JP2016168192A - Image capturing apparatus and control method therefor - Google Patents
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Images
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
Description
本発明は、画像撮像装置及びその制御方法に関し、特に眼科診療等に用いられる画像撮像装置及びその制御方法に関するものである。 The present invention relates to an image pickup apparatus and a control method thereof, and more particularly to an image pickup apparatus used for ophthalmic medical treatment and a control method thereof.
眼部検査に用いられる眼科装置として、共焦点レーザー顕微鏡の原理を利用した走査型レーザー検眼鏡(SLO:Scanning Laser Ophthalmoscope)がある。該走査型レーザー検眼鏡は、測定光であるレーザーを眼底に対してラスタースキャンを行い、その戻り光の強度から平面画像を得る装置(以下、SLO装置)であり、高分解能にて高速で画像が得られる。 As an ophthalmologic apparatus used for ocular examination, there is a scanning laser opthalmoscope (SLO: Scanning Laser Ophthalmoscope) using the principle of a confocal laser microscope. The scanning laser ophthalmoscope is a device (hereinafter referred to as an SLO device) that performs a raster scan on the fundus of the laser as measurement light and obtains a planar image from the intensity of the return light (hereinafter referred to as an SLO device). Is obtained.
近年、SLO装置において測定光のビーム径を大きくし、測定光が眼底上で微小なスポットになるようにすることにより、分解能を向上させた眼底の平面画像を取得することが可能になってきた。しかしながら、測定光のビーム径の大径化に伴い、眼底の平面画像の取得において、被検眼にて発生する、測定光やその戻り光の収差による平面画像のSN比及び分解能が低下する。 In recent years, it has become possible to acquire a planar image of the fundus with improved resolution by increasing the beam diameter of the measurement light in an SLO device so that the measurement light becomes a minute spot on the fundus. . However, as the beam diameter of the measurement light increases, the S / N ratio and resolution of the planar image due to the aberration of the measurement light and its return light generated in the eye to be examined in acquiring a planar image of the fundus oculi are reduced.
この分解能の低下には、被検眼による収差を波面センサでリアルタイムに測定し、波面補正デバイスにて被検眼にて発生する測定光やその戻り光の収差を補正して対処している。このような波面補正デバイス等の補償光学系を有する補償光学SLO装置(以下、AO−SLO装置)が開発され、高分解能の平面画像の取得を可能にしている。 This reduction in resolution is dealt with by measuring the aberration of the eye to be examined in real time with a wavefront sensor and correcting the aberration of the measurement light generated in the eye to be examined and its return light with a wavefront correction device. An adaptive optics SLO apparatus (hereinafter referred to as an AO-SLO apparatus) having an adaptive optical system such as a wavefront correction device has been developed to enable acquisition of a high-resolution planar image.
AO−SLO装置にて高分解能の平面画像を取得する場合、上記に説明したような、共焦点光学系に則った上で、測定光のビーム径の大径化が行われる。しかし、画像を取得する眼底の部位・組織によっては、あえて非共焦点の光学系をその一部に導入することで、平面画像のSN比の向上が行われている。 When acquiring a high-resolution planar image with the AO-SLO apparatus, the beam diameter of the measurement light is increased in accordance with the confocal optical system as described above. However, the S / N ratio of a planar image is improved by introducing a non-confocal optical system into a part of the fundus region / tissue for acquiring an image.
非特許文献1においては、眼底からの戻り光をその結像面上で、中心部と周辺部へと分割し、さらに周辺部を分割しそれらを各々の光センサに入射させている。そして、各々の光センサの信号を演算(差分)して、網膜の画像化を行うAO−SLO装置が提案され、取得される平面画像のSN比向上が試みられている。 In Non-Patent Document 1, return light from the fundus is divided into a central part and a peripheral part on the image plane, and the peripheral part is further divided and made incident on each optical sensor. Then, an AO-SLO device that calculates (differences) the signals of the respective optical sensors to image the retina has been proposed, and attempts have been made to improve the SN ratio of the acquired planar image.
上述のAO−SLO装置は、補償光学系を用いて高分解能・高SN比の平面画像を取得することが可能とされている。 The above-described AO-SLO apparatus can acquire a high-resolution and high-SNR planar image using an adaptive optics system.
しかしながら、非特許文献1のものにおいては、結像面に設置されたミラーで眼底からの戻り光の中心部の光を全て反射する構成となっている。そのため、戻り光の中心部の周りの周辺部の光を分割し、それらを各々の光センサに入射させ、各々の光センサの信号を演算して得られた非共焦点画像が低分解能となってしまい、改善の余地を残している。 However, the non-patent document 1 has a configuration in which all the light at the center of the return light from the fundus is reflected by a mirror installed on the imaging surface. Therefore, the non-confocal image obtained by dividing the peripheral light around the center of the return light, making them incident on each optical sensor, and calculating the signal of each optical sensor has a low resolution. This leaves room for improvement.
本発明は、上記課題に鑑み、分解能の高い非共焦点画像を得ることができる画像撮像装置を提供することを目的とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an image pickup apparatus that can obtain a non-confocal image with high resolution.
本発明の画像撮像装置は、被検査物に測定光を照射し、該被検査物の共焦点画像及び非共焦点画像を撮像する光画像撮像装置であって、光源からの測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光の中心部の一部の光を共焦点撮像部へ、前記中心部のそれ以外の光と前記中心部の周辺の光を非共焦点撮像部へ分岐する第1分岐手段と、前記共焦点撮像部へ分岐された光の強度を測定する第1受光手段と、前記非共焦点撮像部へ分岐された光の強度を測定する第2受光手段と、前記第1及び第2手段によりそれぞれ受光された光の強度に応じた信号から画像を生成する第1生成手段と、を有することを特徴とする。 An image pickup apparatus according to the present invention is an optical image pickup apparatus that irradiates a test object with measurement light and picks up a confocal image and a non-confocal image of the test object. A part of the light at the center of the return light obtained by irradiating the object is branched to the confocal imaging unit, and the other light at the center and the light around the center are branched to the non-confocal imaging unit A first branching unit; a first light receiving unit that measures the intensity of light branched to the confocal imaging unit; a second light receiving unit that measures the intensity of light branched to the non-confocal imaging unit; First generation means for generating an image from a signal corresponding to the intensity of light received by each of the first and second means.
本発明により、分解能の高い非共焦点画像を得ることができる。 According to the present invention, a high-resolution non-confocal image can be obtained.
本発明を実施するための形態を、以下の実施形態により説明する。ただし、以下の実施形態は特許請求の範囲に関わる本発明を限定するものではなく、また、本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。 The form for implementing this invention is demonstrated by the following embodiment. However, the following embodiments do not limit the present invention related to the claims, and all combinations of features described in the present embodiments are not necessarily essential to the solution means of the present invention. Absent.
[実施形態1]
実施形態1においては、光画像撮像装置として、本発明を適用したAO−SLO装置について説明する。AO−SLO装置は、補償光学系を備え、眼底の高分解能及び高画質(高SN比)の平面画像(AO−SLO像)の撮像を行う装置である。また、AO−SLO像の取得を補助する目的で、広画角の平面画像(WF−SLO像)の撮像を行うWF−SLO装置、測定光の入射位置を把握するための前眼部観察装置、および撮像箇所を調整するために視線を誘導する固視灯表示装置が付随している。
[Embodiment 1]
In the first embodiment, an AO-SLO device to which the present invention is applied will be described as an optical imaging device. The AO-SLO apparatus is an apparatus that includes an adaptive optics system and captures a planar image (AO-SLO image) of the fundus with high resolution and high image quality (high SN ratio). In addition, for the purpose of assisting the acquisition of an AO-SLO image, a WF-SLO device that captures a wide-angle planar image (WF-SLO image), and an anterior ocular segment observation device for grasping the incident position of measurement light And a fixation lamp display device for guiding the line of sight in order to adjust the imaging location.
本実施形態では、被検査物である被検眼による光学収差を空間光変調器を用いて補正して平面画像を取得するAO−SLO装置が構成され、被検眼の視度や被検眼による光学収差によらず良好な平面画像が得られるようにされている。 In the present embodiment, an AO-SLO apparatus that acquires a planar image by correcting optical aberration due to the eye to be inspected using a spatial light modulator is configured, and the diopter of the eye to be examined and optical aberration due to the eye to be examined Regardless of this, a good planar image can be obtained.
ここでは、高分解能の平面画像を撮像するために、補償光学系を備えているが、高分解能を実現できる光学系の構成であれば、補償光学系を備えていなくてもよい。 Here, the compensation optical system is provided to capture a high-resolution planar image, but the compensation optical system may not be provided as long as the configuration is an optical system capable of realizing high resolution.
<SLO装置の構成>
図1は、本発明の実施形態1におけるSLO装置の光学系の構成を説明する図である。本SLO装置は、AO−SLO部140、WF−SLO部141、固視灯部、前眼部観察部、及び、制御PC109から構成される。図1を用いて各部の構成について説明する。
<Configuration of SLO device>
FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of the optical system of the SLO apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. The SLO apparatus includes an AO-
<AO−SLO部全体>
まず、本実施形態におけるAO−SLO部140について、具体的に説明する。
<The whole AO-SLO part>
First, the AO-
図1において、光源101−1から出射した光は、光カプラー131によって参照光105と測定光106−1とに分割される。測定光106−1は、シングルモードファイバー130−4、空間光変調器159、AO−SLO部XYスキャナ118−1、ダイクロイックミラー170−1等を介して観察対象である被検眼107に導かれる。156は固視灯であり、固視灯156からの光束157は、被検眼107の固視を促す役割を有する。
In FIG. 1, the light emitted from the light source 101-1 is divided into the reference light 105 and the measurement light 106-1 by the
測定光106−1は、被検眼107によって反射あるいは散乱され戻り光108−1となり、光路を逆行し、ビームスプリッタ158−3で反射されて、受光部200を構成するディテクター204−1〜2に入射される。ディテクター204−1は本実施形態において第1受光手段に対応し、ディテクター204−2は本実施形態において第2受光手段に対応する。
The measurement light 106-1 is reflected or scattered by the
ディテクター204−1〜2は、戻り光108−1の光強度を電圧に変換し、その出力される信号を用いて、被検眼107の平面画像が生成される。本実施形態では、光学系の全体を主にレンズを用いた屈折光学系を用いて構成しているが、レンズの代わりに球面ミラーを用いた反射光学系によっても構成しても良い。
The detectors 204-1 and 204-2 convert the light intensity of the return light 108-1 into a voltage, and a planar image of the
また、本実施形態では、収差補正デバイスとして反射型の空間光変調器を用いたが、透過型の空間光変調器や、可変形状ミラーを用いて構成しても良い。 In this embodiment, a reflective spatial light modulator is used as the aberration correction device. However, a transmissive spatial light modulator or a deformable mirror may be used.
<AO−SLO部の光源>
つぎに、光源101−1の周辺について説明する。光源101−1は、代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。波長は840nmバンド幅50nmである。スペックルノイズの少ない平面画像を取得するために低コヒーレント光源を選択している。また、光源の種類は、SLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよくASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いても良い。
<Light source of AO-SLO section>
Next, the periphery of the light source 101-1 will be described. The light source 101-1 is an SLD (Super Luminescent Diode) which is a typical low coherent light source. The wavelength is 840 nm and the bandwidth is 50 nm. A low coherent light source is selected to obtain a planar image with little speckle noise. In addition, although SLD is selected as the type of light source, ASE (Amplified Spontaneous Emission) or the like may be used as long as low-coherent light can be emitted.
また、眼を測定することを考慮すると、波長は近赤外光が適する。さらに、波長は得られる平面画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは840nmとする。観察対象の測定部位によっては他の波長を選んでも良い。本実施形態では、眼底撮像と波面測定のための光源を共用しているが、それぞれ別光源とし、光路の途中で合波する構成としても良い。 In consideration of measuring the eye, near infrared light is suitable for the wavelength. Furthermore, since the wavelength affects the resolution in the horizontal direction of the obtained planar image, it is desirable that the wavelength be as short as possible, here 840 nm. Other wavelengths may be selected depending on the measurement site to be observed. In the present embodiment, a light source for fundus imaging and wavefront measurement is shared, but a different light source may be used and combined in the middle of the optical path.
光源101−1から出射された光は、シングルモードファイバー130−1と光カプラー131とを介して、参照光105と測定光106−1とに90:10の割合で分割される。153−2、153−4は偏光コントローラであり、参照光105、測定光160−1の偏光状態をそれぞれ制御する。
The light emitted from the light source 101-1 is split into the reference light 105 and the measurement light 106-1 at a ratio of 90:10 via the single mode fiber 130-1 and the
<AO−SLO部の参照光路>
次に、参照光105の光路について説明する。
<Reference optical path of AO-SLO section>
Next, the optical path of the reference beam 105 will be described.
光カプラー131によって分割された参照光105は、光ファイバー130−2を介して、光量測定装置164に入射される。光量測定装置164は参照光105の光量を測定することにより、測定光106−1の光量をモニターする。
The reference light 105 divided by the
<AO−SLO部の測定光路>
次に、測定光106−1の光路について説明する。
<Measurement optical path of AO-SLO section>
Next, the optical path of the measuring beam 106-1 will be described.
光カプラー131によって分割された測定光106−1は、シングルモードファイバー130−4を介してレンズ135−1に導かれ、ビーム径4mmの平行光になるよう調整され、補償光学系に導光される。補償光学系は、ビームスプリッタ158−1、収差を測定するための波面センサ155、空間光変調器159およびピンホール198−1、及び、それらに測定光106−1、戻り光108−1を導光するためのレンズ135−5〜10から構成されている。
The measurement light 106-1 split by the
ビーム径4mmの平行光になるよう調整された測定光106−1は、ビームスプリッタ158−1、158−3を通過し、空間光変調器159に入射される。ここで、被検眼107の角膜126とAO−SLO部XYスキャナ118−1と波面センサ155と空間光変調器159とは光学的に共役となるようレンズ135−5〜10等が配置されている。
The measurement light 106-1 adjusted to become parallel light having a beam diameter of 4 mm passes through the beam splitters 158-1 and 158-3 and enters the spatial
次に、測定光106−1は、空間光変調器159にて変調され、レンズ135−7〜8を通過し、AO−SLO部XYスキャナ118−1のミラーに入射される。ここでは、簡単のため、AO−SLO部XYスキャナ118−1は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャナとYスキャナとの2枚のミラーが近接して配置され、眼底127上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。
Next, the measuring light 106-1 is modulated by the spatial
また、測定光106−1の中心は、AO−SLO部XYスキャナ118−1の各ミラーの回転中心と一致するように調整されている。 Further, the center of the measuring beam 106-1 is adjusted so as to coincide with the rotation center of each mirror of the AO-SLO XY scanner 118-1.
ここで、AO−SLO部Xスキャナは、測定光106−1を紙面に平行な方向に走査するスキャナであり、共振型スキャナを用い、その駆動周波数は約7.9kHzである。またAO−SLO部Yスキャナは、測定光106−1を紙面に垂直な方向に走査するスキャナであり、ガルバノスキャナを用い、その駆動波形はのこぎり波であり、周波数は32Hz、デューティ比は84%である。AO−SLO部Yスキャナの駆動周波数は、AO−SLO像の撮像のフレームレートを決定する重要なパラメータである。AO−SLO部XYスキャナ118−1は制御PC109からドライバ部181内の光スキャナ駆動ドライバ182を介して制御される。
Here, the AO-SLO part X scanner is a scanner that scans the measuring beam 106-1 in a direction parallel to the paper surface, and uses a resonance type scanner, and its drive frequency is about 7.9 kHz. The AO-SLO unit Y scanner is a scanner that scans the measuring beam 106-1 in a direction perpendicular to the paper surface. A galvano scanner is used, the drive waveform is a sawtooth wave, the frequency is 32 Hz, and the duty ratio is 84%. It is. The driving frequency of the AO-SLO unit Y scanner is an important parameter that determines the frame rate for capturing an AO-SLO image. The AO-SLO unit XY scanner 118-1 is controlled from the
レンズ135−9〜10は、眼底127を走査するために必要な光学系であり、測定光106−1を被検眼107の瞳孔中心を支点として、眼底127をスキャンするために用いられる。
The lenses 135-9 to 10 are optical systems necessary for scanning the
ここで、測定光106−1のビーム径4mmであるが、より高分解能なAO−SLO像を取得するためにビーム径はより大きくしてもよい。 Here, although the beam diameter of the measurement light 106-1 is 4 mm, the beam diameter may be larger in order to obtain a higher resolution AO-SLO image.
117−1は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ135−10の位置を動かし、フォーカス調整をすることができる。レンズ135−10の位置を調整することで、被検眼107の眼底127の所定の層に、測定光106−1を合焦させ撮像することが可能になる。また、被検眼107が屈折異常を有している場合にも対応できる。
Reference numeral 117-1 denotes an electric stage which can move in the direction indicated by the arrow, and can adjust the focus by moving the position of the associated lens 135-10. By adjusting the position of the lens 135-10, the measurement light 106-1 can be focused on a predetermined layer of the
ここで、電動ステージ117−1は制御PC109からドライバ部181内の電動ステージ駆動ドライバ183を介して制御される。
Here, the electric stage 117-1 is controlled from the
レンズ135−9〜10を介した測定光106−1はダイクロイックミラー170−1を通過し、被検眼107へと導光される。測定光106−1は被検眼107に入射すると、眼底127からの反射や散乱により、戻り光108−1となる。戻り光108−1は同一光路を通り、ビームスプリッタ158−1で一部は反射し、ピンホール198−1を介して波面センサ155に入射され、被検眼107で発生する戻り光108−1の収差が測定される。
The measuring light 106-1 through the lenses 135-9 to 10-10 passes through the dichroic mirror 170-1 and is guided to the
ここで、ピンホール198−1は、戻り光108−1以外の不要光を遮蔽する目的で設置されている。ビームスプリッタ158−1を透過した戻り光108−1はビームスプリッタ158−3で反射し、受光部200へ入射する。入射した戻り光108−1は分岐部によって分光され、ディテクター204−1、2にそれぞれ到達する。ディテクター204−1、2は、例えば高速・高感度な光センサであるAPD(Avalanche Photo Diode)やPMT(Photomultiplier Tube)が用いられる。
Here, the pinhole 198-1 is installed for the purpose of shielding unnecessary light other than the return light 108-1. The return light 108-1 transmitted through the beam splitter 158-1 is reflected by the beam splitter 158-3 and enters the
<受光部>
次に、図2を用いて受光部200の概略構成について説明する。
<Light receiver>
Next, a schematic configuration of the
戻り光108−1は、結像面に配置された分離部211に入射し、一部光は反射してディテクター204−1へ入射する。さらに分離部211に入射した他の一部光は透過してディテクター204−2へと入射する。分離部211は本実施形態において第1分岐手段に対応する。ここで、図3に示したように分離部211は、中心部の一部反射一部透過領域314、その周辺部である透過領域312、それら以外を遮光するための遮光領域313によって構成されている。
The return light 108-1 is incident on the
本実施形態で用いた一部反射一部透過領域314はクロムをガラス基板上に蒸着してなる一部反射一部透過膜によって構成されている。更に、光源部101−1の波長において、10%程度の吸収を差し引き、反射率は65%程度、透過率は25%程度である。もちろん、この反射率と透過率に限るものではない。
The partially reflective partially
そして、一部反射一部透過領域314の中心は戻り光108−1の光軸中心に位置し、反射した光をディテクター204−1が受光するように光軸に対して斜めに配置される。分離部211は戻り光108−1の光軸に対して斜めに配置されたときに、一部反射一部透過領域314と透過領域312の形状が光軸方向から見て円形になるような楕円形状となっている。
The center of the partially reflective partially
一部反射一部透過領域314で反射された反射光208はレンズ210を介してディテクター204−1に入射する。レンズ210およびディテクター204−1は本実施形態において共焦点撮像部に対応する。
The reflected light 208 reflected by the partially reflective partially
一部反射一部透過領域314および透過領域312を透過した戻り光108−1の透過光209は、レンズ212を介してディテクター204−2に入射する。レンズ212およびディテクター204−2は本実施形態において非共焦点撮像部に対応する。
The transmitted
<WF−SLO部全体>
次に、WF−SLO部141について説明する。
<Whole WF-SLO part>
Next, the WF-
WF−SLO部141は基本的にAO−SLO部140と同様の構成となっている。同様の構成部分については説明を省略する。
The WF-
図1において、光源101−2から出射した測定光106−2は、レンズ135−2、レンズ135−11〜14、WF−SLO部XYスキャナ118−2、ダイクロイックミラー170−1〜3等を介して観察対象である被検眼107に導かれる。光源101−2は、AO−SLO部と同様にSLDであり、その波長は920nmバンド幅20nmである。
In FIG. 1, measurement light 106-2 emitted from a light source 101-2 passes through a lens 135-2, lenses 135-11 to 14, a WF-SLO section XY scanner 118-2, dichroic mirrors 170-1 to 170-3, and the like. Then, it is guided to the
<WF−SLO部の測定光路>
次に、測定光106−2の光路について説明する。
<Measurement optical path of WF-SLO section>
Next, the optical path of the measuring beam 106-2 will be described.
図1において、光源101−2から出射した測定光106−2は、レンズ135−2、レンズ135−11〜14、WF−SLO部XYスキャナ118−2、ダイクロイックミラー170−1〜3等を介して観察対象である被検眼107に導かれる。
In FIG. 1, measurement light 106-2 emitted from a light source 101-2 passes through a lens 135-2, lenses 135-11 to 14, a WF-SLO section XY scanner 118-2, dichroic mirrors 170-1 to 170-3, and the like. Then, it is guided to the
ここで、WF−SLO部XYスキャナ118−2の構成要素であるWF−SLO部Xスキャナは、測定光106−2を紙面に平行な方向に走査するスキャナであり、共振型スキャナを用い、その駆動周波数は約3.9kHzである。また、WF−SLO部Yスキャナは、測定光106−2を紙面に垂直な方向に走査するスキャナであり、ガルバノスキャナを用い、その駆動波形はのこぎり波であり、周波数は15Hz、デューティ比は84%である。WF−SLO部Yスキャナの駆動周波数は、WF−SLO像のフレームレートを決定する重要なパラメータである。 Here, the WF-SLO unit X scanner, which is a constituent element of the WF-SLO unit XY scanner 118-2, is a scanner that scans the measuring beam 106-2 in a direction parallel to the paper surface. The driving frequency is about 3.9 kHz. The WF-SLO unit Y scanner is a scanner that scans the measuring beam 106-2 in a direction perpendicular to the paper surface, and uses a galvano scanner. The drive waveform is a sawtooth wave, the frequency is 15 Hz, and the duty ratio is 84. %. The driving frequency of the WF-SLO unit Y scanner is an important parameter that determines the frame rate of the WF-SLO image.
ここで、測定光106−2のビーム径は1mmであるが、より高分解能なWF−SLO像を取得するために、ビーム径は大きくしてもよい。 Here, the beam diameter of the measuring beam 106-2 is 1 mm, but the beam diameter may be increased in order to obtain a higher-resolution WF-SLO image.
測定光106−2は、被検眼107に入射すると眼底127からの反射や散乱により戻り光108−2となる。戻り光108−2は、ダイクロイックミラー170−1〜3、レンズ135−13〜14、レンズ135−2〜4、WF−SLO部XYスキャナ119−2、ビームスプリッタ158−2等を介してディテクター138−2に到達する。
When the measurement light 106-2 is incident on the
<固視灯部の構成>
図1において、固視灯156は、発光型のディスプレイモジュールからなり、表示面(□27mm、128×128画素)をXY平面に有する。ここでは、液晶、有機EL、LEDアレイ等を用いることができる。被検眼107が、固視灯156からの光束157を注視することで、被検眼107の固視が誘導される。固視灯156の表示面は例えば図1(b)に示すように、任意の点灯位置165に十字のパターンが点滅して表示される。
<Configuration of the fixation lamp>
In FIG. 1, a
固視灯156からの光束は、レンズ135−17〜18、ダイクロイックミラー170−1〜3を介して眼底127に導かれる。また、レンズ135−17〜18は、固視灯156の表示面と眼底127とが光学的に共役となるように配置される。また、固視灯156は、制御PC109からドライバ部181内の固視灯駆動ドライバ184を介して制御される。
The luminous flux from the
<前眼部観察部>
次に、前眼部観察部について説明する。
<Anterior segment observation unit>
Next, the anterior ocular segment observation unit will be described.
図1において、前眼部照明光源101−3から出射された光は、被検眼107を照射し、その反射光がダイクロイックミラー107−1〜2、レンズ135−19、20を介してCCDカメラ160に入射する。そして、CCDカメラ160からの出力信号を画像化することにより前眼部を観察することができる。前眼部照明光源101−3は中心波長740nmのLEDである。
In FIG. 1, the light emitted from the anterior segment illumination light source 101-3 irradiates the subject's
<フォーカス、シャッター、乱視補正>
上述したAO−SLO部、WF−SLO部、固視灯部は、それぞれ個別に電動ステージ117−1〜3を持ち、3つの電動ステージを連動させて動かすことによりフォーカスを調整している。ただし、個別にフォーカス位置を調整したい場合には、個別に電動ステージを動かすことで調整可能である。
<Focus, shutter, astigmatism correction>
The above-described AO-SLO unit, WF-SLO unit, and fixation lamp unit each have electric stages 117-1 to 117-3 individually, and adjust the focus by moving the three electric stages in conjunction with each other. However, if it is desired to individually adjust the focus position, it can be adjusted by moving the electric stage individually.
また、AO−SLO部、WF−SLO部はそれぞれシャッター(不図示)を備え、シャッターの開閉により個別に被検眼107に測定光を入射させるか否かを制御できる。
Each of the AO-SLO unit and the WF-SLO unit includes a shutter (not shown), and can control whether or not measurement light is individually incident on the
ここではシャッターを用いたが、光源101−1〜2を直接ON/OFFすることにより、制御することもできる。同様に、前眼部観察部、固視灯部についても、光源101−3および固視灯156のON/OFFにより制御可能である。
Although the shutter is used here, it can be controlled by directly turning on and off the light sources 101-1 and 101-2. Similarly, the anterior ocular segment observation unit and the fixation lamp unit can also be controlled by turning on / off the light source 101-3 and the
また、レンズ135−10は交換可能になっており、被検眼107による収差(屈折異常)に合わせて球面レンズやシリンドリカルレンズを用いることができる。また1個のレンズに限らず、複数のレンズを組み合わせて設置することも可能である。
Further, the lens 135-10 can be replaced, and a spherical lens or a cylindrical lens can be used in accordance with the aberration (refractive abnormality) of the
<波面補正>
次に、波面センサ155、空間光変調器159を用いた波面補正について説明する。
<Wavefront correction>
Next, wavefront correction using the
波面センサ155、空間光変調器159は、制御PC109に電気的に接続されている。波面センサ155はビームの波面を測定するもので、シャックハルトマンセンサを用いており、測定レンジはー10D〜+5Dとなっている。得られた収差は、ツェルニケ多項式を用いて表現され、これは被検眼107の収差を示している。ツェルニケ多項式はチルト(傾き)の項、デフォーカスの項、アスティグマ(非点収差)の項、コマの項、トリフォイルの項等からなる。制御PC109は、得られた被検眼107の収差を基に、収差のない波面へと補正するような変調量(補正量)を計算し、空間光変調器159にその変調を指令する。本実施形態では、空間光変調器159として画素数600×600の反射型液晶空間位相変調器を用いた。
The
<波長>
AO−SLO部140、WF−SLO部141、固視灯部、前眼部観察部に用いられている光源の波長分布を図4に示す。固視灯156からの光束157の波長は720nm以下であり、前眼部観察部の光源101−3は中心波長740nmである。また、AO−SLO部140の光源101−1の波長は840nmバンド幅50nmであり、WF−SLO部141の光源101−2の波長は920nmバンド幅20nmである。それぞれの光をダイクロイックミラー170−1〜3で分けるために、それぞれ異なる波長帯になるようにしている。なお、図4は各光源の波長の違いを示すものであり、その強度およびスペクトル形状を規定するものではない。
<Wavelength>
FIG. 4 shows the wavelength distribution of the light sources used in the AO-
<画像化>
次に、撮像画像の生成方法について説明する。
<Imaging>
Next, a method for generating a captured image will be described.
ディテクター204−1〜2に入射された光は、光の強度が電圧に変換される。ディテクター204−1〜2で得られた電圧信号は、制御PC109内のADボード176−1にてデジタル値に変換される。次に、制御PC109にて、AO−SLO部XYスキャナ118−1の動作や駆動周波数と同期したデータ処理が行われ、AO−SLO像が形成される。ここで、ADボード176−1の取り込み速度は15MHzである。制御PC109は本実施形態において第1生成手段に対応する。同様に、ディテクター138−2で得られた電圧信号は、制御PC内106内のADボード176−2にてデジタル値に変換され、WF−SLO像が形成される。
The light incident on the detectors 204-1 and 20-2 is converted into a voltage by the intensity of the light. The voltage signals obtained by the detectors 204-1 and 204-2 are converted into digital values by the AD board 176-1 in the
<制御ソフト画面>
図6を用いて、PC109の表示部に表示される制御ソフト画面について説明する。
<Control software screen>
A control software screen displayed on the display unit of the
図6において、各符号はそれぞれ次のように対応する。
601は、撮像開始を指示するための実行ボタン
602は、撮像終了を指示するためのSTOPボタン
603は、不図示の顎受け部の微調整を指示するための顎受け調整ボタン
604は、フォーカスを調整するためのフォーカス調整ボタン
605は、WF−SLO像の撮像開始を指示するためのWF−SLO撮像ボタン
607は、AO−SLO像の撮像開始を指示するためのAO−SLO撮像ボタン
611は、収差量の値が表示される収差補正モニター
612は、前眼部画像が表示される前眼部モニター
613は、固視灯156の点灯位置を指示するための固視灯位置モニター
614は、波面センサ155で検出されたハルトマン像が表示される波面センサモニター
615は、WF−SLO像が表示されるWF−SLOモニター
616は、ディテクター138−2の出力信号の強度が表示されるWF−SLO強度モニター
617は、WF−SLO像の記録を指示するためのWF−SLO記録ボタン
618は、AO−SLOの共焦点画像が表示されるAO−SLO共焦点モニター
619は、ディテクター204−1の出力信号の強度が表示されるAO−SLO強度モニター
620は、AO−SLO像の記録を指示するためのAO−SLO記録ボタン
621は、自動フォーカスを指示するための自動フォーカスボタン
622は、収差補正を指示するための収差補正ボタン
623は、設定されている撮像条件の変更を指示するための撮像条件設定ボタン
624は、撮像するAO−SLO像の深さの調整を指示するための深さ調整ボタン
625は、AO−SLOの非共焦点画像が表示されるAO−SLO非共焦点モニター
<撮像手順>
次に、本実施形態のSLO装置における撮像手順について図5〜6を用いて説明する。
In FIG. 6, each symbol corresponds as follows.
Next, an imaging procedure in the SLO device of this embodiment will be described with reference to FIGS.
図5に撮像手順を示す。以下に、各工程について詳しく述べる。 FIG. 5 shows an imaging procedure. Below, each process is described in detail.
(工程1)撮像を開始する
検者から制御ソフト画面の実行ボタン601を介して撮像開始の入力があると、制御PC109は予め決めた標準的な位置に固視灯156のパターンを点灯する。本実施形態では、視野の中央部にパターンを点灯する。
(Step 1) Start imaging When the examiner inputs imaging start via the
(工程2)前眼部画像を取得する
制御PC109はCCDカメラ160で撮像された前眼部画像を前眼部モニター612に表示する。検者は、前眼部モニター612に表示された前眼部画像を見ながら、被検眼とSLO装置との位置関係を調整する。不図示の顎受け部の微調整を指示するために顎受け調整ボタン603を用いることもある。詳細については、一般的であるため省略する。
(Step 2) Acquiring an anterior segment image The
(工程3)WF−SLO像を取得する
位置調整が終わり検者からWF−SLO撮像ボタン605を介してWF−SLO像の撮像開始の入力があると、制御PC109はWF−SLO像の撮像をWF−SLO部141に指示し、撮像されたWF−SLO像をWF−SLOモニター615に表示する。画角は縦9mm×横12mmであり、フレームレートは16Hzである。必要に応じて、検者はWF−SLO強度モニター616のWF−SLO強度が大きくなるよう、フォーカス調整ボタン604を用いて調整を指示する。WF−SLO強度モニター616には横軸時間、縦軸信号強度でWF−SLO部141で検出された信号強度が時系列に表示されている。ここで、検者によりフォーカス調整ボタン604が調整されると、制御PC109は入力された調整量に従ってレンズ135−10、14、18の位置を同時に調整する。
(Step 3) Acquiring a WF-SLO Image When the position adjustment is completed and the examiner inputs the start of imaging of the WF-SLO image via the WF-
検者からWF−SLO記録ボタン617を介してWF−SLO記録の入力があると、制御PC109はWF−SLOデータを記録部(不図示)へ保存する。
When the examiner inputs WF-SLO recording via the WF-
(工程4)AO−SLO像を表示する
検者からAO−SLO撮像ボタン607を介してAO−SLO撮像開始の入力があると、制御PC109はAO−SLO測定光のシャッターを開き、AO−SLO測定光である測定光106−1が被検眼107に照射される。AO−SLO共焦点モニター618にAO−SLOの共焦点画像を、AO−SLO非共焦点モニター625にAO−SLOの非共焦点画像を表示する。撮像画角は縦0.8mm×横0.8mm、フレームレートは32Hzが初期値として設定されている。また、AO−SLO強度モニター619に、WF−SLO強度モニター616と同様に、AO−SLO部で検出された信号強度を時系列に表示し、検者の指示に基づいて調整する。
(Step 4) Displaying the AO-SLO image When the examiner inputs the AO-SLO imaging start via the AO-
(工程5)AO−SLO像取得位置を決定する
検者はAO−SLO像を取得したい位置を指定する。指定された位置に応じて、制御PC109は固視灯156のパターンの点灯位置を変更する。
(Step 5) Determine AO-SLO image acquisition position The examiner designates a position where an AO-SLO image is to be acquired. The
AO−SLO像を取得する位置を指定する手段は2通りある。一つは固視灯位置モニター613において固視灯156の位置を指示する方法、もう一つはWF−SLOモニター615において所望の位置をポインティングデバイス(不図示)を用いてカーソルの指示する位置をクリックする方法である。制御PC109はWF−SLOモニター615上の画素と固視灯156の位置を関連付けており、指定された位置に応じて固視灯156のパターンの点灯位置を変更する。固視灯156のパターンの点灯位置を変更することで視線を所望の位置に誘導することができ、指示した位置のAO−SLO像を撮像することができる。
There are two means for designating the position for acquiring the AO-SLO image. One is a method for indicating the position of the
(工程6)収差補正を行う
制御PC109は波面センサモニター614に波面センサ155で検出されたハルトマン像を表示する。このハルトマン像から計算された収差成分を収差補正モニター611に表示する。収差はデフォーカス(defocus)成分(μm単位)と、全ての収差量(μmRMS単位)に分けて表示する。ここで、工程3において、AO−SLO測定光のフォーカスレンズであるレンズ135−10の位置を調整しているため、この工程での収差測定が可能な状態になっている。具体的には戻り光108−1が、ピンホール198−1を蹴られることなく通過し、波面センサ155に到達する状態になっている。
(Step 6) Aberration Correction The
ここで検者から自動フォーカスボタン621を介して自動フォーカス開始の入力があると、デフォーカスの値が小さくなるようにレンズ135−10、14、18の位置を調整する。
When the examiner inputs auto-focus start via the auto-
次に、検者から収差補正ボタン622を介して収差補正開始の入力があると、収差量が小さくなる方向に空間光変調器159を調整し、リアルタイムに収差量の値を収差補正モニター611に表示する。AO−SLO共焦点モニター618、AO−SLO非共焦点モニター625に表示されている画像もリアルタイムに収差が補正された画像に更新する。
Next, when the examiner inputs an aberration correction start via the
(工程7)AO−SLO像を取得する
検者から撮像条件設定ボタン623を介して設定変更の入力があると、制御PC109は入力に応じてAO−SLO部140の撮像画角、フレームレート、撮像時間を変更する。
(Step 7) Acquire an AO-SLO image When the examiner inputs setting change via the imaging
また、検者から深さ調整ボタン624を介して深さ調整の入力があると、レンズ135−10を移動させ、被検眼107の深さ方向の撮像範囲を調整する。この調整により、具体的には、視細胞層や神経線維層や色素上皮層等の所望の層のAO−SLO像を取得することができる。
When the examiner inputs depth adjustment via the
収差量が十分低い値になり、AO−SLO像が鮮明に表示された場合、検者はAO−SLO記録ボタン620を押す。AO−SLO記録ボタン620を介してAO−SLO記録の入力があると、制御PC109はAO−SLO像を記録部へ保存する。
When the aberration amount becomes a sufficiently low value and the AO-SLO image is clearly displayed, the examiner presses the AO-
(工程8)撮像位置の変更
検者からAO−SLO像の撮像位置変更の入力があると、工程4に戻る。なければ次の工程に進む。
(Step 8) Change of imaging position If there is an input from the examiner to change the imaging position of the AO-SLO image, the process returns to step 4. If not, proceed to the next step.
(工程9)左右眼切替え
検者から撮像対象眼の左右眼切替えの入力があると、工程2に戻る。なければ次の工程に進む。
(Step 9) Left / Right Eye Switching When there is an input of left / right eye switching of the imaging target eye from the examiner, the process returns to Step 2. If not, proceed to the next step.
(工程10)終了する
検者からSTOPボタン602を介して撮像終了の入力があると、制御PC109は制御ソフトを停止する。
(Step 10) End When the examiner inputs the end of imaging via the
以上説明のように、本実施形態によれば、一部反射一部透過領域を有する分離部を介して戻り光を受光することにより、分解能の高い非共焦点画像と共焦点画像を撮像することができる。 As described above, according to the present embodiment, a non-confocal image and a confocal image with high resolution are picked up by receiving the return light through the separation unit having a partially reflective partially transmissive region. Can do.
[実施形態2]
実施形態2として、図7を用いて本発明を適用したSLO装置について説明する。
[Embodiment 2]
As Embodiment 2, an SLO device to which the present invention is applied will be described with reference to FIG.
本実施形態において、基本的な構成は実施形態1とほぼ同様である。受光部200において分離部211を透過した透過光209を結像面に配置された分割部701でさらに分岐し、2つのディテクターで受光する構成となっている点が実施形態1と異なっている。
In this embodiment, the basic configuration is almost the same as that of the first embodiment. The
<受光部>
図7において、分離部211を透過した透過光209は、結像面に配置された分割部701でさらに2つに分岐され、ディテクター702−1〜2へそれぞれ入射する。分割部701は本実施形態において第2分岐手段に対応する。本実施形態における分割部701は図8に示すように三角柱の形状をしたナイフエッジプリズムである。ディテクター702−1は本実施形態において第3受光手段に対応し、ディテクター702−2は本実施形態において第4受光手段に対応する。
<Light receiver>
In FIG. 7, the transmitted light 209 that has passed through the
ディテクター702−1〜2はそれぞれAO−SLO部Xスキャナの走査方向と同軸上に配置された構成となっている。各ディテクターで得られた電圧信号は、制御PC109内のADボード176−1にてデジタル値に変換され、制御PC109に入力する。制御PC109は本実施形態において第2生成手段に対応する。
Each of the detectors 702-1 and 702-2 is arranged coaxially with the scanning direction of the AO-SLO X scanner. The voltage signal obtained by each detector is converted into a digital value by the AD board 176-1 in the
ディテクター702−1〜2に入射したある時点の光から得たデジタル値をそれぞれIa、Ibとすると、下記式からX方向の微分値I’を取得することができる。
I’=(Ia−Ib)/(Ia+Ib)
I’によって画像を生成し、図9に示すような輪郭強調した非共焦点画像を取得することができる。
Assuming that digital values obtained from light at a certain time incident on the detectors 702-1 and 702 are Ia and Ib, respectively, a differential value I ′ in the X direction can be obtained from the following equation.
I ′ = (Ia−Ib) / (Ia + Ib)
An image is generated by I ′, and a non-confocal image with edge enhancement as shown in FIG. 9 can be acquired.
本実施形態では分割部701としてナイフエッジプリズムを用いたが、図10に示すように平面ミラーのエッジを用いる構成としても良い。
In the present embodiment, a knife edge prism is used as the dividing
本実施形態ではディテクター702−1〜2はAO−SLO部Xスキャナの走査方向と同軸上に配置したが、AO−SLO部Yスキャナの走査方向と同軸上に配置しても良く、または走査方向と角度を持った軸上に配置しても良い。 In this embodiment, the detectors 702-1 and 702-2 are arranged coaxially with the scanning direction of the AO-SLO section X scanner, but may be arranged coaxially with the scanning direction of the AO-SLO section Y scanner. It may be arranged on a shaft with an angle.
また、本実施形態では微分値I’は
I’=(Ia−Ib)/(Ia+Ib)
としたが、
I’=(Ib−Ia)/(Ia+Ib)
としても良く、上記2つの式のどちらを用いるか選択できる構成としても良い。
In this embodiment, the differential value I ′ is I ′ = (Ia−Ib) / (Ia + Ib)
But
I ′ = (Ib−Ia) / (Ia + Ib)
It is also possible to adopt a configuration in which which of the above two formulas is used can be selected.
以上説明のように、本実施形態によれば、一部反射一部透過領域を有する分離部を介して戻り光を更に分割して2つのディテクターにより受光し、演算することにより、分解能の高い輪郭が強調された非共焦点画像と共焦点画像を撮像することができる。 As described above, according to the present embodiment, the return light is further divided through the separation part having the partially reflective partially transmissive region, received by the two detectors, and calculated, whereby the contour with high resolution is obtained. It is possible to capture a non-confocal image and a confocal image in which is emphasized.
[実施形態3]
実施形態3として、図11を用いて本発明を適用したSLO装置について説明する。
[Embodiment 3]
As Embodiment 3, an SLO device to which the present invention is applied will be described with reference to FIG.
本実施形態において、基本的な構成は実施形態1、2とほぼ同様であるが、受光部200において分離部211の一部反射一部透過領域314の透過率を変更できる構成となっている点が実施形態1、2と異なっている。
In this embodiment, the basic configuration is almost the same as in Embodiments 1 and 2, but the
<受光部>
本実施形態において、図11に示すように分離部211は、中心部の一部反射一部透過領域314、周辺部の透過領域312、遮光するための遮光領域313を1組とするパターンが円形に複数配置された構成となっている。それぞれの一部反射一部透過領域314は透過率が異なっており、制御PC109の制御の下に、不図示の透過率選択制御部によって、分離部211を機械的に回転して選択的にパターンを切り替えることで透過率を変更することができる。分離部211は本実施形態において変更手段に対応する。透過率が高いパターンを選択すると非共焦点画像の分解能が上がるが、共焦点撮像系に入射する光が少なくなり、共焦点画像の画質が低下してしまう。逆に透過率が低いパターンを選択すると、非共焦点画像の分解能が下がるが、共焦点撮像系に入射する光が多くなり、共焦点画像の画質が良くなる。このため、被検査物に応じて、或いは、表示された非共焦点画像と共焦点画像を見ながら、適切な透過率(分岐比を変更することに相当する)を選択することが、所望の画像を得るために有効な手段となる。
<Light receiver>
In the present embodiment, as shown in FIG. 11, the
<撮像手順>
次に、本実施形態のSLO装置における撮像手順について図5、12を用いて説明する。
<Imaging procedure>
Next, an imaging procedure in the SLO device of this embodiment will be described with reference to FIGS.
工程7以外の撮像手順は実施形態1の撮像手順と同様である。そこで、本実施形態では、図5の工程7の撮像手順についてのみ説明を行う。 The imaging procedure other than step 7 is the same as the imaging procedure of the first embodiment. Therefore, in the present embodiment, only the imaging procedure of step 7 in FIG. 5 will be described.
(工程7)AO−SLO像を取得する
検者から撮像条件設定ボタン623を介して設定変更の入力があると、制御PC109は入力に応じてAO−SLO部140の撮像画角、フレームレート、撮像時間を変更する。
(Step 7) Acquire an AO-SLO image When the examiner inputs setting change via the imaging
また、検者から深さ調整ボタン624を介して深さ調整の入力があると、レンズ135−10を移動させ、被検眼107の深さ方向の撮像範囲を調整する。この調整により、具体的には、視細胞層や神経線維層や色素上皮層等の所望の層の像を取得することができる。
When the examiner inputs depth adjustment via the
また、透過率調整ボタン1201を介して透過率調整(分岐比変更)の入力があると、入力に応じて不図示の透過率選択制御部が分離部211を機械的に回転し、透過率を変更することで非共焦点画像の分解能を調整する。透過率調整ボタン1201は本実施形態において指定手段に対応する。
Further, when there is an input of transmittance adjustment (branch ratio change) via the
収差量が十分低い値になり、AO−SLO像が鮮明に表示された場合、検者はAO−SLO記録ボタン620を押す。AO−SLO記録ボタン620を介してAO−SLO記録の入力があると、制御PC109はAO−SLO像を記録部へ保存する。
When the aberration amount becomes a sufficiently low value and the AO-SLO image is clearly displayed, the examiner presses the AO-
本実施形態では円形に配置されたパターンを機械的に回転することで透過率の変更を行ったが、1列に並んで配置したパターンを機械的にスライドさせて透過率の変更を行ってもよい。他にも調光ミラーを用いて透過率の変更を行う構成としてもよく、透過率の変更方法はここに記載した限りではない。 In this embodiment, the transmittance is changed by mechanically rotating a pattern arranged in a circle. However, even if the transmittance is changed by mechanically sliding patterns arranged in a row. Good. Alternatively, the transmittance may be changed using a dimming mirror, and the method for changing the transmittance is not limited to that described here.
以上説明したように、本実施形態によれば、眼底からの戻り光の中心部の一部を非共焦点撮像部へと入射させることができ、高分解能の非共焦点画像と共焦点画像を得ることができる。 As described above, according to the present embodiment, a part of the center of the return light from the fundus can be incident on the non-confocal imaging unit, and a high-resolution non-confocal image and a confocal image can be obtained. Can be obtained.
140 AO−SLO部
141 WF−SLO部
200 受光部
204 ディテクター
211 分離部
140 AO-
Claims (5)
光源からの測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光の中心部の一部の光を共焦点の撮像部へ、前記中心部のそれ以外の光と前記中心部の周辺の光を非共焦点の撮像部へ分岐する第1分岐手段と、
前記共焦点の撮像部へ分岐された光の強度を測定する第1受光手段と、
前記非共焦点の撮像部へ分岐された光の強度を測定する第2受光手段と、
前記第1及び第2手段によりそれぞれ受光された光の強度に応じた信号から画像を生成する第1生成手段と、
を有することを特徴とする画像撮像装置。 An image imaging device that irradiates an inspection object with measurement light and captures a confocal image and a non-confocal image of the inspection object,
Light from the central part of the return light obtained by irradiating the inspection light with the measurement light from the light source to the confocal imaging part, the other light in the central part and the light around the central part First branching means for branching to a non-confocal imaging unit;
First light receiving means for measuring the intensity of light branched to the confocal imaging unit;
Second light receiving means for measuring the intensity of light branched to the non-confocal imaging unit;
First generation means for generating an image from a signal corresponding to the intensity of light received by each of the first and second means;
An image pickup apparatus comprising:
前記第2分岐手段により分岐された光の強度をそれぞれ測定する第3及び第4受光手段と、
前記第3及び第4受光手段によりそれぞれ受光された光の強度に応じた信号を用いた演算により画像を生成する第2生成手段と、
を更に有することを特徴とする請求項1に記載の画像撮像装置。 A second branching unit that branches the return light branched to the non-confocal imaging unit into two;
Third and fourth light receiving means for measuring the intensity of the light branched by the second branching means respectively;
Second generation means for generating an image by calculation using a signal corresponding to the intensity of light received by each of the third and fourth light receiving means;
The image capturing apparatus according to claim 1, further comprising:
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像撮像装置。 A changing unit for changing a branching ratio of the first branching unit;
The image capturing apparatus according to claim 1, wherein the image capturing apparatus is an image capturing apparatus.
前記変更手段は、指定された分岐比に基づいて前記分岐比を変更することを特徴とする請求項3に記載の画像撮像装置。 Designating means for designating a branching ratio of the first branching means;
The image capturing apparatus according to claim 3, wherein the changing unit changes the branching ratio based on a designated branching ratio.
前記第1分岐手段の分岐比を変更する変更手段と、
前記共焦点の撮像部へ分岐された光の強度を測定する第1受光手段と、
前記非共焦点の撮像部へ分岐された光の強度を測定する第2受光手段と、
を有する画像撮像装置の制御方法であって、
前記分岐手段の指定された分岐比を読み込む工程と、
前記読み込まれた分岐比に基づき、前記分岐比を変更する工程と、
前記第1及び第2受光手段によりそれぞれ受光された光の強度に応じた信号から画像を生成する工程と、
を有することを特徴とする画像撮像装置の制御方法。 Light from the central part of the return light obtained by irradiating the inspection light with the measurement light from the light source to the confocal imaging part, the other light in the central part and the light around the central part First branching means for branching to a non-confocal imaging unit;
Changing means for changing the branching ratio of the first branching means;
First light receiving means for measuring the intensity of light branched to the confocal imaging unit;
Second light receiving means for measuring the intensity of light branched to the non-confocal imaging unit;
A method for controlling an image pickup apparatus having
Reading a specified branching ratio of the branching means;
Changing the branching ratio based on the read branching ratio;
Generating an image from a signal corresponding to the intensity of light received by each of the first and second light receiving means;
A control method for an image pickup apparatus, comprising:
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