JP2007286003A - Instrument, method, and program for measuring appearance - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、スキャナを用いてワークの外観を計測する外観計測装置、外観計測方法、及び外観計測プログラムに関する。 The present invention relates to an appearance measuring device, an appearance measuring method, and an appearance measuring program for measuring the appearance of a workpiece using a scanner.
従来から、プリント基板などのワークの外観を計測する外観計測装置が提案されている。具体的には、電子部品の実装前や実装後のプリント基板を撮影し、撮影した画像に基づいて計測が行われている。例えば、特許文献1には、被検査物の画像に現れるひずみを補正して検査を行う技術が記載されている。また、特許文献2には、スキャナによって検査対象となるプリント基板の画像を検査対象画像として取り込み、スキャナからの検査対象画像と記憶されたプリント基板のマスタ画像との相関を比較する技術が記載されている。
Conventionally, an appearance measuring apparatus for measuring the appearance of a workpiece such as a printed circuit board has been proposed. Specifically, the printed circuit board is photographed before and after mounting the electronic component, and measurement is performed based on the photographed image. For example,
しかしながら、上記した特許文献1及び2に記載された技術では、安価且つ簡便な装置構成によって、ワークに対して高精度な計測を行うことはできなかった。
However, with the techniques described in
本発明が解決しようとする課題は上記のようなものが例として挙げられる。本発明は、市販のスキャナなどを用いて、ワークに対して高精度の計測を行うことが可能な外観計測装置を提供することを課題とする。 Examples of the problem to be solved by the present invention are as described above. An object of the present invention is to provide an appearance measuring apparatus capable of performing high-precision measurement on a workpiece using a commercially available scanner or the like.
請求項1に記載の発明では、スキャナを用いてワークの外観を計測する外観計測装置は、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得手段と、前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得手段と、前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元手段と、を備える。 According to the first aspect of the present invention, an appearance measuring apparatus that measures the appearance of a workpiece using a scanner has a scale image acquiring unit that acquires a scale image in which a scale in which a plurality of marks are regularly arranged is captured by the scanner. And a work image acquisition means for acquiring a work image obtained by capturing the work with the scanner, and a restoration means for restoring the work image based on the mark in the scale image.
請求項6に記載の発明では、スキャナを用いてワークの外観を計測する外観計測方法は、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得工程と、前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得工程と、前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元工程と、を備える。 According to a sixth aspect of the invention, an appearance measuring method for measuring the appearance of a workpiece using a scanner is a scale image acquiring step for acquiring a scale image obtained by capturing a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by the scanner. And a work image obtaining step for obtaining a work image obtained by capturing the work by the scanner, and a restoration step for restoring the work image based on the mark in the scale image.
請求項7に記載の発明では、スキャナによって撮影された画像を取得して処理を行うコンピュータによって実行される外観計測プログラムは、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得手段、前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得手段、前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元手段、として前記コンピュータを機能させる。 According to the seventh aspect of the present invention, an appearance measurement program executed by a computer that acquires and processes an image photographed by a scanner is a scale image in which a scale in which a plurality of marks are regularly arranged is captured by the scanner. The computer functions as a scale image acquisition unit that acquires the workpiece image, a workpiece image acquisition unit that acquires a workpiece image obtained by capturing the workpiece by the scanner, and a restoration unit that restores the workpiece image based on the mark in the scale image. Let
本発明の1つの実施形態では、スキャナを用いてワークの外観を計測する外観計測装置は、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得手段と、前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得手段と、前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元手段と、を備える。 In one embodiment of the present invention, an appearance measuring apparatus that measures the appearance of a workpiece using a scanner has a scale image acquisition unit that acquires a scale image in which a scale in which a plurality of marks are regularly arranged is captured by the scanner. And a work image acquisition means for acquiring a work image obtained by capturing the work with the scanner, and a restoration means for restoring the work image based on the mark in the scale image.
上記の外観計測装置は、基板や電子部品などのワークに対して、スキャナを用いて外観を計測する装置である。スケール画像取得手段は、複数のマークが規則正しく配列しているスケールをスキャナによって取り込んだスケール画像を取得し、ワーク画像取得手段は、ワークをスキャナによって取り込んだワーク画像を取得する。そして、復元手段は、スケール画像内のマークに基づいてワーク画像を復元する。即ち、復元手段は、撮影によって得られたワーク画像に生じている歪みやずれ等を補正する画像処理を行う。これにより、比較的安価な市販のスキャナなどを用いて、ワークに対して高精度の計測を行うことができる。 The above-described appearance measuring apparatus is an apparatus that measures the appearance of a workpiece such as a substrate or an electronic component using a scanner. The scale image obtaining unit obtains a scale image obtained by taking a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by a scanner, and the work image obtaining unit obtains a work image obtained by taking a work by the scanner. The restoration means restores the work image based on the mark in the scale image. In other words, the restoration unit performs image processing for correcting distortion, deviation, and the like occurring in the work image obtained by photographing. Thereby, it is possible to perform highly accurate measurement on a workpiece using a relatively inexpensive commercially available scanner or the like.
上記の外観計測装置の一態様では、前記復元手段は、復元によって得られるべき復元画像のピクセル位置に対応する前記ワーク画像上の位置を、前記スケール画像上の前記マークの位置に基づいて計算するワーク画像位置計算手段を備える。この場合、ワーク画像位置計算手段は、マークの位置に基づいて直線補間法などを用いて、復元によって得られるべき復元画像のピクセル位置に対応するワーク画像上の位置を計算する。 In one aspect of the appearance measurement apparatus, the restoration unit calculates a position on the work image corresponding to a pixel position of the restored image to be obtained by restoration based on the position of the mark on the scale image. Work image position calculation means is provided. In this case, the work image position calculation means calculates a position on the work image corresponding to the pixel position of the restored image to be obtained by restoration using a linear interpolation method or the like based on the position of the mark.
上記の外観計測装置の他の一態様では、前記復元手段は、前記ワーク画像位置計算手段によって得られた前記ワーク画像上の位置に割り当てるべきデータを、当該ワーク画像上の位置の周囲のデータを用いて補間する。これにより、計算されたワーク画像位置にデータが存在しない場合にも、その位置に割り当てるべきデータを精度良く求めることができる。 In another aspect of the appearance measuring apparatus, the restoration unit assigns data to be assigned to the position on the workpiece image obtained by the workpiece image position calculation unit, and data around the position on the workpiece image. To interpolate. Thereby, even when data does not exist at the calculated work image position, data to be assigned to the position can be obtained with high accuracy.
好適には、上記の外観計測装置は、ワークとして、基板及び電子部品の少なくともいずれかを用いることができる。 Suitably, said external appearance measuring apparatus can use at least any one of a board | substrate and an electronic component as a workpiece | work.
また、上記の外観計測装置において好適には、前記ワーク画像取得手段は、マスクによって制限された領域を前記スキャナによって取り込んだ画像を取得することができる。例えばワークが電子部品などである場合には、ワーク画像取得手段は、マスクを用いてスキャナの中央付近に載置されたワークの画像を取得する。これにより、正面から適切に撮影されたワーク画像を取得することができる。 Preferably, in the above-described appearance measuring apparatus, the work image acquisition unit can acquire an image in which an area limited by a mask is captured by the scanner. For example, when the workpiece is an electronic component, the workpiece image acquisition unit acquires an image of the workpiece placed near the center of the scanner using a mask. Thereby, the work image appropriately captured from the front can be acquired.
本発明の他の観点では、スキャナを用いてワークの外観を計測する外観計測方法は、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得工程と、前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得工程と、前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元工程と、を備える。 In another aspect of the present invention, an appearance measurement method for measuring the appearance of a workpiece using a scanner includes a scale image acquisition step of acquiring a scale image in which a scale in which a plurality of marks are regularly arranged is captured by the scanner, A workpiece image acquisition step of acquiring a workpiece image obtained by capturing the workpiece by the scanner; and a restoration step of restoring the workpiece image based on the mark in the scale image.
本発明の他の観点では、スキャナによって撮影された画像を取得して処理を行うコンピュータによって実行される外観計測プログラムは、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得手段、前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得手段、前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元手段、として前記コンピュータを機能させる。 In another aspect of the present invention, an appearance measurement program executed by a computer that acquires and processes an image photographed by a scanner is a scale image obtained by capturing a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by the scanner. Causing the computer to function as scale image acquisition means for acquiring, work image acquisition means for acquiring a work image obtained by capturing the work by the scanner, and recovery means for recovering the work image based on the mark in the scale image .
上記した外観計測方法、及び外観計測プログラムによっても、安価且つ簡便な装置構成によって、ワークに対して高精度な計測を行うことができる。 Also with the above-described appearance measurement method and appearance measurement program, high-precision measurement can be performed on a workpiece with an inexpensive and simple apparatus configuration.
以下、図面を参照して本発明の好適な実施例について説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[システム構成]
まず、図1を用いて、本発明の実施例に係る外観計測装置が適用されたシステムの構成について説明する。図1は、外観計測システム100の概略構成を示す図である。
[System configuration]
First, the configuration of a system to which an appearance measuring apparatus according to an embodiment of the present invention is applied will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of an
外観計測システム100は、パーソナルコンピュータ(PC)1と、スキャナ2とを有する。外観計測システム100は、プリント基板をワークとして計測を行う。詳しくは、外観計測システム100は、プリント基板に形成されたラウンドの位置を計測するシステムである。なお、ワークとして用いるプリント基板には、配線などが形成されているが、電子部品などは実装されていない。
The
スキャナ2は、ワークの画像を撮影し、撮影によって得られた画像データS2をPC1に供給する。例えば、スキャナ2としては、公知のフラットベッドスキャナや、シートフィードスキャナや、フィルムスキャナなどを用いることができる。
The
PC1は、画像処理部1a、及び画像表示部1bを有する。画像処理部1aは、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)及びRAM(Random Access Memory)などを有しており、スキャナ2から供給される画像データS2に対して画像処理を行う。詳しくは、画像処理部1aは、撮影によって得られたワークの画像(以下「ワーク画像」と呼ぶ。)に生じている歪みやずれ等を補正する画像処理を行う。言い換えると、画像処理部1aは、ワーク画像を復元した画像(以下、「復元画像」と呼ぶ。)を生成するための画像処理を行う。そして、画像処理部1aは、画像処理によって得られた復元画像に基づいて、プリント基板に形成されたラウンドの位置などの計測を実行する。このように、画像処理部1aは、本発明に係る外観計測装置として機能する。一方、画像表示部1bは、スキャナ2で撮影されたワーク画像や、画像処理部1aで画像処理された復元画像などを表示する。
The PC 1 includes an image processing unit 1a and an image display unit 1b. The image processing unit 1a includes a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like, and performs image processing on the image data S2 supplied from the
[画像処理方法]
次に、画像処理部1aが実行する画像処理方法について説明する。
[Image processing method]
Next, an image processing method executed by the image processing unit 1a will be described.
本実施例では、スキャナ2によってワークを撮影し、得られたワーク画像を復元する画像処理を行う。こうするのは、スキャナ2によって得られたワーク画像には、スキャナ2の特性などに起因して歪みやずれが生じているため、このワーク画像をそのまま用いても高精度の計測を行うことができないからである。したがって、本実施例では、ワーク画像に対して生じている歪みやずれなどを補正した復元画像を生成する処理を行う。
In this embodiment, the workpiece is photographed by the
より詳しくは、本実施例では、複数のマークが規則正しく配列しているスケールを用いて、ワーク画像に対して画像処理を行う。具体的には、まずスケールの画像(以下、「スケール画像」と呼ぶ。)をスキャナ2によって取り込み、スケール画像中のマークの位置(座標)を取得して、これを記憶する。次に、ワーク画像をスキャナ2によって取り込み、記憶されたマークの位置に基づいてワーク画像を復元する処理を行う。
More specifically, in this embodiment, image processing is performed on a work image using a scale in which a plurality of marks are regularly arranged. Specifically, first, an image of a scale (hereinafter referred to as “scale image”) is taken in by the
ここで、図2乃至図6を参照して、本実施例に係る画像処理方法を具体的に説明する。 Here, the image processing method according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 2 to 6.
図2は、スケール画像を取り込む手順を説明するための図である。図2(a)は、本実施例で用いるスケール3を示す図である。スケール3は、ガラス板などによって構成され、円形のマーク3aがマトリックス状にエッジングされている。マーク3aは、スケール3内に格子状に配列されている。例えば、マーク3aは、直径2(mm)のサイズで、8(mm)ピッチでマトリックス上に配置され、全域で絶対精度が7(μm/20℃)以内に抑えられている。
FIG. 2 is a diagram for explaining a procedure for capturing a scale image. FIG. 2A is a diagram showing the
図2(b)は、スケール3をスキャナ2にセットする様子を示す図である。また、図2(c)は、スケール3をセットする方法を詳細に示す図である。図2(c)に示すように、スケール3のコーナー3bをスキャナ2のガラス面における基準コーナー2a(例えば、目印が付けてある)に押し当てることによって、スキャナ2に対してスケール3をセットする。そして、このようなセットが終了した後に、スケール3の撮影を行う。なお、スケール3を撮影する際の解像度は、ワーク4を撮影する時の解像度と同じ値に設定する。
FIG. 2B is a diagram showing how the
図3は、スケール画像を取り込む方法を説明するための図である。図3は、スケール3のスケール画像13を示す図であり、スケール3のコーナー3b付近における画像を拡大して示している。上記したように、スキャナ2の特性などに起因して、スキャナ2で撮影された画像には歪みなどが生じているため、スケール画像13におけるマーク画像13aは、実際のマーク3aの位置からずれている。
FIG. 3 is a diagram for explaining a method of capturing a scale image. FIG. 3 is a diagram showing a
図3に示すような画像が得られた場合、画像処理部1aは、マーク画像13aの座標(実数値)を求めて記憶する。具体的には、画像処理部1aは、マーク画像13aを画像認識することによって、マーク画像13aの重心の座標を記憶する。より詳しくは、画像処理部1aは、得られた座標を実数の配列データに格納する。この場合、画像処理部1aは、X座標を「Smxp[x][y]」に格納し、Y座標を「Smyp[x][y]」に格納する。なお、「x=0,1,2,3,…」であり、「y=0,1,2,3,…」である。また、X座標及びY座標は、コーナー3bに対応する画像の位置13b(コーナー3bに対応する)を原点として規定するものとする。
When an image as shown in FIG. 3 is obtained, the image processing unit 1a obtains and stores the coordinates (real value) of the
図4は、ワーク4をスキャナ2にセットする手順を示す図である。上記のようにスケール画像を取り込んだ後に、スケール3を取り出す。この後に、図4(a)に示すように、ワーク4をスキャナ2にセットする。
FIG. 4 is a diagram showing a procedure for setting the workpiece 4 to the
図4(b)は、ワーク4をセットする方法を詳細に示す図である。上記したようにワーク4をセットする際にはスケール3は取り出されているが、図4(b)においては、説明の便宜上、スケール3を破線で重ねて表示している。なお、破線で示すスケール3は、撮影時にセットした位置を示している。この場合、スケール3における最外周のマーク3aの内側のハッチング領域70内に、ワーク4をセットする。例えば、スキャナ2のガラス面上に額縁などを予めセットしておき、ハッチング領域70内にしかワーク4を置けないようにすることができる。
FIG. 4B is a diagram showing the method for setting the workpiece 4 in detail. As described above, when the work 4 is set, the
図4(c)は、ワーク4をセットする方法の好適な例を示す図である。図4(c)は、図4(b)中のスケール3におけるコーナー3b付近を拡大して示した図である。この場合、ワーク4のコーナー4aが、スケール3のコーナー3bの近傍に位置する4つのマーク3a1、3a2、3a3、3a4で囲まれる領域71に位置するように、ワーク4をセットする。これにより、コーナー3bの直近傍に位置するマーク3a1を基準にして後の処理を行うことができる。
FIG. 4C is a diagram illustrating a preferred example of a method for setting the workpiece 4. FIG. 4C is an enlarged view showing the vicinity of the
図5は、ワーク画像を取り込む方法、及びワーク画像に対する復元方法を説明するための図である。なお、図5(a)〜(c)は、説明の便宜上、スケール3に対応する画像(破線で示す)を重ねて表示している。 FIG. 5 is a diagram for explaining a method for capturing a work image and a restoration method for the work image. In FIGS. 5A to 5C, images corresponding to the scale 3 (shown by broken lines) are displayed in an overlapping manner for convenience of explanation.
図5(a)は、ワーク画像を取り込む方法を説明するための図である。具体的には、図5(a)は、ワーク4をワーク画像として取り込む前の画像20を示している。言い換えると、画像20は、ビットマップデータではなく、ワーク画像を取り込むために用いる画像に対応する。計測を行う者(以下、単に「計測者」とも呼ぶ。)は、画像20を参照して、スキャナ2の撮影範囲73を指定する。この場合、計測者は、原点21(スケール3のコーナー3bに対応する)が含まれ、且つワーク4を示す画像24の全体が含まれるような範囲を指定する。例えば、計測者は、画像表示部1bに表示された画像に基づいて、PC1のマウス(不図示)などを操作することによって撮影範囲73を指定する。このように撮影範囲73の指定が終了した後に、スキャナ2によってワーク4の撮影を実行する。なお、上記では、計測者が手動で撮影範囲73を指定する例を示したが、この代わりに、画像処理部1aがワーク4を画像認識することによって自動で撮影範囲73を設定することも可能である。
FIG. 5A is a diagram for explaining a method of capturing a work image. Specifically, FIG. 5A shows an image 20 before the work 4 is captured as a work image. In other words, the image 20 corresponds to an image used for capturing a work image, not bitmap data. A person who performs measurement (hereinafter also simply referred to as “measurer”) refers to the image 20 and designates the imaging range 73 of the
図5(b)は、スキャナ2によって撮影されたワーク画像34を含む画像30を示している。画像30は、計測者に指定された撮影範囲73に基づいて撮影された画像に対応する。撮影によって得られた画像30は、ビットマップデータとして画像処理部1aが記憶する。画像34を見ると、ワーク画像34に歪みが生じていることがわかる。また、破線で示すマーク画像33aの位置もずれていることがわかる。これらは、スキャナ2の特性などに起因するものである。
FIG. 5B shows an
図5(c)は、ワーク画像34を含む画像30を復元することによって得られた画像40を示している。画像処理部1aは、スケール画像を取得した際に記憶したマーク3aの座標(図3参照)に基づいて、画像30を復元する画像処理(詳細は後述する)を行う。これにより、歪み等が生じていない、ワーク4に対応する復元画像44が得られる。この場合、マーク3aを示す画像43a(破線で示す)の位置もずれていないことがわかる。なお、スケール3の最外周のマーク3aにおける外側の領域は復元しない。
FIG. 5C shows an image 40 obtained by restoring the
次に、図6を用いて、本実施例に係る画像処理を説明する。図6は、本実施例に係る画像処理を示すフローチャートである。この処理は、PC1の画像処理部1aが主となって実行する。なお、図6のフローチャートにおいて、かっこ書で示す処理は、計測者が行う処理を示している。
Next, image processing according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart illustrating image processing according to the present embodiment. This process is mainly executed by the image processing unit 1a of the
まず、ステップS101では、計測者がスケール3をスキャナ2にセットする。この場合、計測者は、スケール3のコーナー3bをスキャナ2のガラス面における基準コーナー2aに押し当てることによって(図2(c)参照)、スキャナ2に対してスケール3をセットする。そして、処理はステップS102に進む。
First, in step S <b> 101, the measurer sets the
ステップS102では、スキャナ2がスケール3の撮影を実行する。スキャナ2は、撮影によって得られたスケール画像を信号S2として画像処理部1aに供給する。この場合、画像処理部1aは、スケール画像中のマーク画像を画像認識することによって、マーク画像が位置する座標を記憶する。詳しくは、画像処理部1aは、X座標を「Smxp[x][y]」に格納し、Y座標を「Smyp[x][y]」に格納する。以上の処理が終了すると、処理はステップS103に進む。
In step S102, the
ステップS103では、計測者が、スキャナ2からスケール3を取り出した後、スキャナ2にワーク4をセットする。この場合、計測者は、スケール3における最外周のマーク3aの内側のハッチング領域70内に(図4(b)参照)、ワーク4をセットする。このようにワーク4がセットされた後に、ワーク4の画像をスキャナ2によって取り込む。そして、画像処理部1aは、取り込んだ画像を画像表示部1bに表示させる。なお、この画像は、ビットマップデータに変換されていない。以上のステップS103の処理が終了すると、処理はステップS104に進む。
In step S <b> 103, the measurer removes the
ステップS104では、計測者が、ステップS103において画像表示部1bに表示された画像を参照して、原点21が含まれ、且つワーク4を示す画像24の全体が含まれるような範囲を指定する(図5(a)参照)。即ち、計測者は、スキャナ2による撮影範囲73を指定する。そして、処理はステップS105に進む。
In step S104, the measurer refers to the image displayed on the image display unit 1b in step S103 and designates a range in which the origin 21 is included and the entire image 24 showing the workpiece 4 is included (step S104). (See FIG. 5 (a)). That is, the measurer designates the shooting range 73 by the
ステップS105では、ステップS104で計測者に指定された撮影範囲73に基づいて、ワーク4の撮影を実行する。この場合、画像処理部1aは、撮影によって得られた画像(ワーク画像)をビットマップデータとして記憶する。そして、処理はステップS106に進む。 In step S105, the workpiece 4 is shot based on the shooting range 73 designated by the measurer in step S104. In this case, the image processing unit 1a stores an image (work image) obtained by photographing as bitmap data. Then, the process proceeds to step S106.
ステップS106では、画像処理部1aが、ステップS105で取得したワーク画像を、ステップS102で取得したスケール画像に基づいて復元する画像処理を実行する。この場合、画像処理部1aは、スケール画像におけるマーク画像の座標に基づいて、ワーク画像に対する復元を実行する。以上の処理が終了すると、処理は当該フローを抜ける。 In step S106, the image processing unit 1a executes image processing for restoring the work image acquired in step S105 based on the scale image acquired in step S102. In this case, the image processing unit 1a performs restoration on the work image based on the coordinates of the mark image in the scale image. When the above process ends, the process exits the flow.
図6に示す処理を実行することにより、ずれや歪みなどが生じていないワーク4の適切な画像を得ることができる。したがって、本実施例によれば、比較的安価な市販のスキャナなどを用いて、ワーク4に対して高精度の計測を行うことができる。 By executing the processing shown in FIG. 6, it is possible to obtain an appropriate image of the workpiece 4 in which no deviation or distortion has occurred. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to perform highly accurate measurement on the workpiece 4 using a relatively inexpensive commercially available scanner or the like.
なお、上記では、計測者が手動でスキャナ2にスケール3及びワーク4をセットする実施例を示したが、この代わりに、搬送ロボットなどによって自動でスキャナ2上の所定位置にスケール3及びワーク4をセットすることも可能である。
In the above example, the measurer manually sets the
また、ワーク4を計測するたびにスケール画像をスキャナ2によって撮影する必要はない。一度撮影されたスケール画像を用いて、複数のワーク4に対する計測を行うことも可能である。この場合には、スキャナ2を移動させた場合や、スケール画像を撮影してからある程度の時間が過ぎた後に計測を行う場合などに、再度スケール画像をスキャナ2によって撮影して、これを用いて画像処理を行うことが好ましい。
Further, it is not necessary to take a scale image with the
[復元方法]
次に、ワーク画像を復元する方法について、図7乃至図10を用いて説明する。本実施例では、まず、復元によって得られるべき復元画像のピクセル位置に対応するワーク画像上の位置を、スケール画像上のマークの位置に基づいて計算する。次に、得られたワーク画像上の位置に割り当てるべきデータ(色データなど)を、この位置の周囲のデータを用いて補間することによって求める。以上の処理を復元画像を構成する全てのピクセルに対して行うことによって、ワーク画像に対応する復元画像が得られる。
[How to restore]
Next, a method for restoring the work image will be described with reference to FIGS. In this embodiment, first, the position on the work image corresponding to the pixel position of the restored image to be obtained by restoration is calculated based on the position of the mark on the scale image. Next, data (color data or the like) to be assigned to the position on the obtained work image is obtained by interpolation using data around the position. By performing the above processing for all the pixels constituting the restored image, a restored image corresponding to the work image is obtained.
(ワーク画像位置計算方法)
以下で、復元画像のピクセル位置に対応するワーク画像上の位置を計算する手順について説明する。
(Work image position calculation method)
The procedure for calculating the position on the work image corresponding to the pixel position of the restored image will be described below.
図7は、復元画像のピクセル位置に対応するワーク画像上の位置を計算する方法を説明するための図である。図7は、スケール3及びワーク4の画像を示している。具体的には、図7(a)はスキャナ2で撮影したワーク画像を示し、図7(b)はワーク画像に対応する復元画像を示している。この場合、説明の便宜上、スケール画像及びこれに対応する復元画像を重ねて表示している。
FIG. 7 is a diagram for explaining a method of calculating the position on the work image corresponding to the pixel position of the restored image. FIG. 7 shows images of the
ここでは、復元画像中の任意の座標(Rxp,Ryp)対応する、ワーク画像における位置(Sxp,Syp)を求めることを考える。なお、「Rxp」及び「Ryp」は整数値であり、座標(Rxp,Ryp)は1つのピクセルに対応する。 Here, it is considered to obtain a position (Sxp, Syp) in the work image corresponding to an arbitrary coordinate (Rxp, Ryp) in the restored image. “Rxp” and “Ryp” are integer values, and coordinates (Rxp, Ryp) correspond to one pixel.
まず、スケール3のマーク3aを基準にしたマークピッチ座標を規定し、座標(Rxp,Ryp)のマークピッチ座標(Rxm,Rym)を求める。スキャナ2の解像度をDpi[DPI]とすれば、ピクセルサイズPSize[mm]は式(1)で求められる。
First, the mark pitch coordinates based on the
PSize=25.4/Dpi 式(1)
マーク間距離をMp[mm]とすれば指定したピクセル(Rxp,Ryp)のマークピッチ座標(Rxm,Rym)は、ピクセルサイズPSizeを用いることによって、それぞれ式(2−1)及び式(2−2)で表すことができる。
PSize = 25.4 / Dpi expression (1)
If the mark-to-mark distance is Mp [mm], the mark pitch coordinates (Rxm, Rym) of the designated pixel (Rxp, Ryp) can be expressed by the expressions (2-1) and (2- 2).
Rxm=Rxp・PSize/Mp 式(2−1)
Rym=Ryp・PSize/Mp 式(2−2)
次に、上記した位置(Sxp,Syp)を囲む4つのマーク3aの座標を得る。図8は、位置(Sxp,Syp)と、4つのマーク3aの座標(Xtl,Ytl)、(Xtr,Ytr)、(Xbl,Ybl)、(Xbr,Ybr)との関係を示す図である。4つのマーク3aの座標は、スケール画像を撮影した際に得られ、画像処理部1aが記憶している(図6のステップS102の処理参照)。この場合、位置(Sxp,Syp)を囲む4つのマーク3aのX座標及びY座標は、それぞれ以下の式(3−1)〜式(3−8)で表される。
Rxm = Rxp · PSize / Mp Formula (2-1)
Rym = Ryp · PSize / Mp Formula (2-2)
Next, the coordinates of the four
Xtl=Smxp[(int)Rxm][(int)Rym] 式(3−1)
Ytl=Smyp[(int)Rxm][(int)Rym] 式(3−2)
Xtr=Smxp[(int)Rxm+1][(int)Rym] 式(3−3)
Ytr=Smyp[(int)Rxm+1][(int)Rym] 式(3−4)
Xbl=Smxp[(int)Rxm][(int)Rym+1] 式(3−5)
Ybl=Smyp[(int)Rxm][(int)Rym+1] 式(3−6)
Xbr=Smxp[(int)Rxm+1][(int)Rym+1] 式(3−7)
Ybr=Smyp[(int)Rxm+1][(int)Rym+1] 式(3−8)
なお、式(3−1)〜式(3−8)中の「(int)」は、実数部分を抽出することを意味している。例えば、「(int)Rxm」は「Rxm」の実数部分を示している。
Xtl = Smxp [(int) Rxm] [(int) Rym] Formula (3-1)
Ytl = Smyp [(int) Rxm] [(int) Rym] Formula (3-2)
Xtr = Smxp [(int) Rxm + 1] [(int) Rym] Expression (3-3)
Ytr = Smyp [(int) Rxm + 1] [(int) Rym] Expression (3-4)
Xbl = Smxp [(int) Rxm] [(int) Rym + 1] Formula (3-5)
Ybl = Smyp [(int) Rxm] [(int) Rym + 1] Equation (3-6)
Xbr = Smxp [(int) Rxm + 1] [(int) Rym + 1] Equation (3-7)
Ybr = Smyp [(int) Rxm + 1] [(int) Rym + 1] Equation (3-8)
Note that “(int)” in the expressions (3-1) to (3-8) means that the real part is extracted. For example, “(int) Rxm” indicates the real part of “Rxm”.
次に、上記した4点のマーク3aの座標は歪んでいるため、これらのマーク3aの座標を用いて直線補間法を行うことによって位置(Sxp,Syp)を求めることを考える。具体的には、図8に示すように、マーク3aの座標(Xtl,Ytl)、(Xtr,Ytr)、(Xbl,Ybl)、(Xbr,Ybr)と、位置(Sxp,Syp)とによって規定される点P1と点P2を用いて位置(Sxp,Syp)を表す。
Next, since the coordinates of the four
ここで、復元画像中におけるピクセルのマークピッチ座標(Rxm,Rym)の小数部分を、それぞれ「FRxm」、「FRym」とすると、この小数部分FRxm、FRymは、以下の式(4−1)及び式(4−2)で表される。 Here, if the fractional parts of the mark pitch coordinates (Rxm, Rym) of the pixels in the restored image are “FRxm” and “FRym”, respectively, the fractional parts FRxm and FRym are expressed by the following equations (4-1) and It is represented by Formula (4-2).
FRxm=Rxm−(int)Rxm 式(4−1)
FRym=Rym−(int)Rym 式(4−2)
これらの小数部分FRxm、FRymを用いて、点P1の座標(S1xp,S1yp)は、以下の式(5−1)及び式(5−2)で表される。
FRxm = Rxm- (int) Rxm formula (4-1)
FRym = Rym− (int) Rym expression (4-2)
Using these decimal parts FRxm and FRym, the coordinates (S1xp, S1yp) of the point P1 are expressed by the following equations (5-1) and (5-2).
S1xp=FRxm(Xtr−Xtl)+Xtl 式(5−1)
S1yp=FRxm(Ytr−Ytl)+Ytl 式(5−2)
また、点P2の座標(S2xp,S2yp)は、以下の式(6−1)及び式(6−2)で表される。
S1xp = FRxm (Xtr−Xtl) + Xtl formula (5-1)
S1yp = FRxm (Ytr−Ytl) + Ytl formula (5-2)
Further, the coordinates (S2xp, S2yp) of the point P2 are expressed by the following equations (6-1) and (6-2).
S2xp=FRxm(Xbr−Xbl)+Xbl 式(6−1)
S2yp=FRxm(Ybr−Ybl)+Ybl 式(6−2)
以上の点P1、P2の座標を用いて直線補間を行うことにより、位置(Sxp,Syp)は、式(7−1)及び式(7−2)によって得ることができる。
S2xp = FRxm (Xbr−Xbl) + Xbl Formula (6-1)
S2yp = FRxm (Ybr−Ybl) + Ybl formula (6-2)
By performing linear interpolation using the coordinates of the above points P1 and P2, the position (Sxp, Syp) can be obtained by Expression (7-1) and Expression (7-2).
Sxp=FRym(S2xp−S1xp)+S1xp 式(7−1)
Syp=FRym(S2yp−S1yp)+S1yp 式(7−2)
(補間演算方法)
上記した手順によってワーク画像の座標(Sxp,Syp)を求めることができたので、次は、座標(Sxp,Syp)に対応するデータ(以下、「色データ」とも呼ぶ。)を取得して、これを復元画像の座標(Rxp,Ryp)に書き込めばよい。しかしながら、この処理を行う際に、以下のような問題がある。
Sxp = FRym (S2xp−S1xp) + S1xp equation (7-1)
Syp = FRym (S2yp-S1yp) + S1yp formula (7-2)
(Interpolation calculation method)
Since the coordinates (Sxp, Syp) of the workpiece image can be obtained by the above-described procedure, data corresponding to the coordinates (Sxp, Syp) (hereinafter also referred to as “color data”) is acquired. This can be written in the coordinates (Rxp, Ryp) of the restored image. However, there are the following problems when performing this processing.
復元画像における座標(Rxp,Typ)の座標値は「整数」であるが、これに対応するワーク画像の座標(Sxp,Syp)は「実数」となる可能性が高い。例えば、図9に示すように、得られたワーク画像の座標(Sxp,Syp)が(55.35,85.75)である場合を考える。この場合、(55.35,85.75)の位置には色データが存在しない。一方、(55.35,85.75)の位置を囲む点Q1〜Q4(具体的には、(55,85)、(55,86)、(56,85)、(56,86))には色データが存在する。したがって、本実施例では、得られたワーク画像の座標(Sxp,Syp)上に色データが存在しない場合、この座標(Sxp,Syp)の周辺の色データを用いて補間演算することによって、座標(Sxp,Syp)に対応する色データを求める。 The coordinate value of the coordinate (Rxp, Typ) in the restored image is “integer”, but the coordinate (Sxp, Syp) of the work image corresponding to this is likely to be “real number”. For example, as shown in FIG. 9, consider the case where the coordinates (Sxp, Syp) of the obtained workpiece image are (55.35, 85.75). In this case, there is no color data at the position (55.35, 85.75). On the other hand, the color data is stored in the points Q1 to Q4 (specifically, (55,85), (55,86), (56,85), (56,86)) surrounding the position of (55.35,85.75)). Exists. Therefore, in this embodiment, when there is no color data on the coordinates (Sxp, Syp) of the obtained work image, the coordinates are obtained by performing interpolation using the color data around the coordinates (Sxp, Syp). Color data corresponding to (Sxp, Syp) is obtained.
図10は、補間演算方法を説明するための図である。ここでは、(Sxp,Syp)に位置する点Tsの色データを求めることを考える。点Tsは、その位置には対応する色データが存在しない。また、点Tsを囲む4点T1、T2、T3、T4には、それらの位置に対応する色データが存在する。具体的には、点T1、T2、T3、T4は、それぞれ色データC1、C2、C3、C4を有している。なお、ここでは、グレースケールの色データを用いる場合を例に挙げて説明する。 FIG. 10 is a diagram for explaining an interpolation calculation method. Here, it is considered to obtain the color data of the point Ts located at (Sxp, Syp). The point Ts does not have corresponding color data at that position. Further, color data corresponding to these positions exist at the four points T1, T2, T3, and T4 surrounding the point Ts. Specifically, the points T1, T2, T3, and T4 have color data C1, C2, C3, and C4, respectively. Here, a case where grayscale color data is used will be described as an example.
Ts(Sxp,Syp)のX座標及びY座標における小数部分FSxp、FSypは、それぞれ式(8−1)及び式(8−2)で表される。 The fractional parts FSxp and FSyp in the X coordinate and Y coordinate of Ts (Sxp, Syp) are expressed by Expression (8-1) and Expression (8-2), respectively.
FSxp=Sxp−(int)Sxp 式(8−1)
FSyp=Syp−(int)Syp 式(8−2)
次に、Ts(Sxp,Syp)の小数部分FSxp、FSypを用いて、点Tsと、点点T1、T2、T3、T4とによって規定される点Tt、Tbの色データを求めることを考える。点Ttにおける色データCtは、その左右に位置する点T1、T2からの距離の重みに基づいて、式(9)で表される。
FSxp = Sxp− (int) Sxp equation (8-1)
FSyp = Syp- (int) Syp formula (8-2)
Next, it is assumed that the color data of the points Tt and Tb defined by the point Ts and the points T1, T2, T3, and T4 are obtained using the fractional parts FSxp and FSyp of Ts (Sxp, Syp). The color data Ct at the point Tt is expressed by Expression (9) based on the weight of the distance from the points T1 and T2 located on the left and right sides.
Ct=C1(1−FSxp)+C2・FSxp 式(9)
同様に、点Tbにおける色データCbは式(10)で表される。
Ct = C1 (1−FSxp) + C2 ・ FSxp Equation (9)
Similarly, the color data Cb at the point Tb is expressed by Expression (10).
Cb=C3(1−FSxp)+C4・FSxp 式(10)
このようにして得られた色データCt及び色データCbを用いることによって、(Sxp,Syp)の色データCsは、以下の式(11)により得ることができる。
Cb = C3 (1−FSxp) + C4 · FSxp Formula (10)
By using the color data Ct and the color data Cb thus obtained, the color data Cs of (Sxp, Syp) can be obtained by the following equation (11).
Cs=Ct(1−FSyp)+Cb・FSyp 式(11)
以上のようにして得られた色データCsを復元画像の座標(Rxp,Ryp)に書き込むことによって、復元画像の1つのピクセルの処理が完了する。この後、同様の手順によって、復元画像の他のピクセルに対して、ワーク画像上の位置を計算、及び補間演算を実行する。そして、これらの処理が終了すると、更に他のピクセルに対して処理を実行する。即ち、ワーク4の復元画像を構成する全てのピクセルに対してこれらの処理を実行する。これにより、ワーク画像に対応する復元画像を得ることができる。
Cs = Ct (1−FSyp) + Cb · FSyp formula (11)
By writing the color data Cs obtained as described above into the coordinates (Rxp, Ryp) of the restored image, the processing of one pixel of the restored image is completed. Thereafter, the position on the work image is calculated and the interpolation operation is performed on the other pixels of the restored image by the same procedure. Then, when these processes are completed, the process is further performed on other pixels. That is, these processes are executed for all the pixels constituting the restored image of the work 4. Thereby, a restored image corresponding to the work image can be obtained.
なお、上記では、画像がグレースケールデータである場合の例を示したが、画像がRGBデータである場合には、上記した手順を「R」、「G」、「B」に対して3回行えばよい。 In the above description, an example in which the image is grayscale data is shown. However, when the image is RGB data, the above procedure is repeated three times for “R”, “G”, and “B”. Just do it.
以上に説明したように、本実施例では、スキャナを用いてワークの外観を計測するPC内の画像処理部は、複数のマークが規則正しく配列しているスケールをスキャナによって取り込んだスケール画像を取得し、ワークをスキャナによって取り込んだワーク画像を取得し、スケール画像内のマークに基づいてワーク画像を復元する。これにより、比較的安価な市販のスキャナなどを用いて、ワークに対して高精度の計測を行うことができる。 As described above, in this embodiment, the image processing unit in the PC that measures the appearance of the workpiece using the scanner acquires a scale image obtained by capturing a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by the scanner. The work image obtained by capturing the work with the scanner is acquired, and the work image is restored based on the mark in the scale image. Thereby, it is possible to perform highly accurate measurement on a workpiece using a relatively inexpensive commercially available scanner or the like.
[変形例]
次に、上記した実施例の変形例について説明する。
[Modification]
Next, a modification of the above embodiment will be described.
上記では、プリント基板に対して計測を行う実施例を示したが、変形例では、この代わりに、電子部品をワークとして用いて計測を行う。この場合、プリント基板には厚みがほとんどないが、電子部品には厚みがあるため、計測を行う手順が上記した実施例とは異なる。具体的には、厚みがあるワークをスキャナ2によって撮影した場合には、ワークが斜めに撮影されてしまうおそれがあるため、変形例では、これを防止するための措置を行う。
In the above, an example in which measurement is performed on a printed circuit board has been described. However, in a modified example, measurement is performed using an electronic component as a workpiece instead. In this case, the printed circuit board has almost no thickness, but the electronic component has a thickness, and therefore the procedure for performing the measurement is different from the above-described embodiment. Specifically, when a thick workpiece is photographed by the
詳しくは、変形例では、スキャナ2によってワークが斜めに撮影されてしまうことを防止するため、スキャナ2のガラス面の中央付近にワークを載置して撮影を行う。より詳しくは、スキャナ2のガラス面の中央付近にワークが適切にセットされるように、スキャナ2のガラス面にマスクをかぶせてからワークのセットを行う。なお、変形例においては、ワークに厚みがあるため、スキャナ2としてラインセンサタイプのスキャナを用いることが好ましい。
Specifically, in the modification, in order to prevent the workpiece from being obliquely photographed by the
図11は、ワークをセットする手順を説明するための図である。図11(a)は、マスク7をセットする手順を示す図である。マスク7は、黒色の平板で構成され、中央部付近に穴7a、7bが設けられている。穴7aは矩形形状を有しており、穴7bは円形形状を有している。マスク7のセットは、マスク7のコーナーをスキャナ2における基準コーナー2a(図2(c)参照)に押し当てることによって行う。この場合、穴7bが基準コーナー2a側に位置するように、マスク7をセットする。
FIG. 11 is a diagram for explaining a procedure for setting a workpiece. FIG. 11A shows a procedure for setting the mask 7. The mask 7 is formed of a black flat plate, and holes 7a and 7b are provided near the center. The hole 7a has a rectangular shape, and the hole 7b has a circular shape. The mask 7 is set by pressing the corner of the mask 7 against the
図11(b)は、2つのワーク8a、8bをセットする手順を示している(以下では、2つのワーク8a、8bをまとめて「ワーク8」とも表記する)。この場合、ワーク8は、マスク7がセットされたままの状態にあるスキャナ2に対してセットされる。具体的には、ワーク8は、マスク7の穴7a内に載置される。
FIG. 11B shows a procedure for setting two
図12は、ワーク画像を取り込む方法を説明するための図である。図12(a)は、ワーク画像を取り込む方法を説明するための図である。具体的には、図12(a)は、ワーク8をワーク画像として取り込む前の画像50を示している。画像50は、ビットマップデータではなく、ワーク画像を取り込むために用いる画像に対応する。画像50を見ると、マスク7が存在する部分(穴7a、7bが設けられた部分を除く)が暗くなっていることがわかる。計測者は、このような画像50を参照して、スキャナ2の撮影範囲80を指定する。この場合、計測者は、穴7bに対応する画像57bの中心部付近から撮影範囲80を開始すると共に、ワーク8a、8bに対応する画像58a、58bの全体が含まれるように範囲を指定する。
FIG. 12 is a diagram for explaining a method of capturing a work image. FIG. 12A is a diagram for explaining a method of capturing a work image. Specifically, FIG. 12A shows an
図12(b)は、スキャナ2によって撮影されたワーク画像68a、68bを含む画像60を示している。画像60は、計測者に指定された撮影範囲80に基づいて撮影された画像に対応する。撮影によって得られた画像60は、ビットマップデータとして画像処理部1aが記憶する。そして、画像処理部1aは、画像60に対して前述した画像処理を実行することによって、ワーク8の復元画像を生成する。
FIG. 12B shows an image 60 including work images 68a and 68b photographed by the
なお、変形例においては、マスク7の穴7a内にワーク8をセットするので、ワーク8に対する撮影範囲80がある程度限定されるため、スケール3のスケール画像を以下のような手順によって取得する。図13は、変形例に係るスケール画像の取得手順を説明するための図である。図13は、スケール3に対応するスケール画像83に対して、マスク7の穴7aに対応する画像87a及び穴7bに対応する画像87bを破線で重ねて示している。これより、穴7bに対応する画像87b内に、スケール3のマーク3aに対応する画像83aの全体が含まれていることがわかる。こうなるのは、画像87b内に画像83aの全体が含まれるように、マスク7の穴7bの位置を設計したからである。
In the modified example, since the work 8 is set in the hole 7a of the mask 7, the
変形例においては、破線領域90で示すように、穴7bに対応する画像87b及び穴7aに対応する画像87aが最小限含まれるような領域を、撮影範囲に設定してスケール画像を取り込む。前述したようにワーク8の撮影範囲80を指定すると、この撮影範囲80は必ずスケール2の撮影領域90内に含まれることになるため、スケール画像を用いて適切にワーク画像の復元を行うことが可能となる。この場合、マスク7の穴7bに位置するマーク3を基準として用いて、適切に画像処理を行うことができる。また、変形例によれば、スケール画像としてスケール3全体の画像を保持しておく必要がないため、記憶容量や計算量を減らすことができる。
In the modified example, as indicated by a
なお、上記では、プリント基板及び電子部品をワーク4として計測を行う例を示したが、他の例では、外観計測装置は、プリント基板に対して、電子部品の実装位置検査などの検査を行うことができる。更に他の例では、電子部品の寸法測定なども行うことができる。 In addition, although the example which performs a measurement using the printed circuit board and the electronic component as the workpiece 4 has been described above, in another example, the appearance measurement apparatus performs an inspection such as a mounting position inspection of the electronic component on the printed circuit board. be able to. In still another example, it is possible to measure the dimensions of an electronic component.
1 PC
1a 画像処理部
1b 画像表示部
2 スキャナ
3 スケール
4、8 ワーク
7 マスク
7a、7b 穴
100 外観計測システム
1 PC
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a Image processing part 1b
Claims (7)
複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得手段と、
前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得手段と、
前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元手段と、を備えることを特徴とする外観計測装置。 An appearance measuring device that measures the appearance of a workpiece using a scanner,
A scale image acquisition means for acquiring a scale image obtained by capturing a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by the scanner;
Workpiece image acquisition means for acquiring a workpiece image obtained by capturing the workpiece with the scanner;
An appearance measuring apparatus comprising: a restoration unit that restores the workpiece image based on the mark in the scale image.
複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得工程と、
前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得工程と、
前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元工程と、を備えることを特徴とする外観計測方法。 An appearance measurement method for measuring the appearance of a workpiece using a scanner,
A scale image obtaining step for obtaining a scale image obtained by capturing a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by the scanner;
A work image acquisition step of acquiring a work image obtained by capturing the work with the scanner;
And a restoration step of restoring the workpiece image based on the mark in the scale image.
複数のマークが規則正しく配列しているスケールを前記スキャナによって取り込んだスケール画像を取得するスケール画像取得手段、
前記ワークを前記スキャナによって取り込んだワーク画像を取得するワーク画像取得手段、
前記スケール画像内の前記マークに基づいて前記ワーク画像を復元する復元手段、として前記コンピュータを機能させることを特徴とする外観計測プログラム。 An appearance measurement program executed by a computer that acquires and processes an image captured by a scanner,
A scale image obtaining means for obtaining a scale image obtained by capturing a scale in which a plurality of marks are regularly arranged by the scanner;
A workpiece image acquisition means for acquiring a workpiece image obtained by capturing the workpiece with the scanner;
An external appearance measurement program that causes the computer to function as a restoration unit that restores the work image based on the mark in the scale image.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04355306A (en) * | 1991-06-03 | 1992-12-09 | Seikosha Co Ltd | Method for compensating for distortion in image recognition device |
JPH07504978A (en) * | 1992-01-31 | 1995-06-01 | オーボテック、リミテッド | Product inspection method |
JPH10311705A (en) * | 1997-05-12 | 1998-11-24 | Nikon Corp | Image input apparatus |
JP2002181732A (en) * | 2000-12-13 | 2002-06-26 | Saki Corp:Kk | Apparatus and method for visual inspection |
-
2006
- 2006-04-20 JP JP2006116720A patent/JP2007286003A/en active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04355306A (en) * | 1991-06-03 | 1992-12-09 | Seikosha Co Ltd | Method for compensating for distortion in image recognition device |
JPH07504978A (en) * | 1992-01-31 | 1995-06-01 | オーボテック、リミテッド | Product inspection method |
JPH10311705A (en) * | 1997-05-12 | 1998-11-24 | Nikon Corp | Image input apparatus |
JP2002181732A (en) * | 2000-12-13 | 2002-06-26 | Saki Corp:Kk | Apparatus and method for visual inspection |
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