JP2009258054A - 放射線像変換パネル - Google Patents
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Abstract
【課題】 使用条件に合わせて保護膜形成後のパネル面における輝度分布を任意に制御可能な構造を備えた放射線像変換パネルを提供する。
【解決手段】 放射線像変換パネル(1)は、支持体(100)と、該支持体(100)上に形成された放射線変換膜(200)とを備える。放射線変換膜(200)は、支持体(100)の第1主面(100a)のうち少なくとも該第1主面(100a)の重心位置(G)を含む膜形成領域(R)上に形成される。放射線変換膜(200)の膜厚は、重心位置(G)を含む中央エリア(AR1)に対し、周辺エリア(AR2)及び中間エリア(AR3)のいずれかで最大差が得られるよう調節されている。
【選択図】 図1
【解決手段】 放射線像変換パネル(1)は、支持体(100)と、該支持体(100)上に形成された放射線変換膜(200)とを備える。放射線変換膜(200)は、支持体(100)の第1主面(100a)のうち少なくとも該第1主面(100a)の重心位置(G)を含む膜形成領域(R)上に形成される。放射線変換膜(200)の膜厚は、重心位置(G)を含む中央エリア(AR1)に対し、周辺エリア(AR2)及び中間エリア(AR3)のいずれかで最大差が得られるよう調節されている。
【選択図】 図1
Description
この発明は、入射された放射線を可視光に変換する、柱状結晶構造を有する放射線変換膜を備えた放射線像変換パネルに関するものである。
X線画像に代表される放射線画像は、従来から病気診断用などに広く用いられている。このような放射線画像を得る技術として、例えば、照射された放射線エネルギーを蓄積、記録する一方、励起光を照射することにより蓄積、記録された放射線エネルギーに応じて可視光を発する放射線変換膜を用いた放射線像の記録再生技術が広く実用化されている。
このような放射線像の記録再生技術に適用される放射線像変換パネルは、支持体と、該支持体の上に設けられた放射線変換膜を備える。放射線変換膜には、気相成長(堆積)により形成された柱状結晶構造を有する輝尽性蛍光体膜が知られている。輝尽性蛍光体層が柱状結晶構造を有する場合、輝尽励起光又は輝尽発光の横方向への拡散が効果的に抑制されるため(クラック(柱状結晶)界面において反射を繰り返しながら支持体面まで到達する)、輝尽発光による画像の鮮鋭性を著しく増大させることができる。
例えば、特許文献1には、気相堆積法によって支持体上に、支持体の法線方向に対し、一定の傾きを持った細長い柱状結晶を形成した輝尽性蛍光体層を有する放射線像変換パネルが提案されている。また、特許文献2には、支持体上に形成された輝尽性蛍光体層を、表面粗さRaが20nm以下の基材と多層防湿層からなる防湿性保護膜で封止することにより、水分等による輝尽性蛍光体層の劣化を防止する技術が提案されている。
特開平2−58000号公報
特開2005−315786号公報
発明者らは、従来の放射線変換像パネルについて詳細に検討した結果、以下のような課題を発見した。すなわち、従来の放射線像変換パネルは、放射線変換膜表面への保護膜形成の前後において、パネル面内の輝度分布が変化していた。この輝度分布変化の例としては、具体的に、パネル中央付近の輝度がやや下がる一方、パネル周辺の輝度が上がる。そのため、従来の放射線像変換パネルは、パネル中央付近よりも周辺の輝度が高い輝度分布特性を有していた。実際の使用状態では、パネル中央付近の使用頻度が最も高いと考えられ、時間経過とともにパネル面の輝度ムラが顕著になってくるという課題があった。
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたものであり、放射線変換膜表面に設けられる保護膜の形成前後におけるパネル面の輝度分布変化を考慮し、使用条件に合わせて保護膜形成後のパネル面における輝度分布を任意に制御可能な構造を備えた放射線像変換パネルを提供することを目的としている。
この発明に係る放射線像変換パネルは、発明者らが、放射線変換膜の膜厚制御によって保護膜形成後のパネル面における輝度調整が可能になることを発見したことにより完成されたものである。具体的に、この発明に係る放射線像変換パネルは、支持体と、該支持体上に形成された放射線変換膜とを備える。支持体は、放射線変換膜が形成される第1主面と、該第1主面に対向する第2主面を有する平行平板を含む。放射線変換膜は、支持体の第1主面のうち少なくとも該第1主面の重心位置を含む膜形成領域上に形成される。この放射線変換膜は、Euが添加された輝尽性蛍光体層であり、第1主面の法線方向に一致するか、あるいは所定角度の傾きを持った柱状結晶により構成されている。
特に、この発明に係る放射線像変換パネルにおいて、保護膜形成後のパネル面における輝度分布を任意に制御するため、放射線変換膜は、断面凸形状、断面W字形状、断面凹形状、及び断面M字形状のいずれかの断面形状を有する。
放射線変換膜が断面凸形状を有する場合、第1主面における膜形成領域において、半径が重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最大膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が最小距離の80%となる円の円周と膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上に、最小膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する。なお、このような断面凸形状の放射線変換膜が採用された場合、保護膜形成後のパネル面における輝度分布がフラットになるという効果が得られる。
放射線変換膜がこのような断面凸形状を有する場合、該放射線変換膜の膜厚が最大となる位置に対応した中央エリア内の最大膜厚点から放射線変換膜の膜厚が最小となる位置に対応した周辺エリア内の最小膜厚点に向かって、放射線変換膜の膜厚は単調減少している。また、放射線変換膜の膜厚が最大となる位置に対応した中央エリア内の最大膜厚点を原点、該最大膜厚点からの距離(>0)を横軸、該最大膜厚点からの距離に対応する位置の放射線変換膜の膜厚(>0)を縦軸とするとき、膜厚最大を示す点と膜厚最小となる点を結んだ直線は、−0.002よりも大きくかつ0未満の傾きを有する。
放射線変換膜が断面W字形状を有する場合、第1主面における膜形成領域において、半径が重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最大膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が最小距離の80%となる円の円周と中央エリアの輪郭線とで挟まれた中間エリア上に、最小膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する。なお、このような断面W字形状の場合、中間エリアを規定する円の円周と膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上の放射線変換膜の膜厚は、中間エリアを規定する円の円周から膜形成領域のエッジに向かって単調増加している。このような断面W字形状の放射線変換膜が採用された場合、保護膜形成後のパネル面において、全体的に従来の断面フラット形状の平均輝度以上の輝度を維持しながらパネル中央付近の輝度をさらに上げられるという効果がある。
さらに、放射線変換膜が断面凹形状を有する場合、第1主面における膜形成領域において、半径が重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最小膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が前記最小距離の80%となる円の円周と膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上に、最大膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する。なお、このような断面凹形状を有する放射線変換膜は、注目撮像領域がパネル周辺にある場合に有効である。
放射線変換膜がこのような断面凹形状を有する場合、放射線変換膜の膜厚が最小となる位置に対応した中央エリア内の最小膜厚点から放射線変換膜の膜厚が最大となる位置に対応した周辺エリア内の最大膜厚点に向かって、放射線変換膜の膜厚は単調増加している。また、放射線変換膜の膜厚が最小となる位置に対応した中央エリア内の最小膜厚点を原点、該最小膜厚点からの距離(>0)を横軸、該最小膜厚点からの距離に対応する位置の放射線変換膜の膜厚(>0)を縦軸とするとき、膜厚最小を示す点と膜厚最大となる点を結んだ直線は、0よりも大きくかつ0.002よりも小さい傾きを有する。
放射線変換膜が断面M字形状を有する場合、第1主面における膜形成領域において、半径が重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最小膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が前記最小距離の80%となる円の円周と中央エリアの輪郭線とで挟まれた中間エリア上に、最大膜厚を取る放射線変換膜の一部が存在する。なお、このような断面W字形状の場合、中間エリアを規定する円の円周と膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上の放射線変換膜の膜厚は、中間エリアを規定する円の円周から膜形成領域のエッジに向かって単調減少している。このような断面M字形状の放射線変換膜が採用された場合、保護膜形成後のパネル面において、上述の断面凹形状の効果をさらに際出させるという効果が得られる
さらに、この発明に係る放射線像変換パネルは、支持体の第1主面に覆われた面を除く、放射線変換膜の露出面を覆う耐湿保護膜(透明有機膜)を備えてもよい。
なお、この発明に係る各実施例は、以下の詳細な説明及び添付図面によりさらに十分に理解可能となる。これら実施例は単に例示のために示されるものであって、この発明を限定するものと考えるべきではない。
また、この発明のさらなる応用範囲は、以下の詳細な説明から明らかになる。しかしながら、詳細な説明及び特定の事例はこの発明の好適な実施例を示すものではあるが、例示のためにのみ示されているものであって、この発明の思想及び範囲における様々な変形および改良はこの詳細な説明から当業者には自明であることは明らかである。
この発明によれば、放射線変換膜表面に設けられる保護膜の形成前後におけるパネル面の輝度分布変化を考慮し、パネル面全体の輝度を均一にしたり、特定の注目領域のみ輝度を高くするなど、使用条件に合わせて保護膜形成後のパネル面における輝度分布が任意に制御可能になる。
以下、この発明に係る放射線像変換パネルの各実施形態を、図1〜図10を参照しながら詳細に説明する。なお、図の説明において同一部位、同一要素には同一符号を付して重複する説明を省略する。
図1は、この発明に係る放射線像変換パネルの一実施形態の構造を示す図である。特に、図1(a)は、当該放射線像変換パネル1の平面図、図1(b)は、図1(a)中のI−I線に沿った当該放射線像変換パネル1の断面図、また、図1(c)は、図1(a)中のII−II線に沿った当該放射線像変換パネル1の断面図である。
図1において、放射線像変換パネル1は、支持体100と、該支持体100上に形成された放射線変換膜200と、支持体100及び放射線変換膜200を全体的に覆う保護膜(透明有機膜)を備える。支持体100は、放射線変換膜200が形成される第1主面100aと、該第1主面100aに対向する第2主面100bを有する平行平板である。また、支持体100がAlなどの腐食する金属材料からなる場合、陽極酸化膜などの耐腐食膜がその表面に形成されているのが好ましい。放射線変換膜200は、支持体100の第1主面100aのうち少なくとも該第1主面100aの重心位置Gを含む膜形成領域R上に形成される。この放射線変換膜200は、第1主面100aの法線方向に一致するか、あるいは所定角度の傾きを持った柱状結晶により構成されている。
図2は、この発明に係る放射線変換膜における各部の断面構造を示す図である。具体的に、図2(a)は、図1(c)における領域A1の断面図、図2(b)は、図1(c)における領域B1の断面図、図2(c)は、図1(c)における領域C1の断面図である。
これら図2(a)〜2(c)から分かるように、放射線変換膜200を構成する柱状結晶の結晶径D1〜D3は、いずれも略7μmであり、該放射線変換膜200全面に亘って略均一になっている。ただし、放射線変換膜200には賦活剤であるEuが添加されており、該放射線変換膜200の膜厚は、保護膜300の形成前後の輝度分布変化を考慮して、特定目的合うよう断面形状が調整される。
次に、図3を用いて、支持体100の第1主面100aにおける膜形成領域Rにおいて、該膜形成領域R上に形成される放射線変換膜200の膜厚分布を規定するため、該膜形成領域Rの中央エリアAR1、周辺エリアAR2、及び中間エリアAR3について説明する。図3(a)は、支持体100の第1主面100a(膜形成領域R)における中央エリアAR1と周辺エリアAR2の特定方法を具体的に説明するための図である。
図3(a)に示されたように、膜形成領域Rにおける中央エリアAR1は、重心位置Gを含む局所領域である。具体的には、半径が重心位置Gから膜形成領域Rのエッジまでの最短距離Wminの5%となる重心位置Gを含む局所領域である。したがって、重心位置Gから中央エリアAR1の輪郭線までの間隔はW0.05で与えられる。一方、膜形成領域Rにおける周辺エリアAR2は、半径が重心位置Gから該膜形成領域Rのエッジまでの最短距離Wminの40〜80%となる該重心位置Gを中心とした円の円周と、膜形成領域Rのエッジとで挟まれた局所領域である。このときの半径は、重心位置Gから円周までの離間間隔W0.8(最短距離Wminに対して離間距離が80%のとき)で与えられる。また、中間エリアAR3は、中央エリアAR1の輪郭線と周辺エリアAR2を規定する円の円周とで挟まれた領域である。
なお、放射線変換膜200は、このように中央エリアAR1、周辺エリアAR2、及び中間エリアAR3が定義される第1主面100aの膜形成領域R上に形成されており、放射線変換膜200の中央付近と周辺は、図3で定義された中央エリアAR1及び周辺エリアAR2とそれぞれ実質的に一致した領域と考えてよい。
放射線変換膜200の断面形状(例えば、図1(a)におけるII−II線に沿った断面)は、保護膜300の形成後のパネル面における輝度分布を任意に制御するため、断面凸形状、断面W字形状、断面凹形状、及び断面M字形状のいずれかの断面形状を有する。
特に、放射線変換膜200が断面凸形状を有する場合、例えば図3(b)に示されたように、放射線変換膜200の膜厚が最大となる位置(例えば重心位置G)に対応した中央エリアAR1内の最大膜厚点から放射線変換膜200の膜厚が最小となる位置(例えば重心位置Gからの離間距離がW0.8の位置)に対応した周辺エリアAR2内の最小膜厚点に向かって、放射線変換膜200の膜厚は単調減少している。なお、図3(b)は、放射線変換膜200の膜厚が最大となる重心位置Gに対応した中央エリアAR1内の最大膜厚点を原点、該最大膜厚点からの距離(>0)を横軸、該最大膜厚点からの距離に対応する位置の放射線変換膜200の膜厚(>0)を縦軸とするときの、距離と膜厚変化の関係を示すグラフである。
支持体100のサイズは、最小で100mm×100mm、最大で1000mm×1000mmを想定している。このとき、放射線変換膜200の膜厚は、100μm〜1100μmである。放射線変換膜200としての輝尽性蛍光対層に蓄積された放射線画像をスキャナで読みとる際、極力SN比の劣化を避けるため、放射線変換膜200における膜厚変動の許容範囲は、±100μm、好ましくは±80μm(膜形成領域R全面における膜厚変動を最大±100μmとすると、離間距離W0.8の位置では±80μm)である。
具体的に、支持体100のサイズが100mm×100mmである場合(膜形成領域Rのサイズは若干小さい)、重心位置Gから離間距離W0.8(最小距離Wminは50mmであり、その80%の離間距離は40mm)だけ離れた位置での膜厚は、重心位置Gにおける放射線変換膜200の膜厚に対して最大−80μmだけ減少する。このとき、図3(b)に示されたグラフの傾きaは、−0.0002(=−0.008mm/40mm)である。したがって、放射線変換膜200が断面凸形状を有する場合、膜厚変化グラフ(単調減少)の傾きaは、−0.002<a<0を満たすことになる。
一方、放射線変換膜200が断面凹形状を有する場合、例えば図3(c)に示されたように、放射線変換膜200の膜厚が最小となる位置(例えば重心位置G)に対応した中央エリアAR1内の最小膜厚点から放射線変換膜200の膜厚が最大となる位置(例えば重心位置Gからの離間距離がW0.8の位置)に対応した周辺エリアAR2内の最大膜厚点に向かって、放射線変換膜200の膜厚は単増加少している。なお、図3(c)は、放射線変換膜200の膜厚が最小となる重心位置Gに対応した中央エリアAR1内の最小膜厚点を原点、該最小膜厚点からの距離(>0)を横軸、該最小膜厚点からの距離に対応する位置の放射線変換膜200の膜厚(>0)を縦軸とするときの、距離と膜厚変化の関係を示すグラフである。
図3(b)の場合と同じ条件で図3(c)に示されたグラフの傾きbを計算すると、支持体100のサイズが100mm×100mmである場合(膜形成領域Rのサイズは若干小さい)、重心位置Gから離間距離W0.8(最小距離Wminは50mmであり、その80%の離間距離は40mm)だけ離れた位置での膜厚は、重心位置Gにおける放射線変換膜200の膜厚に対して最大+80μmだけ増加する。このとき、図3(c)に示されたグラフの傾きaは、0.0002(=0.008mm/40mm)である。したがって、放射線変換膜200が断面凹形状を有する場合、膜厚変化グラフ(単調増加)の傾きbは、0<b<0.002を満たすことになる。
次に、この発明に係る放射線増変換パネル1に適用される放射線変換膜200の具体的な断面構造を説明する。図4は、この発明に係る放射線像変換パネル1における放射線変換膜の種々の実施形態を説明するための図である。なお、図4(a)〜4(e)に示された断面は、図1(a)におけるII−II線に沿った断面図である。また、図4(a)は、比較のため用意された膜厚が均一になるよう形成された放射線変換膜を有する放射線像変換パネルの断面図である。
図4(a)に示された比較例に係る放射線像変換パネルは、中央付近と周辺とで膜厚変化がない、断面フラット形状の放射線変換膜を備える。このような放射線像変換パネルは、保護膜形成後にパネル中央付近における輝度の落ち込みが激しく、パネル全体で輝度ムラが発生している(後述の図9参照)。
図4(b)は、断面凸形状の放射線変換膜200を備えた、この発明に係る放射線像変換パネル1の断面図である。このような断面凸形状の放射線変換膜200が採用された場合、保護膜形成後のパネル面における輝度分布がフラットになるという効果が得られる。
断面凸形状の放射線変換膜200では、中央エリアAR1上に最大膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する一方、周辺エリアAR2上に、最小膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する。このときの膜厚変化は、図3(b)に示されたように、−0.002<a<0を満たす傾きaを持つ単調減少関数で表される。
図4(c)は、断面W字形状の放射線変換膜200を備えた、この発明に係る放射線像変換パネル1の断面図である。このような断面W字形状の放射線変換膜200が採用された場合、保護膜形成後のパネル面において、全体的に図4(a)の断面フラット形状の平均輝度以上の輝度を維持しながらパネル中央付近の輝度をさらに上げられるという効果がある。
断面W字形状の放射線変換膜200では、中央エリアAR1上に、最大膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する一方、中間エリアAR3上に、最小膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する。また、周辺エリアAR2上の放射線変換膜200の膜厚は、中間エリアAR3から膜形成領域Rのエッジに向かって単調増加している。
図4(d)は、断面凹形状の放射線変換膜200を備えた、この発明に係る放射線像変換パネル1の断面図である。このような断面凹形状の放射線変換膜200が採用された場合、保護膜形成後のパネル面において、パネル周辺での輝度が高くなるという効果が得られる。このような断面凹形状を有する放射線変換膜200は、注目撮像領域がパネル周辺にある場合に有効である。
断面凹形状の放射線変換膜200では、中央エリアAR1上に、最小膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する一方、周辺エリアR2上に、最大膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する。このときの膜厚変化は、図3(c)に示されたように、0<b<0.002を満たす傾きbを持つ単調増加関数で表される。
図4(e)は、断面M字形状の放射線変換膜200を備えた、この発明に係る放射線像変換パネル1の断面図である。このような断面M字形状の放射線変換膜200が採用された場合、保護膜形成後のパネル面において、図4(d)に示された断面凹形状の効果をさらに際出させるという効果が得られる。
断面M字形状の放射線変換膜200では、中央エリアAR1上に、最小膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する一方、中間エリアAR3上に、最大膜厚を取る放射線変換膜200の一部が存在する。また、周辺エリアAR2上の放射線変換膜200の膜厚は、中間エリアR3から膜形成領域Rのエッジに向かって単調減少している。
この発明に係る放射線像変換パネル1、特に、支持体100上に設けられる放射線変換膜200は、図5〜図7に示された製造装置により形成される。すなわち、図5〜図7に示された各製造装置における蛍光体蒸発源の設置位置及び金属蒸気流入方向を制御することにより、図4(b)〜4(e)に示されたような種々の断面構造を有する放射線変換膜200が得られる。
まず、図5は、この発明に係る放射線像変換パネル1の製造工程の一部として、支持体100上に表面が平坦な放射線変換膜200(断面フラット形状)を形成するための製造装置10aの構成を示す図である。
この図5に示された製造装置10aは、支持体100の第1主面100a上に放射線変換膜200を気相堆積法により形成する装置である。気相堆積法としては、蒸着法、スパッタリング法、CVD法、イオンプレーティング法等が適用可能であるが、一例として、蒸着法によりEuドープCsBrの放射線変換膜200を支持体100上に形成する場合について説明する。この製造装置10aは、少なくとも、真空容器11と、支持体ホルダ14と、回転軸13aと、駆動装置13と、蛍光体蒸発源15と、真空ポンプ12を備える。支持体ホルダ14、蒸発源15、及び回転軸13aの一部は真空容器11内に配置される。支持体ホルダ14は、支持体100を加熱するためのヒータ14aを含む。駆動装置13から伸びた回転軸13aの一端は支持体ホルダ14に取り付けられており、駆動装置13が回転軸13aを介して支持体ホルダ14を回転させる。蛍光体蒸発源15は、いずれも真空容器11の中心軸AXからずれた位置に配置されており、支持体ホルダ14に設置される支持体100に蒸着される金属蒸気として供給される金属材料を保持する。真空ポンプ12は、真空容器11内を所定の真空度まで減圧する。
蛍光体蒸発源15には、CsBrとEuBrの混合材料がセットされている。また、蛍光体蒸発源15は、軸AXから外れた位置から支持体100の中間エリアAR3に金属蒸気流入方向が向くようセットされている。支持体100が支持体ホルダ14にセットされる。支持体100の、蛍光体蒸発源15に対面した面上に形成される柱状結晶の結晶径は、ヒータ14aで支持体100自体の温度を調整することにより、また、真空容器11内の真空度や材料減15から支持体100への金属蒸気流入角度等を制御することにより、調整される。
まず、支持体100の第1主面100a(蛍光体蒸発源15に対面した面)にEuドープCsBrの柱状結晶を蒸着法によって成長させる。このとき、駆動装置13は、回転軸13aを介して支持体ホルダ14を回転させており、これにより支持体100も軸AXを中心に回転している。
このような蒸着法により、支持体100上に膜厚500μm±50μmの放射線変換膜200が形成される。このとき、放射線変換膜200における柱状結晶の結晶径は、平均で3〜10μm程度である。
図6は、この発明に係る放射線像変換パネル1の製造工程の一部として、支持体100上に中央付近から周辺に向かって膜厚が減少している放射線変換膜200(断面凸形状)を形成するための製造装置10bの構成を示す図である。図6に示された製造装置10bは、蛍光体蒸発源15の配置及び金属蒸気流入方向に関し、図5に示された製造装置10aと異なる。
すなわち、図6(a)に示された製造装置10bでは、蛍光体蒸発源15が軸AXから外れた位置に設置されるとともに、該蛍光体蒸発源15からの金属蒸気流入方向が軸AXと交差した状態で該軸AXを挟んで反対側に位置する中間エリアAR3に向けられている。このように蛍光体蒸発源15が設置されることにより、支持体100の第1主面100a上に、図4(b)に示されたような断面凸形状の放射線変換膜200が形成される。一方、図6(b)には、図6(a)の要部のみ開示されており、蛍光体蒸発源15の設置位置において図6(a)の場合と異なる。つまり、図6(b)に示された装置10bでは、蛍光体蒸発源15は、金属蒸気流入方向が支持体100の中央エリアAR1に向けられている。このように、図6(b)に示されたように蛍光体蒸発源15が設置されることによっても、図4(b)に示されたような断面凸形状の放射線変換膜200が得られる。
さらに、図7は、この発明に係る放射線像変換パネル1の製造工程の一部として、支持体100上に中央付近から周辺に向かって膜厚が増加している放射線変換膜200(断面凹形状)を形成するための製造装置10cの構成を示す図である。図7に示された製造装置10cは、蛍光体蒸発源15の配置及び金属蒸気流入方向に関し、図5及び図6に示された製造装置10a、10bと異なる。
すなわち、図7(a)に示された製造装置10cでは、蛍光体蒸発源15が支持体100の近傍に設置されるとともに、該蛍光体蒸発源15からの金属蒸気流入方向が支持体100の周辺エリアAR2(特に支持体100のエッジ)に向けられている。このように蛍光体蒸発源15が設置されることにより、支持体100の第1主面100a上に、図4(d)に示されたような断面凹形状の放射線変換膜200が形成される。一方、図7(b)には、図7(a)の要部のみ開示されており、蛍光体蒸発源15の設置位置において図7(a)の場合と異なる。つまり、図7(b)に示された装置10cでは、蛍光体蒸発源15は、図7(a)の場合よりも支持体100から離れた状態で設置される一方、金属蒸気流入方向は、図7(a)の場合と同じように支持体100のエッジに向けられている。このように、図7(b)に示されたように蛍光体蒸発源15が設置されることによっても、図4(d)に示されたような断面凹形状の放射線変換膜200が得られる。
なお、図4(c)や図4(e)のような特殊な断面形状の放射線変換膜200を形成する場合、上述の図5〜7に示された蒸発源配置を組み合わせればよい。例えば、図4(c)に示された断面W字形状の放射線変換膜200は、図6(a)又は6(b)に示された断面凸形状用配置と、図7(a)又は7(b)に示された断面凹形状用配置を組み合わせることにより得られる。また、図4(e)に示された断面M字形状の放射線変換膜200は、図5に示された断面フラット形状用配置と、図6(a)又は6(b)に示された断面凸形状用配置(金属蒸気流入方向が支持体100の中央から外れた状態)を組み合わせることにより得られる。
上述のように図5〜図7の製造装置10a〜10cにより、又はこれらを組み合わせることにより支持体100上に形成された放射線像変換膜200をなすCsBrは、吸湿性が高い。この放射線変換膜200を露出したままにしておくと空気中の水蒸気を吸湿して潮解してしまう。そこで、放射線変換膜200の蒸着法による形成工程に続いて、放射線変換膜200の露出面全体を覆うように、CVD法により耐湿保護膜300が形成される。すなわち、放射線像変換膜200が形成された支持体100をCVD装置に入れ、膜厚10μm程度の耐湿保護膜300が放射線変換膜200の露出面上に成膜される。これにより、放射線像変換膜200及び支持体100に耐湿保護膜300が形成された放射線像変換パネル1が得られる。
次に、放射線変換膜200の膜厚制御と輝度変化の関係を説明する。図8は、放射線変換膜200の膜厚と輝度との関係を示す表及びグラフである。なお、図8(a)は、種々の膜厚(μm)の放射線変換膜サンプルを用意し、それぞれの輝度を測定したときの数値を示す表である。この図8(a)において、輝度は相対値(最大値を1として規格化された数値)で示されている。また、図8(b)は、図8(a)に示された膜厚と輝度相対値の関係をプロットしたグラフである。
図8(b)から分かるように、放射線変換膜においては、総じて膜厚が大きくなるに従って輝度も高くなる傾向が見られる。このことから、放射線変換膜200の任意領域の膜厚を個別に調整していくことにより、使用条件に合わせてパネル面の輝度分布を調整できることが分かる。以下、図9及び図10を参照して、この発明による輝度分布制御の効果について具体的に説明する。
図9は、保護膜の形成前後における比較例に係る放射線変換膜について、重心位置からの離間距離と輝度の関係を示すグラフである。比較例として用意された放射線変換膜の2つのサンプルは、断面フラット形状を有する。図9(a)は、保護膜形成前の用意された比較例に係る2サンプルについて、測定位置(重心位置からの離間距離で表示)と、輝度相対値の関係を示すグラフである。また、図9(b)は、保護膜形成後の2サンプルについて、測定位置と輝度相対値との関係を示すグラフである。この比較例に係る2サンプルは、保護膜形成前、最大輝度値を基準とした変動量(最大輝度値―最小輝度値)の比が2.7%であった。しかしながら、保護膜形成後、比較例に係る2サンプルは、最大輝度値を基準とした変動量(最大輝度値―最小輝度値)の比が5.6%に増加してしまった。特に、図9(b)から分かるように、パネル中央付近の輝度落ち込みが激しかった。
これに対し、図10は、保護膜の形成前後における放射線変換膜(この発明に係る放射線像変換パネルの一部を構成する)について、重心位置からの離間距離と輝度値との関係を示すグラフである。この発明に係る放射線像変換パネル1に適用される放射線変換膜200の2つのサンプルは、断面凸形状を有する。図10(a)は、保護膜形成前の用意された2サンプルについて、測定位置(重心位置からの離間距離で表示)と、輝度相対値の関係を示すグラフである。また、図10(b)は、保護膜形成後の2サンプルについて、測定位置と輝度相対値との関係を示すグラフである。この2つのサンプルは、保護膜形成前、最大輝度値を基準とした変動量(最大輝度値―最小輝度値)の比が6.0%と大きい。しかしながら、保護膜形成後の係る2つのサンプルは、最大輝度値を基準とした変動量(最大輝度値―最小輝度値)の比が3.2%に低下している。特に、図10(b)から分かるように、断面凸形状の放射線変換膜が適用されることにより保護膜形成後のパネル面の輝度は均一さが一段と改善される。
以上の説明から、この発明を様々に変形しうることは明らかである。そのような変形は、この発明の思想および範囲から逸脱するものとは認めることはできず、すべての当業者にとって自明である改良は、以下の請求の範囲に含まれるものである。
この発明に係る放射線変換像パネルは、He−Neレーザや光電子増倍管と組み合わされることにより放射線イメージセンサを構成することが可能であり、このような放射線イメージセンサが、医療、工業分野におけるX線撮影等へ適用される。
100…支持体、100a…第1主面、100b…第2主面、200…放射線変換膜、300…保護膜、R…膜形成領域、AR1…中央エリア、AR2…周辺エリア、AR3…中間エリア。
Claims (11)
- 第1主面と、該第1主面に対向する第2主面を有する支持体と、
前記支持体の前記第1主面のうち少なくとも該第1主面の重心位置を含む膜形成領域上に設けられた放射線変換膜であって、該第1主面の法線方向に一致するか、あるいは所定角度の傾きを持った柱状結晶により構成された放射線変換膜とを備えた放射線像変換パネルであって、
前記第1主面における前記膜形成領域において、半径が前記重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最大膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が前記最小距離の80%となる円の円周と前記膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上に、最小膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する放射線像変換パネル。 - 前記放射線変換膜の膜厚が最大となる位置に対応した前記中央エリア内の最大膜厚点から前記放射線変換膜の膜厚が最小となる位置に対応した前記周辺エリア内の最小膜厚点に向かって、前記放射線変換膜の膜厚は単調減少していることを特徴とする請求項1記載の放射線像変換パネル。
- 前記放射線変換膜の膜厚が最大となる位置に対応した前記中央エリア内の最大膜厚点を原点、該最大膜厚点からの距離(>0)を横軸、該最大膜厚点からの距離に対応する位置の前記放射線変換膜の膜厚(>0)を縦軸とするとき、膜厚最大を示す点と膜厚最小となる点を結んだ直線は、−0.002よりも大きくかつ0未満の傾きを有することを特徴とする請求項2記載の放射線像変換パネル。
- 第1主面と、該第1主面に対向する第2主面を有する支持体と、
前記支持体の前記第1主面のうち少なくとも該第1主面の重心位置を含む膜形成領域上に設けられた放射線変換膜であって、該第1主面の法線方向に一致するか、あるいは所定角度の傾きを持った柱状結晶により構成された放射線変換膜とを備えた放射線像変換パネルであって、
前記第1主面における前記膜形成領域において、半径が前記重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最大膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が前記最小距離の80%となる円の円周と前記中央エリアの輪郭線とで挟まれた中間エリア上に、最小膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する放射線像変換パネル。 - 前記中間エリアを規定する円の円周と前記膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上の前記放射線変換膜の膜厚は、前記中間エリアを規定する円の円周から前記膜形成製領域のエッジに向かって単調増加していることを特徴とする請求項4記載の放射線像変換パネル。
- 第1主面と、該第1主面に対向する第2主面を有する支持体と、
前記支持体の前記第1主面のうち少なくとも該第1主面の重心位置を含む膜形成領域上に設けられた放射線変換膜であって、該第1主面の法線方向に一致するか、あるいは所定角度の傾きを持った柱状結晶により構成された放射線変換膜とを備えた放射線像変換パネルであって、
前記第1主面における前記膜形成領域において、半径が前記重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最小膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が前記最小距離の80%となる円の円周と前記膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上に、最大膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する放射線像変換パネル。 - 前記放射線変換膜の膜厚が最小となる位置に対応した前記中央エリア内の最小膜厚点から前記放射線変換膜の膜厚が最大となる位置に対応した前記周辺エリア内の最大膜厚点に向かって、前記放射線変換膜の膜厚は単調増加していることを特徴とする請求項6記載の放射線像変換パネル。
- 前記放射線変換膜の膜厚が最小となる位置に対応した前記中央エリア内の最小膜厚点を原点、該最小膜厚点からの距離(>0)を横軸、該最小膜厚点からの距離に対応する位置の前記放射線変換膜の膜厚(>0)を縦軸とするとき、膜厚最小を示す点と膜厚最大となる点を結んだ直線は、0よりも大きくかつ0.002よりも小さい傾きを有することを特徴とする請求項7記載の放射線像変換パネル。
- 第1主面と、該第1主面に対向する第2主面を有する支持体と、
前記支持体の前記第1主面のうち少なくとも該第1主面の重心位置を含む膜形成領域上に設けられた放射線変換膜であって、該第1主面の法線方向に一致するか、あるいは所定角度の傾きを持った柱状結晶により構成された放射線変換膜とを備えた放射線像変換パネルであって、
前記第1主面における前記膜形成領域において、半径が前記重心位置から該膜形成領域のエッジまでの最短距離の5%以下である該重心位置を中心とした中央エリア上に、最小膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する一方、半径が前記最小距離の80%となる円の円周と前記中央エリアの輪郭線とで挟まれた中間エリア上に、最大膜厚を取る前記放射線変換膜の一部が存在する放射線像変換パネル。 - 前記中間エリアを規定する円の円周と前記膜形成領域のエッジで挟まれた周辺エリア上の前記放射線変換膜の膜厚は、前記中間エリアを規定する円の円周から前記膜形成領域のエッジに向かって単調減少していることを特徴とする請求項9記載の放射線像変換パネル。
- 前記支持体の前記第1主面に覆われた面を除く、前記放射線変換膜の露出面を覆う保護膜をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項記載の放射線像変換パネル。
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