JP2010177277A - レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 - Google Patents
レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010177277A JP2010177277A JP2009015660A JP2009015660A JP2010177277A JP 2010177277 A JP2010177277 A JP 2010177277A JP 2009015660 A JP2009015660 A JP 2009015660A JP 2009015660 A JP2009015660 A JP 2009015660A JP 2010177277 A JP2010177277 A JP 2010177277A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- laser
- intermediate layer
- dicing
- laser head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 93
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 3
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 2
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- -1 oxygen ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Dicing (AREA)
Abstract
屈折率の異なる中間層を備えたウェーハであっても、中間層に影響されず高精度にレーザーダイシングを行うことが可能なレーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置を提供すること。
【解決手段】
ウェーハWの表面側WAからレーザー光Lを入射して表面側WAへ改質領域Pを形成する第1ダイシング工程と、ウェーハWを反転させて裏面側WBよりレーザー光Lを入射し裏面側WBへ改質領域Pを形成する第2ダイシング工程とによりウェーハWのダイシングを行う。
【選択図】図6
Description
Claims (2)
- デバイスが形成され、いずれか一方の面にテープを貼着するとともに前記テープを介してフレームへマウントされた中間層を有するウェーハのいずれか一方の面をレーザーヘッドへ向けてウェーハテーブル上に載置し、前記レーザーヘッドへ向けられた一方の面から前記レーザーヘッドよりレーザー光を入射して、前記ウェーハ内部の前記中間層よりも一方の面側へ改質領域を形成する第1ダイシング工程と、
前記ウェーハを反転させて他方の面を前記レーザーヘッドへ向けて前記ウェーハテーブル上に載置し、前記レーザーヘッドよりレーザー光を他方の面側から入射して前記中間層よりも他方の面側へ改質領域を形成する第2ダイシング工程と、により前記ウェーハのダイシングを行うことを特徴とするレーザーダイシング方法。 - デバイスが形成され、いずれか一方の面にテープを貼着するとともに前記テープを介してフレームへマウントされた中間層を有するウェーハ内部へレーザー光を集光することにより前記ウェーハ内部へ改質領域を形成するレーザーヘッドと、
前記ウェーハ平面が前記レーザーヘッドと対向するように保持されるウェーハテーブルと、
前記ウェーハテーブルと前記レーザーヘッドとを相対的に移動させる移動軸と、
前記ウェーハがマウントされた前記フレームを把持して上昇するとともに反転させて再び前記ウェーハテーブル上に載置することにより前記ウェーハ内部の前記中間層よりも一方の面側または前記中間層よりも他方の面側へそれぞれレーザー光を入射させるようにする反転アームと、を備えたことを特徴とするレーザーダイシング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009015660A JP2010177277A (ja) | 2009-01-27 | 2009-01-27 | レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009015660A JP2010177277A (ja) | 2009-01-27 | 2009-01-27 | レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010177277A true JP2010177277A (ja) | 2010-08-12 |
Family
ID=42707956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009015660A Pending JP2010177277A (ja) | 2009-01-27 | 2009-01-27 | レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2010177277A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012054274A (ja) * | 2010-08-31 | 2012-03-15 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2012109338A (ja) * | 2010-11-16 | 2012-06-07 | Disco Abrasive Syst Ltd | ワークの加工方法及びダイシングテープ |
| JP2013152995A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2014096526A (ja) * | 2012-11-12 | 2014-05-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| WO2014156828A1 (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ加工方法 |
| JP2015131303A (ja) * | 2014-01-09 | 2015-07-23 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置における加工送り機構の作動特性検出方法およびレーザー加工装置 |
| JP2016103588A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザの製造方法 |
| JP2017033972A (ja) * | 2015-07-29 | 2017-02-09 | リンテック株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP2018182159A (ja) * | 2017-04-18 | 2018-11-15 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置 |
| CN115555736A (zh) * | 2022-10-26 | 2023-01-03 | 中国科学院微电子研究所 | 一种激光剥离碳化硅晶锭的方法及装置 |
| US20230065412A1 (en) * | 2021-08-27 | 2023-03-02 | Disco Corporation | Dividing method of substrate |
| US11842926B2 (en) | 2020-08-10 | 2023-12-12 | Disco Corporation | Method of processing a substrate |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02147179A (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 抵抗トリミング装置 |
| JP2002192367A (ja) * | 2000-09-13 | 2002-07-10 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| WO2003076120A1 (fr) * | 2002-03-12 | 2003-09-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Procede de traitement au laser |
| JP2005332982A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JP2005340423A (ja) * | 2004-05-26 | 2005-12-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JP2006007293A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Omron Corp | レーザマーキング装置、レーザマーキング方法、およびレーザマーキング装置における処理方法 |
| JP2007142001A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Denso Corp | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
| JP2007165848A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-28 | Denso Corp | 半導体チップの製造方法 |
| JP2007235008A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-09-13 | Denso Corp | ウェハの分断方法およびチップ |
| JP2009238994A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Panasonic Corp | 電子部品の製造方法 |
-
2009
- 2009-01-27 JP JP2009015660A patent/JP2010177277A/ja active Pending
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02147179A (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 抵抗トリミング装置 |
| JP2002192367A (ja) * | 2000-09-13 | 2002-07-10 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| WO2003076120A1 (fr) * | 2002-03-12 | 2003-09-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Procede de traitement au laser |
| JP2005332982A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JP2005340423A (ja) * | 2004-05-26 | 2005-12-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JP2006007293A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Omron Corp | レーザマーキング装置、レーザマーキング方法、およびレーザマーキング装置における処理方法 |
| JP2007142001A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Denso Corp | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
| JP2007165848A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-28 | Denso Corp | 半導体チップの製造方法 |
| JP2007235008A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-09-13 | Denso Corp | ウェハの分断方法およびチップ |
| JP2009238994A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Panasonic Corp | 電子部品の製造方法 |
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012054274A (ja) * | 2010-08-31 | 2012-03-15 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2012109338A (ja) * | 2010-11-16 | 2012-06-07 | Disco Abrasive Syst Ltd | ワークの加工方法及びダイシングテープ |
| JP2013152995A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2014096526A (ja) * | 2012-11-12 | 2014-05-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| CN105189020A (zh) * | 2013-03-28 | 2015-12-23 | 浜松光子学株式会社 | 激光加工方法 |
| US9764421B2 (en) | 2013-03-28 | 2017-09-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method |
| KR102130746B1 (ko) | 2013-03-28 | 2020-07-06 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 레이저 가공 방법 |
| KR20150133717A (ko) * | 2013-03-28 | 2015-11-30 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 레이저 가공 방법 |
| WO2014156828A1 (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ加工方法 |
| JP2014188581A (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| JP2015131303A (ja) * | 2014-01-09 | 2015-07-23 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置における加工送り機構の作動特性検出方法およびレーザー加工装置 |
| JP2016103588A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザの製造方法 |
| JP2017033972A (ja) * | 2015-07-29 | 2017-02-09 | リンテック株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP2018182159A (ja) * | 2017-04-18 | 2018-11-15 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置 |
| US11842926B2 (en) | 2020-08-10 | 2023-12-12 | Disco Corporation | Method of processing a substrate |
| US20230065412A1 (en) * | 2021-08-27 | 2023-03-02 | Disco Corporation | Dividing method of substrate |
| CN115555736A (zh) * | 2022-10-26 | 2023-01-03 | 中国科学院微电子研究所 | 一种激光剥离碳化硅晶锭的方法及装置 |
| CN115555736B (zh) * | 2022-10-26 | 2025-09-19 | 中国科学院微电子研究所 | 一种激光剥离碳化硅晶锭的方法及装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2010177277A (ja) | レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 | |
| JP4422463B2 (ja) | 半導体ウエーハの分割方法 | |
| JP4959422B2 (ja) | ウエーハの分割方法 | |
| US8802544B2 (en) | Method for manufacturing chip including a functional device formed on a substrate | |
| JP4358762B2 (ja) | 基板の分割方法 | |
| JP4907984B2 (ja) | レーザ加工方法及び半導体チップ | |
| KR100853057B1 (ko) | 레이저 가공 방법 | |
| CN1817603B (zh) | 晶片的分割方法 | |
| JP2010534140A (ja) | レーザビーム分割を利用したレーザ加工装置及び方法 | |
| JP4750427B2 (ja) | ウエーハのレーザー加工方法 | |
| JP2009021476A (ja) | ウエーハの分割方法 | |
| KR20150005966A (ko) | 플라즈마 에칭을 갖는 하이브리드 멀티-스텝 레이저 스크라이빙 프로세스를 이용한 웨이퍼 다이싱 | |
| JP2005086111A (ja) | 半導体基板の切断方法 | |
| WO2006101091A1 (ja) | レーザ加工方法 | |
| US9093518B1 (en) | Singulation of wafers having wafer-level underfill | |
| WO2006051861A1 (ja) | レーザ加工方法 | |
| TW201001516A (en) | Method and apparatus for polishing outer circumferential end section of semiconductor wafer | |
| JP2006032419A (ja) | ウエーハのレーザー加工方法 | |
| JP2005294325A (ja) | 基板製造方法及び基板製造装置 | |
| CN102822952A (zh) | 分裂激光划片机 | |
| CN103107137A (zh) | 芯片的制造方法 | |
| JP5010832B2 (ja) | レーザー加工装置 | |
| JP2006024782A (ja) | 基板製造方法、および基板製造装置 | |
| JP5212031B2 (ja) | レーザーダイシング方法及びレーザーダイシング装置 | |
| CN112536535A (zh) | 绝缘体硅片的切割方法及芯片 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111216 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130422 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130619 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131212 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140402 |