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JP2015042080A - スイッチング電源装置 - Google Patents

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JP2015042080A
JP2015042080A JP2013172383A JP2013172383A JP2015042080A JP 2015042080 A JP2015042080 A JP 2015042080A JP 2013172383 A JP2013172383 A JP 2013172383A JP 2013172383 A JP2013172383 A JP 2013172383A JP 2015042080 A JP2015042080 A JP 2015042080A
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徹 芳野
Toru Yoshino
徹 芳野
山下 茂治
Shigeji Yamashita
茂治 山下
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Fujitsu Telecom Networks Ltd
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Abstract

【課題】ゼロ電圧スイッチング方式のスイッチング電源装置にて、一次側のインダクタンスと二次側の容量成分により発生する共振の影響を低減する。
【解決手段】スイッチング電源装置100にて、第1保護ダイオードD1は、一次側の第1共振インダクタL1とトランスT1の一次巻線の一方の端子の第1接続点と、直流電源Eの高電圧側の電力ラインの間に接続される。第2保護ダイオードD2は第1接続点と直流電源Eの低電圧側の電力ラインの間に接続される。第3保護ダイオードD3は、第2共振インダクタL2と一次巻線の他方の端子との第2接続点と、直流電源Eの高電圧側の電力ラインとの間に接続される。第4保護ダイオードD4は第2接続点と、直流電源Eの低電圧側の電力ラインとの間に接続される。
【選択図】図5

Description

本発明は、ゼロ電圧スイッチング(ZVS)方式のスイッチング電源装置に関する。
スイッチング電源にて、スイッチング素子のスイッチング損失を低減したソフトスイッチングが実用化されている。ソフトスイッチングを実現したスイッチング電源の代表例として、位相シフト方式のフルブリッジ回路がある。この回路では、スイッチング素子に並列に形成される寄生容量と、トランスの一次巻線に直列に接続されるインダクタンスとの共振を利用する。この共振により、スイッチング素子の両端電圧がゼロになったときにスイッチング素子をオンすることにより、ゼロ電圧スイッチングを実現している(例えば、特許文献1参照)。
スイッチング損失は、スイッチング素子の寄生容量に電荷が蓄えられている状態でスイッチング素子がオンされ、寄生容量が短絡することにより発生する。この点、寄生容量とインダクタンスの直列共振を利用すると、インダクタンスに蓄えられたエネルギーにより寄生容量に逆方向の電流を流して、寄生容量をゼロにできる。
特開2003−158873号公報
上述のゼロ電圧スイッチングを実現するには、スイッチング素子と、トランスの一次巻線の間にインダクタンスを設ける必要がある。この構成では当該インダクタンスと、トランスの二次側の整流回路を構成するダイオードの寄生容量との間にも共振が発生する。この共振により、当該インダクタンスと当該寄生容量の接続点に電圧振動およびサージ電圧が発生する。この電圧振動は回路全体の電力損失につながり、当該サージ電圧は部品に不具合を発生させる要因となる。
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、ゼロ電圧スイッチング方式のスイッチング電源装置にて、一次側のインダクタンスと二次側の容量成分により発生する共振の影響を低減する技術を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明のある態様のスイッチング電源装置は、二つのスイッチング素子を含む第1アームと、二つのスイッチング素子を含む第2アームが並列接続されたフルブリッジ回路と、フルブリッジ回路の出力電力を変圧するトランスと、第1アームの出力端子と、トランスの一次巻線の一方の端子との間に接続される第1インダクタと、第2アームの出力端子と、トランスの一次巻線の他方の端子との間に接続される第2インダクタと、トランスの二次巻線に接続され、トランスの出力電力を整流する整流回路と、整流回路により整流された電力を平滑化する平滑化回路と、第1インダクタと一次巻線の一方の端子との第1接続点にアノード端子が接続され、フルブリッジ回路に電力を供給している電源の高電圧側の電力ラインにカソード端子が接続される第1ダイオードと、第1接続点にカソード端子が接続され、電源の低電圧側の電力ラインにアノード端子が接続される第2ダイオードと、第2インダクタと一次巻線の他方の端子との第2接続点にアノード端子が接続され、電源の高電圧側の電力ラインにカソード端子が接続される第3ダイオードと、第2接続点にカソード端子が接続され、電源の低電圧側の電力ラインにアノード端子が接続される第4ダイオードと、を備える。
本発明の別の態様もまた、スイッチング電源装置である。この装置は、二つのスイッチング素子を含む第1アームと、二つのスイッチング素子を含む第2アームが並列接続されたフルブリッジ回路と、フルブリッジ回路の出力電力を変圧するトランスと、第1アームの出力端子と、トランスの一次巻線の一方の端子との間に接続される第1インダクタと、トランスの二次巻線に接続され、トランスの出力電力を整流する整流回路と、整流回路により整流された電力を平滑化する平滑化回路と、第1インダクタと一次巻線の一方の端子との第1接続点にアノード端子が接続され、フルブリッジ回路に電力を供給している電源の高電圧側の電力ラインにカソード端子が接続される第1ダイオードと、第1接続点にカソード端子が接続され、電源の低電圧側の電力ラインにアノード端子が接続される第2ダイオードと、を備える。
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を装置、方法、システムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。
本発明によれば、ゼロ電圧スイッチング方式のスイッチング電源装置にて、一次側のインダクタンスと二次側の容量成分により発生する共振の影響を低減できる。
ゼロ電圧スイッチング方式のスイッチング電源装置の基本構成例を示す図である。 図1のスイッチング電源装置の動作例1を説明するためのタイミングチャートを示す図である。 図1のスイッチング電源装置の動作例2を説明するためのタイミングチャートを示す図である。 比較例に係るスイッチング電源装置の構成例を示す図である。 本発明の実施の形態に係るスイッチング電源装置の構成例を示す図である。 図6(a)−(b)は、トランスの一次巻線に印加される電圧の波形を示す図である。 変形例に係るスイッチング電源装置の構成例を示す図である。
図1は、ゼロ電圧スイッチング方式のスイッチング電源装置100の基本構成例を示す図である。このスイッチング電源装置100は、位相シフト方式のフルブリッジ型のDC−DCコンバータである。位相シフト方式のフルブリッジ型のDC−DCコンバータは、大電力を高効率で変換できる。
図1のスイッチング電源装置100は、フルブリッジ回路10、第1共振インダクタL1、トランスT1、整流回路20、平滑化回路30、制御部40を備える。フルブリッジ回路10は、上側に第1スイッチング素子Qa及び下側に第2スイッチング素子Qbを含む第1アームと、上側に第3スイッチング素子Qc及び下側に第4スイッチング素子Qdを含む第2アームを備える。第1アーム及び第2アームは直流電源Eに並列に接続される。第1スイッチング素子Qa〜第4スイッチング素子Qdには、例えばMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)やIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等の半導体スイッチング素子が用いられる。以下、第1スイッチング素子Q1〜第4スイッチング素子QdにNチャンネルMOSFETを使用することを想定する。
第1スイッチング素子Qaと並列に第1寄生ダイオードDa及び第1寄生容量Caが形成される。第1スイッチング素子QaにNチャンネルMOSFETを使用しているため、第1寄生ダイオードDaは第1スイッチング素子Qaの導通方向と逆向きに形成される。即ち、ソースからドレイン方向を順方向に形成される。第1寄生容量Caは、第1スイッチング素子Qaのドレイン−ソース間を交流的に短絡した場合に形成される出力容量Cossである。
同様に第2スイッチング素子Qbと並列に第2寄生ダイオードDb及び第2寄生容量Cbが形成される。同様に第3スイッチング素子Qcと並列に第3寄生ダイオードDc及び第3寄生容量Ccが形成される。同様に第4スイッチング素子Qdと並列に第4寄生ダイオードDd及び第4寄生容量Cdが形成される。
第1スイッチング素子Qa〜第4スイッチング素子Qdの制御端子(MOSFETの場合、ゲート端子)に、制御部40により生成される第1制御パルス信号Pa〜第4制御パルス信号Pdがそれぞれ入力される。フルブリッジ回路10は第1制御パルス信号Pa〜第4制御パルス信号Pdを受けて、直流電源Eからの直流電力をスイッチングして交流電力に変換する。
トランスT1はフルブリッジ回路10の出力電力を、一次巻線と二次巻線の巻線比に応じて変圧するとともに、一次側と二次側を絶縁する。トランスT1の一次巻線の上側の端子は、第1共振インダクタL1を介してフルブリッジ回路10の第1アームの出力端子と接続される。トランスT1の一次巻線の下側の端子は、フルブリッジ回路10の第2アームの出力端子と接続される。
整流回路20はトランスT1の二次巻線に接続され、トランスT1の出力電力を整流する。整流回路20は第1整流ダイオードDr1及び第2整流ダイオードDr2を含む。第1整流ダイオードDr1と並列に第1二次側寄生容量Cr1が形成され、第2整流ダイオードDr2と並列に第2二次側寄生容量Cr2が形成される。
第1整流ダイオードDr1のアノード端子は、トランスT1の二次巻線の上側の端子に接続される。第2整流ダイオードDr2のアノード端子は、トランスT1の二次巻線の下側の端子に接続される。第1整流ダイオードDr1のカソード端子と第2整流ダイオードDr2のカソード端子が接続され、平滑化回路30の高電圧側入力端子に接続される。トランスT1の二次巻線の中点は、平滑化回路30の低電圧側入力端子に接続される。
平滑化回路30は、整流回路20により整流された電力を平滑化して、外部の負荷Roに供給する。平滑化回路30は出力インダクタLo及び出力容量Coを含み、整流回路20の出力電力を平滑化する。
制御部40は、第1スイッチング素子Qa〜第4スイッチング素子Qdの制御端子に入力すべき第1制御パルス信号Pa〜第4制御パルス信号Pdを生成し、フルブリッジ回路10を位相シフト方式で駆動する。制御部40は、第1スイッチング素子Qaの第1寄生容量Caが、第1共振インダクタL1のエネルギーに基づく電流により放電された後、第1スイッチング素子Qaをオンする。第2スイッチング素子Qb〜第4スイッチング素子Qdについても同様である。
図2は、図1のスイッチング電源装置100の動作例1を説明するためのタイミングチャートを示す図である。動作例1は、一般的な位相シフト方式の動作例である。フルブリッジ回路では、第1スイッチング素子Qa及び第4スイッチング素子Qdがオンで第2スイッチング素子Qb及び第3スイッチング素子QcがオフのときにトランスT1に正方向電圧が印加される。反対に第1スイッチング素子Qa及び第4スイッチング素子Qdがオフで第2スイッチング素子Qb及び第3スイッチング素子QcがオンのときにトランスT1に逆方向電圧が印加される。
ハードスイッチング方式では、単位周期Tに対するオン時間を調整することにより、即ちデューティ比を調整することにより出力電圧Voを調整する。これに対して動作例1に係る位相シフト方式では、第1制御パルス信号Pa〜第4制御パルス信号Pdのデューティ比は50%で固定である。第1スイッチング素子Qa及び第2スイッチング素子Qbはデットタイムを除き相補的に動作する。同様に第3スイッチング素子Qc及び第4スイッチング素子Qdもデットタイムを除き相補的に動作する。
以上を前提に、第1スイッチング素子Qa及び第2スイッチング素子Qbで構成される第1アームのパルス位相と、第3スイッチング素子Qc及び第4スイッチング素子Qdで構成される第2アームのパルス位相の位相差を調整することにより出力電圧Voを調整する。具体的には制御部40は、負荷Roに出力される出力電圧Voと目標電圧を比較して、両電圧が近づくように、第2アームのパルス位相を前記第1アームのパルス位相に対して適応的にシフトする。第1アームのパルス位相と第2アームのパルス位相の位相差が変化すると、トランスT1の一次巻線に流れる電流量を調整できるため、出力電圧Voを調整できる。
図2にて、上から順に第1スイッチング素子Qaに入力される第1制御パルス信号Paの波形、第2スイッチング素子Qbに入力される第2制御パルス信号Pbの波形、第3スイッチング素子Qcに入力される第3制御パルス信号Pcの波形、第4スイッチング素子Qdに入力される第4制御パルス信号Pdの波形が示されている。第1スイッチング素子Qa及び第2スイッチング素子Qbの位相反転時、及び第3スイッチング素子Qc及び第4スイッチング素子Qdの位相反転時にそれぞれデットタイムが設けられる。
続いてトランスT1の一次巻線に印加される電圧VT1の波形、及び第1共振インダクタL1に流れる電流iL1の波形が示されている。以下、電流波形は太線で描いている。続いて第1スイッチング素子Qaの両端に印加される電圧VQaの波形、及び第1スイッチング素子Qaに流れる電流iQaの波形が示されている。続いて第2スイッチング素子Qbの両端に印加される電圧VQbの波形、及び第2スイッチング素子Qbに流れる電流iQbの波形が示されている。続いて第3スイッチング素子Qcの両端に印加される電圧VQcの波形、及び第3スイッチング素子Qcに流れる電流iQcの波形が示されている。最後に第4スイッチング素子Qdの両端に印加される電圧VQdの波形、及び第4スイッチング素子Qdに流れる電流iQdの波形が示されている。
図2のタイミングチャートの初めの状態は、第1スイッチング素子Qa及び第3スイッチング素子Qcがオフで第2スイッチング素子Qb及び第4スイッチング素子Qdがオンの状態である。この状態では第1共振インダクタL1に負電流が流れ、第2スイッチング素子Qbに正電流が流れ、第4スイッチング素子Qdに負電流が流れている。第1寄生容量Ca及び第3寄生容量Ccは充電状態である。
この状態から第1アームの位相が反転する。その際、デットタイムdt1が設けられる。即ち第3スイッチング素子Qcがオフした後にデットタイムdt1が挿入され、その終了後に第1スイッチング素子Qaがオンする。デットタイムdt1中、第1共振インダクタL1に蓄えられたエネルギーにより電流が維持され、第1スイッチング素子Qaに負電流が流れる。この負電流により第1寄生容量Caに蓄えられた電荷が放電される。その後、第1スイッチング素子Qaがオンされるため、第1寄生容量Caに蓄えられた電荷によるスイッチング損失が発生しない。
スイッチング損失Pcは下記式(1)で定義されるため、スイッチング素子の出力容量Cossを小さくするほどスイッチング損失Pcを小さくできる。
Pc=1/2・Coss・V・f ・・・式(1)
Vはスイッチング素子に印加される電圧、fはスイッチング周波数を示す。
またゼロ電圧共振条件は下記式(2)で定義できる。
L・It>Coss・V ・・・式(2)
Lは共振インダクタのインダクタンス、Itは共振インダクタに流れる電流を示す。
上記式(2)の関係を満たせば、ゼロ電圧共振が可能となる。従ってスイッチング素子の出力容量Cossに対して十分な大きさの共振インダクタを設ける必要がある。図1の第1共振インダクタL1は、トランスT1の一次巻線の漏れインダクタンスで構成されてもよい。ただし上記式(2)の関係を満たさない場合、完全なゼロ電圧スイッチングが実現できなくなる。従ってスイッチング素子の出力容量Cossが大きくなる用途では、一次巻線と別にインダクタ素子を設けることが好ましい。
図2に戻り、第1アームの位相が反転すると、第1スイッチング素子Qa及び第4スイッチング素子Qdがオンで第2スイッチング素子Qb及び第3スイッチング素子Qdがオフの状態になる。この状態では、トランスT1の一次巻線に正電圧が印加され、第1共振インダクタL1に正電流が流れ、第1スイッチング素子Qaに正電流が流れ、第4スイッチング素子Qdに正電流が流れている。第2寄生容量Cb及び第3寄生容量Ccは充電状態である。
この状態から第2アームの位相が反転する。その際、デットタイムdt2が設けられる。即ち第4スイッチング素子Qdがオフした後にデットタイムdt2が挿入され、その終了後に第3スイッチング素子Qcがオンする。デットタイムdt2中、第1共振インダクタL1に蓄えられたエネルギーにより電流が維持され、第3スイッチング素子Qcに負電流が流れる。この負電流により第3寄生容量Ccに蓄えられた電荷が放電される。その後、第3スイッチング素子Qcがオンされるため、第3寄生容量Ccに蓄えられた電荷によるスイッチング損失が発生しない。同様の原理により第2スイッチング素子Qbのオン時、及び第4スイッチング素子Qdのオン時にもスイッチング損失が発生しない。以上によりフルブリッジ回路10のゼロ電圧スイッチングを実現している。
図3は、図1のスイッチング電源装置100の動作例2を説明するためのタイミングチャートを示す図である。動作例2は、動作例1と異なる第1制御パルス信号Pa〜第4制御パルス信号Pdを用いて、トランスT1に動作例1と同じ電力を供給する変形例である。動作例2に係る位相シフト方式では、第1制御パルス信号Pa及び第3制御パルス信号Pcのデューティ比は50%で固定である。第2制御パルス信号Pb及び第4制御パルス信号Pdのデューティ比は約25%で固定である。第1スイッチング素子Qa及び第3スイッチング素子Qcはデットタイムを除き相補的に動作する。第2スイッチング素子Qb及び第4スイッチング素子Qdは180°の位相差を持って動作する。第1スイッチング素子Qaの立ち上がり位相と第4スイッチング素子Qdの立ち上がり位相が同期し、第2スイッチング素子Qbと第3スイッチング素子Qcの立ち上がり位相が同期する。これにより動作例1に係る位相シフト方式と同様の波形の、一次巻線に印加される電圧VT1を生成できる。
第1スイッチング素子Qa〜第4スイッチング素子Qdのそれぞれの両端に印加される電圧VQa〜VQdの波形、及び第1スイッチング素子Qa〜第4スイッチング素子Qdのそれぞれに流れる電流iQa〜iQdの波形は、図3の通りであり詳細な説明は省略する。第1スイッチング素子Qa〜第4スイッチング素子Qdのいずれもが、第1寄生容量Ca〜第4寄生容量Cdが放電されて電荷が蓄えられていない状態でオンされるため、フルブリッジ回路10のゼロ電圧スイッチングが実現される。
図1のゼロ電圧スイッチング方式のスイッチング電源装置100は以上に説明したように高効率なスイッチング電源装置であるが、以下に説明する課題がある。即ち第1共振インダクタL1と、第1二次側寄生容量Cr1及び第2二次側寄生容量Cr2との共振によりサージ電圧が発生する点である。このサージ電圧がスイッチング電源装置100内の各種素子の耐圧を超えると各種素子に不具合が発生する可能性がある。また共振によりトランスT1の一次巻線に供給される電圧および電流が振動し、電力損失が発生する。
第1二次側寄生容量Cr1及び第2二次側寄生容量Cr2は下記式(3)により一次側の容量C0に換算される。
C0=N・Cr ・・・式(3)
N=N2/N1
N1はトランスT1の一次巻線の巻き数、N2は二次巻線の巻き数を示し、Crは第1二次側寄生容量Cr1及び第2二次側寄生容量Cr2の一方のキャパシタンスを示す。
以下、第1共振インダクタL1と、第1二次側寄生容量Cr1及び第2二次側寄生容量Cr2との共振の影響を抑える仕組みについて考える。
図4は、比較例に係るスイッチング電源装置100の構成例を示す図である。このスイッチング電源装置100は、図1のスイッチング電源装置100と比較し、第1整流ダイオードDr1及び第2整流ダイオードDr2のそれぞれに、CRアブソーバを並列接続した構成である。具体的には第1保護抵抗Ra1及び第1保護容量Ca1の直列回路が、第1整流ダイオードDr1に並列接続される。同様に第2保護抵抗Ra2及び第2保護容量Ca2の直列回路が、第2整流ダイオードDr2に並列接続される。第1保護容量Ca1及び第2保護容量Ca2は、高周波のサージ電圧を吸収する。
しかしながらCRアブソーバを設けると回路が大型化する。また振動による電力損失を抑え込むには不十分である。
図5は、本発明の実施の形態に係るスイッチング電源装置100の構成例を示す図である。このスイッチング電源装置100は、図1のスイッチング電源装置100と比較し、一次側に第2共振インダクタL2、第1保護ダイオードD1〜第4保護ダイオードD4が追加された構成である。
第2共振インダクタL2は、フルブリッジ回路10の第2アームの出力端子と、トランスの一次巻線の下側の端子との間に接続される。第1保護ダイオードD1は、第1共振インダクタL1とトランスT1の一次巻線の上側の端子との第1接続点と、直流電源Eの高電圧側の電力ラインとの間に接続される。具体的には第1保護ダイオードD1のアノード端子が第1接続点に接続され、カソード端子が当該電力ラインに接続される。第2保護ダイオードD2は第1接続点と、直流電源Eの低電圧側の電力ラインとの間に接続される。具体的には第2保護ダイオードD2のカソード端子が第1接続点に接続され、アノード端子が当該電力ラインに接続される。
第3保護ダイオードD3は、第2共振インダクタL2とトランスT1の一次巻線の下側の端子との第2接続点と、直流電源Eの高電圧側の電力ラインとの間に接続される。具体的には第3保護ダイオードD3のアノード端子が第2接続点に接続され、カソード端子が当該電力ラインに接続される。第4保護ダイオードD4は第2接続点と、直流電源Eの低電圧側の電力ラインとの間に接続される。具体的には第4保護ダイオードD4のカソード端子が第2接続点に接続され、アノード端子が当該電力ラインに接続される。
これにより、上記2つの接続点の上限電圧および下限電圧を、直流電源Eの高電圧側の電力ライン及び低電圧側の電力ラインにクランプできる。即ち、上記2つの接続点に発生するサージ電圧を第1保護ダイオードD1〜第4保護ダイオードD4を介して、直流電源Eに帰還させることができる。
図6(a)−(b)は、トランスT1の一次巻線に印加される電圧VT1の波形を示す図である。図6(a)は、図1の共振対策が施されていないスイッチング電源装置100における波形を示し、図6(b)は、図5の共振対策が施されているスイッチング電源装置100における波形を示す。
図6(a)では第1共振インダクタL1と、第1二次側寄生容量Cr1及び第2二次側寄生容量Cr2との共振により、一次巻線に印加される電圧VT1は振動しており、そのピーク電圧は直流電源Eの電圧範囲−V〜+Vを超えている。
この振動の周波数fは下記式(4)で規定され、その周期Tは下記式(5)で規定される。
f=1/(2π√(L1・C0)) ・・・式(4)
T=1/f ・・・式(5)
図6(b)では第1保護ダイオードD1〜第4保護ダイオードD4により一次巻線に印加される電圧VT1が、直流電源Eの高電圧側の電力ライン及び低電圧側の電力ラインの電圧にクランプされ、振動を抑えることができる。
以上説明したように本発明の実施の形態によれば、一次側の共振インダクタとトランスの一次巻線の接続点と、電源電圧ラインとの間にダイオードを逆向きに接続する。これにより、一次側の共振インダクタと二次側の容量成分により発生する共振の影響を低減できる。当該共振によるサージ電圧を抑えることができるため、スイッチング電源装置100内の各種素子を保護することができる。各種素子の耐圧を上げる必要がないため、素子の大型化、コスト高を抑制できる。また当該共振による振動を抑えることができるため、振動による電力損失を抑えることができ、変換効率の低下を抑制できる。
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
図7は、変形例に係るスイッチング電源装置100の構成例を示す図である。変形例に係るスイッチング電源装置100は、図5のスイッチング電源装置100から第2共振インダクタL2、第3保護ダイオードD3及び第4保護ダイオードD4を省略した構成である。トランスT1の一次巻線の一方の端子にのみ保護ダイオードを接続しても、一定の共振抑制効果が得られる。また図4のスイッチング電源装置100で示した二次側のCRアブソーバと併用すれば、共振抑制効果をより高めることができる。
また上述の実施の形態では平滑化回路30を第1整流ダイオードDr1と第2整流ダイオードDr2で構成する例を説明したが、それらの代わりにMOSFET等のスイッチング素子を用いてもよい。この場合も、当該スイッチング素子の寄生容量と、一次側の共振インダクタとの間で共振が発生するが、第1保護ダイオードD1〜第4保護ダイオードD4により、その共振の影響を低減できる。
またスイッチング素子と並列に寄生容量および寄生ダイオードが形成される例を説明したが、スイッチング素子と並列に容量素子および/またはダイオード素子を接続してもよい。
またフルブリッジ回路10に入力電圧を供給する直流電源Eの代わりに、交流電源、整流回路およびPFC(Power Factor Correction)回路を用いてもよい。
Qa 第1スイッチング素子、 Da 第1寄生ダイオード、 Ca 第1寄生容量、 L1 第1共振インダクタ、 T1 トランス、 E 直流電源、 Dr1 第1整流ダイオード、 Cr1 第1二次側寄生容量、 Ra1 第1保護抵抗、 Ca1 第1保護容量、 D1 第1保護ダイオード、 Qb 第2スイッチング素子、 Db 第2寄生ダイオード、 Cb 第2寄生容量、 L2 第2共振インダクタ、 Dr2 第2整流ダイオード、 Cr2 第2二次側寄生容量、 Ra2 第2保護抵抗、 Ca2 第2保護容量、 D2 第2保護ダイオード、 Qc 第3スイッチング素子、 Dc 第3寄生ダイオード、 Cc 第3寄生容量、 D3 第3保護ダイオード、 Qd 第4スイッチング素子、 Dd 第4寄生ダイオード、 Co 出力容量、 Lo 出力インダクタ、 Ro 負荷、 Cd 第4寄生容量、 D4 第4保護ダイオード、 10 フルブリッジ回路、 20 整流回路、 30 平滑化回路、 40 制御部、 50 DC−DCコンバータ、 100 スイッチング電源装置。

Claims (5)

  1. 二つのスイッチング素子を含む第1アームと、二つのスイッチング素子を含む第2アームが並列接続されたフルブリッジ回路と、
    前記フルブリッジ回路の出力電力を変圧するトランスと、
    前記第1アームの出力端子と、前記トランスの一次巻線の一方の端子との間に接続される第1インダクタと、
    前記第2アームの出力端子と、前記トランスの一次巻線の他方の端子との間に接続される第2インダクタと、
    前記トランスの二次巻線に接続され、前記トランスの出力電力を整流する整流回路と、
    前記整流回路により整流された電力を平滑化する平滑化回路と、
    前記第1インダクタと前記一次巻線の一方の端子との第1接続点にアノード端子が接続され、前記フルブリッジ回路に電力を供給している電源の高電圧側の電力ラインにカソード端子が接続される第1ダイオードと、
    前記第1接続点にカソード端子が接続され、前記電源の低電圧側の電力ラインにアノード端子が接続される第2ダイオードと、
    前記第2インダクタと前記一次巻線の他方の端子との第2接続点にアノード端子が接続され、前記電源の高電圧側の電力ラインにカソード端子が接続される第3ダイオードと、
    前記第2接続点にカソード端子が接続され、前記電源の低電圧側の電力ラインにアノード端子が接続される第4ダイオードと、
    を備えることを特徴とするスイッチング電源装置。
  2. 前記フルブリッジ回路を制御する制御部を、さらに備え、
    前記制御部は、前記スイッチング素子の寄生容量が、前記第1インダクタ及び前記第2インダクタに基づく電流により放電された後、前記スイッチング素子をオンすることを特徴とする請求項1に記載のスイッチング電源装置。
  3. 二つのスイッチング素子を含む第1アームと、二つのスイッチング素子を含む第2アームが並列接続されたフルブリッジ回路と、
    前記フルブリッジ回路の出力電力を変圧するトランスと、
    前記第1アームの出力端子と、前記トランスの一次巻線の一方の端子との間に接続されるインダクタと、
    前記トランスの二次巻線に接続され、前記トランスの出力電力を整流する整流回路と、 前記整流回路により整流された電力を平滑化する平滑化回路と、
    前記インダクタと前記一次巻線の一方の端子との第1接続点にアノード端子が接続され、前記フルブリッジ回路に電力を供給している電源の高電圧側の電力ラインにカソード端子が接続される第1ダイオードと、
    前記第1接続点にカソード端子が接続され、前記電源の低電圧側の電力ラインにアノード端子が接続される第2ダイオードと、
    を備えることを特徴とするスイッチング電源装置。
  4. 前記フルブリッジ回路を制御する制御部を、さらに備え、
    前記制御部は、前記スイッチング素子の寄生容量が、前記インダクタに基づく電流により放電された後、前記スイッチング素子をオンすることを特徴とする請求項3に記載のスイッチング電源装置。
  5. 前記スイッチング素子は、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)またはIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)であることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のスイッチング電源装置。
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