[go: up one dir, main page]

JP2009277122A - 電源電圧監視回路 - Google Patents

電源電圧監視回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2009277122A
JP2009277122A JP2008129415A JP2008129415A JP2009277122A JP 2009277122 A JP2009277122 A JP 2009277122A JP 2008129415 A JP2008129415 A JP 2008129415A JP 2008129415 A JP2008129415 A JP 2008129415A JP 2009277122 A JP2009277122 A JP 2009277122A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
power supply
supply voltage
transistor
node
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008129415A
Other languages
English (en)
Inventor
Narihiro Kubo
成博 久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Electronics Corp
Original Assignee
NEC Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Electronics Corp filed Critical NEC Electronics Corp
Priority to JP2008129415A priority Critical patent/JP2009277122A/ja
Publication of JP2009277122A publication Critical patent/JP2009277122A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

【課題】従来の電源電圧監視回路は、電源電圧監視用のトランジスタのバイアス電流が常に流れるため、消費電力が大きかった。
【解決手段】本発明は、電源電圧を供給される定電圧生成回路と、一方の端子に定電圧生成回路からの出力を入力し、他方の端子に電源電圧を第1抵抗素子と第2抵抗素子とで分圧した電圧を入力するコンパレータを有する電源電圧監視回路であって、電源電圧端子とコンパレータの一方の端子間に設けられた第1スイッチと、電源電圧端子と第1抵抗素子と第2抵抗素子間のコンパレータの他方の端子と接続された第1ノード間に設けられた第2スイッチと、電源電圧が定電圧生成回路の最低動作電圧より低い低電圧期間に含まれる第1期間において、第1スイッチをオンにし、低電圧期間に含まれる第2期間において、第2スイッチをオフにする制御回路を有する電源電圧監視回路である。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体装置の電源電圧監視回路に関するものである。
マイコンを含んだ論理回路は、電源投入時、つまり電源電圧がまだ低いときには、内部の論理状態は不定となっている。このため、電源投入直後は論理回路の初期化のためのリセットをかける必要がある。通常は、デバイスがリセットをかけるための専用の端子(RESET端子)を有し、その端子からのリセット信号によりリセットを行う。
ここで、リセット端子からの信号ではなく、デバイス内部において電源電圧を監視し、その電圧が規定以下の場合にリセットをかけるパワーオンクリア(POC)機能を有する回路がある。この回路はパワーオンクリア回路と呼ばれ、この回路を用いることで、リセット信号生成のための外部回路を削減することができ、システムの小型化や製造コストを削減できる。
図13に一般的なパワーオンクリア回路10の構成を示す。図13に示すようにパワーオンクリア回路10は、定電圧回路1と、コンパレータ4と、抵抗素子R17、R18とを有する。パワーオンクリア回路10は、定電圧回路1が出力する電圧VBGと、抵抗素子R17、R18で分圧される電源電圧VDDに比例した電圧VFBとを比較する。図14に理想的に動作するパワーオンクリア回路10の動作図を示す。図14に示すように、電圧VBGと、VFBの比較結果に応じて電源電圧VDDが所定の値に達する時刻t2までロウレベル(接地電圧GND)、所定の値に達したらハイレベル(電源電圧VDD)を電圧VOUTとして出力する。なお、このときの電源電圧VDDを立ち上がり検出電圧VPOCHする。また、時刻t1は、定電圧回路1が一定の基準電圧Vrefを出力する時刻である。
しかし、時刻t1以前の電源電圧VDDが定電圧回路1の最低動作電圧以下の場合、定電圧回路1が正常に機能せず、その出力電圧VBGは不定である。このような場合、図15の期間S2や図16の期間S5ように、電源電圧VDDが立ち上がり検出電圧VPOCHに達していないにも関わらず、パワーオンクリア回路10の出力電圧VOUTが、ロウレベルを出力せず、ハイレベルである電源電圧VDDを出力してしまう場合がある。このため、このようなパワーオンクリア回路10を利用したデバイスも誤作動を起こす可能性がある。
上述した問題に対処するための技術が特許文献1に開示されている。特許文献1の技術として、低電源電圧領域での誤作動を防止する電源監視回路11が記載されている。図17に特許文献1の構成を示す。図17に示すように電源監視回路11は、定電圧回路1と、起動回路2と、制御回路3と、コンパレータ4を有している。このような電源監視回路11により、定電圧回路1の動作が不安定な電源電圧VDDの低電源電圧領域において、制御回路3により定電圧回路1の出力電圧VBGを電源電圧VDDとしている。この電圧VBGと、電源電圧VDDを抵抗素子R17、R18で分圧した電圧VFBとをコンパレータ4が比較することで、低電源電圧領域でのデバイスの誤作動を防止している。
特開2000−305637号公報
しかし、図17に示すように制御回路3の制御動作のための電源電圧VDDの閾値は、電源電圧VDDを抵抗素子R11、R12で分圧した電圧で検出しており、電源電圧VDDと接地電圧GND間を抵抗素子R11、R12を経由して常に電流I1が流れる。また、バイポーラトランジスタQ1、Q2にもバイアス電流I2、I3が流れ、電源監視回路11の消費電力が大きくなってしまうという問題がある。
本発明は、電源電圧端子から電源電圧を供給され所定の電圧を出力する基準電圧生成回路と、一方の入力端子に前記基準電圧生成回路からの出力を入力し、他方の入力端子に前記電源電圧を第1の抵抗素子と、第2の抵抗素子とで分圧した電圧を入力するコンパレータとを有する電源電圧監視回路であって、前記電源電圧端子と、前記コンパレータの一方の入力端子との間に設けられた第1のスイッチと、前記電源電圧端子と、前記第1の抵抗素子と第2の抵抗素子間において前記コンパレータの他方の入力端子と接続された第1のノードとの間に設けられた第2のスイッチと、前記電源電圧が前記基準電圧生成回路の最低動作電圧より低い低電圧期間に含まれる第1の期間において、前記第1のスイッチをオンにし、前記低電圧期間に含まれる第2の期間において、前記第2のスイッチをオフにする制御回路と、を有する電源電圧監視回路である。
本発明にかかる電源監視回路によれば、定電圧生成回路の最低動作電圧以下の低電圧期間において、第1の期間、第1のスイッチをオンにして電源電圧をコンパレータの一方の端子に入力する。そして、第2の期間、第2のスイッチをオフにして、コンパレータの他方の端子に入力する第1、第2の抵抗素子で分圧する電圧を生成させず、第1、第2の抵抗素子を経由して接地電圧に流れる電流を削減する。
本発明によれば、回路の消費電力を削減することができる。
発明の実施の形態1
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態1について、図面を参照しながら詳細に説明する。この実施の形態1は、本発明をパワーオンクリア(POC)回路に適用したものである。なお、実施の形態1では電源電圧VDDの立ち上がり検出電圧と立ち下がり検出電圧のヒステリシス電圧がない場合を想定している。
図1に本実施の形態1にかかるパワーオンクリア回路100の構成の一例を示す。図1に示すように、パワーオンクリア回路100は、定電圧生成回路BGR1と、コンパレータCMP1と、スイッチSW1及びSW2と、抵抗素子R1〜R3とを有する。ここで、電源電圧端子VDDは、電源電圧VDDを供給し、接地電圧端子GNDは、接地電圧GNDを供給するものとする。
定電圧生成回路BGR1は、電源電圧端子VDDから電源電圧VDDを供給され、その電源電圧VDDで動作するバンドギャップリファレンス回路(以下、BGR回路と称す)で構成される。このBGR回路は、電源電圧VDDが最低動作電圧以上では、電源電圧VDDに依存しない、一定の基準電圧VrefをノードVBGに出力する。一方、電源電圧VDDが最低動作電圧以下では、BGR回路は、不定な電圧をノードVBGに出力する。なお、便宜上、ノードVBGの記号「VBG」はノード名を示すと同時に、そのノードにおける電圧を示すものとする。以下、その他のノードについても同様とする。
抵抗素子R1〜R3は、スイッチSW2と接地電圧端子GND間に直列に接続されている。更に詳細に説明すると、抵抗素子R1は、ノードVGMP1とノードVFB間に接続されている。抵抗素子R2は、ノードVFBとノードVGMP2間に接続されている。抵抗素子R3は、ノードVGMP2と接地電圧端子GND間に接続されている。なお、便宜上、各抵抗素子の記号「R1」〜「R3」は抵抗素子名を示すと同時に、その抵抗値を示すものとする。
コンパレータCMP1は、反転入力端子をノードVBG、非反転入力端子をノードVFBに接続される。ノードVBGとVFBの電圧を比較し、その比較結果に応じて出力電圧VOUTを出力する。つまり、コンパレータCMP1は、電圧VFBよりVBGの方が高い場合、出力電圧VOUTはロウレベル(略接地電圧GND)を出力し、電圧VFBよりVBGの方が低い場合、出力電圧VOUTはハイレベル(略電源電圧VDD)を出力する。なお、便宜上、記号「VOUT」はコンパレータCMP1の出力電圧を示すと同時に、その出力端子名を示すものとする。
スイッチSW1は、電源電圧端子VDDとノードVBG間に接続される。スイッチSW1は、PMOSトランジスタMP1を有する。PMOSトランジスタMP1は、ゲートがノードVGMP1、ソースが電源電圧端子VDD、ドレインがノードVBGに接続される。このPMOSトランジスタMP1は、スレッショルド電圧VTMP1を有するよう設計される。
スイッチSW2は、電源電圧端子VDDと抵抗素子R1間に接続される。スイッチSW2は、PMOSトランジスタMP2を有する。PMOSトランジスタMP2は、ゲートがノードVGMP2、ソースが電源電圧端子VDD、ドレインがノードVGMP1に接続される。このPMOSトランジスタMP2は、スレッショルド電圧VTMP2を有するよう設計される。PMOSトランジスタMP2のスレッショルド電圧VTMP2は、PMOSトランジスタMP1のスレッショルド電圧VTMP1より大きいものとする。
以下、上述したパワーオンクリア回路100の動作について図面を参照しながら説明する。図2にパワーオンクリア回路100の電源電圧VDDの立ち上がり時の動作波形、図3にパワーオンクリア回路100の電源電圧VDDの立ち上がり時の動作波形、図4にパワーオンクリア回路100の電源電圧VDDの立ち上がり、立ち下がり時の電圧VGMP2の波形を示す。なお、図2、図3、図4に記載した同一の時刻及び電圧の符号は、同じものを指すものとする。
まず、図2を用いて、電源電圧VDDの立ち上がり時の動作を説明する。図2に示すように、時刻t0から電源電圧VDDが増加し始める。最初、PMOSトランジスタMP1及びMP2の両方ともオフとなっている。PMOSトランジスタMP2がオフとなっているため、PMOSトランジスタMP2と接地電圧端子GND間のノードVGMP1、VFB、VGMP2の電位は全て接地電位となっている。
電源電圧VDDは徐々に増加するが、電源電圧VDDとノードVGMP1間、つまりPMOSトランジスタMP1のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP1より小さい。このため、PMOSトランジスタMP1はオフ状態を保持する。同様に、電源電圧VDDとノードVGMP2間、つまりPMOSトランジスタMP2のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP2より小さい。このため、PMOSトランジスタMP2もオフ状態を保持する。
BGR回路BGR1には、電源電圧VDDが入力され、不定ながらノードVBGに電圧を出力し、その電圧がコンパレータCMP1の反転入力端子に入力される。コンパレータCMP1は、非反転入力端子に接続されるノードVFBが接地電圧となっているため、ロウレベル、つまり接地電圧の出力電圧VOUTを出力する。
更に電源電圧VDDが上昇し、時刻t1において、PMOSトランジスタMP1のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP1より大きくなる。よって、PMOSトランジスタMP1がオン状態となり、ノードVBGに電源電圧VDDが供給される。一方、PMOSトランジスタMP2のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP2より小さく、PMOSトランジスタMP2はオフ状態のままである。このため、コンパレータCMP1は、反転入力端子に電源電圧VDD、非反転入力端子に接地電圧が入力され、確実にロウレベルの出力電圧VOUTを出力する。
更に電源電圧VDDが上昇し、時刻t2において、PMOSトランジスタMP2のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP2より大きくなる。よって、PMOSトランジスタMP2がオン状態となり、ノードVGMP1、VFB、VGMP2の電位が上昇する。
ここで、PMOSトランジスタMP2のゲートは、電圧VGMP2が入力される。この電圧VGMP2は、後述するが、PMOSトランジスタMP2が完全に導通状態にならないように抵抗素子R1〜R3、及びPMOSトランジスタMP2で調整されている。このため、PMOSトランジスタMP2は、ノードVGMP2の電位に応じたオン抵抗RonMP2を有することになる。なお、便宜上、このオン抵抗の記号「RonMP2」はオン抵抗としての抵抗素子名を示すと同時に、その抵抗値を示すものとする。ノードVGMP2の電位は、抵抗RonMP2及び抵抗素子R1、R2の合成抵抗と、抵抗素子R3とで電源電圧VDDを分圧した電圧となり、以下のように表せる。
VGMP2=VDD×(R3/(RonMP2+R1+R2+R3))
よって、上述したように、時刻t2でPMOSトランジスタMP2が完全にオン状態、またはオフ状態にならないような、電圧VGMP2となるよう、PMOSトランジスタMP2、抵抗素子R1〜R3を調整しておく必要があることに注意する。
また、ノードVGMP1の電位は、抵抗RonMP2と、抵抗素子R1〜R3の合成抵抗とで電源電圧VDDを分圧した電圧となり、以下のように表せる。
VGMP1=VDD×((R1+R2+R3)/(RonMP2+R1+R2+R3))
ここで、PMOSトランジスタMP1がオフ状態にならないような、電圧VGMP1となるよう、PMOSトランジスタMP2、抵抗値R1〜R3を調整しておく必要があることに注意する。
更に電源電圧VDDが上昇し、時刻t3にBGR回路BGR1の最低動作電圧に達する。ここで、図4に示すように時刻t2以降、電源電圧VDDと、その電源電圧VDDの抵抗分圧である電圧VGMP2の電位差が広がる。これはPMOSトランジスタMP2のゲート・ソース間の電位差が広がることを意味する。よって、PMOSトランジスタMP2のオン抵抗RonMP2が小さくなり、結果的に電圧VGMP1が電源電圧VDDに近づく。このことにより、電源電圧VDDと電圧VGMP1の電位差が、スレッショルド電圧VTMP1に近づいていく。そして、時刻t3では、電源電圧VDDと電圧VGMP1の電位差が、スレッショルド電圧VTMP1より小さくなり、PMOSトランジスタMP1がオフ状態となる。
時刻t3以降では、PMOSトランジスタMP1がオフ状態ではあるが、電源電圧VDDがBGR回路BGR1の最低動作電圧よりも大きく、BGR回路BGR1は安定動作を行う。よって、時刻t3以降は、BGR回路BGR1は、電源電圧VDDに因らない一定の基準電圧Vrefを出力する。一方、電圧VFBは、電源電圧VDDに比例して増加する。電圧VFBは電源電圧VDDを抵抗素子R1〜R3で分圧した電圧であるため、正確に電源電圧VDDに比例させるためにも時刻t3以降はPMOSトランジスタMP2のオン抵抗RonMP2の抵抗値を可能な限り小さくすることが望ましい。
更に、電源電圧VDDが上昇し、時刻t4において、電圧VFBが基準電圧Vrefである電圧VBGより大きくなる。よって、コンパレータCMP1は、出力電圧VOUTを接地電圧のロウレベルから略電源電圧VDDに切り替える。このときの電源電圧VDDの値を立ち上がり検出電圧VPOCHとする。なお、少なくとも、この時刻t4における、立ち上がり検出電圧VPOCHと電圧VGMP2の電位差VHHは、PMOSトランジスタMP2のオン抵抗RonMP2の抵抗値の影響を無くすため、スレッショルド電圧VTMP2より十分大きくなるようにする必要がある。
なお、上述の説明では、BGR回路BGR1が基準電圧Vrefを出力可能な時点を最低動作電圧としている。しかし、BGR回路BGR1が基準電圧Vrefを出力可能な時点より前であっても、電源電圧VDDに追従して安定した電圧を出力する時点を最低動作電圧としてもよい。但し、電源電圧VDDが、BGR回路BGR1が基準電圧Vrefを出力可能な電圧になった時点で、PMOSトランジスタMP1がオフ状態となるような構成は変わらないものとする。
以上のように、PMOSトランジスタMP2のスレッショルド電圧VTMP2を、PMOSトランジスタMP1のスレッショルド電圧VTMP1より大きくし、更に、BGR回路BGR1の最低動作電圧以下では、電源電圧VDDと電圧VGMP1の差電圧がスレッショルド電圧VTMP1以下にするように抵抗素子R1〜R3、PMOSトランジスタMP1、MP2を設定する。このことにより、BGR回路BGR1の最低動作電圧以下の低電源電圧期間中の時刻t0〜t2には電圧VFBが接地電圧、時刻t1〜t3には電圧VBGが電源電圧VDDとなる。BGR回路BGR1の最低動作電圧以上の期間、つまり時刻t3以降では、電圧VBGが基準電圧Vrefとなり、一般的なパワーオンクリア回路と同様な動作を行う。よって、本実施の形態1のパワーオンクリア回路100は、低電源電圧期間において電圧VFBが電圧VBGより大きくなることが無くなり、図15や図16のような誤作動を起こす危険性を無くすことができる。更に、PMOSトランジスタMP2がオン状態になるまで、抵抗素子R1〜R3に流れる電流を遮断する。このため、特許文献1のような回路に比べ消費電力を削減することができる。これらの効果は、以下に示す、電源電圧VDDの立ち下がりにおいても同様である。
以下、図3、図4を用いて、電源電圧VDDの立ち下がり時の動作を説明する。なお、基本的な動作は図2の立ち上がり時の動作の逆の動作となるため、簡単な説明にとどめる。
図3に示すように、電源電圧VDDが降下し、時刻t5において、電圧VFBが基準電圧Vrefである電圧VBGより小さくなる。よって、コンパレータCMP1は、出力電圧VOUTを略電源電圧VDDから接地電圧のロウレベルに切り替える。このときの電源電圧VDDの値を立ち下がり検出電圧VPOCLとする。また、図4に示すように立ち下がり検出電圧VPOCLと電圧VGMP2の電位差をVHLとする。なお、本実施の形態1では、この立ち下がり検出電圧VPOCLと立ち上がり検出電圧VPOCH間にヒステリシス電圧がないため、両電圧は同じ電圧値となる。また、電圧差VHLと電圧差VHHも同じ値となる。
更に、電源電圧VDDが降下し、時刻t6において、BGR回路BGR1の最低動作電圧以下となる。このとき、電圧VGMP2と電源電圧VDDとの電位差も小さくなっており、PMOSトランジスタMP2のオン抵抗RonMP2も大きくなる。よって、電圧VGMP1と電源電圧VDDとの電位差も大きくなり、PMOSトランジスタMP1がオン状態となる。以後は、時刻t8にPMOSトランジスタMP1がオフ状態になるまで、電圧VBGを電源電圧VDDに保持する。
更に、電源電圧VDDが降下し、電源電圧VDDの抵抗分圧である電圧VGMP2も降下する。時刻t7において、PMOSトランジスタMP2のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP2より小さくなる。よって、PMOSトランジスタMP2がオフ状態となり、ノードVGMP1の電位が接地電位となる。
更に、電源電圧VDDが降下し、時刻t8において、電源電圧VDDがスレッショルド電圧VTMP1より小さくなり、PMOSトランジスタMP1がオフ状態になる。これ以降は、BGR回路BGR1の出力電圧が不安定であっても、電圧VFBが接地電圧となっているため、コンパレータCMP1の出力もロウレベルを保持する。
ここで、上述したようにPMOSトランジスタMP2及び抵抗素子R1〜R3により、PMOSトランジスタMP1のオン、オフ状態を制御している。また、PMOSトランジスタMP2のオン、オフ状態を、自身のオン抵抗及び抵抗素子R1〜R3で制御している。このため、図1において符号CONT1の点線枠で示す構成を制御回路とみなすことができる。
なお、図5に示すように、ノードVGMP2と電源電圧端子VDD間に容量素子C1を接続してもよい。この容量素子C1を接続ことで、電源電圧VDDが急激に上昇、もしくは降下した場合であっても、電源電圧VDDの変化に対し電圧VGMP2も追従する。このため、PMOSトランジスタMP1よりも先に、PMOSトランジスタMP2がオン状態もしくはオフ状態になることを防ぐことができる。
発明の実施の形態2
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態2について、図面を参照しながら詳細に説明する。この実施の形態2は、実施の形態1と同様、本発明をパワーオンクリア(POC)回路に適用したものである。なお、実施の形態2では電源電圧VDDの立ち上がり検出電圧VPOCHと立ち下がり検出電圧VPOCLのヒステリシス電圧がある場合を想定している。よって、基本的な構成及び動作は実施の形態1と同様なため、ここでは実施の形態1と異なる部分を重点的に説明する。
図6に本実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路200の構成の一例を示す。なお、図に示された符号のうち、図1と同じ符号を付した構成は、図1と同じか又は類似の構成を示している。図6に示すように、パワーオンクリア回路200は、定電圧生成回路BGR1と、コンパレータCMP1と、スイッチSW1及びSW2と、PMOSトランジスタMP3と、NMOSトランジスタMN1、MN2と、抵抗素子R1〜R5と、インバータIV1とを有する。
スイッチSW1、SW2、コンパレータCMP1、BGR回路BGR1は、実施の形態1と同様であるため、説明は省略する。
抵抗素子R1〜R5は、PMOSトランジスタと接地電圧端子GND間に直列に接続されている。抵抗素子R1は、ノードVGMP1とノードVFB間に接続されている。抵抗素子R2は、ノードVFBとノードVGH間に接続されている。抵抗素子R3は、ノードVGHとVGL間に接続されている。抵抗素子R4は、ノードVGLとVHS間に接続されている。抵抗素子R5は、ノードVHSと接地電圧端子GND間に接続されている。なお、便宜上、各抵抗素子の記号「R1」〜「R5」は抵抗素子名を示すと同時に、その抵抗値を示すものとする。
PMOSトランジスタMP3は、ゲートが出力端子VOUT、ソースがPMOSトランジスタMP2のゲートであるノードVGMP2、ドレインがノードVGHに接続される。NMOSトランジスタMN1は、ゲートが出力端子VOUT、ドレインがノードVGMP2、ソースがノードVGLに接続される。
インバータIV1は、入力が出力端子VOUT、出力がNMOSトランジスタMN2のゲートに接続される。NMOSトランジスタMN2は、ゲートがインバータIV1の出力、ドレインがノードVHS、ソースが接地電圧端子GNDに接続される。なお、NMOSトランジスタMN2をPMOSトランジスタに置き換え、インバータIV1を削除してもよい。
以下、上述したパワーオンクリア回路200の動作について図面を参照しながら説明する。図7にパワーオンクリア回路200の電源電圧VDDの立ち上がり時の動作波形、図8にパワーオンクリア回路200の電源電圧VDDの立ち下がり時の動作波形、図9、図10にパワーオンクリア回路200の電源電圧VDDの立ち上がり、立ち下がり時の電圧VGMP2、VGH、VGLの波形を示す。但し、図9はヒステリシス電圧が小さい場合、図10はヒステリシス電圧が大きい場合を示す。なお、図7、図8、図9、図10に記載した同一の時刻及び電圧の符号は、同じものを指すものとする。
まず、図7を用いて、電源電圧VDDの立ち上がり時の動作を説明する。時刻t2までは、実施の形態1と同様の動作のため説明は省略する。但し、コンパレータCMP1の出力電圧VOUTがロウレベルのため、PMOSトランジスタMP3と、NMOSトランジスタMN2は、オン状態、NMOSトランジスタMN1は、オフ状態となっている。よって、電圧VGMP2は電圧VGHと同じ電位である。また、PMOSトランジスタMP2が、オフ状態のため、電圧VGMP1、VFB、VGH、VGL、VHSは接地電圧である。
電源電圧VDDが上昇し、時刻t2において、PMOSトランジスタMP2のゲート・ソース間の電圧が、スレッショルド電圧VTMP2より大きくなる。よって、PMOSトランジスタMP2がオン状態となり、電圧VGMP1、VFB、VGH、VGLが上昇する。実施の形態1と同様、PMOSトランジスタMP2のゲートは、電圧VGMP2、つまり電圧VGHが入力され、完全にオン状態にならない。このため、PMOSトランジスタMP2は、電圧VGHに応じたオン抵抗RonMP2を有することになる。
電圧VGHは、抵抗RonMP2及び抵抗素子R1、R2の合成抵抗と、抵抗素子R3、R4の合成抵抗とで電源電圧VDDを分圧した電圧となり、以下のように表せる。
VGMP2=VGH=VDD×((R3+R4)/(RonMP2+R1+R2+R3+R4))
よって、上述したように、時刻t2でPMOSトランジスタMP2が完全にオン状態、または完全にオフ状態にならないような、電圧VGHとなるように、PMOSトランジスタMP2、抵抗素子R1〜R4を調整しておく必要があることに注意する。
また、電圧VGMP1は、抵抗RonMP2と、抵抗素子R1〜R4の合成抵抗とで電源電圧VDDを分圧した電圧となり、以下のように表せる。
VGMP1=VDD×((R1+R2+R3+R4)/(RonMP2+R1+R2+R3+R4))
ここで、PMOSトランジスタMP1がオフ状態にならないような、電圧VGMP1となるように、PMOSトランジスタMP2、抵抗値R1〜R4を調整しておく必要があることに注意する。
更に電源電圧VDDが上昇し、時刻t3にBGR回路BGR1の最低動作電圧に達する。ここで、実施の形態1と同様の動作により、電源電圧VDDと電圧VGMP1の電位差が、スレッショルド電圧VTMP1より小さくなり、PMOSトランジスタMP1がオフ状態となる。
更に電源電圧VDDが上昇し、時刻t4において、電圧VFBが基準電圧Vrefである電圧VBGより大きくなる。よって、コンパレータCMP1は、出力電圧VOUTを接地電圧のロウレベルから略電源電圧VDDに切り替える。このため、NMOSトランジスタMN1がオン状態、PMOSトランジスタMP3、NMOSトランジスタMN2がオフ状態となる。NMOSトランジスタMN2がオフ状態となるため、電圧VGMP1、VFB、VGH、VGL、VHSは、抵抗素子R5の電圧降下分に応じて上昇する。また、NMOSトランジスタMN1がオン、PMOSトランジスタMP3がオフ状態となるため、電圧VGMP2は、電圧VGHからVGLに切り替わる。よって、電圧VGMP2は、抵抗RonMP2及び抵抗素子R1〜R3と、抵抗素子R4、R5とで電源電圧VDDを分圧した電圧となり、以下のように表せる。
VGMP2=VGL=VDD×((R4+R5)/(RonMP2+R1+R2+R3+R4+R5))
ここで、PMOSトランジスタMP2がオフ状態にならないような、電圧VGMP2となるように、PMOSトランジスタMP2、抵抗値R1〜R5を調整しておく必要があることに注意する。
また、このときの電源電圧VDDの値を立ち上がり検出電圧VPOCHとし、立ち上がり検出電圧VPOCHと電圧VGMP2、つまり電圧VGHの電位差をVHHとする。なお、この時刻t4における電位差VHHは、PMOSトランジスタMP2のオン抵抗RonMP2の抵抗値の影響を無くすため、スレッショルド電圧VTMP2より十分大きくなるようにする必要がある。
以下、図8を用いて、電源電圧VDDの立ち下がり時の動作を説明する。図8に示すように、電源電圧VDDが降下し、時刻t5において、電圧VFBが基準電圧Vrefである電圧VBGより小さくなる。よって、コンパレータCMP1は、出力電圧VOUTを略電源電圧VDDから略接地電圧のロウレベルに切り替える。このときの電源電圧VDDの値を立ち下がり検出電圧VPOCLとする。また、立ち下がり検出電圧VPOCLと電圧VGMP2、つまり電圧VGLの電位差をVHLとする。
ここで、本実施の形態2では、立ち上がり検出電圧VPOCHと立ち下がり検出電圧VPOCLにヒステリシス電圧がある。このヒステリシス電圧が小さい場合、図9に示すように電圧差VHHとVHLがほぼ同じ値となる。ヒステリシス電圧が小さいため、抵抗素子R5による電圧降下も小さい。よって、ノードVGMP2の電位を、電圧VGHからVGLに切り替える必要がなく、抵抗素子R3の抵抗値もゼロか小さい値でよい。このため、ノードVGHもしくはノードVGLをノードVGMP2と直結でき、PMOSトランジスタMP3、NMOSトランジスタMN1を削除できる。これは、実施の形態1と同様の構成となり、ヒステリシス電圧が小さい場合のパワーオンクリア回路200は、実質的に実施の形態1と同様の動作を行うことができる。
しかし、図11に示すように、ヒステリシス電圧が大きい場合、電圧差VHHとVHLの差分も大きくなる。これは、立ち上がり検出電圧時(時刻t4)では、電位差VHHがスレッショルド電圧VTMP2より十分に大きく、オン抵抗RonMP2を十分小さくできる。しかし、立ち下がり検出電圧時(時刻t5)では、電位差VHLが十分にとれないため、時刻t5以前にPMOSトランジスタMP2がオフ状態になろうとし、オン抵抗RonMP2を十分小さくできない。このため、パワーオンクリア回路200は、必要なヒステリシス電圧を確保できないことになる。
このため、図10に示すように、ヒステリシス電圧が大きい場合、電圧差VHLをVHHと同じくらい十分大きくするため、電圧VGLを電圧VGHより低くなるようにPMOSトランジスタMP2、抵抗素子R1〜R5を調整する。こうすることで、立ち下がり検出電圧時(時刻t5)でも、十分に電位差VHLが大きくなり、オン抵抗RonMP2を十分小さくでき、パワーオンクリア回路200は、必要なヒステリシス電圧が確保できる。
時刻t5以降は、実施の形態1で説明したのと同様、立ち上がり時の動作の逆の動作となるため、説明は省略する。
以上のような動作となるように抵抗素子R1〜R5、PMOSトランジスタMP1、MP2を設定する。このことにより、本実施の形態2のパワーオンクリア回路200は、立ち上がり検出電圧VPOCHと立ち下がり検出電圧VPOCLとでヒステリシス電圧を有していても、実施の形態1と同様、低電源電圧期間において、電圧VFBが電圧VBGより大きくなることが無く、図15や図16のような誤作動を起こす危険性を無くすことができる。また、実施の形態1と同様、PMOSトランジスタMP2がオフ状態で、抵抗素子R1〜R4に流れる電流を遮断する。このため、特許文献1のような回路に比べ消費電力を削減することができる。
ここで、実施の形態1と同様、PMOSトランジスタMP2、NMOSトランジスタMN2及び抵抗素子R1〜R5により、PMOSトランジスタMP1のオン、オフ状態を制御している。また、PMOSトランジスタMP2のオン、オフ状態を、自身のオン抵抗及び抵抗素子R1〜R5で制御している。このため、図6において符号CONT2の点線枠で示す構成を制御回路とみなすことができる。
なお、図12に示すように、ゲートがインバータIV1の出力に接続され、PMOSトランジスタMP3、NMOSトランジスタMN1とそれぞれトランスファゲートを構成するようなNMOSトランジスタMN3、PMOSトランジスタMP4を、パワーオンクリア回路200が有しても良い。このようなトランスファゲートを構成することで、一方のトランジスタが動作しなくても、他方のトランジスタが動作するため、電圧VGHもしくはVGLをノードVGMP2に確実に伝達することができる。
更に、実施の形態1の図5の構成と同様、容量素子C1をノードVGMP2と電源電圧端子VDD間に接続してもよい。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものでなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、PMOSトランジスタMP1、MP2の特性の違いなどで、PMOSトランジスタMP2と抵抗素子R1の間に更に抵抗素子を付加する等を行うようにしてもよい。また、実施の形態1では、抵抗素子R1、R2間にノードVGMP2が接続されているが、ノードVFBや抵抗素子R1を抵抗分割する位置にノードVGMP2が接続されるようにしてもよい。同様に、実施の形態2でも、PMOSトランジスタMP1、MP2の特性や、ヒステリシス電圧の値によっては、ノードVGMP1〜VHS間においてノードVGHやVGLの接続位置を変えても良い。
このように、PMOSトランジスタMP1、MP2の特性や、ヒステリシス電圧、更には立ち上がり検出電圧VPOCH、立ち下がり検出電圧VPOCLの値によって、抵抗素子R1〜R5の抵抗値や個数、各ノードの接続等が、実施の形態1、2と異なるようパワーオンクリア回路が構成されてもよい。
実施の形態1にかかるパワーオンクリア回路の構成の一例である。 実施の形態1にかかるパワーオンクリア回路の電源立ち上がり動作図である。 実施の形態1にかかるパワーオンクリア回路の電源立ち下がり動作図である。 実施の形態1にかかるパワーオンクリア回路の動作図である。 実施の形態1にかかるパワーオンクリア回路の構成の一例である。 実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路の構成の一例である。 実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路の電源立ち上がり動作図である。 実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路の電源立ち下がり動作図である。 実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路の動作図である。 実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路の動作図である。 パワーオンクリア回路の動作の問題点を説明するための動作図である。 実施の形態2にかかるパワーオンクリア回路の構成の一例である。 従来のパワーオンクリア回路の構成の一例である。 従来のパワーオンクリア回路の電源立ち上がり動作図である。 従来のパワーオンクリア回路の動作の問題点を説明するための動作図である。 従来のパワーオンクリア回路の動作の問題点を説明するための動作図である。 従来のパワーオンクリア回路の構成である。
符号の説明
100、200 パワーオンクリア回路
SW1、SW2 スイッチ
BRG1 バンドギャップリファレンス回路
CMP1 コンパレータ
R1〜R5 抵抗素子
MP1〜MP3 PMOSトランジスタ
MN1、MN2 NMOSトランジスタ
CONT1、CONT2 制御回路
IV1 インバータ

Claims (12)

  1. 電源電圧端子から電源電圧を供給され所定の電圧を出力する基準電圧生成回路と、
    一方の入力端子に前記基準電圧生成回路からの出力を入力し、他方の入力端子に前記電源電圧を第1の抵抗素子と、第2の抵抗素子とで分圧した電圧を入力するコンパレータと、
    を有する電源電圧監視回路であって、
    前記電源電圧端子と、前記コンパレータの一方の入力端子との間に設けられた第1のスイッチと、
    前記電源電圧端子と、前記第1の抵抗素子と第2の抵抗素子間において前記コンパレータの他方の入力端子と接続された第1のノードとの間に設けられた第2のスイッチと、
    前記電源電圧が前記基準電圧生成回路の最低動作電圧より低い低電圧期間に含まれる第1の期間において、前記第1のスイッチをオンにし、
    前記低電圧期間に含まれる第2の期間において、前記第2のスイッチをオフにする制御回路と、
    を有する電源電圧監視回路。
  2. 前記制御回路は、
    前記電源電圧の立ち上がり時には、前記第2の期間を先、前記第1の期間を後に開始させる請求項1に記載の電源電圧監視回路。
  3. 前記制御回路は、
    前記電源電圧の立ち下がり時には、前記第1の期間を先、前記第2の期間を後に開始させる請求項1または請求項2に記載の電源電圧監視回路。
  4. 前記第1のスイッチは第1のトランジスタ、及び、前記第2のスイッチは第1のトランジスタと同じ導電型の第2のトランジスタからなる請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の電源電圧監視回路。
  5. 前記第2のトランジスタの閾値電圧は、前記第1のトランジスタの閾値電圧より大きい請求項4に記載の電源電圧監視回路。
  6. 前記第1のトランジスタの制御端子は、前記第2のトランジスタと接地電圧端子間の第2のノードに接続され、
    前記第2のトランジスタの制御端子は、前記第2のノードと前記接地電圧端子間の第3のノードに接続される請求項5に記載の電源電圧監視回路。
  7. 前記第2のトランジスタは、前記電源電圧端子と前記第2のノードとの間に設けられ、
    前記第1の抵抗素子は、前記第2のノードと前記第1のノードとの間に設けられた請求項6に記載の電源電圧監視回路。
  8. 前記電源電圧と第3のノードの電位差が、少なくとも、
    前記電源電圧の立ち上がり時には前記第1の期間終了時、及び、前記電源電圧の立ち下がり時には前記第1の期間開始時に、前記第2のトランジスタの閾値電圧以上となっている請求項6または請求項7に記載の電源電圧監視回路。
  9. 前記第1のトランジスタの制御端子は、前記第2のトランジスタと接地電圧端子間の第2のノードに接続され、
    前記第2のトランジスタの制御端子と、前記第2のノードと前記接地端子間の第4のノードとの間に設けられた第3のトランジスタと、
    前記第2のトランジスタの制御端子と、前記第4のノードと前記接地端子間の第5のノードとの間に設けられた、前記第3のトランジスタと逆の導電型の第4のトランジスタと、
    前記第4のノードと前記第5のノードとの間に設けられた第3の抵抗素子とを有し、
    前記第3のトランジスタ、及び、前記第4のトランジスタの制御端子が、前記コンパレータの出力に接続される請求項5に記載の電源電圧監視回路。
  10. 前記第2のトランジスタは、前記電源電圧端子と前記第2のノードとの間に設けられ、
    前記第1の抵抗素子は、前記第2のノードと前記第1のノードとの間に設けられた請求項9に記載の電源電圧監視回路。
  11. 前記電源電圧と前記第2のトランジスタの制御端子間の電位差が、少なくとも、
    前記電源電圧の立ち上がり時には前記第1の期間終了時、及び、前記電源電圧の立ち下がり時には前記第1の期間開始時に、前記第2のトランジスタの閾値電圧以上となっている請求項9または請求項10に記載の電源電圧監視回路。
  12. 前記基準電圧生成回路が、バンドギャップリファレンス回路で構成される請求項1乃至請求項11のいずれか1項に記載の電源電圧監視回路。
JP2008129415A 2008-05-16 2008-05-16 電源電圧監視回路 Pending JP2009277122A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008129415A JP2009277122A (ja) 2008-05-16 2008-05-16 電源電圧監視回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008129415A JP2009277122A (ja) 2008-05-16 2008-05-16 電源電圧監視回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009277122A true JP2009277122A (ja) 2009-11-26

Family

ID=41442471

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008129415A Pending JP2009277122A (ja) 2008-05-16 2008-05-16 電源電圧監視回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009277122A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011179861A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Renesas Electronics Corp 電圧検出回路
JP2011234241A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Mitsumi Electric Co Ltd パワーオンリセット回路
CN102739293A (zh) * 2011-04-05 2012-10-17 Nxp股份有限公司 安全元件死锁的管理
JP2013036744A (ja) * 2011-08-03 2013-02-21 Fuji Electric Co Ltd 電源電圧検出回路
CN103869144A (zh) * 2014-03-07 2014-06-18 杭州电子科技大学 一种隔离电压采样电路
US9270265B2 (en) 2013-03-19 2016-02-23 Fujitsu Limited Power on reset circuit, power supply circuit, and power supply system
CN111693759A (zh) * 2019-03-11 2020-09-22 艾普凌科有限公司 电压检测器
JP2022015859A (ja) * 2020-07-10 2022-01-21 セイコーエプソン株式会社 回路装置及びリアルタイムクロック装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011179861A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Renesas Electronics Corp 電圧検出回路
JP2011234241A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Mitsumi Electric Co Ltd パワーオンリセット回路
CN102739293A (zh) * 2011-04-05 2012-10-17 Nxp股份有限公司 安全元件死锁的管理
CN102739293B (zh) * 2011-04-05 2015-02-04 Nxp股份有限公司 安全元件死锁的管理
US9460318B2 (en) 2011-04-05 2016-10-04 Nxp B.V. Management of secure element deadlock
JP2013036744A (ja) * 2011-08-03 2013-02-21 Fuji Electric Co Ltd 電源電圧検出回路
US9270265B2 (en) 2013-03-19 2016-02-23 Fujitsu Limited Power on reset circuit, power supply circuit, and power supply system
CN103869144A (zh) * 2014-03-07 2014-06-18 杭州电子科技大学 一种隔离电压采样电路
CN111693759A (zh) * 2019-03-11 2020-09-22 艾普凌科有限公司 电压检测器
CN111693759B (zh) * 2019-03-11 2023-08-01 艾普凌科有限公司 电压检测器
JP2022015859A (ja) * 2020-07-10 2022-01-21 セイコーエプソン株式会社 回路装置及びリアルタイムクロック装置
JP7494610B2 (ja) 2020-07-10 2024-06-04 セイコーエプソン株式会社 回路装置及びリアルタイムクロック装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6118599B2 (ja) パワーオンリセット回路、電源回路および電源システム
JP4866929B2 (ja) パワーオンリセット回路
JP2009277122A (ja) 電源電圧監視回路
JP5279544B2 (ja) ボルテージレギュレータ
JP6048289B2 (ja) バイアス回路
JP2009157922A (ja) バンドギャップ基準電圧発生回路
KR20100077271A (ko) 기준전압 발생회로
KR20100077272A (ko) 기준전압 발생회로
JP4686222B2 (ja) 半導体装置
US8593887B2 (en) Semiconductor device having reference voltage generating unit
JP2011048601A (ja) 基準電流電圧発生回路
JP2008197749A (ja) シリーズレギュレータ回路
JP2010224825A (ja) 半導体集積回路
TWI651609B (zh) 低電壓鎖定電路及其整合參考電壓產生電路之裝置
JP4439974B2 (ja) 電源電圧監視回路
JP5856513B2 (ja) ボルテージレギュレータ
JP2011188361A (ja) パワーオンリセット回路
JP5889700B2 (ja) パワーオン・リセット回路及び半導体装置
KR20120103001A (ko) 파워 온 리셋 회로 및 그것을 포함하는 전자 장치
JP2009230366A (ja) 基準電圧発生回路およびリセット回路を内蔵した半導体集積回路
JP2008015779A (ja) 定電流源回路および電源回路
JP5842475B2 (ja) 電圧生成回路およびパワーオンリセット回路
JP2009282908A (ja) レギュレータ
JP2015211345A (ja) 電源電圧監視回路、および該電源電圧監視回路を備える電子回路
JP2006134126A (ja) 基準電圧発生回路及びこれを用いた電源電圧監視回路