JP2016069714A - 基材保持具およびそれを備える成膜装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基材11の表面に成膜を行う装置に設置される基材保持具1であって、基材11を保持するための空間12が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔13を有し、基材11が、空間12の中において、貫通孔13の少なくとも一部を塞ぐように保持される、基材保持具。本発明の基材保持具1は、保持具1を装置に設置するための本体部21と、基材11を固定するための固定部22とを備え、空間12は、固定部22が本体部21に、スペーサー部23を介して着脱可能に装着されることによって、固定部22と本体部21との間に形成され、貫通孔13は、固定部22に設けられる構成とすることが望ましい。
【選択図】 図4
Description
該基材を保持するための空間が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔を有し、
該基材が、該空間中において、該貫通孔の少なくとも一部を塞ぐように保持される、基材保持具。
該基材を固定するための固定部とを備え、
前記空間は、該固定部が該本体部に、スペーサー部を介して着脱可能に装着されることによって、該固定部と該本体部との間に形成され、
前記貫通孔は、該固定部に設けられる、上記(1)に記載の基材保持具。
前記本体部と前記固定部に固定された前記基材との間隙を充填し、該熱源から前記基材に熱を伝えるための伝熱体をさらに備える、上記(1)または(2)に記載の基材保持具。
2.真空槽
3.スパッタリングターゲット
11.基材
11a 被成膜面
12.空間
13.貫通孔
21.本体部
22.固定部
23.スペーサー部
31.ネジ
32.伝熱体
Claims (8)
- 基材表面に成膜を行う装置に設置される基材保持具であって、
該基材を保持するための空間が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔を有し、
該基材が、該空間中において、該貫通孔の少なくとも一部を塞ぐように保持される、基材保持具。 - 前記基材保持具を前記装置に設置するための本体部と、
該基材を固定するための固定部とを備え、
前記空間は、該固定部が該本体部に、スペーサー部を介して着脱可能に装着されることによって、該固定部と該本体部との間に形成され、
前記貫通孔は、該固定部に設けられる、請求項1に記載の基材保持具。 - 前記本体部が前記基材を加熱するための熱源を有すると共に、
前記本体部と前記固定部に固定された前記基材との間隙を充填し、該熱源から前記基材に熱を伝えるための伝熱体をさらに備える、請求項1または請求項2に記載の基材保持具。 - 真空槽と、該真空槽内に設置された請求項1から請求項3までのいずれかに記載の基材保持具とを備える、成膜装置。
- 該真空槽内に設置され、前記基材保持具に対向配置されたスパッタリングターゲットをさらに備える、請求項4に記載の成膜装置。
- 前記真空槽内において、前記基材保持具が回動可能に設置される、請求項4または請求項5に記載の成膜装置。
- 前記真空槽内において、前記スパッタリングターゲットより上方に前記基材保持具が設置される、請求項5または請求項6に記載の成膜装置。
- 前記スパッタリングターゲットを複数備える、請求項5から請求項7までのいずれかに記載の成膜装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022181434A1 (ja) * | 2021-02-26 | 2022-09-01 | 株式会社フルヤ金属 | 粉末表面成膜装置及び被覆粉末の製造方法 |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62136238A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-19 | Mitsubishi Electric Corp | スパツタリング装置 |
JPH0297670A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-10 | Toshiba Corp | 薄膜製造装置 |
JPH02263975A (ja) * | 1989-04-03 | 1990-10-26 | Fujitsu Ltd | 超伝導体膜パターン形成方法 |
JP2002080961A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-03-22 | Matsushita Electric Works Ltd | 真空蒸着装置及び真空蒸着方法 |
JP2004091913A (ja) * | 2002-07-10 | 2004-03-25 | Sony Corp | 成膜装置および成膜方法 |
JP2005154853A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Nikon Corp | 成膜装置の回転装置 |
JP2005163128A (ja) * | 2003-12-04 | 2005-06-23 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 薄膜形成方法 |
JP2008240025A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Kyoto Univ | 薄膜形成装置、薄膜形成方法、分極反転可能化方法、強誘電特性測定方法、薄膜、およびキャパシタ構造 |
JP2008248311A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | 真空蒸着装置 |
JP2009013437A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-22 | Fujifilm Corp | 基板ホルダ及び真空成膜装置 |
JP2009091628A (ja) * | 2007-10-09 | 2009-04-30 | Fujinon Corp | パーティクル付着防止カバー、このパーティクル付着防止カバーを設けた蒸着装置及び蒸着方法 |
JP2009200241A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Ulvac Japan Ltd | 基板保持装置、基板ホルダ、真空処理装置、基板の温度制御方法 |
JP2009238869A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Ulvac Japan Ltd | 搬送トレー及びこの搬送トレーを用いた真空処理装置 |
JP2011144422A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Showa Denko Kk | スパッタリング装置および半導体発光素子の製造方法 |
JP2012012689A (ja) * | 2010-07-05 | 2012-01-19 | Canon Inc | 真空蒸着方法及び真空蒸着装置 |
JP2012167303A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Toyota Motor Corp | 薄膜固体電池製造用スパッタ装置及び薄膜固体電池の製造方法 |
WO2014036234A1 (en) * | 2012-08-31 | 2014-03-06 | Corning Incorporated | Holding device and method for coating optical element |
-
2014
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Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62136238A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-19 | Mitsubishi Electric Corp | スパツタリング装置 |
JPH0297670A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-10 | Toshiba Corp | 薄膜製造装置 |
JPH02263975A (ja) * | 1989-04-03 | 1990-10-26 | Fujitsu Ltd | 超伝導体膜パターン形成方法 |
JP2002080961A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-03-22 | Matsushita Electric Works Ltd | 真空蒸着装置及び真空蒸着方法 |
JP2004091913A (ja) * | 2002-07-10 | 2004-03-25 | Sony Corp | 成膜装置および成膜方法 |
JP2005154853A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Nikon Corp | 成膜装置の回転装置 |
JP2005163128A (ja) * | 2003-12-04 | 2005-06-23 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 薄膜形成方法 |
JP2008240025A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Kyoto Univ | 薄膜形成装置、薄膜形成方法、分極反転可能化方法、強誘電特性測定方法、薄膜、およびキャパシタ構造 |
JP2008248311A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | 真空蒸着装置 |
JP2009013437A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-22 | Fujifilm Corp | 基板ホルダ及び真空成膜装置 |
JP2009091628A (ja) * | 2007-10-09 | 2009-04-30 | Fujinon Corp | パーティクル付着防止カバー、このパーティクル付着防止カバーを設けた蒸着装置及び蒸着方法 |
JP2009200241A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Ulvac Japan Ltd | 基板保持装置、基板ホルダ、真空処理装置、基板の温度制御方法 |
JP2009238869A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Ulvac Japan Ltd | 搬送トレー及びこの搬送トレーを用いた真空処理装置 |
JP2011144422A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Showa Denko Kk | スパッタリング装置および半導体発光素子の製造方法 |
JP2012012689A (ja) * | 2010-07-05 | 2012-01-19 | Canon Inc | 真空蒸着方法及び真空蒸着装置 |
JP2012167303A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Toyota Motor Corp | 薄膜固体電池製造用スパッタ装置及び薄膜固体電池の製造方法 |
WO2014036234A1 (en) * | 2012-08-31 | 2014-03-06 | Corning Incorporated | Holding device and method for coating optical element |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022181434A1 (ja) * | 2021-02-26 | 2022-09-01 | 株式会社フルヤ金属 | 粉末表面成膜装置及び被覆粉末の製造方法 |
JP2022131218A (ja) * | 2021-02-26 | 2022-09-07 | 株式会社フルヤ金属 | 粉末表面成膜装置及び被覆粉末の製造方法 |
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