JP2012154856A - Frequency measurement device and frequency phase difference comparison device - Google Patents
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Abstract
【課題】デジタル回路に供給するベースクロックの周波数を高くせずとも、必要な周期計測のための分解能を得ることができる、高分解能の周波数計測装置及び周波数位相差比較装置を提供する。
【解決手段】ベースクロックの周期を等間隔に細分化するディレイ手段202を複数備える多段ディレイ201を用いて、入力される矩形波信号を遅延させ、夫々のディレイ素子202から得られるタイミングでカウンタ203の値をレジスタで取得し、各々のレジスタの値を比較することで、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのどのタイミングに位置しているのかが判定できる。そして、その判定結果に応じた時間軸上のずれの値を、周期カウンタ105によって得られる周期の値に与えることで、周期計測の分解能を向上させることができる。
【選択図】図2A high-resolution frequency measurement device and a frequency phase difference comparison device capable of obtaining a necessary resolution for period measurement without increasing the frequency of a base clock supplied to a digital circuit.
A multi-stage delay 201 including a plurality of delay means 202 for subdividing a base clock cycle at equal intervals is used to delay an input rectangular wave signal, and at a timing obtained from each delay element 202, a counter 203 is provided. Is obtained by the register, and the values of the respective registers are compared to determine at which timing of the base clock the up edge of the rectangular wave signal is located. Then, by giving the value of the deviation on the time axis according to the determination result to the value of the period obtained by the period counter 105, the resolution of the period measurement can be improved.
[Selection] Figure 2
Description
本発明は周波数計測装置及び周波数位相差比較装置に関する。
より詳細には、被計測信号の周期などを計測するベースクロックの周波数を高くせずとも、周期計測のために必要な任意の高分解能を得る周波数計測装置及び周波数位相差比較装置に関する。
The present invention relates to a frequency measurement device and a frequency phase difference comparison device.
More specifically, the present invention relates to a frequency measurement device and a frequency phase difference comparison device that can obtain an arbitrary high resolution necessary for cycle measurement without increasing the frequency of a base clock that measures the cycle of a signal under measurement.
工場や実験施設等の様々な産業分野において、周波数及び/又は周期を継続的に計測し、その値を表示し、またその情報によりシステムを制御する需要は常に存在する。出願人はそのような需要に応えるべく、周期・周波数計測装置を製造販売している。
なお、本発明に関係すると思われる先行技術文献を特許文献1として示す。
In various industrial fields such as factories and experimental facilities, there is always a demand for continuously measuring the frequency and / or period, displaying the value, and controlling the system based on the information. The applicant manufactures and sells period / frequency measuring devices to meet such demands.
A prior art document considered to be related to the present invention is shown as
通常、周波数を計測する目的で計測応答性を良くするためにその逆数である周期から計測する技術が知られている。このためには、計測対象となる信号より、充分に高い周波数のベースクロックとカウンタを用意して、計測対象となる信号のエッジを捉え、エッジとエッジの間にベースクロックが何個含まれるのかをカウンタで計数することで、周期を計測する。したがって、周期及び/又は周波数の計測分解能は、ベースクロックの周波数に依存する。
一般的に、分解能を向上させるには、ベースクロックの周波数を高くする必要がある。しかし、ベースクロックの周波数が高くなると、その高い周波数を取り扱うことのできる半導体デバイスは高価なものになり、また基板設計も難しくなるほか、おのずとその周波数の取扱いに技術的限界が存在する。
Usually, in order to improve measurement response for the purpose of measuring a frequency, a technique for measuring from a cycle which is the reciprocal thereof is known. For this purpose, prepare a base clock and counter with a frequency sufficiently higher than the signal to be measured, capture the edge of the signal to be measured, and how many base clocks are included between the edges The period is measured by counting with the counter. Therefore, the measurement resolution of the period and / or frequency depends on the frequency of the base clock.
Generally, in order to improve the resolution, it is necessary to increase the frequency of the base clock. However, when the frequency of the base clock is increased, a semiconductor device capable of handling the high frequency becomes expensive, the board design becomes difficult, and there is a technical limit in handling the frequency.
本発明はかかる課題を解決し、デジタル回路に供給するベースクロックの周波数を高くせずとも、必要な周期計測のための分解能を得ることができる高分解能の周波数計測装置及び周波数位相差比較装置を提供することを目的とする。 The present invention solves such a problem, and provides a high-resolution frequency measurement device and a frequency phase difference comparison device capable of obtaining a resolution for necessary period measurement without increasing the frequency of a base clock supplied to a digital circuit. The purpose is to provide.
上記課題を解決するために、本発明の周波数計測装置は、ベースクロック周期の中に細分化するディレイ手段を1個以上備えることを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problem, the frequency measuring device of the present invention is characterized by including one or more delay means for subdividing into base clock periods.
ベースクロックのトリガ時点から要求される分解能にほぼ等しいディレイを有するディレイ手段に次いで、その整数N倍のディレイ手段をN個備えた多段ディレイを用いることにより、入力信号到来時点を夫々のディレイ手段から得られるタイミングでカウンタの値をレジスタで取得し、各々のレジスタの値を比較することで、入力信号のエッジがベースクロックの1クロックの間のどのタイミングに位置しているのかが判定できる。そして、その判定結果に応じた時間軸上のずれの値を、周期カウンタによって得られる周期の値に与えることで、周期計測の分解能を向上させることができる。 Next to the delay means having a delay substantially equal to the resolution required from the trigger time of the base clock, a multi-stage delay having N delay means that are N times the integer is used to determine the arrival time of the input signal from each delay means. The counter value is obtained by the register at the obtained timing, and the value of each register is compared, whereby it is possible to determine at which timing the edge of the input signal is located during one base clock. The resolution of the period measurement can be improved by giving the value of the deviation on the time axis according to the determination result to the period value obtained by the period counter.
本発明により、デジタル回路に供給するベースクロックの周波数を高くせずとも、必要な周期計測のための分解能を得ることができる高分解能の周波数計測装置及び周波数位相差比較装置を提供できる。 According to the present invention, it is possible to provide a high-resolution frequency measurement device and a frequency phase difference comparison device that can obtain a necessary resolution for period measurement without increasing the frequency of a base clock supplied to a digital circuit.
図1は本実施形態に係る周期・周波数計測装置のブロック図である。
周期・周波数計測装置101は、マイコン或はASIC等で構成されるデジタル機器である。この周期・周波数計測装置101は、計測対象である、外部の矩形波信号源102から出力される矩形波信号を入力されると、矩形波信号の周期を計測し、周期から周波数を算出して、周期及び/又は周波数を表示部103に表示すると共に、外部出力端子104を通じて外部の様々な機器に対して計測結果である周期情報及び/又は周波数情報を出力する。
FIG. 1 is a block diagram of a period / frequency measuring apparatus according to this embodiment.
The period /
外部の矩形波信号源102が発生する矩形波信号は、それぞれ周期カウンタ105と時間幅計測部106に入力される。
周期カウンタ105は、ベースクロック発振器107から出力されるベースクロックを用いて、入力される矩形波信号の周期を計測して、計数値を出力する。この周期カウンタ105は、矩形波信号の周期を計測するために必要な桁数の数を計数可能である。例えば、ベースクロックが20nsec(50MHz)の場合、100kHz以上の周波数の矩形波信号の周期を計測するためには、周期カウンタ105は最低でも以下の式(1)より、500以上を計数できる必要がある。
The rectangular wave signals generated by the external rectangular
The
50MHz÷(100KHz)=500 (1) 50 MHz / (100 KHz) = 500 (1)
本実施形態の周期・周波数計測装置101の場合、周期カウンタ105は規定状態として32ビット幅のカウンタである。したがって、ベースクロックが50MHzの場合、約0.01Hzまで計測が可能である。
In the case of the period /
時間幅計測部106は、ベースクロックの周期以上の分解能を以て、ベースクロックに対する矩形波信号のずれに相当する時間情報を出力する。
演算部108は、周期カウンタ105が出力する計数値と、時間幅計測部106が出力する時間情報を演算して、矩形波信号の立ち上がりの相対時間を算出して、周期を算出すると共に、数値「1」を周期で除算して、周波数を算出する。
演算部108の演算結果である周期情報及び周波数情報は、LCD等の表示部103に表示されると共に、外部出力端子104を通じて外部の機器に供給される。
なお、図1では図示を省略しているが、演算部108を制御する制御部と、キーボード等の操作部が別途設けられ、表示部103及び外部出力端子104に出力される情報を選択することができる。
The time
The calculating
Period information and frequency information, which are calculation results of the
Although not shown in FIG. 1, a control unit that controls the
本実施形態の周期・周波数計測装置101は、ベースクロックの周期以上の分解能を得るために、時間幅計測部106を新たに設けている。これより、この時間幅計測部106の詳細を順を追って説明する。
図2は、時間幅計測部106のブロック図である。
矩形波信号は多段ディレイ201に供給される。多段ディレイ201はディレイ素子202が複数直列接続されている。各々のディレイ素子202は等しい遅延時間を実現する。また、多段ディレイ201内のディレイ素子202の遅延時間は、ディレイ素子202の数に1を加えた数で逓倍すると、ベースクロックの周期と一致するように設計されている。図2では、第一のディレイ素子202a、第二のディレイ素子202b及び第三のディレイ素子202cと、三つのディレイ素子が多段ディレイ201に収められており、各々のディレイ素子202はベースクロックの周期の1/4の時間だけ遅延する構成となっている。
The period /
FIG. 2 is a block diagram of the time
The rectangular wave signal is supplied to the multistage delay 201. In the multistage delay 201, a plurality of
一方、ベースクロックはカウンタ203に供給される。カウンタ203はベースクロックを計数して所定のビット数の数値を出力する。カウンタ203の出力データは、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207にそれぞれ供給される。第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207にはデータ記憶指令端子(以下「Cp端子」と略)が設けられており、これらレジスタはCp端子に入力される信号のアップエッジで、データを記憶する。
On the other hand, the base clock is supplied to the
第一レジスタ204のCp端子には、矩形波信号が直接供給される。次に、第二レジスタ205のCp端子には、多段ディレイ201の第一のディレイ素子202aの出力信号が供給される。同様に、第三レジスタ206のCp端子には、多段ディレイ201の第二のディレイ素子202bの出力信号が供給される。同様に、第四レジスタ207のCp端子には、多段ディレイ201の第三のディレイ素子202cの出力信号が供給される。
これら第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207は、各々のCp端子に入力される信号のタイミングで、カウンタ203の値を保持する。
A rectangular wave signal is directly supplied to the Cp terminal of the
The
第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207は、それぞれ判定部208に接続される。判定部208は、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の値を比較して、その結果に応じた時間情報を出力する。
The
図3は、判定部208のブロック図である。
第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データは、それぞれ第一判定ユニット301、第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304に供給される。
FIG. 3 is a block diagram of the
The output data of the
第一判定ユニット301は、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが全て同じ値であるときに、論理の「真」を示す信号を出力する。
第二判定ユニット302は、第一レジスタ204、第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが同じで、第四レジスタ207の出力データが他のレジスタの値と異なる値であるときに、論理の「真」を示す信号を出力する。
The
When the output data of the
第三判定ユニット303は、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが同じで、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが同じで、第二レジスタ205と第三レジスタ206の値が異なる値であるときに、論理の「真」を示す信号を出力する。
第四判定ユニット304は、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが同じで、第一レジスタ204の値が他のレジスタの値と異なる値であるときに、論理の「真」を示す信号を出力する。
The
The
第一判定ユニット301、第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304の出力信号は、時間幅データ出力部305に供給される。時間幅データ出力部305は周知のROMを有し、入力された信号に応じたデータを出力する。
Output signals of the
図4(a)、(b)、(c)及び(d)は、第一判定ユニット301、第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304の回路図である。
図4(a)は第一判定ユニット301の回路図である。
第一判定ユニット301は、三つの一致判定回路401a、401b及び401cと、ANDゲート402aよりなる。
4A, 4 </ b> B, 4 </ b> C, and 4 </ b> D are circuit diagrams of the
FIG. 4A is a circuit diagram of the
The
一致判定回路は、二つの入力データが一致しているときに論理の真を出力する。
一致判定回路401aには、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが供給される。
一致判定回路401bには、第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが供給される。
一致判定回路401cには、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが供給される。
したがって、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが一致し、且つ第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが一致し、且つ第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが一致している時に、ANDゲート402aは論理の真を出力する。
The coincidence determination circuit outputs a logical true when the two input data coincide.
The coincidence determination circuit 401a is supplied with the output data of the
The
The
Therefore, the output data of the
図4(b)は第二判定ユニット302の回路図である。
第二判定ユニット302は、二つの一致判定回路401d及び401eと、一つの不一致判定回路403aと、ANDゲート402bよりなる。
一致判定回路401dには、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが供給される。
一致判定回路401eには、第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが供給される。
FIG. 4B is a circuit diagram of the
The
The
The
不一致判定回路は、二つの入力データが一致していないときに論理の真を出力する。
不一致判定回路403aには、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが供給される。
したがって、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが一致し、且つ第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが一致し、且つ第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが一致していない時に、ANDゲート402bは論理の真を出力する。
The mismatch determination circuit outputs a logic true when the two input data do not match.
Output data of the
Therefore, the output data of the
図4(c)は第三判定ユニット303の回路図である。
第三判定ユニット303は、二つの一致判定回路401f及び401gと、一つの不一致判定回路403bと、ANDゲート402cよりなる。
一致判定回路401fには、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが供給される。
不一致判定回路403bには、第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが供給される。
一致判定回路401gには、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが供給される。
したがって、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが一致し、且つ第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが一致しておらず、且つ第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが一致している時に、ANDゲート402cは論理の真を出力する。
FIG. 4C is a circuit diagram of the
The
The
Output data of the
The
Therefore, the output data of the
図4(d)は第四判定ユニット304の回路図である。
第二判定ユニット302は、二つの一致判定回路401h及び401iと、一つの不一致判定回路403cと、ANDゲート402dよりなる。
不一致判定回路403cには、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが供給される。
一致判定回路401hには、第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが供給される。
一致判定回路401iには、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが供給される。
FIG. 4D is a circuit diagram of the
The
Output data of the
The
The coincidence determination circuit 401i is supplied with the output data of the
したがって、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の出力データが一致しておらず、且つ第二レジスタ205及び第三レジスタ206の出力データが一致し、且つ第三レジスタ206及び第四レジスタ207の出力データが一致している時に、ANDゲート402dは論理の真を出力する。
Therefore, the output data of the
図5(a)及び(b)は、一致判定回路401及び不一致判定回路403の回路図である。なお、図4(a)、(b)、(c)及び(d)の一致判定回路401a、401b、401c、401d、401e、401f、401g、401h及び401iを総称して、一致判定回路401として定義する。同様に、不一致判定回路403a、403b及び403cを総称して、不一致判定回路403として定義する。
FIGS. 5A and 5B are circuit diagrams of the
図5(a)は一致判定回路401の回路図である。図4(a)、(b)、(c)及び(d)に示される一致判定回路401は、二つの同じビット数のデータ列の一致を判定する。図5(a)に示す一致判定回路401は、この一致判定回路401がどのように二つのデータ列の一致を判定しているのかを、具体的にビット毎の論理回路の構成で開示する。
一致判定回路401は、二つの入力データの、夫々のビット毎にエクスクルーシブNORゲート501を接続し、各々のエクスクルーシブNORゲート501の出力をANDゲート502で受ける構成である。
エクスクルーシブNORゲート501は、二つの入力信号が同一論理のときに論理の真を出力する。したがって、二つのデータの全てのビットが一致していれば、ANDゲート502は論理の真を出力する。
FIG. 5A is a circuit diagram of the
The
The exclusive NOR gate 501 outputs logic true when the two input signals have the same logic. Therefore, if all the bits of the two data match, the AND
図5(b)は不一致判定回路403の回路図である。図4(a)、(b)、(c)及び(d)に示される不一致判定回路403は、二つの同じビット数のデータ列の不一致を判定する。図5(b)に示す不一致判定回路403は、この不一致判定回路403がどのように二つのデータ列の不一致を判定しているのかを、具体的にビット毎の論理回路の構成で開示する。
不一致判定回路403は、二つの入力データの、夫々のビット毎にエクスクルーシブORゲート503を接続し、各々のエクスクルーシブORゲート503の出力をORゲート504で受ける構成である。
エクスクルーシブORゲート503は、二つの入力信号の論理が異なるときに論理の真を出力する。したがって、二つのデータのいずれか一つ以上のビットが一致していなければ、ORゲート504は論理の真を出力する。
FIG. 5B is a circuit diagram of the mismatch determination circuit 403. A mismatch determination circuit 403 shown in FIGS. 4A, 4B, 4C, and 4D determines a mismatch between two data strings having the same number of bits. The mismatch determination circuit 403 shown in FIG. 5B specifically discloses how the mismatch determination circuit 403 determines a mismatch between two data strings in the configuration of a logic circuit for each bit.
The mismatch determination circuit 403 has a configuration in which an exclusive OR gate 503 is connected to each bit of two input data, and the output of each exclusive OR gate 503 is received by the
The exclusive OR gate 503 outputs a logic true when the logics of the two input signals are different. Therefore, if one or more bits of the two data do not match, the
図6(a)及び(b)、図7(c)及び(d)は、時間幅計測部106の動作を説明するタイムチャートである。
図6及び図7では、ベースクロックの周期が20nsec(50MHz)であり、ディレイ素子202の遅延時間は5nsec(200MHz)であるとする。
FIGS. 6A and 6B, and FIGS. 7C and 7D are time charts for explaining the operation of the time
6 and 7, it is assumed that the base clock period is 20 nsec (50 MHz) and the delay time of the
図6(a)は、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジから5nsecの範囲内にあるときの、カウンタ203の値と、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207のCp端子に入力されるパルスの波形を示すタイムチャートである。
FIG. 6A shows the value of the
今、カウンタ203はベースクロックを計数し、時点t621の時点でカウンタ203の値はnであり、時点t622の時点でカウンタ203の値はn+1であるとする(P601)。
以上のような状態において、時点t623の時点で、矩形波信号のアップエッジが生じる。このアップエッジはそのまま第一レジスタ204のCp端子に入力される(P602)。時点t623のカウンタ203の値はnである。
Now, the
In the state as described above, an up edge of the rectangular wave signal occurs at time t623. This up edge is input to the Cp terminal of the
次に、ディレイ素子202によって5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t624の時点で第二レジスタ205のCp端子に入力される(P603)。時点t624のカウンタ203の値はnである。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t625の時点で第三レジスタ206のCp端子に入力される(P604)。時点t625のカウンタ203の値はnである。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t626の時点で第四レジスタ207のCp端子に入力される(P605)。時点t626のカウンタ203の値はnである。
Next, the up-edge of the rectangular wave signal delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
すなわち、時点t623、t624、t625及びt626の全ての時点において、カウンタ203の値はnであるので、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207には全てnが記憶される。このように、全てのレジスタが等しい値を示す状態を判定部208が判定すれば、矩形波信号のアップエッジは、ベースクロックのアップエッジの時点から5nsec以内の範囲に存在することが明らかになる。
この、全てのレジスタが等しい値を示す状態を判定するために、第一判定ユニット301は三つの一致判定回路401a、401b及び401cとANDゲート402aを用いてこれを実現している。
That is, since the value of the
In order to determine the state in which all the registers indicate the same value, the
図6(b)は、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジから5nsec以降10nsec以内の範囲内にあるときの、カウンタ203の値と、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207のCp端子に入力されるパルスの波形を示すタイムチャートである。
FIG. 6B shows the values of the
今、カウンタ203はベースクロックを計数し、時点t621の時点でカウンタ203の値はnであり、時点t622の時点でカウンタ203の値はn+1であるとする(P606)。
以上のような状態において、時点t633の時点で、矩形波信号のアップエッジが生じる。このアップエッジはそのまま第一レジスタ204のCp端子に入力される(P607)。時点t633のカウンタ203の値はnである。
Now, the
In the state as described above, an up-edge of the rectangular wave signal occurs at time t633. This up edge is input to the Cp terminal of the
次に、ディレイ素子202によって5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t634の時点で第二レジスタ205のCp端子に入力される(P608)。時点t634のカウンタ203の値はnである。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t635の時点で第三レジスタ206のCp端子に入力される(P609)。時点t635のカウンタ203の値はnである。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t636の時点で第四レジスタ207のCp端子に入力される(P610)。時点t636のカウンタ203の値はn+1である。
Next, the up-edge of the rectangular wave signal delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
すなわち、時点t633、t634及びt635の全ての時点において、カウンタ203の値はnである一方、時点t636のカウンタ203の値はn+1である。このため、第一レジスタ204、第二レジスタ205及び第三レジスタ206にはnが記憶され、第四レジスタ207にはn+1が記憶される。
このように、第四レジスタ207のみ他のレジスタと異なる値を示す状態を判定部208が判定すれば、矩形波信号のアップエッジは、ベースクロックのアップエッジの時点から5〜10nsec以内の範囲に存在することが明らかになる。
この、第四レジスタ207のみ異なる値を示す状態を判定するために、第二判定ユニット302は二つの一致判定回路401d及び401eと一つの不一致判定回路403aとANDゲート402bを用いてこれを実現している。
That is, at all time points t633, t634, and t635, the value of the
As described above, when the
In order to determine a state in which only the
図7(c)は、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジから10nsec以降15nsec以内の範囲内にあるときの、カウンタ203の値と、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207のCp端子に入力されるパルスの波形を示すタイムチャートである。
FIG. 7C shows the value of the
今、カウンタ203はベースクロックを計数し、時点t621の時点でカウンタ203の値はnであり、時点t622の時点でカウンタ203の値はn+1であるとする(P701)。
以上のような状態において、時点t723の時点で、矩形波信号のアップエッジが生じる。このアップエッジはそのまま第一レジスタ204のCp端子に入力される(P702)。時点t723のカウンタ203の値はnである。
Now, the
In the state as described above, an up-edge of the rectangular wave signal occurs at time t723. This up edge is input to the Cp terminal of the
次に、ディレイ素子202によって5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t724の時点で第二レジスタ205のCp端子に入力される(P703)。時点t724のカウンタ203の値はnである。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t725の時点で第三レジスタ206のCp端子に入力される(P704)。時点t725のカウンタ203の値はn+1である。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t726の時点で第四レジスタ207のCp端子に入力される(P705)。時点t726のカウンタ203の値はn+1である。
Next, the up-edge of the rectangular wave signal delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
すなわち、時点t723及びt724の時点において、カウンタ203の値はnである一方、時点t725及びt726のカウンタ203の値はn+1である。このため、第一レジスタ204及び第二レジスタ205にはnが記憶され、第三レジスタ206及び第四レジスタ207にはn+1が記憶される。
このように、第一レジスタ204及び第二レジスタ205が等しく、第三レジスタ206及び第四レジスタ207が等しく、且つ第二レジスタ205と第三レジスタ206が異なる値を示す状態を判定部208が判定すれば、矩形波信号のアップエッジは、ベースクロックのアップエッジの時点から10〜15nsec以内の範囲に存在することが明らかになる。
この、第一レジスタ204及び第二レジスタ205が等しく、第三レジスタ206及び第四レジスタ207が等しく、且つ第二レジスタ205と第三レジスタ206が異なる値を示す状態を判定するために、第二判定ユニット302は二つの一致判定回路401f及び401gと一つの不一致判定回路403bとANDゲート402cを用いてこれを実現している。
That is, at the time points t723 and t724, the value of the
As described above, the
In order to determine a state in which the
図7(d)は、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジから15nsec以降20nsec以内の範囲内にあるときの、カウンタ203の値と、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207のCp端子に入力されるパルスの波形を示すタイムチャートである。
FIG. 7D shows the value of the
今、カウンタ203はベースクロックを計数し、時点t731の時点でカウンタ203の値はnであり、時点t732の時点でカウンタ203の値はn+1であるとする(P706)。
以上のような状態において、時点t733の時点で、矩形波信号のアップエッジが生じる。このアップエッジはそのまま第一レジスタ204のCp端子に入力される(P707)。時点t733のカウンタ203の値はnである。
Now, the
In the state as described above, an up-edge of the rectangular wave signal occurs at time t733. This up edge is inputted as it is to the Cp terminal of the first register 204 (P707). The value of the
次に、ディレイ素子202によって5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t734の時点で第二レジスタ205のCp端子に入力される(P708)。時点t734のカウンタ203の値はnである。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t735の時点で第三レジスタ206のCp端子に入力される(P709)。時点t735のカウンタ203の値はn+1である。
同様に、ディレイ素子202によって更に5nsec遅延された矩形波信号のアップエッジは、時点t736の時点で第四レジスタ207のCp端子に入力される(P710)。時点t736のカウンタ203の値はn+1である。
Next, the up edge of the rectangular wave signal delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
Similarly, the up edge of the rectangular wave signal further delayed by 5 nsec by the
すなわち、時点t733の時点においてカウンタ203の値はnである一方、時点t734、t725及びt726のカウンタ203の値はn+1である。このため、第一レジスタ204にはnが記憶され、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207にはn+1が記憶される。
このように、第一レジスタ204のみ他のレジスタと異なる値を示す状態を判定部208が判定すれば、矩形波信号のアップエッジは、ベースクロックのアップエッジの時点から10〜15nsec以内の範囲に存在することが明らかになる。
この、第一レジスタ204のみ他のレジスタと異なる値を示す状態を判定するために、第二判定ユニット302は二つの一致判定回路401h及び401iと一つの不一致判定回路403cとANDゲート402dを用いてこれを実現している。
That is, the value of the
As described above, when the
In order to determine the state in which only the
時間幅データ出力部305は、第一判定ユニット301が論理の真を示したとき、値「0」を出力する。これは矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジに対して0nsecのオフセットを有することを意味する。
一方、時間幅データ出力部305は、第二判定ユニット302が論理の真を示したとき、値「5」を出力する。これは矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジに対して5nsecのオフセットを有することを意味する。
同様に、時間幅データ出力部305は、第三判定ユニット303が論理の真を示したとき、値「10」を出力する。これは矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジに対して10nsecのオフセットを有することを意味する。
同様に、時間幅データ出力部305は、第四判定ユニット304が論理の真を示したとき、値「15」を出力する。これは矩形波信号のアップエッジがベースクロックのアップエッジに対して15nsecのオフセットを有することを意味する。
The time width
On the other hand, the time width
Similarly, the time width
Similarly, the time width
このように、ベースクロックの周期を等間隔に細分化するディレイ素子202を複数備える多段ディレイ201を用いて、入力される矩形波信号を遅延させ、夫々のディレイ素子202から得られるタイミングでカウンタ203の値をレジスタで取得し、各々のレジスタの値を比較することで、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのどのタイミングに位置しているのかが判定できる。そして、その判定結果に応じた時間軸上のずれの値を、周期カウンタ105によって得られる周期の値に与えることで、周期計測及び周波数計測の分解能を向上させることができる。
例えば、ベースクロックが50MHz(周期は20nsec)で、ディレイ素子202の遅延時間が5nsec(周波数200MHz相当)である場合、計測可能な周波数は最大で50MHzではあるものの、その分解能は5nsec、つまり200MHz相当の分解能を付与することができる。
In this manner, the multi-stage delay 201 including a plurality of
For example, when the base clock is 50 MHz (the cycle is 20 nsec) and the delay time of the
ここで改めて、図4(a)、(b)、(c)及び(d)に示す、第一判定ユニット301、第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304を見ると、これらの判定ユニットが何を検出しているのかが理解できるだろう。
Here, when the
第一判定ユニット301は、第一レジスタ204、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の全てのレジスタの値が等しい状態を検出する。このために、一致判定回路401a、401b及び401cが隣り合うレジスタ同士の一致を判定する。
第二判定ユニット302は、第一レジスタ204、第二レジスタ205及び第三レジスタ206の値が一致していると共に、第三レジスタ206と第四レジスタ207の値が等しくない状態を検出する。このために、不一致判定回路403aは第三レジスタ206と第四レジスタ207の不一致を判定する。
The
The
第三判定ユニット303は、第一レジスタ204及び第二レジスタ205の値が一致し、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の値が一致していると共に、第二レジスタ205と第三レジスタ206の値が等しくない状態を検出する。このために、不一致判定回路403bは第二レジスタ205と第三レジスタ206の不一致を判定する。
第四判定ユニット304は、第二レジスタ205、第三レジスタ206及び第四レジスタ207の値が一致していると共に、第一レジスタ204と第二レジスタ205の値が等しくない状態を検出する。このために、不一致判定回路403cは第二レジスタ205と第三レジスタ206の不一致を判定する。
In the
The
第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304を俯瞰して見ると、不一致判定回路403aは第三レジスタ206と第四レジスタ207の不一致を判定し、不一致判定回路403bは第二レジスタ205と第三レジスタ206の不一致を判定し、不一致判定回路403cは第一レジスタ204と第二レジスタ205の不一致を判定する。つまり、不一致判定回路403a、403b及び403cは、カウンタ203の値がどのレジスタで変わったのかを捉える。
したがって、第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304の、一致判定回路401d、401e、401f、401g、401h及び401iと、ANDゲート402b、402c及び402dは、カウンタ203の桁あふれに起因する不具合を防ぐことができれば、なくてもよい。
Looking at the
Therefore, the
上述の実施形態の他、以下のような応用例が考えられる。
(1)上述の実施形態の周期・周波数計測装置101では、矩形波信号のアップエッジを装置の動作の基準にしていたが、ダウンエッジを基準にしてもよい。エッジをアップエッジとダウンエッジのどちらで取得するかは設計的事項である。
In addition to the embodiment described above, the following application examples are conceivable.
(1) In the period /
(2)本実施形態の周期・周波数計測装置101の場合、判定部208には第一判定ユニット301、第二判定ユニット302、第三判定ユニット303及び第四判定ユニット304の、四つの判定ユニットが設けられている。判定ユニットの個数は、ベースクロックを細分化するディレイ素子202の遅延時間と個数によって変化する。
本実施形態の周期・周波数計測装置101では、ディレイ素子202はベースクロックの周期を四分割する遅延時間であったが、五分割、十分割の遅延時間に設計してもよい。その場合、判定部208の内部に設ける判定ユニットは、全てのレジスタの一致を判定する判定ユニットが一つと、一つの不一致判定回路403を含む判定ユニットとの合計数が、レジスタの数だけ必要になる。
不一致判定回路403は、隣り合うレジスタの不一致を判定するので一個だけあれば良い。
なお、図4及び図5に開示した判定ユニットは一例であり、全てのレジスタの一致の判定と、隣り合うレジスタの不一致の判定を実現する構成であれば手段は問わない。特に、プログラムで構成する場合、図4のような構成ではなく、変数に格納された値の一致又は不一致を判定することとなる。
(2) In the case of the period /
In the period /
Since the mismatch determination circuit 403 determines a mismatch between adjacent registers, only one mismatch is required.
Note that the determination unit disclosed in FIGS. 4 and 5 is an example, and any means may be used as long as it is a configuration that realizes determination of matching of all registers and determination of mismatch of adjacent registers. In particular, when the program is configured, it is determined whether the values stored in the variables match or not, instead of the configuration shown in FIG.
(3)図8は、本実施形態の周期・周波数計測装置101の応用例である、拡張演算部のブロック図である。
拡張演算部801は、図1の演算部108に微分器802を追加した構成であり、図1の演算部108を置換する。
周期カウンタ105から出力される計数値は、加算器803によって時間情報に変換された上で、時間幅計測部106から出力される時間情報と加算される。加算器803が出力するデータは矩形波信号の周期情報である。
(3) FIG. 8 is a block diagram of an extended arithmetic unit, which is an application example of the period /
The extended calculation unit 801 has a configuration in which a
The count value output from the
除算器804は「1」の数値データ805を加算器803が出力する時間情報で除算する。除算器804が出力するデータは矩形波信号の周波数情報である。
この周波数情報を微分器802で微分すると、周波数の増減の度合い、つまり加速度を得ることができる。
このように、本実施形態の周期・周波数計測装置101の場合、計測した周期情報及び/又は周波数情報を微分する微分器802を設けると、任意のタコパルスの加速度を計測する加速度計測装置としても機能させることができる。
なお、微分器802は周期を微分しても良い。この場合、除算器804及び数値データ805は不要になる。
The divider 804 divides the
When this frequency information is differentiated by the
As described above, in the case of the period /
The
(4)本実施形態の周期・周波数計測装置101を二つ並列に設けて、夫々の周波数計測値を比較すると、周波数及び位相差を検出することができる。その際、二つの周期・周波数計測装置101を同一のベースクロックで駆動させることで、高い精度の周波数及び位相差を検出できる。
図9は、周波数位相差計測装置のブロック図である。図9では、周波数位相差計測装置901に入力される計測対象の一例として、モータから二つの矩形波信号源が設けられている具体例を示している。
(4) By providing two period /
FIG. 9 is a block diagram of the frequency phase difference measuring apparatus. FIG. 9 shows a specific example in which two rectangular wave signal sources are provided from a motor as an example of a measurement target input to the frequency phase difference measuring apparatus 901.
モータ902には二つの遮蔽円盤903及び904とフォトインタラプタ905及び906が設けられている。遮蔽円盤903及び904は夫々図示しない駆動対象に連動して回転する。モータ902の軸907と駆動対象との間に生じる捩れや滑り等の要因で、遮蔽円盤903及び904同士に回転のずれが生じる。周波数位相差計測装置901は、フォトインタラプタ905から得られる第一の矩形波信号と、フォトインタラプタ906から得られる第二の矩形波信号とを夫々入力され、周波数及び位相差を検出し、表示部103に表示する。
The motor 902 is provided with two shielding
第一周波数計測部908は、第一周期カウンタ909、第一時間幅計測部910及び第一演算部911よりなる。
第二周波数計測部912は、第二周期カウンタ913、第二時間幅計測部914及び第二演算部915よりなる。
第一周期カウンタ909及び第二周期カウンタ913は、図1の周期カウンタ105と同一の構成である。
第一時間幅計測部910及び第二時間幅計測部914は、図1の時間幅計測部106と同一の構成である。
第一演算部911及び第二演算部915は、図1の演算部108と同一の構成である。
ベースクロック発振器107は、第一周期カウンタ909と第一時間幅計測部910、及び第二周期カウンタ913と第二時間幅計測部914に、ベースクロックを供給する。
比較演算部916は、第一演算部911から出力される第一の矩形波信号の周波数計測値と、第二演算部915から出力される第二の矩形波信号の周波数計測値との差を算出し、周波数差と位相差の値として表示部103に出力する。
The first frequency measurement unit 908 includes a
The second frequency measurement unit 912 includes a
The
The first time
The
The
The
(5)また、本実施形態に係る周期計測装置、加速度計測装置及び周波数位相差計測装置は、以下のような構成を取ることもできる。
《1》
本実施形態の周期計測装置は、
ベースクロックを発振するベースクロック発振器と、
前記ベースクロックを用いて入力信号の周期を計測する周期カウンタと、
前記ベースクロックの周期を等間隔に細分化するディレイ素子を複数備える多段ディレイと、
前記ベースクロックを計数するカウンタと、
前記入力信号及び前記多段ディレイの前記ディレイ素子の各出力信号のタイミングで前記カウンタの計数値を取得する複数のレジスタと、
前記複数のレジスタの値を比較して、前記入力信号のエッジと前記ベースクロックのエッジとの時間差を判定する判定部と、
前記判定部が出力する時間情報と前記周期カウンタの値を用いて前記入力信号の周期を算出する演算部と
を具備する。
《2》
本実施形態の加速度計測装置は、
ベースクロックを発振するベースクロック発振器と、
前記ベースクロックを用いて入力信号の周期を計測する周期カウンタと、
前記ベースクロックの周期を等間隔に細分化するディレイ素子を複数備える多段ディレイと、
前記ベースクロックを計数するカウンタと、
前記入力信号及び前記多段ディレイの前記ディレイ素子の各出力信号のタイミングで前記カウンタの計数値を取得する複数のレジスタと、
前記複数のレジスタの値を比較して、前記入力信号のエッジと前記ベースクロックのエッジとの時間差を判定する判定部と、
前記判定部が出力する時間情報と前記周期カウンタの値を用いて前記入力信号の周期を算出した後、前記周期又は前記周期から算出した周波数を微分する演算部と
を具備する。
《3》
本実施形態の周波数位相差計測装置は、
ベースクロックを発振するベースクロック発振器と、
前記ベースクロックを用いて入力信号の周期を計測する周期カウンタと、前記ベースクロックの周期を等間隔に細分化するディレイ素子を複数備える多段ディレイと、前記ベースクロックを計数するカウンタと、前記入力信号及び前記多段ディレイの前記ディレイ素子の各出力信号のタイミングで前記カウンタの計数値を取得する複数のレジスタと、前記複数のレジスタの値を比較して、前記入力信号のエッジと前記ベースクロックのエッジとの時間差を判定する判定部と、前記判定部が出力する時間情報と前記周期カウンタの値を用いて前記入力信号の周波数を算出する演算部とを具備する第一周波数計測部と、
前記第一周波数計測部と同一の構成を有する第二周波数計測部と、
前記第一周波数計測部が出力する第一の周波数計測値と、前記第二周波数計測部が出力する第二の周波数計測値との差を算出する比較演算部と
を具備する。
(5) Moreover, the period measuring device, the acceleration measuring device, and the frequency phase difference measuring device according to the present embodiment can take the following configurations.
<< 1 >>
The period measuring device of this embodiment is
A base clock oscillator that oscillates the base clock; and
A period counter that measures the period of the input signal using the base clock;
A multi-stage delay comprising a plurality of delay elements that subdivide the period of the base clock into equal intervals;
A counter for counting the base clock;
A plurality of registers for obtaining the count value of the counter at the timing of the input signal and the output signals of the delay elements of the multi-stage delay;
A determination unit that compares values of the plurality of registers and determines a time difference between an edge of the input signal and an edge of the base clock;
An arithmetic unit that calculates a period of the input signal using time information output from the determination unit and a value of the period counter;
<< 2 >>
The acceleration measuring device of the present embodiment is
A base clock oscillator that oscillates the base clock; and
A period counter that measures the period of the input signal using the base clock;
A multi-stage delay comprising a plurality of delay elements that subdivide the period of the base clock into equal intervals;
A counter for counting the base clock;
A plurality of registers for obtaining the count value of the counter at the timing of the input signal and the output signals of the delay elements of the multi-stage delay;
A determination unit that compares values of the plurality of registers and determines a time difference between an edge of the input signal and an edge of the base clock;
And calculating a period of the input signal using time information output by the determination unit and a value of the period counter, and then differentiating the period or a frequency calculated from the period.
<< 3 >>
The frequency phase difference measuring apparatus of the present embodiment is
A base clock oscillator that oscillates the base clock; and
A period counter that measures the period of the input signal using the base clock; a multi-stage delay that includes a plurality of delay elements that subdivide the period of the base clock at equal intervals; a counter that counts the base clock; and the input signal And a plurality of registers for obtaining the count value of the counter at the timing of each output signal of the delay element of the multi-stage delay, and comparing the values of the plurality of registers to determine the edges of the input signal and the base clock edge A first frequency measurement unit comprising: a determination unit that determines a time difference between; and a calculation unit that calculates the frequency of the input signal using time information output from the determination unit and a value of the period counter;
A second frequency measurement unit having the same configuration as the first frequency measurement unit;
A comparison operation unit that calculates a difference between the first frequency measurement value output from the first frequency measurement unit and the second frequency measurement value output from the second frequency measurement unit;
本実施形態では、周期・周波数計測装置101、加速度計測装置、そして周波数位相差計測装置を開示した。
ベースクロックの周期を等間隔に細分化するディレイ素子202を複数備える多段ディレイ201を用いて、入力される矩形波信号を遅延させ、夫々のディレイ素子202から得られるタイミングでカウンタ203の値をレジスタで取得し、各々のレジスタの値を比較することで、矩形波信号のアップエッジがベースクロックのどのタイミングに位置しているのかが判定できる。そして、その判定結果に応じた時間軸上のずれの値を、周期カウンタ105によって得られる周期の値に与えることで、周期計測の分解能を向上させることができる。
In the present embodiment, the period /
A multi-stage delay 201 including a plurality of
以上、本発明の実施形態例について説明したが、本発明は上記実施形態例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した本発明の要旨を逸脱しない限りにおいて、他の変形例、応用例を含む。 The embodiment of the present invention has been described above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and other modifications may be made without departing from the gist of the present invention described in the claims. Includes application examples.
101…周期・周波数計測装置、102…矩形波信号源、103…表示部、104…外部出力端子、105…周期カウンタ、106…時間幅計測部、107…ベースクロック発振器、108…演算部、201…多段ディレイ、202、202a、202b、202c…ディレイ素子、203…カウンタ、204…第一レジスタ、205…第二レジスタ、206…第三レジスタ、207…第四レジスタ、208…判定部、301…第一判定ユニット、302…第二判定ユニット、303…第三判定ユニット、304…第四判定ユニット、305…時間幅データ出力部、401、401a、401b、401c、401d、401e、401f、401g、401h、401i…一致判定回路、402a、402b、402c、402d…ANDゲート、403、403a、403b、403c…不一致判定回路、501…エクスクルーシブNORゲート、502…ANDゲート、503…エクスクルーシブORゲート、504…ORゲート、801…拡張演算部、802…微分器、803…加算器、804…除算器、805…数値データ、901…周波数位相差計測装置、902…モータ、903…遮蔽円盤、905…フォトインタラプタ、906…フォトインタラプタ、907…軸、908…第一周波数計測部、909…第一周期カウンタ、910…第一時間幅計測部、911…第一演算部、912…第二周波数計測部、913…第二周期カウンタ、914…第二時間幅計測部、915…第二演算部、916…比較演算部
DESCRIPTION OF
Claims (2)
A frequency phase difference comparison apparatus characterized in that the means of claim 1 is employed in two frequency measurement apparatuses driven by a single base clock generation means.
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