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JP2017157701A - Printed Wiring Board - Google Patents

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JP2017157701A
JP2017157701A JP2016039960A JP2016039960A JP2017157701A JP 2017157701 A JP2017157701 A JP 2017157701A JP 2016039960 A JP2016039960 A JP 2016039960A JP 2016039960 A JP2016039960 A JP 2016039960A JP 2017157701 A JP2017157701 A JP 2017157701A
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JP
Japan
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resist layer
solder resist
opening
pad
pads
Prior art date
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Pending
Application number
JP2016039960A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
展久 黒田
Nobuhisa Kuroda
展久 黒田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a printed wiring board having high connection reliability.SOLUTION: A circuit board 10 of an embodiment has an upper mounting face and a lower mounting face. The upper mounting face has upper pads for mounting first electronic components and the lower mounting face has first pads for connection with a mother board and second pads for mounting second electronic components. The circuit board has a lower first solder resist layer formed on the lower mounting face and a lower second solder resist layer formed under the lower first solder resist layer. The lower second solder resist layer has a second hole for exposing all of the second pads and third openings for exposing the first pads individually. The second electronic component is stored in the second hole.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電子部品を実装するためのパッドを両面に有するプリント配線板に関する。 The present invention relates to a printed wiring board having pads on both sides for mounting electronic components.

特許文献1はダムを有するプリント配線板の製造方法を開示している。 Patent document 1 is disclosing the manufacturing method of the printed wiring board which has a dam.

特開2013−131714号公報JP 2013-131714 A

[特許文献1の課題]
特許文献1の図1によれば、特許文献1は基板の表面に熱硬化性樹脂組成物からなる層と光硬化性樹脂組成物からなる層で形成されている樹脂絶縁層を形成している。そして、特許文献1の図2によれば、特許文献1は、光硬化性樹脂組成物からなる層にダムを形成し、樹脂絶縁層を貫通する開口部を形成している。開口部により、部品実装部が露出されている。それから、特許文献1は、開口部にはんだボールを形成している。特許文献1の図2(B)によれば、熱硬化性樹脂組成物からなる層に形成されている開口部の径と光硬化性樹脂組成物からなる層に形成されている開口部の径は同じと思われる。そのため、半田ボールが開口部から露出する部品実装部に到達することは難しいと考えられる。
[Problems of Patent Document 1]
According to FIG. 1 of Patent Document 1, Patent Document 1 forms a resin insulating layer formed of a layer made of a thermosetting resin composition and a layer made of a photocurable resin composition on the surface of the substrate. . And according to FIG. 2 of patent document 1, patent document 1 forms the dam in the layer which consists of a photocurable resin composition, and forms the opening part which penetrates a resin insulating layer. The component mounting portion is exposed through the opening. Then, patent document 1 has formed the solder ball in the opening part. According to FIG. 2B of Patent Document 1, the diameter of the opening formed in the layer made of the thermosetting resin composition and the diameter of the opening formed in the layer made of the photocurable resin composition. Seems the same. For this reason, it is considered difficult for the solder ball to reach the component mounting portion exposed from the opening.

本発明は、第1電子部品を実装するための上側のパッドを有する上側の実装面と、マザーボードと接続するための第1パッドと第2電子部品を実装するための第2パッドとを含む下側のパッドを有すると共に、前記第上側の実装面と反対側に位置する下側の実装面と、前記下側の実装面下に形成され、前記下側のパッドを個々に露出する第1開口部を有する下側の第1ソルダーレジスト層と、前記下側の第1ソルダーレジスト層下に形成され、前記第2パッドを一括に露出する第2開口部と前記第1パッドを個々に露出する第3開口部を有する下側の第2ソルダーレジスト層と、を有する。そして、前記第1開口部は前記下側の第1ソルダーレジスト層と前記下側の第2ソルダーレジスト層との間の界面に第2開口を有し、前記第3開口部は前記下側の第1ソルダーレジスト層と前記下側の第2ソルダーレジスト層との間の界面に第3開口を有し、前記第3開口の大きさは前記第2開口の大きさより大きく、前記第3開口は前記第1開口部の周りの前記下側の第1ソルダーレジスト層を露出している。 The present invention includes an upper mounting surface having an upper pad for mounting a first electronic component, a first pad for connecting to a motherboard, and a second pad for mounting a second electronic component. A lower mounting surface located on the opposite side of the first upper mounting surface, and a first opening formed under the lower mounting surface and individually exposing the lower pads. A lower first solder resist layer having a portion, a second opening formed under the first lower solder resist layer, and exposing the second pad, and the first pad individually. And a lower second solder resist layer having a third opening. The first opening has a second opening at an interface between the lower first solder resist layer and the lower second solder resist layer, and the third opening is the lower opening. A third opening is provided at an interface between the first solder resist layer and the lower second solder resist layer, and the size of the third opening is larger than the size of the second opening. The lower first solder resist layer around the first opening is exposed.

本発明の実施形態によれば、第2電子部品とプリント配線板との間の接続信頼性やプリント配線板とマザーボードとの間の接続信頼性を高くすることができる。 According to the embodiment of the present invention, the connection reliability between the second electronic component and the printed wiring board and the connection reliability between the printed wiring board and the motherboard can be increased.

図1(A)は、実施形態のプリント配線板の断面を示し、図1(B)はプリント配線板の応用例の断面を示し、図1(C)は下側の第2ソルダーレジスト層と下側の第1ソルダーレジスト層と下側のパッドを示す平面図である。FIG. 1A shows a cross section of the printed wiring board of the embodiment, FIG. 1B shows a cross section of an application example of the printed wiring board, and FIG. It is a top view which shows a lower 1st soldering resist layer and a lower pad. 図2(A)と図2(B)、図2(C)、図2(D)は実施形態に係るプリント配線板の製造方法を示し、図2(E)は溝を有する下側の第1ソルダーレジスト層を示す。2 (A), 2 (B), 2 (C) and 2 (D) show a method for manufacturing a printed wiring board according to the embodiment, and FIG. 1 shows a solder resist layer. 図3(A)と図3(B)、図3(C)は上側のソルダーレジスト層と下側のソルダーレジスト層を形成する方法の例を示し、図3(D)と図3(E)は第1開口部と第3開口部を説明するための図である。3 (A), 3 (B), and 3 (C) show an example of a method for forming an upper solder resist layer and a lower solder resist layer, and FIG. 3 (D) and FIG. 3 (E). FIG. 4 is a diagram for explaining a first opening and a third opening.

図1(A)は、実施形態のプリント配線板10の断面を示し、図1(B)はプリント配線板10とプリント配線板10に実装されている半導体素子90、92とからなる応用例100の断面を示す。図1(A)に示されるように、プリント配線板10は、回路基板30を有する。回路基板30は上側の実装面Fと上側の実装面Fと反対側の下側の実装面Sとを有する。上側の実装面Fは第1電子部品90を実装するための上側のパッド73Fを有する。複数の上側のパッド73Fが上側の実装面Fの中央領域に形成されている。
下側の実装面Sはマザーボードと接続するための第1パッド73Spと第2電子部品92を実装するための第2パッド73Scを有する。複数の第1パッド73Spと複数の第2パッド73Scで複数の下側のパッド73Sが形成される。下側のパッド73Sは下側の実装面Sのほとんど全領域に形成されている。複数の第2パッド73Scは所定の領域に集中して形成されている。
上側のパッド73Fと下側のパッド73Sは図示されていない回路基板30内の配線で接続されている。
1A shows a cross section of the printed wiring board 10 of the embodiment, and FIG. 1B shows an application example 100 including the printed wiring board 10 and semiconductor elements 90 and 92 mounted on the printed wiring board 10. The cross section of is shown. As shown in FIG. 1A, the printed wiring board 10 has a circuit board 30. The circuit board 30 has an upper mounting surface F and a lower mounting surface S opposite to the upper mounting surface F. The upper mounting surface F has an upper pad 73F for mounting the first electronic component 90. A plurality of upper pads 73F are formed in the central region of the upper mounting surface F.
The lower mounting surface S has a first pad 73Sp for connecting to the motherboard and a second pad 73Sc for mounting the second electronic component 92. A plurality of lower pads 73S are formed by the plurality of first pads 73Sp and the plurality of second pads 73Sc. The lower pad 73S is formed in almost the entire region of the lower mounting surface S. The plurality of second pads 73Sc are formed concentrated on a predetermined region.
The upper pad 73F and the lower pad 73S are connected by wiring in the circuit board 30 (not shown).

上側の実装面F上に上側のパッド73Fを露出する開口71Fを有する上側のソルダーレジスト層70Fが形成されている。開口71Fは上側のパッド73Fを個々に露出する。上側のパッド73F上に上側の半田バンプ76Fが形成されている。半田バンプ76Fを介しプリント配線板10に第1電子部品90が搭載される(図1(B))。図1(B)に示されるように、第1電子部品90と上側の実装面Fとの間にアンダーフィル96が形成されている。 An upper solder resist layer 70F having an opening 71F exposing the upper pad 73F is formed on the upper mounting surface F. The openings 71F expose the upper pads 73F individually. Upper solder bumps 76F are formed on the upper pads 73F. The first electronic component 90 is mounted on the printed wiring board 10 via the solder bumps 76F (FIG. 1B). As shown in FIG. 1B, an underfill 96 is formed between the first electronic component 90 and the upper mounting surface F.

下側の実装面Sの下にマザーボードと接続するための第1パッド73Spと第2電子部品を実装するための第2パッド73Scとを含む下側のパッド73Sが形成されている。そして、下側の実装面Sと下側のパッド73Sの下に下側のパッド73Sを露出する第1開口部71Sを有する下側の第1ソルダーレジスト層70Sfが形成されている。第1開口部71Sは下側のパッド73Sを個々に露出している。下側のパッド73Sが第3電子部品を実装するための第3パッドを有すると、下側の第1ソルダーレジスト層70Sfは第3パッドを個々に露出する第1開口部71Sを有する。
下側の第1ソルダーレジスト層70Sfの下に下側の第2ソルダーレジスト層70Ssが形成されている。下側の第2ソルダーレジスト層70Ssは第2パッド73Scを露出する第2開口部81S2と第1パッド73Spを露出する第3開口部81S3を有する。第2開口部81S2は全ての第2パッド73Scを露出している。一つの第2開口部81S2で全ての第2パッド73Scが露出されている。第3開口部81S3は複数存在し、第3開口部81S3は個々に第1パッド73Spを露出している。下側のパッド73Sが第3電子部品を実装するための第3パッドを有すると、下側の第2ソルダーレジスト層70Ssは全ての第3パッドを露出する1つの第4開口部を有する。
第1パッド73Sp下にマザーボードと接続するための第1半田バンプ76Spと第2電子部品92を搭載するための第2半田バンプ76Scが形成される。
A lower pad 73S including a first pad 73Sp for connecting to the mother board and a second pad 73Sc for mounting the second electronic component is formed under the lower mounting surface S. Then, a lower first solder resist layer 70Sf having a first opening 71S exposing the lower pad 73S is formed under the lower mounting surface S and the lower pad 73S. The first opening 71S exposes the lower pads 73S individually. When the lower pad 73S has a third pad for mounting the third electronic component, the lower first solder resist layer 70Sf has a first opening 71S that exposes the third pad individually.
A lower second solder resist layer 70Ss is formed under the lower first solder resist layer 70Sf. The lower second solder resist layer 70Ss has a second opening 81S2 exposing the second pad 73Sc and a third opening 81S3 exposing the first pad 73Sp. The second opening 81S2 exposes all the second pads 73Sc. All the second pads 73Sc are exposed in one second opening 81S2. There are a plurality of third openings 81S3, and the third openings 81S3 individually expose the first pads 73Sp. When the lower pad 73S has the third pad for mounting the third electronic component, the lower second solder resist layer 70Ss has one fourth opening that exposes all the third pads.
A first solder bump 76Sp for connecting to the mother board and a second solder bump 76Sc for mounting the second electronic component 92 are formed under the first pad 73Sp.

図1(C)は図1(A)のプリント配線板10を下側の第2ソルダーレジスト層70Ssの下から観察することで得られるプリント配線板10の平面図である。図1(A)は、図1(C)のX1とX1との間のプリント配線板10の断面図である。
図1(C)に示されるように、第2パッド73Scは所定のエリア80内に集中して形成されている。図1(C)内の点線はエリア80の外周を示している。そして、エリア80内に下側の第2ソルダーレジスト層70Ssは形成されていない。エリア80のサイズは第2電子部品のサイズより大きい。エリア80のサイズSZ1と第2電子部品のサイズSZ2との比SZ1/SZ2は1.03以上、1.1である。第2パッド73Sc下に第2電子部品が実装されても、第2電子部品は第2開口部81S2内に収容される。応用例の厚みを薄くすることができる。
全ての第2パッド73Scを含むエリア80の外に下側の第2ソルダーレジスト層70Ssが形成されている。下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと第2電子部品との間にアンダーフィル94が形成されても、下側の第2ソルダーレジスト層70Ssがダムとして機能する。第1パッド73Spがアンダーフィル94で汚れがたい。
FIG. 1C is a plan view of the printed wiring board 10 obtained by observing the printed wiring board 10 of FIG. 1A from below the lower second solder resist layer 70Ss. FIG. 1A is a cross-sectional view of the printed wiring board 10 between X1 and X1 in FIG.
As shown in FIG. 1C, the second pads 73Sc are formed concentrated in a predetermined area 80. A dotted line in FIG. 1C indicates the outer periphery of the area 80. The lower second solder resist layer 70Ss is not formed in the area 80. The size of the area 80 is larger than the size of the second electronic component. The ratio SZ1 / SZ2 between the size SZ1 of the area 80 and the size SZ2 of the second electronic component is 1.03 or more and 1.1. Even if the second electronic component is mounted under the second pad 73Sc, the second electronic component is accommodated in the second opening 81S2. The thickness of the application example can be reduced.
A lower second solder resist layer 70Ss is formed outside the area 80 including all the second pads 73Sc. Even if the underfill 94 is formed between the lower first solder resist layer 70Sf and the second electronic component, the lower second solder resist layer 70Ss functions as a dam. The first pad 73Sp is hard to get dirty with the underfill 94.

下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssは同一の材料で形成されている。下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssとからなる下側のソルダーレジスト層70Sの厚みtsは、上側のソルダーレジスト層70Fの厚みtfより厚い。 The lower first solder resist layer 70Sf and the lower second solder resist layer 70Ss are formed of the same material. The thickness ts of the lower solder resist layer 70S composed of the lower first solder resist layer 70Sf and the lower second solder resist layer 70Ss is thicker than the thickness tf of the upper solder resist layer 70F.

図3(D)は下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssを拡大して示している。図3(D)に第1開口部71Sと第3開口部81S3が示されている。下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssとの間に下側の第1ソルダーレジスト層70Sfは下面S1を有し、下側の第2ソルダーレジスト層70Ssは上面S2を有する。下側の第2ソルダーレジスト層70Ssは上面S2と反対側の下面S3を有する。図3(E)は第1開口部71Sの径と第3開口部81S3の径を説明するための図である。第1開口部71Sは、下面S1から下側のパッド73Sに向かってテーパーしている。第1開口部71Sは下側のパッド73S上に径d4を有する。第1開口部71Sは下側の第1ソルダーレジスト層70Sfの下面S1に径d3を有する。径d4は、径d3より小さい。
第3開口部81S3は下面S3から上面S2に向かってテーパーしている。第3開口部81S3は上面S2に径d2を有し、下面S3に径d1を有する。径d2は径d1より小さい。
径d2は径d3より大きい。第3開口部81S3により、第1開口部71Sの周りの下側の第1ソルダーレジスト層70Sfの下面S1は露出されている。第3開口部81S3と第1開口部71Sとの間に必ず第1ソルダーレジスト層70Sfの下面S1が存在している。その部分はステップ82と称される。図1(C)に示されるように、ステップ82の形状は、リングであり、リングの内径は径d3であり、外径は径d2である。
実施形態のプリント配線板10では、下側のソルダーレジスト層70Sが下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssで形成されている。そのため、下側のソルダーレジスト層70Sの厚みが厚くなりやすい。しかしながら、プリント配線板10はステップ82を有するため、第1半田バンプ76Spが第1パッド73Spと接しやすい。第1パッド73Sp上に半田バンプ76Spを容易に形成することができる。
半田バンプ76Spを介する接続信頼性を高くすることができる。
FIG. 3D shows an enlarged view of the lower first solder resist layer 70Sf and the lower second solder resist layer 70Ss. FIG. 3D shows the first opening 71S and the third opening 81S3. The lower first solder resist layer 70Sf has a lower surface S1 between the lower first solder resist layer 70Sf and the lower second solder resist layer 70Ss, and the lower second solder resist layer 70Ss has an upper surface. S2. The lower second solder resist layer 70Ss has a lower surface S3 opposite to the upper surface S2. FIG. 3E is a view for explaining the diameter of the first opening 71S and the diameter of the third opening 81S3. The first opening 71S tapers from the lower surface S1 toward the lower pad 73S. The first opening 71S has a diameter d4 on the lower pad 73S. The first opening 71S has a diameter d3 on the lower surface S1 of the lower first solder resist layer 70Sf. The diameter d4 is smaller than the diameter d3.
The third opening 81S3 is tapered from the lower surface S3 toward the upper surface S2. The third opening 81S3 has a diameter d2 on the upper surface S2 and a diameter d1 on the lower surface S3. The diameter d2 is smaller than the diameter d1.
The diameter d2 is larger than the diameter d3. The lower surface S1 of the lower first solder resist layer 70Sf around the first opening 71S is exposed by the third opening 81S3. The lower surface S1 of the first solder resist layer 70Sf always exists between the third opening 81S3 and the first opening 71S. That part is referred to as step 82. As shown in FIG. 1C, the shape of step 82 is a ring, the inner diameter of the ring is a diameter d3, and the outer diameter is a diameter d2.
In the printed wiring board 10 of the embodiment, the lower solder resist layer 70S is formed of the lower first solder resist layer 70Sf and the lower second solder resist layer 70Ss. Therefore, the thickness of the lower solder resist layer 70S tends to be thick. However, since the printed wiring board 10 includes the step 82, the first solder bumps 76Sp are likely to come into contact with the first pads 73Sp. The solder bumps 76Sp can be easily formed on the first pads 73Sp.
The connection reliability through the solder bumps 76Sp can be increased.

[実施形態の製造方法]
図2は実施形態のプリント配線板10の製造方法を示す。
[Manufacturing Method of Embodiment]
FIG. 2 shows a method for manufacturing the printed wiring board 10 of the embodiment.

上面USと上面と反対側の下面LSを有する絶縁層301が準備される。絶縁層301の上面US上に上側のパッド73Fが形成される。絶縁層301の下面LS下に下側のパッド73Sが形成される。絶縁層301に上側のパッド73Fと下側のパッド73Sを接続するビア導体が形成される。ビア導体は図に示されていない。上側の実装面Fと上側の実装面Fと反対側の下側の実装面Sとを有する中間基板302が得られる。上側の実装面Fは上側のパッド73Fを有し、下側の実装面Sは下側のパッド73Sを有する。上側の実装面F上に上側のソルダーレジスト層70Fを形成するための組成物70Fiが形成され、下側の実装面S下に下側の第1ソルダーレジスト層70Sfを形成するための組成物70Siが形成される(図2(A))。組成物70Fiと組成物70Siは光で硬化する。あるいは、組成物70Fiと組成物70Siは熱で硬化する。実施形態では、写真技術により、上側のソルダーレジスト層70Fと下側の第1ソルダーレジスト層70Sfが形成される(図2(B))。 An insulating layer 301 having an upper surface US and a lower surface LS opposite to the upper surface is prepared. An upper pad 73F is formed on the upper surface US of the insulating layer 301. A lower pad 73S is formed under the lower surface LS of the insulating layer 301. A via conductor connecting the upper pad 73F and the lower pad 73S is formed in the insulating layer 301. Via conductors are not shown in the figure. The intermediate substrate 302 having the upper mounting surface F and the lower mounting surface S opposite to the upper mounting surface F is obtained. The upper mounting surface F has an upper pad 73F, and the lower mounting surface S has a lower pad 73S. A composition 70Fi for forming the upper solder resist layer 70F is formed on the upper mounting surface F, and a composition 70Si for forming the lower first solder resist layer 70Sf under the lower mounting surface S. Is formed (FIG. 2A). The composition 70Fi and the composition 70Si are cured by light. Alternatively, the composition 70Fi and the composition 70Si are cured by heat. In the embodiment, the upper solder resist layer 70F and the lower first solder resist layer 70Sf are formed by photographic technology (FIG. 2B).

下側の第1ソルダーレジスト層70Sf下に下側の第2ソルダーレジスト層70Ssを形成するための組成物70Ssiが形成される(図2(C))。組成物70Ssiは光で硬化する。あるいは、組成物70Ssiは熱で硬化する。実施形態では、写真技術により、下側の第1ソルダーレジスト層70Sf下に下側の第2ソルダーレジスト層70Ssが形成される(図2(D))。回路基板30が完成する。 A composition 70Ssi for forming the lower second solder resist layer 70Ss is formed under the lower first solder resist layer 70Sf (FIG. 2C). The composition 70Ssi is cured by light. Alternatively, the composition 70Ssi is cured with heat. In the embodiment, the lower second solder resist layer 70Ss is formed under the lower first solder resist layer 70Sf by photographic technology (FIG. 2D). The circuit board 30 is completed.

各パッド73F、73S上に半田ボールが搭載される。ステップ82が存在するので、パッド73Sと半田ボールが接しやすい。リフローにより各パッド73F、73S上に半田バンプ76F、76Sc、76Spが形成される。半田バンプ76Fに第1電子部品90が実装され、半田バンプ76Scに第2電子部品92が実装される(図1(B))。 Solder balls are mounted on the pads 73F and 73S. Since the step 82 exists, the pad 73S and the solder ball are easily in contact with each other. The solder bumps 76F, 76Sc, and 76Sp are formed on the pads 73F and 73S by reflow. The first electronic component 90 is mounted on the solder bump 76F, and the second electronic component 92 is mounted on the solder bump 76Sc (FIG. 1B).

上側のソルダーレジスト層70Fの開口71Fと下側の第1ソルダーレジスト層70Sfの第1開口部71Sと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssの第2開口部81S2と第3開口部81S3を同時に形成することができる。その例が以下に示される。
下側の実装面S下に下側の第1ソルダーレジスト層70Sfを形成するための組成物70Siが形成される(図3(A))。この時、上側の実装面F上に組成物70Fiは形成されない。第1開口部71Sを形成するための露光処理が組成物70Siに行われる。しかしながら、現像は行われない。下側の実装面S下に下側の第1ソルダーレジスト層70Sfが形成される。第1開口部71Sは形成されない。第1開口部71Sは組成物70Siで充填されている。その後、図3(B)に示されるように、上側の実装面F上に上側のソルダーレジスト層70Fを形成するための組成物70Fiが形成される。下側の第1ソルダーレジスト層70Sf下に下側の第2ソルダーレジスト層70Ssを形成するための組成物70Ssiが形成される。開口71Fを形成するための露光処理が組成物70Fiに行われる。第2開口部81S2と第3開口部81S3を形成するための露光処理が組成物70Ssiに行われる。それから、現像が行われる。図3(C)に示されるように、上側のソルダーレジスト層70Fの開口71Fと下側の第1ソルダーレジスト層70Sfの第1開口部71Sと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssの第2開口部81S2と下側の第2ソルダーレジスト層70Ssの第3開口部81S3が同時に形成される。上側のソルダーレジスト層70Fと下側のソルダーレジスト層70Sが形成される。
The opening 71F of the upper solder resist layer 70F, the first opening 71S of the lower first solder resist layer 70Sf, and the second opening 81S2 and the third opening 81S3 of the lower second solder resist layer 70Ss are simultaneously formed. can do. An example is shown below.
A composition 70Si for forming the lower first solder resist layer 70Sf is formed under the lower mounting surface S (FIG. 3A). At this time, the composition 70Fi is not formed on the upper mounting surface F. An exposure process for forming the first opening 71S is performed on the composition 70Si. However, development is not performed. A lower first solder resist layer 70Sf is formed under the lower mounting surface S. The first opening 71S is not formed. The first opening 71S is filled with the composition 70Si. Thereafter, as shown in FIG. 3B, a composition 70Fi for forming the upper solder resist layer 70F on the upper mounting surface F is formed. A composition 70Ssi for forming the lower second solder resist layer 70Ss is formed under the lower first solder resist layer 70Sf. An exposure process for forming the opening 71F is performed on the composition 70Fi. An exposure process for forming the second opening 81S2 and the third opening 81S3 is performed on the composition 70Ssi. Then, development is performed. As shown in FIG. 3C, the opening 71F of the upper solder resist layer 70F, the first opening 71S of the lower first solder resist layer 70Sf, and the second opening of the lower second solder resist layer 70Ss. The part 81S2 and the third opening 81S3 of the lower second solder resist layer 70Ss are formed at the same time. An upper solder resist layer 70F and a lower solder resist layer 70S are formed.

図2(E)はプリント配線板10の拡大図であり、第1パッド73Spと第2パッド73Scと下側の第1ソルダーレジスト層70Sfとの下側の第2ソルダーレジスト層70Ssを示す。
図2(E)に示されるように、実施形態のプリント配線板の下側の第1ソルダーレジスト層70Sfは、第1パッド73Spと第2パッド73Scとの間に下側の実装面Sを露出する溝99を有してもよい。溝99は全ての第2パッド73Scを囲むことができる。溝99は下側の第1ソルダーレジスト層70Sfと下側の第2ソルダーレジスト層70Ssを貫通することができる。第1パッド73Spがアンダーフィル94で汚染され難い。
FIG. 2E is an enlarged view of the printed wiring board 10 and shows the lower second solder resist layer 70Ss of the first pad 73Sp, the second pad 73Sc, and the lower first solder resist layer 70Sf.
As shown in FIG. 2E, the first solder resist layer 70Sf on the lower side of the printed wiring board of the embodiment exposes the lower mounting surface S between the first pad 73Sp and the second pad 73Sc. You may have the groove | channel 99 to do. The groove 99 can surround all the second pads 73Sc. The groove 99 can penetrate the lower first solder resist layer 70Sf and the lower second solder resist layer 70Ss. The first pad 73Sp is hardly contaminated by the underfill 94.

10 プリント配線板
30 回路基板
70F 上側のソルダーレジスト層
70S 下側のソルダーレジスト層
70Sf 下側の第1ソルダーレジスト層
70Ss 下側の第2ソルダーレジスト層
71F 開口
71S 第1開口部
73Sp 第1パッド
73Sc 第2パッド
76Sp 第1半田バンプ
76Sc 第2半田バンプ
80 エリア
81S2 第2開口部
81S3 第3開口部
82 ステップ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Printed wiring board 30 Circuit board 70F Upper solder resist layer 70S Lower solder resist layer 70Sf Lower first solder resist layer 70Ss Lower second solder resist layer 71F Opening 71S First opening 73Sp First pad 73Sc Second Pad 76Sp First Solder Bump 76Sc Second Solder Bump 80 Area 81S2 Second Opening 81S3 Third Opening 82 Step

Claims (3)

第1電子部品を実装するための上側のパッドを有する上側の実装面と、
マザーボードと接続するための第1パッドと第2電子部品を実装するための第2パッドとを含む下側のパッドを有すると共に、前記第上側の実装面と反対側に位置する下側の実装面と、
前記下側の実装面下に形成され、前記下側のパッドを個々に露出する第1開口部を有する下側の第1ソルダーレジスト層と、
前記下側の第1ソルダーレジスト層下に形成され、前記第2パッドを一括に露出する第2開口部と前記第1パッドを個々に露出する第3開口部を有する下側の第2ソルダーレジスト層と、を有するプリント配線板であって、
前記第1開口部は前記下側の第1ソルダーレジスト層と前記下側の第2ソルダーレジスト層との間の界面に第2開口を有し、前記第3開口部は前記下側の第1ソルダーレジスト層と前記下側の第2ソルダーレジスト層との間の界面に第3開口を有し、前記第3開口の大きさは前記第2開口の大きさより大きく、前記第3開口は前記第1開口部の周りの前記下側の第1ソルダーレジスト層を露出している。
An upper mounting surface having an upper pad for mounting the first electronic component;
A lower mounting surface having a lower pad including a first pad for connecting to a motherboard and a second pad for mounting a second electronic component, and positioned on the opposite side of the upper mounting surface When,
A lower first solder resist layer formed under the lower mounting surface and having a first opening that individually exposes the lower pads;
A lower second solder resist formed under the lower first solder resist layer and having a second opening that exposes the second pads and a third opening that individually exposes the first pads. A printed wiring board having a layer,
The first opening has a second opening at an interface between the lower first solder resist layer and the lower second solder resist layer, and the third opening is the lower first solder resist layer. There is a third opening at the interface between the solder resist layer and the lower second solder resist layer, the size of the third opening is larger than the size of the second opening, and the third opening is the second opening. The lower first solder resist layer around one opening is exposed.
請求項1のプリント配線板であって、さらに、前記上側の実装面上に形成され、前記上側のパッドを個々に露出する開口を有する上側のソルダーレジスト層を有し、前記下側の第1ソルダーレジスト層の厚みと前記下側の第2ソルダーレジスト層の厚みとの和は前記上側のソルダーレジスト層の厚みより厚い。 2. The printed wiring board according to claim 1, further comprising an upper solder resist layer formed on the upper mounting surface and having an opening for individually exposing the upper pads, and the lower first resist layer. The sum of the thickness of the solder resist layer and the thickness of the lower second solder resist layer is thicker than the thickness of the upper solder resist layer. 請求項1のプリント配線板であって、前記下側の第1ソルダーレジスト層は、前記第1パッドと前記第2パッドとの間に前記下側の実装面を露出する溝を有する。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the lower first solder resist layer has a groove exposing the lower mounting surface between the first pad and the second pad.
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