JP2009215619A - ケトンとの親和性に優れた銀微粉および銀インク - Google Patents
ケトンとの親和性に優れた銀微粉および銀インク Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸(C11H8O4)、あるいは没食子酸(C7H6O5)を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nm好ましくは1〜15nmの銀粒子が、20〜60質量%の銀濃度でケトンの液状媒体中に分散しており、液を撹拌後に静置したとき分散状態が少なくとも168時間維持される銀インク。特に、1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸/アセトフェノン、没食子酸/ソホロン、没食子酸/アセトフェノン、没食子酸/2−メチルシクロヘキサノンの組み合わせが好適である。
【選択図】図3
Description
(1)1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nm好ましくは1〜15nm(TEM観察により測定される平均粒子径DTEMで見ると、DTEM:3〜40nm好ましくは4〜15nm)の銀粒子、および没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nm好ましくは1〜15nm(平均粒子径DTEMで見ると、DTEM:3〜40nm好ましくは4〜15nm)の銀粒子の1種または2種が、アセトフェノン中に分散している銀インク。
(2)没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nm好ましくは1〜15nm(平均粒子径DTEMで見ると、DTEM:3〜40nm好ましくは4〜15nm)の銀粒子が、イソホロン中に分散している銀インク。
(3)没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nm好ましくは1〜15nm(平均粒子径DTEMで見ると、DTEM:3〜40nm好ましくは4〜15nm)の銀粒子が、2−メチルシクロヘキサノン中に分散している銀インク。
特許文献4に開示されるような湿式工程により、粒径の揃った銀ナノ粒子を合成することができる。この合成法は、アルコール中またはポリオール中で、アルコールまたはポリオールを還元剤として、銀化合物を還元処理することにより銀粒子を析出させるものである。ところが、発明者らのその後の研究によれば、より大量生産に適した合成法が見出され、本出願人は特願2007−264598に開示した。これは、銀化合物を1級アミンと2−オクタノールの混合液中に溶解させ、これを120〜180℃に保持することにより2−オクタノールの還元力を利用して銀粒子を析出させるものである。ここでは、この新たな合成法を簡単に例示する。
(i)アミンA/銀のモル比:1〜10、
(ii)2−オクタノール/銀のモル比:0.5〜15、
(iii)2−オクタノール/アミンAのモル比:0.3〜2
次に銀粒子に付着している保護材をアミンAから目的物質である有機化合物B(ここでは、1,4−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸、没食子酸の1種以上)に付け替える操作を行う。本発明の銀粒子の製造方法はこの工程を採用するところに特徴がある。
有機化合物Bとしてカルボキシル基を有するものを適用する。カルボキシル基は銀に吸着しやすい性質を有する。上記のアミンAは不飽和結合を有する分子量200〜400のアミンであり、銀に対する吸着力はカルボキシル基を持つ物質に比べ弱いと考えられる。したがって、アミンAに被覆された銀粒子の表面近傍に十分な量の有機化合物Bの分子が存在していると、銀表面からアミンAが脱着するとともに有機化合物Bが吸着しやすい状況となり、比較的容易に置換が進行する。
界面活性剤(金属Ag粒子表面の保護材)として、置換前の1級アミンAにはオレイルアミン、置換後の有機化合物Bには1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を使用し、下記工程により1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を吸着させてなる銀粒子を作成した。そして、この銀粒子をアセトフェノンに分散させた極めて分散性の良い銀インクの作成を試みた。
オレイルアミン(和光純薬株式会社製試薬)6009.2g、2−オクタノール(東京化成工業株式会社製試薬)2270.3g、硝酸銀結晶(関東化学株式会社製特級試薬)1495.6gを用意した。
2−オクタノールと、オレイルアミンと、硝酸銀結晶を混合して、硝酸銀が完全に溶解した液を作成した。配合は以下のとおりである。
・オレイルアミン/銀のモル比=2.5
・アルコール/銀のモル比=2.0
・アルコール/オレイルアミンのモル比=2.0/2.5=0.8
なお、洗浄前の上記スラリー500g中には金属Ag:約1モルが存在することが別途測定により判っている。
また、上記と同一の条件で作成した洗浄後の固形分から、オレイルアミンに被覆された置換前の銀微粉を回収し、昇温速度は10℃/minでTG−DTA測定を行った。そのDTA曲線の測定例を図1に示す。図1において、200〜300℃の間にある大きな山および300〜330℃の間にあるピークはアミンAであるオレイルアミンに起因するものであると考えられる。
銀粒子の固形分サンプルをガラス製セルに塗り、X線回折装置にセットし、Ag(111)面の回折ピークを用いて、下記(1)式に示すScherrerの式によりX線結晶粒径DXを求めた。X線にはCu−Kαを用いた。
Dx=K・λ/(β・cosθ) ……(1)
ただし、KはScherrer定数で、0.94を採用した。λはCu−Kα線のX線波長、βは上記回折ピークの半価幅、θは回折線のブラッグ角である。
銀粒子分散液を透過型電子顕微鏡(TEM)により観察し、重なっていない独立した300個の銀粒子の粒子径を計測して、平均粒子径を算出した。
有機化合物Bとして1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸(東京化成工業株式会社製試薬、分子量204.18)、極性溶媒Cとしてイソプロパノール(和光純薬株式会社製特級試薬、分子量60.1)を用意した。
1,4−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸56.8gと、イソプロパノール400gを混合して、液温を40℃に保ち、イソプロパノール中に1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を完全に溶解させた。この液456.8g中へ、アミンA(オレイルアミン)に被覆された銀粒子が存在している前記洗浄後の固形分(Agを約1モル(約100g)含有)を添加し、プロペラにて400rpmで撹拌した。この撹拌状態を維持しながら40℃で5時間保持した。この場合、Agに対する有機化合物Bの量は0.3当量となるように有機化合物Bの仕込量を調整してある。
このサンプルについて、前記の方法にてTG−DTA測定を行った。そのDTA曲線の測定例を図2に示す。図1(置換前)と図2(置換後)の対比から、保護材は、アミンA(オレイルアミン)のほぼ全量が脱着し、有機化合物B(1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸)に置き換わったものと考えられる。図4に1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を吸着させてなる銀粒子のTEM写真の一例を示す。
DTEMの算出に使用した個々の粒子の粒子径は、最小値Dminが6.59nm、最大値Dmaxが13.41nmであった。粒子径の標準偏差をσDとするとき、「σD/DTEM×100」の値をCV値と呼ぶ。この銀微粉のCV値は14.1%であった。CV値が小さいほど銀粒子の粒径は均一化されていると言える。銀インクの用途ではCV値が40%以下であることが望ましく、15%以下のものは非常に粒子径が揃っており、種々の微細配線用途に極めて好適である。
上記のようにして得られた銀微粉サンプル(メタノール洗浄後、未乾燥のもの)には、金属銀、保護材、および洗浄に使用したメタノールが含まれている。この銀微粉中の正味の銀含有量を以下の方法で求めた。
[1]銀微粉サンプルから分取した試料の質量W0(g)を測定する。
[2]メタノールを除去するために、試料を真空乾燥機を用いて室温で30分処理する。
[3]その後、試料をマッフル炉(ヤマト科学株式会社製;FO100型)により10℃/分の昇温速度で700℃まで加熱することにより保護材を揮発させ、揮発後の試料の質量W1(g)を測定する。
[4]銀微粉サンプル中の銀含有量(質量%)=W1/W0×100により算出される。
[1]銀インクから分取した分散液試料の質量W2(g)を測定する。
[2]その分散液試料をマッフル炉(ヤマト科学株式会社製;FO100型)により10℃/分の昇温速度で700℃まで加熱することにより保護材を揮発させ、揮発後の試料の質量W3(g)を測定する。
[3]銀インク中の銀濃度(質量%)=W3/W2×100により算出される。
本例では、銀インク中の銀濃度は36.62質量%であった。これは銀ナノ粒子を用いた導電塗膜の形成に十分適用可能な高濃度の銀インクである。
以下の式により求める。
インク化効率(%)=[銀インク中の銀濃度(質量%)]/[銀インク元液中の銀濃度(質量%)]×100=[銀インク中の銀濃度(質量%)]/50(質量%)×100
インク化効率は、極めて分散性に優れた銀粒子のみを回収する際の銀の歩留りに相当するものであり、高いほど望ましい。
本例では、インク化効率は73.2%と高く、これは工業化が十分可能な水準である。
次に、得られた銀インクの分散維持性を確認するため、上記銀インクを入れたガラス容器を軽く撹拌した後、前記の超音波洗浄機にて10分間の超音波分散処理を施して均一に分散させた状態とし、常温で168時間静置させた後に、液の濁りや沈降凝集の発生の有無を目視確認した。その結果、液面近くに透明な上澄み部分が形成されず、液全体が銀粒子の存在により濁っており、分散状態が維持されていることが確認された。また、容器の底には堆積している銀粒子は確認されなかった。
有機化合物Bを没食子酸(東京化成工業株式会社製試薬、分子量170.1)に変えたことを除き、実施例1と同様の実験を行った。すなわち本例では、没食子酸を吸着させてなる銀粒子を作成して、この銀粒子をアセトフェノンに分散させた極めて分散性の良い銀インクの作成を試みた。
銀インクの溶媒をイソホロンに変えたことを除き、実施例2と同様の実験を行った。すなわち本例では、没食子酸を吸着させてなる銀粒子を作成して、この銀粒子をイソホロンに分散させた極めて分散性の良い銀インクの作成を試みた。
銀インクの溶媒を2−メチルシクロヘキサノンに変えたことを除き、実施例2と同様の実験を行った。すなわち本例では、没食子酸を吸着させてなる銀粒子を作成して、この銀粒子を2−メチルシクロヘキサノンに分散させた極めて分散性の良い銀インクの作成を試みた。
Claims (8)
- 1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子で構成される、少なくともアセトフェノンとの親和性に優れた銀微粉。
- 没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子で構成される、少なくともイソホロン、アセトフェノンおよび2−メチルシクロヘキサノンとの親和性に優れた銀微粉。
- 1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子、および没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子の1種または2種が、アセトフェノン中に分散している銀インク。
- 没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子が、イソホロン中に分散している銀インク。
- 没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子が、2−メチルシクロヘキサノン中に分散している銀インク。
- 1,4−ジヒドロキシ−2−ナフトエ酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子、および没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子の1種または2種が、20〜60質量%の銀濃度でアセトフェノン中に分散している液状インクであって、液を撹拌後に静置したとき分散状態が少なくとも168時間維持される銀インク。
- 没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子が、20〜60質量%の銀濃度でイソホロン中に分散している液状インクであって、液を撹拌後に静置したとき分散状態が少なくとも168時間維持される銀インク。
- 没食子酸を表面に吸着させてなるX線結晶粒子径Dx:1〜40nmの銀粒子が、20〜60質量%の銀濃度で2−メチルシクロヘキサノン中に分散している液状インクであって、液を撹拌後に静置したとき分散状態が少なくとも168時間維持される銀インク。
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