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JP2009126764A - γ−Ga2O3の製造方法及びγ−Ga2O3 - Google Patents

γ−Ga2O3の製造方法及びγ−Ga2O3 Download PDF

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JP2009126764A JP2007305856A JP2007305856A JP2009126764A JP 2009126764 A JP2009126764 A JP 2009126764A JP 2007305856 A JP2007305856 A JP 2007305856A JP 2007305856 A JP2007305856 A JP 2007305856A JP 2009126764 A JP2009126764 A JP 2009126764A
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Shigeo Ohira
重男 大平
Noriyoshi Shishido
統悦 宍戸
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Abstract

【課題】安定構造のβ-Ga23を変化させてγ-Ga23を得るγ-Ga23の製造方法と、安定構造のβ-Ga23を変化させて得たγ-Ga23を提供する。
【解決手段】アルカリ水溶液の存在下、β-Ga23を温度200℃以上及び圧力10MPa以上の高温高圧条件で保持することで、γ-Ga23に変化させることを特徴とするγ-Ga23の製造方法であり、また、アルカリ水溶液の存在下、β-Ga23を温度200℃以上及び圧力10MPa以上の高温高圧条件で保持して得たことを特徴とするγ-Ga23である。
【選択図】なし

Description

この発明は、ガンマ型構造を有する酸化ガリウム(γ-Ga2O3)の製造方法、及びγ-Ga23に関する。
酸化ガリウム(Ga2O3)は、酸化アルミニウム(Al2O3)と同様に結晶多形が存在し、結晶構造の異なるα、β、γ、δ、εの5つが知られている(非特許文献1参照)。このうち、安定構造であるベータ型の酸化ガリウム(β-Ga2O3)は単斜晶系に属し、β-gallia構造と呼ばれる結晶構造をとる。一方、β-Ga23以外は低温で準安定であり、アルファ型の酸化ガリウム(α-Ga2O3)は三方晶系に属してサファイアと同じcorundum構造をとる。また、ガンマ型の酸化ガリウム(γ-Ga2O3)はγ-Al23と同様にspinel構造をとる。
安定構造であるβ-Ga23については、既に酸素センサー、電界効果型トランジスター(FET)、深紫外受光素子、透明導電膜、GaN系FETのゲート材料、GaN薄膜成長用基板等の各種応用が検討されている。また、α-Ga23については蛍光体への応用が研究されている。
これに対し、γ-Ga23は、ガスセンサー、触媒、Mn添加による強磁性体膜への応用等が知られており、近時では、量子ドットの作製により青色−緑色発光を肉眼で観察した結果が報告されているものの、β-Ga23やα-Ga23に比べるとγ-Ga23に関する研究は決して多いとは言えない。また、γ-Ga23の製造方法として従来知られているのは、Ga酸化物のゲルを400〜500℃で加熱することにより得る方法(非特許文献1参照)、GaNやGaNの水和物を200℃で加熱して得たアモルファスGa23を更に400℃及び600℃で加熱する方法(非特許文献3参照)、GaNから得られたgalliaゲルを500℃で加熱する方法(非特許文献4参照)、ジメチルホルムアミド(DMF)中でGaCl3のsolvolysis(加溶媒分解)により、210〜240℃、8〜12時間の比較的簡便な条件でγ-Ga23が得られること(非特許文献5参照)等がある。
ところで、他の結晶相の酸化ガリウム(またはその水和物)を加熱することにより、β-Ga23が得られることは知られており(例えば非特許文献1のFig.1参照)、非特許文献2ではこの点に関し詳しく報告している。出発原料としてアモルファスの水酸化ガリウム(amorphous Ga(OH)3)を加熱処理した場合、110℃までの加熱では吸熱反応によってγ-Ga23が形成され、その後680℃までの加熱によって、発熱反応によりβ-Ga23が形成される。また、出発原料として結晶性の水酸化ガリウム(α-GaOOH)を加熱処理した場合、420℃までの加熱では吸熱反応によってγ-Ga23が形成され、その後670℃までの加熱によって、発熱反応によりβ-Ga23が形成される。すなわち、最も安定なβ-Ga23は、準安定なγ-Ga23を加熱することによっても得られる。
一方、その例外として、フラックスにNaOHを用い、β-Ga23粉末をNaOHに対するモル比で2:5として(5β-Ga2O3:2NaOH)、1000℃、44kbarsの圧力で1時間保持した結果、α-Ga23単結晶が成長した例(非特許文献6参照)や、30kbars、850℃の条件でβ−LiGaO2からα−LiGaO2へ転移した例(非特許文献7参照)が報告されているが、いずれも非常に高圧で、かつ、温度もかなり高い条件である。
R. Roy, V. G. Hill and E. F. Osborn, J. Am. Chem., Soc., 74(1952) 719-722 TAICHI SATO and TAKATO NAKAMURA, Thermochimica Acta, 53(1982) 281-288 D.Kisailus, J.H.Choi, J.C.Weaver, W.Yang, D.E. Morse, Adv. Mater., 2005, 17, 314. C.Otero Arean, A.Lopez Bellan, M.Penarroya Mentruit, M.Rodriguez Delgado, G. Turnes Palomino, Microporous Mesoporous Mater, 2000, 40, 35. T.Chen and K.Tang, Appl. Phys. Lett., 2007, 90, 053104. J. P. Remeika, A. A. Ballman, Appl. Phys. Lett., 1966, 8, 87. M. Marezio, J. P. Remeika, J.Phys.Chem.Solids., 1965, 26, 1277.
上述したように、準安定なγ-Ga23を加熱して最も安定なβ-Ga23が得られることはあっても、その逆については、通常、なかなか考えられない。特に、最も安定なβ-Ga23から準安定のγ-Ga23を得たという報告は、本発明者等が知る限りにおいては例がない。ところが、今般、驚くべきことに、β-Ga23をアルカリ水溶液の存在下で、所定の高温高圧条件で保持することで、β-Ga23がγ-Ga23に変化することを見出し、本発明を完成するに至った。
従って、本発明の目的は、安定構造のβ-Ga23を変化させてγ-Ga23を得る、γ-Ga23の製造方法を提供することにある。
また、本発明の別の目的は、安定構造のβ-Ga23を変化させて得たγ-Ga23を提供することにある。
すなわち、本発明は、アルカリ水溶液の存在下、β-Ga23を温度200℃以上及び圧力10MPa以上の高温高圧条件で保持することで、γ-Ga23に変化させることを特徴とするγ-Ga23の製造方法である。
また、本発明は、アルカリ水溶液の存在下、β-Ga23を温度200℃以上及び圧力10MPa以上の高温高圧条件で保持して得たことを特徴とするγ-Ga23である。
本発明では、アルカリ水溶液の存在下、温度200℃以上、好ましくは200〜450℃、より好ましくは375〜400℃、及び圧力10MPa以上、好ましくは10〜150MPa、より好ましくは25〜100MPaの高温高圧条件でβ-Ga23を保持することにより、β-Ga23の結晶構造をベータ型からガンマ型に変化させてγ−Ga23を得る。高温高圧条件について、圧力が10MPaより低く温度が200℃より低いと臨界温度を下回り、臨界状態又は亜臨界状態を作り出すのが困難となって反応は生起してもその反応速度は低下する。後述するように、本発明でのγ-Ga23への変化が水熱条件又はそれに類似した条件によるβ-Ga23からγ-Ga23への相転移と考えると、臨界状態又は超臨界状態を作り出す観点から、温度375〜400℃及び圧力25〜100MPaの高温高圧条件が好適である。なお、温度の上限値(450℃)及び圧力の上限値(150MPa)は、高温高圧条件を設定する上で、一般的に使用されるオートクレーブ等の耐熱耐圧容器の耐熱性、耐圧性の面で望ましい値であり、これらを超える場合を排除するものではない。また、結晶構造がベータ型からガンマ型に変化したかどうかの判断については、後述の実施例でも説明するように、例えばX線回折による同定法を利用することができる。
β-Ga23を高温高圧条件下で保持する具体的な手段については特に制限されないが、例えば酸化亜鉛(ZnO)、人工水晶等を水熱法(水熱合成法)により合成する際に使用するようなオートクレーブ等の耐熱耐圧容器を利用することができる。すなわち、耐熱耐圧容器にアルカリ水溶液及びβ-Ga23を入れ、ヒーター等の加熱手段により耐熱耐圧容器内が所定の温度になるように加熱すると共に、耐熱耐圧容器内を所定の圧力で保持することができるようにすればよい。この際、一般的な水熱法と同様に、白金製坩堝等の反応容器にβ-Ga23及びアルカリ水溶液を入れ、反応容器ごと耐熱耐圧容器に収容するようにしてもよい。一般に、オートクレーブ等の耐熱耐圧容器内に一定量の水を満たし、密閉した後に加熱すると内圧が上がり高圧が実現する。本発明では、アルカリを溶かした水(望ましくは純水)を溶媒として用いるため、耐熱耐圧容器の内容積と充填するアルカリ水溶液の濃度及び液量とから、β-Ga23に付与できる温度と発生する圧力の関係が求まる。白金製坩堝等の反応容器を耐熱耐圧容器内に収容する場合には、反応容器内の空間容積を予め求めておけば、上記と同様にして温度と発生する圧力との関係を知ることができる。このようにして、温度と圧力の条件を任意に設定することが可能となる。そして、このような状態で10日以上β-Ga23を保持するとβ-Ga23からγ-Ga23への変化が確認できるが、残留するβ相を少なくして、γ相の形成をより多くさせる観点から、好ましくは20日〜40日を保持時間の目安とするのがよい。
原料に用いるβ-Ga23については、β-Ga23単結晶又は酸化ガリウム粉末を焼結させたβ-Ga23焼結体のいずれでもよいが、好ましくは酸化亜鉛(ZnO)や人工水晶等の合成に利用される水熱法の構成に準じて、β-Ga23単結晶及びβ-Ga23焼結体を同時に用いるようにするのがよい。すなわち、例えば耐熱耐圧容器の上部側(開口部側)にβ-Ga23単結晶を吊り下げ、下部側(底部側)にはアルカリ水溶液に浸漬させたβ-Ga23焼結体を配置した状態で、所定の高温高圧条件で保持することで、β-Ga23単結晶及びβ-Ga23焼結体をそれぞれγ-Ga23に変化させることができる。この際、β-Ga23単結晶の方が低い温度となるように、β-Ga23単結晶とβ-Ga23焼結体とに8〜10℃の温度差を設けて高温高圧条件にするのがよい。
β-Ga23単結晶を原料にする場合、β-Ga23単結晶を得る手段としては、浮遊帯域溶融法(フローティングゾーン法;FZ法)、EFG法、ベルヌーイ法、チョクラルスキー(CZ)法などが挙げられるが、本発明において、好ましくはFZ法により得られた酸化ガリウム単結晶を用いるのがよい。FZ法は、容器を使わずに原料を融解させて単結晶を育成するため、得られたβ-Ga23単結晶への不純物混入が可及的に防止でき、かつ、直径1インチ程度の結晶性に優れたものを簡便に得ることができるため好都合である。また、β-Ga23焼結体を原料にする場合には、例えば酸化ガリウム粉末を予め円柱状に成型した後、1400〜1600℃の温度で5〜20時間程度焼結することで得ることができる。
本発明で使用するアルカリ水溶液については、好ましくは水酸化リチウム(LiOH)水溶液、又は水酸化リチウムと水酸化カリウム(KOH)との混合水溶液であるのがよく、より好ましくは水酸化リチウムと水酸化カリウムとの混合水溶液であるのがよい。水酸化リチウムと水酸化カリウムとの混合水溶液を用いると、下記の実施例でも説明するように、原料に用いたβ-Ga23が検出されずにγ-Ga23を得ることができる。特に、β-Ga23単結晶を原料にした場合にはγ相の単相、すなわちγ-Ga23単相を得ることができる。また、この場合に得られたγ-Ga23については、カソードルミネッセンス(CL)測定等のような電子線励起により波長410〜480nmの範囲に発光ピークを有し、更には、実質的にγ-Ga23単結晶であることが確認できる。ここで、γ-Ga23が実質的に単結晶であるとは、例えば電子回折の結果がスポット状のパターンであるような場合を言うものとする。
また、アルカリ水溶液の濃度の面に関して言えば、水酸化リチウム水溶液の単独使用にあたっては1〜3mol/lが好ましい。これより低い濃度では目的とする変化の速度が著しく低下し、これより濃度が高過ぎると例えば耐熱耐圧容器内の圧力の低下が生じ、また、白金製坩堝等を使用する場合に化学腐食が著しく進展する。水酸化リチウムと水酸化カリウムとを複合させる場合、好ましくは水酸化リチウム水溶液の濃度が1〜3mol/lであり、水酸化カリウム水溶液の濃度が1〜3mol/lであるのがよい。また、アルカリ水溶液の溶媒については、不純物の混入を防ぐ観点から、好ましくは純水を用いるようにするのがよい。
本発明において、安定構造のβ-Ga23から準安定のγ-Ga23が得られた理由は解明段階であるが、以下のように推測することができる。すなわち、アルカリ水溶液の存在下、所定の温度及び圧力からなる高温高圧条件でβ-Ga23を保持することで、水熱条件又はそれに類似した条件が生まれ、β-Ga23が超臨界状態下に置かれ、β-Ga23からγ-Ga23に相転移(多形転移)したものと考えられる。この変化については、超臨界状態の雰囲気と共にアルカリ水溶液の存在が関与しているものと思われる。なかでも、混合水溶液にした場合には、異なるアルカリドーパント(例えばLiOH、KOHなど)の共存がγ-Ga23への変化を助長するものと推察される。
従来、最も安定なβ-Ga23から準安定のγ-Ga23を得ることはできないと考えられていたが、本発明によれば、比較的簡便な条件でβ-Ga23からγ-Ga23を得ることが可能になる。また、特定の条件下で得られるγ-Ga23は、電子線励起により青色に発光すると共に、単結晶からなることも確認できる。
以下、実施例に基づいて、本発明をより具体的に説明する。
図1は、γ-Ga23を得るのに用いたγ-Ga23製造装置Xの断面説明図である。この製造装置Xは、内部にφ21mm×長さ165mmの白金製坩堝2を収容して密閉することができるオートクレーブ1と、オートクレーブ1の外周を囲むように配置されてオートクレーブ1内を加熱することができる加熱手段3とを備える。そして、この加熱手段3は、坩堝2の中央から開口部までのおよそ半分の領域を少なくとも取り囲むように配置されて、後に坩堝2の開口部側に配置するβ-Ga23単結晶5を加熱することができる開口部側ヒーター3bと、坩堝2の中央から底部までのおよそ半分の領域を少なくとも取り囲むように配置されて、後に坩堝2の底部側にアルカリ混合水溶液8と共に入れるβ-Ga23焼結体4を加熱することができる底部側ヒーター3bとからなる。また、このγ-Ga23製造装置Xには、図示外のモニター用熱電対が取り付けられており、坩堝2内に入れられたβ-Ga23単結晶5の温度とβ-Ga23焼結体4の温度とがそれぞれ制御される。更に、上記オートクレーブ1には圧力計6が取り付けられており、オートクレーブ1内の圧力が制御可能になっている。
坩堝2内に入れる2種類のβ-Ga23は次のようにして用意した。先ず、β-Ga23焼結体4については、純度99.99%のβ-Ga23粉末(株式会社高純度化学研究所製)を直径10mm×長さ約80mmのラバーチューブに入れ、プレス機を用いて静水圧60MPaで3分間プレス成形して円柱状に固めた後、この円柱状に固めた酸化ガリウム冷間成型体をラバーチューブから取り出し、電気炉に入れて大気中1500℃で10時間焼結して得た。得られたβ-Ga23焼結体の密度をアルキメデス法で測定した結果、〜5.8157g/cm3であった。
また、β-Ga23単結晶5については以下のようにして光FZ法により作製した。先ず、上記と同様にしてβ-Ga23焼結体を得た後、このβ-Ga23焼結体を原料棒にして双楕円の赤外線集光加熱炉の上軸に設置し、下軸にはFZ法用種結晶として酸化ガリウム単結晶の<001>方向が軸方向に垂直に向くように設置した。そして、結晶育成雰囲気が窒素と酸素との混合ガス(N2:79vol%、O2:21vol%)となるようにして、赤外線集光加熱炉の透明石英管内にこの混合ガスを500ml/minで供給した。次いで、赤外線集光加熱炉のハロゲンランプ(1.5kW)の光が原料棒と種結晶との先端に集光するようにそれぞれ炉中心に移動させて溶解接触させ、原料棒と種結晶とをそれぞれ20rpmの回転速度で互いに逆向きに回転させながら、<001>方向に結晶成長速度が5mm/hとなるように上下軸を移動させて1気圧下でβ-Ga23単結晶の育成を行った。このようにして直径約9mm×長さ約50mmのβ-Ga23単結晶を得た。得られたβ-Ga23単結晶の密度をアルキメデス法で測定した結果、〜5.9910g/cm3であった。尚、FZ法用種結晶には、予め酸化ガリウム焼結体を用いて光FZ法によって得た単結晶から切出したものを使用した。
そして、上記で得られたβ-Ga23焼結体及びβ-Ga23単結晶を、X線回折によりそれぞれベータ型の単相であることを確認した上で、γ-Ga23製造装置Xを用いて、以下のようにアルカリ水溶液8の存在下で、所定の温度及び圧力条件で保持した。先ず、図2に示すように、白金製坩堝2の底部側に水酸化リチウム水溶液3mol/lと水酸化カリウム水溶液1.5mol/lとを混合した50mlのアルカリ水溶液8を入れ、上記で得られた酸化ガリウム焼結体4(19.73g)をアルカリ水溶液8に浸漬させた。また、上記で得られた酸化ガリウム単結晶を直径8mm×長さ30mmのサイズに切り出したβ-Ga23単結晶5を、坩堝2の開口部側に白金製のワイヤーで吊るすようにして配置した。更にこのβ-Ga23単結晶5の下方側には、白金製のバッフル板7(気孔率10%)を配置した。尚、β-Ga23単結晶5は、FZ法でc軸方向に成長させたas-grownの状態のものを用いた。また、アルカリ水溶液を調製する際には溶媒として純水を用いた。
次いで、上記坩堝2を溶融密閉した後にオートクレーブ1に入れて圧力を100MPaにして、また、それぞれの加熱手段3により、β-Ga23単結晶5の温度が390℃、及びβ-Ga23焼結体4の温度が400℃となるように両者に10℃の温度差を設け、この条件のもとで30日間保持した。保持期間経過後、坩堝2をオートクレーブ1から取り出したところ、保持開始前(反応前)には透明であったβ-Ga23単結晶5は透明性を失い白く変色し、手で押し付けただけで粉砕してしまう程度に変質していた。また、特に結晶成長した様子はうかがえなかった。一方、β-Ga23焼結体4については、外観上、色の変化は特に見られなかった。図3は、上記条件で保持する前後のβ-Ga23単結晶の変化の様子を示す写真である。図3(a)は坩堝2に取り付ける前のβ-Ga23単結晶であり、図3(b)は保持期間経過後に坩堝2から取り出したβ-Ga23単結晶である。
また、保持時間経過後に坩堝2から取り出したβ-Ga23単結晶5及びβ-Ga23焼結体4をそれぞれ乳鉢で粉砕し、CuKαをX線源とした粉末X線回折(XRD)により結晶構造の決定を行った。結果を図4に示す。図4(a)のX線回折パターンは、保持時間経過後に坩堝2から取り出したβ-Ga23単結晶5から得られたものであり、γ型のGa23(γ-Ga23)と同定された。特に、出発原料であるβ-Ga23は検出されていないことから、γ-Ga23単相に変化したことが確認された。また、回折ピークがシャープであることから、得られたγ-Ga23の結晶性は良いことが示唆される。一方、図4中(b)のX線回折パターンは保持時間経過後のβ-Ga23焼結体4から得られたものであり、γ-Ga23の回折ピークのほか、LiGaO2及びLiGa58のピークが確認された。図4(b)からもβ-Ga23のピークは検出されなかった。
また、保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5及びβ-Ga23焼結体4を、それぞれ走査型電子顕微鏡(SEM:Hitachi製S4500)により形状観察した結果を図5に示す。図5(a)は保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5、すなわちγ相単相に変化したγ-Ga23のSEM像であり、数μmの棒状のものから数10μmの塊状のものまで多岐にわたりサイズは大きな分布を有し、また、形状は不規則であることが確認された。一方、図5(b)は保持時間経過後のβ-Ga23焼結体4、すなわちγ-Ga23、LiGaO2及びLiGa58の混合相のSEM像であり、一部は板状に重なり、規則性のある構造を呈していることが確認された。
また、KBr錠剤法によるフーリエ変換型赤外分光(FTIR:JEOL製Diamond-20)により、上記で得られたγ-Ga23単相(保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5)と、γ-Ga23、LiGaO2及びLiGa58の混合相(保持時間経過後のβ-Ga23焼結体4)について、それぞれアルカリ混合水溶液8中のH2Oに由来するOH基成分の混入の有無について分析した。結果を図6に示す。図6(a)はγ-Ga23単相のFTIRスペクトルであり、図6(c)はγ-Ga23、LiGaO2及びLiGa58の混合相のFTIRスペクトルである。また、比較として、図6(b)に先のFZ法で単結晶を育成する際に用いたβ-Ga23粉末(純度4N)のFTIRスペクトルを示す。
上記で得られたγ-Ga23単相のFTIRスペクトル(a)をβ-Ga23粉末のFTIRスペクトル(b)と比べると、スペクトル形状は異なるものの、吸収ピークの位置はほぼ対応している。両者ともに、低波数側の400cm-1〜800cm-1付近に深いピークが観察され、これはGa−Oの吸収に起因すると考えられる。これと同様の吸収は、γ-Ga23、LiGaO2及びLiGa58の混合相のFTIRスペクトル(c)でも観察されることから、保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5とβ-Ga23焼結体4は、いずれも酸化ガリウム系化合物が形成されていると考えられる。また、γ-Ga23単相のスペクトル(a)では、1010cm-1及び1650cm-1付近に吸収ピークが観察されることから、Ga−OHとOHのbending bandの存在が示唆される(非特許文献2参考)。同様の吸収ピークはβ-Ga23粉末のスペクトル(b)でも検出されているが、γ-Ga23単相ほど吸収は強くない。これに対し、γ-Ga23、LiGaO2及びLiGa58の混合相にはこの位置に対応した吸収はほとんどみられない。以上の結果から上記で得られたγ-Ga23単相にはOH基の存在が示唆されるが、γ-Ga23、LiGaO2及びLiGa58の混合相にはOHの混入はないと考えられる。
更に、本実施例においてβ-Ga23単結晶5を変化させて得た単相のγ-Ga23について、電子回折を行なった。先ず、集束イオンビーム(FIB)を用いて、γ-Ga23の1粒子を摘出してその断面を切断し、その表面にカーボン保護膜を付けてγ-Ga23のTEM観察用サンプルとした。次いで、銅メッシュに固定させた観察部位を厚さ100nmに薄膜加工して観察用試料とした。観察および電子回折にはFEI社製Tecnai G2 F20 S-TWIN透過顕微鏡を用い、加速電圧200kVの条件で行なった。結果は図7に示すように、撮影した範囲内でスポット状のパターンが得られていることが分り、得られたγ相は実質的に単結晶であると考えられる。
更にまた、本実施例においてβ-Ga23単結晶5を変化させて得た単相のγ-Ga23を電子線で励起(加速電圧15kV)してカソードルミネッセンス(CL: Shimadzu製CL-900)測定を行った。また、参考として、FZ法で単結晶を育成する際に用いたβ-Ga23粉末のCL測定も併せて行った。結果を図8に示す。得られたCLスペクトル(a)から明らかなように、本実施例で得られたγ-Ga23は波長410〜480nmの範囲にピークを有し、波長410nm及び460nm付近に比較的シャープな発光を有していることが確認された。γ-Ga23の発光は比較的強いものであり、室温での電子線による励起の環境下で目視にて青色の発光が十分に確認できた。また、β-Ga23粉末のスペクトル(b)とγ-Ga23のスペクトル(a)とを比べると、CL発光波長の位置及びスペクトルの形状が異なることが分る。β-Ga23粉末は400nm付近で発光しているのに対し、γ-Ga23のスペクトル形状はそれよりブロードであり、半値幅も広く、発光位置は長波長側にシフトしている。
1mol/lの水酸化リチウム水溶液50ml(溶媒は純水)をアルカリ水溶液8として用いた以外は実施例1と同様にして、所定の条件下でβ-Ga23単結晶5及びβ-Ga23焼結体4を保持する処理を行った。保持期間経過後に坩堝2から取り出したβ-Ga23単結晶5は、図3(c)に示すように、透明性を失い白く変色していたが、水酸化リチウムと水酸化カリウムとの混合水溶液を用いた実施例1の場合のように手で粉砕できるということはなく、保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5はある程度の硬さを維持していた。一方、保持時間経過後のβ-Ga23焼結体4は外観上、色の変化は特に見られなかった。
また、保持時間経過後に坩堝2から取り出したβ-Ga23単結晶5及びβ-Ga23焼結体4について、それぞれ実施例1と同様に、粉末X線回折(XRD)による結晶構造の決定を行った。図4(c)は処理後のβ-Ga23単結晶5のX線回折パターンであり、γ-Ga23及びβ-Ga23の回折ピークが検出された。一方、図4(d)は処理後のβ-Ga23焼結体4のX線回折パターンであり、γ-Ga23の回折ピークが検出されたほか、β-Ga23及びLiGa58が検出された。
[比較例1]
アルカリ水溶液8のかわりに50mlのH2O(純水)を用いた以外は実施例1と同様にして、所定の条件下でβ-Ga23単結晶5及びβ-Ga23焼結体4を保持する処理を行った。保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5の外観は何ら変化なかった。一方、保持時間経過後のβ-Ga23焼結体4についても外観上の変化は認められなかった。また、保持時間経過後のβ-Ga23単結晶5及びβ-Ga23焼結体4のXRDスペクトルは、両者共に処理前のものから変化は認められなかった。
上記のような実施例及び比較例の結果から、水酸化リチウムや水酸化カリウム等のアルカリ水溶液の存在下、所定の温度及び圧力からなる高温高圧条件で保持することで、安定構造のβ-Ga23から準安定なγ-Ga23を作製することができることが分かった。なかでも、アルカリ水溶液として水酸化リチウム水溶液を単独で用いた場合には、原料に用いたβ相が残留するが、水酸化リチウム水溶液と水酸化カリウム水溶液の混合水溶液を用いた場合には、β相はγ相に完全に相転移又は化学変化し、特にβ-Ga23単結晶はγ-Ga23単相に変化することが確認された。本発明によれば、酸化ガリウムの結晶構造は、β相の単斜晶系からγ相の立方晶に変化したことになる。また、本発明により得られたγ-Ga23は、XRDの回折ピークの半値幅が小さく、電子回折の結果も単結晶の生成を示唆していることから、結晶性の面においても優れたものである。
本発明におけるγ-Ga23の製造方法は、400℃程度の比較的緩やかな条件下での反応によりγ-Ga23を得ることができ、従来のようにGaOOH、Ga(OH)3等の水酸化物を出発原料として使用する必要がなく、β相とγ相を可逆的に変化させる方法としても利用可能である。また、本発明によって得られるγ-Ga23は、NOx除去等に用いられる光触媒をはじめ、ガスセンサー、強磁性体膜、発光材料等としての利用可能性がある。
図1は、本発明の実施例に係るγ-Ga23の製造に用いたγ-Ga23製造装置の断面説明図である。 図2は、γ-Ga23製造装置に収容した坩堝内の様子を表す断面説明図である。 図3は、本発明の実施例に係るγ-Ga23の製造において、所定の条件下で保持した前後のβ-Ga23単結晶の変化の様子を表す写真である。(a)は処理前(反応前)のβ-Ga23単結晶である。(b)は実施例1で保持期間経過後に坩堝から取り出したβ-Ga23単結晶である。(c)は実施例2で保持時間経過後に坩堝から取り出したβ-Ga23単結晶である。 図4は、本発明の実施例に係るγ-Ga23の製造において、所定の条件下で保持した後のβ-Ga23の粉末X線回折結果である。(a)はアルカリ混合水溶液(LiOH+KOH)の存在下で保持した後のβ-Ga23単結晶の回折ピーク、(b)は同じくアルカリ混合水溶液の存在下で保持した後のβ-Ga23焼結体の回折ピーク、(c)は水酸化リチウム水溶液の存在下で保持した後のβ-Ga23単結晶の回折ピーク、(d)は水酸化リチウム水溶液の存在下で保持した後のβ-Ga23焼結体の回折ピークを示す。 図5は、本発明の実施例に係るγ-Ga23の製造において、所定の条件下で保持した後のβ-Ga23単結晶及びβ-Ga23焼結体のSEM写真である。(a)は保持時間経過後のβ-Ga23単結晶(γ-Ga2O3単相に変化)の形状、(b)は保持時間経過後のβ-Ga23焼結体(γ-Ga2O3、LiGaO2及びLiGa5O8の混合相に変化)の形状を表す。 図6は、フーリエ変換型赤外分光の結果であり、(a)は保持時間経過後のβ-Ga23単結晶のFTIRスペクトル、(b)は比較としてβ-Ga23粉末のFTIRスペクトル、(c)は保持時間経過後のβ-Ga23焼結体のFTIRスペクトルである。 図7は、本発明の実施例で得られたγ-Ga23単相の電子回折パターンを示す。 図8は、本発明の実施例で得られたγ-Ga23単相のCLスペクトルである。
符号の説明
X γ-Ga23製造装置
1 オートクレーブ
2 坩堝
3 加熱手段
3a 底部側ヒーター
3b 開口部側ヒーター
4 β-Ga23焼結体
5 β-Ga23単結晶
6 圧力計
7 バッフル板
8 アルカリ水溶液

Claims (10)

  1. アルカリ水溶液の存在下、β-Ga23を温度200℃以上及び圧力10MPa以上の高温高圧条件で保持することで、γ-Ga23に変化させることを特徴とするγ-Ga23の製造方法。
  2. アルカリ水溶液が、水酸化リチウム水溶液、又は水酸化リチウムと水酸化カリウムとの混合水溶液である請求項1に記載のγ-Ga23製造方法。
  3. β-Ga23が、β-Ga23単結晶及び/又はβ-Ga23焼結体である請求項1又は2に記載のγ-Ga23の製造方法。
  4. 耐熱耐圧容器内に、β-Ga23単結晶とアルカリ水溶液に浸漬させたβ-Ga23焼結体とを入れ、β-Ga23単結晶の方が低い温度となるように、β-Ga23単結晶とβ-Ga23焼結体とに8〜10℃の温度差を設けて高温高圧条件で保持することで、上記β-Ga23単結晶及びβ-Ga23焼結体をそれぞれγ-Ga23に変化させる請求項1又は2に記載のγ-Ga23の製造方法。
  5. アルカリ水溶液が水酸化リチウムと水酸化カリウムとの混合水溶液の場合、β-Ga23単結晶がγ-Ga23単相に変化する請求項4に記載のγ-Ga23の製造方法。
  6. 得られたγ-Ga23が、電子線励起により波長410〜480nmの範囲に発光ピークを有して発光する請求項5に記載のγ-Ga23の製造方法。
  7. 得られたγ-Ga23が、実質的にγ-Ga23単結晶である請求項5又は6に記載のγ-Ga23の製造方法。
  8. アルカリ水溶液の存在下、β-Ga23を温度200℃以上及び圧力10MPa以上の高温高圧条件で保持して得たことを特徴とするγ-Ga23
  9. 電子線励起により波長410〜480nmの範囲に発光ピークを有して発光する請求項8に記載のγ-Ga23
  10. 実質的に単結晶である請求項8又は9に記載のγ-Ga23
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012162432A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Jx Nippon Mining & Metals Corp 酸化ガリウム粉末及びその製造方法並びに酸化物焼結体スパッタリングターゲット及びその製造方法
CN104372408A (zh) * 2014-12-15 2015-02-25 山东大学 常压下提拉法生长大尺寸氧化镓单晶的方法
JPWO2013035845A1 (ja) * 2011-09-08 2015-03-23 株式会社タムラ製作所 Ga2O3系半導体素子
US9437689B2 (en) 2011-09-08 2016-09-06 Tamura Corporation Ga2O3 semiconductor element
CN113871303A (zh) * 2021-08-16 2021-12-31 西安电子科技大学 一种β-Ga2O3薄膜的制备方法及β-Ga2O3薄膜
WO2022021518A1 (zh) * 2020-07-29 2022-02-03 宁波工程学院 一种γ-Ga 2O 3纳米材料的制备方法
CN114585776A (zh) * 2019-11-05 2022-06-03 日本碍子株式会社 氧化镓结晶的制法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012162432A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Jx Nippon Mining & Metals Corp 酸化ガリウム粉末及びその製造方法並びに酸化物焼結体スパッタリングターゲット及びその製造方法
US10249767B2 (en) 2011-09-08 2019-04-02 Tamura Corporation Ga2O3-based semiconductor element
JPWO2013035845A1 (ja) * 2011-09-08 2015-03-23 株式会社タムラ製作所 Ga2O3系半導体素子
JP2016015503A (ja) * 2011-09-08 2016-01-28 株式会社タムラ製作所 Ga2O3系半導体素子
US9437689B2 (en) 2011-09-08 2016-09-06 Tamura Corporation Ga2O3 semiconductor element
US9461124B2 (en) 2011-09-08 2016-10-04 Tamura Corporation Ga2O3 semiconductor element
CN104372408A (zh) * 2014-12-15 2015-02-25 山东大学 常压下提拉法生长大尺寸氧化镓单晶的方法
CN114585776A (zh) * 2019-11-05 2022-06-03 日本碍子株式会社 氧化镓结晶的制法
WO2022021518A1 (zh) * 2020-07-29 2022-02-03 宁波工程学院 一种γ-Ga 2O 3纳米材料的制备方法
DE112020004928T5 (de) 2020-07-29 2022-07-07 Ningbo University Of Technology Verfahren zur Herstellung eines γ-Ga2O3-Nanomaterials
CN114787084A (zh) * 2020-07-29 2022-07-22 宁波工程学院 一种γ-Ga2O3纳米材料的制备方法
JP2023500977A (ja) * 2020-07-29 2023-01-11 ▲寧▼波工程学院 γ-Ga2O3ナノ材料の製造方法
JP7371988B2 (ja) 2020-07-29 2023-10-31 ▲寧▼波工程学院 γ-Ga2O3ナノ材料の製造方法
CN114787084B (zh) * 2020-07-29 2023-11-07 宁波工程学院 一种γ-Ga2O3纳米材料的制备方法
CN113871303A (zh) * 2021-08-16 2021-12-31 西安电子科技大学 一种β-Ga2O3薄膜的制备方法及β-Ga2O3薄膜

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