JP2014011277A - Device manufacturing apparatus and manufacturing method of the same - Google Patents
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Abstract
Description
デバイス製造装置およびその製造方法に関する。 The present invention relates to a device manufacturing apparatus and a manufacturing method thereof.
半導体デバイスを製造する工程においては洗浄処理や乾燥処理や成膜処理をウエハに施すためにウエハキャリアの中にウエハを保持してウエハが移送されることは一般的である。
半導体製造装置の中で搬送するウエハキャリアの搬送方法に関しては以下のような技術が開示されている。
先行文献1には、洗浄処理時のウォータマークの発生を抑制するために洗浄装置においてウエハカセットを傾いた状態で順次搬送する技術が開示されている。
In the process of manufacturing a semiconductor device, in order to perform cleaning processing, drying processing, and film formation processing on a wafer, the wafer is generally held in a wafer carrier and transferred.
The following techniques are disclosed regarding a method for transporting a wafer carrier that is transported in a semiconductor manufacturing apparatus.
しかしながら、先行技術のように製造装置の中で、ウエハ保持具を自動で所定の位置に移送するためは、ロボットによる持ち上げ搬送が一般的であるが、製造装置の中に組み込まれる移送するためのロボットの数が増えてしまうと、移送するためのロボットによる製造原価が上昇してしまい、ウエハ保持具の搬送以外の主要な機能に必要なコストを圧迫してしまうといった課題を解決する仕組みに関しては開示されていない。 However, in order to automatically transfer the wafer holder to a predetermined position in the manufacturing apparatus as in the prior art, the robot is generally lifted and transported by a robot. As the number of robots increases, the manufacturing cost of the robots to transfer increases, and the mechanism to solve the problem of pressing costs necessary for main functions other than the transfer of wafer holders Not disclosed.
本願発明は、ロボットがウエハ保持具を持ち上げなくても、現在置かれているウエハ保持具の処理位置から他の処理位置に移動させることが出来る仕組みを提供すること。 The present invention provides a mechanism that allows a robot to move from a processing position of a currently held wafer holder to another processing position without lifting the wafer holder.
本願発明は、デバイスを製造する製造装置であって、前記デバイス製造装置で搬送するウエハ保持具を載置する第1の載置エリアと、前記第1の載置エリアから、前記ウエハ保持具が転がることで前記第1の載置エリアと、異なる第2の載置エリアに前記ウエハ保持具を搬送する搬送路と、を備えることを特徴とする。
また、前記ウエハ保持具が回転して転がることにより、前記第1の載置エリアの前記ウエハ保持具を前記第2の載置エリアに搬送することを特徴とする。
また、前記搬送路の両端が水平ではない場合には、前記搬送路の上をウエハ保持具が自走して転がることを特徴とする。
また、前記ウエハ保持具を載置する載置エリアが水平ではない場合には、前記載置エリアの上をウエハ保持具が自走して転がることを特徴とする。
また、少なくとも前記搬送路には、前記ウエハ保持具の転がる部位に接触して搬送するための一対のレールまたは一対の溝が設置されていることを特徴とする。
また、前記搬送路を転がるウエハ保持具を停止させる停止ストッパと、前記停止ストッパを駆動する駆動機構と、をさらに備えることを特徴とする。
また、前記駆動機構が、前記停止ストッパを駆動させることで前記停止ストッパにより停止しているウエハ保持具の搬送を再開することを特徴とする。
The present invention is a manufacturing apparatus for manufacturing a device, wherein the wafer holder includes: a first mounting area on which a wafer holder transported by the device manufacturing apparatus is mounted; and the first mounting area. It is characterized by comprising the first placement area by rolling and a transport path for transporting the wafer holder to a different second placement area.
The wafer holder is transported to the second placement area by rotating and rolling the wafer holder.
In addition, when both ends of the transfer path are not horizontal, a wafer holder is self-propelled and rolls on the transfer path.
Further, when the mounting area for mounting the wafer holder is not horizontal, the wafer holder is self-propelled and rolls on the mounting area.
In addition, at least the transfer path is provided with a pair of rails or a pair of grooves for contacting and transferring a portion where the wafer holder rolls.
The apparatus further includes a stop stopper that stops the wafer holder that rolls on the transfer path, and a drive mechanism that drives the stop stopper.
Further, the driving mechanism restarts the conveyance of the wafer holder stopped by the stop stopper by driving the stop stopper.
また、前記デバイス製造装置で搬送するウエハ保持具を載置する第1の載置エリアと、前記第1の載置エリアと異なる第2の載置エリアと、前記第1の載置エリアと前記第2の載置エリアとの間を連結する搬送路と、を備えるデバイス製造装置におけるデバイスの製造方法であって、前記ウエハ保持具が前記搬送路を転がることで、前記第1の載置エリアから前記第2の載置エリアに前記ウエハ保持具を搬送することを特徴とする。 A first placement area for placing a wafer holder to be transported by the device manufacturing apparatus; a second placement area different from the first placement area; the first placement area; A device manufacturing method in a device manufacturing apparatus comprising: a transport path that connects to a second placement area, wherein the wafer holder rolls on the transport path, whereby the first placement area The wafer holder is transferred to the second placement area.
本願発明により、ロボットがウエハ保持具を持ち上げなくても、現在置かれているウエハ保持具の処理位置から他の処理位置に移動させることが出来る仕組みを提供することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to provide a mechanism that allows a robot to move from a processing position of a currently held wafer holder to another processing position without lifting the wafer holder.
図1を説明する。
図1は、本願発明のデバイス製造装置にて搬送されるウエハ保持具の構成の概略図を示す図であり、ウエハ保持具を側面から見た図を示す。
1は本願発明のウエハ保持具の1例を示した図である。
太陽電池用ウエハのウエハ保持具を1例として説明する。
ウエハ保持具の素材はフッ素樹脂であることが好ましい。耐薬品性等の性質がある素材が好ましい。
101は半導体または太陽電池の結晶性(単結晶または多結晶)のシリコンウエハである。
Referring to FIG.
FIG. 1 is a diagram showing a schematic diagram of a configuration of a wafer holder transported by the device manufacturing apparatus of the present invention, and shows a view of the wafer holder viewed from the side.
1 is a view showing an example of a wafer holder according to the present invention.
A wafer holder for a solar cell wafer will be described as an example.
The material of the wafer holder is preferably a fluororesin. A material having properties such as chemical resistance is preferred.
101 is a crystalline (single crystal or polycrystal) silicon wafer of a semiconductor or a solar cell.
102はウエハ保持具の土台部である。土台部により載置面(水平な面)の上にウエハ保持具を載置することができる。土台部102は支持部104と連結している。
尚、土台部の個数は図1のように2つに限定されない。
一対(両輪)の車輪部は、土台部に連結して配置されている。
The number of base parts is not limited to two as shown in FIG.
The pair of (both wheels) wheel portions are connected to the base portion.
103はウエハ101のロック部である。ロック部はウエハ保持具が載置されている載置面の上を回転して転がる際に、支持部104からウエハが離脱しないように支持部104の中に収容(格納)している全てのウエハを固定するためのものである。また支持部104の中にウエハを収容する(挿脱する)ために、図示しない当該固定を解除する機構を有する。例えは、ロック部103をウエハ保持具1から着脱可能な機構でもよく、ロック部を所定の方向にスライドさせる機構でもよい。
104はウエハ101の支持部である。支持部が収容するウエハ101をそれぞれ支持する(保持する)ことで、ウエハをほぼ等間隔になるように配列させて収容することができる。
また支持部104には、複数枚(例えば25枚)のウエハ101を等間隔に均等に配列できるように、図示しない切り込み部や仕切り部が加工されている。
The
105は車輪部である。車輪部105は土台部102と連結している。一対(両輪)の車輪部がともに揃って同じ回転方向に回転することで、載置されている載置面(水平な面)の上をウエハ保持具1が転がって、載置面(水平な面)の上を走行することができる。
このように、一対(両輪)の車輪部がともに揃って同じ回転方向に回転すると、収容するウエハ101も車輪部105と同じ回転方向に回転する。
Thus, when the pair of (both wheels) wheel portions are aligned and rotate in the same rotation direction, the
さらに一対(両輪)の車輪部の内径を等しくすることで、一対(両輪)の車輪部の回転とともに載置面(水平な面)の上でウエハ保持具1を直進させることができる。
車輪部の形状は、図2のように空洞のあるタイヤ形状でもよく、空洞がないディスク形状であってもよい。
Furthermore, by making the inner diameters of the pair (both wheels) equal, the
The shape of the wheel portion may be a tire shape with a cavity as shown in FIG. 2 or a disk shape without a cavity.
さらに車輪部の形状は、図7に示すように、車輪部と載置面とが接触する部分が面接触しないように、車輪部が載置面と接触する部分がテーパ状(勾配があるように)に加工されている。図11に示すように、回転によるウエハ保持具1の進行方向が直線だけではなく、異なる方向に曲がって進路変更(コーナーリング)したい場合には、遠心力にて両輪の実効半径が変わる性質を利用して、車輪部105がレール108から脱線することなく、コーナーリングを容易にすることができるといった効果を奏する。さらに、車輪部とレール108とが接触する部分が面接触しないので、接触抵抗も低いため、互いに接触部分の摩耗による劣化や破損を低減させることもできる。
図2を説明する。
Furthermore, as shown in FIG. 7, the shape of the wheel portion is such that the portion where the wheel portion comes into contact with the placement surface is tapered so that the portion where the wheel portion comes into contact with the placement surface does not come into surface contact (there is a gradient). To). As shown in FIG. 11, when the traveling direction of the
FIG. 2 will be described.
図2に示すように、ウエハ保持具1が載置されている載置面が図2に示すように水平ではない場合(傾斜している場合)には、重力によりウエハ保持具1は載置面の上を自走して転がることが可能である。つまり載置面が図2に示すように水平ではない場合には外部にウエハ保持具1を走行させる動力(電力)や機構を必要とせずに、重力によりウエハ保持具1を異なる位置に移送することができるといった効果を奏する。
As shown in FIG. 2, when the mounting surface on which the
また、半導体製造装置2本体の中に水平ではないウエハ保持具1を載置されている載置面を構成することで、半導体製造装置2本体の中にもウエハ保持具1を移送するための、従来型の搬送用ロボットを搭載しなくてもよいため、半導体製造装置2の製造コストを低減させるといった効果を奏する。
図3を説明する。
Further, by forming a mounting surface on which the
FIG. 3 will be described.
図3は、本願発明の半導体(太陽電池)製造装置にて搬送されるウエハ保持具の構成の概略図を示す図であり、ウエハ保持具を正面から見た図を示す。ここで図3は図1のウエハ保持具の中心の断面を見た断面図を示している。
ここでは、太陽電池用の基板である四角形のウエハ101がウエハ保持具1に収納されている例を示している。
尚、支持部104の個数は図3のように6つ(6本)には限定されず、収容するウエハを固定するように支持できる個数であればよい。
なお、土台部自体を車輪部105のように加工することでが、土台部が車輪部を兼用してもよい。
FIG. 3 is a diagram showing a schematic diagram of a configuration of a wafer holder conveyed by the semiconductor (solar cell) manufacturing apparatus of the present invention, and shows a view of the wafer holder as viewed from the front. Here, FIG. 3 shows a cross-sectional view of a cross section at the center of the wafer holder of FIG.
Here, an example is shown in which a
The number of
In addition, the base part may also serve as the wheel part by processing the base part itself like the
図1に示したように車輪部は一対(両輪)であることが好ましいが、ウエハ保持部全体の形状を円筒状(ロール状)にして、図示しない両輪が一体型の車輪(すなはち少なくとも1つの車輪)にしてもよい。載置されている載置面(水平な面)の上をウエハ保持具1が転がればよい。
また車輪部の数を、一対(両輪)からさらに追加してもよいが、部品点数が多くなりコスト高になる。
図4を説明する。
図4は、本願発明のデバイス製造装置の装置構成の概略図を示す図である。デバイス製造装置を正面から見た図を示す。
太陽電池の製造装置を1例として説明する。
As shown in FIG. 1, it is preferable that the wheel portion is a pair (both wheels). However, the entire shape of the wafer holding portion is cylindrical (roll shape), and both wheels (not shown) are integrated wheels (ie, at least One wheel). The
Moreover, although the number of wheel parts may be further added from a pair (both wheels), the number of parts increases and the cost increases.
FIG. 4 will be described.
FIG. 4 is a diagram showing a schematic diagram of the device configuration of the device manufacturing apparatus of the present invention. The figure which looked at the device manufacturing apparatus from the front is shown.
A solar cell manufacturing apparatus will be described as an example.
1は太陽電池のシリコンウエハである複数の(例えば50枚程度)ウエハを収容し、太陽電池製造装置にてウエハとともに搬送されプロセス処理されるウエハ保持具である。
2は太陽電池製造装置である。
2 is a solar cell manufacturing apparatus.
3は太陽電池製造装置を操作するオペレータ(作業者)であり、太陽電池製造装置にウエハ保持具を投入または太陽電池製造装置からウエハ保持具を回収し、太陽電池製造装置による各種プロセス処理を実行させる。 Reference numeral 3 denotes an operator (operator) who operates the solar cell manufacturing apparatus. The wafer holder is loaded into the solar cell manufacturing apparatus or the wafer holder is recovered from the solar cell manufacturing apparatus, and various processes are performed by the solar cell manufacturing apparatus. Let
106は搬送路である。図4に示すように、第1の載置エリア201から、ウエハ保持具1が転がることで第1の載置エリアと異なる第2の載置エリア202にウエハ保持具を搬送することができる。
ウエハ保持具1が搬送路106の上を回転して転がることにより、第1の載置エリアのウエハ保持具を第2の載置エリアに搬送させている。
As the
さらに搬送路106の両端が水平ではない場合(搬送路が傾斜している場合)には、搬送路の上をウエハ保持具が重力により自走して転がることで、ウエハ保持具を載置エリアから異なる載置エリアに搬送させている。
Further, when the both ends of the
さらにウエハ保持具を載置する載置エリア自体が水平ではない場合にも、載置エリアの上をウエハ保持具が自走して転がることで、ウエハ保持具を載置エリアの異なる位置に搬送させてことも可能である。 Furthermore, even when the mounting area for mounting the wafer holder itself is not horizontal, the wafer holder can be moved and rolled over the mounting area to transfer the wafer holder to a different position in the mounting area. It is also possible to let them.
107は搬送路を転がるウエハ保持具を所定の位置で停止(静止)させる停止ストッパである。さらに図示しない停止ストッパを駆動する駆動機構を備えている。
駆動機構が、停止ストッパ107による停止後に、停止を解除する方向に反転駆動させることで停止ストッパにより停止しているウエハ保持具の搬送(自走)が再開する。
同じように、第2の載置エリア202からも、ウエハ保持具1が転がることで第3の載置エリア202にウエハ保持具を搬送することができる。
同じように、第3の載置エリア202からも、ウエハ保持具1が転がることで第4の載置エリア202にウエハ保持具を搬送することができる。
201は太陽電池製造装置2にウエハ保持具を投入する投入ユニットである。
また投入ユニット201は、搬送するウエハ保持具を載置するための第1の載置エリアである。
202はウエハおよびウエハ保持具を移送し、処理液402および処理液502に浸漬し、ウエット処理する処理ユニットである。
また処理ユニット202は、搬送するウエハ保持具を載置するための第2の載置エリアである。
203は処理液502により濡れているウエハおよびウエハ保持具を乾燥させる乾燥室である。
また乾燥室203は、搬送するウエハ保持具を載置するための第3の載置エリアである。
204は太陽電池製造装置2からウエハ保持具が排出される排出ユニットである。
または排出ユニット204は、搬送するウエハ保持具を載置するための第4の載置エリアである。
401は反応槽である。ウエハおよびウエハ保持具を反応槽に浸漬することでウエハ表面の物質に反応液による化学処理(プロセス処理A)を施すものである。
402は反応液であり、例えばウエハの表面に酸化膜を形成させる反応液である。
After the drive mechanism is stopped by the
Similarly, the
Similarly, the
The
A
The
A drying
The drying
A
Alternatively, the
401 is a reaction tank. By immersing the wafer and the wafer holder in a reaction vessel, the substance on the wafer surface is subjected to chemical treatment (process treatment A) with a reaction solution.
反応液の種類は硝酸(HNO3)と水との混合溶液である。なおウエハの表面に化学的酸化膜を形成させる反応液の種類としては、硝酸と水との混合溶液には限定されない。過酸化水素と水との混合溶液等の酸化性溶液であればよい。
反応液が硝酸と水との混合溶液である反応液の硝酸の濃度は、60wt%以上であり好ましくは68wt%である。
硝酸と水との混合溶液である反応液の液温は、好ましくは室温(25℃)から硝酸と水との共沸温度(120℃)付近である。
The kind of reaction liquid is a mixed solution of nitric acid (HNO3) and water. The type of reaction solution for forming a chemical oxide film on the surface of the wafer is not limited to a mixed solution of nitric acid and water. Any oxidizing solution such as a mixed solution of hydrogen peroxide and water may be used.
The concentration of nitric acid in the reaction solution in which the reaction solution is a mixed solution of nitric acid and water is 60 wt% or more, and preferably 68 wt%.
The liquid temperature of the reaction solution, which is a mixed solution of nitric acid and water, is preferably from room temperature (25 ° C.) to around the azeotropic temperature (120 ° C.) of nitric acid and water.
ウエハを硝酸と水との混合溶液で満たされた反応槽に1分から10分程度浸漬することで、シリコンが露出するウエハの表面(または裏面)には、ウエハの表面を被覆するように膜厚が1.5nm程度のシリコン酸化膜が形成される。 By immersing the wafer in a reaction tank filled with a mixed solution of nitric acid and water for about 1 to 10 minutes, the front surface (or back surface) of the wafer from which silicon is exposed is coated to cover the surface of the wafer. A silicon oxide film having a thickness of about 1.5 nm is formed.
他の反応液の種類としては、例えばウエハの表面から自然酸化膜を除去させ、洗浄する反応液であり、反応液の種類としては沸酸(HF)と水との混合溶液である。
403は乾燥室203の内部の雰囲気を加熱させるための加熱器(ヒータ部)である。
加熱によりウエハおよびウエハ保持具に付着しているリンス液が蒸発し、ウエハおよびウエハ保持具を乾燥させる。
The other reaction liquid is, for example, a reaction liquid that removes the natural oxide film from the surface of the wafer and cleans it, and the reaction liquid is a mixed solution of boiling acid (HF) and water.
Reference numeral 403 denotes a heater (heater unit) for heating the atmosphere inside the drying
The rinse liquid adhering to the wafer and the wafer holder is evaporated by heating, and the wafer and the wafer holder are dried.
501はリンス処理槽である。ウエハおよびウエハ保持具を反応槽に浸漬することでウエハ表面の物質に反応液による化学処理(プロセス処理B)を施すものである。ここではウエハおよびウエハ保持具に付着した反応液をリンス液に溶かして反応液の成分を洗い流すものである。
502はリンス液であり、例えば純水である。
図5を説明する。
図5は、処理槽401、501の概略図を示す図である。本願発明のデバイス製造装置を正面から見た図を示す。
502 is a rinse liquid, for example, pure water.
FIG. 5 will be described.
FIG. 5 is a schematic diagram of the
301は4本のロープ302の長さ(伸縮)を1本毎に個別に制御するための伸縮制御機構(4つ)である。ロープ302の長さを個別に制御することで、積載板の載置面を水平ではなく傾斜させて配置できるように、傾斜角度を所望の角度に調整することができる。
302は積載板の四隅に連結された4本のロープであり、ウエハ保持具を載置した積載版を反応槽に浸漬するように下げたり(A)、反応槽に浸漬させたまま保持させたり(B)、浸漬後に反応槽から持ち上げるものである(C)。
さらに(A)の場合には、走行しているウエハ保持具の走行を停止させ、さらに積載板上の適正な位置にウエハ保持具を載置させるために、ウエハ保持具が走行する方向に積載板の載置面が対向するように積載板の載置面を(B)の場合のように水平ではなく傾斜させて待機することができる。
さらに(C)の場合には、(A)の場合の反対側を高くすることで、載置面を傾斜させ、静止しているウエハ保持具の走行を再び開始させることができる。
303はウエハ保持具を載置し、載置したまま反応槽にウエハ保持具を浸漬させる積載板である。
図6を説明する。
図6は、本願発明のデバイス製造装置の装置構成の概略図を示す図である。デバイス製造装置を上面から見た図を示す。
Furthermore, in the case of (A), in order to stop the traveling of the traveling wafer holder and place the wafer holder at an appropriate position on the loading plate, the wafer holder is loaded in the traveling direction. It is possible to stand by inclining the mounting surface of the stacking plate so that the mounting surfaces of the plates face each other, not horizontally as in the case of (B).
Further, in the case of (C), by raising the side opposite to that in the case of (A), the mounting surface can be inclined and the running of the stationary wafer holder can be started again.
FIG. 6 will be described.
FIG. 6 is a diagram showing a schematic diagram of the device configuration of the device manufacturing apparatus of the present invention. The figure which looked at the device manufacturing apparatus from the upper surface is shown.
図6に示すように、少なくとも搬送路106には、ウエハ保持具が搬送路の上を走行するルートを誘導させるために、ウエハ保持具1の転がる部位(一対の車輪部)に接触して搬送するための一対の誘導路(例えばレールまたは溝でもよい)が設置されている。
図7を説明する。
図7は、処理槽401、501の概略図を示す図である。本願発明のデバイス製造装置を側面から見た図を示す。
図8を説明する。
図8は、本願発明のデバイス製造装置の装置構成の概略図を示す図である。デバイス製造装置を正面から見た図を示す。
As shown in FIG. 6, at least on the
FIG. 7 will be described.
FIG. 7 is a diagram showing a schematic diagram of the
FIG. 8 will be described.
FIG. 8 is a diagram showing a schematic diagram of the device configuration of the device manufacturing apparatus of the present invention. The figure which looked at the device manufacturing apparatus from the front is shown.
ウエハ保持具が搬送路106の上を回転して移動すると、浸漬によってウエハ保持具とウエハの表面に付着(残留)している反応液は、回転移動による遠心力により飛散し搬送路106の上に落下する。
When the wafer holder rotates and moves on the
また搬送路106は傾斜しているので、搬送路の下流(低い位置)に飛散した反応液の回収口405を設けることで、飛散した反応液を簡単に回収することができる。
さらに回収口から回収した反応液402は回収路404を通じて、反応槽402に回収され、持ち出された反応液を無駄なく回収することができる。
図9を説明する。
図9は、本願発明のデバイス製造装置の装置構成の概略図を示す図である。デバイス製造装置を正面から見た図を示す。
Further, since the
Furthermore, the
FIG. 9 will be described.
FIG. 9 is a diagram showing a schematic diagram of the device configuration of the device manufacturing apparatus of the present invention. The figure which looked at the device manufacturing apparatus from the front is shown.
406は、ウエハ保持具を回転させる回転ローラ部である。ウエハ保持具1が載る構造を有し、ウエハ保持具1が転がるのと同じようにウエハ保持具1を同じ位置で回転させることができる。ウエハ保持具1が処理槽401の中に浸漬され回転ローラ部の上に載せられ、回転ローラ部が回転すると、回転ローラ部との接触抵抗によりウエハ保持具もともに回転(とも回り)する。回転ローラ部により、処理液402の中で、ウエハ101を容易に回転させることができるので、ウエハ面内の反応の均一性を向上させる効果を有する。また、ウエハの回転により、表面反応を促進する効果もあるため、反応処理時間が短くても所望の反応結果を得ることができ、製造装置が当該反応処理に要する部分のタクトタイム(工程作業時間)を短くすることができる。
図10を説明する。
図10は、本願発明のデバイス製造装置の装置構成の変形例を示す図である。デバイス製造装置を正面から見た図を示す。
FIG. 10 will be described.
FIG. 10 is a diagram showing a modification of the device configuration of the device manufacturing apparatus of the present invention. The figure which looked at the device manufacturing apparatus from the front is shown.
106Aに示すようにウエハ保持具を往路から復路に折り返すための、折り返し用の搬送路106A(例えば一対のレール)を、製造装置の中に設けることで、フットプリント(設置面積)が半分である製造装置にすることができる。つまり搬送に外部動力(搬送用ロボット)を必要としないので、このようにコンパクトなデザイン(設計)にすることが出来る。
As shown in 106A, a footprint (installation area) is halved by providing a
図10に示すように、太陽電池製造装置2にウエハ保持具を投入する投入ユニット201と同じユニットに、204は太陽電池製造装置2からウエハ保持具が排出される排出ユニットを配置することが出来る。
As shown in FIG. 10, a
搬送路106を傾斜させることで、ウエハ保持具を、外部動力を必要とせず水平方向に搬送でき、さらに折り返し用の搬送路106Aを設けることでウエハ保持具を外部動力を必要とせずに上下方向(重力方向)にも搬送できる。
By inclining the
さらに折り返し後の搬送路106に乾燥室203を設けると、本願発明の製造装置を反応槽401と乾燥室203とを垂直に配置した2層建て積層構造に設計することも可能である。
図11を説明する。
図11は、デバイス製造装置を上面から見た図を示す。
Further, when the drying
FIG. 11 will be described.
FIG. 11 shows a view of the device manufacturing apparatus as viewed from above.
図11に示すように、第1の太陽電池製造装置2の搬送路106には、ウエハ保持具が搬送路の上を走行するルートを誘導させるために、ウエハ保持具1の転がる部位(一対の車輪部)に接触して搬送するための一対のレール108(または一対の溝でもよい)が設置されている。同じように第2の太陽電池製造装置4の搬送路106には、ウエハ保持具が搬送路の上を走行するルートを誘導させるために、ウエハ保持具1の転がる部位(一対の車輪部)に接触して搬送するための一対のレール108(または一対の溝でもよい)が設置されている。
このレール108により、第1の太陽電池製造装置2から第2の太陽電池製造装置4にもウエハ保持具1が転がることでウエハ保持具を搬送することができる。
さらにレール108が別の方向にある太陽電池製造装置に誘導することで、他の太陽電池製造装置にもウエハ保持具を搬送することができる。
As shown in FIG. 11, in the
With this
Further, by guiding the
なお、本願発明のウエハキャリアに収容されるウエハの形状は太陽電池のように四角形または八角形である多角形状ウエハには限定されず、メモリ、LSI、パワーデバイス、CMOSセンサ、加速度センサ、液晶、LED等の半導体基板上またはガラス基板上に形成される電子デバイスのように円盤状のウエハであっても上記効果を有する。 The shape of the wafer accommodated in the wafer carrier of the present invention is not limited to a polygonal wafer that is a square or octagon like a solar cell, but a memory, LSI, power device, CMOS sensor, acceleration sensor, liquid crystal, Even if it is a disk-shaped wafer like the electronic device formed on semiconductor substrates, such as LED, or a glass substrate, it has the said effect.
なお、本願発明のデバイス製造装置にて製造されるウエハの形状は太陽電池のように四角形または八角形である多角形状ウエハには限定されず、メモリ、LSI、パワーデバイス、CMOSセンサ、加速度センサ、液晶、LED等の半導体基板上またはガラス基板上に形成される電子デバイスのように円盤状のウエハであっても上記効果を有する。 The shape of the wafer manufactured by the device manufacturing apparatus of the present invention is not limited to a polygonal wafer that is a quadrangle or octagon like a solar cell, but a memory, LSI, power device, CMOS sensor, acceleration sensor, Even if it is a disk-shaped wafer like the electronic device formed on semiconductor substrates, such as a liquid crystal and LED, or a glass substrate, it has the said effect.
なお、本願発明のウエハキャリアに収容されるウエハは、シリコンウエハには限定されず、SiC(シリコンカーバイド)ウエハ、サファイアガラスウエハ、化合物半導体ウエハであるGaP(リン化ガリウム)ウエハ、GaAs(ヒ化ガリウム)ウエハ、InP(リン化インジウム)ウエハ、GaN(窒化ガリウム)ウエハであっても上記効果を有する。 The wafers accommodated in the wafer carrier of the present invention are not limited to silicon wafers, but are SiC (silicon carbide) wafers, sapphire glass wafers, compound semiconductor wafers such as GaP (gallium phosphide) wafers, GaAs (arsenic arsenide). Even the gallium wafer, InP (indium phosphide) wafer, and GaN (gallium nitride) wafer have the above-described effects.
なお、本願発明のデバイス製造装置にて製造されるウエハは、シリコンウエハには限定されず、SiC(シリコンカーバイド)ウエハ、サファイアガラスウエハ、化合物半導体ウエハであるGaP(リン化ガリウム)ウエハ、GaAs(ヒ化ガリウム)ウエハ、InP(リン化インジウム)ウエハ、GaN(窒化ガリウム)ウエハであっても上記効果を有する。 The wafer manufactured by the device manufacturing apparatus of the present invention is not limited to a silicon wafer, but a SiC (silicon carbide) wafer, a sapphire glass wafer, a compound semiconductor wafer, a GaP (gallium phosphide) wafer, GaAs ( Even the gallium arsenide wafer, InP (indium phosphide) wafer, and GaN (gallium nitride) wafer have the above effects.
1 ウエハ保持具(ウエハキャリア)
2 半導体製造装置
3 オペレータ(作業者)
101 ウエハ(半導体またはガラス)
201 ウエハ保持具投入ユニット
202 ウエハのプロセス処理Aユニット
203 ウエハのプロセス処理Bユニット
201 ウエハ保持具排出ユニット
401 処理槽(反応槽)
203 処理室(乾燥室)
501 処理槽(洗浄槽)
1 Wafer holder (wafer carrier)
2 Semiconductor manufacturing equipment 3 Operator (operator)
101 Wafer (semiconductor or glass)
201 Wafer
203 treatment room (drying room)
501 Treatment tank (cleaning tank)
Claims (8)
前記デバイス製造装置で搬送するウエハ保持具を載置する第1の載置エリアと、
前記第1の載置エリアから、前記ウエハ保持具が転がることで前記第1の載置エリアと、異なる第2の載置エリアに前記ウエハ保持具を搬送する搬送路と、
を備えることを特徴とするデバイス製造装置。 A manufacturing apparatus for manufacturing a device,
A first placement area for placing a wafer holder transported by the device manufacturing apparatus;
A transfer path for transferring the wafer holder from the first placement area to the second placement area different from the first placement area by rolling the wafer holder;
A device manufacturing apparatus comprising:
前記停止ストッパを駆動する駆動機構と、
をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のデバイス製造装置。 A stop stopper for stopping the wafer holder rolling on the transfer path;
A drive mechanism for driving the stop stopper;
The device manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising:
前記ウエハ保持具が前記搬送路を転がることで、前記第1の載置エリアから前記第2の載置エリアに前記ウエハ保持具を搬送することを特徴とする製造方法。
A first placement area for placing a wafer holder carried by the device manufacturing apparatus; a second placement area different from the first placement area; the first placement area; and the second placement area. A method of manufacturing a device in a device manufacturing apparatus comprising: a transport path that connects between the mounting areas of
A manufacturing method, wherein the wafer holder is transferred from the first placement area to the second placement area by rolling the wafer holder along the transfer path.
Priority Applications (1)
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