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JP2016069714A - 基材保持具およびそれを備える成膜装置 - Google Patents

基材保持具およびそれを備える成膜装置 Download PDF

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克浩 西原
Katsuhiro Nishihara
克浩 西原
大介 桑野
Daisuke Kuwano
大介 桑野
勇亮 小東
Yusuke Koto
勇亮 小東
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Abstract

【課題】厚さおよび形状が異なる様々な基材の表面に同時に成膜を行う場合であっても、均一な皮膜を形成することが可能な基材保持具およびそれを備える成膜装置を提供する。
【解決手段】基材11の表面に成膜を行う装置に設置される基材保持具1であって、基材11を保持するための空間12が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔13を有し、基材11が、空間12の中において、貫通孔13の少なくとも一部を塞ぐように保持される、基材保持具。本発明の基材保持具1は、保持具1を装置に設置するための本体部21と、基材11を固定するための固定部22とを備え、空間12は、固定部22が本体部21に、スペーサー部23を介して着脱可能に装着されることによって、固定部22と本体部21との間に形成され、貫通孔13は、固定部22に設けられる構成とすることが望ましい。
【選択図】 図4

Description

本発明は、基材保持具およびそれを備える成膜装置に関する。
鋼材が腐食環境下に曝されると、鋼材上において、その環境に応じた種々の腐食反応が生じ、その結果、鋼材表面に腐食生成物が形成される。そして、上記の腐食環境が、腐食生成物の構造および組成(元素、官能基、分子構造、結晶成分、非晶質成分等)に影響を及ぼし、さらに上記の腐食生成物形成後の腐食反応の進行は、腐食生成物の構造および組成に影響を受けることとなる。
そのため、腐食反応後の鋼材表面に形成された腐食生成物について、構造および組成の解析を行うことによって、腐食環境が腐食生成物の構造および組成に及ぼす影響、ならびに上記の腐食生成物の構造および組成が、その後の腐食反応の進行に及ぼす影響を明確化または推定することができるようになる。
腐食生成物の構造および組成を分析する方法として、例えば、フーリエ変換赤外分光法(FT−IR)または赤外光音響分光法(IR−PAS)が挙げられる。これらのIR法を用いる場合、鋼材表面に形成された腐食生成物の官能基および分子構造等を同定し、または成分を定量化するためには、構造および組成が既知の皮膜を有する標準試料が必要となる。そして、当該標準試料は、深さ方向における皮膜の構造および組成の分布が制御された多層膜を有していることが要求される場合もある。
基材表面に多層からなる皮膜を形成するのに、一般的に種々の成膜装置が用いられている(例えば、特許文献1を参照。)。
特開平10−102236号公報
特許文献1に開示のスパッタ装置では、薄膜を形成するための基材は、試料台表面に保持された状態で成膜が行われることとなる。このような装置を用いる場合、厚さが異なる多種の基材に対して同時に成膜を行おうとすると、ターゲット材等の成膜源と基材表面との間の距離にばらつきが生じ、均一な皮膜を形成することが難しくなるという問題がある。
本発明は、上記の問題点を解決し、厚さおよび形状が異なる様々な基材の表面に同時に成膜を行う場合であっても、均一な皮膜を形成することが可能な基材保持具およびそれを備える成膜装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、下記の基材保持具およびそれを備える成膜装置を要旨とする。
(1)基材表面に成膜を行う装置に設置される基材保持具であって、
該基材を保持するための空間が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔を有し、
該基材が、該空間中において、該貫通孔の少なくとも一部を塞ぐように保持される、基材保持具。
(2)前記基材保持具を前記装置に設置するための本体部と、
該基材を固定するための固定部とを備え、
前記空間は、該固定部が該本体部に、スペーサー部を介して着脱可能に装着されることによって、該固定部と該本体部との間に形成され、
前記貫通孔は、該固定部に設けられる、上記(1)に記載の基材保持具。
(3)前記本体部が前記基材を加熱するための熱源を有すると共に、
前記本体部と前記固定部に固定された前記基材との間隙を充填し、該熱源から前記基材に熱を伝えるための伝熱体をさらに備える、上記(1)または(2)に記載の基材保持具。
(4)真空槽と、該真空槽内に設置された上記(1)から(3)までのいずれかに記載の基材保持具とを備える、成膜装置。
(5)該真空槽内に設置され、前記基材保持具に対向配置されたスパッタリングターゲットをさらに備える、上記(4)に記載の成膜装置。
(6)前記真空槽内において、前記基材保持具が回動可能に設置される、上記(4)または(5)に記載の成膜装置。
(7)前記真空槽内において、前記スパッタリングターゲットより上方に前記基材保持具が設置される、上記(5)または(6)に記載の成膜装置。
(8)前記スパッタリングターゲットを複数備える、上記(5)から(7)までのいずれかに記載の成膜装置。
本発明によれば、厚さおよび形状が異なる複数の基材の表面に対して同時に均一な皮膜を形成することが可能である。したがって、本発明に係る基材保持具およびそれを備える成膜装置は、構造および組成が制御された皮膜を有する標準試料を作製するのに好適に用いることができる。
本発明に係る基材保持具の一例を模式的に示した図である。(a)a−a線端面図、(b)底面図。 本発明に係る基材保持具の他の一例を模式的に示した図である。(a)使用時におけるa−a線端面図、(b)固定部を外した状態におけるa−a線端面図、(c)底面図。 本発明に係る基材保持具の他の一例を模式的に示した図である。(a)a−a線端面図、(b)底面図。 本発明に係る基材保持具の他の一例を模式的に示した図である。(a)a−a線端面図、(b)底面図。 本発明に係る基材保持具を設置した成膜装置の一例を模式的に示した図である。 本発明に係る基材保持具を設置した成膜装置の他の一例を模式的に示した図である。 本発明に係る基材保持具を設置した成膜装置の他の一例を模式的に示した図である。
図1は、本発明に係る基材保持具の一例を模式的に示した図であり、図1(a)はa−a線端面図、図1(b)は底面図である。本発明の基材保持具1は、基材11の表面に成膜を行うための装置に設置されるものであり、基材11を保持するための空間12が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔13を有し、基材11が空間12の中において貫通孔13の少なくとも一部を塞ぐように保持されるものである。
本発明の基材保持具1において、空間12の中に保持された基材11は、貫通孔13によってその一部の面が保持具の外部に露出され、当該露出された一部の面が被成膜面11aとなる。上記の構成とすることにより、様々な厚さを有する複数の基材11の表面に同時に成膜を行う場合であっても、基材11の被成膜面11aを同一平面に揃えることができるようになり、成膜装置内において、成膜源と基材表面との間の距離を一定に保つことが可能になる。
図2は、本発明に係る基材保持具の他の一例を模式的に示した図であり、図2(a)は使用時におけるa−a線端面図、図2(b)は固定部を外した状態におけるa−a線端面図、図2(c)は底面図である。
本発明の基材保持具1は、図1に示すように一体として成形された構成であっても良いが、図2に示すように、保持具を成膜装置に設置するための本体部21と、基材11を固定するための固定部22とを備え、固定部22がスペーサー部23を介して本体部21に装着されることによって、空間12が固定部22と本体部21との間に形成される構成としても良い。上記の構成においては、貫通孔13は固定部22に設けられることになる。
上記の構成において、例えばネジ31を用いて固定部22と本体部21とが着脱可能に装着されていれば、図2(b)に示すように固定部22を外した状態で基材11の設置を行うことができるため、作業性が向上する利点がある。基材11を固定部22に固定する方法については特に制限はなく、両面テープ、接着剤、固定金具等を用いて固定すれば良い。なお、スペーサー部23は本体部21および固定部22から独立した部材であっても良いし、本体部21または固定部22と一体成形されていても良い。
図3および4は、図2と同様に、本発明に係る基材保持具の他の一例を模式的に示した図であり、図3(a)および図4(a)はa−a線端面図、図3(b)および図4(b)は底面図である。
貫通孔13の形状については特に制限はなく、図2(c)、図3(b)および図4(b)に示すように、基材11の大きさおよび形状に応じて適宜選択すれば良い。種々の形状の貫通孔を複数有する固定部を用いることで、様々な大きさおよび形状の基材に対しても同時に最適な成膜を行うことが可能となる。
また、成膜を行うに際して、基材を加熱した状態で皮膜を形成することが要求される場合もある。この場合、本体部21に図示しない熱源を設け、当該熱源により基材を加熱しながら成膜を行うことが可能である。本体部21、固定部22およびスペーサー部23の全てに熱伝導性に優れる材料が用いられていれば、本体部21に設けられた熱源による熱を基材に伝えることが可能である。しかしながら、このような構成では基材が設置される位置によって伝わる熱量にばらつきが生じる可能性がある。
そこで、図3(a)に示すように、本体部21と固定部22に固定された基材11との間隙を充填し、上記の熱源から基材11に熱を伝える伝熱体32を備えていれば、熱源から基材11の全てに対して短い経路で等しく熱を伝えることができるため、全基材を均一に加熱することが可能になる。
前述のように、本発明に係る基材保持具は、基材表面に成膜を行う装置に設置される。本発明の基材保持具を設置する成膜装置は、真空槽を備え、当該真空槽内において成膜を行う構成のものであることが好ましい。そのような成膜装置として、真空蒸着装置またはスパッタ成膜装置等が挙げられる。
図5は、本発明に係る基材保持具を設置した成膜装置の一例を模式的に示した図である。図5に示す成膜装置はスパッタ成膜装置であり、真空槽2と、真空槽内に設置された基材保持具1と、基材保持具1に対向配置されたスパッタリングターゲット3とを備える。
真空状態とした真空槽2の中に微量のArガスを導入した状態で、スパッタリングターゲット3に高い負の電圧が印加されると、Arガスはイオン化され、スパッタリングターゲット3の表面にプラズマが形成される。そして、イオン化されて陽イオンとなったArイオンは、負の電圧が印加されたスパッタリングターゲット3に高速で衝突し、その衝撃によってターゲット表面からスパッタリング粒子が放出され、対向する基材表面に付着し成膜される。
この際、スパッタリングターゲットの材料が金属などの導体の場合、直流電源を用いれば良いが、材料が半導体または絶縁体の場合、材料表面に正の電荷が蓄積し、スパッタリングが即座に止まってしまう。そのため、スパッタリングターゲット3に半導体または絶縁体を用いる場合は、周波数を数MHz程度まで高くした高周波の交流電源を用いる。したがって、スパッタ成膜装置は、図5に示すように、様々な材質のスパッタリングターゲットに対応可能なように、直流電源と交流電源とを切替可能な構成、または図6に示すように、負の直流電圧に高周波の交流電圧が重畳されたスパッタ電圧をスパッタリングターゲットに印加できる構成であることが望ましい。
さらに、スパッタリングターゲットの裏側に永久磁石を設置すると、ターゲット近傍に生成されるターゲット面と平行な磁力線およびスパッタリングターゲットに向いた電界によって、電子がスパッタリングターゲット近傍に閉じ込められるマグネトロン効果が起こり、低いガス圧力でもプラズマが維持される。その結果、スパッタリングされた粒子の平均自由工程が長くなり、対極に設置された基板上に、高い膜堆積速度で成膜することができる。
また、基材表面に均一な皮膜を形成するためには、基材保持具1は、真空槽2内において、回動可能に設置されていることが望ましい。回転しながらスパッタリングを行うことによって、ターゲットから放出された粒子が基材表面に均一に付着しやすくなる。
基材保持具を回転させる際、従来の試料台を保持具として用いた場合では、表面に保持された種々の厚さを有する基材の凹凸によってArガスの流れにわずかな乱れが生じ、放電が不安定になる。しかしながら、本発明に係る基材保持具を用いた場合、基材表面を同一平面に揃えられているため凹凸がほとんど存在せず、Arガスを攪拌する影響が最小限に抑制される。結果としてArガスの放電状態が安定し、均質な皮膜の形成につながる。
スパッタ成膜装置においては、真空槽2内において、基材保持具1とスパッタリングターゲット3が対向配置されていれば位置関係については特に制限されない。しかしながら、基材保持具1をスパッタリングターゲット3より下方に設置した場合、真空槽2の真空状態を解いてパージガス(大気または乾燥窒素等)を導入した際に、基材表面にわずかな汚染物質が落下し付着するおそれがある。そのため、図5および6に示すように、スパッタリングターゲット3より上方に基材保持具1を設置することが望ましい。
さらに、図5および6に示すようにスパッタリングターゲット3は1種としても良いが、基材表面に多層膜を形成したい場合は、図7に示すように複数のスパッタリングターゲット3を備えても良い。
以上により、図1〜7を用いて本発明に係る基材保持具およびそれを備えた成膜装置の説明を行ったが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではない。
本発明によれば、厚さおよび形状が異なる複数の基材の表面に対して同時に均一な皮膜を形成することが可能である。したがって、本発明に係る基材保持具およびそれを備える成膜装置は、構造および組成が制御された皮膜を有する標準試料を作製するのに好適に用いることができる。
1.基材保持具
2.真空槽
3.スパッタリングターゲット
11.基材
11a 被成膜面
12.空間
13.貫通孔
21.本体部
22.固定部
23.スペーサー部
31.ネジ
32.伝熱体

Claims (8)

  1. 基材表面に成膜を行う装置に設置される基材保持具であって、
    該基材を保持するための空間が形成されていると共に、1つ以上の貫通孔を有し、
    該基材が、該空間中において、該貫通孔の少なくとも一部を塞ぐように保持される、基材保持具。
  2. 前記基材保持具を前記装置に設置するための本体部と、
    該基材を固定するための固定部とを備え、
    前記空間は、該固定部が該本体部に、スペーサー部を介して着脱可能に装着されることによって、該固定部と該本体部との間に形成され、
    前記貫通孔は、該固定部に設けられる、請求項1に記載の基材保持具。
  3. 前記本体部が前記基材を加熱するための熱源を有すると共に、
    前記本体部と前記固定部に固定された前記基材との間隙を充填し、該熱源から前記基材に熱を伝えるための伝熱体をさらに備える、請求項1または請求項2に記載の基材保持具。
  4. 真空槽と、該真空槽内に設置された請求項1から請求項3までのいずれかに記載の基材保持具とを備える、成膜装置。
  5. 該真空槽内に設置され、前記基材保持具に対向配置されたスパッタリングターゲットをさらに備える、請求項4に記載の成膜装置。
  6. 前記真空槽内において、前記基材保持具が回動可能に設置される、請求項4または請求項5に記載の成膜装置。
  7. 前記真空槽内において、前記スパッタリングターゲットより上方に前記基材保持具が設置される、請求項5または請求項6に記載の成膜装置。
  8. 前記スパッタリングターゲットを複数備える、請求項5から請求項7までのいずれかに記載の成膜装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022181434A1 (ja) * 2021-02-26 2022-09-01 株式会社フルヤ金属 粉末表面成膜装置及び被覆粉末の製造方法

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62136238A (ja) * 1985-12-10 1987-06-19 Mitsubishi Electric Corp スパツタリング装置
JPH0297670A (ja) * 1988-09-30 1990-04-10 Toshiba Corp 薄膜製造装置
JPH02263975A (ja) * 1989-04-03 1990-10-26 Fujitsu Ltd 超伝導体膜パターン形成方法
JP2002080961A (ja) * 2000-06-22 2002-03-22 Matsushita Electric Works Ltd 真空蒸着装置及び真空蒸着方法
JP2004091913A (ja) * 2002-07-10 2004-03-25 Sony Corp 成膜装置および成膜方法
JP2005154853A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Nikon Corp 成膜装置の回転装置
JP2005163128A (ja) * 2003-12-04 2005-06-23 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 薄膜形成方法
JP2008240025A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Kyoto Univ 薄膜形成装置、薄膜形成方法、分極反転可能化方法、強誘電特性測定方法、薄膜、およびキャパシタ構造
JP2008248311A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp 真空蒸着装置
JP2009013437A (ja) * 2007-06-29 2009-01-22 Fujifilm Corp 基板ホルダ及び真空成膜装置
JP2009091628A (ja) * 2007-10-09 2009-04-30 Fujinon Corp パーティクル付着防止カバー、このパーティクル付着防止カバーを設けた蒸着装置及び蒸着方法
JP2009200241A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Ulvac Japan Ltd 基板保持装置、基板ホルダ、真空処理装置、基板の温度制御方法
JP2009238869A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Ulvac Japan Ltd 搬送トレー及びこの搬送トレーを用いた真空処理装置
JP2011144422A (ja) * 2010-01-14 2011-07-28 Showa Denko Kk スパッタリング装置および半導体発光素子の製造方法
JP2012012689A (ja) * 2010-07-05 2012-01-19 Canon Inc 真空蒸着方法及び真空蒸着装置
JP2012167303A (ja) * 2011-02-10 2012-09-06 Toyota Motor Corp 薄膜固体電池製造用スパッタ装置及び薄膜固体電池の製造方法
WO2014036234A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 Corning Incorporated Holding device and method for coating optical element

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62136238A (ja) * 1985-12-10 1987-06-19 Mitsubishi Electric Corp スパツタリング装置
JPH0297670A (ja) * 1988-09-30 1990-04-10 Toshiba Corp 薄膜製造装置
JPH02263975A (ja) * 1989-04-03 1990-10-26 Fujitsu Ltd 超伝導体膜パターン形成方法
JP2002080961A (ja) * 2000-06-22 2002-03-22 Matsushita Electric Works Ltd 真空蒸着装置及び真空蒸着方法
JP2004091913A (ja) * 2002-07-10 2004-03-25 Sony Corp 成膜装置および成膜方法
JP2005154853A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Nikon Corp 成膜装置の回転装置
JP2005163128A (ja) * 2003-12-04 2005-06-23 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 薄膜形成方法
JP2008240025A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Kyoto Univ 薄膜形成装置、薄膜形成方法、分極反転可能化方法、強誘電特性測定方法、薄膜、およびキャパシタ構造
JP2008248311A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp 真空蒸着装置
JP2009013437A (ja) * 2007-06-29 2009-01-22 Fujifilm Corp 基板ホルダ及び真空成膜装置
JP2009091628A (ja) * 2007-10-09 2009-04-30 Fujinon Corp パーティクル付着防止カバー、このパーティクル付着防止カバーを設けた蒸着装置及び蒸着方法
JP2009200241A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Ulvac Japan Ltd 基板保持装置、基板ホルダ、真空処理装置、基板の温度制御方法
JP2009238869A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Ulvac Japan Ltd 搬送トレー及びこの搬送トレーを用いた真空処理装置
JP2011144422A (ja) * 2010-01-14 2011-07-28 Showa Denko Kk スパッタリング装置および半導体発光素子の製造方法
JP2012012689A (ja) * 2010-07-05 2012-01-19 Canon Inc 真空蒸着方法及び真空蒸着装置
JP2012167303A (ja) * 2011-02-10 2012-09-06 Toyota Motor Corp 薄膜固体電池製造用スパッタ装置及び薄膜固体電池の製造方法
WO2014036234A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 Corning Incorporated Holding device and method for coating optical element

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022181434A1 (ja) * 2021-02-26 2022-09-01 株式会社フルヤ金属 粉末表面成膜装置及び被覆粉末の製造方法
JP2022131218A (ja) * 2021-02-26 2022-09-07 株式会社フルヤ金属 粉末表面成膜装置及び被覆粉末の製造方法

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