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JP2015184440A - Antireflection article and image display device - Google Patents

Antireflection article and image display device Download PDF

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JP2015184440A
JP2015184440A JP2014060141A JP2014060141A JP2015184440A JP 2015184440 A JP2015184440 A JP 2015184440A JP 2014060141 A JP2014060141 A JP 2014060141A JP 2014060141 A JP2014060141 A JP 2014060141A JP 2015184440 A JP2015184440 A JP 2015184440A
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JP
Japan
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fine
layer
meth
acrylate
resin composition
Prior art date
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Pending
Application number
JP2014060141A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
橋本 俊一
Shunichi Hashimoto
俊一 橋本
かおる 宮崎
Kaoru Miyazaki
かおる 宮崎
林 慎二
Shinji Hayashi
慎二 林
一樹 播戸
Kazuki Harito
一樹 播戸
祐一 宮崎
Yuichi Miyazaki
祐一 宮崎
洋一郎 大橋
Yoichiro Ohashi
洋一郎 大橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2014060141A priority Critical patent/JP2015184440A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an antireflection article designed such that soil on its surface can easily be wiped regardless of wiping with water or dry-wiping and nebula after wiping is inhibited.SOLUTION: An antireflection object is formed of a hardened resin composition, and has a fine rugged layer having on its surface fine recessed and projecting shapes with groups of minute projections, in which the minute projects are arranged in close contact with one another. The minute projections has a relation of d(the maximum value of the interval d between adjacent projections)≤Λ(the shortest wavelength of a wavelength area of light used for antireflection). The minute projections have a tapering structure. The angle of the contact between the fine rugged surface of the fine rugged layer and water is not smaller than 15 degrees. The average of horizontal force measured during 25 to 40 sec after indenter movement when an indenter pressed at a press depth of 55 to 75% of the average projection height Hof each of the minute projections is horizontally moved at a temperature of 25°C or below and at speed of 1 μm/15 sec is 8.0 μN or less in the fine rugged surface.

Description

本発明は、反射防止物品及び画像表示装置に関するものである。   The present invention relates to an antireflection article and an image display device.

近年、フィルム形状の反射防止物品である反射防止フィルムに関して、透明基材(透明フィルム)の表面に多数の微小突起を密接して配置することにより、反射防止を図る方法が提案されている(特許文献1〜3参照)。この方法は、入射光に対する屈折率を厚み方向に連続的に変化させ、これにより屈折率の不連続界面を消失させて反射防止を図るものである。   In recent years, regarding an antireflection film, which is a film-shaped antireflection article, there has been proposed a method for preventing reflection by arranging a large number of microprotrusions closely on the surface of a transparent substrate (transparent film) (patent) References 1-3). In this method, the refractive index with respect to incident light is continuously changed in the thickness direction, thereby eliminating the discontinuous interface of the refractive index and preventing reflection.

多数の微小突起を有する上記フィルムは、高い反射防止性能を有する。しかしながら、その表面構造のため、皮脂等の汚れが付着し易く、また当該汚れは微小突起間の溝奥まで入り込むため、除去が困難であり、表面外観が悪化し易いという問題があった。   The film having a large number of microprojections has high antireflection performance. However, due to its surface structure, dirt such as sebum is likely to adhere, and the dirt penetrates into the groove between the microprotrusions, so that it is difficult to remove and the surface appearance tends to deteriorate.

特許文献4では、汚染物の除去性に優れるとともに、耐擦傷性を兼備する微細凹凸構造体として、特定の活性エネルギー線硬化性樹脂組成物の硬化物からなる微細凹凸構造体が記載されている。特許文献4には、上記特定の樹脂組成物の硬化物は、当該樹脂組成物が特定の組成を有することにより、架橋密度を高くして、硬化物の弾性率と硬度を高くし、耐擦傷性に優れたものとすることができること、及び、適度な親水性を有し、微細凹凸構造体の表面と、当該表面に付着する汚染物との間に水を侵入させやすくすることにより汚染物の除去性に優れること、が記載されている。
特許文献4の手法によれば、架橋密度を高くして微細凹凸構造体の硬度を上げているため当該微細凹凸構造体は変形しにくく、拭取り時に、微細凹凸構造体の隙間まで届きにくかった。そのため、汚染物を拭き取る際は、水やアルコールを含んだクリーナー等で汚れを浮かび上がらせて拭取る必要があり、乾拭きでは汚染物を除去できなかった。
Patent Document 4 describes a fine concavo-convex structure made of a cured product of a specific active energy ray-curable resin composition as a fine concavo-convex structure excellent in contaminant removal and also having scratch resistance. . In Patent Document 4, the cured product of the specific resin composition described above has a specific composition, whereby the crosslink density is increased, the elastic modulus and hardness of the cured product are increased, and the scratch resistance is increased. Contaminant by making it easy to allow water to enter between the surface of the fine concavo-convex structure and the contaminant adhering to the surface. It is described that it has excellent removability.
According to the method of Patent Document 4, since the cross-linking density is increased to increase the hardness of the fine concavo-convex structure, the fine concavo-convex structure is difficult to deform, and it is difficult to reach the gaps of the fine concavo-convex structure during wiping. . Therefore, when wiping off the contaminants, it is necessary to lift off the dirt with a cleaner or the like containing water or alcohol, and the contaminants cannot be removed by dry wiping.

一方、特許文献5には、基体の表面に微細な凹凸を有する構造体を備えた反射防止機能を有する光学素子において、構造体に付着した汚れを乾拭きにより除去することができるように、当該構造体を形成する材料の弾性率と当該構造体のアスペクト比を特定の範囲内とした旨が記載されている。特許文献5には、表面を拭き取る際に構造体が変形し、構造体間にしみこんだ汚れが押し出されて、汚れの除去が可能となる旨が記載されている。   On the other hand, in Patent Document 5, in an optical element having an antireflection function provided with a structure having fine irregularities on the surface of a substrate, the structure is attached so that dirt attached to the structure can be removed by wiping. It is described that the elastic modulus of the material forming the body and the aspect ratio of the structure are within a specific range. Patent Document 5 describes that when the surface is wiped off, the structure is deformed, and dirt that has penetrated between the structures is pushed out, so that the dirt can be removed.

特開昭50−70040号公報Japanese Patent Laid-Open No. 50-70040 特表2003−531962号公報Special Table 2003-531962 特許第4632589号公報Japanese Patent No. 4632589 国際公開第2012/096322号パンフレットInternational Publication No. 2012/096322 Pamphlet 特許第5075234号公報Japanese Patent No. 5075234

しかしながら本発明者らは、特許文献5に記載されるように、構造体を形成する材料の弾性率と当該構造体のアスペクト比を特定の範囲内とした場合でも、汚れを除去できなかったり、拭き作業後に白濁する場合があることを知見した。このように、従来の反射防止物品は、水拭き及び乾拭きのいずれにおいても、物性を維持しながら表面に付着した汚れの除去性を十分なものにすることは困難であった。
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、水拭き及び乾拭きのいずれにおいても、表面に付着した汚れを容易に拭き取ることができ、更に拭き作業後の白濁が抑制された反射防止物品及び当該反射防止物品を備えた画像表示装置を提供することを目的とする。
However, as described in Patent Document 5, the present inventors cannot remove dirt even when the elastic modulus of the material forming the structure and the aspect ratio of the structure are within a specific range, It has been found that it may become cloudy after wiping work. Thus, it has been difficult for conventional antireflection articles to have sufficient removal of dirt adhered to the surface while maintaining physical properties in both water wiping and dry wiping.
The present invention has been made in view of the above problems, and can be easily wiped off dirt adhering to the surface in both water wiping and dry wiping, and further anti-reflective article in which white turbidity after wiping work is suppressed. And it aims at providing the image display apparatus provided with the said reflection preventing article.

本発明に係る反射防止物品は、樹脂組成物の硬化物からなり、且つ複数の微小突起が密接して配置されてなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を表面に有する微細凹凸層、を備えた反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起の隣接突起間隔dの最大値をdmaxとしたときに、
max≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有し、
前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面における、水の接触角が15度以上であり、
前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面において、前記微小突起の平均突起高さHAVGの55%〜75%の押し込み深さで押し込んだ圧子を、25℃の温度下、1μm/15秒の速度で水平方向に移動させたときの当該圧子移動後25〜40秒の間に測定される水平力の平均が、8.0μN以下であることを特徴とする。
An antireflective article according to the present invention includes a fine concavo-convex layer having a fine concavo-convex shape on the surface, which is formed of a cured product of a resin composition and includes a group of microprotrusions in which a plurality of microprotrusions are closely arranged. Anti-reflective article,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λ min and the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is d max ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojection in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojection is cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojection is It has a structure that increases gradually and gradually as it approaches the deepest part from the top,
The contact angle of water on the surface of the fine concavo-convex shape side of the fine concavo-convex layer is 15 degrees or more,
The surface of the fine irregularities side of the fine uneven layer, the indenter is pushed by the average projection height H 55% to 75% of the indentation depth of AVG of the microprojections, a temperature of 25 ° C., of 1 [mu] m / 15 sec The average of the horizontal force measured within 25 to 40 seconds after moving the indenter when moving in the horizontal direction at a speed is 8.0 μN or less.

本発明に係る画像表示装置は、表示パネルの少なくとも一面側に、前記本発明に係る反射防止物品を備えることを特徴とする。   The image display device according to the present invention includes the antireflection article according to the present invention on at least one side of a display panel.

本発明によれば、水拭き及び乾拭きのいずれにおいても、表面に付着した汚れを容易に拭き取ることができ、更に拭き作業後の白濁が抑制された反射防止物品及び当該反射防止物品を備えた画像表示装置を提供することができる。   According to the present invention, in any of water wiping and dry wiping, dirt attached to the surface can be easily wiped off, and further, an antireflection article in which white turbidity after wiping is suppressed and an image provided with the antireflection article A display device can be provided.

本発明に係る反射防止物品の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the anti-reflective article which concerns on this invention. 水平力の測定方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the measuring method of a horizontal force. ドロネー図の一例を模式的に示す図である。It is a figure which shows an example of a Delaunay diagram typically. 本発明に係る反射防止物品の製造方法の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the manufacturing method of the reflection preventing article which concerns on this invention. 本発明に係る画像表示装置の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the image display apparatus which concerns on this invention.

本明細書において「物品」は、「板」、「シート」、「フィルム」等の態様を含む概念であり、「板」、「シート」、「フィルム」の用語は、呼称の違いのみに基づいて、互いから区別されるものではない。
また、「フィルム面(板面、シート面)」とは、対象となるフィルム状(板状、シート状)の部材を全体的かつ大局的に見た場合において対象となるフィルム状部材(板状部材、シート状部材)の平面方向と一致する面のことを指す。
さらに、本明細書において用いる、形状や幾何学的条件並びにそれらの程度を特定する、例えば、「水平」、「直交」、「同一」等の用語や長さや角度の値等については、厳密な意味に縛られることなく、同様の機能を期待し得る程度の範囲を含めて解釈することとする。
本発明において(メタ)アクリルとは、アクリル又はメタアクリルの各々を表し、(メタ)アクリレートとは、アクリレート又はメタクリレートの各々を表し、(メタ)アクリロイルとは、アクリロイル又はメタクリロイルの各々を表す。
また、本発明において硬化物とは固化したもののことをいう。
In this specification, “article” is a concept including aspects such as “plate”, “sheet”, “film” and the like, and the terms “plate”, “sheet”, and “film” are based only on the difference in names. Are not distinguished from each other.
In addition, “film surface (plate surface, sheet surface)” means a target film-like member (plate-like) when the target film-like (plate-like, sheet-like) member is viewed as a whole and globally. It refers to a surface that coincides with the planar direction of the member (sheet-like member).
Further, as used in this specification, the shape and geometric conditions and the degree thereof are specified. For example, terms such as “horizontal”, “orthogonal”, “identical”, length and angle values, etc. are strictly Without being bound by meaning, it should be interpreted including the extent to which similar functions can be expected.
In the present invention, (meth) acryl represents each of acryl or methacryl, (meth) acrylate represents each of acrylate or methacrylate, and (meth) acryloyl represents each of acryloyl or methacryloyl.
Moreover, in this invention, hardened | cured material means what solidified.

本発明に係る反射防止物品は、樹脂組成物の硬化物からなり、且つ複数の微小突起が密接して配置されてなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を表面に有する微細凹凸層、を備えた反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起の隣接突起間隔dの最大値をdmaxとしたときに、
max≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有し、
前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面における、水の接触角が15度以上であり、
前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面において、前記微小突起の平均突起高さHAVGの55%〜75%の押し込み深さで押し込んだ圧子を、25℃の温度下、1μm/15秒の速度で水平方向に移動させたときの当該圧子移動後25〜40秒の間に測定される水平力の平均が、8.0μN以下であることを特徴とする。
An antireflective article according to the present invention includes a fine concavo-convex layer having a fine concavo-convex shape on the surface, which is formed of a cured product of a resin composition and includes a group of microprotrusions in which a plurality of microprotrusions are closely arranged. Anti-reflective article,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λ min and the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is d max ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojection in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojection is cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojection is It has a structure that increases gradually and gradually as it approaches the deepest part from the top,
The contact angle of water on the surface of the fine concavo-convex shape side of the fine concavo-convex layer is 15 degrees or more,
The surface of the fine irregularities side of the fine uneven layer, the indenter is pushed by the average projection height H 55% to 75% of the indentation depth of AVG of the microprojections, a temperature of 25 ° C., of 1 [mu] m / 15 sec The average of the horizontal force measured within 25 to 40 seconds after moving the indenter when moving in the horizontal direction at a speed is 8.0 μN or less.

上記本発明に係る反射防止物品について図を参照して説明する。図1は、本発明に係る反射防止物品の一例を模式的に示す断面図である。図1に示す反射防止物品10は、透明基材1の一面側に、微細凹凸形状を有する微細凹凸層2を有する。前記微細凹凸層2の微細凹凸形状側の表面は、微小突起3が集合してなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を有し、前記微小突起3は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起3の隣接突起間隔d(図1)の最大値をdmaxとしたときに、
max≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起3を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起3の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有している。微細凹凸層2がこのような構造を有することにより、Λmin以上の波長を有する光の反射防止を図ることができる。前記微細凹凸層2の微細凹凸形状側の表面を、以下単に微細凹凸面2aと称する場合がある。
The antireflection article according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an example of an antireflection article according to the present invention. An antireflection article 10 shown in FIG. 1 has a fine uneven layer 2 having a fine uneven shape on one surface side of a transparent substrate 1. The surface of the fine concavo-convex shape side of the fine concavo-convex layer 2 has a fine concavo-convex shape provided with a group of fine protrusions formed by a collection of microprotrusions 3, and the microprotrusions 3 have a wavelength band of light for preventing reflection. When the shortest wavelength is Λ min , and the maximum value of the adjacent protrusion interval d (FIG. 1) of the minute protrusion 3 is d max ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojections 3 in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojections are cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojections is 3 has a structure that increases gradually and gradually from the top to the deepest part. When the fine concavo-convex layer 2 has such a structure, it is possible to prevent reflection of light having a wavelength of Λ min or more. The surface of the fine uneven layer 2 on the fine uneven shape side may be simply referred to as a fine uneven surface 2a hereinafter.

また、本発明の反射防止物品は、水拭き及び乾拭きのいずれにおいても、表面に付着した汚れを容易に拭き取ることができ、拭き作業後の白濁が抑制されたものである。微細凹凸構造を有する表面において、汚れを十分に除去するためには、拭き作業をした際に微小突起が拭き取り方向に十分に動き、微小突起の挙動により微小突起間に入り込んだ汚れ成分を表面に浮き上がらせることが必要であると考えられる。また、拭き作業後に白濁が生じるのは、微小突起が拭き作業によって動いて、隣接する他の微小突起と接触したときに、水分等を介して微小突起同士が付着することに起因していると考えられる。それに対し、本発明者らは、微小突起を拭き取る方向となる、微小突起の深さと直交する水平面の方向に、前記微小突起を動かしたときの応力(本発明において「水平力」という)を特定することに着目した。
水平力は、微細凹凸層を構成する樹脂組成物の組成により決まる材料そのものの硬さでなく、微細凹凸形状のアスペクト比や、アスペクト比では特定することができない微小突起の細かい形状、例えば、先端が平坦面であるか又は尖っているか、微小突起の太さが太いか細いか等の影響を加味した数値として測定できる。一方で、特許文献5に記載される発明のように、引っ張り試験機を用いて測定される弾性率を規定するのみでは、測定対象となる物品の材料を規定することができるのみで、微細凹凸形状の違いを加味することはできない。また、圧子を微細凹凸層の深さ方向に押し込んで測定される弾性率では、下層の影響を受ける懸念があり、更に、微細凹凸形状の細かい違いまでは反映されない。本発明の反射防止物品は、前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面(微細凹凸面2a)における前記特定の水平力の平均を前記値以下とすることにより、各微小突起が拭き取り方向に十分に動きやすくなると推定される。
本発明においては、さらに、微細凹凸面における水の接触角が前記下限値以上であることにより、親水性が低いことから、拭き作業により互いに隣接する微小突起同士が接触した場合であっても、接触した部分同士の付着が抑制されると推定される。また、本発明においては、微細凹凸面に付着した汚れ成分を拭き作業で完全除去できなかったとしても、当該汚れ成分が濡れ広がることにより目立たなくする効果がある。これは、微細凹凸面が親油性を有することによるものと推定される。これらのため、本発明の反射防止物品は、乾拭き又は水拭きによる微小突起の挙動によって、微小突起間に入り込んだ汚れ成分を容易に表面まで浮き上がらせ、表面に付着した汚れを容易に拭き取ることができ、微細凹凸面に付着した汚れ成分が拭き取られずに少量残っていたとしても、当該汚れ成分は濡れ広がるため目立たず、更に、拭き作業をした場合であっても微小突起同士が付着しにくいため、拭き作業後の白濁が抑制されると考えられる。
Moreover, the anti-reflective article of this invention can wipe off the stain | pollution | contamination adhering to the surface easily in any of water wiping and dry wiping, and the white turbidity after the wiping operation | work is suppressed. In order to sufficiently remove dirt on the surface with a fine concavo-convex structure, the fine protrusions move sufficiently in the wiping direction when wiping is performed, and dirt components that have entered between the fine protrusions due to the behavior of the fine protrusions on the surface. It is considered necessary to make it rise. In addition, the cloudiness after the wiping work is caused by the fact that the minute protrusions move by the wiping work and when the minute protrusions come in contact with each other adjacent minute protrusions through moisture or the like. Conceivable. On the other hand, the present inventors specify the stress (referred to as “horizontal force” in the present invention) when the microprotrusions are moved in the direction of the horizontal plane perpendicular to the depth of the microprotrusions, which is the direction to wipe off the microprotrusions. Focused on doing.
The horizontal force is not the hardness of the material itself, which is determined by the composition of the resin composition constituting the fine concavo-convex layer, but the aspect ratio of the fine concavo-convex shape, or the fine shape of the microprojections that cannot be specified by the aspect ratio, for example, the tip Can be measured as a numerical value taking into account the influence of whether the surface is flat or pointed, and whether the thickness of the microprotrusions is thick or thin. On the other hand, as in the invention described in Patent Document 5, only by specifying the elastic modulus measured using a tensile tester, the material of the article to be measured can be specified, and fine irregularities The difference in shape cannot be taken into account. In addition, the elastic modulus measured by pushing the indenter in the depth direction of the fine concavo-convex layer may be affected by the lower layer, and further, fine differences in the fine concavo-convex shape are not reflected. In the antireflection article of the present invention, the average of the specific horizontal force on the surface of the fine concavo-convex shape side of the fine concavo-convex layer (the fine concavo-convex surface 2a) is set to be equal to or less than the above value, so that each minute protrusion is sufficiently in the wiping direction. It is estimated that it becomes easy to move.
In the present invention, since the water contact angle on the fine uneven surface is more than the lower limit value, since the hydrophilicity is low, even when the microprotrusions adjacent to each other by the wiping work, It is estimated that adhesion between the contacted parts is suppressed. Moreover, in this invention, even if it cannot completely remove the stain | pollution | contamination component adhering to the fine uneven surface by the wiping operation, there exists an effect which makes the said stain | pollution | contamination component wet and spread, and becomes inconspicuous. This is presumably due to the fact that the fine uneven surface has lipophilicity. For these reasons, the antireflective article of the present invention can easily lift the dirt component that has entered between the microprotrusions to the surface by the behavior of the microprotrusions by dry wiping or water wiping, and easily wipe off the dirt adhering to the surface. Even if a small amount of the dirt component adhering to the fine uneven surface remains without being wiped off, the dirt component is not noticeable because it spreads wet, and even when wiping is performed, the minute protrusions are not easily attached to each other For this reason, it is considered that the cloudiness after the wiping operation is suppressed.

<微細凹凸層>
本発明に係る反射防止物品が備える微細凹凸層は、樹脂組成物の硬化物からなり、且つ複数の微小突起が密接して配置されてなる微小突起群を備えた前記微細凹凸形状を表面に有する。
また、前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面において、前記微小突起の平均突起高さHAVGの55%〜75%の押し込み深さで押し込んだ圧子を、25℃の温度下、1μm/15秒の速度で水平方向に移動させたときの当該圧子移動後25〜40秒の間に測定される水平力の平均が、8.0μN以下である。ここで、前記微小突起の平均突起高さHAVGの55%〜75%の押し込み深さで押し込んだとは、前記微小突起の先端から平均突起高さHAVGの55%〜75%の長さ分だけ微小突起の深さ方向に押し込んだことをいう。また、水平方向に移動とは、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面の方向に移動することをいう。
本発明において、前記微細凹凸面における水平力とは、図2に示すように、微細凹凸面に押し込んだ圧子5を、25℃の温度下、1μm/15秒の速度で水平方向に移動させたときに測定される応力をいう。当該応力は、例えば、ナノインデンター(例えばHYSITRON製 TI 950 TriboIndenter)により、先端稜角105°のバーコビッチ型の圧子を用いて測定することができる。圧子移動後25〜40秒の間に測定される水平力の平均とは、3〜5回水平力を測定し、各測定において、圧子移動後25〜40秒の間に測定された水平力の平均値を算出し、各測定で算出された当該平均値の平均値を更に算出した値をいう。また、前記押し込み深さの範囲内における前記水平力の平均は、拭き取り性に優れる点から6.0μN以下であることが好ましく、5.0μN以下であることがより好ましい。また、前記水平力の平均の下限値は、静止状態において微細凹凸形状を維持することができれば特に限定されないが、通常1.0μN以上であることが好ましい。
<Fine uneven layer>
The fine concavo-convex layer provided in the antireflection article according to the present invention has the fine concavo-convex shape provided on the surface thereof, which is made of a cured product of the resin composition and includes a group of microprojections in which a plurality of microprojections are closely arranged. .
Further, in the above fine irregularities side surface of the fine uneven layer, the indenter is pushed by the average projection height H 55% to 75% of the indentation depth of AVG of the microprojections, a temperature of 25 ° C., 1 [mu] m / 15 The average of the horizontal force measured within 25 to 40 seconds after moving the indenter when moving in the horizontal direction at a speed of second is 8.0 μN or less. Here, the average projection and shoved in height H 55% to 75% of the indentation depth of AVG, the average projection height H 55% to 75% of the length of AVG from the tip of the microprojection said microprojection It means that it was pushed in the depth direction of the minute protrusion. Moreover, moving in the horizontal direction means moving in the direction of a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprotrusions.
In the present invention, the horizontal force on the fine concavo-convex surface is obtained by moving the indenter 5 pushed into the fine concavo-convex surface in the horizontal direction at a temperature of 25 ° C. and a speed of 1 μm / 15 seconds. Sometimes stress is measured. The stress can be measured, for example, with a nanoindenter (for example, TI 950 TriboIndenter manufactured by HYSITRON) using a Barkovic indenter having a tip ridge angle of 105 °. The average horizontal force measured between 25 and 40 seconds after moving the indenter means that the horizontal force is measured 3 to 5 times, and in each measurement, the horizontal force measured between 25 and 40 seconds after moving the indenter. The average value is calculated, and the average value of the average value calculated in each measurement is further calculated. Moreover, the average of the horizontal force within the range of the indentation depth is preferably 6.0 μN or less, and more preferably 5.0 μN or less from the viewpoint of excellent wiping properties. The average lower limit of the horizontal force is not particularly limited as long as the fine uneven shape can be maintained in a stationary state, but it is usually preferably 1.0 μN or more.

また、前記微細凹凸層は、微細凹凸形状側の表面における水の接触角が15度以上であり、20度以上であるとより好ましい。これにより、拭き作業により互いに隣接する微小突起同士が接触した場合であっても、接触した部分同士の付着が抑制される。また、水の接触角が前記下限値以上であることにより、疎水性となり、微細凹凸層に付着した汚れを落としやすくなる。
また、前記水の接触角は、特に限定されないが、水拭きによる拭き取り性の観点から、90度未満であることが好ましい。
本発明に係る反射防止物品の水の接触角は、以下のように測定される。
まず、本発明に係る反射防止物品の微細凹凸層の微細凹凸面側を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に水平に貼り付ける。次いで、前記微細凹凸面に接触角を測定しようとする溶剤である水1.0μLの液滴を滴下し、着滴1秒後の接触角を計測する。測定装置は、例えば、協和界面科学社製 接触角計DM 500を用いることができる。
In the fine uneven layer, the contact angle of water on the surface of the fine uneven shape side is 15 degrees or more, and more preferably 20 degrees or more. Thereby, even if it is a case where the microprotrusions which mutually adjoin each other by wiping work, adhesion of the contacted parts is suppressed. Moreover, when the contact angle of water is equal to or greater than the lower limit value, it becomes hydrophobic and it becomes easy to remove dirt adhered to the fine uneven layer.
The contact angle of water is not particularly limited, but is preferably less than 90 degrees from the viewpoint of wiping by water wiping.
The water contact angle of the antireflection article according to the present invention is measured as follows.
First, the fine uneven surface side of the fine uneven layer of the antireflective article according to the present invention is placed on the black acrylic plate with the adhesive layer, with the fine uneven surface side as the upper surface. Next, a droplet of 1.0 μL of water, which is a solvent for measuring the contact angle, is dropped on the fine uneven surface, and the contact angle after 1 second of the landing is measured. As the measuring device, for example, a contact angle meter DM 500 manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd. can be used.

前記微細凹凸層の微細凹凸形状を構成する微小突起の形状は、当該微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有するもの、すなわち各微小突起が先細りとなる構造を有するものの中から適宜選択すればよい。このような微小突起の形状の具体例としては、半円状、半楕円状、三角形状、放物線状、釣鐘状、台形状等の垂直断面形状を有するものが挙げられる。複数ある微小突起は同一の形状を有していても異なる形状を有していてもよい。微小突起が上記の形状を有することにより、微細凹凸等の深さ方向に屈折率が連続的に変化するため、反射防止性が付与される。   The shape of the fine protrusions constituting the fine uneven shape of the fine uneven layer is a cut of the material portion forming the fine protrusions in the horizontal cross section when it is assumed that the fine protrusions are cut along a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the fine protrusions. What is necessary is just to select suitably from what has a structure where area occupancy increases continuously and gradually as it approaches the deepest part direction from the top part of the said microprotrusion, ie, what has a structure where each microprotrusion tapers. Specific examples of the shape of such microprotrusions include those having a vertical cross-sectional shape such as a semicircular shape, a semi-elliptical shape, a triangular shape, a parabolic shape, a bell shape, and a trapezoidal shape. The plurality of microprojections may have the same shape or different shapes. Since the fine protrusion has the above-described shape, the refractive index continuously changes in the depth direction such as fine unevenness, and thus antireflection properties are imparted.

本発明において隣接突起間隔d及び微小突起の高さHは以下の方法により測定される。
(1)先ず、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope:AFM)又は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)を用いて突起の面内配列(突起配列の平面視形状)を検出する。
In the present invention, the distance d between adjacent protrusions and the height H of the minute protrusions are measured by the following method.
(1) First, an in-plane arrangement of projections (planar shape of the projection arrangement) is detected using an atomic force microscope (AFM) or a scanning electron microscope (SEM).

(2)続いてこの求められた面内配列から各突起の高さの極大点(以下、単に極大点と称する。)を検出する。なお極大点を求める方法としては、平面視形状と対応する断面形状の拡大写真とを逐次対比して極大点を求める方法、平面視拡大写真の画像処理によって極大点を求める方法等、種々の手法を適用することができる。   (2) Subsequently, a maximum point of the height of each protrusion (hereinafter simply referred to as a maximum point) is detected from the obtained in-plane arrangement. There are various methods for obtaining the maximum point, such as a method of sequentially comparing the planar view shape and the enlarged photograph of the corresponding cross-sectional shape to obtain the maximum point, and a method of obtaining the maximum point by image processing of the plan view enlarged photo. Can be applied.

(3)次に検出した極大点を母点とするドロネー図(Delaunary Diagram)を作成する。ここでドロネー図とは、各極大点を母点としてボロノイ分割を行った場合に、ボロノイ領域が隣接する母点同士を隣接母点と定義し、各隣接母点同士を線分で結んで得られる3角形の集合体からなる網状図形である。各3角形は、ドロネー3角形と呼ばれ、各3角形の辺(隣接母点同士を結ぶ線分)は、ドロネー線と呼ばれる。図3は、ドロネー図(白色の線分により表される図である)を平面視拡大写真の模式図と重ね合わせた図である。   (3) Next, a Delaunay diagram with the detected maximum point as a generating point is created. Here, Delaunay diagram is obtained by dividing the Voronoi region adjacent to the Voronoi region when the Voronoi division is performed with each local maximum as the generating point, and connecting the adjacent generating points with line segments. This is a net-like figure made up of triangular aggregates. Each triangle is called a Delaunay triangle, and a side of each triangle (a line segment connecting adjacent generating points) is called a Delaunay line. FIG. 3 is a diagram in which a Delaunay diagram (a diagram represented by a white line segment) is superimposed on a schematic diagram of an enlarged photograph in plan view.

(4)次に、各ドロネー線の線分長の度数分布、すなわち隣接する極大点間の距離(以下、隣接突起間距離という。)の度数分布を求める。なお、突起の頂部に溝状等の凹部が存在したり、あるいは頂部が複数の峰に分裂している場合は、求めた度数分布から、このような突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微細構造に起因するデータを除去し、突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を作成する。   (4) Next, the frequency distribution of the line segment length of each Delaunay line, that is, the frequency distribution of the distance between adjacent maximum points (hereinafter referred to as the distance between adjacent protrusions) is obtained. In addition, when there is a groove-like recess at the top of the protrusion, or when the top is split into a plurality of peaks, from the obtained frequency distribution, the microstructure in which there is a recess at the top of such protrusion, The data resulting from the fine structure in which the top part is divided into a plurality of peaks is removed, and only the data of the projection body itself is selected to create a frequency distribution.

具体的には、突起の頂部に凹部が存在する微細構造、頂部が複数の峰に分裂している微小突起(多峰性の微小突起)に係る微細構造においては、このような微細構造を備えていない微小突起(単峰性の微小突起)の場合の数値範囲から、隣接突起間距離が明らかに大きく異なることになる。これによりこの特徴を利用して対応するデータを除去することにより突起本体自体のデータのみを選別して度数分布を検出する。より具体的には、例えば微小突起(群)の平面視の拡大写真から、5〜20個程度の互いに隣接する単峰性の微小突起を選んで、その隣接突起間距離の値を標本抽出し、この標本抽出して求められる数値範囲から明らかに外れる値(通常、標本抽出して求められる隣接突起間距離平均値に対して、値が1/2以下のデータ)を除外して度数分布を検出する。   Specifically, a fine structure in which a concave portion exists on the top of the protrusion, or a fine structure related to a fine protrusion (multi-modal micro protrusion) in which the top is divided into a plurality of peaks has such a fine structure. The distance between adjacent protrusions is clearly different from the numerical range in the case of non-protruding microprotrusions (single-peak microprotrusions). Thus, by removing the corresponding data using this feature, only the data of the projection body itself is selected and the frequency distribution is detected. More specifically, for example, about 5 to 20 adjacent single-peaked microprojections are selected from an enlarged photograph of the microprojections (group) in plan view, and the value of the distance between the adjacent projections is sampled. The frequency distribution is excluded by excluding values that are clearly out of the numerical range obtained by sampling (usually, data having a value of 1/2 or less of the average distance between adjacent protrusions obtained by sampling). To detect.

(5)このようにして求めた隣接突起間距離dの度数分布を正規分布とみなして平均値dAVG及び標準偏差σを求める。本発明においては、隣接突起間距離dの最大値dmaxをdmax=dAVG+2σと定義して算出する。 (5) The frequency distribution of the distance d between adjacent protrusions thus determined is regarded as a normal distribution, and the average value d AVG and the standard deviation σ d are determined. In the present invention, the maximum value d max of the distance d between adjacent protrusions is defined as d max = d AVG + 2σ d and is calculated.

微小突起の高さHの平均値HAVG及び標準偏差σは、上述の隣接突起間距離dの平均値dAVG及び標準偏差σを求める手法と同様の手法を適用して求めることができる。
まず、上述の(2)により求められる極大点から、特定の基準位置からの各極大点位置の相対的な高さの差を取得してヒストグラム化する。このヒストグラムによる度数分布から突起高さの平均値HAVG、標準偏差σを求める。突起高さHのヒストグラムにおいて、多峰性の微小突起の場合は、頂点を複数有していることにより、1つの突起に対してこれら複数のデータが混在することになる。この場合は麓(付け根)部が同一の微小突起に属するそれぞれ複数の頂点の中から高さの最も高い頂点を、当該微小突起の突起高さとして採用して度数分布を求める。
Mean H AVG and standard deviation sigma H of the height H of the minute projections can be obtained by applying a procedure similar to the average value d AVG and standard deviation sigma d of the aforementioned adjacent protrusions distance d .
First, the relative height difference of each local maximum point position from a specific reference position is acquired from the local maximum point obtained by the above (2) to form a histogram. The average value H AVG of the projection height and the standard deviation σ H are obtained from the frequency distribution by the histogram. In the histogram of the protrusion height H, in the case of a multi-peak microprotrusion, the plurality of data are mixed for one protrusion due to having a plurality of vertices. In this case, the frequency distribution is obtained by adopting the vertex having the highest height from among the plurality of vertices belonging to the same microprotrusion at the heel (base) portion as the protrusion height of the microprotrusion.

前記微小突起群中の各微小突起が同一の高さHを有し、当該微小突起が一定周期で規則正しく配置されている場合、隣接突起間隔dは、微小突起配列の周期pと一致するため、dmax=pとなる。よって、反射防止効果を奏し得る条件は、dmax=p≦Λminであり、微小突起配列の周期p以上の波長を有する光に対して反射防止効果を奏することができる(例えば、特開昭50−70040号公報、特許第4632589号公報、特許第4270806号公報を参照することができる)。従って、例えば、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を得るためには、可視光線帯域の最短波長を380nmとした場合、微小突起配列の周期を380nm以下とすればよい。また、微小突起の高さHは、反射防止効果を得ようとする波長のうち最長波長Λmaxの0.2倍以上であることが好ましい(H≧0.2×Λmax)。従って、例えば可視光線帯域の全波長に対して優れた反射防止効果を得ようとするためには、可視光線帯域の最長波長を780nmとした場合、H≧0.2×780nm=156nmであることが好ましい。 When each microprotrusion in the microprotrusion group has the same height H and the microprotrusions are regularly arranged with a constant period, the adjacent protrusion interval d matches the period p of the microprotrusion array. d max = p. Therefore, the condition that can exhibit the antireflection effect is d max = p ≦ Λ min , and the antireflection effect can be exhibited for light having a wavelength longer than the period p of the microprojection array (for example, see Japanese Patent Application Laid-Open (JP-A)). No. 50-70040, Japanese Patent No. 4632589, and Japanese Patent No. 4270806). Therefore, for example, in order to obtain an antireflection effect for all wavelengths in the visible light band, when the shortest wavelength in the visible light band is 380 nm, the period of the microprojection array may be set to 380 nm or less. The height H of the microprojections is preferably 0.2 times or more of the longest wavelength Λ max among the wavelengths for obtaining the antireflection effect (H ≧ 0.2 × Λ max ). Therefore, for example, in order to obtain an excellent antireflection effect for all wavelengths in the visible light band, when the longest wavelength in the visible light band is 780 nm, H ≧ 0.2 × 780 nm = 156 nm. Is preferred.

突起が不規則に配置されている場合には、上述のようにして求めた隣接突起間距離dの最大値dmax=dAVG+2σが、dmax≦Λminを満たすことが必要であり、微小突起の高さHの平均値HAVGが、HAVG≧0.2×Λmaxを満たすことが好ましい。例えば、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得るためには、dmax=dAVG+2σ≦380nmとすればよい。可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、dmax≦300nmであり、更に好ましい条件は、dmax≦200nmである。また反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、通常、dmax≧50nmであり、好ましくは、dmax≧100nmとされる。また突起高さHについては、十分な反射防止効果を発現する為には、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmaxとしたときに、HAVG≧0.2×Λmaxとなることが好ましく、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得るためにはHAVG≧0.2×780nm=156nmであることが好ましく、HAVG≧170nmとすることがより好ましい。突起の高さHAVGは、反射防止効果の点から、通常370nm以下とされる。また、突起の高さの分布は、通常50〜370nmである。 When the protrusions are irregularly arranged, it is necessary that the maximum value d max = d AVG + 2σ d of the distance d between adjacent protrusions obtained as described above satisfies d max ≦ Λ min . mean H AVG height H of the minute projections preferably satisfies the H AVG ≧ 0.2 × Λ max. For example, d max = d AVG + 2σ d ≦ 380 nm may be set so that the antireflection effect can be obtained for all wavelengths in the visible light band. A preferable condition that can more reliably exhibit an antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is d max ≦ 300 nm, and a more preferable condition is d max ≦ 200 nm. Further, for the reasons such as the expression of the antireflection effect and the securing of the isotropic (low angle dependency) of the reflectance, d max ≧ 50 nm is usually satisfied, and preferably d max ≧ 100 nm. The projections for the height H, in order to exhibit a sufficient anti-reflection effect, the shortest wavelength in the wavelength band of light to improve the antireflection when a lambda max, the H AVG ≧ 0.2 × Λ max it is preferred, is preferably H AVG ≧ 0.2 × 780nm = 156nm in order to can achieve an antireflection effect for all wavelengths of visible light band, it is more preferably a H AVG ≧ 170 nm. The height HAVG of the protrusion is usually 370 nm or less from the viewpoint of the antireflection effect. The height distribution of the protrusions is usually 50 to 370 nm.

微小突起のアスペクト比(平均高さHAVG/平均間隔dAVG)は特に限定されないが、1.4以上であることが好ましく、1.5よりも大きいことがより好ましい。アスペクト比が前記下限値以上であることにより、微細凹凸面の防汚性が向上する。これは、微細凹凸面に付着した指紋等の汚れを除去するために拭き作業をした際に、アスペクト比が前記下限値以上であると、微小突起が動きやすく、微小突起の挙動により微小突起間に入り込んだ汚れ成分を表面まで浮き上がらせる作用に優れると推定されるからである。また、アスペクト比が前記下限値以上であることにより、反射防止性能が向上する。一方、特に限定はされないが、汚れが付着したときにはアスペクト比が大きいほど視認性が劣るため、前記アスペクト比は2.5以下であることが好ましい。 The aspect ratio (average height H AVG / average interval d AVG ) of the microprojections is not particularly limited, but is preferably 1.4 or more, and more preferably greater than 1.5. When the aspect ratio is not less than the lower limit, the antifouling property of the fine uneven surface is improved. This is because when the wiping operation is performed to remove dirt such as fingerprints adhering to the fine concavo-convex surface, if the aspect ratio is equal to or greater than the lower limit value, the fine protrusions are easy to move, and the behavior of the fine protrusions causes the fine protrusions to move between the fine protrusions. This is because it is presumed to be excellent in the action of lifting the dirt component that has entered into the surface. Moreover, when the aspect ratio is not less than the lower limit, the antireflection performance is improved. On the other hand, although not particularly limited, the visibility is poorer as the aspect ratio is larger when dirt is attached. Therefore, the aspect ratio is preferably 2.5 or less.

微細凹凸層の厚み(図1におけるT)は、適宜調整すればよいが、3μm〜30μmであることが好ましく、5μm〜10μmであることがより好ましい。なお、本発明において微細凹凸層の厚みTは、図1に示すように、微細凹凸層の一方の面が微細凹凸面である場合は、当該微細凹凸層の微細凹凸面とは反対側の面から、微細凹凸面が有する最も高い微小突起の頂部までの厚みである。本発明においては、微細凹凸層の両面が微細凹凸面でもよく、その場合の微細凹凸層の厚みは、一方の微細凹凸面において最も高い微小突起の頂部が接する水平面から、他方の微細凹凸面において最も高い微小突起の頂部が接する水平面までの垂線方向における距離である。   The thickness of the fine uneven layer (T in FIG. 1) may be adjusted as appropriate, but is preferably 3 μm to 30 μm, and more preferably 5 μm to 10 μm. In the present invention, the thickness T of the fine concavo-convex layer is a surface opposite to the fine concavo-convex surface of the fine concavo-convex layer when one surface of the fine concavo-convex layer is a fine concavo-convex surface as shown in FIG. To the top of the highest minute protrusion of the fine uneven surface. In the present invention, both surfaces of the fine concavo-convex layer may be fine concavo-convex surfaces. It is the distance in the perpendicular direction to the horizontal plane where the top of the highest microprotrusion touches.

微細凹凸層は、樹脂組成物の硬化物からなる。微細凹凸層用の樹脂組成物は、少なくとも熱硬化性成分及び光硬化性成分から選択される1種以上を含む硬化性樹脂組成物であることが好ましい。中でも、光硬化性成分を含む光硬化性樹脂組成物であることが好ましい。
上記光硬化性成分としては、エチレン性不飽和結合を有する化合物を含む組成物であることが好ましく、(メタ)アクリレートを含む組成物であることがより好ましい。
光硬化性樹脂組成物は、少なくとも上記光硬化性成分を含有していればよく、必要に応じて、更に他の成分を含有してもよい。
A fine uneven | corrugated layer consists of hardened | cured material of a resin composition. The resin composition for the fine uneven layer is preferably a curable resin composition containing at least one selected from a thermosetting component and a photocurable component. Especially, it is preferable that it is a photocurable resin composition containing a photocurable component.
As said photocurable component, it is preferable that it is a composition containing the compound which has an ethylenically unsaturated bond, and it is more preferable that it is a composition containing (meth) acrylate.
The photocurable resin composition should just contain the said photocurable component at least, and may contain another component as needed.

本発明において微細凹凸層用の樹脂組成物としては、特に限定はされないが、当該樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率(E’)が、好ましくは100MPa以上であるもの、より好ましくは200MPa以上であるものを選択して用いる。このような樹脂組成物を用いて形成された微細凹凸層における微小突起は復元性が高く、乾拭き時において潰れや微小突起同士の付着(スティッキング)が抑制される。樹脂組成物の硬化物の25℃における貯蔵弾性率の上限は特に限定されないが、微小突起の柔軟性及び拭き取り性の点から、1200MPa以下であることが好ましく、800MPa以下であることがより好ましく、400MPa以下であることが更により好ましい。   Although it does not specifically limit as a resin composition for fine uneven | corrugated layers in this invention, The storage elastic modulus (E ') in 25 degreeC of the hardened | cured material of the said resin composition becomes like this. Preferably it is 100 Mpa or more. Is selected and used at 200 MPa or more. The fine protrusions in the fine concavo-convex layer formed using such a resin composition are highly recoverable, and crushing and adhesion of fine protrusions (sticking) are suppressed during dry wiping. The upper limit of the storage elastic modulus at 25 ° C. of the cured product of the resin composition is not particularly limited, but is preferably 1200 MPa or less, more preferably 800 MPa or less, from the viewpoint of the flexibility and wiping property of the microprojections, Even more preferably, it is 400 MPa or less.

本発明において貯蔵弾性率(E’)は、JIS K7244に準拠して、以下の方法により測定される。
まず、微細凹凸層形成用の樹脂組成物を、2000mJ/cmのエネルギーの紫外線を1分以上照射することにより十分に硬化させて、基材及び微細凹凸形状を有しない、厚さ1mm、幅5mm、長さ30mmの単膜とする。
次いで、25℃下、上記樹脂組成物の硬化物の長さ方向に10Hzで25gの周期的外力を加え、動的粘弾性を測定することにより、25℃における、E’が求められる。測定装置としては、例えば、UBM製 Rheogel E400を用いることができる。
In the present invention, the storage elastic modulus (E ′) is measured by the following method in accordance with JIS K7244.
First, a resin composition for forming a fine uneven layer is sufficiently cured by irradiating ultraviolet rays having an energy of 2000 mJ / cm 2 for 1 minute or more, and does not have a substrate and fine uneven shapes, a thickness of 1 mm, a width A single film having a length of 5 mm and a length of 30 mm is used.
Next, E ′ at 25 ° C. is obtained by applying a periodic external force of 25 g at 10 Hz in the length direction of the cured product of the resin composition at 25 ° C. and measuring dynamic viscoelasticity. As the measuring device, for example, Rheogel E400 manufactured by UBM can be used.

以下、光硬化性成分として好ましく用いられる(メタ)アクリレートを含む組成物中の各成分について順に説明する。
(メタ)アクリレートは、単官能(メタ)アクリレートであっても、多官能(メタ)アクリレートであってもよく、単官能(メタ)アクリレートと多官能(メタ)アクリレートとを併用するものであってもよい。
Hereinafter, each component in the composition containing (meth) acrylate which is preferably used as the photocurable component will be described in order.
The (meth) acrylate may be a monofunctional (meth) acrylate or a polyfunctional (meth) acrylate, and is a combination of a monofunctional (meth) acrylate and a polyfunctional (meth) acrylate. Also good.

単官能(メタ)アクリレートの具体例としては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、アリル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、ブトキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、グリセロール(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、イソボニル(メタ)アクリレート、イソデキシル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、2−メトキシエチル(メタ)アクリレート、メトキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、ドデシル(メタ)アクリレート、トリデシル(メタ)アクリレート、ビフェニロキシエチルアクリレート、ビスフェノールAジグリシジル(メタ)アクリレート、ビフェニリロキシエチル(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性ビフェニリロキシエチル(メタ)アクリレート、ビスフェノールAエポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。中でも、前記水の接触角及び水平力の平均を本発明で規定する前記範囲内にすることが容易になり、汚れ拭き取り性が向上する点から、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する単官能(メタ)アクリレートが好ましく、中でも、炭素数12以上であることがより好ましく、トリデシル(メタ)アクリレート、及びドデシル(メタ)アクリレートのうち、少なくとも1種を含むことが更により好ましい。これらの単官能(メタ)アクリル酸エステルは、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。なお、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する単官能(メタ)アクリレートを用いる場合、後述する炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物の特性を兼ね備える。   Specific examples of monofunctional (meth) acrylates include, for example, methyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, allyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, butoxyethyl (meth) acrylate , Butoxyethylene glycol (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, glycerol (meth) acrylate, glycidyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) ) Acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, isodexyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate Relate, 2-methoxyethyl (meth) acrylate, methoxyethylene glycol (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate, tridecyl (meth) acrylate, biphenyloxyethyl acrylate, bisphenol A diglycidyl (meth) acrylate, biphenylyloxyethyl (meth) acrylate, ethylene oxide modified biphenylyloxyethyl (meth) acrylate, bisphenol A epoxy (meth) acrylate, and the like. Among these, it is easy to make the average of the contact angle of water and the horizontal force within the range specified in the present invention, and from the viewpoint of improving the dirt wiping property, a single chain having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms. Functional (meth) acrylate is preferable, and among them, it is more preferable that the number of carbon atoms is 12 or more, and it is even more preferable that at least one of tridecyl (meth) acrylate and dodecyl (meth) acrylate is included. These monofunctional (meth) acrylic acid esters can be used alone or in combination of two or more. In addition, when using the monofunctional (meth) acrylate which has a C10 or more long-chain alkyl group, it has the characteristic of the compound which has a C10 or more long-chain alkyl group mentioned later.

多官能(メタ)アクリレートの具体例としては、例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレンジ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、テトラブロモビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールSジ(メタ)アクリレート、ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、フタル酸ジ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ウレタントリ(メタ)アクリレート、エステルトリ(メタ)アクリレート、ウレタンヘキサ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート等が挙げられる。中でも、硬化物が柔軟性及び復元性に優れ、前記水平力の平均を本発明で規定する前記範囲内にすることが容易になる点から、アルキレンオキサイドを含む多官能(メタ)アクリレートを用いることが好ましく、エチレンオキサイド変性多官能(メタ)アクリレートを用いることがより好ましく、エチレンオキサイド変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、及び、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレートより選択される1種以上を含むことが更により好ましい。   Specific examples of the polyfunctional (meth) acrylate include, for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, propylene di (meth) acrylate, hexanediol di (meth) acrylate, and polyethylene glycol di (meth). Acrylate, bisphenol A di (meth) acrylate, tetrabromobisphenol A di (meth) acrylate, bisphenol S di (meth) acrylate, butanediol di (meth) acrylate, di (meth) acrylate phthalate, ethylene oxide modified bisphenol A di (Meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, (Acryloxyethyl) isocyanurate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, urethane tri (meth) acrylate, ester tri (meth) acrylate, urethane hexa (meth) acrylate, ethylene oxide modified Examples include trimethylolpropane tri (meth) acrylate. Among these, a polyfunctional (meth) acrylate containing an alkylene oxide is used because the cured product is excellent in flexibility and resilience, and the average of the horizontal force can be easily within the range defined in the present invention. More preferably, ethylene oxide-modified polyfunctional (meth) acrylate is used, ethylene oxide-modified bisphenol A di (meth) acrylate, ethylene oxide-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and polyethylene glycol di (meth) Even more preferably, one or more selected from acrylates are included.

前記樹脂組成物の硬化物の貯蔵弾性率及び前記水平力の観点から、多官能(メタ)アクリレートを用いることが好ましい。中でも、前記水平力の平均を本発明で規定する前記範囲内にすること及び硬化物の貯蔵弾性率を前記好ましい範囲とすることが容易になり、微小突起が弾性復元性を有し、柔軟性をも兼ね備える点から、アルキレンオキサイドを含む多官能(メタ)アクリレートを用いることが好ましく、エチレンオキサイド変性多官能(メタ)アクリレートを用いることがより好ましく、エチレンオキサイド変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、エチレンオキサイド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、及び、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレートより選択される1種以上を含むことが更により好ましい。   From the viewpoint of the storage elastic modulus of the cured product of the resin composition and the horizontal force, it is preferable to use polyfunctional (meth) acrylate. Among them, it becomes easy to make the average of the horizontal force within the range defined in the present invention and to make the storage elastic modulus of the cured product within the preferred range, and the microprojections have elastic resilience and flexibility. Therefore, it is preferable to use a polyfunctional (meth) acrylate containing an alkylene oxide, more preferably an ethylene oxide modified polyfunctional (meth) acrylate, an ethylene oxide modified bisphenol A di (meth) acrylate, ethylene. It is even more preferable to include at least one selected from oxide-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate and polyethylene glycol di (meth) acrylate.

また、前記樹脂組成物は、その硬化物表面の親油性が向上し、柔軟性が付与され、前記水の接触角及び水平力の平均を本発明で規定する前記範囲内にすることが容易になり、汚れ拭き取り性が向上する点から、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物を含有してもよい。
炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物の具体例としては、例えば、デカン、ドデカン、トリデカン、テトラデカン、ペンタデカン、ヘキサデカンを有する化合物等が挙げられる。また、本発明の効果を損なわない限り、更に置換基を有していてもよい。置換基の具体例としては、フッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子、水酸基、カルボキシ基、アミノ基、スルホ基の他、ビニル基、(メタ)アクリロイル基等のエチレン性不飽和二重結合を有する基等が挙げられる。中でも、光硬化性を備える点から、エチレン性不飽和二重結合を有することが好ましく、(メタ)アクリロイル基を有することがより好ましい。
なお、炭素数10以上の長鎖アルキル基を有する化合物が(メタ)アクリロイル基を有する場合、当該化合物は、前記(メタ)アクリレートにも該当し得る。
In addition, the resin composition has improved oleophilicity on the surface of the cured product, is provided with flexibility, and it is easy to make the average of the contact angle of water and the horizontal force within the range defined in the present invention. Therefore, a compound having a long-chain alkyl group having 10 or more carbon atoms may be contained from the viewpoint of improving the dirt wiping property.
Specific examples of the compound having a long chain alkyl group having 10 or more carbon atoms include compounds having decane, dodecane, tridecane, tetradecane, pentadecane, hexadecane, and the like. Moreover, unless the effect of this invention is impaired, you may have a substituent further. Specific examples of the substituent include halogen atoms such as fluorine, chlorine and bromine, hydroxyl groups, carboxy groups, amino groups and sulfo groups, as well as ethylenically unsaturated double bonds such as vinyl groups and (meth) acryloyl groups. Groups and the like. Especially, it is preferable to have an ethylenically unsaturated double bond from a point provided with photocurability, and it is more preferable to have a (meth) acryloyl group.
In addition, when the compound which has a C10 or more long-chain alkyl group has a (meth) acryloyl group, the said compound may correspond also to the said (meth) acrylate.

微小突起の弾性復元性の点から、水酸基を有する(メタ)アクリレートと、多価イソシアネート化合物とを併用してもよい。多価イソシアネート化合物の具体例としては、例えば、1,5−ナフチレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルジメチルメタンジイソシアネート、テトラアルキルジフェニルメタンジイソシアネート、1,3−フェニレンジイソシアネート、1,4−フェニレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、ブタン−1,4−ジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、2,2,4−トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、2,4,4−トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、シクロヘキサン−1,4−ジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタン−4,4’−ジイソシアネート、1,3−ビス(イソシアネートメチル)シクロヘキサン、メチルシクロヘキサンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルエーテルジイソシアネート、4,4’−ジフェニルスルホキシドジイソシアネート、4,4’−ジフェニルスルホンジイソシアネート、4,4’−ビフェニルジイソシアネートおよびこれらの誘導体等が挙げられる。   From the viewpoint of elastic resilience of the microprotrusions, a (meth) acrylate having a hydroxyl group and a polyvalent isocyanate compound may be used in combination. Specific examples of the polyvalent isocyanate compound include, for example, 1,5-naphthylene diisocyanate, 4,4′-diphenylmethane diisocyanate, 4,4′-diphenyldimethylmethane diisocyanate, tetraalkyldiphenylmethane diisocyanate, 1,3-phenylene diisocyanate, 1,4-phenylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, butane-1,4-diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, 2,2,4-trimethylhexamethylene diisocyanate, 2,4,4-trimethylhexamethylene diisocyanate, cyclohexane-1,4 -Diisocyanate, xylylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, dicyclohexylmethane-4,4'-diisocyanate, 1,3-bis ( Socyanate methyl) cyclohexane, methylcyclohexane diisocyanate, 4,4′-diphenyl ether diisocyanate, 4,4′-diphenyl sulfoxide diisocyanate, 4,4′-diphenylsulfone diisocyanate, 4,4′-biphenyl diisocyanate, and derivatives thereof. It is done.

前記(メタ)アクリレートの硬化反応を開始又は促進させるために、必要に応じて光重合開始剤を適宜選択して用いても良い。光重合開始剤の具体例としては、例えば、ビスアシルフォスフィノキサイド、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−ケトン、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイド、フェニルビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フォスフィンオキサイド、フェニル(2,4,6−トリメチルベンゾイル)ホスフィン酸エチル等が挙げられる。これらは、単独あるいは2種以上を組み合わせて用いることができる。   In order to start or accelerate the curing reaction of the (meth) acrylate, a photopolymerization initiator may be appropriately selected and used as necessary. Specific examples of the photopolymerization initiator include, for example, bisacylphosphinoxide, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, and 2,2-dimethoxy-1. , 2-Diphenylethane-1-one, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) -phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-methyl-1- [4- (Methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl -Propane-1-ketone, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, phenylbis (2,4,6-trimethylbenzene) Benzoyl) - phosphine oxide, phenyl (2,4,6-trimethylbenzoyl) ethyl phosphinic acid and the like. These can be used alone or in combination of two or more.

前記樹脂組成物は、塗工性などを付与する点から溶剤を用いてもよい。溶剤を用いる場合、当該溶剤は、組成物中の各成分とは反応せず、当該各成分を溶解乃至分散可能な溶剤の中から適宜選択して用いることができる。このような溶剤の具体例としては、例えば、ベンゼン、ヘキサン等の炭化水素系溶剤、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤、テトラヒドロフラン、1,2−ジメトキシエタン、プロピレングリコールモノエチルエーテル(PGME)等のエーテル系溶剤、クロロホルム、ジクロロメタン等のハロゲン化アルキル系溶剤、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のエステル系溶剤、N,N−ジメチルホルムアミド等のアミド系溶剤、およびジメチルスルホキシド等のスルホキシド系溶剤、シクロヘキサン等のアノン系溶剤、メタノール、エタノール、およびプロパノール等のアルコール系溶剤を例示することができるが、これらに限られるものではない。また、樹脂組成物に用いられる溶剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上の溶剤の混合溶剤でもよい。   The resin composition may use a solvent from the viewpoint of imparting coatability and the like. In the case of using a solvent, the solvent does not react with each component in the composition, and can be appropriately selected from solvents that can dissolve or disperse each component. Specific examples of such solvents include hydrocarbon solvents such as benzene and hexane, ketone solvents such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone, tetrahydrofuran, 1,2-dimethoxyethane, propylene glycol monoethyl ether ( PGME) ether solvents such as chloroform and dichloromethane, halogenated alkyl solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and other amide solvents such as N, N-dimethylformamide And sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide, anone solvents such as cyclohexane, and alcohol solvents such as methanol, ethanol, and propanol, but are not limited thereto. Not to. Moreover, the solvent used for a resin composition may be used individually by 1 type, and the mixed solvent of two or more types of solvents may be sufficient as it.

前記樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で、更にその他の成分を含有してもよい。その他の成分としては、例えば、濡れ性調整のための界面活性剤、密着性向上のためのシランカップリング剤、安定化剤、消泡剤、ハジキ防止剤、酸化防止剤、凝集防止剤、粘度調整剤、離型剤等が挙げられる。
また、前記樹脂組成物は、更に、帯電防止剤を含有してもよい。帯電防止剤を含有することにより、微細凹凸層表面に汚れが付着することを抑制することができ、また、拭取り時に汚れが落ちやすい。
帯電防止剤は、従来公知のもの中から適宜選択して用いることができる。帯電防止剤の具体例としては、例えば、4級アンモニウム塩、ピリジニウム塩、1級〜3級アミノ基等のカチオン性基を有する各種のカチオン性化合物、スルホン酸塩基、硫酸エステル塩基、リン酸エステル塩基、ホスホン酸塩基等のアニオン性基を有するアニオン性化合物、アミノ酸系、アミノ硫酸エステル系等の両性化合物、アミノアルコール系、グリセリン系、ポリエチレングリコール系等のノニオン性化合物、スズおよびチタンのアルコキシドのような有機金属化合物およびそれらのアセチルアセトナート塩のような金属キレート化合物等が挙げられる。中でも、カチオン性化合物が好ましく、3級アミノ基を有するカチオン性化合物がより好ましく、N,N−ジオクチル−1−オクタンアミン等のトリアルキルアミンであることが更により好ましい。
The resin composition may further contain other components as long as the effects of the present invention are not impaired. Other components include, for example, a surfactant for adjusting wettability, a silane coupling agent for improving adhesion, a stabilizer, an antifoaming agent, a repellency inhibitor, an antioxidant, an anti-aggregation agent, and a viscosity. Examples thereof include a regulator and a release agent.
The resin composition may further contain an antistatic agent. By containing the antistatic agent, it is possible to prevent the dirt from adhering to the surface of the fine concavo-convex layer, and the dirt is easily removed during wiping.
The antistatic agent can be appropriately selected from conventionally known ones. Specific examples of the antistatic agent include, for example, various cationic compounds having a cationic group such as a quaternary ammonium salt, a pyridinium salt, and a primary to tertiary amino group, a sulfonate group, a sulfate ester base, and a phosphate ester. Bases, anionic compounds having an anionic group such as phosphonic acid bases, amphoteric compounds such as amino acid series and aminosulfate ester series, nonionic compounds such as amino alcohol series, glycerin series and polyethylene glycol series, tin and titanium alkoxides And metal chelate compounds such as acetylacetonate salts thereof. Of these, cationic compounds are preferred, cationic compounds having a tertiary amino group are more preferred, and trialkylamines such as N, N-dioctyl-1-octaneamine are even more preferred.

前記樹脂組成物中の各成分は、前記水の接触角及び水平力の平均を本発明で規定する前記範囲内になるようにその配合割合を調整することが好ましい。
前記樹脂組成物中、多官能(メタ)アクリレートの含有量は、前記樹脂組成物の全固形分に対して、10〜99質量%であることが好ましく、15〜90質量%であることがより好ましい。
中でも、前記樹脂組成物中、アルキレンオキサイドを含む多官能(メタ)アクリレートを、前記樹脂組成物の全固形分に対して、35〜95質量%含有することが好ましく、40〜90質量%含有することがより好ましい。
また、前記樹脂組成物中、単官能(メタ)アクリレートの含有量は、前記樹脂組成物の全固形分に対して、0〜40質量%であることが好ましく、5〜40質量%であることが好ましく、8〜30質量%であることがより好ましい。
前記樹脂組成物中、多価イソシアネート化合物の含有量は、前記樹脂組成物の全固形分に対して、0〜30質量%であることが好ましく、5〜30質量%であることが好ましく、10〜20質量%であることがより好ましい。
光重合開始剤の含有量は、通常、前記樹脂組成物の全固形分に対して0.8〜20質量%であり、0.9〜10質量%であることが好ましい。
帯電防止剤を用いる場合、当該帯電防止剤の含有量は、通常、前記樹脂組成物の全固形分に対して1〜20質量%であり、2〜10質量%であることが好ましい。
前記樹脂組成物の溶剤を含む全量に対する、固形分の割合は20〜70質量%であることが好ましく、30〜60質量%であることがより好ましい。なお、本発明において固形分とは、溶剤を除いたすべての成分を表す。
It is preferable to adjust the blending ratio of each component in the resin composition so that the average of the contact angle of water and the horizontal force is within the range defined in the present invention.
In the resin composition, the content of the polyfunctional (meth) acrylate is preferably 10 to 99% by mass and more preferably 15 to 90% by mass with respect to the total solid content of the resin composition. preferable.
Especially, it is preferable to contain 35-95 mass% of polyfunctional (meth) acrylate containing an alkylene oxide in the said resin composition with respect to the total solid of the said resin composition, and 40-90 mass% is contained. It is more preferable.
Moreover, it is preferable that content of monofunctional (meth) acrylate in the said resin composition is 0-40 mass% with respect to the total solid of the said resin composition, and it is 5-40 mass%. Is preferable, and it is more preferable that it is 8-30 mass%.
In the resin composition, the content of the polyvalent isocyanate compound is preferably 0 to 30% by mass, preferably 5 to 30% by mass, based on the total solid content of the resin composition. More preferably, it is -20 mass%.
Content of a photoinitiator is 0.8-20 mass% normally with respect to the total solid of the said resin composition, and it is preferable that it is 0.9-10 mass%.
When using an antistatic agent, content of the said antistatic agent is 1-20 mass% normally with respect to the total solid of the said resin composition, and it is preferable that it is 2-10 mass%.
The ratio of the solid content to the total amount of the resin composition including the solvent is preferably 20 to 70% by mass, and more preferably 30 to 60% by mass. In addition, in this invention, solid content represents all the components except a solvent.

<透明基材>
本発明に係る反射防止物品は、支持体として透明基材を含むものであっても良い。本発明に用いられる透明基材は、反射防止物品に用いられる公知の透明基材の中から用途に応じて適宜選択して用いることができる。透明基材に用いられる材料の具体例としては、トリアセチルセルロース等のアセチルセルロース系樹脂、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリエチレンやポリメチルペンテン等のオレフィン系樹脂、アクリル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエーテルサルホンやポリカーボネート、ポリスルホン、ポリエーテル、ポリエーテルケトン、アクリロニトリル、メタクリロニトリル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー等の透明樹脂や、ソーダ硝子、カリ硝子、鉛ガラス等の硝子、ジルコン酸チタン酸鉛ランタン(PLZT)等のセラミックス、石英、蛍石等の透明無機材料等が挙げられる。
<Transparent substrate>
The antireflection article according to the present invention may include a transparent substrate as a support. The transparent base material used for this invention can be suitably selected and used according to a use from the well-known transparent base materials used for an antireflection article. Specific examples of materials used for the transparent substrate include acetyl cellulose resins such as triacetyl cellulose, polyester resins such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate, olefin resins such as polyethylene and polymethylpentene, acrylic resins, Transparent resins such as polyurethane resin, polyethersulfone, polycarbonate, polysulfone, polyether, polyetherketone, acrylonitrile, methacrylonitrile, cycloolefin polymer, cycloolefin copolymer, glass such as soda glass, potassium glass, lead glass And transparent inorganic materials such as ceramics such as lead lanthanum zirconate titanate (PLZT), quartz, and fluorite.

前記透明基材は、可視光領域における透過率が80%以上であることが好ましく、90%以上であることがより好ましい。ここで、透明基材の透過率は、JIS K7361−1(プラスチック−透明材料の全光透過率の試験方法)により測定することができる。   The transparent substrate preferably has a transmittance in the visible light region of 80% or more, and more preferably 90% or more. Here, the transmittance | permeability of a transparent base material can be measured by JISK7361-1 (the test method of the total light transmittance of a plastic-transparent material).

前記透明基材の厚みは、本発明の反射防止物品の用途に応じて適宜設定することができ、特に限定されないが、通常20〜5000μmであり、前記透明基材は、ロールの形で供給されるもの、巻き取れるほどには曲がらないが負荷をかけることによって湾曲するもの、完全に曲がらないもののいずれであってもよい。   Although the thickness of the said transparent base material can be suitably set according to the use of the antireflective article of this invention, Although it does not specifically limit, Usually, it is 20-5000 micrometers, The said transparent base material is supplied with the form of a roll. However, it may be any one of those that do not bend to the extent that they can be wound, but that can be bent by applying a load, or those that do not bend completely.

本発明に用いられる透明基材の構成は、単一の層からなる構成に限られるものではなく、複数の層が積層された構成を有してもよい。複数の層が積層された構成を有する場合は、同一組成の層が積層されてもよく、また、異なった組成を有する複数の層が積層されてもよい。
また、透明基材と前記微細凹凸層との密着性を向上させ、ひいては耐摩耗性(耐傷性)を向上させるためのプライマー層を透明基材上に形成してもよい。このプライマー層は、透明基材と、当該透明基材とプライマー層を介して隣接する微細凹凸層に密着性を有し、可視光を透過するものが好ましい。
プライマー層の材料としては、例えば、フッ素系コーティング剤及びシランカップリング剤等から適宜選択して使用することができる。フッ素系コーティング剤の市販品としては、例えば、フロロテクノロジー製のフロロサーフ FG−5010Z130等が挙げられ、前記シランカップリング剤の市販品としては、例えば、ハーベス製のデュラサーフプライマーDS−PC−3B等が挙げられる。
The configuration of the transparent substrate used in the present invention is not limited to a configuration consisting of a single layer, and may have a configuration in which a plurality of layers are laminated. When it has the structure by which the several layer was laminated | stacked, the layer of the same composition may be laminated | stacked, and the several layer which has a different composition may be laminated | stacked.
Moreover, you may form the primer layer for improving the adhesiveness of a transparent base material and the said fine uneven | corrugated layer, and, thereby improving abrasion resistance (scratch resistance) on a transparent base material. This primer layer preferably has adhesiveness to the transparent substrate and the fine uneven layer adjacent to the transparent substrate via the primer layer and transmits visible light.
As a material for the primer layer, for example, a material selected from a fluorine-based coating agent, a silane coupling agent, and the like can be used as appropriate. Examples of commercially available fluorine-based coating agents include Fluorosurf FG-5010Z130 manufactured by Fluoro Technology, and examples of commercially available silane coupling agents include Durasurf Primer DS-PC-3B manufactured by Harves. Is mentioned.

<その他の層>
本発明の反射防止物品は、本発明の効果を損なわない範囲において、更にその他の層を有していてもよい。透明基材の微細凹凸層を有しない面側には、光学フィルム用途に用いられる従来公知の各種層を有していてもよい。例えば、従来公知の単層或いは多層構成の反射防止層、光拡散による防眩性(或いは反射防止)を付与する層、傷付き防止等の為に従来公知のハードコート層等が挙げられる。
<Other layers>
The antireflection article of the present invention may further have other layers as long as the effects of the present invention are not impaired. The surface side of the transparent substrate that does not have the fine uneven layer may have various conventionally known layers used for optical film applications. For example, a conventionally known single layer or multilayer antireflection layer, a layer imparting antiglare property (or antireflection) by light diffusion, a conventionally known hard coat layer for preventing scratches, and the like can be mentioned.

また、本発明に係る反射防止物品においては、微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面に、剥離可能な保護フィルムを仮接着させてもよい。これにより、微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面に保護フィルムを仮接着した状態で、本発明に係る反射防止物品の保管、搬送、売買、後加工又は施工を行い、適時、該保護フィルムを剥離除去する形態とすることができるため、保管、搬送等の間における微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面の損傷、汚染を防止することができる。   Moreover, in the antireflection article according to the present invention, a peelable protective film may be temporarily adhered to the surface of the fine unevenness side of the fine unevenness layer. Thereby, in a state where the protective film is temporarily bonded to the surface of the fine unevenness side of the fine unevenness layer, the antireflection article according to the present invention is stored, transported, bought and sold, post-processed or constructed, and the protective film is applied in a timely manner. Since it can be made into the form which peels and removes, the damage of the surface by the side of the fine grooving | roughness of the fine grooving | roughness layer during storage, conveyance, etc., and contamination can be prevented.

本発明の反射防止物品は、可視光領域における透過率が80%以上であることが好ましく、90%以上であることがより好ましい。ここで、反射防止性物品の透過率は、JIS K7361−1(プラスチック−透明材料の全光透過率の試験方法)により測定することができる。   In the antireflection article of the present invention, the transmittance in the visible light region is preferably 80% or more, and more preferably 90% or more. Here, the transmittance of the antireflective article can be measured by JIS K7361-1 (a test method for the total light transmittance of plastic-transparent material).

<反射防止物品の用途>
本発明に係る反射防止物品は、後述する画像表示装置の他、各種物品に用いることができる。
例えば、店舗のショーウィンドウや、美術館の展示物の展示窓;時計等、各種計測機器の表示窓表面;道路標識や、ポスター等の各種印刷物;自動車、航空機等の乗り物や、各種建築物の窓等の前面又は両面に配置して、視認性を向上することができる。また、眼鏡、カメラ、望遠鏡、顕微鏡等の各種光学機器や、各種照明機器の窓材として用いることもできる。
<Use of anti-reflective article>
The antireflection article according to the present invention can be used for various articles in addition to the image display device described later.
For example, shop windows, exhibition windows for museum exhibits; display windows for clocks and other measuring instruments; various printed materials such as road signs and posters; vehicles such as automobiles and aircraft; and windows for various buildings Visibility can be improved by arranging it on the front surface or both surfaces. It can also be used as a window material for various optical devices such as glasses, cameras, telescopes, microscopes, and various illumination devices.

また、上述の実施形態においては、反射防止を図る電磁波の波長帯域を、専ら、可視光線帯域として説明したが、本発明はこれに限らず、反射防止を図る電磁波の波長帯域を赤外線、紫外線等の可視光線以外の波長帯域に設定してもよい。その場合は前記の各条件式中において、電磁波の波長帯域の最短波長Λmin及び最長波長Λmaxを、それぞれ、赤外線、紫外線等の波長帯域に於ける反射防止効果を希望する最短波長及び最長波長にそれぞれ設定すればよい。例えば、最短波長Λminが850nmの赤外線帯域の反射防止を希望する場合は、隣接突起間距離d(若しくは其の最大値dmax)を850nm以下、例えば、dmax=800nmと設計すればよい。 In the above-described embodiment, the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection has been described as the visible light band, but the present invention is not limited to this, and the wavelength band of the electromagnetic wave for preventing reflection is infrared, ultraviolet, or the like. The wavelength band other than visible light may be set. In that case, in each of the above conditional expressions, the shortest wavelength Λ min and the longest wavelength Λ max of the wavelength band of the electromagnetic wave are respectively set to the shortest wavelength and the longest wavelength for which an antireflection effect is desired in the wavelength band of infrared rays, ultraviolet rays, etc. It is sufficient to set each. For example, when it is desired to prevent reflection in the infrared band where the shortest wavelength Λ min is 850 nm, the distance d between adjacent protrusions (or its maximum value d max ) may be designed to be 850 nm or less, for example, d max = 800 nm.

<反射防止物品の製造方法>
本発明の反射防止物品の製造方法は、微細凹凸形状を有する微細凹凸層を形成する従来公知の方法の中から適宜選択すればよい。
例えば、まず透明基材上に、微細凹凸層形成用の樹脂組成物を塗布し、所望の微細凹凸形状を有する微細凹凸層形成用原版の凹凸形状を、前記樹脂組成物の塗膜に賦型した後、該樹脂組成物を硬化させることにより微細凹凸層を形成し、前記微細凹凸層形成用原版から剥離する方法等が挙げられる。前記樹脂組成物を硬化させる方法は、該樹脂組成物の種類等に応じて適宜選択することができる。
<Method for producing antireflection article>
What is necessary is just to select suitably the manufacturing method of the reflection preventing article of this invention from the conventionally well-known method of forming the fine uneven | corrugated layer which has fine uneven | corrugated shape.
For example, first, a resin composition for forming a fine concavo-convex layer is applied onto a transparent substrate, and the concavo-convex shape of the original substrate for forming a fine concavo-convex layer having a desired fine concavo-convex shape is formed into a coating film of the resin composition. Thereafter, the resin composition is cured to form a fine concavo-convex layer, and then peeled off from the fine concavo-convex layer forming original plate. The method for curing the resin composition can be appropriately selected according to the type of the resin composition.

前記微細凹凸層形成用原版としては、繰り返し使用した際に変形および摩耗するものでなければ、特に限定されるものではなく、金属製であっても良く、樹脂製であっても良いが、通常、金属製が好適に用いられる。耐変形性および耐摩耗性に優れているからである。
前記微細凹凸層形成用原版の微細凹凸形状を有する面は、特に限定されないが、酸化されやすく、陽極酸化による加工が容易である点から、アルミニウムからなることが好ましい。
前記微細凹凸層形成用原版は、具体的には、例えば、ステンレス、銅、アルミニウム等の金属製の母材の表面に、直接に又は各種の中間層を介して、スパッタリング等により純度の高いアルミニウム層が設けられ、当該アルミニウム層に凹凸形状を形成したものが挙げられる。前記母材は、前記アルミニウム層を設ける前に、電解溶出作用と、砥粒による擦過作用の複合による電解複合研磨法によって母材の表面を超鏡面化しても良い。
前記微細凹凸層形成用原版に微細凹凸形状を形成する方法としては、例えば、陽極酸化法によって前記アルミニウム層の表面に複数の微細孔を形成する陽極酸化工程と、前記アルミニウム層をエッチングすることにより前記微細孔の開口部にテーパー形状を形成する第1エッチング工程と、前記アルミニウム層を前記第1エッチング工程のエッチングレートよりも高いエッチングレートでエッチングすることにより前記微細孔の孔径を拡大する第2エッチング工程とを順次繰り返し実施することによって形成することができる。
微細な凹凸形状を形成する際には、アルミニウム層の純度(不純物量)や結晶粒径、陽極酸化処理及び/又はエッチング処理の諸条件を適宜調整することによって、所望の形状とすることができる。前記陽極酸化処理において、より具体的には、液温、印加する電圧、陽極酸化に供する時間等の管理により、微細な孔をそれぞれ目的とする深さ及び微小突起形状に対応する形状に作製することができる。
このようにして、前記微細凹凸層形成用原版は、深さ方向に徐々に孔径が小さくなる多数の微細孔が密に作製される。当該微細凹凸層形成用原版を用いて製造される微細凹凸層には、前記微細孔に対応して、頂部に近付くに従って徐々に径が小さくなる微小突起群を備えた微細凹凸が形成され、すなわち、当該微細凹凸の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微細凹凸を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微細凹凸の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する微細凹凸形状が形成される。
The master for forming the fine uneven layer is not particularly limited as long as it is not deformed and worn when repeatedly used, and may be made of metal or resin, Metal is preferably used. This is because it is excellent in deformation resistance and wear resistance.
The surface having the fine concavo-convex shape of the original plate for forming the fine concavo-convex layer is not particularly limited, but is preferably made of aluminum from the viewpoint of being easily oxidized and easily processed by anodization.
Specifically, the master for forming the fine uneven layer is, for example, a high-purity aluminum by sputtering or the like directly on the surface of a metal base material such as stainless steel, copper, or aluminum, or through various intermediate layers. A layer is provided, and the aluminum layer is formed with an uneven shape. Prior to providing the aluminum layer, the surface of the base material may be made into a super mirror surface by an electrolytic composite polishing method in which electrolytic elution action and abrasion action by abrasive grains are combined.
As a method of forming a fine uneven shape on the original plate for forming a fine uneven layer, for example, an anodic oxidation step of forming a plurality of fine holes on the surface of the aluminum layer by an anodic oxidation method, and etching the aluminum layer A first etching step for forming a tapered shape in the opening of the microhole, and a second for enlarging the hole diameter of the microhole by etching the aluminum layer at an etching rate higher than the etching rate of the first etching step. It can be formed by sequentially repeating the etching process.
When forming a fine concavo-convex shape, a desired shape can be obtained by appropriately adjusting the purity (amount of impurities), crystal grain size, anodizing treatment and / or etching conditions of the aluminum layer. . In the anodizing treatment, more specifically, by controlling the liquid temperature, the voltage to be applied, the time for the anodizing, etc., fine holes are formed into shapes corresponding to the target depth and the shape of the fine protrusions, respectively. be able to.
In this way, in the original plate for forming a fine concavo-convex layer, a large number of fine holes whose pore diameter gradually decreases in the depth direction are densely produced. In the fine concavo-convex layer manufactured using the fine concavo-convex layer forming original plate, fine concavo-convex portions having a small protrusion group that gradually decreases in diameter as it approaches the top corresponding to the fine holes are formed. The cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the fine unevenness in the horizontal cross section when it is assumed to be cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the fine unevenness approaches the deepest portion direction from the top of the fine unevenness. As a result, a fine concavo-convex shape that gradually increases gradually is formed.

また、前記微細凹凸層形成用原版の形状としては、所望の形状を賦型することができるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、平板状であっても良く、ロール状であっても良いが、前記微細凹凸層形成用原版は、生産性向上の観点からは、ロール状の金型(以下、「ロール金型」と称する場合がある。)を用いることが好ましい。
本発明において用いられるロール金型としては、例えば、母材として、円筒形状の金属材料を用い、当該母材の周側面に、直接に又は各種の中間層を介して設けられたアルミニウム層に、上述したように、陽極酸化処理、エッチング処理の繰り返しにより、微細な凹凸形状が作製されたものが挙げられる。
Further, the shape of the original plate for forming a fine uneven layer is not particularly limited as long as it can shape a desired shape. For example, it may be a flat plate shape or a roll shape. However, it is preferable to use a roll-shaped mold (hereinafter sometimes referred to as a “roll mold”) from the viewpoint of improving productivity.
As a roll mold used in the present invention, for example, as a base material, a cylindrical metal material is used, and an aluminum layer provided directly or via various intermediate layers on the peripheral side surface of the base material, As described above, there may be mentioned those in which fine irregularities are produced by repeating anodization and etching.

図4に、微細凹凸層形成用の樹脂組成物として光硬化性樹脂組成物を用い、微細凹凸層形成用原版としてロール金型を用いた場合に、透明基材上に微細凹凸層を形成する方法の一例を示す。
図4に示す方法では、樹脂供給工程において、ダイ11により帯状フィルム形態の透明基材1に、未硬化で液状の光硬化性樹脂組成物を塗布し、微小突起形状の受容層2’を形成する。なお光硬化性樹脂組成物の塗布については、ダイ11による場合に限らず、各種の手法を適用することができる。続いて、押圧ローラ13により、微細凹凸層形成用原版であるロール金型12の周側面に透明基材1を加圧押圧し、これにより透明基材1に受容層2’を密着させると共に、ロール金型12の周側面に作製された微細な凹凸形状の凹部に、受容層2’を構成する光硬化性樹脂組成物を充分に充填する。この状態で、紫外線の照射により光硬化性樹脂組成物を硬化させ、これにより透明基材1の表面に微細凹凸層2を作製する。続いて剥離ローラ14を介してロール金型12から、硬化した微細凹凸構造体2と一体に透明基材1を剥離する。必要に応じてこの透明基材1に粘着層等を作製した後、所望の大きさに切断して反射防止物品1を作製する。これにより反射防止物品は、ロール材による長尺の透明基材1に、微細凹凸層形成用原版であるロール金型12の周側面に作製された微細凹凸形状を順次賦型して、効率良く大量生産される。
In FIG. 4, when a photocurable resin composition is used as the resin composition for forming the fine uneven layer and a roll mold is used as the original plate for forming the fine uneven layer, the fine uneven layer is formed on the transparent substrate. An example of the method is shown.
In the method shown in FIG. 4, in the resin supplying step, an uncured and liquid photocurable resin composition is applied to the transparent base material 1 in the form of a strip with a die 11 to form a microprojection-shaped receiving layer 2 ′. To do. In addition, about application | coating of a photocurable resin composition, not only the case by the die | dye 11 but various methods are applicable. Subsequently, the pressing roller 13 presses and presses the transparent base material 1 against the peripheral side surface of the roll mold 12 which is a master for forming a fine uneven layer, thereby bringing the receiving layer 2 ′ into close contact with the transparent base material 1, A fine concavo-convex recess formed on the peripheral side surface of the roll mold 12 is sufficiently filled with the photocurable resin composition constituting the receiving layer 2 ′. In this state, the photocurable resin composition is cured by irradiation with ultraviolet rays, whereby the fine uneven layer 2 is produced on the surface of the transparent substrate 1. Subsequently, the transparent substrate 1 is peeled off from the roll die 12 through the peeling roller 14 together with the hardened fine uneven structure 2. If necessary, an adhesive layer or the like is produced on the transparent substrate 1 and then cut to a desired size to produce the antireflection article 1. As a result, the anti-reflective article is formed by sequentially molding the fine concavo-convex shape produced on the peripheral side surface of the roll mold 12 which is the original plate for forming the fine concavo-convex layer on the long transparent base material 1 made of a roll material, and efficiently. Mass production.

また上述の実施形態では、ロール金型を使用した賦型処理によりフィルム形状の反射防止物品を生産する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて、例えば平板、特定の曲面形状による微細凹凸層形成用原版を使用した賦型処理等により、枚葉状の反射防止物品を作成する場合等、賦型処理に係る工程、微細凹凸層形成用原版は、反射防止物品の形状に係る透明基材の形状に応じて適宜変更することができる。
また、本発明に係る反射防止物品においては、製造に使用した透明基材は必要に応じて剥離して、微細凹凸層のみとしてもよいし、微細凹凸層用の樹脂組成物として、透明基材の材料と同じものを用いることにより、微細凹凸層と透明基材が一体化したものであってもよい。
In the above-described embodiment, the case where a film-shaped antireflection article is produced by a forming process using a roll mold is described. However, the present invention is not limited to this, and the transparent substrate according to the shape of the antireflection article is used. Depending on the shape of the material, for example, when making a sheet-shaped antireflection article by a shaping process using a flat plate, a master for forming a fine uneven layer with a specific curved surface, etc. The layer forming original plate can be appropriately changed according to the shape of the transparent substrate according to the shape of the antireflection article.
Further, in the antireflection article according to the present invention, the transparent substrate used in the production may be peeled off as necessary to provide only a fine uneven layer, or a transparent substrate as a resin composition for the fine uneven layer. By using the same material as that described above, the fine uneven layer and the transparent substrate may be integrated.

[画像表示装置]
本発明に係る画像表示装置は、表示パネルの少なくとも一面側に、前記本発明に係る反射防止物品を備えることを特徴とする。
[Image display device]
The image display device according to the present invention includes the antireflection article according to the present invention on at least one side of a display panel.

本発明の画像表示装置20は、図5に示すように、表示パネル4の少なくとも一面側に、前記本発明に係る反射防止物品10を備えている。当該反射防止物品10は、表示パネル4と直接貼り合わされてもよく、本発明の効果を損なわない範囲で、反射防止物品10と、表示パネル4との間に、他の部材を有していてもよい。当該他の部材としては、例えば、公知のタッチパネル部材等が挙げられる。
なお、本発明の画像表示装置にあっては、単に表示機能のみを有する装置(例えば、LCDモニター、CRTモニター等)でも良いが、装置の機能の一部として表示機能を有する装置も該当する。例えば、携帯情報端末、カーナビゲーションシステム等である。
As shown in FIG. 5, the image display device 20 of the present invention includes the antireflection article 10 according to the present invention on at least one surface side of the display panel 4. The antireflection article 10 may be directly bonded to the display panel 4, and has another member between the antireflection article 10 and the display panel 4 as long as the effects of the present invention are not impaired. Also good. As said other member, a well-known touch panel member etc. are mentioned, for example.
The image display device of the present invention may be a device having only a display function (for example, an LCD monitor, a CRT monitor, etc.), but a device having a display function as a part of the function of the device is also applicable. For example, a portable information terminal, a car navigation system, or the like.

本発明の画像表示装置は、表示パネルの少なくとも一面側に備えられた前記本発明に係る反射防止物品において、白濁を抑制しつつ、拭き作業によって表面に付着した汚れを容易に拭き取ることができるため、優れた防汚性および反射防止性を有する。そのため、特に、表示装置表面に指で直接触れることが多い、タッチパネル部材を備えた画像表示装置においても好適に用いることができる。   The image display device of the present invention can easily wipe off the dirt adhered to the surface by wiping work while suppressing white turbidity in the antireflection article according to the present invention provided on at least one side of the display panel. , Have excellent antifouling properties and antireflection properties. Therefore, in particular, it can be suitably used also in an image display device provided with a touch panel member, which often touches the display device surface directly with a finger.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and that exhibits the same effects. Are included in the technical scope.

(微細凹凸層形成用原版Aの作製)
純度99.50%の圧延されたアルミニウム板を、その表面が、十点平均粗さRz30nm、且つ周期1μmの凹凸形状となるように研磨後、0.04Mシュウ酸水溶液の電解液中で、化成電圧75V、20℃の条件にて120秒間、陽極酸化を実施した。次に、第一エッチング処理として、陽極酸化後の電解液で60秒間エッチング処理を行った。続いて、第二エッチング処理として、1.0Mリン酸水溶液で180秒間孔径処理を行った。さらに、上記処理を繰り返し、これらを合計5回追加実施した。これにより、アルミニウム基板上に微細な凹凸形状が形成された陽極酸化アルミニウム層が形成された。最後に、フッ素系離型剤を塗布し、余分な離型剤を洗浄することで、微細凹凸層形成用原版Aを得た。なお、アルミニウム層に形成された微細な凹凸形状は、平均間隔が195nmで、深さ方向に徐々に孔径が小さくなる多数の微細孔が密に形成された形状であった。
(Preparation of master A for forming fine uneven layer)
A rolled aluminum plate having a purity of 99.50% is polished so that its surface has an irregular shape with a 10-point average roughness Rz of 30 nm and a period of 1 μm, and then formed in an electrolyte solution of 0.04 M oxalic acid aqueous solution. Anodization was performed for 120 seconds under conditions of a voltage of 75 V and 20 ° C. Next, as a first etching process, an etching process was performed for 60 seconds with the electrolytic solution after anodization. Subsequently, as a second etching treatment, a pore size treatment was performed with a 1.0 M phosphoric acid aqueous solution for 180 seconds. Furthermore, the said process was repeated and these were added and implemented 5 times in total. As a result, an anodized aluminum layer having fine irregularities formed on the aluminum substrate was formed. Finally, a fluorine-based mold release agent was applied and the excess mold release agent was washed to obtain an original plate A for forming a fine uneven layer. In addition, the fine uneven | corrugated shape formed in the aluminum layer was a shape in which the average space | interval was 195 nm and many fine holes in which a hole diameter becomes small gradually are formed densely in the depth direction.

(微細凹凸層形成用原版Bの作製)
前記微細凹凸層形成用原版Aの作製において、化成電圧を52V、第二エッチング処理を130秒間としたこと以外は、上記と同様にして、微細凹凸層形成用原版Bを得た。アルミニウム層に形成された微細な凹凸形状は、平均間隔が150nmで、深さ方向に徐々に孔径が小さくなる多数の微細孔が密に形成された形状であった。
(Preparation of fine uneven layer forming master B)
A fine uneven layer forming original plate B was obtained in the same manner as described above except that in forming the fine uneven layer forming original plate A, the formation voltage was 52 V and the second etching treatment was performed for 130 seconds. The fine concavo-convex shape formed in the aluminum layer was a shape in which an average interval was 150 nm and a large number of fine holes with a gradually decreasing hole diameter were formed in the depth direction.

(微細凹凸層形成用原版Cの作製)
前記微細凹凸層形成用原版Aの作製において、化成電圧を60V、第二エッチング処理を120秒間としたこと以外は、上記と同様にして、微細凹凸層形成用原版Cを得た。アルミニウム層に形成された微細な凹凸形状は、平均間隔が180nmで、深さ方向に徐々に孔径が小さくなる多数の微細孔が密に形成された形状であった。
(Preparation of fine uneven layer forming master C)
In the production of the fine uneven layer forming master A, a fine uneven layer forming original plate C was obtained in the same manner as described above except that the formation voltage was 60 V and the second etching treatment was 120 seconds. The fine concavo-convex shape formed in the aluminum layer was a shape in which an average interval was 180 nm and a large number of micropores gradually decreasing in the depth direction were densely formed.

(微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの調製)
エチレンオキサイド変性(EO変性)ビスフェノールAジアクリレート55質量部、EO変性トリメチロールプロパントリアクリレート35質量部、トリデシルアクリレート5質量部、ドデシルアクリレート5質量部、ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホシフィンオキシド(ルシリンTPO)1質量部を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Aを調製した。
(Preparation of resin composition A for forming fine uneven layer)
Ethylene oxide-modified (EO-modified) bisphenol A diacrylate 55 parts by mass, EO-modified trimethylolpropane triacrylate 35 parts by mass, tridecyl acrylate 5 parts by mass, dodecyl acrylate 5 parts by mass, diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) ) 1 part by mass of hosifin oxide (lucillin TPO) was mixed, and a resin composition A for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass was prepared using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as dilution solvents.

(微細凹凸層形成用樹脂組成物Bの調製)
ペンタエリスリトールトリアクリレート15質量部、ポリエチレングリコールジアクリレート70質量部、2,4,4−トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート15質量部、ジフェニル(2,4,6−トリメキシベンゾイル)ホスフィンオキシド(ルシリンTPO)1質量部を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Bを調製した。
(Preparation of resin composition B for forming fine uneven layer)
Pentaerythritol triacrylate 15 parts by mass, polyethylene glycol diacrylate 70 parts by mass, 2,4,4-trimethylhexamethylene diisocyanate 15 parts by mass, diphenyl (2,4,6-trimethylbenzoyl) phosphine oxide (Lucillin TPO) 1 part by mass Parts were mixed, and a resin composition B for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass was prepared using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as dilution solvents.

(微細凹凸層形成用樹脂組成物Cの調製)
ペンタエリスリトールトリアクリレート15質量部、ポリエチレングリコールジアクリレート35質量部、1,4−ブタンジオールジアクリレート50質量部、ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホシフィンオキシド(ルシリンTPO)1質量部を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Cを調製した。
(Preparation of resin composition C for forming fine uneven layer)
15 parts by mass of pentaerythritol triacrylate, 35 parts by mass of polyethylene glycol diacrylate, 50 parts by mass of 1,4-butanediol diacrylate, 1 part by mass of diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) fosifine oxide (lucillin TPO) Were mixed using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as diluent solvents, to prepare a resin composition C for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass.

(微細凹凸層形成用樹脂組成物Dの調製)
ペンタエリスリトールトリアクリレート30質量部、ポリエチレングリコールジアクリレート20質量部、1,4−ブタンジオールジアクリレート50質量部、ジフェニル(2,4,6−トリメトキシベンゾイル)ホシフィンオキシド(ルシリンTPO)1質量部を混合し、希釈溶剤として、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンを用いて、固形分45質量%の微細凹凸層形成用樹脂組成物Dを調製した。
(Preparation of resin composition D for forming fine uneven layer)
30 parts by mass of pentaerythritol triacrylate, 20 parts by mass of polyethylene glycol diacrylate, 50 parts by mass of 1,4-butanediol diacrylate, 1 part by mass of diphenyl (2,4,6-trimethoxybenzoyl) fosifine oxide (lucillin TPO) Were mixed using methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone as diluent solvents, to prepare a resin composition D for forming a fine uneven layer having a solid content of 45% by mass.

(実施例1)
微細凹凸層形成用樹脂組成物として、上記微細凹凸層形成用樹脂組成物Aを、上記で得られた微細凹凸層形成用原版Aの微細凹凸面が覆われ、硬化後の微細凹凸層の厚さが20μmとなるように塗布、充填し、その上に透明基材として厚さ80μmのトリアセチルセルロースフィルム(TAC)(富士フィルム社製)を斜めから貼り合わせた後、貼り合わせられた貼合体をゴムローラーで10N/cmの加重で圧着した。原版全体に均一な組成物が塗布されたことを確認し、透明基材側から2000mJ/cmのエネルギーで紫外線を照射して微細凹凸層形成用樹脂組成物を硬化させた。その後、原版より剥離し、実施例1の反射防止物品を得た。得られた反射防止物品の微細凹凸層が備える微小突起群は、平均隣接突起間隔dAVGが195nm(標準偏差σ38nm)であり、平均高さHAVGが370nmであった。
Example 1
As the resin composition for forming a fine concavo-convex layer, the resin composition A for forming a fine concavo-convex layer is coated with the fine concavo-convex surface of the original substrate A for forming a fine concavo-convex layer obtained above, and the thickness of the fine concavo-convex layer after curing Is applied and filled so that the thickness becomes 20 μm, and a 80 μm-thick triacetyl cellulose film (TAC) (manufactured by Fuji Film Co., Ltd.) is bonded obliquely thereon as a transparent substrate, and then the bonded body is bonded. Was pressed with a rubber roller under a load of 10 N / cm 2 . After confirming that the uniform composition was applied to the entire original plate, ultraviolet rays were irradiated from the transparent substrate side with an energy of 2000 mJ / cm 2 to cure the resin composition for forming a fine uneven layer. Then, it peeled from the original plate and obtained the antireflection article of Example 1. The resulting fine projection group provided in the fine uneven layer of the antireflective article has an average adjacent projections spacing d AVG is 195 nm (standard deviation sigma d 38 nm), the mean height H AVG was 370 nm.

(実施例2)
実施例1において、微細凹凸層形成用原版Aの代わりに微細凹凸層形成用原版Bを用いたこと以外は、実施例1と同様にして実施例2の反射防止物品を得た。得られた反射防止物品の微細凹凸層が備える微小突起群は、平均隣接突起間隔dAVGが150nm(標準偏差σ34nm)であり、平均高さHAVGが255nmであった。
(Example 2)
In Example 1, an antireflection article of Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the fine uneven layer forming original plate B was used instead of the fine uneven layer forming original plate A. The resulting fine projection group provided in the fine uneven layer of the antireflective article has an average adjacent projections spacing d AVG is 150 nm (standard deviation sigma d 34 nm), the mean height H AVG was 255 nm.

(実施例3)
実施例1において、微細凹凸層形成用原版Aの代わりに微細凹凸層形成用原版Cを用いたこと以外は、実施例1と同様にして実施例3の反射防止物品を得た。得られた反射防止物品の微細凹凸層が備える微小突起群は、平均隣接突起間隔dAVGが180nm(標準偏差σ38nm)であり、平均高さHAVGが255nmであった。
(Example 3)
In Example 1, an antireflection article of Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the fine uneven layer forming original plate C was used instead of the fine uneven layer forming original plate A. The resulting fine projection group provided in the fine uneven layer of the antireflective article has an average adjacent projections spacing d AVG is 180 nm (standard deviation sigma d 38 nm), the mean height H AVG was 255 nm.

(比較例1)
実施例1において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに微細凹凸層形成用樹脂組成物Bを用いたこと以外は、実施例1と同様にして比較例1の反射防止物品を得た。
(Comparative Example 1)
In Example 1, an antireflection article of Comparative Example 1 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the resin composition B for forming a fine uneven layer was used instead of the resin composition A for forming a fine uneven layer. .

(比較例2)
実施例1において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに微細凹凸層形成用樹脂組成物Cを用いたこと以外は、実施例1と同様にして比較例2の反射防止物品を得た。
(Comparative Example 2)
In Example 1, the antireflection article of Comparative Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the resin composition C for forming a fine uneven layer was used instead of the resin composition A for forming a fine uneven layer. .

(比較例3)
実施例1において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに微細凹凸層形成用樹脂組成物Dを用いたこと以外は、実施例1と同様にして比較例3の反射防止物品を得た。
(Comparative Example 3)
In Example 1, an antireflection article of Comparative Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the resin composition D for forming a fine uneven layer was used instead of the resin composition A for forming a fine uneven layer. .

(比較例4)
実施例2において、微細凹凸層形成用樹脂組成物Aの代わりに微細凹凸層形成用樹脂組成物Bを用いたこと以外は、実施例2と同様にして比較例4の反射防止物品を得た。
(Comparative Example 4)
In Example 2, an antireflection article of Comparative Example 4 was obtained in the same manner as in Example 2 except that the resin composition B for forming a fine uneven layer was used instead of the resin composition A for forming a fine uneven layer. .

<貯蔵弾性率(E’)の測定>
各実施例及び比較例で使用した微細凹凸層形成用樹脂組成物A〜Dの硬化物について、以下の方法により、貯蔵弾性率(E’)の測定を行った。
微細凹凸層形成用樹脂組成物をそれぞれ2000mJ/cmのエネルギーの紫外線を1分以上照射することにより十分に硬化させて、基材及び微細凹凸形状を有しない、厚さ1mm、幅5mm、長さ30mmの試験用単膜をそれぞれ得た。
次いで、JIS K7244に準拠し、25℃下、上記樹脂組成物の硬化物の長さ方向に10Hzで25gの周期的外力を加え、動的粘弾性を測定することにより、25℃における、貯蔵弾性率E’を求めた。測定装置はUBM製 Rheogel E400を用いた。測定結果を表1に示す。
<Measurement of storage elastic modulus (E ')>
About the hardened | cured material of resin composition AD for fine uneven | corrugated layer formation used in each Example and comparative example, the storage elastic modulus (E ') was measured with the following method.
The resin composition for forming a fine concavo-convex layer is sufficiently cured by irradiating ultraviolet rays having an energy of 2000 mJ / cm 2 for 1 minute or more, and does not have a substrate and fine concavo-convex shape, a thickness of 1 mm, a width of 5 mm, and a length A single test membrane having a thickness of 30 mm was obtained.
Next, in accordance with JIS K7244, by applying a periodic external force of 25 g at 25 Hz at 10 Hz in the length direction of the cured product of the resin composition, and measuring the dynamic viscoelasticity, the storage elasticity at 25 ° C. The rate E ′ was determined. As a measuring device, Rheogel E400 made by UBM was used. The measurement results are shown in Table 1.

(評価)
<水平力の測定>
各実施例及び比較例で得られた反射防止物品の微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面(微細凹凸面)に、バーコビッチ圧子(先端稜角105°)を表1に示す深さまで押し込み、温度25℃下で、1μm/15秒の速度で水平方向に移動させたときの応力(水平力)を測定し、圧子の移動開始後25〜40秒の間に測定された水平力の平均値を算出した。水平力の測定には、ナノインデンター(HYSITRON製 TI 950 TriboIndenter)を用いた。同様にして水平力を合計3回測定し、各々平均値を算出した。各測定から算出された平均値の平均値を更に算出して、当該反射防止物品の水平力の平均とした。算出した水平力の平均を表1に示す。
(Evaluation)
<Measurement of horizontal force>
A Barkovic indenter (tip ridge angle 105 °) was pushed to the depth shown in Table 1 into the surface on the fine uneven surface side (fine uneven surface) of the fine uneven layer of the anti-reflective article obtained in each Example and Comparative Example, and the temperature was 25 Measure the stress (horizontal force) when moved in the horizontal direction at a speed of 1 μm / 15 seconds at ℃, and calculate the average value of the horizontal force measured between 25 and 40 seconds after the start of indenter movement did. For measurement of the horizontal force, a nanoindenter (TI 950 TriboIndenter manufactured by HYSITRON) was used. Similarly, the horizontal force was measured three times in total, and the average value was calculated for each. The average value of the average values calculated from each measurement was further calculated to obtain the average horizontal force of the antireflection article. Table 1 shows the average of the calculated horizontal forces.

<接触角の測定>
各実施例及び比較例で得られた各反射防止物品において、微細凹凸面を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に貼り付けたものの上に、水1.0μLの液滴を滴下し、着滴1秒後の水の接触角を計測した。測定装置は協和界面科学社製 接触角計DM 500を用いた。測定結果を表1に示す。
<Measurement of contact angle>
In each anti-reflective article obtained in each of the examples and comparative examples, a 1.0 μL drop of water was dropped on the anti-reflective article having a fine uneven surface on the top and attached to a black acrylic plate with an adhesive layer. The contact angle of water after 1 second of dropping was measured. As a measuring device, a contact angle meter DM 500 manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd. was used. The measurement results are shown in Table 1.

<拭き取り性評価>
各実施例及び比較例で得られた各反射防止物品を、微細凹凸面を上面にして、粘着層つきの黒アクリル板に貼り付け、紫外可視分光光度計(日本分光社製、商品名「V−7100」)を用いて、JIS Z8701−1999に準拠して2度視野(D65光源)により、反射防止物品表面への5°正反射率を測定した。
次に、反射防止物品の微細凹凸面に指を押し付けて指紋を付着させた。
その後、ワイピングクロス(ザヴィーナミニマックス、富士ケミカル製)にて指紋を乾拭きした。乾拭きは3kg/cm程度の力で10往復行った。乾拭き後の各反射防止物品について、上記と同様にして5°正反射率を測定した。上記で測定した指紋付着前における5°正反射率の値と、乾拭き後における5°正反射率の値の差(ΔY)を算出した。
また、上記乾拭きの場合と同様の力及び回数にて、指紋を水拭きした。水拭きの際には、ワイピングクロス(ザヴィーナミニマックス、富士ケミカル製)に、モスアイパネル用クリーナー(シャープ製)をスプレーし充分に湿潤させたものを用いた。水拭き後の各反射防止物品について、5°正反射率を測定し、指紋付着前における5°正反射率の値と、水拭き後における5°正反射率の値の差(ΔY)を算出した。
それぞれのΔYの値を表1に示す。
<Wipeability evaluation>
Each antireflective article obtained in each Example and Comparative Example was attached to a black acrylic plate with an adhesive layer with the fine uneven surface on top, and an ultraviolet-visible spectrophotometer (trade name “V- 7100 "), the 5 ° regular reflectance to the surface of the antireflective article was measured with a double field of view (D65 light source) in accordance with JIS Z8701-1999.
Next, a finger was pressed against the fine uneven surface of the antireflection article to attach a fingerprint.
Thereafter, the fingerprint was wiped dry with a wiping cloth (Xavina Minimax, manufactured by Fuji Chemical). Dry wiping was performed 10 times with a force of about 3 kg / cm 2 . About each anti-reflective article after dry-wiping, 5 degree regular reflectance was measured like the above. The difference (ΔY) between the value of 5 ° regular reflectance before fingerprint attachment measured above and the value of 5 ° regular reflectance after dry wiping was calculated.
Moreover, the fingerprint was wiped with water with the same force and frequency as in the case of the dry wiping. When wiping with water, a wiping cloth (Xavina Minimax, manufactured by Fuji Chemical Co., Ltd.) was sprayed with a moth eye panel cleaner (manufactured by Sharp) and sufficiently wetted. For each antireflective article after wiping, measure the 5 ° regular reflectance and calculate the difference (ΔY) between the 5 ° regular reflectance value before fingerprint attachment and the 5 ° regular reflectance value after water wiping. did.
Table 1 shows the respective values of ΔY.

<白濁化の評価(ヘイズの測定)>
各実施例及び比較例で得られた各反射防止物品の微細凹凸面を上記拭き取り性評価と同様に水拭きし、水拭き後の各反射防止物品を、微細凹凸面に対して30度の角度で目視し、白濁化していないか判定した。
白濁化した状態が観測できない場合をAとし、観測できた場合をBとして評価した。評価結果を表1に示す。
<Evaluation of clouding (measurement of haze)>
The fine uneven surface of each antireflective article obtained in each Example and Comparative Example was wiped with water in the same manner as the above-described wiping evaluation, and each antireflective article after wiping was angled at 30 degrees with respect to the fine uneven surface. And visually determined whether it was clouded.
The case where the clouded state could not be observed was evaluated as A, and the case where it was observed was evaluated as B. The evaluation results are shown in Table 1.

(結果のまとめ)
実施例1〜3の反射防止物品は、微細凹凸面の水の接触角が15度以上であり、前記特定の水平力
の平均が8.0μN以下である、本願発明に係る反射防止物品である。そのため、乾拭き及び水拭きのいずれの拭き作業を行っても、指紋付着前の反射防止物品とのΔYが小さくなり、汚れの拭き取り性に優れていた。また、拭き取り前後の白濁が抑制されたものであった。
一方、比較例1及び4の反射防止物品は、微細凹凸面の水の接触角が15度未満であったため、水拭き後に白濁が生じ、目視上反射防止効果が損なわれていた。拭き取り時に隣接する微小突起が付着したからと推定される。なお、比較例1及び4の反射防止物品は、白濁により、水拭き後の5°正反射率を測定することができなかった。
比較例2及び3の反射防止物品は、微細凹凸面の水の接触角が15度未満であり、前記水平力の平均が8.0μNよりも大きかったため、乾拭きにおいて指紋付着前の反射防止物品とのΔYが大きく、汚れの拭き取り性に劣っていた。
(Summary of results)
The antireflective articles of Examples 1 to 3 are antireflective articles according to the present invention in which the contact angle of water on the fine uneven surface is 15 degrees or more and the average of the specific horizontal force is 8.0 μN or less. . Therefore, ΔY with respect to the antireflective article before adhesion of the fingerprint was small and excellent wiping property of dirt was obtained regardless of whether dry wiping or water wiping was performed. Moreover, the cloudiness before and after wiping was suppressed.
On the other hand, in the antireflection articles of Comparative Examples 1 and 4, since the water contact angle of the fine uneven surface was less than 15 degrees, white turbidity occurred after wiping with water, and the antireflection effect was visually impaired. It is presumed that the adjacent microprotrusions were adhered during wiping. In addition, the antireflection articles of Comparative Examples 1 and 4 could not measure the 5 ° regular reflectance after wiping with water due to cloudiness.
In the antireflection articles of Comparative Examples 2 and 3, the contact angle of water on the fine uneven surface was less than 15 degrees, and the average of the horizontal force was larger than 8.0 μN. Of ΔY was large, and the wipeability of dirt was poor.

1 透明基材
2 微細凹凸層
2a 微細凹凸面
2’ 受容層
3 微小突起
4 表示パネル
5 圧子
10 反射防止物品
11 ダイ
12 ロール金型
13 押圧ローラ
14 剥離ローラ
20 画像表示装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Transparent base material 2 Fine uneven | corrugated layer 2a Fine uneven | corrugated surface 2 'Receptive layer 3 Minute protrusion 4 Display panel 5 Indenter 10 Antireflection article 11 Die 12 Roll die 13 Press roller 14 Peeling roller 20 Image display apparatus

Claims (2)

樹脂組成物の硬化物からなり、且つ複数の微小突起が密接して配置されてなる微小突起群を備えた微細凹凸形状を表面に有する微細凹凸層、を備えた反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起の隣接突起間隔dの最大値をdmaxとしたときに、
max≦Λmin
なる関係を有し、且つ、前記微小突起の深さ方向と直交する水平面で切断したと仮定したときの水平断面内における当該微小突起を形成する材料部分の断面積占有率が、当該微小突起の頂部から最深部方向に近づくに従い連続的に漸次増加する構造を有し、
前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面における、水の接触角が15度以上であり、
前記微細凹凸層の微細凹凸形状側の表面において、前記微小突起の平均突起高さHAVGの55%〜75%の押し込み深さで押し込んだ圧子を、25℃の温度下、1μm/15秒の速度で水平方向に移動させたときの当該圧子移動後25〜40秒の間に測定される水平力の平均が、8.0μN以下であることを特徴とする、反射防止物品。
An antireflective article comprising a fine concavo-convex layer having a fine concavo-convex shape on the surface, which is formed of a cured product of a resin composition and has a microprojection group in which a plurality of microprotrusions are closely arranged,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λ min and the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is d max ,
d max ≦ Λ min
And the cross-sectional area occupancy rate of the material portion forming the microprojection in the horizontal cross section when it is assumed that the microprojection is cut in a horizontal plane perpendicular to the depth direction of the microprojection is It has a structure that increases gradually and gradually as it approaches the deepest part from the top,
The contact angle of water on the surface of the fine concavo-convex shape side of the fine concavo-convex layer is 15 degrees or more,
The surface of the fine irregularities side of the fine uneven layer, the indenter is pushed by the average projection height H 55% to 75% of the indentation depth of AVG of the microprojections, a temperature of 25 ° C., of 1 [mu] m / 15 sec An antireflective article characterized in that the average of horizontal force measured within 25 to 40 seconds after moving the indenter when moved in the horizontal direction at a speed is 8.0 μN or less.
表示パネルの少なくとも一面側に、請求項1に記載の反射防止物品を備える、画像表示装置。   An image display device comprising the antireflection article according to claim 1 on at least one surface side of the display panel.
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