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JP2012099246A - Coaxial connector for inspection, and probe - Google Patents

Coaxial connector for inspection, and probe Download PDF

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JP2012099246A
JP2012099246A JP2010243815A JP2010243815A JP2012099246A JP 2012099246 A JP2012099246 A JP 2012099246A JP 2010243815 A JP2010243815 A JP 2010243815A JP 2010243815 A JP2010243815 A JP 2010243815A JP 2012099246 A JP2012099246 A JP 2012099246A
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JP
Japan
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socket
conductor
probe
coaxial connector
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP2010243815A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Kenzaki
真一 剱崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a coaxial connector for inspection and a probe that can suppress an impedance mismatch.SOLUTION: A coaxial connector 1 for inspection is used in connection to a coaxial cable having a first outer conductor and a first central conductor and is removably attached to a mating receptacle having a second outer conductor and a second central conductor. A housing 25 is connected at an upper end and a lower end to the first outer conductor and the second outer conductor, respectively. A probe 10 is a rodlike member extending vertically in the housing 25 and is connected to the first central conductor and the second central conductor. The probe 10 includes a socket 14 holding the first central conductor, and a rodlike tip part 15 holding the socket 14 at an upper end via a screw structure so as to be in line with the socket 14 which is at a lower end in contact with the second central conductor.

Description

本発明は、検査用同軸コネクタ及びプローブに関し、より特定的には、被検査体である相手方レセプタクルに着脱可能な検査用同軸コネクタ及びプローブに関する。   The present invention relates to a coaxial connector for inspection and a probe, and more particularly to a coaxial connector for inspection and a probe that can be attached to and detached from a counterpart receptacle that is an object to be inspected.

従来の検査用同軸コネクタとしては、例えば、特許文献1に記載の測定プローブが知られている。以下に、特許文献1に記載の測定プローブについて図面を参照しながら説明する。図6は、特許文献1に記載の測定プローブ500の断面構造図である。   As a conventional coaxial connector for inspection, for example, a measurement probe described in Patent Document 1 is known. The measurement probe described in Patent Document 1 will be described below with reference to the drawings. FIG. 6 is a cross-sectional structure diagram of the measurement probe 500 described in Patent Document 1. As shown in FIG.

測定プローブ500は、同軸ケーブルの先端に取り付けられ、高周波回路基板の高周波信号を測定する際に用いられる。該測定プローブ500は、外導体502、プローブ504及び絶縁部材506により構成されている。   The measurement probe 500 is attached to the tip of a coaxial cable and is used when measuring a high frequency signal of a high frequency circuit board. The measurement probe 500 includes an outer conductor 502, a probe 504, and an insulating member 506.

外導体502は、円筒形状の導体部材であり、同軸ケーブルの外導体に接続される。また、外導体502の下端は、高周波信号の測定時に、高周波回路基板の外部ランド端子に接触する。プローブ504は、外導体502内において上下方向に延在しており、同軸ケーブルの中心導体に接続される。絶縁部材506は、外導体502とプローブ504とを絶縁している。   The outer conductor 502 is a cylindrical conductor member and is connected to the outer conductor of the coaxial cable. The lower end of the outer conductor 502 is in contact with an external land terminal of the high frequency circuit board when measuring a high frequency signal. The probe 504 extends vertically in the outer conductor 502 and is connected to the central conductor of the coaxial cable. The insulating member 506 insulates the outer conductor 502 and the probe 504 from each other.

また、プローブ504は、内導体508、保持部材510、ばね512及びソケット514を含んでいる。内導体508は、棒状部材であり、高周波信号の測定時に、先端において高周波回路基板のメインランド端子に接触する。保持部材510は、円筒形状の導体からなる部材であり、先端に開口を有している。内導体508は、開口から下側に向かって延在している。また、ばね512は、保持部材510に収容されており、内導体508を下側に押し出している。ソケット514は、同軸ケーブルの中心導体に接続され、保持部材510が取り付けられている。より詳細には、ソケット514の下端には穴が設けられている。そして、該穴にはんだを投入し、加熱してはんだを溶融させながら、保持部材510の上端を穴に挿入する。その後、プローブ504を冷却することにより、保持部材510とソケット514とがはんだにより固定される。   The probe 504 includes an inner conductor 508, a holding member 510, a spring 512, and a socket 514. The inner conductor 508 is a rod-shaped member, and contacts the main land terminal of the high-frequency circuit board at the tip when measuring a high-frequency signal. The holding member 510 is a member made of a cylindrical conductor, and has an opening at the tip. The inner conductor 508 extends downward from the opening. The spring 512 is housed in the holding member 510 and pushes the inner conductor 508 downward. The socket 514 is connected to the central conductor of the coaxial cable, and the holding member 510 is attached thereto. More specifically, a hole is provided at the lower end of the socket 514. Then, solder is put into the hole, and the upper end of the holding member 510 is inserted into the hole while heating to melt the solder. Thereafter, the probe 504 is cooled to fix the holding member 510 and the socket 514 with solder.

ところで、特許文献1に記載の測定プローブ500は、内導体508、保持部材510及びソケット514が一直線に並びにくいという問題を有する。図7は、プローブ504の拡大図である。   By the way, the measurement probe 500 described in Patent Document 1 has a problem that the inner conductor 508, the holding member 510, and the socket 514 are not easily aligned. FIG. 7 is an enlarged view of the probe 504.

ソケット514の穴は、保持部材510の上端を容易に挿入できるように、保持部材510の上端よりもやや大きく形成されている。そのため、図7(a)に示すように、内導体508及び保持部材510がソケット514に対して傾いたり、図7(b)に示すように、内導体508及び保持部材510がソケット514に対して水平方向にずれたりする。その結果、内導体508及び保持部材510とソケット514との間においてインピーダンス整合が崩れてしまい、測定プローブ500内において高周波信号の反射が発生してしまう。   The hole of the socket 514 is formed to be slightly larger than the upper end of the holding member 510 so that the upper end of the holding member 510 can be easily inserted. Therefore, the inner conductor 508 and the holding member 510 are inclined with respect to the socket 514 as shown in FIG. 7A, or the inner conductor 508 and the holding member 510 are with respect to the socket 514 as shown in FIG. May shift horizontally. As a result, impedance matching between the inner conductor 508 and the holding member 510 and the socket 514 is lost, and high-frequency signal reflection occurs in the measurement probe 500.

特開平11−289140号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-289140

そこで、本発明の目的は、インピーダンス整合が崩れることを抑制できる検査用同軸コネクタ及びプローブを提供することである。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a coaxial connector for inspection and a probe that can prevent impedance matching from being broken.

本発明の一形態に係る検査用同軸コネクタは、第1の外部導体及び第1の中心導体を有する同軸ケーブルに接続されて用いられると共に、第2の外部導体及び第2の中心導体を有する相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタであって、上端及び下端のそれぞれにおいて前記第1の外部導体及び前記第2の外部導体に接続される筒状のハウジングと、前記ハウジングと絶縁された状態で該ハウジング内を上下方向に延在している棒状のプローブであって、前記第1の中心導体及び前記第2の中心導体に接続されるプローブと、を備えており、前記プローブは、弾性変形することによって前記第1の中心導体に圧接して、該第1の中心導体を保持するソケットと、前記ソケットと共に一直線に並ぶように、上端において該ソケットを螺子構造により保持する先端部であって、下端において前記第2の中心導体に接触する棒状の先端部と、を含んでいること、を特徴とする。   A coaxial connector for inspection according to an aspect of the present invention is used by being connected to a coaxial cable having a first outer conductor and a first center conductor, and having a second outer conductor and a second center conductor. A coaxial connector for inspection that can be attached to and detached from a receptacle, wherein the cylindrical housing is connected to the first outer conductor and the second outer conductor at the upper end and the lower end, respectively, and is insulated from the housing. A rod-like probe extending in the vertical direction in the housing, the probe being connected to the first center conductor and the second center conductor, the probe being elastically deformed By pressing the first central conductor, the socket holding the first central conductor and the socket at the upper end so as to be aligned with the socket are aligned. A tip for holding the child structure, to contain the rod-like tip in contact with the second central conductor at the lower end, and characterized.

本発明の一形態に係るプローブは、第1の外部導体及び第1の中心導体を有する同軸ケーブルに接続されて用いられると共に、第2の外部導体及び第2の中心導体を有する相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタのプローブであって、上端及び下端のそれぞれにおいて該第1の外部導体及び該第2の外部導体に接続される筒状のハウジング内を該ハウジングと絶縁された状態で上下方向に延在し、かつ、該第1の中心導体及び該第2の中心導体に接続される棒状のプローブであって、弾性変形することによって前記第1の中心導体に圧接して、該第1の中心導体を保持するソケットと、前記ソケットと共に一直線に並ぶように、上端において該ソケットを螺子構造により保持する先端部であって、下端において前記第2の中心導体に接触する棒状の先端部と、を含んでいること、を特徴とする。   A probe according to an aspect of the present invention is used by being connected to a coaxial cable having a first outer conductor and a first center conductor, and is attached to and detached from a counterpart receptacle having a second outer conductor and a second center conductor. A probe for a coaxial connector for inspection, which is vertically in a state in which the inside of a cylindrical housing connected to the first outer conductor and the second outer conductor is insulated from the housing at the upper end and the lower end, respectively. A rod-like probe that extends in a direction and is connected to the first center conductor and the second center conductor, and is in pressure contact with the first center conductor by elastic deformation; A socket that holds one central conductor, and a tip portion that holds the socket by a screw structure at the upper end so as to be aligned with the socket, and the second central guide at the lower end. To contain, and the rod of the tip in contact with, and wherein.

本発明によれば、インピーダンス整合が崩れることを抑制できる。   According to the present invention, it is possible to suppress the impedance matching from being broken.

本発明の一実施形態に係る検査用同軸コネクタの断面構造図である。1 is a cross-sectional structure diagram of an inspection coaxial connector according to an embodiment of the present invention. 図1の検査用同軸コネクタの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the coaxial connector for a test | inspection of FIG. 検査用同軸コネクタ1のプローブの分解図である。It is an exploded view of the probe of the coaxial connector for inspection 1. 被検査体である相手方レセプタクルへの装着前及び装着後における検査用同軸コネクタの先端部分の断面構造図である。It is sectional structure drawing of the front-end | tip part of the coaxial connector for a test | inspection before the mounting to the other party receptacle which is a to-be-inspected body, and after mounting. 実験結果を示したグラフである。It is the graph which showed the experimental result. 特許文献1に記載の測定プローブの断面構造図である。6 is a cross-sectional structure diagram of a measurement probe described in Patent Document 1. FIG. プローブの拡大図である。It is an enlarged view of a probe.

(検査用同軸コネクタの構造)
以下に、本発明の一実施形態に係る検査用同軸コネクタ及びプローブの構造について、図1及び図2を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る検査用同軸コネクタ1の断面構造図である。図2は、図1の検査用同軸コネクタ1の分解斜視図である。図3は、検査用同軸コネクタ1のプローブ10の分解図である。以下では、プローブ10が延在している方向を上下方向とする。
(Structure of coaxial connector for inspection)
The structure of the coaxial connector for inspection and the probe according to one embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a cross-sectional structure diagram of an inspection coaxial connector 1 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an exploded perspective view of the inspection coaxial connector 1 of FIG. FIG. 3 is an exploded view of the probe 10 of the coaxial connector 1 for inspection. Below, let the direction where the probe 10 is extended be an up-down direction.

検査用同軸コネクタ1は、図示しない第1の外部導体及び第1の中心導体を有する同軸ケーブルに接続されて用いられると共に、図示しない第2の外部導体及び第2の中心導体を有する相手方レセプタクルに着脱自在に構成されている。そして、検査用同軸コネクタ1は、図1及び図2に示すように、プローブ10、ブッシング20a,20b、ハウジング25及び規制部材50を備えている。   The coaxial connector for inspection 1 is used by being connected to a coaxial cable having a first outer conductor and a first center conductor (not shown), and is used as a counterpart receptacle having a second outer conductor and a second center conductor (not shown). It is configured to be detachable. As shown in FIGS. 1 and 2, the inspection coaxial connector 1 includes a probe 10, bushings 20 a and 20 b, a housing 25, and a regulating member 50.

ハウジング25は、図1及び図2に示すように、上端及び下端のそれぞれにおいて第1の外部導体(不図示)及び第2の外部導体(不図示)に接続される筒状部材であり、上部25a及び下部25bにより構成されている。上部25aは、相対的に大きな直径を有する導電性部材(例えば、ばね性が相対的に高い(すなわち、ヤング率の大きい)ベリリウム銅)からなる筒状体である。上部25aには、開口haが設けられている。下部25bは、上部25aの下側において該上部25aと一体的に設けられており、相対的に小さな直径を有する導電性部材(例えば、ベリリウム銅)からなる筒状体である。下部25bには、開口hbが設けられている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the housing 25 is a cylindrical member connected to a first outer conductor (not shown) and a second outer conductor (not shown) at the upper end and the lower end, respectively. 25a and the lower part 25b. The upper portion 25a is a cylindrical body made of a conductive member having a relatively large diameter (for example, beryllium copper having a relatively high spring property (that is, a high Young's modulus)). An opening ha is provided in the upper portion 25a. The lower part 25b is a cylindrical body that is provided integrally with the upper part 25a below the upper part 25a and is made of a conductive member (for example, beryllium copper) having a relatively small diameter. An opening hb is provided in the lower portion 25b.

下部25bは、図1に示すように、先端部26a及び突部26bを含んでいる。先端部26aは、下部25bの下側における先端部分であり、後述する相手方レセプタクルの外部導体が挿入される。先端部26aは、下部25bの該先端部26a以外の部分よりも小さな直径を有し、かつ、該先端部26aの直径が伸縮可能な構造を有している。具体的には、図2に示すように、先端部26aには、先端部26aの先端から上方向に延在するスリットS2が設けられている。これにより、先端部26aのばね性により、スリットS2が広がることにより、先端部26aは、水平方向に広がることができる。また、突部26bは、図1に示すように、先端部26aの内周面において、先端部26aの中心方向に突出するように設けられている。   As shown in FIG. 1, the lower portion 25b includes a tip end portion 26a and a protrusion portion 26b. The distal end portion 26a is a distal end portion on the lower side of the lower portion 25b, and an outer conductor of a counterpart receptacle described later is inserted therein. The distal end portion 26a has a smaller diameter than the portion of the lower portion 25b other than the distal end portion 26a, and has a structure in which the diameter of the distal end portion 26a can be expanded and contracted. Specifically, as shown in FIG. 2, the distal end portion 26a is provided with a slit S2 extending upward from the distal end of the distal end portion 26a. Thereby, the slit S2 expands due to the spring property of the distal end portion 26a, whereby the distal end portion 26a can expand in the horizontal direction. Further, as shown in FIG. 1, the protrusion 26 b is provided on the inner peripheral surface of the tip portion 26 a so as to protrude in the center direction of the tip portion 26 a.

プローブ10は、図1に示すように、ハウジング25と絶縁された状態でハウジング25内を上下方向に延在している棒状部材であり、図示しない第1の中心導体及び第2の中心導体に接続される。そして、プローブ10は、図1及び図3に示すように、ソケット14及び先端部15を含んでいる。   As shown in FIG. 1, the probe 10 is a rod-like member that extends in the vertical direction in the housing 25 while being insulated from the housing 25, and is provided with a first center conductor and a second center conductor (not shown). Connected. And the probe 10 contains the socket 14 and the front-end | tip part 15, as shown in FIG.1 and FIG.3.

ソケット14は、弾性変形することによって第1の中心導体に圧接して、第1の中心導体を保持する。より詳細には、ソケット14は、ばね性が相対的に高い導電性部材(例えば、ベリリウム銅)からなる円筒状部材である。そして、ソケット14の上端には開口h3が設けられており、ソケット14の下端には開口が設けられていない。また、ソケット14の側面には、図3に示すように、上下方向に延在しているスリットが設けられている。これにより、第1の中心導体が上方からソケット14に挿入された場合に、ソケット14が弾性変形して押し広げられて、第1の中心導体に対して圧接するようになる。また、ソケット14の下端には、雄螺子が設けられている。   The socket 14 is pressed against the first central conductor by elastic deformation, and holds the first central conductor. More specifically, the socket 14 is a cylindrical member made of a conductive member (for example, beryllium copper) having a relatively high spring property. An opening h <b> 3 is provided at the upper end of the socket 14, and no opening is provided at the lower end of the socket 14. Moreover, as shown in FIG. 3, the side surface of the socket 14 is provided with the slit extended in the up-down direction. As a result, when the first center conductor is inserted into the socket 14 from above, the socket 14 is elastically deformed and expanded to come into pressure contact with the first center conductor. A male screw is provided at the lower end of the socket 14.

先端部15は、ソケット14と共に上下方向に一直線に並ぶように、上端においてソケット14を保持し、下端において相手方レセプタクルの第2の中心導体に接触する棒状部材である。先端部15は、図1に示すように、プランジャ11、コイルばね12及びバレル13を有している。   The distal end portion 15 is a rod-like member that holds the socket 14 at the upper end and contacts the second center conductor of the mating receptacle at the lower end so as to be aligned with the socket 14 in the vertical direction. As shown in FIG. 1, the distal end portion 15 includes a plunger 11, a coil spring 12, and a barrel 13.

プランジャ11は、図1に示すように、軸部11a及び頭部11bからなるベリリウム銅製のピンであり、相手方レセプタクルの第2の中心導体に接触する。軸部11aは、上下方向に延在している均一な太さを有する棒状部材である。頭部11bは、軸部11aの上端に設けられ、軸部11aよりも太い直径を有している。   As shown in FIG. 1, the plunger 11 is a pin made of beryllium copper including a shaft portion 11a and a head portion 11b, and contacts the second center conductor of the counterpart receptacle. The shaft portion 11a is a rod-like member having a uniform thickness extending in the vertical direction. The head portion 11b is provided at the upper end of the shaft portion 11a and has a diameter larger than that of the shaft portion 11a.

バレル13は、プランジャ11及びソケット14が上下方向に一直線に並ぶように、下端においてプランジャ11を保持すると共に、上端においてソケットを螺子構造により保持する。バレル13は、ばね性が相対的に低い導電性部材(例えば、黄銅)からなる円筒状部材である。バレル13には、下側において軸部11aの直径よりも大きくかつ頭部11bの直径よりも小さな開口h1が設けられていると共に、上端においてコイルばね12の直径及び頭部11bの直径よりも大きな直径を有する開口h2が設けられている。そして、バレル13の上端には雌螺子が設けられている。   The barrel 13 holds the plunger 11 at the lower end and holds the socket by a screw structure at the upper end so that the plunger 11 and the socket 14 are aligned in a straight line in the vertical direction. The barrel 13 is a cylindrical member made of a conductive member (for example, brass) having a relatively low spring property. The barrel 13 is provided with an opening h1 which is larger than the diameter of the shaft portion 11a on the lower side and smaller than the diameter of the head portion 11b, and larger than the diameter of the coil spring 12 and the diameter of the head portion 11b at the upper end. An opening h2 having a diameter is provided. A female screw is provided at the upper end of the barrel 13.

プランジャ11は、軸部11aが開口h1から下側に向かってバレル13外に突出するように、バレル13に取り付けられる。より詳細には、プランジャ11は、バレル13の開口h2から挿入される。ここで、軸部11aの直径は、開口h1の直径よりも小さく、頭部11bの直径は、開口h1の直径よりも大きい。よって、軸部11aは、開口h1を通過することができる。一方、頭部11bは、開口h1を通過することができず、バレル13の下端に引っかかる。これにより、プランジャ11は、バレル13に対して抜け落ちることなく上下方向にスライド可能に構成されている。   The plunger 11 is attached to the barrel 13 so that the shaft portion 11a protrudes outward from the barrel 13 from the opening h1. More specifically, the plunger 11 is inserted from the opening h <b> 2 of the barrel 13. Here, the diameter of the shaft portion 11a is smaller than the diameter of the opening h1, and the diameter of the head portion 11b is larger than the diameter of the opening h1. Therefore, the shaft portion 11a can pass through the opening h1. On the other hand, the head portion 11b cannot pass through the opening h1 and is caught by the lower end of the barrel 13. Thereby, the plunger 11 is configured to be slidable in the vertical direction without falling off the barrel 13.

また、コイルばね12は、プランジャ11をバレル13に対して下側に押し出す弾性部材である。より詳細には、コイルばね12は、バレル13の開口h2から挿入されることにより、バレル13に収容される。そして、コイルばね12は、プランジャ11の頭部11aを下側に押し出している。これにより、プランジャ11は、下側から押さえつけられた場合、コイルばね12が縮んで上側に退避することができる。   The coil spring 12 is an elastic member that pushes the plunger 11 downward relative to the barrel 13. More specifically, the coil spring 12 is accommodated in the barrel 13 by being inserted from the opening h <b> 2 of the barrel 13. The coil spring 12 pushes the head portion 11a of the plunger 11 downward. Thereby, when the plunger 11 is pressed from the lower side, the coil spring 12 can be retracted and retracted to the upper side.

ソケット14は、プランジャ11及びコイルばね12が取り付けられたバレル13に対して螺子構造により固定されている。より詳細には、雄螺子が設けられているソケット14の下端と雌螺子が設けられているバレル13の上端とが螺合される。このとき、プランジャ11とバレル13とソケット14とが一直線に並ぶ。すなわち、プランジャ11の中心軸とバレル13の中心軸とソケット14の中心軸とが一致する。   The socket 14 is fixed to the barrel 13 to which the plunger 11 and the coil spring 12 are attached by a screw structure. More specifically, the lower end of the socket 14 provided with the male screw and the upper end of the barrel 13 provided with the female screw are screwed together. At this time, the plunger 11, the barrel 13, and the socket 14 are aligned. That is, the central axis of the plunger 11, the central axis of the barrel 13, and the central axis of the socket 14 coincide.

ブッシング20a,20bは、ハウジング25内に設けられており、樹脂等の絶縁体からなる筒状体である。ブッシング20a,20bには、図1に示すように、プローブ10が挿入されて固定されている。ブッシング20bの先端からは、プローブ10の先端が突出している。   The bushings 20a and 20b are provided in the housing 25 and are cylindrical bodies made of an insulator such as resin. As shown in FIG. 1, the probe 10 is inserted and fixed to the bushings 20a and 20b. The tip of the probe 10 protrudes from the tip of the bushing 20b.

更に、プローブ10が挿入されたブッシング20a,20bは、図1に示すように、筒状のハウジング25に挿入されて固定されている。ブッシング20a,20bは絶縁体により構成されているので、プローブ10とハウジング25とは絶縁されている。また、プランジャ11は、ハウジング25の先端部26a内を延在していると共に、該先端部26aから、突出している。   Further, the bushings 20a and 20b into which the probe 10 is inserted are inserted and fixed in a cylindrical housing 25 as shown in FIG. Since the bushings 20a and 20b are made of an insulator, the probe 10 and the housing 25 are insulated. Further, the plunger 11 extends in the front end portion 26a of the housing 25 and protrudes from the front end portion 26a.

規制部材50は、図1及び図2に示すように、固定部50a及び規制部50bを有している。固定部50aは、図2に示すように、円筒形状をなしており、ハウジング25に取り付けられている。具体的には、固定部50aの内径は、先端部26aの外径よりも大きい。そして、固定部50aは、先端部26a側(すなわち、下側)から、ハウジング25の下部25bに対して圧入されることにより、ハウジング25に固定されている。固定部50aは、図1に示すように、先端部26aの上側において下部25bに対して固定されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the regulating member 50 has a fixed portion 50 a and a regulating portion 50 b. As shown in FIG. 2, the fixed portion 50 a has a cylindrical shape and is attached to the housing 25. Specifically, the inner diameter of the fixed portion 50a is larger than the outer diameter of the distal end portion 26a. The fixed portion 50 a is fixed to the housing 25 by being press-fitted into the lower portion 25 b of the housing 25 from the tip end portion 26 a side (that is, the lower side). As shown in FIG. 1, the fixing portion 50a is fixed to the lower portion 25b on the upper side of the distal end portion 26a.

規制部50bは、図2に示すように、固定部50aの下側に接続されており、円筒形状を有している。ただし、規制部50bは、上下方向に延在するスリットS1が設けられることにより、C字型をなしている。これにより、規制部50bは、その直径が伸縮可能な構造を有している。よって、規制部50bのばね性により、スリットS1が広がることにより、規制部50bは、水平方向に広がることができる。   As shown in FIG. 2, the restricting portion 50b is connected to the lower side of the fixed portion 50a and has a cylindrical shape. However, the restricting portion 50b has a C-shape by providing a slit S1 extending in the vertical direction. Thereby, the control part 50b has the structure which the diameter can expand-contract. Therefore, due to the spring property of the restricting portion 50b, the restricting portion 50b can be spread in the horizontal direction by the slit S1 being widened.

更に、規制部50bの内径は、先端部26aの外径よりも僅かに大きい。そのため、固定部50aが下部25bに取り付けられると、規制部50bは、先端部26aの周囲を取り囲むようになる。更に、規制部50bの下端は、図1に示すように、先端部26aの下端と一致している。以上のように構成された規制部50bは、後述するように、相手方レセプタクルが装着されているときに、先端部26aの径が広がることを規制する役割を果たす。   Further, the inner diameter of the restricting portion 50b is slightly larger than the outer diameter of the distal end portion 26a. Therefore, when the fixing portion 50a is attached to the lower portion 25b, the restricting portion 50b surrounds the periphery of the distal end portion 26a. Further, as shown in FIG. 1, the lower end of the restricting portion 50b coincides with the lower end of the tip end portion 26a. As described later, the restricting portion 50b configured as described above plays a role of restricting the diameter of the distal end portion 26a from expanding when the counterpart receptacle is attached.

以上のように構成された検査用同軸コネクタ1は、第1の外部導体及び第1の内部導体を有する同軸ケーブルの先端に取り付けられて用いられる。具体的には、同軸ケーブルの先端には、SMAコネクタが取り付けられている。SMAコネクタは、同軸ケーブルの第1の外部導体に接続されているコネクタ、及び、同軸ケーブルの第1の内部導体に接続されている内部導体を備えている。そして、SMAコネクタは、コネクタがハウジングに螺合し、内部導体がソケット14に挿入されるようにして、検査用同軸コネクタ1に取り付けられる。これにより、第1の内部導体とプローブ10とが電気的に接続され、第1の外部導体とハウジング25とが電気的に接続される。   The coaxial connector for inspection 1 configured as described above is used by being attached to the tip of a coaxial cable having a first outer conductor and a first inner conductor. Specifically, an SMA connector is attached to the tip of the coaxial cable. The SMA connector includes a connector connected to the first outer conductor of the coaxial cable and an inner conductor connected to the first inner conductor of the coaxial cable. The SMA connector is attached to the inspection coaxial connector 1 such that the connector is screwed into the housing and the internal conductor is inserted into the socket 14. As a result, the first inner conductor and the probe 10 are electrically connected, and the first outer conductor and the housing 25 are electrically connected.

(検査用同軸コネクタの動作)
次に、検査用同軸コネクタ1の動作について図4を参照して説明する。図4は、被検査体である相手方レセプタクル301への装着前及び装着後における検査用同軸コネクタ1の先端部分の断面構造図である。
(Operation of inspection coaxial connector)
Next, the operation of the inspection coaxial connector 1 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a cross-sectional structure diagram of the distal end portion of the inspection coaxial connector 1 before and after attachment to the counterpart receptacle 301 which is an object to be inspected.

まず、相手方レセプタクル301について説明する。相手方レセプタクル301は、例えば、携帯電話のアンテナと送受信回路との間に設けられるスイッチ付同軸コネクタであり、ケース303、外部導体(第2の外部導体)305、固定端子306及び可動端子(第2の内部導体)307を備えている。固定端子306はアンテナに接続され、可動端子307は送受信回路に接続される。   First, the counterpart receptacle 301 will be described. The counterpart receptacle 301 is, for example, a coaxial connector with a switch provided between a mobile phone antenna and a transmission / reception circuit, and includes a case 303, an external conductor (second external conductor) 305, a fixed terminal 306, and a movable terminal (second terminal). Inner conductor) 307. The fixed terminal 306 is connected to the antenna, and the movable terminal 307 is connected to the transmission / reception circuit.

まず、検査用同軸コネクタ1が相手方レセプタクル301に装着されていない状態について説明する。図4(a)に示すように、プローブ10は、先端部26a及び規制部50bから下側に突出している。また、先端部26aの外周面は、規制部50bに僅かに接触しているか、又は、僅かな隙間を介して離れている。このとき、相手方レセプタクル301では、図4(a)に示すように、固定端子306と可動端子307とが接触しているので、アンテナと送受信回路とが接続されている。   First, a state where the inspection coaxial connector 1 is not attached to the counterpart receptacle 301 will be described. As shown in FIG. 4A, the probe 10 protrudes downward from the distal end portion 26a and the restricting portion 50b. Moreover, the outer peripheral surface of the front-end | tip part 26a is slightly contacting the control part 50b, or is separated through the slight clearance gap. At this time, in the counterpart receptacle 301, as shown in FIG. 4A, since the fixed terminal 306 and the movable terminal 307 are in contact, the antenna and the transmission / reception circuit are connected.

次に、検査用同軸コネクタ1が相手方レセプタクル301に装着された状態について説明する。セットメーカーが携帯電話の送受信回路の電気特性をチェックする場合には、図4(b)に示すように、同軸ケーブルを介して測定器が接続されたプローブ10が上側から下側へとケース303の孔304に挿入される。これにより、可動端子307がプローブ10により下側に押される。その結果、固定端子306と可動端子307とが離れると共に、プローブ10と可動端子307とが接続され、送受信回路と測定器とが接続されるようになる。この際、可動端子307からの反発力によりコイルばね12が縮んでプローブ10が上側に退避する。これにより、可動端子307の破損が防止されている。   Next, a state where the inspection coaxial connector 1 is attached to the counterpart receptacle 301 will be described. When the set maker checks the electrical characteristics of the transmission / reception circuit of the mobile phone, as shown in FIG. 4B, the probe 10 to which the measuring instrument is connected via the coaxial cable moves from the upper side to the lower side. Are inserted into the holes 304 of the As a result, the movable terminal 307 is pushed downward by the probe 10. As a result, the fixed terminal 306 and the movable terminal 307 are separated from each other, the probe 10 and the movable terminal 307 are connected, and the transmission / reception circuit and the measuring instrument are connected. At this time, the coil spring 12 is contracted by the repulsive force from the movable terminal 307 and the probe 10 is retracted upward. Thereby, damage to the movable terminal 307 is prevented.

また、図4(b)の状態において、外部導体305が先端部26a内に挿入される。先端部26aの内径は、外部導体305の外径よりも僅かに小さい。そのため、先端部26aは、外部導体305により僅かに押し広げられる。ただし、先端部26aの外周面は、図4(a)の状態において、規制部50bの内周面と接触又は僅かな隙間を介して離れている。そのため、先端部26aが広げられると、先端部26aの外周面は、規制部50bの内周面に圧接するようになる。その結果、規制部50bは、先端部26aにより僅かに押し広げられる。これにより、規制部50bは、先端部26aが広がりすぎることを抑制している。そして、突部26bが外部導体305の外周に形成された溝305aに係合すると共に、先端部26a及び規制部50bが外部導体305の上面305bに接触する。これにより、検査用同軸コネクタ1は、適切な力で相手方レセプタクル301に嵌合するようになる。   Further, in the state of FIG. 4B, the external conductor 305 is inserted into the distal end portion 26a. The inner diameter of the distal end portion 26 a is slightly smaller than the outer diameter of the outer conductor 305. Therefore, the distal end portion 26a is slightly expanded by the outer conductor 305. However, the outer peripheral surface of the distal end portion 26a is separated from the inner peripheral surface of the restricting portion 50b through a slight gap in the state of FIG. Therefore, when the distal end portion 26a is spread, the outer peripheral surface of the distal end portion 26a comes into pressure contact with the inner peripheral surface of the restricting portion 50b. As a result, the restricting portion 50b is slightly expanded by the tip end portion 26a. Thereby, the control part 50b is suppressing that the front-end | tip part 26a spreads too much. The protrusion 26 b engages with a groove 305 a formed on the outer periphery of the external conductor 305, and the tip end portion 26 a and the restricting portion 50 b come into contact with the upper surface 305 b of the external conductor 305. As a result, the coaxial connector for inspection 1 is fitted into the counterpart receptacle 301 with an appropriate force.

(効果)
以上のような検査用同軸コネクタ1及びプローブ10によれば、インピーダンス整合が崩れることを抑制できる。より詳細には、特許文献1に記載の測定プローブ500では、ソケット514の穴は、保持部材510の上端を容易に挿入できるように、保持部材510の上端よりもやや大きく形成されている。そのため、図7(a)に示すように、内導体508及び保持部材510がソケット514に対して傾いたり、図7(b)に示すように、内導体508及び保持部材510がソケット514に対して水平方向にずれたりする。その結果、内導体508及び保持部材510とソケット514との間においてインピーダンス整合が崩れてしまい、測定プローブ500内において高周波信号の反射が発生してしまう。
(effect)
According to the inspection coaxial connector 1 and the probe 10 as described above, it is possible to suppress the impedance matching from being broken. More specifically, in the measurement probe 500 described in Patent Document 1, the hole of the socket 514 is formed to be slightly larger than the upper end of the holding member 510 so that the upper end of the holding member 510 can be easily inserted. Therefore, the inner conductor 508 and the holding member 510 are inclined with respect to the socket 514 as shown in FIG. 7A, or the inner conductor 508 and the holding member 510 are with respect to the socket 514 as shown in FIG. May shift horizontally. As a result, impedance matching between the inner conductor 508 and the holding member 510 and the socket 514 is lost, and high-frequency signal reflection occurs in the measurement probe 500.

なお、特許文献1に記載の測定プローブ500において、ソケット514の穴の大きさを保持部材510の上端の大きさと一致させることが考えられる。しかしながら、この場合には、製造誤差によって、ソケット514の穴に保持部材510の上端を挿入できなくなるおそれがある。   In the measurement probe 500 described in Patent Document 1, it is conceivable to make the size of the hole of the socket 514 coincide with the size of the upper end of the holding member 510. However, in this case, there is a possibility that the upper end of the holding member 510 cannot be inserted into the hole of the socket 514 due to a manufacturing error.

そこで、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、バレル13は、ソケット14を螺子構造により保持している。これにより、バレル13の下端の雄螺子及びソケット14の上端の雌螺子を正確に形成することにより、プランジャ11、バレル13及びソケット14が一直線に並ぶようになる。すなわち、プランジャ11の中心軸とバレル13の中心軸とソケット14の中心軸とが一致する。よって、プランジャ11、バレル13及びソケット14の間においてインピーダンス整合が崩れにくくなる。   Therefore, in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10, the barrel 13 holds the socket 14 with a screw structure. Thus, the plunger 11, the barrel 13 and the socket 14 are aligned in a straight line by accurately forming the male screw at the lower end of the barrel 13 and the female screw at the upper end of the socket 14. That is, the central axis of the plunger 11, the central axis of the barrel 13, and the central axis of the socket 14 coincide. Therefore, impedance matching between the plunger 11, the barrel 13, and the socket 14 is not easily lost.

本願発明者は、検査用同軸コネクタ1が奏する効果をより明確にするために、以下に説明する実験を行った。本願発明者は、図1に示す検査用同軸コネクタ1の第1のサンプル及び図6に示す測定プローブ500の第2のサンプルを作製した。そして、本願発明者は、第1のサンプル及び第2のサンプルの挿入損失及び電圧定在波比(VSWR)を測定した。図5は、実験結果を示したグラフである。横軸は周波数である。左側の縦軸は電圧定在波比であり、右側の縦軸は挿入損失である。   The inventor of the present application conducted an experiment described below in order to clarify the effect of the coaxial connector for inspection 1. The inventor of the present application produced a first sample of the inspection coaxial connector 1 shown in FIG. 1 and a second sample of the measurement probe 500 shown in FIG. And this inventor measured the insertion loss and voltage standing wave ratio (VSWR) of the 1st sample and the 2nd sample. FIG. 5 is a graph showing experimental results. The horizontal axis is frequency. The vertical axis on the left is the voltage standing wave ratio, and the vertical axis on the right is the insertion loss.

図5に示すように、第1のサンプルの挿入損失の方が第2のサンプルの挿入損失よりも小さくなっていることがわかる。これは、第1のサンプルにおいて発生している反射量が第2のサンプルにおいて発生している反射量よりも小さいことを意味している。よって、第1のサンプルにおいて、インピーダンス整合が崩れることが抑制されていることがわかる。   As shown in FIG. 5, it can be seen that the insertion loss of the first sample is smaller than the insertion loss of the second sample. This means that the amount of reflection occurring in the first sample is smaller than the amount of reflection occurring in the second sample. Therefore, it can be seen that the impedance matching is suppressed from being lost in the first sample.

また、図5に示すように、第1のサンプルの電圧定在波比の方が第2のサンプルの電圧定在波比よりも小さいことがわかる。これは、第1のサンプルにおける反射量が第2のサンプルにおける反射量よりも小さいために、第1のサンプルにおいて発生している定在波の強度が第2のサンプルにおいて発生している定在波の強度よりも小さくなっていることを意味している。よって、第1のサンプルにおいて、インピーダンス整合が崩れることが抑制されていることがわかる。   Further, as shown in FIG. 5, it can be seen that the voltage standing wave ratio of the first sample is smaller than the voltage standing wave ratio of the second sample. This is because the intensity of the standing wave generated in the first sample is generated in the second sample because the reflection amount in the first sample is smaller than the reflection amount in the second sample. It means that it is smaller than the intensity of the wave. Therefore, it can be seen that the impedance matching is suppressed from being lost in the first sample.

また、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、製造工程数を減らすことが可能である。より詳細には、図6及び図7に示す測定プローブ500では、ばね512及び内導体508を下側から保持部材510に挿入した後に、ばね512及び内導体508が抜け落ちないように、保持部材510の下端をかしめる必要がある。一方、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、プランジャ11及びコイルばね12を上側からバレル13に挿入し、バレル13とソケット14とを螺合している。よって、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、バレル13をかしめる必要がない。その結果、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、製造工程数を減らすことが可能となる。   Further, in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10, the number of manufacturing processes can be reduced. More specifically, in the measurement probe 500 shown in FIGS. 6 and 7, the holding member 510 is prevented from falling out after the spring 512 and the inner conductor 508 are inserted into the holding member 510 from the lower side. It is necessary to caulk the lower end of On the other hand, in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10, the plunger 11 and the coil spring 12 are inserted into the barrel 13 from above, and the barrel 13 and the socket 14 are screwed together. Therefore, it is not necessary to crimp the barrel 13 in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10. As a result, the inspection coaxial connector 1 and the probe 10 can reduce the number of manufacturing steps.

また、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、バレル13をかしめる必要がないので、かしめの際にバレル13がひずむことがない。その結果、プランジャ11、バレル13及びソケット14が一直線に並びやすくなる。すなわち、プランジャ11の中心軸とバレル13の中心軸とソケット14の中心軸とが一致しやすくなる。よって、プランジャ11、バレル13及びソケット14の間においてインピーダンス整合が崩れにくくなる。   Further, in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10, it is not necessary to caulk the barrel 13, so that the barrel 13 is not distorted during caulking. As a result, the plunger 11, the barrel 13, and the socket 14 are easily arranged in a straight line. That is, the central axis of the plunger 11, the central axis of the barrel 13, and the central axis of the socket 14 are easily aligned. Therefore, impedance matching between the plunger 11, the barrel 13, and the socket 14 is not easily lost.

また、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、バレル13及びソケット14が螺合されているので、これらの接合にはんだが不要である。そのため、バレル13及びソケット14の接合の際に加熱工程が不要となる。その結果、バレル13及びソケット14が熱によってひずむことが抑制される。また、はんだが用いられないので、鉛、ハロゲン化合物、塩化物等の環境負荷物質を低減できる。   Further, in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10, since the barrel 13 and the socket 14 are screwed together, no solder is required for joining them. This eliminates the need for a heating step when joining the barrel 13 and the socket 14. As a result, the barrel 13 and the socket 14 are prevented from being distorted by heat. In addition, since no solder is used, environmentally hazardous substances such as lead, halogen compounds, and chlorides can be reduced.

また、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、以下に説明するように、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10の製造コストが低減される。より詳細には、プローブ10は、プランジャ11、バレル13及びソケット14を含んでいる。ソケット14は、弾性変形することにより第1の中心導体に圧接して、第1の中心導体を保持する。そのため、ソケット14は、相対的に高いばね性を有する導電性材料(例えば、ベリリウム銅)により作製されている。ただし、ベリリウム銅のような高いばね性を有する導電性材料は、比較的に高価である。そのため、プランジャ11及びバレル13を相対的に高いばね性を有する導電性材料により作製すると、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10の製造コストが高騰してしまう。   Moreover, in the coaxial connector 1 for inspection and the probe 10, the manufacturing cost of the coaxial connector 1 for inspection and the probe 10 is reduced as described below. More specifically, the probe 10 includes a plunger 11, a barrel 13 and a socket 14. The socket 14 is pressed against the first center conductor by elastic deformation, and holds the first center conductor. Therefore, the socket 14 is made of a conductive material (for example, beryllium copper) having a relatively high spring property. However, a highly springy conductive material such as beryllium copper is relatively expensive. Therefore, if the plunger 11 and the barrel 13 are made of a conductive material having a relatively high spring property, the manufacturing costs of the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10 will increase.

ここで、プランジャ11及びバレル13は、使用時に変形することがない。そのため、プランジャ11及びバレル13を構成する導電性材料は、相対的に高いばね性を有している必要はない。そこで、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10では、プランジャ11及びバレル13は、比較的に安価な導電性材料(例えば、黄銅)により構成されている。これにより、検査用同軸コネクタ1及びプローブ10の製造コストが低減される。   Here, the plunger 11 and the barrel 13 are not deformed during use. Therefore, the conductive material constituting the plunger 11 and the barrel 13 need not have a relatively high spring property. Therefore, in the coaxial connector for inspection 1 and the probe 10, the plunger 11 and the barrel 13 are made of a relatively inexpensive conductive material (for example, brass). Thereby, the manufacturing cost of the coaxial connector 1 for inspection and the probe 10 is reduced.

以上のように、本発明は、検査用同軸コネクタ及びプローブに有用であり、特に、インピーダンス整合が崩れることを抑制できる点において優れている。   As described above, the present invention is useful for the coaxial connector for inspection and the probe, and is particularly excellent in that the impedance matching can be prevented from being broken.

1 検査用同軸コネクタ
10 プローブ
11 プランジャ
11a 軸部
11b 頭部
12 コイルばね
13 バレル
14 ソケット
15 先端部
20a,20b ブッシング
25 ハウジング
50 規制部材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Coaxial connector for a test | inspection 10 Probe 11 Plunger 11a Shaft part 11b Head part 12 Coil spring 13 Barrel 14 Socket 15 Tip part 20a, 20b Bushing 25 Housing 50 Control member

Claims (7)

第1の外部導体及び第1の中心導体を有する同軸ケーブルに接続されて用いられると共に、第2の外部導体及び第2の中心導体を有する相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタであって、
上端及び下端のそれぞれにおいて前記第1の外部導体及び前記第2の外部導体に接続される筒状のハウジングと、
前記ハウジングと絶縁された状態で該ハウジング内を上下方向に延在している棒状のプローブであって、前記第1の中心導体及び前記第2の中心導体に接続されるプローブと、
を備えており、
前記プローブは、
弾性変形することによって前記第1の中心導体に圧接して、該第1の中心導体を保持するソケットと、
前記ソケットと共に一直線に並ぶように、上端において該ソケットを螺子構造により保持する先端部であって、下端において前記第2の中心導体に接触する棒状の先端部と、
を含んでいること、
を特徴とする検査用同軸コネクタ。
A coaxial connector for inspection which is used by being connected to a coaxial cable having a first outer conductor and a first center conductor, and which is detachable from a mating receptacle having a second outer conductor and a second center conductor,
A cylindrical housing connected to the first outer conductor and the second outer conductor at each of an upper end and a lower end;
A rod-like probe extending in the vertical direction in the housing while being insulated from the housing, the probe being connected to the first center conductor and the second center conductor;
With
The probe is
A socket that presses against the first central conductor by elastic deformation and holds the first central conductor;
A rod-shaped tip portion that contacts the second central conductor at the lower end, the tip portion holding the socket by a screw structure at the upper end so as to be aligned with the socket;
Including
Coaxial connector for inspection characterized by
前記先端部は、
前記第2の中心導体に接触する棒状のプランジャと、
前記プランジャ及び前記ソケットが一直線に並ぶように、下端において該プランジャを保持すると共に、上端において該ソケットを螺子構造により保持するバレルと、
を有していること、
を特徴とする請求項1に記載の検査用同軸コネクタ。
The tip is
A rod-shaped plunger in contact with the second central conductor;
A barrel for holding the plunger at the lower end and holding the socket by a screw structure at the upper end so that the plunger and the socket are aligned;
Having
The coaxial connector for inspection according to claim 1.
前記プランジャは、前記バレルに対して上下方向にスライド可能であり、
前記先端部は、
前記プランジャを前記バレルに対して下側に押し出す弾性部材を、
更に有していること、
を特徴とする請求項2に記載の検査用同軸コネクタ。
The plunger is slidable up and down with respect to the barrel;
The tip is
An elastic member for pushing the plunger downward with respect to the barrel;
In addition,
The coaxial connector for inspection according to claim 2.
前記弾性部材は、コイルばねであり、
前記プランジャは、
軸部と、
前記軸部の上端に設けられ、該軸部よりも太い直径を有する頭部と、
からなっており、
前記バレルは、下端において前記軸部の直径よりも大きくかつ前記頭部の直径よりも小さな直径を有する第1の開口が設けられていると共に、上端において前記コイルばねの直径及び該頭部の直径よりも大きな直径を有する第2の開口が設けられている円筒状をなしており、
前記プランジャは、前記軸部が前記第1の開口から下側に向かって前記バレル外に突出しており、
前記コイルばねは、前記バレルに収容されて、前記頭部を下側に押し出していること、
を特徴とする請求項3に記載の検査用同軸コネクタ。
The elastic member is a coil spring;
The plunger is
The shaft,
A head portion provided at an upper end of the shaft portion and having a diameter larger than that of the shaft portion;
Consists of
The barrel is provided with a first opening having a diameter larger at the lower end than the diameter of the shaft portion and smaller than the diameter of the head, and at the upper end, the diameter of the coil spring and the diameter of the head. A cylindrical shape provided with a second opening having a larger diameter,
The plunger protrudes out of the barrel from the first opening toward the lower side of the shaft,
The coil spring is housed in the barrel and pushes the head downward;
The coaxial connector for inspection according to claim 3.
前記バレルの上端には雌螺子が設けられており、
前記ソケットの下端には雄螺子が設けられていること、
を特徴とする請求項4に記載の検査用同軸コネクタ。
A female screw is provided at the upper end of the barrel,
A male screw is provided at the lower end of the socket;
The coaxial connector for inspection according to claim 4.
前記ハウジング内に設けられ、かつ、該ハウジングと前記プローブとを絶縁する絶縁部材を、
更に備えていること、
を特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の検査用同軸コネクタ。
An insulating member provided in the housing and for insulating the housing and the probe;
More
The coaxial connector for inspection according to any one of claims 1 to 5.
第1の外部導体及び第1の中心導体を有する同軸ケーブルに接続されて用いられると共に、第2の外部導体及び第2の中心導体を有する相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタのプローブであって、上端及び下端のそれぞれにおいて該第1の外部導体及び該第2の外部導体に接続される筒状のハウジング内を該ハウジングと絶縁された状態で上下方向に延在し、かつ、該第1の中心導体及び該第2の中心導体に接続される棒状のプローブであって、
弾性変形することによって前記第1の中心導体に圧接して、該第1の中心導体を保持するソケットと、
前記ソケットと共に一直線に並ぶように、上端において該ソケットを螺子構造により保持する先端部であって、下端において前記第2の中心導体に接触する棒状の先端部と、
を含んでいること、
を特徴とするプローブ。
A probe of a coaxial connector for inspection that is used by being connected to a coaxial cable having a first outer conductor and a first center conductor and that is detachable from a mating receptacle having a second outer conductor and a second center conductor. Extending vertically in a cylindrical housing connected to the first outer conductor and the second outer conductor at the upper end and the lower end, respectively, in a state of being insulated from the housing, and A rod-like probe connected to one central conductor and the second central conductor,
A socket that presses against the first central conductor by elastic deformation and holds the first central conductor;
A rod-shaped tip portion that contacts the second central conductor at the lower end, the tip portion holding the socket by a screw structure at the upper end so as to be aligned with the socket;
Including
Probe characterized by.
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