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JP2018005623A - Plant control apparatus testing system - Google Patents

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JP2018005623A
JP2018005623A JP2016132706A JP2016132706A JP2018005623A JP 2018005623 A JP2018005623 A JP 2018005623A JP 2016132706 A JP2016132706 A JP 2016132706A JP 2016132706 A JP2016132706 A JP 2016132706A JP 2018005623 A JP2018005623 A JP 2018005623A
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常弘 佐藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To start a reproduction test in a state where the contents of an internal memory of an existing control apparatus is reflected in an internal memory of a test object control apparatus when executing the reproduction test to reproduce an external input signal of the existing control apparatus to the test object control apparatus.SOLUTION: An existing external input output signal collection part 12 collects existing external input signals input by an existing control apparatus 1 in each time of a collection period. An internal memory information save part 21 records information of the internal memory of the existing control apparatus 1 in a specific collection time during the collection period. An internal memory information conversion part 31 converts the internal memory information recorded by the internal memory information save part 21 into an update internal memory information corresponding to a format of an internal memory of a test object control apparatus 50. An update internal memory information load part loads the update internal memory information to the internal memory of the test object control apparatus 50. A reproduction test execution part 14 outputs in time-series order the existing external input signals collected after the collection time to the test object control apparatus 50 after the loading is completed.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

この発明は、プラント制御装置の交換やプログラムの更新あるいは変更に伴う試験の実施に適したプラント制御装置試験システムに関する。   The present invention relates to a plant control device test system suitable for performing a test associated with replacement of a plant control device or program update or change.

鉄鋼プラント等の大規模プラントは、工程毎に複数の制御機器を備えている。プラント制御装置(以下、単に制御装置と記す)が、各工程の制御機器を個別にあるいは全体として制御することによって、プラントの運転が実現される。制御装置による制御機器の制御はシーケンスプログラムに従って行われる。オペレータにより操作される操作入力装置からの操作量信号と、制御対象プラントに取り付けられた各種センサからの状態フィードバック信号とが制御装置に入力され、これらの入力信号に応じた制御信号がシーケンスプログラムに従って制御装置から出力される。   A large-scale plant such as a steel plant has a plurality of control devices for each process. Plant operation is realized by a plant control device (hereinafter simply referred to as a control device) controlling the control equipment of each process individually or as a whole. The control device is controlled by the control device in accordance with a sequence program. An operation amount signal from an operation input device operated by an operator and state feedback signals from various sensors attached to the control target plant are input to the control device, and control signals corresponding to these input signals are transmitted according to a sequence program. Output from the controller.

上述のプログラムはプラントの運転に関する要求仕様に添って作成される。制御装置を実際のプラントに組み込んで運用する場合には、要求仕様通りに動作することが検証されたプログラムが用いられる。   The above-mentioned program is created according to the required specifications related to plant operation. When the control device is incorporated into an actual plant and operated, a program verified to operate according to the required specifications is used.

ところが、既設のプラントにおいても制御装置は必要に応じて交換される場合がある。また、プログラムの更新や変更が行われる場合もある。そのような場合に必要となる作業が、交換後の制御装置、または、プログラムの更新あるいは変更後の制御装置が要求仕様にあっているかどうか確認するための試験である。試験方法の一つとして、制御装置を実プラントから切り離して試験することのできるプラントシミュレータを用いた試験方法がある。しかし、この試験方法は試験の精度が試験員の知識量や経験値に左右される。   However, even in existing plants, the control device may be replaced as necessary. In some cases, the program may be updated or changed. The work required in such a case is a test for confirming whether the control device after replacement or the control device after program update or change meets the required specifications. As one of the test methods, there is a test method using a plant simulator that can test the control device separately from the actual plant. However, in this test method, the accuracy of the test depends on the knowledge amount and experience value of the examiner.

他の試験方法では、まず、既設の実プラントの操作入力装置から出力される操作量信号と、既設制御装置により実プラントの制御機器が制御されることにより出力される状態フィードバック信号とを、プラント制御装置の試験装置(以下、単に試験装置と記す)でレコーディングする。その後、実プラントから切り離された試験環境に試験装置を接続し、レコーディングした実プラントの信号を試験装置から再生して、被試験制御装置に操作量信号と状態フィードバック信号を入力して制御信号を出力させる。制御出力比較判定装置および制御出力表示装置によって実プラントでレコーディングした既設制御装置の出力と被試験制御装置の出力とを比較する試験方法がある。   In another test method, first, an operation amount signal output from an operation input device of an existing actual plant and a state feedback signal output by controlling the control device of the actual plant by the existing control device, Recording is performed with a test device of a control device (hereinafter simply referred to as a test device). After that, connect the test equipment to the test environment disconnected from the actual plant, reproduce the recorded real plant signal from the test equipment, and input the control signal and the state feedback signal to the control device under test. Output. There is a test method for comparing the output of the existing control device recorded in the actual plant with the output of the control device under test by the control output comparison / determination device and the control output display device.

上記の試験方法に関しては、例えば特開2012−14584号公報(特許文献1)に述べられている。   The above test method is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-14584 (Patent Document 1).

特開2012−14584号公報JP 2012-14584 A

従来の試験装置では、実プラントからレコーディングするのは、既設制御装置の外部入出力信号(上述の操作量信号、状態フィードバック信号)のみであった。実プラントの既設制御装置の内部メモリ情報は収集されずに試験が行われている。   In the conventional test apparatus, only the external input / output signals (the above-described manipulated variable signal and state feedback signal) of the existing control apparatus are recorded from the actual plant. The test is performed without collecting the internal memory information of the existing control device of the actual plant.

内部メモリが有する情報には、例えば、アクチュエータやセンサの位置や速度に応じた状態値や、制御機器の運転履歴から推定される温度などの累積的な値などがあり、内部メモリの情報は既設制御装置と被試験制御装置の両方で同一に設定しないと同じ入力を与えても同じ出力が得られない。双方が同じ出力を行うことができるか検証するためには、試験開始時における被試験制御装置の内部メモリを、既設制御装置の内部メモリと同じ設定にしておく必要がある。   Information stored in the internal memory includes, for example, state values according to the position and speed of actuators and sensors, and cumulative values such as temperatures estimated from the operation history of the control device. The same output cannot be obtained even if the same input is given unless the control device and the device under test are set identically. In order to verify whether both can perform the same output, it is necessary to set the internal memory of the control device under test at the start of the test to the same setting as the internal memory of the existing control device.

従来、被試験制御装置の内部メモリを既設制御装置の内部メモリと同じ設定にするために、試験員が試行錯誤による設定を行っている。このため、設定に多くの時間を必要としており、試験の効率化のためには既設制御装置の内部メモリ情報から試験開始時の被試験制御装置の内部メモリ情報(内部メモリの設定値)を作成する必要がある。   Conventionally, in order to set the internal memory of the control device under test to the same setting as the internal memory of the existing control device, the tester makes settings by trial and error. For this reason, a lot of time is required for setting, and in order to improve the efficiency of the test, the internal memory information (set value of the internal memory) of the controller under test at the start of the test is created from the internal memory information of the existing control device. There is a need to.

本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、既設制御装置の外部入力信号をレコーディングし、被試験制御装置に対して再生する再生試験を実施する場合に、既設制御装置の内部メモリの内容を被試験制御装置の内部メモリに短時間で反映させてから再生試験を開始できるプラント制御装置試験システムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems. When an external control signal for recording an external input signal of an existing control device is recorded and played back to the control device under test, the existing control device is provided. An object of the present invention is to provide a plant control device test system that can start a regeneration test after reflecting the contents of the internal memory in the internal memory of the control device under test in a short time.

本発明は、上記の目的を達成するため、実プラントシステムの既設制御装置が入出力する信号を再生して、被試験制御装置の動作を検証するためのプラント制御装置試験システムであって、
収集期間の各時刻において、前記既設制御装置が入力する既設外部入力信号および前記既設制御装置が出力する既設外部出力信号を収集する既設外部入出力信号収集部と、
前記収集期間中の所定の収集時間における前記既設制御装置の内部メモリの情報を記録する内部メモリ情報セーブ部と、
前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換する内部メモリ情報変換部と、
前記更新内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリにロードする更新内部メモリ情報ロード部と、
前記更新内部メモリ情報ロード部によるロード完了後、前記収集時間以降に収集された前記既設外部入力信号を時系列順に前記被試験制御装置へ出力する再生試験実行部と、を備えることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention is a plant control device test system for reproducing the signals input and output by the existing control device of the actual plant system and verifying the operation of the control device under test.
At each time of the collection period, an existing external input / output signal collecting unit that collects an existing external input signal input by the existing control device and an existing external output signal output by the existing control device;
An internal memory information saving unit for recording information of an internal memory of the existing control device at a predetermined collection time during the collection period;
An internal memory information conversion unit that converts the internal memory information recorded by the internal memory information saving unit into updated internal memory information corresponding to the format of the internal memory of the device under test;
An updated internal memory information loading unit for loading the updated internal memory information into the internal memory of the control device under test;
A reproduction test execution unit that outputs the existing external input signals collected after the collection time to the device under test in chronological order after completion of the loading by the updated internal memory information loading unit. .

好ましくは、前記内部メモリ情報変換部は、前記既設制御装置の内部メモリのアドレスおよびデータ値と、前記被試験制御装置の内部メモリのアドレスおよびデータ値との対応関係を定めた変換テーブルを備え、変換テーブルに基づいて自動的に、前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換すること、を特徴とする。   Preferably, the internal memory information conversion unit includes a conversion table that defines a correspondence relationship between an address and a data value of the internal memory of the existing control device and an address and a data value of the internal memory of the control target device, Based on the conversion table, the internal memory information recorded by the internal memory information saving unit is automatically converted into updated internal memory information corresponding to the format of the internal memory of the device under test.

好ましくは、前記収集時間以降に収集された前記既設外部出力信号と、前記被試験制御装置が出力する被試験外部出力信号とを時系列順に並べて比較可能な状態で表示する比較表示処理部、をさらに備えることを特徴とする。   Preferably, a comparison display processing unit that displays the existing external output signal collected after the collection time and the external output signal under test output by the control device under test in a time-sequentially arranged state for comparison. It is further provided with the feature.

本発明によれば、既設制御装置の外部入力信号をレコーディングし、被試験制御装置に対して再生する再生試験を実施する場合に、既設制御装置の内部メモリの内容を被試験制御装置の内部メモリに短時間で反映させてから再生試験を開始できる。   According to the present invention, when performing a reproduction test in which an external input signal of an existing control device is recorded and played back to the control device under test, the content of the internal memory of the existing control device is changed to the internal memory of the control device under test. The reproduction test can be started after reflecting in a short time.

本発明の実施の形態1に係るプラント制御装置試験システムを実プラントシステムと合わせて示した全体構成図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is the whole block diagram which showed the plant control apparatus test system which concerns on Embodiment 1 of this invention together with the actual plant system. プラント制御装置試験システムの機能および動作を説明するための機能ブロック図である。It is a functional block diagram for demonstrating the function and operation | movement of a plant control apparatus test system. 既設制御装置1の内部メモリ情報をセーブし、内部メモリ情報変換部により更新内部メモリ情報に変換し、被試験制御装置50の内部メモリにロードする処理を概略的に示す図である。3 is a diagram schematically showing a process of saving internal memory information of an existing control device 1, converting it into updated internal memory information by an internal memory information conversion unit, and loading it into an internal memory of a control device under test 50. FIG. 本発明の実施の形態1に係るプラント制御装置試験システムの変形例を実プラントシステムと合わせて示した全体構成図である。It is the whole block diagram which showed the modification of the plant control apparatus test system which concerns on Embodiment 1 of this invention together with the actual plant system. 試験装置10、内部メモリ情報管理部30、比較表示部40がそれぞれ有する処理回路のハードウェア構成例を示すブロック図である。3 is a block diagram illustrating a hardware configuration example of processing circuits included in the test apparatus 10, the internal memory information management unit 30, and the comparison display unit 40, respectively. FIG.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。尚、各図において共通する要素には、同一の符号を付して重複する説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the element which is common in each figure, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係るプラント制御装置試験システムを実プラントシステムと合わせて示した全体構成図である。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing a plant control apparatus test system according to Embodiment 1 of the present invention together with an actual plant system.

<実プラントシステム>
実プラントシステムは、制御対象プラントの制御機器(図示省略)、制御機器を制御するプラント制御装置(以下、単に既設制御装置1と記す)、オペレータにより操作される操作入力装置(図示省略)を備え、既設制御ネットワーク2を介して互いに接続している。既設制御装置1は、試験済みの制御装置、すなわち、要求仕様にあっていることが既に確認されている制御装置である。既設制御装置1による制御機器の制御は、シーケンスプログラムに従って行われる。既設制御装置1は、操作入力装置からの操作量信号と、制御対象プラントに取り付けられた各種センサからの状態フィードバック信号とを入力する。既設制御装置1は、シーケンスプログラムに従って、これらの入力信号および内部メモリ情報に応じた制御信号を出力する。
<Real plant system>
The actual plant system includes a control device (not shown) of a control target plant, a plant control device (hereinafter simply referred to as an existing control device 1) for controlling the control device, and an operation input device (not shown) operated by an operator. Are connected to each other via the existing control network 2. The existing control device 1 is a tested control device, that is, a control device that has already been confirmed to meet the required specifications. Control of the control device by the existing control device 1 is performed according to a sequence program. The existing control device 1 inputs an operation amount signal from the operation input device and state feedback signals from various sensors attached to the control target plant. The existing control device 1 outputs these input signals and control signals corresponding to the internal memory information according to the sequence program.

<プラント制御装置試験システム>
次に、図1を参照してプラント制御装置試験システムの概要について説明する。
プラント制御装置試験システムは、試験装置10、内部メモリ情報収集装置20、内部メモリ情報管理部30、比較表示部40を備える。試験装置10、内部メモリ情報管理部30、および比較表示部40は、更新制御ネットワーク3を介して互いに接続している。内部メモリ情報収集装置20は、既設制御装置1に取り付けられ、既設制御ネットワーク2とゲートウェイ4を介して更新制御ネットワーク3に接続している。また、プラント制御装置試験システムは、更新制御ネットワーク3を介して試験対象のプラント制御装置(以下、単に被試験制御装置50と記す)に接続している。
<Plant control system test system>
Next, an outline of the plant control apparatus test system will be described with reference to FIG.
The plant control device test system includes a test device 10, an internal memory information collection device 20, an internal memory information management unit 30, and a comparison display unit 40. The test apparatus 10, the internal memory information management unit 30, and the comparison display unit 40 are connected to each other via the update control network 3. The internal memory information collecting device 20 is attached to the existing control device 1 and connected to the update control network 3 via the existing control network 2 and the gateway 4. The plant control device test system is connected to a plant control device to be tested (hereinafter simply referred to as a control device under test 50) via the update control network 3.

プラント制御装置試験システムは、実プラントシステムの既設制御装置1への入力信号をレコーディングし、被試験制御装置50の入力信号として再生して、被試験制御装置50の出力信号を検証する再生試験を実施するためのシステムである。   The plant control apparatus test system records an input signal to the existing control apparatus 1 of the actual plant system, reproduces it as an input signal of the control apparatus under test 50, and performs a reproduction test for verifying the output signal of the control apparatus under test 50. It is a system for carrying out.

プラント制御装置試験システムは、運転中の実プラントシステムから再生試験に必要なデータを収集する工程(以下、実プラント工程と記す)と、実プラントシステムから切り離された試験環境で再生試験を実施する工程(以下、試験工程と記す)の2つの工程に分けて使用される。   The plant control device test system performs a regeneration test in a test environment separated from the actual plant system and a process for collecting data necessary for the regeneration test from the actual plant system in operation (hereinafter referred to as an actual plant process). The process is divided into two steps (hereinafter referred to as test steps).

実プラント工程の概要について説明する。実プラント工程において、既設制御装置1に入力される既設外部入力信号(上述した操作量信号、状態フィードバック信号)および既設制御装置1から出力される既設外部出力信号(上述した制御信号)は、既設制御ネットワーク2上に出力されている。既設制御ネットワーク2と、試験装置10が接続されている更新制御ネットワーク3は、ゲートウェイ4によって接続されており信号のインターフェースが行われている。試験装置10は、既設外部入力信号および既設外部出力信号を記憶部100に蓄積する。   An outline of the actual plant process will be described. In the actual plant process, the existing external input signal (the operation amount signal and the state feedback signal described above) input to the existing control device 1 and the existing external output signal (the control signal described above) output from the existing control device 1 are It is output on the control network 2. The existing control network 2 and the update control network 3 to which the test apparatus 10 is connected are connected by a gateway 4 to interface signals. The test apparatus 10 accumulates the existing external input signal and the existing external output signal in the storage unit 100.

加えて、実プラントシステムから既設外部入力信号および既設外部出力信号をレコーディングする際に、既設制御装置1に取り付けられた内部メモリ情報収集装置20は、既設制御装置1の内部メモリの情報(内部メモリ情報)を収集する。   In addition, when the existing external input signal and the existing external output signal are recorded from the actual plant system, the internal memory information collecting device 20 attached to the existing control device 1 is information on the internal memory of the existing control device 1 (internal memory). Information).

収集した既設制御装置1の内部メモリ情報、および、その収集時間は、既設制御ネットワーク2、ゲートウェイ4、および更新制御ネットワーク3を経由して、内部メモリ情報管理部30に送信される。収集した既設制御装置1の内部メモリ情報は、内部メモリ情報管理部30で被試験制御装置50の内部メモリに応じた形式に変換され、更新内部メモリ情報(被試験制御装置50の内部メモリの設定値)として記憶部300に保存される。   The collected internal memory information of the existing control device 1 and its collection time are transmitted to the internal memory information management unit 30 via the existing control network 2, the gateway 4, and the update control network 3. The collected internal memory information of the existing control device 1 is converted into a format according to the internal memory of the control device under test 50 by the internal memory information management unit 30, and updated internal memory information (setting of the internal memory of the control device under test 50) Value) is stored in the storage unit 300.

試験工程の概要について説明する。試験工程では、実プラントシステムから切り離された試験環境に被試験制御装置50を接続し再生試験を実施する。   An outline of the test process will be described. In the test process, the controller under test 50 is connected to a test environment separated from the actual plant system, and a regeneration test is performed.

試験開始前に、更新内部メモリ情報は、内部メモリ情報管理部30から被試験制御装置50へ出力され、被試験制御装置50の内部メモリの初期状態として設定される。その後、試験装置10は再生試験を開始する。試験装置10は、記憶部100に保存された既設外部入力信号と既設外部出力信号を更新制御ネットワーク3へ出力する。既設外部入力信号と既設外部出力信号は、更新制御ネットワーク3上に再生され、再生された既設外部入力信号は被試験制御装置50に入力される。被試験制御装置50は、内部のプログラムに従って、既設外部入力信号および内部メモリの現状態に応じた制御信号(被試験外部出力信号)を更新制御ネットワーク3上に出力する。   Before starting the test, the updated internal memory information is output from the internal memory information management unit 30 to the control device under test 50 and set as an initial state of the internal memory of the control device under test 50. Thereafter, the test apparatus 10 starts a reproduction test. The test apparatus 10 outputs the existing external input signal and the existing external output signal stored in the storage unit 100 to the update control network 3. The existing external input signal and the existing external output signal are reproduced on the update control network 3, and the reproduced existing external input signal is input to the control device under test 50. The control device under test 50 outputs a control signal (external output signal under test) corresponding to the existing external input signal and the current state of the internal memory to the update control network 3 according to the internal program.

比較表示部40は、更新制御ネットワーク3上に出力された既設外部出力信号と被試験外部出力信号を取り込み、時系列順に並べて比較可能な状態で表示する。   The comparison display unit 40 takes in an existing external output signal and an external output signal to be tested output on the update control network 3 and displays them in a state in which they can be compared in a time-series order.

次に、図2、図3を参照してプラント制御装置試験システムの機能および動作についてより詳細に説明する。図2は、プラント制御装置試験システムの機能および動作を説明するための機能ブロック図である。図3は、既設制御装置1の内部メモリ情報をセーブし、内部メモリ情報変換部により更新内部メモリ情報に変換し、被試験制御装置50の内部メモリにロードする処理を概略的に示す図である。   Next, functions and operations of the plant control device test system will be described in more detail with reference to FIGS. FIG. 2 is a functional block diagram for explaining functions and operations of the plant control apparatus test system. FIG. 3 is a diagram schematically showing a process of saving the internal memory information of the existing control device 1, converting it into updated internal memory information by the internal memory information conversion unit, and loading it into the internal memory of the control device under test 50. .

図2において、試験装置10は、試験データ収集指令部11、既設外部入出力信号収集部12、初期設定指令部13、再生試験実行部14を含む。内部メモリ情報収集装置20は、内部メモリ情報セーブ部21を含む。内部メモリ情報管理部30は、内部メモリ情報変換部31、更新内部メモリ情報ロード部32を含む。比較表示部40は、被試験外部出力信号収集部41、比較表示処理部42を備える。   In FIG. 2, the test apparatus 10 includes a test data collection command unit 11, an existing external input / output signal collection unit 12, an initial setting command unit 13, and a reproduction test execution unit 14. The internal memory information collecting device 20 includes an internal memory information saving unit 21. The internal memory information management unit 30 includes an internal memory information conversion unit 31 and an updated internal memory information load unit 32. The comparison display unit 40 includes an external output signal collection unit 41 to be tested and a comparison display processing unit 42.

図2の各部の処理内容について、実プラント工程および試験工程における処理の流れに沿って説明する。まず、実プラント工程での処理について説明する。   The processing content of each part of FIG. 2 is demonstrated along the flow of the process in an actual plant process and a test process. First, processing in an actual plant process will be described.

試験データ収集指令部11は、試験装置10に対するオペレータの操作または予めスケジュールされたタスクに従って、再生試験用のデータを運転中の実プラントシステムから収集するためのデータ収集指令を出力する。データ収集指令には、収集期間が付与されている。   The test data collection command unit 11 outputs a data collection command for collecting data for regeneration test from the operating actual plant system in accordance with an operator operation on the test apparatus 10 or a task scheduled in advance. The data collection command is given a collection period.

次に、既設外部入出力信号収集部12は、データ収集指令に応じて、収集期間の各時刻において、既設制御装置1が入力する既設外部入力信号および既設制御装置1が出力する既設外部出力信号を収集する。試験装置10は、収集した各信号に収集時間を関連付けて記憶部100(図1)に記憶する。   Next, the existing external input / output signal collecting unit 12 responds to the data collection command, and the existing external input signal input by the existing control device 1 and the existing external output signal output by the existing control device 1 at each time of the collection period. To collect. The test apparatus 10 associates the collected time with each collected signal and stores it in the storage unit 100 (FIG. 1).

内部メモリ情報セーブ部21は、試験データ収集指令部11からのデータ収集指令、または内部メモリ情報収集装置20に対するオペレータの操作に応じて、上述した収集期間中の所定の収集時間における既設制御装置1の内部メモリの現状態(内部メモリ情報)を記録する。内部メモリ情報収集装置20は、収集した内部メモリ情報に上述した所定の収集時間(以下、メモリ情報収集時間と記す)を関連付けて、内部メモリ情報管理部30に送信する。   The internal memory information saving unit 21 is configured so that the existing control device 1 at a predetermined collection time during the above-described collection period in response to a data collection command from the test data collection command unit 11 or an operator's operation on the internal memory information collection device 20. The current state of the internal memory (internal memory information) is recorded. The internal memory information collection device 20 associates the collected internal memory information with the above-described predetermined collection time (hereinafter referred to as “memory information collection time”) and transmits it to the internal memory information management unit 30.

内部メモリ情報変換部31は、内部メモリ情報セーブ部21が記録した内部メモリ情報を、被試験制御装置50の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換する。より詳細には図3に示すように、内部メモリ情報変換部31は、既設制御装置1の内部メモリのアドレスおよびデータ値と、被試験制御装置50の内部メモリのアドレスおよびデータ値との対応関係(変換ルール)を定めた変換テーブルを備え、変換テーブルに基づいて自動的に、内部メモリ情報セーブ部21が記録した内部メモリ情報を、被試験制御装置50の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換する。更新内部メモリ情報は、上述したメモリ情報収集時間が関連付けられて記憶部300に記憶される。以上が実プラント工程で実施する範囲である。   The internal memory information conversion unit 31 converts the internal memory information recorded by the internal memory information saving unit 21 into updated internal memory information corresponding to the internal memory format of the control device under test 50. More specifically, as shown in FIG. 3, the internal memory information conversion unit 31 corresponds to the correspondence between the address and data value of the internal memory of the existing control device 1 and the address and data value of the internal memory of the control device under test 50. (Conversion rule) is provided, and the internal memory information recorded by the internal memory information saving unit 21 is automatically updated according to the format of the internal memory of the device under test 50 based on the conversion table. Convert to memory information. The updated internal memory information is stored in the storage unit 300 in association with the memory information collection time described above. The above is the range to be implemented in the actual plant process.

次に、実プラントシステムから切り離された試験環境で被試験制御装置50に対する再生試験を実行する試験工程での処理について説明する。   Next, processing in a test process for executing a regeneration test on the control apparatus under test 50 in a test environment separated from the actual plant system will be described.

まず、初期設定指令部13は、被試験制御装置50の内部メモリに初期値を設定するための初期設定指令を出力する。   First, the initial setting command unit 13 outputs an initial setting command for setting an initial value in the internal memory of the control apparatus under test 50.

次に、更新内部メモリ情報ロード部32は、初期設定指令に応じて、記憶部300に記憶された更新内部メモリ情報を、被試験制御装置50の内部メモリにロードする。これにより、被試験制御装置50の内部メモリの初期値は、上述したメモリ情報収集時間における既設制御装置1の内部メモリの情報と同等に設定される。ロード完了後、更新内部メモリ情報ロード部32は、初期設定指令部13へロード完了通知を出力する。   Next, the updated internal memory information loading unit 32 loads the updated internal memory information stored in the storage unit 300 into the internal memory of the control device under test 50 in response to the initial setting command. Thereby, the initial value of the internal memory of the control device under test 50 is set to be equivalent to the information of the internal memory of the existing control device 1 during the memory information collection time described above. After the loading is completed, the updated internal memory information loading unit 32 outputs a load completion notification to the initial setting command unit 13.

初期設定指令部13は、ロード完了通知を確認した後、再生試験の実行を指示する。   The initial setting command unit 13 confirms the load completion notification and then instructs the execution of the regeneration test.

再生試験実行部14は、記憶部100に記憶された既設外部入力信号と既設外部出力信号を更新制御ネットワーク3上に再生する。より詳細には、再生試験実行部14は、記憶部100に記憶された既設外部入力信号および既設外部出力信号のうち、更新内部メモリ情報に付されたメモリ情報収集時間以降の時刻が関連付けられた信号を時系列順に再生する。   The reproduction test execution unit 14 reproduces the existing external input signal and the existing external output signal stored in the storage unit 100 on the update control network 3. More specifically, the reproduction test execution unit 14 is associated with a time after the memory information collection time attached to the updated internal memory information among the existing external input signal and the existing external output signal stored in the storage unit 100. Play the signals in chronological order.

更新制御ネットワーク3上に再生された既設外部入力信号は、被試験制御装置50に入力される。被試験制御装置50は、内部のプログラムに従って、既設外部入力信号および内部メモリの現状態に応じた制御信号(被試験外部出力信号)を更新制御ネットワーク3上に出力する。なお、被試験制御装置50の内部メモリの現状態は、初期設定以降、時系列順に入力される各既設外部入力信号に基づく演算が行われる度に随時更新されるため、再生試験実行時に更新内部メモリ情報が初期設定されていれば足りる。   The existing external input signal reproduced on the update control network 3 is input to the control device under test 50. The control device under test 50 outputs a control signal (external output signal under test) corresponding to the existing external input signal and the current state of the internal memory to the update control network 3 according to the internal program. Note that the current state of the internal memory of the control device under test 50 is updated as needed every time an operation is performed based on each existing external input signal input in chronological order after the initial setting. It is sufficient if the memory information is initialized.

被試験外部出力信号収集部41は、更新制御ネットワーク3上に再生された既設外部出力信号、および被試験制御装置50が更新制御ネットワーク3に出力した被試験外部出力信号を収集する。好ましくは、既設外部入力信号も収集する。   The tested external output signal collecting unit 41 collects the existing external output signal reproduced on the update control network 3 and the tested external output signal output to the update control network 3 by the tested device 50. Preferably, an existing external input signal is also collected.

比較表示処理部42は、既設外部出力信号と被試験外部出力信号とを時系列順に並べて比較可能な状態で表示する。好ましくは、既設外部入力信号と、既設外部出力信号と、被試験外部出力信号を時系列順に並べて比較可能な状態で表示する。   The comparison display processing unit 42 arranges the existing external output signal and the external output signal under test in time series order and displays them in a comparable state. Preferably, the existing external input signal, the existing external output signal, and the external output signal under test are displayed in a state that can be compared in a time-series order.

<効果>
以上説明したように、上述した実施の形態1のプラント制御装置試験システムによれば、内部メモリ情報セーブ部21、内部メモリ情報変換部31、更新内部メモリ情報ロード部32、再生試験実行部14を備えるため、既設制御装置の内部メモリの内容を被試験制御装置の内部メモリに自動的に反映させた後に再生試験を開始できる。
<Effect>
As described above, according to the plant control apparatus test system of the first embodiment described above, the internal memory information saving unit 21, the internal memory information conversion unit 31, the updated internal memory information load unit 32, and the reproduction test execution unit 14 are provided. Therefore, the reproduction test can be started after the contents of the internal memory of the existing control device are automatically reflected in the internal memory of the control device under test.

従来において、実プラントシステムから切り離された試験環境で被試験制御装置50に対する再生試験を行う場合に、初期の作業として発生していた被試験制御装置50の内部メモリを既設制御装置1の内部メモリと試行錯誤により同一の状態にする調整作業に要していた時間を短縮することができる。これにより、より多くの時間を機能試験に振り向けることができ、試験業務の効率化、試験品質の向上を図ることが出来る。   Conventionally, when performing a regeneration test on the device under test 50 in a test environment separated from the actual plant system, the internal memory of the control device under test 50 generated as an initial operation is used as the internal memory of the existing control device 1. It is possible to shorten the time required for the adjustment work to make the same state by trial and error. As a result, more time can be devoted to the functional test, and the efficiency of the test work can be improved and the test quality can be improved.

<変形例>
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は上述の実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば以下の各例のように変形して実施してもよい。
<Modification>
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the above-mentioned embodiment. Various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, modifications may be made as in the following examples.

図1に示す例では、試験装置10、内部メモリ情報管理部30、比較表示部40を独立した装置としているが、試験装置10のハードウェアのスペックが十分高ければ、試験装置10に、内部メモリ情報管理部30および比較表示部40の一方又は両方の各機能を取り込んでもよい。   In the example illustrated in FIG. 1, the test apparatus 10, the internal memory information management unit 30, and the comparison display unit 40 are independent apparatuses. However, if the hardware specifications of the test apparatus 10 are sufficiently high, the test apparatus 10 includes the internal memory. Each function of one or both of the information management unit 30 and the comparison display unit 40 may be taken in.

図1に示す例では、更新制御ネットワーク3に内部メモリ情報管理部30を接続しているが、図4に示すように、内部メモリ情報管理部30aと内部メモリ情報収集装置20とを通信ケーブルで直接接続し、内部メモリ情報を収集してもよい。この場合、オペレータが内部メモリ情報収集装置20を操作することにより収集処理が実行される。内部メモリ情報管理部30aの機能は内部メモリ情報管理部30と同様である。更新内部メモリ情報は、内部メモリ情報管理部30aから被試験制御装置50へ通信ケーブルや記憶媒体等を介して送られる。オペレータは、ロード完了後に試験装置10から既設外部入力信号を再生する。   In the example shown in FIG. 1, the internal memory information management unit 30 is connected to the update control network 3, but as shown in FIG. 4, the internal memory information management unit 30a and the internal memory information collection device 20 are connected by a communication cable. Direct connection may be made to collect internal memory information. In this case, the collection process is executed by the operator operating the internal memory information collection device 20. The function of the internal memory information management unit 30 a is the same as that of the internal memory information management unit 30. The updated internal memory information is sent from the internal memory information management unit 30a to the control device under test 50 via a communication cable, a storage medium, or the like. The operator reproduces the existing external input signal from the test apparatus 10 after the loading is completed.

また、試験装置10、内部メモリ情報収集装置20、内部メモリ情報管理部30の内部時計は時刻が一致している必要があるため、時刻を同期させる機能を備えることが望ましい。   In addition, since the internal clocks of the test apparatus 10, the internal memory information collection apparatus 20, and the internal memory information management unit 30 need to have the same time, it is desirable to have a function of synchronizing the time.

<ハードウェア構成例>
図5は、試験装置10、内部メモリ情報管理部30、比較表示部40がそれぞれ有する処理回路のハードウェア構成例を示すブロック図である。図2に示す各部は、本システムが有する機能の一部を示し、各機能は処理回路により実現される。例えば、処理回路は、CPU(Central Processing Unit)101、ROM(Read Only Memory)102、RAM(Random Access Memory)103、入出力インターフェース104、システムバス105、入力装置106、表示装置107、ストレージ108および通信装置109を備えたコンピュータである。
<Hardware configuration example>
FIG. 5 is a block diagram illustrating a hardware configuration example of processing circuits included in the test apparatus 10, the internal memory information management unit 30, and the comparison display unit 40. Each part shown in FIG. 2 shows a part of the functions of this system, and each function is realized by a processing circuit. For example, the processing circuit includes a CPU (Central Processing Unit) 101, a ROM (Read Only Memory) 102, a RAM (Random Access Memory) 103, an input / output interface 104, a system bus 105, an input device 106, a display device 107, a storage 108, and The computer includes a communication device 109.

CPU101は、ROM102やRAM103に格納されたプログラムやデータなどを用いて各種の演算処理を実行する処理装置である。ROM102は、コンピュータに各機能を実現させるための基本プログラムや環境ファイルなどを記憶する読み取り専用の記憶装置である。RAM103は、CPU101が実行するプログラムおよび各プログラムの実行に必要なデータを記憶する主記憶装置であり、高速な読み出しと書き込みが可能である。入出力インターフェース104は、各種のハードウェアとシステムバス105との接続を仲介する装置である。システムバス105は、CPU101、ROM102、RAM103および入出力インターフェース104で共有される情報伝達路である。   The CPU 101 is a processing device that executes various types of arithmetic processing using programs and data stored in the ROM 102 and the RAM 103. The ROM 102 is a read-only storage device that stores a basic program, an environment file, and the like for causing a computer to realize each function. A RAM 103 is a main storage device that stores a program executed by the CPU 101 and data necessary for the execution of each program, and can be read and written at high speed. The input / output interface 104 is a device that mediates connections between various hardware and the system bus 105. A system bus 105 is an information transmission path shared by the CPU 101, ROM 102, RAM 103, and input / output interface 104.

また、入出力インターフェース104には、入力装置106、表示装置107、ストレージ108および通信装置109などのハードウェアが接続されている。入力装置106は、ユーザからの入力を処理する装置である。表示装置107は、システムの状態を表示する装置である。ストレージ108は、プログラムやデータを蓄積する大容量の補助記憶装置であり、例えばハードディスク装置や不揮発性の半導体メモリなどである。上述した記憶部100、300は、ストレージ108により実現される。通信装置109は、有線又は無線で外部装置とデータ通信可能な装置である。   The input / output interface 104 is connected to hardware such as an input device 106, a display device 107, a storage 108, and a communication device 109. The input device 106 is a device that processes input from a user. The display device 107 is a device that displays the state of the system. The storage 108 is a large-capacity auxiliary storage device that stores programs and data, and is, for example, a hard disk device or a nonvolatile semiconductor memory. The storage units 100 and 300 described above are realized by the storage 108. The communication device 109 is a device capable of data communication with an external device by wire or wireless.

1 既設制御装置
2 既設制御ネットワーク
3 更新制御ネットワーク
4 ゲートウェイ
10 試験装置
11 試験データ収集指令部
12 既設外部入出力信号収集部
13 初期設定指令部
14 再生試験実行部
20 内部メモリ情報収集装置
21 内部メモリ情報セーブ部
30、30a 内部メモリ情報管理部
31 内部メモリ情報変換部
32 更新内部メモリ情報ロード部
40 比較表示部
41 被試験外部出力信号収集部
42 比較表示処理部
50 被試験制御装置
100、300 記憶部
105 システムバス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Existing control apparatus 2 Existing control network 3 Update control network 4 Gateway 10 Test apparatus 11 Test data collection command part 12 Existing external input / output signal collection part 13 Initial setting command part 14 Reproduction test execution part 20 Internal memory information collection apparatus 21 Internal memory Information save unit 30, 30a Internal memory information management unit 31 Internal memory information conversion unit 32 Updated internal memory information load unit 40 Comparison display unit 41 External output signal collection unit under test 42 Comparison display processing unit 50 Control devices under test 100, 300 Storage Part 105 System bus

Claims (3)

実プラントシステムの既設制御装置が入出力する信号を再生して、被試験制御装置の動作を検証するためのプラント制御装置試験システムであって、
収集期間の各時刻において、前記既設制御装置が入力する既設外部入力信号および前記既設制御装置が出力する既設外部出力信号を収集する既設外部入出力信号収集部と、
前記収集期間中の所定の収集時間における前記既設制御装置の内部メモリの情報を記録する内部メモリ情報セーブ部と、
前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換する内部メモリ情報変換部と、
前記更新内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリにロードする更新内部メモリ情報ロード部と、
前記更新内部メモリ情報ロード部によるロード完了後、前記収集時間以降に収集された前記既設外部入力信号を時系列順に前記被試験制御装置へ出力する再生試験実行部と、
を備えることを特徴とするプラント制御装置試験システム。
A plant control device test system for reproducing the signals input / output by the existing control device of the actual plant system to verify the operation of the control device under test,
At each time of the collection period, an existing external input / output signal collecting unit that collects an existing external input signal input by the existing control device and an existing external output signal output by the existing control device;
An internal memory information saving unit for recording information of an internal memory of the existing control device at a predetermined collection time during the collection period;
An internal memory information conversion unit that converts the internal memory information recorded by the internal memory information saving unit into updated internal memory information corresponding to the format of the internal memory of the device under test;
An updated internal memory information loading unit for loading the updated internal memory information into the internal memory of the control device under test;
A reproduction test execution unit that outputs the existing external input signals collected after the collection time to the device under test in time series after loading by the updated internal memory information load unit;
A plant control apparatus test system comprising:
前記内部メモリ情報変換部は、前記既設制御装置の内部メモリのアドレスおよびデータ値と、前記被試験制御装置の内部メモリのアドレスおよびデータ値との対応関係を定めた変換テーブルを備え、変換テーブルに基づいて自動的に、前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換すること、
を特徴とする請求項1に記載のプラント制御装置試験システム。
The internal memory information conversion unit includes a conversion table that defines a correspondence relationship between the address and data value of the internal memory of the existing control device and the address and data value of the internal memory of the control device under test. Automatically converting the internal memory information recorded by the internal memory information saving unit into updated internal memory information according to the format of the internal memory of the control device under test,
The plant control device test system according to claim 1.
前記収集時間以降に収集された前記既設外部出力信号と、前記被試験制御装置が出力する被試験外部出力信号とを時系列順に並べて比較可能な状態で表示する比較表示処理部、
をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2に記載のプラント制御装置試験システム。
A comparison display processing unit for displaying the existing external output signal collected after the collection time and the external output signal under test output from the control device under test in a time-sequentially arranged state for comparison.
The plant control device test system according to claim 1, further comprising:
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