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JP2010230503A - 加速度センサ - Google Patents

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JP2010230503A
JP2010230503A JP2009078689A JP2009078689A JP2010230503A JP 2010230503 A JP2010230503 A JP 2010230503A JP 2009078689 A JP2009078689 A JP 2009078689A JP 2009078689 A JP2009078689 A JP 2009078689A JP 2010230503 A JP2010230503 A JP 2010230503A
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宏 勝田
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Abstract

【課題】 生産性が高く、信頼性の高い加速度センサを提供する。
【解決手段】
固定部と、前記固定部に対して変位可能な錘部と、一方端が前記錘部に、他方端が前記固定部に接続された梁部と、前記錘部の変位に応じた信号を出力する変位検出手段と、を有する加速度センサ素子と、平面視で、前記加速度センサ素子の前記錘部が配置される第1領域と、前記第1領域に隣接し、前記加速度センサ素子を外部回路に接続するための配線層を有する第2領域と、を有する基板と、前記加速度センサ素子を空隙を介して封止するように、前記基板の上面に固定されたキャップ型の封止部材と、有する加速度センサである。
【選択図】 図1

Description

本発明は加速度センサに関する。
ピエゾ抵抗効果を利用して加速度を検出する加速度センサが知られている(例えば、特許文献1)。特許文献1には、加速度センサ素子が気密封止された加速度センサが記載されている。加速度センサ素子は、重り部と、重り部を支持する梁部と、梁部を支持する固定部と、梁部に設けられたピエゾ抵抗素子とを有している。加速度センサ素子に加速度に比例した外力が加えられると、重り部が固定部に対して変位するとともに梁部に撓み変形が生じる。そして、梁部とともに曲げ変形が生じたピエゾ抵抗素子の抵抗値の変化を検出することにより、加速度が検出される。
このような加速度センサ素子の固定部は、セラミックで形成された開口部を有するケースの内底部に接着剤を介して固定されている。そして、このケースの開口部側に蓋材を取り付けることで、加速度センサ素子を封止した加速度センサを得ることができる。
特開2004−212246号公報
しかしながら、特許文献1に記載された加速度センサのケースは、グリーンシートを積層し、その一部を除去して内底を形成したものを焼成して製造している。この焼成工程において、内底部分は凹部となっているため押圧できず、その結果、内底の平坦度が悪くなるという問題点があった。さらに、積層したグリーンシート間に内部配線層があると、その直上部が凸部となり平坦度が悪くなるという問題点があった。そのため、ケースの内底の平坦度が十分ではなく、重り部とケースの内底との間隔が対向面内でばらついたり、設計した値からずれたりして、重り部が内底と接触することがあり、特性不良が生じ信頼性が低かった。
これに対して、内底の平坦度を考慮して重り部とケースの内底との間隔を確実に設けるように、接着剤中にフィラーなどからなるスペーサを混入させて両者の間隔を調整することも検討されているが、個々の加速度センサに対してこのような工程を経ることは非常に困難であり、生産性が低くなっていた。
また、内底の平坦度のバラつきやセンサ素子の実装精度等によるバラつきを吸収できるように、接着剤の厚み方向の高さを余裕をもって設計すると、加速度センサの厚み方向の大型化を招くという問題点もあった。
本発明は上述の事情に鑑みて案出されたものであり、その目的は、信頼性及び生産性の高い加速度センサを提供することにある。
本発明の加速度センサは、固定部と、前記固定部に対して変位可能な錘部と、一方端が前記錘部に、他方端が前記固定部に接続された梁部と、前記錘部の変位に応じた信号を出力する変位検出手段と、を有する加速度センサ素子と、平面視で、前記加速度センサ素子の前記錘部が配置される第1領域と、前記第1領域に隣接し、前記加速度センサ素子を外部回路に接続するための配線層を有する第2領域と、を有する基板と、前記加速度センサ素子を空隙を介して封止するように、前記基板の上面に固定されたキャップ型の封止部材と、有するものである。
本発明の加速度センサによれば、基板上に加速度センサ素子を配置することから、従来のケースの内底に配置する場合に比べて、加速度センサ素子を封止するための構成が簡素化するため生産性が高くなる。また、構成が簡素化するため、低コスト化することができる。

また、基板上に加速度センサ素子を配置することから、従来のケースの内底に配置する場合に比べて、配置面が平坦なため錘部と基板との間隔を精密に設定することができる。
また、基板のうち、平面視で錘部が位置する第1領域には配線層が存在しないため、基板の上面のうち特に平坦な面に錘部を配置することができる。これにより、さらに錘部と基板との間隔を精密に設定することができる。
以上より、錘部と基板との間隔を精密に設定することができるため、歩留まりが高く生産性及び信頼性の高い加速度センサを提供することができる。また、錘部と基板との間隔を所望の値にするための調整が不要となるため、生産性の高い加速度センサを提供することができる。
(a)、(b)は、それぞれ本発明の加速度センサの実施形態の一例を示す模式的な透視状態の平面図及び断面図である。 (a)、(b)は、それぞれ本発明の加速度センサの基板を説明する模式的な平面図である。 (a)〜(c)は、それぞれ、図1に示す加速度センサの変形例を示す断面図である。 図1に示す加速度センサの変形例を示す断面図である。 図1に示す加速度センサの変形例を示す断面図である。 図1に示す加速度センサの加速度センサ素子の変形例を示す斜視図である。 図1に示す加速度センサの変形例を示す断面図である。
以下に図面を参照して、本発明に係る加速度センサの好適な実施の形態を詳細に説明する。また、以下の実施の形態で用いられる図は模式的なものであり、図面上の寸法比率は現実のものとは必ずしも一致していない。また、本発明は以下の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。なお、本実施形態ではピエゾ抵抗効果を利用した三次元加速度センサ素子を例に説明する。
図1(a),(b)は、本発明の加速度センサ100の透視状態の平面図および断面図である。加速度センサ100は、加速度センサ素子10(以下、単にセンサ素子10ということがある)が基板101に固定されており、このセンサ素子10を封止するようにキャップ型の封止部材102が基板101に固定されている。なお、理解を容易にするために、図1(a)において、基板101上に封止部材102が配置される領域を点線で示している。
センサ素子10は、錘部11と、錘部11を囲繞する枠状の固定部13と、一方端が固定部13に連結され、他方端が錘部11に連結される梁部12と、固定部13に形成されるパッド電極14と、梁部12に形成される変位検出手段としての抵抗素子15と、を有している。錘部11は梁部12により固定部13に支持されており、固定部13に対して変位可能となっている。
センサ素子10に加速度が加わると、加速度に応じた力がこの錘部11に作用し、錘部11が動くことで梁部12が撓むようになっている。
センサ素子10の固定部13は、厚み方向(図のZ軸方向)で梁部12が接続されていない側の面13bで接着剤103を介して基板101に固定されている。基板101は平板状であるため、従来の加速度センサに用いられていたような内底(キャビティ)を有するケースに比べ、実装面の平坦性を確保することができる。また、キャビティ構造を形成する必要がないため、生産性を高めることができる。
基板101にはセンサ素子10と外部回路との電気信号の入出力を実現するための配線層104が形成されている。図1に示す例では、配線層104は、基板101の上面(センサ素子10と対向する側の面)に配置され、センサ素子10のパッド電極14にボンディングワイヤ等の接続線105を介して接続された接続パッド電極104aと、基板101の上面に配置され、複数の接続パッド電極104a同士を電気的に接続したりする不図示の接続配線層と、基板101の下面に配置された、外部回路と接続するための外部回路端子104cと、基板101の厚み方向に貫通し、パッド電極104aまたは接続配線層と外部回路端子104cとを電気的に接続する貫通導体104bと、を含む。
ここで、基板101は、図2(a)に示すように、平面視で第1領域101aとこれに隣接する第2領域101bとを有する。図2(a)は、基板101の平面図であり、網掛けを付した部分は第1領域101a,それ以外の部分は第2領域101bを示している。また、センサ素子10が配置される位置を破線で示している。この第1領域101a,第2領域101bは、基板101の表面のみの領域をさすのではなく、厚み方向も含めた領域をさすものとする。そして、センサ素子10との信号の入出力を行なうために基板100に設けられる配線層104は第2領域101bのみに配置させている。すなわち、配線層104が配置された領域が第2領域であり、それ以外の領域が第1領域101aである。この第1領域101aにセンサ素子10の錘部11を平面視で重なるように配置させる。
平面視での第1領域101a,第2領域101bの形状は特に限定されないが、図2に示すように基板101の中央部分に第1領域101aを配置させ、第1領域101aを囲むように第2領域101bを配置させればよい。また、第1領域101aは、少なくともセンサ素子10の錘部11が平面視で重なっていればよいが、図2(a)に示すように、センサ素子10の全面が重なっていてもよい。この場合には、センサ素子10と基板101とが固定される固定部13が配置される領域も平坦であるため、より安定して錘部11と基板101との距離を確保することができる。
このように、本実施形態の加速度センサ100は、センサ素子10を平板上の基板101に配置し、かつ、基板101に設けられた配線層104を、平面視で、センサ素子10の錘部11と重ならないように基板101の第2領域101bに設けている。これにより、錘部11と基板101との間隔を精密に設定することができ、生産性が高く、かつ信頼性の高い加速度センサ100を提供することができる。
次に加速度センサ100の各部位について詳述する。
<センサ素子の構成>
センサ素子10の構成について詳述する。
錘部11,固定部13,梁部12は、例えば、SOI(Silicon on Insulator)基板を用いて、これを加工することにより一体的に形成することができる。このようなSOI基板は、SiOからなる絶縁層の一主面側に、n型またはp型のSiからなる半導体層が形成されており、他主面側にSiからなる支持層が形成されたものを用いればよい。そして錘部11及び固定部13はこの半導体層,絶縁層,支持層から構成され、梁部は半導体層から構成されるように加工すればよい。
錘部11は、加速度に対する感度をあげるために、可能な限り大きくすることが好ましいが、その形状及び大きさは適宜に設定されてよい。この例では平面形状が略正方形をなし、その一辺の長さは例えば0.25mm〜0.5mmに設定される。また錘部11の厚みは例えば0.2mm〜0.625mmに設定される。特に限定はないが、後述する固定部13の厚みと同程度とすることが好ましい。
このような錘部11を囲繞するようにして枠状の固定部13が形成されている。固定部13は、平面形状が略正方形をなし、中央部に錘部11より若干大きい略正方形の開口部を有している。固定部13は、その一辺が例えば0.8mm〜3.0mmに設定され、固定部13の一主面13aで第1および第2枠部13b,13cを構成するアーム(辺)の幅(アームの長手方向と直交する方向の幅。図1のw)は例えば0.1mm〜1.8mmに設定される。また固定部13の厚み(図1のt)は、例えば0.2mm〜0.625mmに設定される。
このような固定部13と錘部11との間には図1に示すように梁部12が設けられている。梁部12は、一方端が錘部11の各辺の上面側中央部に連結され、他方端が固定部13の内周における各辺の上面側(一主面13a側)中央部に連結されており、本実施形態におけるセンサ素子10では、4本の梁部12が設けられている。
梁部12は可撓性を有し、センサ素子10に加速度が加わると錘部11が動き、錘部11の動きに伴って梁部12が撓むようになっている。梁部12は、例えば長手方向の長さが0.1mm〜0.8mmに設定され、幅(長手方向と直交する方向の長さ)が0.01mm〜0.2mmに設定され、厚みが5μm〜20μmに設定されている。このように梁部12を細長く且つ薄く形成することによって可撓性が発現される。
このような梁部12の上面には複数の抵抗素子15が形成されている。抵抗素子15は、より具体的には、梁部12がn型のSiからなる場合には、ボロンを打ち込んだり拡散させたりすることにより形成されたピエゾ抵抗素子で構成させることができる。本実施形態では、3軸方向(図1に示した3次元直交座標系におけるX軸方向、Y軸方向、Z軸方向)の加速度を検出できるように梁部12の所定の位置にこれらの抵抗素子15が形成されている。
例えば、X軸方向に伸びる2つの梁部12には、X軸方向の加速度を検出するための4個の抵抗素子15が設けられており、それぞれの梁部12に2個ずつ配置されている。これら4個の抵抗素子15のうち、固定部13側に配された抵抗素子同士を直列に接続し、固定部11側に配された抵抗素子同士を直列に接続し、これらを並列に接続することでブリッジ回路を構成している。またY軸方向に伸びる2つの梁部12には、Y軸方向の加速度を検出するための4個の抵抗素子15が設けられており、これらの抵抗素子15を、X軸方向の加速度検出用の抵抗素子15と同様に配置し、抵抗素子同士の接続を行うことによってブリッジ回路を構成している。
また、図示していないがZ軸方向の加速度を検出するための4個の抵抗素子15が、X軸方向に伸びる2つの梁部12に、X軸方向の加速度を検出するための4個の抵抗素子15それぞれと並ぶようにして形成されている。このZ軸方向の加速度検出用の抵抗素子15は、X軸方向の加速度検出用の抵抗素子15とは、抵抗素子同士の接続の仕方が異なっており、本実施形態では、X軸方向に伸びる2本の梁部12のうち一方の梁部12に設けられた固定部13側の抵抗素子15と、他方の梁部12に設けられた錘部11側の抵抗素子15とを直列接続してブリッジ回路を構成している。
このようなブリッジ回路が組まれたセンサ素子20に加速度が加わると、上述したように梁部12が撓み、この撓みに応じて抵抗素子15が変形するため、ブリッジ回路で検出する出力電圧が変化する。この抵抗値の変化に基づく出力電圧の変化を電気信号として取り出し、印加された加速度の方向並びに大きさを検知することができる。また、ブリッジ回路で検出する出力電圧を必要に応じて外部のICで演算処理してもよい。
また、ICは、加速度センサ素子10に設けてもよい。なおZ軸方向の加速度検出用の抵抗素子15は、X軸方向に伸びる梁部12に設けたのと同様にして、Y軸方向に伸びる2つの梁部12に設けるようにしてもよい。
固定部13の上面には、抵抗素子15と電気的に接続される素子側のパッド電極14が設けられており、このパッド電極14を介して抵抗素子同士の接続や抵抗素子15からの電気信号の外部への取り出しなどを行っている。また、不図示の配線を介してパッド電極14同士の接続や電気信号の取り出しを行なってもよい。
<加速度センサ素子の製造方法>
次にセンサ素子10の製造方法について説明する。
基板としてSOI基板を用いた例を用いて説明する。SOI基板は、絶縁層と、絶縁層の一方側に積層された半導体層と、絶縁層の他方側に積層された支持層とを有するものである。絶縁層は、例えばSiOにより形成されている。半導体層は、シリコンにより形成されている。支持層は、例えば、シリコン等の半導体により形成されている。まずSOI基板の半導体層に対して表面加工を行う。
具体的には、半導体層にイオン注入法又は熱拡散法などにより不純物を注入することでピエゾ抵抗からなる抵抗素子15を形成する。不純物としては、半導体層がn型のSOI基板を用いた場合にはB(ボロン)が例示でき、半導体層がp型のSOI基板を用いた場合にはP(リン),As(ヒ素),Ph(ホスヒン)などが例示できる。抵抗素子15を形成した後、ピエゾ抵抗素子に連結する配線を形成する。配線は、スパッター、CVD、蒸着などによりアルミなどの金属材料を成膜した後、成膜した金属材料をドライエッチング、ウェットエッチングなどによりパターニングすることにより形成される。
次に、従来周知の半導体微細加工技術、例えばフォトリソグラフィ法や反応性イオンエッチング(Reactive Ion Etching:RIE)などによりSOI基板の半導体層側と支持層側から加工を施すことにより、固定部13,錘部11,梁部12を形成する。厚み方向(Z軸方向)において固定部13,錘部11等を一主面に対して垂直に加工するためには、誘導結合型プラズマ(Inductively Coupled Plasma:ICP)RIEにより加工することが好ましい。
具体的には、まず、錘部11と固定部13とを区切る溝部に対応する領域において半導体層を除去する。次に、上記の溝部,梁部12に対応する領域において支持層を除去する。
さらに、上記の溝部に対応する領域において絶縁層を除去する。以上のようにして、半導体層、絶縁層及び支持層を貫通する溝部が形成され、当該溝部によりSOI基板が内周側と外周側とに区切られ、錘部11と固定部13とが形成される。また、溝部の間欠部分(溝部が途切れる部分)における半導体層25により梁部12が形成される。
なお、SOI基板は、複数のセンサ素子10よりも広い面積を有しており、上述の工程においては、1枚のSOI基板から複数のセンサ素子10が形成される。各工程は、基本的には1枚のSOI基板の複数のセンサ素子10に対して並行的に行われ、例えばダイシングなどにより複数のセンサ素子10に分割される。
以上のとおり、各工程により、センサ素子10は形成される。
<基板>
次に、基板101について詳述する。
基板101は、平板状であれば特に材料等は限定されないが、例えばセラミックス基板や単結晶基板、Si基板等を用いることができる。そして、この基板101には配線層104が形成されている。配線層104は、センサ素子10が配置される側の面(上面)に配置された、接続パッド電極104aとそれらを接続する不図示の接続配線層と、基板101の下面に配置された、外部回路と接続するための外部回路端子104cと、基板101の厚み方向に配置された基板101の上面と下面とを貫通する貫通導体104bと、を含む。
ここで、基板101の上面及び下面に形成される配線層104a、104c等は、例えばスパッターやめっきや印刷等の通常のプロセスを用いて、Au,Cu等の導電性材料で形成すればよい。例えば、Mo−Mn,Pt−Pd等のメタライズ層にNi,Au等を積層させればよい。また、基板101の厚み方向に配置される配線層104bは、例えば通常の半導体プロセスにより、貫通穴を形成し、貫通穴に導電性ペーストで充填すればよい。
ただし、これら配線層104は平面視で基板101の一部(第2領域101b)に配置させており、少なくともセンサ素子10の錘部11の平面視での形状よりも大きい配線層が存在しない領域(第1領域101a)を設ける必要がある。この例では、第1領域101aは、平面視でセンサ素子10全体の大きさと同等以上としている。
<封止部材>
封止部材102は、基板101と合わせてセンサ素子10を封止できるキャップ状であれば特にその材料や大きさには限定されないが、例えば、コバールや42アロイ,ステンレス等の金属材料を用い、不図示のロウ剤等を介して基板101に固定させる。固定にはシーム溶接等で行なえばよい。なお、封止部材102をシーム溶接で基板101に接続する場合には、封止部材102の開口部側の形状(基板101に固定される面の形状)は、図1に示すように基板101に接触する面積が増えるように、基板101の主面と平行に延びるように折り曲げた延在部を設ける。また、封止部材102として樹脂材料を用いてもよい。
<加速度センサ>
上述のようなセンサ素子10を平面視で、基板101の第1領域101aに錘部11が配置されるようにして、固定部13の下面13bに接着剤103を介して固定する。ここで、接着剤103は、例えば、シリコーン樹脂やエポキシ樹脂により形成されている。
接着剤103は、複数のフィラーを含有していてもよい。複数のフィラーは、例えば、所定の径を有する球状部材である。従って、フィラーがスペーサとしての機能を果たすことによって、固定部13bと基板101とのギャップが一定に保たれる。なお、フィラーの直径は、例えば、4〜30μmである。なお、フィラーの形状は球状に限定されない。
なお、このように接着剤103にスペーサとして機能するフィラーを混在させる場合においても、第1領域101aの平坦性が優れているため、従来のような煩雑な間隔制御は不要であり、格段に生産性の高い加速度センサ100を提供することができる。
そして、このように基板101に固定したセンサ素子10を、空隙を介して封止するような封止部材102を基板101に固定する。
基板101と封止部材102とで構成される空隙内の雰囲気は特に限定されないが、例えば真空としたり、不活性ガス等を含むようにさせたりすればよい。
上述のように、センサ素子10を基板101に配置して、封止部材102で封止することにより、生産が容易で、信頼性の高い加速度センサ100を提供することができる。
次に、加速度センサ100の変形例について図面を用いて説明する。
<変形例1:第1領域>
次に、加速度センサ100の変形例について説明する。図1,図2(a)では、基板101の第1領域101aは、平面視で、センサ素子10の外形以上の大きさとなっていたが、センサ素子10の錘部11が配置される領域に配線層104が存在しなければよいので、図2(b)に示すように、主に錘部11のみに重なり固定部13とは重ならないように設定してもよい。この場合には、基板101上や、厚み方向において、配線層104の配置領域を広く設けることができるので、電気配線の取り回しが容易となるので好ましい。これにより、生産性の高い加速度センサを得ることができる。
<変形例2:配線層>
また、図1では、配線層104のうち貫通導体104c以外は、基板101の主面(上面,下面)のみに形成されていたが、図3(a)に示すように、基板101の厚み方向に配線層104の一部を積層してもよい。この場合には、グリーンシートを積層し、グリーンシート間に導電ペーストで形成した内部配線層104dを配置し、一括焼成することで基板101を得ることができる。この場合には、配線層104の配置の自由度が増し、配線に必要な平面視での領域が小さくなることから、基板101の小型化が可能となる。また、配線層の配置の自由度が増すため、様々な端子レイアウト等に対応できる取り扱いが容易で汎用性の高い加速度センサ110とすることができる。
これにより、生産性の高い加速度センサ110を得ることができる。
<変形例3:配線層>
また、図1では、センサ素子10は平坦な基板101の上面に固定されていたが、図3(b)に示すように、上面の一部に凸部101cを有する基板101を用いて、この凸部101cにセンサ素子10の固定部13を固定してもよい。ここで、凸部101cの直下領域には配線層104が形成されている。基板101の上面には配線層104を構成する複数の接続配線層104eが形成されているが、この接続配線層104eおよび、その接続配線層104e上に設けられる絶縁性の保護膜等により生じる段差(凸部101c)を、固定部13と対向させて配置し、接着剤等を介して両者を固定してもよい。この場合には、固定部13は基板101の第2領域101bに配置されていることとなる。
図3(b)に示す構成によれば、凸部101cにより、センサ素子10と基板101との間隔を確保することができるので、例えば、センサ素子10と基板101とを接続する際にスペーサとして機能するフィラー等の大きさ、混入量等の制御の必要性が少なくなるので、生産性の高い加速度センサ130を提供することができる。
このような基板101は下記のようにして準備することができる。まず、平板状の基板本体を準備し、次にその上面に接続配線層104eを形成する。そして、この接続配線層104eの形成領域にそれを覆うように保護膜を形成する。そしてこの保護膜と接続配線層104eとからなる凸部101cを基板本体の上面に有する基板101を構成する。
なお、図3(b)では、凸部101cにおいて接続配線層104eが平面視で並進するように配置されているが、複数の接続配線層104eを絶縁層を介して積層させて凸部101cとしてもよい。
<変形例4:配線層>
また、図1では、センサ素子10は基板101の下面にも配線層が形成されているが、図3(c)に示すように、基板101の上面のみに配線層104を形成してもよい。図3(c)に示す加速度センサ130では、基板101の上面のうち封止部材102が配置される領域の内側から外側につながる配線層104fを配置している。これにより、封止部材102の内側と外側との間でセンサ素子10への電気信号の入出力を行なうことができる。なお、封止部材102が導電性を有する場合には、少なくとも封止部材102が固定される領域にある配線層104f上に絶縁層を形成し、この絶縁層上に封止部材102を配置する。
このような構成によれば、優れた平坦性を有する基板本体を用いて、その上面のみに配線層104を形成すればよいため、基板101のセンサ素子10を配置する領域の平坦性が良好なため、生産性および信頼性の高い加速度センサ130を提供することができる。
<変形例5:規制板>
過度の加速度が印加したときにセンサ素子10の破損を防ぐために、図1に示すセンサ素子10に加えて、図4に示すように規制板16を設けてもよい。
図4において、規制板16はセンサ素子10の基板101と対向しない側の面に不図示の接着剤を介して固定されている。
規制板16は、平面視で錘部11に重なるように配置させることができ、センサ素子10に対向する側の面が平坦であれば、その形状は特に限定されない。例えば、矩形状とし、その短辺側の辺の長さは固定部13の辺の長さ(アームの長さ)に比べて短く、この短辺側で固定部13に固定されている。長辺側の辺の長さは、固定部の辺の長さと同程度とする。このような規制板16は、センサ素子10に対向する側の領域が絶縁性を有するように加工されていれば特にその材料は限定されず、例えば、ガラス基板,シリコン基板,セラミック基板,樹脂基板などにより構成されている。
そして、規制板16は、例えば、例えば、シリコーン樹脂やエポキシ樹脂などの接着剤により、固定部13と固定されている。接着剤は固定部13のうち接続配線パッド104aが配置されていない部分に設ければよい。接着剤は、複数のフィラーを含有していてもよい。複数のフィラーは、例えば、所定の径を有する球状部材である。従って、フィラーがスペーサとしての機能を果たすことによって、固定部13と規制板16とのギャップが一定に保たれる。そして、錘部11は、規制板16との間の範囲内で、Z軸方向における変位が許容される。フィラーの直径は、例えば、4〜30μmである。なお、フィラーの形状は球状に限定されない。
接着剤により確保する規制板16と固定部13との間隙は、下限は、素子の加速度検出範囲とを考慮して設定し、上限は過度な加速度により生じる変位に起因する破損を考慮して設定すればよい。
センサ素子10に過大な加速度が加えられたときには、錘部11が規制板16に当接することにより、変位が規制される。これにより、センサ素子10の破損が抑制される。
そして、この規制板16のセンサ素子10と対向しない側の面(上面)から基板101の上面までの距離の最大値t1は、接続線105から基板101の上面までの最大値t2に比べ大きい。このような構成とすることで、過度の加速度が印加された場合においても、接続線105が封止部材102の内壁に接触することはない。これにより、センサ素子10と外部回路との接続を安定して実現させることができる。さらに、封止部材102の内周面が導電性を有する場合には、規制板16により接続線105と封止部材102との接触を防ぐことができるので、信頼性の高い加速度センサ140とすることができる。
<変形例6:センサ素子の基板に対する配置方向>
図1に示す加速度センサは、固定部13のうち、厚み方向で梁部12が接続されていない側の面13bで基板101と固定しているが、図5に示すように、厚み方向で梁部12が接続されている側の面で基板101と固定してもよい。
この場合には、センサ素子10のパッド電極14と基板101の接続パッド電極104aとを直接接続することでセンサ素子10を外部回路に電気的に接続させることができる。なお、パッド電極14と接続パッド電極104との間に半田やAu等からなるバンプを設けてもよい。バンプにより基板101と錘部11との間隔を調整することができるので、錘部11の可動領域を確保することができる。
ここで、センサ素子10の固定部13,錘部11の一部を構成する支持層が絶縁材料からなる場合には、センサ素子10のうち、電気的な配線が形成されている側の面を基板101と対向させて固定することで、封止部材102と対向する領域は絶縁性を有することとなる。このような構成とすることにより、封止部材102の内周面が導電性を有する場合においても、例えセンサ素子10と封止部材102とが接触しても短絡することがない、信頼性の高い加速度センサ140を提供することができる。
また、支持層が導電性を有する場合には、封止部材102と対向する側の面に絶縁層を設けることで、同様の効果を奏する加速度センサを提供することができる。このような絶縁層は例えばSiO等で形成すればよい。
<変形例7:錘部>
図1に示すセンサ素子10は錘部11の平面形状が略正方形のものを示したが、図6に示すように、錘部11の四隅に連結された4個の付属錘部21が設けられた構成としてもよい。付属錘部21は、錘部11と一体形成されるものであり、付属錘部21を設けることによって加速度に対する梁部12の撓みが大きくなり、加速度の検出感度を向上させることができる。
付属錘部21の平面視における一辺の長さは例えば、0.1mm〜0.4mmである。付属錘部21の厚みは例えば錘部11の厚みと同じである。このような付属錘部21は、SOI基板を加工して錘部11を形成するときに同時に形成するようにパターニングを工夫すればよい。
なお、図1および図6に示すセンサ素子10,20は、錘部11がSOI基板からなる場合を例に説明したが、錘部11を構成する材料に比べ比重の大きい材料からなる別体の錘部材を貼りあわせてもよい。この場合には、同じ加速度が加わった場合に梁部12が撓む量が増え、より感度の高いセンサ素子を提供することができる。
このような錘部材としては、錘部11がシリコンであればイリジウム、オスミウム、白金、レニウム、金、タングステン、ウラン、タンタル、パラジウム、ルテニウム、タリウム、鉛、銀、モリブデン、ルテチウム、ビスマスにより形成し、例えば、ポリイミド、エポキシ等の接着部材を介して錘部11に接続すればよい。
本発明は、以上の実施形態及び変形例に限定されず、種々の態様で実施されてよい。
加速度センサは、3軸の加速度を計測するものに限定されない。また、重り部の形状や梁部の数等の具体的な構成は、適宜に設定されてよい。例えば、加速度センサ素子は、梁部を1本のみ又は2本のみ有し、1軸の加速度を計測するものであってもよい。また、SOI基板ではなくSi基板を用いてもよい。また、梁部の形状をダイヤフラム形状としてもよい。
また、図7に示すように配線層104として、基板101の端面に形成される端面電極104gを有する構成としてもよい。この場合には、加速度センサを外部回路に半田等を介して接続するときに、接続面積を増やすことができ、接着強度を高めることができるので好ましい。また、基板101の両主面を導通させるような端面電極104gを設けることで、貫通導体104bを減らすことができるので、加速度センサの配線層104の配置を簡素化することができるので生産性を高めることができる。
また、上述の実施形態では変位検出手段としてピエゾ抵抗を用いて、この抵抗値の変化により変位を検出する加速度センサについて説明したが、変位検出手段として電極を用いて、静電容量の変化により変位を検出してもよいし、変位検出手段として弾性表面波素子を用いて、位相の変化により変位を検出してもよい。
さらに、上述の実施形態では、固定部が錘部を囲繞する枠状の形状の加速度センサ素子を例に説明したが、例えば片持ち梁状やメンブレム状であってもよい。
10・・・センサ素子
11・・・錘部
12・・・梁部
13・・・固定部
14・・・パッド電極
15・・・抵抗素子
16・・・規制板
101・・基板
102・・封止部材

Claims (7)

  1. 固定部と、前記固定部に対して変位可能な錘部と、一方端が前記錘部に、他方端が前記固定部に接続された梁部と、前記錘部の変位に応じた信号を出力する変位検出手段と、を有する加速度センサ素子と、
    平面視で、前記加速度センサ素子の前記錘部が配置される第1領域と、前記第1領域に隣接し、前記加速度センサ素子を外部回路に接続するための配線層を有する第2領域と、を有する基板と、
    前記加速度センサ素子を空隙を介して封止するように、前記基板の上面に固定されたキャップ型の封止部材と、有する加速度センサ。
  2. 前記配線層は、前記基板の前記上面と直交する厚み方向に積層されている、請求項1に記載の加速度センサ。
  3. 前記加速度センサ素子は、平面視で前記第1領域に配置される、請求項1または2に記載の加速度センサ。
  4. 前記第2領域は、直下領域に前記配線層が設けられた凸部を有し、
    前記加速度センサ素子は、前記固定部を前記凸部に固定して配置されている、請求項1または2に記載の加速度センサ。
  5. 前記配線層は、前記基板の一主面上に配置されるパッド電極を含み、
    前記加速度センサ素子と前記パッド電極とを接続する接続線を更に含む、請求項1乃至4のいずれかに記載の加速度センサ。
  6. 前記加速度センサ素子は、前記錘部の、前記第1領域と対向しない側に設けられた絶縁材料からなる規制板を更に有し、
    前記接続線と前記基板の上面との距離の最大値は、前記規制板の上面と前記基体の上面との距離の最大値に比べ小さい、請求項1乃至5のいずれかに記載の加速度センサ。
  7. 前記封止部材の前記基板側の内周面は導電性を有し、
    前記加速度センサ素子の、前記固定部,前記錘部,前記梁部のうち前記封止部材と対向する領域は絶縁材料からなる、請求項1乃至6のいずれかに記載の加速度センサ。
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