JP2010271716A - 多重統合型マルチビームレーザ走査システム - Google Patents
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Abstract
【課題】印刷分解能を向上して印刷アーティファクトを減少することである。
【解決手段】受光表面に画像を形成する装置であって、複数の第1光線を同時に生成するよう配置された複数の発光素子を備える第1統合マルチビーム光源と、複数の第2光線を同時に生成するよう配置された複数の発光素子を備える第2統合マルチビーム光源を備え、第2統合マルチビーム光源によって生成された光線の光路は第1統合マルチビーム光源によって生成された光線の光路と非平行であり、第1光線の光路および第2光線の光路が互いに実質的に平行となるように両第1および第2光線の光路に配置された第1コンバイナを備え、第1コンバイナは作像ビームアレイを作像経路へ出力し、第1統合マルチビーム光源および第2統合マルチビーム光源は、第2スポットが第1スポットの位置と相対的に偏移するように位置決めおよび配置される。
【選択図】図6
【解決手段】受光表面に画像を形成する装置であって、複数の第1光線を同時に生成するよう配置された複数の発光素子を備える第1統合マルチビーム光源と、複数の第2光線を同時に生成するよう配置された複数の発光素子を備える第2統合マルチビーム光源を備え、第2統合マルチビーム光源によって生成された光線の光路は第1統合マルチビーム光源によって生成された光線の光路と非平行であり、第1光線の光路および第2光線の光路が互いに実質的に平行となるように両第1および第2光線の光路に配置された第1コンバイナを備え、第1コンバイナは作像ビームアレイを作像経路へ出力し、第1統合マルチビーム光源および第2統合マルチビーム光源は、第2スポットが第1スポットの位置と相対的に偏移するように位置決めおよび配置される。
【選択図】図6
Description
本発明は画像システムに関し、より明確には多重ビームレーザ光源および多重ビームレーザ光源を採用したプリンタ、コピー機、ファクシミリ装置などにおいて使用する画像システムに関する。
現在、数種類の作像(例えば、印刷および複写)装置が存在し、これらは典型的には画像生成に使用するシステム(または作像エンジン)の種類によって分類されている。一例としては、電子写真式マーキングシステムがあり、これはプリンタ、コピー機、ファクシミリ装置および他の多くの同様の装置のための作像エンジン(画像形成エンジン)を成す。
典型的な電子写真式マーキングシステムでは、帯電した感光体などの受光表面をレーザのような発光源により露光させて所望の画像を表現する。感光体の露光部分を放電することにより、感光体の表面に静電潜像が作成される。その後、受光表面の露光部分(または非露光部分)にトナー粒子を選択的に付着させることにより(トナー)潜像が形成され、この潜像を用紙などの基材に転写する。その後、転写されたトナーは通常、熱および/または圧力により基材に溶着され、それにより基材上に持続的な印刷画像が作成される。その後、感光体表面は残留トナーが除去され、次の画像生成に備えて再帯電される。
上述はモノクロ(白黒)の電子写真式マーキングシステムの概略である。電子写真式マーキングではまた、例えば合成カラー画像生成に使用する各色トナー毎に上記プロセスを繰り返すなど、のいくつかの異なる方法で多色(カラー)画像を生成することが可能である。READ IOIプロセス(再帯電(Recharge)、露光(Expose)、及び(and)現像(Develop)、イメージオンイメージ(Image On Image))と呼ぶカラープロセスの一例では、帯電した感光表面を、例えばブラックである第1カラーを表わす光像に露光する。その後、生じた静電潜像をシアントナーで現像してシアントナー画像を生成する。この帯電、露光、現像プロセスを、例えばイエローである第2カラー、例えばマジェンタである第3カラー、そしてブラックである第4カラーに関して同一の感光体を使用して繰り返す。所望の合成カラー画像を生成するために、さまざまな潜像およびカラートナーを重なり合うように配置する。そしてこの合成カラー画像を基材上に転写溶着する。あるいは、トナーカラー毎に個別の帯電、露光、現像ステーションを必要とする多重露光ステーションシステムを採用することもできる。
上述のようなシステムにおける感光体の露光方法の1つとして、レーザアレイ光源サブシステムおよびラスタ出力スキャナ(ROS)サブシステムを使用するものがある。レーザアレイ光源サブシステムは、多重光源レーザアレイと、アレイにより出力されるレーザビームの照準調整、焦点調節等を行う関連光学系により典型的に構成される。ROSサブシステムは、複数の鏡面ファセットを有する回転ポリゴンおよびポストポリゴン光学系により典型的に構成される。動作を単純化して説明すると、平行レーザビームがポリゴンのファセットに反射して作像素子(画像形成素子)を通過することにより、レーザビームが感光体表面の高精度に集束したスポットへ投影される。(感光体が固定された状態で)ポリゴンが回転すると、光源ビームにより感光体表面上で走査ラインと呼ばれる経路がトレースされる。感光体の動作とポリゴンの回転を同期させることにより、スポットラスタにより感光体表面が(走査線毎に)走査される。画像情報を有するレーザビームを調整することによって、所定の潜像が感光体上で生成される。ビームが走査する方向は走査方向と呼ばれ、感光体の動作方向の略垂直方向は処理方向と呼ばれる。
印刷システムの品質の評価基準の1つに分解能がある。基本的に分解能とは、印刷システムが生成する個々の印刷ピクセルパターンの精度を示す評価基準である。現在の印刷システムにおける分解能は最大で2400ドット/インチ(dpi)である。この分解能では、曲線は非常に滑らかであり、カラー部分は途切れがなく、スムーズな色移行などを特徴とする。この分解能を実際に達成するために、個別にアドレス可能であり間隔を置いて配置された複数の光線を同時に生成することが可能な統合アレイを発光源としてROSシステムと共に使用する。現在の最先端の印刷システムでは、ROS印刷に対して32個のレーザ光源を有する統合アレイを使用する。ROS型の電子写真式マーキングシステムにおいて使用される典型的な統合光源としては垂直空洞面放出レーザ(VCSEL)がある。
例示の8行4列の統合アレイでは、受光表面における各光源列は走査方向に30〜40ミクロンの間隔で配置され、各列の光源は20〜30ミクロンの間隔で配置され、各列は前列から5〜10ミクロンずつ処理方向下側へ偏移している。このような典型的なROSシステムで使用される統合アレイでは、感光体上にスポットパターンが生成され、各スポットは走査方向に450〜550ミクロンの間隔で配置され、各スポット間の処理方向の間隔は42.333ミクロンであり、各スポット列は前列から10.583ミクロンずつ処理方向下側へ偏移している。図1は、個別にアドレス可能であり、間隔を開けて射出される32本の光線12を同時に生成する既知のアレイに基づく統合マルチビーム光源に関する出口ファセットの平面視におけるビームレイアウト10を示す。図2は、32個のレーザによりスポット16を生成する従来の技術に基づく受光表面(画像面)におけるに図1のアレイ(ポスト光学系)により生成されるスポットパターン14を示す。
図3は、プリンタ、コピー機などの例示の従来の画像装置20を示す。装置20全体の詳細な考察は本発明の範囲外であるが、一例として米国特許第7,466,331号および米国特許第7,236,280号を参照してもよい。
概して、典型的な装置20はラスタ出力スキャナ(ROS)サブシステム22と、アレイ光源サブシステム24と、回転多面鏡およびレンズ組立体26と、これらの素子を管理して光線「b」を生成するコントローラ28を備え、この光線bは回転する感光体30の受光表面(感光表面)に入射すよう生成される。感光体30によって選択的に取得されたトナーはビームbに露光して潜像を形成し、この潜像は紙基材32に転写溶着される。感光体のクリーニングと再帯電が行われ、上記プロセスが繰り返される。
図4に既知のラスタ出力ビームアレイ査走サブシステム22を示す。上述のように、走査サブシステム22は典型的に多面鏡およびレンズ組立体サブシステム26を備え、この多面鏡およびレンズ組立体サブシステム26は回転多面鏡34と多数の光学素子36を備え、この光学素子36は、アレイ光源サブシステム24の統合マルチビームレーザ光源25が生成するビームに対して緻密な光学路および光学ビーム調整および補正の提供等の機能を有する。アレイ光源サブシステム24は1本以上の光線を生成し、これらの光線がビームアレイ38を形成する。光学素子はビームアレイ38の焦点調整および視準調整を行い、開口部40は、アレイが射出する平行ビーム幅を規定する。
ビームスプリッタ42はビームアレイ38の光学路に配置されてもよい。ビームアレイ38の光エネルギの一部がビームスプリッタ42を通過して多面鏡34、光学素子36、そして最終的には受光表面30に到達するように構成する。ビームスプリッタ42はこの光エネルギの残り部分の出力先を、光ダイオード光パワーモニタのようなビームモニタ装置44へ変更する。このようにビームアレイを分割する根拠は、パワー、時間パルス配列、ビーム位置、およびアレイ光源サブシステム24のその他属性を調整するために使用可能なビームアレイの表示およびビームアレイ38の生成プロセスの表示を提供することにある。このモニタリングは、最適出力品質を得るために高分解能マルチビームシステムにおいて特に重要である。
しかしながら、作像品質の改善要求は常に存在する。電子写真式マーキングシステムは多くの光学素子により構成される。これらの光学素子の形状および/または実装時における不可避の不正確性や摩耗、環境の変化などは、必然的に感光体上の走査ラインの品質異常をもたらし、作像品質の劣化の原因となる。そのような異常の1つに感光体上の走査ライン間隔のわずかな変動がある。そのような間隔変動は、たとえわずかでも、一般にバンディングアーティファクトと呼ばれる印刷画像の走査ライン方向における知覚可能な色調変化をもたらす場合がある。図5は、画像18内の白黒の縞模様を示しており、この縞模様は印刷画像におけるバンディングアーティファクトである。更に、複数カラーの印刷システムでは、色混合が実行され、人の目は色階調の特定の非線形性を正確に検出する能力を有しているために、そのようなバンディングがさらに知覚されやすくなる。もう一つの一般的な作像品質の問題としては、一般に「ジャギー」として知られている曲線を印刷する際に発生する階段状パターンがある。
電子写真式マーキングシステムにおいて画質を向上する方法としては、統合アレイを形成するレーザ光源の数を単純に増やすことより走査分解能を向上させるものがある。しかしながら、32個の独立した光源を有する統合アレイは現在、かなり標準的かつ容易に利用可能な装置であるが、32個以上の光源を有する統合レーザアレイはそうではない。したがって、32個以上の光源を有する統合アレイを組込む場合、特別に設計、構築されたレーザアレイのためのコストの著しい増加についても考慮する必要がある。さらに、あるアレイに光源を追加すると、各光源が縮小するためにアレイ組立てがより困難となってコストも増加することになるか、あるいは光源アレイ領域を拡大するために光学系口径が広がってレーザ毎のパワーの増強が必要となるかのどちらかである。高出力のレーザほど高温となり、寿命が短くなり、繰り返しになるが非標準となる。更に、統合アレイに光源を追加するほど、装置が故障してアレイ装置全体が使用不可能になるリスクも相対的に増加する。
前述の一例としての米国特許第7,236,280号に開示されるように、2つ以上の統合レーザアレイを単純に隣接して、発生するビームを走査サブシステムの1つのスポットに集束して走査を行った場合、各アレイが射出するビームは異なる光路を移動することになる。熱変化のような固有の作動変動は、異なる光路においては異なる変位をもたらし、最終印刷画像において可視の印刷アーティファクトとして現れる。
このように、統合アレイ内の光源の数を単に増加させるとともに2つの統合アレイを単に隣接させ、その出力先を走査サブシステムに向けるという方法は、分解能の向上要求に対する対応としてはあまり実際的ではないことを示す有力な根拠が多数存在する。
従って、本発明はマーキングシステムが生成する画質を、統合光源の設計変更や出力電力の向上、その他システム構成要素の設計変更、および構成要素のコストの著しい増加を必要とせずに向上するための装置に関する。多数の統合マルチビーム光源およびコンバイナ/スプリッタを組み合わせて使用することにより、生成するビームとスポットの数を増加し、それにより印刷分解能を向上して印刷アーティファクトを減少することができる。
本開示の1つの様態によれば、個別にアドレス可能な発光源から成る2つの統合マルチビーム光源は、各々が光学コンバイナへ光を射出するように位置決めおよび配置されている。このコンバイナは、一般に前記第1レーザビームの光路および前記第2レーザビームの光路が互いに略平行となるように構成されている。更にこのコンバイナは、2つの統合マルチビーム光源の光学系開口部スループットが、単一の統合マルチビーム光源とほぼ同一となるように構成されている。
1つの実施形態によれば、この光学コンバイナはビームスプリッタである。第1統合光源の光路は、その光線エネルギの一部がスプリッタを通過して作像経路(つまり受光表面へ向かう経路)へ到達する一方、残りの光線エネルギは反射するように構成されている。第2統合光源の光路は、その光線エネルギの一部がスプリッタによって作像経路へ反射される一方、残りの光線エネルギはスプリッタを通過するように構成されている。
別の実施形態によれば、スプリッタから光線エネルギを受光するように光センサは位置決めおよび配置されている。この様態では、第1統合アレイの光路は、スプリッタによって反射された光線エネルギ部分が、光センサに導かれるように構成されている。第2統合アレイの光路は、スプリッタを通過した光線エネルギ部分が、光センサへ導かれるように構成されている。この実施形態では、光センサは第1および第2統合マルチビーム光源によって生成された光線の光学パワーまたはその他の属性を測定するために使用されてもよい。
本発明の別の様態によれば、第1および第2統合マルチビーム光源は、第1および第2統合アレイから射出されたビームが、受光表面上の各第1スポットアレイおよび第2スポットアレイに入射するように、コンバイナに対して位置決めおよび配置されている。第2レーザスポットは前記第1レーザスポットの位置と相対的に偏移している。1つの実施形態では、第2スポットアレイは、第1スポットアレイを成す各スポット間の処理方向の間隔の略半分、および走査方向の間隔の略半分だけスポットアレイの位置と相対的に偏移する。第1および第2スポットアレイの相対位置については、他の設定でもよい。
本開示のまた別の様態によれば、電子写真式マーキングシステムはさらに、受光表面に第3スポットアレイを提供する第3統合マルチビーム光源を含んでいる。第3統合マルチビーム光源は、第1および第2統合マルチビーム光源と同種であってもよい。第2コンバイナは、第1および第2統合マルチビーム光源の光路上で第1コンバイナの下流に配置されてもよい。第2のコンバイナは、前第1および第2レーザビームの結合光路、および第3統合マルチビーム光源によって射出された第3レーザビームの光路が、互いに略平行となるように構成されてもよい。更にこの第2コンバイナは、3つの統合マルチビーム光源の光学系開口部スループットが、単一の統合マルチビーム光源とほぼ同一となるように構成される。
第2コンバイナは、第1および第2のビームの結合ビームの一部が電源制御センサへ向かう経路へ反射され、第1および第2ビームの結合ビームの一部が作像経路(例えば前記受光表面へ向かう経路)へ透過されるよう配置された光学スプリッタであってもよく、前記第3ビームの一部は、前記光学スプリッタにより前記電源制御センサへ向かう経路へ透過され、前記第3ビームの一部は、前記光学スプリッタによって前記作像経路へ反射される。あるいは、ここに開示されたアレイ光源サブシステムおよび他の素子のターゲットシステムの設計に基づいて、反射と伝送機能を逆転してもよい。
最後に、本開示は、電子写真式マーキングシステムを含むマーキング、印刷およびその他画像システム等のシステム、およびここに記載した以外のその変形例を包含する。
上述では、本開示に関する多数の固有の様態、特徴および利点の概略を明示している。しかしながら、この概略は包括的ではない。したがって、本開示のこれらおよび他の様態、特徴、実施形態および利点は、ここに提示される請求項に照らして考慮された場合に、添付の図面と共に提示される以下の詳細な説明により明らかになるであろう。
以下の記載は好ましい実施形態およびその変形例に関するものであるが、これらは限定的に解釈されてはならない。記載の実施形態の特定の変形例が強調される場合があるが、本開示により特に説明した例に限らず、多くの実施例が当業者にとっては明白に理解できるであろう。したがって、本明細書の記載はすべての変形、変更、代替案を含むものであり、本明細書および添付の請求項の範囲内のものである。
図6では、ここではアレイ光源サブシステム50と呼ばれる本開示の1つの様態によるシステムを示す。アレイ光源サブシステム50は、第1統合マルチビーム光源52および第2統合マルチビーム光源54を備え、各光源は個別に制御可能な複数のレーザビームを同時に生成する複数のレーザエミッタ(各エミッタは図示せず)をから成る。まず、第1、第2統合マルチビーム光源52、54は、第1統合マルチビーム光源52によって放射されたビームの光路が、第2統合マルチビーム光源54によって放射された光学ビームと非平行に位置決めおよび配置されている。以下で更に説明するように、特定の実施形態では、第1統合マルチビーム光源52によって放射されたビームは、第2統合マルチビーム光源54によって放射された光学ビームに対して略垂直であってもよい。
一例において、第1、第2統合マルチビーム光源52、54は、複数のエミッタが2次元配列されて成る統合垂直空洞面放出レーザ(VCSEL)を備える。VCSELは、個別に操作可能な複数の発光素子がしばしば単一の基材またはダイスに形成されて成る単一構造体に集積されている。VCSELは単に一例であり、集積端面発光素子のようなその他構造体を採用してもよい。レーザがこの実施形態の一部を形成しているように記載しているが、発光ダイオード(LED)、有機発光ダイオード(OLED)等のその他多くの発光源を既述のレーザ光源の代わりに同様に用いてもよいことは理解されるであろう。1つの統合マルチビーム光源当たりの個別に制御可能なエミッタ、つまりビームの数は設計選択に左右される。図示のため、1つの光源に対する個別に操作可能なエミッタ数は32とするが、ここに開示する概念によれば、1つの統合マルチビーム光源当たりのエミッタ数は32以下でも以上でもよい。
光学素子56、58は、第1および第2統合マルチビーム光源52、54の各エミッタによって生成されたレーザビームをそれぞれビームアレイ60、62に誘導する。開口部64、66はそれぞれ、第1および第2ビームアレイのビームアレイ幅を制限する。
アレイ光源サブシステム50は、第1、第2ビームアレイ60、62の光路上に配置されたコンバイナ68をさらに備える。1つの実施形態ではコンバイナ68はビームスプリッタであるが、この実施形態におけるコンバイナ68の機能的な役割を他の種類の素子が果たしてもよい。部分的金属コーティングまたは非分極性多層誘電体コーティングされたビームスプリッタを使用することができる。更に、ペリクルスプリッタ、プレート型または箱形ビームスプリッタを使用することができる。この実施形態によれば、第1ビームアレイ60はコンバイナに進入して半反射面70に入射する。この実施形態の1つの特定の例では、半反射面70は、入射光線エネルギのおよそ50パーセントを透過させ、残りのおよそ50パーセントの光エネルギを入射角に対して90度の角度で反射するが、この実施形態におけるコンバイナ68の機能的な役割を他の特定の手段によって果たしてもよい。同様に、第2ビームアレイ62はコンバイナに進入して半反射面70に入射する。入射した光線エネルギのおよそ50パーセントは透過され、入射した光線エネルギのおよそ50パーセントは入射角に対して90度の角度で半反射面70により反射される。この実施形態では、第1統合マルチビーム光源52によって放射されたビームは、第2統合マルチビーム光源54によって放射された光学ビームに対して略垂直である。しかしながらこの相対的角度は、他の角度でもよく、第1、第2統合マルチビーム光源52、54の相対位置はコンバイナ68の特徴および半反射面70の角度に大きく左右される。
アレイ光源サブシステム50はまたビームモニタ72と、これに関連する焦点調節光学系74を備える。ビームモニタ72は、例えば光ダイオード光学パワーモニタを備えるが、その機能については既述であり、この開示の範囲外である。
したがって、アセンブリ50の素子はそれぞれ、ビームアレイ60の半反射面70を通過した光エネルギ部分が(例えば下記に詳細に述べるようにROSサブシステムに向かう)光路へと進み、光エネルギの残り部分が半反射面70によってビームモニタ72の方向へ反射されるように位置決めおよび配置されている。反対に、ビームアレイ62の光エネルギで半反射面70を通過した部分は、ビームモニタ72へ向かう光路へ進み、残りの光エネルギは半反射面70により前記光路へと反射される。
ビームアレイ60および62はそれぞれ、個々の空間的に分離された複数のレーザビームで構成されている。アセンブリ50の構成要素はさらに、コンバイナ68から(ROSサブシステムへ向かう)作像経路へ射出された個々の空間的に分離されたレーザビームが、個々の空間的に分離された複数のレーザビームで構成された作像ビームアレイ76を形成するよう位置決めおよび配置されている。これらビーム間隔については以下でさらに説明するが、この経路上の第1統合マルチビーム光源52および第2統合マルチビーム光源54からのビームは一般に平行となるか、あるいは小さな角度範囲で分散し、相対的なさまざまな光量で空間的に重なり合うことは注目されるべきである。アセンブリ50の構成要素はさらに、コンバイナ68からビームモニタ72へ向かう方向に射出された個々に角度的に分離されたレーザビームが実質的に個々に角度的に分離された複数のレーザビームで構成されたモニタビームアレイ78を形成するように位置を決めおよび配置されている。ビームモニタ72に関連した光学系74は、モニタビームアレイ78の焦点をビームモニタ72の一部を形成する検出器表面上に合わせる機能を有する。
上述の実施形態によると、受光表面への書込みに利用可能なビーム数、つまりスポット数が効果的に倍増される。上述のように、典型的な高性能マーキングシステムでは個別に制御可能な32ものビームを有する統合マルチビーム光源が使用される。したがって、上記の実施形態は個別に制御可能な64ものビームを有する作像ビームアレイを提供する。重要なのは、作像ビームアレイ76の個別ビーム数が効果的に倍増される一方、光学開口部スループットは従来のシステムと同様であるという点である。すなわち、レーザの処理方向ビーム間隔と受光表面における処理方向ビーム間隔の比率に変化はない。したがって、上記の実施形態によれば、個々のレーザエミッタのパワーを増加する必要がない。コンバイナ68としてビームスプリッタを使用すると、第1および第2ビームアレイ52、54のそれぞれの光学パワーが50パーセント減少する。しかしながら、受光表面におけるパワー合計は、受光表面における個別ビームの光学パワーの和である。従来のシステムと比較して、上述の実施形態におけるビーム数は倍増しているため、コンバイナ68におけるビームパワーの50パーセントの損失は、この個別ビーム数の倍増によって相殺される。更に、作像ビームアレイ76の一部を形成しない光学パワーは、統合マルチビーム光源52、54の自動出力制御(APC)検出、および出力監視および制御に関するその他の側面に使用される。
次に、本開示の別の実施形態によるアレイ光源サブシステム50を図7に示すが、このアレイ光源サブシステム50はここではROSサブシステムであるビームアレイ走査サブシステム80に集積されている。アレイ光源サブシステム50は図6において既述のシステムと実質的に同一である。アレイ光源サブシステム50から作像ビームアレイ76が射出される。この実施形態によれば、作像ビームアレイ76は最大64個の個々に制御可能で間隔を置いて配置されたレーザビームから成り、感光表面82上に所望のパターンを形成するようにそれぞれが調整されている。
多面鏡およびレンズ組立体84は多くの光学素子86を含み、これらの光学素子86は、第1および第2統合マルチビーム光源52、54が生成するビームに対して緻密な光学路および光学ビーム調整および補正の提供等の機能を有しおり、本開示の範囲には含まれない。
作像ビームアレイ76を形成するビームは、ほとんどの走査光学システムにおいて光路を共有するため、光学機械安定性およびビーム指向安定性が向上する。アレイ光源サブシステム50を成す構成要素は、光学素子86および回転多面鏡88が第1および第2統合マルチビーム光源52、54により(感光体等の)感光表面82上にそれぞれの光源におけるビームの相対的な間隔によって一部依存した間隔で生成されたビームを走査するように位置決めおよび配置される。すなわち、第1および第2統合マルチビーム光源52、54の相関位置により、感光表面上の各ピクセルのスポット間隔が決定される。
具体的に、この開示の1つの実施形態による感光表面上の1つの例示のスポットアレイ90を図8に示す(ここに示すべての図と同様、縮尺通りではない)。スポット92では、第1統合マルチビーム光源52からのビームは第1統合マルチビーム光源52から成るエミッタの間隔に比例する間隔で配置されている。同様にスポット94では第2統合マルチビーム光源54からのビームは、第2統合マルチビーム光源54から成るエミッタの間隔に比例する間隔で配置されている。スポット92、94の相対位置は、特に第1および第2統合マルチビーム光源52、54の相対的な配置によって決定された値だけ偏移する(但し、第1および第2統合マルチビーム光源52、54間のエミッタ間隔は略同一とする)。両アレイは、コリメータレンズ光学軸および互いに対してわずかに偏心しており、これにより受光表面において所望の処理方向ビーム間隔を得ることができる。
1つの実施形態では、第1および第2統合マルチビーム光源52、54が生成するスポットの間隔が図8に示す実施形態において走査方向に200〜300ミクロンの範囲、およそ250ミクロンとなるように走査方向間隔が制御される。更に、1つの実施形態では、第1および第2統合マルチビーム光源52、54によって生成されたスポットの間隔は、処理方向に4〜6ミクロン範囲、図8に示す実施形態においておよそ5.292ミクロン(4800spi)である。第1、第2統合マルチビーム光源52、54における個々のエミッタ間隔の一例を図1に示す。ここで説明する方向および間隔は例示的な実施形態であり、ここで示した間隔以外の間隔も考慮されると共に本開示の範囲に含まれるものとする。
図9は、この開示の別の実施形態による感光表面上のスポット92、94の別の配置96を示す。この実施形態では、スポット92、94の列は相対的に偏移するのではなく、共通配列となっている。しかしながら、スポット行は相対偏移する。例えば、1つの実施形態では、第1および第2統合マルチビーム光源52、54によって生成されたスポットの間隔は、処理方向に4−6ミクロン範囲、図9に示す実施形態においておよそ5.292ミクロン(4800spi)である。アレイを互いに対してわずかに偏心して配置することにより、感光表面において所望の処理方向ビーム間隔が達成される。このパターンは、(図1において説明したように)第1および第2統合マルチビーム光源52、54のエミッタ間隔が同一場合は特に、各光源52、54の相対位置を制御することにより作成することができる。その他多くのスポット間隔およびパターンが使用可能であり、本開示に含まれるものとする。したがって、スポット92、94の特定の間隔およびパターンは設計選択の結果であり、本開示の範囲において制限されるものではないことは理解されるであろう。
上記では2つの統合マルチビーム光源を使用するシステムを説明した。しかしながら、この開示の概念に基づいて、2つ以上の統合マルチビーム光源のアレイ光源サブシステムを実現可能である。例えば、図10おいて、アレイ光源サブシステム100は第1、第2および第3統合マルチビーム光源102、104、106を備え、各光源は個別に制御可能な複数のレーザビームを同時に生成する複数のレーザエミッタ(個々のエミッタは図示せず)により成る。光学素子108、110、112は、第1、第2および第3統合マルチビーム光源102、104、106の各エミッタによって生成されたレーザビームをそれぞれビームアレイ114、116、118に誘導する。開口部120、122、124はそれぞれ、第1、第2および第3ビームアレイのビームアレイ幅を制限する。
アレイ光源サブシステム100は第1および第2コンバイナ126、128をさらに備え、第1コンバイナ126は第1および第2ビームアレイ114、116の光路上に配置され、第2コンバイナ128は第1および第3ビームアレイ114、118の光路上に配置される。既述のように、1つの実施形態ではコンバイナ126、128はそれぞれビームスプリッタであるが、コンバイナ126、128の機能的な役割を他の素子が果たしてもよい。この実施形態によれば、第1ビームアレイ114はコンバイナに進入して半反射面127に入射する。この実施形態の1つの特定の例では、半反射面127は、入射光線エネルギのおよそ50パーセントを透過させ、残りのおよそ50パーセントの光エネルギを入射角に対して90度の角度で反射するが、この実施形態におけるコンバイナ126の機能的な役割を他の特定の手段によって果たしてもよい。同様に、第2ビームアレイ116はコンバイナに進入して半反射面127に入射する。入射した光線エネルギのおよそ50パーセントは透過され、入射した光線エネルギのおよそ50パーセントは入射角に対して90度の角度で半反射面127により反射される。第1ビームアレイ114の透過部分および第2ビームアレイ116の反射部分により成る第1作像ビームアレイ138は、コンバイナ126から第2コンバイナ128へ向かう方向に出力され、第1ビームアレイ114の反射部分および第2ビームアレイ116の透過部分により成る第1モニタビームアレイ140は、コンバイナ126から第1ビームモニタ、焦点調節光学系130、132へ向かう方向に出力される。このように、第1作像ビームアレイ138および第1モニタビーム140はそれぞれ、第1および第2統合マルチビーム光源52、54によって生成されたビームの合成物である。
第2コンバイナ128は、第2半反射面129において第1作像ビームアレイ138および第3ビームアレイ118両方を受光するように位置決めおよび配置されている。第1作像ビームアレイ138は第2コンバイナ128に進入し、そこで第3ビームアレイ118と結合して第2作像ビームアレイ142が生成され、第2モニタビームアレイ144が生成される。そのとき、第2コンバイナは事実上第1コンバイナ126と直列配列となる。第1作像ビームアレイ138と第3ビームアレイ118間において相対的な光エネルギを同一にするためには、コンバイナ128の透過/反射比率をコンバイナ126の比率と異なるよう設定する必要がある。この実施形態の1つの特定の例では、半反射面129は、入射光線エネルギのおよそ2/3(66.6%パーセント)を透過させ、残りのおよそ1/3(33.3%パーセント)の光エネルギを入射角に対して90度の角度で反射させるが、この実施形態におけるコンバイナ128の機能的な役割を他の特定の手段によって果たしてもよい。したがって、第1作像ビームアレイ138の光エネルギのおよそ2/3がコンバイナ128の半反射面129により(例えば走査サブシステムへ向かう方向の)作像経路へ透過され、第1作像ビームアレイ138の光エネルギのおよそ1/3は、第2ビームモニタ134の方向へ反射される。同様に、第3ビームアレイ118の光エネルギのおよそ1/3は、コンバイナ128の半反射面129によって作像経路へ反射され、第3ビームアレイ118の光エネルギのおよそ2/3が第2ビームモニタ134の方向へ透過される。
第1、第2および第3統合マルチビーム光源102、104および106から成るエミッタ(チャネル)が射出する各ビームのビーム光路を展開した合計光路長は、略同一でなければならない。したがって事実上、図6において既述の実施形態では、第1および第2統合マルチビーム光源60、62は、コンバイナ68までの距離が、略同等の距離dとなるよう配置される必要があり、本実施形態では、第1および第2統合マルチビーム光源102、104は、コンバイナ126までの距離が略同等の距離d1となるよう配置される必要がある。しかしながら、受光表面(図示せず)に対するコンバイナ126および128の各相対位置に関係して、第3統合マルチビーム光源106は、コンバイナ128までの距離がd1<d2である距離d2となるよう配置されなければならない。実際の距離d1およびd2は、システム内でそれらが配置される際の関数であるが、例示の距離は、100mmから150mm(tがビームスプリッタ間の距離であり、nbsはビームスプリッタ基板材料の屈折率であり、tbsがビームスプリッタの厚さである場合、d2=d1+t+nbstbs)の範囲となる。第3統合マルチビーム光源106、光学素子112および開口部124をコンバイナ128から更に遠ざけることによって、展開チャネル光路長は、すべての光源に対して同一となり、またすべての光源のひとみが一致することになる。
アセンブリ100の構成要素はさらに、コンバイナ128から作像経路へ射出された個々の空間的に分離されたレーザビームが、個々の空間的に分離された複数のレーザビームで構成された第2作像ビームアレイ142を形成するよう位置決めおよび配置されている。これらビーム間隔については以下でさらに説明するが、この経路上の第1、第2および第3マルチビーム光源102、104、106からのビームは一般に平行となるか、あるいは小さな角度範囲で分散し、相対的なさまざまな光量で空間的に重なり合うことは注目されるべきである。アセンブリ100の構成要素はさらに、コンバイナ128からビームモニタ134へ向かう方向に射出された個々に角度的に分離されたレーザビームが実質的に個々に角度的に分離された複数のレーザビームで構成された第2モニタビームアレイ144を形成するように位置を決めおよび配置されている。第2ビームモニタ134に関連した光学系136は、第2モニタビームアレイ144の焦点を第2ビームモニタ134の一部を形成する検出器表面上に合わせる機能を有する。
この実施形態において、作像ビームアレイを形成するビームの数は、事実上従来システムの3倍である。第2作像ビームアレイ142は、例えば96個におよぶ個別に制御可能なビームで構成してもよい。重要なのは、光学開口部スループットが従来システムよりも増加しないという点である。再び言うが、レーザの処理方向ビーム間隔と受光表面における処理方向ビーム間隔の比率は変わらない。したがって、個々のレーザエミッタのパワーを増強する必要はない。ここで再び言及しておきたいのは、感光表面におけるパワー合計は単純に受光表面における個別ビームの光学パワーの和であるため、この実施形態において第1作像ビームアレイ138および第3ビームアレイ118による利用可能な光学パワーがコンバイナ128によって2/3も減少するという事実は、最終の第2作像ビームアレイ142におけるビーム数が事実上3倍となることで相殺される。再び言うが、第2作像ビームアレイ7の一部を形成しない光学パワーは、統合マルチビーム光源102、104および106の自動出力制御(APC)検出、および出力監視および制御に関するその他の側面に使用される。
前述のシステムは3つの統合マルチビーム光源を使用するものであったが、この開示の概念に基づき3つ以上の統合マルチビーム光源のアレイ光源サブシステムを実現することも可能である。ビームアレイを追加するごとに、アレイに関連した追加の光学素子、追加のコンバイナ、および任意の追加ビームモニタおよびこれに関連した追加の光学素子が、光源アレイアセンブリに追加される。各追加コンバイナの速度伝達比は一般に、光路上のコンバイナの総数を統合マルチビーム光源の総数で割った値と等しくなる(あるいは、反射率が一般に光路上のコンバイナの総数を統合マルチビーム光源の数で割った値と等しくなる)。既述のように、追加の統合マルチビーム光源とこれに関連するコンバイナ間の距離は、各チャネルの展開光路長が同一に保たれるように拡張される。
最後に、図11に示す本開示の別の態様による画像システム150は、少なくとも2つの統合マルチビーム光源と少なくとも1つのコンバイナを有するアレイ光源サブシステム152を備え、コントローラ154の制御下で、ビームアレイ走査サブシステム158に作像ビームアレイ156を出力する。これを受けてビームアレイ走査サブシステム158は、作像ビームアレイ156をさまざまなシステム光学素子(図示せず)へ誘導し、最終的には感光体160表面などの受光表面に出力する。その後、パルス状の走査作像ビームアレイ156は感光体160に潜像を形成し、この潜像は用紙などの作像基材162に転写されてもよい。
現在の電気および機械装置の物理的性質およびそれらの製造方法は絶対不変なものではなく、所望の装置および/または結果を得るための統計的な努力である。プロセスの再現性や、出発原料および処理材料の品質、アセンブリの精度などに最大限の注意を払っても、偏差と欠陥は生じる。従って、本開示またはその請求項の記述において無制限のものについては、絶対不変なものとして理解可能あるいは理解すべきである。請求項の制限は本開示の範囲を規定するためのものであり、これらの制限はその範囲に含まれるものとする。更に言えば、「実質的」という用語は、ここでは請求項の制限に関連して使用される場合がある(但し偏差と欠陥への配慮については、この用語と共に言及される制限だけに限られない)。本開示自体の制限と同様にこの用語を正確に規定するのは困難であるが、この用語は「大部分」、「ほぼ実行可能な」、「技術的な制限内において」などと解釈されるべきであろう。
更に、上記発明を実施するための形態において複数の好適な例示的実施形態を説明したが、膨大な数の変形例が存在し、これらの好適な例示的実施形態は単なる例示にすぎず、いかなる点においても本例示の範囲や適用可能性または構成を制限するものではない。例えば、ここで述べた原理は、発光ダイオード(LED)などのようなレーザ以外の発光源にも適用され、したがって、レーザ光源を使用したシステムの記述は例示的なものであって、本開示によるシステムを制限するものではない。さらに、上述のさまざまな実施形態ならびにその他の特徴および機能またはその代替案を適宜に組み合わせることにより、他の多くの異なるシステムまたはアプリケーションを得ることができるであろう。本開示におけるまたは本開示に関する現状では予見し得ないまたは予期せぬさまざまな代替案、変形、変更または改善は、当業者によっていずれ実施されるものであって、添付の特許請求の範囲内のものである。
したがって、上記記述は、当業者に本開示の実施のための便利な指針を提供するものであり、既述の実施形態の機能および配置に関するさまざまな変更は、添付の特許請求によって規定される本開示の精神および範囲内に存在するものである。
50,100,152 アレイ光源サブシステム、52 第1マルチビーム光源、54 第2マルチビーム光源、56,58,86,108,110,112 光学素子、60,114 第1ビームアレイ,62,116 第2ビームアレイ、64,66,120,122,124 開口部、68 コンバイナ、70,127 半反射面、72 ビームモニタ、74,132 焦点調節光学系、76,156 作像ビームアレイ、78 モニタビームアレイ、80,158 ビームアレイ走査サブシステム、82 感光表面、84 多面鏡およびレンズ組立体、92,94 スポット、102 第1統合マルチビーム光源、104 第2統合マルチビーム光源、106 第3統合マルチビーム光源、118 第3ビームアレイ、126 第1コンバイナ、128 第2コンバイナ、130 第1ビームモニタ、134 第2ビームモニタ、138 第1作像ビームアレイ、140 第1モニタビームアレイ、142 第2作像ビームアレイ、144 第2モニタビームアレイ、150 画像システム、154 コントローラ、160 感光体。
Claims (4)
- 受光表面に画像を形成する装置であって、
実質的に平行な光路内で複数の第1光線を同時に生成するよう配置された複数の発光素子と光学素子を備える第1統合マルチビーム光源を備え、前記複数の第1光線は、前記感光表面上の第1スポットアレイにて前記受光表面に入射し、隣接する第1スポットは実質的に均等な処理方向間隔、および実質的に均等な走査方向間隔で配置され、
実質的に平行な光路内で複数の第2光線を同時に生成するよう配置された複数の発光素子と光学素子を備える第2統合マルチビーム光源を備え、前記第2統合マルチビーム光源によって生成された前記光線の前記光路は前記第1統合マルチビーム光源によって生成された前記光線の前記光路と非平行であり、前記複数の第2光線は前記感光表面の第2スポットアレイにて前記受光表面に入射し、隣接する第2スポットは実質的に均等な処理方向間隔、および実質的に均等な走査方向間隔で配置され、
前記第1光線の前記光路および前記第2光線の前記光路が互いに実質的に平行となるように前記両第1および第2光線の前記光路に配置された第1コンバイナを備え、前記第1コンバイナは作像ビームアレイを作像経路へ出力し、
前記第1統合マルチビーム光源および前記第2統合マルチビーム光源は、前記第2スポットが前記第1スポットの位置と相対的に偏移するように位置決めおよび配置されることを特徴とする装置。 - 請求項1に記載の装置において、前記第1コンバイナは光学ビームスプリッタであり、
第1ビーム受光表面を有する第1ビームモニタを更に備え、
前記第1ビーム受光表面は、
前記各第1光線の一部が前記ビームスプリッタにより前記第1ビーム受光表面へ向かう経路へ反射され、
前記各第2光線の一部が前記ビームスプリッタによって前記第1ビーム受光表面へ向かう経路へ透過されるように位置決めおよび配置されることを特徴とする装置。 - 請求項2に記載の装置において、
前記第1ビーム受光表面は、前記第2光線の前記光学スプリッタに対する前記入射に先立って実質的に前記第2光線の前記光路上に位置するように、また前記第1光線の前記光学スプリッタに対する前入射に先立って前記第1光線の前記光路に実質的に垂直となるように位置決めおよび配置されることを特徴とする装置。 - 前記各第1および第2統合マルチビーム光源は、個別にアドレス可能であるとともに間隔を開けて配置された32個の発光素子を備えることを特徴とする請求項3に記載の装置。
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