JP2010152065A - Display device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、表示装置に関し、特に、画像表示の時の各画素からの光の伝搬を阻害することなく、各画素の補正を行うときに用いる各画素の発光輝度を適切に測定できるようになった表示装置に関する。 The present invention relates to a display device, and in particular, can appropriately measure the light emission luminance of each pixel used when correcting each pixel without hindering the propagation of light from each pixel during image display. The present invention relates to a display device.
発光素子として有機EL(Electro Luminescent)デバイスを用いた平面自発光型のパネル(ELパネル)の開発が近年盛んになっている。有機ELデバイスは、ダイオード特性を有し、有機薄膜に電界をかけると発光する現象を利用したデバイスである。有機ELデバイスは、印加電圧が10V以下で駆動するため低消費電力であり、自ら光を発する自発光素子である。このため、有機ELデバイスは、照明部材を必要とせず軽量化及び薄型化が容易であるという特長を有する。また、有機ELデバイスの応答速度は数μs程度と非常に高速である。よって、ELパネルは、動画表示時の残像が発生しないという特性を有する。 In recent years, development of a planar self-luminous panel (EL panel) using an organic EL (Electro Luminescent) device as a light emitting element has become active. An organic EL device is a device having a diode characteristic and utilizing a phenomenon of emitting light when an electric field is applied to an organic thin film. The organic EL device is a self-luminous element that emits light by itself because it is driven at an applied voltage of 10 V or less and has low power consumption. For this reason, the organic EL device has a feature that it does not require a lighting member and can be easily reduced in weight and thickness. In addition, the response speed of the organic EL device is as high as several μs. Therefore, the EL panel has a characteristic that no afterimage occurs when displaying a moving image.
有機ELデバイスを画素に用いた平面自発光型のパネルの中でも、とりわけ駆動素子として薄膜トランジスタを各画素に集積形成したアクティブマトリクス型のパネルの開発が盛んである。アクティブマトリクス型平面自発光パネルは、例えば次の特許文献1乃至5に開示されている。
Among planar self-luminous panels using organic EL devices as pixels, active matrix panels in which thin film transistors are integrated and formed as driving elements are being actively developed. Active matrix type flat self-luminous panels are disclosed in, for example, the following
ところで、有機ELデバイスはまた、発光量および発光時間に比例して輝度効率が低下するという特性を有している。有機ELデバイスの発光輝度は電流値と輝度効率の積で表されるため、輝度効率の低下は発光輝度の低下につながる。画面に表示される内容として、各画素で一様な表示を行う画像は稀であり、画素ごとに発光量が異なるのが一般的である。従って、過去の発光量および発光時間の違いにより、同一の駆動条件下であっても各画素で発光輝度の低下の度合いが異なることになる。その結果、輝度効率の低下度合が他と比較して著しい画素において、あたかも焼き付きが生じているような現象(以下、焼き付き現象と称する)がユーザに視認される。 Incidentally, the organic EL device also has a characteristic that the luminance efficiency decreases in proportion to the light emission amount and the light emission time. Since the light emission luminance of the organic EL device is represented by the product of the current value and the luminance efficiency, a decrease in luminance efficiency leads to a decrease in light emission luminance. As the contents displayed on the screen, images that perform uniform display in each pixel are rare, and the amount of light emission is generally different for each pixel. Therefore, due to the difference in the amount of light emission and the light emission time in the past, the degree of decrease in the light emission luminance is different for each pixel even under the same driving condition. As a result, a phenomenon in which burn-in occurs in a pixel in which the degree of decrease in luminance efficiency is significant compared to others (hereinafter referred to as a burn-in phenomenon) is visually recognized by the user.
このため、有機ELデバイスを搭載する表示装置の中には、輝度効率低下がまちまちである各画素に対して、各輝度効率を統一にする補正(以下、焼き付き補正と称する)を行っているものも存在する。なお、焼き付き補正を行う場合、各画素ごとの発光輝度を測定する必要がある。各画素ごとの発光輝度を測定するためには、例えばELパネルの表面に発光輝度を受光するセンサ(以下、受光センサと称する)を配置する必要がある。しかしながら、受光センサをELパネルの表面に配置すると、各画素がELパネルに画像を表示するために発光するときにおいて、この受光センサが障害物となってしまう。即ち、視聴者からすると、受光センサは、各画素から発光された光の伝搬(自身の目までの伝搬)を阻害する要因となってしまう。 For this reason, some display devices equipped with organic EL devices perform corrections (hereinafter referred to as burn-in corrections) that unify the luminance efficiencies for each pixel where the luminance efficiencies vary. Is also present. Note that when performing burn-in correction, it is necessary to measure the light emission luminance for each pixel. In order to measure the light emission luminance for each pixel, for example, a sensor (hereinafter referred to as a light receiving sensor) that receives the light emission luminance needs to be disposed on the surface of the EL panel. However, when the light receiving sensor is arranged on the surface of the EL panel, the light receiving sensor becomes an obstacle when each pixel emits light for displaying an image on the EL panel. That is, from the viewpoint of the viewer, the light receiving sensor becomes a factor that hinders propagation of light emitted from each pixel (propagation to its own eyes).
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、画像表示の時の各画素からの光の伝搬を阻害することなく、各画素の補正を行うときに用いる各画素の発光輝度を適切に測定できるようにするものである。 The present invention has been made in view of such a situation, and the light emission luminance of each pixel used when correcting each pixel without impeding the propagation of light from each pixel at the time of image display. It makes it possible to measure appropriately.
本発明の一側面の表示装置は、自発光素子により発光する画素が複数配置されているパネルと、前記パネルを構成する前記画素の発光輝度を測定する受光センサと、前記パネルとは異なる面であって、前記受光センサを配置する受光面とを備え、前記受光面と、前記パネルの表示面との配置の状態として、前記パネルの表示面に対して、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定可能な位置に前記受光面が配置される第1状態と、前記パネルの表示面に対して、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定不可能な位置に前記受光面が配置される第2状態とを有する。 A display device according to an aspect of the present invention includes a panel on which a plurality of pixels that emit light by a self-luminous element are arranged, a light receiving sensor that measures light emission luminance of the pixels that form the panel, and a surface different from the panel. A light-receiving surface on which the light-receiving sensor is disposed, and the light-receiving sensor has a light emission luminance of the pixel with respect to the display surface of the panel as an arrangement state of the light-receiving surface and the display surface of the panel. The light-receiving surface is disposed at a position where the light-receiving sensor cannot measure the light emission luminance of the pixel with respect to the display surface of the panel in the first state where the light-receiving surface is disposed at a position where the light-receiving sensor can measure A second state.
前記受光面の法線ベクトルと前記パネルの法線ベクトルとのなす角度θのうち、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定可能な所定角度を閾値として、前記角度θが前記閾値の範囲内である状態を前記第1の状態として採用し、前記角度θが前記閾値の範囲外である状態を前記第2状態として採用する。 Of the angle θ formed by the normal vector of the light receiving surface and the normal vector of the panel, a predetermined angle at which the light receiving sensor can measure the light emission luminance of the pixel is set as a threshold value, and the angle θ is within the threshold value range. Is adopted as the first state, and the state in which the angle θ is outside the range of the threshold is adopted as the second state.
前記パネルに対する着脱自在なカバーをさらに備え、前記カバーを構成する一つの面を前記受光面として採用する。 A cover detachably attached to the panel is further provided, and one surface constituting the cover is adopted as the light receiving surface.
前記受光面を回動させて、前記パネルの表示面に対して開閉自在にさせるヒンジ部をさらに備え、前記受光面が前記パネルの表示面に対して開いている状態を第1の状態として採用し、前記受光面が前記パネルの表示面に対して閉じている状態を第2の状態として採用する。 A hinge portion that rotates the light receiving surface so that the light receiving surface can be opened and closed with respect to the display surface of the panel is further provided, and a state in which the light receiving surface is open with respect to the display surface of the panel is adopted as a first state. And the state where the said light-receiving surface is closed with respect to the display surface of the said panel is employ | adopted as a 2nd state.
前記パネルを構成する前記画素のうちの1つが注目画素となり、前記受光センサにより、前記注目画素の発光輝度が測定され、アナログの受光信号が出力された場合、前記注目画素の受光信号を、所定の増幅率で増幅する増幅部と、前記増幅部による増幅後の前記受光信号をデジタルデータに変換して出力する変換部と、前記変換部から出力された前記デジタルデータに基づいて、経時劣化による輝度低下の補正データを演算し、その補正データに基づいて、前記注目画素に対応する映像信号を補正し、補正された前記映像信号を前記注目画素に供給させる信号処理部とをさらに備える。 When one of the pixels constituting the panel is a target pixel, the light emission luminance of the target pixel is measured by the light receiving sensor, and an analog light reception signal is output, the light reception signal of the target pixel is set to a predetermined value. An amplification unit that amplifies at a gain of, a conversion unit that converts the light reception signal amplified by the amplification unit into digital data and outputs the digital data, and a time-dependent deterioration based on the digital data output from the conversion unit And a signal processing unit that calculates correction data for luminance reduction, corrects a video signal corresponding to the target pixel based on the correction data, and supplies the corrected video signal to the target pixel.
前記パネルと同じ面上であって、前記パネルとは異なる位置に配置される発光輝度測定専用の画素と、前記受光面に配置される前記発光輝度測定専用の画素の発光輝度を測定するための受光センサとをさらに備える。 For measuring light emission luminance of pixels dedicated to light emission luminance measurement arranged on the same surface as the panel and different from the panel, and pixels dedicated to light emission luminance measurement arranged on the light receiving surface. And a light receiving sensor.
本発明の一側面においては、自発光素子により発光する画素が行列状に複数配置されているパネルと、前記パネルを構成する前記画素の発光輝度を測定する受光センサと、前記パネルとは異なる面であって、前記受光センサを配置する受光面とが備えられる。前記受光面と、前記パネルの表示面との配置の状態として、前記パネルの表示面に対して、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定可能な位置に前記受光面が配置される第1状態と、前記パネルの表示面に対して、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定不可能な位置に前記受光面が配置される第2状態とが有される。 In one aspect of the present invention, a panel in which a plurality of pixels that emit light by a self-luminous element are arranged in a matrix, a light receiving sensor that measures light emission luminance of the pixels constituting the panel, and a surface different from the panel And the light-receiving surface which arrange | positions the said light-receiving sensor is provided. As the arrangement state of the light receiving surface and the display surface of the panel, the light receiving surface is arranged at a position where the light receiving sensor can measure the light emission luminance of the pixel with respect to the display surface of the panel. And a second state in which the light receiving surface is disposed at a position where the light receiving sensor cannot measure the light emission luminance of the pixel with respect to the display surface of the panel.
本発明の一側面によれば画像表示の時の各画素からの光の伝搬を阻害することなく、各画素の補正を行うときに用いる各画素の発光輝度を適切に測定できる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to appropriately measure the light emission luminance of each pixel used when correcting each pixel without inhibiting the propagation of light from each pixel during image display.
<本発明の実施の形態>
[表示装置の構成]
図1は、本発明を適用した表示装置の一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
<Embodiment of the present invention>
[Configuration of display device]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of an embodiment of a display device to which the present invention is applied.
図1の表示装置1は、ELパネル2、複数の受光センサ3からなるセンサ群4、および制御部5を含むように構成されている。ELパネル2は、有機ELデバイスを自発光素子として用いたパネルとして構成されている。受光センサ3は、ELパネル2の発光輝度を測定するセンサとして構成されている。制御部5は、複数の受光センサ3から得たELパネル2の発光輝度に基づいてELパネル2の表示を制御する。
The
[ELパネルの構成]
図2は、ELパネル2の構成例を示すブロック図である。
[Configuration of EL panel]
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of the
ELパネル2は、画素アレイ部102、水平セレクタ(HSEL)103、ライトスキャナ(WSCN)104、および電源スキャナ(DSCN)105を含むように構成されている。画素アレイ部102は、N×M個(N,Mは相互に独立した1以上の整数値)の画素(画素回路)101−(1,1)乃至101−(N,M)が行列状に配置されて構成されている。水平セレクタ(HSEL)103、ライトスキャナ(WSCN)104、および電源スキャナ(DSCN)105は、画素アレイ部102を駆動する駆動部として動作する。
The
また、ELパネル2は、M本の走査線WSL10−1乃至10−M、M本の電源線DSL10−1乃至10−M、およびN本の映像信号線DTL10−1乃至10−Nも有する。
The
なお、以下において、走査線WSL10−1乃至10−Mそれぞれを特に区別する必要がない場合、単に、走査線WSL10と称する。また、映像信号線DTL10−1乃至10−Nそれぞれを特に区別する必要がない場合、単に、映像信号線DTL10と称する。画素101−(1,1)乃至101−(N,M)および電源線DSL10−1乃至10−Mについても同様に、画素101および電源線DSL10と称する。
In the following description, the scanning lines WSL10-1 to 10-M are simply referred to as scanning lines WSL10 when it is not necessary to distinguish them. Further, when it is not necessary to distinguish each of the video signal lines DTL10-1 to 10-N, they are simply referred to as a video signal line DTL10. Similarly, the pixels 101- (1,1) to 101- (N, M) and the power supply lines DSL10-1 to 10-M are also referred to as the
画素101−(1,1)乃至101−(N,M)のうちの第1行目の画素101−(1,1)乃至101−(N,1)は、走査線WSL10−1でライトスキャナ104と、電源線DSL10−1で電源スキャナ105とそれぞれ接続されている。また、画素101−(1,1)乃至101−(N,M)のうちの第M行目の画素101−(1,M)乃至101−(N,M)は、走査線WSL10−Mでライトスキャナ104と、電源線DSL10−Mで電源スキャナ105とそれぞれ接続されている。画素101−(1,1)乃至101−(N,M)の行方向に並ぶその他の画素101についても同様である。
Among the pixels 101- (1,1) to 101- (N, M), the pixels 101- (1,1) to 101- (N, 1) in the first row are scanned by the scanning line WSL10-1. 104 and the
また、画素101−(1,1)乃至101−(N,M)のうちの第1列目の画素101−(1,1)乃至101−(1,M)は、映像信号線DTL10−1で水平セレクタ103と接続されている。画素101−(1,1)乃至101−(N,M)のうちの第N列目の画素101−(N,1)乃至101−(N,M)は、映像信号線DTL10−Nで水平セレクタ103と接続されている。画素101−(1,1)乃至101−(N,M)の列方向に並ぶその他の画素101についても同様である。
Among the pixels 101- (1,1) to 101- (N, M), the pixels 101- (1,1) to 101- (1, M) in the first column are video signal lines DTL10-1. Is connected to the
ライトスキャナ104は、走査線WSL10−1乃至10−Mに水平周期(1H)で順次制御信号を供給して画素101を行単位で線順次走査する。電源スキャナ105は、線順次走査に合わせて電源線DSL10−1乃至10−Mに第1電位(後述するVcc)または第2電位(後述するVss)の電源電圧を供給する。水平セレクタ103は、線順次走査に合わせて各水平期間内(1H)で映像信号に対応する信号電位Vsigと基準電位Vofsとを切換えて列状の映像信号線DTL10−1乃至10−Mに供給する。
The
[画素101の配列構成]
図3は、ELパネル2の各画素101が発光する色の配列を示している。
[Array Configuration of Pixels 101]
FIG. 3 shows an arrangement of colors emitted by the
画素アレイ部102の各画素101は、赤(R)、緑(G)、または青(B)のいずれかの色を発光するいわゆる副画素(サブピクセル)に相当し、行方向(図面左右方向)に並ぶ赤、緑、および青の3つの画素101で表示単位としての1画素が構成される。
Each
なお、図3では、ライトスキャナ104が画素アレイ部102の左側に配置されるとともに、走査線WSL10および電源線DSL10が画素101の下側から接続されている点が図2と異なる。水平セレクタ103、ライトスキャナ104、電源スキャナ105、および、各画素101と接続される配線は、必要に応じて適切な位置に配置することができる。
3 is different from FIG. 2 in that the
[画素101の詳細回路構成]
図4は、ELパネル2に含まれるN×M個の画素101のうちの1つの画素101を拡大することにより、画素101の詳細な回路構成を示したブロック図である。
[Detailed Circuit Configuration of Pixel 101]
FIG. 4 is a block diagram showing a detailed circuit configuration of the
なお、図4において画素101と接続されている走査線WSL10、映像信号線DTL10、および電源線DSL10のそれぞれは、図2に対応させると次のようになる。即ち、図2における画素101−(n,m)(n=1,2,・・・,N,m=1,2,・・・,M)に対する、走査線WSL10−(n,m)、映像信号線DTL10−(n,m)、および電源線DSL10−(n,m)のそれぞれが対応する。
In FIG. 4, each of the scanning line WSL10, the video signal line DTL10, and the power supply line DSL10 connected to the
図4の画素101は、サンプリング用トランジスタ31、駆動用トランジスタ32、蓄積容量33、および発光素子34を有する。サンプリング用トランジスタ31のゲートは走査線WSL10と接続され、サンプリング用トランジスタ31のドレインは映像信号線DTL10と接続されるとともに、ソースが駆動用トランジスタ32のゲートgと接続されている。
The
駆動用トランジスタ32のソース及びドレインの一方は発光素子34のアノードに接続され、他方が電源線DSL10に接続される。蓄積容量33は、駆動用トランジスタ32のゲートgと発光素子34のアノードに接続されている。また、発光素子34のカソードは所定の電位Vcatに設定されている配線35に接続されている。この電位VcatはGNDレベルであり、従って、配線35は接地配線である。
One of the source and the drain of the driving
サンプリング用トランジスタ31および駆動用トランジスタ32は、いずれもNチャネル型トランジスタである。よって、サンプリング用トランジスタ31および駆動用トランジスタ32は、低温ポリシリコンよりも安価に作成できるアモルファスシリコンで作成することができる。これにより、画素回路の製造コストをより安価にすることができる。勿論、サンプリング用トランジスタ31および駆動用トランジスタ32は、低温ポリシリコンや単結晶シリコンで作成しても構わない。
The
発光素子34は、有機EL素子で構成される。有機EL素子はダイオード特性を有する電流発光素子である。よって、発光素子34は、供給される電流値Idsに応じた階調の発光を行う。
The
以上のように構成される画素101において、サンプリング用トランジスタ31が、走査線WSL10からの制御信号に応じてオン(導通)し、映像信号線DTL10を介して階調に応じた信号電位Vsigの映像信号をサンプリングする。蓄積容量33は、映像信号線DTL10を介して水平セレクタ103から供給された電荷を蓄積して保持する。駆動用トランジスタ32は、第1電位Vccにある電源線DSL10から電流の供給を受け、蓄積容量33に保持された信号電位Vsigに応じて駆動電流Idsを発光素子34に流す(供給する)。発光素子34に所定の駆動電流Idsが流れることにより、画素101が発光する。
In the
画素101は、閾値補正機能を有する。閾値補正機能とは、駆動用トランジスタ32の閾値電圧Vthに相当する電圧を蓄積容量33に保持させる機能である。閾値補正機能を発揮させることで、ELパネル2の画素毎のばらつきの原因となる駆動用トランジスタ32の閾値電圧Vthの影響をキャンセルすることができる。
The
また、画素101は、上述した閾値補正機能に加え、移動度補正機能も有する。移動度補正機能とは、蓄積容量33に信号電位Vsigを保持する際、駆動用トランジスタ32の移動度μに対する補正を信号電位Vsigに加える機能である。
Further, the
さらに、画素101は、ブートストラップ機能も備えている。ブートストラップ機能とは、駆動用トランジスタ32のソース電位Vsの変動にゲート電位Vgを連動させる機能である。ブートストラップ機能の発揮により、駆動用トランジスタ32のゲートとソース間の電圧Vgsを一定に維持することが出来る。
Furthermore, the
[画素101の動作説明]
図5は、画素101の動作を説明するタイミングチャートである。
[Description of Operation of Pixel 101]
FIG. 5 is a timing chart for explaining the operation of the
図5は、同一の時間軸(図面横方向)に対する走査線WSL10、電源線DSL10、および映像信号線DTL10の電位変化と、それに対応する駆動用トランジスタ32のゲート電位Vg及びソース電位Vsの変化を示している。
FIG. 5 shows changes in potentials of the scanning line WSL10, the power supply line DSL10, and the video signal line DTL10 with respect to the same time axis (horizontal direction in the drawing), and changes in the gate potential Vg and source potential Vs of the driving
図5において、時刻t1までの期間は、前の水平期間(1H)の発光がなされている発光期間T1である。 In FIG. 5, the period up to time t 1 is the light emission period T 1 during which light is emitted in the previous horizontal period (1H).
発光期間T1が終了した時刻t1から時刻t4までは、駆動用トランジスタ32のゲート電位Vg及びソース電位Vsを初期化することで閾値電圧補正動作の準備を行う閾値補正準備期間T2である。
From time t 1 to time t 4 when the light emission period T 1 ends, a threshold correction preparation period T 2 in which the gate potential Vg and the source potential Vs of the driving
閾値補正準備期間T2では、時刻t1において、電源スキャナ105が、電源線DSL10の電位を高電位である第1電位Vccから低電位である第2電位Vssに切換える。そして、時刻t2において、水平セレクタ103が、映像信号線DTL10の電位を信号電位Vsigから基準電位Vofsに切換える。次に、時刻t3において、ライトスキャナ104が、走査線WSL10の電位を高電位に切換え、サンプリング用トランジスタ31をオンさせる。これにより、駆動用トランジスタ32のゲート電位Vgが基準電位Vofsにリセットされ、且つ、ソース電位Vsが映像信号線DTL10の第2電位Vssにリセットされる。
In the threshold value correction preparation period T 2, at time t 1, the
時刻t4から時刻t5までは、閾値補正動作を行う閾値補正期間T3である。閾値補正期間T3では、時刻t4において、電源スキャナ105により、電源線DSL10の電位が高電位Vccに切換えられ、閾値電圧Vthに相当する電圧が、駆動用トランジスタ32のゲートとソースとの間に接続された蓄積容量33に書き込まれる。
From time t 4 to time t 5 is a threshold correction period T 3 in which the threshold correction operation is performed. In the threshold correction period T 3 , at time t 4 , the
時刻t5から時刻t7までの書き込み+移動度補正準備期間T4では、走査線WSL10の電位が高電位から低電位に一旦切換えられる。また、時刻t7の前の時刻t6において、水平セレクタ103が、映像信号線DTL10の電位を基準電位Vofsから階調に応じた信号電位Vsigに切換える。
In the writing + mobility correction preparation period T 4 from time t 5 to time t 7 , the potential of the
そして、時刻t7から時刻t8までの書き込み+移動度補正期間T5において、映像信号の書き込みと移動度補正動作が行われる。即ち、時刻t7から時刻t8までの間、走査線WSL10の電位が高電位に設定され、これにより、映像信号に対応する信号電位Vsigが閾値電圧Vthに足し込まれる形で蓄積容量33に書き込まれる。また、移動度補正用の電圧ΔVμが蓄積容量33に保持された電圧から差し引かれる。
Then, in the writing + mobility correction period T 5 from time t 7 to time t 8 , video signal writing and mobility correction operation are performed. That is, between the time t 7 to the time t 8, the potential of the scanning line WSL10 is set to a high potential, Thus, the
書き込み+移動度補正期間T5終了後の時刻t8において、走査線WSL10の電位が低電位に設定され、それ以降、発光期間T6として、信号電圧Vsigに応じた発光輝度で発光素子34が発光する。信号電圧Vsigは、閾値電圧Vthに相当する電圧と移動度補正用の電圧ΔVμとによって調整されているため、発光素子34の発光輝度は駆動用トランジスタ32の閾値電圧Vthや移動度μのばらつきの影響を受けることがない。
Write + in the mobility correction period T 5 after the end of the time t 8, the potential of the scanning line WSL10 is set to a low potential, thereafter, as a light-emitting period T 6, the
なお、発光期間T6の最初でブートストラップ動作が行われ、駆動用トランジスタ32のゲート‐ソース間電圧Vgs=Vsig+Vth−ΔVμを一定に維持したまま、駆動用トランジスタ32のゲート電位Vg及びソース電位Vsが上昇する。
Note that a bootstrap operation is performed at the beginning of the light emission period T 6 , and the gate potential Vg and the source potential of the driving
また、時刻t8から所定時間経過後の時刻t9において、映像信号線DTL10の電位が、信号電位Vsigから基準電位Vofsに落とされる。図5において、時刻t2から時刻t9までの期間は水平期間(1H)に相当する。 At time t 9 after a predetermined time from the time t 8, the potential of the video signal line DTL10 is dropped from the signal potential Vsig to the reference potential Vofs. In FIG. 5, the period from time t 2 to time t 9 corresponds to the horizontal period (1H).
以上のようにして、ELパネル2の各画素101では、駆動用トランジスタ32の閾値電圧Vthや移動度μのばらつきの影響を受けることがなく、発光素子34を発光させることができる。
As described above, each
[画素101の動作の別の例説明]
図6は、画素101の動作の別の例を説明するタイミングチャートである。
[Description of another example of the operation of the pixel 101]
FIG. 6 is a timing chart for explaining another example of the operation of the
上述した図5の例では、閾値補正動作は1H期間に1回行われていた。ただし、1H期間が短く、1H期間内で閾値補正動作を行うことが難しい場合がある。そのような場合には、複数の1H期間にわたって複数回の閾値補正動作を行わせることができる。行うこともできる。 In the example of FIG. 5 described above, the threshold correction operation is performed once in the 1H period. However, the 1H period is short, and it may be difficult to perform the threshold correction operation within the 1H period. In such a case, the threshold correction operation can be performed a plurality of times over a plurality of 1H periods. It can also be done.
図6の例では、閾値補正動作は、連続する3H期間で行われる。即ち、図6の例では、閾値補正期間T3が3回に分割されている。なお、その他の画素101の動作は、図5の例の動作と同様である。よって、これらの動作の説明については省略する。
In the example of FIG. 6, the threshold correction operation is performed in a continuous 3H period. That is, in the example of FIG. 6, the threshold correction period T 3 is divided into three times. The other operations of the
[焼き付き補正制御の説明]
ところで、有機ELデバイスは、発光量および発光時間に比例して発光輝度が低下する特性を有している。そのため、所定の時間が経過すると、同一の駆動条件下でも、それまでの発光量および発光時間に応じて各画素101の輝度効率の低下の度合いが異なってくる。このため、各画素101の輝度効率低下のばらつきにより、輝度効率の低下度合が他と比較して著しい画素101が生じる。その結果、かかる画素101において、あたかも焼き付きが生じているような現象(以下、焼き付き現象と称する)がユーザに視認される。そこで、表示装置1は、輝度効率低下がまちまちである各画素101に対して、各輝度効率を統一にする補正(以下、焼き付き補正と称する)を行っている。
[Explanation of burn-in correction control]
By the way, the organic EL device has a characteristic that the light emission luminance decreases in proportion to the light emission amount and the light emission time. For this reason, when a predetermined time elapses, the degree of decrease in luminance efficiency of each
[焼き付き補正制御を実行するために必要な表示装置1の機能的構成例]
[Example of Functional Configuration of
図7は、焼き付き補正制御を実行するために必要な表示装置1の機能的構成例を示す機能ブロック図を示している。
FIG. 7 is a functional block diagram illustrating a functional configuration example of the
受光センサ3は、ELパネル2の表示面に対向する位置に配置される。また、ELパネル2は複数の領域に区分されており、その領域毎に1つの受光センサ3が、ELパネル2に対向して配置されている。即ち、1つの領域につき1個の割合で均等に配置された複数の受光センサ3により、センサ群4が構成されている。さらにセンサ群4は、ELパネル2の表示面とは異なる所定の面71(以下、受光面71と称する)に配置されている。なお、受光面71の具体例については、図10以降の図面を参照して後述する。例えば、図7の例では、センサ群4は9個の受光センサ3により構成されている。勿論ELパネル2に対向して配置される受光センサ3の個数は、図7の例に限定されるものではない。
The
各受光センサ3のそれぞれは、自分の担当する領域内の各画素101の発光輝度を測定する。具体的には、所定領域内の各画素101が1つずつ順次、処理の対象として注目すべき画素(以下、注目画素Pと称する)として設定される。注目画素Pは所定の階調の輝度で発光する。すると、注目画素Pの発光輝度が、その所定領域を担当する受光センサ3により順次測定される。即ち、受光センサ3は、注目画素Pからの光を受光し、その受光輝度に応じたアナログの受光信号(電圧信号)を生成し、制御部5に供給する。
Each of the
図7の例では、制御部5は、増幅部51、A/D変換部52、および信号処理部53を含むように構成されている。
In the example of FIG. 7, the
増幅部51は、各受光センサ3から供給されるアナログの受光信号を増幅してA/D変換部52に供給する。A/D変換部52は、増幅部51から供給される増幅後のアナログの受光信号をデジタルの信号(輝度データ)に変換し、信号処理部53に供給する。
The amplification unit 51 amplifies the analog light reception signal supplied from each
信号処理部53のメモリ61には、画素アレイ部102の各画素101について、輝度データの初期値(出荷状態時の輝度データ)が初期データとして記憶されている。信号処理部53は、注目画素PについてのデジタルデータがA/D変換部52から供給されてきたとき、そのデジタルデータに基づいて、所定期間経過後(経時劣化後)の注目画素Pの輝度データを認識する。信号処理部53は、注目画素Pについて、所定期間経過後の輝度値の初期データ(初期輝度値)に対する輝度低下量を算出する。そして、信号処理部53は、注目画素Pについて、輝度低下を補正する補正データを、その輝度低下量に基づいて演算する。このような補正データは、画素アレイ部102の各画素101が注目画素Pに順次設定されることで、各画素101毎に算出され、メモリ61に記憶される。
The
なお、信号処理部53のうち、上述の補正データを演算する部分は、例えば、FPGA(Field Programmable Gate Alley)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)などの信号処理ICで構成することができる。 In addition, the part which calculates the above-mentioned correction data among the signal processing parts 53 can be comprised by signal processing IC, such as FPGA (Field Programmable Gate Alley) and ASIC (Application Specific Integrated Circuit).
以上説明したように、メモリ61には、所定期間経過時点の各画素101の補正データが記憶される。また、メモリ61には、各画素101についての初期データも記憶される。その他、メモリ61には、後述する各種処理を実現する上で必要な各種情報も記憶される。
As described above, the
信号処理部53はまた、水平セレクタ103を制御して、各画素101毎に、表示装置1に入力された映像信号に対応する信号電位Vsigを供給させる。このとき、信号処理部53は、各画素101の補正データをメモリ61から読み出して、経時劣化による輝度低下を補正した信号電位Vsigを決定する。
The signal processing unit 53 also controls the
[画素101の初期データ取得処理]
図8は、表示装置1が実行する処理のうち、初期データを取得するまでの一連の処理(以下、初期データ取得処理と称する)の一例を説明するフローチャートである。
[Initial data acquisition processing of pixel 101]
FIG. 8 is a flowchart for explaining an example of a series of processing (hereinafter referred to as initial data acquisition processing) up to acquisition of initial data among processing executed by the
図8の初期データ取得処理は、例えば、ELパネル2が区分された各領域毎に並行して実行される。即ち、図8の初期データ取得処理は、各受光センサ3毎に並行して実行される。
The initial data acquisition process of FIG. 8 is executed in parallel for each area into which the
ステップS1において、信号処理部53は、領域を構成する各画素101のうち輝度データが取得されていない画素101を、注目画素Pに設定する。
In step S <b> 1, the signal processing unit 53 sets a
ステップS2において、信号処理部53は、注目画素Pを、予め決められた所定の階調(明るさ)で発光させる。 In step S2, the signal processing unit 53 causes the target pixel P to emit light at a predetermined gradation (brightness) determined in advance.
ステップS3において、受光センサ3は、注目画素Pの受光輝度に応じたアナログの受光信号(電圧信号)を制御部5の増幅部51に出力する。
In step S <b> 3, the
ステップS4において、増幅部51は、受光センサ3の受光信号を所定の増幅率で増幅し、A/D変換部52に供給する。
In step S <b> 4, the amplification unit 51 amplifies the light reception signal of the
ステップS5において、A/D変換部52は、増幅後のアナログの受光信号を、デジタルの信号である注目画素Pの輝度データに変換し、信号処理部53に供給する。 In step S <b> 5, the A / D conversion unit 52 converts the amplified analog light reception signal into luminance data of the pixel of interest P, which is a digital signal, and supplies it to the signal processing unit 53.
ステップS6において、信号処理部53は、注目画素Pの輝度データを初期データとしてメモリ61に記憶させる。
In step S <b> 6, the signal processing unit 53 stores the luminance data of the target pixel P in the
ステップS7において、信号処理部53は、領域内のすべての画素101について輝度データを取得したか否かを判定する。ステップS7において、領域内のすべての画素101についてまだ輝度データを取得していないと判定された場合、処理はステップS1に戻され、ステップS1乃至S7の処理のループ処理が繰り返される。即ち、領域を構成する各画素101のそれぞれが順次注目画素Pに設定され、かかるループ処理が繰り返し実行されることで、領域を構成する全画素101の初期データが取得されメモリ61に記憶される。
In step S7, the signal processing unit 53 determines whether or not luminance data has been acquired for all the
これにより、ステップS7において、領域内のすべての画素101について輝度データを取得したと判定されて、初期データ取得処理は終了する。
Thereby, in step S7, it is determined that the luminance data has been acquired for all the
[受光センサ3による発光輝度の測定例]
図9は、受光センサ3による画素101の発光輝度の測定順序の一例について説明する図である。
[Measurement example of light emission luminance by the light receiving sensor 3]
FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a measurement order of the light emission luminance of the
図9のA乃至Gには、5×5の画素101から構成される領域が示されている。この領域の中心に対向して、受光センサ3が配置されている。
In FIGS. 9A to 9G, an area composed of 5 × 5
図9のAは、焼き付き補正制御における注目画素Pの設定順序を示している。即ち、図9のAに示される設定順序に従って、図8のステップS1の処理で注目画素Pが設定されることになる。具体的には、処理対象行がi行(図9の例では、iは1乃至5のうちの何れかの整数値)である場合、i行目に配置されている5つの画素101のそれぞれが、左端(1列目)の画素101から右端(5列目)の画素101に向かう順番で順次注目画素Pとして設定されていく。そして、i行の右端(5列目)の画素101が注目画素Pに設定されると、処理対象行は、次のi+1行に遷移し、i行と同様の順序で注目画素Pが順次設定されていく。
FIG. 9A shows the setting order of the target pixel P in the burn-in correction control. That is, the target pixel P is set in the process of step S1 of FIG. 8 in accordance with the setting order shown in A of FIG. Specifically, when the processing target row is i row (in the example of FIG. 9, i is any integer value from 1 to 5), each of the five
この場合、焼き付き補正制御においては、信号処理部53は、注目画素Pのみを予め決められた所定の階調で発光させる。即ち、信号処理部53は、それ以外の24個の画素101を消光させる。上述の図8の初期データ取得処理でいうと、注目画素Pとして設定された画素101に対して、ステップS2の処理が実行されることになる。
In this case, in the burn-in correction control, the signal processing unit 53 causes only the target pixel P to emit light with a predetermined gradation. That is, the signal processing unit 53 extinguishes the other 24
即ち、図9のBに示されるように、最初に、1行目が処理対象行となり、1列目の画素101が注目画素Pとなる。よって、図8のステップS2の処理で、1行1列目の注目画素Pのみが、予め決められた所定の階調で発光する。すると、ステップS3の処理で、受光センサ3は、注目画素Pの受光輝度に応じた受光信号(電圧信号)を制御部5に出力する。ステップS4乃至S6の処理で、制御部5は、注目画素Pの受光信号に基づいて、注目画素Pの輝度データを算出し、それを初期データとしてメモリ61に記憶させる。
That is, as shown in FIG. 9B, first, the first row becomes the processing target row, and the
その後、ステップS7の処理でNOである判定されて、処理はステップS1に戻される。すると、ステップS1の処理で、図9のCに示されるように、信号処理部53は、これまで注目画素Pとされていた1行1列目の画素101の右隣の画素101、即ち、1行2列目の画素101を注目画素Pに設定する。よって、ステップS2の処理で、1行2列目の注目画素Pのみが、予め決められた所定の階調で発光する。すると、ステップS3の処理で、受光センサ3は、注目画素Pの受光輝度に応じた受光信号(電圧信号)を制御部5に出力する。ステップS4乃至S6の処理で、制御部5は、注目画素Pの受光信号に基づいて、注目画素Pの輝度データを算出し、それを初期データとしてメモリ61に記憶させる。
Thereafter, it is determined NO in the process of step S7, and the process returns to step S1. Then, in the process of step S1, as shown in FIG. 9C, the signal processing unit 53 causes the
以下、ステップS1乃至S7のループ処理が繰り返し実行される。すると、図9のD乃至Gに示されるように、上述の順番で注目画素Pが順次設定され、注目画素Pの受光信号が受光センサ3から出力される。その結果、注目画素Pの受光信号に基づいて、注目画素Pの輝度データが算出されて、それが初期データとしてメモリ61に記憶される。
Thereafter, the loop processing of steps S1 to S7 is repeatedly executed. Then, as shown in D to G of FIG. 9, the target pixel P is sequentially set in the above-described order, and the light receiving signal of the target pixel P is output from the
[画素101の補正データ取得処理]
図10は、図8の初期データ処理を行ってから所定期間経過後に実行される処理であって、その所定期間経過時点の補正データを取得するまでの一連の処理(以下、補正データ取得処理と称する)の一例を説明するフローチャートである。補正データ取得処理も、図8の初期データ処理と同様に、ELパネル2が区分された各領域毎に並行して実行される。
[Correction data acquisition processing of pixel 101]
FIG. 10 is a process executed after a predetermined period has elapsed since the initial data process of FIG. 8 was performed, and a series of processes (hereinafter referred to as correction data acquisition process) until acquiring correction data at the time when the predetermined period has elapsed. It is a flowchart explaining an example. The correction data acquisition process is also executed in parallel for each area into which the
ステップS21乃至S25の処理は、上述した図8のステップS1乃至S5の処理とそれぞれ同様であるので、その説明は省略する。即ち、ステップS21乃至S25の処理によって、初期データ取得処理と同一の条件の下で、注目画素Pの輝度データが取得される。 Since the processing of steps S21 to S25 is the same as the processing of steps S1 to S5 of FIG. 8 described above, description thereof will be omitted. That is, the luminance data of the pixel of interest P is acquired by the processing in steps S21 to S25 under the same conditions as the initial data acquisition processing.
ステップS26において、信号処理部53は、注目画素Pの初期データをメモリ61から取得する。
In step S <b> 26, the signal processing unit 53 acquires initial data of the target pixel P from the
ステップS27において、信号処理部53は、注目画素Pの輝度データの初期データに対する輝度低下量を算出する。 In step S <b> 27, the signal processing unit 53 calculates a luminance decrease amount with respect to the initial data of the luminance data of the target pixel P.
ステップS28において、信号処理部53は、注目画素Pの輝度低下量に基づいて、注目画素Pの補正データを算出し、メモリ61に記憶させる。
In step S <b> 28, the signal processing unit 53 calculates correction data for the target pixel P based on the luminance reduction amount of the target pixel P and stores the correction data in the
ステップS29において、信号処理部53は、領域内のすべての画素101について補正データを取得したか否かを判定する。ステップS29において、領域内のすべての画素101についてまだ補正データを取得していないと判定された場合、処理はステップS21に戻され、ステップS21乃至S29の処理のループ処理が繰り返される。即ち、領域を構成する各画素101のそれぞれが順次注目画素Pに設定され、かかるループ処理が繰り返し実行されることで、領域を構成する全画素101の補正データが取得されてメモリ61に記憶される。
In step S29, the signal processing unit 53 determines whether correction data has been acquired for all the
即ち、補正データ取得処理でも、図9のAに示される順序で注目画素Pが設定されていく。そして、図9のB乃至Gに示されるように、注目画素Pとして設定された各画素101が順次発光されていくことで、それぞれの補正データが取得されてメモリ61に記憶される。
That is, in the correction data acquisition process, the target pixel P is set in the order shown in A of FIG. Then, as shown in B to G of FIG. 9, each
領域内のすべての画素101について補正データがメモリ61に記憶されると、ステップS29においてYESであると判定されて、補正データ取得処理は終了する。
When the correction data is stored in the
以上のように、図8の初期データ取得処理実行後、図10の補正データ取得処理が所定時間経過後に実行されると、画素アレイ部102の各画素101についての補正データが、メモリ61に記憶される。即ち、その後も、随時補正データ取得処理が実行される毎に、補正データが更新されてメモリ61に記憶される。
As described above, after the initial data acquisition process of FIG. 8 is executed and the correction data acquisition process of FIG. 10 is executed after a predetermined time has elapsed, the correction data for each
これにより、信号処理部53の制御の下、映像信号の信号電位として、補正データにより経時劣化による輝度低下が補正された信号電位Vsigが、画素アレイ部102の各画素101に供給されることになる。即ち、信号処理部53は、表示装置1に入力された映像信号の信号電位として、補正データによる電位を上乗せした信号電位Vsigを画素101に供給するように水平セレクタ103を制御することができるようになる。
As a result, under the control of the signal processing unit 53, the signal potential Vsig in which the luminance reduction due to deterioration with time is corrected by the correction data as the signal potential of the video signal is supplied to each
なお、メモリ61に記憶される補正データは、表示装置1に入力された映像信号の信号電位に、所定の比率を乗算するような値でも良いし、所定の電圧値をオフセットさせるような値でもよい。また、表示装置1に入力された映像信号の信号電位に対応した補正テーブルとして保有することも可能である。即ち、メモリ61に記憶される補正データの形態は特に限定されない。
The correction data stored in the
[受光センサ3の配置例]
表示装置1が焼き付き補正制御を実行するとき、ELパネル2を構成する各画素101は、自身の補正データの生成を目的として発光する。このとき、注目画素Pからの光は、受光センサ3によって受光される。よって、以下、かかるときを、受光時と称する。換言すると、受光時には、受光センサ3は、各画素101からの光を受光できる位置に配置される必要がある。よって、受光時には、受光センサ3は、例えば図7を用いて上述したように、ELパネル2の表示面に対向する位置に配置される。
[Arrangement example of light receiving sensor 3]
When the
これに対して、表示装置1が焼き付き補正制御を実行しないとき、ELパネル2を構成する各画素101は、ELパネル2に画像を表示する目的で発光する。以下、かかるときを、通常発光時と称する。通常発光時には、受光センサ3は、注目画素Pからの光は、受光センサ3によって受光される必要はない。換言すると、通常発光時には、受光センサ3は、各画素101からの光を受光できる位置に配置される必要は特にない。むしろ、ELパネル2の表示面に対向する位置に配置されると、受光センサ3は、各画素101の発光の障害物となってしまう。即ち、このような場合には、視聴者からすると、受光センサ3は、各画素101から発光された光の伝搬(自身の目までの伝搬)を阻害する要因となってしまう。
On the other hand, when the
そこで、本発明人は、受光センサ3の配置位置を可変できるようにし、受光時における受光センサ3の配置位置と、通常発光時における受光センサ3の配置位置とを異ならせる、という手法を発明した。以下、かかる手法を、受光センサ配置位置可変手法と称する。
Accordingly, the inventors have invented a technique of making the arrangement position of the
受光センサ配置位置手法を実現すべく、受光センサ3は、ELパネル2に配置されるのではなく、ELパネル2とは独立した場所、即ち、図7を用いて上述した受光面71に配置される。この場合、受光面71とELパネル2との配置関係を可変させることで、受光センサ配置位置可変手法が実現されることになる。
In order to realize the light receiving sensor arrangement position method, the
換言すると、次の第1の状態と第2の状態とを有するように、表示装置1を構成することで、受光センサ配置位置可変手法が実現されることになる。第1の状態とは、ELパネル2の表示面に対して、受光センサ3が画素101の発光輝度を測定可能な位置に受光面71が配置される状態をいう。第2の状態とは、ELパネル2の表示面に対して、受光センサ3が画素101の発光輝度を測定不可能な位置に受光面71が配置される状態をいう。この場合、表示装置1の状態を、受光時には第1の状態に遷移させ、通常発光時には第2の状態に遷移させることで、受光センサ配置位置可変手法が実現されることになる。
In other words, by configuring the
以下、受光センサ配置位置可変手法が適用された表示装置1についてさらに詳しく説明していく。
Hereinafter, the
図11は、表示装置1におけるELパネル2と受光面71の配置の関係の一例を示している。図11において、ベクトルV71は、受光面71の法線方向の単位ベクトルを示している。よって、以下、ベクトルV71を、受光面71の法線ベクトルV71と称する。また、ベクトルV2は、ELパネル2の表示面の法線方向の単位ベクトルを示している。よって、以下、ベクトルV2を、ELパネル2の法線ベクトルV2と称する。
FIG. 11 shows an example of the arrangement relationship between the
図11のAは、受光時におけるELパネル2と受光面71の配置の状態のうち、第1の状態の一例を示している。図11のAの例では、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが180度となるように、受光面71は配置される。
FIG. 11A shows an example of the first state among the arrangement states of the
図11のBは、通常発光時におけるELパネル2と受光面71の配置の状態のうち、第2の状態の一例を示している。図11のBの例では、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが90度となるように、受光面71は配置される。
FIG. 11B shows an example of the second state among the arrangement states of the
ただし、受光面71の配置の仕方は、図11の例に限定されない。具体的には例えば、図12に示されるように、受光面71を可変配置させることができる。
However, the arrangement of the
図12は、表示装置1におけるELパネル2と受光面71の配置の関係を示している。
FIG. 12 shows the relationship between the arrangement of the
受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが、閾値θTH1乃至閾値θTH2の範囲の場合、受光面71に配置された受光センサ3が、ELパネル2に配置された画素101からの光を受光できるとする。
Angle theta between the normal vector V 2 of the normal vector V 71 of the light-receiving
この場合、受光面71の配置位置に着目すると、表示装置1が取り得る状態は、次の第1の状態と第2の状態とに大別できる。即ち、第1の状態とは、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが閾値θTH1乃至閾値θTH2の範囲内である状態をいう。第2の状態とは、当該範囲外である状態をいう。
In this case, when attention is paid to the arrangement position of the
この場合、表示装置1の状態を、受光時には第1の状態に遷移させ、通常発光時には第2の状態に遷移させることで、受光センサ配置位置可変手法が実現されることになる。ここで、「受光時には第1の状態に遷移させ」るとは、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θを閾値θTH1乃至閾値θTH2の範囲内の任意の角度とするように、受光面71を配置させることをいう。また、「通常発光時には第2の状態に遷移させる」とは、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θを閾値θTH1乃至閾値θTH2の範囲外の任意の角度とするように、受光面71を配置させることをいう。
In this case, by changing the state of the
例えば、受光面71をELパネル2に対して取り外し可能な構成とすることで、表示装置1の状態を第1状態と第2状態とに相互に遷移させることが可能となる。具体的には例えば図示はしないが、ELパネル2から着脱自在なカバーの面のうち、ELパネル2に装着されている場合にELパネル2と対向する面を、受光面71として採用することができる。この場合、受光時には、カバーをELパネル2に装着させることで、表示装置1の状態は第1状態に遷移する。これにより、表示装置1は、焼き付き補正制御を実行することが可能となる。
For example, by adopting a configuration in which the
また、通常発光時には、カバーをELパネル2から取り外すことで、表示装置1の状態は第2状態に遷移する。これにより、カバー(受光面71)に配置された受光センサ3は、通常発光時における表示装置1の動作を妨げないという効果を奏することが可能となる。
Further, at the time of normal light emission, the state of the
ところで、本発明が適用される表示装置1は、様々な電子機器に入力された、若しくは、様々な電子機器内で生成した映像信号を画像若しくは映像として表示するディスプレイに適用することが可能である。さらに言えば、表示装置1を、折りたたみ可能な電子機器のディスプレイとして適用することができる。これにより、表示装置1の状態を、第1状態と第2状態とに相互に遷移させることが容易に可能となる。ここで、様々な電子機器としては、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯端末装置、テレビジョン受像機などが存在する。以下この様な表示装置1が適用された電子機器の例を示す。
By the way, the
[受光センサ3の各種配置例]
図13は、表示装置1を適用した電子機器の一例として、ノート型パーソナルコンピュータの外観の構成例を示している。
[Various arrangement examples of the light receiving sensor 3]
FIG. 13 shows an example of the external configuration of a notebook personal computer as an example of an electronic apparatus to which the
ノート型パーソナルコンピュータ101は、ヒンジ部113を境に、本体カバー112と本体部111とに分けられており、ヒンジ部113を介して自在に折りたたみできるように構成されている。換言すると、本体カバー112はヒンジ部113により回動し、本体部111に対して開閉自在とされている。通常、本体カバー112は、使用時には開けられ、不使用時には閉じられる。
The notebook
図13の例においては、本体カバー112の表示部として、ELパネル2が採用されている。また、本体部111のキーボード121が配置されている面が、受光面71として採用されている。受光センサ3は受光面71上に配置され、例えば、キーボード121に埋め込まれる。
In the example of FIG. 13, the
図14は、図13のノート型パーソナルコンピュータ101の取り得る状態のうち、第1の状態を説明する図である。
FIG. 14 is a diagram for explaining the first state among the states that the notebook
図14のAは、ノート型パーソナルコンピュータ101の本体カバー112が閉じられている状態を示す図である。
FIG. 14A is a diagram illustrating a state in which the
なお、ユーザは、通常、この第1の状態でノート型パーソナルコンピュータ101を使用しない。
Note that the user does not normally use the notebook
図14のBは、図14のAの第1の状態の場合におけるELパネル2と、受光面71の配置の関係を示している。
14B shows the arrangement relationship between the
受光センサ3を含む受光面71は、ELパネル2の表示面と対向して配置されている。即ち、図14の例では、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが180度となるように、受光面71は配置されている。
The
このように、ノート型パーソナルコンピュータ101の状態として、図14のAに示される状態こそが第1の状態になることがわかる。このような第1の状態では、各受光センサ3のそれぞれは、ELパネル2の表示面上の、自分の担当する領域内の各画素101の発光輝度を測定することが可能である。
Thus, it can be seen that the state shown in FIG. 14A is the first state as the state of the notebook
図15は、図13のノート型パーソナルコンピュータ101の取り得る状態のうち、第2の状態を説明する図である。
FIG. 15 is a diagram for explaining the second state among the states that the notebook
図15のAは、ノート型パーソナルコンピュータ101の本体カバー112が開けられている状態を示す図である。なお、ユーザは、通常、この第2の状態でノート型パーソナルコンピュータ101を使用する。
FIG. 15A is a diagram showing a state in which the
図15のBは、図15のAの状態の場合におけるELパネル2と、受光面71の配置の関係を示している。受光センサ3を含む受光面71は、ELパネル2の表示面と対向して配置されている。即ち、図15の例では、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが90度となるように、受光面71は配置されている。
FIG. 15B shows the arrangement relationship between the
このように、ノート型パーソナルコンピュータ101の状態として、図15のAに示される状態こそが第2の状態になることがわかる。このような第2の状態では、受光面71は、通常発光時における各画素の101の発光を阻害しない。換言すると、ユーザによるノート型パーソナルコンピュータ101の使用を阻害しないという効果を奏することが可能である。
Thus, it can be seen that the state shown in FIG. 15A is the second state as the state of the notebook
図16は、表示装置1を適用した電子機器の一例として、携帯端末装置の外観の構成例を示している。
FIG. 16 shows an example of the external configuration of a mobile terminal device as an example of an electronic apparatus to which the
携帯端末装置131は、ヒンジ部143を境に、上部筺体141と下部筺体142とに分けられており、ヒンジ部143を介して自在に折りたたみできるように構成されている。換言すると、上部筺体141はヒンジ部143により回動し、下部筺体142に対して開閉自在とされている。通常、上部筺体141は、使用時には開けられ、不使用時には閉じられる。
The mobile
図16の例においては、上部筺体141の表示部として、ELパネル2が採用されている。また、下部筺体142の入力ボタン151が配置されている面が、受光面71として採用されている。受光センサ3は受光面71上に配置され、例えば、入力ボタン151に埋め込まれる。
In the example of FIG. 16, the
図示しないが、携帯端末装置131の取り得る状態として、上部筺体141が、下部筺体142に対して閉じられている状態がある。この場合、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが180度となる。このような状態が、携帯端末装置131における第1の状態となる。このような第1の状態では、各受光センサ3のそれぞれは、ELパネル2の表示面上の、自分の担当する領域内の各画素101の発光輝度を測定することが可能である。
Although not shown, the portable
これに対して、図16に示されている状態、即ち、上部筺体141が、下部筺体142に対して開けられている状態が、第2の状態となる。このような第2の状態では、受光面71は、通常発光時における各画素の101の発光を阻害しない。換言すると、ユーザによる携帯端末装置131の使用を阻害しないという効果を奏することが可能である。
On the other hand, the state shown in FIG. 16, that is, the state where the upper casing 141 is opened with respect to the lower casing 142 is the second state. In such a second state, the
図17は、表示装置1を適用した電子機器の一例として、デジタルビデオカメラの外観の構成例を示している。
FIG. 17 shows a configuration example of the appearance of a digital video camera as an example of an electronic apparatus to which the
デジタルビデオカメラ161は、ヒンジ部173を境に、本体部171とモニタ部172とに分けられており、ヒンジ部173を介して自在に折りたたみできるように構成されている。換言すると、モニタ部172はヒンジ部173により回動し、本体部171に対して開閉自在とされている。
The
図17の例においては、モニタ部172の表示部として、ELパネル2が採用されている。また、本体部171の、モニタ部172が閉じられた時に対向する面(以下、モニタ収納面181と称する)が、受光面71として採用されている。受光センサ3は受光面71上に配置され、例えば、モニタ収納面181に埋め込まれる。
In the example of FIG. 17, the
図示しないが、デジタルビデオカメラ161の取り得る状態として、モニタ部172が、本体部171に対して閉じられている状態である場合、受光面71の法線ベクトルV71とELパネル2の法線ベクトルV2とのなす角度θが180度となる。このような状態が、デジタルビデオカメラ161における第1の状態となる。このような第1の状態では、各受光センサ3のそれぞれは、ELパネル2の表示面上の、自分の担当する領域内の各画素101の発光輝度を測定することが可能である。
Although not shown, when the
これに対して、図17に示されている状態、即ち、モニタ部172が、本体部171に対して開けられている状態が、第2の状態となる。このような第2の状態では、受光面71は、通常発光時における各画素の101の発光を阻害しない。換言すると、ユーザによるデジタルビデオカメラ161の使用を阻害しないという効果を奏することが可能である。
On the other hand, the state shown in FIG. 17, that is, the state where the
本発明の表示装置においては、1つの受光センサ3が、複数の画素101の発光輝度を測定することができる。よって、本発明の表示装置においては、焼き付き補正制御を実行するのに必要な受光センサ3の数を削減することができ、その結果、焼き付き補正制御に要するコストを削減することができる。
In the display device of the present invention, one
さらに、本発明の表示装置においては、ELパネル2に対して近距離で画素101からの光を受光することができる。その結果、焼き付き補正制御に要する時間を短縮することができる。
Further, in the display device of the present invention, light from the
[本発明の適用先]
ところで、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
[Application of the present invention]
The embodiment of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.
例えば、ELパネル2と同じ面上であって、ELパネル2の表示面の外側に、発光輝度測定専用の画素101を設けることもできる。さらに、発光輝度測定専用の画素101の発光輝度を測定するための受光センサ3を、受光面71に設けることもできる。この発光輝度測定専用の画素101および受光センサ3を用いることにより、簡易的にELパネル2を構成する各画素101の経時劣化の度合いを推定することが可能となる。
For example, a
また、例えば、上述した画素101のパターン構造は、有機EL(Electro Luminescent)デバイスを用いた自発光型のパネルのほか、FED(Field Emission Display)などのその他の自発光型のパネルに採用することもできる。
In addition, for example, the pattern structure of the
また、上述した画素101は、図4を参照して説明したように、2個のトランジスタ(サンプリング用トランジスタ31と駆動用トランジスタ32)と1個のキャパシタ(蓄積容量33)で構成されていたが、その他の回路構成を採用することもできる。
In addition, as described with reference to FIG. 4, the
その他の画素101の回路構成としては、例えば、2個のトランジスタと1個のキャパシタの構成(以下、2Tr/1C画素回路とも称する)の他に、次のような回路構成を採用できる。即ち、第1乃至第3のトランジスタを加えた、5個のトランジスタと1個のキャパシタの構成(以下、5Tr/1C画素回路とも称する)を採用することもできる。5Tr/1C画素回路を採用した画素101では、水平セレクタ103から映像信号線DTL10を介してサンプリング用トランジスタ31に供給される信号電位がVsig固定となる。その結果、サンプリング用トランジスタ31は駆動用トランジスタ32への信号電位Vsigの供給をスイッチングする機能としてのみ動作する。また、電源線DSL10を介して駆動用トランジスタ32に供給される電位が第1電位Vcc固定となる。そして、追加された第1のトランジスタは、駆動用トランジスタ32への第1電位Vccの供給をスイッチングする。第2のトランジスタは、駆動用トランジスタ32への第2電位Vssの供給をスイッチングする。また、第3のトランジスタは、駆動用トランジスタ32への基準電位Vofの供給をスイッチングする。
As the circuit configuration of the
また、その他の画素101の回路構成としては、2Tr/1C画素回路と5Tr/1C画素回路の中間的な回路構成を採用することもできる。即ち、4個のトランジスタと1個のキャパシタからなる構成(4Tr/1C画素回路)や、3個のトランジスタと1個のキャパシタからなる構成(3Tr/1C画素回路)を採用することもできる。4Tr/1C画素回路および3Tr/1C画素回路としては、例えば、水平セレクタ103からサンプリング用トランジスタ31に供給する信号電位をVsigとVofsでパルス化するなどする構成を取ることができる。即ち、第3のトランジスタの1つか、または、第2および第3のトランジスタの両方を省略した構成を取ることができる。
Further, as the circuit configuration of the
さらに、2Tr/1C画素回路、3Tr/1C画素回路、4Tr/1C画素回路、または5Tr/1C画素回路には、有機発光材料部の容量成分を補う等の目的で、発光素子34のアノード−カソード間に補助容量を追加してもよい。
Further, in the 2Tr / 1C pixel circuit, the 3Tr / 1C pixel circuit, the 4Tr / 1C pixel circuit, or the 5Tr / 1C pixel circuit, the anode-cathode of the
本明細書において、フローチャートに記述されたステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。 In this specification, the steps described in the flowcharts include processes that are executed in parallel or individually even if they are not necessarily processed in time series, as well as processes that are executed in time series in the described order. Is also included.
1 表示装置, 2 ELパネル, 3 受光センサ, 4 センサ群, 5 制御部, 11 ヒンジ部, 31 サンプリング用トランジスタ, 32 駆動用トランジスタ, 33 蓄積容量, 34 発光素子, 51 増幅部, 52 A/D変換部, 53 信号処理部, 61 メモリ, 71 受光面 101 画素, 103 水平セレクタ(HSEL)
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記パネルを構成する前記画素の発光輝度を測定する受光センサと、
前記パネルとは異なる面であって、前記受光センサを配置する受光面と
を備え、
前記受光面と、前記パネルの表示面との配置の状態として、
前記パネルの表示面に対して、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定可能な位置に前記受光面が配置される第1状態と、
前記パネルの表示面に対して、前記受光センサが前記画素の発光輝度を測定不可能な位置に前記受光面が配置される第2状態と
を有する表示装置。 A panel in which a plurality of pixels that emit light by a self-light-emitting element are disposed;
A light receiving sensor for measuring the light emission luminance of the pixels constituting the panel;
A surface different from the panel, and a light receiving surface on which the light receiving sensor is disposed,
As a state of arrangement of the light receiving surface and the display surface of the panel,
A first state in which the light receiving surface is disposed at a position where the light receiving sensor can measure the light emission luminance of the pixel with respect to the display surface of the panel;
And a second state in which the light receiving surface is disposed at a position where the light receiving sensor cannot measure the light emission luminance of the pixel with respect to the display surface of the panel.
請求項1に記載の表示装置。 Of the angle θ formed by the normal vector of the light receiving surface and the normal vector of the panel, a predetermined angle at which the light receiving sensor can measure the light emission luminance of the pixel is set as a threshold value, and the angle θ is within the threshold value range. The display device according to claim 1, wherein a state in which the angle θ is outside the range of the threshold is employed as the second state.
前記カバーを構成する一つの面を前記受光面として採用する
請求項1に記載の表示装置。 A detachable cover for the panel;
The display device according to claim 1, wherein one surface constituting the cover is adopted as the light receiving surface.
前記受光面が前記パネルの表示面に対して開いている状態を第1の状態として採用し、
前記受光面が前記パネルの表示面に対して閉じている状態を第2の状態として採用する
請求項1に記載の表示装置。 Further comprising a hinge part for rotating the light receiving surface so as to be opened and closed with respect to the display surface of the panel,
A state in which the light receiving surface is open with respect to the display surface of the panel is adopted as a first state,
The display device according to claim 1, wherein a state in which the light receiving surface is closed with respect to a display surface of the panel is adopted as a second state.
前記増幅部による増幅後の前記受光信号をデジタルデータに変換して出力する変換部と、
前記変換部から出力された前記デジタルデータに基づいて、経時劣化による輝度低下の補正データを演算し、その補正データに基づいて、前記注目画素に対応する映像信号を補正し、補正された前記映像信号を前記注目画素に供給させる信号処理部と
をさらに備える請求項1に記載の表示装置。 When one of the pixels constituting the panel is a target pixel, the light emission luminance of the target pixel is measured by the light receiving sensor, and an analog light reception signal is output, the light reception signal of the target pixel is set to a predetermined value. An amplification section that amplifies at an amplification factor of
A conversion unit that converts the light reception signal after amplification by the amplification unit into digital data and outputs the digital data;
Based on the digital data output from the conversion unit, correction data for luminance reduction due to deterioration with time is calculated, and based on the correction data, a video signal corresponding to the pixel of interest is corrected, and the corrected video The display device according to claim 1, further comprising: a signal processing unit that supplies a signal to the target pixel.
前記受光面に配置される前記発光輝度測定専用の画素の発光輝度を測定するための受光センサ
をさらに備える請求項1に記載の表示装置。 Pixels dedicated to light emission luminance measurement disposed on the same surface as the panel and at a different position from the panel;
The display device according to claim 1, further comprising: a light receiving sensor for measuring light emission luminance of the pixel dedicated to light emission luminance measurement arranged on the light receiving surface.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008329695A JP2010152065A (en) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | Display device |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024150329A1 (en) * | 2023-01-11 | 2024-07-18 | シャープディスプレイテクノロジー株式会社 | Inspection system and display device |
JP7600671B2 (en) | 2020-12-22 | 2024-12-17 | 株式会社Jvcケンウッド | Display device, display system, and display control method |
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2008
- 2008-12-25 JP JP2008329695A patent/JP2010152065A/en not_active Withdrawn
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WO2024150329A1 (en) * | 2023-01-11 | 2024-07-18 | シャープディスプレイテクノロジー株式会社 | Inspection system and display device |
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