JP2008268234A - Burnout detection circuit - Google Patents
Burnout detection circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008268234A JP2008268234A JP2008206179A JP2008206179A JP2008268234A JP 2008268234 A JP2008268234 A JP 2008268234A JP 2008206179 A JP2008206179 A JP 2008206179A JP 2008206179 A JP2008206179 A JP 2008206179A JP 2008268234 A JP2008268234 A JP 2008268234A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- burnout detection
- bias current
- thermocouple
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
【課題】1つの熱電対に2以上のバーンアウト検出回路を接続して温度検出システムを構成した場合でも、バーンアウト検出時間を短くすること。
【解決手段】熱電対の温度センサ11の温度検出時に発生する起電力をもとに温度計測を行うと共に、その温度センサ11に、供給/無供給の制御が可能なバイアス電流を供給し、この供給時に第1の抵抗器26を介して第1のコンデンサ27に充電される電圧が、予め定められた閾値を超えた際に当該温度センサの断線と検出するバーンアウト検出回路において、前記バイアス電流の供給点とアースとの間に、第2の抵抗器61を介して接続され、前記第1のコンデンサ26よりも充分に小さい静電容量の第2のコンデンサ62と、前記バイアス電流による前記第2のコンデンサ62への充電による電圧が、電圧比較端に印加され、この印加電圧が基準電圧を越えた際に、バーンアウト検出信号を出力する比較手段64とを備えた。
【選択図】図1An object of the present invention is to shorten the burnout detection time even when a temperature detection system is configured by connecting two or more burnout detection circuits to one thermocouple.
A temperature measurement is performed based on an electromotive force generated when a temperature of a thermocouple temperature sensor is detected, and a bias current capable of supply / non-supply control is supplied to the temperature sensor. In the burnout detection circuit that detects the disconnection of the temperature sensor when the voltage charged in the first capacitor 27 via the first resistor 26 during supply exceeds a predetermined threshold value, the bias current is detected in the burnout detection circuit. And a second capacitor 62 having a capacitance sufficiently smaller than that of the first capacitor 26, and the second capacitor 62 by the bias current. Comparing means 64 outputs a burnout detection signal when a voltage generated by charging the second capacitor 62 is applied to the voltage comparison terminal and the applied voltage exceeds the reference voltage.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、温度変換器、記録計及び温度調節計等の工業用プロセス計測機器に用いられる熱電対温度計測回路に利用されるバーンアウト検出回路に関する。 The present invention relates to a burnout detection circuit used for a thermocouple temperature measurement circuit used in industrial process measurement equipment such as a temperature converter, a recorder, and a temperature controller.
バーンアウト検出回路は、温度センサである熱電対のセンサ断線検出回路である。熱電対の温度センサで断線(バーンアウト)が発生すると、受信計の指示や記録が不定の値になることがある。例えば、調節計を燃焼プラントの一部として使用している場合にセンサ断線で正常値より低い温度を出力すると、燃料を過供給して異常燃焼を起こし重大な事故となる恐れがある。また、実験に使用した場合でも誤ったデータとなる。この様なことを防ぐため、センサが正常な状態で測定したデータと、断線したときに測定したデータとを区別するために使用される。以下、温度センサとして熱電対を代表して説明する。 The burnout detection circuit is a sensor disconnection detection circuit of a thermocouple that is a temperature sensor. If disconnection (burnout) occurs in the thermocouple temperature sensor, the instruction and recording of the receiver may become indefinite values. For example, when the controller is used as a part of a combustion plant, if a temperature lower than a normal value is output due to a sensor disconnection, fuel may be oversupplied to cause abnormal combustion, resulting in a serious accident. In addition, even when used for experiments, the data is incorrect. In order to prevent this, it is used to distinguish data measured when the sensor is in a normal state and data measured when the sensor is disconnected. Hereinafter, a thermocouple will be described as a representative temperature sensor.
図2に、従来のバーンアウト検出回路の回路構成を示し、その説明を行う。
図2に示すバーンアウト検出回路10は、熱電対11に接続端子11a,11bを介して接続され、熱電対11の断線を検出するものであり、半導体スイッチ13、高インピーダンス抵抗器14及び内部電圧源15を有するバイアス回路16と、半導体マルチプレクサ18と、増幅器20と、A/D(Analog/Digital)コンバータ22と、マイクロプロセッサ24とを備え、熱電対11の接地端との対向端が、抵抗器26及びコンデンサ27で構成されるLPF(LowPass Filter)28を介して半導体マルチプレクサ18の入力側に接続されている。この半導体マルチプレクサ18の入力側には、冷接点補償入力部29が更に接続されている。
FIG. 2 shows a circuit configuration of a conventional burnout detection circuit, which will be described.
The
バイアス回路16は、バイアス電流を熱電対11に供給することによって、熱電対11が断線したことを検出するために用いられる回路である。そのバイアス電流の供給は、半導体スイッチ13のON/OFF動作によって制御されるようになっており、半導体スイッチ13のON/OFF制御は、マイクロプロセッサ24から出力されるON/OFF制御信号30によって時分割で制御される。
The bias circuit 16 is a circuit used to detect that the
熱電対11から出力される熱電対起電力信号31は、LPF28によって商用ノイズ等の低周波ノイズが除去された後、半導体マルチプレクサ18に入力される。
冷接点補償入力部29からは、熱電対11の温度補償を行うための熱電対温度補償信号32が半導体マルチプレクサ18へ入力される。更に、半導体マルチプレクサ18には、熱電対起電力信号31及び熱電対温度補償信号32を適正な信号にソフト的に補正するために用いられる基準信号33,34が入力される。
The thermocouple
A thermocouple
半導体マルチプレクサ18は、熱電対起電力信号31、熱電対温度補償信号32及び基準信号33,34の各信号を、マイクロプロセッサ24から出力される時分割制御信号35に応じた時分割によって選択する。
この選択された信号は、増幅器20で増幅され、このアナログの増幅信号36がA/Dコンバータ22でディジタル信号37に変換されてマイクロプロセッサ24へ出力される。マイクロプロセッサ24は、そのディジタル信号37から温度物理量を演算によって求める。
この際、A/Dコンバータ22に、積分方式を採用すればディジタル信号37は、パルス幅信号で得られるので、マイクロプロセッサ24は、そのパルス幅信号のパルス幅の時間を計測することによって熱電対11の両端に発生している温度起電力を計測することができる。
The
The selected signal is amplified by the
At this time, if the integration method is adopted for the A /
図3は、バーンアウト検出回路10の動作シーケンス図である。
図3の横軸は時間tを示し、1,2,3,…は、A/Dコンバータ22のA/D変換サイクルを示す。各A/D変換サイクル1,2,3,…において、熱電対起電力信号31、熱電対温度補償信号32及び基準信号33,34の各信号が、マイクロプロセッサ24で処理されて温度物理量が得られている。
また、各A/D変換サイクル1,2,3,…において、A/D変換サイクル1に代表して示すa,b,c,dは、マイクロプロセッサ24からのON/OFF制御信号30に応じてON/OFF制御される半導体スイッチ13及び、時分割制御信号35に応じて時分割制御を行う半導体マルチプレクサ18によって、熱電対起電力信号31、熱電対温度補償信号32及び基準信号33,34の何れかの信号が、増幅器20へ出力されるタイミングを示す。
FIG. 3 is an operation sequence diagram of the
3, the horizontal axis indicates time t, and 1, 2, 3,... Indicate the A / D conversion cycle of the A /
Further, in each A /
このようなa,b,c,dのシーケンスを1つのA/D変換サイクルとし、このサイクルを1,2,3,…と継続することで熱電対11による温度計測を継続することが可能となる。
例えば、A/D変換サイクル1において、バイアス回路16の半導体スイッチ13をONとしてバーンアウト検出を行い、A/D変換サイクル2,3において、半導体スイッチ13をOFFとして、熱電対11の両端に発生している温度起電力を計測するようなシーケンスとして設計される。
Such a sequence of a, b, c, and d is set as one A / D conversion cycle, and by continuing this cycle as 1, 2, 3,..., Temperature measurement by the
For example, in the A / D conversion cycle 1, the
このようなON/OFF動作によって、バーンアウト検出及び温度計測を正確に行うことが可能となる。つまり、このバーンアウト検出回路10は、温度計測回路の機能も備えており、言い換えれば、バーンアウト検出機能を備えた温度計測回路ともいえる。
上記では、半導体スイッチ13のON/OFF動作のタイミングに応じて、バーンアウト検出及び温度計測を行うバーンアウト検出回路10について説明したが、この他に、図2に示した半導体スイッチ13が無く、常時、熱電対11へバイアス電流を供給する構成の他のバーンアウト検出回路もある。この回路では、熱電対11の断線時に、図2に示したコンデンサ27へのバイアス電流のみのチャージによる電圧が、予め定められた閾値を越えるようにすることで、バーンアウト検出が行えるように構成されている。
By such ON / OFF operation, burnout detection and temperature measurement can be performed accurately. In other words, the
In the above description, the
更に、温度検出システム的には、プロセス計測では熱電対起電力信号31は、工業温度制御などに使用されるため、熱電対11の異常時には、システムを安全方向(フェールセーフ)へ制御しなければならない。しかし、上記のように熱電対11に微小なバイアス電流を流すことは、このバイアス電流に熱電対11自体の抵抗値を乗算した電圧降下分に相当する誤差信号が、熱電対起電力信号31に加算され、これがマイクロプロセッサ24で計測されることになるので、温度計測結果に誤差が生じていた。
このような不具合を、図2に示したバーンアウト検出回路10では、バイアス電流の供給を制御するための半導体スイッチ13がONの場合にバーンアウト検出を行い、OFFの場合に温度計測を行うことによって解決している。
この種の従来のバーンアウト検出回路として、例えば特許文献1に記載のものがある。
In the
An example of this type of conventional burnout detection circuit is disclosed in Patent Document 1.
ところで、従来のバーンアウト検出回路においては、1つの熱電対11に接続端子11a,11bを介して1つのバーンアウト検出回路10が接続されている場合であっても、熱電対11の断線時に、コンデンサ27へのバイアス電流のみのチャージによる電圧が、予め定められた閾値を越えるようにすることでバーンアウト検出が行えるように構成されているので、コンデンサ27に閾値を超える電圧がチャージされるまでは、熱電対11の断線、即ちバーンアウトを検出することができない。つまり、バーンアウト状態となってから、当該バーンアウトを検出するまでのバーンアウト検出時間が長いという問題がある。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、1つの熱電対に2以上のバーンアウト検出回路を接続して温度検出システムを構成した場合でも、各バーンアウト検出回路において正確な温度計測を行うことができ、また、バーンアウト検出時間を短くすることができるバーンアウト検出回路を提供することを目的としている。
By the way, in the conventional burnout detection circuit, even when one
The present invention has been made in view of such problems. Even when two or more burnout detection circuits are connected to one thermocouple to constitute a temperature detection system, each burnout detection circuit is accurate. An object of the present invention is to provide a burnout detection circuit that can perform temperature measurement and can shorten the burnout detection time.
上記目的を達成するために、本発明の請求項1によるバーンアウト検出回路は、熱電対の温度センサの温度検出時に発生する起電力をもとに温度計測を行うと共に、その温度センサに、供給/無供給の制御が可能なバイアス電流を供給し、この供給時に第1の抵抗器を介して第1のコンデンサに充電される電圧が、予め定められた閾値を超えた際に当該温度センサの断線と検出するバーンアウト検出回路において、前記バイアス電流の供給点とアースとの間に、第2の抵抗器を介して接続され、前記第1のコンデンサよりも充分に小さい静電容量の第2のコンデンサと、前記バイアス電流による前記第2のコンデンサへの充電による電圧が、電圧比較端に印加され、この印加電圧が基準電圧を越えた際に、バーンアウト検出信号を出力する比較手段とを備えたことを特徴としている。 In order to achieve the above object, a burnout detection circuit according to claim 1 of the present invention performs temperature measurement based on an electromotive force generated at the time of temperature detection of a thermocouple temperature sensor and supplies the temperature sensor to the temperature sensor. A bias current that can be controlled without supply is supplied, and when the voltage charged in the first capacitor through the first resistor exceeds the predetermined threshold when the supply is performed, the temperature sensor In the burnout detection circuit for detecting disconnection, a second resistor having a capacitance sufficiently smaller than the first capacitor is connected between the bias current supply point and the ground via a second resistor. And a voltage obtained by charging the second capacitor with the bias current is applied to a voltage comparison terminal, and when this applied voltage exceeds a reference voltage, a burnout detection signal is output. It is characterized in that a means.
この構成によれば、バイアス電流の供給時に、温度センサが断線すると、バイアス電流が第1及び第2の双方のコンデンサへ充電されるが、第2のコンデンサの静電容量が第1のコンデンサよりも充分に小さいので、第2のコンデンサへの充電によって比較手段に印加される電圧が極短時間で基準電圧を越え、これによってバーンアウト検出信号が出力される。これによって、温度センサの断線が短時間で検出される。 According to this configuration, when the temperature sensor is disconnected at the time of supplying the bias current, the bias current is charged to both the first and second capacitors, but the capacitance of the second capacitor is greater than that of the first capacitor. Is sufficiently small, the voltage applied to the comparison means by charging the second capacitor exceeds the reference voltage in a very short time, and thereby a burnout detection signal is output. Thereby, disconnection of the temperature sensor is detected in a short time.
また、本発明の請求項2によるバーンアウト検出回路は、請求項1において、前記温度センサの起電力の積分をリセットする第1の期間と、前記起電力の積分を行う第2の期間との少なくとも2つの期間を有するサイクルが連続する際に、前記第2の期間の開始時に前記バイアス電流を供給して前記第2のコンデンサへの充電によるバーンアウト検出可能な時間が経過した後に、前記バイアス電流の供給を停止することを特徴としている。 The burnout detection circuit according to claim 2 of the present invention is the burnout detection circuit according to claim 1, wherein the first period for resetting the integration of the electromotive force of the temperature sensor and the second period for integrating the electromotive force are set. When a cycle having at least two periods continues, the bias current is supplied at the start of the second period, and after a time during which burnout can be detected by charging the second capacitor has elapsed, the bias It is characterized by stopping the supply of current.
この構成によれば、第2の期間でのバイアス電流供給の開始後の停止時に温度センサが正常な状態であれば、バーンアウト検出回路を、次のサイクルの第1の期間開始までに、元の温度計測電圧に戻すことが可能となるので、1つのサイクルで通常の温度計測を行いながらバーンアウト検出も行うことができる。つまり、効率良く、温度計測とバーンアウト検出を行うことができる。 According to this configuration, if the temperature sensor is in a normal state at the time of stopping after the start of the bias current supply in the second period, the burnout detection circuit is switched to the original by the start of the first period of the next cycle. Therefore, it is possible to detect burnout while performing normal temperature measurement in one cycle. That is, temperature measurement and burnout detection can be performed efficiently.
以上説明したように本発明は、バイアス電流の供給時に、温度センサが断線すると、バイアス電流が第1及び第2の双方のコンデンサへ充電される際に、第2のコンデンサの静電容量が第1のコンデンサよりも充分に小さく、第2のコンデンサへの充電によって比較手段に印加される電圧が極短時間で基準電圧を越え、比較手段からバーンアウト検出信号が出力されるようにした。これによって、温度センサの断線が短時間で検出される。 As described above, according to the present invention, when the temperature sensor is disconnected at the time of supplying the bias current, the capacitance of the second capacitor is increased when the bias current is charged to both the first and second capacitors. The voltage applied to the comparison means by charging the second capacitor exceeds the reference voltage in a very short time, and a burnout detection signal is output from the comparison means. Thereby, disconnection of the temperature sensor is detected in a short time.
従って、バーンアウト検出時間を短くすることができるという効果がある。
また、温度センサの起電力の積分をリセットする期間と、起電力の積分を行う期間との少なくとも2つの期間を有するサイクルが連続する際に、起電力積分期間の開始時にバイアス電流を供給して第2のコンデンサへの充電によるバーンアウト検出可能な時間が経過した後に、バイアス電流の供給を停止する。これによって、起電力積分期間でのバイアス電流供給の開始後の停止時に温度センサが正常な状態であれば、バーンアウト検出回路を、次のサイクルの起電力積分リセット期間開始までに、元の温度計測電圧に戻すことが可能となるので、1つのサイクルで通常の温度計測を行いながらバーンアウト検出も行うことができる。従って、効率良く、温度計測とバーンアウト検出を行うことができる。
Therefore, the burnout detection time can be shortened.
Further, when a cycle having at least two periods of a period for resetting the electromotive force integration of the temperature sensor and a period for performing the electromotive force integration continues, a bias current is supplied at the start of the electromotive force integration period. The supply of the bias current is stopped after a time during which burnout can be detected by charging the second capacitor has elapsed. As a result, if the temperature sensor is in a normal state at the stop after the bias current supply is started in the electromotive force integration period, the burnout detection circuit is switched to the original temperature by the start of the electromotive force integration reset period of the next cycle. Since it is possible to return to the measurement voltage, burnout detection can be performed while performing normal temperature measurement in one cycle. Therefore, temperature measurement and burnout detection can be performed efficiently.
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るバーンアウト検出回路の回路構成図である。但し、図1に示す本実施の形態において、図2に示した従来例の各部に対応する部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of a burnout detection circuit according to the first embodiment of the present invention. However, in the present embodiment shown in FIG. 1, portions corresponding to the respective portions of the conventional example shown in FIG.
図1に示すバーンアウト検出回路60が、図2に示した従来のバーンアウト検出回路10と異なる点は、バイアス回路16から熱電対11に供給されるバイアス電流の供給線とアースとの間に、抵抗器61を介してコンデンサ62を接続し、更に、熱電対11の切断時のバイアス電流によるコンデンサ62への電荷チャージによる電圧が電圧比較端に印加され、この印加電圧が基準電圧を越えた際に、バーンアウト検出信号をマイクロプロセッサ24へ出力するコンパレータ64を備えたことにある。
The burnout detection circuit 60 shown in FIG. 1 differs from the conventional
但し、コンデンサ62の静電容量は、コンデンサ27に比べ充分に小さく設定されている。また、コンデンサ62は、外来のインパルスノイズを除去する役割も果たす。
このような構成において、半導体スイッチ13のONによってバイアス電流が熱電対11に供給されている際に、熱電対11が断線すると、バイアス電流が双方のコンデンサ27,62へチャージされる動作が行われる。
However, the capacitance of the
In such a configuration, when the bias current is supplied to the
しかし、コンデンサ62の静電容量が他方のコンデンサ27よりも充分に小さいので、コンデンサ62へのチャージによってコンパレータ64に印加される電圧が極短時間で基準電圧を越え、これによってバーンアウト検出信号がマイクロプロセッサ24へ出力される。これによってマイクロプロセッサ24で熱電対11の断線が短時間で検出される。
具体的に数値を当てはめると、例えば抵抗器26及びコンデンサ27は、商用ノイズを1/10に制限するために、各々が10KΩ及び3.3μFの値に設定されていたとする。この際に、内部検出レベルが100mV、バイアス電流が50nAの場合は、バーンアウト検出時間は6.6秒となる。更に、この際に、コンデンサ62が3.3nFの値に設定されているとすると、バーンアウト検出時間は、1/1000の6.6m秒となる。
However, since the capacitance of the
Specifically, for example, it is assumed that the
また、半導体スイッチ13をONからOFFとすると、バーンアウト検出回路60を極短時間で元の温度計測電圧に戻すことが可能となる。
ここで、図3に示したA/D変換サイクル1に代表して示すa,b,c,dは、更に説明すると、aが積分リセット期間、bが入力積分期間、c及びdが基準電圧積分期間となる。これらa〜dの各期間において、cの期間が開始すると同時に半導体スイッチ13をONとしてバイアス電流を熱電対11へ供給し、上記のコンデンサ62によるバーンアウト検出可能な時間が経過した後、半導体スイッチ13をOFFとすれば、バーンアウト検出をcとdとの境界で実施可能となる。
When the
Here, a, b, c, and d representatively shown in the A / D conversion cycle 1 shown in FIG. 3 will be further described. A is an integration reset period, b is an input integration period, and c and d are reference voltages. Integration period. In each of these periods a to d, the
更に、上記の半導体スイッチ13のOFF時に、熱電対11が正常な状態であれば、バーンアウト検出回路60を、次のA/D変換サイクル2のa期間開始までに、元の温度計測電圧に戻すことが可能となる。
つまり、このようなシーケンス動作によって、1つのA/D変換サイクルで通常の温度計測を行いながらバーンアウト検出も行うことができる。
Further, if the
That is, by such a sequence operation, burnout detection can be performed while performing normal temperature measurement in one A / D conversion cycle.
このように、第1の実施の形態のバーンアウト検出回路60によれば、バイアス電流の供給時に、熱電対11が断線すると、バイアス電流が双方のコンデンサ27,62へ充電されるが、コンデンサ62の静電容量がコンデンサ27よりも充分に小さいので、コンデンサ62への充電によってコンパレータ64に印加される電圧が、極短時間で基準電圧を越え、これによってバーンアウト検出信号がマイクロプロセッサ24へ出力される。従って、熱電対11の断線が短時間で検出されるので、バーンアウト検出時間を短くすることができる。
As described above, according to the burnout detection circuit 60 of the first embodiment, when the
また、c期間でのバイアス電流供給の開始後の停止時に熱電対11が正常な状態であれば、バーンアウト検出回路60を、次のA/D変換サイクルの先頭のa期間開始までに、元の温度計測電圧に戻すことが可能となるので、1つのA/D変換サイクルにおいて、通常の温度計測を行いながらバーンアウト検出も行うことができる。つまり、効率良く、温度計測とバーンアウト検出を行うことができる。
Further, if the
10 バーンアウト検出回路
11 熱電対
11a,11b 接続端子
13 半導体スイッチ
13a 第1の半導体スイッチ
13b 第2の半導体スイッチ
14 高インピーダンス抵抗器
14a 第1の高インピーダンス抵抗器
14b 第2の高インピーダンス抵抗器
15 内部電圧源
16,41 バイアス回路
18 半導体マルチプレクサ
20 増幅器
22 A/Dコンバータ
24,42 マイクロプロセッサ
26,61 抵抗器
27,62 コンデンサ
28 LPF
29 冷接点補償入力部
30 ON/OFF制御信号
31 熱電対起電力信号
32 熱電対温度補償信号
33,34 基準信号
35 時分割制御信号
36 増幅信号
37 ディジタル信号
64 コンパレータ
10
29 Cold junction
Claims (2)
前記バイアス電流の供給点とアースとの間に、第2の抵抗器を介して接続され、前記第1のコンデンサよりも充分に小さい静電容量の第2のコンデンサと、
前記バイアス電流による前記第2のコンデンサへの充電による電圧が、電圧比較端に印加され、この印加電圧が基準電圧を越えた際に、バーンアウト検出信号を出力する比較手段と
を備えたことを特徴とするバーンアウト検出回路。 The temperature measurement is performed based on the electromotive force generated when the temperature of the thermocouple temperature sensor is detected, and a bias current that can be controlled to be supplied / not supplied is supplied to the temperature sensor. In a burnout detection circuit that detects a disconnection of the temperature sensor when the voltage charged to the first capacitor via the detector exceeds a predetermined threshold value,
A second capacitor connected via a second resistor between the supply point of the bias current and the ground, and having a sufficiently smaller capacitance than the first capacitor;
Comparing means for outputting a burnout detection signal when a voltage generated by charging the second capacitor by the bias current is applied to a voltage comparison terminal and the applied voltage exceeds a reference voltage. A featured burnout detection circuit.
ことを特徴とする請求項1に記載のバーンアウト検出回路。 The start of the second period when a cycle having at least two periods of a first period for resetting the integration of the electromotive force of the temperature sensor and a second period for integrating the electromotive force continues. 2. The burnout detection according to claim 1, wherein the supply of the bias current is stopped after a time in which the bias current is sometimes supplied and burnout detection by charging the second capacitor has elapsed. circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008206179A JP2008268234A (en) | 2008-08-08 | 2008-08-08 | Burnout detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008206179A JP2008268234A (en) | 2008-08-08 | 2008-08-08 | Burnout detection circuit |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003274884A Division JP4321167B2 (en) | 2003-07-15 | 2003-07-15 | Burnout detection circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008268234A true JP2008268234A (en) | 2008-11-06 |
Family
ID=40047875
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008206179A Pending JP2008268234A (en) | 2008-08-08 | 2008-08-08 | Burnout detection circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008268234A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012068079A (en) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Yokogawa Electric Corp | Burn-out detecting circuit |
JP2014109457A (en) * | 2012-11-30 | 2014-06-12 | Jfe Steel Corp | Shear pin breakage detecting device and shear pin breakage detection method |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63113622A (en) * | 1986-10-30 | 1988-05-18 | Toshiba Corp | Analog input device |
-
2008
- 2008-08-08 JP JP2008206179A patent/JP2008268234A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63113622A (en) * | 1986-10-30 | 1988-05-18 | Toshiba Corp | Analog input device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012068079A (en) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Yokogawa Electric Corp | Burn-out detecting circuit |
JP2014109457A (en) * | 2012-11-30 | 2014-06-12 | Jfe Steel Corp | Shear pin breakage detecting device and shear pin breakage detection method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10983187B2 (en) | Measuring bridge arrangement with improved error detection | |
US9739822B2 (en) | Input circuit | |
US9194905B2 (en) | Processing circuit having self-diagnosis function | |
KR101764735B1 (en) | Driving circuit for leak detecting sensor | |
CN110832329B (en) | Device and method for checking the functional validity of a system resistor of a battery system | |
JP2014153090A (en) | Insulation state detection device | |
US11835584B2 (en) | Battery SOH determination circuit | |
KR102498708B1 (en) | Method for operating an ignition coil and ignition coil | |
JP2011075530A (en) | Thermistor monitoring device | |
US10514307B2 (en) | Fault detection apparatus | |
JP2008268234A (en) | Burnout detection circuit | |
JP4296124B2 (en) | Ignition timing control device for internal combustion engine | |
JP2017161409A (en) | Voltage detection device, current detection device, and computer program | |
JP6838212B2 (en) | Electronic control device | |
US10979061B2 (en) | Analog-digital conversion device | |
JP6714860B2 (en) | Measurement module | |
JP2005037257A (en) | Burnout detection circuit | |
JP5991202B2 (en) | Control device for oxygen concentration sensor | |
JP5320929B2 (en) | Current measuring device | |
CN111123106B (en) | Sensor and method for checking a sensor | |
JP4326582B1 (en) | Gas sensor device | |
US10915387B2 (en) | Circuit assembly and method for monitoring a micro-controller based on a watchdog voltage | |
JP5752086B2 (en) | Secondary battery monitoring device | |
US10739325B2 (en) | Air-fuel ratio sensor control apparatus | |
JP2007087343A (en) | Sensor abnormality detection device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080808 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080821 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20110422 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110524 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20111206 |