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JP2012058562A - 液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器 - Google Patents

液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器 Download PDF

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JP2012058562A JP2010202772A JP2010202772A JP2012058562A JP 2012058562 A JP2012058562 A JP 2012058562A JP 2010202772 A JP2010202772 A JP 2010202772A JP 2010202772 A JP2010202772 A JP 2010202772A JP 2012058562 A JP2012058562 A JP 2012058562A
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Abstract

【課題】高品位に表示することが可能な液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器を提供する。
【解決手段】一対の基板41,42のうち少なくとも一方の基板において液晶層15に面する側に設けられ、液晶層15を構成する液晶分子を略垂直配向させる垂直配向膜である第1配向膜28及び第2配向膜32と、配向膜28(32)の液晶層15に面する側に設けられた液晶分子の配向方向を規制する配向規制層28a(32a)と、を有し、配向規制層28aは、垂直配向膜に結合した原子移動ラジカル重合開始剤と液晶層15中に含まれたラジカル重合性モノマーとの重合により形成されている。
【選択図】図5

Description

本発明は、液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器に関する。
上記液晶装置として、例えば、液晶プロジェクターのライトバルブとして用いられるTFT(Thin Film Transistor)アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置がある。液晶装置には、一対の基板の液晶層に面する側に液晶分子を所定方向に配向させるための配向膜が設けられている。
配向膜の形成方法としては、例えば、基板上に斜方蒸着法を用いて無機材料からなる配向膜を形成する方法がある。次に、このような配向膜における液晶分子の安定的な配向状態を実現するため、例えば、特許文献1及び特許文献2に記載のように、配向膜上に配向を規制する薄膜を形成する技術が開示されている。この薄膜は、光重合性組成物を含有する液晶層に光を照射して、液晶層中で光重合を行うことにより形成される。
特開2002−357830号公報 特開2009−276445号公報
しかしながら、上記特許文献1及び特許文献2に記載の技術は、一対の基板間に挟持されていた液晶層に光を照射して光重合性組成物を重合させるため、照射光そのものや残った反応生成物が液晶分子にダメージを与えて信頼性(例えば、絶縁抵抗など)を損なう恐れがある。また、重合は配向膜界面において選択的に行われるわけではないので、液晶層中に漂う重合物が液晶層の配向欠陥となる等の課題もあった。
本発明は、上記課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
[適用例1]本適用例に係る液晶装置は、一対の基板間に液晶層が挟持されてなる液晶装置であって、前記一対の基板のうち少なくとも一方の基板において前記液晶層に面する側に設けられ、前記液晶層を構成する液晶分子を略垂直配向させる垂直配向膜と、前記垂直配向膜の前記液晶層に面する側に設けられた前記液晶分子の配向方向を規制する配向規制層と、を有し、前記配向規制層は、前記垂直配向膜に結合した原子移動ラジカル重合開始剤と前記液晶層中に含まれたラジカル重合性モノマーとの重合により形成されていることを特徴とする。
この構成によれば、例えば、液晶層に熱を加えることにより、垂直配向膜に結合した原子移動ラジカル重合開始剤とラジカル重合性モノマーとを重合させた配向規制層が得られる。したがって、垂直配向膜の界面のみに配向安定用の配向規制層を設けることができ、液晶層の中にモノマーが残ることを抑えることができる。よって、反応生成物(不純物)が液晶分子にダメージを与えたり、反応生成物が液晶層中に漂って配向欠陥となることを防ぐことができる。また、配向規制層を光の照射によって形成しないので、液晶層が劣化することを防ぐことができる。その結果、液晶層にダメージを与えることが抑えられ、表示品位を向上させることができる。
[適用例2]上記適用例に係る液晶装置において、前記垂直配向膜は、酸化シリコンを主成分とする無機配向膜からなり、前記原子移動ラジカル重合開始剤がシランカップリング剤であって、前記垂直配向膜のシラノール基と前記シランカップリング剤とが結合していることが好ましい。
この構成によれば、シラノール基とシランカップリング剤が結合しているので、無機配向膜に原子移動ラジカル重合開始剤を効率よく結合させることができる。
[適用例3]上記適用例に係る液晶装置において、前記ラジカル重合性モノマーは、重合性基としてアクリレート基、メタクリレート基、ビニル基、ビニロキシ基、エポキシ基のいずれかを含むことが好ましい。
この構成によれば、ラジカル重合性モノマーが上記重合性基を含むので、ラジカル重合性モノマーと原子移動ラジカル重合開始剤とを熱重合させることが可能となり、垂直配向膜の表面に配向規制層(原子移動ラジカル重合膜)を設けることができる。
[適用例4]上記適用例に係る液晶装置において、前記ラジカル重合性モノマーが液晶性骨格を有することが好ましい。
この構成によれば、液晶性骨格を有するので、ラジカル重合性モノマーの反応生成物が液晶層中に残った場合でも、液晶分子の配向に悪影響を及ぼすことを抑えることができる。
[適用例5]本適用例に係る液晶装置の製造方法は、一対の基板間に液晶層が挟持されてなる液晶装置の製造方法であって、前記一対の基板のうち少なくとも一方の基板において前記液晶層に面する側に、前記液晶層を構成する液晶分子を略垂直配向させる垂直配向膜を形成する配向膜形成工程と、前記垂直配向膜の表面に原子移動ラジカル重合開始剤を塗布する塗布工程と、前記一対の基板間にラジカル重合性モノマーを含む前記液晶層を封入して液晶パネルを形成する液晶パネル形成工程と、前記液晶パネルを加熱することにより、前記原子移動ラジカル重合開始剤と前記液晶層中に含まれる前記ラジカル重合性モノマーとを反応させて、前記垂直配向膜の前記液晶層に面する側に配向規制層を形成する配向規制層形成工程と、を有することを特徴とする。
この方法によれば、垂直配向膜に原子移動ラジカル重合開始剤を塗布し、原子移動ラジカル重合開始剤とラジカル重合性モノマーとを反応させ、垂直配向膜の界面のみに配向安定用の配向規制層を形成するので、液晶層の中にモノマーが残ることを抑えることができる。よって、反応生成物(不純物)が液晶分子にダメージを与えたり、反応生成物が液晶層中に漂って配向欠陥となることを防ぐことができる。また、配向規制層を光の照射によって形成しないので、液晶層が劣化することを防ぐことができる。その結果、液晶層にダメージを与えることが抑えられ、表示品位を向上させることができる。
[適用例6]上記適用例に係る液晶装置の製造方法において、前記垂直配向膜は、酸化シリコンを主成分とする無機配向膜からなり、前記原子移動ラジカル重合開始剤は、シランカップリング剤であることが好ましい。
この方法によれば、無機配向膜のシラノール基とシランカップリング剤とが結合するので、無機配向膜に原子移動ラジカル重合開始剤を効率よく塗布することができる。
[適用例7]上記適用例に係る液晶装置の製造方法において、前記ラジカル重合性モノマーは、重合性基としてアクリレート基、メタクリレート基、ビニル基、ビニロキシ基、エポキシ基のいずれかを含むことが好ましい。
この方法によれば、ラジカル重合性モノマーが上記重合性基を含むので、ラジカル重合性モノマーと原子移動ラジカル重合開始剤と熱重合させることが可能となり、垂直配向膜の表面に配向規制層(原子移動ラジカル重合膜)を形成することができる。
[適用例8]上記適用例に係る液晶装置の製造方法において、前記ラジカル重合性モノマーが液晶性骨格を有することが好ましい。
この方法によれば、液晶性骨格を有するので、ラジカル重合性モノマーの反応生成物が液晶層中に残った場合でも、液晶分子の配向に悪影響を及ぼすことを抑えることができる。
[適用例9]本適用例に係る電子機器は、上記に記載の液晶装置を備えていることを特徴とする。
この構成によれば、上記した液晶装置を備えているので、配向欠陥を防止することが可能となり、高品位な表示が得られる電子機器を提供することができる。
液晶装置の構造を示す模式平面図。 図1に示す液晶装置のA−A'線に沿う模式断面図。 液晶装置の電気的な構成を示す等価回路図。 液晶装置の構造を示す模式断面図。 液晶装置の製造方法を工程順に示すフローチャート。 液晶装置の製造方法のうち一部の工程を示す模式断面図。 照射時間と比抵抗値との関係を示す図表。 電子機器の一例として液晶プロジェクターの構成を示す模式図。
以下、本発明を具体化した実施形態について図面に従って説明する。なお、使用する図面は、説明する部分が認識可能な状態となるように、適宜拡大または縮小して表示している。本実施形態では、一例として投射型映像装置である液晶プロジェクターにおいてライトバルブとして用いられるTFT(Thin Film Transistor)アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例に挙げて説明する。
<液晶装置の構成>
図1は、液晶装置の構造を示す模式平面図である。図2は、図1に示す液晶装置のA−A'線に沿う模式断面図である。以下、液晶装置の構造を、図1及び図2を参照しながら説明する。
図1及び図2に示すように、液晶装置11は、例えば、薄膜トランジスター(以下、「TFT(Thin Film Transistor)素子」と称する。)を画素のスイッチング素子として用いたTFTアクティブマトリクス方式の液晶装置である。液晶装置11は、第1基板12と第2基板13とが、平面視略矩形枠状のシール材14を介して貼り合わされている。
第1基板12及び第2基板13は、例えば、石英などの透光性材料によって構成されている。液晶装置11は、シール材14に囲まれた領域内に液晶層15が封入された構成になっている。なお、シール材14には液晶を注入するための液晶注入口16が設けられ、液晶注入口16は封止材17により封止されている。
液晶層15としては、例えば、誘電率異方性が負の液晶組成物が用いられる。液晶装置11は、シール材14の内周近傍に沿って遮光性材料からなる平面視矩形枠状の額縁遮光膜18が第2基板13に形成されており、この額縁遮光膜18の内側の領域が表示領域19となっている。
額縁遮光膜18は、例えば、遮光性材料であるアルミニウム(Al)で形成されており、第2基板13側の表示領域19の外周を区画するように設けられている。
表示領域19内には、画素領域21がマトリクス状に設けられている。画素領域21は、表示領域19の最小表示単位となる1画素を構成している。シール材14の外側の領域には、データ線駆動回路22及びパネル接続端子43が第1基板12の一辺(図1における下側)に沿って形成されている。パネル接続端子43には、外部と接続するためのフレキシブル基板100が、FPC接続端子44を介して電気的に接続されている。
また、シール材14の内側の領域には、この一辺に隣接する二辺に沿って走査線駆動回路24がそれぞれ形成されている。第1基板12の残る一辺(図1における上側)には、検査回路25が形成されている。第2基板13側に形成された額縁遮光膜18は、例えば、第1基板12上に形成された走査線駆動回路24及び検査回路25に対向する位置(平面的に重なる位置)に形成されている。
一方、第2基板13の各角部(例えば、シール材14のコーナー部の4箇所)には、第1基板12と第2基板13との間の電気的導通をとるための、上下導通部としての上下導通端子26が配設されている。
また、図2に示すように、第1基板12の液晶層15側には、複数の画素電極27が形成されており、これら画素電極27を覆うように第1配向膜28が形成されている。画素電極27は、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明導電材料からなる導電膜である。
一方、第2基板13の液晶層15側には、格子状の遮光膜(BM:ブラックマトリクス)(図示せず)が形成され、その上に平面ベタ状の共通電極31が形成されている。そして、共通電極31上には、第2配向膜32が形成されている。共通電極31は、ITO等の透明導電材料からなる導電膜である。
液晶装置11は透過型であって、第1基板12及び第2基板13における光の入射側と出射側とにそれぞれ偏光板(図示せず)等が配置されて用いられる。なお、液晶装置11の構成は、これに限定されず、反射型や半透過型の構成であってもよい。
図3は、液晶装置の電気的な構成を示す等価回路図である。以下、液晶装置の電気的な構成を、図3を参照しながら説明する。
図3に示すように、液晶装置11は、表示領域19を構成する複数の画素領域21を有している。各画素領域21には、それぞれ画素電極27が配置されている。また、画素領域21には、TFT素子33が形成されている。
TFT素子33は、画素電極27へ通電制御を行うスイッチング素子である。TFT素子33のソース側には、データ線34が電気的に接続されている。各データ線34には、例えば、データ線駆動回路22(図1参照)から画像信号S1,S2,…,Snが供給されるようになっている。
また、TFT素子33のゲート側には、走査線35が電気的に接続されている。走査線35には、例えば、走査線駆動回路24(図1参照)から所定のタイミングでパルス的に走査信号G1,G2,…,Gmが供給されるようになっている。また、TFT素子33のドレイン側には、画素電極27が電気的に接続されている。
走査線35から供給された走査信号G1,G2,…,Gmにより、スイッチング素子であるTFT素子33が一定期間だけオン状態となることで、データ線34から供給された画像信号S1,S2,…,Snが、画素電極27を介して画素領域21に所定のタイミングで書き込まれるようになっている。
画素領域21に書き込まれた所定レベルの画像信号S1,S2,…,Snは、画素電極27と共通電極31(図2参照)との間で形成される液晶容量で一定期間保持される。なお、保持された画像信号S1,S2,…,Snがリークするのを防止するために、画素電極27に電気的に接続された画素電位側容量電極と、容量線の一例であるシールド層57(図4参照)に電気的に接続された容量電極36との間に蓄積容量37が形成されている。
このように、液晶層15に電圧信号が印加されると、印加された電圧レベルにより、液晶分子の配向状態が変化する。これにより、液晶層15に入射した光が変調されて、画像光が生成されるようになっている。
図4は、液晶装置の構造を示す模式断面図である。以下、液晶装置の構造を、図4を参照しながら説明する。なお、図4は、各構成要素の断面的な位置関係を示すものであり、明示可能な尺度で表されている。
図4に示すように、液晶装置11は、一対の基板の一方である素子基板41と、これに対向配置される一対の基板の他方である対向基板42とを備えている。素子基板41を構成する第1基板12、及び対向基板42を構成する第2基板13は、上記したように、例えば、石英基板等によって構成されている。
第1基板12上には、チタン(Ti)やクロム(Cr)等からなる下側遮光膜51が形成されている。下側遮光膜51は、平面的に格子状にパターニングされており、各画素の開口領域を規定している。第1基板12及び下側遮光膜51上には、シリコン酸化膜等からなる下地絶縁膜52が形成されている。
下地絶縁膜52上には、TFT素子33及び走査線35等が形成されている。TFT素子33は、例えば、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、ポリシリコン等からなる半導体層38と、半導体層38上に形成されたゲート絶縁膜53と、ゲート絶縁膜53上に形成されたポリシリコン膜等からなる走査線35とを有する。上記したように、走査線35は、ゲート電極としても機能する。
半導体層38は、チャネル領域38aと、低濃度ソース領域38bと、低濃度ドレイン領域38cと、高濃度ソース領域38dと、高濃度ドレイン領域38eとを備えている。チャネル領域38aは、走査線35からの電界によりチャネルが形成される。下地絶縁膜52上には、シリコン酸化膜等からなる第1層間絶縁膜54が形成されている。
第1層間絶縁膜54上には、蓄積容量37及びデータ線34等が設けられている。蓄積容量37は、TFT素子33の高濃度ドレイン領域38e及び画素電極27に接続された画素電位側容量電極としての中継層55と、固定電位側容量電極としての容量電極36とが、誘電体膜56を介して対向配置されている。
容量電極36及びデータ線34は、下層に導電性ポリシリコン膜A1、上層にアルミニウム膜A2の二層構造を有する膜として形成されている。
容量電極36及びデータ線34は、光反射性能に比較的優れたアルミニウムを含み、かつ、光吸収性能に比較的優れたポリシリコンを含むことから、遮光層として機能し得る。よって、TFT素子33の半導体層38に対する入射光の進行を、その上側で遮ることが可能である。
このような容量電極36は、蓄積容量37の固定電位側容量電極として機能する。容量電極36を固定電位とするためには、上述のように、画素領域21外の定電位源に接続されることで固定電位とされたシールド層57と、コンタクトホール58を介して電気的に接続されることによってなされている。
第1層間絶縁膜54には、TFT素子33の高濃度ソース領域38dとデータ線34とを電気的に接続するコンタクトホール61が開孔されている。言い換えれば、データ線34は、誘電体膜56及び第1層間絶縁膜54を貫通するコンタクトホール61を介して、TFT素子33の半導体層38と電気的に接続されている。具体的には、データ線34が上述のような二層構造をとっており、中継層55が導電性のポリシリコン膜からなることにより、データ線34及び半導体層38間の電気的接続は、導電性のポリシリコン膜によって実現されている。すなわち、下から順に、半導体層38、中継層55のポリシリコン膜、データ線34の下層の導電性ポリシリコン膜A1、その上層のアルミニウム膜A2となる。
また、第1層間絶縁膜54には、TFT素子33の高濃度ドレイン領域38eと蓄積容量37を構成する中継層55とを電気的に接続するコンタクトホール62が開孔されている。第1層間絶縁膜54上には、シリコン酸化膜等からなる第2層間絶縁膜63が形成されている。
第2層間絶縁膜63上には、例えば、アルミニウム等からなるシールド層57が形成されている。また、第2層間絶縁膜63には、上記したように、シールド層57と容量電極36とを電気的に接続するためのコンタクトホール58が形成されている。第2層間絶縁膜63上には、シリコン酸化膜等からなる第3層間絶縁膜64が形成されている。
第2層間絶縁膜63及び第3層間絶縁膜64には、画素電極27と中継層55とを電気的に接続するためのコンタクトホール65,66が開孔されている。具体的には、第2層間絶縁膜63上に形成された第2中継層67を介してコンタクトホール65とコンタクトホール66とが電気的に接続されている。第2中継層67は、シールド層57と同一の膜構成となっており、下層にアルミニウム膜、上層に窒化チタン膜という二層構造を備えている。
つまり、高濃度ドレイン領域38eと画素電極27とは、コンタクトホール62、中継層55、コンタクトホール65、第2中継層67、コンタクトホール66を介して、電気的に接続されている。第3層間絶縁膜64上には、上記した画素電極27及び第1配向膜28が形成されている。
画素電極27は、平面的にマトリクス状に形成されており、例えば、ITO膜等の透明導電性膜からなる。反射型の液晶装置とする場合にはアルミニウム等の材料を用いる。また、画素電極27上には、所定の方向に配向処理が施された第1配向膜28が形成されている。第1配向膜28は、酸化シリコン(SiO2)などの無機材料からなる無機配向膜である。更に、第1配向膜28は、例えば、液晶分子を垂直配向させる垂直配向膜でもある。第1配向膜28の表面には、無機配向膜の配向欠陥を防止するために、液晶分子の配向方向を規制する第1配向規制層28aが設けられている。
第1配向膜28(28a)上には、シール材14(図2参照)により囲まれた空間に液晶等の電気光学物質が封入された液晶層15が設けられている。第2基板13の液晶層15に面する側には、透明な共通電極31を覆って所定の方向に配向処理が施された第2配向膜32が形成されている。
第2配向膜32は、酸化シリコン(SiO2)などの無機材料からなる無機配向膜である。更に、第2配向膜32は、例えば、液晶分子を垂直配向させる垂直配向膜でもある。第2配向膜32の表面には、第1配向膜28と同様に、無機配向膜の配向欠陥を防止するための、液晶分子の配向方向を規制する第2配向規制層32aが設けられている。第1配向規制層28a及び第2配向規制層32aについての説明は後述する。
液晶層15は、画素電極27からの電界が印加されていない状態で第1配向膜28及び第2配向膜32によって所定の配向状態をとる。シール材14は、素子基板41及び対向基板42をそれらの周辺で貼り合わせるための、例えば光硬化性樹脂や熱硬化性樹脂からなる接着剤であり、両基板間の距離を所定値とするためのグラスファイバー或いはガラスビーズ等のスペーサーが混入されている。
なお、第1配向規制層28a及び第2配向規制層32aを形成する際に用いた材料が液晶層15の中に反応生成物として残ってしまうと、配向不良が生じるという問題が発生する。以下、第1配向規制層28a及び第2配向規制層32aの製造方法を含む液晶装置11の製造方法を説明する。
<液晶装置の製造方法>
図5は、液晶装置の製造方法を工程順に示すフローチャートである。図6は、液晶装置の製造方法のうち一部の工程を示す模式断面図である。以下、液晶装置の製造方法を、図5及び図6を参照しながら説明する。
最初に、素子基板41側の製造方法を説明する。ステップS11では、石英基板などからなる第1基板12上にTFT素子33や各配線等を形成する。具体的には、周知の成膜技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術を用いて、第1基板12上にTFT素子33などを形成する。
ステップS12では、画素電極27を形成する。具体的には、TFT素子33等の形成と同様に、周知の成膜技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術を用いて、第1基板12上のTFT素子33の上方に画素電極27を形成する。
ステップS13(配向膜形成工程)では、画素電極27の上方に第1配向膜28である無機配向膜を形成する。無機配向膜の製造方法は、画素電極27及び第3層間絶縁膜64上に、例えば、酸化シリコン(SiO2)などの無機材料を斜方蒸着(斜方蒸着法)によって形成する。第1配向膜28(無機配向膜)の表面には、図6に示すように、シラノール基(−OH)が多数存在する。
ステップS14(塗布工程)では、第1配向膜28(無機配向膜)の表面に重合開始剤を固着(固定)させる。具体的には、シランカップリング剤の形態にした原子移動ラジカル重合開始剤を、第1配向膜28の表面に反応固着させる。反応固着させる方法としては、例えば、有機溶剤にシランカップリング剤を溶かし、この有機溶剤の液中に第1配向膜28が形成された素子基板41を浸漬する(塗布する)。これにより、無機配向膜のシラノール基とシランカップリング剤とが結合し、第1配向膜28の表面に原子移動ラジカル重合開始剤が固着される。なお、反応を促進させるために加熱するようにしてもよい。
重合開始剤としては、例えば、下記化1に示す2−(4−クロロスルフォニルフェニル)エチルトリメトキシシランを用いることができる。また、下記化2に示す、N−(4−クロロメチルベンゾイル)−N−メチルアミノプロピルシランを用いるようにしてもよい。
Figure 2012058562
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その後、素子基板41に付着する未反応物を洗浄し、素子基板41を乾燥させることにより、第1配向膜28の表面に重合開始剤が固着した素子基板41が完成する。次に、対向基板42側の製造方法を説明する。
まず、ステップS21では、石英基板等の透光性材料からなる第2基板13上に、周知の成膜技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術を用いて、共通電極31を形成する。
ステップS22(配向膜形成工程)では、共通電極31上に第2配向膜32である無機配向膜を形成する。無機配向膜の製造方法は、第1配向膜28の製造方法と同様である。まず、対向基板42における共通電極31上に、斜方蒸着法を用いて無機配向膜を形成する。
ステップS23(塗布工程)では、第2配向膜32(無機配向膜)の表面に重合開始剤を固着させる(塗布する)。重合開始剤を固着させる方法は、第1配向膜28のときと同様である。以上により、第2配向膜32の表面に重合開始剤が固着した対向基板42が完成する。次に、素子基板41と対向基板42とを貼り合わせる方法を説明する。
ステップS31では、素子基板41上にシール材14を塗布する。詳しくは、素子基板41とディスペンサー(吐出装置でも可能)との相対的な位置関係を変化させて、素子基板41における表示領域19の周縁部に(表示領域19を囲むように)シール材14を塗布する。
ステップS32では、素子基板41と対向基板42とを貼り合わせて、液晶装置11となる前の液晶パネルを形成する。具体的には、素子基板41に塗布されたシール材14を介して素子基板41と対向基板42とを貼り合わせる。より具体的には、互いの基板41,42の平面的な縦方向や横方向の位置精度を確保しながら行う。
ステップS33(液晶パネル形成工程)では、液晶パネルの液晶注入口16(図1参照)から構造体の内部に液晶を注入し、その後、液晶注入口16を真空封止する。液晶としては、上記したように、誘電率異方性が負の液晶組成物にラジカル重合性モノマーを混合したものである。封止には、例えば、樹脂等の封止材17が用いられる。
ラジカル重合性モノマーとしては、アクリル酸、メタクリル酸、アクリル酸エステルなど、下記化3、化4、化5に示すような、液晶性骨格を有するものが好ましい。下記化3〜化5のR1、R2は、少なくとも一方がアクリレート、メタクリレート、ビニル、ビニロキシ、エポキシなどの重合性基である。ラジカル重合性モノマーが液晶性骨格を有することにより、例えば、ラジカル重合性モノマーの反応生成物が液晶層15中に残った場合でも、液晶分子の配向に悪影響を及ぼすことを抑えることができる。
Figure 2012058562
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ステップS34(配向規制層形成工程)では、液晶パネルを加熱して原子移動ラジカル重合開始剤とラジカル重合性モノマーとを重合反応させる。加熱する温度は、例えば、60℃〜100℃である。加熱することにより重合反応が促進する。下記化6は、ポリメチルメタクリレートを重合した場合の化学構造式である。下記化7は、ビフェニル骨格を有する液晶性モノマーを重合した場合の化学構造式である。
Figure 2012058562
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これにより、第1配向膜28の表面に第1配向規制層28a(原子移動ラジカル重合膜)が、また、第2配向膜32の表面に第2配向規制層32a(原子移動ラジカル重合膜)が形成される。その後、液晶装置11とフレキシブル基板100(図1、図2参照)とを接続する工程などを有して終了する。
図7は、原子移動ラジカル重合によって配向膜を形成した本実施例と、光重合によって配向膜を形成した比較例とにおいて、照射時間と比抵抗値との関係を示す図表である。以下、本実施例と比較例との比抵抗値を、図7の図表を参照しながら説明する。
図7に示す図表は、原子移動ラジカル重合によって配向膜を形成した実施例の液晶装置11と、光重合によって配向膜を形成した比較例の液晶装置とに液晶プロジェクターの光を照射し、照射した時間毎の比抵抗値を、実施例と比較例において求めたものである。なお、配向膜以外の液晶装置の構成は、実施例と比較例において同一とする。
具体的には、ビフェニル系モノマー材料を用いて原子移動ラジカル重合によって配向膜を形成した液晶装置を実施例の液晶装置11とする。また、同じモノマー材料を紫外線で光重合して配向膜を形成した液晶装置を比較例の液晶装置とする。そして、液晶装置に照射する光の照射時間(hrs.)を、0、50、100、200、500の5段階で変えたときの比抵抗値(Ω・cm)を求めた。なお、液晶プロジェクターでの使用を想定して両者にUHPランプ(超高圧水銀ランプ)で、5W/cm2の光を照射しながら液晶層15の比抵抗値の経時変化を求めた。
本実施例の液晶装置11に光を照射した場合、照射時間が長くなるに伴って比抵抗値が低下しているものの、初期的にも比抵抗値が高く経時変化も極めて少ない。また、表示品位に変化は無く、配向も安定している。
比較例の液晶装置に光を照射した場合、初期値でも比抵抗値が低く、重合時点での不純物生成が見られる。また、時間の経過に伴って更に分解反応が進行している。照射時間が200時間の時点では、電圧保持率の低下によるフリッカーが認められた。
このように、光重合によって配向膜を形成した比較例の液晶装置に対し、原子移動ラジカル重合によって配向膜を形成した実施例の液晶装置11の方が、表示品位を高くすることができる。
<電子機器の構成>
図8は、上記した液晶装置を備えた電子機器の一例として液晶プロジェクターの構成を示す模式図である。以下、液晶装置を備えた液晶プロジェクターの構成を、図8を参照しながら説明する。
図8に示すように、液晶プロジェクター901は、上記した液晶装置11が採用された液晶モジュールを3つ配置し、それぞれRGB用のライトバルブ911R,911G,911Bとして用いた構造となっている。
詳しくは、メタルハイドロランプ等の白色光源のランプユニット912から投射光が発せられると、3枚のミラー913及び2枚のダイクロイックミラー914によって、RGBの三原色に対応する光成分R,G,Bに分けられ、各色に対応するライトバルブ911R,911G,911Bにそれぞれ導かれる。特に光成分Bは、長い光路による光損失を防ぐために、入射レンズ915、リレーレンズ916、出射レンズ917からなるリレーレンズ系918を介して導かれる。
ライトバルブ911R,911G,911Bによりそれぞれ変調された三原色に対応する光成分R,G,Bは、ダイクロイックプリズム919により再度合成された後、投射レンズ920を介して、スクリーン921にカラー画像として投射される。
なお、上記したように、3つの液晶モジュールを配置した液晶プロジェクター901に限定されず、例えば、1つの液晶モジュールを配置した液晶プロジェクターに適用するようにしてもよい。
このような構成の液晶プロジェクター901は、上記した液晶装置11が採用された液晶モジュールを介すことによって、配向欠陥を防止することが可能となり、高品位な表示を行うことができる。なお、上記した液晶装置11は、上記した液晶プロジェクター901の他、高精細EVF(Electric View Finder)、携帯電話機、モバイルコンピューター、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、テレビ、ディスプレイ、車載機器、オーディオ機器、照明機器などの各種電子機器に用いることができる。
以上詳述したように、本実施形態の液晶装置11、液晶装置11の製造方法、及び電子機器によれば、以下に示す効果が得られる。
(1)本実施形態の液晶装置11及びその製造方法によれば、無機配向膜からなる配向膜28,32に原子移動ラジカル重合開始剤を塗布し(固着し)、原子移動ラジカル重合開始剤とラジカル重合性モノマーとを熱を加えて反応させ、配向膜28,32の界面のみに配向安定用の配向規制層28a,32aを形成するので、液晶層15の中にモノマーが残ることを抑えることができる。よって、反応生成物(不純物)が液晶分子にダメージを与えたり、反応生成物が液晶層15中に漂って配向欠陥となることを防ぐことができる。また、配向規制層28a,32aを光の照射によって形成しないので、液晶層15が劣化することを防ぐことができる。その結果、液晶層15にダメージを与えることが抑えられ、表示品位を向上させることができる。
(2)本実施形態の電子機器によれば、上記した液晶装置11を備えているので、配向欠陥を防止することが可能となり、高品位な表示が得られる電子機器を提供することができる。
なお、実施形態は上記に限定されず、以下のような形態で実施することもできる。
(変形例1)
上記したように、第1配向膜28及び第2配向膜32の両方の表面に配向規制層28a,32a(原子移動ラジカル重合膜)を形成することに限定されず、例えば、片側の配向膜のみに配向規制層を形成するようにしてもよい。これによれば、上記実施形態と比べて比対称性が低下すると考えられるものの、液晶分子の配向欠陥を抑えることができる。
(変形例2)
上記したように、第1配向膜28及び第2配向膜32である無機配向膜は、斜方蒸着法によって形成することに限定されず、例えば、異方性スパッタ法を用いて形成するようにしてもよい。
11…液晶装置、12…第1基板、13…第2基板、14…シール材、15…液晶層、16…液晶注入口、17…封止材、18…額縁遮光膜、19…表示領域、21…画素領域、22…データ線駆動回路、24…走査線駆動回路、25…検査回路、26…上下導通端子、27…画素電極、28…第1配向膜、28a…第1配向規制層、31…共通電極、32…第2配向膜、32a…第2配向規制層、33…TFT素子、34…データ線、35…走査線、36…容量電極、37…蓄積容量、38…半導体層、38a…チャネル領域、38b…低濃度ソース領域、38c…低濃度ドレイン領域、38d…高濃度ソース領域、38e…高濃度ドレイン領域、41…一対の基板を構成する素子基板、42…一対の基板を構成する対向基板、43…パネル接続端子、44…FPC接続端子、51…下側遮光膜、52…下地絶縁膜、53…ゲート絶縁膜、54…第1層間絶縁膜、55…中継層、56…誘電体膜、58,61,62,65,66…コンタクトホール、63…第2層間絶縁膜、64…第3層間絶縁膜、67…第2中継層、100…フレキシブル基板、901…液晶プロジェクター、911R,911G,911B…ライトバルブ、912…ランプユニット、913…ミラー、914…ダイクロイックミラー、915…入射レンズ、916…リレーレンズ、917…出射レンズ、918…リレーレンズ系、919…ダイクロイックプリズム、920…投射レンズ、921…スクリーン。

Claims (9)

  1. 一対の基板間に液晶層が挟持されてなる液晶装置であって、
    前記一対の基板のうち少なくとも一方の基板において前記液晶層に面する側に設けられ、前記液晶層を構成する液晶分子を略垂直配向させる垂直配向膜と、
    前記垂直配向膜の前記液晶層に面する側に設けられた前記液晶分子の配向方向を規制する配向規制層と、
    を有し、
    前記配向規制層は、前記垂直配向膜に結合した原子移動ラジカル重合開始剤と前記液晶層中に含まれたラジカル重合性モノマーとの重合により形成されていることを特徴とする液晶装置。
  2. 請求項1に記載の液晶装置であって、
    前記垂直配向膜は、酸化シリコンを主成分とする無機配向膜からなり、前記原子移動ラジカル重合開始剤がシランカップリング剤であって、前記垂直配向膜のシラノール基と前記シランカップリング剤とが結合していることを特徴とする液晶装置。
  3. 請求項1又は請求項2に記載の液晶装置であって、
    前記ラジカル重合性モノマーは、重合性基としてアクリレート基、メタクリレート基、ビニル基、ビニロキシ基、エポキシ基のいずれかを含むことを特徴とする液晶装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の液晶装置であって、
    前記ラジカル重合性モノマーが液晶性骨格を有することを特徴とする液晶装置。
  5. 一対の基板間に液晶層が挟持されてなる液晶装置の製造方法であって、
    前記一対の基板のうち少なくとも一方の基板において前記液晶層に面する側に、前記液晶層を構成する液晶分子を略垂直配向させる垂直配向膜を形成する配向膜形成工程と、
    前記垂直配向膜の表面に原子移動ラジカル重合開始剤を塗布する塗布工程と、
    前記一対の基板間にラジカル重合性モノマーを含む前記液晶層を封入して液晶パネルを形成する液晶パネル形成工程と、
    前記液晶パネルを加熱することにより、前記原子移動ラジカル重合開始剤と前記液晶層中に含まれる前記ラジカル重合性モノマーとを反応させて、前記垂直配向膜の前記液晶層に面する側に配向規制層を形成する配向規制層形成工程と、
    を有することを特徴とする液晶装置の製造方法。
  6. 請求項5に記載の液晶装置の製造方法であって、
    前記垂直配向膜は、酸化シリコンを主成分とする無機配向膜からなり、
    前記原子移動ラジカル重合開始剤は、シランカップリング剤であることを特徴とする液晶装置の製造方法。
  7. 請求項5又は請求項6に記載の液晶装置の製造方法であって、
    前記ラジカル重合性モノマーは、重合性基としてアクリレート基、メタクリレート基、ビニル基、ビニロキシ基、エポキシ基のいずれかを含むことを特徴とする液晶装置の製造方法。
  8. 請求項5乃至請求項7のいずれか一項に記載の液晶装置の製造方法であって、
    前記ラジカル重合性モノマーが液晶性骨格を有することを特徴とする液晶装置の製造方法。
  9. 請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の液晶装置を備えることを特徴とする電子機器。
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