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JP2015505163A - 伝導冷却型高出力半導体レーザーおよびその製造方法 - Google Patents

伝導冷却型高出力半導体レーザーおよびその製造方法 Download PDF

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Abstract

伝導冷却型高出力半導体レーザーおよびその製造方法である。当該伝導冷却型高出力半導体レーザーは、放熱器(2)と一または二以上の半導体レーザーユニット(1)を備える。半導体レーザーユニットはチップ(3)、チップに溶接され、放熱・導電の作用を果す基板(4)、及び基板に溶接され、絶縁・放熱の作用を果す絶縁シート(5)からなり、半導体レーザーユニットは絶縁シートを介して放熱器に溶接されている。半導体レーザーユニットに対して、事前にテスト、エージング、選別を行うことで、レーザーの歩留まりを向上させ、製造コストを節約することができる。当該レーザーは、放熱性がよく、信頼性が高く、高温などの複雑で変化の多い環境に適用する。
【選択図】図4

Description

本発明は、半導体レーザーに関し、伝導冷却型高出力半導体レーザーおよびその製造方法であり、レーザー技術の分野に属する。
半導体レーザーは、ダイオードレーザー(DL)とも呼ばれる。高出力半導体レーザーは、小型、軽量、高電気−光変換効率、高信頼性、長寿命などの利点を有し、且つ電気駆動を用いるため、さまざまな場面で使いやすいので、高出力半導体レーザーは、例えばレーザー加工、レーザー通信、医療、美容、科学研究、軍事防衛、レーザーエンターテイメントショーなどの幅広い分野に適用できる。多くの適用される場合において、半導体レーザーが長寿命、高い安定性、高い信頼性および長期保存という特徴を有することが求められている。半導体レーザーに長期間にわたる使用において効率的な働きをどのように維持させるかは、半導体レーザー自体とパッケージング技術にとって大きな課題になる。
伝導冷却方式や硬質はんだパッケージング技術を用いることで、軟質はんだパッケージングに起因するエレクトロマイグレーションと電熱マイグレーションによる失効を回避する一方、長期保存及び極端な環境下でも安定して働く要件を満たすことができるため、伝導冷却型半導体レーザーは航空・宇宙、自由空間通信、加工、高温ポンピング固体/光ファイバーレーザーなどの分野で広く用いられることが期待されている。
図1は、複数のチップと複数の銅タングステンとを同時に溶接してから、全体として絶縁導熱シートに溶接してなるモジュールを、放熱器に溶接することで得られる従来の伝統的な伝導冷却型半導体レーザースタックアレイの製造プロセスである。この構造には以下の欠点がある。
(1)歩留まりが低い。複数のチップと複数の銅タングステンシートとを同時に溶接する際に、そのうちの一つのチップが破損すると、その製品が使用できなくなるため、製品の歩留まりは非常に低い。
(2)放熱性と信頼性に劣る。溶接した複数のチップと複数の銅タングステンを絶縁導熱シートに溶接する際に、溶接プロセスが複雑であるため、中間に位置する銅タングステンシートを絶縁導熱シートに溶接しにくいので、この構造を有する製品は放熱性と信頼性に劣る。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を克服し、従来技術における伝導冷却型高出力半導体レーザーの歩留まりが低く、放熱性と信頼性に劣るなどの課題を解決できる、伝導冷却型高出力半導体レーザー及びその製造方法を提供することにある。
本発明の目的は、以下の技術案で実現される。
放熱器と一又は二以上の半導体レーザーユニットを備える伝導冷却型高出力半導体レーザーであって、前記半導体レーザーユニットは、チップと、該チップに溶接され、放熱・導電の作用を果す基板と、該基板に溶接され、絶縁・放熱の作用を果す絶縁シートとからなり、前記半導体レーザーユニットは前記絶縁シートを介して放熱器に溶接されていることを特徴とする。
前記半導体レーザーユニットは、テスト、エージング及び選別を経た半導体レーザーユニットである。
前記チップは単管チップ(シングルエミッタ)、ショートアレイ(例えば、ミニバーとハーフバー、標準センチメートルバー)又は複数の単管チップセットである。
前記基板の材質が導電性を有し、かつ熱伝導率が170W/(m・K)より高い材料(例えば、銅、銅タングステン、モリブデン銅、銅ダイヤモンドなどの金属材料又は金属基複合材料)である。
前記絶縁シートの熱伝導率が120W/(m・K)より高く、セラミック(例えば、AlN、BeO)、ダイヤモンドなどの材料であってもよい。
前記放熱器は水冷、空冷、電子冷却、又はそのうちの二種以上の放熱方式を組み合わせる放熱構造である。
上記放熱器の数は一つでもよく、二以上であってもよい。
前記伝導冷却高出力半導体レーザーを製造する方法は、以下のステップを含む。即ち、
単管チップ又はショートアレイ(例えば、ミニバーとハーフバーまたは標準センチメートルバー)を放熱・導電の作用を有する基板に実装し、前記基板を絶縁・放熱の作用を有する絶縁シートに実装して、半導体レーザーユニットを製造するステップ1、
半導体レーザーユニットに対して、テスト、エージング、選別を行うステップ2、
選別を経て合格した複数の半導体レーザーユニットを、絶縁シートを介して放熱器に実装して、伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造するステップ3
を含む。
上記伝導冷却高出力半導体レーザーを製造するほかの方法として、以下のステップを含む。即ち、
単管チップ又はショートアレイ(例えば、ミニバーとハーフバーまたは標準センチメートルバー)を放熱・導電の作用を有する基板に実装し、前記基板を絶縁・放熱の作用を有する絶縁シートに実装して、半導体レーザーユニットを製造するステップ1、
前記半導体レーザーユニットに対して、テスト、エージング及び選別を行うステップ2、
選別を経て合格した複数の前記半導体レーザーユニット同士を溶接してから、溶接によって一体になった複数の前記半導体レーザーユニットを、前記絶縁シートを介して放熱器に実装して、伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造するステップ3
を含む。
本発明は、以下の有益な効果を有する。
(1)低コスト。半導体レーザーユニットは、事前にそれぞれテスト、エージング、選別を行うため、製造過程における歩留まりを向上させ、コストを大いに節約する。
(2)良好な放熱性。半導体レーザーユニットは、それぞれ放熱器に溶接されるため、各半導体レーザーユニットと放熱器との接触がよいことを確保できるため、放熱性を著しく向上させ、放熱効率が高い。
(3)半導体レーザーユニットのそれぞれに対して、単独にテスト、エージングを行ってから、性能に合格したことがわかった半導体レーザーユニットを選別し、それを放熱器に実装するため、製造された伝導冷却型高出力半導体レーザーが既知の良好な性能を有することを保証できる。
(4)高い信頼性。高温などの複雑で変化の多い環境に適用する。
従来の伝導冷却高出力半導体レーザーの製造方法の概略図である。 本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーの第1の製造方法の概略図である。 本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーの第2の製造方法の概略図である。 本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーの構造の概略図である。 製造された伝導冷却型高出力半導体レーザーに対して、50℃で出力をテストした結果を示すグラフである。 製造された伝導冷却型高出力半導体レーザーに対して、50℃で光強度をテストした結果を示すグラフである。
1 半導体レーザーユニット
2 放熱器
3 チップ
4 基板
5 絶縁シート
以下、図面を参照して、本発明をさらに詳しく説明する。
図2は、本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーの第1の製造方法を示す概略図である。
(1)半導体レーザーチップを放熱・導電の作用を果す基板に実装し、当該基板を絶縁シートに実装して、半導体レーザーユニットを製造する。
(2)半導体レーザーユニットに対して、テスト、エージング、選別を行う。
(3)選別を経て合格した複数の半導体レーザーユニットを、絶縁層を介して放熱器に実装して、伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造する。
図3は、本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーの第2の製造方法を示す概略図である。
(1)半導体レーザーチップを放熱・導電の作用を果す基板に実装し、当該基板を絶縁シートに実装して、半導体レーザーユニットを製造する。
(2)半導体レーザーユニットに対して、テスト、エージング、選別を行う。
(3)選別を経て合格した複数の半導体レーザーユニット同士を溶接してから、溶接によって一体になった複数の半導体レーザーユニットを、絶縁シートを介して放熱器に実装して、伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造する。
図4は本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーの概略図であって、当該伝導冷却型高出力半導体レーザーは、半導体レーザーユニット1と放熱器2を備える。
当該半導体レーザーユニット1は放熱器2に溶接されている。
半導体レーザーユニット1はチップ3と、チップ3に溶接され、放熱・導電の作用を果す基板4と、基板4に溶接された絶縁シート5とからなり、半導体レーザーユニット1は絶縁シート5を介して放熱器2に溶接されている。
半導体レーザーユニット1の数は一又は二以上である。
半導体レーザーユニット1は、テスト、エージング、選別を経て選ばれた、性能に合格したことがわかった半導体レーザーユニットである。
チップ3は、単管チップや、例えば、ミニバーとハーフバー、標準センチメートルバーといったショートアレイであってよく、或は、複数の単管チップセットであってもよい。
基板4の材質は導電性を有し、かつ高い熱伝導率性能を有する材料であって、銅、銅タングステン、モリブデン銅、銅ダイヤモンドなどの金属材料または金属基複合材料であってよい。
絶縁シート5の材質は絶縁で高い熱伝導率を有する材料であって、セラミック(例えば、AlN、BeO)、ダイヤモンドなどの材料であってよい。
放熱器2は高い熱伝導率を有する材料を用いて冷却するものであってよく、水冷、空冷、電子冷却、またはそのうちの2種以上の方式を組み合わせることで放熱してもよい。
本発明の原理は、以下の通りである。
外部電源を通じて電流を半導体レーザーチップに印加し、半導体レーザーチップにおいて発生した熱は基板を通して絶縁シートに伝導して、さらに放熱器に伝導して放熱される。
本発明では、チップを基板に溶接してから、基板に絶縁シートを溶接することで、半導体レーザーユニットを製造する。半導体レーザーユニットに対して、単独にエージング、テスト、選別を行い、且つ、異なる波長のチップを使用できるため、スペクトルレンジが広く、多波長の出力が実現される。
本発明の伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造する方法によれば、伝導冷却型高出力半導体レーザーが製造される。図4に示すように、出力が200ワットであるバーチップを6個使用して、その6個のバーチップを直列接続する構造となる。図5は、製造された伝導冷却型高出力半導体レーザーに対して、50℃で出力をテストした結果を示すグラフである。図5から分かるように、50℃で、当該伝導冷却型半導体レーザーの出力ピークが1194ワットであり、変換効率は52%に達した。図6は、製造された伝導冷却型高出力半導体レーザーに対して、50℃で光強度をテストした結果を示すグラフである。図6から分かるように、50℃で、当該伝導冷却型半導体レーザーの半値全幅が非常に狭く、2.93nmである。これで分かるように、当該伝導冷却型半導体レーザーは、放熱性が良好で、デューティ比の高い環境および高温環境に適用可能である。

Claims (9)

  1. 放熱器と一又は二以上の半導体レーザーユニットを備える伝導冷却型高出力半導体レーザーであって、前記半導体レーザーユニットは、チップと、該チップに溶接され、放熱・導電の作用を果す基板と、該基板に溶接され、絶縁・放熱の作用を果す絶縁シートとからなり、前記半導体レーザーユニットは前記絶縁シートを介して放熱器に溶接されていることを特徴とする伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  2. 前記半導体レーザーユニットは、テスト、エージング及び選別を経た半導体レーザーユニットであることを特徴とする請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  3. 前記チップは、単管チップ、ショートアレイまたは複数の単管チップセットであることを特徴とする請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  4. 前記基板の材質が導電性を有し、かつ熱伝導率が170W/(m・K)より高い材料であることを特徴とする請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  5. 前記絶縁シートの熱伝導率が120W/(m・K)より高いことを特徴とする請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  6. 前記放熱器は水冷、空冷、電子冷却、又はそのうちの二種以上の放熱方式を組み合わせた放熱構造であることを特徴とする請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  7. 前記放熱器の数は一又は二以上であることを特徴とする請求項6に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザー。
  8. 請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造する方法であって、
    単管チップ又はショートアレイを放熱・導電の作用を有する基板に実装し、前記基板を絶縁・放熱の作用を有する絶縁シートに実装して、半導体レーザーユニットを製造するステップ1と、
    前記半導体レーザーユニットに対して、テスト、エージング及び選別を行うステップ2と、
    選別を経て合格した複数の前記半導体レーザーユニットを、前記絶縁シートを介して放熱器に実装して、伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造するステップ3と、を含む方法。
  9. 請求項1に記載の伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造する方法であって、
    単管チップ又はショートアレイを放熱・導電の作用を有する基板に実装し、前記基板を絶縁・放熱の作用を有する絶縁シートに実装して、半導体レーザーユニットを製造するステップ1と、
    前記半導体レーザーユニットに対して、テスト、エージング及び選別を行うステップ2と、
    選別を経て合格した複数の前記半導体レーザーユニット同士を溶接してから、溶接によって一体になった複数の前記半導体レーザーユニットを、前記絶縁シートを介して放熱器に実装して、伝導冷却型高出力半導体レーザーを製造するステップ3と、を含む方法。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102570291B (zh) 2011-12-20 2014-10-08 西安炬光科技有限公司 一种传导制冷型高功率半导体激光器及其制备方法
CN103532006A (zh) * 2013-10-21 2014-01-22 重庆航伟光电科技有限公司 一种半导体激光器
US11160855B2 (en) * 2014-01-21 2021-11-02 Pfizer Inc. Immunogenic compositions comprising conjugated capsular saccharide antigens and uses thereof
CN104836112B (zh) * 2015-04-17 2018-07-10 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 一种单管半导体激光器串联结构的绝缘散热装置
CN105182548A (zh) * 2015-10-30 2015-12-23 山东华光光电子有限公司 一种便于光纤整形的高性能半导体激光器及其封装方法
CN108336640B (zh) * 2017-01-20 2024-02-09 山东华光光电子股份有限公司 一种高功率半导体激光器及其制备方法
CN109244825B (zh) * 2018-09-26 2020-04-17 华南师范大学 带有散热结构的边发射半导体激光器及其制备方法
CN115494896B (zh) * 2022-11-17 2023-03-14 清华大学合肥公共安全研究院 一种激光器的升温控制方法、装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5305344A (en) * 1993-04-29 1994-04-19 Opto Power Corporation Laser diode array
JPH11296005A (ja) * 1998-04-15 1999-10-29 Sumitomo Electric Ind Ltd 加熱定着装置
JPH11340581A (ja) * 1998-04-30 1999-12-10 Cutting Edge Optronics Inc レ―ザダイオ―ドパッケ―ジング
JP2002540640A (ja) * 1999-03-29 2002-11-26 カッティング エッジ オプトロニクス, インコーポレイテッド レーザーダイオードのパッケージング
JP2003037074A (ja) * 2001-07-26 2003-02-07 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005234464A (ja) * 2004-02-23 2005-09-02 Tdk Corp 光トランシーバ及びこれに用いる光モジュール
JP2009187995A (ja) * 2008-02-04 2009-08-20 Fuji Xerox Co Ltd 光伝送モジュール
JP2010151794A (ja) * 2008-11-27 2010-07-08 Panasonic Corp 電子部品試験装置
JP2010258052A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Fuji Xerox Co Ltd 面発光型半導体レーザ素子のバーンイン方法およびそのプログラム
JP2011134947A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Toyota Central R&D Labs Inc 横型半導体装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4393393A (en) * 1979-08-13 1983-07-12 Mcdonnell Douglas Corporation Laser diode with double sided heat sink
US5099488A (en) * 1991-03-27 1992-03-24 Spectra Diode Laboratories, Inc. Ribbed submounts for two dimensional stacked laser array
US5764675A (en) * 1994-06-30 1998-06-09 Juhala; Roland E. Diode laser array
JP3816194B2 (ja) * 1996-11-22 2006-08-30 ファナック株式会社 冷却装置、光源装置、面発光装置、およびその製造方法
US6424667B1 (en) * 1998-12-04 2002-07-23 Jds Uniphase Corporation Solder and material designs to improve resistance to cycling fatigue in laser diode stacks
CA2284946A1 (en) * 1999-10-04 2001-04-04 Institut National D'optique Laser diode array assembly made from a ridged monolithic substrate
JP2005085824A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Fanuc Ltd 冷却装置、その製造方法および半導体レーザ装置
JP4037815B2 (ja) * 2003-09-29 2008-01-23 オムロンレーザーフロント株式会社 レーザダイオードモジュール、レーザ装置、及びレーザ加工装置
US7515346B2 (en) * 2006-07-18 2009-04-07 Coherent, Inc. High power and high brightness diode-laser array for material processing applications
US7864825B2 (en) * 2006-08-10 2011-01-04 Lasertel, Inc. Method and system for a laser diode bar array assembly
CN201199606Y (zh) * 2008-01-30 2009-02-25 深圳世纪晶源光子技术有限公司 半导体激光器的封装结构
CN201927886U (zh) * 2010-06-11 2011-08-10 西安炬光科技有限公司 一种可替换芯片的水平阵列大功率半导体激光器
CN102255236A (zh) * 2011-05-18 2011-11-23 西安炬光科技有限公司 一种高功率半导体激光器线路封装结构及制备方法
CN202503191U (zh) * 2011-12-20 2012-10-24 西安炬光科技有限公司 一种传导冷却型高功率半导体激光器
CN102570291B (zh) * 2011-12-20 2014-10-08 西安炬光科技有限公司 一种传导制冷型高功率半导体激光器及其制备方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5305344A (en) * 1993-04-29 1994-04-19 Opto Power Corporation Laser diode array
JPH11296005A (ja) * 1998-04-15 1999-10-29 Sumitomo Electric Ind Ltd 加熱定着装置
JPH11340581A (ja) * 1998-04-30 1999-12-10 Cutting Edge Optronics Inc レ―ザダイオ―ドパッケ―ジング
JP2002540640A (ja) * 1999-03-29 2002-11-26 カッティング エッジ オプトロニクス, インコーポレイテッド レーザーダイオードのパッケージング
JP2003037074A (ja) * 2001-07-26 2003-02-07 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005234464A (ja) * 2004-02-23 2005-09-02 Tdk Corp 光トランシーバ及びこれに用いる光モジュール
JP2009187995A (ja) * 2008-02-04 2009-08-20 Fuji Xerox Co Ltd 光伝送モジュール
JP2010151794A (ja) * 2008-11-27 2010-07-08 Panasonic Corp 電子部品試験装置
JP2010258052A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Fuji Xerox Co Ltd 面発光型半導体レーザ素子のバーンイン方法およびそのプログラム
JP2011134947A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Toyota Central R&D Labs Inc 横型半導体装置

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