JP2009218475A - 出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置及び回路装置 - Google Patents
出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置及び回路装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009218475A JP2009218475A JP2008062423A JP2008062423A JP2009218475A JP 2009218475 A JP2009218475 A JP 2009218475A JP 2008062423 A JP2008062423 A JP 2008062423A JP 2008062423 A JP2008062423 A JP 2008062423A JP 2009218475 A JP2009218475 A JP 2009218475A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- electrode
- switching transistor
- output control
- control device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30107—Inductance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
Landscapes
- Dc-Dc Converters (AREA)
Abstract
【課題】制御ICへノイズが伝播することを防ぎ、かつ小型化及び低コスト化が可能な出力制御装置を提供する。
【解決手段】出力制御装置1は、ダイパッド6の表面61にスイッチングトランジスタチップ3aが配置されており、ダイパッド6の裏面62に制御ICチップ4aが配置されており、ダイパッド6は、GNDに接続されるリード端子7bと電気的に接続されており、ゲート電極31は、リード端子7gに接続されており、出力電極41は、リード端子7gに接続されており、スイッチングトランジスタチップ3aをパワーMOSFETによって構成している。
【選択図】図2
【解決手段】出力制御装置1は、ダイパッド6の表面61にスイッチングトランジスタチップ3aが配置されており、ダイパッド6の裏面62に制御ICチップ4aが配置されており、ダイパッド6は、GNDに接続されるリード端子7bと電気的に接続されており、ゲート電極31は、リード端子7gに接続されており、出力電極41は、リード端子7gに接続されており、スイッチングトランジスタチップ3aをパワーMOSFETによって構成している。
【選択図】図2
Description
本発明は、オン・オフの時間比率が制御されることによって出力電圧又は出力電流を制御するスイッチングトランジスタと、スイッチングトランジスタによって制御された出力電圧又は出力電流に基づいて、スイッチングトランジスタのオン・オフの時間比率を制御する制御ICとを備えた出力制御装置に関する。
商用AC電源を電気・電子機器用DC電源に変換するスイッチング電源システムにおいて、1次側回路に接続されるスイッチ素子とそのスイッチ素子を制御する制御ICとを備えたスイッチング電源システムが知られている。図6は、スイッチング電源システムを用いたAC/DC電源102の構成例の1つを示す回路図である。AC/DC電源102は、AC電源からDC5Vなどの電子機器への充電を行うACアダプター等に使用される。AC/DC電源102の方式の特徴は、制御IC104を用いて出力電圧を一定に保つようにしていることである。トランス111を境に1次側(高圧)と2次側(低圧)とに分かれる。
AC/DC電源102は、ダイオードブリッジ110を備えている。ダイオードブリッジ110は、AC電源入力端子109に入力された90V〜264Vの交流電圧を整流して1次回路側の出力電圧(DC127V〜DC373V)としてトランス111に供給する。トランス111は、1次側回路の出力を、2次側回路の出力電圧(5V、12V等の所望の電圧)に変換してDC出力端子112から出力する。
AC/DC電源102には、出力制御装置101が設けられている。出力制御装置101には、オン・オフの時間比率が制御されることによって出力電圧を制御するスイッチングトランジスタ103が設けられている。AC/DC電源102には、出力制御装置101によって制御された出力電圧に基づいて、フィードバック信号を生成するフィードバック回路113が設けられている。出力制御装置101は、回路113からのフィードバック信号に基づいて、スイッチングトランジスタ103のオン・オフの時間比率を制御する制御IC104を有している。
このように構成されたAC/DC電源102においては、トランス111に流れる電流をオン・オフし、トランス111を介して高電圧が低電圧に変換される。次に、フィードバック回路113は、DC出力端子112から出力されるDC出力電圧を監視し、その情報を表わすフィードバック信号を制御IC104に伝える。
制御IC104は、上記DC出力電圧に対応したフィードバック信号を受けて、所望の電圧よりも出力電圧が高い場合は、スイッチングトランジスタ103のオフ時間の比率を上げてトランス111に流れる電流を少なくする。逆に上記DC出力電圧が所望の電圧よりも低い場合は、オン時間の比率を上げてトランス111に流れる電流を多くする。この制御により出力電圧を一定に保つ。
従来のスイッチング電源システムにおいて、それぞれ別パッケージで形成された、スイッチングトランジスタ103と制御IC104とを組み合わせて出力制御装置101を構成する場合が多い。しかし、この場合、スイッチングトランジスタ103と制御IC104との間の配線が長く、実装面積が大きくなるため、寄生インダクタンスが大きく、AC/DC電源102の小型化が制限されてしまう。
そのため、特許文献1の第5図に示す混成集積回路と同様に、図6のAC/DC電源102において同一パッケージ内にスイッチングトランジスタ103と制御IC104とを水平に設けることにより、出力制御装置101を構成する場合がある。別々のパッケージで形成されていた場合に比べて、1パッケージにすることにより、スイッチングトランジスタ103と制御IC104との間の配線距離が短くなり、実装面積も小さくなる。そのため、寄生インダクタンスが小さくなり、AC/DC電源102を小型化することが出来る。
しかし、水平方向にスイッチングトランジスタ103と制御IC104とを配置するため、スイッチングトランジスタ103と制御IC104とのチップ面積の和より小さい実装面積にすることはできない。特許文献2の図2に示されている構造は、スイッチングトランジスタQ2の上に絶縁性エポキシ樹脂を介して制御IC16を配置するため、制御IC16とスイッチングトランジスタQ2の間の寄生インダクタンスを減少できると共に、実装面積も大幅に減少することができる。
また、特許文献3の図1では、パッケージ5に対し所望の方向からリード6〜10を導出させることにより、リードの設計自由度を増大させる半導体装置1が開示されている。
実開昭63−197358号公報(昭和63年12月19日公開)
特開2000−252147号公報(2000年9月14日公開)
特開2007−27402号公報(2007年2月1日公開)
図7は、スイッチング電源システムを用いたAC/DC電源102に設けられたスイッチングトランジスタ103の電極の電圧変化を示した一例であり、図7(a)はドレイン電圧の波形図であり、図7(b)はゲート電圧の波形図である。AC電源入力端子109にAC264Vの電圧が印加された場合、ゲート電圧がローでスイッチングトランジスタ103がオフの時に、スイッチングトランジスタ103のドレイン電圧は450V程度となる。これに対して、ゲート電圧がハイでスイッチングトランジスタ103がオンの時に、スイッチングトランジスタ103のドレイン電圧は0V程度の電圧となる。このように、スイッチングトランジスタ103のドレイン電圧は、スイッチングトランジスタ103のオン・オフに対応して0Vまたは450Vとなる。
一方、制御IC104の出力電圧は、スイッチングトランジスタ103の閾値電圧以上の電圧をスイッチングトランジスタ103のゲート電極に印加すればよく、例えば図7(b)では12Vのパルス波を印加している。制御IC104は、スイッチングトランジスタ103のゲート電極に印加する電圧と同程度の大きさの電圧で駆動する。このため、制御IC104の駆動電圧は、スイッチングトランジスタ103のオフ時に、スイッチングトランジスタ103のドレインに印加される電圧に比べて非常に小さい値となる。
また、AC/DC電源102が動作している時、制御IC104は、トランス111の2次側の、出力電圧もしくは出力電流の情報を含んだフィードバック信号を、フィードバック回路113を通じて得ている。フィードバック回路113から制御IC104に送信される信号は、数V程度の電圧であり、制御IC104は、数mVの精度で上記信号を検出する必要がある。
しかし、特許文献2の構造では、スイッチングトランジスタQ2の上に絶縁エポキシ樹脂を介して制御IC16が配置されており、電圧差500V程度のスイッチングを行っているスイッチングトランジスタQ2で発生するノイズが、制御IC16の、電源電極及び検出電極に伝播する。そのため、検出と制御の精度が低下してしまい、スイッチング電源10の、出力電圧及び出力電流の精度が落ちたり、該出力電圧及び該出力電流にノイズが発生したりしてしまう。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、制御ICへノイズが伝播することを防ぎ、かつ小型化及び低コスト化が可能な出力制御装置を提供することにある。
本発明の出力制御装置は、上記課題を達成するために、オン・オフの時間比率が制御されることによって出力電圧又は出力電流を制御するスイッチングトランジスタチップと、前記スイッチングトランジスタチップによって制御された出力電圧又は出力電流に基づいて、前記スイッチングトランジスタチップのオン・オフの時間比率を制御する制御ICチップと、導電性材料から形成されており、第1の面及び前記第1の面の反対側に位置する第2の面を有するダイパッドと、前記スイッチングトランジスタチップ、前記制御ICチップ及び前記ダイパッドを収納したパッケージと、前記第1の面と同一の面に形成され、一部が前記パッケージから露出しているリード端子とを備える出力制御装置において、前記第1の面に前記スイッチングトランジスタチップが配置されており、前記第2の面に前記制御ICチップが配置されており、前記ダイパッドは、前記リード端子と電気的に接続されていることを特徴とする。
上記発明によれば、前記リード端子を電気的に接地する、即ち前記パッケージの外部に設けられた外部電源が有するグランドに接続することにより、前記ダイパッドはグランドに接続することが可能であるので、前記スイッチングトランジスタチップ及び前記制御ICチップと同程度の面積のグランド電極が2つのチップ間に存在することになる。これにより、前記ダイパッドがノイズシールドとして作用するので、前記スイッチングトランジスタチップのドレイン電圧が、高電圧と低電圧とを交互に繰り返す電圧となることにより発生するノイズが、数mVの精度の検出を行っている制御ICチップへ伝播することを防ぐことが可能である。
また、前記スイッチングトランジスタチップ、前記ダイパッド及び前記制御ICチップを積み重ねて配置することにより、ディスクリート部品のスイッチングトランジスタと制御ICとを実装した場合、及びスイッチングトランジスタチップと制御ICチップとを水平に配置された1パッケージの出力制御装置に比べて、回路基板の実装面積を縮小することができ、AC/DC電源装置の小型化及び寄生インピーダンスの低減に寄与することができる。さらに、2パッケージで実現した場合よりもパッケージコストを低減することができる。
さらに、前記スイッチングトランジスタチップと前記制御ICチップとが前記ダイパッドの異なる面に配置されているため、それぞれのチップの電極と、前記リード端子との間に設けられている配線の影響を受けることなく、配線レイアウトを決めることが出来る。そのため、ノイズを発生するリード端子と、数mVの精度で検出する必要がある信号が入力されるリード端子とを、互いに干渉しないように遠い位置に容易に配置することが出来る。
その上、出来るだけ微細化したプロセスで製造することが好ましい制御ICチップと、デザインルールが大きいパワーMOSFETとを、それぞれ最適なプロセスを用いて作成できるため、ワンチップで作成した場合と比較してプロセスコストを低減することができる。
その上、2パッケージで実現した場合よりもパッケージコストを低減することができる。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップに形成されているトランジスタ電極をさらに備え、前記トランジスタ電極は、前記トランジスタ電極に対応し、前記リード端子と同一の面に形成され、一部が前記パッケージから露出しているトランジスタリード端子に接続されてもよい。
これにより、前記トランジスタ電極と前記外部電源とを接続すること、及び前記トランジスタ電極と前記パッケージの外部に設けられた外部回路とを接続することが可能となる。
前記出力制御装置では、前記制御ICチップに形成されているIC電極をさらに備え、前記IC電極は、前記IC電極に対応し、前記リード端子と同一の面に形成され、一部が前記パッケージから露出しているICリード端子に接続されてもよい。
これにより、前記IC電極と前記外部電源とを接続すること、及び前記IC電極と前記外部回路とを接続することが可能となる。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップに形成されているトランジスタ電極と、前記制御ICチップに形成されているIC電極とをさらに備え、前記IC電極は、前記トランジスタ電極に接続されてもよい。
これにより、前記IC電極から前記トランジスタ電極に信号を送信することが可能となる。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップを横型パワーMOSFETによって構成してもよい。
また、前記出力制御装置では、前記横型パワーMOSFETの基板電位が、ソース電極と同電位であってもよい。
これらの構成により、前記スイッチングトランジスタチップは、ゲート電極が設けられている面を表面とした時に、前記ダイパッドに接続する裏面を前記ソース電極と同電位にすることが出来る。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップの裏面と、前記第1の面とを導電性接着剤で接着してもよい。
また、前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップの表面にある前記ソース電極を、貫通電極を用いて裏面に導通させてもよい。
これらの構成により、前記スイッチングトランジスタチップの裏面の電位、及び前記ソース電極の電位をグランド電位にすることが出来る。
前記出力制御装置では、前記制御ICチップの基板電位がグランド電位であってもよい。
また、前記出力制御装置では、前記制御ICチップの裏面と、前記第2の面とを導電性接着剤で接着してもよい。
さらに、前記出力制御装置では、前記制御ICチップの表面にあるグランド電極を、貫通電極を用いて裏面に導通させてもよい。
これらの構成により、前記制御ICチップの、前記ダイパッドに接続する部分の電位、及び前記制御ICチップの表面にあるグランド電極の電位をグランド電位にすることが出来る。
従って、前記スイッチングトランジスタチップの裏面と、前記制御ICチップの裏面とを共にグランドに接続することができるため、前記スイッチングトランジスタチップと前記制御ICチップとを前記ダイパッドに搭載することができる。この際、絶縁シートまたはダイパッドの特別な加工は必要無く、低コスト化が可能である。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップが、前記スイッチングトランジスタチップの表面にドレイン電極が形成され、前記スイッチングトランジスタチップの裏面にソース電極とゲート電極が形成されている縦型パワーMOSFETによって構成されており、前記ソース電極が導電性接着剤によって前記第1の面に接着されてもよい。
また、前記出力制御装置では、前記ゲート電極と、前記制御ICチップの、前記ゲート電極を動作させる出力電極とが、金属細線を用いて直接接続されてもよい。
これらの構成により、前記スイッチングトランジスタチップが縦型パワーMOSFETによって構成されている場合においても、前記スイッチングトランジスタチップ、前記ダイパッド及び前記制御ICチップを積み重ねて配置することが可能となる。従って、回路基板の実装面積を減少することができ、AC/DC電源装置の小型化及び寄生インピーダンスの低減に寄与することができる。さらに、2パッケージで実現した場合よりもパッケージコストを低減することができる。
前記出力制御装置では、前記導電性接着剤が銀ペーストであってもよい。
これにより、前記スイッチングトランジスタチップ、前記ダイパッド及び前記制御ICチップを積み重ねて配置することが可能となる。また、前記銀ペーストは絶縁性エポキシ樹脂に比べて熱伝導率が高いので、パワーMOSFETで発生した熱を前記ダイパッドに伝達しやすくなる。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップの裏面と前記第1の面とを絶縁性接着剤によって接着してもよい。
また、前記出力制御装置では、前記制御ICチップの裏面と前記第2の面とを絶縁性接着剤で接着してもよい。
さらに、前記出力制御装置では、前記絶縁性接着剤が絶縁性エポキシ樹脂であってもよい。
これらの構成により、基板電位がソースと同電位で無いスイッチングトランジスタを用いる場合、または基板電位がグランドで無い制御ICを用いる場合においても、前記スイッチングトランジスタチップ、前記ダイパッド及び前記制御ICチップを積み重ねて配置することが可能となる。従って、回路基板の実装面積を減少することができ、AC/DC電源装置の小型化及び寄生インピーダンスの低減に寄与することができる。さらに、2パッケージで実現した場合よりもパッケージコストを低減することができる。
前記出力制御装置では、前記ダイパッドの一端を延長し、前記リード端子を形成してもよい。
これにより、前記リード端子と前記ダイパッドとをワイヤボンディングにより接続する場合に比べて、幅の広い金属で橋渡しすることが可能となり、熱伝導が向上する。そのため、パワーMOSFETで発生した熱を、リード端子を通じて放熱しやすくなる。また、電気的に接地されるリード端子を別途設ける必要が無くなり、製造時間が短縮される。
前記出力制御装置では、前記ダイパッドの材料が銅であってもよい。
これにより、前記スイッチングトランジスタチップと前記制御ICチップとの間の熱伝導性が良くなる。従って、前記スイッチングトランジスタチップの温度を大きく低下させることなく前記制御ICチップの温度検出部に伝達することが出来る。
前記出力制御装置では、前記スイッチングトランジスタチップは、AC/DC電源の出力電圧を制御してもよい。
前記AC/DC電源が駆動しているとき、前記ダイパッドは電気的に接地されている、即ちグランドに接続されているため、前記スイッチングトランジスタチップ及び前記制御ICチップと同程度の面積のグランド電極が2つのチップ間に存在することになる。これにより、前記ダイパッドがノイズシールドとして作用するので、前記スイッチングトランジスタチップのドレイン電圧が、高電圧と低電圧とを交互に繰り返す電圧となることにより発生するノイズが、数mVの精度の検出を行っている制御ICチップへ伝播することを防ぐことが可能である。
本発明の回路装置は、上記いずれかの出力制御装置を備えているので、低コスト化が可能である。
本発明に係る出力制御装置は、以上のように、ダイパッドの第1の面にスイッチングトランジスタチップが配置されており、前記第1の面の反対側に位置する第2の面に制御ICチップが配置されており、前記ダイパッドは、前記リード端子と電気的に接続されているものである。
それゆえ、制御ICへノイズが伝播することを防ぎ、かつ小型化及び低コスト化が可能な出力制御装置を提供するという効果を奏する。
〔実施の形態1〕
本発明の一実施形態について図1ないし図3に基づいて説明すると以下の通りである。
本発明の一実施形態について図1ないし図3に基づいて説明すると以下の通りである。
図1は、本実施の形態に係るAC/DC電源(交流/直流電源)2の回路図である。実施の形態1及び実施の形態2は、図1に示す制御IC4とスイッチングトランジスタ3との1パッケージ化に関している。
AC/DC電源2は、AC電源からDC5V(ボルト)などの電子機器への充電を行うACアダプター等に使用される。AC/DC電源2の方式の特徴は、制御IC4を用いて出力電圧を一定に保つようにしていることである。トランス11を境に1次側(高圧)と2次側(低圧)とに分かれる。
AC/DC電源2は、ダイオードブリッジ10を備えている。ダイオードブリッジ10は、AC電源入力端子9に入力された90V〜264Vの交流電圧を整流して1次回路側の出力電圧(DC140V〜DC373V)としてトランス11に供給する。トランス11は、1次側回路の出力を、2次側回路の出力電圧(5V、12V等の所望の電圧)に変換してDC出力端子12から出力する。
AC/DC電源2には、出力制御装置1が設けられている。出力制御装置1には、オン・オフの時間比率が制御されることによって出力電圧を制御するスイッチングトランジスタ3が設けられている。AC/DC電源2には、出力制御装置1によって制御された出力電圧に基づいて、フィードバック信号を生成するフィードバック回路13が設けられている。出力制御装置1は、フィードバック回路13からのフィードバック信号に基づいて、スイッチングトランジスタ3のオン・オフの時間比率を制御する制御IC4を有している。
このように構成されたAC/DC電源2においては、トランス11に流れる電流をオン・オフし、トランス11を介して高電圧が低電圧に変換される。次に、フィードバック回路13は、DC出力端子12から出力されるDC出力電圧を監視し、その情報を表わすフィードバック信号を制御IC4に伝える。
制御IC4は、上記DC出力電圧に対応したフィードバック信号を受けて、所望の電圧よりも出力電圧が高い場合は、スイッチングトランジスタ3のオフ時間の比率を上げてトランス11に流れる電流を少なくする。逆に上記DC出力電圧が所望の電圧よりも低い場合は、オン時間の比率を上げてトランス11に流れる電流を多くする。この制御により出力電圧を一定に保つ。
図2は、出力制御装置1の一例であり、実施の形態1に係る出力制御装置1の構成を示す。図2(a)は出力制御装置1の上面図であり、図2(b)は図2(a)の出力制御装置1のA−A’間に沿った断面図であり、図2(c)は図2(a)の出力制御装置1をB−B’間に沿った断面図であり、図2(d)は出力制御装置1の下面図である。
出力制御装置1は、パッケージ5を備えている。パッケージ5には、板状のダイパッド6が設けられている。ダイパッド6は導電性材料により形成されており、例えば銅が用いられる。ダイパッド6の表面61には、図1のスイッチングトランジスタ3に相当するスイッチングトランジスタチップ3aが設けられており、裏面62には、図1の制御IC4に相当する制御ICチップ4aが設けられている。ここで、スイッチングトランジスタチップ3aは、図3に示す横型パワーMOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor:金属・酸化物・半導体電界効果トランジスタ)14によって構成されている。横型パワーMOSFETとは、電流がチップの表面とほぼ平行に流れるパワーMOSFETとして定義される。
なお、パワーMOSFETで発生した熱を放熱させるために、実使用ではスイッチングトランジスタチップ3aを設けた表面61が、制御ICチップ4aを設けた裏面62よりもプリント基板等の回路基板の接触面に近くなるように出力制御装置1を実装することが好ましい。
図3は横型パワーMOSFET14の断面図である。横型パワーMOSFET14を用いたスイッチングトランジスタチップ3aは、ゲート電極が設けられている面を表面とした時に、裏面をソース電極と同電位にすることが出来る。また、制御ICチップ4aの基板電位、即ち制御ICチップ4aの、ダイパッドに接続する部分の電位はグランド(GND)にすることが出来、制御ICチップ4aの裏面、即ちダイパッド6の裏面62と対向する面は、GNDに接続することが出来る。
そのため、スイッチングトランジスタチップ3aの裏面と制御ICチップ4aの裏面とを共にGNDに接続することができるため、スイッチングトランジスタチップ3aと制御ICチップ4aとを同一のダイパッド6に搭載することができる。スイッチングトランジスタチップ3aと制御ICチップ4aとをダイパッド6に接着させる際には、導電性接着剤21を用いればよく、例えば銀ペーストを用いる。
このように、スイッチングトランジスタチップ3aの裏面はソース(GND接地)であり、制御ICチップ4aの裏面と同電位であるため、絶縁シートまたはダイパッドの特別な加工なしに同一のダイパッド6に搭載でき、低コスト化が可能である。
また、出来るだけ微細化したプロセスで製造することが好ましい制御ICチップと、デザインルールが大きいパワーMOSFETとを、それぞれ最適なプロセスを用いて作成できるため、ワンチップで作成した場合と比較してプロセスコストを低減することができる。
以上のように、スイッチングトランジスタチップ3a、ダイパッド6及び制御ICチップ4aを積み重ねて配置することにより、ディスクリート部品のスイッチングトランジスタと制御ICとを実装した場合、及びスイッチングトランジスタチップと制御ICチップとを水平に配置された1パッケージの出力制御装置に比べて、回路基板の実装面積を減少することができ、AC/DC電源装置の小型化及び寄生インピーダンスの低減に寄与することができる。さらに、2パッケージで実現した場合よりもパッケージコストを低減することができる。
AC/DC電源2が動作しているとき、スイッチングトランジスタチップ3aのドレイン電極32の電圧は、高電圧と低電圧とを交互に繰り返すため、または高電圧とGNDとを交互に繰り返すためにノイズを発生する。しかし、出力制御装置1では、スイッチングトランジスタチップ3aと制御ICチップ4aとの間にGND電位であるダイパッド6があり、このダイパッド6がシールドとなるので、スイッチングトランジスタチップ3aから制御ICチップ4aに伝播するノイズを低減出来る。
パッケージ5には、リード端子7a・7b・7c・7d・7e・7f・7g・7hが設けられている。リード端子7bは、ダイパッド6の一端が延長されたもので、GNDピンである。図2(c)に示すように、スイッチングトランジスタチップ3aのソース電極33と、制御ICチップ4aのGND電極44とは、それぞれ貫通電極22及び導電性接着剤21を介してダイパッド6と接続されている。なお、本実施の形態では貫通電極22を用いたが、ソース電極33とGND電極44とをワイヤボンディングによってリード端子7bに接続してもよい。
リード端子7aは、ワイヤ71によってスイッチングトランジスタチップ3aのドレイン電極32と接続されており、ドレインピンとなる。リード端子7cは、ワイヤ72によって制御ICチップ4aの電源電極43と接続されており、制御ICチップ4aの電源ピンとなる。リード端子7dは、ワイヤ73によって制御ICチップ4aの検出電極42と接続されており、リード端子7eは、ワイヤ74によって制御ICチップ4aの検出電極42と接続されている。リード端子7d及びリード端子7eは、フィードバック回路13に接続される検出ピンである。
リード端子7gは、ワイヤ75によってスイッチングトランジスタチップ3aのゲート電極31に接続されていると共に、ワイヤ76によって制御ICチップ4aの出力電極41に接続されており、リード端子7gを介して、制御ICチップ4aはスイッチングトランジスタチップ3aの動作を制御する。
また、図1においてAC/DC電源2が動作している時、制御IC4は、トランス11の2次側の、出力電圧もしくは出力電流の情報を含んだフィードバック信号を、フィードバック回路13を通じて得ている。フィードバック回路13から制御IC4に送信される信号は、数V程度の電圧であり、制御IC4は、数mVの精度で上記信号を検出する必要がある。
スイッチングトランジスタチップ3aと制御ICチップ4aとがダイパッド6の異なる面に配置されているため、それぞれのチップの電極と、リード端子7a・7b・7c・7d・7e・7f・7gとの間に設けられている配線の影響を受けることなく、配線レイアウトを決めることが出来る。そのため、例えばノイズを発生するリード端子7aと、数mVの精度で検出する必要がある信号が入力されるリード端子7d及び7eとを、互いに干渉しないように遠い位置に容易に配置することが出来る。高電圧を取り扱いノイズの発生源であるドレイン電極と電気的に接続しているリード端子と、数mVの精度が必要な制御ICの検出電極と電気的に接続しているリード端子とは、極力離れていることが望ましい。
また、ダイパッド6及び導電性接着剤21は、エポキシ樹脂などに比べて高い熱伝導度を有する銅または銀などの金属材料を用いている。そのため、スイッチングトランジスタチップ3aと制御ICチップ4aとの間において熱損失が少ないため、制御ICチップ4aにおいてスイッチングトランジスタチップ3aの温度を高精度で検出することができる。即ち、スイッチングトランジスタチップ3aと制御ICチップ4aとの間の熱伝導性が良くなるので、スイッチングトランジスタチップ3aの温度を大きく低下させることなく制御ICチップ4aの温度検出部に伝達することが出来る。
なお、本実施の形態では、スイッチングトランジスタチップ3a及び制御ICチップ4aをダイパッド6に接着させる際には、導電性接着剤21を用いた。しかし、例えば基板電位がソースと同電位で無いスイッチングトランジスタを用いる場合、または基板電位がGNDで無い制御ICを用いる場合は、これらのスイッチングトランジスタチップ及び制御ICチップをダイパッド6に接着させる時に、絶縁性エポキシ樹脂などの絶縁性接着剤を用いても良い。その際には、スイッチングトランジスタチップのソース電極と制御ICチップのGND電極とを、リード端子7bにワイヤボンディングにより接続する必要がある。
〔実施の形態2〕
本発明の他の実施形態について図4及び図5に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態1と同じである。また、説明の便宜上、前記実施の形態1の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
本発明の他の実施形態について図4及び図5に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態1と同じである。また、説明の便宜上、前記実施の形態1の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
図4は、出力制御装置1の一例であり、実施の形態2に係る出力制御装置1aの構成を示す。図4(a)は出力制御装置1aの上面図であり、図4(b)は図4(a)の出力制御装置1aのA−A’間に沿った断面図であり、図4(c)は出力制御装置1aの下面図である。
出力制御装置1aは、パッケージ5を備えている。パッケージ5には、板状のダイパッド6が設けられている。ダイパッド6は導電性材料により形成されており、例えば銅が用いられる。ダイパッド6の表面61には、図1のスイッチングトランジスタ3に相当するスイッチングトランジスタチップ3bが設けられており、裏面62には図1の制御IC4に相当する制御ICチップ4bが設けられている。ここで、スイッチングトランジスタチップ3bは、図5に示す縦型パワーMOSFET15によって構成されている。縦型パワーMOSFETは、電流がチップの厚さ方向に流れ、一般にドレイン電極をチップ裏面から取り出すパワーMOSFETとして定義される。
図5は縦型パワーMOSFET15の断面図を示したものである。本実施の形態で用いる縦型パワーMOSFET15を用いたスイッチングトランジスタチップ3bの表面34には、ドレイン電極32が設けられており、裏面35には、ゲート電極31及びソース電極33が設けられている。スイッチングトランジスタチップ3bは、ソース電極33とダイパッド6とを導電性接着剤21によって接着させている。制御ICチップ4bは、導電性接着剤21を用いてダイパッド6に接着されている。スイッチングトランジスタチップ3bのソース電極33と、制御ICチップ4bの裏面とを共にGNDに接続することができるため、スイッチングトランジスタチップ3bと制御ICチップ4bとを同一のダイパッド6に搭載できる。
パッケージ5には、リード端子7a・7b・7c・7d・7e・7f・7g・7hが設けられている。リード端子7bは、ダイパッド6の一端が延長されたもので、GNDピンである。制御ICチップ4bのGND電極44とダイパッド6とは、図示しない貫通電極により接続されている。リード端子7aは、ワイヤ77によってスイッチングトランジスタチップ3bのドレイン電極32と接続されており、ドレインピンとなる。リード端子7eは、ワイヤ78によって制御ICチップ4bの電源電極43と接続しており、制御ICチップ4bの電源ピンとなる。
リード端子7cは、ワイヤ79によって制御ICチップ4bの検出電極42と接続されており、リード端子7dは、ワイヤ80によって制御ICチップ4bの検出電極42と接続されている。リード端子7c及びリード端子7dは、フィードバック回路13と接続される検出ピンである。スイッチングトランジスタチップ3bのゲート電極31と、制御ICチップ4bの出力電極41とは、ワイヤ81によって直接ワイヤボンディングされている。
スイッチングトランジスタチップ3bと制御ICチップ4bとがダイパッド6の異なる面に配置されているため、それぞれのチップの電極とリード端子7a・7b・7c・7d・7e・7f・7gとの間に設けられている配線の影響を受けることなく、配線レイアウトを決めることができる。そのため、例えばノイズを発生するリード端子7aと、数mVの精度で検出する必要がある信号が入力されるリード端子7c及び7dとを、互いに干渉しないように遠い位置に容易に配置することができる。高電圧を取り扱いノイズの発生源であるドレイン電極と電気的に接続しているリード端子と、数mVの精度が必要な制御ICの検出電極と電気的に接続しているリード端子とは、極力離れていることが望ましい。
本発明の出力制御装置は、スイッチングトランジスタチップ、ダイパッド及び制御ICチップを積み重ねて配置することにより、小型化及び低コスト化が可能であるので、AC/DC電源に好適に用いることが出来る。
1、1a 出力制御装置
2 AC/DC電源
3 スイッチングトランジスタ
3a、3b スイッチングトランジスタチップ
4 制御IC
4a、4b 制御ICチップ
5 パッケージ
6 ダイパッド
7a リード端子(トランジスタリード端子)
7b リード端子(リード端子)
7c〜7e リード端子(ICリード端子)
7f〜7h リード端子
9 AC電源入力端子
10 ダイオードブリッジ
11 トランス
12 DC出力端子
13 フィードバック回路
14 横型パワーMOSFET
15 縦型パワーMOSFET
21 導電性接着剤
22 貫通電極
31 ゲート電極(トランジスタ電極)
32 ドレイン電極(トランジスタ電極)
33 ソース電極(トランジスタ電極)
34 縦型パワーMOSFETの表面
35 縦型パワーMOSFETの裏面
41 出力電極(IC電極)
42 検出電極(IC電極)
43 電源電極(IC電極)
44 GND電極
61 ダイパッドの表面(第1の面)
62 ダイパッドの裏面(第2の面)
71〜81 ワイヤ
2 AC/DC電源
3 スイッチングトランジスタ
3a、3b スイッチングトランジスタチップ
4 制御IC
4a、4b 制御ICチップ
5 パッケージ
6 ダイパッド
7a リード端子(トランジスタリード端子)
7b リード端子(リード端子)
7c〜7e リード端子(ICリード端子)
7f〜7h リード端子
9 AC電源入力端子
10 ダイオードブリッジ
11 トランス
12 DC出力端子
13 フィードバック回路
14 横型パワーMOSFET
15 縦型パワーMOSFET
21 導電性接着剤
22 貫通電極
31 ゲート電極(トランジスタ電極)
32 ドレイン電極(トランジスタ電極)
33 ソース電極(トランジスタ電極)
34 縦型パワーMOSFETの表面
35 縦型パワーMOSFETの裏面
41 出力電極(IC電極)
42 検出電極(IC電極)
43 電源電極(IC電極)
44 GND電極
61 ダイパッドの表面(第1の面)
62 ダイパッドの裏面(第2の面)
71〜81 ワイヤ
Claims (21)
- オン・オフの時間比率が制御されることによって出力電圧又は出力電流を制御するスイッチングトランジスタチップと、
前記スイッチングトランジスタチップによって制御された出力電圧又は出力電流に基づいて、前記スイッチングトランジスタチップのオン・オフの時間比率を制御する制御ICチップと、
導電性材料から形成されており、第1の面及び前記第1の面の反対側に位置する第2の面を有するダイパッドと、
前記スイッチングトランジスタチップ、前記制御ICチップ及び前記ダイパッドを収納したパッケージと、
前記第1の面と同一の面に形成され、一部が前記パッケージから露出しているリード端子とを備える出力制御装置において、
前記第1の面に前記スイッチングトランジスタチップが配置されており、
前記第2の面に前記制御ICチップが配置されており、
前記ダイパッドは、前記リード端子と電気的に接続されていることを特徴とする出力制御装置。 - 前記スイッチングトランジスタチップに形成されているトランジスタ電極をさらに備え、
前記トランジスタ電極は、前記トランジスタ電極に対応し、前記リード端子と同一の面に形成され、一部が前記パッケージから露出しているトランジスタリード端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。 - 前記制御ICチップに形成されているIC電極をさらに備え、
前記IC電極は、前記IC電極に対応し、前記リード端子と同一の面に形成され、一部が前記パッケージから露出しているICリード端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。 - 前記スイッチングトランジスタチップに形成されているトランジスタ電極と、
前記制御ICチップに形成されているIC電極とをさらに備え、
前記IC電極は、前記トランジスタ電極に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。 - 前記スイッチングトランジスタチップを横型パワーMOSFETによって構成していることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 前記横型パワーMOSFETの基板電位が、ソース電極と同電位であることを特徴とする請求項5に記載の出力制御装置。
- 前記スイッチングトランジスタチップの裏面と、前記第1の面とを導電性接着剤で接着していることを特徴とする請求項6に記載の出力制御装置。
- 前記スイッチングトランジスタチップの表面にある前記ソース電極を、貫通電極を用いて裏面に導通させていることを特徴とする請求項7に記載の出力制御装置。
- 前記制御ICチップの基板電位がグランド電位であることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 前記制御ICチップの裏面と、前記第2の面とを導電性接着剤で接着していることを特徴とする請求項9に記載の出力制御装置。
- 前記制御ICチップの表面にあるグランド電極を、貫通電極を用いて裏面に導通させていることを特徴とする請求項10に記載の出力制御装置。
- 前記スイッチングトランジスタチップが、前記スイッチングトランジスタチップの表面にドレイン電極が形成され、前記スイッチングトランジスタチップの裏面にソース電極とゲート電極が形成されている縦型パワーMOSFETによって構成されており、
前記ソース電極が導電性接着剤によって前記第1の面に接着されていることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。 - 前記ゲート電極と、
前記制御ICチップの、前記ゲート電極を動作させる出力電極とが、金属細線を用いて直接接続されていることを特徴とする請求項12に記載の出力制御装置。 - 前記導電性接着剤が銀ペーストであることを特徴とする、請求項7、10、12のいずれか1項に記載の出力制御装置。
- 前記スイッチングトランジスタチップの裏面と前記第1の面とを絶縁性接着剤によって接着していることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 前記制御ICチップの裏面と前記第2の面とを絶縁性接着剤で接着していることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 前記絶縁性接着剤が絶縁性エポキシ樹脂であることを特徴とする請求項15または16に記載の出力制御装置。
- 前記ダイパッドの一端を延長し、前記リード端子を形成していることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 前記ダイパッドの材料が銅であることを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 前記スイッチングトランジスタチップは、AC/DC電源の出力電圧を制御することを特徴とする請求項1に記載の出力制御装置。
- 請求項1〜20のいずれか1項に記載の出力制御装置を備えることを特徴とする回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008062423A JP2009218475A (ja) | 2008-03-12 | 2008-03-12 | 出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置及び回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008062423A JP2009218475A (ja) | 2008-03-12 | 2008-03-12 | 出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置及び回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009218475A true JP2009218475A (ja) | 2009-09-24 |
Family
ID=41190041
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008062423A Pending JP2009218475A (ja) | 2008-03-12 | 2008-03-12 | 出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置及び回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009218475A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013509732A (ja) * | 2009-11-02 | 2013-03-14 | トランスフォーム インコーポレーテッド | 低emi回路のためのパッケージ構成 |
JP2013516795A (ja) * | 2010-01-08 | 2013-05-13 | トランスフォーム インコーポレーテッド | 高効率電源回路のための電子デバイスおよび部品 |
US9224721B2 (en) | 2012-02-24 | 2015-12-29 | Transphorm Inc. | Semiconductor power modules and devices |
US9590494B1 (en) | 2014-07-17 | 2017-03-07 | Transphorm Inc. | Bridgeless power factor correction circuits |
JP2018191011A (ja) * | 2011-04-04 | 2018-11-29 | ローム株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
US10200030B2 (en) | 2015-03-13 | 2019-02-05 | Transphorm Inc. | Paralleling of switching devices for high power circuits |
US10319648B2 (en) | 2017-04-17 | 2019-06-11 | Transphorm Inc. | Conditions for burn-in of high power semiconductors |
CN110417283A (zh) * | 2019-07-27 | 2019-11-05 | 山东晶导微电子股份有限公司 | 电源模块 |
CN112152484A (zh) * | 2019-06-28 | 2020-12-29 | 万国半导体国际有限合伙公司 | 应用于高功率密度充电的超快速瞬态响应交直流转换器 |
-
2008
- 2008-03-12 JP JP2008062423A patent/JP2009218475A/ja active Pending
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9190295B2 (en) | 2009-11-02 | 2015-11-17 | Transphorm Inc. | Package configurations for low EMI circuits |
JP2016096344A (ja) * | 2009-11-02 | 2016-05-26 | トランスフォーム インコーポレーテッド | 低emi回路のためのパッケージ構成 |
KR101737149B1 (ko) * | 2009-11-02 | 2017-05-17 | 트랜스폼 인크. | 낮은 emi 회로를 위한 전자 부품, 전자 부품 형성 방법, 어셈블리, 하프 브리지 및 브리지 회로 |
JP2013509732A (ja) * | 2009-11-02 | 2013-03-14 | トランスフォーム インコーポレーテッド | 低emi回路のためのパッケージ構成 |
JP2013516795A (ja) * | 2010-01-08 | 2013-05-13 | トランスフォーム インコーポレーテッド | 高効率電源回路のための電子デバイスおよび部品 |
US9401341B2 (en) | 2010-01-08 | 2016-07-26 | Transphorm Inc. | Electronic devices and components for high efficiency power circuits |
JP2018191011A (ja) * | 2011-04-04 | 2018-11-29 | ローム株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
US10770380B2 (en) | 2011-04-04 | 2020-09-08 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device |
US10573584B2 (en) | 2011-04-04 | 2020-02-25 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device |
US9741702B2 (en) | 2012-02-24 | 2017-08-22 | Transphorm Inc. | Semiconductor power modules and devices |
US9224721B2 (en) | 2012-02-24 | 2015-12-29 | Transphorm Inc. | Semiconductor power modules and devices |
US10063138B1 (en) | 2014-07-17 | 2018-08-28 | Transphorm Inc. | Bridgeless power factor correction circuits |
US9590494B1 (en) | 2014-07-17 | 2017-03-07 | Transphorm Inc. | Bridgeless power factor correction circuits |
US10200030B2 (en) | 2015-03-13 | 2019-02-05 | Transphorm Inc. | Paralleling of switching devices for high power circuits |
US10319648B2 (en) | 2017-04-17 | 2019-06-11 | Transphorm Inc. | Conditions for burn-in of high power semiconductors |
CN112152484A (zh) * | 2019-06-28 | 2020-12-29 | 万国半导体国际有限合伙公司 | 应用于高功率密度充电的超快速瞬态响应交直流转换器 |
CN112152484B (zh) * | 2019-06-28 | 2023-12-05 | 万国半导体国际有限合伙公司 | 应用于高功率密度充电的超快速瞬态响应交直流转换器 |
CN110417283A (zh) * | 2019-07-27 | 2019-11-05 | 山东晶导微电子股份有限公司 | 电源模块 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009218475A (ja) | 出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置及び回路装置 | |
USRE41869E1 (en) | Semiconductor device | |
US7109577B2 (en) | Semiconductor device and power supply system | |
JP4985810B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP7119842B2 (ja) | Mosトランジスタ内蔵基板及びこれを用いたスイッチング電源装置 | |
US7301235B2 (en) | Semiconductor device module with flip chip devices on a common lead frame | |
US20040135248A1 (en) | Semiconductor device | |
EP3832862B1 (en) | Power conversion device | |
JP2011100932A (ja) | 半導体パッケージ及びdc−dcコンバータ | |
US20200194405A1 (en) | Semiconductor device and power conversion device | |
JP4250191B2 (ja) | Dc/dcコンバータ用半導体装置 | |
JP4985809B2 (ja) | 半導体装置 | |
CN114072904A (zh) | 半导体装置 | |
JP4694539B2 (ja) | 出力制御装置、ならびに、これを用いたac/dc電源装置、回路装置、ledバックライト回路装置及びスイッチング型dc/dcコンバータ装置 | |
CN113039642B (zh) | 功率半导体装置 | |
JP2011199148A (ja) | 半導体装置 | |
JP2009206204A (ja) | 出力制御装置 | |
CN113224949A (zh) | 功率模块及电子系统 | |
US20130256905A1 (en) | Monolithic Power Converter Package with Through Substrate Vias | |
JP2010258366A (ja) | 半導体装置 | |
US20130257524A1 (en) | Monolithic Power Converter Package | |
JP4250193B2 (ja) | Dc/dcコンバータ用半導体装置 | |
JP2005150661A (ja) | 半導体装置及びその実装体 | |
JP2011181970A (ja) | 半導体装置 | |
US20160099198A1 (en) | Semiconductor package apparatus |