JP2009016401A - 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009016401A JP2009016401A JP2007173471A JP2007173471A JP2009016401A JP 2009016401 A JP2009016401 A JP 2009016401A JP 2007173471 A JP2007173471 A JP 2007173471A JP 2007173471 A JP2007173471 A JP 2007173471A JP 2009016401 A JP2009016401 A JP 2009016401A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- magnetization
- magnetic
- magnetization direction
- pinned
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 101
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims abstract description 71
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 36
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 13
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 11
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 5
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 4
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910019222 CoCrPt Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910003321 CoFe Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 IrMn Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000001687 destabilization Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910015136 FeMn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003289 NiMn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910019041 PtMn Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000002772 conduction electron Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
- G01R33/093—Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y25/00—Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
- G11B5/3906—Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
- G11B5/3929—Disposition of magnetic thin films not used for directly coupling magnetic flux from the track to the MR film or for shielding
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
【解決手段】 磁化固着層25と、中間層26と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層27と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層28と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層29とが積層された磁気抵抗効果素子20と、前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールド層11,33と、前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜32とを具備する。
【選択図】 図3
Description
下地層21:3Ta/2NiFeCr
反強磁性層22:7IrMn
第1ピン層23:2.5CoFe
反並行結合層24:0.9Ru25
第2ピン層25:3CoFe
中間層26:MgO
フリー層27:1CoFe/5NiFe
分離層28:4Cu
揺動補償層29:5CoCrPt
キャップ層30:5Ta
上部電極兼磁気シールド層33:NiFe
バイアス印加膜32:CoCrPt
上記構成はピン層25からフリー層27へのST相互作用が非常に大きい材料であるため、通電方向はピン層25からフリー層27にして(電子はフリー層27から第2ピン層25)、揺動補償層29からの寄与を増大させたほうがノイズをより低減することができると同時に、バイアス点ずれの修正も効果的に行うことができる。
図13に示す構造は、揺動補償層79が、強磁性体層79A、反並行結合層79B、および硬磁性層79Cが積層されたシンセティック反強磁性構造を持つことを特徴としている。79A、79Bの少なくとも一方は硬磁性体で形成することにより、ピン層と垂直に固着することができる。これにより、狭トラックに対応するようサイズを小さくしても、熱揺らぎによる不安定化の影響を除くことができる。また、狭ギャップ化には不利なものの、バイアス印加膜エッジの作成プロセスは従来と変更が無いため容易に達成することができる構造である。
Claims (14)
- 磁化固着層と、中間層と、フリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行に固着された揺動補償層とが積層された磁気抵抗効果素子。
- 磁化固着層と、中間層と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層と、前記揺動補償層に更に積層された非磁性金属のキャップ層が積層された磁気抵抗効果素子と、
前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールドと、
前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜と
を具備することを特徴とする垂直通電型磁気ヘッド。 - 前記分離層の膜厚は、1nm以上20nm以下であることを特徴とする請求項2記載の垂直通電型磁気ヘッド。
- 前記揺動補償層は、強磁性層によって構成されていることを特徴とする請求項2または3に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
- 前記揺動補償層と前記一対のバイアス印加膜とが接続され、
前記揺動補償層と前記磁気抵抗効果素子の上側に設けられた前記電極兼磁気シールドとが静磁気結合していないことを特徴とする請求項4記載の垂直通電型磁気ヘッド。 - 前記揺動補償層が、反強磁性層/強磁性層の積層構造によって構成されていることを特徴とする請求項2または3に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
- 前記揺動補償層が、シンセティック反強磁性構造を有することを特徴とする請求項2または3に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
- 前記磁化固着層側の前記電極兼磁気シールドから前記揺動補償層側の前記電極兼磁気シールドに対して電流が流されることを特徴とする請求項2〜7の何れか1項に記載の垂直通電型磁気ヘッド。
- 磁化固着層と、中間層と、前記磁化固着層の磁化の向きと直交する方向に磁化が固着されたフリー層と、金属で且つ非磁性体から構成される分離層と、前記分離層によって前記フリー層との静的磁気結合を断絶され、磁化の向きが前記磁化固着層の磁化の向きと反平行、且つ前記フリー層の磁化の向きと略直交する方向に固着された揺動補償層と、前記揺動補償層に更に積層された非磁性金属のキャップ層を有する磁気抵抗効果素子と、前記磁気抵抗効果素子の上下に設けられた一対の電極兼磁気シールドと、前記磁気抵抗効果素子を挟むように設けられ、前記フリー層の磁化の向きを安定化させるために磁化の向きが固着された一対のバイアス印加膜を有する垂直通電型磁気ヘッドを具備することを特徴とする磁気ディスク装置。
- 前記分離層の膜厚は、1nm以上20nm以下であることを特徴とする請求項9記載の磁気ディスク装置。
- 前記揺動補償層は、強磁性層によって構成されていることを特徴とする請求項9または10に記載の磁気ディスク装置。
- 前記揺動補償層と前記一対のバイアス印加膜とが接続され、
前記揺動補償層と前記磁気抵抗効果素子の上側に設けられた前記電極兼磁気シールドとが静磁気結合していないことを特徴とする請求項11記載の磁気ディスク装置。 - 前記揺動補償層が、反強磁性層/強磁性層の積層構造によって構成されていることを特徴とする請求項9または10に記載の磁気ディスク装置。
置。 - 前記磁化固着層側の前記電極兼磁気シールドから前記揺動補償層側の前記電極兼磁気シールドに対して電流が流されることを特徴とする請求項9〜13の何れか1項に記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007173471A JP2009016401A (ja) | 2007-06-29 | 2007-06-29 | 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 |
US12/147,843 US20090002899A1 (en) | 2007-06-29 | 2008-06-27 | Magnetoresistive element, magnetoresistive head, and magnetic disk apparatus |
CNA2008101319409A CN101373599A (zh) | 2007-06-29 | 2008-06-27 | 磁阻元件、磁阻磁头以及磁盘装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007173471A JP2009016401A (ja) | 2007-06-29 | 2007-06-29 | 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009016401A true JP2009016401A (ja) | 2009-01-22 |
Family
ID=40160126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007173471A Pending JP2009016401A (ja) | 2007-06-29 | 2007-06-29 | 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090002899A1 (ja) |
JP (1) | JP2009016401A (ja) |
CN (1) | CN101373599A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010533366A (ja) * | 2007-07-10 | 2010-10-21 | コミサリア ア レネルジィ アトミーク エ オ ゼネ ルジイ アルテアナティーフ | 低ノイズ磁場センサ |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8935132B2 (en) * | 2012-02-08 | 2015-01-13 | Sae Magnetics (H.K.) Ltd. | Spectral simulation method during noise testing for a magnetic head, and noise-testing method for a magnetic head by using the same |
US10741318B2 (en) * | 2017-09-05 | 2020-08-11 | Tdk Corporation | Spin current magnetization rotational element, spin-orbit-torque magnetoresistance effect element, magnetic memory, and high-frequency magnetic element |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006253625A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-09-21 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
JP2007012264A (ja) * | 2006-08-14 | 2007-01-18 | Toshiba Corp | 磁気ヘッド及び磁気記録装置 |
JP2007096105A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記憶装置、および磁気メモリ |
JP2007103471A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Sony Corp | 記憶素子及びメモリ |
JP2007184082A (ja) * | 2005-12-29 | 2007-07-19 | Tdk Corp | 磁気ヘッド |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6473279B2 (en) * | 2001-01-04 | 2002-10-29 | International Business Machines Corporation | In-stack single-domain stabilization of free layers for CIP and CPP spin-valve or tunnel-valve read heads |
US6857180B2 (en) * | 2002-03-22 | 2005-02-22 | Headway Technologies, Inc. | Method for fabricating a patterned synthetic longitudinal exchange biased GMR sensor |
JP4692805B2 (ja) * | 2004-06-30 | 2011-06-01 | Tdk株式会社 | 磁気検出素子およびその形成方法 |
US7583482B2 (en) * | 2004-11-30 | 2009-09-01 | Tdk Corporation | Magnetoresistive element and magnetoresistive device having a free layer stabilized by an in-stack bias |
US20060291107A1 (en) * | 2005-06-22 | 2006-12-28 | Tdk Corporation | Magnetoresistive element with tilted in-stack bias |
US8058697B2 (en) * | 2007-03-26 | 2011-11-15 | Magic Technologies, Inc. | Spin transfer MRAM device with novel magnetic synthetic free layer |
-
2007
- 2007-06-29 JP JP2007173471A patent/JP2009016401A/ja active Pending
-
2008
- 2008-06-27 CN CNA2008101319409A patent/CN101373599A/zh active Pending
- 2008-06-27 US US12/147,843 patent/US20090002899A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006253625A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-09-21 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
JP2007096105A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記憶装置、および磁気メモリ |
JP2007103471A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Sony Corp | 記憶素子及びメモリ |
JP2007184082A (ja) * | 2005-12-29 | 2007-07-19 | Tdk Corp | 磁気ヘッド |
JP2007012264A (ja) * | 2006-08-14 | 2007-01-18 | Toshiba Corp | 磁気ヘッド及び磁気記録装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010533366A (ja) * | 2007-07-10 | 2010-10-21 | コミサリア ア レネルジィ アトミーク エ オ ゼネ ルジイ アルテアナティーフ | 低ノイズ磁場センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090002899A1 (en) | 2009-01-01 |
CN101373599A (zh) | 2009-02-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4735872B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
US20020051380A1 (en) | Magnetoresistance effect element, magnetic head and magnetic recording and/or reproducing system | |
JP2003008103A (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置 | |
JP2013080536A (ja) | 磁気ヘッド | |
JP2005259976A (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置 | |
JP5579285B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気ヘッドアセンブリおよび磁気記録再生装置 | |
JP2013120610A (ja) | 磁気記録ヘッドおよびこれを備えた磁気記録装置 | |
JP2002222504A (ja) | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 | |
JP2003303406A (ja) | 磁気抵抗効果ヘッド及び磁気ヘッド | |
US20080144228A1 (en) | Magnetic head and magnetic disk apparatus | |
US12142306B2 (en) | Magnetic sensor, magnetic head, and magnetic recording device | |
JP3657211B2 (ja) | 磁気ヘッド | |
JP2004103806A (ja) | 交換結合膜、スピンバルブ膜、薄膜磁気ヘッド、磁気ヘッド装置及び磁気記録再生装置 | |
JP4469570B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置 | |
JP4160945B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリ、およびハードディスク装置 | |
JP4377777B2 (ja) | 磁気ヘッド、ヘッドサスペンションアッセンブリ、および磁気再生装置 | |
JP2008243920A (ja) | 磁気抵抗効果再生素子、磁気ヘッド、および磁気再生装置 | |
JP2006309842A (ja) | 磁界検出センサ、薄膜磁気ヘッド、薄膜磁気ヘッドのウエハ、ヘッドジンバルアセンブリ、およびハードディスク装置 | |
JP2007323725A (ja) | 垂直通電型磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気ディスク装置 | |
JP2008016738A (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置、および磁気メモリ | |
JP2007109807A (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録装置 | |
JP2009016401A (ja) | 磁気抵抗効果素子、垂直通電型磁気ヘッド、および磁気ディスク装置 | |
JP2009176400A (ja) | Cpp型磁気抵抗効果素子および磁気ディスク装置 | |
JP4471020B2 (ja) | Cpp構造の磁気抵抗効果素子および磁気ディスク装置 | |
JP3683577B1 (ja) | 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリおよび磁気ディスク装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100201 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111018 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120529 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120612 |