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JP2008269893A - 有機el表示装置 - Google Patents

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JP2008269893A
JP2008269893A JP2007109579A JP2007109579A JP2008269893A JP 2008269893 A JP2008269893 A JP 2008269893A JP 2007109579 A JP2007109579 A JP 2007109579A JP 2007109579 A JP2007109579 A JP 2007109579A JP 2008269893 A JP2008269893 A JP 2008269893A
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JP2007109579A
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Masamitsu Furuya
政光 古家
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Hitachi Displays Ltd
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Abstract

【課題】有機EL表示装置内の乾燥材に関連する輝度むらおよび、乾燥材の剥離に関連する画質不良を対策する。
【解決手段】TFT基板1には有機EL層、駆動TFT等が形成されている表示領域10の外側に有機EL層の下部電極に電流を供給する電流供給母線26等が形成され、その外側には有機EL層の上部電極に電流を供給するためのコンタクトホール群28が形成されている。TFT基板1は封止部3を介し封止基板2によって封止されている。封止基板2には有機EL層を湿気から守るための乾燥材5が設置されている。乾燥材5の端部を表示領域10の端部よりも外側でコンタクトホール群28よりも内側とすることによって、画面の輝度むらを防止する。同時に、乾燥材5の端部が剥離したときも表示領域10、コンタクトホール群28が破壊されることを防止する。
【選択図】図2

Description

本発明は有機EL表示装置のうち、湿気による有機EL材料の劣化を防止するための乾燥材の配置と画面の輝度むらを対策する技術に関連する。
従来表示装置の主流はCRTであったが、これに替わって、フラットディスプレイ装置である、液晶表示装置、プラズマ表示装置等が実用化され、需要が増大している。さらにこれらの表示装置に加え、有機エレクトロルミネッセンスを用いた表示装置(以下有機EL表示装置という)や、フィールドエミッションを利用する電子源をマトリクス状に配置して陽極に配置された蛍光体を光らすことによって画像を形成する表示装置(以後FED表示装置という)の開発、実用化も進んでいる。
有機EL表示装置は(1)液晶と比較して自発光型であるので、バックライトが不要である、(2)発光に必要な電圧が10V以下と低く、消費電力を小さくできる可能性がある、(3)プラズマ表示装置やFED表示装置と比較して、真空構造が不要であり、軽量化、薄型化に適している、(4)応答時間が数マイクロ秒と短く、動画特性がすぐれている、(5)視野角が170度以上と広い、等の特徴がある。
しかしながら、有機EL材料は周囲に水分や酸素があった場合、材料の酸化が促進され、ダークスポットが発生したりして発光特性が劣化する。これを対策するため、基板上に配線、スイッチング素子、有機EL発光層等を形成したあと、該基板の背面に封止のためのガラス基板、あるいは封止缶によって内部を気密にし、内部に乾燥剤を設置して有機EL材料が形成されている表示装置の内部から湿度を除去することが行われている。
以上のような従来技術は例えば、「特許文献1」、「特許文献2」等に記載されている。また、封止された空間内に乾燥材をどの程度の量をどの程度設置すれば有機EL表示装置として最も効果的であるのか等については例えば、「特許文献3」に記載されている。
特開平3−261091号公報 特開2001−345175号公報 特開2004−319245
有機EL表示装置における乾燥材は単に封止空間内の湿度を下げるという作用のほかに、表示特性に対してダイナミックな影響も与える。すなわち、乾燥材が存在する場所としない場所とでは画面輝度の明るさが異なる。また、乾燥材が存在する場所としない場所とでは有機EL表示装置の発光部分の寿命が異なる。
一方、乾燥材は封止空間内で、封止基板に接着して設置される。封止空間内は非常に狭いために、特に乾燥材と有機ELの表示領域との間隔も小さい。このような場合、封止基板に接着材で取り付けられている乾燥剤が剥がれるような場合、表示性能に重大な影響を与える可能性がある。
したがって、本発明は以上のような課題を解決するものであって、主な具体的手段は以下の通りである。
(1)基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域の端部よりも外側であり、前記コンタクトホール群よりも内側であることを特徴とする有機EL表示装置。
(2)前記乾燥材は接着剤によって前記封止基板に設置されていることを特徴とする(1)に記載の表示装置。
(3)前記乾燥材の端部と前記表示領域の端部との距離をdとし、前記表示領域における前記上部電極と前記乾燥材の間隔をgとしたとき、d>gであることを特徴とする(1)に記載の有機EL表示装置。
(4)前記上部電極はAlまたはAl合金で形成されていることを特徴とする(1)に記載の有機EL表示装置。
(5)基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域および前記コンタクトホール群の外側端部よりも外側であることを特徴とする有機EL表示装置。
(6)前記乾燥材は接着剤によって前記封止基板に設置されていることを特徴とする(5)に記載の表示装置。
(7)前記乾燥材の端部と前記コンタクトホール群の外側端部との距離をdとし、前記表示領域における前記上部電極と前記乾燥材の間隔をgとしたとき、d>gであることを特徴とする(5)に記載の有機EL表示装置。
(8)基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層と有機EL層への駆動電流を制御するTFTを含む画素がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域の端部よりも外側であり、前記コンタクトホール群よりも内側であることを特徴とする有機EL表示装置。
(9)前記基板には前記TFTに電流を供給する電流供給線と前記電流供給線を束ねる電流供給母線が形成され、前記コンタクトホール群は前記電流供給母線よりも外側に形成されていることを特徴とする(8)に記載の有機EL表示装置。
(10)前記基板には走査信号駆動回路が形成され、前記コンタクトホール群は前記走査信号駆動回路よりも外側に形成されていることを特徴とする(8)に記載の表示装置。
(11)基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層と有機EL層への駆動電流を制御するTFTを含む画素がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域の端部および前記コンタクトホール群の外側端部よりも外側であることを特徴とする有機EL表示装置。
(12)前記基板には前記TFTに電流を供給する電流供給線と前記電流供給線を束ねる電流供給母線が形成され、前記コンタクトホール群は前記電流供給母線よりも外側に形成されていることを特徴とする(11)に記載の有機EL表示装置。
(13)前記基板には走査信号駆動回路が形成され、前記コンタクトホール群は前記走査信号駆動回路よりも外側に形成されていることを特徴とする(11)に記載の表示装置。
(14)前記基板の前記表示領域の両側に走査信号駆動回路が形成され、前記コンタクトホール群は前記走査信号駆動回路よりも外側に形成されていることを特徴とする(11)に記載の表示装置。
以上のような手段を用いることによって表示領域内の有機EL層の温度を均一に保つことができるために、温度差にともなう輝度むらを防止することが出来る。また、表示領域内において、湿度の影響を均一に保つことが出来るために、長時間動作中における湿度の影響の差による輝度むらを防止することが出来る。
また、乾燥材の端部を表示領域およびコンタクトホール群から避けたために、乾燥材の端部において剥離が生じても表示領域の破壊、またはコンタクトホール群の破壊をさけることが出来るので、信頼性の高い有機EL表示装置を実現することが出来る。
実施例にしたがって、本発明の詳細な内容を開示する。
図1は有機EL表示装置の平面図である。図2は図1のA−A断面図である。本実施例では有機ELから発光する光はTFT基板側に出射するいわゆるボトムエミッション型の有機EL表示装置である。図1および図2において、TFT基板1には画素の発光部を形成する有機EL層、有機EL層を駆動するためのTFTおよび配線等が形成されている。多数の画素が集合して表示領域10を形成している。
表示領域10の周辺には有機EL層、TFT等を駆動するための駆動回路、各画素の有機EL層の陽極に電流を供給する電流供給母線26、各画素の有機EL層のカソードに電流を供給するコンタクトホール群28等が形成されている。図2にはこれらのうち、電流供給母線26、コンタクトホール群28等が模式的に示してある。TFT基板1の有機EL層等が形成された側は周辺に形成された封止部3を介して封止基板2によって封止されている。封止基板2には接着剤を介して乾燥材5が取り付けられている。TFT基板1に形成された画像表示領域と乾燥材5とは0.1mm〜0.2mm程度の非常に小さなギャップを介して対向している。
TFT基板1の一端には電源線、走査信号駆動回路、映像信号駆動回路等と接続している端子29が形成されている。この端子29にフレキシブル配線基板4が接続されており、フレキシブル配線基板4を介して外部から電源、走査信号、映像信号等を有機EL表示装置に供給する。
図3は実施例1におけるTFT基板1の表示素子、駆動回路、電源供給領域等の配置を示す平面模式図である。図3において基板の中央の大部分には表示領域10が形成されている。この表示領域10の両側に走査信号駆動回路22が配置されている。各走査信号駆動回路22からはゲート信号線23が延在している。左側の走査信号駆動回路22からのゲート信号線23と右側の走査信号駆動回路22からのゲート信号線23とは交互に配置されている。
表示領域10の下側には映像信号駆動回路24が配置され、このデータ信号駆動回路24からは表示領域10側にデータ信号線25が延在している。表示領域10の上側には電流供給母線26が配置され、この電流供給母線26からは表示領域10側に電流供給線27が延在している。
データ信号線25と電流供給線27は交互に配置され、これにより、これらデータ信号線25、電流供給線27、および2本のゲート信号線23で囲まれた各領域において一つの画素PXの領域を構成する。
表示領域10の上側にはコンタクトホール群28が形成されている。コンタクトホール群28は表示領域全域に形成される有機EL層の上部電極を、絶縁膜の下に形成されていて端子29まで延在する電流供給配線と電気的に接続する役割をもつ。表示領域10の下側には端子29が形成され、これらの端子29から走査信号、データ信号、有機EL層に対する陽極電位、陰極電位等が供給される。
表示領域10、走査信号駆動回路22、映像信号駆動回路24、電流供給母線26を囲むようにして封着材3が形成され、TFT基板1に対向する封止基板2が封止される。TFT基板1の封着材の外側には端子部29が形成され、この端子部29から、走査信号駆動回路22、映像信号駆動回路24、電流供給母線26、コンタクトホール群28等に信号または電流が供給される。
図4は画素PXとその上方に設置される乾燥剤5と対向基板2を示す断面模式図である。図4はスイッチング素子として動作する薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、TFT)の断面図も同時に示している。図4において、ガラス基板の上に、アンダーコート112が施されている。このアンダーコート112はガラス基板からの不純物がTFTや有機EL層121を汚染するのを防止する役目を有する。
半導体部113にはソース部、チャンネル部、ドレイン部が形成されている。半導体部113を覆ってゲート絶縁膜114が形成されており、このゲート絶縁膜114の上にはゲート電極115が形成され、このゲート電極115を覆って層間絶縁膜116が形成される。この層間絶縁膜116の上には、SD配線117が形成されるが、このSD配線117は層間絶縁膜116に形成されたスルーホールを通して、半導体層113に形成されているソース部またはドレイン部と接続し、TFTから信号を取り出す役割をもつ。このSD配線117を覆って、TFT全体を保護するためのパッシベーション膜118が形成される。
有機EL層121の下部電極119となる、透明電極ITOがパッシベーション膜118上に形成されるが、この透明電極はパッシベーション膜118に形成されたスルーホールを介してSD配線117とつながる。さらに、透明電極ITOおよびパッシベーション膜118上には、各画素を分離するためのバンク120が形成される。バンク120が形成されていない部分には発光部である有機EL層121が堆積される。そして、有機EL層121上には上部電極122となる金属層が形成される。上部電極122となる金属層はAlまたはAl合金で形成され、高い反射率を有する。
有機EL層121は一般には複数層となっており、陰極と陽極の間に電圧を印加することによって発光する。ここで、下部電極119は透明電極で形成されており、パッシベーション膜118、層間絶縁膜116、アンダーコート112いずれも透明であるので、有機EL層121で発した光は図4の矢印Lの方向に向かう(ボトムエミッション)。一方、上部電極122へ向かう光は上部電極である金属で反射されてやはり図4の矢印Lの方向に向かうことになる。そして、上部電極122の上にはギャップgを隔てて乾燥剤が配置され、乾燥剤は両面接着テープ等の接着材によって対向電極に固定されている。このギャップgは0.1mmから0.2mmである。
図5は発光部となる有機EL層121部分の1例を示す断面模式図である。図5において、透明電極である下部電極119の上にホール注入層1211が50nm、ホール輸送層1212が40nm、発光層1213が20nm、電子輸送層1214が20nm、電子注入層1215が0.5nmの厚さで形成される。上部電極122はAlの蒸着膜が150nm程度形成される。このように有機EL層121は全部の層を合わせても140nm前後であるため、乾燥剤等が接触すると容易に破壊してしまう。
図4に示すように、上部電極122と乾燥材5との間隔gは0.1mmから0.2mm程度しかないため、乾燥材5が一部剥離したりするとその部分で有機EL層121の上部電極122に接触し、有機EL層121あるいは上部電極122を破壊してしまう。このような乾燥材5の剥離は乾燥材5の端部において生じやすいので、乾燥材5の端部は特に注意が必要である。一方TFT部分はバンク120によって保護されているために乾燥材5が接触しても破壊されることは無い。
図6はコンタクトホール群28における1個のコンタクトホール部とその上方に設置される乾燥剤5と対向基板2を示す断面模式図である。図6において、TFT基板1側から順にアンダーコート112、ゲート絶縁膜114、層間絶縁膜116が形成されている。端子部29からコンタクトホール群28まで電流を導通させるための配線117が図4におけるTFT部のSD配線117と同層で形成されている。以後この配線もSD配線117と呼ぶ。SD配線117は図3における端子部29からコンタクトホール群28の形成されている部分までを電気的に接続する。SD配線117は電気抵抗を小さくするためにAlまたはAl合金で形成されている。
SD配線117の上にはパシベーション膜118が形成されるが、このパッシベーション膜118にはコンタクトのためのホールが形成される。パッシベーション膜118およびコンタクトホール部の上には透明電極であるITOが形成される。ITOの上にはバンク120が形成される。このバンク120はコンタクト部においてはエッチングによって導通のためのホールが形成される。バンク120およびバンク120に形成されたホールの上には上部電極122である金属膜がAlまたはAl合金等によって形成される。以上のプロセスは図4に示す画素部の形成と同時に行われる。そして、上部電極122の上にはギャップgを隔てて乾燥剤が配置され、乾燥剤は両面接着テープ等の接着材によって対向電極に固定されている。このギャップgは0.1mmから0.2mmである。
図6に示すように、コンタクト部はバンク120およびパッシベーション膜118等によって保護されていないために、外力に対して弱い。また、コンタクト部は段差が形成されているために、導通が不安定になりやすい。したがって、コンタクト部に乾燥材5が接触したりすると容易に導通不良を生ずる。コンタクトホール群28から全画素にカソード電流が供給されるために、コンタクトホール群28の導通不良は重大な影響を生ずる。したがって乾燥材5の剥離の問題は、コンタクトホール群28においても表示領域10におけると同様に重大な問題となる。また、このような乾燥材5の剥離は乾燥材5の端部において生じやすいので、乾燥材5の端部は特に注意が必要である。
図7は乾燥材5の端部が表示領域10よりも内側に存在する場合の輝度むらに対する影響を示す図である。図7等における絶縁層11はTFT、駆動回路、立体配線等に使用される層間絶縁膜等を総称している。図7において、乾燥材5が存在する部分は上部電極122と乾燥材5とのギャップは0.1mmから0.2mmと非常に小さい。したがって、有機EL層121が発光して発熱をしても発生した熱は乾燥材5によって吸収される。しかし、乾燥材5の無い部分は熱の吸収が小さい。この様子を図7における白矢印の長さの差で示す。そうすると乾燥材5が存在する部分よりも乾燥材5が存在しない部分のほうが有機EL層121の温度が高くなる。
図8は有機EL層121の電圧―電流特性と温度の関係を示す図である。図8には有機EL層121の温度が−45度℃、25度℃、85度℃の場合の電圧―電流特性が示されている。図8からわかるように、有機EL層121の温度が高いほど電流が多く流れる。
図9は有機EL層121に印加する電圧―輝度特性と温度の関係を示す図である。図8と同様、図9には有機EL層121の温度が−45度℃、25度℃、85度℃の場合の電圧−輝度特性が示されている。図9からわかるように、温度が高いほど輝度が高くなる。すなわち、有機EL層121の温度が高いほど電流が多く流れ、発光輝度も大きくなる。
図7において、乾燥材5の存在しない表示領域周辺の有機EL層121の温度は高い。したがって、有機EL層121に同じ電圧を印加した場合は表示領域周辺のほうが電流が多くながれ、輝度も大きくなる。この様子を図7の黒矢印の長さによって示す。これは表示領域10において輝度むらが生ずることになり問題である。
図10は本実施例における表示領域10と乾燥材5の関係を示す図である。図10において、乾燥材5の端部は表示領域10の端部よりも外側に存在している。したがって、表示領域10全体において、乾燥材5と上部電極122とのギャップgは同一となり、表示領域全体において、有機EL層121からの熱放散は均一になる。この様子を図10の白矢印で示す。そうすると表示領域全体において有機EL層121の温度は均一になるので、有機ELからの発光輝度も均一になる。この様子を図10における黒矢印で示す。
図11は乾燥材5の端部が表示領域10よりも内側に存在する場合の水分による輝度への影響を示す図である。有機EL層121が発光すると温度が上がって、画像形成領域から水分を放出する。図11において、乾燥材5が存在する部分は上部電極122と乾燥材5とのギャップは0.1mmから0.2mmと非常に小さい。したがって放出された水分は乾燥材5によって直ちに吸収される。しかし乾燥材5が存在しない領域は発生した水分は乾燥材5に吸収されないために画像形成領域内にとどまる。この様子を図11における白矢印によって示す。この状態が長時間続くと、乾燥材5の存在しない領域の有機EL層121は劣化が進み、この部分の発光強度が小さくなる。この様子を図11の黒矢印によって示す。この状態は表示領域周辺において輝度が小さくなる輝度むらを生ずることになって画質を劣化させる。
図12は本実施例の構成であり、乾燥材5の端部は表示領域10の端部よりも外側に存在している。このような構成であれば、画像形成領域10の端部まで、乾燥材5が形成されているために、画像形成領域10の端部で放出される水分も直ちに乾燥材5によって吸収される。したがって、画像形成領域10の端部のみが水分の影響で劣化が進むということが無い。この様子を図12の白矢印で示す。したがって、画面周辺のみが輝度劣化が早く進行するという現象を防止することができ、長期間動作中も表示領域10全体で輝度を均一に保つことが出来る。この様子を図12の黒矢印で示す。
図13は乾燥材5が端部において剥離した場合の問題点を示す図である。乾燥材5と上部電極122とのギャプgは0.1mmから0.2mm程度であり、乾燥材5が剥離するとTFT基板1に形成された上部電極等に容易に接触する。乾燥材5の剥離は端部において生じやすい。乾燥材5の端部が表示領域10の端部よりも内側だと乾燥材5の端部が剥離したときに、上部電極122および有機EL層121に接触し接触した部分の有機EL層等が破壊される。このような現象が生ずると乾燥材5が接触した部分の輝度が劣化し、輝度むらあるいは画面欠陥を生ずる。この様子を図13における黒矢印によって示す。
図14は本実施例のように、乾燥材5の端部が表示領域10の端部よりも外側に形成されている場合を示す図である。図14において、乾燥材5がその端部において剥離しても剥離場所は表示領域10よりも外側であるので、乾燥材5が表示領域10を破壊することは無い。したがって、表示領域10の輝度を均一に保つことが出来る。図14において、乾燥材5の端部は表示領域10の端部よりもd以上外側に形成されている。dの大きさは表示領域10における上部電極122と乾燥材5とのギャップgよりも大きい。
図3に示すように、表示領域10の外側には走査信号駆動回路22、映像信号駆動回路24、電流供給母線26、コンタクトホール群28等が形成されているが、コンタクトホール群28を除いてはバンク120によって保護されているために、乾燥材5が剥離して接触しても重大な影響は生じない。しかし、コンタクトホール群28はバンク120に保護されていない。また、コンタクトホールは図6に示すように、スルーホールを通して電流を表面に供給するものであるために、外部からの機械的な影響によって導通が破壊されやすい。
本実施例においては、図2に示すように、乾燥材5の端部を表示領域10の端部よりも外側に形成するとともに、コンタクトホール群28よりも内側に形成する。このような構成とすることによって、乾燥材5の端部が剥離して、TFT基板側に乾燥材5が接触することになっても、機械的な接触に弱い表示領域10およびコンタクトホール群28との接触は防止することが出来る。したがって、有機EL表示装置に対する悪影響は最小限にとどめることが出来る。
図15は本発明の第2の実施例を示す有機EL表示装置の断面図である。本実施例は、有機EL表示装置の外観、TFT基板1の構成等は実施例1と同様である。図15は図1のA−A断面図である。本実施例が実施例1と異なる点は、図15に示すように、乾燥材5の端部がコンタクトホール群28の端部よりもさらに外側に形成されていることである。
図15のような構成とすることによって、乾燥材5の端部が剥離してもコンタクトホール群28に乾燥材5が接触することはなく、コンタクトホール群28が破壊されることを防止することが出来る。図15において、乾燥材5の端部はコンタクトホール群28の端部よりもd以上外側に形成されている。そして、dの寸法は表示領域10における上部電極122と乾燥材5とのギャップgよりも大きい。このような構成とすることによって、乾燥材5の剥離によるコンタクトホール群28の破壊を防止することが出来るとともに、乾燥材5の設置面積を大きくすることが出来るので、水分による有機EL層121の劣化をより効果的に防止することが出来る。
図16は本発明の第3の実施例による有機EL表示装置の外観平面図である。本実施例の外観は実施例1と同様である。図16におけるTFT基板1の構成図を図17に示す。図17において、コンタクトホール群28は電流供給母線26の外側に加えて、走査信号駆動回路22の左右外側にも形成されている。電極には表示領域全体のカソード電流が流れるためにコンタクトホールの数が大きいほうが信頼性は増す。図17のその他の構成は実施例1における図3と同様なので説明は省略する。
図18は図16のB−B断面図である。図18において、乾燥材5の端部は表示領域10の端部よりも外側に形成され、かつ、コンタクトホール群28よりも内側に形成されている。このような構成とすることによって、乾燥材5の端部が剥離するようなことがあっても、乾燥材5は表示領域10およびコンタクトホール群28には接触することが無い。この場合、乾燥材5の端部が剥離すると走査信号駆動回路22と接触する可能性があるが、走査信号駆動回路22はバンク120によって保護されているために、重大な問題にはならない。乾燥材5の端部は表示領域10の端部よりもdだけ外側に形成されている。dの大きさは表示領域10におえける乾燥材5と上部電極122とのギャップg以上である。
本発明の第4の実施例の外観は図16と同様である。図19は図16のB−B断面図であり、実施例4の要部を示す。図19において、乾燥材5の端部はコンタクトホール群28の端部よりもdだけ外側に形成されている。ここで、寸法dは表示領域10における乾燥材5と上部電極122とのギャップgよりも大きい。
図19のような構成とすることによって乾燥材5の端部が剥離しても表示領域10およびコンタクトホール群28は破壊されることが無い。したがって、たとえ乾燥材5がその端部で剥離しても有機EL表示装置が不良となることは免れる。また、図19のような構成とすることによって、乾燥材5の設置面積を大きくすることが出来るので、封止領域の除湿を効果的に行うことが出来る。
実施例3および実施例4では周辺3箇所にコンタクトホール群28を形成しているが、左右の走査信号駆動回路22の外側あるいは一方の走査信号駆動回路22の外側だけでも本発明の効果が得られることはいうまでも無い。
以上は有機EL表示装置はボトムエミッション型の表示装置であるとして説明した。しかしながら、本発明はトップエミッション型の有機EL表示装置にも適用できることは言うまでも無い。すなわち、トップエミッション型の場合、下部電極119に反射電極を用い、上部電極122には透明電極を用いる。そして、乾燥材5および封止基板2に取り付けるための接着剤は透明なものを用いる。このような構成の違いはあっても、実施例1から実施例4において説明した本発明の構成は問題なく適用することが出来る。
実施例1の有機EL表示装置の外観平面図である。 図1のA−A断面図である。 実施例1のTFT基板の構成を示す平面図である。 画素部の断面図である。 有機EL層の断面図である。 コンタクトホール部の断面図である。 従来例において輝度むらが生ずる例である。 有機EL層の電圧―電流特性である。 有機EL層の電圧―輝度特性である。 本発明による輝度分布の例である。 従来例における水分による輝度むらが生ずる例である。 本発明により輝度むらが改善される例である。 従来例における乾燥材の剥離の例である。 本発明の構成において乾燥材が剥離した例である。 実施例2を示す断面図である。 実施例3の有機EL表示装置の外観平面図である。 実施例3のTFT基板の構成を示す平面図である。 図16のB−B断面図である。 実施例4を示す断面図である。
符号の説明
1…TFT基板、 2…封止基板、 3…封止部、 4…フレキシブル配線基板、 5…乾燥材、 6…接着材、 10…表示領域、 11…絶縁層、 22…走査信号駆動回路、 23…ゲート信号線、24…映像信号駆動回路、 25…データ信号線 26…電流供給母線、 27…電流供給線、28…コンタクトホール群、 29…端子、 119…下部電極、 120…バンク、 121…有機EL層、 122…上部電極。

Claims (14)

  1. 基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、
    前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域の端部よりも外側であり、前記コンタクトホール群よりも内側であることを特徴とする有機EL表示装置。
  2. 前記乾燥材は接着剤によって前記封止基板に設置されていることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記乾燥材の端部と前記表示領域の端部との距離をdとし、前記表示領域における前記上部電極と前記乾燥材の間隔をgとしたとき、d>gであることを特徴とする請求項1に記載の有機EL表示装置。
  4. 前記上部電極はAlまたはAl合金で形成されていることを特徴とする請求項1に記載の有機EL表示装置。
  5. 基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、
    前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域および前記コンタクトホール群の外側端部よりも外側であることを特徴とする有機EL表示装置。
  6. 前記乾燥材は接着剤によって前記封止基板に設置されていることを特徴とする請求項5に記載の表示装置。
  7. 前記乾燥材の端部と前記コンタクトホール群の外側端部との距離をdとし、前記表示領域における前記上部電極と前記乾燥材の間隔をgとしたとき、d>gであることを特徴とする請求項5に記載の有機EL表示装置。
  8. 基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層と有機EL層への駆動電流を制御するTFTを含む画素がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、
    前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域の端部よりも外側であり、前記コンタクトホール群よりも内側であることを特徴とする有機EL表示装置。
  9. 前記基板には前記TFTに電流を供給する電流供給線と前記電流供給線を束ねる電流供給母線が形成され、前記コンタクトホール群は前記電流供給母線よりも外側に形成されていることを特徴とする請求項8に記載の有機EL表示装置。
  10. 前記基板には走査信号駆動回路が形成され、前記コンタクトホール群は前記走査信号駆動回路よりも外側に形成されていることを特徴とする請求項8に記載の表示装置。
  11. 基板には上部電極と下部電極に間に電圧を印加することによって発光する有機EL層と有機EL層への駆動電流を制御するTFTを含む画素がマトリクス状に配置された表示領域と、前記有機EL層に外部から電流を供給するための端子が形成され、前記端子から延在する配線と前記上部電極とをコンタクトホール群によって接続する有機EL表示装置であって、
    前記基板は周辺に形成された封止部を介して封止基板によって封止され、前記封止基板の内側には乾燥材が形成されており、前記乾燥材の端部は前記表示領域の端部および前記コンタクトホール群の外側端部よりも外側であることを特徴とする有機EL表示装置。
  12. 前記基板には前記TFTに電流を供給する電流供給線と前記電流供給線を束ねる電流供給母線が形成され、前記コンタクトホール群は前記電流供給母線よりも外側に形成されていることを特徴とする請求項11に記載の有機EL表示装置。
  13. 前記基板には走査信号駆動回路が形成され、前記コンタクトホール群は前記走査信号駆動回路よりも外側に形成されていることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。
  14. 前記基板の前記表示領域の両側に走査信号駆動回路が形成され、前記コンタクトホール群は前記走査信号駆動回路よりも外側に形成されていることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。
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