JP2013046883A - Pt-HIGH DISPERSION SUPPORTED CATALYST AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、Pt高分散担持触媒及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a Pt highly dispersed supported catalyst and a method for producing the same.
燃料電池に用いられる電極触媒には、一般に、比表面積の高いカーボン粉末に、粒子径数ナノメートルのPtあるいはPt合金を担持した触媒(Pt担持カーボン(Pt/C))が利用されている。Pt/C触媒は、Pt粒子の表面近傍にある原子のみが触媒として機能するため、高価なPtの利用率が低いという問題がある。そのため、Ptの使用を粒子表面から数原子層に限り、粒子内部を別の材料で代替する技術が、いくつか提案されている。 As an electrode catalyst used in a fuel cell, a catalyst (Pt-supported carbon (Pt / C)) in which Pt or a Pt alloy having a particle diameter of several nanometers is supported on carbon powder having a high specific surface area is generally used. The Pt / C catalyst has a problem that the utilization rate of expensive Pt is low because only atoms near the surface of the Pt particles function as a catalyst. For this reason, several techniques for limiting the use of Pt to a few atomic layers from the particle surface and substituting the inside of the particle with another material have been proposed.
例えば、非特許文献1には、グラッシーカーボン表面に粒径40nm程度のTiC粒子を担持させ、電析法によりTiC表面にPtを担持させた電極(GC/TiC/Pt)が開示されている。
同文献の図1には、GC/TiC/Ptの1000倍のSEM像が記載されている。このSEM像において、凝集したPt粒子が確認できる。
また、同文献の図2には、GC/TiC/Ptのサイクリックボルタモグラムが記載されている。Pt電析量と同図のサイクリックボルタモグラムの水素吸着量とから求めたPt重量当たりの電気化学表面積(ECSA)は、3.7m2/gである。
For example, Non-Patent Document 1 discloses an electrode (GC / TiC / Pt) in which TiC particles having a particle diameter of about 40 nm are supported on the glassy carbon surface and Pt is supported on the TiC surface by an electrodeposition method.
In FIG. 1 of the same document, an SEM image 1000 times larger than GC / TiC / Pt is described. In this SEM image, aggregated Pt particles can be confirmed.
FIG. 2 of the same document describes a GC / TiC / Pt cyclic voltammogram. The electrochemical surface area (ECSA) per Pt weight determined from the amount of Pt electrodeposition and the amount of hydrogen adsorbed in the cyclic voltammogram in the figure is 3.7 m 2 / g.
非特許文献1に記載されているように、電析法を用いると、TiC表面にPt粒子を担持させることができる。しかしながら、電析法では、Pt粒子の大きさにばらつきがあり、かなり大きなPt粒子も生じている。Pt粒子が大きいと、比表面積が小さく、触媒として働くことができる面積が少ないため、Pt重量当たりの触媒が低くなる。PtをTiC粒子表面に、より細かく、均一に担持することができれば、Pt重量当たりの触媒活性が向上すると考えられる。 As described in Non-Patent Document 1, when an electrodeposition method is used, Pt particles can be supported on the TiC surface. However, in the electrodeposition method, the size of the Pt particles varies and considerably large Pt particles are generated. When Pt particles are large, the specific surface area is small, and the area that can function as a catalyst is small, so the catalyst per Pt weight is low. If Pt can be supported more finely and uniformly on the surface of TiC particles, the catalytic activity per Pt weight is considered to be improved.
本発明が解決しようとする課題は、TiCなどの担体表面に、Pt粒子が微細かつ均一に担持されたPt高分散担持触媒及びその製造方法を提供することにある。 The problem to be solved by the present invention is to provide a highly dispersed Pt supported catalyst in which Pt particles are finely and uniformly supported on the surface of a support such as TiC and a method for producing the same.
上記課題を解決するために本発明に係るPt高分散担持触媒の製造方法は、
電子伝導性を有する担体(但し、Cを除く)を容器内に保持し、前記容器にPt錯体の蒸気を導入し、前記担体表面に前記Pt錯体を吸着させるPt錯体吸着工程と、
前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記Pt錯体を排出する第1パージ工程と、
前記容器内に水素を含む還元ガスを導入し、前記Pt錯体を還元するPt錯体還元工程と、
前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記還元ガスを排出する第2パージ工程と、
前記容器内にCOを含む吸着ガスを導入し、前記Pt錯体の還元により生成したPt粒子表面にCOを吸着させるCO吸着工程と、
前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記吸着ガスを排出する第3パージ工程と
を備えている。
また、本発明に係るPt高分散担持触媒は、本発明に係る方法により得られたものからなる。
In order to solve the above problems, a method for producing a Pt highly dispersed supported catalyst according to the present invention comprises:
A Pt complex adsorption step of holding a carrier having electron conductivity (excluding C) in a container, introducing a vapor of Pt complex into the container, and adsorbing the Pt complex on the surface of the carrier;
A first purge step of flowing an inert gas into the vessel and discharging the remaining Pt complex;
Introducing a reducing gas containing hydrogen into the vessel to reduce the Pt complex;
A second purge step of flowing an inert gas into the vessel and discharging the remaining reducing gas;
A CO adsorption step of introducing an adsorption gas containing CO into the container and adsorbing CO on the surface of the Pt particles generated by the reduction of the Pt complex;
A third purge step of flowing an inert gas into the container and discharging the remaining adsorbed gas.
The Pt highly dispersed supported catalyst according to the present invention is obtained by the method according to the present invention.
担体表面にPt錯体を吸着させ、Pt錯体を還元させると、担体表面にPt粒子が析出する。次いで、析出したPt粒子をCO雰囲気に曝すと、Pt粒子表面にCOが吸着する。Pt粒子表面に吸着したCOは、既に析出したPt粒子の上に、Pt錯体の還元により新たに生成したPtが析出するのを妨げる作用がある。そのため、Pt錯体の吸着、Pt錯体の還元、及びCO吸着を複数回繰り返すと、担体表面にPt粒子を微細かつ均一に析出させることができる。 When the Pt complex is adsorbed on the surface of the carrier and the Pt complex is reduced, Pt particles are deposited on the surface of the carrier. Next, when the precipitated Pt particles are exposed to a CO atmosphere, CO is adsorbed on the surface of the Pt particles. The CO adsorbed on the surface of the Pt particles has an effect of preventing the newly formed Pt from being deposited on the already deposited Pt particles by reduction of the Pt complex. Therefore, when the adsorption of the Pt complex, the reduction of the Pt complex, and the CO adsorption are repeated a plurality of times, the Pt particles can be finely and uniformly deposited on the surface of the carrier.
以下、本発明の一実施の形態について詳細に説明する。
[1. Pt高分散担持触媒]
本発明に係るPt高分散担持触媒は、担体表面にPt粒子が高分散に担持されたものからなる。このようなPt高分散担持触媒は、後述する方法により得られる。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail.
[1. Pt high dispersion supported catalyst]
The Pt highly dispersed supported catalyst according to the present invention comprises a Pt particle supported on a support surface in a highly dispersed state. Such a Pt highly dispersed supported catalyst is obtained by the method described later.
[1.1. 担体]
本発明において、担体には、電子伝導性を有する材料(但し、Cを除く)が用いられる。このような担体としては、例えば、TiCがある。
担体の粒径は、特に限定されるものではなく、目的に応じて任意に選択することができる。一般に、担体の粒径が小さくなるほど、重量当たりの活性が高い触媒が得られる。
[1.1. Carrier]
In the present invention, a material having electron conductivity (excluding C) is used for the carrier. An example of such a carrier is TiC.
The particle size of the carrier is not particularly limited and can be arbitrarily selected according to the purpose. In general, the smaller the particle size of the support, the higher the activity per weight.
[1.2. Pt粒子]
Pt粒子は、担体表面に担持される。後述する方法を用いると、担体表面にPtを高分散に担持することができる。
Ptの分散の程度は、COパルス測定でのCO吸着量、又は、CV測定時の水素吸着波面積から求めた電気化学表面積(ECSA)で表すことができる。CO吸着量及びECSAは相互に相関があり、いずれもその値が高いほどPt粒子が微細であることを表す。
後述する方法を用いる場合において、製造条件を最適化すると、
(1)COパルス測定でのCO吸着量が30mL/g以上、及び/又は、
(2)CV測定時の水素吸着波面積から求めたECSAが75m2/g以上
である触媒が得られる。
[1.2. Pt particles]
Pt particles are supported on the surface of the carrier. If a method described later is used, Pt can be supported on the carrier surface with high dispersion.
The degree of dispersion of Pt can be expressed by the CO adsorption amount in CO pulse measurement or the electrochemical surface area (ECSA) obtained from the hydrogen adsorption wave area in CV measurement. The CO adsorption amount and ECSA are correlated with each other, and the higher the value, the finer the Pt particles.
In the case of using the method described later, when the manufacturing conditions are optimized,
(1) CO adsorption amount in CO pulse measurement is 30 mL / g or more, and / or
(2) A catalyst having an ECSA of 75 m 2 / g or more obtained from the hydrogen adsorption wave area during CV measurement is obtained.
[2. Pt高分散担持触媒の製造方法]
図1に、本発明に係るPt高分散担持触媒の製造方法の工程図を示す。図1において、本発明に係るPt高分散担持触媒の製造方法は、Pt錯体吸着工程と、第1パージ工程と、Pt錯体還元工程と、第2パージ工程と、CO吸着工程と、第3パージ工程とを備えている。
[2. Method for producing Pt highly dispersed supported catalyst]
FIG. 1 shows a process chart of a method for producing a Pt highly dispersed supported catalyst according to the present invention. In FIG. 1, the method for producing a Pt highly dispersed supported catalyst according to the present invention includes a Pt complex adsorption step, a first purge step, a Pt complex reduction step, a second purge step, a CO adsorption step, and a third purge. Process.
[2.1. Pt錯体吸着工程]
Pt錯体吸着工程は、図1(a)に示すように、電子伝導性を有する担体(但し、Cを除く)を容器(図示せず)内に保持し、前記容器にPt錯体の蒸気を導入し、前記担体表面に前記Pt錯体を吸着させる工程である。
本発明において、担体には、電子伝導性を有する材料(但し、Cを除く)が用いられる。担体の詳細については、上述した通りであるので、説明を省略する。
[2.1. Pt complex adsorption process]
In the Pt complex adsorption step, as shown in FIG. 1A, a carrier having electron conductivity (except for C) is held in a container (not shown), and the vapor of the Pt complex is introduced into the container. And the Pt complex is adsorbed on the surface of the carrier.
In the present invention, a material having electron conductivity (excluding C) is used for the carrier. Since the details of the carrier are as described above, the description thereof is omitted.
「Pt錯体」とは、Ptイオンに配位子が結合している化合物をいう。本発明において、原料に用いられるPt錯体は、プロセス温度において、分解することなく、所定の蒸気圧を生じさせるものである必要がある。原料として使用するPt錯体は、分解温度T(K)の90%の温度における蒸気圧が100Pa以上であるものが好ましい。
このような条件を満たすPt錯体としては、例えば、メチルシクロペンタジエニルトリメチル白金、シクロペンタジエニルトリメチル白金、エチルシクロペンタジエニルトリメチル白金、テトラキス(トリフルオロホスフィン)白金などがある。
“Pt complex” refers to a compound in which a ligand is bonded to a Pt ion. In the present invention, the Pt complex used as a raw material needs to generate a predetermined vapor pressure without being decomposed at the process temperature. The Pt complex used as the raw material preferably has a vapor pressure of 100 Pa or higher at 90% of the decomposition temperature T (K).
Examples of the Pt complex that satisfies such conditions include methylcyclopentadienyltrimethylplatinum, cyclopentadienyltrimethylplatinum, ethylcyclopentadienyltrimethylplatinum, and tetrakis (trifluorophosphine) platinum.
Pt錯体を所定の温度(例えば、25〜80℃)に保たれた蒸気発生用の容器内に封入し、蒸気発生用の容器内にキャリアガス(不活性ガス)を導入すると、Pt錯体蒸気を含んだキャリアガスが得られる。このようにして得られたPt錯体蒸気+キャリアガスを、担体を保持した容器内へと導入する。 When the Pt complex is sealed in a vapor generation container maintained at a predetermined temperature (for example, 25 to 80 ° C.) and a carrier gas (inert gas) is introduced into the vapor generation container, the Pt complex vapor is converted into The contained carrier gas is obtained. The Pt complex vapor + carrier gas thus obtained is introduced into a container holding the carrier.
担体を保持した容器内にPt錯体蒸気+キャリアガスを導入すると、図1(a)に示すように、担体表面に1分子層のPt錯体が吸着する。この時、担体を保持した容器内の温度(吸着温度)に応じて、担体表面への吸着量が変化する。
一般に、吸着温度が低すぎると、Pt錯体が凝集して担体表面に均一に吸着せず、Ptが粗大粒子になって蒸着する。従って、吸着温度は、100℃以上が好ましい。
一方、吸着温度が高すぎると、Pt錯体が熱分解するおそれがある。従って、吸着温度は、200℃以下が好ましい。
When Pt complex vapor + carrier gas is introduced into a container holding a carrier, a single molecular layer of Pt complex is adsorbed on the surface of the carrier as shown in FIG. At this time, the amount of adsorption on the surface of the carrier changes according to the temperature (adsorption temperature) in the container holding the carrier.
In general, when the adsorption temperature is too low, the Pt complex aggregates and does not adsorb uniformly on the surface of the carrier, and Pt is deposited as coarse particles. Therefore, the adsorption temperature is preferably 100 ° C. or higher.
On the other hand, if the adsorption temperature is too high, the Pt complex may be thermally decomposed. Therefore, the adsorption temperature is preferably 200 ° C. or lower.
担体を保持した容器内にPt錯体蒸気+キャリアガスを導入する時間(吸着時間)は、担体表面に1分子層のPt錯体が吸着可能な時間であればよい。吸着温度にもよるが、吸着時間は、通常、10〜40分程度である。 The time (adsorption time) for introducing the Pt complex vapor + carrier gas into the container holding the carrier may be a time during which the single molecular layer Pt complex can be adsorbed on the carrier surface. Although depending on the adsorption temperature, the adsorption time is usually about 10 to 40 minutes.
[2.2. 第1パージ工程]
第1パージ工程は、図1(b)に示すように、前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記Pt錯体を排出する工程である。
容器内にPt錯体蒸気が残った状態で、後述するPt錯体の還元を行うと、容器内に浮遊しているPt錯体蒸気がPtとなり、担体表面に析出する場合がある。従って、担体表面にPtを高分散担持させるためには、Pt錯体の還元を行う前に、容器内から余分なPt錯体蒸気を排出する必要がある。
[2.2. First purge step]
As shown in FIG. 1B, the first purge step is a step of flowing an inert gas into the container and discharging the remaining Pt complex.
When the Pt complex vapor described below is reduced with the Pt complex vapor remaining in the container, the Pt complex vapor floating in the container may become Pt and be deposited on the surface of the carrier. Therefore, in order to carry Pt in a highly dispersed manner on the surface of the carrier, it is necessary to discharge excess Pt complex vapor from the container before the reduction of the Pt complex.
余分なPt錯体蒸気の排出は、容器内に不活性ガス(例えば、N2ガス、Arなどの希ガス)を流すことにより行う。この時、容器内の温度は、特に限定されるものではなく、余分なPt錯体蒸気を排出可能な温度であれば良い。しかしながら、パージ前後において容器内の温度が大きく変動すると、担体表面に吸着したPt錯体の脱離が生ずるおそれがある。また、不必要な温度の変動は、温度制御を煩雑化させる。従って、第1パージ工程において、容器内の温度は、Pt錯体吸着工程と同一温度に維持するのが好ましい。
不活性ガスの流量、パージ時間等は、特に限定されるものではなく、余分なPt錯体蒸気が容器外に排出される条件であれば良い。
Excess Pt complex vapor is discharged by flowing an inert gas (for example, N 2 gas, rare gas such as Ar) through the container. At this time, the temperature in the container is not particularly limited as long as it is a temperature at which excess Pt complex vapor can be discharged. However, if the temperature in the container greatly fluctuates before and after purging, the Pt complex adsorbed on the support surface may be desorbed. Also, unnecessary temperature fluctuations complicate temperature control. Therefore, in the first purge step, the temperature in the container is preferably maintained at the same temperature as the Pt complex adsorption step.
The flow rate of the inert gas, the purge time, etc. are not particularly limited as long as the excess Pt complex vapor is discharged out of the container.
[2.3. Pt錯体還元工程]
Pt錯体還元工程は、図1(c)に示すように、前記容器内に水素を含む還元ガスを導入し、前記Pt錯体を還元する工程である。
還元ガスには、水素を含むガスを用いる。還元ガスには、水素以外のガスが含まれていても良い。水素以外のガスは、Pt錯体の還元を妨げないガス(例えば、不活性ガス)であれば良い。Pt錯体の還元を効率良く行うためには、還元ガス中の水素濃度は高いほど良く、100%(純水素)が特に好ましい。
[2.3. Pt complex reduction process]
As shown in FIG. 1C, the Pt complex reduction step is a step of reducing the Pt complex by introducing a reducing gas containing hydrogen into the container.
A gas containing hydrogen is used as the reducing gas. The reducing gas may contain a gas other than hydrogen. The gas other than hydrogen may be a gas that does not hinder the reduction of the Pt complex (for example, an inert gas). In order to efficiently reduce the Pt complex, the hydrogen concentration in the reducing gas is preferably as high as possible, and 100% (pure hydrogen) is particularly preferable.
Pt錯体の還元温度は、Pt錯体が還元ガスによって還元可能な温度であればよい。例えば、還元ガスとして濃度100%の水素ガスを用いる場合、25℃以上であれば、Pt錯体の還元が進行する。また、Pt錯体を還元すると、Ptの凝集が起こるので、還元温度は、Pt粒子の大きさに影響を与える。
一般に、還元温度が高くなるほど、還元反応の反応速度が速くなる。短時間で処理を完了させるためには、還元温度は、100℃以上が好ましい。
一方、還元温度が高すぎると、粒子が粗大化する。従って、還元温度は、200℃以下が好ましい。
The reduction temperature of the Pt complex may be a temperature at which the Pt complex can be reduced by a reducing gas. For example, when hydrogen gas having a concentration of 100% is used as the reducing gas, the reduction of the Pt complex proceeds at 25 ° C. or higher. Further, when the Pt complex is reduced, Pt aggregation occurs, so the reduction temperature affects the size of the Pt particles.
In general, the higher the reduction temperature, the faster the reaction rate of the reduction reaction. In order to complete the treatment in a short time, the reduction temperature is preferably 100 ° C. or higher.
On the other hand, if the reduction temperature is too high, the particles become coarse. Therefore, the reduction temperature is preferably 200 ° C. or lower.
還元ガスの流量、還元時間等は、特に限定されるものではなく、Pt錯体が完全に還元される条件であれば良い。還元温度や還元ガスの濃度にもよるが、還元時間は、通常、10〜30分程度である。
所定の条件下でPt錯体の還元を行うと、図1(c)に示すように、理想的には担体表面に1原子層のPtが生成する。実際には、析出したPtが凝集し、微細なPt粒子となることが多い。
The flow rate of the reducing gas, the reduction time, and the like are not particularly limited as long as the Pt complex is completely reduced. Although depending on the reduction temperature and the concentration of the reducing gas, the reduction time is usually about 10 to 30 minutes.
When the Pt complex is reduced under predetermined conditions, one atomic layer of Pt is ideally formed on the surface of the carrier as shown in FIG. In practice, the precipitated Pt often agglomerates into fine Pt particles.
[2.4. 第2パージ工程]
第2パージ工程は、図1(d)に示すように、前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記還元ガスを排出する工程である。
容器内に還元ガスが残った状態で、次工程に移行すると、容器内に残存している還元ガスと容器内に新たに導入されたガスとが反応する場合がある。例えば、Pt錯体蒸気の導入及びPt錯体の還元を複数回繰り返す場合において、容器内に還元ガスが残った状態で新たにPt錯体蒸気を導入すると、担体表面へのPt錯体の吸着が起こる前にPt錯体蒸気の還元が起こる。従って、担体表面にPtを高分散担持させるためには、CO吸着を行う前に、容器内から余分な還元ガスを排出する必要がある。
[2.4. Second purge step]
As shown in FIG. 1D, the second purge step is a step of flowing an inert gas into the container and discharging the remaining reducing gas.
If the process proceeds to the next step with the reducing gas remaining in the container, the reducing gas remaining in the container may react with the newly introduced gas in the container. For example, in the case where the introduction of the Pt complex vapor and the reduction of the Pt complex are repeated several times, if the Pt complex vapor is newly introduced with the reducing gas remaining in the container, before the adsorption of the Pt complex to the surface of the carrier occurs. Reduction of the Pt complex vapor occurs. Therefore, in order to carry Pt on the carrier surface in a highly dispersed manner, it is necessary to discharge excess reducing gas from the container before CO adsorption.
余分な還元ガスの排出は、容器内に不活性ガスを流すことにより行う。この時、容器内の温度は、特に限定されるものではなく、余分な還元ガスを排出可能な温度であれば良い。しかしながら、パージ前後において容器内の温度が大きく変動すると、温度制御が煩雑になる。従って、容器内の温度は、Pt錯体還元工程と同一温度に維持するのが好ましい。
不活性ガスの流量、パージ時間等は、特に限定されるものではなく、余分な還元ガスが容器外に排出される条件であれば良い。
Excess reducing gas is discharged by flowing an inert gas into the container. At this time, the temperature in the container is not particularly limited as long as it can discharge excess reducing gas. However, if the temperature in the container fluctuates greatly before and after purging, the temperature control becomes complicated. Therefore, it is preferable to maintain the temperature in the container at the same temperature as in the Pt complex reduction step.
The flow rate of the inert gas, the purge time, and the like are not particularly limited as long as excessive reducing gas is discharged to the outside of the container.
[2.5. CO吸着工程]
CO吸着工程は、図1(e)に示すように、前記容器内にCOを含む吸着ガスを導入し、前記Pt錯体の還元により生成したPt粒子表面にCOを吸着させる工程である。
Ptが析出した担体をCO雰囲気に曝すと、Pt表面には、COが吸着する。Pt表面に吸着したCOは、担体表面に析出したPtの上に、さらに新たなPtが析出するのを妨げる作用がある。
[2.5. CO adsorption process]
As shown in FIG. 1 (e), the CO adsorption process is a process in which an adsorption gas containing CO is introduced into the container and CO is adsorbed on the surface of Pt particles generated by reduction of the Pt complex.
When the carrier on which Pt is deposited is exposed to a CO atmosphere, CO is adsorbed on the Pt surface. The CO adsorbed on the Pt surface has an effect of preventing further new Pt from being deposited on the Pt deposited on the support surface.
吸着ガスには、COを含むガスを用いる。吸着ガスには、CO以外のガスが含まれていても良い。CO以外のガスは、Pt表面へのCOの吸着を妨げないガス(例えば、不活性ガス)であれば良い。
吸着ガスに含まれるCO濃度は、目的に応じて任意に選択することができる。一般に、CO濃度が低すぎると、COの効率的な吸着が困難となる。従って、CO濃度は、100ppm以上が好ましい。
A gas containing CO is used as the adsorption gas. The adsorbed gas may contain a gas other than CO. The gas other than CO may be any gas that does not interfere with the adsorption of CO onto the Pt surface (for example, an inert gas).
The CO concentration contained in the adsorbed gas can be arbitrarily selected according to the purpose. In general, if the CO concentration is too low, efficient adsorption of CO becomes difficult. Therefore, the CO concentration is preferably 100 ppm or more.
担体を保持した容器内に吸着ガスを導入すると、図1(e)に示すように、Pt表面にCOが吸着する。この時、担体を保持した容器内の温度(吸着温度)に応じて、Pt表面へのCO吸着量が変化する。
一般に、吸着温度が高くなるほど、Pt表面にCOが吸着しにくくなる。従って、吸着温度は、200℃以下が好ましい。
担体を保持した容器内に吸着ガスを導入する時間(吸着時間)は、Pt表面にCOが吸着可能な時間であればよい。吸着温度にもよるが、吸着時間は、通常、1〜3時間程度である。
When the adsorption gas is introduced into the container holding the carrier, CO is adsorbed on the Pt surface as shown in FIG. At this time, the amount of CO adsorbed on the Pt surface changes according to the temperature (adsorption temperature) in the container holding the carrier.
In general, the higher the adsorption temperature, the more difficult it is for CO to be adsorbed on the Pt surface. Therefore, the adsorption temperature is preferably 200 ° C. or lower.
The time (adsorption time) for introducing the adsorbed gas into the container holding the carrier may be a time during which CO can be adsorbed on the Pt surface. Although depending on the adsorption temperature, the adsorption time is usually about 1 to 3 hours.
[2.6. 第3パージ工程]
第3パージ工程は、図1(f)に示すように、前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記吸着ガスを排出する工程である。
容器内に吸着ガスが残った状態で、次工程に移行すると、容器内に残存するCOと新たに導入されたPt錯体とが反応し、担体表面へのPt錯体の吸着が起こる前にPt錯体が還元される可能性がある。従って、担体表面にPtを高分散担持させるためには、次工程に移行する前に、容器内から余分な吸着ガスを排出する必要がある。
[2.6. Third purge step]
As shown in FIG. 1 (f), the third purge step is a step of flowing an inert gas into the container and discharging the remaining adsorbed gas.
When the process proceeds to the next step with the adsorbed gas remaining in the container, the CO remaining in the container reacts with the newly introduced Pt complex, and before the adsorption of the Pt complex to the surface of the carrier occurs, the Pt complex May be reduced. Therefore, in order to carry Pt in a highly dispersed manner on the carrier surface, it is necessary to discharge excess adsorbed gas from the container before proceeding to the next step.
余分な吸着ガスの排出は、容器内に不活性ガスを流すことにより行う。この時、容器内の温度は、特に限定されるものではなく、余分な吸着ガスを排出可能な温度であれば良い。しかしながら、パージ前後において容器内の温度が大きく変動すると、Pt表面に吸着したCOの脱離が生ずるおそれがある。また、不必要な温度の変動は、温度制御を煩雑化させる。従って、容器内の温度は、CO吸着工程と同一温度に維持するのが好ましい。
不活性ガスの流量、パージ時間等は、特に限定されるものではなく、余分な吸着ガスが容器外に排出される条件であれば良い。
Excess adsorption gas is discharged by flowing an inert gas into the container. At this time, the temperature in the container is not particularly limited as long as it is a temperature at which excess adsorbed gas can be discharged. However, if the temperature in the container greatly fluctuates before and after purging, desorption of CO adsorbed on the Pt surface may occur. Also, unnecessary temperature fluctuations complicate temperature control. Therefore, the temperature in the container is preferably maintained at the same temperature as the CO adsorption step.
The flow rate of the inert gas, the purge time, and the like are not particularly limited as long as the excess adsorbed gas is discharged outside the container.
[2.7. プロセスの繰り返し回数]
上述した各工程は、少なくとも1回行うだけでも良い。しかしながら、1回の処理では、担体表面へのPt担持量に限界がある。従って、担体表面に所定量のPtを担持させるためには、上述した各工程を複数回繰り返すのが好ましい。
一般に、プロセスの繰り返し回数が多くなるほど、Pt担持量が増大する。しかしながら、必要以上の繰り返しは、実益がない。繰り返し回数は、担体の粒径や、各工程で使用するガスの濃度等に応じて、最適な回数を選択する。
[2.7. Number of process iterations]
Each step described above may be performed at least once. However, there is a limit to the amount of Pt supported on the carrier surface in one treatment. Therefore, in order to carry a predetermined amount of Pt on the surface of the carrier, it is preferable to repeat the above-described steps a plurality of times.
Generally, the amount of Pt supported increases as the number of process repetitions increases. However, repeating more than necessary has no real benefit. The optimum number of repetitions is selected according to the particle size of the carrier, the concentration of the gas used in each step, and the like.
なお、上述した一連のプロセスを複数回繰り返す場合、最後のCO吸着工程及び第3パージ工程は省略することができる。
また、最後のCO吸着工程及びパージ工程を行った場合、得られた触媒のPt表面にはCOが吸着した状態になっている。一般に、Pt表面に吸着したCOは、Ptを被毒させる原因となる。しかしながら、得られた触媒を燃料電池のカソードに用いる場合、COが酸素で酸化されるため、COが触媒性能を低下させるおそれはない。また、触媒をアノードに用いる場合であっても、使用前に酸化処理を行うことによって、触媒性能の低下を抑制することができる。
When the series of processes described above is repeated a plurality of times, the last CO adsorption step and the third purge step can be omitted.
Further, when the last CO adsorption step and purge step are performed, CO is adsorbed on the Pt surface of the obtained catalyst. In general, CO adsorbed on the surface of Pt causes poisoning of Pt. However, when the obtained catalyst is used for the cathode of a fuel cell, CO is oxidized with oxygen, so there is no risk that CO will deteriorate the catalyst performance. Further, even when the catalyst is used for the anode, the deterioration of the catalyst performance can be suppressed by performing the oxidation treatment before use.
[2.8. プロセス温度]
上述した各工程は、必ずしも同一温度で行う必要はなく、各工程毎に、独立して温度を設定しても良い。しかしながら、工程毎に温度を変更すると、吸着させたガスの脱離や温度制御の煩雑化を招く。従って、Pt錯体吸着工程、第1パージ工程、前記Pt錯体還元工程、前記第2パージ工程、前記CO吸着工程、及び、前記第3パージ工程は、それぞれ、100℃以上200℃以下の温度において行うのが好ましい。
意図しない吸着ガスの脱離や温度制御の煩雑化を回避するためには、これらの工程は、それぞれ、一定の温度Tで行うのが好ましい。この場合、Tは、100℃以上200℃以下が好ましい。
[2.8. Process temperature]
Each step described above is not necessarily performed at the same temperature, and the temperature may be set independently for each step. However, if the temperature is changed for each process, the adsorbed gas is desorbed and the temperature control becomes complicated. Accordingly, the Pt complex adsorption step, the first purge step, the Pt complex reduction step, the second purge step, the CO adsorption step, and the third purge step are each performed at a temperature of 100 ° C. or higher and 200 ° C. or lower. Is preferred.
In order to avoid unintentional desorption of adsorbed gas and complicated temperature control, these steps are preferably performed at a constant temperature T. In this case, T is preferably 100 ° C. or higher and 200 ° C. or lower.
[3. Pt高分散担持触媒及びその製造方法の作用]
薄膜を原子層単位で形成する方法として、原子層堆積(ALD)法が知られている。
例えば、2種類の反応物質を原料に用いる場合、ALD法を用いた薄膜の製造は、
(a)第1反応物質を基板表面に吸着させる工程、
(b)第1反応物質を排気する工程、
(c)基板表面に吸着した第1反応物質を第2反応物質と反応させる工程、及び、
(d)第2反応物質を排気する工程
を1サイクルとして、これらの工程を複数回繰り返すことにより行われる。膜厚の制御は、サイクル数の制御により行われる。
[3. Action of Pt highly dispersed supported catalyst and production method thereof]
An atomic layer deposition (ALD) method is known as a method for forming a thin film in atomic layer units.
For example, when two types of reactants are used as raw materials, the production of a thin film using the ALD method is as follows:
(A) a step of adsorbing the first reactant on the substrate surface;
(B) exhausting the first reactant;
(C) reacting the first reactant adsorbed on the substrate surface with the second reactant, and
(D) The step of exhausting the second reactant is performed as one cycle, and these steps are repeated a plurality of times. The film thickness is controlled by controlling the number of cycles.
このようなALD法を担体表面へのPtの担持に応用すると、担体表面にPtを比較的高分散に担持させることができる。しかしながら、従来のALD法をそのままPtの担持に適用すると、担体表面に析出したPt原子の凝集が起こり、Pt粒子が粗大化する。 When such an ALD method is applied to support Pt on the support surface, Pt can be supported on the support surface with relatively high dispersion. However, if the conventional ALD method is applied to Pt support as it is, aggregation of Pt atoms deposited on the surface of the carrier occurs and Pt particles become coarse.
これに対し、担体表面にPt錯体を吸着させ、Pt錯体を還元させると、担体表面にPt粒子が析出する。次いで、析出したPt粒子をCO雰囲気に曝すと、Pt粒子表面にCOが吸着する。Pt粒子表面に吸着したCOは、既に析出したPt粒子の上に、Pt錯体の還元により新たに生成したPtが析出するのを妨げる作用がある。そのため、Pt錯体の吸着、Pt錯体の還元、及びCO吸着を複数回繰り返すと、担体表面にPt粒子を微細かつ均一に析出させることができる。 On the other hand, when the Pt complex is adsorbed on the support surface and the Pt complex is reduced, Pt particles are deposited on the support surface. Next, when the precipitated Pt particles are exposed to a CO atmosphere, CO is adsorbed on the surface of the Pt particles. The CO adsorbed on the surface of the Pt particles has an effect of preventing the newly formed Pt from being deposited on the already deposited Pt particles by reduction of the Pt complex. Therefore, when the adsorption of the Pt complex, the reduction of the Pt complex, and the CO adsorption are repeated a plurality of times, the Pt particles can be finely and uniformly deposited on the surface of the carrier.
(実施例1、比較例1〜3)
[1. 試料の作製]
[1.1. 実施例1]
以下の(1)〜(6)の工程を4回繰り返すことにより、Ptを担持させたTiC粒子(Pt/TiC)を作製した。容器温度は、100〜200℃の範囲とした。
(1)Pt錯体(メチルシクロペンタジエニルトリメチル白金)の蒸気を含むArガスを、TiC粒子を入れた容器に導入し、TiC粒子にPt錯体を吸着させた。ガス流量は0.3L/minとし、吸着時間は35minとした。
(2)容器内をArガスでパージした。ガス流量は1L/minとし、パージ時間は5minとした。
(3)H2ガスを容器に導入し、Pt錯体の還元を行った。ガス流量は0.2L/minとし、還元時間は30minとした。
(4)容器内をArガスでパージした。ガス流量は1L/minとし、パージ時間は5minとした。
(5)N2バランスのCOガス(CO濃度100ppm)を容器に導入し、蒸着させたPtにCOを吸着させた。ガス流量は0.5L/minとし、吸着時間は3hとした。
(6)容器内をArガスでパージした。ガス流量は1L/minとし、パージ時間は5minとした。
(Example 1, Comparative Examples 1-3)
[1. Preparation of sample]
[1.1. Example 1]
TiC particles carrying Pt (Pt / TiC) were produced by repeating the following steps (1) to (6) four times. The container temperature was in the range of 100 to 200 ° C.
(1) Ar gas containing vapor of Pt complex (methylcyclopentadienyltrimethylplatinum) was introduced into a container containing TiC particles, and the Pt complex was adsorbed on the TiC particles. The gas flow rate was 0.3 L / min and the adsorption time was 35 min.
(2) The inside of the container was purged with Ar gas. The gas flow rate was 1 L / min, and the purge time was 5 min.
(3) H 2 gas was introduced into the container to reduce the Pt complex. The gas flow rate was 0.2 L / min, and the reduction time was 30 min.
(4) The inside of the container was purged with Ar gas. The gas flow rate was 1 L / min, and the purge time was 5 min.
(5) N 2 balanced CO gas (CO concentration: 100 ppm) was introduced into the container, and CO was adsorbed on the deposited Pt. The gas flow rate was 0.5 L / min, and the adsorption time was 3 h.
(6) The inside of the container was purged with Ar gas. The gas flow rate was 1 L / min, and the purge time was 5 min.
[1.2. 比較例1〜3]
CO吸着及びその後のArパージを行わなかった以外は、実施例1と同様にして、Pt/TiCを作製した(比較例1)。
さらに、比較として、TiC(比較例2)及び市販のPt担持カーボン(Pt/C)(比較例3)も試験に供した。
[1.2. Comparative Examples 1 to 3]
Pt / TiC was produced in the same manner as in Example 1 except that CO adsorption and subsequent Ar purge were not performed (Comparative Example 1).
Furthermore, as a comparison, TiC (Comparative Example 2) and commercially available Pt-supported carbon (Pt / C) (Comparative Example 3) were also used for the test.
[2. 試験方法]
[2.1. TEM観察]
得られた粒子のTEM観察を行った。
[2.2. 粒径分布]
TEM像から無作為に100個のPt粒子を選び、粒径を測定した。
[2.3. CO吸着量]
COパルス測定により、CO吸着量を求めた。
[2.4. ECSA]
各粒子について、電位幅:0.05〜1.0V、電位掃引速度:100mV/sの条件下でサイクリックボルタモグラム(CV)を測定した。CV測定時の水素吸着波面積から、電気化学表面積(ECSA)を求めた。
[2. Test method]
[2.1. TEM observation]
The obtained particles were observed by TEM.
[2.2. Particle size distribution]
100 Pt particles were randomly selected from the TEM image, and the particle size was measured.
[2.3. CO adsorption amount]
The CO adsorption amount was determined by CO pulse measurement.
[2.4. ECSA]
For each particle, a cyclic voltammogram (CV) was measured under the conditions of potential width: 0.05 to 1.0 V and potential sweep rate: 100 mV / s. The electrochemical surface area (ECSA) was determined from the hydrogen adsorption wave area during CV measurement.
[3. 結果]
[3.1. TEM観察]
図2に、実施例1で得られたPt/TiC触媒のTEM像を示す。図2より、2nm程度のPt粒子がTiC表面に高分散に担持されていることがわかる。
[3.2. 粒径分布]
図3に、TEM像から測定したPt/TiC触媒のPt粒子の粒径分布を示す。図3より、CO吸着を行ったPt/TiC触媒(実施例1)は、CO吸着を行わなかったPt/TiC触媒(比較例1)に比べて、2.6nm以上のPt粒子が少ないことがわかる。これは、CO吸着過程によって、Pt粒子の成長が抑制されたためと考えられる。
[3. result]
[3.1. TEM observation]
FIG. 2 shows a TEM image of the Pt / TiC catalyst obtained in Example 1. FIG. 2 shows that Pt particles of about 2 nm are supported on the TiC surface with high dispersion.
[3.2. Particle size distribution]
FIG. 3 shows the particle size distribution of Pt particles of the Pt / TiC catalyst measured from the TEM image. FIG. 3 shows that the Pt / TiC catalyst (Example 1) subjected to CO adsorption has fewer Pt particles of 2.6 nm or more than the Pt / TiC catalyst (Comparative Example 1) not subjected to CO adsorption. Recognize. This is presumably because the growth of Pt particles was suppressed by the CO adsorption process.
[3.3. CO吸着量]
実施例1で得られたPt/TiCの場合、COパルス測定により求めたCO吸着量は、32mL/gであった。これをPt粒径に換算すると1.8nmであった。
[3.4. ECSA]
図4に、各種粒子のサイクリックボルタモグラムを示す。また、表1に、CV時の水素吸着波から求めたECSAを示す。
実施例1で得られたPt/TiCのECSAは87.9m2/gであり、従来のPt/C(比較例3)に比べて2割程度大きかった。
[3.3. CO adsorption amount]
In the case of Pt / TiC obtained in Example 1, the CO adsorption amount determined by CO pulse measurement was 32 mL / g. This was 1.8 nm in terms of Pt particle size.
[3.4. ECSA]
FIG. 4 shows cyclic voltammograms of various particles. Table 1 shows ECSA obtained from the hydrogen adsorption wave at CV.
The ECSA of Pt / TiC obtained in Example 1 was 87.9 m 2 / g, which was about 20% larger than the conventional Pt / C (Comparative Example 3).
(実施例2)
[1. 試料の作製]
実施例1と同様の手順に従い、Pt/TiCを作製した。但し、プロセス温度(容器温度)は、一定(室温、100℃、150℃、又は、200℃)とした。
[2. 試験方法]
COパルス測定により、CO吸着量を求めた。
[3. 結果]
図5に、ALDのプロセス温度とCO吸着量との関係を示す。室温(25℃)では、CO吸着量は、10mL/g以下であった。一方、プロセス温度を100〜200℃とすると、CO吸着量は、30mL/g以上となった。これは、100〜200℃の範囲では、Pt錯体が担体表面に1層均一に吸着するのに対し、室温ではPt錯体が担体表面に均一に吸着せず、凝集するためと考えられる。
(Example 2)
[1. Preparation of sample]
Pt / TiC was prepared according to the same procedure as in Example 1. However, the process temperature (container temperature) was constant (room temperature, 100 ° C., 150 ° C., or 200 ° C.).
[2. Test method]
The CO adsorption amount was determined by CO pulse measurement.
[3. result]
FIG. 5 shows the relationship between the ALD process temperature and the CO adsorption amount. At room temperature (25 ° C.), the CO adsorption amount was 10 mL / g or less. On the other hand, when the process temperature was 100 to 200 ° C., the CO adsorption amount was 30 mL / g or more. This is probably because, in the range of 100 to 200 ° C., the Pt complex is uniformly adsorbed on the surface of the carrier, whereas the Pt complex is not uniformly adsorbed on the surface of the carrier and aggregates at room temperature.
以上、本発明の実施の形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改変が可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
本発明に係るPt高分散担持触媒は、燃料電池用の電極触媒として使用することができる。 The Pt highly dispersed supported catalyst according to the present invention can be used as an electrode catalyst for a fuel cell.
Claims (6)
前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記Pt錯体を排出する第1パージ工程と、
前記容器内に水素を含む還元ガスを導入し、前記Pt錯体を還元するPt錯体還元工程と、
前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記還元ガスを排出する第2パージ工程と、
前記容器内にCOを含む吸着ガスを導入し、前記Pt錯体の還元により生成したPt粒子表面にCOを吸着させるCO吸着工程と、
前記容器内に不活性ガスを流し、残存する前記吸着ガスを排出する第3パージ工程と
を備えたPt高分散担持触媒の製造方法。 A Pt complex adsorption step of holding a carrier having electron conductivity (excluding C) in a container, introducing a vapor of Pt complex into the container, and adsorbing the Pt complex on the surface of the carrier;
A first purge step of flowing an inert gas into the vessel and discharging the remaining Pt complex;
Introducing a reducing gas containing hydrogen into the vessel to reduce the Pt complex;
A second purge step of flowing an inert gas into the vessel and discharging the remaining reducing gas;
A CO adsorption step of introducing an adsorption gas containing CO into the container and adsorbing CO on the surface of the Pt particles generated by the reduction of the Pt complex;
And a third purge step of flowing an inert gas into the vessel and discharging the remaining adsorbed gas.
請求項1に記載のPt高分散担持触媒の製造方法。
但し、最後の前記CO吸着工程及び前記第3パージ工程は、省略することができる。 2. The high Pt dispersion support according to claim 1, wherein the Pt complex adsorption step, the first purge step, the Pt complex reduction step, the second purge step, the CO adsorption step, and the third purge step are repeated a plurality of times. A method for producing a catalyst.
However, the last CO adsorption step and the third purge step can be omitted.
CV測定時の水素吸着波面積から求めたECSAが75m2/g以上である
請求項5に記載のPt高分散担持触媒。 CO adsorption amount in CO pulse measurement is 30 mL / g or more, and / or
6. The Pt highly dispersed supported catalyst according to claim 5, wherein ECSA obtained from a hydrogen adsorption wave area at the time of CV measurement is 75 m 2 / g or more.
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