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JP2009168714A - Test equipment - Google Patents

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JP2009168714A
JP2009168714A JP2008009102A JP2008009102A JP2009168714A JP 2009168714 A JP2009168714 A JP 2009168714A JP 2008009102 A JP2008009102 A JP 2008009102A JP 2008009102 A JP2008009102 A JP 2008009102A JP 2009168714 A JP2009168714 A JP 2009168714A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
measuring instrument
information
state
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008009102A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Teruaki Kajiyama
輝明 梶山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2008009102A priority Critical patent/JP2009168714A/en
Publication of JP2009168714A publication Critical patent/JP2009168714A/en
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a testing system capable of determining executable tests according to a tester state. <P>SOLUTION: A state information acquisition portion 222 receives state information and outputs it to a tester state table 264. A test item determining portion 226 receives test item information from an operation portion 206 and obtains information about available testers from a Tests and Available Testers table 262. A tester determining portion 228 accesses the tester state table 264 and checks whether the tester selected by the available tester information is available. The test item determining portion 226 determines whether all testers are available for test items. If any of the testers is not available, the display portion 208 displays "Test impossible" or the like. When all testers are available, a testing control portion 230 controls execution of testing. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、試験装置に関する。   The present invention relates to a test apparatus.

たとえば、特許文献1は、試験項目毎に必要な測定機能及び該当測定機能を有する測定器を記憶保持することによって、試験実施に必要な測定器を把握するための試験管理システムを開示する。
特開2003−283446号公報
For example, Patent Document 1 discloses a test management system for grasping a measuring instrument necessary for performing a test by storing and holding a measuring instrument having a necessary measuring function and a corresponding measuring function for each test item.
JP 2003-283446 A

本発明は、上述した背景からなされたものであり、測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断できる試験装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made from the above-described background, and an object thereof is to provide a test apparatus that can determine a test that can be performed based on the state of a measuring instrument.

上記目的を達成するために、本発明に係る試験装置は、試験対象の装置に対する1つ以上の試験項目を受け入れる試験項目受入手段と、複数の測定器の状態に関する情報を取得する状態取得手段と、前記測定器の状態に基づいて、前記測定器それぞれが前記受け入れられた試験項目の試験を実行可能か否かを判断する試験判断手段と、前記試験判断手段の判断結果を表示する表示手段と、前記試験対象の装置に対して、前記試験判断手段によって実行可能と判断された試験を、前記試験項目の試験を実行可能な測定器の1つ以上を用いて実行する試験実行手段を有する。   In order to achieve the above object, a test apparatus according to the present invention includes a test item receiving unit that receives one or more test items for a test target device, a state acquisition unit that acquires information on the states of a plurality of measuring devices, and Test determination means for determining whether each of the measurement instruments can execute the test of the accepted test item based on the state of the measurement instrument; and display means for displaying a determination result of the test determination means; And a test execution means for executing a test determined to be executable by the test determination means on the device to be tested using one or more measuring instruments capable of executing the test of the test item.

本発明によれば、測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断することが可能な試験装置を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the test apparatus which can judge the test which can be performed based on the state of a measuring device can be provided.

[本発明の背景]
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。
従来、たとえば、試験を実行する際、試験に用いる測定器が定期校正などにより存在しない場合、または測定器の電源投入がされていない場合等には、測定器からの測定値が正しく計れていないと判断されてしまう。
そのため、従来では、実施中の試験が正常に行われていないと判断され、その試験項目は不良と判断されてしまい、そのため、操作者が再度当該試験を行う必要が生じ、試験時間が増大してしまう。
このような背景から、測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断できる試験装置が望まれる。
[Background of the present invention]
In order to help understanding of the present invention, first, the background that led to the present invention will be described.
Conventionally, for example, when a test is executed, if the measuring instrument used for the test does not exist due to periodic calibration, or if the measuring instrument is not turned on, the measured value from the measuring instrument is not measured correctly. It will be judged.
For this reason, conventionally, it is determined that the test being performed is not normally performed, and the test item is determined to be defective. Therefore, the operator needs to perform the test again, which increases the test time. End up.
From such a background, a test apparatus capable of determining a test that can be executed based on the state of the measuring instrument is desired.

[本発明の実施形態]
以下、本発明の実施形態について、図面を参照にして説明する。
図1は、本発明の実施形態にかかる試験システム1の構成を示す図である。
図1に示すように、試験システム1は、試験装置2、測定器120−1〜120−n、および、専用試験器130−1〜130−m(n,mは1以上の整数。但し、n,mがそれぞれ常に同じ数とは限らない)が、ネットワーク100を介して接続されて構成されている。
また、試験装置2には、接続部102を介して被試験器110が接続されている。
Embodiment of the present invention
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a test system 1 according to an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1, the test system 1 includes a test apparatus 2, measuring instruments 120-1 to 120-n, and dedicated testers 130-1 to 130-m (n and m are integers of 1 or more, provided that n and m are not always the same number), and are connected via the network 100.
In addition, the device under test 110 is connected to the test apparatus 2 via the connection unit 102.

なお、以下の各図において、図示の具体化および明確化のために、本発明の説明に必要ない構成部分が、適宜、省略される。
さらに、以下、測定器120−1〜120−nなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示す場合には、単に測定器120などと略記することがある。
In the following drawings, components that are not necessary for the description of the present invention are omitted as appropriate for the illustration and clarification.
Furthermore, in the following, when any of a plurality of components such as the measuring instruments 120-1 to 120-n is indicated without being specified, the measuring instrument 120 may be simply abbreviated.

また、図1に示した試験システム1を構成する装置のうち、任意の2つ以上は、適宜、一体に構成されうる。
また、ある1つの装置において実現される複数の機能が、それぞれ別々の装置において実現されるようにしてもよいし、図1に示されていない装置において実現されるようにしてもよい。
また、試験装置2は、図1では1つとしたが、複数あってもよい。
Also, any two or more of the devices constituting the test system 1 shown in FIG. 1 can be appropriately integrated.
In addition, a plurality of functions realized in a certain apparatus may be realized in separate apparatuses, or may be realized in an apparatus not shown in FIG.
Further, although the number of test apparatuses 2 is one in FIG. 1, there may be a plurality of test apparatuses.

ネットワーク100は、たとえば、LAN(Local Area Network)であり、GP−IB(General Purpose Interface Bus)またはRS−232Cなどの規格準拠のLANを用いてもよい。
試験装置2は、測定器120および専用試験器130を用いて、被試験器110に対して所定の試験を実行する。
また、試験装置2は、ネットワーク100を介して測定器120および専用試験器130と通信を行うように構成されている。
The network 100 is, for example, a LAN (Local Area Network), and a LAN conforming to a standard such as GP-IB (General Purpose Interface Bus) or RS-232C may be used.
The test apparatus 2 performs a predetermined test on the device under test 110 using the measuring device 120 and the dedicated tester 130.
The test apparatus 2 is configured to communicate with the measuring instrument 120 and the dedicated tester 130 via the network 100.

被試験器110は、たとえば無線機であって、試験装置2によって実行される試験の対象となる。
測定器120は、たとえば、標準信号発生器および位相検波器であって、試験装置2が実行する試験で使用される。
専用試験器130は、試験装置2によって実行される所定の試験のためだけに使用される専用の試験器である。
The device under test 110 is a wireless device, for example, and is a target of a test executed by the test apparatus 2.
The measuring device 120 is, for example, a standard signal generator and a phase detector, and is used in a test performed by the test apparatus 2.
The dedicated tester 130 is a dedicated tester used only for a predetermined test executed by the test apparatus 2.

図2は、図1に示した試験装置2の構成を示す図である。
図2に示すように、試験装置2は、通信インターフェース(IF)202、被試験器IF204、操作部206、表示部208、測定処理部22およびデータベース26から構成される。
測定処理部22は、状態情報取得部222、状態検出部224、試験項目判断部226、測定器判断部228、試験実行制御部230および試験結果取得部232から構成される。
データベース26は、試験別使用測定器テーブル262および測定器状態テーブル264を含む。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the test apparatus 2 shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the test apparatus 2 includes a communication interface (IF) 202, a device under test IF 204, an operation unit 206, a display unit 208, a measurement processing unit 22, and a database 26.
The measurement processing unit 22 includes a state information acquisition unit 222, a state detection unit 224, a test item determination unit 226, a measuring instrument determination unit 228, a test execution control unit 230, and a test result acquisition unit 232.
The database 26 includes a test-use measuring instrument table 262 and a measuring instrument state table 264.

なお、測定処理部22およびデータベース26は、ハードウエアで構成することによって実現可能であるが、試験装置2がコンピュータである場合は、このコンピュータに組み込まれたソフトウエアで構成することによっても実現可能である。
図3は、図1に示した試験装置2がコンピュータである場合のハードウエア構成を例示する図である。
図3示すように、試験装置2は、CPU152およびメモリ154などを含む本体150、キーボードおよび表示装置などを含む入出力装置156、他の装置との通信を行う通信装置158、および、CD装置およびHDD装置など、記録媒体162に対するデータの記録および再生を行う記録装置160から構成される。
つまり、試験装置2は、情報処理および他の装置との通信が可能なコンピュータとしてのハードウエア構成部分を有している。
The measurement processing unit 22 and the database 26 can be realized by configuring with hardware, but when the test apparatus 2 is a computer, it can also be realized by configuring with software incorporated in the computer. It is.
FIG. 3 is a diagram illustrating a hardware configuration when the test apparatus 2 illustrated in FIG. 1 is a computer.
As shown in FIG. 3, the test apparatus 2 includes a main body 150 including a CPU 152 and a memory 154, an input / output device 156 including a keyboard and a display device, a communication device 158 for communicating with other devices, a CD device, It comprises a recording device 160 that records and reproduces data to and from the recording medium 162, such as an HDD device.
That is, the test apparatus 2 has a hardware component as a computer capable of information processing and communication with other apparatuses.

測定処理部22およびデータベース26は、たとえば、記憶媒体162を介して試験装置2に供給され、メモリ154にロードされ、試験装置2にインストールされたOS上で、試験装置2のハードウエア資源を具体的に利用して実行される。
なお、この場合、操作部206および表示部208は入出力装置156によって実現されるようにしてもよいし、通信IF202および被試験器IF204は通信装置158によって実現されるようにしてもよい。
For example, the measurement processing unit 22 and the database 26 specify hardware resources of the test apparatus 2 on the OS supplied to the test apparatus 2 via the storage medium 162, loaded into the memory 154, and installed in the test apparatus 2. It is executed by using it.
In this case, the operation unit 206 and the display unit 208 may be realized by the input / output device 156, and the communication IF 202 and the device under test IF 204 may be realized by the communication device 158.

試験装置2(図2)において、通信IF202は、ネットワーク100を介して測定器120および専用試験器130との間で通信を行うために必要な処理を行う。
被試験器IF204は、接続部102を介して被試験器110との間で試験の実行に必要な信号を送受信するために必要な処理を行う。
操作部206は、たとえばキーボードなどであって、操作者の操作を受け入れて、測定処理部22およびデータベース26に対して出力する。
また、操作部206は、操作者の操作によって入力された、各試験で用いられる測定器120の情報を受け入れ、試験別使用測定器テーブル262に対して出力する。
In the test apparatus 2 (FIG. 2), the communication IF 202 performs processing necessary for performing communication between the measuring instrument 120 and the dedicated tester 130 via the network 100.
The device under test 204 performs processing necessary for transmitting / receiving a signal necessary for executing the test to / from the device under test 110 via the connection unit 102.
The operation unit 206 is a keyboard, for example, and accepts the operation of the operator and outputs it to the measurement processing unit 22 and the database 26.
In addition, the operation unit 206 receives information on the measuring instrument 120 used in each test, which is input by an operator's operation, and outputs the information to the test-use measuring instrument table 262.

図4は、試験別使用測定器テーブル262に格納される情報を例示する図である。
図4において、試験#1〜試験#mは、被試験器110に対して実行される試験項目を示し、測定器#1〜測定器#nは、各試験で用いられる測定器を示す。
ここで、図4の例においては、試験#1では測定器#1が使用され、試験#2では測定器#2が使用され、試験#3では測定器#3が使用され、試験#4では測定器#2が使用され、試験#mでは測定器#nが使用される。
FIG. 4 is a diagram illustrating information stored in the test-by-test measuring instrument table 262.
In FIG. 4, test # 1 to test #m indicate test items executed on the device under test 110, and measuring instrument # 1 to measuring instrument #n indicate measuring instruments used in each test.
Here, in the example of FIG. 4, the measuring instrument # 1 is used in the test # 1, the measuring instrument # 2 is used in the test # 2, the measuring instrument # 3 is used in the test # 3, and in the test # 4. Measuring instrument # 2 is used, and measuring instrument #n is used in test #m.

図5は、図4に示した情報の具体例を例示する図である。
図5に示した具体例において、たとえば、送信出力試験およびTONE送信試験では標準信号発生器が使用され、占有周波数帯幅試験および送信スプリアス試験では位相検波器が使用され、受話出力レベル試験および受話出力ひずみ率試験では電力計が使用される。
この試験別使用測定器テーブル262は、被試験器110ごとに設けるようにしてもよい。
FIG. 5 is a diagram illustrating a specific example of the information illustrated in FIG.
In the example shown in FIG. 5, for example, a standard signal generator is used in the transmission power test and the TONE transmission test, and a phase detector is used in the occupied frequency bandwidth test and the transmission spurious test. A power meter is used in the output distortion test.
The test-use measuring instrument table 262 may be provided for each device under test 110.

操作部206(図2)は、操作者の操作によって入力された測定器の状態を示す情報(状態情報)を受け入れ、状態情報取得部222に対して出力する。
この状態情報は、各測定器120が使用可能か否かを示す情報を含むようにしてもよいし、各測定器120が使用不可であることを示す情報のみを含むようにしてもよい。
The operation unit 206 (FIG. 2) receives information (state information) indicating the state of the measuring instrument input by the operator's operation, and outputs the information to the state information acquisition unit 222.
This state information may include information indicating whether or not each measuring instrument 120 is usable, or may include only information indicating that each measuring instrument 120 is unusable.

状態検出部224は、通信IF202およびネットワーク100を介して各測定器120に対して信号を送信し、その信号の応答を各測定器120から受信することによって、各測定器120の状態を検出する。
なお、状態検出部224は、各測定器120に対して通信コマンド信号を送信して、通信の有無を検出するようにしてもよく、各測定器120の電源投入状態を検出するようにしてもよい。
さらに、状態検出部224は、検出した各測定器120の状態に基づいて状態情報を生成し、状態情報取得部222に対して出力する。
状態情報取得部222は、操作部206および状態検出部224から受け入れた状態情報を、測定器状態テーブル264に対して出力する。
The state detection unit 224 detects a state of each measuring instrument 120 by transmitting a signal to each measuring instrument 120 via the communication IF 202 and the network 100 and receiving a response of the signal from each measuring instrument 120. .
The state detector 224 may transmit a communication command signal to each measuring instrument 120 to detect the presence / absence of communication, or may detect the power-on state of each measuring instrument 120. Good.
Further, the state detection unit 224 generates state information based on the detected state of each measuring instrument 120 and outputs the state information to the state information acquisition unit 222.
The state information acquisition unit 222 outputs the state information received from the operation unit 206 and the state detection unit 224 to the measuring instrument state table 264.

図6は、測定器状態テーブル264に格納される情報を例示する図である。
図6の例においては、測定器#1、測定器#2、測定器#nは使用可能状態であり、測定器#3は使用不可状態である。
ここで、使用不可状態とは、たとえば、各測定器120の電源がオフになっている状態、または試験装置2と各測定器120との接続が断絶している状態など、各測定器120が試験に使用され得ない状態である。
FIG. 6 is a diagram illustrating information stored in the measuring instrument state table 264.
In the example of FIG. 6, measuring instrument # 1, measuring instrument # 2, and measuring instrument #n are in a usable state, and measuring instrument # 3 is in an unusable state.
Here, the unusable state means that each measuring instrument 120 is in a state where, for example, the power of each measuring instrument 120 is turned off or the connection between the test apparatus 2 and each measuring instrument 120 is broken. It cannot be used for testing.

図7は、図6に示した情報の具体例を例示する図である。
図7に示した具体例において、標準信号発生器、位相検波器、スペクトル分析器、低周波分析器、誤り率測定器およびデジタル電圧計が使用可能であり、電力計が使用不可状態である。
この測定器状態テーブル264によって、各測定器120が使用可能か否かを判断することができ、したがって、各試験が実行可能であるか否かを判断することができる。
FIG. 7 is a diagram illustrating a specific example of the information illustrated in FIG.
In the specific example shown in FIG. 7, a standard signal generator, a phase detector, a spectrum analyzer, a low frequency analyzer, an error rate measuring device, and a digital voltmeter can be used, and the wattmeter is disabled.
From this meter state table 264, it can be determined whether each meter 120 can be used, and therefore whether each test can be performed can be determined.

操作部206(図2)は、操作者の操作によって入力された試験項目に関する情報(試験項目情報)を受け入れ、試験項目判断部226に対して出力する。
この操作者の操作によって入力された試験項目情報は、試験を実行するように選択された試験項目に関する情報である。
試験項目判断部226は、操作部206から試験項目情報を受け入れる。
また、試験項目判断部226は、試験別使用測定器テーブル262から、試験項目情報に示される試験項目それぞれで使用する測定器の情報(使用測定器情報)を取得する。
さらに、試験項目判断部226は、取得した使用測定器情報を、試験項目ごとに、測定器判断部228に対して出力する。
The operation unit 206 (FIG. 2) receives information (test item information) related to the test item input by the operation of the operator, and outputs it to the test item determination unit 226.
The test item information input by the operator's operation is information related to the test item selected to execute the test.
The test item determination unit 226 accepts test item information from the operation unit 206.
In addition, the test item determination unit 226 acquires information on measuring devices (used measuring device information) used for each test item indicated in the test item information from the test-specific used measuring device table 262.
Further, the test item determination unit 226 outputs the acquired use measuring device information to the measuring device determination unit 228 for each test item.

測定器判断部228は、測定器状態テーブル264にアクセスして、使用測定器情報に対応する測定器が使用可能か否か判断し、判断結果を試験項目判断部226に対して出力する。
試験項目判断部226は、各試験項目で使用する測定器が全て使用可能か否か判断し、全て使用可能であれば、その試験項目情報を試験実行制御部230に対して出力し、1つでも使用不可の測定器があれば、その試験項目情報を表示部208に対して出力する。
The measuring device determination unit 228 accesses the measuring device state table 264, determines whether or not the measuring device corresponding to the used measuring device information is usable, and outputs the determination result to the test item determination unit 226.
The test item determination unit 226 determines whether or not all the measuring instruments used for each test item can be used. If all the measurement devices are usable, the test item determination unit 226 outputs the test item information to the test execution control unit 230 and outputs one test item. However, if there is a measuring instrument that cannot be used, the test item information is output to the display unit 208.

試験装置2は、各試験で使用される全ての測定器が使用可能でないと、その試験を正常に実行できない。
したがって、表示部208は、試験項目情報を受け入れると、「試験実行不可能」などといった表示を行う。
たとえば、図4および図6の例では、測定器#3が使用不可なので、測定器#3を使用する試験#3が実行不可能である旨の表示がなされる。
この表示部208の表示によって、操作者は、実行不可能の試験を把握することができる。
The test apparatus 2 cannot properly execute the test unless all the measuring instruments used in each test are usable.
Accordingly, when the display unit 208 accepts the test item information, the display unit 208 performs a display such as “test cannot be executed”.
For example, in the example of FIGS. 4 and 6, since the measuring instrument # 3 cannot be used, a display indicating that the test # 3 using the measuring instrument # 3 cannot be performed is displayed.
The display on the display unit 208 allows the operator to grasp the test that cannot be executed.

試験実行制御部230は、試験項目情報を受け入れると、その情報に対応する試験を実行するための制御を行う。
具体的には、試験実行制御部230は、その試験で使用される測定器120および専用試験器130に対して、試験を実行するための制御信号を送信する。
また、試験実行制御部230は、被試験器110に対して、試験を実行するための試験信号を送信する。
この制御によって、測定器120および専用試験器130は、被試験器110に対して試験を実行することができる。
When the test execution control unit 230 receives the test item information, the test execution control unit 230 performs control for executing a test corresponding to the information.
Specifically, the test execution control unit 230 transmits a control signal for executing a test to the measuring instrument 120 and the dedicated tester 130 used in the test.
Further, the test execution control unit 230 transmits a test signal for executing a test to the device under test 110.
By this control, the measuring instrument 120 and the dedicated tester 130 can execute a test on the device under test 110.

さらに、試験実行制御部230は、測定器120、専用試験器130および被試験器110から応答信号を受信し、その応答信号に基づいて、試験結果を示す情報(試験結果情報)を生成する。
また、試験実行制御部230は、生成した試験結果情報を、試験結果取得部232に対して出力する。
なお、試験実行制御部230は、試験別使用測定器テーブル262を参照して試験実行制御を行うようにしてもよい。
Further, the test execution control unit 230 receives response signals from the measuring instrument 120, the dedicated tester 130, and the device under test 110, and generates information (test result information) indicating test results based on the response signals.
In addition, the test execution control unit 230 outputs the generated test result information to the test result acquisition unit 232.
Note that the test execution control unit 230 may perform test execution control with reference to the test-specific use measuring device table 262.

試験結果取得部232は、受け入れた試験結果情報を、表示部208に対して出力する。
表示部208は、試験結果情報に基づいて、各試験結果を表示する。
この表示部208の表示によって、操作者は、実行された試験の結果を把握することができる。
The test result acquisition unit 232 outputs the received test result information to the display unit 208.
The display unit 208 displays each test result based on the test result information.
By the display on the display unit 208, the operator can grasp the result of the executed test.

図8Aおよび図8Bは、測定処理部22の処理(S10)を示すフローチャートである。
図8Aおよび図8Bに示すように、ステップ100(S100)において、測定処理部22は、操作部206から、使用しない測定器120の情報を取得し、測定器状態テーブル264において「使用不可」となるように処理する。
ステップ102(S102)において、測定処理部22は、操作部206から、選択された試験項目情報を取得する。
ステップ104(S104)において、測定処理部22は、試験別使用測定器テーブル262から、選択された各試験で使用する測定器120の情報を取得する。
ステップ106(S106)において、測定処理部22は、測定器状態テーブル264から、使用する測定器120の状態情報を取得する。
8A and 8B are flowcharts showing the process (S10) of the measurement processing unit 22.
As shown in FIGS. 8A and 8B, in step 100 (S100), the measurement processing unit 22 acquires information on the measuring instrument 120 that is not used from the operation unit 206, and displays “unusable” in the measuring instrument state table 264. Process as follows.
In step 102 (S102), the measurement processing unit 22 acquires the selected test item information from the operation unit 206.
In step 104 (S104), the measurement processing unit 22 acquires information on the measuring instrument 120 used in each selected test from the test-by-test measuring instrument table 262.
In step 106 (S106), the measurement processing unit 22 acquires the status information of the measuring instrument 120 to be used from the measuring instrument status table 264.

ステップ108(S108)において、測定処理部22は、各試験で使用する全ての測定器120が使用可能か否かを判断し、全て使用可能であればS112に進み、そうでなければS110に進む。
ステップ110(S110)において、測定処理部22は、表示部208に対して「試験実行不可能」と表示するように処理して、S112に進む。
ステップ112(S112)において、測定処理部22は、選択された全ての試験について実行の可否を判断したか否かを判断し、そうであればS114に進み、そうでなければS104に戻る。
In step 108 (S108), the measurement processing unit 22 determines whether or not all the measuring instruments 120 used in each test are usable. If all the measuring instruments 120 are usable, the process proceeds to S112, and if not, the process proceeds to S110. .
In step 110 (S110), the measurement processing unit 22 performs a process so as to display “test is not possible” on the display unit 208, and proceeds to step S112.
In step 112 (S112), the measurement processing unit 22 determines whether or not execution of all the selected tests has been determined. If so, the process proceeds to S114, otherwise returns to S104.

ステップ114(S114)において、測定処理部22は、実行する試験項目を選択する。
ステップ116(S116)において、測定処理部22は、ネットワーク100を介して測定器120の状態を検出する。
ステップ118(S118)において、測定処理部22は、測定器120が使用可能状態か否かを判断し、使用可能状態であればS112に進み。そうでなければS120に進む。
ステップ120(S120)において、測定処理部22は、測定器状態テーブル264において「使用不可」とするように処理して、S122に進む。
ステップ122(S122)において、測定処理部22は、全ての測定器120について検出したか否かを判断し、そうであればS124に進み、そうでなければS116に戻る。
In step 114 (S114), the measurement processing unit 22 selects a test item to be executed.
In step 116 (S116), the measurement processing unit 22 detects the state of the measuring device 120 via the network 100.
In step 118 (S118), the measurement processing unit 22 determines whether or not the measuring instrument 120 is in a usable state, and if it is in a usable state, the process proceeds to S112. Otherwise, the process proceeds to S120.
In step 120 (S120), the measurement processing unit 22 performs processing so as to set “unusable” in the measuring instrument state table 264, and proceeds to S122.
In step 122 (S122), the measurement processing unit 22 determines whether or not all the measuring devices 120 have been detected. If so, the process proceeds to S124, otherwise returns to S116.

ステップ124(S124)において、測定処理部22は、測定器状態テーブル264を参照して、試験で使用する全ての測定器120が使用可能か否かを判断し、そうであればS128に進み、そうでなければS126に進む。
ステップ126(S126)において、測定処理部22は、表示部208に対して「試験実行不可能」と表示するように処理して、S130に進む。
ステップ128(S128)において、測定処理部22は、試験を実行する。
ステップ130(S130)において、測定処理部22は、全ての試験が終了したか否かを判断し、そうでなければS132に進み、そうであれば処理を終了する。
ステップ132(S132)において、測定処理部22は、次の試験の準備を行い、S114に戻る。
In step 124 (S124), the measurement processing unit 22 refers to the measuring instrument state table 264 to determine whether or not all the measuring instruments 120 used in the test are usable. If so, the process proceeds to S128. Otherwise, the process proceeds to S126.
In step 126 (S126), the measurement processing unit 22 performs processing so as to display “test execution impossible” on the display unit 208, and proceeds to S130.
In step 128 (S128), the measurement processing unit 22 executes a test.
In step 130 (S130), the measurement processing unit 22 determines whether or not all tests have been completed. If not, the process proceeds to S132, and if so, the process ends.
In step 132 (S132), the measurement processing unit 22 prepares for the next test, and returns to S114.

なお、図8Aおよび図8Bに示した各処理の順序などは、適宜、変更しても構わない。
たとえば、S116〜S122の処理を、S102とS104との間などで行ってもよいし、あるいは、S128の最中に行うようにしてもよい。
Note that the order of the processes shown in FIGS. 8A and 8B may be changed as appropriate.
For example, the processing of S116 to S122 may be performed between S102 and S104, or may be performed during S128.

図9は、本発明の第2の実施形態にかかる第2の試験システム3の構成を示す図である。
図9に示すように、第2の試験システム3は、制御PC4−1〜4−X(Xは1以上の整数)、測定器120−1〜120−n、および、専用試験器130−1〜130−mが、ネットワーク100を介して接続されて構成されている。
さらに、制御PC4−1〜4−Xは、それぞれ、LANなどのネットワーク300を介して接続されている。
また、制御PC4−1には、接続部102を介して被試験器110が接続されている。
なお、図9に示す第2の試験システム3の内、図1に示した試験システム1の構成部分と実質的に同一のものには、同一の符号が付してある。
FIG. 9 is a diagram showing the configuration of the second test system 3 according to the second embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 9, the second test system 3 includes control PCs 4-1 to 4-X (X is an integer equal to or greater than 1), measuring devices 120-1 to 120-n, and a dedicated tester 130-1. ... To 130 -m are connected via the network 100.
Further, the control PCs 4-1 to 4-X are connected via a network 300 such as a LAN.
Further, the device under test 110 is connected to the control PC 4-1 via the connection unit 102.
Note that, in the second test system 3 shown in FIG. 9, components that are substantially the same as the components of the test system 1 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

制御PC4は、図3に示したような、CPUなどの処理装置、メモリ、およびハードディスクなどを有するコンピュータである。
また、制御PC4は、上述した試験装置2の機能を、制御PC4自身に組み込まれたプログラムによって実現する。
なお、制御PC4−1以外の他の制御PC4にも被試験器110を接続するようにしてもよい。
このように、複数の制御PC4−1〜4−Xを設けることによって、複数の試験を同時に実行できるので、試験の効率をより向上させることができる。
The control PC 4 is a computer having a processing device such as a CPU, a memory, and a hard disk as shown in FIG.
In addition, the control PC 4 realizes the functions of the test apparatus 2 described above by a program incorporated in the control PC 4 itself.
Note that the device under test 110 may be connected to a control PC 4 other than the control PC 4-1.
As described above, by providing a plurality of control PCs 4-1 to 4-X, a plurality of tests can be executed simultaneously, so that the efficiency of the tests can be further improved.

上述したように、本実施形態にかかるシステムは、操作者が選択する試験項目のうち、測定器の状態により実施不可能な試験項目に関しては、あらかじめ試験実施の対象から除外することによって、試験実施時間の短縮が可能となり、作業効率を向上させることができる。   As described above, in the system according to the present embodiment, the test items that cannot be performed due to the state of the measuring instrument among the test items selected by the operator are excluded from the target of the test in advance. Time can be shortened and work efficiency can be improved.

本発明は、試験システムに利用可能である。   The present invention is applicable to a test system.

本発明の実施形態にかかる試験システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the test system concerning embodiment of this invention. 図1に示した試験装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the test apparatus shown in FIG. 図1に示した試験装置がコンピュータである場合のハードウエア構成を例示する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a hardware configuration when the test apparatus illustrated in FIG. 1 is a computer. 試験別使用測定器テーブルに格納される情報を例示する図である。It is a figure which illustrates the information stored in the use measuring device table classified by test. 図4に示した情報の具体例を例示する図である。It is a figure which illustrates the specific example of the information shown in FIG. 測定器状態テーブルに格納される情報を例示する図である。It is a figure which illustrates the information stored in a measuring device state table. 図6に示した情報の具体例を例示する図である。It is a figure which illustrates the specific example of the information shown in FIG. 測定処理部の処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process of a measurement process part. 測定処理部の処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process of a measurement process part. 本発明の第2の実施形態にかかる第2の試験システム3の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the 2nd test system 3 concerning the 2nd Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・試験システム,
100・・・ネットワーク,
102・・・接続部,
110・・・被試験器,
120・・・測定器,
130・・・専用試験器,
2・・・試験装置,
202・・・通信IF,
204・・・被試験器IF,
206・・・操作部,
208・・・表示部,
22・・・測定処理部,
222・・・状態情報取得部,
224・・・状態検出部,
226・・・試験項目判断部,
228・・・測定器判断部,
230・・・試験実行制御部,
232・・・試験結果取得部,
26・・・データベース,
262・・・試験別使用測定器テーブル,
264・・・測定器状態テーブル,
3・・・第2の試験システム,
300・・・ネットワーク,
4・・・制御PC,
1 ... Test system,
100 ... Network,
102 ... connection part,
110: device under test,
120 ... measuring instrument,
130 ... dedicated tester,
2 ... Test equipment,
202 ... Communication IF,
204... Device under test IF,
206 ... operation unit,
208 ... display section,
22: Measurement processing unit,
222 ... Status information acquisition unit,
224 ... a state detection unit,
226 ... Test item judgment section,
228 ... Measuring device judgment unit,
230 ... test execution control unit,
232 ... Test result acquisition unit,
26 ... Database,
262 ... Measuring instrument table used by test,
264 ... Measuring instrument state table,
3 ... second test system,
300 ... Network,
4 ... Control PC,

Claims (1)

試験対象の装置に対する1つ以上の試験項目を受け入れる試験項目受入手段と、
複数の測定器の状態に関する情報を取得する状態取得手段と、
前記測定器の状態に基づいて、前記測定器それぞれが前記受け入れられた試験項目の試験を実行可能か否かを判断する試験判断手段と、
前記試験判断手段の判断結果を表示する表示手段と、
前記試験対象の装置に対して、前記試験判断手段によって実行可能と判断された試験を、前記試験項目の試験を実行可能な測定器の1つ以上を用いて実行する試験実行手段と
を有する試験装置。
A test item receiving means for receiving one or more test items for the device under test;
Status acquisition means for acquiring information on the status of a plurality of measuring instruments;
A test judging means for judging whether or not each of the measuring instruments can execute the test of the accepted test item, based on the state of the measuring instrument;
Display means for displaying the judgment result of the test judgment means;
A test execution means for executing a test determined to be executable by the test determination means on the device to be tested using one or more measuring instruments capable of executing the test of the test item. apparatus.
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