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JP2007271875A - Flexible wiring board, inspection device for liquid crystal panel, and inspection method for liquid crystal panel - Google Patents

Flexible wiring board, inspection device for liquid crystal panel, and inspection method for liquid crystal panel Download PDF

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JP2007271875A
JP2007271875A JP2006096847A JP2006096847A JP2007271875A JP 2007271875 A JP2007271875 A JP 2007271875A JP 2006096847 A JP2006096847 A JP 2006096847A JP 2006096847 A JP2006096847 A JP 2006096847A JP 2007271875 A JP2007271875 A JP 2007271875A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal panel
input terminal
wiring board
inspection
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Withdrawn
Application number
JP2006096847A
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Japanese (ja)
Inventor
Haruyoshi Nakazato
張義 中里
Toshio Matsuo
敏男 松尾
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To securely input an inspection signal to an input terminal of a liquid crystal panel by suppressing damage to a flexible wiring board. <P>SOLUTION: The flexible wiring board 10 has a flexible substrate 11 and has conductive films 12 provided in lines on the flexible substrate 11, and inputs the inspection signal to the input terminal 22 formed on a liquid crystal panel 20 through the conductive films 12 to inspect illumination of the liquid crystal panel 20. A pair of abutting parts 15 which extend along the conductive films 12 in parallel to each other and abut against circumferences of the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 respectively are provided on both sides in the extending directions of the conductive films 12, and the height of each abutting part 15 is equal to the sum of the height of the input terminal 22 and the film thickness of the conductive films 12. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、フレキシブル配線基板、液晶パネルの検査装置、及び液晶パネルの検査方法に関し、特に、液晶パネルの点灯検査技術に関するものである。   The present invention relates to a flexible wiring board, a liquid crystal panel inspection apparatus, and a liquid crystal panel inspection method, and more particularly to a lighting inspection technique for a liquid crystal panel.

液晶パネルは、例えば、複数の画素電極がマトリクス状に配設されたアクティブマトリクス基板と、そのアクティブマトリクス基板に対向して配置され共通電極を有する対向基板と、それらの両基板の間に設けられた液晶層とを備えている。この液晶パネルは、上記アクティブマトリクス基板及び対向基板をそれぞれ作製した後に、例えば、それらの両基板を貼り合わせて空のパネルを作製し、その空のパネルを構成する基板の間に液晶材料を注入・封止することにより製造される。そして、その製造された液晶パネルに周辺部品を実装する前に、その液晶パネルに対して点灯検査が行われる。   The liquid crystal panel is provided between, for example, an active matrix substrate in which a plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix, a counter substrate that is disposed opposite to the active matrix substrate and has a common electrode, and the two substrates. And a liquid crystal layer. In this liquid crystal panel, after the active matrix substrate and the counter substrate are manufactured, for example, the two substrates are bonded together to prepare an empty panel, and a liquid crystal material is injected between the substrates constituting the empty panel. -Manufactured by sealing. Then, before mounting the peripheral components on the manufactured liquid crystal panel, a lighting inspection is performed on the liquid crystal panel.

ところで、上記アクティブマトリクス基板には、表示用配線として、上記各画素電極の間に、互いに平行に延びるように複数のゲート線と、各ゲート線に直交する方向に互いに平行に延びるように複数のソース線とがそれぞれ設けられている。   By the way, the active matrix substrate includes a plurality of gate lines as display wirings extending between the pixel electrodes so as to extend in parallel to each other and a plurality of gate lines extending in parallel to each other in a direction orthogonal to the gate lines. Each source line is provided.

そして、上記点灯検査では、上記各ゲート線及び各ソース線に対して設けられた各入力端子に検査信号を直接入力する方式や、赤色表示用の各ソース線(R)・緑色表示用の各ソース線(G)・青色表示用の各ソース線(B)毎に、及び奇数本目の各ゲート線・偶数本目の各ゲート線毎にまとめて検査信号が入力できるショートバーを設けて、そのショートバーを介して検査信号を入力する方式などがよく知られている。   In the lighting inspection, a method of directly inputting an inspection signal to each input terminal provided for each gate line and each source line, each source line (R) for red display, and each source for green display A short bar is provided for each source line (G) and blue display source line (B), and for each odd-numbered gate line and even-numbered gate line, and a shorting bar can be input, and the short circuit is provided. A method of inputting an inspection signal through a bar is well known.

例えば、特許文献1には、各ソース線を端部で露出させて、その露出部分をソース線(R)、ソース線(G)及びソース線(B)毎に直線状に配列させた複数の入力端子を有する液晶パネルにおいて、その入力端子に柔軟性のある導電ゴムからなる3本のショートバーを押し当てることにより、各ソース線に検査信号を入力する検査方法が記載されている。   For example, in Patent Document 1, each source line is exposed at an end, and the exposed portion is a plurality of lines arranged linearly for each source line (R), source line (G), and source line (B). In a liquid crystal panel having an input terminal, an inspection method is described in which an inspection signal is input to each source line by pressing three short bars made of flexible conductive rubber against the input terminal.

ここで、上記導電ゴムからなるショートバーによって検査信号を入力する検査方法について説明する。   Here, an inspection method in which an inspection signal is input by the short bar made of the conductive rubber will be described.

図9は、一般的なCOG(Chip On Glass)実装に対応した液晶パネル120を示す平面模式図である。この液晶パネル120は、複数の画素電極がマトリクス状に配設された表示領域Dと、ドライバ(駆動回路)としてLSIチップを実装するためのCOGパッド部Pとを備えている。   FIG. 9 is a schematic plan view showing a liquid crystal panel 120 corresponding to general COG (Chip On Glass) mounting. The liquid crystal panel 120 includes a display area D in which a plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix, and a COG pad portion P for mounting an LSI chip as a driver (driving circuit).

COGパッド部Pでは、図10に示すように、赤色表示用の各ソース線(R)をその端部で露出させた複数の入力端子122Rと、緑色表示用の各ソース線(G)をその端部で露出させた複数の入力端子122Gと、青色表示用の各ソース線(B)をその端部で露出させた複数の入力端子122Bとが互いに重ならないように配列されている。   In the COG pad portion P, as shown in FIG. 10, a plurality of input terminals 122R each having a red display source line (R) exposed at its end portion and a green display source line (G) are connected to the COG pad portion P. The plurality of input terminals 122G exposed at the ends and the plurality of input terminals 122B exposed at the ends of the blue display source lines (B) are arranged so as not to overlap each other.

そして、点灯検査する際には、各入力端子122R、122G及び122Bに対して、導電ゴムからなるショートバー112Rr、112Gr及び112Brをそれぞれ押し当てることにより、信号発生器140からの検査信号を各ショートバー及び入力端子を介して各ソース線に入力することになる。   When the lighting inspection is performed, the shorting bars 112Rr, 112Gr, and 112Br made of conductive rubber are pressed against the input terminals 122R, 122G, and 122B, respectively, thereby causing the inspection signal from the signal generator 140 to be short-circuited. Input is made to each source line via the bar and the input terminal.

しかしながら、上記のような導電ゴムからなるショートバーによる検査信号の入力方法では、ショートバー112Rr、112Gr及び112Brの幅W1が導電ゴムの加工上、1mm程度になってしまうので、各入力端子122Rと各入力端子122Gとの間、及び各入力端子122Gと各入力端子122Bとの間の距離がそれぞれ1mm以上必要になる。そのため、COGパッド部Pがソース線に延びる方向(図中の上下方向)に大きくなるおそれがある。 However, in the inspection signal input method using the short bar made of conductive rubber as described above, the width W 1 of the short bars 112Rr, 112Gr and 112Br becomes about 1 mm due to the processing of the conductive rubber. And the distance between each input terminal 122G and between each input terminal 122G and each input terminal 122B is 1 mm or more. Therefore, there is a possibility that the COG pad portion P becomes larger in the direction (vertical direction in the drawing) extending to the source line.

そこで、上記のような導電ゴムからなるショートバーの代わりとして、可撓性基板上に形成された導電膜からなるショートバーを用いたフレキ検査プローブが提案されている。   Accordingly, a flexible inspection probe using a short bar made of a conductive film formed on a flexible substrate has been proposed instead of the short bar made of conductive rubber as described above.

以下に、上記フレキ検査プローブによる検査方法について説明する。ここで、図11は、従来のフレキ検査プローブ110aによる検査方法を示す平面模式図であり、図12は、図11中のXII−XII線に沿った断面模式図である。   The inspection method using the flexible inspection probe will be described below. Here, FIG. 11 is a schematic plan view showing an inspection method using the conventional flexible inspection probe 110a, and FIG. 12 is a schematic cross-sectional view taken along line XII-XII in FIG.

このフレキ検査プローブ110aは、例えば、樹脂製の可撓性基板111上に線状の導電膜112Ra、112Ga及び112Baが形成されたフレキシブル配線基板(FPC:Flexible Printed Circuit)などにより構成されている。   The flexible inspection probe 110a is composed of, for example, a flexible printed circuit (FPC) in which linear conductive films 112Ra, 112Ga, and 112Ba are formed on a flexible substrate 111 made of resin.

また、被検査体の液晶パネル120aでは、例えば、アクティブマトリクス基板を構成するガラス基板121上のCOGパッド部Pに、赤色表示用の各ソース線(R)の端部である複数の入力端子122Ra、緑色表示用の各ソース線(G)の端部である複数の入力端子122Ga、及び青色表示用の各ソース線(B)の端部である複数の入力端子122Baがそれぞれ設けられている。   Further, in the liquid crystal panel 120a to be inspected, for example, the COG pad portion P on the glass substrate 121 constituting the active matrix substrate has a plurality of input terminals 122Ra that are the end portions of the source lines (R) for red display. In addition, a plurality of input terminals 122Ga which are the end portions of the source lines (G) for green display and a plurality of input terminals 122Ba which are the end portions of the source lines (B) for blue display are provided.

このフレキ検査プローブ110aでは、導電膜112Ra、112Ga及び112Baがそれぞれフォトリソグラフィー技術により形成されるので、図11に示すように、導電膜112Ra、112Ga及び112Baの幅W2を0.1mm程度にすることができる。そのため、各入力端子(122Ra・122Ga・122Ba)自体のソース線に延びる方向の長さ、各入力端子122Raが並んだ列と各入力端子122Gaが並んだ列との間隔、及び各入力端子122Gaが並んだ列と各入力端子122Baとの間隔をそれぞれ短くすることができるので、COGパッド部Pのサイズを小さく抑えて、各入力端子と各導電膜とを導通させることができる。 In the flex test probe 110a, the conductive film part 112Ra, since 112Ga and 112Ba are formed by photolithography, respectively, as shown in FIG. 11, the conductive film part 112Ra, the width W 2 of 112Ga and 112Ba to about 0.1mm be able to. Therefore, the length of each input terminal (122Ra, 122Ga, 122Ba) in the direction extending to the source line itself, the distance between the column in which each input terminal 122Ra is arranged and the column in which each input terminal 122Ga is arranged, and each input terminal 122Ga is Since the distance between the arranged row and each input terminal 122Ba can be shortened, the size of the COG pad portion P can be kept small, and each input terminal and each conductive film can be made conductive.

また、特許文献2には、上記入力端子に対応する液晶パネルの端部に設けられた電極膜に、検査信号が入力される導電膜を備えたフレキシブル配線基板を押し当てる際に、その基板背面から弾性チューブによって押圧して、電極膜と導電膜とを導通させることにより、液晶パネルの電極膜に検査信号を入力する検査用コンタクト装置が開示されている。
特開平7−5481号公報 特開平7−270817号公報
Further, in Patent Document 2, when a flexible wiring board provided with a conductive film to which an inspection signal is input is pressed against an electrode film provided at an end of a liquid crystal panel corresponding to the input terminal, An inspection contact device is disclosed that inputs an inspection signal to an electrode film of a liquid crystal panel by making the electrode film and the conductive film conductive by being pressed by an elastic tube.
JP-A-7-5481 JP 7-270817 A

ところで、近年の液晶パネルの狭額縁化に伴って、COGパッド部のサイズが益々小さくなる傾向がある。そのため、上述した従来のフレキ検査プローブでは、フレキ検査プローブの導電膜と液晶パネルの入力端子との間の導通が不良になって、液晶パネルの入力端子に検査信号が確実に入力されないおそれがある。   By the way, with the recent narrowing of the frame of the liquid crystal panel, the size of the COG pad portion tends to become smaller and smaller. Therefore, in the above-described conventional flexible inspection probe, there is a possibility that the conduction between the conductive film of the flexible inspection probe and the input terminal of the liquid crystal panel is poor and the inspection signal is not reliably input to the input terminal of the liquid crystal panel. .

具体的には、図13に示すように、液晶パネル120bを構成するガラス基板121上に形成される入力端子122Rb、122Gb及び122Bbの間隔が狭くなると、フレキ検査プローブ110b全体を液晶パネル120bに押し当てたとしても、導電膜(112Rb・112Gb・112Bb)及び入力端子(122Rb・122Gb・122Bb)が集中して配設された部分では、それらの厚みによってフレキ検査プローブ110bが膨らんだ状態になり易くなる。そうなると、フレキ検査プローブ110bの膨らんだ部分の導電膜パターン112Rb、112Gb及び112Bbが液晶パネル120bの入力端子122Rb、122Gb及び122Bbから浮き上がってしまうので、液晶パネル120bの各入力端子122Rb、122Gb及び122Bbとフレキ検査プローブ110bの各導電膜112Rb、112Gb及び112Bbとの間における導通が不良になる。   Specifically, as shown in FIG. 13, when the interval between the input terminals 122Rb, 122Gb and 122Bb formed on the glass substrate 121 constituting the liquid crystal panel 120b is narrowed, the entire flexible inspection probe 110b is pushed to the liquid crystal panel 120b. Even if it is applied, the flexible inspection probe 110b tends to swell due to the thickness of the conductive film (112Rb, 112Gb, 112Bb) and the input terminal (122Rb, 122Gb, 122Bb). Become. Then, the conductive film patterns 112Rb, 112Gb, and 112Bb of the bulging portion of the flexible inspection probe 110b are lifted from the input terminals 122Rb, 122Gb, and 122Bb of the liquid crystal panel 120b, so that the input terminals 122Rb, 122Gb, and 122Bb of the liquid crystal panel 120b The conduction between the conductive film 112Rb, 112Gb and 112Bb of the flexible inspection probe 110b becomes poor.

また、特許文献2の検査用コンタクト装置では、フレキシブル配線基板の背面から当接する弾性チューブによって導電膜と電極膜との接触区間の一部を押圧するので、上記のような液晶パネルの入力端子とフレキ検査プローブの導電膜との間における導通不良を一応解消することができるものの、フレキシブル配線基板の一部が集中的に押圧されるので、その局所的なストレスが繰り返されることによって、フレキシブル配線基板の損傷が懸念される。そして、フレキシブル配線基板が損傷すると、液晶パネルの入力端子とフレキシブル配線基板の導電膜との間における導通が不安定になるので、やはり、液晶パネルの入力端子に検査信号が確実に入力されないおそれがある。   In the inspection contact device of Patent Document 2, a part of the contact section between the conductive film and the electrode film is pressed by an elastic tube that contacts from the back surface of the flexible wiring board. Although it is possible to eliminate the continuity failure between the flexible inspection probe and the conductive film, a part of the flexible wiring board is intensively pressed. There is concern about damage. If the flexible wiring board is damaged, the continuity between the input terminal of the liquid crystal panel and the conductive film of the flexible wiring board becomes unstable, so that the inspection signal may not be input to the input terminal of the liquid crystal panel reliably. is there.

本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、フレキシブル配線基板の損傷を抑制して、液晶パネルの入力端子に検査信号を確実に入力することにある。   The present invention has been made in view of this point, and an object of the present invention is to reliably input an inspection signal to an input terminal of a liquid crystal panel while suppressing damage to the flexible wiring board.

上記目的を達成するために、本発明は、フレキシブル配線基板の導電膜の両側に一対の当接部を設けるようにしたものである。   In order to achieve the above object, the present invention provides a pair of contact portions on both sides of a conductive film of a flexible wiring board.

具体的に本発明にかかるフレキシブル配線基板は、可撓性基板と、上記可撓性基板に線状に設けられた導電膜とを有し、液晶パネルに形成された入力端子に上記導電膜を介して検査信号を入力して、該液晶パネルの点灯検査を行うためのフレキシブル配線基板であって、上記導電膜の延びる方向に沿った両側には、該導電膜に沿って互いに並行に延びると共に上記液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接する一対の当接部が設けられ、上記各当接部は、上記液晶パネルの入力端子の近傍に押し当てられたときに、上記可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように構成されていることを特徴とする。   Specifically, a flexible wiring board according to the present invention includes a flexible substrate and a conductive film linearly provided on the flexible substrate, and the conductive film is formed on an input terminal formed on a liquid crystal panel. A flexible wiring board for inputting an inspection signal to perform a lighting inspection of the liquid crystal panel, and on both sides along the direction in which the conductive film extends, extend parallel to each other along the conductive film. A pair of abutting portions that abut each in the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel are provided, and when the abutting portions are pressed against the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel, the flexible substrate and The liquid crystal panels are arranged so as to face each other.

上記の構成によれば、点灯検査を行うためにフレキシブル配線基板を液晶パネルの入力端子に押し当てたときに、導電膜の両側に設けられた一対の当接部は、可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接するので、フレキシブル配線基板に局所的なストレスがかかり難くなる。そのため、フレキシブル配線基板を液晶パネルの入力端子に繰り返し押し当てたとしても、フレキシブル配線基板の損傷が抑制されるので、液晶パネルの入力端子とフレキシブル配線基板の導電膜との間が安定して導通する。したがって、フレキシブル配線基板の損傷を抑制して、液晶パネルの入力端子に検査信号を確実に入力することが可能になる。   According to said structure, when a flexible wiring board is pressed on the input terminal of a liquid crystal panel in order to perform a lighting test | inspection, a pair of contact part provided in the both sides of the electrically conductive film is a flexible substrate and liquid crystal. Since the panels are in contact with each other in the vicinity of the input terminals of the liquid crystal panel so as to face each other, local stress is hardly applied to the flexible wiring board. Therefore, even if the flexible wiring board is repeatedly pressed against the input terminal of the liquid crystal panel, damage to the flexible wiring board is suppressed, so that the conduction between the input terminal of the liquid crystal panel and the conductive film of the flexible wiring board is stable. To do. Accordingly, it is possible to reliably input the inspection signal to the input terminal of the liquid crystal panel while suppressing damage to the flexible wiring board.

上記各当接部の高さは、上記入力端子の高さと上記導電膜の膜厚との和であってもよい。   The height of each contact portion may be the sum of the height of the input terminal and the film thickness of the conductive film.

上記の構成によれば、各当接部の高さが入力端子の高さと導電膜の膜厚との和であるので、点灯検査を行うためにフレキシブル配線基板を液晶パネルの入力端子に押し当てたときに、フレキシブル配線基板の導電膜が液晶パネルの入力端子に当接すると共に、フレキシブル配線基板の各当接部が液晶パネルの入力端子の近傍に当接して、可撓性基板及び液晶パネルが具体的に互いに対向して配置することになる。そのため、入力端子の高さや導電膜の膜厚に起因する局所的なストレスがフレキシブル配線基板にかかり難くなる。   According to the above configuration, since the height of each contact portion is the sum of the height of the input terminal and the film thickness of the conductive film, the flexible wiring board is pressed against the input terminal of the liquid crystal panel in order to perform lighting inspection. When the conductive film of the flexible wiring board contacts the input terminal of the liquid crystal panel, each contact portion of the flexible wiring board contacts the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel, so that the flexible substrate and the liquid crystal panel Specifically, they are arranged to face each other. Therefore, local stress due to the height of the input terminal and the film thickness of the conductive film is difficult to be applied to the flexible wiring board.

上記各当接部は、絶縁材料により構成されていてもよい。   Each of the contact portions may be made of an insulating material.

上記の構成によれば、各当接部と導電膜との間における電気的絶縁性が保持される。   According to said structure, the electrical insulation between each contact part and a electrically conductive film is hold | maintained.

上記導電膜は、互いに並行に延びる複数の配線を有していてもよい。   The conductive film may have a plurality of wirings extending in parallel with each other.

上記の構成によれば、各配線が、例えば、同じ種類の各表示用配線に一斉に検査信号を入力するためのショートバーとなり、本発明の作用効果が具体的に奏される。   According to said structure, each wiring becomes a short bar for inputting a test signal simultaneously to each display wiring of the same kind, for example, and the effect of this invention is show | played concretely.

また、本発明にかかる液晶パネルの検査装置は、液晶パネルに形成された入力端子に検査信号を入力して点灯検査を行う液晶パネルの検査装置であって、可撓性基板と、該可撓性基板に線状に設けられた導電膜とを有し、該導電膜を介して上記液晶パネルの入力端子に検査信号を入力するためのフレキシブル配線基板と、上記液晶パネルの入力端子と上記フレキシブル配線基板の導電膜とを導通させるように、上記フレキシブル配線基板を上記液晶パネルの入力端子に押し当てるための基板押し当て部とを備え、上記フレキシブル配線基板は、上記導電膜の延びる方向に沿った両側に、該導電膜に沿って互いに並行に延びると共に上記液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接する一対の当接部を有し、上記各当接部は、上記基板押し当て部によって上記液晶パネルの入力端子の近傍に押し当てられたときに、上記可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように構成されていることを特徴とする。   The liquid crystal panel inspection apparatus according to the present invention is a liquid crystal panel inspection apparatus that performs a lighting inspection by inputting an inspection signal to an input terminal formed on the liquid crystal panel, and includes a flexible substrate and the flexible substrate. A flexible wiring board for inputting an inspection signal to the input terminal of the liquid crystal panel through the conductive film, and the input terminal of the liquid crystal panel and the flexible A substrate pressing portion for pressing the flexible wiring board against the input terminal of the liquid crystal panel so as to conduct the conductive film of the wiring board; and the flexible wiring board extends along a direction in which the conductive film extends. A pair of abutting portions that extend in parallel with each other along the conductive film and abut each other in the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel. By when it is pressed against the vicinity of the input terminals of the liquid crystal panel, characterized in that the flexible substrate and the liquid crystal panel is configured to be positioned opposite each other.

上記構成によれば、点灯検査を行うために基板押し当て部によってフレキシブル配線基板を液晶パネルの入力端子に押し当てたときに、導電膜の両側に設けられた一対の当接部は、可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接するので、フレキシブル配線基板に局所的なストレスがかかり難くなる。そのため、フレキシブル配線基板を基板押し当て部によって液晶パネルの入力端子に繰り返し押し当てたとしても、フレキシブル配線基板の損傷が抑制されるので、液晶パネルの入力端子とフレキシブル配線基板の導電膜との間が安定して導通する。したがって、フレキシブル配線基板の損傷を抑制して、液晶パネルの入力端子に検査信号を確実に入力することが可能になる。   According to the above configuration, when the flexible wiring board is pressed against the input terminal of the liquid crystal panel by the board pressing portion in order to perform the lighting inspection, the pair of contact portions provided on both sides of the conductive film are flexible. Since the conductive substrate and the liquid crystal panel are in contact with each other in the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel so as to face each other, local stress is hardly applied to the flexible wiring substrate. Therefore, even if the flexible wiring board is repeatedly pressed against the input terminal of the liquid crystal panel by the board pressing portion, damage to the flexible wiring board is suppressed, so that the gap between the input terminal of the liquid crystal panel and the conductive film of the flexible wiring board is suppressed. Is stably conducted. Accordingly, it is possible to reliably input the inspection signal to the input terminal of the liquid crystal panel while suppressing damage to the flexible wiring board.

また、本発明にかかる液晶パネルの検査方法は、可撓性基板と、該可撓性基板に線状に設けられた導電膜と、該導電膜の延びる方向に沿った両側に該導電膜に沿って互いに並行に延びる一対の当接部とを有し、該導電膜を介して液晶パネルに形成された入力端子に検査信号を入力するためのフレキシブル配線基板を用いて点灯検査を行う液晶パネルの検査方法であって、上記可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように上記フレキシブル配線基板を上記液晶パネルの入力端子に押し当てることにより、上記フレキシブル配線基板の導電膜と上記液晶パネルの入力端子とを導通させると共に、上記フレキシブル配線基板の各当接部を上記液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接させる基板押し当て工程と、上記フレキシブル配線基板の導電膜を介して上記液晶パネルの入力端子に対し検査信号を入力する検査信号入力工程とを備えることを特徴する。   In addition, the liquid crystal panel inspection method according to the present invention includes a flexible substrate, a conductive film linearly provided on the flexible substrate, and a conductive film on both sides along the extending direction of the conductive film. A liquid crystal panel having a pair of abutting portions extending in parallel with each other and performing a lighting inspection using a flexible wiring board for inputting an inspection signal to an input terminal formed on the liquid crystal panel through the conductive film The flexible wiring board and the liquid crystal panel are pressed against the input terminal of the liquid crystal panel so that the flexible board and the liquid crystal panel are arranged to face each other. A substrate pressing step of bringing the input terminals of the liquid crystal panel into conduction and contacting the contact portions of the flexible wiring board in the vicinity of the input terminals of the liquid crystal panel; Through the conductive film line substrate to; and a test signal input step of inputting an inspection signal to the input terminals of the liquid crystal panel.

上記方法によれば、基板押し当て工程において、フレキシブル配線基板を液晶パネルの入力端子に押し当てたときに、導電膜の両側に設けられた一対の当接部は、可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接するので、フレキシブル配線基板に局所的なストレスがかかり難くなる。そのため、フレキシブル配線基板を液晶パネルの入力端子に繰り返し押し当てたとしても、フレキシブル配線基板の損傷が抑制されるので、液晶パネルの入力端子とフレキシブル配線基板の導電膜との間が安定して導通する。そして、検査信号入力工程では、その安定した導通状態で導電膜を介して液晶パネルの入力端子に検査信号が入力される。したがって、フレキシブル配線基板の損傷を抑制して、液晶パネルの入力端子に検査信号を確実に入力することが可能になる。   According to the above method, when the flexible wiring substrate is pressed against the input terminal of the liquid crystal panel in the substrate pressing step, the pair of contact portions provided on both sides of the conductive film are the flexible substrate and the liquid crystal panel. Are in contact with each other in the vicinity of the input terminals of the liquid crystal panel so as to be opposed to each other, so that it is difficult for local stress to be applied to the flexible wiring board. Therefore, even if the flexible wiring board is repeatedly pressed against the input terminal of the liquid crystal panel, damage to the flexible wiring board is suppressed, so that the conduction between the input terminal of the liquid crystal panel and the conductive film of the flexible wiring board is stable. To do. In the inspection signal input step, the inspection signal is input to the input terminal of the liquid crystal panel through the conductive film in the stable conduction state. Accordingly, it is possible to reliably input the inspection signal to the input terminal of the liquid crystal panel while suppressing damage to the flexible wiring board.

本発明によれば、フレキシブル配線基板の導電膜の両側に一対の当接部が設けられているので、フレキシブル配線基板の損傷を抑制して、液晶パネルの入力端子に検査信号を確実に入力することができる。   According to the present invention, since the pair of contact portions are provided on both sides of the conductive film of the flexible wiring board, damage to the flexible wiring board is suppressed, and an inspection signal is reliably input to the input terminal of the liquid crystal panel. be able to.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、以下の各実施形態に限定されるものではない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the following embodiments.

《発明の実施形態1》
図1及び図2は、本発明に係るフレキシブル配線基板、それを用いた液晶パネルの検査方法の実施形態1を示している。ここで、図1は、本実施形態の液晶パネルの検査方法を示す斜視図であり、点灯検査の検査プローブとして用いられるフレキシブル配線基板10、及び点灯検査の対象である液晶パネル20を示している。なお、図2は、図1中のII−II線に沿ったフレキシブル配線基板10及び液晶パネル20の断面図である。
Embodiment 1 of the Invention
1 and 2 show Embodiment 1 of a flexible wiring board according to the present invention and a method for inspecting a liquid crystal panel using the same. Here, FIG. 1 is a perspective view showing a liquid crystal panel inspection method according to the present embodiment, and shows a flexible wiring board 10 used as an inspection probe for lighting inspection and a liquid crystal panel 20 that is an object of lighting inspection. . 2 is a cross-sectional view of the flexible wiring board 10 and the liquid crystal panel 20 taken along line II-II in FIG.

液晶パネル20は、図1及び図2に示すように、パネル本体部21と、パネル本体部21の表面に設けられた入力端子22とを備えている。ここで、入力端子22は、パネル本体部21の表示領域D(図9参照)に配設された赤色表示用のソース線(不図示)に接続された入力端子22R、同じく緑色表示用のソース線(不図示)に接続された入力端子22G、及び同じく青色表示用のソース線(不図示)に接続された入力端子22Bを有している。また、各入力端子22R、22G及び22Bは、図1中の上下方向に沿って、例えば、60(=30×2)μmピッチで配列されている。そして、各入力端子22Rの並んだ列、各入力端子22Gの並んだ列、及び各入力端子22Bの並んだ列は、例えば、140μmピッチで互いに平行に配列されている。具体的には、図1において、各入力端子22Rが各入力端子22Gに対し左140μm及び下30μmの左斜め下に配置されると共に、各入力端子22Bが各入力端子22Gに対し右140μm及び上30μmの右斜め上に配置されることにより、各入力端子22R、22G及び22Bは、左右方向に沿って互いに重ならないように配列されている。なお、各入力端子22R、22G及び22Bの高さは、例えば、1μmである。   As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid crystal panel 20 includes a panel body 21 and an input terminal 22 provided on the surface of the panel body 21. Here, the input terminal 22 is an input terminal 22R connected to a red display source line (not shown) disposed in the display area D (see FIG. 9) of the panel body 21, and also a green display source. It has an input terminal 22G connected to a line (not shown) and an input terminal 22B connected to a source line (not shown) for blue display. The input terminals 22R, 22G, and 22B are arranged at a pitch of 60 (= 30 × 2) μm, for example, along the vertical direction in FIG. The row in which the input terminals 22R are arranged, the row in which the input terminals 22G are arranged, and the row in which the input terminals 22B are arranged are arranged in parallel with each other at a pitch of 140 μm, for example. Specifically, in FIG. 1, each input terminal 22R is arranged diagonally to the left of 140 μm left and 30 μm below each input terminal 22G, and each input terminal 22B is 140 μm right and above each input terminal 22G. The input terminals 22R, 22G, and 22B are arranged so as not to overlap each other in the left-right direction by being arranged diagonally upward to the right of 30 μm. In addition, the height of each input terminal 22R, 22G, and 22B is 1 micrometer, for example.

フレキシブル配線基板10は、図2に示すように、可撓性基板11と、可撓性基板11の表面(図2中下面)に線状に形成された導電膜12と、可撓性基板11の表面に導電膜12の延びる方向に沿った両側に互いに平行に(並行に)延びる一対の当接部15とを備えている。   As shown in FIG. 2, the flexible wiring substrate 10 includes a flexible substrate 11, a conductive film 12 formed linearly on the surface (lower surface in FIG. 2) of the flexible substrate 11, and the flexible substrate 11. And a pair of contact portions 15 extending in parallel to each other (in parallel) on both sides along the direction in which the conductive film 12 extends.

可撓性基板11は、ポリイミド樹脂や液晶ポリマーなどにより形成され、その厚さが50μm程度である。   The flexible substrate 11 is formed of a polyimide resin, a liquid crystal polymer, or the like, and has a thickness of about 50 μm.

導電膜12は、銅などの金属膜により構成され、例えば、20μmの膜厚を有している。   The conductive film 12 is made of a metal film such as copper, and has a film thickness of 20 μm, for example.

また、導電膜12は、互いに平行に(並行に)延びるソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bを有している。そして、ソース第1検査配線12Rは、入力端子22Rの列に当接することにより、それらの各入力端子22Rを介して赤色表示用の各ソース線に点灯検査の検査信号が入力されるように構成されている。また、ソース第2検査配線12Gは、入力端子22Gの列に当接することにより、それらの各入力端子22Gを介して緑色表示用の各ソース線に点灯検査の検査信号が入力されるように構成されている。さらに、ソース第3検査配線12Bは、入力端子22Bの列に当接することにより、それらの各入力端子22Bを介して青色表示用の各ソース線に点灯検査の検査信号が入力されるように構成されている。なお、ソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bは、可撓性基板11に金属膜を成膜した後に、その金属膜に対し、レーザー加工やフォトリソグラフィー技術などを利用して形成される。   Further, the conductive film 12 includes a source first inspection wiring 12R, a source second inspection wiring 12G, and a source third inspection wiring 12B that extend in parallel to each other (in parallel). Then, the source first inspection wiring 12R is configured to be in contact with the row of the input terminals 22R so that an inspection signal for lighting inspection is input to each source line for red display via each of the input terminals 22R. Has been. In addition, the source second inspection wiring 12G is configured so that an inspection signal for lighting inspection is input to each source line for green display via each of the input terminals 22G by contacting the row of the input terminals 22G. Has been. Furthermore, the source third inspection wiring 12B is configured such that an inspection signal for lighting inspection is input to each source line for blue display via each of the input terminals 22B by contacting with the row of the input terminals 22B. Has been. The source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B are formed by forming a metal film on the flexible substrate 11, and then applying laser processing or photolithography technology to the metal film. It is formed using etc.

各当接部15は、ポリイミド樹脂などの絶縁材料により形成され、例えば、21μmの高さを有している。なお、各当接部15は、可撓性基板11に、所定形状の絶縁材料を貼り付けたり、絶縁膜を塗布した後にその絶縁膜に対し、レーザー加工やフォトリソグラフィー技術などを利用して形成される。さらに、可撓性基板11に線状の溝を削り出しで形成した後に、その溝の底面にソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bを形成して、その溝の両側壁を当接部15としてもよい。   Each contact portion 15 is formed of an insulating material such as polyimide resin, and has a height of 21 μm, for example. Each contact portion 15 is formed by applying an insulating material of a predetermined shape to the flexible substrate 11 or applying an insulating film to the insulating film using laser processing or photolithography technology. Is done. Further, after forming a linear groove on the flexible substrate 11, a source first inspection wiring 12R, a source second inspection wiring 12G, and a source third inspection wiring 12B are formed on the bottom surface of the groove, Both side walls of the groove may be the contact portion 15.

次に、上記構成のフレキシブル配線基板10を用いた液晶パネル20の検査方法について説明する。なお、本実施形態の液晶パネル20の検査方法は、基板押し当て工程と検査信号入力工程とを備えている。   Next, an inspection method for the liquid crystal panel 20 using the flexible wiring board 10 having the above-described configuration will be described. Note that the inspection method for the liquid crystal panel 20 of the present embodiment includes a substrate pressing step and an inspection signal input step.

<基板押し当て工程>
まず、図1に示すように、液晶パネル20の各入力端子22が配設された領域の上方に、フレキシブル配線基板10をその導電膜12が下側を向くように配置する。
<Substrate pressing process>
First, as shown in FIG. 1, the flexible wiring board 10 is disposed above the region where the input terminals 22 of the liquid crystal panel 20 are disposed so that the conductive film 12 faces downward.

続いて、フレキシブル配線基板10を下降させて、フレキシブル配線基板10を液晶パネル20の各入力端子22に押し当てる。これによれば、導電膜12の両側に設けられた一対の当接部15は、液晶パネル20の入力端子22の近傍に押し当てられたときに、可撓性基板10及び液晶パネル20が互いに対向して配置するように構成されているので、すなわち、各当接部15の高さ(21μm)が入力端子22の高さ(1μm)と導電膜12の膜厚(20μm)との和になっているので、フレキシブル配線基板10のソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bが液晶パネル20の入力端子22R、22G及び22Bにそれぞれ当接すると共に、各当接部15が液晶パネル20の入力端子22の近傍にそれぞれ当接することになる。そのため、液晶パネル20の入力端子22R、22G及び22Bの高さやフレキシブル配線基板10のソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bの膜厚に関係することなく、フレキシブル配線基板10に局所的なストレスがかかり難くなる。   Subsequently, the flexible wiring board 10 is lowered, and the flexible wiring board 10 is pressed against each input terminal 22 of the liquid crystal panel 20. According to this, when the pair of contact portions 15 provided on both sides of the conductive film 12 is pressed against the vicinity of the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20, the flexible substrate 10 and the liquid crystal panel 20 are mutually connected. In other words, the height of each contact portion 15 (21 μm) is the sum of the height of the input terminal 22 (1 μm) and the film thickness of the conductive film 12 (20 μm). Therefore, the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B of the flexible wiring board 10 are in contact with the input terminals 22R, 22G, and 22B of the liquid crystal panel 20, respectively. The contact portion 15 comes into contact with the vicinity of the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20. Therefore, regardless of the height of the input terminals 22R, 22G, and 22B of the liquid crystal panel 20 and the film thickness of the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B of the flexible wiring board 10, Local stress is less likely to be applied to the flexible wiring board 10.

なお、液晶パネル20の入力端子22R、22G及び22Bの近傍とは、図1に示すように、入力端子22Rの左側のフラットな表面の領域、及び入力端子22Bの右側のフラットな表面の領域であり、入力端子22R及び入力端子22Bの周端から30μm〜140μm程度離れた領域である。ここで、入力端子22R及び入力端子22Bの周端からの距離が30μm未満の場合には、各当接部15と入力端子22R及び入力端子22Bとの間の距離が短くなり、各当接部15が入力端子22R及び/又は入力端子22Bに乗り上げるおそれがあり、また、入力端子22R及び入力端子22Bの周端からの距離が140μmを超える場合には、フレキシブル配線基板10が撓み易くなり、可撓性基板11及び液晶パネル20を互いに対向して配置させることが困難になる。   Note that the vicinity of the input terminals 22R, 22G, and 22B of the liquid crystal panel 20 is a flat surface area on the left side of the input terminal 22R and a flat surface area on the right side of the input terminal 22B, as shown in FIG. Yes, it is a region separated from the peripheral ends of the input terminal 22R and the input terminal 22B by about 30 μm to 140 μm. Here, when the distance from the peripheral ends of the input terminal 22R and the input terminal 22B is less than 30 μm, the distance between each contact portion 15 and the input terminal 22R and the input terminal 22B becomes short, and each contact portion. 15 may ride on the input terminal 22R and / or the input terminal 22B, and when the distance from the peripheral ends of the input terminal 22R and the input terminal 22B exceeds 140 μm, the flexible wiring board 10 is likely to bend, It becomes difficult to arrange the flexible substrate 11 and the liquid crystal panel 20 to face each other.

<検査信号入力工程>
さらに、フレキシブル配線基板10のソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bを介して液晶パネル20の入力端子22R、22G及び22Bに対し所定の検査信号をそれぞれ入力して点灯検査を行う。
<Inspection signal input process>
Further, predetermined inspection signals are respectively input to the input terminals 22R, 22G, and 22B of the liquid crystal panel 20 through the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B of the flexible wiring board 10. And check the lighting.

以上説明したように、本実施形態のフレキシブル配線基板10及びそれを用いた液晶パネル20の検査方法によれば、点灯検査を行うためにフレキシブル配線基板10を液晶パネル20の入力端子22に押し当てたときに、導電膜12の両側に設けられた一対の当接部15が、可撓性基板11及び液晶パネル20を互いに対向して配置させるように、液晶パネル20の入力端子22の近傍にそれぞれ当接するので、入力端子22の高さや導電膜12の膜厚に関係することなく、フレキシブル配線基板10に局所的なストレスがかかり難くなる。そのため、フレキシブル配線基板10を液晶パネル20の入力端子22に繰り返し押し当てたとしても、フレキシブル配線基板10の損傷を抑制することができるので、液晶パネル20の入力端子22とフレキシブル配線基板10の導電膜12との間を安定して導通させることができる。したがって、フレキシブル配線基板10の損傷を抑制して、液晶パネル20の入力端子22に検査信号を確実に入力することができる。   As described above, according to the inspection method for the flexible wiring board 10 and the liquid crystal panel 20 using the flexible wiring board 10 of the present embodiment, the flexible wiring board 10 is pressed against the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 in order to perform a lighting inspection. The pair of contact portions 15 provided on both sides of the conductive film 12 are arranged in the vicinity of the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 so that the flexible substrate 11 and the liquid crystal panel 20 are arranged to face each other. Since each contact | abuts, it becomes difficult to apply local stress to the flexible wiring board 10 irrespective of the height of the input terminal 22 or the film thickness of the electrically conductive film 12. Therefore, even if the flexible wiring board 10 is repeatedly pressed against the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20, damage to the flexible wiring board 10 can be suppressed, so that the conduction between the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 and the flexible wiring board 10 can be suppressed. It is possible to stably conduct between the film 12. Accordingly, it is possible to reliably input the inspection signal to the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 while suppressing damage to the flexible wiring board 10.

また、本実施形態のフレキシブル配線基板10及びそれを用いた液晶パネル20の検査方法によれば、液晶パネルの内部に予めショートバーがパターン形成された内部接続による点灯検査と同様の点灯検査ができるので、液晶パネルの表示領域の外側にある周辺部のサイズを小さくすることができる。   Moreover, according to the flexible wiring board 10 of this embodiment and the inspection method of the liquid crystal panel 20 using the same, a lighting inspection similar to the lighting inspection by the internal connection in which the short bar is previously formed in the liquid crystal panel can be performed. Therefore, the size of the peripheral portion outside the display area of the liquid crystal panel can be reduced.

さらに、本実施形態のフレキシブル配線基板10及びそれを用いた液晶パネル20の検査方法によれば、入力端子22の高さや導電膜12の膜厚に関係することなく、液晶パネル20の入力端子22とフレキシブル配線基板10の導電膜12とを安定して導通させることができるので、両者間の導通に必要なフレキシブル配線基板10を液晶パネル20の入力端子22に押し当てる力が小さくて済み、フレキシブル配線基板10をいっそう長寿命化させることができる。   Furthermore, according to the inspection method for the flexible wiring board 10 and the liquid crystal panel 20 using the flexible wiring board 10 of the present embodiment, the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 is not related to the height of the input terminal 22 or the film thickness of the conductive film 12. And the conductive film 12 of the flexible wiring board 10 can be stably conducted. Therefore, the force required to press the flexible wiring board 10 required for conduction between the two and the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 can be reduced, and the flexible wiring board 10 is flexible. The life of the wiring board 10 can be further increased.

《発明の実施形態2》
図3〜図8は、本発明に係るフレキシブル配線基板、それを用いた液晶パネルの検査方法、及び液晶パネルの検査装置の実施形態2を示している。なお、以下の実施形態において、図1及び図2と同じ部分については同じ符号を付して、その詳細な説明を省略する。
<< Embodiment 2 of the Invention >>
3 to 8 show Embodiment 2 of a flexible wiring board, a liquid crystal panel inspection method using the same, and a liquid crystal panel inspection apparatus according to the present invention. In the following embodiments, the same portions as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

図3は、本実施形態のフレキシブル配線基板10aの平面図である。なお、図3では、破線部が液晶パネル20を示している。   FIG. 3 is a plan view of the flexible wiring board 10a of the present embodiment. In FIG. 3, the broken line portion indicates the liquid crystal panel 20.

液晶パネル20は、互いに対向して配置されたアクティブマトリクス基板20a及び対向基板20b、及びそれらの両基板20a及び20bの間に設けられた液晶層(不図示)を含むパネル本体部(21)を備えている。なお、アクティブマトリクス基板20a及び対向基板20bの間には、上記液晶層を包囲するように、枠形状のシール部Sが設けられている。   The liquid crystal panel 20 includes a panel main body (21) including an active matrix substrate 20a and a counter substrate 20b arranged to face each other, and a liquid crystal layer (not shown) provided between the two substrates 20a and 20b. I have. In addition, a frame-shaped seal portion S is provided between the active matrix substrate 20a and the counter substrate 20b so as to surround the liquid crystal layer.

アクティブマトリクス基板20aの表示領域Dには、それぞれが画素を構成する複数の画素電極(不図示)がマトリクス状に配設されている。そして、対向基板20bの表示領域Dには、上記マトリクス状の画素電極の群に対向して配置される共通電極(不図示)が設けられている。また、アクティブマトリクス基板20aには、表示用配線として、上記各画素電極の間に、互いに平行に延びるように複数のゲート線(不図示)と、各ゲート線に直交する方向に互いに平行に延びるように複数のソース線(不図示)とがそれぞれ設けられている。さらに、アクティブマトリクス基板20aは、対向基板20bと重ならない領域を有し、その重ならない領域には、図3に示すように、ドライバ(駆動回路)としてLSIチップを実装するためのCOGパッド部P1及びP2が配置されている。   In the display area D of the active matrix substrate 20a, a plurality of pixel electrodes (not shown) each constituting a pixel are arranged in a matrix. The display area D of the counter substrate 20b is provided with a common electrode (not shown) disposed to face the group of matrix pixel electrodes. Further, the active matrix substrate 20a has a plurality of gate lines (not shown) extending in parallel to each other between the pixel electrodes as display wirings and extending in parallel to each other in a direction orthogonal to the gate lines. In this manner, a plurality of source lines (not shown) are provided. Further, the active matrix substrate 20a has a region that does not overlap with the counter substrate 20b, and the non-overlapping region has a COG pad portion P1 for mounting an LSI chip as a driver (driving circuit) as shown in FIG. And P2 are arranged.

図3における一番左側のCOGパッド部P1には、図4に示すように、複数の入力端子22GO及び22GEが配列されている。ここで、入力端子22GOは、例えば、液晶パネル20の表示領域Dの上端から奇数番目のゲート線の端部に接続された導電部であり、入力端子22GEは、同じく偶数番目のゲート線の端部に接続された導電部である。   As shown in FIG. 4, a plurality of input terminals 22GO and 22GE are arranged on the leftmost COG pad portion P1 in FIG. Here, the input terminal 22GO is, for example, a conductive portion connected to the end of the odd-numbered gate line from the upper end of the display area D of the liquid crystal panel 20, and the input terminal 22GE is also the end of the even-numbered gate line. It is the electroconductive part connected to the part.

また、図3における右側3つの各COGパッド部P2には、図5に示すように、複数の入力端子22R、22G及び22Bが配列されている。ここで、入力端子22Rは、赤色表示用のソース線(R)の端部に接続された導電部であり、入力端子22Gは、緑色表示用のソース線(G)の端部に接続された導電部であり、入力端子22Bは、青色表示用のソース線(B)の端部に接続された導電部である。   Further, as shown in FIG. 5, a plurality of input terminals 22R, 22G, and 22B are arranged in each of the three right COG pad portions P2 in FIG. Here, the input terminal 22R is a conductive part connected to the end of the red display source line (R), and the input terminal 22G is connected to the end of the green display source line (G). It is a conductive part, and the input terminal 22B is a conductive part connected to the end of the source line (B) for blue display.

さらに、各入力端子22GO、22GE、22R、22G及び22Bは、後述する線状の導電膜12によって一度にコンタクトできるようにそれぞれ一列に並んで配置されている。   Further, the input terminals 22GO, 22GE, 22R, 22G, and 22B are arranged in a line so that they can be contacted at once by a linear conductive film 12 described later.

フレキシブル配線基板10aは、上記実施形態1のフレキシブル配線基板10と同様に、可撓性基板11と、可撓性基板11の表面に線状に形成された導電膜12と、可撓性基板11の表面に導電膜12の延びる方向に沿った両側に互いに平行に延びる一対の当接部15とを備え、図3に示すように、液晶パネル20の図中下辺に沿うように矩形状に形成されている。   Similar to the flexible wiring substrate 10 of the first embodiment, the flexible wiring substrate 10 a includes a flexible substrate 11, a conductive film 12 formed linearly on the surface of the flexible substrate 11, and the flexible substrate 11. A pair of contact portions 15 extending in parallel with each other on both sides along the direction in which the conductive film 12 extends are formed on the surface of the liquid crystal panel, and are formed in a rectangular shape along the lower side of the liquid crystal panel 20 as shown in FIG. Has been.

また、フレキシブル配線基板10aには、それぞれ導電膜12として、図3における上辺において、COGパッド部P1の入力端子22GO及び22GEに対応して、互いに平行に延びるゲート第1検査配線12GO及びゲート第2検査配線12GEが図4に示すように設けられ、COGパッド部P2の入力端子22R、22G及び22Bに対応して、互いに平行に延びるソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bが図5に示すように設けられている。   Further, on the flexible wiring substrate 10a, as the conductive film 12, the gate first inspection wiring 12GO and the gate second extending in parallel with each other corresponding to the input terminals 22GO and 22GE of the COG pad portion P1 on the upper side in FIG. The inspection wiring 12GE is provided as shown in FIG. 4, and corresponding to the input terminals 22R, 22G, and 22B of the COG pad portion P2, the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source first inspection wiring extending in parallel with each other. Three inspection wirings 12B are provided as shown in FIG.

さらに、ゲート第1検査配線12GO及びゲート第2検査配線12GEからなる導電膜12、並びに、ソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bからなる導電膜12の延びる方向に沿った両側には、図4及び図5に示すように、互いに平行に延びる一対の当接部15が設けられている。   Furthermore, the conductive film 12 including the gate first inspection wiring 12GO and the gate second inspection wiring 12GE and the conductive film 12 including the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B extend. On both sides along the direction, as shown in FIGS. 4 and 5, a pair of contact portions 15 extending in parallel with each other are provided.

また、フレキシブル配線基板10aの図3における下辺には、横方向に一列に配列するように複数の検査信号入力端子14が設けられ、ゲート第1検査配線12GO、ゲート第2検査配線12GE、ソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12B(各導電膜12)と各検査信号入力端子14とをそれぞれ接続するように複数の引出配線13が設けられている。なお、ゲート第1検査配線12GO、ゲート第2検査配線12GE、ソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bには、図4及び図5に示すように、各引出配線13及び検査信号入力端子14を介して、検査信号発生回路40が接続されている。   Also, a plurality of inspection signal input terminals 14 are provided on the lower side of the flexible wiring board 10a in FIG. 3 so as to be arranged in a row in the horizontal direction, and the gate first inspection wiring 12GO, the gate second inspection wiring 12GE, A plurality of lead wirings 13 are provided so as to connect each inspection signal input terminal 14 with each of the first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B (each conductive film 12). As shown in FIGS. 4 and 5, each of the gate first inspection wiring 12GO, the gate second inspection wiring 12GE, the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection wiring 12B includes An inspection signal generation circuit 40 is connected through the lead wiring 13 and the inspection signal input terminal 14.

次に、本実施形態に係る液晶パネルの検査装置について説明する。図6は、本実施形態の検査装置50を示す上面図であり、図7は、図6の検査装置50を図中下側からみた側面図であり、図8は、図中右側からみた側面図である。   Next, a liquid crystal panel inspection apparatus according to this embodiment will be described. 6 is a top view showing the inspection apparatus 50 of the present embodiment, FIG. 7 is a side view of the inspection apparatus 50 of FIG. 6 as viewed from the lower side in the figure, and FIG. 8 is a side view of the inspection apparatus 50 as viewed from the right side in the figure. FIG.

検査装置50は、ベースプレート31と、ベースプレート31上に設けられたパネルステージ34、プローブステージ35及び一対のエアシリンダー32と、フレキシブル配線基板10aと、フレキシブル配線基板10aを液晶パネル20の各入力端子22に押し当てる基板押し当て部33とを備えている。   The inspection apparatus 50 includes a base plate 31, a panel stage 34 provided on the base plate 31, a probe stage 35 and a pair of air cylinders 32, a flexible wiring board 10 a, and a flexible wiring board 10 a that is connected to each input terminal 22 of the liquid crystal panel 20. And a substrate pressing portion 33 that presses against the substrate.

パネルステージ34は、その上面に位置決めピン(不図示)を有し、その位置決めピンに液晶パネル20の端縁を当接させた状態で、その液晶パネル20が上面に固定されるように構成されている。また、パネルステージ34は、その上面に矩形状の開口部を有し、その開口部を介して、上面に固定された液晶パネル20の表示領域Dに対し、パネルステージ34の下方に位置するバックライト(不図示)からの光が供給されるように構成されている。   The panel stage 34 has a positioning pin (not shown) on its upper surface, and is configured such that the liquid crystal panel 20 is fixed to the upper surface in a state where the edge of the liquid crystal panel 20 is in contact with the positioning pin. ing. In addition, the panel stage 34 has a rectangular opening on its upper surface, and the back located below the panel stage 34 with respect to the display area D of the liquid crystal panel 20 fixed on the upper surface through the opening. Light from a light (not shown) is configured to be supplied.

プローブステージ35は、その上面にフレキシブル配線基板10aを固定するプローブホルダー36が取り付けられ、液晶パネル20の各入力端子22とフレキ検査プローブ10の各導電膜12とを位置合わせするために、X方向、Y方向に移動、及びθ方向に回動できると共に、CCDカメラ及びモニター(不図示)を介して、ステージの位置が確認できるように構成されている。   The probe stage 35 is attached with a probe holder 36 for fixing the flexible wiring board 10a on the upper surface thereof, and in order to align each input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 and each conductive film 12 of the flexible inspection probe 10, in the X direction. The stage can be moved in the Y direction and rotated in the θ direction, and the stage position can be confirmed via a CCD camera and a monitor (not shown).

一対のエアシリンダー32の各ロッド32aの上端には、フレキシブル配線基板10aを上方から押さえる基板押し当て部33が取り付けられている。   A board pressing portion 33 that holds the flexible wiring board 10a from above is attached to the upper ends of the rods 32a of the pair of air cylinders 32.

なお、ベースプレート31、パネルステージ34及びプローブステージ35は、例えば、黒アルマイト処理が施されたアルミニウム合金材により構成されている。   The base plate 31, the panel stage 34, and the probe stage 35 are made of, for example, an aluminum alloy material that has been subjected to black alumite treatment.

次に、上記構成の検査装置50を用いた液晶パネル20の点灯検査について、図6〜図8を用いて説明する。   Next, lighting inspection of the liquid crystal panel 20 using the inspection apparatus 50 having the above-described configuration will be described with reference to FIGS.

まず、パネルステージ34に被検査パネルである液晶パネル20をセットする。   First, the liquid crystal panel 20 as the panel to be inspected is set on the panel stage 34.

続いて、プローブステージ35の位置をモニターで確認しながら、プローブステージ35のプローブホルダー36に固定されたフレキシブル配線基板10aとパネルステージ34上の液晶パネル20との位置合わせを行う。   Subsequently, while confirming the position of the probe stage 35 on the monitor, the flexible wiring board 10a fixed to the probe holder 36 of the probe stage 35 and the liquid crystal panel 20 on the panel stage 34 are aligned.

さらに、エアシリンダー32を作動させることにより、基板押し当て部33を下降させて、フレキシブル配線基板10aをパネルステージ34上の液晶パネル20の各入力端子22に押し当てる(基板押し当て工程)。これによれば、導電膜12の両側に設けられた一対の当接部15は、液晶パネル20の入力端子22の近傍に押し当てられたときに、可撓性基板11及び液晶パネル20が互いに対向して配置するように構成されているので、フレキシブル配線基板10aのゲート第1検査配線12GO、ゲート第2検査配線12GE、ソース第1検査配線12R、ソース第2検査配線12G及びソース第3検査配線12Bが液晶パネル20の入力端子22GO、22GE、22R、22G及び22Bにそれぞれ当接すると共に、各当接部15が液晶パネル20の入力端子22の近傍にそれぞれ当接することになる。そのため、液晶パネル20の入力端子22の高さやフレキシブル配線基板10の導電膜12の膜厚に関係することなく、フレキシブル配線基板10に局所的なストレスがかかり難くなる。   Further, by actuating the air cylinder 32, the substrate pressing portion 33 is lowered to press the flexible wiring substrate 10a against each input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 on the panel stage 34 (substrate pressing step). According to this, when the pair of contact portions 15 provided on both sides of the conductive film 12 are pressed near the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20, the flexible substrate 11 and the liquid crystal panel 20 are mutually connected. Since they are arranged to face each other, the gate first inspection wiring 12GO, the gate second inspection wiring 12GE, the source first inspection wiring 12R, the source second inspection wiring 12G, and the source third inspection of the flexible wiring board 10a. The wiring 12B comes into contact with the input terminals 22GO, 22GE, 22R, 22G, and 22B of the liquid crystal panel 20, and the contact portions 15 come into contact with the vicinity of the input terminals 22 of the liquid crystal panel 20, respectively. Therefore, local stress is hardly applied to the flexible wiring board 10 regardless of the height of the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 and the film thickness of the conductive film 12 of the flexible wiring board 10.

次いで、検査信号発生回路40を作動させることにより、フレキシブル配線基板10aの検査信号入力端子14に検査信号を入力して、液晶パネル20の表示領域Dの全ての画素を点灯状態にする(検査信号入力工程)。   Next, by operating the inspection signal generation circuit 40, an inspection signal is input to the inspection signal input terminal 14 of the flexible wiring board 10a, and all the pixels in the display area D of the liquid crystal panel 20 are turned on (inspection signal). Input process).

最後に、バックライトを点灯させて液晶パネル20の表面を観察することにより、輝点などを検出する。   Finally, a bright spot or the like is detected by turning on the backlight and observing the surface of the liquid crystal panel 20.

以上のようにして、液晶パネル20の点灯検査を行うことができる。   As described above, the lighting test of the liquid crystal panel 20 can be performed.

以上説明したように、本実施形態のフレキシブル配線基板10a、それを用いた液晶パネル20の検査方法及び検査装置50によれば、点灯検査を行うために基板押し当て部33によってフレキシブル配線基板10aを液晶パネル20の各入力端子22に押し当てたときに、導電膜12の両側に設けられた一対の当接部15は、可撓性基板11及び液晶パネル20が互いに対向して配置するように液晶パネル20の入力端子22の近傍にそれぞれ当接するので、入力端子22の高さや導電膜12の膜厚に関係することなく、フレキシブル配線基板10aに局所的なストレスがかかり難くなる。そのため、フレキシブル配線基板10aを基板押し当て部33によって液晶パネル20の入力端子22に繰り返し押し当てたとしても、フレキシブル配線基板20の損傷が抑制されるので、液晶パネル20の入力端子22とフレキシブル配線基板10aの導電膜12との間を安定して導通させることができる。したがって、フレキシブル配線基板10aの損傷を抑制して、液晶パネル20の入力端子22に検査信号を確実に入力することができる。   As described above, according to the flexible wiring board 10a of this embodiment and the inspection method and the inspection apparatus 50 of the liquid crystal panel 20 using the flexible wiring board 10a, the flexible wiring board 10a is mounted by the substrate pressing portion 33 in order to perform lighting inspection. When pressed against each input terminal 22 of the liquid crystal panel 20, the pair of contact portions 15 provided on both sides of the conductive film 12 are arranged so that the flexible substrate 11 and the liquid crystal panel 20 face each other. Since the liquid crystal panel 20 abuts in the vicinity of the input terminal 22, local stress is hardly applied to the flexible wiring substrate 10 a regardless of the height of the input terminal 22 and the film thickness of the conductive film 12. Therefore, even if the flexible wiring board 10a is repeatedly pressed against the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 by the board pressing portion 33, damage to the flexible wiring board 20 is suppressed, so the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 and the flexible wiring The conductive film 12 of the substrate 10a can be stably connected. Therefore, it is possible to reliably input the inspection signal to the input terminal 22 of the liquid crystal panel 20 while suppressing damage to the flexible wiring board 10a.

なお、上記各実施形態では、液晶パネルの点灯検査について説明したが、本発明は、種々の電子装置の検査にも適用することができる。   In each of the above embodiments, the lighting inspection of the liquid crystal panel has been described. However, the present invention can also be applied to inspection of various electronic devices.

以上説明したように、本発明は、押し当てる力が小さくても液晶パネルの入力端子との良好なコンタクトを得ることができるので、可撓性基板により構成された検査プローブについて有用である。   As described above, the present invention is useful for an inspection probe formed of a flexible substrate because it can obtain a good contact with the input terminal of the liquid crystal panel even if the pressing force is small.

実施形態1に係る液晶パネルの検査方法を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view illustrating a liquid crystal panel inspection method according to the first embodiment. 図1中のII−II線に沿ったフレキシブル配線基板10及び液晶パネル20の断面図である。It is sectional drawing of the flexible wiring board 10 and the liquid crystal panel 20 which followed the II-II line in FIG. 実施形態2に係るフレキシブル配線基板10aの上面図である。6 is a top view of a flexible wiring board 10a according to Embodiment 2. FIG. COGパッド部P1におけるフレキシブル配線基板10aの導電膜12を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the electrically conductive film 12 of the flexible wiring board 10a in the COG pad part P1. COGパッド部P2におけるフレキシブル配線基板10aの導電膜12を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the electrically conductive film 12 of the flexible wiring board 10a in the COG pad part P2. 実施形態2に係る液晶パネル20の検査装置50を示す上面図である。6 is a top view showing an inspection device 50 of a liquid crystal panel 20 according to Embodiment 2. FIG. 液晶パネル20の検査装置50を示す第1の側面図である。FIG. 2 is a first side view showing an inspection apparatus 50 for a liquid crystal panel 20. 液晶パネル20の検査装置50を示す第2の側面図である。4 is a second side view showing an inspection device 50 of the liquid crystal panel 20. FIG. 一般的なCOG実装に対応した液晶パネル120を示す平面模式図である。It is a plane schematic diagram which shows the liquid crystal panel 120 corresponding to general COG mounting. 従来の導電ゴムからなるショートバーによる検査方法を示す平面模式図である。It is a plane schematic diagram which shows the inspection method by the short bar which consists of the conventional conductive rubber. 従来のフレキ検査プローブ110aによる検査方法を示す平面模式図である。It is a plane schematic diagram which shows the inspection method by the conventional flexible inspection probe 110a. 図11中のXII−XII線に沿った断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram along the XII-XII line in FIG. 従来のフレキ検査プローブ110bによる検査方法を示す平面模式図である。It is a plane schematic diagram which shows the inspection method by the conventional flexible inspection probe 110b.

符号の説明Explanation of symbols

10,10a フレキシブル配線基板
11 可撓性基板
12 導電膜
12R ソース第1検査配線
12G ソース第2検査配線
12B ソース第3検査配線
12GE ゲート第1検査配線
12GO ゲート第2検査配線
15 当接部
20 液晶パネル
22,22R,22G,22B,22GE,22GO 入力端子
33 基板押し当て部
50 検査装置
10, 10a Flexible wiring substrate 11 Flexible substrate 12 Conductive film 12R Source first inspection wiring 12G Source second inspection wiring 12B Source third inspection wiring 12GE Gate first inspection wiring 12GO Gate second inspection wiring 15 Contact portion 20 Liquid crystal Panel 22, 22R, 22G, 22B, 22GE, 22GO Input terminal 33 Substrate pressing part 50 Inspection device

Claims (6)

可撓性基板と、
上記可撓性基板に線状に設けられた導電膜とを有し、
液晶パネルに形成された入力端子に上記導電膜を介して検査信号を入力して、該液晶パネルの点灯検査を行うためのフレキシブル配線基板であって、
上記導電膜の延びる方向に沿った両側には、該導電膜に沿って互いに並行に延びると共に上記液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接する一対の当接部が設けられ、
上記各当接部は、上記液晶パネルの入力端子の近傍に押し当てられたときに、上記可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように構成されていることを特徴とするフレキシブル配線基板。
A flexible substrate;
A conductive film linearly provided on the flexible substrate;
A flexible wiring board for inputting a test signal to the input terminal formed on the liquid crystal panel via the conductive film and performing a lighting test on the liquid crystal panel,
On both sides along the extending direction of the conductive film, a pair of contact portions extending in parallel with each other along the conductive film and contacting the vicinity of the input terminals of the liquid crystal panel are provided.
Each of the contact portions is configured so that the flexible substrate and the liquid crystal panel are arranged to face each other when pressed against the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel. Wiring board.
請求項1に記載されたフレキシブル配線基板において、
上記各当接部の高さは、上記入力端子の高さと上記導電膜の膜厚との和であることを特徴とするフレキシブル配線基板。
In the flexible wiring board according to claim 1,
The height of each said contact part is the sum of the height of the said input terminal, and the film thickness of the said electrically conductive film, The flexible wiring board characterized by the above-mentioned.
請求項1に記載されたフレキシブル配線基板において、
上記各当接部は、絶縁材料により構成されていることを特徴とするフレキシブル配線基板。
In the flexible wiring board according to claim 1,
Each said contact part is comprised with the insulating material, The flexible wiring board characterized by the above-mentioned.
請求項1に記載されたフレキシブル配線基板において、
上記導電膜は、互いに並行に延びる複数の配線を有していることを特徴とするフレキシブル配線基板。
In the flexible wiring board according to claim 1,
The flexible conductive substrate, wherein the conductive film has a plurality of wirings extending in parallel to each other.
液晶パネルに形成された入力端子に検査信号を入力して点灯検査を行う液晶パネルの検査装置であって、
可撓性基板と、該可撓性基板に線状に設けられた導電膜とを有し、該導電膜を介して上記液晶パネルの入力端子に検査信号を入力するためのフレキシブル配線基板と、
上記液晶パネルの入力端子と上記フレキシブル配線基板の導電膜とを導通させるように、上記フレキシブル配線基板を上記液晶パネルの入力端子に押し当てるための基板押し当て部とを備え、
上記フレキシブル配線基板は、上記導電膜の延びる方向に沿った両側に、該導電膜に沿って互いに並行に延びると共に上記液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接する一対の当接部を有し、
上記各当接部は、上記基板押し当て部によって上記液晶パネルの入力端子の近傍に押し当てられたときに、上記可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように構成されていることを特徴とする液晶パネルの検査装置。
An inspection apparatus for a liquid crystal panel that performs a lighting inspection by inputting an inspection signal to an input terminal formed on the liquid crystal panel,
A flexible wiring board having a flexible substrate and a conductive film linearly provided on the flexible substrate, and for inputting an inspection signal to the input terminal of the liquid crystal panel via the conductive film;
A substrate pressing portion for pressing the flexible wiring board against the input terminal of the liquid crystal panel so as to conduct the input terminal of the liquid crystal panel and the conductive film of the flexible wiring board;
The flexible wiring board has a pair of contact portions on both sides along the direction in which the conductive film extends, extending in parallel with each other along the conductive film and in contact with the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel,
Each of the contact portions is configured such that the flexible substrate and the liquid crystal panel are arranged to face each other when pressed against the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel by the substrate pressing portion. A liquid crystal panel inspection device characterized by the above.
可撓性基板と、該可撓性基板に線状に設けられた導電膜と、該導電膜の延びる方向に沿った両側に該導電膜に沿って互いに並行に延びる一対の当接部とを有し、該導電膜を介して液晶パネルに形成された入力端子に検査信号を入力するためのフレキシブル配線基板を用いて点灯検査を行う液晶パネルの検査方法であって、
上記可撓性基板及び液晶パネルが互いに対向して配置するように上記フレキシブル配線基板を上記液晶パネルの入力端子に押し当てることにより、上記フレキシブル配線基板の導電膜と上記液晶パネルの入力端子とを導通させると共に、上記フレキシブル配線基板の各当接部を上記液晶パネルの入力端子の近傍にそれぞれ当接させる基板押し当て工程と、
上記フレキシブル配線基板の導電膜を介して上記液晶パネルの入力端子に対し検査信号を入力する検査信号入力工程とを備えることを特徴する液晶パネルの検査方法。
A flexible substrate, a conductive film linearly provided on the flexible substrate, and a pair of contact portions extending in parallel with each other along the conductive film on both sides along the extending direction of the conductive film. A liquid crystal panel inspection method for performing a lighting inspection using a flexible wiring board for inputting an inspection signal to an input terminal formed on the liquid crystal panel through the conductive film,
By pressing the flexible wiring substrate against the input terminal of the liquid crystal panel so that the flexible substrate and the liquid crystal panel are disposed to face each other, the conductive film of the flexible wiring substrate and the input terminal of the liquid crystal panel are A substrate pressing step of bringing each contact portion of the flexible wiring board into contact with the vicinity of the input terminal of the liquid crystal panel;
An inspection signal input step of inputting an inspection signal to an input terminal of the liquid crystal panel through the conductive film of the flexible wiring board.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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