[go: up one dir, main page]

JP2007528509A - 光を均一化するための装置および照射のための配置またはそのような装置による集光 - Google Patents

光を均一化するための装置および照射のための配置またはそのような装置による集光 Download PDF

Info

Publication number
JP2007528509A
JP2007528509A JP2007501126A JP2007501126A JP2007528509A JP 2007528509 A JP2007528509 A JP 2007528509A JP 2007501126 A JP2007501126 A JP 2007501126A JP 2007501126 A JP2007501126 A JP 2007501126A JP 2007528509 A JP2007528509 A JP 2007528509A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
homogenizing
arrangement
condensing
array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007501126A
Other languages
English (en)
Inventor
ミトラ,トーマス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hentze Lissotschenko Patentverwaltungs GmbH and Co KG
Original Assignee
Hentze Lissotschenko Patentverwaltungs GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102004034253A external-priority patent/DE102004034253A1/de
Application filed by Hentze Lissotschenko Patentverwaltungs GmbH and Co KG filed Critical Hentze Lissotschenko Patentverwaltungs GmbH and Co KG
Publication of JP2007528509A publication Critical patent/JP2007528509A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0004Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
    • G02B19/0009Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only
    • G02B19/0014Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only at least one surface having optical power
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0033Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
    • G02B19/0047Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source
    • G02B19/0052Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source the light source comprising a laser diode
    • G02B19/0057Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source the light source comprising a laser diode in the form of a laser diode array, e.g. laser diode bar
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0938Using specific optical elements
    • G02B27/095Refractive optical elements
    • G02B27/0955Lenses
    • G02B27/0961Lens arrays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0938Using specific optical elements
    • G02B27/095Refractive optical elements
    • G02B27/0955Lenses
    • G02B27/0966Cylindrical lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4012Beam combining, e.g. by the use of fibres, gratings, polarisers, prisms

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

均一化されるべき光の入射面(7)および出射面(8)を有する少なくとも1つの均一化手段(5,6)と、少なくとも1つの均一化手段(5,6)の入射面(7)上または入射面(7)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイと、少なくとも1つの均一化手段(5,6)の出射面(8)上または出射面(8)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイとを含む、光を均一化するための装置であって、少なくとも1つの均一化手段(5,6)のシリンドリカルレンズ(9)の軸線が互いに平行に配置される光を均一化するための装置。さらにまた、本発明は、面の照射のための配置および線状の集光領域にレーザ光源の光を集光するための配置に関する。

Description

発明の詳細な説明
本発明は、請求項1の上位概念に従った光を均一化するための装置と、請求項9の上位概念に従った面の照射のための配置と、および請求項13の上位概念に従った、線状の集光領域にレーザ光源の光を集光するための配置とに関する。
かかる装置は、アメリカ特許4,733,944から知られる。ここに記載の均一化のための装置は、2つの互いに離間して設けられた均一化手段を含み、各均一化手段は、均一化されるべき光が通過する2つの光学的に機能する境界面を有する。これら4つの均一化のために寄与する境界面のそれぞれの上に、シリンドリカルレンズアレイが配置されている。さらに、互いに離間された両均一化手段のそれぞれは、2つの、互いに交差したシリンドリカルレンズアレイを有する。たとえば、入射面上の均一化手段の内の1つの場合、入射面上には、シリンダ軸が縦方向の1つのシリンドリカルレンズアレイが形成され、出射面上には、シリンダ軸が水平方向の1つのシリンドリカルレンズアレイが形成される。
かかる均一化のための装置によって、たとえばエキシマレーザの出射光、または、レーザダイオードバーから出射されるレーザビームなどのレーザ光を、第1の方向およびそれに垂直な第2の方向に均一化することが可能である。たとえば、レーザダイオードバーの場合、このような均一化のための装置によって、いわゆる速軸およびいわゆる遅軸における均一化が行われる。さらに、前述の技術水準から知られる装置は、均一化のためのいわゆる2段式装置として形成されるが、それは均一化されるべき光線が、均一化手段のそれぞれにおいて均一化を受けるからである。装置を2段式にすることによって、本質的に単段のものよりもよりよい均一化が達成される。
技術水準から知られるこのような均一化のための2段式装置の短所として、両均一化手段の調整の実施が著しく困難であることがある。これらの均一化手段は互いに非常に正確に位置決めすることが必要であり、各均一化手段は、総計6つの軸について正確に調整しなければならない。さらにまた、たとえば、遅軸および速軸などの、2つの互いに依存しない均一化可能な方向のそれぞれについて、シリンドリカルレンズ間の距離は最適にされるので、アレイのシリンドリカルレンズの焦点距離は、任意に選択可能ではない。特に、互いに依存しない2つの方向において作用する2段式の均一化は、シリンドリカルレンズの焦点距離上で非常に敏感に反応する。これら2つの方向は、通常互いに依存しなくはないからである。
本発明の根底にある課題は、容易に調整が可能である冒頭で述べたタイプの装置を提供することである。さらにまた、面の照射のための配置、およびレーザ光源の光を線状の集光領域に集光するための配置が挙げられる。
これは、本発明に従えば、装置については、請求項1の特徴を備えた冒頭で述べたタイプの装置によって、面の照射のための配置については、請求項9の特徴を備えた、冒頭で述べたタイプの配置によって、およびレーザ光源の光を線状の集光領域に集光するための配置については、請求項13の特徴を冒頭でのべたタイプの配置によって達成される。下位の請求項は、本発明の好ましいさらなる実施形態に関する。
請求項1に従えば、少なくとも1つの均一化手段のシリンドリカルレンズの軸線は互いに平行に配置される。少なくとも1つの、たとえば、基体として実施される均一化手段は、2段式のホモゲナイザの機能を実現する。たとえば、レーザダイオードバーから出射されるレーザ光の均一化は、1つの軸上、ないしは1つの方向の均一化手段、たとえば遅軸上だけ、または速軸上だけにある均一化手段が動作する。
請求項2に従えば、この装置は、第1の均一化手段および第2の均一化手段を有し、それぞれが均一化されるべき光の入射面と出射面とを1つ有することができる。請求項3に従えば、第1の均一化手段は、入射面上に、または入射面近傍に1つのシリンドリカルレンズアレイと、出射面上または出射面近傍に1つのシリンドリカルレンズアレイとを有し、それらの軸線は互いに平行に配置されるように実施することができる。
請求項4に従えば、第2均一化手段は、入射面上または入射面近傍にシリンドリカルレンズアレイを有し、出射面上または出射面近傍にシリンドリカルレンズアレイを有するように実施することができる。また、請求項5に従えば、第2の均一化手段は、入射面上または入射面近傍にシリンドリカルレンズアレイと出射面上または出射面近傍にシリンドリカルレンズアレイを有し、それらの軸線は互いに平行に配置されるように実施してもよい。
特に、請求項6に従えば、第1の均一化手段のシリンドリカルレンズの軸線は、第2の均一化手段のシリンドリカルレンズの軸線に垂直に配置されるように実施することができる。このようにすることで、レーザ光の両方向または軸が、2つの特に互いに離間された均一化手段に分離されて均一化される。両軸上に作用されるべきシリンドリカルレンズの調整は、均一化手段を常に製造誤差内で再生可能に製造することによって達成されるので、両均一化手段をもはや互いに調整することは必要ではない。この方法においては、光線の特徴は前述の製造誤差の枠内においては常に同一である。さらにまた、たとえば半導体レーザバーの場合の速軸および遅軸などの両軸の、他の光軸の焦点距離による影響はない。さらにまた、 両軸に関してレーザ光の均一化をする場合、軸のそれぞれについてのシリンドリカルレンズの焦点距離を他の軸とは関係なく選択することが可能である。
さらにまた、請求項7に従えば、出射面上または出射面近傍に配置されたシリンドリカルレンズの焦点距離を、入射面または入射面近傍に配置することが可能である。このような方法によって、均一化されるべき光の均一化が最適化される。
請求項8に従えば、シリンドリカルレンズは、凹および/または凸レンズとして、または勾配屈折率レンズ(GRINレンズ)として形成するように構成することが可能である。
請求項9に従えば、かかる配置に用いられる装置は、本発明に従った均一化のための装置であるように構成される。
請求項13に従えば、かかる配置において集光のために用いられる装置は、本発明に従った均一化のための装置であるように構成される。
請求項14に従えば、均一化のための装置は、遅軸方向に関してのみレーザ光を均一化するように形成されるように構成される。
前述の本発明のさらなる特徴と利点は、添付の図を参照した、好ましい実施の形態についての以下の説明から明らかになるであろう。
これらの図のいくつかにおいては、わかり易くするために、デカルト座標系が描かれている。
図1aおよび図1bに示されるように、本発明に従った配置は、半導体レーザバー1を有し、半導体レーザバー1はX方向において互いに隣接し、かつ互いに間隔をあけて設けられるいくつかの数の発光体を含む。半導体レーザバー1は、図1a、図1b、図2a、図2bにおいては、矩形でただ単に概略的に描かれている。半導体レーザバーの場合、ダイバージェンスは、いわゆる速軸、すなわちY方向、または、発光体が互いに隣接して配置される方向に垂直な方向において、遅軸、すなわちX方向におけるよりも明らかに大きい。
図1aおよび図1bから明らかなように、半導体レーザバー1の各発光体から出射されるレーザ光の拡散方向Zにおいて、半導体レーザバー1の次に速軸コリメータレンズ2が設けられる。速軸コリメータレンズ2は、たとえば平凸シリンドリカルレンズとして形成され、それらのレンズの軸線は、X方向に延びる。かかるシリンドリカルレンズによって、各発光体から出射されるレーザ光を、Y方向すなわち速軸に関して、屈折が制限されてコリメートすることが可能である。これを達成するために、速軸コリメート手段2として働くシリンドリカルレンズは非球表面を有することが可能である。単に出射側で凸面の湾曲を有するシリンドリカルレンズの代わりに、入射側が湾曲した凸面のシリンドリカルレンズを用いることも可能である。代わりに、入射側だけでなく出射側も凸および/または凹面に湾曲させてもよい。
拡散方向Zにおいて、速軸コリメーション手段2の次に、光線変換手段3が設けられる。光線変換手段3において、入射する光は、90°回転される、すなわち、速軸(Y方向)のダイバージェンスが遅軸(X方向)のダイバージェンスと交換され、したがって、光線変換手段3から出射した後、Y方向におけるダイバージェンスはX方向ダイバージェンスよりも大きくなる。
光線変換手段3においては、透明な材料からなる実質的に直方体のブロックとすることが可能であって、それらには、入射側のみならず出射側にも、光線変換要素として機能するいくつかのシリンドリカルレンズ部分が互いに平行に設けられる。光線変換要素の軸は、X方向に延びる、直方体状の光線変換手段3の底面側で45°の角度αを含んでもよい。
レーザ光の拡散方向Zにおいては、光線変換手段3の次に、さらなるコリメーション手段4が設けられ、したがって、たとえば10mm×10mmの光線を、約11mradのY方向ダイバージェンスと約3mradのX方向ダイバージェンスで達成することが可能である。ダイバージェンスと光線の直径とは最大強度の半分(半値幅、FWHM)の場合の光線の全幅に関係する。コリメーション手段4は、X方向に延びるシリンドリカルレンズの軸線を有する平凸シリンドリカルレンズとして形成される。光線変換手段3におけるレーザ光の回転に基いて、コリメーション手段4は、速軸コリメーション手段2と同じ出射方向を有する。速軸コリメーション手段2と同様に、コリメーション手段4も別のものに形成してもよい。特に、凸面および/または凹面の湾曲した入射面も、出射面も設けることが可能である。
拡散方向Zにおいて、コリメーション手段4の次には、第1の均一化手段5が設けられ、続いて、第2の均一化手段6が設けられる。均一化手段5は、それらの入射面7上にシリンドリカルレンズアレイ9を有し、それらシリンドリカルレンズの軸線は、X方向に延びる(図3も参照)。さらにまた、第1の均一化手段5は、それらの出射面8上にシリンドリカルレンズアレイ9を有し、それらシリンドリカルレンズの軸線もX方向に延びる。第1の均一化手段のこれらの入射面7および出射面8上のシリンドリカルレンズアレイによって、第1の均一化手段5を通過するレーザ光は、非常に効果的にY方向に互いに重畳する。図1bから、第1の均一化手段5の後段の明らかな焦点範囲によって明らかである、このような効果的な重畳によって、Y方向におけるレーザ光の均一化を達成することができる。
第1の均一化手段5の後段の24ビームの拡散方向Zにおいて、この配置は、第2の均一化手段6を有する。これらの第2の均一化手段6は、入射面7上および出射面8上にそれぞれ、Y方向に延びるシリンドリカルレンズ9を含むシリンドリカルレンズアレイを有する(図3も参照)。第2の均一化手段6の入射面および出射面7,8上のシリンドリカルレンズアレイによって、第2の均一化手段6を通過するレーザ光が、X方向に非常に有効に互いに重畳される。図1aから、第2の均一化手段6の後段の焦点領域によって明らかである、この効果的重畳によって、X方向におけるレーザ光の均一化を達成することが可能である。
均一化のための装置は、第1および第2の均一化手段5,6を有する。したがって、本発明に従った装置において、レーザ光は2つの方向または軸に均一化され、第2の段階の作用がX方向上にのみあり、第1の段階はY方向上だけに作用する。
均一化手段5,6のシリンドリカルレンズ9は、凸(たとえば図3参照)および/または凹のシリンドリカルレンズとして形成することができる。代わりに、勾配屈折率レンズとしてシリンドリカルレンズを形成してもよい。この場合、シリンドリカルレンズは入射面または出射面上に配置されず、均一化手段5,6を形成する各基体の内部の入射面または出射面近傍に、基体の変化する屈折率によって形成される。
第2の均一化手段6から、レーザ光がさらに均一化されて出射され、装置から離れた面の照射のために用いることが可能である。
本発明に従った配置の図2aおよび図2bに示された実施の形態は、複数の発光体を有する半導体レーザバー1を有する。
この配置は、さらにまた、速軸コリメーション手段2を有し、この速軸コリメーション手段2は、図1aおよび図1bに従った速軸コリメーション手段2のように形成してもよい。半導体レーザと速軸コリメーション手段2との間の距離は、比較的大きく選択するように構成してもよく、したがって、速軸コリメーション手段2を通過した後Y方向におけるレーザ光は比較的大きな広がりを有する。
速軸コリメーション手段2の後段のビームの方向において、本発明に従った配置は、遅軸コリメーション手段10を有し、遅軸コリメーション手段10は、図示された実施の形態において、遅軸コリメーション手段10の入射側および出射側のシリンドリカルレンズアレイとして形成される。遅軸コリメーション手段10のシリンドリカルレンズの軸線はY方向に延びる。特に、遅軸コリメーション手段は、入射側の各シリンドリカルレンズに、レーザ光の発光体の1つからから出射される部分光の1つが入射するように配置することができる。これらの各部分光は、対応のシリンドリカルレンズによって、遅軸または速軸に関してコリメートされる。
図2aおよび図2bに示された遅軸コリメーション手段10の実施の形態は、テレスコープ配置を示す。しかしながら、遅軸コリメーション手段10は、一方側に、たとえば入射側に、または出射側に配置されるシリンドリカルレンズアレイとして実施してもよい。さらにまた、遅軸コリメーション手段10のために、2より多くの光学的に機能する、特に湾曲したシリンドリカルレンズに似た面を用いてもよい。、
本発明に従った配置の図2aおよび図2bに示した実施形態は、さらにまた、遅軸コリメーション手段10の後段の拡散方向に、均一化手段6を有する。この均一化手段6は、それらの構成に関しては、図1aおよび図1bに従った配置の第2の均一化手段6に厳密には対応している。入射面7および出射面8上のシリンドリカルレンズ9の軸線は、Y方向に延び、したがって、シリンドリカルレンズ9によってレーザ光3遅軸方向に関してのみ影響される。
均一化手段6のシリンドリカルレンズ9を通過することによって、レーザ光の各部分光が遅軸方向において、またはX方向において、非常に効果的に互いに重畳される。均一化手段6から出射されるレーザ光は、拡散方向Zにおいて均一化手段6の後段に配置される集光手段11によって集光されることができる。図示された実施の形態においては、集光手段11は、回転対称な平凸レンズとして形成することが可能である。集光手段11は、他の形態によって実施することも可能であり、たとえば、両凸レンズまたは複数の共に作用するレンズによって実施することも可能である。このレンズは、レーザ光を、速軸に関して、すなわちY方向に関して集光することが可能であり、同時に、遅軸すなわちX方向にのみ作用する均一化手段6のための視野レンズとしても機能する。この場合、速軸に関する集光手段11として機能するレンズの実際的な集光方法は、遅軸方向におけるレーザ光の視野が、視野レンズとして機能するレンズによって均一化される平面に置くことが可能である。
図2aおよび図2bにおいて、均一化手段10を通過したレーザ光は、体系化されずに示されているだけである。各シリンドリカルレンズ9によって、それらを通過した光は多くの異なった方向に分割される。集光手段11として、あるいは視野レンズとして機能する平凸球面レンズによって、同じ角度で視野レンズ上に入射する各部分光が、線状の集光領域において、同じ位置において回折され、したがって、同じ光源からのレーザ光の各部分光に由来する集光領域のレーザ光の部分は、X方向すなわち遅軸方向における幅に亘って均一に分布される。
集光手段11は、線状集光領域にレーザ光を集光し、集光領域は、X方向に延び、Y方向に非常にわずかの広がりを有している。たとえば、Y方向すなわち速軸方向における集光領域のこの広がりは、1mmよりも小さく、または0.5mmよりも小さくすることが可能である。さらにまた、X方向すなわち遅軸方向におけるこの線状集光領域の幅は、5mmよりも大きく、または20mmよりも大きくすることが可能である。集光手段11の出射面と、線状集光領域の間の距離は、比較的大きくとることが可能であり、たとえば、50mmよりも大きく、特に、200mmよりも大きくすることが可能である。
本発明非常に従った照射のための配置の平面図。 図1aに従った配置の側面図。 本発明に従った集光のための配置の平面図。 図2aに従った配置の側面図。 本発明に従った装置の斜視図。

Claims (17)

  1. 均一化されるべき光の入射面(7)および出射面(8)を有する少なくとも1つの均一化手段(5,6)と、
    少なくとも1つの均一化手段(5,6)の入射面(7)上または入射面(7)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイと、少なくとも1つの均一化手段(5,6)の出射面(8)上または出射面(8)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイとを含む、光を均一化するための装置において、
    少なくとも1つの均一化手段(5,6)のシリンドリカルレンズ(9)の軸線が互いに平行に配置されることを特徴とする光を均一化するための装置。
  2. 第1の均一化手段(5)と第2の均一化手段(6)とを有し、それぞれが、均一化されるべき光の入射面(7)および出射面(8)を有することを特徴とする請求項1記載の装置。
  3. 第1の均一化手段(5)は、入射面(7)上または入射面(7)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイと、出射面(8)上または出射面(8)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイとを有し、それらの軸線は互いに平行に配置されることを特徴とする請求項1または2記載の装置。
  4. 第2の均一化手段(6)は、入射面(7)上または入射面(7)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイと、出射面(8)上または出射面(8)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイとを有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の装置。
  5. 第2の均一化手段(6)は、入射面(7)上または入射面(7)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイと、出射面(8)上または出射面(8)近傍のシリンドリカルレンズ(9)のアレイとを有し、それらの軸線は互いに平行に配置されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の装置。
  6. 第1の均一化手段(5)のシリンドリカルレンズ(9)の軸線は、第2の均一化手段(6)のシリンドリカルレンズ(9)の軸線に垂直に配置されることを特徴とする請求項4または5記載の装置。
  7. 出射面(8)上または出射面(8)近傍に配置されたシリンドリカルレンズ(9)の焦点距離は、入射面(7)または入射面(7)近傍に配置されることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
  8. シリンドリカルレンズは、凹および/または凸レンズとして、または勾配屈折率レンズ(GRINレンズ)として形成されることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の装置。
  9. 第1の方向(X)に互いに隣接しかつ互いに間隔をあけて配置される複数の発光体を有する、少なくとも1つの半導体レーザバー(1)であって、各発光体から出射するレーザ光の第1の方向に関するダイバージェンスが、第1の方向(X)に垂直な第2の方向(Y)に関するレーザ光(9)のダイバージェンスよりも小さい、半導体レーザバー(1)と、
    発光体から出射するレーザ光の少なくとも部分的なコリメーションのためのコリメーション手段(2,4)と、
    発光体から出射するレーザ光の変換のための光線変換手段(3)であって、発光体から出射するレーザ光の光路内に配置され、第1の方向(X)に関するレーザ光のダイバージェンスを第2の方向(Y)に関するダイバージェンスと交換することができるように形成される、光線変換手段(3)と、
    発光体から出射するレーザ光を均一化するための装置とを含む、面の照射のための配置において、
    該均一化するための装置は、請求項1〜8のいずれか1項に記載の装置であることを特徴とする面の照射のための配置。
  10. 均一化するための装置は、多段式として形成されることを特徴とする請求項9記載の面の照射のための配置。
  11. コリメーション手段(2,4)は、発光体から出射するレーザ光を第2の方向(Y)に関してコリメートするための速軸コリメーション手段(2)を有することを特徴とする請求項9または10記載の面の照射のための配置。
  12. コリメーション手段(2,4)は、発光体から出射するレーザ光を第1の方向(X)に関してコリメートするためのコリメーション手段(4)を有することを特徴とする請求項9〜11のいずれか1項に記載の面の照射のための配置。
  13. 少なくとも1つの出射区域を有する半導体レーザバー(1)であって、少なくとも1つの出射区域から出射されるレーザ光の速軸方向(Y)におけるダイバージェンスが、それに垂直な遅軸方向(X)におけるダイバージェンスよりも大きい、半導体レーザバー(1)と、
    少なくとも出射区域から出射されるレーザ光を速軸方向(Y)に関してコリメートするための速軸コリメーション手段(2)と、
    速軸コリメーション手段(2)によってコリメートされたレーザ光を均一化するための装置と、
    均一化するための装置から出射されるレーザ光を線状の集光領域に集光する集光手段(11)とを含む、線状の集光領域にレーザ光源の光を集光するための配置において、
    該均一化するための装置は、請求項1〜8のいずれか1項に記載の装置であることを特徴とする線状の集光領域にレーザ光源の光を集光するための配置。
  14. 均一化するための装置は、遅軸方向(X)に関してのみレーザ光を均一化するように形成されることを特徴とする請求項13記載の集光するための配置。
  15. 好ましくは、速軸コリメーション手段(2)と均一化するための装置との間に配置される、遅軸コリメーション手段(4)を有することを特徴とする請求項13または14記載の集光するための配置。
  16. 遅軸コリメーション手段(4)は、遅軸コリメータアレイまたは遅軸テレスコープアレイとして形成されることを特徴とする請求項15記載の集光するための配置。
  17. 集光手段(11)は少なくとも1つの実質的に回転対称なレンズを有し、該レンズは、特に遅軸方向(X)に均一化するための装置のための視野レンズとして機能することができることを特徴とする請求項13〜16のいずれか1項に記載の集光するための配置。
JP2007501126A 2004-03-06 2004-08-20 光を均一化するための装置および照射のための配置またはそのような装置による集光 Pending JP2007528509A (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004011074 2004-03-06
DE102004034253A DE102004034253A1 (de) 2004-07-14 2004-07-14 Vorrichtung für die Beleuchtung einer Fläche
EPPCT/EP04/08944 2004-08-10
PCT/EP2004/009325 WO2005085935A1 (de) 2004-03-06 2004-08-20 Vorrichtung zur homogenisierung von licht sowie anordnung zur beleuchtung oder fokussierung mit einer derartigen vorrichtung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007528509A true JP2007528509A (ja) 2007-10-11

Family

ID=34922897

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007501126A Pending JP2007528509A (ja) 2004-03-06 2004-08-20 光を均一化するための装置および照射のための配置またはそのような装置による集光

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20070053066A1 (ja)
JP (1) JP2007528509A (ja)
KR (1) KR20070057074A (ja)
WO (1) WO2005085935A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011520292A (ja) * 2008-05-08 2011-07-14 オクラロ フォトニクス インコーポレイテッド 高輝度ダイオード出力の方法及びデバイス
US8644357B2 (en) 2011-01-11 2014-02-04 Ii-Vi Incorporated High reliability laser emitter modules
US9166365B2 (en) 2010-01-22 2015-10-20 Ii-Vi Laser Enterprise Gmbh Homogenization of far field fiber coupled radiation
JP2017534868A (ja) * 2014-10-20 2017-11-24 クアナジー・システムズ・インコーポレイテッドQuanergy Systems, Inc. 1次元光学エミッタの2次元走査に基づいた3次元ライダセンサ

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006070580A1 (ja) * 2004-12-27 2008-06-12 株式会社ニコン オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
EP2054751A1 (de) * 2006-07-13 2009-05-06 Hentze-Lissotschenko Patentverwaltungs GmbH & Co.KG Vorrichtung zur homogenisierung von licht sowie laservorrichtung zur erzeugung einer linienförmigen intensitätsverteilung in einer arbeitsebene
US8587764B2 (en) * 2007-03-13 2013-11-19 Nikon Corporation Optical integrator system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US20080225257A1 (en) * 2007-03-13 2008-09-18 Nikon Corporation Optical integrator system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
EP1998215A1 (en) 2007-05-31 2008-12-03 Molecular Technology (MolTech) Gmbh Achromatic optical system for beam shaping
DE102007044298B3 (de) * 2007-09-17 2009-02-26 Coherent Gmbh Verfahren und Anordnung zum Erzeugen eines Laserstrahls mit einem linienhaften Strahlquerschnitt
US10241335B2 (en) * 2013-06-12 2019-03-26 Pantec Engineering Ag Semiconductor laser module
US9462253B2 (en) * 2013-09-23 2016-10-04 Microsoft Technology Licensing, Llc Optical modules that reduce speckle contrast and diffraction artifacts
CN109521573A (zh) * 2019-01-02 2019-03-26 苏州天准科技股份有限公司 3d线状激光扫描测量设备的线状激光光斑纵向匀光方法
DE102019118676B4 (de) * 2019-07-10 2021-10-21 Innovavent Gmbh Optisches System zur Homogenisierung der Intensität von Lichtstrahlung und Anlage zur Bearbeitung einer Halbleitermaterialschicht
CN114585960B (zh) 2019-08-14 2024-08-23 恩耐公司 可变放大倍数的无焦望远镜元件
WO2023225902A1 (zh) * 2022-05-25 2023-11-30 华为技术有限公司 一种发射模组、探测装置及终端设备

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06250117A (ja) * 1993-02-25 1994-09-09 Mitsubishi Rayon Co Ltd 結像素子
JPH0798402A (ja) * 1993-04-30 1995-04-11 Nippon Steel Corp リニアアレイレーザダイオードに用いる光路変換器及びそれを用いたレーザ装置及びその製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4733944A (en) * 1986-01-24 1988-03-29 Xmr, Inc. Optical beam integration system
DE19635942A1 (de) * 1996-09-05 1998-03-12 Vitaly Dr Lissotschenko Optisches Strahlformungssystem
DE19819333A1 (de) * 1998-04-30 1999-11-04 Lissotschenko Vitaly Optisches Emitter-Array mit Kollimationsoptik
US6246524B1 (en) * 1998-07-13 2001-06-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Beam homogenizer, laser irradiation apparatus, laser irradiation method, and method of manufacturing semiconductor device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06250117A (ja) * 1993-02-25 1994-09-09 Mitsubishi Rayon Co Ltd 結像素子
JPH0798402A (ja) * 1993-04-30 1995-04-11 Nippon Steel Corp リニアアレイレーザダイオードに用いる光路変換器及びそれを用いたレーザ装置及びその製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011520292A (ja) * 2008-05-08 2011-07-14 オクラロ フォトニクス インコーポレイテッド 高輝度ダイオード出力の方法及びデバイス
US8804246B2 (en) 2008-05-08 2014-08-12 Ii-Vi Laser Enterprise Gmbh High brightness diode output methods and devices
US9341856B2 (en) 2008-05-08 2016-05-17 Ii-Vi Laser Enterprise Gmbh High brightness diode output methods and devices
US9166365B2 (en) 2010-01-22 2015-10-20 Ii-Vi Laser Enterprise Gmbh Homogenization of far field fiber coupled radiation
US8644357B2 (en) 2011-01-11 2014-02-04 Ii-Vi Incorporated High reliability laser emitter modules
JP2017534868A (ja) * 2014-10-20 2017-11-24 クアナジー・システムズ・インコーポレイテッドQuanergy Systems, Inc. 1次元光学エミッタの2次元走査に基づいた3次元ライダセンサ

Also Published As

Publication number Publication date
US20070053066A1 (en) 2007-03-08
KR20070057074A (ko) 2007-06-04
WO2005085935A1 (de) 2005-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20070053066A1 (en) Device for homogenizing light and configuration for illuminating or focusing with such a device
US6757106B2 (en) Optical lens, optical lens unit, stacked type optical lens, optical system and semiconductor laser apparatus
KR101322346B1 (ko) 파이버 전송 레이저 광학계
US7680170B2 (en) Coupling devices and methods for stacked laser emitter arrays
JP4059623B2 (ja) 照明装置、及び均一照明装置
KR101886133B1 (ko) 광원 시스템 및 레이저 광원
US4516832A (en) Apparatus for transformation of a collimated beam into a source of _required shape and numerical aperture
CN109863445B (zh) 用于从二极管激光器阵列生成线光束的装置
US6407870B1 (en) Optical beam shaper and method for spatial redistribution of inhomogeneous beam
US7110183B2 (en) Device for the optical beam transformation of a linear arrangement of several light sources
JP5432438B2 (ja) レーザ光線の均一な角度分布生成装置
US20070291373A1 (en) Coupling devices and methods for laser emitters
KR20160145910A (ko) 라인 빔 형성 장치
CN100427995C (zh) 用于使光均匀化的装置和用这种装置进行照明的结构
CN100489594C (zh) 用于光的均匀化的装置
JP4808780B2 (ja) 光を均質化するための装置
JP2002239773A (ja) 半導体レーザー加工装置および半導体レーザー加工方法
JP2019102517A (ja) 光源装置
US20060291509A1 (en) Apparatus for illuminating a surface
US20110051253A1 (en) Apparatus for homogenizing light and laser apparatus for producing a linear intensity distribution in a work plane
JP2004525418A (ja) レーザ光源から出るレーザ光線を修正するための装置ならびに該装置の製造方法
JP2008064994A (ja) 光源装置および光学装置
US20160033774A1 (en) Device for homogenizing a laser beam
US20070058149A1 (en) Lighting system and exposure apparatus
JP2021152567A (ja) 光源装置、プロジェクタおよび機械加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070711

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110329