JP2008010564A - 光半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
光半導体装置及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008010564A JP2008010564A JP2006178276A JP2006178276A JP2008010564A JP 2008010564 A JP2008010564 A JP 2008010564A JP 2006178276 A JP2006178276 A JP 2006178276A JP 2006178276 A JP2006178276 A JP 2006178276A JP 2008010564 A JP2008010564 A JP 2008010564A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive paste
- emitting element
- semiconductor device
- optical semiconductor
- recess
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 39
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 15
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 14
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 claims description 12
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 8
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 3
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 2
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 3
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
- H01L2224/83192—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
- H01L2224/92—Specific sequence of method steps
- H01L2224/922—Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
- H01L2224/9222—Sequential connecting processes
- H01L2224/92242—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
- H01L2224/92247—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
【課題】発光素子を導電性ペーストを介して接続部に接続した場合、その接続箇所における熱抵抗を小さくし、及び、導電性ペーストを用いた発光素子と接続部との接合信頼性を向上させることである光半導体装置を提供する。
【解決手段】光半導体装置において、外囲器2と、外囲器2内に設けられる接続部4と、接続部4に接続される発光素子6と、接続部4と発光素子6との間に介装される導電性ペースト7と、を備え、接続部4における発光素子6に対向する面内に含まれる位置に、発光素子6の面積より小さい面積の凹部11が形成されている。
【選択図】 図1
【解決手段】光半導体装置において、外囲器2と、外囲器2内に設けられる接続部4と、接続部4に接続される発光素子6と、接続部4と発光素子6との間に介装される導電性ペースト7と、を備え、接続部4における発光素子6に対向する面内に含まれる位置に、発光素子6の面積より小さい面積の凹部11が形成されている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光半導体装置及びその製造方法に関し、特に、LED等の発光素子を接続部に導電性ペーストを介して接続した光半導体装置及びその製造方法に関する。
下記特許文献1に記載されているように、LED等の発光素子と接続部とを導電性ペーストを用いて接続する光半導体装置の発明が知られている。
この光半導体装置の構造を図6及び図7に基づいて説明する。
光半導体装置100は、樹脂製の外囲器101を有し、外囲器101の中央部に収容凹部102が形成されている。収容凹部102内には、発光素子であるLED103が収容されている。なお、収容凹部102の底部には、リードフレームのリード端子104、105が接続部として配置されている。LED103は、一方のリード端子104に導電性ペースト106を介して接続され、他方のリード端子105に導電性ワイヤ107により接続されている。
収容凹部102内には透明樹脂108が充填され、この透明樹脂108によりリード端子104、105と、LED103と、導電性ペースト106と、導電性ワイヤ107とが封止されている。外囲器101の開口側端部には、凸型レンズ109が取付けられている。
導電性ペースト106は、例えば、大きさが3〜10μm程度の球形もしくはフレーク形状(鱗片状)の80重量%の銀粒子106aと、15重量%のエポキシ樹脂と、5重量%の溶剤及び他の有機物とにより構成されている。導電性ペースト106は、ディスペンス法もしくは転写法で、リード端子104の表面に供給される。
特開2005−235847号公報
しかしながら、上述した光半導体装置においては、以下の点について配慮がなされていない。
図7に示すように、導電性ペースト106中に含まれる銀粒子106aの粒径は大小様々であり、導電性ペースト106の層厚が大きい銀粒子106aのサイズにより合わせて薄くなるという傾向にある。導電性ペースト106の層厚が薄くなると、LED103とリード端子104との間における銀粒子106aを介した接点箇所が少なくなり、熱抵抗が増大する。熱抵抗が増大することによりLED103の温度が上昇し、この温度上昇によりLED103の発光効率が低下し、LED103の輝度が低下する。
また、導電性ペースト106の層厚が薄い場合には、導電性ペースト106の応力緩和性が低下し、LED103と導電性ペースト106、又は、導電性ペースト106とリード端子104とが剥離しやすくなる。
導電性ペースト106の層厚を厚くするには、LED103を導電性ペースト106上に載置する場合に、LED103とリード端子104との間の間隔が大きくなる位置でLED103を保持することにより可能となる。しかし、この方法によると導電性ペースト106の層厚が厚くなり過ぎる場合があり、導電性ペースト106の層厚が厚くなり過ぎた場合には、それに伴って熱抵抗が大きくなるという問題が発生する。
本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、その目的は、発光素子を導電性ペーストを介して接続部に接続した場合、その接続箇所における熱抵抗を小さくし、及び、導電性ペーストを用いた発光素子と接続部との接合信頼性を向上させることである。
本発明の実施の形態に係る第1の特徴は、光半導体装置において、外囲器と、前記外囲器内に設けられる接続部と、前記接続部に接続される発光素子と、前記接続部と前記発光素子との間に介装される導電性ペーストと、を備え、前記接続部における前記発光素子に対向する面内に含まれる位置に、前記発光素子の面積より小さい面積の凹部が形成されている。
本発明の実施の形態に係る第2の特徴は、光半導体装置の製造方法において、接続部に凹部を設ける工程と、前記接続部を外囲器に取付ける工程と、前記凹部とこの凹部の周囲に導電性ペーストを供給する工程と、発光素子を前記導電性ペーストの上に載せる工程と、前記導電性ペーストを硬化する工程と、前記通電部と前記導電性ペーストと前記発光素子とを透光性樹脂により封止する工程と、を備え、前記凹部は、前記接続部における前記発光素子に対向する面内に含まれる位置に、前記発光素子の面積より小さい面積の凹部が形成されている。
本発明によれば、導電性ペーストを介して接続される光発光素子と接続部との間の熱抵抗を小さくすることができ、しかも、導電性ペーストを用いた光発光素子と接続部との接合信頼性を向上させることができる。
以下、本発明の一実施の形態を図面を用いて説明する。
本発明の一実施の形態に係る光半導体装置1は、図1に示すように、非透光性の樹脂により成型された外囲器2を有し、外囲器2の中央部に収容凹部3が形成されている。収容凹部3の底部には、接続部及び通電部として機能するリードフレームのリード端子4と、通電部として機能するリードフレームのリード端子5と、これらのリード端子4、5に接続された発光素子であるLED6とが収容されている。
LED6は、一方のリード端子4に導電性ペースト7を介して接続され、他方のリード端子5に導電性ワイヤ8を介して接続されている。
外囲器2の収容凹部3には透光性樹脂9が充填され、この透光性樹脂9によりリード端子4、5と、LED6と、導電性ペースト7と、導電性ワイヤ8とが封止されている。透光性樹脂9としては、例えば、シリコーン樹脂を用いることができる。外囲器2の開口側端部には、凸型レンズ10が取付けられている。
リード端子4におけるLED6に対向する面には、凹部11が形成されている。この凹部11は、LED6の底面の面積により小さい面積に形成されている。また、凹部11におけるLED6に対向する方向の深さ寸法“t”は、3〜15μmに設定されている(図3参照)。凹部11の形状としては、図3に示すような角型でもよく、又は、図4に示すような丸型でもよい。
導電性ペースト7は、平均粒径が3〜10μmである球形もしくはフレーク形状(鱗片状)の80重量%の金属粒子7aと、15重量%のエポキシ樹脂と、5重量%の溶剤及び他の有機物とにより構成されている。なお、導電性ペースト7の成分比としては、金属粒子7aを60〜99重量%とし、樹脂を40重量%以下とし、溶剤を10重量%以下とし、その他の有機物を含む構成としてもよい。また、金属粒子7aの平均粒径は、1〜15μmとしてもよい。金属粒子7aとしては、銀粒子が用いられている。なお、金属粒子7aとしては銀粒子以外の粒子を用いてもよく、例えば、金、銅、白金、パラジウムの中の1種類、若しくは金、銀、銅、白金、パラジウムの2種類以上の合金の粒子を用いることができる。
導電性ペースト7の樹脂成分としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂を用いることができる。
リード端子4に形成された凹部11とこの凹部11の周囲に導電性ペースト7を供給し、導電性ペースト7の上にLED6を載置した場合には、図2に示すように、凹部11内には金属粒子7aが厚み方向に複数層積層される。これにより、金属粒子7a同士の接点の数が多くなり、熱の伝導用パスが多くなって熱抵抗が小さくなる。
光半導体装置1の製造は、以下に説明する工程を経て行われる。まず、フレームのリード端子4にプレス加工により凹部11を形成する(S1)。凹部11の深さ寸法“t”は、使用する導電性ペースト7中に含まれる金属粒子7aの粒径に応じて設定する。
ついで、樹脂をモールドすることによりフレームのリード端子4、5を組み込んだ外囲器2を成型する(S2)。リード端子4、5は、外囲器2の収容凹部3の底部に露出した状態とされている。また、凹部11は上向きとされている。
リード端子4、5を組み込んだ外囲器2が成型された後、凹部11と凹部11の周囲に導電性ペースト7を供給する(S3)。導電性ペースト7の供給は、ディスペンス法もしくは転写法により行うことができる。
リード端子4上に供給された導電性ペースト7上にLED6を載置し(S4)、導電性ペースト7を加熱硬化させる(S5)。加熱硬化は、導電性ペースト7上にLED6が載置された外囲器2全体をオーブン内に入れ、200℃程度の大気圧雰囲気中で行う。この加熱硬化により、LED6が導電性ペースト7を介してリード端子4に接合される。
ついで、LED6とリード端子5とを導電性ワイヤ8により接続するワイヤボンディングを行う(S6)。このワイヤボンディングは、φ20μm程度の金線を用い、リード端子5を200〜250℃に加熱しながら行う。
ついで、外囲器2の収容凹部3内に透光性樹脂9を充填し(S7)、リード端子4、5とLED6と導電性ペースト7と導電性ワイヤ8とを封止する。充填終了後、収容凹部3内に充填した透光性樹脂9を硬化させる(S8)。
外囲器2の開口側端部に凸型レンズ10を取付けることにより(S9)、光半導体装置1が製造される。
なお、この実施の形態で説明した光半導体装置1の製造工程では、外囲器2に組付ける前のリード端子4に凹部11を形成した場合を例に挙げて説明したが、外囲器2に組付けた後のリード端子4に対してプレース加工により凹部11を形成してもよい。
このような構成において、この光半導体装置1は、図2に示すように、リード端子4に凹部11が形成され、この凹部11と凹部11の周囲に導電性ペースト7が供給され、導電性ペースト7の上にLED6が載置されている。これにより、LED6とリード端子4との間の凹部11が存在する領域では、導電性ペースト7中の金属粒子7aが積層状態となり、金属粒子7a同士の接点の数が多くなり、熱の伝導用パスが多くなる。このため、LED6とリード端子4との間の熱抵抗が小さくなり、LED6からリード端子4を介して放熱される放熱性が向上し、光半導体装置1の輝度比が高くなる。
また、凹部11の領域において導電性ペースト7の厚さ寸法が大きくなるため、応力緩和性が高くなり、LED6と導電性ペースト7との間、又は、導電性ペースト7とリード端子4との間の剥離が発生しにくくなり、導電性ペースト7を用いたLED6とリード端子4との接合信頼性を向上させることができる。
表1は、図4に示す従来構造の光半導体装置100と本発明の実施の形態に係る光半導体装置1との、構造と機能とを比較した測定結果を示す比較表である。この測定では、製造した光半導体装置1、100に一定電力を加え、LED6、103を発光させ、電力印加前後の電圧変化を測定し、LED6、103とリード端子4、104との間の熱抵抗を算出した。輝度比は、純電流300mA時の値である。
また、従来の光半導体装置100の導電性ペースト106の厚さ寸法を3μmとし、光半導体装置1における凹部11が形成された領域の導電性ペースト7の厚さ寸法を10μmとして測定を行った。
表1の比較結果から、光半導体装置1は光半導体装置100に比べて、熱抵抗比が10.4%低くなったことが判明した。
また、光半導体装置1は光半導体装置100に比べて、7.4%高い輝度が得られることが判明した。これは、光半導体装置1では、導電性ペースト7による接合部の熱抵抗が小さくなったため、LED6からの熱をリード端子4から効率良く放熱することができ、高い発光効率を維持できるためである。
信頼性試験としては、吸湿処理(85℃、85%湿度、3時間)と、260℃リフローを通す試験とを、5回繰り返し、その後にLED6、103を点灯させ、点灯不良の有無を調べた。表1に示すように、従来の光半導体装置100では、2/20の割合で導電性ペースト7の剥離が原因となる点灯不良が発生したのに対し、本実施の形態の光半導体装置1では点灯不良は発生しなかった。
表1の比較結果から、適度な導電性ペースト7の厚さ寸法を確保することにより、熱抵抗を低減して輝度を向上させることができ、また、導電性ペースト7の剥離発生を防止することができることを確認できた。
なお、本実施の形態では、接続部としてリード端子4を設け、このリード端子4に凹部11を形成し、リード端子4を放熱用と通電用とに兼用する場合を例に挙げて説明したが、放熱専用の接続部を設け、この接続部に凹部11を形成してLED6を導電性ペースト7を介して接続してもよい。
2…外囲器、4…接続部、6…発光素子、7…導電性ペースト、11…凹部
Claims (5)
- 外囲器と、
前記外囲器内に設けられる接続部と、
前記接続部に接続される発光素子と、
前記接続部と前記発光素子との間に介装される導電性ペーストと、
を備え、
前記接続部における前記発光素子に対向する面内に含まれる位置に、前記発光素子の面積より小さい面積の凹部が形成されていることを特徴とする光半導体装置。 - 前記凹部の前記発光素子に対向する方向の深さ寸法が、3〜15μmであることを特徴とする請求項1記載の光半導体装置。
- 前記導電性ペーストは、平均粒径が1〜15μmである60〜99重量%の金属粒子と、40重量%以下の樹脂と、10重量%以下の溶剤とを含んでいることを特徴とする請求項1又は2記載の光半導体装置。
- 前記半導体ペースト中の前記金属粒子は、金、銀、銅、白金、パラジウムの中の1種類、若しくは2種類以上の合金の粒子であることを特徴とする請求項3記載の光半導体装置。
- 接続部に凹部を設ける工程と、
前記接続部を外囲器に取付ける工程と、
前記凹部とこの凹部の周囲に導電性ペーストを供給する工程と、
発光素子を前記導電性ペーストの上に載せる工程と、
前記導電性ペーストを硬化する工程と、
前記通電部と前記導電性ペーストと前記発光素子とを透光性樹脂により封止する工程と、
を備え、
前記凹部は、前記接続部における前記発光素子に対向する面内に含まれる位置に、前記発光素子の面積より小さい面積の凹部が形成されていることを特徴とする光半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006178276A JP2008010564A (ja) | 2006-06-28 | 2006-06-28 | 光半導体装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006178276A JP2008010564A (ja) | 2006-06-28 | 2006-06-28 | 光半導体装置及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008010564A true JP2008010564A (ja) | 2008-01-17 |
Family
ID=39068524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006178276A Pending JP2008010564A (ja) | 2006-06-28 | 2006-06-28 | 光半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008010564A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009139453A1 (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-19 | 株式会社明王化成 | Ledパッケージ、リードフレーム及びその製造法 |
JP2009278012A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Meio Kasei:Kk | Led装置用パッケージ |
WO2009157664A3 (ko) * | 2008-06-23 | 2010-03-25 | 엘지이노텍주식회사 | 반도체 소자 패키지 |
CN102169948A (zh) * | 2010-02-08 | 2011-08-31 | Lg伊诺特有限公司 | 发光设备和照明系统 |
CN101939838B (zh) * | 2008-02-05 | 2013-03-27 | 美光科技公司 | 多个存储器单元和方法 |
JP2014067933A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-17 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
-
2006
- 2006-06-28 JP JP2006178276A patent/JP2008010564A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101939838B (zh) * | 2008-02-05 | 2013-03-27 | 美光科技公司 | 多个存储器单元和方法 |
WO2009139453A1 (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-19 | 株式会社明王化成 | Ledパッケージ、リードフレーム及びその製造法 |
JP2009278012A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Meio Kasei:Kk | Led装置用パッケージ |
WO2009157664A3 (ko) * | 2008-06-23 | 2010-03-25 | 엘지이노텍주식회사 | 반도체 소자 패키지 |
US8203218B2 (en) | 2008-06-23 | 2012-06-19 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device package including a paste member |
US8674521B2 (en) | 2008-06-23 | 2014-03-18 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device package including a paste member |
KR101438826B1 (ko) * | 2008-06-23 | 2014-09-05 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광장치 |
CN102169948A (zh) * | 2010-02-08 | 2011-08-31 | Lg伊诺特有限公司 | 发光设备和照明系统 |
JP2014067933A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-17 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102263095B (zh) | 发光装置以及照明装置 | |
JP5601512B2 (ja) | 発光装置および照明装置 | |
TWI320975B (ja) | ||
JP5695488B2 (ja) | 発光体パッケージ | |
US8240882B2 (en) | Light emitting diode module and method for making the same | |
US9240395B2 (en) | Waterproof surface mount device package and method | |
JP2009135440A (ja) | 散熱機能を有する発光デバイスとそのようなデバイスを製造するプロセス | |
TW201234644A (en) | Power light emitting die package with reflecting lens and the method of making the same | |
CN100379036C (zh) | 表面安装型发光二极管 | |
CN101189737A (zh) | 发光元件安装用基板及发光元件模块 | |
KR20120094526A (ko) | Led 광 모듈 | |
KR200493123Y1 (ko) | 발광 소자 패키지 | |
US20120043886A1 (en) | Integrated Heat Conductive Light Emitting Diode (LED) White Light Source Module | |
TW201203636A (en) | Light emitting diode device and lighting device using the same | |
JP2008010564A (ja) | 光半導体装置及びその製造方法 | |
CN101090144A (zh) | 高功率发光元件封装的工艺及其结构 | |
US10222048B2 (en) | Light emitting device and method for manufacturing a light emitting device | |
JP2011192930A (ja) | 基板、基板の製造方法及び灯具 | |
JP2010080796A (ja) | 照明装置 | |
CN101504938A (zh) | 发光二极管封装结构与发光二极管封装方法 | |
CN101447534B (zh) | 发光二极管及其制作方法 | |
JP2012156476A (ja) | 光源モジュール及びその製造方法 | |
JP6217962B2 (ja) | 車両用照明装置、および車両用灯具 | |
TW200905909A (en) | LED package unit | |
KR101123241B1 (ko) | 고방열 특성을 갖는 발광 다이오드 모듈 및 그 제조 방법 |