が約φ4μmまで絞られた反射光を得ることができる。   As shown in FIG. 3, the hologram lens 17 has the highest intensity of reflected light at the center in the first direction X. That is, the hologram lens 17 condenses the incident light L1 at the center in the first direction X by diffracting and reflecting it. In the example shown in FIG. 3, it is possible to obtain reflected light with a spot diameter reduced to about φ4 μm at a focal length of 10 mm.

図4は、光L1がスケール2の測定面2aに垂直に入射する場合のホログラムレンズ17の焦点Gの位置を示す平面図である。
図4に示すように、ホログラムレンズ17は、スケール2の測定面2a上を覆う点線で示す仮想のホログラムレンズ17a(以下、「仮想ホログラムレンズ」という)の一部を切り取ったものである。ここで、仮想ホログラムレンズ17aによって集光された光L1の焦点Gは、スケール2における第1の方向Xの原点位置X1上に配置される。また、仮想ホログラムレンズ17aによって集光された光L1の焦点Gは、スケール2の測定面2aにおける第2の方向Yの中心線2b上に配置される。すなわち、仮想ホログラムレンズ17aによって集光された光L1の焦点Gは、相対位置検出用の目盛が配置されるトラックの中心線2bを通る。
FIG. 4 is a plan view showing the position of the focal point G of the hologram lens 17 when the light L1 enters the measurement surface 2a of the scale 2 perpendicularly.
As shown in FIG. 4, the hologram lens 17 is obtained by cutting a part of a virtual hologram lens 17 a (hereinafter referred to as “virtual hologram lens”) indicated by a dotted line covering the measurement surface 2 a of the scale 2. Here, the focal point G of the light L1 collected by the virtual hologram lens 17a is arranged on the origin position X1 in the first direction X on the scale 2. The focal point G of the light L1 collected by the virtual hologram lens 17a is arranged on the center line 2b in the second direction Y on the measurement surface 2a of the scale 2. That is, the focal point G of the light L1 collected by the virtual hologram lens 17a passes through the center line 2b of the track on which the scale for detecting the relative position is arranged.

ここで、ホログラムレンズ17は、仮想ホログラムレンズ17aの一部を切り取ったものであるため、ホログラムレンズ17によって集光された光L1の焦点Gは、仮想ホログラムレンズ17aと一致する。そのため、ホログラムレンズ17によって集光された光L1の焦点Gは、スケール2における第1の方向Xの原点位置X1上、かつ測定面2aにおける第2の方向Yの中心線2b上に配置される。また、ホログラムレンズ17は、入射した光L1を受光部12に向けて反射させる。   Here, since the hologram lens 17 is a part of the virtual hologram lens 17a cut out, the focal point G of the light L1 collected by the hologram lens 17 coincides with the virtual hologram lens 17a. Therefore, the focal point G of the light L1 collected by the hologram lens 17 is disposed on the origin position X1 in the first direction X on the scale 2 and on the center line 2b in the second direction Y on the measurement surface 2a. . Further, the hologram lens 17 reflects the incident light L1 toward the light receiving unit 12.

図5は、受光部12とホログラムレンズの位置関係を示す説明図である。
図1及び図5に示すように、受光部12は、反射部材21と、第1の受光素子22と、第2の受光素子23とを有している。反射部材21は、三角柱状に形成されている。反射部材21は、第1反射面21aと、第2反射面21bとを有している。そして、反射部材21は、第1反射面21aと第2反射面21bが交わる頂点21cをスケール2に向けて配置される。また、第1反射面21aは、第1の方向Xの一側を向いており、第2反射面21bは、第1の方向Xの他側を向いている。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing the positional relationship between the light receiving unit 12 and the hologram lens.
As shown in FIGS. 1 and 5, the light receiving unit 12 includes a reflecting member 21, a first light receiving element 22, and a second light receiving element 23. The reflection member 21 is formed in a triangular prism shape. The reflecting member 21 has a first reflecting surface 21a and a second reflecting surface 21b. The reflecting member 21 is arranged with the apex 21 c where the first reflecting surface 21 a and the second reflecting surface 21 b intersect with the scale 2. The first reflecting surface 21 a faces one side in the first direction X, and the second reflecting surface 21 b faces the other side in the first direction X.

また、図4及び図5に示すように、反射部材21は、反射部材21の頂点21cがスケール2における第1の方向Xの原点位置X1上を通るように配置されている。さらに、反射部材21の頂点21cは、スケール2の測定面2aにおける第2の方向Yの中心線2b上に配置される。そのため、ホログラムレンズ17によって集光された光L1の焦点G(焦点位置)は、第2の方向Yと第3の方向Zで形成される面内において、反射部材21の頂点21cと一致する。したがって、ヘッド3が原点位置X1上に移動した場合、ホログラムレンズ17によって集光された光L1の焦点Gは、受光部12の反射部材21の頂点21cと一致する。そして、反射部材21には、ホログラムレンズ17によって反射された光L1が入射する。   As shown in FIGS. 4 and 5, the reflecting member 21 is disposed so that the vertex 21 c of the reflecting member 21 passes over the origin position X <b> 1 in the first direction X on the scale 2. Furthermore, the vertex 21 c of the reflecting member 21 is disposed on the center line 2 b in the second direction Y on the measurement surface 2 a of the scale 2. Therefore, the focal point G (focal position) of the light L1 collected by the hologram lens 17 coincides with the vertex 21c of the reflecting member 21 in the plane formed in the second direction Y and the third direction Z. Therefore, when the head 3 moves to the origin position X1, the focal point G of the light L1 collected by the hologram lens 17 coincides with the vertex 21c of the reflecting member 21 of the light receiving unit 12. Then, the light L 1 reflected by the hologram lens 17 is incident on the reflecting member 21.

なお、スケール2の中心線2b上には、相対位置検出用の受光部31(図10参照)が配置される。そのため、受光部12の反射部材21における第2の方向Yの位置は、相対位置検出用の受光部31における第2の方向Yの位置と一致する。   A light receiving unit 31 (see FIG. 10) for detecting a relative position is arranged on the center line 2b of the scale 2. Therefore, the position in the second direction Y of the reflecting member 21 of the light receiving unit 12 coincides with the position of the second direction Y in the light receiving unit 31 for detecting the relative position.

また、図1及び図5に示すように、反射部材21における第1の方向Xの一側には、第1の受光素子22が配置され、反射部材21における第1の方向Xの他側には、第2の受光素子23が配置される。したがって、第1の受光素子22と第2の受光素子23は、反射部材21を間に挟んで対向して配置される。   As shown in FIGS. 1 and 5, the first light receiving element 22 is arranged on one side of the first direction X in the reflecting member 21, and on the other side of the first direction X in the reflecting member 21. The second light receiving element 23 is arranged. Therefore, the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23 are arranged to face each other with the reflecting member 21 interposed therebetween.

さらに、反射部材21は、第1反射面21aに入射した光L1を第1の受光素子22に向けて反射させる。また、反射部材21は、第2反射面21bに入射した光L1を第2の受光素子23に向けて反射させる。なお、反射部材21の頂点21cに光L1が入射した場合、反射部材21は、光L1を均等に2つに分割して、第1の受光素子22と、第2の受光素子23に向けて反射させる。   Further, the reflecting member 21 reflects the light L1 incident on the first reflecting surface 21 a toward the first light receiving element 22. The reflecting member 21 reflects the light L1 incident on the second reflecting surface 21b toward the second light receiving element 23. In addition, when the light L1 is incident on the vertex 21c of the reflecting member 21, the reflecting member 21 equally divides the light L1 into two to be directed to the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23. Reflect.

第1の受光素子22と第2の受光素子23は、受光した光を電気に変換する例えば、フォトディテクタである。   The first light receiving element 22 and the second light receiving element 23 are, for example, photodetectors that convert received light into electricity.

図6は、変位検出装置1における原点検出用の制御部の構成を示すブロック図である。
図6に示すように、変位検出装置1は、第1の受光素子22及び第2の受光素子23に接続された差動増幅器24と、A/D変換部25と、波形補正処理部26と、絶対位置演算部27とを有している。
FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of the origin detection control unit in the displacement detection apparatus 1.
As shown in FIG. 6, the displacement detection device 1 includes a differential amplifier 24 connected to the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23, an A / D conversion unit 25, a waveform correction processing unit 26, and the like. And an absolute position calculation unit 27.

第1の受光素子22と第2の受光素子23によって光源変換された信号は、差動増幅器24に出力される。差動増幅器24は、第1の受光素子22と第2の受光素子23から受信した信号を差動増幅する。そして、差動増幅器24で差動増幅された信号は、A/D変換部25によってA/D変換され、波形補正処理部26により補正される。波形補正処理部26で補正された信号は、絶対位置演算部27に出力され、この絶対位置演算部27によって原点位置X1が検出される。   The signal converted from the light source by the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23 is output to the differential amplifier 24. The differential amplifier 24 differentially amplifies signals received from the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23. The signal differentially amplified by the differential amplifier 24 is A / D converted by the A / D converter 25 and corrected by the waveform correction processor 26. The signal corrected by the waveform correction processing unit 26 is output to the absolute position calculation unit 27, and the absolute position calculation unit 27 detects the origin position X1.

1−2.変位検出装置における原点位置の検出動作
次に、上述した構成を有する変位検出装置1の原点位置の検出動作について図1〜図7を参照して説明する。
図7は、受光部12によって出力される信号の波形と、受光部12に反射された光L1の強度を示す説明図である。図7に示す実線は、受光部12に反射された光L1の強度を示し、一点鎖線は、第1の受光素子22の信号波形を示し、点線は、第2の受光素子23の信号波形を示している。また、二点鎖線は、第1の受光素子22と第2の受光素子23の出力の差である差動増幅器24で出力される信号を示している。なお、図7では、横軸にスケール2とヘッド3の第1の方向Xの相対位置を示し、縦軸に光及び信号の出力強度を示している。
1-2. Origin Position Detection Operation in Displacement Detection Device Next, the origin position detection operation of the displacement detection device 1 having the above-described configuration will be described with reference to FIGS.
FIG. 7 is an explanatory diagram showing the waveform of a signal output by the light receiving unit 12 and the intensity of the light L1 reflected by the light receiving unit 12. The solid line shown in FIG. 7 indicates the intensity of the light L 1 reflected by the light receiving unit 12, the alternate long and short dash line indicates the signal waveform of the first light receiving element 22, and the dotted line indicates the signal waveform of the second light receiving element 23. Show. A two-dot chain line indicates a signal output from the differential amplifier 24 that is a difference between outputs of the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23. In FIG. 7, the horizontal axis indicates the relative position of the scale 2 and the head 3 in the first direction X, and the vertical axis indicates the output intensity of light and signals.

図1に示すように、光源11から出射された光L1は、レンズ13によりコリメートされて平行光となる。このときの光L1のスポット径は、例えば、φ1mmである。そして、レンズ13により平行光にコリメートされた光L1は、反射ミラー16に入射する。反射ミラー16は、入射した光L1をコーナーキューブ14に向けて反射させる。   As shown in FIG. 1, the light L1 emitted from the light source 11 is collimated by the lens 13 to become parallel light. The spot diameter of the light L1 at this time is, for example, φ1 mm. The light L1 collimated into parallel light by the lens 13 enters the reflection mirror 16. The reflection mirror 16 reflects the incident light L1 toward the corner cube 14.

また、コーナーキューブ14は、入射した光L1を再びスケール2の測定面2aに向けて反射させる。コーナーキューブ14によって反射された光L1は、ホログラムレンズ17に入射する。ホログラムレンズ17は、入射した光L1を集光させる。これにより、ホログラムレンズ17の焦点Gでの光L1のスポット径は、φ40μmまで細く絞られる。   The corner cube 14 reflects the incident light L1 toward the measurement surface 2a of the scale 2 again. The light L 1 reflected by the corner cube 14 enters the hologram lens 17. The hologram lens 17 condenses the incident light L1. As a result, the spot diameter of the light L1 at the focal point G of the hologram lens 17 is narrowed down to φ40 μm.

ここで、スケール2に対してヘッド3が原点位置X1よりも第1の方向Xの一側に位置している場合、ホログラムレンズ17によって反射された光L1は、図5に示すように、反射部材21の第1反射面21aに入射する。そして、光L1は、第1反射面21aによって反射されて第1の受光素子22に受光される。   Here, when the head 3 is located on one side of the first direction X with respect to the scale 2 with respect to the scale 2, the light L1 reflected by the hologram lens 17 is reflected as shown in FIG. The light enters the first reflecting surface 21 a of the member 21. The light L1 is reflected by the first reflecting surface 21a and received by the first light receiving element 22.

そのため、図7に示すように、スケール2に対してヘッド3が原点位置X1よりも第1の方向Xの一側に位置している場合、第1の受光素子22によって出力される信号の値が大きくなり、第2の受光素子23によって出力される信号の値は、小さくなる。   Therefore, as shown in FIG. 7, when the head 3 is located on one side in the first direction X with respect to the scale 2, the value of the signal output by the first light receiving element 22. Increases, and the value of the signal output by the second light receiving element 23 decreases.

また、スケール2に対してヘッド3が原点位置X1よりも第1の方向Xの他側に位置している場合、ホログラムレンズ17によって反射された光L1は、図5に示すように、反射部材21の第2反射面21bに入射する。そして、光L1は、第2反射面21bによって反射された第2の受光素子23に受光される。   When the head 3 is located on the other side in the first direction X with respect to the scale 2, the light L1 reflected by the hologram lens 17 is a reflecting member as shown in FIG. 21 is incident on the second reflecting surface 21b. The light L1 is received by the second light receiving element 23 reflected by the second reflecting surface 21b.

そのため、図7に示すように、スケール2に対してヘッド3が原点位置X1よりも第1の方向Xの他側に位置している場合、第2の受光素子23によって出力される信号の値が大きくなり、第1の受光素子22によって出力される信号の値は、小さくなる。   Therefore, as shown in FIG. 7, when the head 3 is positioned on the other side in the first direction X with respect to the scale 2 from the origin position X1, the value of the signal output by the second light receiving element 23 Increases, and the value of the signal output by the first light receiving element 22 decreases.

さらに、スケール2に対してヘッド3が原点位置X1に位置している場合、ホログラムレンズ17によって反射された光L1は、図5に示すように、反射部材21の頂点21cに入射する。光L1は、反射部材21により、均等に2つに分割されると共に第1の受光素子22と、第2の受光素子23に向けて反射される。このため、第1の受光素子22と第2の受光素子23には、光L1が略均等に入射する。   Furthermore, when the head 3 is located at the origin position X1 with respect to the scale 2, the light L1 reflected by the hologram lens 17 enters the vertex 21c of the reflecting member 21, as shown in FIG. The light L <b> 1 is equally divided into two by the reflecting member 21 and is reflected toward the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23. For this reason, the light L1 is incident on the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23 substantially evenly.

そのため、図7に示すように、第1の受光素子22と第2の受光素子23の出力信号の差は、0となる。したがって、差動増幅器24で差動増幅された信号が0Vを交差する点が、原点位置X1であると検出される。   Therefore, as shown in FIG. 7, the difference between the output signals of the first light receiving element 22 and the second light receiving element 23 is zero. Therefore, the point where the signal differentially amplified by the differential amplifier 24 crosses 0V is detected as the origin position X1.

本例の変位検出装置1によれば、ホログラムレンズ17によって光L1を細く絞り、その焦点を受光部12が配置された位置を同じ位置になるように設定している。これにより、差動増幅器24で差動増幅された信号が0Vを交差する点の間隔を狭めることができ、変位検出装置1における原点位置X1の検出精度を高めることができる。   According to the displacement detection apparatus 1 of this example, the light L1 is narrowed down by the hologram lens 17 and the focal point is set so that the position where the light receiving unit 12 is disposed is the same position. Thereby, the interval between the points where the signals differentially amplified by the differential amplifier 24 cross 0V can be narrowed, and the detection accuracy of the origin position X1 in the displacement detection device 1 can be increased.

なお、本例の変位検出装置1では、フォトディテクタである2つの受光素子22、23と反射部材21で受光部12を構成した例を説明したが、これに限定されるものではない。受光部12としては、光位置センサ(Position Sensitive Detector、PSD)を用いてもよい。そして、光位置センサの特定の位置の電圧の変化によって変位検出装置1における原点位置X1を検出するようにしてもよい。この場合、ホログラムレンズ17の焦点Gは、光位置センサの受光面となる。このときの、光位置センサの出力は、上述した差動増幅器24の出力に相当する。   In addition, although the displacement detection apparatus 1 of this example demonstrated the example which comprised the light-receiving part 12 with the two light-receiving elements 22 and 23 which are a photodetector, and the reflection member 21, it is not limited to this. An optical position sensor (Position Sensitive Detector, PSD) may be used as the light receiving unit 12. And you may make it detect the origin position X1 in the displacement detection apparatus 1 by the change of the voltage of the specific position of an optical position sensor. In this case, the focal point G of the hologram lens 17 is the light receiving surface of the optical position sensor. The output of the optical position sensor at this time corresponds to the output of the differential amplifier 24 described above.

1−3.変位検出装置の傾き補正動作
次に、上述した構成を有する変位検出装置1の傾き補正動作について図8〜図11を参照して説明する。
1-3. Inclination Correction Operation of Displacement Detection Device Next, the inclination correction operation of the displacement detection device 1 having the above-described configuration will be described with reference to FIGS.

まず、スケール2がピッチ方向に傾いた場合、すなわちスケール2が第3の方向Zに角度θで傾いた場合について図8及び図9を参照して説明する。
図8は、本例の変位検出装置1におけるスケール2が第3の方向Zに角度θで傾いた場合を示す説明図、図9は、コーナーキューブ14及び反射ミラー16を有さない従来の変位検出装置のスケール200が第3の方向Zに角度θで傾いた場合を示す説明図である。
First, the case where the scale 2 is inclined in the pitch direction, that is, the case where the scale 2 is inclined in the third direction Z by the angle θ will be described with reference to FIGS.
FIG. 8 is an explanatory view showing a case where the scale 2 in the displacement detection device 1 of the present example is inclined in the third direction Z by an angle θ, and FIG. 9 is a conventional displacement without the corner cube 14 and the reflecting mirror 16. It is explanatory drawing which shows the case where the scale 200 of a detection apparatus inclines in the 3rd direction Z by angle (theta).

図9に示すように、従来の変位検出装置の場合、光源110から光L1が、第3の方向Zと平行にスケール200の測定面200aに向けて出射される。光L1は、レンズ130で平行光にコリメートされてホログラムレンズ160に入射される。このホログラムレンズ160は、本例の変位検出装置1と同様に、スケール200の測定面200aに配置され、光L1を集光させる。   As shown in FIG. 9, in the case of the conventional displacement detection device, the light L <b> 1 is emitted from the light source 110 toward the measurement surface 200 a of the scale 200 in parallel with the third direction Z. The light L1 is collimated into parallel light by the lens 130 and is incident on the hologram lens 160. This hologram lens 160 is arranged on the measurement surface 200a of the scale 200 and collects the light L1 as in the displacement detection device 1 of this example.

従来の変位検出装置では、スケール200が第3の方向Zに角度θで傾いた場合、ホログラムレンズ160に入射された光L1は、第3の方向Zに対して角度2θで傾いた状態で反射される。そのため、ホログラムレンズ160から反射された光L1は、受光部120に受光されない。そして、この受光部120とホログラムレンズ160の焦点位置の差が、原点位置X1の検出誤差となる。   In the conventional displacement detection device, when the scale 200 is inclined in the third direction Z by the angle θ, the light L1 incident on the hologram lens 160 is reflected in the state inclined by the angle 2θ with respect to the third direction Z. Is done. Therefore, the light L <b> 1 reflected from the hologram lens 160 is not received by the light receiving unit 120. The difference between the focal positions of the light receiving unit 120 and the hologram lens 160 becomes a detection error of the origin position X1.

これに対して、本例の変位検出装置1は、図8に示すように、スケール2に入射された光L1を反射ミラー16で一度反射させると共に、コーナーキューブ14によって再びスケール2のホログラムレンズ17に向けて入射させている。光源11から光L1が第3の方向Zと平行に出射された場合、光L1は、第3の方向Zに対して角度+2θで傾いた状態で反射ミラー16により反射される。すなわち、光L1は、コーナーキューブ14に対して角度+2θで傾いた状態で入射する。   On the other hand, as shown in FIG. 8, the displacement detection device 1 of the present example reflects the light L1 incident on the scale 2 once by the reflection mirror 16, and again the hologram lens 17 of the scale 2 by the corner cube 14. It is made to enter toward. When the light L1 is emitted from the light source 11 in parallel with the third direction Z, the light L1 is reflected by the reflection mirror 16 while being inclined at an angle + 2θ with respect to the third direction Z. That is, the light L1 is incident on the corner cube 14 while being inclined at an angle + 2θ.

ここで、光L1は、コーナーキューブ14に入射した角度と同じ角度で出射される。そのため、コーナーキューブ14によって反射された光L1は、3の方向Zに対して角度−2θで傾いた状態でコーナーキューブ14から出射される。これにより、コーナーキューブ14によってスケール2の傾きを補正することができる。その結果、ホログラムレンズ17によって集光された光L1を確実に受光部12に入射させることができ、原点位置X1の検出誤差を解消することができる。   Here, the light L1 is emitted at the same angle as the angle incident on the corner cube 14. Therefore, the light L <b> 1 reflected by the corner cube 14 is emitted from the corner cube 14 in a state tilted at an angle −2θ with respect to the three directions Z. Thereby, the inclination of the scale 2 can be corrected by the corner cube 14. As a result, the light L1 collected by the hologram lens 17 can be reliably incident on the light receiving unit 12, and the detection error of the origin position X1 can be eliminated.

次に、スケール2がヘッド3に対してヨー方向に傾いた場合、すなわちアジマスずれが生じた場合について図10及び図11を参照して説明する。
図10は、本例の変位検出装置1においてスケール2がヘッド3に対してヨー方向に角度θで傾いた場合を示す説明図である。図11は、従来の変位検出装置のスケール2がヘッド3に対してヨー方向に角度θで傾いた場合を示す説明図である。
Next, a case where the scale 2 is inclined in the yaw direction with respect to the head 3, that is, a case where an azimuth shift occurs will be described with reference to FIGS.
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a case in which the scale 2 is inclined with respect to the head 3 at an angle θ in the yaw direction in the displacement detection device 1 of this example. FIG. 11 is an explanatory diagram showing a case where the scale 2 of the conventional displacement detector is tilted at an angle θ in the yaw direction with respect to the head 3.

図11に示すように、従来の変位検出装置では、受光部12が原点位置を示す回折格子上に配置される。すなわち、図11に示す例では、ホログラムレンズ17上に受光部12が配置され、受光部12は、相対位置検出用の受光部31に対して第2の方向YにΔY離れた位置に配置される。また、受光部12と相対位置検出用の受光部31は、第1の方向Xに長さT1離れている。   As shown in FIG. 11, in the conventional displacement detection device, the light receiving unit 12 is disposed on a diffraction grating indicating the origin position. That is, in the example shown in FIG. 11, the light receiving unit 12 is disposed on the hologram lens 17, and the light receiving unit 12 is disposed at a position ΔY away from the light receiving unit 31 for detecting the relative position in the second direction Y. The Further, the light receiving unit 12 and the light receiving unit 31 for detecting the relative position are separated from each other in the first direction X by a length T1.

スケール2がヘッド3に対してヨー方向に角度θで傾いた場合、受光部12が検出する原点位置X1と相対位置検出用の受光部31が検出した相対位置X0の間隔は、長さT1に対して、長さΔY・sinθのずれが発生する。   When the scale 2 is inclined with respect to the head 3 in the yaw direction at an angle θ, the distance between the origin position X1 detected by the light receiving unit 12 and the relative position X0 detected by the light receiving unit 31 for detecting the relative position is the length T1. On the other hand, a deviation of the length ΔY · sin θ occurs.

これに対して、図10に示すように、本例の変位検出装置1では、受光部12が、スケール2の中心線2b上に配置され、受光部12の第2の方向Yの位置は、相対位置検出用の受光部31における第2の方向Yの位置と一致している。そのため、本例の変位検出装置1では、受光部12と相対位置検出用の受光部31の第2の方向Yの差ΔYが0である(ΔY=0)。これにより、スケール2がヘッド3に対してヨー方向に角度θで傾いても、受光部12が検出する原点位置X1にずれが生じることがない。その結果、受光部12が検出する原点位置X1と相対位置検出用の受光部31が検出した相対位置X0の間隔は、常に一定の間隔T1となる。   On the other hand, as shown in FIG. 10, in the displacement detection device 1 of this example, the light receiving unit 12 is disposed on the center line 2b of the scale 2, and the position of the light receiving unit 12 in the second direction Y is This coincides with the position in the second direction Y in the light receiving unit 31 for detecting the relative position. Therefore, in the displacement detection device 1 of this example, the difference ΔY between the second direction Y between the light receiving unit 12 and the light receiving unit 31 for detecting the relative position is 0 (ΔY = 0). Thereby, even if the scale 2 is inclined with respect to the head 3 in the yaw direction at an angle θ, the origin position X1 detected by the light receiving unit 12 is not displaced. As a result, the interval between the origin position X1 detected by the light receiving unit 12 and the relative position X0 detected by the light receiving unit 31 for detecting the relative position is always a constant interval T1.

2.第2の実施の形態例
次に、図12及び図13を参照して第3の実施の形態例にかかる変位検出装置について説明する。
図12は、第2の実施の形態例にかかる変位検出装置を示す概略構成図である。
2. Second Embodiment Next, a displacement detection device according to a third embodiment will be described with reference to FIGS. 12 and 13.
FIG. 12 is a schematic configuration diagram showing a displacement detection apparatus according to the second embodiment.

この第2の実施の形態例にかかる変位検出装置71が第1の実施の形態例にかかる変位検出装置1と異なる点は、透過型のスケールを用いた点である。そのため、第1の実施の形態例にかかる変位検出装置1と共通する部分には同一の符号を付して重複した説明を省略する。   The displacement detector 71 according to the second embodiment differs from the displacement detector 1 according to the first embodiment in that a transmission type scale is used. Therefore, the same code | symbol is attached | subjected to the part which is common in the displacement detection apparatus 1 concerning 1st Embodiment, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

図12に示すように、変位検出装置71は、スケール72と、ヘッド73とを有している。スケール72は、入射された光を透過させる透過型のスケールである。また、スケール72には、第1の実施の形態例にかかるスケール2と同様に、相対位置検出用の目盛が設けられている。また、ヘッド73には、相対位置検出用の目盛を用いて相対位置を検出するための相対位置用検出部を有している。   As shown in FIG. 12, the displacement detection device 71 has a scale 72 and a head 73. The scale 72 is a transmissive scale that transmits incident light. Further, the scale 72 is provided with a scale for detecting the relative position, like the scale 2 according to the first embodiment. Further, the head 73 has a relative position detecting unit for detecting the relative position using a scale for detecting the relative position.

ヘッド73は、スケール72における第3の方向Zの一方と他方を覆うように配置される。ヘッド73は、光源81と、レンズ83と、反射ミラー86と、受光部82とを有している。   The head 73 is disposed so as to cover one side and the other side of the scale 72 in the third direction Z. The head 73 includes a light source 81, a lens 83, a reflection mirror 86, and a light receiving unit 82.

光源81、レンズ83及び受光部82は、スケール72における第3の方向Zの一方に配置されている。光源81から出射された光L1は、レンズ83を介して平行光にコリメートされたスケール72に入射する。スケール72に入射した光L1は、スケール72を透過し、スケール72における第3の方向Zの他方に出射される。   The light source 81, the lens 83, and the light receiving unit 82 are disposed on one side of the scale 72 in the third direction Z. The light L1 emitted from the light source 81 is incident on the scale 72 collimated into parallel light through the lens 83. The light L1 incident on the scale 72 passes through the scale 72 and is emitted to the other side in the third direction Z of the scale 72.

反射ミラー86は、スケール72における第3の方向Zの他方に配置されている。反射ミラー86は、スケール72を透過した光L1を再びスケール72に向けて反射させる。なお、反射ミラー86を用いた例を説明したが、反射型の回折格子を用いてもよい。これにより、回折角度を調整することでスケール72に反射させる角度を任意に設定することができる。   The reflection mirror 86 is disposed on the other side of the scale 72 in the third direction Z. The reflection mirror 86 reflects the light L1 transmitted through the scale 72 toward the scale 72 again. In addition, although the example using the reflection mirror 86 was demonstrated, you may use a reflection type diffraction grating. Thereby, the angle reflected on the scale 72 can be arbitrarily set by adjusting the diffraction angle.

また、スケール72には、ホログラムレンズ87が配置されている。ホログラムレンズ87は、透過型のホログラムレンズであり、透過した光を回折させて、集光する。また、ホログラムレンズ87の焦点Gは、受光部82が配置された位置に設定されている。このホログラムレンズ87には、反射ミラー86によって反射され、かつスケール72を透過した光L1が入射する。そして、ホログラムレンズ87は、受光部82に光L1を回折させて集光させる。   Further, a hologram lens 87 is disposed on the scale 72. The hologram lens 87 is a transmissive hologram lens, and diffracts and collects the transmitted light. The focal point G of the hologram lens 87 is set at a position where the light receiving unit 82 is disposed. Light L <b> 1 reflected by the reflecting mirror 86 and transmitted through the scale 72 is incident on the hologram lens 87. Then, the hologram lens 87 causes the light receiving unit 82 to diffract and condense the light L1.

図13は、スケール72がピッチ方向に傾いた場合、すなわちスケール72が第3の方向Zに角度θで傾いた場合を示す説明図である。
図13に示すように、反射ミラー86と受光部82がヘッド73に設けられており、スケール72が傾いても、反射ミラー86と受光部82の位置関係は、変化しない。そのため、スケール72が第3の方向Zに角度θで傾いても、反射ミラー86によって反射された光L1は、スケール72及びホログラムレンズ87を透過して受光部82に入射される。その結果、この第2の実施の形態例にかかる変位検出装置71では、コーナーキューブを設けなくてもよい。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing the case where the scale 72 is inclined in the pitch direction, that is, the case where the scale 72 is inclined in the third direction Z at an angle θ.
As shown in FIG. 13, the reflection mirror 86 and the light receiving unit 82 are provided in the head 73, and even if the scale 72 is inclined, the positional relationship between the reflection mirror 86 and the light receiving unit 82 does not change. Therefore, even if the scale 72 is inclined in the third direction Z by the angle θ, the light L1 reflected by the reflecting mirror 86 is transmitted through the scale 72 and the hologram lens 87 and is incident on the light receiving unit 82. As a result, in the displacement detection device 71 according to the second embodiment, the corner cube need not be provided.

その他の構成は、第1の実施の形態にかかる変位検出装置1と同様であるため、それらの説明は省略する。このような構成を有する変位検出装置71によっても、上述した第1の実施の形態例にかかる変位検出装置1と同様の作用効果を得ることができる。   Since other configurations are the same as those of the displacement detection device 1 according to the first embodiment, description thereof will be omitted. Also with the displacement detection device 71 having such a configuration, the same operational effects as those of the displacement detection device 1 according to the first embodiment described above can be obtained.

なお、本発明は上述しかつ図面に示した実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変形実施が可能である。上述した実施の形態例では、光源から照射される光は、気体中だけでなく、液体中又は真空中の空間を飛ばして光を供給するようにしてもよい。   The present invention is not limited to the embodiment described above and shown in the drawings, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention described in the claims. In the embodiment described above, the light emitted from the light source may be supplied not only in the gas but also in a liquid or vacuum space.

また、上述した実施の形態例にかかる変位検出装置は、回折格子がその平面と平行をなして回転するロータリーエンコーダや、高さ方向の変位を検出する変位検出装置と組み合わせて3次元の測定を行う変位検出装置等その他各種の変位検出装置に適用できるものである。   In addition, the displacement detection device according to the above-described embodiment performs three-dimensional measurement in combination with a rotary encoder in which the diffraction grating rotates in parallel with the plane and a displacement detection device that detects displacement in the height direction. The present invention can be applied to various other displacement detection devices such as a displacement detection device to be performed.

なお、本明細書において、「平行」及び「直交」等の単語を使用したが、これらは厳密な「平行」及び「直交」のみを意味するものではなく、「平行」及び「直交」を含み、さらにその機能を発揮し得る範囲にある、「略平行」や「略直交」の状態であってもよい。   In this specification, words such as “parallel” and “orthogonal” are used, but these do not mean only strict “parallel” and “orthogonal”, but include “parallel” and “orthogonal”. Further, it may be in a state of “substantially parallel” or “substantially orthogonal” within a range where the function can be exhibited.

1、71…変位検出装置、 2、72…スケール、 2a…測定面、 2b…中心線、 3、73…ヘッド、 11、81…光源、 12、82…受光部、 13、83…レンズ、 14…コーナーキューブ、 14a…第1反射部、 14b…第2反射部、 16、86…反射ミラー、 17、87…ホログラムレンズ、 17a…仮想ホログラムレンズ、 21…反射部材、 21a…第1反射面、 21b…第2反射面、 21c…頂点、 22…第1の受光素子、 23…第2の受光素子、 24…差動増幅器、 27…絶対位置演算部、 31…受光部(相対位置検出用)、 G…焦点、 X1…原点位置   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,71 ... Displacement detection apparatus, 2, 72 ... Scale, 2a ... Measurement surface, 2b ... Centerline, 3, 73 ... Head, 11, 81 ... Light source, 12, 82 ... Light-receiving part, 13, 83 ... Lens, 14 ... corner cube, 14a ... first reflecting part, 14b ... second reflecting part, 16, 86 ... reflecting mirror, 17, 87 ... hologram lens, 17a ... virtual hologram lens, 21 ... reflecting member, 21a ... first reflecting surface, 21b ... second reflecting surface, 21c ... vertex, 22 ... first light receiving element, 23 ... second light receiving element, 24 ... differential amplifier, 27 ... absolute position calculation unit, 31 ... light receiving unit (for relative position detection) , G ... focus, X1 ... origin position

Claims (4)

スケールと、前記スケールと対向して配置されるヘッドと、を備え、前記ヘッドにおける前記スケールに対する測定方向の原点位置を検出可能な変位検出装置において、
前記ヘッドに設けられ、前記スケールに向けて光を照射する光源と、
前記スケールに設けられ、前記光源から出射された光を集光させるホログラムレンズと、
前記ヘッドに設けられ、前記ホログラムレンズによって集光された光を受光する受光部と、を備え、
前記ホログラムレンズの焦点位置は、前記受光部が配置された位置となる
変位検出装置。
In a displacement detection device comprising a scale and a head arranged to face the scale, and capable of detecting an origin position in a measurement direction with respect to the scale in the head.
A light source provided on the head and irradiating light toward the scale;
A hologram lens that is provided on the scale and collects light emitted from the light source;
A light receiving portion that is provided in the head and receives light collected by the hologram lens;
The displacement detection device, wherein a focal position of the hologram lens is a position where the light receiving unit is disposed.
スケールと、前記スケールと対向して配置されるヘッドと、を備え、前記ヘッドにおける前記スケールに対する測定方向の原点位置を検出可能な変位検出装置において、
前記ヘッドに設けられ、前記スケールに向けて光を照射する光源と、
前記スケールに設けられ、前記光源から出射された光を反射する反射ミラー又は回折格子と、
前記ヘッドに設けられ、前記反射ミラー又は前記回折格子により反射された光を再び前記スケールに向けて反射させるコーナーキューブと、
前記スケールに設けられ、前記コーナーキューブにより反射された光を集光させるホログラムレンズと、
前記ヘッドに設けられ、前記ホログラムレンズによって集光された光を受光する受光部と、を備え、
前記ホログラムレンズの焦点位置は、前記受光部が配置された位置となる
変位検出装置。
In a displacement detection device comprising a scale and a head arranged to face the scale, and capable of detecting an origin position in a measurement direction with respect to the scale in the head.
A light source provided on the head and irradiating light toward the scale;
A reflection mirror or a diffraction grating provided on the scale and reflecting light emitted from the light source;
A corner cube provided on the head and reflecting light reflected by the reflecting mirror or the diffraction grating toward the scale again;
A hologram lens that is provided on the scale and collects light reflected by the corner cube;
A light receiving portion that is provided in the head and receives light collected by the hologram lens;
The displacement detection device, wherein a focal position of the hologram lens is a position where the light receiving unit is disposed.
スケールと、前記スケールと対向して配置されるヘッドと、を備え、前記ヘッドにおける前記スケールに対する測定方向の原点位置を検出可能な変位検出装置において、
前記ヘッドに設けられ、前記スケールに向けて光を照射する光源と、
前記スケールに設けられ、前記光源から出射された光を集光させるホログラムレンズと、
前記ヘッドに設けられ、前記ホログラムレンズによって集光された光を受光する受光部と、を備え、
前記ヘッドには、前記スケールに対する前記測定方向の相対位置を検出する際に用いられる相対位置用受光部が設けられ、
前記受光部は、前記スケールに対して、前記スケールの測定面と平行でかつ前記測定方向と直交する幅方向の位置が、前記相対位置用受光部における前記スケールに対する前記幅方向の位置と同じになる位置に配置され、
前記ホログラムレンズの焦点位置は、前記受光部が配置された位置となる
変位検出装置。
In a displacement detection device comprising a scale and a head arranged to face the scale, and capable of detecting an origin position in a measurement direction with respect to the scale in the head.
A light source provided on the head and irradiating light toward the scale;
A hologram lens that is provided on the scale and collects light emitted from the light source;
A light receiving portion that is provided in the head and receives light collected by the hologram lens;
The head is provided with a relative position light receiving unit used when detecting a relative position in the measurement direction with respect to the scale,
The position of the light receiving unit in the width direction parallel to the measurement surface of the scale and perpendicular to the measurement direction with respect to the scale is the same as the position in the width direction with respect to the scale in the light receiving unit for relative position. Placed at the position
The displacement detection device, wherein a focal position of the hologram lens is a position where the light receiving unit is disposed.
前記スケールには、前記光源から出射された光を反射する反射ミラー又は回折格子が設けられ、
前記ヘッドには、前記反射ミラー又は前記回折格子により反射された光を再び前記スケールに向けて反射させるコーナーキューブと、前記スケールに対する前記測定方向の相対位置を検出する際に用いられる相対位置用受光部が設けられ、
前記ホログラムレンズには、前記コーナーキューブにより反射された光が入射し、
前記受光部は、前記スケールに対して、前記スケールの測定面と平行でかつ前記測定方向と直交する幅方向の位置が、前記相対位置用受光部における前記スケールに対する前記幅方向の位置と同じになる位置に配置される
請求項1に記載の変位検出装置。
The scale is provided with a reflection mirror or a diffraction grating that reflects light emitted from the light source,
The head includes a corner cube that reflects the light reflected by the reflecting mirror or the diffraction grating toward the scale again, and a light receiving for relative position that is used when detecting a relative position in the measurement direction with respect to the scale. Part is provided,
The light reflected by the corner cube is incident on the hologram lens,
The position of the light receiving unit in the width direction parallel to the measurement surface of the scale and perpendicular to the measurement direction with respect to the scale is the same as the position in the width direction with respect to the scale in the light receiving unit for relative position. The displacement detection device according to claim 1, wherein the displacement detection device is disposed at a position.
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