JP2014010138A - 検査装置および検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】より異常を検出しやすい検査装置および検査方法を得る。
【解決手段】実施形態にかかる検査装置にあっては、長尺状の検査対象物にその長手方向の一方側から照らす光の第一光源と、検査対象物に長手方向の他方側から照らす光の第二光源と、検査対象物が長手方向に搬送されている状態で、第一光源からの光で照らされている際の検査対象物の第一画像と第二光源からの光で照らされている際の検査対象物の第二画像とを取得する撮像部と、第一画像と第二画像とが合成された合成画像を画像処理して検査対象物の異常を検出する異常検出部と、を備えた。
【選択図】図９

Description

本発明は、検査装置および検査方法に関する。

従来、長尺状の検査対象物を撮像した画像から当該検査対象物の異常を検出する検査装置が知られている（例えば、特許文献１）。

特開２０１１−０１１４９６号公報

画像から異常を検出する検査装置では、例えば、画像に明るさのむらが生じるなどすると、異常が検出されにくくなる。

そこで、本発明は、一例としては、より異常を検出しやすい検査装置および検査方法を得ることを目的の一つとする。

本発明の実施形態にかかる検査装置にあっては、長尺状の検査対象物にその長手方向の一方側から照らす光の第一光源と、検査対象物に長手方向の他方側から照らす光の第二光源と、検査対象物が長手方向に搬送されている状態で、第一光源からの光で照らされている際の検査対象物の第一画像と第二光源からの光で照らされている際の検査対象物の第二画像とを取得する撮像部と、第一画像と第二画像とが合成された合成画像を画像処理して検査対象物の異常を検出する異常検出部と、を備えた。

本発明によれば、一例としては、より異常を検出しやすい検査装置および検査方法を得ることができる。

図１は、実施形態にかかる検査装置の一例が示された斜視図である。 図２は、実施形態にかかる検査装置の一部の一例を検査対象物の長手方向から見た模式図である。 図３は、実施形態にかかる検査装置で取得された第一画像、第二画像、および合成画像の一例が示された模式図である。 図４は、実施形態にかかる検査装置で撮像された第一画像（一次元の画像を並べた二次元の画像）の一例が示された模式図である。 図５は、実施形態にかかる検査装置で撮像された第二画像（一次元の画像を並べた二次元の画像）の一例が示された模式図である。 図６は、実施形態にかかる検査装置の一例が示された模式的なブロック図である。 図７は、実施形態にかかる検査装置の制御部の一例が示された模式的なブロック図である。 図８は、実施形態にかかる検査装置で撮像された合成画像の一例が示された模式図である。 図９は、実施形態にかかる検査装置による検査方法の一例が示されたフローチャートである。 図１０は、実施形態にかかる検査装置で検出された異常を示す画像の一例が示された模式図である。

本実施形態では、一例として、図１に示される検査装置１は、検査対象物１００を撮像した画像に基づいて検査対象物１００の検査を行う。検査対象物１００は、一例としては、長尺状かつ円管状（または円柱状）の部品（例えば、ホース、チューブ、棒等）である。

また、本実施形態では、一例として、図１に示されるように、検査装置１は、複数（本実施形態では、一例として二つ）の光源２Ｕ，２Ｄを備えている。具体的に、光源２Ｕおよび光源２Ｄは、検査対象物１００の長手方向（軸方向）に離間して配置されている。光源２Ｕおよび光源２Ｄは、環状（例えば円環状）に構成されている。光源２Ｕおよび光源２Ｄは、環状に配置された複数のＬＥＤ（light emitted diode）を有している。長尺状の検査対象物１００は、光源２Ｕおよび光源２Ｄの環状部分の内側（例えば、中央部、中央）を貫通し、環状部分の軸方向に沿って延びている。また、光源２Ｕおよび光源２Ｄは、検査対象物１００の長手方向（軸方向）と直交する面について面対称に配置されている。

また、本実施形態では、一例として、検査対象物１００の撮像領域Ａは、光源２Ｕと光源２Ｄとの間（本実施形態では、一例として中間位置）に設定されている。光源２Ｕからの光は、検査対象物１００の長手方向の一方側（図１では左側）から撮像領域Ａに照射され、光源２Ｄからの光は、長手方向の他方側（図１では右側）から撮像領域Ａに照射される。

また、本実施形態では、一例として、検査対象物１００は、検査中、搬送装置３０（図６参照）によって、長手方向（軸方向）に搬送されている。すなわち、検査装置１は、搬送装置３０によって搬送されて移動している検査対象物１００を、検査する。したがって、撮像領域Ａは、検査対象物１００の移動に伴って、検査対象物１００の長手方向に沿って移動する。なお、本実施形態では、一例として、検査対象物１００は、光源２Ｕ側から光源２Ｄ側へ移動する。すなわち、光源２Ｕは、撮像領域Ａに対して搬送方向の上流側に位置され、光源２Ｄは、撮像領域Ａに対して搬送方向の下流側に位置されている。

また、本実施形態では、一例として、撮像部３（例えば、カメラ等）は、検査対象物１００の径方向外側に位置され、検査対象物１００の表面１００ａ（外面、周面、側面）の画像を取得する。すなわち、撮像領域Ａは、検査対象物１００の表面１００ａの一部である。

また、本実施形態では、一例として、撮像部３は、光学部品４を介して、撮像領域Ａの画像を取得する。本実施形態では、一例として、光学部品４は、複数（本実施形態では、一例として二つ）のミラー４Ｌ，４Ｒである。具体的に、ミラー４Ｌ，４Ｒは、図２に示されるように、検査対象物１００の撮像部３とは反対側で、軸方向からの視線でＶ字状に配置されている。ミラー４Ｌ，４Ｒは互いに１２０°の角度（撮像部３と検査対象物１００とを結ぶ線Ｌに対して互いに反対側に６０°となる角度）となる姿勢で配置されている。ミラー４Ｌ，４Ｒは、いずれも、検査対象物１００の表面１００ａに面した（対向した）平面状の反射面４ａ（鏡面）を有している。反射面４ａは、検査対象物１００の径方向と略直交する面に沿って拡がっている。また、ミラー４Ｌ，４Ｒは、検査対象物１００の長手方向（軸方向）と直交する面に沿って帯状に延びている。このような構成では、撮像領域Ａは、検査対象物１００の表面１００ａの、ミラー４Ｌ，４Ｒに面した略半周分の領域である。なお、本実施形態では、一例として、隣接するミラー４Ｌ，４Ｒは一体化されているが、分離されていてもよい。

また、本実施形態では、一例として、光源２Ｕ，２Ｄ、撮像部３、および光学部品４を含む検査部１０（１０Ｕ，１０Ｄ）が、検査対象物１００の長手方向（軸方向、搬送方向）に間隔をあけて複数箇所（本実施形態では、一例として二箇所）に設けられている。これら検査部１０では、撮像部３および光学部品４の配置が異なっている。本実施形態では、一例として、搬送方向の上流側（図１の左側）に位置された検査部１０Ｕでは、図１の上側に撮像部３が位置し、下側に光学部品４が位置する。よって、検査部１０Ｕの撮像部３は、検査対象物１００の図１の下側の領域（撮像領域Ａ）の画像を取得する。一方、下流側（図１の右側）に位置された検査部１０Ｄでは、図１の下側に撮像部３が位置し、上側に光学部品４が位置する。よって、検査部１０Ｄの撮像部３は、検査対象物１００の図１の上側の領域（撮像領域Ａ）の画像を取得する。すなわち、複数の撮像部３は、それぞれ、検査対象物１００の表面１００ａの相異なる領域（部位、位置）を撮像する。

また、本実施形態では、一例として、撮像部３は、ラインカメラ（ラインセンサ）として構成されている。撮像部３は、検査対象物１００の幅方向に沿って一列に配置された複数の光電変換素子（撮像素子、図示されず）を有する。すなわち、撮像部３は、検査対象物１００の幅方向に沿った線状の画像（画像データ、各光電変換素子に対応した画素毎の輝度値のデータ、輝度値のデータ列）を取得する。各撮像素子では、例えば２５６階調で輝度値のデータが取得される。撮像部３は、撮像される各時刻（タイミング）で、一次元の画像を取得する。モノクロ（白黒）の撮像部３の場合、各撮像素子について一つの画像データが取得され、カラーの撮像部３の場合、各撮像素子について複数（例えば、Ｒ（赤）Ｇ（緑）Ｂ（青）の三つ）の画像データが取得される。

また、本実施形態では、一例として、光源２Ｕ，２Ｄによる検査対象物１００への光の照射は交互に実行される。そして、撮像部３による撮像（画像の取得）と、光源２Ｕ，２Ｄによる検査対象物１００への光の照射（一例としては光源２Ｕ，２Ｄの発光、切り替え）とが、同期されている。すなわち、本実施形態では、一例として、図３に示されるように、撮像部３は、光源２Ｕからの光で照らされている際の検査対象物１００の一次元の画像ＩＬ１（第一画像、線状画像、画像データ、図３中では「１」と表記）と、光源２Ｄからの光で照らされている際の検査対象物１００の一次元の画像ＩＬ２（第二画像、線状画像、画像データ、図３中では「２」と表記）とを、交互に取得する。画像処理部２０ｄ（図７参照）は、光源２Ｕからの光で照らされている際の検査対象物１００の画像ＩＬ１を取得順に並べて二次元の画像ＩＡ１（第一画像、画像データ、二次元に配列された輝度値のデータ群）を得ることができるとともに、光源２Ｄからの光で照らされている際の検査対象物１００の画像ＩＬ２を取得順に並べて二次元の画像ＩＡ２（第二画像、画像データ、二次元に配列された輝度値のデータ群）を得ることができる。

光源２Ｕ，２Ｄからの光の照射（切り替え）および撮像部３による撮像の周波数や、搬送装置３０による検査対象物１００の搬送速度等を適宜に設定することにより、図４，５に例示されるような画像ＩＡ１，ＩＡ２が得られる。光源２Ｕ，２Ｄからの光の切り替えの周波数、すなわち撮像部３によるライン毎の撮像の周波数は、比較的高い値（例えば６ｋＨｚ等）に設定される。よって、画像ＩＡ１，ＩＡ２を、検査対象物１００の表面１００ａ（の半周分）を静止状態でエリアセンサ（二次元の領域を撮像する撮像部）によって撮像した画像に類似させることができる。ラインセンサは、エリアセンサより分解能が比較的高く、また応答性も比較的高いため、ラインセンサを用いることで、より精度の高い異常検出（検査）が可能となる場合がある。画像ＩＡ１，ＩＡ２では、含まれる画像ＩＬ１，ＩＬ２中でのデータの配列方向（図３〜５で左右方向）が、検査対象物１００の幅方向（短手方向）に対応し、画像ＩＡ１，ＩＡ２中で画像ＩＬ１，ＩＬ２が並べられた方向（図３〜５で上下方向）が、検査対象物１００の長手方向（軸方向）に対応する。

上述したように、撮像部３は、複数（本実施形態では、一例として二つ）のミラー４Ｌ，４Ｒを介して検査対象物１００の画像を取得するため、図４，５に示されるように、上記構成の検査装置１で得られた画像ＩＡ１，ＩＡ２には、それぞれ、検査対象物１００の複数（二つ）の画像Ｉａ，Ｉｂが含まれる。これら画像Ｉａ，Ｉｂは、検査対象物１００の撮像部３とは反対側（ミラー４Ｌ，４Ｒが位置された側）を、撮像部３と検査対象物１００とを結ぶ線Ｌ（図２参照）から外れた位置より見た画像である。また、二次元の画像ＩＡ１，ＩＡ２には、画像Ｉａと画像Ｉｂとの間に、検査対象物１００のミラー４Ｌ，４Ｒを介さない画像Ｉｎが含まれている。しかしながら、本実施形態では、一例として、撮像部３の焦点は、画像Ｉａ，Ｉｂに対応して設定されているため、画像Ｉｎはぼやけている。すなわち、本実施形態では、一例として、画像Ｉｎは、異常検出には用いられない。また、これら画像Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｎの背景は、暗く設定されている。本実施形態にかかる検査装置１の画像処理部２０ｄ（図７参照）は、このようにして得られた二次元の画像ＩＡ１，ＩＡ２に基づいて画像処理を実行し、検査対象物１００の表面１００ａの異常（画像Ｉａ，Ｉｂに関連して写っている異常に対応した形状）を検出する。この検査装置１で検出対象となる異常には、例えば、図４，５に示されるように、検査対象物１００の表面１００ａに生じた皺や傷等の異常Ａ１や、突出物（糸状物）等の異常Ａ２等がある。なお、検査装置１は、これら以外の異常も検出することができる。また、画像ＩＬ１，ＩＬ２にも、画像Ｉａ，Ｉｂ，Ｉｎ（ただし、１ライン分）は含まれている。

本実施形態では、一例として、図６に示されるように、検査装置１は、制御部２０（例えばＣＰＵ（central processing unit）等）や、ＲＯＭ２１（read only memory）、ＲＡＭ２２（random access memory）、ＳＳＤ２３（solid state drive）、光照射コントローラ２４、撮像コントローラ２５、搬送コントローラ２６、表示コントローラ２７等を備えることができる。光照射コントローラ２４は、制御部２０からの制御信号に基づいて、光源２Ｕ，２Ｄの発光（オン、オフ）等を制御する。なお、開閉を切り替えて光の出射と出射停止とを切り替えるシャッター等の可変装置が設けられた場合には、当該可変装置の動作が制御される。撮像コントローラ２５は、制御部２０からの制御信号に基づいて、撮像部３による撮像を制御する。搬送コントローラ２６は、制御部２０から受けた制御信号に基づいて、搬送装置３０を制御し、検査対象物１００の搬送（開始、停止、速度等）を制御する。表示コントローラ２７は、制御部２０からの制御信号に基づいて、表示装置４０を制御する。また、制御部２０は、不揮発性の記憶部としてのＲＯＭ２１やＳＳＤ２３等にインストールされたプログラム（アプリケーション）を読み出して実行する。ＲＡＭ２２は、制御部２０がプログラムを実行して種々の演算処理を実行する際に用いられる各種データを一時的に記憶する。なお、図６に示されるハードウエアの構成はあくまで一例であって、例えばチップやパッケージにする等、種々に変形して実施することが可能である。また、各種演算処理は、並列処理することが可能であり、制御部２０等は、並列処理が可能なハードウエア構成とすることが可能である。

また、本実施形態では、一例として、制御部２０は、ハードウエアとソフトウエア（プログラム）との協働によって、検査装置１の少なくとも一部として機能（動作）する。すなわち、図７に示されるように、制御部２０は、光照射制御部２０ａや、撮像制御部２０ｂ、搬送制御部２０ｃ、画像処理部２０ｄ、表示制御部２０ｅ等として機能する。光照射制御部２０ａは、光照射コントローラ２４を制御する。撮像制御部２０ｂは、撮像コントローラ２５を制御する。搬送制御部２０ｃは、搬送コントローラ２６を制御する。画像処理部２０ｄは、撮像部３が取得した画像データを画像処理する。この画像処理部２０ｄによる画像処理によって、検査対象物１００の異常が検出される。よって、画像処理部２０ｄは、異常検出部の一例である。表示制御部２０ｅは、表示装置４０（例えば、ＬＣＤ（liquid crystal display）、ＯＥＬＤ（organic electroluminescent display）等）を制御する。

また、本実施形態にかかる検査装置１は、その外周に螺旋状の凹部または凸部を有した検査対象物１００の検査を行うことができる。螺旋状の凹部または凸部（溝、突起、段差等）は、螺旋状の巻回物（例えば、テープ、リボン、ワイヤ等、図示されず）を有した場合等に形成されやすい。巻回物は、長手方向に一定のピッチで巻かれる。また、巻回物は、外周に露出するものと、露出しないものとがある。巻回物が外周に露出せず、外壁（壁部）の内部に巻回物（例えば、ワイヤ等）が設けられた場合、巻回物を覆う部分が螺旋状に突出する。

そして、外周に螺旋状の凹部または凸部を有した検査対象物１００の検査に関する、発明者の鋭意研究により、当該検査対象物１００が撮像され上述したように処理されて得られた画像ＩＬ１，ＩＡ１（図４）と画像ＩＬ２，ＩＡ２（図５）とでは、明るい領域と暗い領域とが異なる（逆転する）場合があるという知見が得られた。具体的には、例えば、図４に示される画像ＩＡ１では、検査対象物１００の画像Ｉａ，Ｉｂの幅方向（検査対象物１００の幅方向）の一方側（図４の例では左側）が明るく、他方側（図４の例では右側）が暗い。また、図５に示される画像ＩＡ２では、検査対象物１００の画像Ｉａ，Ｉｂの幅方向の他方側（図５の例では右側）が明るく、一方側（図５の例では左側）が暗い。

このように、検出対象となる画像Ｉａ，Ｉｂに明るい領域と暗い領域とがある場合、輝度値で二値化する際の閾値の設定等がより難しくなりやすく、ひいては異常の検出がより難しくなりやすい。また、一例として、図４，５の画像Ｉａ中に写っている異常Ａ１は、場所によっては検出しにくい。さらに、画像ＩＡ１と画像ＩＡ２との差分画像から異常を検出する方式にあっては、異常Ａ１はさらに検出しにくくなる場合がある。例えば、細い皺や傷等の異常Ａ１にあっては、光によって照らされる方向が異なる画像ＩＡ１，ＩＡ２の双方に影が写り、差分処理によっては影が相殺されて、より検出されにくくなる場合がある。

そこで、発明者は、鋭意研究を重ねた結果、検査対象物１００が撮像され上述したように処理されて得られた二次元の画像ＩＡ１（図４）と画像ＩＡ２（図５）とが合成（加算、対応する画素の輝度値同士を加算）された二次元の画像ＩＣ（図３，８参照）を画像処理することで、より良好な結果が得られる場合があることを見出した。画像ＩＡ１と画像ＩＡ２との合成に関しては、それら画像ＩＡ１，ＩＡ２中に含まれ互いに隣接したタイミングの画像ＩＬ１と画像ＩＬ２とが重ねられる。なお、互いに隣接する画像ＩＬ１と画像ＩＬ２とは、図３に示されるように、厳密には１ライン分だけタイミングがずれるが、特に光の照射あるいは撮像の切り替え周波数が比較的高い場合には、ほぼ同じ場所の画像（画像データ）と見なすことができる。画像ＩＣでは、含まれる画像ＩＬ１，ＩＬ２（図３の「１」，「２」）中でのデータの配列方向（図３〜５で左右方向）が、検査対象物１００の幅方向（短手方向）に対応し、画像ＩＣ中で画像ＩＬ１，ＩＬ２が並べられた方向（図３〜５で上下方向）が、検査対象物１００の長手方向（軸方向）に対応する。

図８に、画像ＩＡ１（図４）と画像ＩＡ２（図５）とが合成（加算）された画像ＩＣの一例が示されている。図８に示されるように、合成された画像ＩＣに含まれる検査対象物１００の画像Ｉａ，Ｉｂでは、合成前の画像ＩＡ１（図４）におよび画像ＩＡ２（図５）に含まれる検査対象物１００の画像Ｉａ，Ｉｂに比べて幅方向の明るさのむらが減っている。よって、輝度値で二値化する際の閾値の設定等がより容易になりやすく、ひいては異常Ａ１の検出がより容易になりやすい。また、異常Ａ１が暗い領域（影）となって写っている場合には、検査対象物１００の画像Ｉａ，Ｉｂの一般部（異常ではない大部分の領域）との輝度値の差（コントラスト）がより大きくなりやすく、ひいては、異常Ａ１の検出がより容易になりやすい。

本実施形態では、一例として、検査装置１の制御部２０は、図９に示されるような手順で画像処理ならびに異常検出を実行する。制御部２０は、検査対象物１００が一定速度で移動している状態で、光照射制御部２０ａならびに撮像制御部２０ｂとして機能し、光照射コントローラ２４および撮像コントローラ２５ひいては光源２Ｕ，２Ｌならびに撮像部３を制御して、一次元の画像ＩＬ１と画像ＩＬ２とを交互に取得する（ステップＳ１０）。次に、制御部２０は、画像処理部２０ｄとして機能し、上述したように複数列の画像ＩＬ１と画像ＩＬ２とを所定期間内でそれぞれ取得された順に並べて、二次元の画像ＩＡ１と画像ＩＡ２とを得る（ステップＳ１１）。次に、制御部２０は、画像処理部２０ｄとして機能し、上述したように画像ＩＡ１と画像ＩＡ２とを合成（加算）して、画像ＩＣを得る（ステップＳ１２）。なお、画像ＩＣは、画像ＩＡ１および画像ＩＡ２を経由して生成することは必須ではなく、画像ＩＬ１および画像ＩＬ２から生成してもよい。

次に、制御部２０は、画像処理部２０ｄとして機能し、異常Ａ１を検出する処理の対象領域（画像Ｉａ，Ｉｂ）を特定（抽出）する（ステップＳ１３）。二次元の画像ＩＡ１，ＩＡ２，ＩＣでは、画像Ｉａ，Ｉｂは、出現する位置がほぼ固定され、かつ、背景より明るい。よって、ステップＳ１３では、画像ＩＡ１，ＩＡ２，ＩＣにおける領域の限定や、二値化処理、エッジ検出等によって処理対象領域を特定（抽出）することができる。

次に、制御部２０は、画像処理部２０ｄ（異常検出部）として機能し、異常Ａ１の検出を実行する（ステップＳ１４）。異常Ａ１は、例えば、二次元の画像ＩＣ中に、画像Ｉａ，Ｉｂより暗い部分として含まれている。したがって、ステップＳ１４で、画像処理部２０ｄは、例えば、ステップＳ１３で特定（抽出）された画像Ｉａ，Ｉｂの領域を処理対象として、合成された画像ＩＣについて改めて二値化処理を行い、輝度値が閾値より低い画素について、さらに、グルーピングやラベリング等を行う。これにより、ステップＳ１４では、例えば、画像Ｉａ，Ｉｂの領域内で、他の部分より輝度値が低く（輝度値が閾値より低く）、その数が所定の範囲内である画素群（かたまり）として、異常Ａ１を検出することができる。なお、ステップＳ１４での二値化の閾値は、ステップＳ１３での二値化の閾値とは異なり、当該ステップＳ１３での閾値より低い。また、異常Ａ１の検出については、その形状や位置の特徴を考慮することができる。

また、制御部２０は、画像処理部２０ｄとして機能し、異常Ａ２を検出する処理の対象領域（画像Ｉａ，Ｉｂの周縁部の領域）を特定（抽出）する（ステップＳ１５）。このステップＳ１５では、画像処理部２０ｄは、例えば、ステップＳ１３で特定（抽出）された画像Ｉａ，Ｉｂの領域の外側（背景中）に隣接した所定幅の領域として、処理の対象領域を特定（抽出）することができる。

次に、制御部２０は、画像処理部２０ｄ（異常検出部）として機能し、異常Ａ２の検出を実行する（ステップＳ１６）。異常Ａ２は、例えば、画像ＩＣ中に、画像Ｉａ，Ｉｂの外縁部から線状に突出した明るい部分として含まれている。したがって、ステップＳ１６で、画像処理部２０ｄは、例えば、ステップＳ１５で特定された所定幅の領域を処理対象として、合成された画像ＩＣについて改めて二値化処理を行い、輝度値が閾値より高い画素について、さらに、グルーピングやラベリング等を行う。これにより、ステップＳ１６では、例えば、ステップＳ１５で特定された所定幅の領域内で、画像Ｉａ，Ｉｂに接続されて（連なって）、他の部分より輝度値が高く（輝度値が閾値より高く）、その数が所定の範囲内である画素群（かたまり）として、異常Ａ２を検出することができる。なお、ステップＳ１６での二値化の閾値は、ステップＳ１５での二値化の閾値とは異なり、当該ステップＳ１５での閾値より高い。また、異常Ａ２の検出については、その形状や位置の特徴を考慮することができる。

次に、制御部２０は、表示制御部２０ｅとして機能し、異常Ａ１および異常Ａ２のうち少なくともいずれか一方が検出された場合には（ステップＳ１７でＹｅｓ）、表示装置４０を制御して、例えば、図１０に示されるように、異常Ａ１，Ａ２の検出結果を示す画像ＩＲを当該表示装置４０の表示画面に表示させる（ステップＳ１８）。この場合、画像ＩＲには、検査対象物１００の輪郭線（外形線）等や、位置を識別する座標軸や目盛り等が含まれてもよい。

以上、説明したように、本実施形態では、一例として、検査装置１は、第一画像ＩＡ１（ＩＬ１）と第二画像ＩＡ２（ＩＬ２）とが合成された合成画像ＩＣを画像処理して検査対象物１００の異常を検出する画像処理部２０ｄを備えた。よって、本実施形態によれば、一例としては、第一画像ＩＡ１あるいは第二画像ＩＡ２に比べて合成画像ＩＣで明るさのむらが減る場合に、画像処理に基づく異常検出がより容易にあるいはより精度良く実行されやすい。

また、本実施形態では、一例として、検査対象物１００は、螺旋状に巻かれた巻回物を有した。よって、本実施形態によれば、一例としては、螺旋状に巻かれた巻回物を有した検査対象物１００で第一画像ＩＡ１あるいは第二画像ＩＡ２に比べて合成画像ＩＣで明るさのむらが減る場合に、画像処理に基づく異常検出がより容易にあるいはより精度良く実行されやすい。

また、本実施形態では、一例として、撮像部３は、第一画像ＩＬ１と第二画像ＩＬ２とを交互に反復して取得する。よって、本実施形態によれば、一例としては、互いに隣接したタイミングで取得された第一画像ＩＬ１と第二画像ＩＬ２とを合成することができる。よって、合成画像ＩＣがより実物に近い画像として得られやすい。

また、本実施形態では、一例として、合成画像は、線状の第一画像ＩＬ１を取得した順に配列した二次元の第一画像ＩＡ１と、線状の第二画像ＩＬ２を取得した順に配列した二次元の第二画像ＩＡ２とが合成された画像である。よって、本実施形態によれば、一例としては、ラインセンサによるより高応答あるいは高分解能の画像に基づいて異常検出を実行することができる。また、本実施形態によれば、例えば、二次元の第一画像ＩＡ１と第二画像ＩＡ２とを差分画像に基づく異常検出処理に利用したり、二次元の第一画像ＩＡ１ならびに第二画像ＩＡ２自体を異常検出に利用したりすることができる。

また、本実施形態では、一例として、第一画像ＩＡ１（ＩＬ１）および第二画像ＩＡ２（ＩＬ２）には、それぞれ、検査対象物１００の複数の部位の画像Ｉａ，Ｉｂが含まれる。よって、本実施形態によれば、一例としては、一つの画像データの画像処理で、検査対象物１００の複数の部位の異常検出を実行することができる。よって、一例としては、異常検出の演算時間が減りやすい。

また、本実施形態では、一例として、合成画像には、複数の部位の画像が検査対象物１００の長手方向に対応する方向と交叉する方向に間隔をあけて含まれる。よって、画像処理に基づく異常検出がより容易にあるいはより精度良く実行されやすい。

また、本実施形態では、一例として、撮像部３は、光を屈折あるいは反射させる光学部品４（ミラー４Ｌ，４Ｒ）を介して複数の部位の画像を取得する。よって、本実施形態によれば、一例としては、複数の部位の画像を取得する構成が、より簡素な構成として得られやすい。二つのミラー４Ｌ，４Ｒが一体化された光学部品４が用いられる場合、当該検査装置１の製造時やメンテナンス時に、ミラー４Ｌ，４Ｒをより取り扱いやすくなる。

また、本実施形態では、一例として、検査対象物１００は、一方側から光が照らされた場合と他方側から光が照らされた場合とで明るい領域と暗い領域とが光が照らされた方向と交叉する方向に逆転する。よって、本実施形態によれば、一例としては、第一画像ＩＡ１および第二画像ＩＡ２の特性を利用した画像処理により、検査対象物１００の異常がより検出されやすくなる。

また、本実施形態では、一例として、検査対象物１００は、外周に螺旋状の凹部または凸部を有した長尺状部品である。よって、本実施形態によれば、一例としては、外周に螺旋状の凹部または凸部を有した長尺状部品が、一方側から光が照らされた場合と他方側から光が照らされた場合とで明るい領域と暗い領域とが光が照らされた方向と交叉する方向に逆転する部品である場合に、第一画像ＩＡ１および第二画像ＩＡ２の特性を利用した画像処理により、検査対象物１００の異常がより検出されやすくなる。

また、本実施形態では、一例として、画像処理部２０ｄは、第一画像と第二画像とが合成された合成画像の画像処理により検査対象物の異常を検出する。よって、本実施形態によれば、一例としては、合成画像ＩＣでは、明るさのむらが減るため、検査対象物１００の異常がより検出されやすくなる。

以上、本発明の実施形態を例示したが、上記実施形態はあくまで一例である。実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、組み合わせ、変更を行うことができる。また、実施形態の構成や形状は、部分的に他の構成や形状と入れ替えて実施することも可能である。また、各構成や形状等のスペック（構造や、種類、方向、角度、形状、大きさ、長さ、幅、厚さ、高さ、数、配置、位置、材質等）は、適宜に変更して実施することができる。例えば、検査対象物は、長尺状部品以外であってもよい。また、検査装置は、上述した異常以外の異常を画像処理で検出することができる。また、検査装置は、静止状態で取得された画像で検査してもよい。また、光学部品はミラー以外（例えば、レンズ、プリズム等）であってもよい。また、画像中に検査対象物の三つ以上の部位が含まれてもよい。また、撮像部は、幅方向と交叉する方向（斜め方向）に延びた線状の画像を取得してもよい。また、撮像部は、複数設けられてもよい。

１…検査装置、２Ｄ…光源、２Ｕ…光源、３…撮像部、４…光学部品、４Ｌ，４Ｒ…ミラー（光学部品）、２０ｂ…撮像制御部、２０ｄ…画像処理部（異常検出部）、１００…検査対象物。

Claims (11)

1. 長尺状の検査対象物にその長手方向の一方側から照らす光の第一光源と、
   前記検査対象物に前記長手方向の他方側から照らす光の第二光源と、
   前記検査対象物が前記長手方向に搬送されている状態で、前記第一光源からの光で照らされている際の前記検査対象物の第一画像と前記第二光源からの光で照らされている際の前記検査対象物の第二画像とを取得する撮像部と、
   前記第一画像と前記第二画像とが合成された合成画像を画像処理して前記検査対象物の異常を検出する異常検出部と、
   を備えた、検査装置。
2. 前記検査対象物は、螺旋状に巻かれた巻回物を有した、請求項１に記載の検査装置。
3. 前記撮像部は、前記第一画像と前記第二画像とを交互に反復して取得する、請求項１または２に記載の検査装置。
4. 前記撮像部は、前記検査対象物の幅方向に沿った線状の画像を取得し、
   前記合成画像は、線状の前記第一画像を取得した順に配列した二次元の前記第一画像と、線状の前記第二画像を取得した順に配列した二次元の前記第二画像とが合成された画像である、請求項１〜３のうちいずれか一つに記載の検査装置。
5. 前記第一画像および前記第二画像には、それぞれ、前記検査対象物の複数の部位の画像が含まれる、請求項１〜４のうちいずれか一つに記載の検査装置。
6. 前記合成画像には、前記複数の部位の画像が前記検査対象物の長手方向に対応する方向と交叉する方向に間隔をあけて含まれる、請求項５に記載の検査装置。
7. 前記撮像部は、光を屈折あるいは反射させる光学部品を介して前記複数の部位の画像を取得する、請求項５または６に記載の検査装置。
8. 一方側から光が照らされた場合と他方側から光が照らされた場合とで明るい領域と暗い領域とが前記光が照らされた方向と交叉する方向に逆転する検査対象物の一方側から光が照らされた際の第一画像と他方側から光が照らされた際の第二画像とを撮像する撮像部と、
   前記第一画像と前記第二画像とに基づく画像処理により前記検査対象物の異常を検出する異常検出部と、
   を備えた、検査装置。
9. 前記検査対象物は、外周に螺旋状の凹部または凸部を有した長尺状部品である、請求項８に記載の検査装置。
10. 前記異常検出部は、前記第一画像と前記第二画像とが合成された合成画像の画像処理により前記検査対象物の異常を検出する、請求項８または９に記載の検査装置。
11. 長尺状の検査対象物を撮像した画像を画像処理して当該検査対象物の異常を検出する検査装置による検査方法であって、
    撮像制御部が、前記検査対象物が前記長手方向の一方側から光で照らされた際の第一画像と前記長手方向の他方側から光で照らされた際の第二画像とが取得されるよう撮像部を制御するステップと、
    異常検出部が、前記第一画像と前記第二画像とが合成された画像を画像処理して前記検査対象物の異常を検出するステップと、
    を含む、検査方法。