JP2010199204A - 発光装置およびその製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 8
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 7
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 abstract description 8
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 21
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 16
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 10
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 6
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 4
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000003353 gold alloy Substances 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 GaAs compound Chemical class 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
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- H01L2224/36—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors prior to the connecting process
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- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/37117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/37124—Aluminium [Al] as principal constituent
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- H01L2224/371—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/37138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/37144—Gold [Au] as principal constituent
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- H01L2224/37138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/37147—Copper [Cu] as principal constituent
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Abstract
【課題】支持基体上の発光素子に確実に電力を供給することができ、さらに放熱性を確保することのできる発光装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】第1発光素子10および第2発光素子20がパッケージ40の内部に収容されており、ヒートシンク41上のダイパッド43の側面に配置されている。第1発光素子10および第2発光素子20は、第2発光素子20がダイパッド43側に配置された状態で互いに重ね合わされている。第2発光素子20は、第1発光素子10よりもチップサイズの大きな素子であり、第2発光素子20の幅が、第1発光素子10の幅よりも広くなっている。第1発光素子10の上面には、熱伝導部材30が接合されている。熱伝導部材30は、配線機能を兼ねており、第1発光素子10のn側電極14と、接続端子54aとを電気的に接続している。
【選択図】図1
【解決手段】第1発光素子10および第2発光素子20がパッケージ40の内部に収容されており、ヒートシンク41上のダイパッド43の側面に配置されている。第1発光素子10および第2発光素子20は、第2発光素子20がダイパッド43側に配置された状態で互いに重ね合わされている。第2発光素子20は、第1発光素子10よりもチップサイズの大きな素子であり、第2発光素子20の幅が、第1発光素子10の幅よりも広くなっている。第1発光素子10の上面には、熱伝導部材30が接合されている。熱伝導部材30は、配線機能を兼ねており、第1発光素子10のn側電極14と、接続端子54aとを電気的に接続している。
【選択図】図1
Description
本発明は、発光素子がパッケージ内に収容されたパッケージタイプの発光装置およびその製造方法に関する。
近年、半導体レーザの分野では、同一基板(または基体)上に発光波長が異なる複数の発光部を有する多波長レーザの開発が活発に行われている。この多波長レーザは、例えば光ディスク装置の光源として用いられる。
このような光ディスク装置では、700nm帯のレーザ光がCD(Compact Disk)の再生に用いられると共に、CD−R(CD Recordable),CD−RW(CD Rewritable)あるいはMD(Mini Disk)などの記録可能な光ディスクの記録・再生に用いられる。また、600nm帯のレーザ光がDVD(Digital Versatile Disk)の記録・再生に用いられている。多波長レーザを光ディスク装置に搭載することにより、既存の複数種類の光ディスクのいずれに関しても、記録または再生が可能となる。さらに、GaN,AlGaNおよびGaInNに代表される窒化物系III−V族化合物半導体(以下、GaN系の化合物半導体という。)を用いた短波長(400nm帯)のレーザも実現され、より高密度の光ディスクの光源として実用化が図られている。この短波長レーザも含めて多波長化することにより、より用途を拡げることができる。
このようなGaN系のレーザ発振部を有する3波長レーザ素子(発光装置)として、従来では、例えば、以下に示した方法で作製されたものが提案されている。すなわち、まず、GaN基板上にGaN系の化合物半導体を成長させて400nm帯の波長の第1発光素子を作製する。また、同一のGaAs基板上に、AlGaInP系の化合物半導体の成長による600nm帯の素子と、AlGaAs系の化合物半導体の成長による700nm帯の素子とを並設して第2発光素子を作製する。そして、これら第1発光素子および第2発光素子を支持基体上にこの順に重ねて配設する。このようにして、従来では、3波長レーザ素子が作製されていた。この従来タイプの3波長レーザ素子では、第2発光素子で発生した熱が熱伝導性に優れたGaN基板や支持基体から放熱されるので、高い放熱効率が得られる。
特許文献1では、第1発光素子が支持基体上に配置され、かつ第1発光素子よりも幅広に形成された第2発光素子が第1発光素子の上に接合されると共に、複数のパンプによって支持基体上に支持された発光装置が開示されている。このような発光装置では、第2発光素子において発生した熱が、第1発光素子を介して、またはバンプを介して支持基体に伝導されるようになっている。
特許文献1に記載された発光装置においては、第2発光素子を搭載する際に、第1発光素子への接合と同時に、支持基体上に設けられたバンプとも接合されなければならない。しかし、第1発光素子とバンプとのそれぞれの高さが大きく異なるので、第2発光素子を第1発光素子およびバンプのいずれにも確実に接合させることが技術的に難しくなっていた。
さらに、各発光素子を支持基体に搭載する場合、第1発光素子と第2発光素子とを接合した後、それらの発光素子を支持基体に搭載する方法がある。しかし、この方法においても、上記と同様に第1発光素子とバンプとの高さが大きく異なるので、第2発光素子を第1発光素子およびバンプのいずれとも確実に接合させることが技術的に難しくなっていた。
そして、第2発光素子が第1発光素子またはバンプと確実に接合していない場合には、第2発光素子に電力を供給することができないという問題があった。また、第2発光素子が第1発光素子およびバンプと接合し、第2発光素子に電力を供給することができた場合でも、第2発光素子において発生する熱を支持基体に十分に伝導することができないという問題があった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、支持基体上の発光素子に確実に電力を供給することができ、さらに放熱性を確保することのできる発光装置およびその製造方法を提供することにある。
本発明の発光装置は、第1支持基体に配置された発光素子と、第1支持基体および発光素子を覆うと共に第1支持基体を支持するパッケージと、発光素子とパッケージとに端部がそれぞれ接合され、配線機能をも兼ねた熱伝導部材とを備えたものである。
本発明の発光装置では、熱伝導部材が発光素子とパッケージとに接合されている。これにより、例えば、発光素子内の発熱領域が第1支持基体から離れていたり、発光素子内において、発光素子内の発熱領域と第1支持基体との間に、熱伝導性の悪い領域が存在したりする場合であっても、発光素子内で発生した熱を、熱伝導部材に伝導させることができる。また、例えば、発光素子の発熱が極度に高い場合であっても、発光素子内で発生した大量の熱を、第1支持基体だけでなく、熱伝導部材にも伝導させることができる。さらに、本発明では、熱伝導部材が配線機能をも兼ねているので、熱伝導部材等を介して発光素子に電力を供給することができる。
本発明の発光装置の製造方法は、以下の(A)、(B)の各工程を含むものである。
(A)第1支持基体と、第1支持基体を支持する第2支持基体と、第2支持基体との関係で第1支持基体の側面に配置された発光素子とを備えたモジュールを用意する第1工程
(B)第1支持基体と第2支持基体とによって形成される角部が下がるようにモジュールを傾け、発光素子と第2支持基体との間に架け渡されるように、配線機能をも兼ねた熱伝導部材を配置すると共に、発光素子と熱伝導部材との間、および第2支持基体と熱伝導部材との間に熱伝導部材を配置した状態で、熱伝導部材を発光素子と第2支持基体とに固着させる第2工程
(A)第1支持基体と、第1支持基体を支持する第2支持基体と、第2支持基体との関係で第1支持基体の側面に配置された発光素子とを備えたモジュールを用意する第1工程
(B)第1支持基体と第2支持基体とによって形成される角部が下がるようにモジュールを傾け、発光素子と第2支持基体との間に架け渡されるように、配線機能をも兼ねた熱伝導部材を配置すると共に、発光素子と熱伝導部材との間、および第2支持基体と熱伝導部材との間に熱伝導部材を配置した状態で、熱伝導部材を発光素子と第2支持基体とに固着させる第2工程
本発明の発光装置の製造方法では、熱伝導部材の接合時にモジュール全体が傾いている。そのため、熱伝導部材に対して、発光素子および第2支持基体に接合しようとする力が発生するので、熱伝導部材を発光素子および第2支持基体に確実に接合することができる。これにより、例えば、発光素子内の発熱領域が第1支持基体から離れていたり、発光素子内において、発光素子内の発熱領域と第1支持基体との間に、熱伝導性の悪い領域が存在したりする場合であっても、発光素子内で発生した熱を、熱伝導部材に伝導させることができる。また、例えば、発光素子の発熱が極度に高い場合であっても、発光素子内で発生した大量の熱を、第1支持基体だけでなく、熱伝導部材にも伝導させることができる。さらに、本発明では、熱伝導部材が配線機能をも兼ねているので、熱伝導部材等を介して発光素子に電力を供給することができる。
本発明の発光装置によれば、発光素子とパッケージとに、配線機能をも兼ねた熱伝導部材を接合するようにしたので、支持基体(第1支持基体)上の発光素子に確実に電力を供給することができ、さらに放熱性を確保することができる。
本発明の発光装置の製造方法によれば、熱伝導部材の接合時にモジュール全体を傾けるようにしたので、支持基体(第1支持基体)上の発光素子に確実に電力を供給することができ、さらに放熱性を確保することができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
なお、説明は以下の順序で行う。
1.第1の実施の形態(2つの発光素子を搭載。熱伝導部材30にリボンを使用)
2.第2の実施の形態(2つの発光素子を搭載。熱伝導部材30にリードフレームを使用)
3.第3の実施の形態(1つの発光素子を搭載。
熱伝導部材30にリボンまたはリードフレームを使用)
4.変形例
なお、説明は以下の順序で行う。
1.第1の実施の形態(2つの発光素子を搭載。熱伝導部材30にリボンを使用)
2.第2の実施の形態(2つの発光素子を搭載。熱伝導部材30にリードフレームを使用)
3.第3の実施の形態(1つの発光素子を搭載。
熱伝導部材30にリボンまたはリードフレームを使用)
4.変形例
<第1の実施の形態>
[発光装置の構成]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1の分解斜視構成を表したものである。本実施の形態の発光装置1は、光ディスクの記録・再生等を行う光ディスク装置の光源として好適に用いられるものである。発光装置1は、例えば、図1に示したように、第1発光素子10および第2発光素子20がパッケージ40の内部に収容された多波長レーザである。第1発光素子10および第2発光素子20は共に、端面発光型の半導体レーザであり、それぞれの光射出面10A,20Aを後述の取り出し窓43aの方向に向けた状態で、後述のダイパッド43(第1支持基体)上に設けられている。
[発光装置の構成]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1の分解斜視構成を表したものである。本実施の形態の発光装置1は、光ディスクの記録・再生等を行う光ディスク装置の光源として好適に用いられるものである。発光装置1は、例えば、図1に示したように、第1発光素子10および第2発光素子20がパッケージ40の内部に収容された多波長レーザである。第1発光素子10および第2発光素子20は共に、端面発光型の半導体レーザであり、それぞれの光射出面10A,20Aを後述の取り出し窓43aの方向に向けた状態で、後述のダイパッド43(第1支持基体)上に設けられている。
第1発光素子10は、第2発光素子20の上面に形成されている。つまり、第1発光素子10および第2発光素子20は、第2発光素子20がダイパッド43側に配置された状態で互いに重ね合わされている。第2発光素子20は、第1発光素子10よりもチップサイズの大きな素子であり、例えば、第2発光素子20の幅が、第1発光素子10の幅よりも広くなっている。
図2(A)は、発光装置1のうち第1発光素子10および第2発光素子20を含む部分を、光射出面10A,20Aと平行な面で切断した断面構成の一例を表したものである。図2(B)は、発光装置1のうち第1発光素子10および第2発光素子20を含む部分を、光射出面10A,20A直交する面で切断した断面構成の一例を表したものであり、図2(A)のA−A線における断面構成の一例を表したものである。
第1発光素子10は、基板11上に、発光点12Aを形成するレーザ構造12を備えており、例えば400nm帯のレーザ光を射出する単波長の半導体レーザである。基板11は、例えばGaN基板である。レーザ構造12は、基板11との関係で第2発光素子20側に形成されており、例えばGaN系の化合物半導体によって構成されている。GaN基板は、熱伝導率が約130W/(m・K)という高い値を示すことから、第1発光素子10の内部で発生した熱を伝導しやすくなっている。
この第1発光素子10には、レーザ構造12のうち第2発光素子20側の面にp側電極13が形成されている。p側電極13はレーザ構造12のうち第2発光素子20側の面と電気的に接続されている。また、基板12のうち第2発光素子20とは反対側の面にn側電極14が形成されている。n側電極14は基板12のうち第2発光素子20とは反対側の面と電気的に接続されている。
第2発光素子20は、同一の基板21上に、発光点22Aを形成するレーザ構造(図示せず)と、発光点22Bを形成するレーザ構造(図示せず)を備えている。なお、図2(A),(B)では、これらのレーザ構造を区別せずに単一のレーザ構造22として示した。発光点22Aを形成するレーザ構造は、例えば600nm帯のレーザ光を射出するようになっており、発光点22Bを形成するレーザ構造は、例えば700nm帯のレーザ光を射出するようになっている。つまり、第2発光素子20は、例えば、600nm帯のレーザ光と700nm帯のレーザ光を射出する2波長の半導体レーザである。
基板21は、例えば、GaAs基板である。発光点22Aを形成するレーザ構造は、例えば、AlGaInP系の化合物半導体によって構成されている。発光点22Bを形成するレーザ構造、例えば、GaAs系の化合物半導体をによって構成されている。GaAs基板は、熱伝導率が約17.8W/(m・K)という低い値を示すことから、第2発光素子20の内部で発生した熱を伝導し難くなっている。
この第2発光素子20には、発光点22Aを形成するレーザ構造の上面にp側電極24aが形成されている。p側電極24aは、発光点22Aを形成するレーザ構造の上面と電気的に接続されている。また、発光点22Bを形成するレーザ構造の上面にp側電極24bが形成されている。p側電極24bは、発光点22Bを形成するレーザ構造の上面と電気的に接続されている。また、第1発光素子10のp側電極13に電気的に接続された配線パターン25がレーザ構造22の上面に、レーザ構造22とは絶縁分離されて形成されている。また、基板21の下面にはn側電極26が形成されている。n側電極26は、基板21を介して、発光点22Aを形成するレーザ構造の下面と発光点22Bを形成するレーザ構造の下面との双方に対して電気的に接続されている。
第2発光素子20は、金属合金や導電性接着剤等の導電性接合材31(第2導電性接合材)を用いてダイパッド43に接合されている。これにより、n側電極26は、導電性接合材31を介してダイパッド43に電気的に接続されている。一方、第1発光素子10は、レーザ構造12側を下にして、金属合金や導電性接着剤等の導電性接合材32(第3導電性接合材)を用いて第2発光素子20の上面に接合されている。これにより、p側電極13は、導電性接合材32を介して配線パターン25に電気的に接続されている。
上述したように、本実施の形態では、第1発光素子10とダイパッド43との間に、熱伝導性の低い第2発光素子20が介在している。そのため、第1発光素子10の内部で発生した熱が第2発光素子20を介してダイパッド43へ伝導され難くなる。そこで、本実施の形態では、第1発光素子10の内部で発生した熱を放熱するために、第1発光素子10の上面(第2発光素子20とは反対側)に熱伝導部材30が接合されている。
熱伝導部材30は、例えば、アルミニウムを主成分とする材料(例えばアルミニウム合金)を平坦に延ばした薄板状部材(リボン)からなる。熱伝導部材30は、第1発光素子10との接合が可能な範囲内において、より厚いことが好ましい。熱伝導部材30の厚さが厚くなることにより、熱伝導部材30の断面積および表面積が大きくなり、熱伝導部材30の熱伝導能力および放熱能力が高くなるからである。また、熱伝導部材30は、第1発光素子10との接合が可能な範囲内において、より短いことが好ましい。熱伝導部材30の長さが短くなることにより、熱伝導部材30の熱伝導能力が高くなるからである。熱伝導部材30として、例えば、70μm前後の厚みの薄板状部材が用いられる。
また、熱伝導部材30には、例えば、金を主成分とする材料(例えば金合金)を平坦に延ばした薄板状部材を用いることもできる。熱伝導部材30として金合金製の薄板状部材を用いた場合には、熱伝導部材30をn側電極14および後述のヒートシンク41と接合する時に、より確実に接合することができる。
なお、熱伝導部材30には、ワイヤを用いることも可能である。ただし、例えば、99.99%の金からなる直径25μmのワイヤを用いた場合には、ワイヤが細線であるので熱伝導に寄与する効果が余り無く、複数本のワイヤを施さなければならないという不具合がある。また、ワイヤに流れる電流量が多くなることによって発熱したり、溶断したりすることもあり、許容される電流量を考慮する必要がある。例えば、直径25μmのワイヤを99.99%の金で作製した場合に、400mA以上の電流をワイヤに流したときには、ワイヤが発熱し、600mA〜1Aで溶断する。
熱伝導部材30は、第1発光素子10のn側電極14に接合されると共に、後述のヒートシンク41に接合されている。そのため、熱伝導部材30は、第1発光素子10からヒートシンク41へ熱を伝導する機能を有している。また、ヒートシンク41には、後述するように、接続端子45aが電気的に接続されている。そのため、熱伝導部材30は、n側電極14と接続端子45aとの間に電気を流す機能も有している。従って、熱伝導部材30は、熱伝導機能、放熱機能および配線機能の3つの機能を備えている。
なお、発光装置1には、図2(B)に示したように、受光素子35が配置される場合がある。受光素子35は、第1発光素子10および第2発光素子20の後端から漏れ出した光(モニタリング光)を受光し、その受光した光の出力レベルに応じた電気信号(フォトカレント)を出力するものである。この電流信号を利用することで発光装置1の取り出し窓43aから出力された光の強度を類推することが可能となる。この場合、熱伝導部材30は、モニタリング光を遮光することがないように、第1発光素子10および第2発光素子20から受光素子35へ向かうモニタリング光の光路以外の位置に配置することが必要である。従って、熱伝導部材30のヒートシンク41側の端部が受光素子35から十分に離れた位置に接合されることが好ましい。
パッケージ40は、図1に示したように、第1発光素子10および第2発光素子20と、ダイパッド43とを収容可能なパッケージである。パッケージ40は、例えば、円板形状のヒートシンク41(第2支持基体)と、ヒートシンク41に接合される蓋体42とを備えている。ヒートシンク41上には、図2(B)に示したように、金属合金や導電性接着剤等の導電性接合材44(第1導電性接合材)が形成されており、ダイパッド43(第1支持基体)が、この導電性接合材44を介してヒートシンク41に接合されている。
第1発光素子10および第2発光素子20は、ヒートシンク41との関係でダイパッド43の側面に配置されている。つまり、n側電極14も、ヒートシンク41との関係でダイパッド43の側面に配置されていることになり、n側電極14の法線(図示せず)と、パッケージ40のうち熱伝導部材30と接合している面(ヒートシンク41)の法線(図示せず)とが互いに交差(直交)している。
なお、上述した受光素子35が設けられている場合には、受光素子35も、導電性接合材44を介してヒートシンク41に接合されている。つまり、ヒートシンク41は、第1発光素子10、第2発光素子20、ダイパッド43および受光素子35などを支持する支持基体としての機能を有しており、かつパッケージ40の底部をなしている。ヒートシンク41、蓋体42およびダイパッド43はそれぞれ、例えば、金属や、導電性セラミックなどによって構成されている。ヒートシンク41、蓋体42およびダイパッド43に用いられる金属としては、放熱性の高いもの、例えば、銅や鉄を主成分とする材料の表面に金めっきを施したものや、Cuブロックを用いることが好ましい。また、これらに用いられる金属としては、他には、アルミニウムを主成分とする材料(例えばアルミニウム合金)、金を主成分とする材料(例えば金合金)などを用いることが好ましい。
ヒートシンク41には、さらに、図1に示したように、複数の絶縁リング47が貫通して設けられており、絶縁リング47の内部には貫通孔が存在している。各絶縁リング47には、複数の接続端子45(45b〜45d)が一つずつ貫通して設けられている。接続端子45b〜45dは、絶縁リング47によってヒートシンク41と絶縁分離されている。接続端子45bは、例えば、ワイヤ46bを介してp側電極24aと電気的に接続されている。接続端子45cは、例えば、ワイヤ46cを介して配線パターン25と電気的に接続されている。接続端子45dは、例えば、ワイヤ46dを介してp側電極24bと電気的に接続されている。また、絶縁リング47を介さずに、ヒートシンク41に直接に連結された接続端子45(45a)が設けられている。接続端子45aは、ダイパッド43およびヒートシンク41に対して電気的に接続されている。
蓋体42は、例えば、図1に示したように、筒状の形状となっている。蓋体42の一方の開口(ヒートシンク41側の開口)は、組み立て時に、第1発光素子10および第2発光素子20を挿通するためのものである。蓋体42の他方の開口(ヒートシンク41とは反対側の開口)は、第1発光素子10および第2発光素子20から射出された光を取り出すためのものであり、その開口には、透明部材によって封止された取り出し窓43aが設けられている。
[製造方法]
このような構成の発光装置1は、例えば、次のようにして製造することができる。まず、ダイパッド43の上に導電性接合材31を介して、第2発光素子20を、基板21側をダイパッド43に向けて接合する。続いて、第2発光素子20の上に導電性接合材32を介して、第1発光素子10を、基板11とは反対側を第2発光素子20に向けて接合する。このとき、第2発光素子20の接合および第1発光素子10の接合に導電性接合材31,32としてそれぞれ金属合金が用いられる場合には、第2発光素子20の接合に用いられる金属合金に、第1発光素子10の接合に用いられる金属合金の融点よりも高いものを用いる。これにより、第1発光素子10の接合時に、第2発光素子20の接合に用いられた金属合金が溶融して、第2発光素子20が動いてしまうことを防ぐことができる。また、第1発光素子10の基板11と第2発光素子20の基板21とが互いに離れるようにして第1発光素子10と第2発光素子20とを接合するので、各発光点12A,22A,22Bが近づいて配置される。これにより、各発光点12A,22A,22Bから射出されるレーザ光が互いに近接した光路を通過することになり、共通のレンズ系を適用することができる。
このような構成の発光装置1は、例えば、次のようにして製造することができる。まず、ダイパッド43の上に導電性接合材31を介して、第2発光素子20を、基板21側をダイパッド43に向けて接合する。続いて、第2発光素子20の上に導電性接合材32を介して、第1発光素子10を、基板11とは反対側を第2発光素子20に向けて接合する。このとき、第2発光素子20の接合および第1発光素子10の接合に導電性接合材31,32としてそれぞれ金属合金が用いられる場合には、第2発光素子20の接合に用いられる金属合金に、第1発光素子10の接合に用いられる金属合金の融点よりも高いものを用いる。これにより、第1発光素子10の接合時に、第2発光素子20の接合に用いられた金属合金が溶融して、第2発光素子20が動いてしまうことを防ぐことができる。また、第1発光素子10の基板11と第2発光素子20の基板21とが互いに離れるようにして第1発光素子10と第2発光素子20とを接合するので、各発光点12A,22A,22Bが近づいて配置される。これにより、各発光点12A,22A,22Bから射出されるレーザ光が互いに近接した光路を通過することになり、共通のレンズ系を適用することができる。
なお、ダイパッド43上に第1発光素子10および第2発光素子20を配置する場合、まず第1発光素子10と第2発光素子20とを接合し、その後に第2発光素子20とダイパッド43とを接合してもよい。このとき、各接合に導電性接合材31,32として金属合金を用いた場合には、第1発光素子10と第2発光素子20との接合に用いられる金属合金に、第2発光素子20と支持基体41との接合に用いられる金属合金の融点よりも高いものを用いる。これにより、第2発光素子20と支持基体41との接合時に、第1発光素子10と第2発光素子20との接合に用いられた金属合金が溶融して、第1発光素子10が動いてしまうことを防ぐことができる。
次に、熱伝導部材30を、第1発光素子10の上面(n側電極14)と、ヒートシンク41の上面(第1発光素子10側の面)の間に架け渡されるように接合する。熱伝導部材30の接合には、後述する超音波ウェッジボンディング法を用いることができる。この後、第2発光素子20のp側電極24a,24bおよび配線パターン25と、接続端子45(45b〜45d)との間にワイヤ46b〜46dを接合してそれぞれの導通を取る。次に、ヒートシンク41の上面に蓋体42を接合して、第1発光素子10および第2発光素子20をパッケージ40内に収容する。
ここで、上記の超音波ウェッジボンディング法は、従来から高電気容量を必要とする場合において水平面間の電気的な接続を行なうときに用いられている。しかし、本実施の形態では、放熱を目的とする点、および、第1発光素子10と支持体42とが概ね直角面である点で、従来の超音波ウェッジボンディング法とは異なる。
以下に、その直角面に超音波ウェッジボンディングをする場合について説明する。まず、第1発光素子10の上面(n側電極14上)に熱伝導部材30を置いて、その上からツールと呼ばれる、先端がV字型に切り欠かれた金属の棒で押さえつけ、超音波をかけて熱伝導部材30の先端(一端)を第1発光素子10に接合する。ここで、第1発光素子10の長さ(共振器方向の長さ)が短い場合には接合箇所が1箇所でよいが、長さが長い場合には、第1発光素子10の内部で発生する熱をより効率良く放熱するために、図2(B)に示したように接合箇所が複数であることが望ましい。この後、ツールを上昇させることで熱伝導部材30を所望の長さ分だけ送り出すと同時に、パッケージ40側を90°回転させる。次に、ヒートシンク41の上面に熱伝導部材30を置いて、その上からツールで押さえつけ、超音波をかけることにより2つ目の接合を完了する。なお、この2つ目の接合の際に熱伝導部材30を強く押さえつけることにより、熱伝導部材30が自動的に切断される。
[作用・効果]
このようにして製造された発光装置1では、電源からの電圧が熱伝導部材30およびワイヤ46cを介して第1発光素子10のn側電極14とp側電極13との間に印加されると、第1発光素子10の発光点12Aから400nm帯のレーザ光が射出される。同様に、電源からの電圧がダイパッド43およびワイヤ46bを介して第2発光素子20のn側電極26とp側電極24aとの間に電圧が印加されると、第2発光素子20の発光点22Aから600nm帯のレーザ光が射出される。さらに、電源からの電圧がダイパッド43およびワイヤ46dを介して第2発光素子20のn側電極26とp側電極24bとの間に電圧が印加されると、第2発光素子20の発光点22Bから700nm帯のレーザ光が射出される。すなわち、発光装置1からは、400nm、600nm帯および700nm帯のうちいずれか1つの帯域のレーザ光が射出される。
このようにして製造された発光装置1では、電源からの電圧が熱伝導部材30およびワイヤ46cを介して第1発光素子10のn側電極14とp側電極13との間に印加されると、第1発光素子10の発光点12Aから400nm帯のレーザ光が射出される。同様に、電源からの電圧がダイパッド43およびワイヤ46bを介して第2発光素子20のn側電極26とp側電極24aとの間に電圧が印加されると、第2発光素子20の発光点22Aから600nm帯のレーザ光が射出される。さらに、電源からの電圧がダイパッド43およびワイヤ46dを介して第2発光素子20のn側電極26とp側電極24bとの間に電圧が印加されると、第2発光素子20の発光点22Bから700nm帯のレーザ光が射出される。すなわち、発光装置1からは、400nm、600nm帯および700nm帯のうちいずれか1つの帯域のレーザ光が射出される。
このとき、レーザ光を射出している発光素子10,20の内部には、高電流密度によるジュール熱が発生する。第1発光素子10内で発生した熱は、第2発光素子20およびダイパッド43を介してヒートシンク41に伝わると共に、熱伝導部材30を介してヒートシンク41に伝わる。その結果、ヒートシンク41やダイパッド43、熱伝導部材30から熱が放散される。また、第2発光素子20内で発生した熱は、ダイパッド43を介してヒートシンク41に伝わると共に、第1発光素子10および熱伝導部材30を介してヒートシンク41に伝わる。その結果、ヒートシンク41やダイパッド43、熱伝導部材30から熱が放散される。
ところで、本実施の形態では、第1発光素子10の上面とヒートシンク41の上面とに熱伝導部材30が接合されている。これにより、第1発光素子10とダイパッド43との間に熱伝導性の悪い第2発光素子20が配置されていても、第1発光素子10において発生した熱を、熱伝導部材30を介してヒートシンク41に伝導させ、ヒートシンク41および熱伝導部材30から放散させることができる。さらに、熱伝導部材30は、n側電極14と、接続端子54aとの電気的に接続されており、配線機能も兼ねている。これにより、第1発光素子10が第2発光素子20を介してダイパッド43上に設けられている状態であっても、熱伝導部材30およびワイヤ46cを介して第1発光素子10に容易かつ確実に電力を供給することができる。
また、本実施の形態では、第1発光素子10とダイパッド43との間に、第1発光素子10よりもチップサイズの大きな(幅広な)第2発光素子20が配置されている。これにより、ダイパッド43と第2発光素子20との接合および第2発光素子20と第1発光素子10との接合を、容易かつ確実に行うことができる。
また、第1発光素子10を構成するGaN系の化合物半導体は、第2発光素子20を構成するAlGaInP系の化合物半導体およびGaAs系の化合物半導体よりも高価である。本実施の形態では、第1発光素子10のチップサイズが第2発光素子20のチップサイズよりも小さいので、第1発光素子10を第2発光素子20よりも大型に形成した場合と比べて、発光装置1を安価に製造することができる。
以下、本発明の他の実施の形態について説明する。なお、以下の実施の形態の説明において、第1の実施の形態と同じ構成要素には、同一符号を付してその詳細な説明を省略する。
<第2の実施の形態>
図3(A),(B)は、本発明の第2の実施の形態に係る発光装置2の断面構成を表したものである。具体的には、図3(A)は、発光装置2のうち第1発光素子10および第2発光素子20を含む部分を、光射出面10A,20Aと平行な面で切断した断面構成の一例を表したものである。図3(B)は、発光装置2のうち第1発光素子10および第2発光素子20を含む部分を、光射出面10A,20A直交する面で切断した断面構成の一例を表したものであり、図3(A)のB−B線における断面構成の一例を表したものである。なお、図3(A),(B)では、第1発光素子10および第2発光素子20のそれぞれの内部構成の記載を省略している。
図3(A),(B)は、本発明の第2の実施の形態に係る発光装置2の断面構成を表したものである。具体的には、図3(A)は、発光装置2のうち第1発光素子10および第2発光素子20を含む部分を、光射出面10A,20Aと平行な面で切断した断面構成の一例を表したものである。図3(B)は、発光装置2のうち第1発光素子10および第2発光素子20を含む部分を、光射出面10A,20A直交する面で切断した断面構成の一例を表したものであり、図3(A)のB−B線における断面構成の一例を表したものである。なお、図3(A),(B)では、第1発光素子10および第2発光素子20のそれぞれの内部構成の記載を省略している。
発光装置2は、熱伝導部材30として、薄板状部材(リボン)の代わりに板状部材を備えた点で、第1の実施の形態に係る発光装置1と相違する。熱伝導部材30は、例えば銅等の板に金メッキを施したリードフレームから構成され、ヒートシンク41に接合される側の他端部が折り曲げられて形成されている。熱伝導部材30には、第1発光素子10と接合する箇所および支持体42と接合する箇所に、金属合金や導電性接着剤等の導電性接合材51が設けられている。
この熱伝導部材30を第1発光素子10および支持体42に接合する場合は、例えば、次のようにすればよい。まず、ダイパッド43と、ダイパッド43を支持するヒートシンク41と、ヒートシンク41との関係でダイパッド43の側面に配置された第1発光素子10および第2発光素子20とを備えたモジュール100を用意する(図4参照)。このとき、必要に応じて、受光素子35もヒートシンク41上に配置しておく。次に、第1発光素子10の上面(n側電極14)とヒートシンク41の上面(第1発光素子10側の面)との間に架け渡されるようにして熱伝導部材30を配置する。このとき、第1発光素子10の上面と熱伝導部材30との間や、ヒートシンク41の上面と熱伝導部材30との間に、導電性接合材51を設けておく。次に、導電性接合材51を加熱し、溶融させて、第1発光素子10の上面と熱伝導部材30とを接合すると共に、ヒートシンク41の上面と熱伝導部材30とを接合する。続いて、溶融接続後の冷却時に、例えば、図4に示したようにヒートシンク41とダイパッド43とによって形成される角部48が下がるようにモジュール100全体を傾ける(例えば20°程度)。すると、第1発光素子10の上面と熱伝導部材30との接合部と、ヒートシンク41の上面と熱伝導部材30との接合部とにおいて、熱伝導部材30が第1発光素子10の上面およびヒートシンク41の上面に接触しようとする力、すなわち表面張力が発生する(図中の矢印C,D参照)。この後、導電性接合材51が固まると、熱伝導部材30が第1発光素子10の上面およびヒートシンク41の上面に固着する。
なお、モジュール100全体を傾けるタイミングは、導電性接合材51を加熱し、溶融させ時でもよいし、熱伝導部材30を配置する時でもよい。いずれにしても、溶融接続後の冷却時に、モジュール100全体が傾いていればよい。
なお、導電性接合材31,32,51として金属合金を使用する場合には、導電性接合材51に用いられる金属合金の融点が、導電性接合材31,32に用いられる金属合金の融点よりも低いものを用いる。これにより、熱伝導部材30を接合するときに、第1発光素子10および第2発光素子20の接合に用いられた金属合金が溶融して各発光素子10,20が動いてしまうことを防止することができる。
本実施の形態では、熱伝導部材30が薄板状部材となる熱伝導部材30よりも厚く形成されている。これにより、熱伝導部材30の断面積が大きくなり、高い熱伝導性を確保することができる。また、熱伝導部材30の表面積も大きくなるので、高い放熱性も確保することができる。従って、第1発光素子10の発熱が極度に高い場合でも、その熱を、熱伝導部材30を介してヒートシンク41に伝導させると共に、ヒートシンク41および熱伝導部材30から放散させることができる。
また、本実施の形態では、組み立て工程において、熱伝導部材30の接合時にモジュール100全体を斜めにして、熱伝導部材30に接合しようとする力(表面張力)を発生させる。これにより、熱伝導部材30と第1発光素子10との接合および熱伝導部材30とヒートシンク41との接合が良好になる。さらに、熱伝導部材30が所定の位置に配置されることになるので、熱伝導部材30が第1発光素子10およびダイパッド43に対して斜めに接合されて、それぞれとの接合面積が少なくなってしまうという不具合の発生を防ぐことが可能になる。
なお、熱伝導部材30は、図3(B)に示した形状ばかりでなく、他の形状であってもよい。例えば、熱伝導部材30が、図5に示したように直方体形状であってもよいし、図6に示したように直方体の上面に凸部30Aが設けられた凸型形状であってもよい。このように、熱伝導部材30が、端部が折り曲られていない直方体形状となっている場合には、熱伝導部材30の厚さを厚くすることができ、そのようにした場合には、熱伝導性および放熱性をより高めることができる。
また、熱伝導部材30は、各発光素子10,20の後端から射出されるモニタリング光を遮ることがないような形状となっていることが好ましい。例えば、図7に示したように、熱伝導部材30の下面のうち受光素子35近傍に切り欠き部30Bが設けられていてもよい。また、例えば、図8に示したように、熱伝導部材30の下面のうち受光素子35近傍が、受光素子35から遠ざかるように斜めに折り曲げられていてもよい。なお、図8に示したように熱伝導部材30が斜めに折り曲げられている場合には、各発光素子10,20から射出されたモニタリング光が熱伝導部材30において受光素子35に向けて反射され難い形状となり、反射光を受光素子35に入射させ難くすることができる。
また、図9に示したように、熱伝導部材30の全面に、金属合金等からなるめっき層30Cが形成されていてもよい。このようにした場合には、組み立て工程において、熱伝導部材30を第1発光素子10およびヒートシンク41に接合する際に、上述した導電性接合材51を設けなくても、めっき層30Cを溶融させることにより接合することができる。
<第3の実施の形態>
図10は、本発明の第3の実施の形態に係る発光装置3の断面構成を表すものである。この発光装置3は、1つの発光素子を備えた点で、上記の実施の形態に係る発光装置1,2と主に相違する。発光装置3は、ダイパッド43上に、上面にフォトダイオード71が設けられたサブマウント72を備え、さらに、サブマウント72の上に発光素子73を備えており、いわゆるLOP(Laser on Photodiode)と呼ばれるレーザである。フォトダイオード71は、サブマウント72の上面において、発光素子73から射出された光を受光することのできる位置に配置されている。発光素子73は、レーザ光を射出することができるレーザ構造を備え、例えばGaAs系の化合物半導体により形成されている。
図10は、本発明の第3の実施の形態に係る発光装置3の断面構成を表すものである。この発光装置3は、1つの発光素子を備えた点で、上記の実施の形態に係る発光装置1,2と主に相違する。発光装置3は、ダイパッド43上に、上面にフォトダイオード71が設けられたサブマウント72を備え、さらに、サブマウント72の上に発光素子73を備えており、いわゆるLOP(Laser on Photodiode)と呼ばれるレーザである。フォトダイオード71は、サブマウント72の上面において、発光素子73から射出された光を受光することのできる位置に配置されている。発光素子73は、レーザ光を射出することができるレーザ構造を備え、例えばGaAs系の化合物半導体により形成されている。
この発光装置3は、発光素子73の上面とヒートシンク41(図示せず)とに接合された熱伝導部材30を備えている。この熱伝導部材30は、上記各実施の形態で述べたものと同様のものであり、熱伝導機能、放熱機能および配線機能の3つの機能を備えている。
発光装置3では、発光素子73の内部で発生した熱が、サブマウント72およびダイパッド43を介してヒートシンク41に伝導されると共に、熱伝導部材30を介してヒートシンク41に伝導され、放散される。したがって、発光素子73内部での発熱量が大きい場合でも、発光素子73内で発生した熱を効率よくサブマウント72に伝導することができ、サブマウント72および熱伝導部材30から放散させることができる。
<変形例>
以上、実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、種々変形が可能である。上記の実施の形態では、発光装置が光ディスク装置に搭載される場合について説明したが、高出力を必要とするレーザプリンタ装置などに搭載されるようにしてもよい。レーザプリンタ装置に搭載される発光装置において、高出力の単波長レーザ光を射出する発光素子がパッケージ40の内部に搭載され、その発光素子とパッケージ40との間に架け渡されるように熱伝導部材30が配置された構成であればよい。
以上、実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、種々変形が可能である。上記の実施の形態では、発光装置が光ディスク装置に搭載される場合について説明したが、高出力を必要とするレーザプリンタ装置などに搭載されるようにしてもよい。レーザプリンタ装置に搭載される発光装置において、高出力の単波長レーザ光を射出する発光素子がパッケージ40の内部に搭載され、その発光素子とパッケージ40との間に架け渡されるように熱伝導部材30が配置された構成であればよい。
また、上記の実施の形態では、第1発光素子10のチップサイズが第2発光素子20のチップサイズよりも小さい場合について説明したが、第2発光素子20のチップサイズと等しいか、またはそれよりも大きくてもよい。
1〜3…発光装置、10…第1発光素子、11,21…基板、12,22…レーザ構造、12A,22A,22B…発光点、13,24a,24b…p型電極、14,26…n側電極、20…第2発光素子、25…配線パターン、30…熱伝導部材、30A…凸部、30B…切り欠き部、30C…めっき層、31,32,44,51…導電性接合材、35…受光素子、40…パッケージ、41…ヒートシンク、42…蓋体、43…ダイパッド、45,45a〜45d…接続端子、46b〜d…ワイヤ、47…絶縁リング、48…角部、50A…71…フォトダイオード、72…サブマウント、73…発光素子、100…モジュール。
Claims (13)
- 第1支持基体に配置された発光素子と、
前記第1支持基体および前記発光素子を覆うと共に前記第1支持基体を支持するパッケージと、
前記発光素子と前記パッケージとに端部がそれぞれ接合され、配線機能をも兼ねた熱伝導部材と
を備えた発光装置。 - 前記パッケージは、前記第1支持基体を支持する第2支持基体と、前記第1支持基体および前記発光素子を覆う蓋部とを有し、
前記熱伝導部材は、前記電極と前記第2支持基体とにそれぞれ接合されている
請求項1に記載の発光装置。 - 前記発光素子は、前記第2支持基体との関係で前記第1支持基体の側面に配置され、
前記電極の法線と、前記パッケージのうち前記熱伝導部材と接合している面の法線とが互いに交差している
請求項2に記載の発光装置。 - 前記発光素子は、前記第1支持基体との関係で前記第1支持基体とは反対側に電極を有し、
前記第2支持基体は、金属からなり、
前記パッケージは、前記第2支持基体に連結された接続端子を有し、
前記熱伝導部材は、前記電極と前記第2支持基体とに接合されている
請求項2に記載の発光装置。 - 前記熱伝導部材は、金属により形成された薄板状部材または板状部材である
請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の発光装置。 - 前記熱伝導部材は、アルミニウムまたは金を主成分とする材料により形成されている
請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の発光装置。 - 前記発光素子は、第1発光素子と、前記第1発光素子よりもチップサイズの大きな第2発光素子を前記第1支持基体とは反対側から順に積層してなり、
前記電極は、前記第1発光素子に形成されている
請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の発光装置。 - 前記電極と前記熱伝導部材との間、および前記パッケージと前記熱伝導部材との間に第1導電性接合材を備えた
請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の発光装置。 - 前記発光素子と前記第1支持基体との間に第2導電性接合材を備え、
前記第1導電性接合材の融点は、前記第2導電性接合材の融点よりも低くなっている
請求項8に記載の発光装置。 - 前記第1発光素子と前記第2発光素子との間に第3導電性接合材を備え、
前記第1導電性接合材の融点は、前記第3導電性接合材の融点よりも低くなっている
請求項7に記載の発光装置。 - 前記発光素子から射出されるモニタリング光を受光する受光素子を備え、
前記熱伝導部材は、前記モニタリング光の光路以外の位置に配置されている
請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の発光装置。 - 第1支持基体と、前記第1支持基体を支持する第2支持基体と、前記第2支持基体との関係で前記第1支持基体の側面に配置された発光素子とを備えたモジュールを用意する第1工程と、
前記第1支持基体と前記第2支持基体とによって形成される角部が下がるように前記モジュールを傾け、前記発光素子と前記第2支持基体との間に架け渡されるように、配線機能をも兼ねた熱伝導部材を配置すると共に、前記発光素子と前記熱伝導部材との間、および前記第2支持基体と前記熱伝導部材との間に熱伝導部材を配置した状態で、前記熱伝導部材を前記発光素子と前記第2支持基体とに固着させる第2工程と
を含む発光装置の製造方法。 - 前記第2工程において、前記第1支持基体と前記第2支持基体とによって形成される角部が下がるように前記モジュールを傾けた状態で、前記熱伝導部材を溶解させたのち、固化させる
請求項12に記載の発光装置の製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009040768A JP2010199204A (ja) | 2009-02-24 | 2009-02-24 | 発光装置およびその製造方法 |
US12/706,833 US8619825B2 (en) | 2009-02-24 | 2010-02-17 | Light-emitting device having a thermal conductive member with wiring function and method of manufacturing the same |
CN201010125311A CN101814697A (zh) | 2009-02-24 | 2010-02-24 | 发光装置及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009040768A JP2010199204A (ja) | 2009-02-24 | 2009-02-24 | 発光装置およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010199204A true JP2010199204A (ja) | 2010-09-09 |
Family
ID=42621852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009040768A Pending JP2010199204A (ja) | 2009-02-24 | 2009-02-24 | 発光装置およびその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8619825B2 (ja) |
JP (1) | JP2010199204A (ja) |
CN (1) | CN101814697A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013128794A1 (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-06 | パナソニック株式会社 | 半導体発光装置 |
JP2018200924A (ja) * | 2017-05-25 | 2018-12-20 | 富士通株式会社 | 光モジュール |
JP7671017B2 (ja) | 2015-05-20 | 2025-05-01 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
US12320516B2 (en) | 2015-05-20 | 2025-06-03 | Nichia Corporation | Light-emitting device |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8518204B2 (en) * | 2011-11-18 | 2013-08-27 | LuxVue Technology Corporation | Method of fabricating and transferring a micro device and an array of micro devices utilizing an intermediate electrically conductive bonding layer |
US8426227B1 (en) | 2011-11-18 | 2013-04-23 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a micro light emitting diode array |
US8646505B2 (en) | 2011-11-18 | 2014-02-11 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head |
US8349116B1 (en) | 2011-11-18 | 2013-01-08 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head heater assembly and method of transferring a micro device |
US8573469B2 (en) | 2011-11-18 | 2013-11-05 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a micro LED structure and array of micro LED structures with an electrically insulating layer |
JP2013131509A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Ricoh Co Ltd | 光学ユニットの製造方法、光学ユニット、光走査装置及び画像形成装置 |
US9773750B2 (en) | 2012-02-09 | 2017-09-26 | Apple Inc. | Method of transferring and bonding an array of micro devices |
US9548332B2 (en) | 2012-04-27 | 2017-01-17 | Apple Inc. | Method of forming a micro LED device with self-aligned metallization stack |
US9162880B2 (en) | 2012-09-07 | 2015-10-20 | LuxVue Technology Corporation | Mass transfer tool |
JP6854643B2 (ja) | 2013-06-12 | 2021-04-07 | ロヒンニ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 付着された光発生源を用いたキーボードバックライティング |
CN105359268B (zh) * | 2013-07-03 | 2018-07-17 | 罗森伯格高频技术有限及两合公司 | 高带宽互连所用的隔热结构 |
US9296111B2 (en) | 2013-07-22 | 2016-03-29 | LuxVue Technology Corporation | Micro pick up array alignment encoder |
US9087764B2 (en) | 2013-07-26 | 2015-07-21 | LuxVue Technology Corporation | Adhesive wafer bonding with controlled thickness variation |
US9153548B2 (en) | 2013-09-16 | 2015-10-06 | Lux Vue Technology Corporation | Adhesive wafer bonding with sacrificial spacers for controlled thickness variation |
US9367094B2 (en) | 2013-12-17 | 2016-06-14 | Apple Inc. | Display module and system applications |
US9768345B2 (en) | 2013-12-20 | 2017-09-19 | Apple Inc. | LED with current injection confinement trench |
US9450147B2 (en) | 2013-12-27 | 2016-09-20 | Apple Inc. | LED with internally confined current injection area |
US9583466B2 (en) | 2013-12-27 | 2017-02-28 | Apple Inc. | Etch removal of current distribution layer for LED current confinement |
US9542638B2 (en) | 2014-02-18 | 2017-01-10 | Apple Inc. | RFID tag and micro chip integration design |
US9583533B2 (en) | 2014-03-13 | 2017-02-28 | Apple Inc. | LED device with embedded nanowire LEDs |
US10431955B2 (en) * | 2014-04-25 | 2019-10-01 | Lmd Power Of Light Corp | Laser core having conductive mass electrical connection |
US9522468B2 (en) | 2014-05-08 | 2016-12-20 | Apple Inc. | Mass transfer tool manipulator assembly with remote center of compliance |
US9318475B2 (en) | 2014-05-15 | 2016-04-19 | LuxVue Technology Corporation | Flexible display and method of formation with sacrificial release layer |
US9741286B2 (en) | 2014-06-03 | 2017-08-22 | Apple Inc. | Interactive display panel with emitting and sensing diodes |
US9624100B2 (en) | 2014-06-12 | 2017-04-18 | Apple Inc. | Micro pick up array pivot mount with integrated strain sensing elements |
US9570002B2 (en) | 2014-06-17 | 2017-02-14 | Apple Inc. | Interactive display panel with IR diodes |
US9425151B2 (en) | 2014-06-17 | 2016-08-23 | Apple Inc. | Compliant electrostatic transfer head with spring support layer |
US9828244B2 (en) | 2014-09-30 | 2017-11-28 | Apple Inc. | Compliant electrostatic transfer head with defined cavity |
US9705432B2 (en) | 2014-09-30 | 2017-07-11 | Apple Inc. | Micro pick up array pivot mount design for strain amplification |
US9478583B2 (en) | 2014-12-08 | 2016-10-25 | Apple Inc. | Wearable display having an array of LEDs on a conformable silicon substrate |
JP6502797B2 (ja) * | 2015-08-31 | 2019-04-17 | 日本オクラロ株式会社 | 光モジュール |
JP6959697B2 (ja) | 2016-01-15 | 2021-11-05 | ロヒンニ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 装置上のカバーを介してバックライトで照らす装置及び方法 |
CN108183389B (zh) * | 2018-01-30 | 2023-09-29 | 广东省半导体产业技术研究院 | 一种激光二极管与激光二极管封装方法 |
CN112652945B (zh) * | 2019-10-12 | 2021-12-31 | 三赢科技(深圳)有限公司 | 散热基板及具有所述散热基板的发光装置 |
JP7350646B2 (ja) * | 2019-12-17 | 2023-09-26 | CIG Photonics Japan株式会社 | 光モジュール |
JP7331727B2 (ja) * | 2020-02-19 | 2023-08-23 | 住友電気工業株式会社 | 光半導体デバイス |
US11340412B2 (en) * | 2020-02-28 | 2022-05-24 | CIG Photonics Japan Limited | Optical module |
CN111786256B (zh) * | 2020-08-26 | 2021-10-29 | 广东瑞谷光网通信股份有限公司 | 一种光发射激光器的TO-can封装结构及其封装方法 |
CN112366201A (zh) * | 2020-11-06 | 2021-02-12 | 弘凯光电(深圳)有限公司 | 一种高功率光源封装结构及其制造方法 |
CN113488838A (zh) * | 2021-07-29 | 2021-10-08 | 维林光电(苏州)有限公司 | 一种光泵浦薄片激光器增益介质的冷却封装装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0485760A (ja) * | 1990-07-27 | 1992-03-18 | Sony Corp | 光記録再生装置の信号処理回路 |
JPH06334264A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-12-02 | Xerox Corp | デュアル・ビーム半導体レーザーの製造方法 |
JPH08181394A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-07-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置とこの半導体レーザ装置を備えた光ディスク装置 |
JP2000228022A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Citizen Electronics Co Ltd | Smd型光ピックアップ受発光装置及びその製造方法 |
JP2007194437A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Sharp Corp | 半導体レーザ装置およびその製造方法ならびに光ピックアップ装置 |
JP2008151993A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Hitachi Cable Ltd | 光電気配線部材 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4442450A (en) * | 1981-03-30 | 1984-04-10 | International Business Machines Corporation | Cooling element for solder bonded semiconductor devices |
KR910004265B1 (ko) * | 1987-03-26 | 1991-06-25 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 반도체 레이저 장치와 그 제조 방법 및 그것을 사용한 광 헤드 |
JP2533871B2 (ja) | 1987-03-26 | 1996-09-11 | 株式会社日立製作所 | 半導体レ−ザ装置 |
GB9300901D0 (en) * | 1993-01-19 | 1993-03-10 | Rothmans Int Tobacco | Tobacco smoke filters |
US5402436A (en) * | 1993-12-29 | 1995-03-28 | Xerox Corporation | Nonmonolithic array structure of multiple beam diode lasers |
US5999553A (en) * | 1997-11-25 | 1999-12-07 | Xerox Corporation | Monolithic red/ir side by side laser fabricated from a stacked dual laser structure by ion implantation channel |
JPH11186651A (ja) | 1997-12-19 | 1999-07-09 | Sony Corp | 集積型半導体発光装置 |
US6136623A (en) * | 1998-05-06 | 2000-10-24 | Xerox Corporation | Multiple wavelength laser arrays by flip-chip bonding |
JP3486900B2 (ja) * | 2000-02-15 | 2004-01-13 | ソニー株式会社 | 発光装置およびそれを用いた光装置 |
JP4071917B2 (ja) * | 2000-04-21 | 2008-04-02 | ユーディナデバイス株式会社 | 光半導体装置 |
US6791119B2 (en) * | 2001-02-01 | 2004-09-14 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including modifications for light extraction |
DE60320613T2 (de) * | 2002-03-29 | 2009-06-10 | Panasonic Corp., Kadoma | Optische Vorrichtung und deren Herstellungsverfahren, optisches Modul, und optisches Transmissionssystem |
IL149014A0 (en) * | 2002-04-07 | 2002-11-10 | Israel Atomic Energy Comm | Diamond-cooled solid state lasers |
JP2005116583A (ja) * | 2003-10-03 | 2005-04-28 | Pentax Corp | 光半導体装置 |
JP4466503B2 (ja) * | 2005-08-08 | 2010-05-26 | ソニー株式会社 | 半導体レーザ |
EP1958302B1 (en) * | 2005-12-06 | 2019-02-20 | Google LLC | Passive phase control in an external cavity laser |
JP2007158215A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Seiko Epson Corp | 光半導体素子及びその製造方法 |
JP4952000B2 (ja) | 2006-02-27 | 2012-06-13 | ソニー株式会社 | 光装置およびその製造方法、並びに光機器 |
US7856038B2 (en) * | 2006-03-27 | 2010-12-21 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Light-emitting module installing thermo-electric controller |
JP4288620B2 (ja) | 2006-11-10 | 2009-07-01 | ソニー株式会社 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US8259765B2 (en) * | 2006-12-06 | 2012-09-04 | Google Inc. | Passive phase control in an external cavity laser |
JP2009076730A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-09 | Sharp Corp | 窒化物半導体レーザ装置 |
WO2009130957A1 (ja) * | 2008-04-23 | 2009-10-29 | シーアイ化成株式会社 | 発光ダイオード用パッケージ、発光装置、および発光装置の製造方法 |
-
2009
- 2009-02-24 JP JP2009040768A patent/JP2010199204A/ja active Pending
-
2010
- 2010-02-17 US US12/706,833 patent/US8619825B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-02-24 CN CN201010125311A patent/CN101814697A/zh active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0485760A (ja) * | 1990-07-27 | 1992-03-18 | Sony Corp | 光記録再生装置の信号処理回路 |
JPH06334264A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-12-02 | Xerox Corp | デュアル・ビーム半導体レーザーの製造方法 |
JPH08181394A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-07-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置とこの半導体レーザ装置を備えた光ディスク装置 |
JP2000228022A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Citizen Electronics Co Ltd | Smd型光ピックアップ受発光装置及びその製造方法 |
JP2007194437A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Sharp Corp | 半導体レーザ装置およびその製造方法ならびに光ピックアップ装置 |
JP2008151993A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Hitachi Cable Ltd | 光電気配線部材 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013128794A1 (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-06 | パナソニック株式会社 | 半導体発光装置 |
JPWO2013128794A1 (ja) * | 2012-03-02 | 2015-07-30 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体発光装置 |
JP7671017B2 (ja) | 2015-05-20 | 2025-05-01 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
US12320516B2 (en) | 2015-05-20 | 2025-06-03 | Nichia Corporation | Light-emitting device |
JP2018200924A (ja) * | 2017-05-25 | 2018-12-20 | 富士通株式会社 | 光モジュール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100213471A1 (en) | 2010-08-26 |
US8619825B2 (en) | 2013-12-31 |
CN101814697A (zh) | 2010-08-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110125 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110125 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120105 |