JP2008219491A - マスタスレーブ型フリップフロップ回路およびラッチ回路 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 14
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 9
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 7
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 4
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 4
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
【課題】待機モードにおいて安定的にデータを保持する。
【解決手段】クロック入力回路13は、スタンバイモードにおいても電源が供給され、スタンバイモード信号RETによってクロック信号CKをゲート制御するNAND回路NAND0を備える。スタンバイモード信号RETがLである場合(待機モード)に、クロック信号CKのHLに関わらず、クロック信号C01がH、クロック信号C02がLに保たれる。また、クロック入力回路13におけるFA部およびスレーブラッチ回路12におけるFB部の電源供給が維持され、それ以外の回路では電源供給が遮断される。したがって、クロック信号C01はH、クロック信号C02はLであって、スレーブラッチ回路12においてオンであるトランスファゲート回路TG4、アクティブなインバータ回路INV5、INV6によって形成されるループでデータが保持される。
【選択図】図1
【解決手段】クロック入力回路13は、スタンバイモードにおいても電源が供給され、スタンバイモード信号RETによってクロック信号CKをゲート制御するNAND回路NAND0を備える。スタンバイモード信号RETがLである場合(待機モード)に、クロック信号CKのHLに関わらず、クロック信号C01がH、クロック信号C02がLに保たれる。また、クロック入力回路13におけるFA部およびスレーブラッチ回路12におけるFB部の電源供給が維持され、それ以外の回路では電源供給が遮断される。したがって、クロック信号C01はH、クロック信号C02はLであって、スレーブラッチ回路12においてオンであるトランスファゲート回路TG4、アクティブなインバータ回路INV5、INV6によって形成されるループでデータが保持される。
【選択図】図1
Description
本発明は、マスタスレーブ型フリップフロップ回路およびラッチ回路に係り、特に、スタンバイ時に消費電力を低減するマスタスレーブ型フリップフロップ回路およびラッチ回路に係る。
従来、半導体集積回路装置の低電力化のために、スタンバイモード(待機時)において、所定の回路の電源を遮断することで消費電力を低減することが行われている。ただし、所定の回路にフリップフロップ回路やラッチ回路が含まれる場合、単に電源を遮断すると、フリップフロップ回路やラッチ回路が保持しているデータが失われてしまう。そこでフリップフロップ回路におけるマスタラッチ回路およびスレーブラッチ回路のいずれか一方の回路のみ電源を遮断し、他方の回路においてデータを保持するように構成する技術が知られている。さらに、データを保持する回路に含まれるMOSトランジスタの閾値電圧を大きくすることで、データ保持時のリーク電流を減らし、消費電力をより低減する技術が知られている(例えば特許文献1参照)。
図7は、特許文献1に記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路の回路図である。図7において、マスタスレーブ型フリップフロップ回路は、インバータI16及びI17により、各部にクロック信号CLKA、*CLKAが分配される。また、マスタフリップフロップは、インバータI11及びI12と、PチャネルMOSトランジスタTP11と、NチャネルMOSトランジスタTN11〜TN13とにより構成される。マスタフリップフロップでは、互いに入力及び出力が接続されたインバータI11及びI12により、入力されたデータを記憶する。
スレーブフリップフロップは、インバータI13及びI14と、PチャネルMOSトランジスタTP12と、NチャネルMOSトランジスタTN14、TN15とにより構成される。スレーブフリップフロップでは、互いに入力及び出力が接続されたインバータI13及びI14により、入力されたデータを記憶する。
ここで、PチャネルMOSトランジスタTP11、NチャネルMOSトランジスタTN11、TN12、TN14、及びTN15は、閾値が低いトランジスタである。インバータI11、I12、I15、I16及びI17も同様に閾値の低いトランジスタで構成され、遮断可能な電源VDD−Vに接続される。
また、PチャネルMOSトランジスタTP12、及びNチャネルMOSトランジスタTN13は、閾値が高いトランジスタである。さらに、インバータI13及びI14は、閾値が高いPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタにより構成されている。なお、このように閾値が高いNチャネルMOSトランジスタやPチャネルMOSトランジスタを用いるインバータは、図7に示すインバータI13のように、図記号の一部分を太くし、このように図示することで、閾値が低くされているトランジスタにより構成され、遮断可能な電源に接続されるインバータと区別している。
以上のような構成のマスタスレーブ型フリップフロップ回路によれば、マスタフリップフロップには、閾値が低いトランジスタにより構成され、遮断可能な電源に接続されるインバータを用いるため、待機時の消費電力を削減しながら、動作速度の低下を抑えることができる。又、スレーブフリップフロップには、高めの閾値のトランジスタで出力を駆動するインバータを用いるため、リーク電流が少ないので、待機時にも通常のように動作させることができる。従って、待機時にも動作させることで、記憶しているデータが失われることがない。
一方、ラッチ回路にあっては、スタンバイモードにおいて、制御回路によって動作するスイッチ回路を介して所定のノードの信号を記憶回路に記憶し、記憶回路の電源を保持するように構成する技術が知られている(例えば特許文献2参照)。
ところで、図7に示すマスタスレーブ型フリップフロップ回路では、インバータI16、I17の電源は、遮断可能な電源VDD−Vに接続されている。したがって、待機時においてインバータI16、I17の電源が遮断されて、クロック信号CLKA、*CLKAがL(ローレベル)に近い電位レベルとなる。スレーブラッチにおいて、クロック信号*CLKAがLに近い電位レベルとなって、NチャネルMOSトランジスタTN14がオフとなった場合、ノードQE=LであればオンとなったPチャネルMOSトランジスタTP12によってデータが保持される。しかし、ノードQE=H(ハイレベル)であれば、PチャネルMOSトランジスタTP12はオフとなる。さらに、クロック信号*CLKAがLレベルに近い電位レベルとなっているため、NチャネルMOSトランジスタTN14が安定的にオンとはならない可能性が高く、データが保持されなくなる虞がある。
また、図7に示すマスタスレーブ型フリップフロップ回路では、クロック信号CLK=Lの時に待機信号*STBをアクティブ(L)とする必要がある。すなわち、クロック信号CLK=Hの時に待機信号*STBをアクティブ(L)とすると、NチャネルMOSトランジスタTN13がオフとなってマスタラッチ回路のデータがスレーブラッチに伝達されることが無い。そして、マスタラッチ回路の電源が遮断され、マスタラッチ回路に保持されるデータが失われてしまうことになる。
本発明の1つのアスペクトに係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、クロック信号に同期しデータ信号を入力して保持するマスタスレーブ型フリップフロップ回路であって、スタンバイモードにおいて、マスタラッチ回路およびスレーブラッチ回路のいずれか一方の回路の電源を遮断し、他方の回路においてデータを保持するように構成すると共に、保持したデータが変化しないようにクロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備える。
本発明の他のアスペクトに係るラッチ回路は、クロック信号に同期しデータ信号を入力して保持するラッチ回路であって、スタンバイモードにおいて、電源が供給され、データを保持するようにクロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備える。
本発明によれば、消費電力を低減するスタンバイモードにおいて、クロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備えるので、スタンバイモードに設定されるタイミングの如何に関わらず安定的にデータを保持することができる。
本発明の実施形態に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、クロック信号に同期しデータ信号を入力して保持するマスタスレーブ型フリップフロップ回路であって、スタンバイモードにおいて、マスタラッチ回路およびスレーブラッチ回路のいずれか一方の回路の電源を遮断し、他方の回路においてデータを保持するように構成する。そして、保持したデータが変化しないようにクロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備える。
ここで、クロック入力回路は、スタンバイモードにおいても電源が供給されることが好ましい。
また、クロック入力回路は、スタンバイモードを表すスタンバイモード信号によってクロック信号をゲート制御するゲート回路を備えてもよい。
さらに、他方の回路を構成するMOSトランジスタの第1の閾値電圧の絶対値を、他方の回路以外の回路を構成するMOSトランジスタの第2の閾値電圧の絶対値よりも大きく設定するようにしてもよい。
また、クロック入力回路を構成するMOSトランジスタの第3の閾値電圧の絶対値を、第1の閾値電圧の絶対値より小さく、かつ第2の閾値電圧の絶対値より大きく設定するようにしてもよい。
スタンバイモードにおいても電源が供給されるセット入力回路および/またはリセット入力回路を備え、セット入力回路および/またはリセット入力回路によって、マスタラッチ回路および/またはスレーブラッチ回路がそれぞれセット状態および/またはリセット状態とされるように構成してもよい。
ここで、セット入力回路および/またはリセット入力回路のそれぞれは、スタンバイモードを表すスタンバイモード信号によってセット信号および/またはリセット信号をゲート制御するゲート回路を備えてもよい。
また、セット入力回路および/またはリセット入力回路のそれぞれを構成するMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値を、第2の閾値電圧の絶対値より大きく設定するようにしてもよい。
本発明の他の実施形態に係るラッチ回路は、クロック信号に同期しデータ信号を入力して保持するラッチ回路であって、スタンバイモードにおいて、電源が供給され、データを保持するようにクロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備える。
ここで、クロック入力回路は、スタンバイモードを表すスタンバイモード信号によってクロック信号をゲート制御するゲート回路を備えてもよい。
なお、以上のMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値の設定に際し、CMOS回路に含まれるNチャネルトランジスタおよびPチャネルトランジスタの双方の閾値電圧に対してそれぞれ適用するものとする。ただし、例えば、オフリーク電流の多い方のMOSトランジスタのみ閾値を変えるような設定も許されるものとする。以下、実施例に即し、図面を参照して詳しく説明する。
図1は、本発明の第1の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路の回路図である。図1において、マスタスレーブ型フリップフロップ回路は、マスタラッチ回路11、スレーブラッチ回路12、クロック入力回路13から構成される。マスタラッチ回路11は、インバータ回路INV1、INV2、INV3、トランスファゲート回路TG1、TG2を含む。また、スレーブラッチ回路12は、インバータ回路INV4、INV5、INV6、トランスファゲート回路TG3、TG4を含む。さらに、クロック入力回路13は、NAND回路NAND0、インバータ回路INV0を含む。ここで、トランスファゲート回路は、図1(B)の等価回路に示すようなCMOSスイッチ回路である。あるいは、単にNMOSスイッチまたはPMOSスイッチであってもよい。
クロック入力回路13において、NAND回路NAND0は、クロック信号CKとスタンバイモードを表すスタンバイモード信号RETとの否定論理積をとってスタンバイモード信号RETによってクロック信号CKをゲート制御し、クロック信号C01としてマスタラッチ回路11およびスレーブラッチ回路12に出力する。また、インバータ回路INV0は、クロック信号C01を論理反転し、クロック信号C02としてマスタラッチ回路11およびスレーブラッチ回路12に出力する。
まず、スタンバイモード信号RETがHである場合、すなわち通常の動作モードにおける動作について説明する。この場合、従来から知られたマスタスレーブ型フリップフロップ回路の動作がなされる。
クロック信号CKがL、すなわち、クロック信号C01がH、クロック信号C02がLである場合、トランスファゲート回路TG1、TG4がオンとなり、トランスファゲート回路TG2、TG3がオフとなる。データ信号Dは、インバータ回路INV1によって論理反転され、オンとなったトランスファゲート回路TG1を介してインバータ回路INV2によって再度論理反転される。インバータ回路INV2の出力は、インバータ回路INV3、INV4によって論理反転されるが、トランスファゲート回路TG2、TG3がオフであるため、これ以上伝達されない。
一方、オンとなっているトランスファゲート回路TG4によって、インバータ回路INV5によって論理反転されたインバータ回路INV6の出力は、インバータ回路INV5に入力される。すなわち、インバータ回路INV5、INV6によって形成されるループにおいてデータが保持される。インバータ回路INV6の出力は、インバータ回路INV7によって論理反転され出力信号Qとして出力される。
次に、クロック信号CKがH、すなわち、クロック信号C01がL、クロック信号C02がHに変化すると、トランスファゲート回路TG1、TG4がオフとなり、トランスファゲート回路TG2、TG3がオンとなる。オフとなったトランスファゲート回路TG1によって、データ信号Dの入力が遮断される。しかし、オンとなったトランスファゲート回路TG2によって、インバータ回路INV3の出力は、インバータ回路INV2に入力される。すなわち、インバータ回路INV2、INV3によって形成されるループによって、クロック信号CKがHに変化する直前のデータ信号Dの論理値が保持される。
また、オンとなったトランスファゲート回路TG3によって、インバータ回路INV4によって論理反転されたインバータ回路INV2の出力は、インバータ回路INV5、INV7に入力される。すなわち、保持されているインバータ回路INV2の出力データが出力信号Qとしてインバータ回路INV7から出力される。この時、トランスファゲート回路TG4は、オフであるので、インバータ回路INV6の出力は、インバータ回路INV7に入力されない。
以上のように通常の動作モードおいて、クロック信号CKがLである場合、スレーブラッチ回路12に形成されるループによってデータが保持され、出力信号Qとして出力される。クロック信号CKがHとなった場合、クロック信号CKの立ち上り(ポジティブエッジ)の時点におけるデータ信号Dがマスタラッチ回路11において保持され、出力信号Qとして出力される。この後、クロック信号CKがLとなった場合、先に述べたようにトランスファゲート回路TG4がオンとなって、マスタラッチ回路11において保持されていたデータは、スレーブラッチ回路12において保持されることとなる。
次に、スタンバイモード信号RETがLである場合、すなわちスタンバイモード(待機モード)における動作について説明する。
クロック入力回路13において、スタンバイモード信号RETがLであるので、クロック信号CKのHLに関わらず、クロック信号C01がH、クロック信号C02がLに保たれる。したがって、先に説明したと同様にスレーブラッチ回路12においてインバータ回路INV5、INV6によって形成されるループでデータが保持される。
また、スタンバイモードでは、クロック入力回路13におけるFA部(NAND回路NAND0、インバータ回路INV0)およびスレーブラッチ回路12におけるFB部(インバータ回路INV5、INV6、トランスファゲート回路TG4)の電源供給が維持され、それ以外の回路では電源供給が遮断される。したがって、安定的に、クロック信号C01はH、クロック信号C02はLであって、オンであるトランスファゲート回路TG4、アクティブなインバータ回路INV5、INV6によって形成されるループでデータが保持される。
以上のようにクロック信号CKのHLに関わらず、スタンバイモード信号RETをLとすることでタイミングの如何に関わらず安定的にデータを保持することができる。この状態において、スタンバイモード信号RETをH(通常モード)とすれば、スタンバイモードにおけるデータ保持状態から動作を再開することができる。
また、FB部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧(第1の閾値電圧)を、他のMOSトランジスタの閾値電圧(第2の閾値電圧)よりも大きく設定するようにしてもよい。スタンバイモードでアクティブとされるFB部の回路に対し、このような閾値電圧のMOSトランジスタを用いることで、MOSトランジスタのリーク電流が低減され、消費電力が削減される。なお、データ信号Dから出力信号Qまでのパスに対し、FB部の回路は独立している。したがって、FB部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を高くしても、フリップフロップ回路の遅延時間、セットアップタイミング、ホールドタイミング等に対して影響を与えることはほとんど無い。
さらに、FA部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧(第3の閾値電圧)を、第1の閾値電圧より小さく、かつ第2の閾値電圧より大きく設定するようにしてもよい。スタンバイモードでアクティブとされるFA部の回路に対しても、このような閾値電圧のMOSトランジスタを用いることで、MOSトランジスタのリーク電流が低減され、消費電力が削減される。一般に閾値電圧を大きくすると動作速度の低下が懸念される。そこで高速動作するクロック入力回路13であるFA部では、FB部におけるMOSトランジスタの閾値電圧よりも閾値電圧を低く設定することで、動作速度の低下を軽減しつつ、リーク電流の低減を図ることが可能となる。
なお、以上の説明において、スイッチ回路として、トランスファゲート回路を用いた例を示した。しかしこれに限定されることなく、図2(A)に示すようにインバータ回路とインバータ回路の出力に接続されたトランスファゲート回路とを、図2(B)に示すクロックトインバータ回路に置き換えてもよい。この場合、マスタスレーブ型フリップフロップ回路に含まれる全てを置き換えてもよく、一部を置き換えるようにしてもよい。なお、以下の説明では、全てトランスファゲート回路を用いる例を示すが、これにこだわるものではない。
また、本明細書においてマスタラッチ回路とは、フリップフロップ回路を構成する直列接続の2段のラッチ回路のうち、前段のラッチを含む部分のことをいい、スレーブラッチ回路とは、2段の後段のラッチを含む部分のことをいい、図1のような回路や範囲に限定されるものではない。
図3は、本発明の第2の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路の回路図である。図3において、図1と同一の符号は、同一物を表し、その説明を省略する。図3に示すマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、第1の実施例がクロック信号CKのポジティブエッジでデータ信号Dの保持を行うのに対し、クロック信号CKのネガティブエッジでデータ信号Dの保持を行う点が異なる。
クロック入力回路13aにおいて、NOR回路NOR0は、クロック信号CKとスタンバイモードを表すスタンバイモード信号RETBとの否定論理和をとってスタンバイモード信号RETBによってクロック信号CKをゲート制御し、クロック信号C01、C02としてマスタラッチ回路11aおよびスレーブラッチ回路12aに出力する。ここでスタンバイモード信号RETBは、Lである場合、通常動作モードであり、Hである場合スタンバイモード(待機モード)とされる。
なお、マスタラッチ回路11aに含まれるトランスファゲート回路TG1a、TG2aおよびスレーブラッチ回路12aに含まれるトランスファゲート回路TG3a、TG4aのそれぞれは、図1におけるトランスファゲート回路TG1、TG2、TG3、TG4とスイッチ制御の論理が反転したものとなっている。
以上のような構成のマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、通常モードすなわちスタンバイモード信号RETBがLである場合、クロック信号CKがHである時、スレーブラッチ回路12aにおいてデータを保持する。また、クロック信号CKがHからLに変化した時(ネガティブエッジ)、この時点におけるデータ信号Dがマスタラッチ回路11aにおいて保持される。この後、クロック信号CKがHとなった場合、先に述べたようにトランスファゲート回路TG4aがオンとなり、マスタラッチ回路11aにおいて保持されていたデータは、スレーブラッチ回路12aにおいて保持されることとなる。
一方、スタンバイモードすなわちスタンバイモード信号RETBがHである場合、クロック信号CKのHLの如何に関わらず、クロック信号C01はL、クロック信号C02はHに保たれる。したがって、オンであるトランスファゲートTG4aによってスレーブラッチ回路12aにおいてデータが保持される。この時、スレーブラッチ回路12aにおけるFD部(インバータ回路INV5、INV6、トランスファゲート回路TG4a)およびクロック入力回路13aにおけるFC部(NOR回路NOR0、インバータ回路INV0)には電源が供給されるものとし、他の回路では、電源が遮断されるものとする。
また、FD部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を図1のFB部と同様に設定し、FC部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を図1のFA部と同様に設定する。このような設定とすることでリーク電流の低減を図ることは、第1の実施例で説明したと同様である。
図4は、本発明の第3の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路の回路図である。図4において、図1、図3と同一の符号は、同一物を表し、その説明を省略する。図4に示すマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、クロック信号CKのネガティブエッジでデータ信号Dの保持を行うと共に、スタンバイモードにおいて、マスタラッチ回路11bでデータを保持する点が第1および第2の実施例と異なる。
マスタラッチ回路11bおよびスレーブラッチ回路12bは、それぞれ図3のマスタラッチ回路11aおよびスレーブラッチ回路12aとほぼ同様の構成である。ただし、マスタラッチ回路11bにおけるFE部(インバータ回路INV2、INV3、トランスファゲート回路TG2a)の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を図1のFB部と同様に設定することが異なる。また、スレーブラッチ回路12bにおけるMOSトランジスタの閾値電圧を低く設定することが異なる。
以上のような構成のマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、通常モードすなわちスタンバイモード信号RETがHである場合、クロック信号CKがLである時、マスタラッチ回路11bにおいてデータを保持すると共に、インバータ回路INV4、オンであるトランスファゲートTG3a、インバータ回路INV7を介して出力信号Qとして出力される。また、クロック信号CKがHである時、データ信号Dがマスタラッチ回路11bに取り込まれると共に、先にマスタラッチ回路11bにおいて保持されていたデータがスレーブラッチ回路12bにおいて保持される。この後、クロック信号CKがHからLとなった場合(ネガティブエッジ)、この時点におけるデータ信号Dがマスタラッチ回路11bに保持されることとなる。
一方、スタンバイモードすなわちスタンバイモード信号RETがLである場合、クロック信号CKのHLの如何に関わらず、クロック信号C01はH、クロック信号C02はLに保たれる。したがって、オンであるトランスファゲートTG2aによってマスタラッチ回路11bにおいてデータが保持される。この時、FE部およびFA部には電源が供給されるものとし、他の回路では、電源が遮断されるものとする。
また、マスタラッチ回路11bにおけるFE部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を図1のFB部と同様に設定することによるリーク電流の低減は、第1の実施例で説明したと同様である。
ところで、第1の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、一般にクロック信号CKがLの時にスタンバイモードに入る必要がある。一方、第2実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、クロック信号CKがHの時にスタンバイモードに入る必要がある。これに対し、第3の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、クロック信号CKがLの時にスタンバイモードに入る必要がある。したがって、第1および第2の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路を、同一のクロックドメインで混在させると、スタンバイモードに入るタイミングを決定できないことになる。これに対し、第1および第3の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、クロック信号CKがLの時にスタンバイモードに入るようにすることで同一のクロックドメインに混在させることが可能となる。
図5は、本発明の第4の実施例に係るマスタスレーブ型フリップフロップ回路の回路図である。図5において、図1と同一の符号は、同一物を表し、その説明を省略する。図5に示すマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、セットリセット付の回路である。
セット信号SBは、インバータ回路INV8を介してNAND回路NAND1の一方の入力端に入力される。また、リセット信号RBは、インバータ回路INV9を介してNAND回路NAND2の一方の入力端に入力される。NAND回路NAND1、NAND2の他方の入力端には、スタンバイモード信号RETが入力される。NAND回路NAND1の出力は、信号S01として、NAND回路NAND3、NAND5の一方の入力端に入力される。また、NAND回路NAND2の出力は、信号R01として、NAND回路NAND4、NAND6の一方の入力端に入力される。
NAND回路NAND3、NAND4は、マスタラッチ回路11cに含まれ、それぞれ図1におけるインバータ回路INV2、INV3を置き換えた回路である。また、NAND回路NAND5、NAND6は、スレーブラッチ回路12cに含まれ、それぞれ図1におけるインバータ回路INV5、INV6を置き換えた回路である。
以上のような構成のマスタスレーブ型フリップフロップ回路は、セット信号SBおよびリセット信号RBが共にHであれば、信号S01、R01共にHとなり、第1の実施例で説明したと同様の動作を行う。
通常モードすなわちスタンバイモード信号RETがHの場合、セット信号SBがLとなれば、信号S01がLとなってNAND回路NAND3、NAND5の出力が無条件にHとなる。トランスファゲートTG3がオンで、トランスファゲートTG4がオフであれば、NAND回路NAND3の出力がインバータ回路INV4を介してインバータ回路INV7に入力され、出力信号QがH、すなわちセット状態となる。また、トランスファゲートTG3がオフで、トランスファゲートTG4がオンであれば、NAND回路NAND5の出力が、NAND回路NAND6を介してインバータ回路INV7に入力され、出力信号QがH、すなわちセット状態となる。ただし、この場合、リセット信号RBがH、すなわちNAND回路NAND6の一方の入力である信号R01をHとする。
また、通常モードすなわちスタンバイモード信号RETがHの場合、リセット信号RBがLとなれば、信号R01がLとなってNAND回路NAND4、NAND6の出力が無条件にHとなる。トランスファゲートTG4がオンで、トランスファゲートTG2がオフであれば、NAND回路NAND6の出力がインバータ回路INV7に入力され、出力信号QがL、すなわちリセット状態となる。また、トランスファゲートTG4がオフで、トランスファゲートTG2がオンであれば、トランスファゲートTG1は、オフである。したがって、NAND回路NAND4の出力が、NAND回路NAND3、インバータ回路INV4、オンであるトランスファゲートTG3を介してインバータ回路INV7に入力され、出力信号QがL、すなわちリセット状態となる。ただし、この場合、セット信号SBがH、すなわちNAND回路NAND3の一方の入力である信号S01をHとする。
スタンバイモードすなわちスタンバイモード信号RETがLの場合、NAND回路NAND1であるFG部およびNAND回路NAND2であるFH部には、電源供給がなされる。したがって、信号S01、R01が無条件にHとなって、スレーブラッチ回路12cにおけるデータ保持動作に影響をあたえることはない。また、スレーブラッチ回路12cにおけるFF部(NAND回路NAND5、NAND6、トランスファゲート回路TG4)およびFA部には、電源が供給されるものとし、FF部、FA部、NAND回路NAND1、NAND2以外の回路では、電源が遮断されるものとする。
また、FF部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を図1のFB部と同様に設定する。このような設定を行うことでリーク電流の低減を図ることは、第1の実施例で説明したのと同様である。さらに、FG部(NAND回路NAND1)およびFH部(NAND回路NAND2)の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧は、図1のFB部と同様に設定することが好ましい。
なお、以上の構成ではセットリセット付の回路を示したが、セットあるいはリセットの一方のみを備える回路として構成してもよい。すなわち、リセット付マスタスレーブ型フリップフロップ回路の場合には、インバータINV8、NAND回路NAND1を廃し、NAND回路NAND3、NAND5をそれぞれインバータ回路で構成すればよい。また、セット付マスタスレーブ型フリップフロップ回路の場合には、インバータINV9、NAND回路NAND2を廃し、NAND回路NAND4、NAND6をそれぞれインバータ回路で構成すればよい。
図6は、本発明の第5の実施例に係るラッチ回路の回路図である。図6において、図4と同一の符号は、同一物を表し、その説明を省略する。図6に示すラッチ回路は、図4におけるマスタラッチ回路11bを単にラッチ回路として機能させ、インバータ回路INV7aによってインバータ回路INV2の入力端の信号を反転した出力信号Qを出力する回路である。あるいは、図1におけるスレーブラッチ回路12部分を取り出したものであると見なしてもよい。
このような構成のラッチ回路は、通常モードすなわちスタンバイモード信号RETがHである場合、クロック信号CKがLからHに変化した時(ポジティブエッジ)、インバータ回路INV1、オンとなったトランスファゲートTG1a、インバータ回路INV2によってデータ信号Dが取り込まれる。そして、クロック信号CKがLである時、オンとなっているトランスファゲートTG2aによってインバータ回路INV2、INV3で構成されるループにおいて、取り込まれたデータを保持する。
一方、スタンバイモードすなわちスタンバイモード信号RETがLである場合、クロック信号CKのHLの如何に関わらず、クロック信号C01はH、クロック信号C02はLに保たれる。したがって、データを保持状態が維持される。この時、FI部(インバータ回路INV2、INV3、トランスファゲート回路TG2a)およびFA部には、電源が供給されるものとし、FI部、FA部以外の回路では、電源が遮断されるものとする。
また、FI部の回路を構成するMOSトランジスタの閾値電圧を図1のFB部と同様に設定することによるリーク電流の低減は、第1の実施例で説明したと同様である。
以上説明したようなマスタスレーブ型フリップフロップ回路、またはラッチ回路を含む半導体集積回路装置は、消費電力を低減するスタンバイモードにおいて、クロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備える。したがって、スタンバイモードに設定されるタイミングの如何に関わらず安定的にデータを保持することができる。
以上本発明を上記実施例に即して説明したが、本発明は、上記実施例にのみ限定されるものではなく、本願特許請求の範囲の各請求項の発明の範囲内で当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
11、11a、11b、11c マスタラッチ回路
12、12a、12b、12c スレーブラッチ回路
13、13a クロック入力回路
C01、C02、CK クロック信号
D データ信号
INV0、INV1、INV2、INV3、INV4、INV5、INV6、INV7、INV7a、INV8、INV9 インバータ回路
TG1、TG1a、TG2、TG2a、TG3、TG3a、TG4、TG4a トランスファゲート回路
NAND0、NAND1、NAND2、NAND3、NAND4、NAND5、NAND6 NAND回路
NOR0 NOR回路
Q 出力信号
R0、S0 信号
RB リセット信号
RET、RETB スタンバイモード信号
SB セット信号
12、12a、12b、12c スレーブラッチ回路
13、13a クロック入力回路
C01、C02、CK クロック信号
D データ信号
INV0、INV1、INV2、INV3、INV4、INV5、INV6、INV7、INV7a、INV8、INV9 インバータ回路
TG1、TG1a、TG2、TG2a、TG3、TG3a、TG4、TG4a トランスファゲート回路
NAND0、NAND1、NAND2、NAND3、NAND4、NAND5、NAND6 NAND回路
NOR0 NOR回路
Q 出力信号
R0、S0 信号
RB リセット信号
RET、RETB スタンバイモード信号
SB セット信号
Claims (12)
- クロック信号に同期しデータ信号を入力して保持するマスタスレーブ型フリップフロップ回路であって、
スタンバイモードにおいて、マスタラッチ回路およびスレーブラッチ回路のいずれか一方の回路の電源を遮断し、他方の回路においてデータを保持するように構成すると共に、保持した前記データが変化しないように前記クロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備えることを特徴とするマスタスレーブ型フリップフロップ回路。 - 前記クロック入力回路は、前記スタンバイモードにおいても電源が供給されることを特徴とする請求項1記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- 前記クロック入力回路は、前記スタンバイモードを表すスタンバイモード信号によってクロック信号をゲート制御するゲート回路を備えることを特徴とする請求項1または2記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- 前記他方の回路を構成するMOSトランジスタの第1の閾値電圧の絶対値を、前記他方の回路以外の回路を構成するMOSトランジスタの第2の閾値電圧の絶対値よりも大きく設定することを特徴とする請求項1記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- 前記クロック入力回路を構成するMOSトランジスタの第3の閾値電圧の絶対値を、前記第1の閾値電圧の絶対値より小さく、かつ前記第2の閾値電圧の絶対値より大きく設定することを特徴とする請求項4記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- 前記スタンバイモードにおいても電源が供給されるセット入力回路および/またはリセット入力回路を備え、
前記セット入力回路および/またはリセット入力回路によって、前記マスタラッチ回路および/またはスレーブラッチ回路がそれぞれセット状態および/またはリセット状態とされるように構成することを特徴とする請求項4または5に記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。 - 前記セット入力回路および/またはリセット入力回路のそれぞれは、前記スタンバイモードを表すスタンバイモード信号によってセット信号および/またはリセット信号をゲート制御するゲート回路を備えることを特徴とする請求項6記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- 前記セット入力回路および/またはリセット入力回路のそれぞれを構成するMOSトランジスタの閾値電圧の絶対値を、前記第2の閾値電圧の絶対値より大きく設定することを特徴とする請求項7記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- クロック信号に同期しデータ信号を入力して保持するラッチ回路であって、
スタンバイモードにおいて、電源が供給され、データを保持するように前記クロック信号を一定の論理値に設定して入力するクロック入力回路を備えることを特徴とするラッチ回路。 - 前記クロック入力回路は、前記スタンバイモードを表すスタンバイモード信号によって前記クロック信号をゲート制御するゲート回路を備えることを特徴とする請求項9記載のラッチ回路。
- 請求項9または10記載のラッチ回路をマスタラッチ回路およびスレーブラッチ回路のいずれか一方の回路として備え、前記スタンバイモードにおいて、他方の回路の電源を遮断するように構成することを特徴とするマスタスレーブ型フリップフロップ回路。
- 請求項1乃至8および請求項11のいずれか一に記載のマスタスレーブ型フリップフロップ回路、または請求項9または10に記載のラッチ回路を含む半導体集積回路装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007054382A JP2008219491A (ja) | 2007-03-05 | 2007-03-05 | マスタスレーブ型フリップフロップ回路およびラッチ回路 |
US12/073,334 US20080218233A1 (en) | 2007-03-05 | 2008-03-04 | Master-slave type flip-flop circuit and latch circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007054382A JP2008219491A (ja) | 2007-03-05 | 2007-03-05 | マスタスレーブ型フリップフロップ回路およびラッチ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008219491A true JP2008219491A (ja) | 2008-09-18 |
Family
ID=39741027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007054382A Pending JP2008219491A (ja) | 2007-03-05 | 2007-03-05 | マスタスレーブ型フリップフロップ回路およびラッチ回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080218233A1 (ja) |
JP (1) | JP2008219491A (ja) |
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---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110928 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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