JP2014145644A - ダスト放射線モニタ装置及びダスト放射線モニタ方法 - Google Patents
ダスト放射線モニタ装置及びダスト放射線モニタ方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014145644A JP2014145644A JP2013014050A JP2013014050A JP2014145644A JP 2014145644 A JP2014145644 A JP 2014145644A JP 2013014050 A JP2013014050 A JP 2013014050A JP 2013014050 A JP2013014050 A JP 2013014050A JP 2014145644 A JP2014145644 A JP 2014145644A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dust
- line
- gas
- radiation
- purge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000428 dust Substances 0.000 title claims abstract description 235
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 86
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims abstract description 82
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 51
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 87
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 127
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 17
- 239000000941 radioactive substance Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 4
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】実施形態のダスト放射線モニタ装置10は、吸引ポンプ12と、吸引された気体が通るサンプリングライン13と、吸引された気体を排気する排気ライン9と、サンプリングライン13上の第1の集塵部14と、集塵部14内の放射線の計数率を測定する検出部17と、検出部17からの信号を処理する制御部29と、集塵部14の上流でサンプリングライン13に合流するパージライン18と、サンプリングライン13から集塵部14への流れと、パージライン18からサンプリングライン13への流れを切り替える集塵部流入制御機構と、集塵部流入制御機構と集塵部14を迂回するバイパスライン21と、バイパスライン21を遮断可能なバイパスライン制御機構と、バイパスライン21上の第2の集塵部8とを備える。
【選択図】図1
Description
本実施形態について、図1と図2を用いて説明する。図1は、第1の実施形態におけるダスト放射線モニタ装置のブロック図である。図2は第1の実施形態におけるダスト放射線モニタ装置の動作フローチャートである。
以下、本実施形態の構成について説明する。原子力発電所内の気体には、放射性希ガスなどの気体状放射性物質や放射化されたダスト11が含まれている。ダスト放射線モニタ装置10は、測定対象の気体中に含有されるダスト11の放射能濃度を算出するための装置である。測定対象の気体を測定対象ガスと呼称する。測定対象ガスにはダスト11が含有されている。また、測定の際には測定対象ガスよりも放射能濃度が低いガスを用いるが、このガスをパージガスと呼称する。パージガスは放射能濃度ができるだけ低く、含有されるダストができるだけ少ないほうが良い。
以下、本実施形態の作用について説明する。ダスト放射線モニタ装置10はダスト11の放射線の計数率の測定を、ダスト11の周囲がパージガスで置換された状態で行う。
本実施形態のダスト放射線モニタ装置10は、捕集されたダスト11の放射線の計数率測定を、放射能濃度が低いパージガス雰囲気中で行う。そのため、BG計数率は低く、検出限界濃度が低いため、高い精度で測定対象ガス中のダスト11の放射能濃度を算出することができる。
第2の実施形態のダスト放射線モニタ装置について図3を用いて説明する。図3は第2の実施形態におけるダスト放射線モニタ装置のブロック図である。なお、第1の実施形態と同一の構成には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
以下、本実施形態の構成を説明する。本実施形態のダスト放射線モニタ装置10は、第1の三方弁19に換えて、集塵部流入制御機構として、測定対象ガスの第1の集塵部14への流入を制御する第1の弁35と、パージガスの第1の集塵部14及び集塵ユニットへの流入を制御する第2の弁36を備える。第1の弁35は、分岐点27と第1の合流点25の間のサンプリングライン21に設けられている。第1の弁35は、第1の合流点25よりも上流に設けられる。第2の弁26はパージライン18に設けられている。
以下、本実施形態の作用を説明する。ダスト放射線モニタ装置10の動作は、第1の実施形態と同様のステップを経て行われる。
本実施形態のダスト放射線モニタ装置10は、捕集されたダスト11の放射線の計数率測定を、放射能濃度が低いパージガス雰囲気中で行う。そのため、BG計数率は低く、検出限界濃度が低ため、高い精度で測定対象ガス中のダスト11の放射能濃度を算出することができる。
7・・・・・測定対象ガス吸引口
8・・・・・第2の集塵部
9・・・・・排気ライン
10・・・・・ダスト放射線モニタ装置
11・・・・・ダスト
12・・・・・吸引ポンプ
13・・・・・サンプリングライン
14・・・・・第1の集塵部
15・・・・・ろ紙
16a・・・・第1のローラ
16b・・・・第2のローラ
17・・・・・検出部
18・・・・・パージライン
19・・・・・第1の三方弁
20a・・・・第1の流入口
20b・・・・第2の流入口
20c・・・・第1の流出口
21・・・・・バイパスライン
22・・・・・第2の三方弁
23a・・・・・第3の流入口
23b・・・・・第4の流入口
23c・・・・・第5の流出口
24・・・・・逆止弁
25・・・・・第1の合流点
26・・・・・第2の合流点
27・・・・・分岐点
29・・・・・制御部
30・・・・・BG測定ステップ
31・・・・・集塵ステップ
32a・・・・・第1のパージガス置換ステップ
32b・・・・・第2のパージガス置換ステップ
33・・・・・ダスト測定ステップ
34・・・・・演算ステップ
35・・・・・第1の弁
36・・・・・第2の弁
38・・・・・第3の弁
Claims (6)
- ダストを含む測定対象ガス及び前記測定対象ガスよりも放射能濃度が低いパージガスを吸引する吸引ポンプと、
前記吸引ポンプで吸引された前記測定対象ガス及び前記パージガスが通るサンプリングラインと、
前記吸引ポンプを通過した気体を排気部まで導く排気ラインと、
前記サンプリングラインに設けられ前記サンプリングラインを通る前記測定対象ガス中のダストを捕集する第1の集塵部と、
前記集塵部内の放射線の計数率を測定する検出部と、
前記検出部からの信号を受け取り演算処理する制御部と、
前記集塵部よりも上流の第1の合流点で前記サンプリングラインに合流し、前記パージガスを前記サンプリングラインに流入させるパージラインと、
前記集塵部よりも上流の前記サンプリングライン及び前記パージラインに設けられ、前記第1の合流点より上流の前記サンプリングラインから前記第1の合流点より下流の前記サンプリングラインへの気体の流れと、前記パージラインから前記第1の合流点より下流の前記サンプリングラインへの気体の流れとを切り替えることが可能な集塵部流入制御機構と、
前記集塵部流入制御機構よりも上流の前記サンプリングラインから分岐し、前記集塵部よりも下流の第2の合流点で前記サンプリングラインに合流するバイパスラインと、
前記バイパスラインまたは前記第2の合流点に設けられ、前記バイパスラインから前記サンプリングラインへの気体の流れを遮断することが可能なバイパスライン制御機構と、
前記バイパスラインに設けられ前記バイパスラインを通る前記測定対象ガス中のダストを捕集する第2の集塵部と、を備えるダスト放射線モニタ装置。 - 前記集塵部流入制御機構は、
前記第1の合流点よりも上流の前記サンプリングラインに設けられた第1の弁と、
前記パージラインに設けられた第2の弁と、
を備える請求項1に記載のダスト放射線モニタ装置。 - 前記集塵部流入制御機構は、
前記第1の合流点に設けられた第1の三方弁を備える請求項1に記載の放射線モニタ装置。 - 前記バイパスライン制御機構は、前記バイパスライン上に設けられた第3の弁を備える請求項1乃至請求項3に記載の放射線モニタ装置。
- 前記バイパスライン制御機構は、第2の合流点に設けられた第2の三方弁を備える請求項1乃至請求項3に記載の放射線モニタ装置。
- ダストを含む測定対象ガスを吸引し、集塵部に捕集された前記ダストの放射線の計数率を検出部で測定し、測定値をもとに前記測定対象ガス中に含まれるダストの放射能濃度を算出するダスト放射線モニタ方法であって、
前記集塵部に放射能濃度が前記測定対象ガスよりも低いパージガスのみを流し、前記集塵部内を前記パージガスで置換するパージガス置換ステップと、
前記検出部でパージガスの放射線の計数率を測定するパージガス測定ステップと、
前記集塵部に前記測定対象ガスを流し前記集塵部内にダストを捕集するダスト捕集ステップと、
前記パージガスで置換された前記集塵部内に捕集された前記ダストの放射線の計数率を前記検出部で測定するダスト測定ステップと、
前記ダスト測定ステップで測定された放射線の計数率から前記パージガス測定ステップで測定された放射線の計数率を減じ、前記ダストのみの放射線の計数率を算出する演算ステップと、
を備えるダスト放射線モニタ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013014050A JP2014145644A (ja) | 2013-01-29 | 2013-01-29 | ダスト放射線モニタ装置及びダスト放射線モニタ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013014050A JP2014145644A (ja) | 2013-01-29 | 2013-01-29 | ダスト放射線モニタ装置及びダスト放射線モニタ方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014145644A true JP2014145644A (ja) | 2014-08-14 |
Family
ID=51426005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013014050A Pending JP2014145644A (ja) | 2013-01-29 | 2013-01-29 | ダスト放射線モニタ装置及びダスト放射線モニタ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014145644A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018021685A1 (ko) * | 2016-07-18 | 2018-02-01 | 주식회사 아이스퀘어 | 방사능 측정 장치 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS493688A (ja) * | 1972-03-15 | 1974-01-12 | ||
JPS5748634A (en) * | 1980-09-08 | 1982-03-20 | Hitachi Ltd | Isokinetic sampling device |
JPS57135985U (ja) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | ||
JPS6275284A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-07 | Toshiba Corp | ダストモニタ |
JPH0792271A (ja) * | 1993-09-21 | 1995-04-07 | Toshiba Corp | 放射線計測方法 |
JP2001153956A (ja) * | 1999-11-25 | 2001-06-08 | Hitachi Ltd | 気体放射能濃度測定装置 |
-
2013
- 2013-01-29 JP JP2013014050A patent/JP2014145644A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS493688A (ja) * | 1972-03-15 | 1974-01-12 | ||
JPS5748634A (en) * | 1980-09-08 | 1982-03-20 | Hitachi Ltd | Isokinetic sampling device |
JPS57135985U (ja) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | ||
JPS6275284A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-07 | Toshiba Corp | ダストモニタ |
JPH0792271A (ja) * | 1993-09-21 | 1995-04-07 | Toshiba Corp | 放射線計測方法 |
JP2001153956A (ja) * | 1999-11-25 | 2001-06-08 | Hitachi Ltd | 気体放射能濃度測定装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018021685A1 (ko) * | 2016-07-18 | 2018-02-01 | 주식회사 아이스퀘어 | 방사능 측정 장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN207263711U (zh) | 多采样点的舰船舱室气体检测装置 | |
JP5337802B2 (ja) | 吸込み式漏れ検出器 | |
JP6069034B2 (ja) | 排ガスサンプリング装置 | |
JP2019035729A (ja) | ガスサンプラー及びこれを含むガス漏れ感知装置 | |
JP6835958B2 (ja) | 内燃機関の排ガスを測定する排ガス分析ユニット用のガス供給ユニット | |
JPH04330914A (ja) | 排ガス用気体吸着装置 | |
KR20150047097A (ko) | 오염도 측정을 위한 멀티 샘플링 포트 모니터링 장치 및 이를 이용한 모니터링 방법 | |
JP6592939B2 (ja) | 放射能測定装置 | |
TWI581305B (zh) | 檢測污染位置的設備、檢測污染位置的方法及電腦可讀取記錄媒體 | |
JP2014145644A (ja) | ダスト放射線モニタ装置及びダスト放射線モニタ方法 | |
JP5406124B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
CN103471876A (zh) | 稀释采样探头 | |
JP2013079909A (ja) | 格納容器内雰囲気モニタおよびその監視方法 | |
JP5975889B2 (ja) | ダスト・ヨウ素モニタ | |
TWI654415B (zh) | 流體取樣裝置 | |
US10656050B2 (en) | System and method for detecting a leak in an exhaust gas sampling apparatus | |
TWM560586U (zh) | 流體取樣裝置 | |
JP5624519B2 (ja) | 放射線モニタ装置及びモニタ方法 | |
JP2001153956A (ja) | 気体放射能濃度測定装置 | |
TWI657887B (zh) | 整合型揮發性有機物質分析機台 | |
JP2005009890A (ja) | 気体放射能濃度測定装置 | |
RU2688175C1 (ru) | Установка радиометрическая многопараметрическая | |
CN118130727B (zh) | 测量co2纯度的系统以及方法 | |
CN110441097A (zh) | 一种超净全量程标定采样器 | |
JP2011137700A (ja) | 漏えい検知装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20150216 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20150218 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150723 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160519 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160527 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20161202 |