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JP2011134777A - 回路基板、回路モジュール、回路基板の製造方法および回路モジュールの製造方法 - Google Patents

回路基板、回路モジュール、回路基板の製造方法および回路モジュールの製造方法 Download PDF

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JP2011134777A JP2009290757A JP2009290757A JP2011134777A JP 2011134777 A JP2011134777 A JP 2011134777A JP 2009290757 A JP2009290757 A JP 2009290757A JP 2009290757 A JP2009290757 A JP 2009290757A JP 2011134777 A JP2011134777 A JP 2011134777A
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Mitsuru Kobayashi
充 小林
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Panasonic Electric Works Co Ltd
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Abstract

【課題】高精度で信頼性の高い回路基板および回路モジュールを提供する。
【解決手段】この回路基板は、素子搭載領域を有するセラミック基板13と、前記セラミック基板13との接合部を具備した樹脂基板12,19とで構成され、前記接合部は、互いに係合可能な位置合わせ係合部を有し、前記セラミック基板上の回路パターンと前記樹脂基板上の回路パターンとが、前記接合部で内部接続されたことを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、回路基板、回路モジュール、回路基板の製造方法および回路モジュールの製造方法に関する。
携帯情報端末などの電子機器は、日ごとにモジュール化が進み、高機能化が急速に進展している。また、省資源や、携帯性の観点から、これらの小型化・軽量化が望まれている。中でも携帯電話用の小型のカメラモジュールは、高画素化が進んでいる。これに伴い、撮像素子のサイズは大型化の傾向にあるが、携帯電話本体の小型化・薄型化への要求は依然として強く、大型化する撮像素子を従来と同様、もしくはさらなる小スペースにて携帯電話内に配置する必要がある。
これらの要求の中、撮像素子の実装基板を、MID(Molded Interconnect Device:射出成型回路部品)に置き換え、機構部品としての機械的機能と、配線回路基板としての電気的機能との融合により、小型化に加え、機器の組み立て合理化と部品の高精度化をはかるべく、研究が進められている。
また、本出願人は、ベアチップ実装を念頭におき、成形技術、メタライジング技術、レーザ加工技術、切断技術などの要素技術を融合した複合加工技術としてMIPTEC(Miceoscopic Integrated Processing Technology)を提案している(たとえば特許文献1乃至3)。
従来、MIDを用いたカメラモジュールは、図10に概要説明図を示すように、射出成型基板で構成された立体回路基板である回路基板1010が、中央に開口部Oを有する中間支持部1013を有する筒状体で構成されている。そして、開口部Oを塞ぐように中間支持部1013の第1の面1013Aに配置された撮像素子1020と、前記開口部Oを塞ぐように前記中間支持部の第2の面1013Bに配置された透光性部材としてのIRフィルタ1030とが相対向するように配置される(非特許文献1)。
そしてこの回路基板1010の上部は縮径されており、縮径によって形成された部分にレンズブロック1040が支持され、図示しない、電磁素子,ピエゾ抵抗素子,高分子素子(人工筋肉)等からなるアクチュエータが搭載され、レンズの位置を調整している。1050は絞りである。
特許第315682号公報 特許第4131094号公報 特許第4207399号公報
松下電工技報 Vol.54 N0.3 図6、7(1999)
このように、カメラモジュールの構造体にMIDを用いると、撮像素子とレンズ、赤外(IR)フィルタの光軸精度が共通部品であるMID1つで決まるため、高精度のカメラモジュールを提供することができる。
しかし、一般的に撮像素子はシリコン(Si)等の半導体、IRフィルタはガラスで構成されるため、10ppm以下の線膨張係数をもつのに対し、MIDは一般的な熱可塑性の樹脂で構成されており、10〜40ppm程度の線膨張係数をもつものである。そのため、温度サイクルなどの環境(温度)変化により、それぞれの接合部に応力が加わり、撮像素子(チップ)と回路基板との間の接続信頼性が損なわれる恐れがある。
また、撮像素子チップがフリップチップ実装される超小型カメラモジュールの場合、回路の密着力を維持しつつ、金型構造上付き合わせ部となる開口部Oに成型ばりを発生させず、かつ撮像素子チップ実装面の平面度および平行度を極限水準まで向上させる必要がある。
また、単純に樹脂MIDをセラミックMIDにした場合は、セラミックMIDと撮像素子の線膨張係数が近いことから,温度サイクルなどの環境(温度)変化に対しても、接合部に応力が加わりにくく、撮像素子(チップ)と回路基板との間の接続信頼性が確保できる。しかしながら、セラミックは焼結時の収縮が大きいことから、十分な寸法精度を得ることが困難である。一般的にセラミックは寸法に対し0.5%〜数%の誤差を免れえないと考えられている。特に立体回路基板を形成しようとすると、形状の制約も大きい。このため、光学部品の位置精度を確保することが難しく、画質の低下を招く。
特に、今後は温度変化が激しい自動車用のカメラ用途、車載LAN用光送受信モジュールにおいても、高画素化が進み、高精度と高信頼性の両立が求められる。特に、撮像素子チップと、光学フィルタ、レンズブロックとの関係は、わずかな位置ずれや、方向ずれによって、大幅な精度低下につながるため、位置精度は極めて重要である。
本発明は、前記実情に鑑みてなされたものであり、高精度で信頼性の高い回路基板を提供することを目的とする。
また、本発明は、高精度で信頼性の高いカメラモジュールを提供することを目的とする。
本発明は、セラミック基板と樹脂基板の利点を適所に活かし、セラミック基板と樹脂基板とを組み合わせ、ハイブリッド基板を構成することで、半導体チップなどの素子チップとの密着性の向上、平面度・平行度の向上、要部の成型ばりの削減という3つの要求項目を満たすようにしたものである。
そこで本発明の回路基板は、素子搭載領域を有するセラミック基板と、前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板とで構成され、前記接合部は、互いに係合可能な位置合わせ係合部を有することを特徴とする。
この構成により、セラミック基板は、撮像素子を構成するシリコンチップなどの半導体チップと、熱膨張係数が近いため、製造工程、および使用時における、温度サイクルなどの環境変化においても、セラミック基板と半導体チップとの接合部への応力発生を抑制し、チップクラックの発生を抑制するとともに、半導体チップとの接続信頼性を維持することができる。一方、複雑な立体形状など、寸法精度を有する部分は加工性に優れた樹脂基板で構成する。また、この樹脂基板上の回路パターンをセラミック基板上の回路パターンと内部接続することで、半導体チップと回路基板との間の接続信頼性を向上しつつ、寸法精度の高い回路基板を提供することが可能となる。
また、本発明は、上記回路基板であって、前記樹脂基板が、前記素子搭載領域を臨む開口部を有し、前記セラミック基板は、前記開口部に対応する領域に撮像素子の撮像領域を具備したものを含む。
この構成により、撮像素子を搭載してカメラモジュールを形成するための回路基板として、撮像素子チップの搭載はシリコンに熱膨張係数の近いセラミック基板とし、開口部を有する筒状部、レンズブロック搭載部などは、樹脂基板で構成することで、信頼性が高く、寸法精度の高い回路基板を提供することが可能となる。
また、本発明は、上記回路基板であって、前記セラミック基板は基準貫通孔を有し、前記樹脂基板が前記基準貫通孔に対して係合可能な凸部を有するものを含む。
この構成により、セラミック基板と樹脂基板との位置合わせが容易となり、位置精度の向上を図ることができる。
また、本発明は、上記回路基板であって、前記セラミック基板は平板であるものを含む。
この構成により、製造が容易であり、材料コスト、製造コストともに低減を図ることができる。また、平板は加工が容易であり、平坦性を得やすいため、平坦性を要する部分は平板で構成し、これに加工性の容易な樹脂基板で立体部分を形成することで、信頼性の高い回路基板を得ることが可能となる。さらにまた単層セラミックの場合、基板との接続に、銅、銀、半田を用いた金属ボールやろう付け、圧入などを行った金属端子を用いることができる。
また、本発明は、上記回路基板であって、前記セラミック基板が、中央に開口部を有する中間支持部を有する筒状体であり、(前記開口部を塞ぐように前記中間支持部の第1の面に撮像素子を搭載すべく)前記第1の面に形成された撮像素子搭載領域と、(前記開口部を塞ぐように前記中間支持部の第2の面に透光性部材を搭載すべく)前記第2の面に形成された透光性部材搭載領域とを具備し、前記樹脂基板は前記開口部に対応する位置にレンズユニットを支持する支持部を具備したものを含む。
この構成により、位置精度が高く、変形しにくいセラミック基板に撮像素子チップおよび、IRフィルタなどのガラス材料からなる透光性部材を接合することで、両者の平行性を維持するように実装可能である。またレンズユニットを樹脂基板に搭載することで、位置精度の向上を図ることができる。また、樹脂基板内に、レンズユニットを駆動するためのアクチュエータなどを内蔵することができ、配線が容易で信頼性の高いカメラモジュールを製造するための回路基板を提供することができる。
また、本発明は、上記回路基板であって、前記接合部は接着剤を介して固着されたものを含む。
この構成により、セラミック基板と樹脂基板とを独立して形成し、接合すればよいため、製造のタイミングに自由度をもたせることができる。なおセラミック基板および樹脂基板の接合部を鏡面研磨しておき、接着剤なしに、圧入により結合することも可能である。
また、本発明は、上記回路基板であって、前記接合部は、前記セラミック基板の一部が前記樹脂基板内にインサート成形されたものを含む。
この構成により、基板として、一体形成可能であるため、製造が容易である。
また本発明は、素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板を形成する工程と、接着性樹脂を介して、前記セラミック基板と前記樹脂基板とを接合する工程とを具備する。
また本発明は、素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、インサート成形により前記セラミック基板の第1の面を基準面とし、前記セラミック基板上に樹脂基板を成形する工程とを具備する。
この構成によれば、セラミック基板の第1の面を基準面としてインサート成形を行うため、基準面を平坦性の高い面で構成することができ、この基準面に対して樹脂形成を行うため、位置精度の優れた立体配線基板を形成することが可能となる。この場合は、インサート成形後に回路パターンを形成してもよい。
また、本発明の回路基モジュールは、素子搭載領域を有するセラミック基板と、前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板とで構成され、前記接合部は、互いに係合可能な位置合わせ係合部を有し、前記素子搭載領域に半導体チップが搭載される。
この構成により、セラミック基板は、撮像素子を構成するシリコンチップなどの半導体チップと、熱膨張係数が近いため、製造工程、および使用時における、温度サイクルなどの環境変化においても、セラミック基板と半導体チップとの接合部への応力発生を抑制し、チップクラックの発生を抑制するとともに、半導体チップとの接続信頼性を維持することができる。一方、複雑な立体形状など、配線精度を有する部分は樹脂基板で構成する。また、この樹脂基板上の回路パターンをセラミック基板上の回路パターンと内部接続することで、半導体チップと回路基板との間の接続信頼性を向上しつつ、寸法精度の高い回路モジュールを提供することが可能となる。
また、本発明は、上記回路モジュールであって、前記素子搭載領域に撮像素子チップが搭載され、前記樹脂基板は、前記素子搭載領域を臨む開口部を有するものを含む。
この構成により、撮像素子を搭載してカメラモジュールを形成するための回路基板として、撮像素子チップの搭載はシリコンに熱膨張係数の近いセラミック基板とし、開口部を有する筒状部、レンズブロック搭載部などは、樹脂基板で構成することで、信頼性が高く、寸法精度の高い回路モジュールを提供することが可能となる。
また、本発明は、上記回路モジュールであって、前記セラミック基板は基準貫通孔を有し、前記樹脂基板は前記基準貫通孔に対して係合可能な凸部を有するものを含む。
この構成により、セラミック基板と樹脂基板との位置合わせが容易となり、位置精度の向上を図ることができる。
また、本発明は、上記回路モジュールであって、前記セラミック基板は平板であるものを含む。
この構成により、製造が容易であり、材料コスト、製造コストともに低減を図ることができる。また単層セラミックの場合、基板との接続に、銅、銀、半田を用いた金属ボールやろう付け、圧入などを行った金属端子を用いることができる。
また、本発明は、上記回路モジュールであって、前記セラミック基板は、中央に開口部を有する中間支持部を有する筒状体であり、前記開口部を塞ぐように前記中間支持部の第1の面に搭載された撮像素子チップと、前記開口部を塞ぐように前記中間支持部の第2の面に搭載された透光性部材とを具備し、前記樹脂基板は前記開口部に対応する位置にレンズユニットを支持する支持部を具備したものを含む。
この構成により、セラミック基板に撮像素子チップおよび、IRフィルタなどのガラス材料からなる透光性材料を接合し、両者の平行性を維持し、高画質のカメラモジュールを製造可能能である。またレンズユニットを樹脂基板に搭載することで、高密度パターンを形成可能であり、配線密度の向上を図ることができる。また、レンズユニットを駆動するためのアクチュエータなどを内蔵することができ、配線が容易で信頼性の高いカメラモジュールを製造することができる。また、回路基板を介してアクチュエータへの給電ができ、配線長を短くすることができ、電気的損失が少なく、小型でかつ外観性に優れたカメラモジュールを提供することが可能となる。
また、本発明は、上記回路モジュールであって、前記接合部は接着剤を介して固着されたものを含む。
また、本発明は、上記回路モジュールであって、前記接合部は、前記セラミック基板の一部が前記樹脂基板内にインサート成形されたものを含む。
また、本発明の回路モジュールの製造方法は、素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板を形成する工程と、前記セラミック基板と前記樹脂基板とを接着性樹脂を介して接合する工程と、前記素子搭載領域に半導体チップを搭載する工程とを含む。
望ましくは、前記セラミック基板上の回路パターンと前記樹脂基板上の回路パターンとが、前記接合部で内部接続することで、より配線長が短く、外観もよく小型化をはかることができる。
また本発明は、上記回路モジュールの製造方法であって、前記接合する工程後に、前記セラミック基板および前記樹脂基板の表面に回路パターンを形成する工程を含む。
このように、セラミック基板と樹脂基板を一体化した後に回路(パターン)形成を行うと、冶具や画像認識等を用いて樹脂基板を基準にセラミックへの回路形成が可能である。これにより、レンズなどの光学部品の位置決めを行う樹脂基板とセラミック基板上の回路パターンの位置精度が飛躍的に向上することで、画質の向上、組み立て時の光軸無調整化、などの利点を得ることができる。
また、本発明の回路モジュールの製造方法は、素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、インサート成形により前記セラミック基板の第1の面を基準面とし、前記セラミック基板上に樹脂基板を成形する工程と、前記素子搭載領域に半導体チップを搭載する工程とを含む。
また本発明は、上記回路モジュールの製造方法であって、前記樹脂基板を成形する工程後に、前記セラミック基板および前記樹脂基板の表面に回路パターンを形成する工程を含む。
また、内部配線を有する多層配線基板をセラミック基板として用いることで、極めてコンパクトな実装が実現される。
また、外部電源からの給電用の外部接続端子を樹脂基板上に形成することで、アクチュエータとの距離がきわめて近い位置に外部接続端子を配置することができ、配線の引き回しの低減を図ることができ、配線抵抗の低減が実現されるだけでなく、外観性が良好となる。
本発明によれば、セラミック基板と樹脂基板の利点を適所に活かし、セラミック基板と樹脂基板とを組み合わせ、ハイブリッド基板を構成することで、半導体チップなどの素子チップとの密着性の向上、平面度・平行度の向上、要部の成型ばりの削減という3つの要求項目を満たす回路基板を提供することができる。
従って、素子チップとの接合性が良好で、温度サイクルに対しても信頼性が高くかつ、寸法精度の高い回路基板を提供することができる。また小型かつ薄型で外観性に優れたカメラモジュールなどの回路モジュールを提供することが可能となる。
本発明の実施の形態1のカメラモジュールを示す断面図 本発明の実施の形態1のカメラモジュール用の回路基板を示す断面図 本発明の実施の形態1のカメラモジュールの実装工程を示す断面図 本発明の実施の形態1のカメラモジュールの実装工程の要部拡大断面図であり、(a)はセラミック基板に第1の樹脂基板を装着した状態を示す図、(b)はセラミック基板に第1の樹脂基板を係止するためのキャップを形成した状態を示す図 本発明の実施の形態2のカメラモジュールを示す断面図 本発明の実施の形態3のカメラモジュールを示す断面図 本発明の実施の形態4のカメラモジュールを示す断面図 本発明の実施の形態5のカメラモジュールを示す断面図 本発明の実施の形態6のカメラモジュールを示す断面図 従来例のカメラモジュールを示す断面図
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態となるカメラモジュールについて説明する。
(実施の形態1)
このカメラモジュール1は、図1乃至3に概要を説明するための断面図を示すように、セラミック基板13とこのセラミック基板に接合される第1及び第2の樹脂基板12、19とで構成された立体回路基板としての回路基板10に、撮像素子チップ20と、IRフィルタ30と、レンズユニット40、絞り50とが搭載されたものである。この回路基板10は、セラミック基板13と、第1及び第2の樹脂基板12,19との接合体で構成されており、セラミック基板13が、絶縁層131と配線層132とを有する積層セラミックで構成され、中心の開口部Oに向けて突出する中間支持部133を有している。そして第1の樹脂基板12との接合部にはセラミック基板13の中間支持部133の一部を貫通する貫通孔134を具備し、この貫通孔134に、第1の樹脂基板12の凸部121が挿通せしめられ、固定されることで、第1の樹脂基板12とセラミック基板13との位置合わせおよび固定が可能になっている。図1はこのカメラモジュールを実装用の配線基板100上に搭載した状態を示す図であり、図2は回路基板10の分解図、図3はレンズユニット装着前のカメラモジュールを示す図である。
このカメラモジュールは、図1に示すように、セラミック積層基板と樹脂基板との合成体で構成されたハイブリッド立体回路基板である回路基板10に実装されている。そして、中央に開口部Oを有する中間支持部133を有する筒状体を構成している。そして、開口部Oを塞ぐように中間支持部133の第1の面133Aに配置された撮像素子チップ20と、開口部Oを塞ぐように中間支持部133の第2の面133Bに配置されたIRフィルタ30とが相対向するように配置される。また、処理回路などのチップ部品は積層基板で構成される立体配線基板内に埋め込まれている。
またこのセラミック基板13は、中央に開口部Oを有する中間支持部133を有する筒状体であり、開口部Oを塞ぐようにこの中間支持部133の第1の面133Aに撮像素子チップ20を搭載すべく、撮像素子搭載領域を有している。また、この開口部Oを塞ぐように中間支持部133の第2の面133Bに透光性部材としてのIRフィルタ30を搭載すべく、IRフィルタ用の搭載領域とを具備している。またこの第1の樹脂基板12に係合される第2の樹脂基板19はこの開口部Oに対応する位置にレンズユニット40を支持する支持部を有する。
さらにまた、この貫通孔134の中心部底面には、中間支持部133の第1の面133Aに形成された配線パターン135と同層で形成された位置合わせマーク135Mが形成されている。
そして第1の樹脂基板12は第2の樹脂基板19との接合部には、位置合わせ用の凹部122を有しこの位置合わせ用の凹部122の中央には光軸基準となる基準孔123を具備している。そしてこの基準孔123を介して上記位置合わせマーク135Mが基準孔123を介して視認可能となっている。
またこの第2の樹脂基板19は筒状体からなる樹脂成型体で構成され、下方に第1の樹脂基板12の位置合わせ用の凹部122に符合する位置合わせ用の凸部191を有するとともに、内側にレンズユニット40を上下動可能に支持し、第1の樹脂基板12と結合される。
撮像素子チップ20は、シリコン基板表面に形成されたイメージセンサなどの光電変換部とこれに接続された電荷転送部とで構成される。中間支持部133で囲まれた開口部O内に、この撮像素子チップ20の光電変換部である撮像領域21が位置するように、中間支持部133の第1の面133Aにバンプ22を介してフリップチップ接続されている。この開口部Oの周辺はセラミックで構成されているため、バリもなく、平滑な面となっている。
また、IRフィルタ30はガラス基板で構成され、中間支持部133の第2の面133Bに接着性樹脂を介して接合されている。
また第2の樹脂基板19に搭載されるレンズユニット40は、第1の樹脂基板に内蔵された電磁素子,ピエゾ抵抗素子,高分子素子(人工筋肉)等(図示せず)を用いたアクチュエータによりガイド軸をレンズユニットの支持部が摺動することで、レンズユニットのレンズが光軸に沿って移動し、撮像素子チップ20との距離を調整できるようになっている。
また、この回路基板10を搭載する実装用の配線基板100の裏面にもチップ部品110が搭載されているが、表面側において、CCDイメージセンサとその出力信号を電気的に補正して、カメラの解像度や色調、シェーディングなどを補正するDSPチップ60(デジタル・シグナル・プロセッサ)が搭載されている。
組み立てに際しては、まず、セラミックグリーンシート上に所望の回路パターンを形成し、積層することで、セラミック基板13を成形する。また射出成形により第1及び第2の樹脂基板12,19を成形し、表面に回路パターンを形成する(回路パターンの形成については後述する)。図2に示すようにセラミック基板13の中間支持部133の一部を貫通する貫通孔134に、第1の樹脂基板12の凸部121を挿通し、固定する。固定に際してはこの貫通孔134にエポキシ樹脂からなる接着性樹脂を充填し、第1の樹脂基板12の凸部121を位置合わせし、挿入して硬化させる。このとき、図示しないが、回路パターン同士が当接部で内部接続することで、セラミック基板上の回路と第1の樹脂基板12上の回路とが電気的に接続されるようになっている。
そして、撮像素子チップ20、透光性部材としてのIRフィルタ30を中間支持部133の第1及び第2の面133A,133Bに順次装着する。
そして最後に、第1の樹脂基板12の位置合わせ用の凹部122の中央に設けられた光軸基準となる基準孔123を介して位置合わせマーク135Mに位置合わせし、第2の樹脂基板19の凸部191を装着する。このときも、図示しないが、回路パターン同士が当接部で内部接続することで、第1の樹脂基板12の回路と第2の樹脂基板19上の回路とが電気的に接続されるようになっている。
この構成によれば、撮像素子チップ20を搭載する中間支持部133の第1の面133Aを基準面とし、この基準面に対して平行となるように第1の樹脂基板12が装着されるが、この第1の面133Aはセラミック基板表面であるため、高度の平滑性と高精度の平坦性(平面性)を維持するように形成することができる。また第2の樹脂基板19の組み立てに際しては、位置合わせ用の凹部122の中央に形成された光軸基準となる基準孔123を介してセラミック基板13の第1の面133Aに形成された位置合わせマーク135Mが基準孔123を介して視認可能となっているため、基準面である第1の面133Aに対して第2の樹脂基板19の位置合わせを行うことができる。そしてこの第1の面133Aを基準面として順次、第1の樹脂基板、第2の樹脂基板を組み立てることで、高精度の回路モジュールを形成することができる。平坦性を維持するために、1点をこの基準孔で位置合わせし、他の点では、接着性樹脂を仮硬化した状態で位置合わせし、相互の基板間の平行度を維持するのが望ましい。
このようにして、容易に高精度の組み立てが可能となる。
ここで撮像素子チップ20はCCDイメージセンサチップであるが、撮像素子チップ20のセンサ部の周辺部に、DSP機能の回路を配置したいわゆるシステム・オン・チップ(SOC)型の固体撮像素子を用いるようにしてもよい。
これにより更なる小型化を図ることが可能となる。
以上のように、撮像素子チップ20が搭載されるセラミック基板13は、撮像素子を構成するシリコンチップと熱膨張係数が近いため、製造工程、および使用時における、温度サイクルなどの環境変化においても、接合部への応力発生を抑制することができ、チップクラックの発生を抑制することができる。また寸法精度を要する部分は樹脂基板で構成し、この樹脂基板上の回路パターンをセラミック基板上の回路パターンと内部接続しているため、半導体チップと回路基板との間の接続信頼性を向上しつつ、寸法精度の高い回路基板を提供することが可能となる。
また、回路基板10を介してアクチュエータへの給電を行うことができるため、配線長を短くすることができ、電気的損失が少なく、小型でかつ外観性に優れたカメラモジュールを提供することが可能となる。
本発明を実施することにより、固体撮像装置の小型化に有効である。
なお、透光性部材としては、IRフィルタ30に限定されることなく、透光性基板にフィルタ膜あるいは反射防止膜を形成したものを用いてもよい。このように透光性基板にフィルタ機能や反射防止機能を持たせた場合には、より光学特性を向上させることが出来る。
本実施の形態において回路基板10を構成するセラミック基板は積層セラミックからなる立体配線基板で構成されており、セラミックグリーンシートを積層する際に、処理回路などのチップ部品を搭載しながら、積層し、焼成することによって、チップ部品を立体配線基板内に埋め込むことができる。また、回路部が多層構造であるため、回路設計の自由度が向上し、ノイズに強い回路配置や設計変更時の回路引き回しが容易となる。
また、セラミック基板13と第1の樹脂基板12との接合に際しては、接着性樹脂で接合してもよいが、インサート成型を行ってもよい。インサート成型を行う場合には、セラミック基板13の第1の面133Aを基準面として金型の基準面と合わせることで、平行度を維持した第1の樹脂基板12を得ることができる。
さらにまた、セラミック基板13と第1の樹脂基板12との接合に際しては、図4(a)および(b)に示すように、セラミック基板13の第2の面133Bから貫通孔134に第1の樹脂基板12の位置合わせ用凸部121を貫通させ、第1の面133A側で熱着冶具200で圧着してキャップ部121Cを形成して、止めるようにしてもよい。
また、これらの基板への回路パターンの形成に際しては、セラミック基板、樹脂基板ともに同様に形成可能である。例えば以下のような方法をとることができる。
1)樹脂基板表面をプラズマ処理して微細な凹凸を付与する粗面化処理を施す。
2)樹脂基板表面全体に下地層として薄い金属膜を設ける。下地層の形成は、回路基板を構成するための絶縁性基材の表面にスパッタリングを行うことで、実現する。また、スパッタリングのほか、触媒を付与した後に無電解めっきをおこなったり、CVDやPVDなど、任意の方法で形成することができる。また下地層の材料としては、Cu,Ni,Pd,Cr,Ag等があり、スパッタリングをおこなって形成する場合には、薄い下地層を形成する。また、下地層はめっき用触媒やめっき用触媒の化合物を樹脂基板の表面に付着させることによっても形成することができる。
3)レーザ照射
樹脂基板の表面にレーザ等の電磁波を照射して電磁波を照射した部分の薄い下地層を除去する。例えば非回路部の回路部との境界領域の下地層を除去する。
4)めっき
境界領域にレーザを照射したのち、電気めっきにより、回路部の下地層に銅などのめっき層を析出させる。
5)下地層の除去
表面に露呈する下地層をソフトエッチングにより除去し、回路パターンを形成する。
このようにして、高精度で信頼性の高い回路パターンを容易に形成することができる。
この回路パターンの形成は、セラミック基板、第1及び第2の樹脂基板それぞれに対し組み立て前に行ってもよいし、組み立て後におこなってもよい。また、セラミック基板として積層セラミック基板を用いる場合には、グリーンシートを用いて焼成と同時に行うこともできるが、セラミック基板側面への回路パターンの形成はセラミック基板13と第1の樹脂基板12とを接合し一体化した後に行うようにしてもよい。
セラミック基板と樹脂基板を一体化した後に回路形成を行うと、冶具や画像認識等を用いて樹脂基板を基準にセラミックへの回路形成が可能である。これにより、レンズなどの光学部品の位置決めを行う樹脂基板とセラミック基板上の回路パターンの位置精度が飛躍的に向上することで、画質の向上、組み立て時の光軸無調整化、などの利点が得られる。
(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2について説明する。前記実施の形態1では、樹脂基板を2分割し、第1の樹脂基板と第2の樹脂基板で構成したが、本実施の形態では図5に示すようにレンズブロックを搭載した、樹脂基板19Sを、前記実施の形態1の第1の樹脂基板12と同様、直接セラミック基板13に装着したものである。
すなわち、この回路基板は、セラミック基板13とこれに接合される樹脂基板19Sとで構成され、セラミック基板13に形成された貫通孔134に符合するように、樹脂基板19Sが位置合わせ用の凸部191を有している。
本実施の形態では、この樹脂基板19S内に、前記実施の形態1における第1及び第2の樹脂基板12,19で具備したものと同様の回路部を搭載することで、一体化している。
この場合は、樹脂基板19Sをセラミック基板13に位置合わせし、接合した後、撮像素子チップ20、IRフィルタ30、レンズユニット40などを搭載する。
本実施の形態の回路モジュールによれば、回路基板がセラミック基板13と樹脂基板19Sとの2つで構成されるため、構成の簡略化をはかることができ、組み立て作業性も良好である。
(実施の形態3)
次に、本発明の実施の形態3について説明する。前記実施の形態2では、セラミック基板として積層セラミック基板を用いたが、本実施の形態では、図6に示すように、単層セラミック基板13Sを用いたものである、他部については、前記実施の形態2と同様である。
すなわち、この回路基板は、単層セラミックで構成され、表面に配線パターンの形成された単層セラミック基板13Sとこれに接合される樹脂基板19Sとで構成され、単層セラミック基板13Sに形成された貫通孔134に符合するように、樹脂基板19Sが位置合わせ用の凸部191Sを有している。
本実施の形態では、セラミック基板が単層セラミックである分、積層セラミック基板内に内蔵していた、回路素子は、実装用の配線基板100上にチップ部品として搭載する。あるいはセラミック基板13Sを金型内に装着し、インサート成型により樹脂基板を形成する場合には、セラミック基板13S表面にチップ部品を搭載しておき、このチップ部品を樹脂で埋め込むようにしてもよい。
(実施の形態4)
次に、本発明の実施の形態4について説明する。前記実施の形態1乃至3では、セラミック基板として立体基板を用いたが、本実施の形態では、図7に示すように、開口部を持たないセラミック基板13Pを用いたものである。
本実施の形態のカメラモジュールは、開口部を持たないセラミック基板13Pの第2の面133Bに撮像素子チップ20を、バンプ22を介してフリップチップ実装し、このセラミック基板13Pに接合された第1の樹脂基板12にフィルタ係止部124を設け、このフィルタ係止部124にIRフィルタ30を装着したものである。
前記実施の形態1乃至3ではセラミック基板13,13Sに開口部Oを有する中間支持部133を設け、この中間支持部133の両面に撮像素子チップ20とIRフィルタ30とを実装したが、本実施の形態では、撮像素子チップ20のみセラミック基板13Pの第2の面133Bに搭載し、IRフィルタ30は第1の樹脂基板12に装着する。また、セラミック基板13Pと第1の樹脂基板12との接合部も、貫通穴ではなくセラミック基板13Pに形成された位置合わせ用の凹部134Pとし、これに、接着性樹脂を介して、第1の樹脂基板12の位置合わせ用の凸部121を挿入することで接合している。
また、フィルタ係止部124をダムとし、撮像領域21を有する撮像素子チップ20のまわりにアンダーフィル23を充填している。
さらにまた、セラミック基板13Pの第1の面133AにはDSPチップ60を搭載し、ここにもアンダーフィル23を充填している。
また、ここでは、チップ部品110も、モジュール搭載面側に搭載するようにしてもよい。
他は前記実施の形態1と同様であるため、ここでは説明を省略する。
本実施の形態では、セラミック基板の両面に電子部品を実装することで、上下方向に部品を積層し易くなり、より専有面積の小さいカメラモジュールを形成することが可能となる。
(実施の形態5)
次に、本発明の実施の形態5について説明する。前記実施の形態4では、セラミック基板として立体基板を用いたが、本実施の形態では、図8に示すように、平板状のセラミック基板13Fを用いたものである。
本実施の形態のカメラモジュールは、平板状のセラミック基板13Fの第2の面133Bに撮像素子チップ20を、バンプ22を介してフリップチップ実装し、このセラミック基板13Fに接合された第1の樹脂基板12にフィルタ係止部124を設け、このフィルタ係止部124にIRフィルタ30を装着したものである。
前記実施の形態1乃至3ではセラミック基板13,13Fに開口部Oを有する中間支持部133を設け、この中間支持部133の両面に撮像素子チップ20とIRフィルタ30とを実装したが、本実施の形態では、セラミック基板を平板で構成したため、IRフィルタは第1の樹脂基板12に装着する。また、セラミック基板13Fと第1の樹脂基板12との接合部も、貫通穴ではなくセラミック基板13Fに形成された位置合わせ用の凹部134Fとし、これに、接着性樹脂を介して、第1の樹脂基板12の位置合わせ用の凸部121を挿入することで接合している。
また、フィルタ係止部124をダムとし、撮像素子チップ20のまわりにアンダーフィル23を充填している。
さらにまた、セラミック基板13Fの第1の面133AにはDSPチップ60を搭載し、ここにもアンダーフィル23を充填している。
また、ここでは、チップ部品110は、モジュール搭載面に対向する面側に搭載している。そして、実装用の配線基板100上との接合は、半田ボール16あるいは半田ボールを搭載した基板を用いることで、実装用の配線基板100とセラミック基板13Fとの間に間隔を形成することができる。またピンタイプの金属端子15を用いてもよい。
金属端子15の場合は、その金属のたわみ性質を利用して、セラミック基板13F(アルミナ等)と回路基板100(ガラスエポキシ等)の線膨張係数差による応力で生じるはんだクラック等に起因する接合不具合を吸収するはたらきを持つ。
本実施の形態では、平板状のセラミック基板を用いているため、低コストである。
(実施の形態6)
次に、本発明の実施の形態6について説明する。
本実施の形態では、図9に示すように、レンズブロックを樹脂により一体形成し、絞り部51を形成したレンズブロック部42を、前記実施の形態2で用いたセラミック基板13Sに直接装着したものである。
この構成によれば、絞り部51とレンズブロックが一体形成されているため、外乱光の入射を防止することができる。
また、レンズブロック部が直接、撮像素子チップ20の搭載されたセラミック基板に実装されるため、レンズと撮像素子チップ20間の光軸精度をさらに向上することができる。
さらにまた筐体と絞りを兼ねているため、部品点数の削減を図ることができるとともに、組み立てコストの低減を図ることができる。
他は前記実施の形態1と同様であるため、ここでは説明を省略する。
なお前記実施の形態では、回路基板として、グリーンシートを用いた積層基板および射出成形によって形成した樹脂基板を用いたが、種々の基板材料が適用可能である。ここで用いるセラミック基板としては、アルミナ、ジルコニア、窒化アルミニウム、窒化珪素などが適用可能である。例えば1000℃以下で低温焼結が可能なセラミック誘電体材料LTCC(低温同時焼成セラミック:Low Temperature Co-fired Ceramics)からなり、厚さが10μm〜200μmのグリーンシートに、低抵抗率のAgやCu等の導電ペーストを印刷して所定のパターンを形成し、複数のグリーンシートを絶縁層として用いて、適宜一体的に積層し、焼結することにより内部導体層を備えた絶縁層(誘電体層)として製造することが出来る。これらの誘電体材料としては、例えばAl、Si、Srを主成分として、Ti、Bi、Cu、Mn、Na、Kを副成分とする材料や、Al、Si、Srを主成分としてCa、Pb、Na、Kを複成分とする材料や、Al、Mg、Si、Gdを含む材料や、Al、Si、Zr、Mgを含む材料が適用可能である。ここで、誘電率は5〜15程度の材料を用いる。なお、セラミック誘電体材料の他に、樹脂積層基板や樹脂とセラミック誘電体粉末を混合してなる複合材料を用いてなる積層基板を用いることも可能である。この場合は、セラミック誘電体粉末の含有量の多いものは本発明におけるセラミック基板として用いることができ、樹脂材料の含有量の多いものは樹脂基板として用いることができる。また、前記セラミック基板をHTCC(高温同時焼成セラミック:High Temperature Co-fired Ceramics)技術を用いて、誘電体材料をAlを主体とするものとし、内部導体層として伝送線路等をタングステンやモリブデン等の高温で焼結可能な金属導体として構成しても良い。
また、グリーンシートに限定されることなく、他のセラミックにも適用可能である。
また、樹脂基板としては、LCP(液晶ポリマー),PPS(ポリフェニレンサルファイド),PEEK(ポリエーテルエーテルケトン),PPA(ポリフタルフタルアミド)などの熱可塑性樹脂、エポキシ等の熱硬化性樹脂、プリプレグを用いた積層基板などにも適用可能である。
セラミック基板13と第1の樹脂基板を接合するための接着剤としては両者の熱膨張係数が近い場合には、エポキシ樹脂などの硬い接着剤を使用し、両者の熱膨張係数の差が大きい場合には、ゴム、エラストマ、シリコーンなどの柔らかい接着剤を用いることで構造体のクラック発生を抑制しつつ、寸法精度の向上を図ることができる。
なお、前記実施の形態では、カメラモジュールについて説明したが、カメラモジュールに限定されることなく、ジャイロセンサモジュール、LEDモジュールなど他のデバイスにも適用可能であることはいうまでもない。
以上、本発明者らによってなされた発明を適用した実施の形態について説明したが、この実施の形態による本発明の開示の一部をなす記述及び図面により本発明は限定されることはない。すなわち、上記実施の形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれることは勿論である。
1 カメラモジュール
10 回路基板
12 第1の樹脂基板
121 位置合わせ用の凸部
122 位置合わせ用の凹部
123 基準孔
124 フィルタ係止部
13 (積層)セラミック基板
13S 単層セラミック基板
13F 平板状のセラミック基板
131 絶縁層
132 配線層
133 中間支持部
133A 第1の面
133B 第2の面
134 貫通孔
134P 位置あわせ用の凹部
135 配線パターン
135M 位置合わせマーク
15 ピンタイプの金属端子
16 半田ボール
19 第2の樹脂基板
19S 樹脂基板
191 位置合わせ用の凸部
20 撮像素子チップ
21 撮像領域
22 バンプ
23 アンダーフィル
30 IRフィルタ
40 レンズユニット
42 レンズブロック部
50 絞り
51 絞り部
O 開口部
100 実装用の配線基板
110 チップ部品

Claims (17)

  1. 素子搭載領域を有するセラミック基板と、
    前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板とで構成され、
    前記接合部は、互いに係合可能な位置合わせ係合部を有する回路基板。
  2. 請求項1に記載の回路基板であって、
    前記樹脂基板は、前記素子搭載領域を臨む開口部を有する回路基板。
  3. 請求項1または2に記載の回路基板であって、
    前記セラミック基板は基準貫通孔を有し、
    前記樹脂基板は前記基準貫通孔に対して係合可能な凸部を有する回路基板。
  4. 請求項2または3に記載の回路基板であって、
    前記セラミック基板は平板である回路基板。
  5. 請求項2または3に記載の回路基板であって、
    前記セラミック基板は、中央に開口部を有する中間支持部を有する筒状体であり、
    前記中間支持部の第1の面に形成された撮像素子搭載領域と、
    前記中間支持部の第2の面に形成された透光性部材搭載領域とを具備し、
    前記樹脂基板は前記開口部に対応する位置にレンズユニットを支持する支持部を具備した回路基板。
  6. 請求項1乃至5のいずれかに記載の回路基板であって、
    前記接合部は、前記セラミック基板の一部が前記樹脂基板内にインサート成形されたものである回路基板。
  7. 素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、
    樹脂基板を形成する工程と、
    接着性樹脂を介して、前記セラミック基板と前記樹脂基板とを接合する工程とを具備する回路基板の製造方法。
  8. 素子搭載領域を有するセラミック基板と、
    前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板とで構成され、
    前記接合部は、互いに係合可能な位置合わせ係合部を有し、
    前記素子搭載領域に半導体チップが搭載された回路モジュール。
  9. 請求項8に記載の回路モジュールであって、
    前記半導体チップは撮像素子チップであり、
    前記素子搭載領域に前記撮像素子チップが搭載され、
    前記樹脂基板は、前記素子搭載領域を臨む開口部を有する回路モジュール。
  10. 請求項8または9に記載の回路モジュールであって、
    前記セラミック基板は基準貫通孔を有し、
    前記樹脂基板は前記基準貫通孔に対して係合可能な凸部を有する回路モジュール。
  11. 請求項8乃至10のいずれかに記載の回路モジュールであって、
    前記セラミック基板は平板であり、
    前記樹脂基板は、前記セラミック基板に対して所定の間隔を隔てて対向する透光部を有する回路モジュール。
  12. 請求項8乃至10のいずれかに記載の回路モジュールであって、
    前記セラミック基板は、中央に開口部を有する中間支持部を有する筒状体であり、
    前記開口部を塞ぐように前記中間支持部の第1の面に搭載された撮像素子チップと、
    前記開口部を塞ぐように前記中間支持部の第2の面に搭載された透光性部材とを具備し、
    前記樹脂基板は前記開口部に対応する位置にレンズユニットを支持する支持部を具備した回路モジュール。
  13. 請求項8乃至12のいずれかに記載の回路モジュールであって、
    前記接合部は、前記セラミック基板の一部が前記樹脂基板内にインサート成形されたものである回路モジュール。
  14. 素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、
    前記セラミック基板との接合部を具備した樹脂基板を形成する工程と、
    前記セラミック基板と前記樹脂基板とを接合する工程と、
    前記素子搭載領域に半導体チップを搭載する工程とを含む回路モジュールの製造方法。
  15. 請求項14に記載の回路モジュールの製造方法であって、
    前記接合する工程後に、前記セラミック基板および前記樹脂基板の表面に回路パターンを形成する工程を含む回路モジュールの製造方法。
  16. 素子搭載領域を有するセラミック基板を形成する工程と、
    インサート成形により前記セラミック基板の第1の面を基準面とし、前記セラミック基板上に樹脂基板を成形する工程と、
    前記素子搭載領域に半導体チップを搭載する工程とを含む回路モジュールの製造方法。
  17. 請求項16に記載の回路モジュールの製造方法であって、
    前記樹脂基板を成形する工程後に、前記セラミック基板および前記樹脂基板の表面に回路パターンを形成する工程を含む回路モジュールの製造方法。
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