[go: up one dir, main page]

JP2014160981A - レベルシフト回路 - Google Patents

レベルシフト回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2014160981A
JP2014160981A JP2013031367A JP2013031367A JP2014160981A JP 2014160981 A JP2014160981 A JP 2014160981A JP 2013031367 A JP2013031367 A JP 2013031367A JP 2013031367 A JP2013031367 A JP 2013031367A JP 2014160981 A JP2014160981 A JP 2014160981A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
power supply
voltage
signal
output terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013031367A
Other languages
English (en)
Inventor
Kosuke Takada
幸輔 高田
Atsushi Igarashi
敦史 五十嵐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2013031367A priority Critical patent/JP2014160981A/ja
Priority to TW103101221A priority patent/TWI520486B/zh
Priority to KR1020140017237A priority patent/KR20140104352A/ko
Priority to US14/182,950 priority patent/US9030249B2/en
Priority to CN201410056621.1A priority patent/CN103997334A/zh
Publication of JP2014160981A publication Critical patent/JP2014160981A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L5/00Automatic control of voltage, current, or power
    • H03L5/02Automatic control of voltage, current, or power of power
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356086Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018507Interface arrangements

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】誤動作しないレベルシフト回路を提供する。
【解決手段】入力端子に入力される第一電源端子の第一電源電圧の信号を第二電源端子の第二電源電圧の信号に変換して出力端子に出力するレベルシフト回路であって、第一電源電圧が所定電圧未満になることを検出する制御回路を備え、制御回路の検出信号によって、レベルシフト回路の出力端子の電圧が第二電源電圧または接地電圧に固定されるレベルシフト回路とした。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体装置に搭載されるレベルシフト回路に関する。
従来のレベルシフト回路について説明する。図2は、従来のレベルシフト回路を示す回路図である。
入力電圧VINがハイレベルになると(第一電源電圧VDD1になると)、インバータ51により、NMOSトランジスタ52のゲート電圧は接地電圧VSSになる。すると、NMOSトランジスタ52はオフする。また、NMOSトランジスタ53はオンし、出力電圧VOUTはローレベルになる(接地電圧VSSになる)。この時、PMOSトランジスタ54はオンしていて、内部ノードN1の電圧は第二電源電圧VDD2になっていて、PMOSトランジスタ55はオフしている。
また、入力電圧VINがローレベルになると(接地電圧VSSになると)、インバータ51により、NMOSトランジスタ52のゲート電圧は第一電源電圧VDD1になる。すると、NMOSトランジスタ52はオンし、内部ノードN1の電圧は接地電圧VSSになり、PMOSトランジスタ55はオンし、出力電圧VOUTはハイレベルになる(第二電源電圧VDD2になる)。この時、NMOSトランジスタ53はオフしている(例えば、特許文献1参照)。
特開2012−134690号公報
しかし、特許文献1で開示された技術では、第一電源電圧VDD1が回路の最低動作電源電圧よりも低くなると、レベルシフト回路が誤動作して、出力電圧VOUTが不定になってしまう。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、誤動作しないレベルシフト回路を提供する。
本発明は、上記課題を解決するため、入力端子に入力される第一電源端子の第一電源電圧の信号を第二電源端子の第二電源電圧の信号に変換して出力端子に出力するレベルシフト回路であって、第一電源電圧が所定電圧未満になることを検出する制御回路を備え、制御回路の検出信号によって、レベルシフト回路の出力端子の電圧が第二電源電圧または接地電圧に固定されるレベルシフト回路とした。
本発明によると、第一電源電圧が最低動作電源電圧よりも低い場合、レベルシフト回路の出力電圧は第二電源電圧または接地電圧に強制的に固定されるので、レベルシフト回路は誤動作しない。
本実施形態のレベルシフト回路を示す回路図である。 従来のレベルシフト回路を示す回路図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
まず、レベルシフト回路の構成について説明する。図1は、レベルシフト回路を示す回路図である。ここで、第一電源端子の電圧は第一電源電圧VDD1、第二電源端子の電圧は第二電源電圧VDD2、接地端子の電圧は接地電圧VSS、である。レベルシフト回路は、入力された第一電源電圧VDD1の信号を、第二電源電圧VDD2の信号に変換して出力する。
レベルシフト回路は、信号処理回路10、及び、制御回路20を備える。信号処理回路10は、インバータ11、NMOSトランジスタ12〜13、PMOSトランジスタ14〜15、及び、スイッチ16〜17を備える。制御回路20は、NMOSトランジスタ21、電流源22、及び、インバータ23を備える。
レベルシフト回路において、信号処理回路10の入力端子は、レベルシフト回路の入力端子である。信号処理回路10の出力端子は、レベルシフト回路の出力端子である。信号処理回路10と制御回路20との第一制御信号端子は、互いに接続される。信号処理回路10と制御回路20との第二制御信号端子は、互いに接続される。
信号処理回路10において、インバータ11の入力端子は、信号処理回路10の入力端子及びNMOSトランジスタ13のゲートに接続され、出力端子は、NMOSトランジスタ12のゲートに接続され、電源端子は、第一電源端子に接続され、接地端子は、接地端子に接続される。NMOSトランジスタ12のソースは、接地端子に接続され、ドレインは、内部ノードN1に接続される。NMOSトランジスタ13のソースは、接地端子に接続され、ドレインは、内部ノードN2に接続される。スイッチ16は、内部ノードN1と接地端子との間に設けられる。スイッチ17は、信号処理回路10の出力端子と内部ノードN2との間に設けられる。PMOSトランジスタ14のゲートは、信号処理回路10の出力端子に接続され、ソースは、第二電源端子に接続され、ドレインは、内部ノードN1に接続される。PMOSトランジスタ15のゲートは、内部ノードN1に接続され、ソースは、第二電源端子に接続され、ドレインは、信号処理回路10の出力端子に接続される。スイッチ16は、信号処理回路10の第一制御信号端子の信号で制御される。スイッチ17は、信号処理回路10の第二制御信号端子の信号で制御される。
制御回路20において、NMOSトランジスタ21のゲートは、第一電源端子に接続され、ソースは、接地端子に接続され、ドレインは、内部ノードN3に接続される。電流源22は、第二電源端子と内部ノードN3との間に設けられる。インバータ23の入力端子は、内部ノードN3及び制御回路20の第一制御信号端子に接続され、出力端子は、制御回路20の第二制御信号端子に接続され、電源端子は、第二電源端子に接続され、接地端子は、接地端子に接続される。
ここで、NMOSトランジスタ21及び電流源22は、電圧検出回路を構成する。電圧検出回路の入力端子は、NMOSトランジスタ21のゲートであり、出力端子は、内部ノードN3である。電圧検出回路は、第一電源電圧VDD1が最低動作電源電圧と所定電圧との合計電圧になることを検出する。なお、この電圧は、電圧検出回路の閾値電圧であり、レベルシフト回路が実際に動作できない電源電圧(最低動作電源電圧)よりも所定電圧だけ高い電圧である。この所定電圧は、半導体装置の仕様により、適宜調整される。具体的には、NMOSトランジスタ21の閾値電圧及びサイズと電流源22の電流量が適宜調整されることにより、電圧検出回路の閾値電圧が調整される。
次に、第一電源電圧VDD1が最低動作電源電圧よりも低い場合における、レベルシフト回路の動作について説明する。
この時、第一電源電圧VDD1は電圧検出回路の閾値電圧よりも低い。すると、NMOSトランジスタ21はオフする。内部ノードN3の電圧は、電流源22により、プルアップされ、第二電源電圧VDD2になる。つまり、第一制御信号が第二電源電圧VDD2になる。スイッチ16は例えばNMOSトランジスタであり、ゲート電圧が第二電源電圧VDD2になると、スイッチ16はオンするので、内部ノードN1の電圧は接地電圧VSSになる。よって、PMOSトランジスタ15がオンし、出力電圧VOUTは第二電源電圧VDD2に強制的に固定される。よって、第一電源電圧VDD1が最低動作電源電圧よりも低い場合、レベルシフト回路の出力電圧VOUTは第二電源電圧VDD2に強制的に固定されるので、レベルシフト回路は誤動作しない。
内部ノードN3の電圧は第二電源電圧VDD2になっているので、インバータ23により、第二制御信号は接地電圧VSSになっている。スイッチ17は例えばNMOSトランジスタであり、ゲート電圧が接地電圧VSSになっているので、スイッチ17はオフしている。
このように、第一電源電圧VDD1が電圧検出回路の閾値電圧よりも低い場合、レベルシフト回路の出力電圧VOUTは第二電源電圧VDD2に強制的に固定される。
次に、第一電源電圧VDD1が最低動作電源電圧と所定電圧との合計電圧よりも高い場合における、レベルシフト回路の動作について説明する。
この時、第一電源電圧VDD1は電圧検出回路の閾値電圧よりも高い。すると、NMOSトランジスタ21はオンする。内部ノードN3の電圧は、接地電圧VSSになる。つまり、第一制御信号が接地電圧VSSになるので、スイッチ16はオフする。また、インバータ23により、第二制御信号は第二電源電圧VDD2になるので、スイッチ17はオンする。
ここで、入力電圧VINがハイレベルになると(第一電源電圧VDD1になると)、インバータ11により、NMOSトランジスタ12のゲート電圧は接地電圧VSSになる。すると、NMOSトランジスタ12はオフする。また、NMOSトランジスタ13はオンし、出力電圧VOUTはローレベルになる(接地電圧VSSになる)。この時、PMOSトランジスタ14はオンしていて、内部ノードN1の電圧は第二電源電圧VDD2になっていて、PMOSトランジスタ15はオフしている。
また、入力電圧VINがローレベルになると(接地電圧VSSになると)、インバータ11により、NMOSトランジスタ12のゲート電圧は第一電源電圧VDD1になる。すると、NMOSトランジスタ12はオンし、内部ノードN1の電圧は接地電圧VSSになり、PMOSトランジスタ15はオンし、出力電圧VOUTはハイレベルになる(第二電源電圧VDD2になる)。この時、NMOSトランジスタ13はオフしている。
このように、第一電源電圧VDD1が電圧検出回路の閾値電圧よりも高い場合、レベルシフト回路の出力電圧VOUTは入力電圧VINで決まる。
なお、電流源22は、プルアップの機能を果たす範囲で、限定されない。例えば、抵抗素子であっても良い。
また、スイッチ16及びスイッチ17への制御信号は入れ替えられても良く、また、レベルシフト回路の出力端子と内部ノードN1とが入れ変えられても良い。
また、NMOSトランジスタ21のゲートは、第一電源端子に直接接続されているが、抵抗分圧回路を介して接続されても良い。
10 信号処理回路
20 制御回路
22 電流源
VDD1〜VDD2 電源電圧
VSS 接地電圧
VIN 入力電圧
VOUT 出力電圧

Claims (6)

  1. 入力端子に入力される第一電源端子の第一電源電圧の信号を第二電源端子の第二電源電圧の信号に変換して出力端子に出力するレベルシフト回路であって、
    前記第一電源電圧が所定電圧未満になることを検出する制御回路を備え、
    前記制御回路の検出信号によって、前記レベルシフト回路の出力端子の電圧が前記第二電源電圧または接地電圧に固定されることを特徴とするレベルシフト回路。
  2. 前記入力端子に入力される信号が第一電源電圧の時に前記出力端子の電圧を前記第二電源電圧にする第一NMOSトランジスタと、
    前記第一NMOSトランジスタと並列に接続された第一スイッチと、
    前記入力端子に入力される信号が第一電源電圧の時に前記出力端子の電圧を前記接地電圧にする第二NMOSトランジスタと、
    前記第二NMOSトランジスタと前記出力端子の間に接続された第二スイッチと、を備え、
    前記制御回路の検出信号によって、前記第一スイッチと前記第二スイッチとが制御されることを特徴とする請求項1記載のレベルシフト回路。
  3. 前記制御回路は、
    ゲートは前記第一電源端子に接続され、ソースは接地端子に接続され、ドレインは前記制御回路の第一出力端子に接続されるNMOSトランジスタと、
    前記第二電源端子と前記制御回路の第一出力端子との間に設けられる抵抗素子と、
    前記NMOSトランジスタのドレインと第二出力端子との間に設けられるインバータと、を備え、
    前記第一出力端子の信号で前記第一スイッチを制御し、前記第二出力端子の信号で前記第二スイッチを制御することを特徴とする請求項2記載のレベルシフト回路。
  4. 半導体装置に搭載されるレベルシフト回路において、
    信号処理回路と、制御回路と、を備え、
    前記信号処理回路は、
    ソースは接地端子に接続され、ドレインは第一内部ノードに接続される第一NMOSトランジスタと、
    ソースは接地端子に接続され、ドレインは第二内部ノードに接続される第二NMOSトランジスタと、
    入力端子は前記信号処理回路の入力端子及び前記第二NMOSトランジスタのゲートに接続され、出力端子は前記第一NMOSトランジスタのゲートに接続され、電源端子は第一電源端子に接続される第一インバータと、
    前記信号処理回路の第一制御信号端子の信号で制御され、前記第一内部ノードと接地端子との間に設けられる第一スイッチと、
    前記信号処理回路の第二制御信号端子の信号で制御され、前記信号処理回路の出力端子と前記第二内部ノードとの間に設けられる第二スイッチと、
    ゲートは前記信号処理回路の出力端子に接続され、ソースは第二電源端子に接続され、ドレインは前記第一内部ノードに接続される第一PMOSトランジスタと、
    ゲートは前記第一内部ノードに接続され、ソースは前記第二電源端子に接続され、ドレインは前記信号処理回路の出力端子に接続される第二PMOSトランジスタと、
    を備え、
    前記制御回路は、
    入力端子は前記第一電源端子に接続され、第一電源電圧が最低動作電源電圧と所定電圧との合計電圧になることを検出する電圧検出回路と、
    入力端子は前記電圧検出回路の出力端子及び前記第一制御信号端子に接続され、出力端子は前記第二制御信号端子に接続され、電源端子は前記第二電源端子に接続される第二インバータと、
    を備えることを特徴とするレベルシフト回路。
  5. 前記電圧検出回路は、
    ゲートは前記第一電源端子に接続され、ソースは接地端子に接続され、ドレインは前記電圧検出回路の出力端子に接続される第三NMOSトランジスタと、
    前記第二電源端子と前記電圧検出回路の出力端子との間に設けられる抵抗素子と、
    を備えることを特徴とする請求項4記載のレベルシフト回路。
  6. 前記電圧検出回路の閾値電圧は、前記合計電圧になるよう調整されていることを特徴とする請求項5記載のレベルシフト回路。
JP2013031367A 2013-02-20 2013-02-20 レベルシフト回路 Pending JP2014160981A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013031367A JP2014160981A (ja) 2013-02-20 2013-02-20 レベルシフト回路
TW103101221A TWI520486B (zh) 2013-02-20 2014-01-14 搭載於半導體裝置的移位電路
KR1020140017237A KR20140104352A (ko) 2013-02-20 2014-02-14 레벨 시프트 회로
US14/182,950 US9030249B2 (en) 2013-02-20 2014-02-18 Level shift circuit
CN201410056621.1A CN103997334A (zh) 2013-02-20 2014-02-19 电平转换电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013031367A JP2014160981A (ja) 2013-02-20 2013-02-20 レベルシフト回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014160981A true JP2014160981A (ja) 2014-09-04

Family

ID=51311358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013031367A Pending JP2014160981A (ja) 2013-02-20 2013-02-20 レベルシフト回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9030249B2 (ja)
JP (1) JP2014160981A (ja)
KR (1) KR20140104352A (ja)
CN (1) CN103997334A (ja)
TW (1) TWI520486B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117318697A (zh) * 2023-09-15 2023-12-29 辰芯半导体(深圳)有限公司 电平移位电路和电源设备

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6719233B2 (ja) * 2016-03-07 2020-07-08 エイブリック株式会社 出力回路
CN109768795B (zh) * 2017-11-09 2025-01-17 恩智浦美国有限公司 低泄漏隔离单元
CN107861427B (zh) * 2017-11-14 2024-04-05 江西怡杉环保股份有限公司 信号处理装置和信号处理方法
TWI691167B (zh) * 2018-10-03 2020-04-11 新唐科技股份有限公司 位準轉換器
US11063593B2 (en) 2018-10-31 2021-07-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Level shifter enable
CN109861684B (zh) * 2019-01-25 2023-06-27 广州全盛威信息技术有限公司 跨电位的电平移位电路

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002185299A (ja) * 2000-12-13 2002-06-28 Seiko Epson Corp 半導体装置
JP2005252481A (ja) * 2004-03-02 2005-09-15 Toshiba Corp 半導体装置
US7675345B2 (en) * 2007-07-24 2010-03-09 Texas Instruments Incorporated Low-leakage level-shifters with supply detection

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6445210B2 (en) * 2000-02-10 2002-09-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Level shifter
KR100476725B1 (ko) * 2003-08-01 2005-03-16 삼성전자주식회사 바닥 레벨의 저전압원 감지 기능을 가지는 레벨 쉬프터 및레벨 쉬프팅 방법
JP5095184B2 (ja) * 2006-11-22 2012-12-12 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド レベルシフタ回路
CN100561869C (zh) * 2007-05-23 2009-11-18 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 电平转换电路
CN102270984B (zh) * 2011-07-01 2013-04-03 清华大学 一种正高压电平转换电路
US8643425B2 (en) * 2011-09-19 2014-02-04 Freescale Semiconductor, Inc. Level shifter circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002185299A (ja) * 2000-12-13 2002-06-28 Seiko Epson Corp 半導体装置
JP2005252481A (ja) * 2004-03-02 2005-09-15 Toshiba Corp 半導体装置
US7675345B2 (en) * 2007-07-24 2010-03-09 Texas Instruments Incorporated Low-leakage level-shifters with supply detection

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117318697A (zh) * 2023-09-15 2023-12-29 辰芯半导体(深圳)有限公司 电平移位电路和电源设备

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140104352A (ko) 2014-08-28
US20140232447A1 (en) 2014-08-21
TWI520486B (zh) 2016-02-01
US9030249B2 (en) 2015-05-12
TW201434266A (zh) 2014-09-01
CN103997334A (zh) 2014-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8669803B2 (en) High speed level shifter for converting low input voltage into wide-range high output voltage
JP2014160981A (ja) レベルシフト回路
US8493125B2 (en) Level shift circuit
JP5845112B2 (ja) スイッチ回路
CN103187963A (zh) 电平移位电路和使用电平移位电路的半导体器件
TWI415388B (zh) 電晶體免於高電壓應力並可操作在低電壓之電位轉換電路
JP5421075B2 (ja) 入力回路
JP2017063300A (ja) 入力回路
JP6524829B2 (ja) レベルシフト回路
JP2008177755A (ja) レベルシフト回路およびそれを用いた半導体装置
CN106664090B (zh) 一种缓冲器电路和采用该电路的电子设备
KR102034903B1 (ko) Cmos 인버터 회로장치
JP5979162B2 (ja) パワーオンリセット回路
JP2011071753A (ja) 半導体集積回路装置
JP2009171084A (ja) レベルシフタ回路
KR20100133610A (ko) 전압 레벨 시프터
JP2016167748A (ja) 出力バッファ回路
KR20160074163A (ko) 파워 온 리세트 회로
US9490808B2 (en) Sensing circuit
CN104467799A (zh) 输入输出电路装置
JP2014085745A (ja) 基準電圧生成回路
JP2010278868A (ja) リセットセットフリップフロップ回路
JP2017153095A (ja) 半導体回路及び半導体装置
JP6113489B2 (ja) 半導体回路及び半導体装置
CN106411311B (zh) 输出电路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151204

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20160112

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160715

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160726

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20170131