[go: up one dir, main page]

JP2009041946A - Optical image measuring device - Google Patents

Optical image measuring device Download PDF

Info

Publication number
JP2009041946A
JP2009041946A JP2007204507A JP2007204507A JP2009041946A JP 2009041946 A JP2009041946 A JP 2009041946A JP 2007204507 A JP2007204507 A JP 2007204507A JP 2007204507 A JP2007204507 A JP 2007204507A JP 2009041946 A JP2009041946 A JP 2009041946A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
optical image
signal
interference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007204507A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kinpui Chan
キンプイ チャン
Yasufumi Fukuma
康文 福間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2007204507A priority Critical patent/JP2009041946A/en
Priority to US12/733,051 priority patent/US8488126B2/en
Priority to PCT/JP2008/002086 priority patent/WO2009019847A1/en
Priority to EP20080790350 priority patent/EP2175257A4/en
Publication of JP2009041946A publication Critical patent/JP2009041946A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/102Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4795Scattering, i.e. diffuse reflection spatially resolved investigating of object in scattering medium

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】被測定物体の深部組織の微細構造を画像化する。
【解決手段】光画像計測装置1は、光源2、光ファイババンドル5、反射部6、参照ミラー9、ビームスプリッタ12を含む干渉光生成手段により、低コヒーレンス光を信号光と参照光に分割し、被測定物体5000を経由した信号光と参照ミラー9を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する。2次元光センサアレイ14、15は、干渉光を検出する。コンピュータ16は、この検出結果を基に被測定物体5000の画像を形成する。光ファイババンドル5を被測定物体5000内に挿入して計測を行うことで、被測定物体5000の深部組織の断層画像が得られる。更に、光画像計測装置1は、OCT技術を用いて計測を行うので、被測定物体5000の深部組織の高解像度の画像を形成できる。
【選択図】図1
An object is to image a fine structure of a deep tissue of an object to be measured.
An optical image measurement device 1 divides low-coherence light into signal light and reference light by interference light generation means including a light source 2, an optical fiber bundle 5, a reflection unit 6, a reference mirror 9, and a beam splitter 12. Then, the interference light is generated by superimposing the signal light passing through the measured object 5000 and the reference light passing through the reference mirror 9. The two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 detect interference light. The computer 16 forms an image of the measured object 5000 based on the detection result. A tomographic image of the deep tissue of the measured object 5000 is obtained by inserting the optical fiber bundle 5 into the measured object 5000 and performing measurement. Furthermore, since the optical image measurement device 1 performs measurement using the OCT technique, it is possible to form a high-resolution image of the deep tissue of the measurement object 5000.
[Selection] Figure 1

Description

この発明は、OCT(Optical Coherence Tomography)技術を用いて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置に関する。   The present invention relates to an optical image measurement device that forms an image of an object to be measured using OCT (Optical Coherence Tomography) technology.

近年、レーザ光源等を用いて被測定物体の表面や内部の画像を形成する光画像計測技術が注目を集めている。光画像計測技術は、従来からのX線CTのような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野への応用が期待されている。   2. Description of the Related Art In recent years, optical image measurement technology that forms an image of the surface or inside of an object to be measured using a laser light source or the like attracts attention. Since the optical image measurement technique does not have invasiveness to the human body like conventional X-ray CT, it is particularly expected to be applied to the medical field.

光画像計測技術における代表的な手法の一例としてOCT技術(光干渉断層画像化法などと呼ばれる)がある。この技術は、例えばスーパールミネセントダイオード(Super Luminescent Diode;SLD)のように広いスペクトル幅をもつ広帯域光源の低干渉性を利用して、被測定物体からの反射光や透過光をμmオーダーの優れた距離分解能で検出可能とするものである(たとえば非特許文献1参照)。   An example of a typical technique in the optical image measurement technique is an OCT technique (referred to as an optical coherence tomography method). This technology uses the low coherence of a broadband light source with a wide spectral width, such as a super luminescent diode (SLD), for example, to improve reflected light and transmitted light from the object to be measured on the order of μm. It is possible to detect with a high distance resolution (see Non-Patent Document 1, for example).

OCT技術を利用した装置の一例として、マイケルソン型の干渉計を用いた従来の光画像計測装置について説明する。そのような光画像計測装置の基本構成を図10に示す。図10に示す光画像計測装置1000は、被測定物体1005の画像を形成する装置であり、広帯域光源1001、鏡1002、ビームスプリッタ1003及び光検出器1004を含んで構成されている。広帯域光源1001から出力された光ビームは、ビームスプリッタ1003により参照光Rと信号光Lとに分割される。参照光Rは、鏡1002に向かって進行する。信号光Sは、被測定物体1005に向かって進行する。   As an example of an apparatus using the OCT technique, a conventional optical image measurement apparatus using a Michelson interferometer will be described. The basic configuration of such an optical image measurement device is shown in FIG. An optical image measurement apparatus 1000 shown in FIG. 10 is an apparatus that forms an image of an object 1005 to be measured, and includes a broadband light source 1001, a mirror 1002, a beam splitter 1003, and a photodetector 1004. The light beam output from the broadband light source 1001 is split into reference light R and signal light L by a beam splitter 1003. The reference light R travels toward the mirror 1002. The signal light S travels toward the object 1005 to be measured.

図10に示すように、信号光Sの進行方向をz方向と定義し、その直交面をx−y面と定義する。鏡1002は、図示しない駆動機構により、図10中の両側矢印方向に変位可能とされている。これをz−スキャンと呼ぶ。   As shown in FIG. 10, the traveling direction of the signal light S is defined as the z direction, and the orthogonal plane is defined as the xy plane. The mirror 1002 can be displaced in the direction of a double-sided arrow in FIG. 10 by a drive mechanism (not shown). This is called z-scan.

参照光Rは、鏡1002に反射される際にz−スキャンによりドップラー周波数シフトを受ける。一方、信号光Sは、被測定物体1005の表面や内部層により反射される。被測定物体1005は散乱媒質であり、信号光Sの反射光は多重散乱を含む乱雑な位相をもった拡散波面であると考えられる。被測定物体1005を経由した信号光Sと、鏡1002を経由した参照光Rは、ビームスプリッタ1003により重畳されて干渉光を生成する。   The reference light R undergoes a Doppler frequency shift by z-scan when reflected by the mirror 1002. On the other hand, the signal light S is reflected by the surface or inner layer of the measured object 1005. The object to be measured 1005 is a scattering medium, and the reflected light of the signal light S is considered to be a diffuse wavefront having a messy phase including multiple scattering. The signal light S that has passed through the measured object 1005 and the reference light R that has passed through the mirror 1002 are superimposed by the beam splitter 1003 to generate interference light.

OCT技術を用いた画像計測では、信号光Sと参照光Rの光路長差が光源のμmオーダーのコヒーレント長(可干渉距離)以内でありかつ参照光Rと位相相関のある信号光Sの成分のみが参照光Rと干渉を生じる。すなわち、信号光Sのコヒーレントな信号光成分のみが選択的に参照光Rと干渉し合う。この原理から、鏡1002の位置をz−スキャンして参照光Rの光路長を変化させることにより、被測定物体1005の内部層の光反射プロフィールが測定される。更に、信号光Sをx−y面方向に走査することもできる。このようなz方向及びx−y面方向への走査を実行しつつ干渉光を検出し、その検出結果(ヘテロダイン信号)を解析することで、被検体1005の2次元断層画像を形成することができる(非特許文献1を参照)。   In the image measurement using the OCT technique, the component of the signal light S in which the optical path length difference between the signal light S and the reference light R is within the coherent length (coherence distance) of the light source in the order of μm and has a phase correlation with the reference light R. Only cause interference with the reference light R. That is, only the coherent signal light component of the signal light S selectively interferes with the reference light R. From this principle, the light reflection profile of the inner layer of the measured object 1005 is measured by z-scanning the position of the mirror 1002 to change the optical path length of the reference light R. Further, the signal light S can be scanned in the xy plane direction. It is possible to form a two-dimensional tomographic image of the subject 1005 by detecting the interference light while performing scanning in the z direction and the xy plane direction and analyzing the detection result (heterodyne signal). Yes (see Non-Patent Document 1).

以上の手法によれば、被測定物体1005の深度方向(z方向)や断層面方向(x−y面方向)の様々な部位を順次に計測する必要があるため、計測時間が長くなるという問題がある。なお、計測原理を勘案すると計測時間の短縮を図ることは困難である。   According to the above method, since it is necessary to sequentially measure various parts of the measured object 1005 in the depth direction (z direction) and the tomographic plane direction (xy plane direction), there is a problem that the measurement time becomes long. There is. In consideration of the measurement principle, it is difficult to reduce the measurement time.

この問題を解決するための手法も考案されている。この手法を用いた装置の基本構成を図11に示す。この光画像計測装置2000は、キセノンランプ2001、鏡2002、ビームスプリッタ2003、2次元光センサアレイ2004、レンズ2006、2007を含んで構成される。2次元光センサアレイ2004の受光面には、複数の受光素子が配列されている。   A technique for solving this problem has also been devised. A basic configuration of an apparatus using this method is shown in FIG. The optical image measurement device 2000 includes a xenon lamp 2001, a mirror 2002, a beam splitter 2003, a two-dimensional photosensor array 2004, and lenses 2006 and 2007. A plurality of light receiving elements are arranged on the light receiving surface of the two-dimensional photosensor array 2004.

光源2001から出力された光ビームは、レンズ2006、2007によりビーム径が拡大された平行光束となる。ビームスプリッタ2003は、この平行光束を参照光Rと信号光Sに分割する。信号光Sは、そのビーム径に応じた範囲に照射される。よって、被測定物体2005を経由した信号光Sは、その照射範囲における被測定物体2005の情報を含んでいる。   The light beam output from the light source 2001 becomes a parallel light beam whose beam diameter is expanded by the lenses 2006 and 2007. The beam splitter 2003 splits this parallel light beam into reference light R and signal light S. The signal light S is irradiated to a range corresponding to the beam diameter. Therefore, the signal light S that has passed through the measured object 2005 includes information on the measured object 2005 in the irradiation range.

参照光Rと信号光Sは、ビームスプリッタ2003により重畳されて干渉光を生成する。この干渉光は、信号光S等に応じたビーム径を有する。2次元光センサアレイ2004は、2次元の受光面により干渉光を検出する。その検出結果に基づいて被測定物体2005の上記照射範囲における断層画像が形成される。したがって、光ビームを走査することなく、被測定物体2005の断層画像を迅速に取得できる。   The reference light R and the signal light S are superimposed by the beam splitter 2003 to generate interference light. The interference light has a beam diameter corresponding to the signal light S or the like. The two-dimensional photosensor array 2004 detects interference light by a two-dimensional light receiving surface. Based on the detection result, a tomographic image of the object to be measured 2005 in the irradiation range is formed. Therefore, a tomographic image of the object to be measured 2005 can be quickly acquired without scanning the light beam.

このような非走査型の光画像計測装置としては、非特許文献2に記載のものが知られている。この装置では、2次元光センサアレイから出力される複数のヘテロダイン信号を、並列配置された複数の信号処理系に入力して、各ヘテロダイン信号の振幅と位相を検出するようになっている。   As such a non-scanning optical image measuring device, the one described in Non-Patent Document 2 is known. In this apparatus, a plurality of heterodyne signals output from a two-dimensional photosensor array are input to a plurality of signal processing systems arranged in parallel, and the amplitude and phase of each heterodyne signal are detected.

しかし、このような構成において画像の空間分解能を高めるにはアレイの素子数を増加させる必要があり、更に、素子数に対応するチャンネル数を備えた信号処理系を用意しなければならない。したがって、医療や工業等の分野において満足のいく分解能を実現するのは困難である。   However, in such a configuration, in order to increase the spatial resolution of the image, it is necessary to increase the number of elements in the array, and it is also necessary to prepare a signal processing system having the number of channels corresponding to the number of elements. Therefore, it is difficult to realize a satisfactory resolution in fields such as medicine and industry.

そこで、本発明者らは、特許文献1において、次のような非走査型の光画像計測装置を提案した。この光画像計測装置は、光ビームを出射する光源と、該光源から出射された光ビームを、被検体が配置される被検体配置位置を経由する信号光と、前記被検体配置位置を経由する光路とは異なる光路を経由する参照光とに二分するとともに、前記被検体配置位置を経由した後の信号光と、前記異なる光路を経由した参照光とを互いに重畳することにより干渉光を生成する干渉光学系と、該干渉光学系が、前記信号光の周波数と前記参照光の周波数を相対的にシフトさせる周波数シフタと、前記干渉光学系が、前記干渉光を受光するために、前記干渉光を二分割して、さらに、該二分割された干渉光を周期的に遮断することにより、互いの位相差が90度である2列の干渉光パルスを生成する光遮断装置と、前記2列の干渉光パルスをそれぞれ受光する光センサと、該光センサが、空間的に配列され、それぞれが独立に受光信号を得る複数の受光素子を有するものであり、前記光センサで得られた複数の受光信号を統合して前記被検体配置位置に配置された被検体の表面もしくは内部層の、前記信号光の伝搬経路上の各関心点に対応する信号を生成する信号処理部を具備している。   In view of this, the present inventors have proposed the following non-scanning optical image measurement device in Patent Document 1. The optical image measurement device includes a light source that emits a light beam, a signal beam that passes through the subject placement position where the subject is placed, and the light beam emitted from the light source and the subject placement position. Divided into reference light that passes through an optical path different from the optical path, and generates interference light by superimposing the signal light after passing through the subject placement position and the reference light passing through the different optical path. An interference optical system, a frequency shifter that relatively shifts the frequency of the signal light and the frequency of the reference light, and the interference optical system receives the interference light to receive the interference light. Are further divided into two, and the interference light divided into two is periodically blocked to generate two rows of interference light pulses having a phase difference of 90 degrees, and the two rows Each of the interfering light pulses The light sensor and the light sensor are arranged spatially and each have a plurality of light receiving elements that independently obtain a light receiving signal. The light receiving signals obtained by the light sensor are integrated. A signal processing unit configured to generate a signal corresponding to each point of interest on the propagation path of the signal light on the surface or inner layer of the subject placed at the subject placement position;

この光画像計測装置は、参照光と信号光の干渉光を二分して2台の光センサ(2次元光センサアレイ)で受光する構成において、両センサアレイの前にそれぞれ光遮断装置を配置して干渉光をサンプリングするように構成されている。そして、分割された2つの干渉光のサンプリング周期にπ/2の位相差を設けることにより、干渉光の背景光成分を構成する信号光と参照光の強度と、干渉光の位相の直交成分(sin成分とcos成分)とを検出するとともに、両センサアレイからの出力に含まれる背景光成分の強度を両センサアレイの出力から差し引くことにより、干渉光の2つの位相直交成分を算出し、その算出結果を用いて干渉光の振幅を求めるようになっている。   This optical image measuring device divides the interference light of the reference light and the signal light into two parts and receives them by two light sensors (two-dimensional light sensor array), and a light blocking device is arranged in front of both sensor arrays. And configured to sample the interference light. Then, by providing a phase difference of π / 2 in the sampling period of the two divided interference lights, the intensity of the signal light and the reference light constituting the background light component of the interference light and the orthogonal component of the phase of the interference light ( sine component and cos component), and by subtracting the intensity of the background light component contained in the output from both sensor arrays from the output of both sensor arrays, two phase quadrature components of the interference light are calculated, The amplitude of the interference light is obtained using the calculation result.

なお、2次元光センサアレイとしてはCCD(Charge−Coupled Device)カメラなどの市販のイメージセンサが広く用いられている。しかし、現在市販されているCCDイメージセンサは周波数応答特性が低く、数KHzから数MHz程度のヘテロダイン信号のビート周波数に追従できないという問題点が従来から認識されていた。本発明者らによる特許文献1記載の光画像計測装置は、当該問題点を十分に認識した上で、その応答特性の低さを利用して計測を行っている点が特徴的であるといえる。   A commercially available image sensor such as a CCD (Charge-Coupled Device) camera is widely used as the two-dimensional photosensor array. However, a CCD image sensor currently on the market has a low frequency response characteristic, and it has been conventionally recognized that it cannot follow the beat frequency of a heterodyne signal of about several KHz to several MHz. The optical image measuring apparatus described in Patent Document 1 by the present inventors is characterized by the fact that the measurement is performed using the low response characteristics after sufficiently recognizing the problem. .

以上のような光画像計測装置は、たとえば生体の細胞レベルの画像を取得できるなど、被測定物体の微細構造を描写できる利点は有るが、被測定物体の表面に照射された光が到達できない深部の構造を画像化することはできなかった。たとえば、従来の光画像計測装置では、生体の眼底や皮膚組織等の画像を取得することはできたが、たとえば内臓等の深部組織を画像化することはできなかった。   The optical image measurement apparatus as described above has an advantage that it can describe the fine structure of the object to be measured, for example, can acquire a cell level image of a living body, but the deep part where the light irradiated on the surface of the object to be measured cannot reach The image of the structure could not be imaged. For example, with a conventional optical image measurement device, an image of the fundus, skin tissue, etc. of a living body could be acquired, but a deep tissue such as an internal organ could not be imaged.

本明細書において、被測定物体の表面に照射された光が到達できない程度の深さの部位、換言すると、表面から光を照射したときに画像を取得できない程度の深さの部位を、単に「深部」と呼ぶことがある。なお、深部の深さは、被測定物体によって異なり、また光の波長や強度によっても異なる。   In the present specification, a portion having a depth that the light irradiated on the surface of the object to be measured cannot reach, in other words, a portion having a depth that cannot acquire an image when light is irradiated from the surface, is simply expressed as “ Sometimes called “deep”. The depth of the deep part varies depending on the object to be measured, and also varies depending on the wavelength and intensity of light.

被測定物体の深部の組織を画像化する装置としては、内視鏡が知られている。内視鏡は、被検体の表面の開口(生来の開口又は人工的な開口)に装置の一部を挿入して体内を検診するものである(たとえば特許文献2参照)。   An endoscope is known as an apparatus for imaging a deep tissue of a measurement object. An endoscope is for examining the inside of a body by inserting a part of the apparatus into an opening (natural opening or artificial opening) on the surface of a subject (for example, see Patent Document 2).

このように、内視鏡は、被測定物体の深部の構造を画像化することは可能であるが、光画像計測装置のような微細構造を描写することはできなかった。   As described above, the endoscope can image the structure of the deep part of the object to be measured, but cannot describe the fine structure as in the optical image measurement device.

特開2001−330558号公報JP 2001-330558 A 特開2007−125277号公報JP 2007-125277 A 丹野直弘、「光学」、28巻3号、116(1999)Naohiro Tanno, “Optics”, Vol. 28, No. 3, 116 (1999) K.P.Chan、M.Yamada、H.Inaba、「Electronics Letters」、Vol.30、1753、(1994)K. P. Chan, M.C. Yamada, H .; Inaba, “Electronics Letters”, Vol. 30, 1753, (1994)

この発明は、以上のような問題を解決するためになされたもので、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化できる光画像計測装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide an optical image measurement device capable of imaging a fine structure of a deep tissue of an object to be measured.

上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、前記干渉光を検出する検出手段と、前記干渉光の検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、を有する光画像計測装置であって、前記干渉光生成手段は、低コヒーレンス光から分割された信号光を一端から出射し、前記被測定物体を経由して前記一端に入射された該信号光を導光する導光手段を含み、前記導光された該信号光を参照光と重畳させて干渉光を生成する、ことを特徴とする。   In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 divides low-coherence light into signal light and reference light, and the signal light passing through the object to be measured and the reference light passing through the reference object Interference light generation means for generating interference light by superimposing, detection means for detecting the interference light, and image forming means for forming an image of the object to be measured based on the detection result of the interference light In the optical image measurement device, the interference light generation unit emits signal light divided from low-coherence light from one end, and guides the signal light incident on the one end via the object to be measured. Light guide means for generating interference light by superimposing the guided signal light with reference light.

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光画像計測装置であって、前記導光手段は可撓性を有する、ことを特徴とする。   The invention according to claim 2 is the optical image measuring device according to claim 1, wherein the light guide means has flexibility.

また、請求項3に記載の発明は、請求項1又は請求項2に記載の光画像計測装置であって、前記導光手段は、他端から入射した低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する分割手段を含み、該信号光を前記一端から出射し、前記被測定物体を経由して前記一端から入射された該信号光を前記他端まで導光して出射し、該参照光を前記他端から出射し、前記干渉光生成手段は、前記他端からそれぞれ出射された信号光と参照光とを重畳させて干渉光を生成する、ことを特徴とする。   The invention according to claim 3 is the optical image measurement device according to claim 1 or claim 2, wherein the light guide means converts low-coherence light incident from the other end into signal light and reference light. The signal light is emitted from the one end, and the signal light incident from the one end via the object to be measured is guided to the other end and emitted, and the reference light is emitted. Is emitted from the other end, and the interference light generation unit generates interference light by superimposing the signal light and the reference light respectively emitted from the other end.

また、請求項4に記載の発明は、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記導光手段は、光ファイババンドルを含む、ことを特徴とする。   The invention according to claim 4 is the optical image measurement device according to any one of claims 1 to 3, wherein the light guide means includes an optical fiber bundle. To do.

また、請求項5に記載の発明は、請求項3に記載の光画像計測装置であって、前記導光手段は、前記一端及び前記他端を両端とする光ファイババンドルを含み、前記分割手段は、前記一端に向けて導光される低コヒーレンス光の一部を反射して該低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する反射手段を含む、ことを特徴とする。   The invention according to claim 5 is the optical image measurement device according to claim 3, wherein the light guide means includes an optical fiber bundle having both ends of the one end and the other end, and the dividing means. Includes a reflecting means for reflecting a part of the low coherence light guided toward the one end and dividing the low coherence light into signal light and reference light.

また、請求項6に記載の発明は、請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置であって、前記光ファイババンドルの各ファイバの前記一端にマイクロレンズが設けられている、ことを特徴とする。   The invention described in claim 6 is the optical image measurement device according to claim 4 or 5, wherein a microlens is provided at the one end of each fiber of the optical fiber bundle. Features.

また、請求項7に記載の発明は、請求項4〜請求項6のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記検出手段は、前記光ファイババンドルに含まれる複数のファイバにより導光された複数の信号光に基づく複数の干渉光を同時に検出する2次元光センサアレイを含み、ことを特徴とする。   The invention according to claim 7 is the optical image measurement device according to any one of claims 4 to 6, wherein the detection means includes a plurality of fibers included in the optical fiber bundle. It includes a two-dimensional photosensor array that simultaneously detects a plurality of interference lights based on a plurality of guided signal lights.

また、請求項8に記載の発明は、請求項4〜請求項6のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記干渉光生成手段は、前記光ファイババンドルに含まれる複数のファイバに順次に信号光を導光させ、前記検出手段は、前記順次に導光される信号光に基づく干渉光を順次に検出し、前記画像形成手段は、前記順次に検出される各干渉光に基づいて前記被測定物体の複数の異なる部位の画像を順次に形成する、ことを特徴とする。   The invention according to claim 8 is the optical image measurement device according to any one of claims 4 to 6, wherein the interference light generation means includes a plurality of optical fiber bundles included in the optical fiber bundle. Signal light is sequentially guided to the fiber, the detecting means sequentially detects interference light based on the sequentially guided signal light, and the image forming means is configured to detect each interference light detected sequentially. Based on the above, images of a plurality of different parts of the object to be measured are sequentially formed.

また、請求項9に記載の発明は、請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記干渉光生成手段は、前記信号光の光路長と前記参照光の光路長とを一致させるための光学部材を含む、ことを特徴とする。   The invention according to claim 9 is the optical image measurement device according to any one of claims 1 to 8, wherein the interference light generation means includes the optical path length of the signal light and the reference. An optical member for matching the optical path length of the light is included.

また、請求項10に記載の発明は、請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記干渉光生成手段は、前記信号光に付与される分散の影響と前記参照光に付与される分散の影響とを一致させるための光学部材を含む、ことを特徴とする。   The invention according to claim 10 is the optical image measurement device according to any one of claims 1 to 8, wherein the interference light generating means is a dispersion of the signal light. An optical member for matching the influence and the influence of dispersion applied to the reference light is included.

また、請求項11に記載の発明は、請求項9又は請求項10に記載の光画像計測装置であって、前記光学部材は、前記参照光の光路上に設けられる、ことを特徴とする。   The invention according to claim 11 is the optical image measurement device according to claim 9 or 10, wherein the optical member is provided on an optical path of the reference light.

この発明に係る光画像計測装置は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、この干渉光を検出し、この干渉光の検出結果に基づいて被測定物体の画像を形成する。この光画像計測装置により形成される画像は、OCT技術を利用した高分解能の画像である。   The optical image measurement device according to the present invention divides low-coherence light into signal light and reference light, and generates interference light by superimposing the signal light passing through the object to be measured and the reference light passing through the reference object. The interference light is detected, and an image of the object to be measured is formed based on the detection result of the interference light. The image formed by this optical image measurement device is a high-resolution image using OCT technology.

更に、この光画像計測装置は導光手段を備えている。この導光手段は、低コヒーレンス光から分割された信号光を一端から出射し、被測定物体を経由して当該一端から入射された信号光を導光するように構成されている。そして、この光画像計測装置は、導光手段により導光された信号光を参照光と重畳させて干渉光を生成するように作用する。このような構成とすることで、導光手段を被測定物体の深部組織の近くに配置させた状態で計測を行うことができる。   Furthermore, this optical image measuring device is provided with light guiding means. The light guide means is configured to emit signal light divided from the low-coherence light from one end and guide the signal light incident from the one end via the object to be measured. The optical image measurement device acts to generate interference light by superimposing the signal light guided by the light guide means with the reference light. By adopting such a configuration, it is possible to perform measurement in a state where the light guide means is disposed near the deep tissue of the object to be measured.

このような光画像計測装置によれば、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化することが可能である。   According to such an optical image measurement device, it is possible to image the fine structure of the deep tissue of the object to be measured.

この発明に係る光画像計測装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。   An example of an embodiment of an optical image measurement device according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

この発明に係る光画像計測装置は、内視鏡のように被測定物体の深部の画像を取得可能であり、かつ、その微細構造までをも画像化することが可能である。したがって、医学分野や生物学分野に適用すると、生体の内部組織の微細構造を表す画像(たとえば内臓や脳等の細胞レベルの画像)を取得することも可能となる。   The optical image measuring device according to the present invention can acquire an image of a deep part of an object to be measured like an endoscope, and can also image even the fine structure thereof. Therefore, when applied to the medical field or the biological field, it is also possible to acquire an image (for example, an image of a cell level such as a viscera or a brain) representing a fine structure of internal tissue of a living body.

OCT技術を利用した光画像計測装置には、その計測態様により、フーリエドメイン(Fourier domain:frequency domain(周波数ドメイン))型、フルフィールド(full−field)型、スウェプトソース(swept source)型などの様々な種類がある。   The optical image measurement apparatus using the OCT technology has a Fourier domain (Frequency domain) type, a full-field type, a swept source type, etc., depending on the measurement mode. There are various types.

フーリエドメイン型の光画像計測装置は、干渉光をスペクトル分解し、その周波数分布に基づいて画像を形成するものである。フーリエドメイン型では、被測定物体の計測領域を信号光で走査して画像を形成し、当該計測領域の画像を形成する。このタイプの光画像計測装置は、たとえば特開2007−117714号公報などに開示されている。   The Fourier domain type optical image measurement device spectrally decomposes interference light and forms an image based on the frequency distribution. In the Fourier domain type, an image is formed by scanning a measurement region of an object to be measured with signal light, and an image of the measurement region is formed. This type of optical image measurement device is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-117714.

スウェプトソース型の光画像計測装置も同様に信号光を走査して計測を実施する。なお、スウェプトソース型では、干渉光をスペクトル分解する代わりに、様々な周波数の光を高速で切り替えて出力する光源(高速波長スキャニングレーザ)が用いられる。このタイプの光画像計測装置は、たとえば特開2007−24677号公報などに開示されている。   Similarly, the swept source type optical image measuring device scans the signal light to perform measurement. In the swept source type, a light source (high-speed wavelength scanning laser) that switches and outputs light of various frequencies at high speed is used instead of spectrally decomposing interference light. This type of optical image measurement device is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-24677.

また、フルフィールド型の光画像計測装置は、前述の特許文献1に記載のように、或るビーム径を持つ光束を被測定物体に照射し、その照射範囲における画像を一度に形成できることが特徴的である。フーリエドメイン型やスウェプトソース型では、被測定物体の深度方向に延びる断面の画像が得られるが、フルフィールド型では、深度方向に直交する断面の画像が得られる。なお、フルフィールド型においても、被測定物体の計測部位を変更するために信号光を走査することも可能である。   Further, the full-field optical image measuring device is characterized in that, as described in Patent Document 1, the object to be measured can be irradiated with a light beam having a certain beam diameter, and an image in the irradiation range can be formed at a time. Is. In the Fourier domain type or the swept source type, an image of a cross section extending in the depth direction of the object to be measured is obtained. In the full field type, an image of a cross section perpendicular to the depth direction is obtained. In the full field type, it is also possible to scan with signal light in order to change the measurement site of the object to be measured.

以下、この発明に係る第1の実施形態として、フルフィールド型の光画像計測装置を説明する。また、第2の実施形態として、フーリエドメイン型及びスウェプトソース型の光画像計測装置を説明する。   Hereinafter, a full-field optical image measurement device will be described as a first embodiment according to the present invention. As a second embodiment, a Fourier domain type and a swept source type optical image measurement device will be described.

〈第1の実施形態〉
フルフィールド型の光画像計測装置に対するこの発明の適用例を説明する。
<First Embodiment>
An application example of the present invention to a full-field type optical image measurement device will be described.

[装置構成]
この実施形態に係る光画像計測装置の概略構成の一例を図1に示す。この光画像計測装置1は、被測定物体5000の断層画像を取得するための装置である。
[Device configuration]
An example of a schematic configuration of the optical image measurement device according to this embodiment is shown in FIG. The optical image measurement device 1 is a device for acquiring a tomographic image of the object 5000 to be measured.

光画像計測装置1は、広帯域光(低コヒーレンス光)を出力する光源2を備えている。光源2からの出力される広帯域光は、所定のビーム径を有する。   The optical image measurement device 1 includes a light source 2 that outputs broadband light (low coherence light). The broadband light output from the light source 2 has a predetermined beam diameter.

光源2は、たとえばハロゲンランプを含んで構成される。このハロゲンランプは、無偏光の広帯域光を出力する。なお、光源2は、ハロゲンランプからの出力光を導光する光ファイババンドルや、この出力光の照射野を一様に照明するためのケーラー照明光学系などを含んでいてもよい。   The light source 2 includes a halogen lamp, for example. This halogen lamp outputs non-polarized broadband light. The light source 2 may include an optical fiber bundle that guides the output light from the halogen lamp, a Kohler illumination optical system for uniformly illuminating the irradiation field of the output light, and the like.

なお、ハロゲンランプ以外にも、無偏光の広帯域光を出力する任意の光源を用いることが可能である。たとえば、キセノンランプ等の任意の熱光源(黒体輻射に基づく光源)を適用できる。また、ランダム偏光の広帯域光を出力する光源を用いることも可能である。   In addition to the halogen lamp, any light source that outputs non-polarized broadband light can be used. For example, an arbitrary thermal light source (a light source based on black body radiation) such as a xenon lamp can be applied. It is also possible to use a light source that outputs a randomly polarized broadband light.

ここで、無偏光とは、直線偏光の光と円偏光の光と楕円偏光の光とを含む偏光状態を意味する。また、ランダム偏光とは、互いに直交する2つの直線偏光成分を有し、各直線偏光成分のパワーが時間的にランダムに変化する偏光状態を意味する(たとえば特開平7−92656号公報参照)。以下、無偏光の場合についてのみ詳しく説明するが、ランダム偏光の場合も同様の構成で同様の作用効果を得ることができる。   Here, non-polarized light means a polarization state including linearly polarized light, circularly polarized light, and elliptically polarized light. Random polarization means a polarization state having two linearly polarized light components orthogonal to each other and the power of each linearly polarized light component changes randomly in time (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 7-92656). Hereinafter, only the case of non-polarized light will be described in detail, but in the case of random polarized light, the same effect can be obtained with the same configuration.

ハロゲンランプ等から出力される広帯域光は、様々な帯域の光を含んでいる。光源2は、この広帯域光の所定帯域のみを透過させるフィルタを含んでいる。このフィルタが透過させる帯域は、分解能や計測深度などに応じて決定され、たとえば中心波長760nm程度で100nm程度の波長幅の帯域に設定される。この場合、被測定物体5000の深度方向(図1に示すz方向)及びそれに直交する方向(横方向)について、それぞれ2μm程度の分解能の画像を取得できる。なお、このフィルタを透過した光も広帯域光と呼ぶことにする。   Broadband light output from a halogen lamp or the like includes light of various bands. The light source 2 includes a filter that transmits only a predetermined band of the broadband light. The band transmitted by this filter is determined according to the resolution, measurement depth, etc., and is set to a band having a center wavelength of about 760 nm and a wavelength width of about 100 nm, for example. In this case, an image with a resolution of about 2 μm can be acquired in each of the depth direction of the object to be measured 5000 (z direction shown in FIG. 1) and the direction orthogonal to the depth direction (lateral direction). The light transmitted through this filter is also called broadband light.

光源2から出力された広帯域光は、ビームスプリッタ3及び偏光素子4を透過して光ファイババンドル5の基端部5aに入射する。偏光素子4は、たとえば、広帯域光の45度の直線偏光成分のみを通過させる。   The broadband light output from the light source 2 passes through the beam splitter 3 and the polarizing element 4 and enters the base end portion 5 a of the optical fiber bundle 5. For example, the polarizing element 4 allows only a 45-degree linearly polarized light component of broadband light to pass through.

光ファイババンドル5は、複数の光ファイバを束ねたものである。各光ファイバの一端は基端部5aに、他端は先端部5bにそれぞれ配設される。複数の光ファイバは、それらの断面がアレイ状に配置されるように束ねられている。   The optical fiber bundle 5 is a bundle of a plurality of optical fibers. One end of each optical fiber is disposed at the proximal end portion 5a, and the other end is disposed at the distal end portion 5b. The plurality of optical fibers are bundled so that their cross sections are arranged in an array.

光ファイババンドル5としては、たとえば、内視鏡等の装置に一般的に使用されているものを適用できる(たとえば特開2006−130183号公報参照)。光ファイババンドル5は、たとえば、内視鏡と同様に被検体内に挿入可能なプローブとして構成される。光ファイババンドル5(プローブ)は、内視鏡のプローブと同様に可撓性を有し、被検体内に挿入したときに、その形状を変形可能に構成できる。また、光ファイババンドル5(プローブ)の形状を任意に変形するための機構を設けることも可能である。なお、これらの構成は、たとえば従来の内視鏡のプローブと同様とされる。   As the optical fiber bundle 5, for example, one that is generally used in an apparatus such as an endoscope can be applied (see, for example, JP-A-2006-130183). The optical fiber bundle 5 is configured as, for example, a probe that can be inserted into a subject as in an endoscope. The optical fiber bundle 5 (probe) has flexibility similar to the probe of an endoscope, and can be configured to be deformable when inserted into a subject. It is also possible to provide a mechanism for arbitrarily deforming the shape of the optical fiber bundle 5 (probe). These configurations are the same as, for example, a conventional endoscope probe.

光ファイババンドル5に含まれる光ファイバの本数は、光画像計測装置1による横方向の解像度を決定する要因の一つである。光ファイババンドル5は、光画像計測装置1の用途などに応じて適当な本数の光ファイバを有している。光ファイババンドル5は、この発明の「導光手段」の一例である。   The number of optical fibers included in the optical fiber bundle 5 is one of the factors that determine the lateral resolution of the optical image measurement device 1. The optical fiber bundle 5 has an appropriate number of optical fibers according to the use of the optical image measuring device 1 and the like. The optical fiber bundle 5 is an example of the “light guide” in the present invention.

光ファイババンドル5には、反射部6が設けられている。反射部6は、光ファイババンドル5内を先端部5bに向かって進行する広帯域光の一部を反射する。反射部6により反射された広帯域光は参照光として用いられる。一方、反射部6を透過した広帯域光は信号光として用いられる。反射部6は、この発明の「分割手段」及び「反射手段」の一例である。   The optical fiber bundle 5 is provided with a reflecting portion 6. The reflector 6 reflects a part of the broadband light that travels in the optical fiber bundle 5 toward the tip 5b. The broadband light reflected by the reflector 6 is used as reference light. On the other hand, the broadband light transmitted through the reflecting portion 6 is used as signal light. The reflector 6 is an example of the “dividing means” and “reflecting means” of the present invention.

反射部6は、光ファイババンドル5の任意の位置に設けることが可能である。たとえば、図1に示すように光ファイババンドル5の端部5a、5b以外の位置に反射部6を設けてもよいし、先端部5bなどに反射部6を設けてもよい。   The reflection unit 6 can be provided at an arbitrary position of the optical fiber bundle 5. For example, as shown in FIG. 1, the reflection part 6 may be provided at positions other than the end parts 5a and 5b of the optical fiber bundle 5, or the reflection part 6 may be provided at the tip part 5b.

反射部6は、たとえば、光ファイババンドル5に半透明膜を蒸着させることにより形成される。また、ハーフミラーを反射部6として使用することも可能である。たとえば、光ファイババンドル5を基端部5a側の部分と先端部5b側の部分とに分割し、その分割位置にハーフミラーを配設した構成を適用できる。また、先端部5bと被測定物体5000との間や、基端部5aと偏光素子4との間などにハーフミラーを設けてもよい。   The reflection part 6 is formed, for example, by vapor-depositing a semitransparent film on the optical fiber bundle 5. Moreover, it is also possible to use a half mirror as the reflection part 6. For example, a configuration in which the optical fiber bundle 5 is divided into a part on the base end part 5a side and a part on the tip end part 5b side and a half mirror is disposed at the division position can be applied. Further, a half mirror may be provided between the distal end portion 5b and the measured object 5000, between the proximal end portion 5a and the polarizing element 4, or the like.

反射部6により反射された広帯域光からなる参照光は、光ファイババンドル5の基端部5aから出射し、偏光素子4を透過し、ビームスプリッタ3により反射される。更に、参照光は、ビームスプリッタ7により反射され、波長板(λ/4板)8を透過し、参照ミラー9に到達する。   The reference light composed of broadband light reflected by the reflecting unit 6 is emitted from the base end part 5 a of the optical fiber bundle 5, passes through the polarizing element 4, and is reflected by the beam splitter 3. Further, the reference light is reflected by the beam splitter 7, passes through the wave plate (λ / 4 plate) 8, and reaches the reference mirror 9.

参照ミラー9により反射された参照光は、再び波長板8を透過し、ビームスプリッタ7を透過し、反射ミラー10に反射され、ビームスプリッタ12に到達する。   The reference light reflected by the reference mirror 9 passes through the wave plate 8 again, passes through the beam splitter 7, is reflected by the reflecting mirror 10, and reaches the beam splitter 12.

なお、参照ミラー9は、図1に示す両側矢印Aの方向に移動可能とされている(図3に示す参照ミラー移動機構9A参照)。それにより、被測定物体5000の様々な深度位置の画像を取得できる。また、参照ミラー9の位置を変更することにより、異なる位相の干渉光を生成することが可能となる(後述)。参照ミラー9は、この発明の「参照物体」の一例である。   The reference mirror 9 is movable in the direction of the double-sided arrow A shown in FIG. 1 (see the reference mirror moving mechanism 9A shown in FIG. 3). Thereby, images of various depth positions of the measured object 5000 can be acquired. Further, by changing the position of the reference mirror 9, it becomes possible to generate interference light having different phases (described later). The reference mirror 9 is an example of the “reference object” in the present invention.

ビームスプリッタ12に到達した参照光は、当初は無偏光であった広帯域光が偏光板4を経由し、偏光板4を再び経由し、更に波長板8を2回経由したものである。したがって、ビームスプリッタ12に到達した参照光の偏光特性は円偏光である。   The reference light that has reached the beam splitter 12 is a broadband light that was initially unpolarized, passes through the polarizing plate 4, passes through the polarizing plate 4 again, and further passes through the wave plate 8 twice. Therefore, the polarization characteristic of the reference light reaching the beam splitter 12 is circularly polarized light.

一方、反射部6を透過した広帯域光からなる信号光は、光ファイババンドル5の先端部5bから出射する。   On the other hand, the signal light composed of broadband light transmitted through the reflecting portion 6 is emitted from the tip portion 5 b of the optical fiber bundle 5.

図2に示すように、光ファイババンドル5の先端部5bには、光ファイババンドル5の各光ファイバ5α毎にマイクロレンズ5βが設けられている。マイクロレンズ5βは、光ファイバ5αの先端部5b側から出射される信号光を収斂させる対物レンズとして作用する。   As shown in FIG. 2, a microlens 5β is provided at the distal end portion 5 b of the optical fiber bundle 5 for each optical fiber 5α of the optical fiber bundle 5. The microlens 5β functions as an objective lens that converges signal light emitted from the end portion 5b side of the optical fiber 5α.

被測定物体5000に照射された信号光は、被測定物体5000の様々な深度位置において反射、散乱される。この信号光の反射光や散乱光は、マイクロレンズ5βを経由して光ファイバ5αに入射する。更に、信号光は、光ファイババンドル5により導光されて基端部5aから出射する。   The signal light applied to the measured object 5000 is reflected and scattered at various depth positions of the measured object 5000. The reflected or scattered light of the signal light enters the optical fiber 5α via the microlens 5β. Further, the signal light is guided by the optical fiber bundle 5 and emitted from the base end portion 5a.

基端部5aから出射した信号光は、偏光素子4を透過し、ビームスプリッタ3により反射され、ビームスプリッタ7を透過し、反射ミラー11に反射され、ビームスプリッタ12に到達する。   The signal light emitted from the base end portion 5 a passes through the polarizing element 4, is reflected by the beam splitter 3, passes through the beam splitter 7, is reflected by the reflecting mirror 11, and reaches the beam splitter 12.

ビームスプリッタ12に到達した信号光は、当初は無偏光であった広帯域光が偏光板4(45度の直線偏光)を経由し、被測定物体5000を経由し、偏光板4を再度経由したものである。したがって、ビームスプリッタ12に到達した信号光の偏光特性は直線偏光である。   The signal light that has reached the beam splitter 12 is a non-polarized broadband light that has passed through the polarizing plate 4 (45-degree linearly polarized light), the measured object 5000, and the polarizing plate 4 again. It is. Therefore, the polarization characteristic of the signal light reaching the beam splitter 12 is linearly polarized light.

ビームスプリッタ12に反射された参照光と、ビームスプリッタ12を透過した信号光とは、互いに重畳されて干渉光を生成する。この干渉光は、偏光ビームスプリッタ13により2つの偏光成分に分割されて2次元光センサアレイ14、15により検出される。   The reference light reflected by the beam splitter 12 and the signal light transmitted through the beam splitter 12 are superimposed on each other to generate interference light. The interference light is divided into two polarization components by the polarization beam splitter 13 and detected by the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15.

すなわち、干渉光のS偏光成分は、偏光ビームスプリッタ13により反射され、2次元光センサアレイ14により検出される。一方、干渉光のP偏光成分は、偏光ビームスプリッタ13を透過し、2次元光センサアレイ15により検出される。   That is, the S-polarized component of the interference light is reflected by the polarization beam splitter 13 and detected by the two-dimensional photosensor array 14. On the other hand, the P-polarized component of the interference light passes through the polarization beam splitter 13 and is detected by the two-dimensional photosensor array 15.

各2次元光センサアレイ14、15は、2次元の受光面を有している。S偏光成分とP偏光成分は、それぞれ、信号光と参照光を案内した光ファイバ5αの本数だけのビームを含んでいる。これらのビームは、光ファイバ5αの断面の配列と同様に配列されている。   Each of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 has a two-dimensional light receiving surface. The S-polarized component and the P-polarized component respectively include the same number of beams as the optical fiber 5α that guides the signal light and the reference light. These beams are arranged similarly to the arrangement of the cross section of the optical fiber 5α.

各2次元光センサアレイ14、15は、干渉光の偏光成分を検出すると、その検出結果を表す信号(検出信号)をコンピュータ16に送る。   When each of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 detects the polarization component of the interference light, it sends a signal (detection signal) representing the detection result to the computer 16.

各2次元光センサアレイ14、15は、2次元の受光面を有する任意の撮像素子により構成される。たとえば、CCDイメージセンサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなどを2次元光センサアレイ14、15として用いることが可能である。   Each of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 is constituted by an arbitrary image sensor having a two-dimensional light receiving surface. For example, a CCD image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor can be used as the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15.

2次元光センサアレイ14、15は、この発明の「検出手段」の一例である。なお、検出手段は、このような一対の撮像素子からなる必要はなく、一つ又は複数の撮像素子からなる検出手段を適宜に構成することが可能である。また、2次元光センサアレイ14、15に干渉光の偏光成分を検出させるための偏光ビームスプリッタ13も「検出手段」に含まれる。   The two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 are an example of the “detecting means” in the present invention. The detection means does not need to be composed of such a pair of image sensors, and the detection means composed of one or a plurality of image sensors can be appropriately configured. Also included in the “detection means” is a polarization beam splitter 13 for causing the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 to detect the polarization component of the interference light.

なお、ビームスプリッタ12と偏光ビームスプリッタ13の間には、開口絞りや結像レンズ(群)が設けられている(図示省略)。開口絞りは、干渉光のビーム径を制限する。結像レンズは、干渉光(の偏光成分)を集光して2次元光センサアレイ14、15の受光面上に結像させる。   An aperture stop and an imaging lens (group) are provided between the beam splitter 12 and the polarization beam splitter 13 (not shown). The aperture stop limits the beam diameter of the interference light. The imaging lens condenses the interference light (polarized component thereof) and forms an image on the light receiving surfaces of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15.

コンピュータ16は、図3に示すように、制御部17、表示部18、操作部19及び信号処理部20を備えている。   As shown in FIG. 3, the computer 16 includes a control unit 17, a display unit 18, an operation unit 19, and a signal processing unit 20.

制御部17は、光画像計測装置1の各部を制御する。たとえば、制御部17は、光源2による広帯域光の出力の制御、参照ミラー9を移動させるための参照ミラー移動機構9Aの制御、2次元光センサアレイ14、15の露光時間の制御、表示部18による表示処理の制御などを行う。   The control unit 17 controls each unit of the optical image measurement device 1. For example, the control unit 17 controls the output of broadband light by the light source 2, controls the reference mirror moving mechanism 9 </ b> A for moving the reference mirror 9, controls the exposure time of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15, and the display unit 18. Controls display processing by.

制御部17は、CPU等のマイクロプロセッサなどを含んで構成される。また、制御部17は、RAM、ROM、ハードディスクドライブ等の記憶装置を含んで構成される。ハードディスクドライブには、装置制御用のコンピュータプログラムが予め記憶されている。このコンピュータプログラムにしたがってマイクロプロセッサが動作することにより、制御部17は装置各部の制御を行う。   The control unit 17 includes a microprocessor such as a CPU. The control unit 17 includes a storage device such as a RAM, a ROM, and a hard disk drive. The hard disk drive stores a computer program for device control in advance. As the microprocessor operates in accordance with this computer program, the control unit 17 controls each part of the apparatus.

また、制御部17は、外部装置との間でデータ通信を行うための通信機器を備えていてもよい。通信機器としては、LANカードやモデムなどがある。それにより、制御部17は、外部のデータベースから各種の情報を取得したり、データベースに情報を登録させたりすることができる。また、検査装置等の眼科装置から情報を取得したり、眼科装置に情報を送信したりすることができる。また、制御部17は、他の診療科の情報システムや病院全体の情報システムと通信を行うことも可能である。   The control unit 17 may include a communication device for performing data communication with an external device. Communication devices include LAN cards and modems. Thereby, the control part 17 can acquire various information from an external database, or can register information in a database. In addition, information can be acquired from an ophthalmic apparatus such as an examination apparatus, or information can be transmitted to the ophthalmic apparatus. The control unit 17 can also communicate with information systems of other medical departments and information systems of the entire hospital.

表示部18は、制御部17により制御されて各種の情報を表示する。表示部18は、LCDやCRTディスプレイ等の任意の表示デバイスを含んで構成される。   The display unit 18 is controlled by the control unit 17 to display various information. The display unit 18 includes an arbitrary display device such as an LCD or a CRT display.

操作部19は、オペレータが光画像計測装置1を操作したり、各種の情報を入力したりするために用いられる。操作部19は、マウス、キーボード、ジョイスティック、トラックボール、専用のコントロールパネル等の任意の操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。   The operation unit 19 is used by an operator to operate the optical image measurement device 1 and input various kinds of information. The operation unit 19 includes an arbitrary operation device and input device such as a mouse, a keyboard, a joystick, a trackball, and a dedicated control panel.

信号処理部20は各種の信号を処理する。信号処理部20は、CPU等のマイクロプロセッサや、RAM、ROM、ハードディスクドライブ等の記憶装置などを含んで構成される。この記憶装置には、信号処理用のコンピュータプログラムが予め記憶されている。このコンピュータプログラムにしたがってマイクロプロセッサが動作することにより、信号処理部20は各種信号処理を実行する。   The signal processing unit 20 processes various signals. The signal processing unit 20 includes a microprocessor such as a CPU, a storage device such as a RAM, a ROM, and a hard disk drive. A computer program for signal processing is stored in advance in this storage device. As the microprocessor operates in accordance with this computer program, the signal processing unit 20 executes various signal processing.

信号処理部20は、2次元光センサアレイ14、15から出力された検出信号に基づいて、被測定物体5000の画像、特に断層画像を形成する。この断層画像は、図1のz方向に直交する断面における画像である。信号処理部20による形成処理については後述する。信号処理部20は、この発明の「画像形成手段」の一例である。   The signal processing unit 20 forms an image of the measured object 5000, particularly a tomographic image, based on the detection signals output from the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15. This tomographic image is an image in a cross section orthogonal to the z direction in FIG. The formation process by the signal processing unit 20 will be described later. The signal processing unit 20 is an example of the “image forming unit” in the present invention.

[動作態様]
光画像計測装置1の動作態様を説明する。ここでは、内視鏡のように被検体内の組織(深部組織)の画像を取得する場合について説明する。
[Mode of operation]
An operation mode of the optical image measurement device 1 will be described. Here, a case will be described in which an image of a tissue (deep tissue) in a subject is acquired like an endoscope.

まず、制御部17は、光源2を制御して広帯域光を出力させる。この動作態様では、広帯域光の連続光を出力する。   First, the control unit 17 controls the light source 2 to output broadband light. In this operation mode, continuous light of broadband light is output.

検者は、光ファイババンドル5(プローブ)を先端部5b側から被検体内に挿入する。このとき、参照ミラー9は、たとえば所定の初期位置に配置されている。光画像計測装置1は、この状態で被検体内の画像を取得して表示部18に表示する。この画像は、たとえば所定の時間間隔(フレームレート)で表示される。検者は、この画像を観察しつつ、観察対象となる深部組織の近くまで光ファイババンドル5を誘導する。なお、通常の内視鏡を被検体内に挿入し、その内視鏡画像を参照して光ファイババンドル5を誘導するようにしてもよい。   The examiner inserts the optical fiber bundle 5 (probe) into the subject from the distal end portion 5b side. At this time, the reference mirror 9 is arranged at a predetermined initial position, for example. In this state, the optical image measurement device 1 acquires an image in the subject and displays it on the display unit 18. This image is displayed at a predetermined time interval (frame rate), for example. The examiner guides the optical fiber bundle 5 to the vicinity of the deep tissue to be observed while observing this image. Note that a normal endoscope may be inserted into the subject, and the optical fiber bundle 5 may be guided with reference to the endoscope image.

また、検者は、観察対象の深部組織の所定の深さの画像が得られるように、参照ミラー9の位置を調整する。この処理は、たとえば、検者が操作部19を操作し、それに応じて制御部17が参照ミラー移動機構9Aを制御することで行う。参照ミラー9の位置調整が終了したら、検者は、操作部19を操作して画像の取得開始を指示する。   The examiner adjusts the position of the reference mirror 9 so that an image having a predetermined depth of the deep tissue to be observed can be obtained. This process is performed, for example, when the examiner operates the operation unit 19 and the control unit 17 controls the reference mirror moving mechanism 9A accordingly. When the position adjustment of the reference mirror 9 is completed, the examiner operates the operation unit 19 to instruct start of image acquisition.

この指示を受けた制御部17は、必要に応じて参照ミラー移動機構9Aを制御し、参照光の光路長を第1の光路長にする。第1の光路長は、深部組織の観察深度(z座標値)に対応している。制御部17は、各2次元光センサアレイ14、15の露光時間を制御する。2次元光センサアレイ14は、干渉光のS偏光成分を検出して検出信号Cを出力する。2次元光センサアレイ15は、干渉光のP偏光成分を検出して検出信号Cを出力する。 Upon receiving this instruction, the control unit 17 controls the reference mirror moving mechanism 9A as necessary to set the optical path length of the reference light to the first optical path length. The first optical path length corresponds to the observation depth (z coordinate value) of the deep tissue. The controller 17 controls the exposure time of each of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15. Two-dimensional photosensor array 14 outputs a detection signal C A detects the S-polarized light component of the interference light. Two-dimensional photosensor array 15 outputs a detection signal C B detects the P-polarized light component of the interference light.

干渉光のS偏光成分とP偏光成分は90度(π/2)の位相差を有している。したがって、検出信号Cと検出信号Cは90度の位相差を有している。検出信号C、Cは、それぞれ次式のように表すことができる。 The S-polarized component and the P-polarized component of the interference light have a phase difference of 90 degrees (π / 2). Therefore, the detection signal C A and the detection signal C B have a phase difference of 90 degrees. The detection signals C A and C B can be expressed by the following equations, respectively.

Figure 2009041946
Figure 2009041946

ここで、I(x、y)は信号光の強度を表し、I(x、y)は参照光の強度を表している。また、φ(x、y)は初期位相差を表している。また、各検出信号C、Cは、背景光成分(非干渉成分、直流成分)I(x、y)+I(x、y)を含む。更に、検出信号Cはcos成分からなる干渉成分を含み、検出信号Cはsin成分からなる干渉成分を含んでいる。 Here, I s (x, y) represents the intensity of the signal light, and I r (x, y) represents the intensity of the reference light. Φ (x, y) represents an initial phase difference. Each detection signal C A , C B includes a background light component (non-interference component, DC component) I s (x, y) + I r (x, y). Further, the detection signal C A includes an interference component composed of a cos component, and the detection signal C B includes an interference component composed of a sin component.

なお、式(1)、(2)に示すように、各検出信号C、Cは、空間(z方向に直交するx方向、y方向)のみを変数とし、時間を変数として含んでいない。すなわち、本実施形態に係る干渉信号は、空間的変化のみを含むものである。 As shown in equations (1) and (2), each of the detection signals C A and C B includes only space (x direction orthogonal to the z direction, y direction) as a variable, and does not include time as a variable. . That is, the interference signal according to the present embodiment includes only a spatial change.

次に、制御部17は、参照ミラー移動機構9Aを制御して参照光の光路長を第2の光路長に切り替える。第2の光路長も、当該観察対象部位に対応している。制御部17は、2次元光センサアレイ14、15の露光時間をそれぞれ制御して新たな検出信号C′、C′を出力させる。 Next, the control unit 17 controls the reference mirror moving mechanism 9A to switch the optical path length of the reference light to the second optical path length. The second optical path length also corresponds to the site to be observed. The controller 17 controls the exposure times of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 to output new detection signals C A ′ and C B ′.

ここで、第1の光路長と第2の光路長は、検出信号Cと検出信号C′とが位相差180度(π)を有し、かつ、検出信号Cと検出信号C′とが位相差180度(π)を有するような距離間隔となるように予め設定されている。なお、検出信号C、Cは位相差90度を有しているので、位相差90度ごとの4つの検出信号C、C、C′、C′が得られたことになる。 Here, the first optical path length and the second optical path length are such that the detection signal C A and the detection signal C A ′ have a phase difference of 180 degrees (π), and the detection signal C B and the detection signal C B. Is set in advance so as to be a distance interval having a phase difference of 180 degrees (π). Since the detection signals C A and C B have a phase difference of 90 degrees, four detection signals C A , C B , C A ′, and C B ′ for each phase difference of 90 degrees are obtained. Become.

信号処理部20は、検出信号C、C′(位相差180度)を加算し、その和を2で除算することにより、背景光成分I(x、y)+I(x、y)を演算する。この演算処理は、検出信号C、C′(位相差180度)を用いて行ってもよい。 The signal processing unit 20 adds the detection signals C A and C A ′ (phase difference 180 degrees), and divides the sum by 2 to obtain the background light component I s (x, y) + I r (x, y ) Is calculated. This calculation process may be performed using the detection signals C B and C B ′ (phase difference 180 degrees).

更に、信号処理部20は、求めた背景光成分I(x、y)+I(x、y)を各検出信号C、Cから除算して干渉成分(cos成分、sin成分)を求める。そして、信号処理部20は、各検出信号C、Cの干渉成分の二乗和を演算することによりz方向に直交する方向(横方向)の断面における画像を形成する。 Further, the signal processing unit 20 divides the obtained background light component I s (x, y) + I r (x, y) from each detection signal C A , C B to obtain an interference component (cos component, sin component). Ask. The signal processing unit 20 forms an image in a cross section in a direction (lateral direction) perpendicular to the z-direction by calculating the square sum of the interference components of the respective detection signals C A, C B.

制御部17は、たとえば操作部19に対する操作に応じ、形成された画像を表示部18に表示させる。この画像形成処理は、検出信号C′、C′(位相差180度)を用いて行ってもよい。 The control unit 17 displays the formed image on the display unit 18 in response to an operation on the operation unit 19, for example. This image forming process may be performed using the detection signals C A ′ and C B ′ (phase difference 180 degrees).

制御部17は、参照光の光路長を逐次に変更して上記の処理を反復することで、観察対象の深部組織の様々な深度位置における断面画像を順次に形成することができる。   The control unit 17 can sequentially form cross-sectional images at various depth positions of the deep tissue to be observed by sequentially changing the optical path length of the reference light and repeating the above processing.

なお、この処理において、制御部17は、2次元光センサアレイ14、15を所定のフレームレートでかつ同じタイミングで検出信号を出力するように制御する。更に、制御部17は、このフレームレートと、2次元光センサアレイ14、15の露光タイミングと、参照ミラー9の移動タイミングと、参照光の光路長の変更タイミングとを同期させる。   In this process, the control unit 17 controls the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 to output detection signals at a predetermined frame rate and at the same timing. Further, the control unit 17 synchronizes the frame rate, the exposure timing of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15, the movement timing of the reference mirror 9, and the change timing of the optical path length of the reference light.

このとき、2次元光センサアレイ14、15の露光時間は、フレームレートよりも短く設定される。たとえば、2次元光センサアレイ14、15のフレームレートを30f/sに設定し、露光時間を30〜50μs程度に設定することができる。   At this time, the exposure time of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 is set shorter than the frame rate. For example, the frame rate of the two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 can be set to 30 f / s, and the exposure time can be set to about 30 to 50 μs.

また、中心波長760nm程度で波長幅100nm程度の広帯域光を用いることにより、数μm程度の分解能の画像を取得することができる。たとえば被測定物体が人眼(屈折率n=1.33)である場合において、広帯域光の波長をガウス型と仮定することで、取得される画像の分解能の理論値は約1.8μmとなる。   Further, by using broadband light having a center wavelength of about 760 nm and a wavelength width of about 100 nm, an image with a resolution of about several μm can be acquired. For example, when the object to be measured is the human eye (refractive index n = 1.33), assuming that the wavelength of the broadband light is Gaussian, the theoretical value of the resolution of the acquired image is about 1.8 μm. .

このようにして取得された深部組織の画像は、制御部17のハードディスクドライブなど、任意の記憶装置に記憶される。   The deep tissue image acquired in this way is stored in an arbitrary storage device such as a hard disk drive of the control unit 17.

[作用・効果]
光画像計測装置1の作用及び効果について説明する。
[Action / Effect]
The operation and effect of the optical image measurement device 1 will be described.

光画像計測装置1は、低コヒーレンス光(広帯域光)を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、干渉光を検出する2次元光センサアレイ14、15と、干渉光の検出結果に基づいて被測定物体の画像を形成する信号処理部20とを備える。   The optical image measuring device 1 divides low-coherence light (broadband light) into signal light and reference light, and generates interference light by superimposing the signal light passing through the object to be measured and the reference light passing through the reference object. Interference light generating means, two-dimensional photosensor arrays 14 and 15 for detecting the interference light, and a signal processing unit 20 for forming an image of the object to be measured based on the detection result of the interference light.

ここで、干渉光生成手段は、少なくとも、光源2、光ファイババンドル5、反射部6、参照ミラー9及びビームスプリッタ12を含んで構成される。   Here, the interference light generation means includes at least the light source 2, the optical fiber bundle 5, the reflection unit 6, the reference mirror 9, and the beam splitter 12.

光ファイババンドル5は、前述のようにこの発明の「導光手段」の一例である。すなわち、光ファイババンドル5は、低コヒーレンス光から分割された信号光を先端部5bから出射し、被測定物体を経由して先端部5bから入射された信号光を導光するように作用する。そして、干渉光生成手段は、光ファイババンドル5により導光された信号光を参照光と重畳させて干渉光を生成するように作用する。   The optical fiber bundle 5 is an example of the “light guide” of the present invention as described above. That is, the optical fiber bundle 5 acts to emit the signal light divided from the low-coherence light from the tip portion 5b and guide the signal light incident from the tip portion 5b via the object to be measured. The interference light generation means acts to generate interference light by superimposing the signal light guided by the optical fiber bundle 5 with the reference light.

このような光画像計測装置1によれば、たとえば光ファイババンドル5を被検体内に挿入するなど、その先端部5bを被測定物体5000の深部組織の近くに配置させて計測を行うことができる。   According to such an optical image measuring device 1, for example, the optical fiber bundle 5 can be inserted into the subject, and the distal end portion 5b can be placed near the deep tissue of the object 5000 to be measured. .

更に、光画像計測装置1によれば、OCT技術を用いることで深部組織のμmレベルの解像度の画像を形成することが可能である。   Furthermore, according to the optical image measurement device 1, it is possible to form an image having a resolution of μm level of a deep tissue by using the OCT technique.

このように、光画像計測装置1によれば、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化することが可能である。   Thus, according to the optical image measurement device 1, it is possible to image the fine structure of the deep tissue of the object to be measured.

また、可撓性を有する光ファイババンドル5を用いることにより、たとえば光ファイババンドル5を被検体内に好適に挿入することが可能である。特に、被検体の表面の開口から深部組織までの経路が屈曲している場合などにおいて、光ファイババンドル5を深部組織の近くまで好適に誘導することが可能である。   Further, by using the flexible optical fiber bundle 5, for example, the optical fiber bundle 5 can be suitably inserted into the subject. In particular, when the path from the opening on the surface of the subject to the deep tissue is bent, the optical fiber bundle 5 can be suitably guided to the vicinity of the deep tissue.

また、光ファイババンドル5は、基端部5aから入射した低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する反射部6を備えている。そして、信号光は、先端部5bから出射し、被測定物体を経由し、先端部5bから光ファイババンドル5に入射し、基端部5aまで導光されて出射する、一方、参照光は、基端部5aから出射する。それぞれ基端部5aから出射した信号光と参照光は、互いに重畳されて干渉光を生成する。   Further, the optical fiber bundle 5 includes a reflecting portion 6 that divides low-coherence light incident from the base end portion 5a into signal light and reference light. Then, the signal light is emitted from the distal end portion 5b, passes through the object to be measured, is incident on the optical fiber bundle 5 from the distal end portion 5b, is guided to the proximal end portion 5a, and is emitted, while the reference light is The light exits from the base end 5a. The signal light and the reference light emitted from the base end portion 5a are superimposed on each other to generate interference light.

このように、信号光の光路の一部と参照光の光路の一部とを共通化することにより、参照光単独の光路を短くすることができ、装置構成の簡略化を図ることが可能となる。すなわち、OCT技術を利用した光画像計測装置においては、内視鏡や共焦点顕微鏡等の装置と異なり、干渉光を生成するために信号光の光路長と参照光の光路長とを合わせる必要があるが、この実施形態のように構成することにより、当該要請を好適に満足することが可能である。   In this way, by sharing a part of the optical path of the signal light and a part of the optical path of the reference light, the optical path of the reference light alone can be shortened, and the apparatus configuration can be simplified. Become. That is, in an optical image measurement device using OCT technology, unlike devices such as endoscopes and confocal microscopes, it is necessary to match the optical path length of the signal light with the optical path length of the reference light in order to generate interference light. However, by configuring as in this embodiment, it is possible to satisfy the request suitably.

なお、参照光単独の光路のうちビームスプリッタ7と参照ミラー9との間の光路の長さは、反射部6と被測定物体5000の観察深度位置との間の長さに一致される。すなわち、参照ミラー9を移動させて上記光路の長さを変更することにより、観察深度位置(z座標値)を変更することができる。   Note that the length of the optical path between the beam splitter 7 and the reference mirror 9 in the optical path of the reference light alone is equal to the length between the reflection unit 6 and the observation depth position of the measured object 5000. That is, the observation depth position (z coordinate value) can be changed by moving the reference mirror 9 and changing the length of the optical path.

「光路長(光路の長さ)」とは、単なる空間的な距離における光路の長さではなく、光学部材の屈折率は配置等を考慮した光学的な距離における光路の長さを意味するものである。   “Optical path length (optical path length)” means not the length of the optical path at a simple spatial distance, but the refractive index of the optical member means the length of the optical path at an optical distance considering the arrangement, etc. It is.

[変形例]
フルフィールド型の光画像計測装置の変形例を説明する。
[Modification]
A modification of the full-field optical image measurement device will be described.

上記の実施形態では、干渉光の偏光成分を検出するタイプの光画像計測装置1について説明したが、フルフィールド型の光画像計測装置はこれに限定されるものではない。たとえば、特開2001−330558号公報に記載のように、光遮断装置(シャッタ)を用いて干渉光の異なる位相成分を抽出する構成を適用することができる。   In the above embodiment, the optical image measurement device 1 of the type that detects the polarization component of the interference light has been described. However, the full-field optical image measurement device is not limited to this. For example, as described in JP 2001-330558 A, a configuration in which different phase components of interference light are extracted using a light blocking device (shutter) can be applied.

ただし、上記の実施形態のように偏光特性を利用するタイプは、シャッタ等の複雑な構成要素が不要であり、またシャッタの精密な制御も不要であるといったメリットがある。また、偏光特性を利用するタイプよれば、画像を形成するために必要な4つの成分(C、C、C′、C′)を2回の計測で取得でき、計測時間の短縮を図ることができるというメリットもある(その他のタイプには、3回以上計測を繰り返さなければならないものもある)。 However, the type using the polarization characteristic as in the above-described embodiment has an advantage that complicated components such as a shutter are unnecessary and precise control of the shutter is unnecessary. In addition, according to the type using polarization characteristics, four components (C A , C B , C A ′, C B ′) necessary for forming an image can be acquired by two measurements, and the measurement time can be shortened. (There are other types that have to be measured three times or more).

上記の実施形態において、光ファイババンドル5が長い場合や、反射部6が基端部5a寄りに配設されている場合などに、参照光単独の光路長を長くする必要が生じることがある。このような場合、参照光の光路長を延長させる光学部材を設けることが可能である。この光学部材は、たとえばビームスプリッタ7と参照ミラー9の間など、参照光単独の光路上に配設される。それにより、信号光に含まれる情報を維持しつつ干渉光を生成することができる。この光学素子は、たとえば屈折率の大きな素材により形成される。この光学素子は、信号光の光路長と参照光の光路長とを一致させるための光学部材の一例である。   In the above embodiment, when the optical fiber bundle 5 is long, or when the reflecting portion 6 is disposed closer to the base end portion 5a, it may be necessary to increase the optical path length of the reference light alone. In such a case, it is possible to provide an optical member that extends the optical path length of the reference light. This optical member is disposed on the optical path of the reference light alone, for example, between the beam splitter 7 and the reference mirror 9. Thereby, interference light can be generated while maintaining information included in the signal light. This optical element is formed of a material having a large refractive index, for example. This optical element is an example of an optical member for making the optical path length of the signal light coincide with the optical path length of the reference light.

光学素子には、たとえばプリズムやレンズのように光を分散させるものがある。信号光に付与される分散の影響と参照光に付与される分散の影響とが異なると、信号光と参照光の干渉位置が波長成分毎に異なり、好適な干渉光を得られないおそれがある。このような事態を回避するために、信号光に付与される分散の影響と参照光に付与される分散の影響とを一致させるための光学部材を設けることが可能である。この光学部材としては、たとえばペアプリズム等のプリズム部材や、水等の液体が封入された液体セルや、ガラスブロックなどを用いることが可能である。   Some optical elements, such as prisms and lenses, disperse light. If the influence of the dispersion applied to the signal light is different from the influence of the dispersion applied to the reference light, the interference position of the signal light and the reference light is different for each wavelength component, and there is a possibility that suitable interference light cannot be obtained. . In order to avoid such a situation, it is possible to provide an optical member for making the influence of the dispersion applied to the signal light coincide with the influence of the dispersion applied to the reference light. As this optical member, for example, a prism member such as a pair prism, a liquid cell in which a liquid such as water is sealed, a glass block, or the like can be used.

なお、光路長や分散の影響を一致させるための光学部材は、信号光に含まれる情報を維持するために、たとえばビームスプリッタ7と参照ミラー9の間など、参照光単独の光路上に配設されることが望ましい。   An optical member for matching the effects of the optical path length and dispersion is arranged on the optical path of the reference light alone, for example, between the beam splitter 7 and the reference mirror 9 in order to maintain the information included in the signal light. It is desirable that

上記の光画像計測装置1で採用した光学系は、フルフィールド型の光画像計測装置の光学系の一例に過ぎない。たとえばマイケルソン型やマッハ−チェンダー型などの任意の干渉計を採用することが可能である。   The optical system employed in the optical image measurement device 1 is merely an example of an optical system of a full-field optical image measurement device. For example, an arbitrary interferometer such as a Michelson type or a Mach-Cender type can be adopted.

ここで、マイケルソン型の干渉計を採用した光画像計測装置について説明する。図4に示す光画像計測装置50は、このような光画像計測装置の一例である。   Here, an optical image measuring apparatus employing a Michelson interferometer will be described. The optical image measurement device 50 shown in FIG. 4 is an example of such an optical image measurement device.

光画像計測装置50は、光源としてハロゲンランプ51を備えている。ハロゲンランプ51は、たとえば無偏光の広帯域光Mを出力する。なお、図示は省略するが、ハロゲンランプ51は、通常のハロゲンランプとともに、出力光を導光する光ファイババンドルや、出力光の照射野を一様に照明するためのケーラー照明光学系などを含んで構成することができる。ハロゲンランプ51から出力される無偏光の広帯域光Mは、所定のビーム径を有している。   The optical image measuring device 50 includes a halogen lamp 51 as a light source. The halogen lamp 51 outputs, for example, non-polarized broadband light M. Although not shown, the halogen lamp 51 includes, together with a normal halogen lamp, an optical fiber bundle that guides the output light, a Kohler illumination optical system for uniformly illuminating the irradiation field of the output light, and the like. Can be configured. The non-polarized broadband light M output from the halogen lamp 51 has a predetermined beam diameter.

光源は、ハロゲンランプ51には限定されず、無偏光の広帯域光を出力する任意の光源であってよい。たとえば、キセノンランプ等の任意の熱光源を適用できる。また、光源は、ランダム偏光の広帯域光を出力するレーザ光源であってもよい。以下、無偏光の場合について詳しく説明する。   The light source is not limited to the halogen lamp 51, and may be any light source that outputs non-polarized broadband light. For example, an arbitrary heat source such as a xenon lamp can be applied. The light source may be a laser light source that outputs broadband light with random polarization. Hereinafter, the case of non-polarized light will be described in detail.

さて、ハロゲンランプ51により出力された広帯域光Mは、様々な帯域の光を含んでいる。フィルタ52は、無偏光の広帯域光Mの所定帯域のみを透過させるフィルタである。透過させる所定帯域は、分解能や計測深度等によって決定され、たとえば中心波長760nm程度で100nm程度の波長幅の帯域に設定される。フィルタ52を透過した光を同じく広帯域光Mと呼ぶことにする。   Now, the broadband light M output from the halogen lamp 51 includes light of various bands. The filter 52 is a filter that transmits only a predetermined band of the non-polarized broadband light M. The predetermined band to be transmitted is determined by the resolution, the measurement depth, and the like, and is set to a band having a center wavelength of about 760 nm and a wavelength width of about 100 nm, for example. The light transmitted through the filter 52 is also referred to as broadband light M.

フィルタ52を透過した無偏光の広帯域光Mは、ハーフミラー等のビームスプリッタ53によって二分割される。すなわち、ビームスプリッタ53による反射光は信号光Sを形成し、ビームスプリッタ53を透過した光は参照光Rを形成する。   The non-polarized broadband light M transmitted through the filter 52 is divided into two by a beam splitter 53 such as a half mirror. That is, the reflected light from the beam splitter 53 forms the signal light S, and the light transmitted through the beam splitter 53 forms the reference light R.

ビームスプリッタ53により生成された無偏光の参照光Rは、波長板(λ/4板)54と偏光板55を通過し、反射ミラー56にて反射される。更に、参照光Rは、ガラス板57を通過し、対物レンズ58によって参照ミラー59の反射面に合焦される。参照ミラー59により反射された参照光Rは、同じ光路を逆向きに経由してビームスプリッタ53に戻ってくる。   The non-polarized reference light R generated by the beam splitter 53 passes through the wave plate (λ / 4 plate) 54 and the polarizing plate 55 and is reflected by the reflection mirror 56. Further, the reference light R passes through the glass plate 57 and is focused on the reflection surface of the reference mirror 59 by the objective lens 58. The reference light R reflected by the reference mirror 59 returns to the beam splitter 53 via the same optical path in the reverse direction.

このとき、当初は無偏光であった参照光Rは、波長板54と偏光板55を二回経由することにより円偏光に変換される。ガラス板57は、信号光S及び参照光Rの光路(干渉計の両アーム)にてそれぞれ発生する分散の影響を一致させるための光学部材である。   At this time, the reference light R that was initially unpolarized is converted into circularly polarized light by passing through the wave plate 54 and the polarizing plate 55 twice. The glass plate 57 is an optical member for making the influences of dispersion generated in the optical paths (both arms of the interferometer) of the signal light S and the reference light R coincide.

参照ミラー59は、参照ミラー移動機構60によって参照光Rの進行方向、すなわち参照ミラー59の反射面に直交する方向(図4の両側矢印方向)に移動可能とされている。参照ミラー移動機構60は、たとえばピエゾ素子等の駆動手段を含んで構成される。   The reference mirror 59 can be moved by the reference mirror moving mechanism 60 in the traveling direction of the reference light R, that is, in the direction orthogonal to the reflecting surface of the reference mirror 59 (in the direction of the double-headed arrow in FIG. 4). The reference mirror moving mechanism 60 is configured to include driving means such as a piezo element.

このように参照ミラー59を移動させることにより、信号光Sと参照光Rの光路長差が変更される。ここで、信号光Sの光路長は、ビームスプリッタ53と被測定物体5000の観察対象の深度位置との間の往復距離である。また、参照光Rの光路長は、ビームスプリッタ53と参照ミラー59の反射面との間の往復距離とする。信号光Sと参照光Rの光路長の差を変更することにより、被測定物体5000の様々な深度位置の画像を選択的に取得することができる。   By moving the reference mirror 59 in this way, the optical path length difference between the signal light S and the reference light R is changed. Here, the optical path length of the signal light S is a reciprocating distance between the beam splitter 53 and the depth position of the object to be measured 5000 to be observed. The optical path length of the reference light R is a reciprocating distance between the beam splitter 53 and the reflecting surface of the reference mirror 59. By changing the difference between the optical path lengths of the signal light S and the reference light R, it is possible to selectively acquire images at various depth positions of the measured object 5000.

なお、この実施形態では、参照光Rの光路長を変更することで上記光路長差を変更しているが、信号光Sの光路長を変更することにより上記光路長差を変更するように構成することも可能である。その場合、装置光学系と被検眼との間隔を変更するような構成を設ける。具体的には、たとえば、装置光学系をz方向に移動させるステージや、被測定物体5000をz方向に移動させるステージなどを適用することが可能である。   In this embodiment, the optical path length difference is changed by changing the optical path length of the reference light R. However, the optical path length difference is changed by changing the optical path length of the signal light S. It is also possible to do. In that case, a configuration is provided in which the distance between the apparatus optical system and the eye to be examined is changed. Specifically, for example, a stage that moves the apparatus optical system in the z direction, a stage that moves the measured object 5000 in the z direction, and the like can be applied.

信号光Sは、無偏光状態を保ったまま光ファイババンドル61に入射する。なお、信号光Sのビーム径が光ファイババンドルの径よりも大きい場合などには、信号光Sのビーム径を小さくするための集光レンズ等の光学素子を、ビームスプリッタ53と光ファイババンドル61との間に配設してもよい。   The signal light S enters the optical fiber bundle 61 while maintaining a non-polarized state. When the beam diameter of the signal light S is larger than the diameter of the optical fiber bundle, an optical element such as a condenser lens for reducing the beam diameter of the signal light S is used as the beam splitter 53 and the optical fiber bundle 61. You may arrange | position between.

光ファイババンドル61は、上記実施形態の光ファイババンドル5と同様の構成を有する。なお、この変形例の光ファイババンドル61には、上記実施形態の反射部6のような反射手段や分割手段は設けられていない。光ファイババンドル61を形成する各光ファイバの先端部(被測定物体5000側の端部)には、上記実施形態と同様にマイクロレンズがそれぞれ設けられている(図2参照)。各光ファイバに導光された信号光Sは、このマイクロレンズによって被測定物体5000の観察対象の深度位置にて合焦される。   The optical fiber bundle 61 has the same configuration as the optical fiber bundle 5 of the above embodiment. In addition, the optical fiber bundle 61 of this modification is not provided with a reflection means and a division means like the reflection part 6 of the said embodiment. Microlenses are respectively provided at the distal end portions (end portions on the measured object 5000 side) of the respective optical fibers forming the optical fiber bundle 61 (refer to FIG. 2). The signal light S guided to each optical fiber is focused at the depth position of the observation target of the measured object 5000 by the microlens.

被測定物体5000に照射された信号光Sは、被測定物体5000の表面や内部にて反射、散乱され、上記先端部から光ファイババンドル61に入射する。更に、信号光Sは、光ファイババンドル61により導光されて基端部(上記先端部の反対側の端部)から出射し、ビームスプリッタ3に戻ってくる。   The signal light S irradiated on the object to be measured 5000 is reflected and scattered on the surface and inside of the object to be measured 5000 and enters the optical fiber bundle 61 from the tip. Further, the signal light S is guided by the optical fiber bundle 61, exits from the base end portion (the end portion on the opposite side of the tip end portion), and returns to the beam splitter 3.

被測定物体5000を経由した信号光Sと、参照ミラー59を経由した参照光Rは、ビームスプリッタ53によって重畳されて干渉光Lを生成する。干渉光LはS偏光成分とP偏光成分とを含んでいる。ハロゲンランプ51、ビームスプリッタ53、参照ミラー59を含んで構成される干渉計は、この発明の「干渉光生成手段」の一例である。   The signal light S that has passed through the measured object 5000 and the reference light R that has passed through the reference mirror 59 are superimposed by the beam splitter 53 to generate interference light L. The interference light L includes an S-polarized component and a P-polarized component. An interferometer including the halogen lamp 51, the beam splitter 53, and the reference mirror 59 is an example of the “interference light generating means” of the present invention.

ビームスプリッタ53により生成された干渉光Lは、開口絞り62を経由し、結像レンズ(群)63によって集束光となる。集束光となった干渉光LのS偏光成分L1は、偏光ビームスプリッタ64により反射されてCCD(イメージセンサ)66により検出される。一方、干渉光LのP偏光成分L2は、偏光ビームスプリッタ64を透過し、反射ミラー65により反射されてCCD(イメージセンサ)67により検出される。   The interference light L generated by the beam splitter 53 passes through the aperture stop 62 and becomes focused light by the imaging lens (group) 63. The S-polarized component L 1 of the interference light L that has become the focused light is reflected by the polarization beam splitter 64 and detected by a CCD (image sensor) 66. On the other hand, the P-polarized component L2 of the interference light L passes through the polarization beam splitter 64, is reflected by the reflection mirror 65, and is detected by a CCD (image sensor) 67.

各CCD66、67は、2次元の受光面を有している。S偏光成分L1とP偏光成分L2は、それぞれ、所定のビーム径を持ってCCD66、67の受光面に照射される。   Each of the CCDs 66 and 67 has a two-dimensional light receiving surface. The S-polarized component L1 and the P-polarized component L2 are irradiated on the light receiving surfaces of the CCDs 66 and 67 with a predetermined beam diameter, respectively.

S偏光成分L1、P偏光成分L2をそれぞれ検出したCCD66、67は、それぞれ検出信号をコンピュータ68に送る。CCD66、67は、この発明の「検出手段」の一例である。なお、CCD以外の2次元光センサアレイを検出手段として用いてもよい。   The CCDs 66 and 67 that have detected the S-polarized component L1 and the P-polarized component L2 respectively send detection signals to the computer 68. The CCDs 66 and 67 are examples of the “detecting means” of the present invention. A two-dimensional photosensor array other than a CCD may be used as the detection means.

干渉光Lの元になる参照光Rは円偏光であり信号光Sは無偏光であるから、S偏光成分L1とP偏光成分L2は90度(π/2)の位相差を有している。したがって、CCD66から出力される検出信号Dと、CCD67から出力される検出信号Dは、90度の位相差を有している。したがって、これらの検出信号は、前述の式(1)、(2)のように表すことができる。 Since the reference light R that is the source of the interference light L is circularly polarized and the signal light S is non-polarized, the S-polarized component L1 and the P-polarized component L2 have a phase difference of 90 degrees (π / 2). . Therefore, a detection signal D A outputted from the CCD 66, the detection signal D B outputted from the CCD67 has a phase difference of 90 degrees. Therefore, these detection signals can be expressed as the above-described equations (1) and (2).

コンピュータ68は、上記実施形態と同様に、参照ミラー移動機構60を制御して参照光Rの光路長を切り替え、その状態で新たな計測を実行させる。それにより、CCD66、67は、新たな検出信号D′、D′を出力させる。 Similarly to the above embodiment, the computer 68 controls the reference mirror moving mechanism 60 to switch the optical path length of the reference light R, and causes a new measurement to be executed in that state. Accordingly, the CCDs 66 and 67 output new detection signals D A ′ and D B ′.

ここで、最初の計測における参照光Rの光路長と次の計測における参照光Rの光路長とは、検出信号Dと検出信号D′とが位相差180度(π)を有し、かつ、検出信号Dと検出信号D′とが位相差180度(π)を有するような距離間隔となるように予め設定されている。検出信号D、Dは位相差90度を有しているので、位相差90度ごとの4つの検出信号D、D、D′、D′が得られたことになる。 Here, the optical path length of the reference light R in the optical path length and the next measurement of the reference light R in the first measurement has a detection signal D A detection signal D A 'is a phase difference 180 degrees ([pi), In addition, the detection signal D B and the detection signal D B ′ are set in advance so as to have a distance interval having a phase difference of 180 degrees (π). Since the detection signals D A and D B have a phase difference of 90 degrees, four detection signals D A , D B , D A ′, and D B ′ for each phase difference of 90 degrees are obtained.

コンピュータ68は、検出信号D、D′(位相差180度)を加算し、その和を2で除算することにより、背景光成分I(x、y)+I(x、y)を演算する。この演算処理は、検出信号D、D′(位相差180度)を用いて行ってもよい。 The computer 68 adds the detection signals D A and D A ′ (phase difference 180 degrees) and divides the sum by 2 to obtain the background light component I s (x, y) + I r (x, y). Calculate. This calculation process detection signal D B, may be carried out using D B '(phase difference of 180 degrees).

更に、コンピュータ68は、求めた背景光成分I(x、y)+I(x、y)を各検出信号D、Dから除算して干渉成分(cos成分、sin成分)を求める。そして、コンピュータ68は、各検出信号D、Dの干渉成分の二乗和を演算することにより、z方向に直交する方向(xy方向、横方向)を断面とする断層画像を形成する。 Further, the computer 68 divides the obtained background light component I s (x, y) + I r (x, y) from the respective detection signals D A and D B to obtain an interference component (cos component, sin component). Then, the computer 68 calculates a sum of squares of the interference components of the detection signals D A and D B to form a tomographic image having a cross section in the direction (xy direction, horizontal direction) orthogonal to the z direction.

コンピュータ68は、形成された断層画像を表示する。なお、コンピュータ68は、上記実施形態のコンピュータ16と同様の構成を有する(図3参照)。   The computer 68 displays the formed tomographic image. The computer 68 has the same configuration as the computer 16 of the above embodiment (see FIG. 3).

このようなマイケルソン型の干渉計を適用した光画像計測装置50によれば、たとえば光ファイババンドル61を被検体内に挿入するなど、その先端部を被測定物体5000の深部組織の近くに配置させて計測を行うことができる。   According to the optical image measurement device 50 to which such a Michelson interferometer is applied, the tip portion thereof is arranged near the deep tissue of the object 5000 to be measured, for example, the optical fiber bundle 61 is inserted into the subject. Can be measured.

更に、光画像計測装置50によれば、OCT技術を用いることで深部組織のμmレベルの解像度の画像を形成することが可能である。   Furthermore, according to the optical image measurement device 50, it is possible to form an image having a resolution of μm level of the deep tissue by using the OCT technique.

このように、光画像計測装置50によれば、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化することが可能である。   Thus, according to the optical image measurement device 50, it is possible to image the fine structure of the deep tissue of the object to be measured.

また、光ファイババンドル61として可撓性を有するものを用いることができる。それにより、たとえば光ファイババンドル61を被検体内に好適に挿入することが可能である。特に、被検体の表面の開口から深部組織までの経路が屈曲している場合などにおいて、光ファイババンドル61を深部組織の近くまで好適に誘導することが可能である。   Moreover, what has flexibility as the optical fiber bundle 61 can be used. Thereby, for example, the optical fiber bundle 61 can be suitably inserted into the subject. In particular, when the path from the opening on the surface of the subject to the deep tissue is bent, the optical fiber bundle 61 can be suitably guided to the vicinity of the deep tissue.

〈第2の実施形態〉
フーリエドメイン型及びスウェプトソース型の光画像計測装置に対するこの発明の適用例を説明する。
<Second Embodiment>
Application examples of the present invention to Fourier domain type and swept source type optical image measurement devices will be described.

[装置構成]
図5に示す光画像計測装置80は、OCT技術を利用した被測定物体5000の断層画像撮影と、被測定物体5000の表面の画像撮影とを実施可能な装置である。光画像計測装置80は、たとえば眼底や内臓等の被検体内の深部組織の画像を撮影するための装置である。この実施形態では、被測定物体5000が眼底である場合について説明する。
[Device configuration]
An optical image measurement apparatus 80 shown in FIG. 5 is an apparatus that can perform tomographic imaging of a measurement object 5000 using the OCT technique and imaging of the surface of the measurement object 5000. The optical image measurement device 80 is a device for taking an image of a deep tissue in a subject such as a fundus or a viscera. In this embodiment, a case where the object to be measured 5000 is the fundus will be described.

光画像計測装置80は、図5に示すように、光学系ユニット80A、OCTユニット150及びコンピュータ200を含んで構成される。光学系ユニット80Aは、被測定物体5000の表面の2次元画像を撮影するための光学系を有している。ここでは、被測定物体5000は眼底であるので、光学系ユニット80Aは、従来の眼底カメラとほぼ同様に構成される。OCTユニット150は、OCT技術を利用した画像撮影を行うための光学系を格納している。コンピュータ200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。   As shown in FIG. 5, the optical image measurement device 80 includes an optical system unit 80 </ b> A, an OCT unit 150, and a computer 200. The optical system unit 80A has an optical system for taking a two-dimensional image of the surface of the measured object 5000. Here, since the object 5000 to be measured is the fundus, the optical system unit 80A is configured in substantially the same manner as a conventional fundus camera. The OCT unit 150 stores an optical system for taking an image using the OCT technique. The computer 200 includes a computer that executes various arithmetic processes and control processes.

OCTユニット150には、接続線152の一端が取り付けられている。接続線152の他端には、接続線152を光学系ユニット80Aに接続するコネクタ部151が取り付けられている。接続線152の内部には光ファイバが導通されている。このように、OCTユニット150と光学系ユニット80Aは、接続線152を介して光学的に接続されている。   One end of a connection line 152 is attached to the OCT unit 150. A connector portion 151 for connecting the connection line 152 to the optical system unit 80A is attached to the other end of the connection line 152. An optical fiber is conducted through the connection line 152. As described above, the OCT unit 150 and the optical system unit 80 </ b> A are optically connected via the connection line 152.

〔光学系ユニットの構成〕
光学系ユニット80Aは、光学的に取得されるデータ(撮像装置145、146により検出されるデータ)に基づいて被測定物体5000の表面の2次元画像を形成するために用いられる。
[Configuration of optical system unit]
The optical system unit 80A is used to form a two-dimensional image of the surface of the measured object 5000 based on optically acquired data (data detected by the imaging devices 145 and 146).

ここで、被測定物体5000の表面の2次元画像とは、被測定物体5000の表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像などを表す。更に、被測定物体5000としての眼底の蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)も、当該2次元画像に含まれる。光学系ユニット80Aは、従来の眼底カメラと同様に、被測定物体5000を照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置145、146に導く撮影光学系120とを備えている。   Here, the two-dimensional image of the surface of the measured object 5000 represents a color image, a monochrome image, or the like obtained by photographing the surface of the measured object 5000. Furthermore, a fluorescence image (fluorescein fluorescence image, indocyanine green fluorescence image, etc.) of the fundus as the measurement object 5000 is also included in the two-dimensional image. Similarly to the conventional fundus camera, the optical system unit 80A includes an illumination optical system 100 that illuminates the object to be measured 5000, and a photographing optical system 120 that guides the fundus reflection light of the illumination light to the imaging devices 145 and 146. Yes.

撮像装置145は、近赤外領域の波長を有する照明光を検出する。また、撮像装置146は、可視領域の波長を有する照明光を検出する。更に、撮影光学系120は、OCTユニット150からの信号光を被測定物体5000に導くとともに、被測定物体5000を経由した信号光をOCTユニット150に導くように作用する。   The imaging device 145 detects illumination light having a wavelength in the near infrared region. Further, the imaging device 146 detects illumination light having a wavelength in the visible region. Further, the imaging optical system 120 operates to guide the signal light from the OCT unit 150 to the object to be measured 5000 and to guide the signal light passing through the object to be measured 5000 to the OCT unit 150.

照明光学系100は、観察光源101、コンデンサレンズ102、撮影光源103、コンデンサレンズ104、エキサイタフィルタ105及び106、リング透光板107、ミラー108、LCD(Liquid Crystal Display)109、照明絞り110、リレーレンズ111、孔開きミラー112、光ファイババンドル113を含んで構成される。   The illumination optical system 100 includes an observation light source 101, a condenser lens 102, a photographing light source 103, a condenser lens 104, exciter filters 105 and 106, a ring translucent plate 107, a mirror 108, an LCD (Liquid Crystal Display) 109, an illumination diaphragm 110, a relay. A lens 111, a perforated mirror 112, and an optical fiber bundle 113 are included.

観察光源101は、たとえば約400nm〜700nmの範囲に含まれる可視領域の波長の照明光を出力する。また、撮影光源103は、たとえば約700nm〜800nmの範囲に含まれる近赤外領域の波長の照明光を出力する。撮影光源103から出力される近赤外光は、OCTユニット150で使用する光の波長よりも短く設定されている。   The observation light source 101 outputs illumination light having a wavelength in the visible region included in a range of about 400 nm to 700 nm, for example. Moreover, the imaging light source 103 outputs illumination light having a wavelength in the near-infrared region included in a range of about 700 nm to 800 nm, for example. Near-infrared light output from the imaging light source 103 is set to be shorter than the wavelength of light used in the OCT unit 150.

光ファイババンドル113は、前述の第1の実施形態の光ファイババンドル5と同様の構成を有する(図2参照)。すなわち、光ファイババンドル113は、複数の光ファイバを束ねて構成され、各光ファイバの先端部(被測定物体5000側の端部)には、マイクロレンズが設けられている。なお、この光ファイババンドル113には、図1の反射部6のような分割手段や反射手段は設けられていない。   The optical fiber bundle 113 has the same configuration as the optical fiber bundle 5 of the first embodiment described above (see FIG. 2). That is, the optical fiber bundle 113 is configured by bundling a plurality of optical fibers, and a microlens is provided at the tip of each optical fiber (the end on the measured object 5000 side). The optical fiber bundle 113 is not provided with a dividing unit or a reflecting unit like the reflecting unit 6 of FIG.

撮影光学系120は、光ファイババンドル113、孔開きミラー112(の孔部112a)、撮影絞り121、バリアフィルタ122及び123、変倍レンズ124、リレーレンズ125、撮影レンズ126、ダイクロイックミラー134、フィールドレンズ128、ハーフミラー135、リレーレンズ131、ダイクロイックミラー136、撮影レンズ133、撮像装置145(撮像素子145a)、反射ミラー137、撮影レンズ138、撮像装置146(撮像素子146a)、レンズ139及びLCD140を含んで構成される。   The photographing optical system 120 includes an optical fiber bundle 113, a perforated mirror 112 (hole 112a), a photographing aperture 121, barrier filters 122 and 123, a variable power lens 124, a relay lens 125, a photographing lens 126, a dichroic mirror 134, a field. A lens 128, a half mirror 135, a relay lens 131, a dichroic mirror 136, a photographing lens 133, an imaging device 145 (imaging device 145a), a reflection mirror 137, a photographing lens 138, an imaging device 146 (imaging device 146a), a lens 139, and an LCD 140. Consists of including.

更に、撮影光学系120には、ダイクロイックミラー134、ハーフミラー135、ダイクロイックミラー136、反射ミラー137、撮影レンズ138、レンズ139及びLCD140が設けられている。   Further, the photographing optical system 120 is provided with a dichroic mirror 134, a half mirror 135, a dichroic mirror 136, a reflection mirror 137, a photographing lens 138, a lens 139, and an LCD 140.

ダイクロイックミラー134は、照明光学系100からの照明光の眼底反射光(約400nm〜800nmの範囲に含まれる波長を有する)を反射するとともに、OCTユニット150からの信号光LS(たとえば約800nm〜900nmの範囲に含まれる波長を有する;後述)を透過させるように構成されている。   The dichroic mirror 134 reflects the fundus reflection light (having a wavelength included in the range of about 400 nm to 800 nm) of the illumination light from the illumination optical system 100 and the signal light LS (for example, about 800 nm to 900 nm) from the OCT unit 150. Having a wavelength included in the range (described later).

また、ダイクロイックミラー136は、照明光学系100からの可視領域の波長を有する照明光(観察光源101から出力される波長約400nm〜700nmの可視光)を透過させるとともに、近赤外領域の波長を有する照明光(撮影光源103から出力される波長約700nm〜800nmの近赤外光)を反射するように構成されている。   Further, the dichroic mirror 136 transmits illumination light having a wavelength in the visible region from the illumination optical system 100 (visible light having a wavelength of about 400 nm to 700 nm output from the observation light source 101) and changes the wavelength in the near infrared region. It is configured to reflect the illumination light it has (near infrared light with a wavelength of about 700 nm to 800 nm output from the imaging light source 103).

LCD140は、被検眼を固視させるための固視標(内部固視標)を表示する。LCD140からの光は、レンズ139により集光された後に、ハーフミラー135により反射され、フィールドレンズ128を経由してダイクロイックミラー136に反射される。更に、この光は、撮影レンズ126、リレーレンズ125、変倍レンズ124、孔開きミラー112(の孔部112a)、光ファイババンドル113等を経由して、被検眼に入射する。それにより、被検眼の被測定物体5000に内部固視標が投影される。   The LCD 140 displays a fixation target (internal fixation target) for fixing the eye to be examined. The light from the LCD 140 is collected by the lens 139, reflected by the half mirror 135, and then reflected by the dichroic mirror 136 via the field lens 128. Further, this light is incident on the eye to be examined through the photographing lens 126, the relay lens 125, the variable power lens 124, the aperture mirror 112 (the aperture 112a thereof), the optical fiber bundle 113, and the like. As a result, the internal fixation target is projected onto the object 5000 to be measured.

撮像素子145aは、テレビカメラ等の撮像装置145に内蔵されたCCDやCMOS等の撮像素子であり、特に、近赤外領域の波長の光を検出する。つまり、撮像装置145は、近赤外光を検出する赤外線テレビカメラである。撮像装置145は、近赤外光を検出した結果として映像信号を出力する。   The image sensor 145a is an image sensor such as a CCD or CMOS built in the image pickup device 145 such as a TV camera, and particularly detects light having a wavelength in the near infrared region. That is, the imaging device 145 is an infrared television camera that detects near infrared light. The imaging device 145 outputs a video signal as a result of detecting near infrared light.

タッチパネルモニタ147は、この映像信号に基づいて、被測定物体5000の表面の2次元画像(眼底画像)を表示する。また、この映像信号はコンピュータ200に送られ、そのディスプレイに眼底画像が表示される。   The touch panel monitor 147 displays a two-dimensional image (fundus image) of the surface of the measured object 5000 based on this video signal. The video signal is sent to the computer 200, and a fundus image is displayed on the display.

なお、撮像装置145による撮影時には、たとえば撮影光源103から出力される近赤外領域の波長を有する照明光が用いられる。   Note that illumination light having a wavelength in the near-infrared region output from the photographing light source 103 is used at the time of photographing by the imaging device 145, for example.

一方、撮像素子146aは、テレビカメラ等の撮像装置146に内蔵されたCCDやCMOS等の撮像素子であり、特に、可視領域の波長の光を検出する。つまり、撮像装置146は、可視光を検出するテレビカメラである。撮像装置146は、可視光を検出した結果として映像信号を出力する。   On the other hand, the image pickup device 146a is an image pickup device such as a CCD or a CMOS built in the image pickup device 146 such as a television camera, and particularly detects light having a wavelength in the visible region. That is, the imaging device 146 is a television camera that detects visible light. The imaging device 146 outputs a video signal as a result of detecting visible light.

タッチパネルモニタ147は、この映像信号に基づいて、被測定物体5000の表面の2次元画像(眼底画像)を表示する。また、この映像信号はコンピュータ200に送られ、そのディスプレイに眼底画像が表示される。   The touch panel monitor 147 displays a two-dimensional image (fundus image) of the surface of the measured object 5000 based on this video signal. The video signal is sent to the computer 200, and a fundus image is displayed on the display.

なお、撮像装置146による撮影時には、たとえば照明光学系100の観察光源101から出力される可視領域の波長を有する照明光が用いられる。   Note that illumination light having a wavelength in the visible region output from the observation light source 101 of the illumination optical system 100 is used at the time of photographing by the imaging device 146, for example.

光学系ユニット80Aには、走査ユニット141とレンズ142とが設けられている。走査ユニット141は、OCTユニット150から出力される光(信号光LS;後述)の被測定物体5000に対する照射位置を走査するための構成を具備する。   The optical system unit 80A is provided with a scanning unit 141 and a lens 142. The scanning unit 141 has a configuration for scanning the irradiation position of the light to be measured 5000 (signal light LS; described later) output from the OCT unit 150.

第1の実施形態で説明したように(図2参照)、光ファイババンドル113には、複数の光ファイバが配設されている。走査ユニット141は、これら複数の光ファイバに順次に信号光LSを入射させることにより、被測定物体5000に対する信号光LSの照射位置を走査する。   As described in the first embodiment (see FIG. 2), the optical fiber bundle 113 is provided with a plurality of optical fibers. The scanning unit 141 scans the irradiation position of the signal light LS on the measured object 5000 by sequentially causing the signal light LS to enter the plurality of optical fibers.

レンズ142は、OCTユニット150から接続線152を通じて導光された信号光LSを平行な光束にして走査ユニット141に入射させる。また、レンズ142は、走査ユニット141を経由してきた信号光LSの眼底反射光を集束させる。   The lens 142 makes the signal light LS guided from the OCT unit 150 through the connection line 152 enter the scanning unit 141 as a parallel light beam. The lens 142 focuses the fundus reflection light of the signal light LS that has passed through the scanning unit 141.

図6に、走査ユニット141の構成の一例を示す。走査ユニット141は、ガルバノミラー141A、141Bと、反射ミラー141C、141Dとを含んで構成されている。   FIG. 6 shows an example of the configuration of the scanning unit 141. The scanning unit 141 includes galvanometer mirrors 141A and 141B and reflection mirrors 141C and 141D.

ガルバノミラー141A、141Bは、それぞれ回動軸141a、141bを中心に回動可能に配設された反射ミラーである。各ガルバノミラー141A、141Bは、図示しない駆動機構によって回動軸141a、141bを中心にそれぞれ回動される。それにより、各ガルバノミラー141A、141Bの反射面(信号光LSを反射する面)の向きが変更される。   Galvano mirrors 141A and 141B are reflection mirrors arranged so as to be rotatable about rotation shafts 141a and 141b, respectively. The galvanometer mirrors 141A and 141B are rotated around the rotation shafts 141a and 141b by a driving mechanism (not shown). Thereby, the direction of the reflection surface (surface that reflects the signal light LS) of each galvanometer mirror 141A, 141B is changed.

回動軸141a、141bは、互いに直交して配設されている。図6においては、ガルバノミラー141Aの回動軸141aは、紙面に対して平行方向に配設されている。また、ガルバノミラー141Bの回動軸141bは、紙面に対して直交する方向に配設されている。   The rotating shafts 141a and 141b are disposed orthogonal to each other. In FIG. 6, the rotation shaft 141a of the galvano mirror 141A is arranged in a direction parallel to the paper surface. Further, the rotation shaft 141b of the galvanometer mirror 141B is disposed in a direction orthogonal to the paper surface.

すなわち、ガルバノミラー141Bは、図6中の両側矢印に示す方向に回動可能に構成され、ガルバノミラー141Aは、当該両側矢印に対して直交する方向に回動可能に構成されている。それにより、ガルバノミラー141A、141Bは、信号光LSの反射方向を互いに直交する方向に変更するようにそれぞれ作用する。図5及び図6から分かるように、ガルバノミラー141Aを回動させると信号光LSはx方向に走査され、ガルバノミラー141Bを回動させると信号光LSはy方向に走査される。   That is, the galvano mirror 141B is configured to be rotatable in a direction indicated by a double-sided arrow in FIG. 6, and the galvano mirror 141A is configured to be rotatable in a direction orthogonal to the double-sided arrow. Accordingly, the galvanometer mirrors 141A and 141B act so as to change the reflection direction of the signal light LS to directions orthogonal to each other. 5 and 6, when the galvano mirror 141A is rotated, the signal light LS is scanned in the x direction, and when the galvano mirror 141B is rotated, the signal light LS is scanned in the y direction.

ガルバノミラー141A、141Bにより反射された信号光LSは、反射ミラー141C、141Dにより反射され、ガルバノミラー141Aに入射したときと同じ向きに進行するようになっている。   The signal light LS reflected by the galvanometer mirrors 141A and 141B is reflected by the reflection mirrors 141C and 141D and travels in the same direction as when incident on the galvanometer mirror 141A.

なお、接続線152の内部の光ファイバ152aの端面152bは、レンズ142に対峙して配設される。端面152bから出射された信号光LSは、レンズ142に向かってビーム径を拡大しつつ進行し、レンズ142によって平行な光束とされる。逆に、被測定物体5000を経由した信号光LSは、レンズ142により端面152bに向けて集束されて光ファイバ152aに入射する。   Note that the end surface 152 b of the optical fiber 152 a inside the connection line 152 is disposed to face the lens 142. The signal light LS emitted from the end face 152b travels toward the lens 142 while expanding the beam diameter, and is converted into a parallel light flux by the lens 142. Conversely, the signal light LS that has passed through the measured object 5000 is converged toward the end face 152b by the lens 142 and enters the optical fiber 152a.

〔OCTユニットの構成〕
次に、OCTユニット150の構成について図7を参照しつつ説明する。OCTユニット150は、光学的に取得されるデータ(CCD184により検出されるデータ;後述)に基づいて被測定物体5000の断層画像を形成するための装置である。この断層画像は、z方向を含む断面における断層画像である。
[Configuration of OCT unit]
Next, the configuration of the OCT unit 150 will be described with reference to FIG. The OCT unit 150 is a device for forming a tomographic image of the measured object 5000 based on optically acquired data (data detected by the CCD 184; described later). This tomographic image is a tomographic image in a cross section including the z direction.

OCTユニット150は、従来のフーリエドメイン型の光画像計測装置とほぼ同様の光学系を備えている。すなわち、OCTユニット150は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被測定物体を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成してこれを検出する。この検出結果(検出信号)はコンピュータ200に入力される。コンピュータ200は、この検出信号を解析して被測定物体の断層画像を形成する。   The OCT unit 150 includes an optical system that is almost the same as a conventional Fourier domain type optical image measurement apparatus. That is, the OCT unit 150 divides low-coherence light into reference light and signal light, and superimposes the signal light passing through the object to be measured and the reference light passing through the reference object to generate interference light and detect it. To do. This detection result (detection signal) is input to the computer 200. The computer 200 analyzes this detection signal and forms a tomographic image of the measured object.

低コヒーレンス光源160は、低コヒーレンス光L0を出力するスーパールミネセントダイオード(SLD:Super Luminescent Diode)や発光ダイオード(LED:Light Emitted Diode)等の広帯域光源により構成される。低コヒーレンス光L0としては、たとえば、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する光が用いられる。   The low coherence light source 160 is configured by a broadband light source such as a super luminescent diode (SLD) or a light emitting diode (LED) that outputs low coherence light L0. As the low coherence light L0, for example, light including light having a wavelength in the near infrared region and having a temporal coherence length of about several tens of micrometers is used.

低コヒーレンス光L0は、光学系ユニット80Aの照明光(波長約400nm〜800nm)よりも長い波長、たとえば約800nm〜900nmの範囲に含まれる波長を有する。   The low coherence light L0 has a longer wavelength than the illumination light (wavelength of about 400 nm to 800 nm) of the optical system unit 80A, for example, a wavelength included in a range of about 800 nm to 900 nm.

低コヒーレンス光源160から出力された低コヒーレンス光L0は、光ファイバ161を通じて光カプラ162に導かれる。光ファイバ161は、たとえばシングルモードファイバ若しくはPMファイバ(Polarization maintaining fiber;偏波面保持ファイバ)等によって構成されている。光カプラ162は、低コヒーレンス光L0を参照光LRと信号光LSとに分割する。   The low coherence light L0 output from the low coherence light source 160 is guided to the optical coupler 162 through the optical fiber 161. The optical fiber 161 is constituted by, for example, a single mode fiber or a PM fiber (Polarization maintaining fiber). The optical coupler 162 splits the low coherence light L0 into the reference light LR and the signal light LS.

なお、光カプラ162は、光を分割する手段(スプリッタ;splitter)、及び、光を重畳する手段(カプラ;coupler)の双方として作用するものであるが、ここでは慣用的に「光カプラ」と称することにする。   The optical coupler 162 functions as both a means for splitting light (splitter) and a means for superposing light (coupler). Here, it is conventionally referred to as an “optical coupler”. I will call it.

光カプラ162により生成された参照光LRは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ163により導光されてファイバ端面から出射される。更に、参照光LRは、コリメータレンズ171により平行光束とされた後に、光ファイバ(バンドル)及び濃度フィルタ173を経由し、参照ミラー174により反射される。参照ミラー174は、この発明の「参照物体」の一例である。   The reference light LR generated by the optical coupler 162 is guided by an optical fiber 163 made of a single mode fiber or the like and emitted from the end face of the fiber. Further, the reference light LR is collimated by the collimator lens 171 and then reflected by the reference mirror 174 via the optical fiber (bundle) and the density filter 173. The reference mirror 174 is an example of the “reference object” in the present invention.

参照ミラー174により反射された参照光LRは、再び濃度フィルタ173及び光ファイバ172を経由し、コリメータレンズ171によって光ファイバ163のファイバ端面に集光され、光ファイバ163を通じて光カプラ162に導かれる。   The reference light LR reflected by the reference mirror 174 passes through the density filter 173 and the optical fiber 172 again, is condensed on the fiber end face of the optical fiber 163 by the collimator lens 171, and is guided to the optical coupler 162 through the optical fiber 163.

ここで、光ファイバ172と濃度フィルタ173は、参照光LR及び信号光LSの光路長(光学距離)を一致させるための光学部材として、また参照光LR及び信号光LSにそれぞれ付与される分散の影響を一致させるための光学部材として作用する。   Here, the optical fiber 172 and the density filter 173 are used as optical members for matching the optical path lengths (optical distances) of the reference light LR and the signal light LS, and the dispersion of the light applied to the reference light LR and the signal light LS, respectively. Acts as an optical member for matching the influences.

また、濃度フィルタ173は、参照光の光量を減少させる減光フィルタとしても作用し、たとえば回転型のND(Neutral Density)フィルタによって構成される。濃度フィルタ173は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構(図示せず)によって回転駆動されることで、参照光LRの光量の減少量を変更させる。それにより、干渉光LCの生成に寄与する参照光LRの光量を変更させることができる。   Further, the density filter 173 also functions as a neutral density filter that reduces the amount of reference light, and is constituted by, for example, a rotating ND (Neutral Density) filter. The density filter 173 is rotationally driven by a drive mechanism (not shown) including a drive device such as a motor, thereby changing the amount of decrease in the light amount of the reference light LR. Thereby, the light quantity of the reference light LR that contributes to the generation of the interference light LC can be changed.

また、参照ミラー174は、参照光LRの進行方向(図7に示す両側矢印方向)に移動される。それにより、被検眼の眼軸長等に応じた参照光LRの光路長を確保できる。また、参照ミラー174を移動させることにより、被測定物体5000の任意の深度位置の画像を取得することが可能である。なお、参照ミラー174は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構(図示せず)によって移動される。   Further, the reference mirror 174 is moved in the traveling direction of the reference light LR (the direction of the double-sided arrow shown in FIG. 7). Thereby, the optical path length of the reference light LR according to the axial length of the eye to be examined can be secured. Further, by moving the reference mirror 174, it is possible to acquire an image at an arbitrary depth position of the measured object 5000. The reference mirror 174 is moved by a drive mechanism (not shown) configured to include a drive device such as a motor.

一方、光カプラ162により生成された信号光LSは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ164により接続線152の端部まで導光される。接続線152の内部には光ファイバ152aが導通されている。なお、光ファイバ164と光ファイバ152aは、単一の光ファイバから形成されていてもよいし、各々の端面同士を接合するなどして一体的に形成されていてもよい。いずれにしても、光ファイバ164、152aは、光学系ユニット80AとOCTユニット150との間で、信号光LSを伝送可能に構成されていれば十分である。   On the other hand, the signal light LS generated by the optical coupler 162 is guided to the end of the connection line 152 by an optical fiber 164 made of a single mode fiber or the like. An optical fiber 152 a is conducted inside the connection line 152. In addition, the optical fiber 164 and the optical fiber 152a may be formed from a single optical fiber, or may be formed integrally by joining the respective end faces. In any case, it is sufficient that the optical fibers 164 and 152a are configured to transmit the signal light LS between the optical system unit 80A and the OCT unit 150.

信号光LSは、接続線152内部を導光されて光学系ユニット80Aに案内される。更に、信号光LSは、レンズ142、走査ユニット141、ダイクロイックミラー134、撮影レンズ126、リレーレンズ125、変倍レンズ124、撮影絞り121、孔開きミラー112の孔部112aを経由して、光ファイババンドル113に入射する。このとき、信号光LSは、走査ユニット141により、光ファイババンドル113の或る光ファイバ(一本以上の光ファイバ)に入射するように走査される。そして、信号光LSは、当該光ファイバにより導光され、その先端部から出射し、被測定物体5000に照射される。なお、信号光LSを被測定物体5000(眼底)照射させるときには、バリアフィルタ122、123は、それぞれ事前に光路から退避される。   The signal light LS is guided through the connection line 152 and guided to the optical system unit 80A. Further, the signal light LS passes through the lens 142, the scanning unit 141, the dichroic mirror 134, the photographing lens 126, the relay lens 125, the zoom lens 124, the photographing aperture 121, and the hole 112 a of the aperture mirror 112, and the optical fiber. The light enters the bundle 113. At this time, the signal light LS is scanned by the scanning unit 141 so as to enter a certain optical fiber (one or more optical fibers) of the optical fiber bundle 113. Then, the signal light LS is guided by the optical fiber, emitted from the distal end portion thereof, and applied to the object 5000 to be measured. When irradiating the measurement object 5000 (fundus) with the signal light LS, the barrier filters 122 and 123 are each retracted from the optical path in advance.

被測定物体5000に入射した信号光LSは、被測定物体5000の観察対象の深度位置にて結像し反射される。このとき、信号光LSは、被測定物体5000の表面や、その深部領域の屈折率境界にて反射、散乱される。したがって、被測定物体5000を経由した信号光LSは、観察対象の深度位置周辺の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報を含んでいる。この光を単に「信号光LSの眼底反射光」と呼ぶことがある。   The signal light LS incident on the measured object 5000 is imaged and reflected at the depth position of the observation target of the measured object 5000. At this time, the signal light LS is reflected and scattered on the surface of the measured object 5000 and the refractive index boundary of the deep region. Therefore, the signal light LS that has passed through the measured object 5000 includes information that reflects the backscattering state at the refractive index boundary around the depth position of the observation target. This light may be simply referred to as “fundus reflected light of the signal light LS”.

信号光LSの眼底反射光は、光学系ユニット80A内の上記経路を逆向きに進行して光ファイバ152aの端面152bに集光され、光ファイバ152を通じてOCTユニット150に入射し、光ファイバ164を通じて光カプラ162に戻ってくる。   The fundus reflected light of the signal light LS travels in the reverse direction in the optical system unit 80A, is condensed on the end surface 152b of the optical fiber 152a, enters the OCT unit 150 through the optical fiber 152, and passes through the optical fiber 164. Return to the optical coupler 162.

光カプラ162は、被測定物体5000を経由した信号光LSと、参照ミラー174を経由した参照光LRとを重畳して干渉光LCを生成する。生成された干渉光LCは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ165を通じてスペクトロメータ180に導かれる。   The optical coupler 162 generates the interference light LC by superimposing the signal light LS that has passed through the measured object 5000 and the reference light LR that has passed through the reference mirror 174. The generated interference light LC is guided to the spectrometer 180 through an optical fiber 165 made of a single mode fiber or the like.

なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。   In this embodiment, a Michelson interferometer is used. However, for example, any type of interferometer such as a Mach-Zehnder type can be appropriately used.

なお、この発明の「干渉光生成手段」は、たとえば、光カプラ162と、信号光LSの光路上の光学部材(つまり光カプラ162と被測定物体5000との間に配置された光学部材)と、参照光LRの光路上の光学部材(つまり光カプラ162と参照ミラー174との間に配置された光学部材)とを含んで構成される。特に、干渉光生成手段は、光カプラ162、光ファイバ163、164、参照ミラー174及び光ファイババンドル113を含んで構成される。   The “interference light generating means” of the present invention includes, for example, an optical coupler 162 and an optical member on the optical path of the signal light LS (that is, an optical member disposed between the optical coupler 162 and the measured object 5000). And an optical member (that is, an optical member disposed between the optical coupler 162 and the reference mirror 174) on the optical path of the reference light LR. In particular, the interference light generation unit includes an optical coupler 162, optical fibers 163 and 164, a reference mirror 174, and an optical fiber bundle 113.

スペクトロメータ(分光計)180は、コリメータレンズ181、回折格子182、結像レンズ183、CCD184を含んで構成される。回折格子182は、光を透過させる透過型の回折格子であってもよいし、光を反射する反射型の回折格子であってもよい。また、CCD184に代えて、CMOS等の他の光検出素子を用いることも可能である。   The spectrometer (spectrometer) 180 includes a collimator lens 181, a diffraction grating 182, an imaging lens 183, and a CCD 184. The diffraction grating 182 may be a transmission type diffraction grating that transmits light, or may be a reflection type diffraction grating that reflects light. Further, instead of the CCD 184, other light detection elements such as CMOS can be used.

スペクトロメータ180に入射した干渉光LCは、コリメータレンズ181により平行光束とされ、回折格子182によって分光(スペクトル分解)される。分光された干渉光LCは、結像レンズ183によってCCD184の撮像面上に結像される。CCD184は、分光された干渉光LCの各スペクトルを検出して電気的な信号に変換し、この検出信号をコンピュータ200に出力する。CCD184は、この発明の「検出手段」の一例である。   The interference light LC incident on the spectrometer 180 is converted into a parallel light beam by the collimator lens 181, and is split (spectral decomposition) by the diffraction grating 182. The split interference light LC is imaged on the imaging surface of the CCD 184 by the imaging lens 183. The CCD 184 detects each spectrum of the separated interference light LC and converts it into an electrical signal, and outputs this detection signal to the computer 200. The CCD 184 is an example of the “detecting means” in the present invention.

〔コンピュータの構成〕
次に、コンピュータ200の構成について説明する。コンピュータ200は、OCTユニット150のCCD184から入力される検出信号を解析して、被測定物体5000の断層画像を形成する。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同様である。
[Computer configuration]
Next, the configuration of the computer 200 will be described. The computer 200 analyzes the detection signal input from the CCD 184 of the OCT unit 150 and forms a tomographic image of the object 5000 to be measured. The analysis method at this time is the same as the conventional Fourier domain OCT method.

また、コンピュータ200は、光学系ユニット80Aの撮像装置145、146から出力される映像信号に基づいて被測定物体5000の表面の形態を示す2次元画像を形成する。この2次元画像は、静止画像でも動画像でもよい。コンピュータ200は、これらの画像を取得するための光源101、103や撮像装置145、12の制御を行う。   In addition, the computer 200 forms a two-dimensional image showing the surface form of the object to be measured 5000 based on video signals output from the imaging devices 145 and 146 of the optical system unit 80A. This two-dimensional image may be a still image or a moving image. The computer 200 controls the light sources 101 and 103 and the imaging devices 145 and 12 for acquiring these images.

コンピュータ200は、光学系ユニット80A及びOCTユニット150の各部を制御する。   The computer 200 controls each part of the optical system unit 80A and the OCT unit 150.

光学系ユニット80Aの制御として、コンピュータ200は、観察光源101や撮影光源103による照明光の出力制御、エキサイタフィルタ105、106やバリアフィルタ122、123の光路上への挿入/退避動作の制御、LCD140等の表示装置の動作制御、照明絞り110の移動制御(絞り値の制御)、撮影絞り121の絞り値の制御、変倍レンズ124の移動制御(倍率の制御)などを行う。更に、コンピュータ200は、ガルバノミラー141A、141Bの動作制御を行う。   As control of the optical system unit 80A, the computer 200 controls the output of illumination light by the observation light source 101 and the imaging light source 103, controls the insertion / retraction operation of the exciter filters 105 and 106 and the barrier filters 122 and 123 on the optical path, and the LCD 140. Control of the display device such as the above, movement control of the illumination aperture 110 (control of the aperture value), control of the aperture value of the photographing aperture 121, movement control of the variable magnification lens 124 (control of magnification), and the like are performed. Furthermore, the computer 200 controls the operation of the galvanometer mirrors 141A and 141B.

また、OCTユニット150の制御として、コンピュータ200は、低コヒーレンス光源160による低コヒーレンス光L0の出力制御、参照ミラー174の移動制御、濃度フィルタ173の回転動作(参照光LRの光量の減少量の変更動作)の制御、CCD184の蓄積時間の制御などを行う。   As control of the OCT unit 150, the computer 200 controls the output of the low-coherence light L0 by the low-coherence light source 160, the movement control of the reference mirror 174, and the rotation operation of the density filter 173 (change in the amount of decrease in the light amount of the reference light LR). Operation), control of the accumulation time of the CCD 184, and the like.

コンピュータ200は、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、キーボード、マウス、ディスプレイ、通信インターフェイス(I/F)等を含んで構成される。また、コンピュータ200には、被測定物体5000の断層画像を形成する画像形成ボードが設けられている。   The computer 200 includes a microprocessor, a RAM, a ROM, a hard disk drive, a keyboard, a mouse, a display, a communication interface (I / F), and the like, similar to a conventional computer. Further, the computer 200 is provided with an image forming board for forming a tomographic image of the measured object 5000.

[動作態様]
この実施形態に係る光画像計測装置80の動作態様の例を説明する。
[Mode of operation]
An example of the operation mode of the optical image measurement device 80 according to this embodiment will be described.

被測定物体5000の表面の2次元画像(眼底画像)の撮影は、従来の眼底カメラと同様に実施される。なお、光画像計測装置80においては、眼底画像を撮影するための照明光を光ファイババンドル113を介して眼底に照明する点が従来の眼底カメラと異なるが、それ以外は同様である。なお、眼底画像を撮影する場合には、光ファイババンドル113を光路上から退避させ、その代わりに対物レンズを光路上に配置させることが可能である。この場合には、従来の眼底カメラと同様に眼底画像を撮影することが可能である。   A two-dimensional image (fundus image) of the surface of the measurement object 5000 is taken in the same manner as a conventional fundus camera. The optical image measurement device 80 is different from the conventional fundus camera in that the illumination light for photographing the fundus image is illuminated on the fundus via the optical fiber bundle 113, but the rest is the same. When photographing a fundus image, it is possible to retract the optical fiber bundle 113 from the optical path and place the objective lens on the optical path instead. In this case, it is possible to take a fundus image as in a conventional fundus camera.

以下、OCT技術を適用した画像計測について説明する。ここで、光ファイババンドル113に含まれる光ファイバの本数をM本とする。   Hereinafter, image measurement to which the OCT technique is applied will be described. Here, the number of optical fibers included in the optical fiber bundle 113 is M.

まず、コンピュータ200は、光ファイババンドル113の第1の光ファイバに信号光LSが入射されるように走査ユニット141を制御し、低コヒーレンス光源160を点灯させる。それにより、第1の光ファイバに対応する被測定物体5000の位置(第1の位置)を経由した信号光LSと、参照光LRとに基づく第1の干渉光LCが検出される。   First, the computer 200 controls the scanning unit 141 so that the signal light LS is incident on the first optical fiber of the optical fiber bundle 113, and turns on the low-coherence light source 160. Accordingly, the first interference light LC based on the signal light LS and the reference light LR that has passed through the position (first position) of the measured object 5000 corresponding to the first optical fiber is detected.

コンピュータ200は、この第1の干渉光LCに基づいて、第1の位置における深度方向(z方向)の画像を形成する。   The computer 200 forms an image in the depth direction (z direction) at the first position based on the first interference light LC.

なお、各光ファイバの位置は一定であるので、第1の光ファイバに信号光LSを入射させるためのガルバノミラー141A、141Bの位置は予め決定できる。コンピュータ200は、このガルバノミラー141A、141Bの位置を予め記憶している(以下同様)。   Since the position of each optical fiber is constant, the positions of the galvanometer mirrors 141A and 141B for allowing the signal light LS to enter the first optical fiber can be determined in advance. The computer 200 stores the positions of the galvanometer mirrors 141A and 141B in advance (the same applies hereinafter).

次に、コンピュータ200は、第2の光ファイバに信号光LSが入射されるように走査ユニット141を制御し、低コヒーレンス光源160を点灯させる。それにより、第2の光ファイバに対応する被測定物体5000の位置(第2の位置)を経由した信号光LSと、参照光LRとに基づく第2の干渉光LCが検出される。   Next, the computer 200 controls the scanning unit 141 so that the signal light LS enters the second optical fiber, and turns on the low-coherence light source 160. Thereby, the second interference light LC based on the signal light LS passing through the position (second position) of the measured object 5000 corresponding to the second optical fiber and the reference light LR is detected.

コンピュータ200は、この第2の干渉光LCに基づいて、第2の位置における深度方向の画像を形成する。   The computer 200 forms an image in the depth direction at the second position based on the second interference light LC.

このように、光画像計測装置80は、信号光LSをM本の光ファイバに対して順次に入射させて計測を実行し、第1〜第Mの位置における深度方向の画像を順次に形成する。コンピュータ200は、これらM個の深度方向の画像に基づいて被測定物体5000の断層画像を形成する。このとき、コンピュータ200は、M本の光ファイバの配列情報(予め記憶している)に基づいて深度方向の画像を並べることにより断層画像を形成する。   As described above, the optical image measurement device 80 performs measurement by sequentially causing the signal light LS to enter the M optical fibers, and sequentially forms images in the depth direction at the first to Mth positions. . The computer 200 forms a tomographic image of the object to be measured 5000 based on these M images in the depth direction. At this time, the computer 200 forms a tomographic image by arranging the images in the depth direction based on the arrangement information (stored in advance) of the M optical fibers.

[作用・効果]
光画像計測装置80の作用及び効果について説明する。
[Action / Effect]
The operation and effect of the optical image measurement device 80 will be described.

光画像計測装置80は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、干渉光を検出するCCD184と、干渉光の検出結果に基づいて被測定物体の画像を形成するコンピュータ200とを備える。   The optical image measurement device 80 divides the low-coherence light into signal light and reference light, and generates interference light by superimposing the signal light passing through the object to be measured and the reference light passing through the reference object. Means, a CCD 184 for detecting the interference light, and a computer 200 for forming an image of the object to be measured based on the detection result of the interference light.

光ファイババンドル113は、この発明の「導光手段」の一例である。すなわち、光ファイババンドル113は、低コヒーレンス光から分割された信号光を先端部から出射し、被測定物体を経由して先端部から入射された信号光を導光するように作用する。そして、干渉光生成手段は、光ファイババンドル113により導光された信号光を参照光と重畳させて干渉光を生成するように作用する。   The optical fiber bundle 113 is an example of the “light guide” in the present invention. In other words, the optical fiber bundle 113 acts to emit the signal light divided from the low-coherence light from the tip and guide the signal light incident from the tip via the object to be measured. Then, the interference light generation means acts to generate the interference light by superimposing the signal light guided by the optical fiber bundle 113 with the reference light.

このような光画像計測装置80によれば、たとえば光ファイババンドル113を被検体内に挿入するなど、その先端部を被測定物体5000の深部組織の近くに配置させて計測を行うことができる。   According to such an optical image measuring device 80, for example, the optical fiber bundle 113 can be inserted into the subject, and the tip can be placed near the deep tissue of the object 5000 to be measured.

更に、光画像計測装置80によれば、OCT技術を用いることで深部組織のμmレベルの解像度の画像を形成することが可能である。   Furthermore, according to the optical image measurement device 80, it is possible to form an image having a resolution of μm level of deep tissue by using the OCT technique.

このように、光画像計測装置80によれば、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化することが可能である。   Thus, according to the optical image measurement device 80, it is possible to image the fine structure of the deep tissue of the object to be measured.

また、光ファイババンドル113として可撓性を有するものを用いることにより、たとえば光ファイババンドル113を被検体内に好適に挿入することが可能である。   Further, by using a flexible one as the optical fiber bundle 113, for example, the optical fiber bundle 113 can be suitably inserted into the subject.

[変形例]
この実施形態に係る光画像計測装置の変形例を説明する。
[Modification]
A modification of the optical image measurement device according to this embodiment will be described.

上記第2の実施形態では、眼底の画像を取得するために用いられる光画像計測装置80について詳しく説明したが、この実施形態に係る光画像計測装置は、これに限定されるものではない。   In the second embodiment, the optical image measurement device 80 used to acquire the fundus image has been described in detail. However, the optical image measurement device according to this embodiment is not limited to this.

この実施形態に係る光画像計測装置の例を図8に示す。この光画像計測装置300は、光学系ユニット301とコンピュータ312とを有する。コンピュータ312は、光学系ユニット301の制御を行う。   An example of an optical image measurement device according to this embodiment is shown in FIG. The optical image measurement device 300 includes an optical system unit 301 and a computer 312. The computer 312 controls the optical system unit 301.

低コヒーレンス光源302から出力された低コヒーレンス光は、光ファイバ303により光カプラ304に導光される。光カプラ304は、この低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する。   The low coherence light output from the low coherence light source 302 is guided to the optical coupler 304 through the optical fiber 303. The optical coupler 304 splits the low coherence light into signal light and reference light.

参照光は、光ファイバ305により参照ミラー306に導光されて反射される。この反射光は、光ファイバ305により光カプラ304に導光される。   The reference light is guided to the reference mirror 306 by the optical fiber 305 and reflected. This reflected light is guided to the optical coupler 304 by the optical fiber 305.

信号光は、光ファイバ307により走査ユニット308に導光される。光ファイババンドル309は、第1の実施形態と同様に、複数の光ファイバを束ねて構成されている(図2参照)。走査ユニット308は、これら複数の光ファイバのうちの一つ(又は二つ以上)の基端部(走査ユニット308側の端部)に信号光を入射させる。   The signal light is guided to the scanning unit 308 by the optical fiber 307. Similar to the first embodiment, the optical fiber bundle 309 is configured by bundling a plurality of optical fibers (see FIG. 2). The scanning unit 308 causes the signal light to be incident on one (or two or more) proximal ends (ends on the scanning unit 308 side) of the plurality of optical fibers.

走査ユニット308は、上記実施形態の走査ユニット141のようにガルバノミラー等を含んだ構成であってもよいし、それ以外の構成であってもよい。すなわち、走査ユニット308は、光ファイババンドル309に含まれる複数のファイバに順次に信号光を導光させるように作用するものであれば、その構成は任意である。   The scanning unit 308 may have a configuration including a galvano mirror or the like like the scanning unit 141 of the above embodiment, or may have a configuration other than that. That is, the configuration of the scanning unit 308 is arbitrary as long as it operates to sequentially guide the signal light to the plurality of fibers included in the optical fiber bundle 309.

光ファイババンドル309の或る光ファイバにより導光される信号光は、当該光ファイバの先端部のマイクロレンズによって集束光とされ、被測定物体5000の観察対象の深度位置周辺にて反射、散乱される。この反射光や散乱光は、当該光ファイバの先端部に入射し、当該光ファイバにより導光され、走査ユニット308及び光ファイバ307を介して光カプラ304に戻ってくる。   The signal light guided by a certain optical fiber of the optical fiber bundle 309 is focused by the microlens at the tip of the optical fiber, and is reflected and scattered around the depth position of the object to be measured 5000 to be observed. The The reflected light or scattered light enters the tip of the optical fiber, is guided by the optical fiber, and returns to the optical coupler 304 via the scanning unit 308 and the optical fiber 307.

光カプラ304は、参照光と信号光とを互いに重畳させて干渉光を生成する。この干渉光は、光ファイバ310によりスペクトロメータ311に導光される。スペクトロメータ311は、この干渉光のスペクトル成分を検出し、コンピュータ312に検出信号を出力する。   The optical coupler 304 generates interference light by superimposing the reference light and the signal light on each other. This interference light is guided to the spectrometer 311 by the optical fiber 310. The spectrometer 311 detects the spectral component of the interference light and outputs a detection signal to the computer 312.

コンピュータ312は、この検出信号に基づいて、当該信号光が反射、散乱された部位における深度方向の1次元画像を形成する。   Based on this detection signal, the computer 312 forms a one-dimensional image in the depth direction at a site where the signal light is reflected and scattered.

光画像計測装置300は、走査ユニット308により、光ファイババンドル309に含まれる複数の光ファイバのそれぞれに信号光を順次に入射させて計測を繰り返す。スペクトロメータ311は、これら複数の光ファイバに対応する干渉光のスペクトル成分を順次に検出する。コンピュータ312は、スペクトロメータ311から順次に出力される検出信号に基づいて、被測定物体5000の異なる位置における深度方向の1次元画像を順次に形成する。更に、コンピュータ312は、これらの1次元画像に基づいて被測定物体5000の断層画像を形成する。   The optical image measurement device 300 repeats measurement by causing the scanning unit 308 to sequentially make signal light incident on each of the plurality of optical fibers included in the optical fiber bundle 309. The spectrometer 311 sequentially detects spectral components of interference light corresponding to the plurality of optical fibers. The computer 312 sequentially forms one-dimensional images in the depth direction at different positions of the measured object 5000 based on the detection signals sequentially output from the spectrometer 311. Further, the computer 312 forms a tomographic image of the measured object 5000 based on these one-dimensional images.

このような光画像計測装置300によれば、第2の実施形態に係る光画像計測装置80と同様に、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化することが可能である。   According to such an optical image measurement device 300, as in the optical image measurement device 80 according to the second embodiment, it is possible to image the fine structure of the deep tissue of the measurement object.

なお、信号光の光路長と参照光の光路長とを一致させるための光学部材を、たとえば参照光の光路上に設けることができる。また、信号光に付与される分散の影響と参照光に付与される分散の影響とを一致させるための光学部材を、たとえば参照光の光路上に設けることができる。   An optical member for matching the optical path length of the signal light and the optical path length of the reference light can be provided on the optical path of the reference light, for example. Further, an optical member for making the influence of the dispersion imparted to the signal light coincide with the influence of the dispersion imparted to the reference light can be provided, for example, on the optical path of the reference light.

この実施形態に係る光画像計測装置の他の例を図9に示す。この変形例は、光ファイババンドルが分割手段を具備する構成に関する。   Another example of the optical image measurement device according to this embodiment is shown in FIG. This modification relates to a configuration in which an optical fiber bundle includes a dividing unit.

図9に示す光画像計測装置400の低コヒーレンス光源401から出力された低コヒーレンス光は、ビームスプリッタ402を透過して走査ユニット403に入射する。   The low-coherence light output from the low-coherence light source 401 of the optical image measurement device 400 shown in FIG. 9 passes through the beam splitter 402 and enters the scanning unit 403.

走査ユニット403は、上記実施形態と同様に、光ファイババンドル404の基端部(走査ユニット403側の端部)に対して低コヒーレンス光を走査する。すなわち走査ユニット403は、光ファイババンドル404に含まれる複数の光ファイバに順次に低コヒーレンス光を入射させる。   Similarly to the above-described embodiment, the scanning unit 403 scans the base end portion (end portion on the scanning unit 403 side) of the optical fiber bundle 404 with low coherence light. That is, the scanning unit 403 sequentially causes low coherence light to enter a plurality of optical fibers included in the optical fiber bundle 404.

光ファイババンドル404には、反射部405が設けられている。反射部405は、光ファイババンドル404内を先端部に向かって進行する低コヒーレンス光の一部を反射する。反射部405により反射された低コヒーレンス光は参照光として用いられる。一方、反射部405を透過した低コヒーレンス光は信号光として用いられる。反射部405は、この発明の「分割手段」及び「反射手段」の一例である。   The optical fiber bundle 404 is provided with a reflecting portion 405. The reflection unit 405 reflects a part of the low-coherence light that travels in the optical fiber bundle 404 toward the tip. The low coherence light reflected by the reflection unit 405 is used as reference light. On the other hand, the low coherence light transmitted through the reflecting portion 405 is used as signal light. The reflector 405 is an example of the “dividing means” and “reflecting means” of the present invention.

反射部405は、第1の実施形態と同様に、光ファイババンドル404の任意の位置に設けることが可能である。   The reflection unit 405 can be provided at an arbitrary position of the optical fiber bundle 404 as in the first embodiment.

反射部405により反射された低コヒーレンス光からなる参照光は、光ファイババンドル404の基端部から出射し、走査ユニット403を経由し、ビームスプリッタ402により反射される。更に、参照光は、ビームスプリッタ406により反射され、参照ミラー407に到達する。   The reference light composed of the low-coherence light reflected by the reflection unit 405 is emitted from the proximal end portion of the optical fiber bundle 404 and is reflected by the beam splitter 402 via the scanning unit 403. Further, the reference light is reflected by the beam splitter 406 and reaches the reference mirror 407.

参照ミラー407により反射された参照光は、ビームスプリッタ406を透過し、反射ミラー408に反射され、ビームスプリッタ410に到達する。   The reference light reflected by the reference mirror 407 passes through the beam splitter 406, is reflected by the reflection mirror 408, and reaches the beam splitter 410.

なお、参照ミラー407は、図9に示す両側矢印の方向に移動可能とされている。それにより、被測定物体5000の様々な深度位置の画像を取得できる。   The reference mirror 407 is movable in the direction of the double-sided arrow shown in FIG. Thereby, images of various depth positions of the measured object 5000 can be acquired.

一方、反射部405を透過した低コヒーレンス光からなる信号光は、光ファイババンドル404の先端部から出射する。光ファイババンドル404に含まれる各光ファイバの先端部には、マイクロレンズが設けられている。   On the other hand, the signal light composed of low-coherence light that has passed through the reflecting portion 405 is emitted from the tip portion of the optical fiber bundle 404. A microlens is provided at the tip of each optical fiber included in the optical fiber bundle 404.

被測定物体5000に照射された信号光は、被測定物体5000の様々な深度位置において反射、散乱される。この信号光の反射光や散乱光は、マイクロレンズを経由して当該光ファイバに入射する。更に、信号光は、当該光ファイバにより導光されて基端部から出射する。   The signal light applied to the measured object 5000 is reflected and scattered at various depth positions of the measured object 5000. The reflected or scattered light of the signal light enters the optical fiber via the microlens. Further, the signal light is guided by the optical fiber and emitted from the base end portion.

基端部から出射した信号光は、走査ユニット403を経由し、ビームスプリッタ402により反射され、ビームスプリッタ406を透過し、反射ミラー409に反射され、ビームスプリッタ410に到達する。   The signal light emitted from the base end portion is reflected by the beam splitter 402 through the scanning unit 403, passes through the beam splitter 406, is reflected by the reflection mirror 409, and reaches the beam splitter 410.

ビームスプリッタ410に反射された参照光と、ビームスプリッタ410を透過した信号光とは、互いに重畳されて干渉光を生成する。この干渉光は、スペクトロメータ411に導かれ、そのスペクトル成分が検出される。   The reference light reflected by the beam splitter 410 and the signal light transmitted through the beam splitter 410 are superimposed on each other to generate interference light. This interference light is guided to a spectrometer 411, and its spectral component is detected.

スペクトロメータ411は、干渉光のスペクトル成分の検出結果(検出信号)をコンピュータ412に送る。スペクトロメータ411は、この発明の「検出手段」の一例である。   The spectrometer 411 sends the detection result (detection signal) of the spectral component of the interference light to the computer 412. The spectrometer 411 is an example of the “detecting means” in the present invention.

コンピュータ412は、スペクトロメータ411からの検出信号に基づいて、当該信号光が反射、散乱された部位における深度方向の1次元画像を形成する。   Based on the detection signal from the spectrometer 411, the computer 412 forms a one-dimensional image in the depth direction at a site where the signal light is reflected and scattered.

光画像計測装置400は、走査ユニット403により、光ファイババンドル404に含まれる複数の光ファイバのそれぞれに低コヒーレンス光を順次に入射させて計測を繰り返す。スペクトロメータ411は、これら複数の光ファイバに対応する干渉光のスペクトル成分を順次に検出する。コンピュータ412は、スペクトロメータ411から順次に出力される検出信号に基づいて、被測定物体5000の異なる位置における深度方向の1次元画像を順次に形成する。更に、コンピュータ412は、これらの1次元画像に基づいて被測定物体5000の断層画像を形成する。   The optical image measurement apparatus 400 repeats measurement by causing the scanning unit 403 to sequentially make low coherence light incident on each of a plurality of optical fibers included in the optical fiber bundle 404. The spectrometer 411 sequentially detects the spectral components of the interference light corresponding to the plurality of optical fibers. The computer 412 sequentially forms one-dimensional images in the depth direction at different positions of the measured object 5000 based on detection signals sequentially output from the spectrometer 411. Further, the computer 412 forms a tomographic image of the measured object 5000 based on these one-dimensional images.

このような光画像計測装置400によれば、第2の実施形態に係る光画像計測装置80と同様に、被測定物体の深部組織の微細構造を画像化することが可能である。   According to such an optical image measurement device 400, as in the optical image measurement device 80 according to the second embodiment, it is possible to image the fine structure of the deep tissue of the object to be measured.

なお、信号光の光路長と参照光の光路長とを一致させるための光学部材を、たとえば参照光の光路上に設けることができる。また、信号光に付与される分散の影響と参照光に付与される分散の影響とを一致させるための光学部材を、たとえば参照光の光路上に設けることができる。   An optical member for matching the optical path length of the signal light and the optical path length of the reference light can be provided on the optical path of the reference light, for example. Further, an optical member for making the influence of the dispersion imparted to the signal light coincide with the influence of the dispersion imparted to the reference light can be provided, for example, on the optical path of the reference light.

スウェプトソース型の光画像計測装置は、以上に説明したフーリエドメイン型光画像計測装置とほぼ同様に構成される。すなわち、スウェプトソース型の光画像計測装置は、様々な周波数の光を高速で切り替えて出力する光源(高速波長スキャニングレーザ)を備えるとともに、各周波数の光に基づく干渉光を検出し、その検出結果に基づいて被測定物体の断層画像を形成するように構成される。   The swept source optical image measurement device is configured in substantially the same manner as the Fourier domain optical image measurement device described above. That is, the swept source type optical image measurement device includes a light source (high-speed wavelength scanning laser) that switches and outputs light of various frequencies at high speed, and detects interference light based on the light of each frequency, and the detection result Is configured to form a tomographic image of the object to be measured.

この実施形態に係る光画像計測装置においては、光ファイババンドルに含まれる複数の光ファイバの一つひとつに正確に信号光(又は低コヒーレンス光)を入射させることが望ましいが、そのためには高精度の制御が必要である。特に、隣接する光ファイバの間隔が小さい場合などには、極めて高精度の制御を行う必要がある。そこで、光ファイババンドルの基端部の端面(複数の光ファイバの基端部の配列面)に対して信号光(又は低コヒーレンス光)を所定の精度で走査するとともに、それにより得られた好適な干渉光のみに基づいて画像を形成するように構成することが可能である。なお、好適な干渉光とは、たとえば、所定値以上の強度を有する干渉光などを意味する。   In the optical image measurement device according to this embodiment, it is desirable that signal light (or low coherence light) be accurately incident on each of a plurality of optical fibers included in the optical fiber bundle. is required. In particular, when the interval between adjacent optical fibers is small, it is necessary to perform extremely high-precision control. Accordingly, the signal light (or low-coherence light) is scanned with a predetermined accuracy on the end face of the base end part of the optical fiber bundle (the array surface of the base end parts of the plurality of optical fibers), and the preferable result obtained thereby. It is possible to configure to form an image based on only the interference light. In addition, suitable interference light means the interference light etc. which have the intensity | strength more than predetermined value, for example.

この発明に係る光画像計測装置の第1の実施形態の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of the structure of 1st Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第1の実施形態の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of the structure of 1st Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第1の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram showing an example of composition of a 1st embodiment of an optical image measuring device concerning this invention. この発明に係る光画像計測装置の第1の実施形態の変形例の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the modification of 1st Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第2の実施形態の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of 2nd Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第2の実施形態の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of 2nd Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第2の実施形態の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of 2nd Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第2の実施形態の変形例の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the modification of 2nd Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. この発明に係る光画像計測装置の第2の実施形態の変形例の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the modification of 2nd Embodiment of the optical image measuring device which concerns on this invention. 従来の光画像計測装置の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the conventional optical image measuring device. 従来の光画像計測装置の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the conventional optical image measuring device.

符号の説明Explanation of symbols

1 光画像計測装置
2 光源
3、7、12 ビームスプリッタ
4 偏光素子
5 光ファイババンドル
5a 基端部
5b 先端部
5α 光ファイバ
5β マイクロレンズ
6 反射部
8 波長板
9 参照ミラー
10、11 反射ミラー
13 偏光ビームスプリッタ
14、15 2次元光センサアレイ
16 コンピュータ
17 制御部
18 表示部
19 操作部
20 信号処理部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical image measuring device 2 Light source 3, 7, 12 Beam splitter 4 Polarizing element 5 Optical fiber bundle 5a Base end part 5b End part 5 alpha Optical fiber 5 beta Micro lens 6 Reflecting part 8 Wavelength plate 9 Reference mirror 10, 11 Reflecting mirror 13 Polarization Beam splitters 14 and 15 Two-dimensional photosensor array 16 Computer 17 Control unit 18 Display unit 19 Operation unit 20 Signal processing unit

Claims (11)

低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記干渉光を検出する検出手段と、
前記干渉光の検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置であって、
前記干渉光生成手段は、低コヒーレンス光から分割された信号光を一端から出射し、前記被測定物体を経由して前記一端に入射された該信号光を導光する導光手段を含み、前記導光された該信号光を参照光と重畳させて干渉光を生成する、
ことを特徴とする光画像計測装置。
An interference light generating unit that divides low-coherence light into signal light and reference light, and generates interference light by superimposing the signal light passing through the object to be measured and the reference light passing through the reference object;
Detecting means for detecting the interference light;
Image forming means for forming an image of the object to be measured based on the detection result of the interference light;
An optical image measuring device having
The interference light generating means includes a light guide means for emitting signal light divided from low-coherence light from one end and guiding the signal light incident on the one end via the measured object, Interference light is generated by superimposing the guided signal light with reference light;
An optical image measuring device characterized by that.
前記導光手段は可撓性を有する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
The light guiding means is flexible;
The optical image measuring device according to claim 1.
前記導光手段は、他端から入射した低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する分割手段を含み、該信号光を前記一端から出射し、前記被測定物体を経由して前記一端から入射された該信号光を前記他端まで導光して出射し、該参照光を前記他端から出射し、
前記干渉光生成手段は、前記他端からそれぞれ出射された信号光と参照光とを重畳させて干渉光を生成する、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光画像計測装置。
The light guiding unit includes a dividing unit that divides low-coherence light incident from the other end into signal light and reference light, emits the signal light from the one end, and passes through the object to be measured from the one end. The incident signal light is guided to the other end and emitted, and the reference light is emitted from the other end,
The interference light generating means generates the interference light by superimposing the signal light and the reference light respectively emitted from the other end;
The optical image measurement device according to claim 1 or claim 2, wherein
前記導光手段は、光ファイババンドルを含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
The light guiding means includes an optical fiber bundle,
The optical image measurement device according to any one of claims 1 to 3, wherein
前記導光手段は、前記一端及び前記他端を両端とする光ファイババンドルを含み、
前記分割手段は、前記一端に向けて導光される低コヒーレンス光の一部を反射して該低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する反射手段を含む、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。
The light guide means includes an optical fiber bundle having the one end and the other end as both ends,
The dividing means includes reflecting means for reflecting a part of the low coherence light guided toward the one end and dividing the low coherence light into signal light and reference light.
The optical image measuring device according to claim 3.
前記光ファイババンドルの各ファイバの前記一端にマイクロレンズが設けられている、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。
A microlens is provided at the one end of each fiber of the optical fiber bundle,
The optical image measuring device according to claim 4, wherein the optical image measuring device is an optical image measuring device.
前記検出手段は、前記光ファイババンドルに含まれる複数のファイバにより導光された複数の信号光に基づく複数の干渉光を同時に検出する2次元光センサアレイを含み、
ことを特徴とする請求項4〜請求項6のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
The detection means includes a two-dimensional photosensor array that simultaneously detects a plurality of interference lights based on a plurality of signal lights guided by a plurality of fibers included in the optical fiber bundle,
The optical image measurement device according to any one of claims 4 to 6, wherein the optical image measurement device is an optical image measurement device.
前記干渉光生成手段は、前記光ファイババンドルに含まれる複数のファイバに順次に信号光を導光させ、
前記検出手段は、前記順次に導光される信号光に基づく干渉光を順次に検出し、
前記画像形成手段は、前記順次に検出される各干渉光に基づいて前記被測定物体の複数の異なる部位の画像を順次に形成する、
ことを特徴とする請求項4〜請求項6のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
The interference light generation means sequentially guides signal light to a plurality of fibers included in the optical fiber bundle,
The detection means sequentially detects interference light based on the sequentially guided signal light,
The image forming means sequentially forms images of a plurality of different parts of the object to be measured based on the sequentially detected interference lights.
The optical image measurement device according to any one of claims 4 to 6, wherein the optical image measurement device is an optical image measurement device.
前記干渉光生成手段は、前記信号光の光路長と前記参照光の光路長とを一致させるための光学部材を含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
The interference light generating means includes an optical member for making the optical path length of the signal light coincide with the optical path length of the reference light,
The optical image measuring device according to any one of claims 1 to 8, wherein
前記干渉光生成手段は、前記信号光に付与される分散の影響と前記参照光に付与される分散の影響とを一致させるための光学部材を含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
The interference light generation means includes an optical member for making the influence of dispersion imparted to the signal light coincide with the influence of dispersion imparted to the reference light.
The optical image measuring device according to any one of claims 1 to 8, wherein
前記光学部材は、前記参照光の光路上に設けられる、
ことを特徴とする請求項9又は請求項10に記載の光画像計測装置。
The optical member is provided on the optical path of the reference light.
The optical image measurement device according to claim 9 or 10,
JP2007204507A 2007-08-06 2007-08-06 Optical image measuring device Pending JP2009041946A (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007204507A JP2009041946A (en) 2007-08-06 2007-08-06 Optical image measuring device
US12/733,051 US8488126B2 (en) 2007-08-06 2008-08-01 Optical image measurement device including an interference light generator
PCT/JP2008/002086 WO2009019847A1 (en) 2007-08-06 2008-08-01 Optical image measuring device
EP20080790350 EP2175257A4 (en) 2007-08-06 2008-08-01 OPTICAL IMAGE MEASURING DEVICE

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007204507A JP2009041946A (en) 2007-08-06 2007-08-06 Optical image measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009041946A true JP2009041946A (en) 2009-02-26

Family

ID=40341090

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007204507A Pending JP2009041946A (en) 2007-08-06 2007-08-06 Optical image measuring device

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8488126B2 (en)
EP (1) EP2175257A4 (en)
JP (1) JP2009041946A (en)
WO (1) WO2009019847A1 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012016525A (en) * 2010-07-09 2012-01-26 Canon Inc Optical tomographic imaging apparatus and imaging method thereof
JP2015058152A (en) * 2013-09-18 2015-03-30 株式会社トプコン Laser treatment system
JP2015212682A (en) * 2014-04-14 2015-11-26 Dmg森精機株式会社 Displacement detection device
JP2017501854A (en) * 2013-12-23 2017-01-19 ノバルティス アーゲー Forward scanning optical probe and related devices, systems, and methods
JP2017124055A (en) * 2016-01-14 2017-07-20 株式会社トプコン Ophthalmic measuring device
KR102008253B1 (en) * 2018-04-11 2019-08-07 조선대학교산학협력단 Multi channel optical profiler based on interferometer
JP2020096866A (en) * 2014-06-10 2020-06-25 カール ツァイス メディテック インコーポレイテッドCarl Zeiss Meditec Inc. Imaging system and method by improved frequency domain interferometry
JP2021528701A (en) * 2018-06-29 2021-10-21 マックス−プランク−ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・ヴィッセンシャフテン・エー・ファオMax−Planck−Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V. Lossy devices with asymmetric phase transfer of waves

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013031634A (en) * 2011-06-30 2013-02-14 Canon Inc Imaging apparatus
US9795285B2 (en) * 2011-07-07 2017-10-24 Boston Scientific Scimed, Inc. Imaging system for endoscope
US8730466B2 (en) * 2011-07-14 2014-05-20 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Optical spectrometer with underfilled fiber optic sample interface
DE102011053880B4 (en) * 2011-09-23 2023-11-09 Carl Zeiss Ag Device and method for imaging the fundus of the eye
DE102012006420A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-02 Carl Zeiss Sms Gmbh Temperature sensor and method for measuring a temperature change
CN104287692B (en) * 2014-11-06 2017-12-19 苏州微清医疗器械有限公司 A kind of eye-ground photography device
KR102560803B1 (en) * 2016-07-05 2023-07-31 더 제너럴 하스피탈 코포레이션 Systems and methods for an actively controlled optical imaging device
US10016137B1 (en) * 2017-11-22 2018-07-10 Hi Llc System and method for simultaneously detecting phase modulated optical signals
CN109459412A (en) * 2018-12-12 2019-03-12 南京吉隆光纤通信股份有限公司 Measurement of Refractive Index Profile o device and acquisition and judge coherence method at optical fiber parameter method
WO2020220003A1 (en) * 2019-04-26 2020-10-29 University Of Washington Optical instrument and method for use
CN112684462A (en) * 2020-12-21 2021-04-20 武汉光目科技有限公司 Amplified area array sweep frequency measuring device and method
CN115334214B (en) * 2021-05-11 2024-11-29 北京小米移动软件有限公司 Optical components, cameras and mobile terminals
CN116602628B (en) * 2023-07-17 2023-11-28 江苏京泰全医疗科技有限公司 Detection device for self-fluorescence tissue

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0635946B2 (en) * 1990-11-06 1994-05-11 直弘 丹野 Light wave reflection image measuring device
JPH09119813A (en) * 1995-08-28 1997-05-06 Hewlett Packard Co <Hp> Method and device to measure thickness of film and refractive index
JP2000503237A (en) * 1996-02-27 2000-03-21 マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー Method and apparatus for making optical measurements using fiber optic imaging guidewires, catheters or endoscopes
JP2000131221A (en) * 1998-10-20 2000-05-12 Olympus Optical Co Ltd Optical scanning image acuisition system
JP2001046321A (en) * 1999-08-09 2001-02-20 Asahi Optical Co Ltd Endoscope device
JP2001066245A (en) * 1999-08-26 2001-03-16 Japan Science & Technology Corp Light wave reflection tomographic observation system
JP2001125009A (en) * 1999-10-28 2001-05-11 Asahi Optical Co Ltd Endoscope device
JP2001228080A (en) * 2000-02-18 2001-08-24 Japan Science & Technology Corp Optical coherence tomographic observation system
JP2003172690A (en) * 2001-12-07 2003-06-20 Olympus Optical Co Ltd Optical imaging device
JP2004317437A (en) * 2003-04-18 2004-11-11 Olympus Corp Optical imaging apparatus
JP2004344260A (en) * 2003-05-20 2004-12-09 J Morita Tokyo Mfg Corp Dental optical diagnostic equipment
JP2005156540A (en) * 2003-09-26 2005-06-16 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Variable wavelength light generator and optical interference tomography device for optical interference tomography
WO2006024014A2 (en) * 2004-08-24 2006-03-02 The General Hospital Corporation Process, system and software arrangement for measuring a mechanical strain and elastic properties of a sample
WO2006077921A1 (en) * 2005-01-21 2006-07-27 Scool Juridical Person Kitasato Gakuen Optical coherent tomography device
JP2007117714A (en) * 2005-09-29 2007-05-17 Topcon Corp Fundus observation apparatus, fundus image display apparatus, and fundus observation program
JP2007185244A (en) * 2006-01-11 2007-07-26 Topcon Corp Optical image measuring device

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5381229A (en) * 1991-03-29 1995-01-10 Center For Innovative Technology Sapphire optical fiber interferometer
US5748598A (en) 1995-12-22 1998-05-05 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus and methods for reading multilayer storage media using short coherence length sources
JPH0635946A (en) 1992-07-15 1994-02-10 Omron Corp Automatic transaction machine
JPH0792656A (en) 1993-09-20 1995-04-07 Fujitsu Ltd Exposure reticle for manufacturing semiconductor device, exposure apparatus and exposure method
DE19819762A1 (en) * 1998-05-04 1999-11-25 Bosch Gmbh Robert Interferometric measuring device
JP3594875B2 (en) 2000-05-25 2004-12-02 独立行政法人 科学技術振興機構 Optical image measurement device using two-dimensional optical heterodyne detection method
AU2002337666A1 (en) * 2001-08-03 2003-02-17 Joseph A. Izatt Aspects of basic oct engine technologies for high speed optical coherence tomography and light source and other improvements in oct
JP4469977B2 (en) 2004-07-09 2010-06-02 日本電信電話株式会社 Teeth optical interference tomography device
US20080252901A1 (en) 2003-09-26 2008-10-16 School Jiridical Person Kitasato Gakuen Wavelength-Tunable Light Source And Optical Coherence Tomography
JP4362631B2 (en) 2003-09-26 2009-11-11 日本電信電話株式会社 Variable wavelength light generator
JP2006047264A (en) 2004-07-09 2006-02-16 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Optical coherent tomography apparatus, variable wavelength light generating apparatus and variable wavelength light source used therefor
JP4648683B2 (en) 2004-11-09 2011-03-09 Hoya株式会社 Endoscope system
US7426036B2 (en) * 2005-07-08 2008-09-16 Imalux Corporation Common path frequency domain optical coherence reflectometer and common path frequency domain optical coherence tomography device
JP4804820B2 (en) 2005-07-15 2011-11-02 サンテック株式会社 Optical tomographic image display system
JP2007125277A (en) 2005-11-07 2007-05-24 Pentax Corp Electronic endoscope device
US7508523B2 (en) * 2006-07-24 2009-03-24 National Research Council Of Canada Interferometric system for complex image extraction

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0635946B2 (en) * 1990-11-06 1994-05-11 直弘 丹野 Light wave reflection image measuring device
JPH09119813A (en) * 1995-08-28 1997-05-06 Hewlett Packard Co <Hp> Method and device to measure thickness of film and refractive index
JP2000503237A (en) * 1996-02-27 2000-03-21 マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー Method and apparatus for making optical measurements using fiber optic imaging guidewires, catheters or endoscopes
JP2000131221A (en) * 1998-10-20 2000-05-12 Olympus Optical Co Ltd Optical scanning image acuisition system
JP2001046321A (en) * 1999-08-09 2001-02-20 Asahi Optical Co Ltd Endoscope device
JP2001066245A (en) * 1999-08-26 2001-03-16 Japan Science & Technology Corp Light wave reflection tomographic observation system
JP2001125009A (en) * 1999-10-28 2001-05-11 Asahi Optical Co Ltd Endoscope device
JP2001228080A (en) * 2000-02-18 2001-08-24 Japan Science & Technology Corp Optical coherence tomographic observation system
JP2003172690A (en) * 2001-12-07 2003-06-20 Olympus Optical Co Ltd Optical imaging device
JP2004317437A (en) * 2003-04-18 2004-11-11 Olympus Corp Optical imaging apparatus
JP2004344260A (en) * 2003-05-20 2004-12-09 J Morita Tokyo Mfg Corp Dental optical diagnostic equipment
JP2005156540A (en) * 2003-09-26 2005-06-16 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Variable wavelength light generator and optical interference tomography device for optical interference tomography
WO2006024014A2 (en) * 2004-08-24 2006-03-02 The General Hospital Corporation Process, system and software arrangement for measuring a mechanical strain and elastic properties of a sample
JP2008510585A (en) * 2004-08-24 2008-04-10 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション Process, system and software for measuring mechanical strain and elastic properties of samples
WO2006077921A1 (en) * 2005-01-21 2006-07-27 Scool Juridical Person Kitasato Gakuen Optical coherent tomography device
JP2007117714A (en) * 2005-09-29 2007-05-17 Topcon Corp Fundus observation apparatus, fundus image display apparatus, and fundus observation program
JP2007185244A (en) * 2006-01-11 2007-07-26 Topcon Corp Optical image measuring device

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012016525A (en) * 2010-07-09 2012-01-26 Canon Inc Optical tomographic imaging apparatus and imaging method thereof
JP2015058152A (en) * 2013-09-18 2015-03-30 株式会社トプコン Laser treatment system
JP2017501854A (en) * 2013-12-23 2017-01-19 ノバルティス アーゲー Forward scanning optical probe and related devices, systems, and methods
JP2015212682A (en) * 2014-04-14 2015-11-26 Dmg森精機株式会社 Displacement detection device
JP2020096866A (en) * 2014-06-10 2020-06-25 カール ツァイス メディテック インコーポレイテッドCarl Zeiss Meditec Inc. Imaging system and method by improved frequency domain interferometry
JP2017124055A (en) * 2016-01-14 2017-07-20 株式会社トプコン Ophthalmic measuring device
KR102008253B1 (en) * 2018-04-11 2019-08-07 조선대학교산학협력단 Multi channel optical profiler based on interferometer
JP2021528701A (en) * 2018-06-29 2021-10-21 マックス−プランク−ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・ヴィッセンシャフテン・エー・ファオMax−Planck−Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften e.V. Lossy devices with asymmetric phase transfer of waves
US11595133B2 (en) 2018-06-29 2023-02-28 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Non-reciprocal device comprising asymmetric phase transport of waves
JP7241102B2 (en) 2018-06-29 2023-03-16 マックス-プランク-ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・ヴィッセンシャフテン・エー・ファオ Irreversible devices containing asymmetric phase carriers of waves

Also Published As

Publication number Publication date
US20100134802A1 (en) 2010-06-03
WO2009019847A1 (en) 2009-02-12
EP2175257A1 (en) 2010-04-14
EP2175257A4 (en) 2013-05-15
US8488126B2 (en) 2013-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8488126B2 (en) Optical image measurement device including an interference light generator
US7474407B2 (en) Optical coherence tomography with 3d coherence scanning
JP4362631B2 (en) Variable wavelength light generator
US7952723B2 (en) Optical coherence tomography apparatus
JP4344829B2 (en) Polarized light receiving image measuring device
JP5626687B2 (en) 2-beam optical coherence tomography system
CN1837782B (en) Optical Image Measuring Device
JP5623028B2 (en) Imaging method and apparatus for taking optical coherence tomographic image
JP5416577B2 (en) Retinal function measuring device
US9291445B2 (en) Optical coherence tomographic apparatus
US7973940B2 (en) Optical object measurement apparatus
US20200129068A1 (en) Intraoral oct with color texture
JP2005156540A (en) Variable wavelength light generator and optical interference tomography device for optical interference tomography
JP2010125291A (en) Ophthalmological photographic apparatus
JPWO2007066465A1 (en) Optical image measuring device
US20080100848A1 (en) Optical tomograph
JP2009264787A (en) Optical image measuring device
JP2015226579A (en) Optical coherence tomographic device and control method of the same
JP5570195B2 (en) OCT equipment
JP2010164351A (en) Optical tomographic imaging apparatus
KR101053222B1 (en) Optical Coherence Tomography Device Using Multi-line Camera
CN100559170C (en) Tomography imaging apparatus
KR20150043115A (en) Optical Coherence Tomography Device
JP2010151684A (en) Polarization sensitive optical image measuring instrument for extracting local double refraction information
JP4904209B2 (en) Optical tomographic imaging system

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20081217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090604

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120131

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120319

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121129

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20131008