JP2012078244A - Flaw detection device - Google Patents
Flaw detection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012078244A JP2012078244A JP2010224788A JP2010224788A JP2012078244A JP 2012078244 A JP2012078244 A JP 2012078244A JP 2010224788 A JP2010224788 A JP 2010224788A JP 2010224788 A JP2010224788 A JP 2010224788A JP 2012078244 A JP2012078244 A JP 2012078244A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- housing
- bridge circuit
- flaw detection
- detection apparatus
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 238000003756 stirring Methods 0.000 abstract description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000013019 agitation Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
【課題】起動後に検出信号を早期に温度補償することを可能とし、そのための構成を比較的安価なものにすること。
【解決手段】探傷装置は、被検査体の表面に渦電流を発生させるための検出コイルと、検出コイルに交流電流を供給するための発振器と、検出コイルのインピーダンスを測定するためのブリッジ回路と、発熱する電気部品とを備え、ブリッジ回路で測定されるインピーダンスの変化に基づいて被検査体の表面における傷を検出するように構成される。そして、探傷装置1は、少なくとも発振器、ブリッジ回路及び発熱する電気部品が筐体6の内部に収容し、筐体6の内部を外部と遮断すると共に、筐体6の内部の空気を攪拌する循環ファン31を設けた。
【選択図】 図4To enable temperature compensation of a detection signal at an early stage after start-up, and to make the configuration therefor relatively inexpensive.
A flaw detection apparatus includes a detection coil for generating an eddy current on the surface of an inspection object, an oscillator for supplying an alternating current to the detection coil, and a bridge circuit for measuring the impedance of the detection coil. And an electric component that generates heat, and configured to detect a flaw on the surface of the object to be inspected based on a change in impedance measured by a bridge circuit. The flaw detection apparatus 1 circulates at least an oscillator, a bridge circuit, and an electric component that generates heat inside the housing 6, isolates the inside of the housing 6 from the outside, and stirs the air inside the housing 6. A fan 31 was provided.
[Selection] Figure 4
Description
この発明は、検出コイルを流れる渦電流を利用して被検査体の表面の傷を検出するために使用される探傷装置に関する。 The present invention relates to a flaw detection apparatus used for detecting a flaw on a surface of an object to be inspected by using an eddy current flowing through a detection coil.
従来、この種の技術として、例えば、下記の特許文献1に記載のブリッジ回路を用いたギャップ検出装置が知られている。この装置は、検出用のコイルと、信号を発生させる発振回路と、コイルからの出力信号から、検出信号を検波する検波整流回路と、検出信号を直線化するリニアライザとを備える。また、この装置は、コイルの温度を検出するコイル温度検出回路と、コイルの温度が低いときにコイルの検出信号を補正する低温度域補正回路と、コイルの温度が高いときにコイルの検出信号を補正する高温度域補正回路とを更に備える。この装置は、上記のように構成することで、簡単な構成により、広範囲の温度に対して温度を補償した検出信号を得るようになっている。
Conventionally, as this type of technology, for example, a gap detection device using a bridge circuit described in
ところが、特許文献1に記載の検出装置では、ブリッジ回路の各電気抵抗の温度が一様でないと、測定精度が悪くなるおそれがあった。しかし、その事に関する言及や示唆は、特許文献1には特にない。また、コイルの温度補償は、回路の追加が必要になるため、装置がコスト高になる傾向があった。
However, in the detection device described in
ここで、従来の探傷装置につき、その測定数に対する、ブリッジ回路等の電気回路を収容した筐体の内部温度、筐体の外部温度及び測定値のばらつきの挙動を図7にグラフにより示す。このグラフから明らかなように、測定数が「1〜120(回)」の間では、内部温度が「27.5(℃)」から「40(℃)」前後まで変化し、外部温度との差も「2〜12(℃)」の間で変化する。この間の測定値のばらつきの変化も大きい。これに対し、測定数が「120(回)」以降は、内部温度が「40〜42(℃)」の間で変化する程度で、内部温度と外部温度との差の変化も小さい。従って、探傷装置の動作開始後、しばらくの間は、正確な測定ができない。図7に示すように、筐体内部の温度は、「45(℃)」未満にはなるので、本来、ブリッジ回路が故障する「80〜90(℃)」には達することがない。 Here, with respect to the conventional flaw detection apparatus, the behavior of the internal temperature of the housing containing the electric circuit such as the bridge circuit, the external temperature of the housing, and the variation of the measured value with respect to the number of measurements is shown in FIG. As is apparent from this graph, when the number of measurements is “1 to 120 (times)”, the internal temperature changes from “27.5 (° C.)” to around “40 (° C.)” and The difference also varies between “2-12 (° C.)”. The variation in the measured value during this period is also large. On the other hand, after the number of measurements is “120 (times)”, the change in the difference between the internal temperature and the external temperature is small as the internal temperature changes between “40 to 42 (° C.)”. Therefore, accurate measurement cannot be performed for a while after the operation of the flaw detection apparatus is started. As shown in FIG. 7, the temperature inside the casing is less than “45 (° C.)”, so that it does not originally reach “80 to 90 (° C.)” at which the bridge circuit breaks down.
この発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、起動後に検出信号を早期に温度補償することを可能とし、そのための構成を比較的安価なものにすることを可能とした探傷装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and the object thereof is to enable temperature compensation of the detection signal early after startup, and to make the configuration therefor relatively inexpensive. The object is to provide a flaw detector.
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、被検査体の表面に渦電流を発生させるための検出コイルと、検出コイルに交流電流を供給するための発振器と、検出コイルのインピーダンスを測定するためのブリッジ回路と、発熱する電気部品とを備え、ブリッジ回路で測定されるインピーダンスの変化に基づいて被検査体の表面における傷を検出する探傷装置において、少なくとも発振器、ブリッジ回路及び発熱する電気部品を筐体の内部に収容し、筐体の内部を外部と遮断すると共に、筐体の内部の空気を攪拌する空気攪拌手段を設けたことを趣旨とする。
In order to achieve the above object, an invention according to
上記発明の構成によれば、この探傷装置を起動させることにより、筐体の内部では電気部品からの発熱が空気攪拌手段により空気と共に攪拌され、筐体の内部が早期に暖められる。これに伴い、筐体の内部の発振器及びブリッジ回路も早期に暖められる。 According to the configuration of the above invention, by starting this flaw detection apparatus, the heat generated from the electrical components is stirred together with the air by the air stirring means inside the casing, and the inside of the casing is warmed up early. Along with this, the oscillator and the bridge circuit inside the casing are also warmed early.
上記目的を達成するために、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、空気攪拌手段は、電動ファンであることが好ましい。 In order to achieve the above object, according to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the air stirring means is preferably an electric fan.
上記目的を達成するために、請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、筐体の内部の温度を検出するための内部温度検出手段と、筐体の外部の温度を検出するための外部温度検出手段と、検出される内部及び外部の温度に基づきブリッジ回路が正常動作可能か否かを判断するための動作判断手段と、判断された結果を表示する表示手段とを更に備えたことを趣旨とする。
In order to achieve the above object, the invention according to
上記発明の構成によれば、請求項1又は2に記載の発明の作用に加え、動作判断手段が筐体の内部と外部で検出される内部及び外部の温度に基づきブリッジ回路の正常動作可能か否かを判断し、その判断結果が表示手段に表示される。従って、作業者は、探傷装置の検出結果を、表示手段の表示結果と照らし合わせることが可能となる。
According to the configuration of the above invention, in addition to the operation of the invention described in
請求項1又は2に記載の発明によれば、起動後に検出信号を早期に温度補償することができ、そのための構成を比較的安価なものとすることができる。 According to the first or second aspect of the invention, the temperature of the detection signal can be compensated at an early stage after startup, and the configuration for that purpose can be made relatively inexpensive.
請求項3に記載の発明によれば、請求項1又は2に記載の発明の効果に加え、正常な探傷装置により被検査体の傷などを正確に検出することができ、検出結果の信頼性を確保することができる。
According to the invention described in
以下、本発明の探傷装置を具体化した一実施形態につき図面を参照して詳細に説明する。図1に、この実施形態の探傷装置1を概略構成図により示す。図2に、この探傷装置1の電気的構成をブロック回路図により示す。
DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, an embodiment of a flaw detection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a schematic configuration diagram of a
図1,2に示すように、探傷装置1は、被検査体である金属製のワーク2の表面に渦電流を発生させるための検出コイル11と、その検出コイル11に交流電流を供給するための発振器12と、検出コイル11のインピーダンスを測定するためのブリッジ回路13とを備える。また、探傷装置1は、ブリッジ回路13の出力信号を増幅するための増幅回路14と、増幅回路14の出力信号を位相弁別して判定し易くするための同期検波回路15と、同期検波回路15の出力信号をノイズカットして検出性能を向上させるためのフィルタ回路16と、フィルタ回路16を通過した信号につき、振幅・位相判定などの処理をして合否判定信号を出力するためのソフト処理回路17と、表示器18とを更に備える。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
ブリッジ回路13は、検出コイル11との間で信号のやりとりをするようになっている。同期検波回路15からは、表示器18へ信号が出力されるようになっている。フィルタ回路16からは、外部へデータが出力されるようになっている。ソフト処理回路17からは、外部へ判定出力が行われるようになっている。そして、探傷装置1は、ブリッジ回路13により測定されるインピーダンスの変化に基づいてワーク2の表面における傷3を検出するようになっている。
The
ここで、探傷装置1は、図1,2に示すように、発振器12、ブリッジ回路13、増幅回路14,同期検波回路15、フィルタ回路16、ソフト処理回路17及び表示器18等を収容する筐体6を備える。この筐体6の内部は、外部と遮断されている。図3に、筐体6の内部における電気的構成の平面配置をブロック図により示す。図4に、図3をより詳細にブロック図により示す。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
図3に示すように、筐体6の内部には、電気的構成として、表示部21、計測部22、演算部23、入出力部24及び電源部25が配置される。表示部21は、筐体6の前側全幅に渡って配置される。表示部21の後側には計測部22と演算部23が横並びに配置される。計測部22の後側には、入出力部24が配置される。演算部23の後側には、電源部25が配置される。入出力部24と電源部25は横並びに配置される。
As shown in FIG. 3, a
図4に示すように、計測部22には、発振器12、ブリッジ回路13及び増幅回路14等を含むセンサ基板が配置される。演算部23は、複数の演算部23A,23B,23Cにより構成される。各演算部23A〜23Cには、CPU、A/D基板が配置される。電源部25には、その右半分に配置された整流部26を含む。これら、センサ基板、演算部23及び電源部25は、本発明の発熱する電気部品に相当する。
As shown in FIG. 4, a sensor substrate including an
整流部26の前側と演算部23との間には、循環ファン31が配置される。筐体6の高さ方向における循環ファン31の配置は、その他の各部の配置にかかわらず、筐体6内の温かい空気を効果的に攪拌するために、筐体6の上面寄りに配置される。循環ファン31の風向は、演算部23に向いている。循環ファン31は、筐体6の内部の空気を攪拌するための空気攪拌手段に相当し、電動ファンにより構成される。電源部25の左半分の前側であって、循環ファン31の隣には、温度センサ基板32が配置される。
A
更に、この探傷装置1は、筐体6の内部の温度を検出するための内部温度検出手段に相当する第1内部温度センサ33及び第2内部温度センサ34と、筐体6の外部の温度を検出するための外部温度検出手段としての外部温度センサ35とを更に備える。第1内部温度センサ33は、整流部26と循環ファン31との間に配置され、その部分の温度を第1内部温度Ti1として検出する。第2内部温度センサ34は、表示部21を構成する表示器18と計測部22との間に配置され、その部分の温度を第2内部温度Ti2として検出する。外部温度センサ35は、筐体6の外部であって、電源部25の後方に配置され、筐体6の外部温度Toを検出する。各温度センサ33〜35は、温度センサ基板32に接続される。
Further, the
温度センサ基板32は、演算部23に接続される。演算部23は、各温度センサ33〜35により検出される各内部温度Ti1,Ti2及び外部温度Toに基づきブリッジ回路13が正常動作可能か否かを判断するための本発明の動作判断手段に相当する。演算部23は、その判断された結果を表示手段としての表示器18に表示するようになっている。
The
次に、演算部23のCPUが実行する装置検査のための制御プログラムを図5のフローチャートを参照して以下に説明する。
Next, a control program for device inspection executed by the CPU of the
ステップ100で、装置検査の指示が行われると、ステップ101で、CPUは、この探傷装置1の検査を行うために、各温度センサ33〜35の検出値を読み込む。すなわち、CPUは、第1内部温度センサ33により検出される第1内部温度Ti1、第2内部温度センサ34により検出される第2内部温度Ti2、及び外部温度センサ35により検出される外部温度Toの検出値をそれぞれ読み込む。
When an instruction for apparatus inspection is given in
次に、ステップ102で、CPUは、読み込まれた第1内部温度Ti1と外部温度Toとの差を内外温度差TEioとして算出する。
Next, in
続いて、ステップ103で、CPUは、第1内部温度Ti1と第2内部温度Ti2との差の絶対値を内温度差TEiiの絶対値として算出する。
Subsequently, in
その後、ステップ104で、CPUは、内外温度差TEioが「12(℃)」より高く「16(℃)」より低いか否かを判断する。この「12〜16(℃)」の範囲は、筐体6の内部温度Ti1,Ti2が安定したときに外部温度Toとの間で生じるほぼ一定の差である。この判断結果が否定となる場合、CPUは、処理をステップ101へ戻す。この判断結果が肯定となる場合、CPUは、処理をステップ105へ移行する。
Thereafter, in
ステップ105で、CPUは、内温度差TEiiの絶対値が「2(℃)」より低いか否かを判断する。この「0〜2(℃)」の範囲は、筐体6の内部温度Ti1,Ti2が安定していることを意味する。この判断結果が否定となる場合、CPUは、処理をステップ101へ戻す。この判断結果が肯定となる場合、CPUは、処理をステップ106へ移行する。
In
ステップ106で、CPUは、前回の内外温度差TEioOと今回の内外温度差TEioとの差を内外温度差変動ΔTEioとして算出する。
In
そして、ステップ107で、CPUは、その算出された内外温度差変動ΔTEioが「2(℃)」以下であるか否かを判断する。すなわち、CPUは、内外温度差TEioの変動が小さく、各内部温度Ti1,Ti2の変動が小さいか否かを判断する。この判断結果が肯定となる場合、上記算出した内外温度差TEio、内温度差TEiiの絶対値及び内外温度差変動ΔTEioの値を演算部23のメモリに記憶する。その後、ステップ109で、CPUは、正常表示を行う。すなわち、CPUは、表示器18により、探傷装置1が正常であることを表示する。
In
一方、ステップ107の判断結果が否定となる場合、CPUは、ステップ110で、異常表示を行う。すなわち、CPUは、表示器18により、探傷装置1が異常であることを表示する。
On the other hand, if the determination result in
以上説明したこの実施形態の探傷装置1によれば、同装置1を起動させることにより、筐体6の内部では各種電気部品からの発熱が循環ファン31により空気と共に攪拌される。特に、この実施形態では、発熱量の比較的多い電源部25が筐体6の中に配置され、その前方に循環ファン31が配置される。従って、電源部25の発熱が効果的に攪拌されて筐体6の中を循環することとなり、筐体6の内部が早期に暖められる。これに伴い、筐体6の内部の発振器12及びブリッジ回路13等の回路も早期に暖められる。このため、探傷装置1の起動後、検出信号を早期に温度補償することができる。また、そのための構成も比較的安価なものにすることができる。
According to the
また、この実施形態の探傷装置1によれば、演算部23が筐体6の内部と外部で検出される内部温度Ti1,Ti2及び外部温度Toに基づきブリッジ回路13が正常動作可能か否かを判断し、その判断結果が表示器18により表示される。従って、作業者は、探傷装置1の検出結果を、表示器18の表示結果と照らし合わせることが可能となる。このため、正常な探傷装置1によりワーク2の傷3などを正確に検出することができる。これにより検出結果の信頼性を確保することができる。
Further, according to the
ここで、この実施形態の探傷装置1による測定結果(菱形印)を、従来の探傷装置の測定結果(黒丸印)と比較して図6に示す。図6に、測定数に対する計測値の変化をグラフにより示す。このグラフからも明らかなように、この探傷装置1の測定結果は、測定数の「1回目」から「146回目」までの間で、おおよそ、「3130(mv)」〜「3140(mv)」の範囲内で細かく変動するだけで、探傷装置1の起動直後から測定値がほぼ安定することが分かる。
Here, the measurement result (diamond mark) by the
これに対し、従来の探傷装置では、起動直後は計測値が「3200(mv)」あったのに対し、その後、測定数が「100(回)」程度になるまで計測値が「3130(mv)」近くまで下がり続け、その後、おおよそ、「3130(mv)」〜「3140(mv)」の範囲内で細かく変動するだけとなる。従って、従来の探傷装置では、測定数が「1〜100(回)」までの間で安定した測定値が得られず、探傷装置の起動後から測定値を有効に使用することができないことが分かる。 On the other hand, in the conventional flaw detection apparatus, the measured value was “3200 (mv)” immediately after activation, but thereafter, the measured value was “3130 (mv) until the number of measurements was about“ 100 (times) ”. ) "Continues to fall close to, and then only slightly varies within the range of" 3130 (mv) "to" 3140 (mv) ". Therefore, in the conventional flaw detection apparatus, a stable measurement value cannot be obtained when the number of measurements is from “1 to 100 (times)”, and the measurement value cannot be used effectively after the flaw detection apparatus is activated. I understand.
なお、この発明は前記実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱することのない範囲で以下のように実施することができる。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, In the range which does not deviate from the meaning of invention, it can implement as follows.
例えば、前記実施形態では、発熱する電気部品として電源部25を筐体6の内部に設けたが、この電源部を筐体の外部に別途設けた場合は、筐体の中に設けられる各種電気回路が、発熱する電気部品に相当することとなる。
For example, in the above-described embodiment, the
この発明は、金属製品の表面の探傷に利用することができる。 The present invention can be used for flaw detection on the surface of a metal product.
1 探傷装置
2 ワーク(被検査体)
3 傷
6 筐体
11 検出コイル
12 発振器(発熱する電気部品)
13 ブリッジ回路(発熱する電気部品)
18 表示器(表示手段)
23 演算部(動作判断手段、発熱する電気部品)
25 電源部(発熱する電気部品)
31 循環ファン(空気攪拌手段)
32 温度センサ基板(発熱する電気部品)
33 第1内部温度センサ(内部温度検出手段)
34 第2内部温度センサ(内部温度検出手段)
35 外部温度センサ(外部温度検出手段)
1
3 Scratch 6
13 Bridge circuit (electric parts that generate heat)
18 Display (display means)
23 Calculation unit (operation judging means, heat generating electric parts)
25 Power supply (heated electrical parts)
31 Circulating fan (air stirring means)
32 Temperature sensor board (electric parts that generate heat)
33. First internal temperature sensor (internal temperature detection means)
34 Second internal temperature sensor (internal temperature detection means)
35 External temperature sensor (external temperature detection means)
Claims (3)
前記検出コイルに交流電流を供給するための発振器と、
前記検出コイルのインピーダンスを測定するためのブリッジ回路と、
発熱する電気部品と
を備え、前記ブリッジ回路で測定されるインピーダンスの変化に基づいて前記被検査体の表面における傷を検出する探傷装置において、
少なくとも前記発振器、前記ブリッジ回路及び前記発熱する電気部品を筐体の内部に収容し、前記筐体の内部を外部と遮断すると共に、前記筐体の内部の空気を攪拌する空気攪拌手段を設けたことを特徴とする探傷装置。 A detection coil for generating eddy currents on the surface of the object to be inspected;
An oscillator for supplying an alternating current to the detection coil;
A bridge circuit for measuring the impedance of the detection coil;
A flaw detection apparatus that detects flaws on the surface of the object to be inspected based on a change in impedance measured by the bridge circuit.
At least the oscillator, the bridge circuit, and the electric component that generates heat are accommodated in a housing, and the air inside the housing is shut off from the outside, and air agitating means for agitating the air inside the housing is provided. A flaw detection apparatus characterized by that.
前記筐体の外部の温度を検出するための外部温度検出手段と、
前記検出される内部及び外部の温度に基づき前記ブリッジ回路が正常動作可能か否かを判断するための動作判断手段と、
前記判断された結果を表示する表示手段と
を更に備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の探傷装置。 Internal temperature detection means for detecting the temperature inside the housing;
An external temperature detecting means for detecting a temperature outside the housing;
Operation determining means for determining whether or not the bridge circuit is normally operable based on the detected internal and external temperatures;
The flaw detection apparatus according to claim 1, further comprising display means for displaying the determined result.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010224788A JP5789948B2 (en) | 2010-10-04 | 2010-10-04 | Flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010224788A JP5789948B2 (en) | 2010-10-04 | 2010-10-04 | Flaw detector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012078244A true JP2012078244A (en) | 2012-04-19 |
JP5789948B2 JP5789948B2 (en) | 2015-10-07 |
Family
ID=46238652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010224788A Expired - Fee Related JP5789948B2 (en) | 2010-10-04 | 2010-10-04 | Flaw detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5789948B2 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07200073A (en) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Honda Motor Co Ltd | Abnormality monitoring device for closed control panel |
JPH07218474A (en) * | 1994-02-08 | 1995-08-18 | Hitachi Ltd | Underwater eddy current test equipment |
JPH11352109A (en) * | 1998-06-08 | 1999-12-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Eddy current inspection device and eddy current inspection method |
JP2000267550A (en) * | 1999-03-19 | 2000-09-29 | Ricoh Co Ltd | Image forming device |
JP2005337910A (en) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Olympus Corp | Portable non-destructive inspection device |
-
2010
- 2010-10-04 JP JP2010224788A patent/JP5789948B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07200073A (en) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Honda Motor Co Ltd | Abnormality monitoring device for closed control panel |
JPH07218474A (en) * | 1994-02-08 | 1995-08-18 | Hitachi Ltd | Underwater eddy current test equipment |
JPH11352109A (en) * | 1998-06-08 | 1999-12-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Eddy current inspection device and eddy current inspection method |
JP2000267550A (en) * | 1999-03-19 | 2000-09-29 | Ricoh Co Ltd | Image forming device |
JP2005337910A (en) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Olympus Corp | Portable non-destructive inspection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5789948B2 (en) | 2015-10-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2733466B1 (en) | A Hall effect measurement instrument with temperature compensation | |
JP4891423B2 (en) | Abnormality inspection system for cooling part of electronic circuit | |
CN106233147B (en) | Branch current measurement with temperature-compensating | |
CN108983744B (en) | Abnormality diagnosis apparatus and abnormality diagnosis method | |
US9297865B2 (en) | Hall effect measurement instrument with temperature compensation | |
WO2017049942A1 (en) | Method and device for detecting environmental temperature and electronic apparatus | |
EP3761025B1 (en) | A method of operating a gas sensing device, and corresponding gas sensing device | |
JP2018080919A (en) | Temperature measurement device, inspection device, and method for control | |
JP2018080920A (en) | Temperature measurement device, inspection device, and method for control | |
JP2015087388A (en) | Signal error compensation for magnetometer in sensor package | |
JP5884415B2 (en) | Torque measuring device | |
JP5789948B2 (en) | Flaw detector | |
JP5289546B2 (en) | Abnormality inspection system for cooling part of electronic circuit | |
JP3726261B2 (en) | Thermal flow meter | |
TW201327145A (en) | Electronic device testing system and method | |
JP2008275448A (en) | Semiconductor test equipment | |
JP2007318840A (en) | Leakage detector of three-phase three wire electric path and leakage detector thereof | |
US11579133B2 (en) | Fast water activity measurement system | |
JP7684249B2 (en) | Signal processing circuit, control device, environment creating device, and signal processing method | |
JP5316111B2 (en) | Leak detector | |
JP6624303B2 (en) | Temperature measuring device, temperature controller and short circuit judgment program | |
JP2004150836A (en) | Correction method and correction circuit for cold junction compensation in thermocouple input of programmable controller | |
US20240348614A1 (en) | Control device and control method | |
JP2019108845A (en) | Fuel consumption calculation device of engine power generation device and fuel consumption calculation method of engine power generation device | |
JP6134226B2 (en) | Four-terminal resistance measuring device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130822 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140318 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140826 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150120 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150213 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150707 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150720 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |