[go: up one dir, main page]

JP2009016401A - 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 - Google Patents

磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009016401A
JP2009016401A JP2007173471A JP2007173471A JP2009016401A JP 2009016401 A JP2009016401 A JP 2009016401A JP 2007173471 A JP2007173471 A JP 2007173471A JP 2007173471 A JP2007173471 A JP 2007173471A JP 2009016401 A JP2009016401 A JP 2009016401A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
magnetization
magnetic
magnetization direction
pinned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007173471A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Koui
克彦 鴻井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2007173471A priority Critical patent/JP2009016401A/ja
Priority to US12/147,843 priority patent/US20090002899A1/en
Priority to CNA2008101319409A priority patent/CN101373599A/zh
Publication of JP2009016401A publication Critical patent/JP2009016401A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/093Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3929Disposition of magnetic thin films not used for directly coupling magnetic flux from the track to the MR film or for shielding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

【課題】 スピントランスファー誘起ノイズを抑制すること。
【解決手段】 磁化固着層25と、中間層26と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層27と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層28と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層29とが積層された磁気抵抗効果素子20と、前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールド層11,33と、前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜32とを具備する。
【選択図】 図3

Description

本発明は、スピントランスファー誘起ノイズを抑制するための磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気ディスク装置に関する。
近年、HDD(Hard Disk Drive)などの磁気記録再生装置においては高密度化が急速に進められ、これに合わせて磁気ヘッドに対しても高記録密度に対応するものが要求されている。
近年、磁気抵抗効果の向上が期待できる磁気抵抗効果素子(スピンバルブ膜)として、垂直通電型のものが研究されている(たとえば特許文献1参照)。
上述した特許文献に記載されている構成では、ピン層の磁化方向とフリー層の磁化方向とが直交している。
特開2005−209301号公報
しかし、上記のようにピン層の磁化方向とフリー層の磁化方向を直交させた場合、たとえばセンス電流の電流密度を大きくするにつれて、再生出力にノイズが現れるという問題があることがわかってきた。これはスピントランスファー誘起ノイズ(spin transfer-induced noise、STIN)と呼ばれているが、STINを抑制する有効な方法は知られていなかった。
本発明の目的は、スピントランスファー誘起ノイズを抑制することができる垂直通電型磁気ヘッド、およびそれを用いた磁気ディスク装置を提供することにある。
本発明の一例に係わる垂直通電型磁気ヘッドは、磁化固着層と、中間層と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層とが積層された磁気抵抗効果素子と、前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールドと、前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜とを具備することを特徴とする。
スピントランスファー誘起ノイズを抑制することができる。
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係わる記録ヘッドおよび再生ヘッドを含む磁気ヘッドの構成を示す断面図である。なお、図1において、紙面手前側の断面はABS(Air bearing surface)(媒体対向面)である。図2は、図1に示す磁気ヘッドのI−I部の断面図である。
図1および図2に示すように、磁気ヘッドは、記録ヘッド1と再生ヘッド2等を有する。ABS面から見た記録ヘッド1の断面には、主磁極41およびリターンヨーク42が露出する。また、ABS面から見た再生ヘッドの断面には、上部電極兼磁気シールド層33、下部電極兼磁気シールド層11、磁気抵抗効果素子20、およびバイアス印加膜32が露出する。磁気抵抗効果素子20およびバイアス印加膜32は、上部電極兼磁気シールド層33と下部電極兼磁気シールド層11との間に挟まれている。
センス時には、上部電極兼磁気シールド層33および下部電極兼磁気シールド層11によって磁気抵抗効果素子20にトラック方向に電流が流される。
図2の断面図に示すように、記録ヘッド1は、磁性材料からなる主磁極41と、Cuなどの導電体からなる励磁用のコイル43と、補助磁極44を介して主磁極41と接続され磁性材料からなるリターンヨーク42から構成されている。
次に、再生ヘッド2の構成について説明する。図3は本発明の一実施形態に係る垂直通電型磁気再生ヘッドの媒体対向面に平行な構成を示す断面図である。アルティック(Al23−TiC)基板(図示せず)上に設けられる、例えばNiFeから構成される下部電極兼磁気シールド層11上に磁気抵抗効果素子20が設けられている磁気抵抗効果素子20上に上部電極兼磁気シールド層33が設けられている。磁気抵抗効果素子20の両側にはアルミナからなる絶縁膜4を介してCr/CoCrPtからなるバイアス印加膜32が形成されている。下部電極兼磁気シールド層11および上部電極兼磁気シールド層33を用いて、磁気抵抗効果素子20に膜面垂直方向にセンス電流を通電する。また、バイアス印加膜32により磁気抵抗効果素子20にバイアス磁界を印加する。
磁気抵抗効果素子20は、下地層21、反強磁性層22、第1ピン層23、反並行結合層24、第2ピン層(磁化固着層)15、中間層26、CoFeおよびNiFeからなるフリー層27、分離層28、揺動補償層29、およびキャップ層30がこの順に積層された構造を有する。
下地層21としては、TaおよびRuが用いられる。また、下地層21としてはTa/NiFeCrやTa/Cuなどを用いてもよい。
反強磁性層22としては、IrMn,PtMn,NiMn,FeMnなどのMn反強磁性体合金が用いられる。また、反強磁性層22の膜厚は、例えば3−20nmである。
第1ピン層23および第2ピン層25は、反並行結合層24を介して反並行に磁化が結合したシンセティック反強磁性構造(略してシンセティック構造)を有する。第1及び第2ピン層23,25は、例えばCo,Fe,Niを基本とする強磁性体合金から構成される。本実施形態の場合、第1及び第2ピン層23,25は、2.5CoFeから構成される。第1及び第2ピン層23,25の膜厚は、例えばそれぞれ1〜20nmである。
反並行結合層24は、Ru,Rh,Crなどの非磁性金属から構成される。反並行結合層24の膜厚は、0.2−2nmであることが好ましい。
中間層26は、Al23,MgOなどの絶縁体、あるいはCu,Au,Ag,Al,Os,Irなどの非磁性金属及び合金、あるいは上記酸化物と金属の複合構造などから構成される。中間層26の膜厚は、例えば0.2−20nmである。
フリー層27は、メディアからの磁界を感受する。バイアス印加膜32は、フリー層27の磁化を安定化させるために設けられている。バイアス印加膜32はCo,Fe,Crなどの合金による硬磁性材料から構成される。
電極兼磁気シールド層11,33は、例えばNiを主成分とする金属軟磁性材料から構成される。
分離層28は、揺動補償層29とフリー層27の静的磁気結合を断絶する特性と同時に、ST(Spin-transfer)トルクを伝達することができる材料で構成される。具体的には、Cu,Au,Ag,Al,Os,Ir,Cr,Ru,Rh,Ptなどの非磁性金属を主成分とする非磁性金属層が望ましい。更に静的磁気結合を断絶するためには、分離層28の膜厚は、1nm以上であることが望ましい。更に好ましくは分離層28の膜厚が5nm以上であれば、安定して静的磁気結合を断絶させることができる。一方、分離層28の膜厚が20nm以上になると、磁気抵抗効果素子20全体を上下電極兼シールド層11,33間に収めるに当たって、シールド間距離を大きくとる必要があるため、再生分解能をあげることが困難になる。そのため分離層28の膜厚は20nm以下であることが望ましい。更にSTトルクを減衰させずに伝達するためには10nm以下であることが望ましい。
また、ここで述べている「静的磁気結合」とは、静磁気結合とRKKY相互作用のことであり、素子の動作時/非動作時に係わらず常に実質的一定に働く磁気結合のことである。一方、STトルクは、センス電流を流したときのみ作用する、動的磁気相互作用である。この相互作用の原理は図4に示すように、第2ピン層25からフリー層27に伝導電子が進入していくときに、ピン層25の磁化によるスピン偏極を維持したまま進入する成分があるため、フリー層27中で交換相互作用し、結果としてフリー層27の磁化の向きを第2ピン層25と同じ方向に傾けるトルクとして発現するものである。この相互作用は通電方向に係わらず発生する。フリー層27から磁化が固着されている層に電流を流すときの方が、電子は第2ピン層25からフリー層27に流れるため、その逆に流すときより強く作用する。図5に示すグラフはSTIN(Spin-transfer-induced-Noise)の典型的なプロファイルである。急激な低域ノイズを発生することでSN比に影響を与え、結果として磁気記録再生品質に悪影響を与える。
揺動補償層29には強磁性体が用いられ、さらに磁化が実質的に固着されている。用いられる材料としては、Co,Fe,Niを主成分とする合金にCr,Ptなどを加えた硬磁性体などを用いることができる。各磁性層の磁化方向を図6に示す。
図6に示すように、第1ピン層23の磁化方向と第2ピン層25の磁化方向とは、反平行である。フリー層27の磁化方向は、第2ピン層25に対して直交する方向である。揺動補償層29の磁化方向は第2ピン層25の磁化方向に反平行、且つ揺動補償層29の磁化方向に直交する方向である。
このような磁化の方向に調整したときにSTトルクが働く方向を図7に示す。フリー層27は媒体磁界に応じた磁化の方向を向くことでピン層25とのあいだに磁気抵抗効果を発生するが、ピン層25とのあいだでSTトルクが起こるため、同時にSTINを発生する。一方で揺動補償層29とフリー層27とのあいだでも、STトルクが起こり、やはりSTINが発生するが、そのノイズ位相はピン層間とは逆位相になるため、互いに打ち消しあい、ノイズを弱めるように機能する。結果として、揺動補償層29が無い場合と比べて、SN比を改善することができる。
また、STトルクはノイズを発振するだけでなく、文字通りマクロに磁化の向きを変える作用もあるため、フリー層27の向きに作用し、出力のバイアス点に影響を与えてしまう可能性がある。しかし、上記揺動調整層を形成することでトルクを打ち消すことができるため、バイアス点ずれのリスクを避けることができる。
以上が本発明の主たる実施の形態と動作原理であるが、更に以下に特性上好ましい形態について述べる。
揺動補償層29はノイズ低減に寄与する。一方、揺動補償層29−フリー層27間には、磁気抵抗効果が発生する。この部分の出力への寄与は、フリー層27−第2ピン層25間の磁気抵抗効果に対して逆位相であるため、出力を下げる寄与をしてしまう。この悪影響を無視できる程度まで低減するためには、フリー層27−揺動補償層29間の磁気抵抗効果を、フリー層27−ピン層25間の時期抵抗効果に比べて無視できる程度に下げればよい。具体的には、揺動補償層29−分離層28として上記に列挙したCo,Fe,Niを主成分とする合金−Cu,Au,Ag,Al,Os,Ir,Cr,Ru,Rh,Ptなどの非磁性金属の組み合わせは非常に抵抗変化量が小さく、例えばこれらの材料を用いて磁気抵抗効果素子を作成した場合には、高々1%以下の抵抗変化率しか得られないため、本発明の目的には適している。例えば、図3の中間層がAl23やMgOを用いたTMR素子である場合、磁気抵抗効果は20%以上に達するため、揺動補償層29の悪影響は実質的に無視できる。
また、STトルクは、ピン層からと揺動補償層29とからでつりあっていることが望ましい。ピン層とフリー層27間のST相互作用は磁気抵抗変化率を向上させる観点のみから選択したほうが出力を得るうえで好ましいので、トルクバランスは揺動補償層29のほうで調整するのが望ましい。具体的な方法としては、トルクを強めるためには分離層28をCu、Alなどの単体で形成するほうが良い。一方弱めるためには、2層以上の積層構造にしたり、不純物を添加した層を用いることができる。また、通電方向によっても調整することができる。すなわち、揺動補償層29からの寄与を増加したいときは、ピン層からフリー層27方向に電流を流せばよいし、ピン層からの寄与を増加したいときはその逆に流せばよい。
本発明を具体化する典型的な構成は以下のとおりである。
下部電極兼磁気シールド層11:NiFe
下地層21:3Ta/2NiFeCr
反強磁性層22:7IrMn
第1ピン層23:2.5CoFe
反並行結合層24:0.9Ru25
第2ピン層25:3CoFe
中間層26:MgO
フリー層27:1CoFe/5NiFe
分離層28:4Cu
揺動補償層29:5CoCrPt
キャップ層30:5Ta
上部電極兼磁気シールド層33:NiFe
バイアス印加膜32:CoCrPt
上記構成はピン層25からフリー層27へのST相互作用が非常に大きい材料であるため、通電方向はピン層25からフリー層27にして(電子はフリー層27から第2ピン層25)、揺動補償層29からの寄与を増大させたほうがノイズをより低減することができると同時に、バイアス点ずれの修正も効果的に行うことができる。
上記構成を用いた場合と、揺動補償層29を省いた場合の、ノイズプロファイルの比較を図8、図9に示す。
図8は、揺動補償層29を省いた場合のノイズプロファイルである。図8に示すノイズプロファイルには、低域のノイズが大きく出ている。同時に測定したGHz帯に見られるピークは、低域を含めてノイズの増大の原因がSTINであることを示している。図9は上述した構成で作成した場合である。低域のノイズが減少しており、同時にGHz帯のノイズも減少している。これは揺動補償層29によってSTINが抑制された結果である。
また図10,図11に、上記構成を用いた場合と、揺動補償層29を省いた場合の、バイアス点ずれの比較を示す。図10は揺動補償層29を省いた場合のR−Hカーブである。STトルクにより、フリー層27とピン層が反並行になりにくくなるため、抵抗最大値が低下している。これに対して、揺動補償層29を備えた場合の図11はほとんど変わらないループ形状を示しており、非常に良好なシグナル対称性を得ることができた。
図12、図13、および図14は、図1に示した構造の変形例である。
図12に示す構造は、揺動補償層59が硬磁性体で形成され、分離層28とバイアス印加膜32とが接続していないことである。なお、図12〜図14において、フリー層27の下層の構造は、図3と同様なので図示を省略してる。

図13に示す構造は、揺動補償層79が、強磁性体層79A、反並行結合層79B、および硬磁性層79Cが積層されたシンセティック反強磁性構造を持つことを特徴としている。79A、79Bの少なくとも一方は硬磁性体で形成することにより、ピン層と垂直に固着することができる。これにより、狭トラックに対応するようサイズを小さくしても、熱揺らぎによる不安定化の影響を除くことができる。また、狭ギャップ化には不利なものの、バイアス印加膜エッジの作成プロセスは従来と変更が無いため容易に達成することができる構造である。
図14は、揺動補償層89が、強磁性層(揺動補償層)89Aの磁化の向きがが反強磁性層89Bによって固着されている構造である、この場合も図7の形態同様、サイズを小さくしても熱揺らぎによる不安定化の影響を除くことができること、および、バイアス印加膜エッジの作成プロセスは従来と変更が無いため容易に達成することができることが特徴である。
また、図13と図14の形態を組み合わせて、シンセティック反強磁性構造に、反強磁性膜を積層して磁化の向きを固着することも出来る。
次に、本発明の実施形態に係る磁気抵抗効果素子を搭載した磁気記録再生装置について説明する。本実施形態に係る磁気抵抗効果素子または磁気ヘッドは、例えば、記録再生一体型の磁気ヘッドアセンブリに組み込まれ、磁気記録再生装置に搭載することができる。
図15は、このような磁気記録再生装置の概略構成を例示する要部斜視図である。すなわち、本発明の磁気記録再生装置150は、ロータリーアクチュエータを用いた形式の装置である。同図において、磁気ディスク200は、スピンドル152に装着され、図示しない駆動装置制御部からの制御信号に応答する図示しないモータにより矢印Aの方向に回転する。本発明の磁気記録再生装置150は、複数の磁気ディスク200を備えたものとしてもよい。
磁気ディスク200に格納する情報の記録再生を行うヘッドスライダ153は、サスペンション154の先端に取り付けられている。ヘッドスライダ153は、上述した再生ヘッドと記録ヘッドを含む磁気ヘッドをその先端付近に搭載している。
磁気ディスク200が回転すると、ヘッドスライダ153の媒体対向面(ABS)は磁気ディスク200の表面から所定の浮上量をもって保持される。あるいはスライダが磁気ディスク200と接触するいわゆる「接触走行型」であってもよい。
サスペンション154は、図示しない駆動コイルを保持するボビン部などを有するアクチュエータアーム155の一端に接続されている。アクチュエータアーム155の他端には、リニアモータの一種であるボイスコイルモータ156が設けられている。ボイスコイルモータ156は、アクチュエータアーム155のボビン部に巻き上げられた図示しない駆動コイルと、このコイルを挟み込むように対向して配置された永久磁石および対向ヨークからなる磁気回路とから構成される。
アクチュエータアーム155は、スピンドル157の上下2箇所に設けられた図示しないボールベアリングによって保持され、ボイスコイルモータ156により回転摺動が自在にできるようになっている。
図16は、アクチュエータアーム155から先の磁気ヘッドアセンブリをディスク側から眺めた拡大斜視図である。すなわち、磁気ヘッドアッセンブリ160は、例えば駆動コイルを保持するボビン部などを有するアクチュエータアーム155を有し、アクチュエータアーム155の一端にはサスペンション154が接続されている。
サスペンション154の先端には、上述した磁気ヘッドを具備するヘッドスライダ153が取り付けられている。サスペンション154は信号の書き込みおよび読み取り用のリード線164を有し、このリード線164とヘッドスライダ153に組み込まれた磁気ヘッドの各電極とが電気的に接続されている。図中165は磁気ヘッドアッセンブリ160の電極パッドである。
上述した再生磁気ヘッドを具備することにより、従来よりも高い記録密度で磁気ディスク200に磁気的に記録された情報を確実に読み取ることが可能となる。
以上詳述したように、本発明の磁気抵抗効果型ヘッドを用いれば、狭ギャップ/狭トラック化が可能となり記録密度を高めることができるとともに、良好なバイアス磁界を印加できることから、良好な線形動作と低ノイズ化が可能となり、S/N比の高い再生信号を得ることができる。
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
本発明の一実施形態に係わる記録ヘッドおよび再生ヘッドを含む磁気ヘッドの構成を示す断面図。 図1に示す磁気ヘッドのI−I部の構成を示す断面図。 本発明の一実施形態に係る垂直通電型磁気再生ヘッドの媒体対向面に平行な構成を示す断面図。 動的磁気相互作用の原理を示す図。 STIN(Spin-transfer-induced-Noise)の典型的なプロファイルを示す図。 図3に示す第1ピン層、第2ピン層、フリー層、および揺動補償層の磁化方向を示す図。 第1ピン層、第2ピン層、フリー層、および揺動補償層の磁化方向が図6に示す状態の場合のSTトルクが働く方向を示す図。 図3に示す構成から揺動補償層を省いた場合のノイズプロファイルを示す図。 図3に示す構成のノイズプロファイルを示す図。 第1ピン層、第2ピン層、フリー層、および揺動補償層の磁化方向が図6に示す状態の場合のR−Hカーブを示す図。 図3に示す構成のR−Hカーブを示す図。 図3に示す構成の変形例を示す図。 図3に示す構成の変形例を示す図。 図3に示す構成の変形例を示す図。 本発明の一実施形態に係る磁気記録再生装置の斜視図。 本発明の一実施形態に係る磁気ヘッドアセンブリの斜視図。
符号の説明
1…記録ヘッド,2…再生ヘッド,20…磁気抵抗効果素子,21…下地層,22…反強磁性層,23…第1ピン層,24…反並行結合層,25…第2ピン層,26…中間層,27…フリー層,28…分離層,29…揺動補償層,30…キャップ層,32…バイアス印加膜,33…上部電極兼磁気シールド層,150…磁気記録再生装置。

Claims (14)

  1. 磁化固着層と、中間層と、フリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行に固着された揺動補償層とが積層された磁気抵抗効果素子。
  2. 磁化固着層と、中間層と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層と、前記揺動補償層に更に積層された非磁性金属のキャップ層が積層された磁気抵抗効果素子と、
    前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールドと、
    前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜と
    を具備することを特徴とする垂直通電型磁気ヘッド。
  3. 前記分離層の膜厚は、1nm以上20nm以下であることを特徴とする請求項2記載の垂直通電型磁気ヘッド。
  4. 前記揺動補償層は、強磁性層によって構成されていることを特徴とする請求項2または3に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
  5. 前記揺動補償層と前記一対のバイアス印加膜とが接続され、
    前記揺動補償層と前記磁気抵抗効果素子の上側に設けられた前記電極兼磁気シールドとが静磁気結合していないことを特徴とする請求項4記載の垂直通電型磁気ヘッド。
  6. 前記揺動補償層が、反強磁性層/強磁性層の積層構造によって構成されていることを特徴とする請求項2または3に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
  7. 前記揺動補償層が、シンセティック反強磁性構造を有することを特徴とする請求項2または3に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
  8. 前記磁化固着層側の前記電極兼磁気シールドから前記揺動補償層側の前記電極兼磁気シールドに対して電流が流されることを特徴とする請求項2〜7の何れか1項に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
  9. 磁化固着層と、中間層と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層と、前記揺動補償層に更に積層された非磁性金属のキャップ層を有する磁気抵抗効果素子と、前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールドと、前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜を有する垂直通電型磁気ヘッドを具備することを特徴とする磁気ディスク装置。
  10. 前記分離層の膜厚は、1nm以上20nm以下であることを特徴とする請求項9記載の磁気ディスク装置。
  11. 前記揺動補償層は、強磁性層によって構成されていることを特徴とする請求項9または10に記載の磁気ディスク装置。
  12. 前記揺動補償層と前記一対のバイアス印加膜とが接続され、
    前記揺動補償層と前記磁気抵抗効果素子の上側に設けられた前記電極兼磁気シールドとが静磁気結合していないことを特徴とする請求項11記載の磁気ディスク装置。
  13. 前記揺動補償層が、反強磁性層/強磁性層の積層構造によって構成されていることを特徴とする請求項9または10に記載の磁気ディスク装置。
    置。
  14. 前記磁化固着層側の前記電極兼磁気シールドから前記揺動補償層側の前記電極兼磁気シールドに対して電流が流されることを特徴とする請求項9〜13の何れか1項に記載の磁気ディスク装置。
JP2007173471A 2007-06-29 2007-06-29 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 Pending JP2009016401A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007173471A JP2009016401A (ja) 2007-06-29 2007-06-29 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置
US12/147,843 US20090002899A1 (en) 2007-06-29 2008-06-27 Magnetoresistive element, magnetoresistive head, and magnetic disk apparatus
CNA2008101319409A CN101373599A (zh) 2007-06-29 2008-06-27 磁阻元件、磁阻磁头以及磁盘装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007173471A JP2009016401A (ja) 2007-06-29 2007-06-29 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009016401A true JP2009016401A (ja) 2009-01-22

Family

ID=40160126

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007173471A Pending JP2009016401A (ja) 2007-06-29 2007-06-29 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20090002899A1 (ja)
JP (1) JP2009016401A (ja)
CN (1) CN101373599A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010533366A (ja) * 2007-07-10 2010-10-21 コミサリア ア レネルジィ アトミーク エ オ ゼネ ルジイ アルテアナティーフ 低ノイズ磁場センサ

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8935132B2 (en) * 2012-02-08 2015-01-13 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Spectral simulation method during noise testing for a magnetic head, and noise-testing method for a magnetic head by using the same
US10741318B2 (en) * 2017-09-05 2020-08-11 Tdk Corporation Spin current magnetization rotational element, spin-orbit-torque magnetoresistance effect element, magnetic memory, and high-frequency magnetic element

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006253625A (ja) * 2004-09-03 2006-09-21 Alps Electric Co Ltd 磁気検出素子
JP2007012264A (ja) * 2006-08-14 2007-01-18 Toshiba Corp 磁気ヘッド及び磁気記録装置
JP2007096105A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記憶装置、および磁気メモリ
JP2007103471A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Sony Corp 記憶素子及びメモリ
JP2007184082A (ja) * 2005-12-29 2007-07-19 Tdk Corp 磁気ヘッド

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6473279B2 (en) * 2001-01-04 2002-10-29 International Business Machines Corporation In-stack single-domain stabilization of free layers for CIP and CPP spin-valve or tunnel-valve read heads
US6857180B2 (en) * 2002-03-22 2005-02-22 Headway Technologies, Inc. Method for fabricating a patterned synthetic longitudinal exchange biased GMR sensor
JP4692805B2 (ja) * 2004-06-30 2011-06-01 Tdk株式会社 磁気検出素子およびその形成方法
US7583482B2 (en) * 2004-11-30 2009-09-01 Tdk Corporation Magnetoresistive element and magnetoresistive device having a free layer stabilized by an in-stack bias
US20060291107A1 (en) * 2005-06-22 2006-12-28 Tdk Corporation Magnetoresistive element with tilted in-stack bias
US8058697B2 (en) * 2007-03-26 2011-11-15 Magic Technologies, Inc. Spin transfer MRAM device with novel magnetic synthetic free layer

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006253625A (ja) * 2004-09-03 2006-09-21 Alps Electric Co Ltd 磁気検出素子
JP2007096105A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記憶装置、および磁気メモリ
JP2007103471A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Sony Corp 記憶素子及びメモリ
JP2007184082A (ja) * 2005-12-29 2007-07-19 Tdk Corp 磁気ヘッド
JP2007012264A (ja) * 2006-08-14 2007-01-18 Toshiba Corp 磁気ヘッド及び磁気記録装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010533366A (ja) * 2007-07-10 2010-10-21 コミサリア ア レネルジィ アトミーク エ オ ゼネ ルジイ アルテアナティーフ 低ノイズ磁場センサ

Also Published As

Publication number Publication date
US20090002899A1 (en) 2009-01-01
CN101373599A (zh) 2009-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4735872B2 (ja) 薄膜磁気ヘッド
US20020051380A1 (en) Magnetoresistance effect element, magnetic head and magnetic recording and/or reproducing system
JP2003008103A (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置
JP2013080536A (ja) 磁気ヘッド
JP2005259976A (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置
JP5579285B2 (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気ヘッドアセンブリおよび磁気記録再生装置
JP2013120610A (ja) 磁気記録ヘッドおよびこれを備えた磁気記録装置
JP2002222504A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2003303406A (ja) 磁気抵抗効果ヘッド及び磁気ヘッド
US20080144228A1 (en) Magnetic head and magnetic disk apparatus
US12142306B2 (en) Magnetic sensor, magnetic head, and magnetic recording device
JP3657211B2 (ja) 磁気ヘッド
JP2004103806A (ja) 交換結合膜、スピンバルブ膜、薄膜磁気ヘッド、磁気ヘッド装置及び磁気記録再生装置
JP4469570B2 (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置
JP4160945B2 (ja) 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリ、およびハードディスク装置
JP4377777B2 (ja) 磁気ヘッド、ヘッドサスペンションアッセンブリ、および磁気再生装置
JP2008243920A (ja) 磁気抵抗効果再生素子、磁気ヘッド、および磁気再生装置
JP2006309842A (ja) 磁界検出センサ、薄膜磁気ヘッド、薄膜磁気ヘッドのウエハ、ヘッドジンバルアセンブリ、およびハードディスク装置
JP2007323725A (ja) 垂直通電型磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気ディスク装置
JP2008016738A (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置、および磁気メモリ
JP2007109807A (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録装置
JP2009016401A (ja) 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置
JP2009176400A (ja) Cpp型磁気抵抗効果素子および磁気ディスク装置
JP4471020B2 (ja) Cpp構造の磁気抵抗効果素子および磁気ディスク装置
JP3683577B1 (ja) 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリおよび磁気ディスク装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100201

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111018

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20120529

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120612