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JP2014508939A - 太陽電池アレイの構成可変太陽電池パネルの絶縁抵抗の測定 - Google Patents

太陽電池アレイの構成可変太陽電池パネルの絶縁抵抗の測定 Download PDF

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JP2014508939A
JP2014508939A JP2013557790A JP2013557790A JP2014508939A JP 2014508939 A JP2014508939 A JP 2014508939A JP 2013557790 A JP2013557790 A JP 2013557790A JP 2013557790 A JP2013557790 A JP 2013557790A JP 2014508939 A JP2014508939 A JP 2014508939A
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亨 竹原
紳一 高田
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

太陽電池(PV)アレイの絶縁抵抗を測定する方法は、PVアレイをPVパネル群に区分する工程、絶縁抵抗測定に選ばれたPVパネル群をPVアレイのそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタを設定することによって他のパネル群から断路する工程、及び選ばれた群について絶縁抵抗測定を行う工程を含むことができる。選ばれた群の測定された絶縁抵抗値がPVアレイコンポーネントの絶縁問題に対応すれば、選ばれた群のそれぞれのPVパネルについて個々に絶縁抵抗測定を行うことができる。絶縁抵抗測定は、パネル間のケーブルの切離し及び再接続を行わずに、大規模PVアレイについて正確かつ迅速に行うことができる。測定は、誘電破壊による損傷がおこる前の絶縁抵抗の変化の検出を可能にするため、頻繁に、定期的間隔で行うことができる。

Description

関連出願の説明
本出願は、2011年3月4日に出願された米国仮特許出願第61/449480号の恩典を主張する。上記特許出願の明細書はその全体が本明細書に参照として含められる。
本発明は動作している太陽電池(PV)パネルにおいて絶縁抵抗を測定及びモニタする方法に関し、さらに詳しくは構成可変PVアレイにおいて構成可変な直列及び並列の電気接続に適合されるPVパネルの絶縁抵抗の測定に適する方法に関する。
太陽電池セルは、光にさらされると比較的低い電圧及び小量の電流を出力する、半導体材料の薄いスライスから作製される固体デバイスである。多くのPVセルを電気的に接続し合わせてPVモジュールを形成することができる。PVモジュールから出力される電流及び電圧はPVモジュール内のPVセルの出力の組合せで得られる。PVモジュールは、湿気、汚染物、及び曲げや衝撃による損傷からPVセルを保護し、1つのPVモジュールを別のPVモジュールに電気的に接続するためあるいはPVモジュールをインバータまたは他の電気的負荷に接続するための電気コネクタまたは電気端子を有する。出力電力が数10ワットから数100ワットのPVモジュールを利用できる。PVパネルと称される機械的/電気的アセンブリを形成するため、1つ以上のPVモジュールを支持フレームに取り付けることができ、電気コネクタ、相互接続ケーブル及び、温度センサ及び電圧センサのような、必要に応じるコンポーネントと組み合わせることができる。1つのPVパネル上の全てのPVモジュールは一集合体として1つの方向を向くように配置することができる。PVパネルは、必要に応じて、太陽の日周運動に追随するための追跡システム上に載せることができる。PVパネルを動かす代わりに、PVパネルの全てのPVモジュール上に太陽光を反射するように可動ミラーを向けることができる。PVパネルをさらに組み合わせて、大量の電力を発生するための、PVアレイと称される電気回路にすることができる。住居または小規模事業での使用のための数キロワットから発電所規模の発電のための数100メガワットまでの電力出力容量を有するPVアレイが利用できる。
PVモジュールは、PVセルから指定された導電経路までの電気エネルギー流をモジュール内に閉じ込めるため及び、金属製の支持フレーム及びその他の外部構造のような、導電性構造要素からPVモジュールを絶縁するため、電気絶縁を有する。電気絶縁は、人間の危険な電圧及び電流への曝露を防止するため及び発火のリスクを減じるために、支持体への、または大地(電気接地基準)への、漏洩電流を遮断するため、PVパネル内のPVモジュール間及びPVアレイ内のPVパネル間の導電帯及び電気コネクタにも与えられる。電気絶縁に用いられる材料は、経年効果、機械的損傷及び腐食性化合物への曝露による損傷を受け、これらはいずれも、絶縁材料の誘電破壊を生じさせることができ、損傷をおこさせ得るかまたは危険であり得る漏洩電流を流すことができる。
パネル内及びPVアレイのパネル間の電気絶縁の完全性を決定するため、電気抵抗測定をPVパネルについて行うことができる。1つのパネルにおける電気絶縁の電気抵抗の低下は、PVアレイ全体の電力出力を低下させる漏洩電流を生じさせ得る。漏洩電流が流れ始めると、誘電破壊が加速され得るから、電気絶縁が劣化しているかまたは電気絶縁に不良があるPVパネルをPVアレイから切離して修理できるように、漏洩電流を迅速に検出することが重要である。
絶縁抵抗テスター(IRT)は電気絶縁材料の誘電破壊の検出に用いられ得る測定器である。いくつかの絶縁抵抗テスター、例えばメガー社(Megger, Ltd.)で製造される測定器のメガー(商標)系列は、電気回路内のコンポーネントに既知の比較的高い電圧をかけ、絶縁抵抗または漏洩電流に関する測定を行うことで動作する。絶縁抵抗測定手順は、試験されている回路に試験器自体以外の電源から電圧が印加されていないことを確認するように試験担当者に警告することを含むことができ、絶縁抵抗試験中に発生される危険な電圧を避けるように人に警告することができる。電流及び電圧の危険に加えて、PVパネルは、絶縁抵抗試験を行う目的で試験担当者が近づくことが困難であるかまたは危険である、建物の屋根またはその他の場所に設置され得る。したがって、従来方法を用いてPVアレイのPVパネルの絶縁抵抗を測定することは、試験されるそれぞれのパネルまたはパネル群が、例えば、試験されているPVパネルとPVアレイの残りの間の電気ケーブルまたは電線を取り外すことで、電圧が除かれ、電気的に絶縁されてからでなければ、試験を安全に、また正確に行うことができないから、時間がかかり、多大な労力を要する、作業になり得る。次いで、試験前に取り外されたいずれの電線またはケーブルも、試験完了後に再装着されなければならない。あるいは、試験されるべきPVパネルをPVアレイから機械的及び電気的に切り離すことができる。試験されるべきPVパネルを電気的に絶縁するためにこれらの方法のいずれが用いられようとも、PVアレイコンポーネントのある程度の分解及び再組立が必要になり、したがって、装着され、おそらくは電圧が印加されたPVアレイの危険に人をさらすリスクが生じ得る。分解及び再組立中にPVアレイコンポーネントに損傷を与えるリスクもある。
一連の絶縁抵抗測定を完了するには、試験中、PVアレイの全体がオフラインにおかれ得る。PVアレイの規模が大きくなるほど、問題のある電気絶縁の同定及び修理は益々困難になり、絶縁抵抗試験中でなければその間に発電されたであろう電力の対価にともなう経済的損失が益々大きくなる。従来方法による電気絶縁抵抗試験の実施における困難及び費用はPVアレイ全体にわたる電気抵抗の定期的モニタリングに対する意欲を、経済及び安全の面から、失わせる。絶縁抵抗が十分頻繁にモニタされなければ、破壊的障害がおこる前に電気絶縁に関する問題を見つけることができないであろう。
PVアレイの全てのPVパネル及び付帯する相互接続ケーブルについて、PVアレイのPVパネルまたは相互接続ケーブルを機械的に取り外すことなく、またPVアレイにより発電される電流及び電圧からまたは絶縁抵抗テスターによってPVアレイに印加される電流及び電圧からの危険な電圧及び電流に試験担当者をさらすことなく、絶縁抵抗試験を行うことが好ましいであろう。さらに、数100枚または数1000枚のPVパネルを有する大規模PVアレイのどの場所の絶縁抵抗の変化もモニタすること及び、アレイ全体の電力出力が影響を受ける前及びPVアレイコンポーネントが損傷を受ける前に、電気絶縁材料の誘電破壊を検知することが好ましいであろう。
太陽電池(PV)において電気絶縁抵抗を測定する方法は、絶縁抵抗の測定のためにPVパネル内の一群のPVパネルを選択する工程、選ばれた群内のそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタを非バイパス側切換状態に設定する工程、選ばれた群に含まれていないそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタをバイパス側切換状態に設定する工程、及び選ばれた群のPVパネルについて絶縁抵抗の値を測定する工程を含む。
PVアレイのケーブルアセンブリ及びフィーダーについて絶縁抵抗値を測定する方法は、PVアレイのそれぞれのPVパネルの直列−並列セレクタを全てのPVパネルが相互に電気的直列接続で接続されるように設定する工程、PVアレイのそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタを「バイパス」側切換状態に設定し、よってそれぞれのPVパネルのPVモジュールからの出力電圧をPVアレイ出力電圧から除外する工程、及びPVアレイについて絶縁抵抗の値を測定する工程を含む。
PVアレイ出力電力を最適化する方法は、PVアレイの一PVパネルについて絶縁抵抗値を測定する工程、そのPVパネルについての絶縁抵抗の測定値を選ばれた漏洩電流に対応する閾値と比較する工程、及び、絶縁抵抗の測定値が閾値より小さい場合には、そのPVパネルのバイパスセレクタをバイパス側切換状態に設定する工程を含む。
本節は本発明のいくつかの特徴を要約している。本発明のこれらの及びその他の特徴、態様及び利点は、以下の説明に関して、また添付図面を参照すれば、さらに良く理解されるであろう。
図1は本発明の実施形態にしたがって動作できる構成可変PVアレイの一例の略図である。 図2は構成可変PVアレイのための構成可変PVパネルの一例の略図である。 図3は直列電気回路に組み込まれた整数‘n’枚の図2の構成可変PVパネルを有するPVアレイの一例の略図である。 図4は、構成可変PVパネルがPVパネル間で直列電気接続から並列電気接続に切り換えられている、図3のPVアレイに対する別の電気的構成の一例である。 図5は、2つのPVパネルが互いに並列に電気接続され、さらに少なくとも1つの他のPVパネルに直列に接続されている、図3のPVアレイに対する別の電気的構成の一例である。 図6はケーブルアセンブリによって電気的に相互接続された12枚の構成可変PVパネルを有する構成可変PVアレイの一例を示す。図6の構成可変PVパネルのそれぞれは、PVモジュール、バイパスセレクタ(図示せず)及び図2に示されるような電気制御直列−並列セレクタを有する。図6のPVアレイは、PVパネル間のケーブルアセンブリ接続を変更することなく、直列−並列セレクタX1〜X12に対して選ばれる設定にしたがって図7〜12の例のいずれかにおけるように選択的に構成することができる。 図7は図6のPVアレイの例に対するいくつかの選択可能な電気的構成の内の1つについての簡略化した等価電気回路の一例を示す。図7の例においては、PVアレイの構成可変PVパネルの全てが、‘E’ボルトのPVアレイ出力を有する並列電気回路に相互接続され、‘E’は1枚の構成可変PVパネルからの出力電圧に対応する。 図8は、2EボルトのPVアレイ出力電圧を有する、構成可変PVパネル間の直列電気接続と並列電気接続の組合せからなる、図6のPVアレイに対する別の電気的構成についての等価電気回路の一例である。 図9は、3EボルトのPVアレイ出力電圧を有する、構成可変PVパネル間の直列電気接続と並列電気接続の組合せからなる、図6のPVアレイに対する別の電気的構成についての等価電気回路の一例である。 図10は、4EボルトのPVアレイ出力電圧を有する、構成可変PVパネル間の直列電気接続と並列電気接続の組合せからなる、図6のPVアレイに対する別の電気的構成についての等価電気回路の一例である。 図11は、6EボルトのPVアレイ出力電圧を有する、構成可変PVパネル間の直列電気接続と並列電気接続の組合せからなる、図6のPVアレイに対する別の電気的構成についての等価電気回路の一例である。 図12は図6のPVアレイに対する別の電気的構成についての等価電気回路の一例である。図12の例においては、PVアレイの構成可変PVパネルの全てが12EボルトのPVアレイ出力電圧を有する直列電気回路に相互接続されている。 図13は、バイパスされるPVパネルのバイパスセレクタを‘B’側切換状態に設定することによってPVパネル2〜nの電力出力がPVアレイ出力電圧V出力から除外されている、図3〜5のPVアレイに対する別の電気的構成の一例の略図である。 図14は、PVアレイのそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタの適する選択によって図1のPVアレイから絶縁抵抗試験のために選択されたPVアレイを表す、IRTと1枚のPVアレイの間の電気的接続の一例を示す簡易な略図である。 図15は断路スイッチがバイパスセレクタスイッチと直列電気接続で配されている構成可変PVアレイのための構成可変PVパネルの別の例の略図である。
本発明の実施形態は、構成可変PVアレイの構成可変PVパネルの絶縁抵抗を測定する方法の工程を含む。本発明の実施形態は、PVアレイの1枚のPVパネルを、あるいは一群のPVパネルを、他のPVパネルから、選択されたパネルまたは選択されたパネル群の絶縁抵抗測定が迅速、安全かつ正確に、実施され得るように、選択的に断路するために、構成可変PVパネルの、バイパスセレクタ、直列−並列セレクタ及び必要に応じる他のスイッチング素子を構成するための工程を含む。1枚のPVパネルまたは一群のPVパネルについての絶縁抵抗測定の完了後、そのPVパネルまたはPVパネル群はバイパスセレクタに対する適切な設定によってPVアレイに再接続することができ、PVアレイの全てのPVパネルまたはパネル群について絶縁抵抗測定がなされてしまうまで、別の絶縁抵抗試験のために別のPVパネルまたはパネル群を選択することができる。パネル群内に問題が見つかれば、問題の箇所を突き止めるために、その群内の個々の構成可変PVパネルを迅速に試験することができる。絶縁抵抗試験は、PVアレイのための管理モニタリング/制御システムの指示の下に実施することができ、あるいは構成可変PVアレイの構成可変PVパネルによって自律的に開始され、行われ得る。
本発明の実施形態は、数1000枚または数10万枚のPVパネルを有する発電所規模のPVアレイに対してさえ、PVアレイの特定のPVパネルについて絶縁抵抗不良の場所を迅速につきとめるに有利であり得る。絶縁抵抗測定は、PVアレイからいずれのPVパネルも取り外さずに、あるいはPVパネル間または絶縁抵抗試験器と試験されているPVアレイのパーツの間のいずれの相互接続ケーブの取外し及び再取付けもせずに、行うことができる。したがって、管理、試験及び保守の担当者は、開示される方法工程を実施している間、危険な電圧または電流への曝露から保護されることができ、PVアレイのPVパネルの場所から遠く離れていることができる場所から遠隔試験を行うことができる。本明細書に開示される本発明の実施形態の別の利点には、損傷がおこる前のPVアレイコンポーネントの予防保守の可能化、絶縁抵抗不良があるPVパネル及び付帯相互接続ケーブルの迅速な検出及び分離、絶縁抵抗に問題があるPVパネルの他のPVパネルからの分離によるPVアレイ出力の最適化及び、PVアレイが通常は発電していないであろう、例えばアレイが動作していない夜間の、比較的短時間でのPVアレイのPVパネルについての絶縁抵抗試験の完了を含めることができる。
本発明の実施形態は構成可変PVアレイの構成可変PVパネルの絶縁抵抗測定の実施に向けられる。構成可変PVパネルにより、PVアレイからの出力電圧をPVアレイに入射する光量の減少に応答して高めることが可能になる。構成可変PVパネルは、PVパネルからの電力出力を制御するため及び技術上既知のPVパネルを有するPVアレイにおいては浪費されるであろう光電効果で発生される電力量を回復するために有用である。構成可変PVパネルはさらに、保守の理由のため、例えば、PVパネルを清掃するためまたは損傷しているか故障しているPVパネルを修理するため、PVアレイのPVパネルのいくつかがPVアレイから電気的に切り離されている、PVアレイからの電力量を最大化するために有用である。
本発明の実施形態とともに使用するために適合された構成可変PVパネルは、少なくとも1つ、必要に応じて複数の、PVモジュール、1つ以上のPVモジュールからの電流及び電圧をPVパネルの電気入力及び出力接続に/から選択的に含める/除外するためのバイパスセレクタ、2つ以上の構成可変PVパネルの間の直列または並列の接続を選択的に行うための直列−並列セレクタ及び、バイパスセレクタ及び直列−並列セレクタを動作させるため及びPVパネルの状態をモニタするためのノードコントローラを有する。PVパネルのノードコントローラは、他の構成可変PVパネルとの、また必要に応じて外部のコントローラ及びモニタリングシステムとの、データ及びコマンドの双方向通信のための入力/出力バスを有することができる。
構成可変PVアレイはケーブルアセンブリで相互接続された少なくとも2枚の構成可変PVパネルを有する。本明細書に開示される方法の実施形態は、住宅用途に適する数のPVパネルを有するPVアレイ及び発電所規模の電力発生に適する数のPVパネルを有するPVアレイを含む、広汎なPVアレイとともに用いるに適する。構成可変PVアレイに含められる構成可変PVパネルの数が多くなるほど、絶縁抵抗試験の実施に先立つPVパネル間の電気ケーブルの切離しまたはPVパネルアレイからのPVパネルの取外しを必要とする方法のような、技術上既知の方法に比較して本明細書に開示される方法によって提供される有利性が益々高まる。さらに、絶縁抵抗試験装置と試験されているPVアレイの間の相互接続ケーブルまたは試験リード線は一般に、本明細書に開示される方法にしたがえば、試験中に再配置されることはないから、試験装置構成は安定なままであり、履歴試験記録を現時点の試験結果と比較して絶縁抵抗測定値の傾向を検出及び予測することができ、よって、絶縁誘電破壊がPVアレイコンポーネントに損傷を生じさせ得る前の予防措置の実施を可能にし得る。
図1は本発明の実施形態にしたがう絶縁抵抗試験に適合された構成可変PVアレイ10の一例を示す。本例の構成可変PVアレイはケーブルアセンブリ166で接続された複数枚のPVパネル100を備える。構成可変PVパネル100は直列電気回路、並列電気回路または直列接続と並列接続の組合せで接続することができ、それぞれの構成可変PVパネル100は、以下で説明されるように、他のPVパネルとの直列または並列の組合せから断路することができる。そうではないことが言明されない限り、2つのコンポーネントは本明細書において、コンポーネントが電気的に接続され、一方のコンポーネントから他方のコンポーネントに電流が流れ得る場合に、「接続されている」と見なされる。それぞれの構成可変PVパネル100は通信ネットワーク65を通じて他のPVパネル100に/から、またコントローラ63に/から、データ及びコマンドを送信/受信するための制御/モニタリングインターフェース162を有する。通信ネットワーク65は有線ネットワークまたは無線ネットワークとして実施することができる。
図1の実施形態例において、PVパネル100からの電圧及び電流出力は、PVアレイ正出力フィーダー80によって番号1のPVパネル100の端子104からPVアレイ正出力端子168に、またPVアレイ負出力フィーダー81によって番号nのPVパネル100の端子158からPVアレイ負出力端子170に、接続される。PVアレイ負出力端子170からPVアレイ正出力端子168にかけて測定される電圧V出力は、PVアレイからの出力電圧を表す。それぞれのPVパネル100は接地端子線路41に接続された接地端子40を有する。接地端子線路41は接地バスバー44の端子43に接続される。接地バスバー44の端子43はさらに、システムの残りに接地電位基準を与える接地線路45に接続される。
図示される実施形態において、PVアレイ正出力端子168は正出力スイッチ70を介してインバータ172の正直流(DC)入力端子72に接続される。PVアレイ負出力端子170は負出力スイッチ71を介してインバータ172の負DC入力端子73に接続される。正出力端子168に接続されるPVアレイ正出力フィーダー80はさらにPVアレイ正出力分岐線路50によって正出力分岐端子52に接続され、第1の短絡スイッチ54を介して、メガー60と標識された本例の絶縁抵抗試験器(IRT)の入力である、IRT線路端子61に至る短絡回路線路56にも接続される。負出力端子170に接続されるPVアレイ負出力フィーダー81はさらにPVアレイ負出力分岐線路51によって負出力分岐端子53に接続され、第2の短絡スイッチ55を介してIRT線路端子61にも接続される。IRT60の接地端子62はIRT接地線路57によって接地バスバー44の端子43に接続される。
本実施形態において、IRT60は通信ネットワーク65によってコントローラ63に接続され、必要に応じて、構成可変PVアレイ10のパーツについての絶縁抵抗試験実施に関するコマンド及び測定データの交換のためにそれぞれの構成可変PVパネル100のノードコントローラに接続される。スイッチ制御線路64により、第1の短絡スイッチ54,第2の短絡スイッチ55,正出力スイッチ70及び負出力スイッチ71のコントローラ63による開閉が可能になる。図1のコントローラ63は、IRT60を動作させるため及びIRT60から測定データを受け取るためのローカルコンピュータ制御システムを表す。コントローラ63は、必要に応じて、ネットワーク65を通じて外部管理制御/モニタリングシステム(図示せず)と通信することができる。バイパスセレクタは選択的に、それぞれのPVパネル100のノードコントローラによって自律的に動作させるか、あるいは外部管理制御/モニタリングシステムによってそれぞれのPVパネル100に送られるコマンドによって動作させることができる。
本明細書に開示される方法にしたがう絶縁抵抗測定は選択的に、バイパスセレクタの動作によってPVパネルの他のパーツから断路された個々のPVパネルについて、あるいは選択されたPVパネル群について、行うことができる。この場合、選択される群のPVパネルのバイパスセレクタは群内のPVパネルをPVアレイの他のいくつかのパーツから断路するように設定される。本発明の方法実施形態は、必要に応じて、PVアレイを複数のPVパネル群に区分する工程及び次いでそれぞれの群の絶縁抵抗を測定する工程で開始することができる。選ばれたPVパネル群に誘電破壊または他の絶縁抵抗問題が検出されなければ、別の群について測定を行うことができる。全ての群が測定されるまで、一群ずつ測定を行うことができる。ある群において誘電破壊不良または絶縁劣化が検出されると、不良のパネルまたは相互接続ケーブルが識別されるまでその群内のパネルを一枚ずつ試験することができる。一度に一つの群を試験することで、大規模PVアレイの絶縁抵抗不良を検出して不良の場所を突き止めるに必要な時間が最小限に抑えられる。あるいは、個々のPVパネルについての絶縁抵抗値を、PVアレイの全てのPVパネルが試験されてしまうまで、順次に測定することができる。
PVパネル群及び個々のパネルについて、現時点の測定結果の以前の測定結果との比較を可能にするため、履歴絶縁抵抗データをコントローラ63によってまたは外部管理/モニタリングシステムによって維持することができる。以前の絶縁抵抗値及び電流測定値を保存することでつくられる履歴記録は、必要に応じて、絶縁抵抗値の傾向を識別するために比較することができる。絶縁抵抗値の傾向は、絶縁抵抗値の変化率を計算し、絶縁抵抗値が指定された閾絶縁抵抗値、例えば許容できないほど高い誘電破壊不良発生リスクに対応する閾値、を下まわるであろう時点を推定することにより特定のパネルまたはパネル群についての故障時点を予測するために用いることができる。したがって、誘電破壊不良を回避するために予防保守を実施する方法は、選ばれたPVアレイコンポーネントについての絶縁抵抗の以前の測定値を履歴記録に保存する工程、履歴記録からの測定値を現時点の測定値と比較することによって選ばれたPVアレイコンポーネントの絶縁抵抗値の変化率を計算する工程、計算された変化率において絶縁抵抗値が指定された閾絶縁抵抗値を下まわるまでの時間を推定する工程及び推定された時間が尽きる前に選ばれたPVアレイコンポーネントに予防保守を実施する工程を含むことができる。
図2は、PVモジュール108からの電流及び電圧を第1の電力コネクタP1 102の端子104と106及び第2の電力端子P2 156の端子158と106に/から選択的に与える/断路するためのバイパスセレクタを有する、PVパネル100の一例を示す。このPVパネル100は、直列−並列セレクタ138の動作により、他のPVパネル100に対して直列電気接続または並列電気接続で配置することができる。バイパスセレクタ120及び直列−並列セレクタ138は、自律的にまたはコネクタP3 162及び双方向I/Oバス164を通じて受け取られるノードコントローラへの信号に応答して、ノードコントローラ114により制御される。図3〜13はどのようにして構成可変PVアレイの構成可変PVパネルを直列接続及び並列接続の様々な組合せで接続できるかの例を与える。図13及び14は、PVパネル間の電気ケーブルの切離し及び再接続を行わずに、またPVパネルをPVアレイから取り外さずに、絶縁抵抗測定を行うため、パネルを清掃するため、またはパネルにその他の保守作業を実施するために、どのようにして一枚のPVパネルまたはPVパネル群をPVアレイの残りから分離することができるかを示すために用いられ得る。
実施形態例において、図2のノードコントローラ114は、PVモジュール108及びPVパネル100の性能に関するパラメータをモニタすることができ、バイパスセレクタ120の切換状態及び直列−並列セレクタXn 138の個々の切換状態を設定することができる。ノードコントローラによってモニタされるパラメータの例には、PVモジュール108からの出力電圧及び出力電流、PVモジュール108の相異なる選択された位置における温度、PVパネル100の方位角及び仰角、第2の電力コネクタP2 156におけるPVパネル100への電圧及び電流入力、及び第1の電力コネクタP1 102におけるPVパネルからの電流及び電圧出力があるが、これらには限定されない。ノードコントローラ114は、必要に応じて、PVモジュール108またはPVパネル100内の電気的不良状態、PVモジュール108の部分的陰り、PVモジュール108の表面上の降水、塵埃または屑による電力の減少、及び、塵埃、降水または雲量による入射光の減少を検出するように構成することができる。モニタされるパラメータに関するデータは、必要に応じて、ノードコントローラ114から、制御/モニタリング信号入力/出力バス164を含む複数の導電体によってノードコントローラ114に電気的に接続された、モニタ及び制御コネクタP3 162に出力される。コネクタP3 162上の出力データは、必要に応じて、PVアレイの他の構成可変PVパネル100または外部モニタリング/制御システムによって受け取られ得る。
本実施形態において、電気的に制御されるバイパスセレクタ120及び電気的に制御される直列−並列セレクタXn 138の切換状態は、PVモジュール108からの電流及び電圧出力が第1の電力コネクタP1 102及び第2の電力コネクタP2 156を通って流れる電力とどのように組み合わされるかを決定する。図2の例に示されるように、バイパスセレクタ120及び直列−並列セレクタXn 138は双極双投(DPDT)電気機械式リレーとすることができる。セレクタ(120,138)、出力スイッチ(70,71)及び短絡スイッチ(54,55)のいずれかまたは全ては、代わりに、例えばディスクリート電子コンポーネントでつくられた固体リレーまたは固体スイッチング素子を含むが、これらには限定されない、他のスイッチング素子で置き換えることができる。いずれのセレクタ(120,138)も、必要に応じて、単一のDPDT電気制御スイッチング素子から、ノードコントローラ114に電気的に接続された共通制御線路を共有する、一対の単極単投スイッチング素子に変更することができる。
図2の実施形態例を再び参照すれば、PVアレイの他のPVパネルからの電力は、必要に応じて、第1の端子158及び第2の端子160を有する第2の電力コネクタP2 156でPVパネル100に接続することができる。P2の第1の端子158及び第2の端子160にある電圧及び電流は、後に説明されるように、バイパスセレクタ120及び直列−並列セレクタXn 138の選ばれた切換状態にしたがって選択的にPVモジュール108からの電圧及び電流出力と組み合わせることができる。P2の第1の端子158は直列−並列セレクタXn 138の第1のS−Pスイッチ140の並列端子144に電気的に接続される。P2の第1の端子158はさらに直列−並列セレクタXn 138の第2のS−Pスイッチ148の直列端子154に電気的に接続される。P2の第2の端子160は第2のS−Pスイッチ148の並列端子152に電気的に接続される。
本実施形態例において、第1のS−Pスイッチ140の直列端子146はバイパスセレクタ120の第1のバイパススイッチ122の共通端子128に電気的に接続される。第1のS−Pスイッチ140の共通端子142はバイパスセレクタ120の第2のバイパススイッチ130の共通端子132に電気的に接続される。第1のS−Pスイッチ140の共通端子142はさらにコネクタP1の第1の端子104に電気的に接続される。第2のS−Pスイッチ148の共通端子150は、PVモジュール108の負端子112,コネクタP1の第2の端子106及びバイパスセレクタ120の第1のバイパススイッチ122のバイパス端子126に電気的に接続される。
図2の例の参照を続ければ、PVモジュール108の正端子110はバイパスセレクタ120の第2のバイパススイッチ130のノーメル端子134に電気的に接続される。バイパスセレクタ制御線路118はノードコントローラ114からバイパスセレクタ120の制御入力に信号を伝える。バイパスセレクタ制御線路118上のノードコントローラ114からの第1の制御信号はバイパスセレクタ120を、PVモジュール108からの電力出力がPVアレイの他のPVパネルからの電力出力、例えば第1の電力コネクタP1 102の端子の電圧及び電流に関する他のPVパネルからの電力と組み合わされることを排除する、「バイパス」側切換状態に設定する。「バイパス」側切換状態は本明細書において‘B’側切換状態とも称される。バイパスセレクタ制御線路118上のノードコントローラ114からの第2の制御信号はバイパスセレクタ120を、PVモジュール108からの出力がPVパネル100への電力入力、例えば直列−並列セレクタXn 138の2つの切換状態の内の1つにしたがってコネクタP1 102の端子にある電圧及び電流に対応する電力と組み合わされる、非バイパス切換状態とも称される、「ノーマル」側切換状態に設定する。「ノーマル」側切換状態は本明細書において‘N’側切換状態とも称される。図2の例において、バイパスセレクタ120の第1のバイパススイッチ122及び第2のバイパススイッチ130は「ノーマル」側切換状態で示される。図2はさらに、第1のバイパススイッチ122のノーマル端子124及び第2のバイパススイッチ130のバイパス端子136を浮遊端子として示す。必要に応じて、回路に結合される雑音量を減じるため、浮遊端子に受動コンポーネントを電気的に接続することができる。
本実施形態例において、直列−並列セレクタ制御線路116はノードコントローラ114から直列−並列セレクタXn 138の制御入力に制御信号を伝える。直列−並列セレクタ制御線路116上のノードコントローラ114からの第3の制御信号は、直列−並列セレクタXn 138を、本明細書において‘S’側切換状態とも称される、「直列」側切換状態に設定する。直列−並列セレクタ制御線路116上のノードコントローラ114からの第4の制御信号は、直列−並列セレクタXn 138を、本明細書において‘P’側切換状態とも称される、「並列」側切換状態に設定する。図2の実施例において、直列−並列セレクタXn 138の第1のS−Pスイッチ140及び第2のS−Pスイッチ148は「直列」側切換状態で示される。
本発明の一実施形態にしたがう太陽光発電システムは、複数の構成可変PVパネルを有する、少なくとも1つの構成可変PVアレイを備える。大規模太陽光発電システム、例えば発電所用太陽光システムは、必要に応じて、複数の構成可変PVアレイを備えることができる。図3は、ケーブルアセンブリ166によって直列電気構成で電気的に接続された整数‘n’枚の構成可変PVパネル100を有するPVアレイ10の一例を示す。図3に示されるように、直列−並列セレクタ(138 X1,138 X2,...138 Xn)は‘S’側切換状態で示される。図3の実施例において、‘n’枚のパネルのバイパスセレクタ120の全ては‘N’側切換状態に設定されている。PVアレイ負出力端子170からPVアレイ正出力端子168にかけて測定される、PVアレイからの出力電圧V出力は、‘n’個のPVモジュール108の出力電圧の総和である。図3に示される構成において、PVアレイの出力電圧は番号nのPVパネルのコネクタP2の端子1 158から番号1のPVパネルのコネクタP1の端子1 104にかけて測定される、V出力である。直列−並列セレクタが‘S’側切換状態に設定され、バイパスセレクタが‘B’側切換状態に設定されているPVパネルの場合、PVパネルのPVモジュールからの出力電圧は、第1の電力コネクタP1と第2の電力コネクタP2の間のPVモジュールをバイパスするPVパネルの回線路によって出力電圧V出力から除外される。
図4は図3のPVアレイ10の、‘n’枚のPVパネルが電気的に接続されてPVアレイを形成するための多くの別の電気的構成の内の1つの例を示す。図4の例において、整数‘n’枚のPVパネル100は、直列−並列セレクタ(138 X1,138 X2,...138 Xn)を‘P’側切換状態にして、ケーブルアセンブリ166によって並列電気構成で電気的に相互接続されている。バイパスセレクタ120は‘N’側切換状態で示されている。PVアレイ負出力端子170からPVアレイ正出力端子168にかけて測定されるPVアレイからの出力電圧V出力は、本例の目的のため、全てが等しい出力電圧を有するPVパネル100の内のいずれか1枚からの出力電圧に等しい。異なる出力電圧を有する構成可変PVパネルの場合、PVアレイ出力電圧は並列電気回路を解析するための従来方法によって計算することができる。図4の例のPVアレイからの出力電流は、‘n’枚のパネルのそれぞれからの出力電流、必要に応じる番号1のPVパネル100のコネクタP1への電流入力及び必要に応じる番号nのPVパネル100のコネクタP2への電流入力の算術和に等しい。PVアレイ負出力端子170は、図4の破線の接続線路によって示されるように、番号nのPVパネル100のコネクタP2の端子2 106に、または番号1のPVパネル100のコネクタP1の端子2 106に、選択的に、電気的に接続することができる。PVアレイ正出力端子168は、図4の破線の接続線路によって示されるように、番号1のパネルのコネクタP1の端子1 104に、または番号nのパネルのコネクタP2の端子1 158に、選択的に、電気的に接続することができる。
図4に示される並列構成の例は与えられたレベルの入射光に対して最大量のPVアレイ出力電流を発生するという利点を有する。しかし、図4の例において1枚以上のPVパネルからの出力電圧が、例えば、PVパネルのPVモジュールにわたって落ちる影により、あるいはPVパネルまたは付帯相互接続ケーブルの誘電破壊による漏洩電流により、低下すると、PVアレイ全体の出力電圧が低下する。入射光が減少し続けるかまたは漏洩電流が増加し続けると、PVアレイ出力電圧は最終的にインバータの最小入力電圧仕様を下まわり、アレイによってつくられる電力はもはや全くインバータを介して電力網に結合されることができなくなる。すなわち、PVアレイで発生される電力は無効電力になる。
いくつかのPVパネルを直列に、他のパネルを並列に、選択的に接続すると、PVパネル間が並列だけで接続されているPVアレイに比較して、PVアレイからの出力電圧を高めることができる。インバータの最小入力電圧より高いPVアレイ出力電圧を得るための最小数のPVパネルを直列に接続することにより、減光状態の下でアレイからの電流出力を最大化することができる。例えば太陽が沈むにつれてまたはPVアレイに入射する太陽光を厚い雲の層が徐々に遮るにつれて、低下していく光量に応答して、全パネルが直列に接続され、可能な最高PVアレイ出力電圧が発生されるまで、選択的に直列に電気的に接続されるPVパネルの数を多くしていくことができる。
図5は、直列接続と並列接続の組合せで接続された3枚のPVパネルを含むPVアレイの一例を示す。図5の例において、番号1のPVパネル100は直列−並列セレクタ138 X1が‘P’側切換状態に設定されている。番号2のPVパネル100の直列−並列セレクタ138 X2は‘S’側切換状態に設定され、番号nのPVパネル100では直列−並列セレクタ138 Xnが‘S’側切換状態に設定されている。図5においてPVアレイ正出力端子168とPVアレイ負出力端主170の間で測定されるPVアレイ出力電圧は、PVパネルが図4の例に示されるような並列に接続されているPVアレイの出力電圧のほぼ2倍である。したがって、図5におけるように構成されたPVアレイは図4のPVアレイの例よりも低い光量の下でインバータの最小入力電圧以上の出力電圧を発生することができる。図5の例におけるように、PVパネル間の選択的な直列及び並列の接続を有するPVアレイは、並列に相互接続されているだけのPVパネルがインバータ入力への接続に対して低すぎる電圧で電力を出力する条件の下で、電力網に出力するための電力を取り込む。
図6は直列及び並列の電気的接続の組合せ及び。12枚の構成可変PVパネルを有する構成可変PVアレイによって発生される、対応するPVアレイ出力電圧の例を説明するために用いることができる。図6の構成可変PVアレイ10の例は12枚の構成可変PVパネルを有し、それぞれのPVパネルは図2または15の例にしたがい、ケーブルアセンブリ166によって電気的に相互接続されてPVアレイにされている。PVアレイからの出力電圧V出力はPVアレイ正出力端子168とPVアレイ負出力端子170にかけて測定される。番号1のPVパネル100のコネクタP1の端子1 104はPVアレイ10の正出力端子168に電気的に接続され、正出力端子168はさらにインバータ172の第1のDC入力に電気的に接続される。番号12のPVパネル100のコネクタP2の端子1 158はPVアレイ10の負出力端子170に電気的に接続され、負出力端子170はさらにインバータ172の第2のDC入力に電気的に接続される。図6に簡略化された形態で表されるPVパネル100のそれぞれは、PVモジュール108及び直列−並列セレクタ(X1,X2,X3,...X12)を有する。
図7の簡略な等価回路で示される別の構成の一例において、図6のPVアレイ10の、図7ではPVモジュール108で表される、12枚のPVパネル100は並列電気回路で接続されている。正端子110と負端子112にかけて測定される、それぞれのPVモジュール108からの出力電圧は電圧‘E’で表される。12の直列−並列セレクタ(X1〜X12)の全てについて選ばれた‘P’側切換状態に対応する、図7の並列電気構成に対し、第1と第2の出力端子(168,170)にかけて測定される、PVアレイの出力電圧V出力は‘E’に等しい。
表1は、図6〜12の例における12の直列−並列セレクタについて切換状態を挙げている。図8〜12は図6の実施形態例に対する別の電気構成のさらなる例を示す。図8はそれぞれの群において6枚の構成可変PVパネルが並列に接続されている2つの直列接続された群についての等価電気回路を示す。図8のPVアレイ構成は第1と第2のPVアレイ出力端子(168,170)にかけて2Eの出力電圧を有する。ここで‘E’は図7について定義されている。
図9は群毎に4枚の構成可変PVパネルが並列に接続されている3つの直列接続された群についての等価電気回路の一例を示し、PVアレイ出力電圧V出力は3Eに等しい。図10は群毎に3枚の構成可変PVパネルが並列に接続されている4つの直列接続された群の一例を示し、PVアレイ出力電圧は4Eに等しい。それぞれの群が並列に接続された2枚の構成可変PVパネルを有する、6つの直列接続された群を示す、図11の例に示される構成により、6Eに等しいPVアレイ出力電圧V出力が発生される。最後に、図12はPVパネル間の直列接続と並列接続の変更によって達成され得る最大のPVアレイ出力電圧値を有する構成の一例を示す。図12においては、12の構成可変PVモジュール108の全てが直列電気回路に接続されている。
Figure 2014508939
図6のPVアレイの例について、図6から12の例に示されていない他の構成も選ばれ得る。例えば、それぞれ整数‘y’枚の並列接続されたPVパネルの整数‘x’個の群に配列されたPVアレイから、選ばれた整数‘j’枚のPVパネルを残りの整数‘k’枚のPVパネルと直列に電気的に接続することができる。あるいは、並列接続された構成可変PVパネルの異なる群が群毎に異なる枚数のPVパネルを有することができる。
図6から12の例は、数100枚、さらには数1000枚の、パネルを有する非常に大規模なPVアレイに拡張することができる。構成可変PVパネルは、複数の直列接続PVパネルチェーンを有し、直列チェーンがさらに相互に並列電気回路で接続されている、非常に大規模なPVアレイにおける使用に良く適している。いくつかの非常に大規模なアレイにおいては、最小DC入力電圧値が高いインバータが好ましいであろう。例えば、電力網に接続されるインバータの一例において、インバータの最小DC入力電圧は単PVパネルからの電圧出力のほぼ15倍である。すなわち、インバータの入力要件を満たすに十分に大きい出力電圧を発生するには、少なくとも15枚のPVパネルが直列で電気的に接続されることになろう。PVアレイは多くの直列接続PVパネルチェーンを有することができ、パネルチェーンはさらに相互に並列に、またインバータの入力に、接続される。大規模構成可変アレイにおける構成可変PVパネルの動作は本明細書で先に説明した例における動作と、それぞれの直列チェーンのPVパネルの枚数を拡張し、複数のパネルチェーンを並列電気回路で配置することによって対照することができる。例えば、図7〜12の例における、PVモジュール108で図に表される、構成可変PVパネルのそれぞれを、最小入力電圧が高いインバータに電力を供給しているPVアレイにおける非常に多くの枚数のPVパネルの挙動をモデル化するため、構成可変PVパネルの直列接続チェーンで置き換えることができるであろう。
構成可変PVアレイにおける構成可変PVパネルの動作を考察したが、以下の例は、PVアレイの個々のPVパネルの全てについて、またはPVアレイのPVパネル群の全てについて、絶縁抵抗をどのようにして測定することができるか、及び、誘電破壊不良が検出されれば、どのようにしてその箇所を、アレイのパーツを分解及び再組立せずに、PVアレイの特定のパーツに特定することができるかを説明する。図1の例の構成可変PVアレイ、IRT、コントローラ及びスイッチ、並びに図2の例の構成可変PVパネルを再び参照すれば、PVアレイ内の選ばれたPVパネルの絶縁抵抗を測定する方法の一例は、正及び負の出力スイッチ(70,71)を開くことによってインバータ172をアレイ出力(168,170)から切り離す工程、次いで、その絶縁抵抗が測定されるべきPVパネルを除き、アレイ内の他のパネルのバイパスセレクタを‘B(バイパス)’側切換状態に設定する工程で始まる。測定されるべきPVパネルのバイパスセレクタは‘N(ノーマル)’側切換状態に設定される。例えば、図1の1番のPVパネル100について絶縁抵抗を測定するためには、2番からn番のPVパネルのバイパスセレクタが‘B’に設定され、よってこれらのパネルのPVモジュールをバイパスして、バイパスされたPVモジュールを絶縁抵抗測定から除外する。2番からn番のPVパネルがバイパスされている、1番のPVパネル100の測定についての等価回路の一例が図14に示される。
図14の例で示唆されるように、測定されるべきPVパネル以外のPVパネルについてバイパスセレクタを‘B’に設定するとともに、1番のPVパネル100の出力がPVアレイ出力端子(168,170)に電気的に接続される。PVアレイの残りのPVモジュール、すなわち測定されていないPVアレイのパーツの出力はPVアレイ出力端子に電気的に接続されない。バイパスセレクタの設定後の次の工程で、PVアレイ正出力フィーダー80がPVアレイ負出力フィーダー81に短絡される。正出力フィーダー80が負出力フィーダー81に短絡された後、IRT60が1番のPVパネルの絶縁抵抗測定を行う。絶縁抵抗測定は、試験されるPVパネルの直列−並列セレクタまたはPVアレイの他のパーツの直列−並列セレクタが‘S’状態または‘P’状態のいずれにあるかに関わらず、成功裏に完了することができる。図1及び14の例に示される構成については、上述したようにバイパスセレクタを設定した後の、線路端子61と接地端子62の間のIRT60による絶縁抵抗測定には、1番のPVパネルについて測定された漏洩電流への寄与並びにPVパネル間の相互接続ケーブル及びPVパネルのバイパスされたパーツのバイパスセレクタと直列−並列セレクタからの寄与が含まれ得る。測定された絶縁抵抗が好ましい範囲にあれば、すなわち、誘電体不良が生じておらず、電気絶縁を通る漏洩電流がPVアレイの動作を損なうには小さすぎることを示すに十分に絶縁抵抗が高ければ、異なるPVパネル、例えばPVアレイの次の順番のPVパネルを断路するためにバイパスセレクタを変えることができる。
絶縁抵抗測定完了後、IRT60は測定値を、必要に応じて、ログをとるため及び解析のためまたは外部コンピュータへの送信のために、コントローラ63に送り、全てのPVパネルが測定されてしまうまで、試験はPVアレイの次のPVパネルに進む。絶縁抵抗測定が完了すると、あるいは絶縁抵抗測定のための時間が尽きると、第1及び第2の短絡スイッチ(54,55)を開き、PVアレイ出力電力をインバータ172に接続するために正及び負の出力スイッチ(70,71)を閉じることによって、PVアレイを通常の動作に戻すことができる。
PVパネル群について絶縁抵抗を測定することができる。PVアレイは選ばれた数のパネル群に区分することができる。PVアレイの全てのPVパネルが少なくとも1つの選ばれたPVパネル群に割り当てられることが好ましい。全ての群は同じ枚数のPVパネルを有することができ、あるいはそれぞれの群に異なる枚数のパネルを割り当てることができる。パネル群は、大規模アレイ内の区域により、様々な製造業者からのパネルを有するアレイにおいてパネル製造業者により、パネルの製造後経過年数により、またはアレイ管理者によって選ばれるその他の基準により、選ぶことができる。絶縁抵抗測定が開始される前に、例えば先に説明したようにコントローラ63により、出力スイッチ(70,72)を開くことでインバータ172をアレイから切り離すことができ、正出力分岐線路50及び負出力分岐線路51が接続し合わされる。次いで測定のためのPVパネル群を選ぶことができ、選ばれた群内の全てのPVパネルのバイパスセレクタが‘N’に設定され、PVアレイの残りのPVパネルのバイパスセレクタが‘B’に設定される。1枚の構成可変PVパネルについて先に説明したように、絶縁抵抗がIRT60によって測定される。得られた絶縁抵抗値は選ばれた群内のPVパネル及び相互接続ケーブルに該当する。別のPVパネル群を試験するため、先に試験された群内のPVパネルのバイパスセレクタが‘B’に設定され、新しく選ばれた群内のPVパネルのバイパスセレクタが‘N’に設定されて、新しい絶縁抵抗値が測定される。PVアレイ全体が評価されてしまうまで、この態様で群を一つずつ順次に試験することができる。ある群の絶縁抵抗測定値が、低抵抗値、大漏洩電流、または誘電破壊に対応する抵抗値のような望ましくない絶縁抵抗状態を示せば、その群内の個々のPVパネルを、1つ以上のパネルに問題が見つかるまで、先に説明したように測定することができる。個々のPVパネルについてと同様に、PVパネル群について絶縁抵抗の経時傾向及び変化率を計算することができる。
絶縁抵抗問題は、PVパネルだけでなく、PVアレイのケーブルアセンブリまたはフィーダーにもおこり得る。したがって、PVパネルの測定を行う前にケーブルアセンブリ及びフィーダーの絶縁抵抗をチェックすることが望ましいであろう。図1の例のPVアレイ10のケーブルアセンブリ166及びフィーダー80と81をチェックするため、それぞれのPVパネルの直列−並列セレクタを‘S’に設定することで全てのPVパネルを直列に相互接続し、次いで全てのバイパスセレクタを切換状態‘B’に設定する。図2並びに直列−並列セレクタ及びバイパスセレクタ120の動作についての上記関連説明を参照されたい。出力スイッチ(70,71)を開くことでPVアレイをインバータ172から切り離すことができ、第1及び第2の短絡スイッチ(54,55)を閉じることで正及び負のフィーダーを相互に短絡させることができる。PVアレイの全てのPVパネルを直列電気接続にし、アレイをインバータから分離し、全てのバイパスセレクタを‘B’に切り換えた後に、PVパネルの全直列接続PVパネルの絶縁抵抗測定を、IRT60を用いて行うことができる。
バイパスセレクタの改変により、上述したような直列接続された全PVパネルによるケーブルアセンブリ及びフィーダーの絶縁抵抗試験中に検出された問題の源としての特定のPVパネルまたはケーブルアセンブリの識別が可能になる。バイパスセレクタは必要に応じて図15に示されるように断路スイッチ90を有することができる。あるいは、図15の例に示されるように断路スイッチ90を電気的に接続することができるが、バイパスセレクタ120とは独立のパーツとすることができる。断路スイッチ90はノードコントローラ114によって開閉させることができる。絶縁抵抗測定は、初めに、全てのバイパスセレクタを‘B’に設定し、PVアレイの全てのPVパネルを電気的に直列に接続し、1番からn番の全てのPVパネルの断路スイッチを閉位置にして、行うことができる。図15はスイッチ端子91と92の間で閉位置にある断路スイッチ90の一例を示す。上述したようにバイパスされた直列接続PVパネルチェーンの絶縁抵抗問題が検出されなければ、ケーブルアセンブリには絶縁抵抗問題が存在しないと結論することができる。しかし、絶縁抵抗問題、例えば所望の値より低い絶縁抵抗値または既に発生している誘電破壊を表す値が検出されれば、それぞれのPVパネルの断路スイッチ90を順次に、n番のPVパネル100から始め、次いで、n−1番のパネル,n−2番のパネル,...と、逆順で開いてゆき、測定値が絶縁抵抗に問題がないことを示すまで、それぞれの断路スイッチ90を開く毎に新しく絶縁抵抗測定を行うことによって問題の箇所を決定することができる。
n番のPVパネル100の断路スイッチ90を開くと、n番のPVパネル100及びフィーダー81がPVアレイの残りのPVパネルから電気的に断路される。n番のPVパネル100の断路スイッチを開いて絶縁抵抗測定を行うと、n番のPVパネル及びフィーダー81は残りの直列接続されたPVパネル及びケーブルの絶縁抵抗測定から除外される。n番のPVパネル100の断路スイッチ90を開いた後に、絶縁抵抗問題が検出されなければ、絶縁抵抗問題の箇所はn番のPVパネル100またはフィーダー81にあると特定することができる。n番のPVパネル100の断路スイッチ90を開いた後にもまだ絶縁抵抗問題が検出されれば。絶縁抵抗問題の箇所は、より小さい番号のPVパネルまたはそのPVパネルの次に大きい番号のPVパネルへの付帯ケーブルアセンブリ116にあると特定することができる。直列接続PVパネルチェーンの絶縁抵抗測定を順に続け、それぞれのパネルの断路スイッチを、一度に1つずつ、開いていくことにより、絶縁抵抗問題が初めに検出されなかったときにその断路スイッチが開かれた番号のPVパネルと次に大きな番号のPVパネルにそのPVパネルを接続しているケーブルアセンブリの組合せに絶縁抵抗問題の箇所があると特定することができる。
本発明の開示される実施形態は、許容できないほど大きい漏洩電流値に対応する絶縁抵抗値を有するPVパネルまたはケーブルアセンブリを検出することにより、PVアレイからの出力電力化の最適化に適用することができる。PVアレイの1つのPVパネルからの漏洩電流は、先に論じたように、アレイ全体からの電力出力を低下させ得る。本発明の実施形態にしたがうPVアレイ出力電力を最適化する方法は、PVアレイのそれぞれのPVパネルについて絶縁抵抗値を測定する工程、絶縁抵抗測定値を、PVアレイの電気絶縁を通る許容できないほど大きい漏洩電流値に対応し、さらにPVアレイからの許容できないほど低い電力出力の閾に対応する、閾値と比較する工程及び閾値より小さい絶縁抵抗値を有するPVパネルを、そのバイパスセレクタを‘B’に設定することにより、断路する工程を含む。構成可変PVパネルの絶縁抵抗測定は、PVアレイの全てのPVパネルが試験されてしまい、閾値より小さい絶縁抵抗を有するPVパネルの全てがアレイからバイパスされてしまうまで、続けることができる。同様に、PVアレイ出力に結合される電圧と電流及び閾値より小さい絶縁抵抗値を有するPVパネルの数を最小限に抑えることによって、PVアレイからの電力出力を最大化することができる。
本明細書内で別途に明白に言明されない限り、通常の用語はそれぞれの提示のそれぞれの文脈内でそれぞれの対応する通常の意味を有し、通常の術語はそれぞれの対応する普通の意味を有する。
10 PVアレイ
40 接地端子
44 接地バスバー
50 PVアレイ正出力分岐線路
52 正出力分岐端子
54,55 短絡スイッチ
60 メガー(IRT)
63 (メガー)コントローラ
65 通信ネットワーク
70 正出力スイッチ
71 負出力スイッチ
80 PVアレイ正出力フィーダー
81 PVアレイ負出力フィーダー
90 断路スイッチ
100 PVパネル
108 PVモジュール
114 ノードコントローラ
120 バイパスセレクタ
122,130 バイパススイッチ
138 直列−並列セレクタ
140,148 S−Pスイッチ
162 制御/モニタリングインターフェース
164 双方向I/Oバス
166 ケーブルアセンブリ
168 PVアレイ正出力端子
170 PVアレイ負出力端子
172 インバータ

Claims (20)

  1. 太陽電池(PV)アレイの絶縁抵抗を測定する方法において、
    絶縁抵抗の測定のため、前記PVアレイ内の一群のPVパネルを選択する工程、
    前記選択された群内のそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタを非バイパス側切換状態に設定する工程、
    前記選ばれた群に含まれていないそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタをバイパス側切換状態に設定する工程、及び
    前記選ばれたPVパネル群について絶縁抵抗の値を測定する工程、
    を含むことを特徴とする方法。
  2. インバータからPVアレイ出力電圧を切り離すため、前記PVアレイの負出力スイッチ及び正出力スイッチを開く工程、
    PVアレイ正出力フィーダーをPVアレイ負出力フィーダーに短絡するため、第1の短絡スイッチ及び第2の短絡スイッチを閉じる工程、及び
    前記短絡された正出力フィーダー及び負出力フィーダーと接地基準端子の間の絶縁抵抗の値を測定する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記選ばれたPVパネル群について絶縁抵抗の値を測定した後、前記PVアレイ出力電圧を前記インバータに再接続するため、前記PVアレイの前記負出力スイッチ及び前記正出力スイッチを閉じる工程、及び
    前記選ばれたPVパネル群について絶縁抵抗の値を測定した後、絶縁抵抗テスターの線路端子入力を前記PVアレイ正出力フィーダー及び前記PVアレイ負出力フィーダーから切り離すため、前記第1の短絡スイッチ及び前記第2の短絡スイッチを開く工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
  4. 前記PVアレイの全てのPVパネル群について絶縁抵抗の測定が行われてしまうまで、
    絶縁抵抗の測定のため、前記PVアレイ内の一群のPVパネルを選択する工程、
    前記選択された群内のそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタを非バイパス側切換状態に設定する工程、
    前記選ばれた群に含まれていないそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタをバイパス側切換状態に設定する工程、及び
    前記選ばれたPVパネル群について絶縁抵抗の値を測定する工程、
    を反復する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  5. 絶縁抵抗の測定のため、前記PVアレイ内の全てのPVパネルを少なくとも1つのPVパネル群に割り当てる工程をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  6. 絶縁抵抗の測定のため、前記PVアレイを複数のPVパネル群に区分する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  7. いずれかのPVパネル群について絶縁抵抗問題が検出されたときに限り、前記PVパネル群内の全てのPVパネルのそれぞれについて絶縁抵抗を測定する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  8. 選ばれたPVアレイコンポーネントについての以前に測定された絶縁抵抗の値を履歴記録に保存する工程、
    前記選ばれたPVアレイコンポーネントについての絶縁抵抗値の変化率を、前記履歴記録からの測定値を現時点の測定値と比較することによって、計算する工程、
    前記絶縁抵抗値が、前記計算された変化率において、指定された絶縁抵抗閾値を下まわるまでの時間を推定する工程、及び
    前記推定された時間が尽きる前に前記選ばれたPVアレイコンポーネントに予防保守を実施する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  9. PVパネル間のいかなるケーブルアセンブリも切り離さずに、前記PVアレイ内のそれぞれのPVパネルについて個々に絶縁抵抗測定を行う工程をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  10. いずれかのPVパネル群について絶縁抵抗測定を行う前に、全てのPVパネルの前記バイパスセレクタを「バイパス」側切換状態に設定し、全てのPVパネルの直列−並列セレクタを「直列」側切換状態に設定し、前記PVアレイのケーブルアセンブリ及びフィーダーの絶縁抵抗に対応する絶縁抵抗測定を行うことにより、最初の絶縁抵抗測定が行われることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  11. PVアレイのケーブルアセンブリ及びフィーダーについて絶縁抵抗値を測定する方法において、
    前記PVアレイのそれぞれのPVパネルの直列−並列セレクタを、前記PVパネルの全てが相互に直列電気接続で接続されるように、設定する工程、
    前記PVアレイのそれぞれのPVパネルのバイパスセレクタを「バイパス」側切換状態に設定し、よってそれぞれのPVパネルのPVモジュールからの出力電圧をPVアレイ出力電圧から除外する工程、及び
    前記PVアレイについて絶縁抵抗の値を測定する工程、
    を含むことを特徴とする方法。
  12. インバータからPVアレイ出力電圧を切り離すため、前記PVアレイの負出力スイッチ及び正出力スイッチを開く工程、
    PVアレイ正出力フィーダーをPVアレイ負出力フィーダーに短絡するため、第1の短絡スイッチ及び第2の短絡スイッチを閉じる工程、及び
    前記短絡された正出力フィーダー及び負出力フィーダーと接地基準端子の間の絶縁抵抗の値を測定する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の方法。
  13. 前記測定された絶縁抵抗の値を絶縁抵抗不良に対応する閾値と比較する工程をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の方法。
  14. 前記測定された絶縁抵抗の値が前記閾値より小さい場合には、それぞれのPVパネルの前記バイパスセレクタに接続された断路スイッチを順次に開き、PVパネルを1枚ずつ、断路スイッチのそれぞれの開放後に絶縁抵抗測定をあらためて行うことによって、1枚のPVパネルを絶縁抵抗問題の源として識別する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
  15. 測定された絶縁抵抗値が絶縁に問題はないことを示すまで、断路スイッチのそれぞれの開放後に、新しく絶縁抵抗測定を行う工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
  16. 断路スイッチが開かれ、絶縁抵抗問題が検出されなかった、最後のPVパネルを絶縁抵抗問題の源として1枚のPVパネルを識別する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
  17. PVアレイ出力電力を最適化する方法において、
    PVアレイのPVパネルについて絶縁抵抗値を測定する工程、
    前記PVパネルについての前記測定された絶縁抵抗値を選ばれた漏洩電流の値に対応する閾値と比較する工程、及び
    前記測定された絶縁抵抗値が前記閾値より小さい場合には、前記PVパネルのバイパスセレクタをバイパス側切換状態に設定する工程、
    を含むことを特徴とする方法。
  18. 前記PVアレイ内の全てのPVパネルについて絶縁抵抗を測定する工程をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の方法。
  19. 前記閾値より小さい絶縁抵抗値を有するPVパネルの全てについて、バイパスセレクタをバイパス側切換状態に設定する工程、
    をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の方法。
  20. 前記PVアレイ出力に結合される電流と電圧及び前記閾値より小さい絶縁抵抗値を有するPVパネルの枚数を最小限に抑え、よって前記PVアレイによって発生される電力量を最大化する工程をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の方法。
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