JP2011060229A - メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラ - Google Patents
メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011060229A JP2011060229A JP2009212386A JP2009212386A JP2011060229A JP 2011060229 A JP2011060229 A JP 2011060229A JP 2009212386 A JP2009212386 A JP 2009212386A JP 2009212386 A JP2009212386 A JP 2009212386A JP 2011060229 A JP2011060229 A JP 2011060229A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- memory controller
- active
- change point
- input signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Memory System (AREA)
- Dram (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
【課題】メモリデバイス内の終端抵抗をONさせて、データバスと各メモリデバイスとの間における反射波を有効に防止し、それが不要であるときには積極的にOFFしてできるだけ消費電力を抑えて、かつ信号振幅レベルを最大にする。
【解決手段】メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバス1を介して接続されている。各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗5を有し、メモリコントローラは各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗5のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、各メモリデバイスはデータバス1ごとにデータ信号の変化点を検出する回路13を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対してメモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を有効とし、一定時間以外の区間はアクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替える。
【選択図】図1
【解決手段】メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバス1を介して接続されている。各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗5を有し、メモリコントローラは各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗5のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、各メモリデバイスはデータバス1ごとにデータ信号の変化点を検出する回路13を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対してメモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を有効とし、一定時間以外の区間はアクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替える。
【選択図】図1
Description
本発明は、メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラに関し、特に、メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステム、及びそれに用いられるメモリコントローラに関するものである。
最近、メモリデバイスを高集積化する一方、高速で且つ低信号振幅で動作させるためのインターフェース(interface)が検討されている。このための規格として、SSTL(Series Stub Termination Logic)、SSTL2、SSTL3などの規格が提案され実用化されている。これらのインターフェースを採用して動作を行うメモリシステムは、DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory、単にDDRとも呼ばれる)、DDR2、DDR3と呼ばれる規格で実用化されている。
デバイス間のインターフェース信号の高速化に伴って、信号振幅は必然的に減少している。スイング幅の減少は、信号伝達に関連する時間遅延を減少させることができるからである。
しかし、信号のスイング幅が減少するに従って信号への外部ノイズの影響も増加する。例えば、インピーダンスミスマッチに起因する受信端からの信号反射が次第にクリティカルになってきている。
しかし、信号のスイング幅が減少するに従って信号への外部ノイズの影響も増加する。例えば、インピーダンスミスマッチに起因する受信端からの信号反射が次第にクリティカルになってきている。
インピーダンスミスマッチは、大容量化のために各メモリデバイスのデータバスをスタブやコネクタで分岐してメモリシステムを実現していることにも起因している。インピーダンスミスマッチが発生すると、データ伝送システムにおける高速伝送が難しくなり、半導体メモリ装置の出力端からの出力データが歪むか或いは信頼できなくなって、データ伝送不良を引き起こす。
このような観点から各デバイスの受信端は、インピーダンスミスマッチを緩和させるオンチップターミネーション又はオンダイターミネーション(On Die Termination:ODT)と呼ばれる信号ターミネーション回路を含むように設計されることになった。
例えば特許文献1では、オンダイターミネーションを制御するための半導体メモリ装置及びそれによる制御回路において、予めプログラムされた固定値及び自己調整回路により測定され決定される多様な値を含む多様なモードのターミネーションを行い得るシステム及びその方法を提供している。
例えば特許文献1では、オンダイターミネーションを制御するための半導体メモリ装置及びそれによる制御回路において、予めプログラムされた固定値及び自己調整回路により測定され決定される多様な値を含む多様なモードのターミネーションを行い得るシステム及びその方法を提供している。
このようなインピーダンスマッチング回路及びその関連回路は、デバイスの入力/出力パッドの近くに配置されている。データ伝送システムの伝送端には一般にソースターミネーションが採用され、受信端には一般に並列ターミネーションが採用される。
DDRのようなメモリは、図4に示すような固定値をもつ抵抗素子回路で構成されたターミネーション回路を採用している場合が多い。
また、図5に示すように、高速化に伴ってこれらの抵抗素子回路を複数配置し、あらかじめ行うキャリブレーション動作によってそれらの抵抗素子回路を切り替えて組み合わせてチップのばらつきや温度条件などの使用条件に適したそのメモリシステムに最適な終端抵抗値を選択できるようになってきている。
また、図5に示すように、高速化に伴ってこれらの抵抗素子回路を複数配置し、あらかじめ行うキャリブレーション動作によってそれらの抵抗素子回路を切り替えて組み合わせてチップのばらつきや温度条件などの使用条件に適したそのメモリシステムに最適な終端抵抗値を選択できるようになってきている。
図6はDDRメモリシステムのデータDQの信号波形をあらわしており、信号の変化点でリンギングの反射波が現れているのがわかる(円で囲んだ位置を参照)。この反射波が大きくなって、本来[1]区間であるのに受信端で[0]と誤認識されたり、本来[0]区間であるのに[1]と誤認識されたりしてしまってはデータエラーが発生してしまう。
そこでODT制御としてチップ内において終端抵抗がONされてこのリンギングを抑えるようにするのがODTの役割である。図7は一般的なリンギングの波形をあらわしており、図8は終端抵抗によりその反射を抑えた時の波形をあらわしている。
そこでODT制御としてチップ内において終端抵抗がONされてこのリンギングを抑えるようにするのがODTの役割である。図7は一般的なリンギングの波形をあらわしており、図8は終端抵抗によりその反射を抑えた時の波形をあらわしている。
DDRメモリシステムではメモリコントローラから各メモリデバイスに対してメモリデバイス内の終端抵抗をON/OFFできるようにODT制御信号が出力されている。一般的にこのODT制御信号はメモリデバイスのデータバスに対して1信号でON/OFFが制御される。従って、メモリデバイスが16bit幅のデータバスを持っている場合、1信号で制御されるので各データ信号の値によらず、16bit同時に終端抵抗がON/OFFされることになる。
また、データを各メモリデバイスにライトする場合には実際のライトアクセス期間の数サイクル早いタイミングで終端抵抗がONされ、アクセス期間中は常に終端抵抗がONされるようにメモリコントローラから制御されるのが一般的である。
また、データを各メモリデバイスにライトする場合には実際のライトアクセス期間の数サイクル早いタイミングで終端抵抗がONされ、アクセス期間中は常に終端抵抗がONされるようにメモリコントローラから制御されるのが一般的である。
しかしながら、これらの終端抵抗はONしている間は消費電力が増大するというデメリットがある。消費電力の増大はシステムの電源設計を難しくし、駆動時間の減少、チップの発熱などにもつながり、できるだけ少なくするに越したことはない。
また、終端抵抗をONすることによって反射波を抑えることはできるが同時に正常時の信号振幅も減少させてしまうことになり、効力を持ちすぎても良くない。
また、終端抵抗をONすることによって反射波を抑えることはできるが同時に正常時の信号振幅も減少させてしまうことになり、効力を持ちすぎても良くない。
本発明の目的は、メモリデバイス内の終端抵抗をONさせて、データバスと各メモリデバイスとの間における反射波を有効に防止し、それが不要であるときには積極的にOFFしてできるだけ消費電力を抑えて、かつ信号振幅レベルを最大にできるメモリシステム及びそれに用いるメモリコントローラを提供することである。
本発明は、メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステムと、それに用いるメモリコントローラに関する。
本発明のメモリシステムの第1態様は、上記各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、上記メモリコントローラは上記各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、上記各メモリデバイスはデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対して上記メモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を有効とし、上記一定時間以外の区間は上記アクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替えることを特徴とする。
本発明のメモリシステムの第1態様において、上記一定時間を調整可能にする手段を有するようにしてもよい。
本発明のメモリシステムの第1態様は、上記各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、上記メモリコントローラは上記各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、上記各メモリデバイスはデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対して上記メモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を有効とし、上記一定時間以外の区間は上記アクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替えることを特徴とする。
本発明のメモリシステムの第1態様において、上記一定時間を調整可能にする手段を有するようにしてもよい。
本発明のメモリシステムの第2態様は、上記各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、上記メモリコントローラは上記各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、上記各メモリデバイスはデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの第1一定時間の区間に対して上記メモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を無効とし、上記第1一定時間の区間の後の第2一定時間の区間に対して上記アクティブ制御を有効とし、上記第2一定時間以外の区間は上記アクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替えることを特徴とする。
本発明のメモリシステムの第2態様において、上記第2一定時間を調整可能にする手段を有するようにしてもよい。
本発明のメモリシステムの第2態様において、上記第2一定時間を調整可能にする手段を有するようにしてもよい。
本発明のメモリコントローラの第1態様は、上記メモリコントローラはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、上記メモリコントローラは自身のアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御回路を有し、上記メモリコントローラは上記各メモリデバイスからのデータの読み出し時にデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対して自身の終端抵抗のアクティブ制御を有効とし、上記一定時間以外の区間は上記アクティブ制御を無効に切り替えることを特徴とする。
本発明のメモリコントローラの第1態様において、上記一定時間を調整可能にするようにしてもよい。
本発明のメモリコントローラの第1態様において、上記一定時間を調整可能にするようにしてもよい。
本発明のメモリコントローラの第2態様は、上記メモリコントローラはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、上記メモリコントローラは自身のアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御回路を有し、上記メモリコントローラは各メモリデバイスからのデータの読み出し時にデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの第1一定時間の区間に対して自身の終端抵抗のアクティブ制御を無効とし、上記第1一定時間の区間の後の第2一定時間の区間に対して上記アクティブ制御を有効とし、上記第2一定時間以外の区間は上記アクティブ制御を無効に切り替えることを特徴とする。
本発明のメモリコントローラの第2態様において、上記第2一定期間を調整可能にする手段を有するようにしてもよい。
本発明のメモリコントローラの第2態様において、上記第2一定期間を調整可能にする手段を有するようにしてもよい。
本発明のメモリシステム及びメモリコントローラでは、入力信号の変化点を検出する手段と、その変化点からある一定時間の区間だけ終端抵抗をONし、それ以外の区間では終端抵抗をOFFする手段を備えているようにしたので、消費電力を可能な限り抑えて、信号振幅を大きくとった最適な高速かつ大容量が実現できるメモリシステムを提供できるようになる。
また、検出された変化点から第1一定時間の区間の後の第2一定時間の区間だけ終端抵抗をONし、それ以外の区間(第1一定時間の区間を含む)では終端抵抗をOFFする手段を備えているようにすれば、データの変化点の反射波が変化点直後には発生せずに変化点から一定時間後に発生する場合にも対応することができるようになる。
図1は、メモリシステムの第1態様の一実施例におけるターミネーション回路を説明するための回路図である。
データ入出力端子DQnはデータ信号線1に接続されている。データ信号線1に、バッファ3と終端抵抗5が接続されている。終端抵抗5はスイッチ素子5a、抵抗素子5a、抵抗素子5b及びスイッチ素子5dの直列回路によって構成されている。抵抗素子5a、5b間の端子がデータ信号線1に接続されている。
データ入出力端子DQnはデータ信号線1に接続されている。データ信号線1に、バッファ3と終端抵抗5が接続されている。終端抵抗5はスイッチ素子5a、抵抗素子5a、抵抗素子5b及びスイッチ素子5dの直列回路によって構成されている。抵抗素子5a、5b間の端子がデータ信号線1に接続されている。
オンダイターミネーション端子ODTはODT信号線7が接続されている。ODT信号線7にインバータ9が設けられている。
2入力ORゲート11が設けられている。ODT信号線7はORゲート11の一方の入力端子に接続されている。
2入力ORゲート11が設けられている。ODT信号線7はORゲート11の一方の入力端子に接続されている。
データ信号変化点検出回路13が設けられている。データ信号変化点検出回路13は2入力Ex.NORゲート13aとディレイ回路13bによって構成されている。Ex.NORゲート13aの一方の入力端子は直接に、他方の入力端子はディレイ回路13bを介して、バッファ3と終端抵抗5の間でデータ信号線1に接続されている。Ex.NORゲート13aの出力端子はORゲート11の他方の入力端子に接続されている。
ORゲート11の出力端子はスイッチ素子5a,5bのゲートに接続されている。
ORゲート11の出力端子はスイッチ素子5a,5bのゲートに接続されている。
図2を参照してこの実施例の動作について説明する。
データ信号変化点検出回路13は、データ信号線1におけるデータ信号の変化点を検出した後、ディレイ回路13bによってある一定時間の区間だけ終端抵抗5がONされるように、ORゲート11へ信号を出力する。それ以外の時間の区間は、外部制御によらず、終端抵抗5はOFFされる。
データ信号変化点検出回路13は、データ信号線1におけるデータ信号の変化点を検出した後、ディレイ回路13bによってある一定時間の区間だけ終端抵抗5がONされるように、ORゲート11へ信号を出力する。それ以外の時間の区間は、外部制御によらず、終端抵抗5はOFFされる。
この一実施例では、メモリデバイスの外部からのアクティブ制御に、メモリデバイスの内部で加味する形で、図2に示すようにデータ信号の変化点からある一定時間の区間をアクティブ制御にし(円で囲まれた部分及び両方向矢印を参照)、それ以外の変化がない区間は外部からのアクティブ制御をOFFに切り替えるように制御する。
これらの回路は、データバスを構成するデータ信号毎に設けるようにすれば、従来のデータバスの全ビットに対して一様にON/OFFが制御されていたものがデータ信号毎のデータ変化に応じて制御が可能となるので、全く変化のないデータ信号に対して意味なくODTがアクティブになるのを防止でき、大幅に消費電力を抑えることが可能となる。
さらに、データアクセス区間の全てをONしていた従来の制御に対して、変化点からの一定区間をONするように制御するため、同様に大幅に消費電力を抑えることが可能となる。
ディレイ回路13bは、ディレイ量すなわちON区間を選択できるように制御できるのがさらに良い。
さらに、データアクセス区間の全てをONしていた従来の制御に対して、変化点からの一定区間をONするように制御するため、同様に大幅に消費電力を抑えることが可能となる。
ディレイ回路13bは、ディレイ量すなわちON区間を選択できるように制御できるのがさらに良い。
図2は、メモリシステムの第2態様の一実施例におけるターミネーション回路を説明するための回路図である。図1と同じ部分には同じ符号を付し、それらの部分の説明は省略する。
この実施例では、図1に示した回路構成に加えて、データ信号変化点検出回路13の出力端子とORゲート11の入力端子との間にディレイ回路15がさらに設けられている。ディレイ回路15は、データ信号線1におけるデータ信号の変化点から終端抵抗5をアクティブにするまでの区間を制御するためのものである。
この実施例では、図1に示した回路構成に加えて、データ信号変化点検出回路13の出力端子とORゲート11の入力端子との間にディレイ回路15がさらに設けられている。ディレイ回路15は、データ信号線1におけるデータ信号の変化点から終端抵抗5をアクティブにするまでの区間を制御するためのものである。
データ信号の変化点の反射波は、システムを構成する線路の長さや分岐の仕方によっては必ずしも変化点直後に発生するとは限らない。そこで、ディレイ回路15により、データ信号の変化点からある一定時間(第1一定時間)経過後に、所定の一定時間(第2一定時間)だけ終端抵抗5をアクティブにするようにすれば、ディレイ量とアクティブ区間の両方を選択的に制御でき、より最適な制御が可能となる。
ディレイ回路15はディレイ量を選択できるように制御できるのがさらに良い。
ディレイ回路15はディレイ量を選択できるように制御できるのがさらに良い。
また、図5に示したように、終端抵抗値を複数の抵抗素子回路を組み合わせて制御できるような構成をとる場合、図1の回路を組み合わせることによって、図5に示した回路構成だけで実施した単純なON/OFF制御ではなく、データ信号の変化点からの一定時間の区間とそれ以外の時間の区間で抵抗値を変えるように制御してもよい。このような構成は、図3に示した実施例を図5に示した回路構成に組み合わせる場合も同様である。
上記実施例のメモリシステムでは、終端抵抗5及びデータ信号変化点検出回路13をメモリデバイス内に設けているが、終端抵抗5及びデータ信号変化点検出回路13と同じ機能を有する回路をメモリコントローラ内に持つようにしてもよい。
この場合、メモリコントローラは、メモリデバイスからのデータリード時にメモリコントローラ内に設けられた終端抵抗を自身でデータ信号変化点検出回路を用いてON/OFF制御する。すなわち、外部からのODT制御信号が存在せず、その制御はメモリコントローラ自身がメモリコントローラ内部で行うことになる。これにより、図1を参照して説明した実施例と同様に最適な制御が可能となる。
この場合、メモリコントローラは、メモリデバイスからのデータリード時にメモリコントローラ内に設けられた終端抵抗を自身でデータ信号変化点検出回路を用いてON/OFF制御する。すなわち、外部からのODT制御信号が存在せず、その制御はメモリコントローラ自身がメモリコントローラ内部で行うことになる。これにより、図1を参照して説明した実施例と同様に最適な制御が可能となる。
また、メモリコントローラにおいて、図3を参照して説明した実施例と同様に、データ信号の変化点からある一定時間(第1一定時間)経過後に、所定の一定時間(第2一定時間)だけ終端抵抗をアクティブにするためのディレイ回路15を設けてもよいし、図5の回路構成との組み合わせであってもよい。
以上、本発明の実施例を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内で種々の変更が可能である。
例えば、図1,3に示したデータ信号変化点検出回路13の回路構成は一例であり、データ信号の変化点が検出できればどのような回路でもよい。
例えば、図1,3に示したデータ信号変化点検出回路13の回路構成は一例であり、データ信号の変化点が検出できればどのような回路でもよい。
本発明は、メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステム、及びそれに用いられるメモリコントローラに適用でき、例えば、SDRAM、DDRなどのメモリシステムに適用できる。
1 データ信号線
3 バッファ
5 終端抵抗
7 ODT信号線
9 インバータ
11 2入力ORゲート
13 データ信号変化点検出回路13
13a 2入力Ex.NOTゲート
13b ディレイ回路
15 ディレイ回路
3 バッファ
5 終端抵抗
7 ODT信号線
9 インバータ
11 2入力ORゲート
13 データ信号変化点検出回路13
13a 2入力Ex.NOTゲート
13b ディレイ回路
15 ディレイ回路
Claims (8)
- メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステムにおいて、
前記各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、
前記メモリコントローラは前記各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、
前記各メモリデバイスはデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対して前記メモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を有効とし、前記一定時間以外の区間は前記アクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替えることを特徴とするメモリシステム。 - 請求項1記載のメモリシステムにおいて、前記一定時間を調整可能にする手段を有するメモリシステム。
- メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステムにおいて、
前記各メモリデバイスはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、
前記メモリコントローラは前記各メモリデバイスのアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御信号を出力するユニットを有し、
前記各メモリデバイスはデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの第1一定時間の区間に対して前記メモリコントローラからの終端抵抗制御信号のアクティブ制御を無効とし、前記第1一定時間の区間の後の第2一定時間の区間に対して前記アクティブ制御を有効とし、前記第2一定時間以外の区間は前記アクティブ制御を無効に各メモリデバイス内で切り替えることを特徴とするメモリシステム。 - 請求項3記載のメモリシステムにおいて、前記第2一定時間を調整可能にする手段を有するメモリシステム。
- メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステムに用いられるメモリコントローラにおいて、
前記メモリコントローラはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、
前記メモリコントローラは自身のアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御回路を有し、
前記メモリコントローラは前記各メモリデバイスからのデータの読み出し時にデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの一定時間の区間に対して自身の終端抵抗のアクティブ制御を有効とし、前記一定時間以外の区間は前記アクティブ制御を無効に切り替えることを特徴とするメモリコントローラ。 - 請求項5記載のメモリコントローラにおいて、前記一定時間を調整可能にする手段を有するメモリコントローラ。
- メモリコントローラと複数のメモリデバイスが1本のデータバスを介して接続されているメモリシステムに用いられるメモリコントローラにおいて、
前記メモリコントローラはON/OFF可能なアクティブな終端抵抗を有し、
前記メモリコントローラは自身のアクティブな終端抵抗のON/OFFを制御する終端抵抗制御回路を有し、
前記メモリコントローラは各メモリデバイスからのデータの読み出し時にデータバスを構成する各データ入力信号に対して入力信号ごとに各入力信号の[1]から[0]、[0]から[1]への変化点を検出する回路を有し、検出された変化点からの第1一定時間の区間に対して自身の終端抵抗のアクティブ制御を無効とし、前記第1一定時間の区間の後の第2一定時間の区間に対して前記アクティブ制御を有効とし、前記第2一定時間以外の区間は前記アクティブ制御を無効に切り替えることを特徴とするメモリコントローラ。 - 請求項7記載のメモリコントローラにおいて、前記第2一定期間を調整可能にする手段を有するメモリコントローラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009212386A JP2011060229A (ja) | 2009-09-14 | 2009-09-14 | メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009212386A JP2011060229A (ja) | 2009-09-14 | 2009-09-14 | メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011060229A true JP2011060229A (ja) | 2011-03-24 |
Family
ID=43947746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009212386A Pending JP2011060229A (ja) | 2009-09-14 | 2009-09-14 | メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011060229A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9432018B2 (en) | 2014-09-22 | 2016-08-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Storage controllers, methods of operating the same and solid state disks including the same |
JPWO2022064548A1 (ja) * | 2020-09-23 | 2022-03-31 |
-
2009
- 2009-09-14 JP JP2009212386A patent/JP2011060229A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9432018B2 (en) | 2014-09-22 | 2016-08-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Storage controllers, methods of operating the same and solid state disks including the same |
JPWO2022064548A1 (ja) * | 2020-09-23 | 2022-03-31 | ||
WO2022064548A1 (ja) * | 2020-09-23 | 2022-03-31 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置及びメモリシステム |
US12298826B2 (en) | 2020-09-23 | 2025-05-13 | Kioxia Corporation | Semiconductor memory device and memory system |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4326919B2 (ja) | オンチップdc電流消耗を最小化できるodt回路とodt方法及びそれを具備するメモリ装置を採用するメモリシステム | |
US8619492B2 (en) | On-die termination circuit, memory device, memory module, and method of operating and training an on-die termination | |
KR100578649B1 (ko) | 온-다이 터미네이션 제어 회로 및 온-다이 터미네이션제어 신호 생성 방법 | |
US7372294B2 (en) | On-die termination apparatus | |
US10559373B2 (en) | Nonvolatile memory including on-die-termination circuit and storage device including the nonvolatile memory | |
KR101894469B1 (ko) | 제어신호생성회로 및 이를 이용한 반도체모듈 및 반도체시스템 | |
US20090230989A1 (en) | Memory control circuit, memory control method, and integrated circuit | |
US7782700B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US7576560B2 (en) | Apparatus for measuring on-die termination (ODT) resistance and semiconductor memory device having the same | |
KR20170061418A (ko) | 스트레스 인가 모드를 갖는 캘리브레이션 회로 및 이를 포함하는 메모리 장치 | |
JP5499808B2 (ja) | 受信回路、受信回路の制御方法及び受信回路の試験方法 | |
US10090835B2 (en) | On-die termination circuit, a memory device including the on-die termination circuit, and a memory system including the memory device | |
KR101765060B1 (ko) | 온-다이 터미네이션 회로, 데이터 출력 버퍼 및 반도체 메모리 장치 | |
US7671622B2 (en) | On-die-termination control circuit and method | |
CN108877853B (zh) | 具有片内终结电路的非易失性存储器和包括其的存储器件 | |
CN113517011B (zh) | 用于存储器装置的集中式dfe复位发生器 | |
US8279697B2 (en) | Circuits and methods for reducing noise in the power supply of circuits coupled to a bidirectional bus | |
KR20070081881A (ko) | 반도체 기억 소자에서의 다이나믹 온다이터미네이션 회로및 그 방법 | |
JP2011060229A (ja) | メモリシステム及びそれに用いられるメモリコントローラ | |
KR100684904B1 (ko) | 온 다이 종단 회로를 포함한 반도체 메모리 장치 및 그것의온 다이 종단 방법 | |
US7864183B1 (en) | Dynamic switching of memory termination characteristics in a graphics system | |
KR20120098013A (ko) | 터미네이션 제어회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 | |
JP2015011730A (ja) | 半導体装置 | |
US8896342B2 (en) | Integrated circuit and operation method thereof | |
KR20170040719A (ko) | Zq 글로벌 매니징 기능을 갖는 메모리 시스템 |