JP2007246974A - Coating method for extra-long shaft body and coating apparatus for extra-long shaft body - Google Patents
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- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims description 57
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims description 39
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 27
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims abstract description 15
- 102000029749 Microtubule Human genes 0.000 claims description 10
- 108091022875 Microtubule Proteins 0.000 claims description 10
- 210000004688 microtubule Anatomy 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 claims description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 34
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 12
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- -1 SUS316L Inorganic materials 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 3
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 3
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 3
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000975 bioactive effect Effects 0.000 description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 210000005239 tubule Anatomy 0.000 description 2
- 229910018131 Al-Mn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018461 Al—Mn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017518 Cu Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017752 Cu-Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017943 Cu—Zn Inorganic materials 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003310 Ni-Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001362 Ta alloys Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004337 Ti-Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910011209 Ti—Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004847 absorption spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 229910052586 apatite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002473 artificial blood Substances 0.000 description 1
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 1
- 230000017531 blood circulation Effects 0.000 description 1
- 230000023555 blood coagulation Effects 0.000 description 1
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- TVZPLCNGKSPOJA-UHFFFAOYSA-N copper zinc Chemical compound [Cu].[Zn] TVZPLCNGKSPOJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000502 dialysis Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 210000002249 digestive system Anatomy 0.000 description 1
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 1
- 238000010893 electron trap Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001903 high density polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004700 high-density polyethylene Substances 0.000 description 1
- KHYBPSFKEHXSLX-UHFFFAOYSA-N iminotitanium Chemical compound [Ti]=N KHYBPSFKEHXSLX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012567 medical material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- VSIIXMUUUJUKCM-UHFFFAOYSA-D pentacalcium;fluoride;triphosphate Chemical compound [F-].[Ca+2].[Ca+2].[Ca+2].[Ca+2].[Ca+2].[O-]P([O-])([O-])=O.[O-]P([O-])([O-])=O.[O-]P([O-])([O-])=O VSIIXMUUUJUKCM-UHFFFAOYSA-D 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 210000002345 respiratory system Anatomy 0.000 description 1
- 229910001285 shape-memory alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 230000002485 urinary effect Effects 0.000 description 1
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 1
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
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Abstract
【課題】極細管もしくはワイヤ状の長軸体の内周面あるいは外周面に、目的とする材料のスパッタリングを良好に行なうことができるようにする。
【解決手段】、真空容器1内に、重力方向に沿っていずれか一方をスパッタターゲットとし、他方を被スパッタ体とする極細管による第1の極細長軸体4と第2の極細長軸体5を同軸心上に、配置する。プラズマソースガスを導入するとともに、マイクロ波導入とミラー磁場印加により、ハーモニックECRプラズマを発生させてスパッタリングを行なう。このとき、極細長軸体が重力方向に配置したことにより、熱膨張による伸張、スパッタリングによる細りによる極細長軸体間の軸方向位置における間隔の変動を回避する。
【選択図】図1An object of the present invention is to make it possible to satisfactorily perform sputtering of a target material on an inner peripheral surface or an outer peripheral surface of an extra-fine tube or a wire-like long shaft.
In a vacuum vessel, a first ultralong shaft body and a second ultrathin shaft body are formed of ultrathin tubes, one of which is a sputter target along the direction of gravity and the other is a sputter target. 5 is placed on the same axis. While introducing the plasma source gas, sputtering is performed by generating harmonic ECR plasma by introducing a microwave and applying a mirror magnetic field. At this time, since the very long shafts are arranged in the direction of gravity, fluctuations in the distance between the very long shafts in the axial direction due to expansion due to thermal expansion and thinning due to sputtering can be avoided.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、極細長軸体へのコーティング方法および極細長軸体へのコーティング装置に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a coating method for a very long shaft body and a coating apparatus for a very long shaft body.
例えば医療関連の、泌尿器系、呼吸器系、消化器系、循環器系等における透析用のフィルタ、チューブ類、人工血管などのカテーテル等において、患者の苦痛の軽減から、より細いいわゆる極細管の要求が高まっている。
また、この医療関係等に用いるチューブ、カテーテルにあっては、その内周面に、化学的安定化変質防止、血液凝固防止、血液等の流通性向上等の目的をもって、生体合金、Au、Ag等の金属、あるいはプラスティック等の各種材料を強固に、かつ均質、均一厚さに成膜することが望まれる。
しかしながら、その内径が1mm以下の極細管において、その内周面に目的とする材料をコーティングするコーティング方法は、未だ確立されていない。
For example, dialysis filters, tubes, catheters such as artificial blood vessels in the urinary system, respiratory system, digestive system, circulatory system, etc., related to medical care, reduce the patient's pain, so that the so-called ultrathin tubes The demand is growing.
In addition, the tubes and catheters used in medical relations, etc. have bioalloys, Au, Ag on the inner peripheral surface thereof for the purpose of chemical stabilization and alteration prevention, blood coagulation prevention, blood circulation improvement, and the like. It is desired to form a film of various materials such as metals, plastics, and the like in a strong, uniform and uniform thickness.
However, a coating method for coating a target material on the inner peripheral surface of an ultrathin tube having an inner diameter of 1 mm or less has not been established yet.
従来、通常の管体内周面への成膜を行うコーティング方法としては、ドライコーティング方法がある。これは、高気圧プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)あるいはプラズマPVD(Physical Vapor Deposition)によるものであるが、細管内に低気圧条件下でプラズマを生成することが困難であることから、これら成膜方法を上述した医療用細管に適用することはできない。
このために、細管に対する成膜は、ウェットコーティングによることが主流となっていた。しかしながら、この方法による場合、コーティングの密着性が弱いという致命的な問題があるばかりでなく,コーティング材の選定の自由度が小さく、また、この場合においても極細管への適用はできない。
Conventionally, there is a dry coating method as a coating method for forming a film on a normal peripheral surface of a tubular body. This is due to high pressure plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) or plasma PVD (Physical Vapor Deposition), but it is difficult to generate plasma in a narrow tube under low pressure conditions. It cannot be applied to the medical thin tubes described above.
For this reason, the mainstream for film formation on thin tubes is wet coating. However, according to this method, there is not only a fatal problem that the adhesion of the coating is weak, but also the degree of freedom in selecting the coating material is small, and even in this case, it cannot be applied to the ultrathin tube.
これに対して、本発明者等は、先に、例えば医療用細管内に、ECR(Electron Cyclotron Resonance:電子サイクロトロン共鳴)によってプラズマ生成を行って、これら細管の内周面に各種材料のスパッタリング成膜を行うコーティング方法とコーティング装置を提案した(例えば特許文献1、特許文献2参照)。
On the other hand, the present inventors firstly generated plasma by ECR (Electron Cyclotron Resonance) in, for example, medical tubules, and sputtered various materials on the inner peripheral surfaces of these tubules. A coating method and a coating apparatus for forming a film have been proposed (see, for example,
このECRによるプラズマ発生によってスパッタリングする方法は、目的とするコーティング、すなわち成膜がなされる被成膜管内に同心的に、ワイヤ状のスパッタリング材のターゲットを配置し、両者間の空間に、プラズマソースガスの導入、マイクロ波の導入、磁場の印加によってECRを発生させてプラズマを生成し、これによって発生させたイオンを陰極側のターゲットに衝撃させることによってこのターゲット材を叩き出して、被成膜管の内周面にスパッタリング成膜させるものである。 In this sputtering method using plasma generated by ECR, a target of a wire-like sputtering material is placed concentrically in a target tube for film formation, that is, a film is formed, and a plasma source is placed in the space between the two. ECR is generated by introduction of gas, introduction of microwave, and application of magnetic field to generate plasma, and the target material is knocked out by bombarding the target on the cathode side to form a film. Sputtering film formation is performed on the inner peripheral surface of the tube.
しかしながら、このECR法によっても、上述した1mm以下の極細管の内周面に各種材料のスパッタリングを良好に行うことは極めて困難、ないしは不可能である。
これは、上述したECR法による場合、電子の軌跡、すなわち電子の閉じ込めを十分狭小にすることができないことから、狭隘な極細管の中心軸上に配置されたターゲットと極細管の内周面との間の狭間隔(狭ギャップ)において、電子がプラズマソースガスの原子に衝突することによってプラズマ発生に寄与すべき電子が、空間の壁に衝突して消失してしまうこと、また強い電界による加速によってプラズマソースガスとの衝突確率が小さくなることにより、極細管内でのプラズマ生成ができなくなることに因る。
This is because the electron trajectory, that is, the electron confinement cannot be sufficiently narrowed by the above-described ECR method, so that the target disposed on the central axis of the narrow microtubule and the inner peripheral surface of the microtubule Electrons that should contribute to plasma generation when electrons collide with atoms in the plasma source gas at a narrow interval (narrow gap) between them collide with the walls of the space and disappear, and are accelerated by a strong electric field. This is because the probability of collision with the plasma source gas is reduced by this, so that plasma generation in the ultrathin tube becomes impossible.
本発明者らは、先に極細管内に各種材料を良好にスパッタして優れた膜質のコーティング方法およびコーティング装置を、特願2005−121592号で提案した。
本発明は、更に安定して、良質のスパッタ膜を、例えばその長さがメートルオーダーにも及ぶ極細管もしくはワイヤ状の長軸体の内周面あるいは外周面に、目的とする材料のスパッタリングを行なうことができる極細長軸体へのコーティング方法および極細長軸体へのコーティング装置を提供するものである。
The present inventors previously proposed in Japanese Patent Application No. 2005-121592 an excellent film quality coating method and coating apparatus by satisfactorily sputtering various materials in an ultrathin tube.
The present invention provides a more stable and high-quality sputtered film, for example, sputtering of a target material on the inner or outer peripheral surface of a microtubule or wire-shaped long shaft whose length is in the order of meters. The present invention provides a coating method for an ultra-thin shaft body and a coating apparatus for the ultra-long shaft body that can be performed.
本発明による極細長軸体へのコーティング方法は、真空領域内に、重力方向に沿って極細管による第1の極細長軸体と第2の極細長軸体を同軸心上に、かつ両極細長軸体間に所要のギャップを保持して配置し、この状態で、上記第1および第2の極細長軸体のいずれか一方をスパッタターゲットとし、他方を被スパッタ体として、そのスパッタターゲット側を負側とする電圧を印加し、上記ギャップ内に、プラズマソースガスを導入するとともに、マイクロ波導入とミラー磁場印加により、ハーモニックECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマを発生させて上記第1の極細長軸体の内周面もしくは上記第2の極細長軸体の外周面に上記スパッタターゲット材のコーティングを施すことを特徴とする。 According to the coating method of the very long shaft body according to the present invention, the first and second very long shaft bodies are formed on the same axis in the vacuum region along the direction of gravity. A required gap is arranged between the shaft bodies, and in this state, either one of the first and second very long shaft bodies is a sputter target, the other is a sputter target, and the sputter target side is A negative voltage is applied, a plasma source gas is introduced into the gap, and a harmonic ECR (Electron Cyclotron Resonance) plasma is generated by introducing a microwave and applying a mirror magnetic field to generate the first very long axis. A coating of the sputter target material is performed on the inner peripheral surface of the body or the outer peripheral surface of the second extra long shaft body.
また、本発明は、上記極細長軸体へのコーティング方法にあって、上記ミラー磁場を上記軸心方向に移動させて主たるプラズマ生成部を上記軸心方向に移動させることを特徴とする。
また、同様に、上記極細長軸体へのコーティング方法にあって、スパッタターゲット側に繰り返し負電圧パルスバイアスを印加することを特徴とする。
The present invention is also directed to the coating method on the ultra-long and thin shaft body, wherein the mirror magnetic field is moved in the axial direction and the main plasma generation unit is moved in the axial direction.
Similarly, in the coating method for the above-mentioned ultra-thin shaft, a negative voltage pulse bias is repeatedly applied to the sputter target side.
本発明による極細長軸体へのコーティング装置は、真空容器と、該真空容器の外周に配置されたミラー磁場発生装置と、プラズマソースガス供給源と、マイクロ波発生装置と、上記真空容器内に、重力方向に沿って極細管による第1の極細長軸体と第2の極細長軸体を同軸心上に、かつ両極細長軸体間に所要のギャップを保持して配置する極細長軸体の配置部と、上記第1および第2の極細長軸体間に、所要の電圧を印加する電源部とを有し、上記第1および第2の極細長軸体のいずれか一方をスパッタターゲットとし、他方を被スパッタ体としてそのスパッタターゲット側を負側とする電圧を印加し、上記ギャップ内に、上記プラズマソースガス源からのプラズマソースガスを導入するとともに、上記マイクロ波発生装置と上記ミラー磁場発生装置とによりマイクロ波導入とミラー磁場印加により、ハーモニックECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマを発生させて上記第1の極細長軸体の内周面もしくは上記第2の極細長軸体の外周面に上記スパッタターゲット材のコーティングを施すことを特徴とする。 According to the present invention, there is provided a coating apparatus for an extremely long shaft body, a vacuum container, a mirror magnetic field generator disposed on the outer periphery of the vacuum container, a plasma source gas supply source, a microwave generator, and the vacuum container. A very long shaft body in which a first ultra long shaft body and a second ultra long shaft body by a micro tube are arranged coaxially along the direction of gravity and holding a required gap between both the long shaft bodies. And a power supply unit for applying a required voltage between the first and second elongated shaft bodies, and one of the first and second elongated shaft bodies is a sputtering target. And applying a voltage with the other side to be sputtered and the sputter target side being a negative side, introducing a plasma source gas from the plasma source gas source into the gap, and the microwave generator and the mirror magnetic field Harmonic ECR (Electron Cyclotron Resonance) plasma is generated by introducing a microwave and applying a mirror magnetic field by a raw device, and is generated on the inner peripheral surface of the first ultrathin shaft body or the outer peripheral surface of the second ultrathin shaft body. The sputter target material is coated.
また、本発明は、上記極細長軸体へのコーティング装置にあって、上記極細長軸体の配置部に、上記第2の極細長軸体に、軸方向に沿って重力方向に所要の張力を付与する張力付与手段が配置されて成ることを特徴とする。
また、本発明は、上記極細長軸体へのコーティング装置にあって、上記磁場発生装置は、上記真空容器の外周に、上記第1および第2の極細長軸体の軸心方向に沿って、複数の電磁コイルが配置されて成り、該複数の電磁コイルに対する通電もしくは通電量を切換えて主たるプラズマ生成位置を上記第1および第2の極細長軸体軸の軸心方向に沿って移動するようにしたことを特徴とする。
また、本発明は、上記極細長軸体へのコーティング装置にあって、上記極細管と上記スパッタターゲットとの間に、所要の電圧を印加する上記電源部が、上記スパッタターゲット側に負電圧パルスバイアスを印加する電源部であることを特徴とする。
Further, the present invention is a coating apparatus for the above-mentioned extremely long and thin shaft body, in which the required tension in the gravity direction along the axial direction is arranged on the arrangement portion of the above-mentioned extremely long and slender shaft body and on the second very long and narrow shaft body. It is characterized in that a tension applying means for applying is arranged.
The present invention is also directed to a coating apparatus for the above-mentioned ultra-thin shaft body, wherein the magnetic field generator is arranged on the outer circumference of the vacuum vessel along the axial direction of the first and second ultra-thin shaft bodies. A plurality of electromagnetic coils are arranged, and the main plasma generation position is moved along the axial directions of the first and second very long shaft bodies by switching energization or energization amount to the plurality of electromagnetic coils. It is characterized by doing so.
The present invention is also directed to a coating apparatus for the ultrathin shaft body, wherein the power supply unit for applying a required voltage between the ultrathin tube and the sputter target includes a negative voltage pulse on the sputter target side. The power supply unit applies a bias.
上述したように、本発明によるコーティング方法および装置にあっては、いずれか一方をスパッタターゲットとし、他方を被スパッタ体極細管とする第1の極細長軸体と、第2の極細長軸体とを同軸心上に両極細長軸体間に所要のギャップを保持して配置した状態で、スパッタターゲット側を負側とする電圧を印加し、ハーモニック(高調波)ECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマによるスパッタを行うものである。
このように、ハーモニックECRプラズマ、すなわち例えば2次高調波、3次高調波プラズマを発生させ、これを利用してスパッタを行うことから、後述するところから明らかなように、低気圧でのプラズマ生成を行うことができること、また、電子の閉じ込めを良好に行うことができるという効果を有するものである。
したがって、狭隘な空間内で、良好にプラズマ生成がなされ、極細管、例えば1mm以下に及ぶ内径を有するカテーテル等の極細管の内壁面に対しても、良質なコーティングをスパッタリングによって形成することができるものである。
As described above, in the coating method and apparatus according to the present invention, the first ultralong shaft body and the second ultrathin shaft body in which either one is used as a sputter target and the other is used as a sputter target ultrafine tube. Is placed on the same axis with the required gap between the two elongated bodies, and a voltage with the sputter target side as the negative side is applied, and harmonic (harmonic) ECR (Electron Cyclotron Resonance) plasma is used. Sputtering is performed.
In this way, harmonic ECR plasma, that is, second harmonic and third harmonic plasma, for example, is generated and sputtered using this, so that plasma generation at low pressure is evident as will be described later. In addition, it has an effect that electrons can be well confined.
Therefore, plasma can be generated satisfactorily in a narrow space, and a high-quality coating can be formed by sputtering on the inner wall surface of a microtubule, for example, a microtubule having an inner diameter of 1 mm or less. Is.
また、上述したように、ターゲット側に繰り返し負電圧パルスバイアスを印加することによって、そのオフ時間において、イオンシースの減少、すなわち、プラズマの回復を行うようにすることによって、良好にスパッタリングを行うことができるものである。
これは、ターゲット側に負の直流電圧を印加しつづける場合、イオンシースが拡大していき、これによってプラズマが消滅し、ターゲットへのイオン電流密度が低下し、スパッタリングが低下ないしは停止する現象を、負の繰り返しパルスバイアス電圧を印加する方法をとることによって負の電圧のオフ時においてイオンシースの縮小がなされ、これによりプラズマの回復を図ることができるものである。
Further, as described above, by applying a negative voltage pulse bias repeatedly to the target side, the ion sheath is reduced, that is, the plasma is recovered during the off time, so that sputtering can be performed satisfactorily. It is something that can be done.
This is because when the negative DC voltage is continuously applied to the target side, the ion sheath expands, thereby the plasma disappears, the ion current density to the target decreases, and the phenomenon in which sputtering decreases or stops, By adopting a method in which a negative repetitive pulse bias voltage is applied, the ion sheath is reduced when the negative voltage is turned off, whereby the plasma can be recovered.
このように、本発明にあっては、ハーモニックECRプラズマという特異な共鳴現象を利用することにより、低気圧、短ギャップでの放電を可能にし、極細長軸体の内周面もしくは外周面に、良質の成膜を効率よく行なうことができるものである。しかし、この場合、その長さが例えばメートルオーダー極細管内周面に対してスパッタを行なう場合、極細長軸体の全長に渡って均一、均質なスパッタを行なうことに、問題が生じてくる場合がある。
これは、第1および第2の極細長軸体間の間隔が狭小になる従い、プラズマ生成領域(ギャップ長)はより安定して、正確に保持することが必要となり、特にその長さが大となると、スパッタターゲットが、スパッタリング動作時の温度上昇により熱膨張したり、スパッタの進行によってスパッタターゲットに細りが生じることによって、撓みが生じやすく、極細スパッタターゲットと極細管の内周面との距離が不均一あるいは不安定になって、成膜が状態が不均一、あるいは不安定になるおそれがある。
ところが、上述した本発明方法および装置によれば、極細管を重力方向に沿って配置することにより、その伸縮が主として重力方向、すなわち軸心方向になされることから、第1および第2の極細長軸体間の距離の変動が効果的に改善される。
As described above, in the present invention, by utilizing a unique resonance phenomenon called harmonic ECR plasma, discharge at a low pressure and a short gap is possible, and on the inner or outer peripheral surface of the very long shaft body, High quality film formation can be performed efficiently. However, in this case, for example, when sputtering is performed on the inner peripheral surface of a metric order ultrathin tube, there may be a problem in performing uniform and homogeneous sputtering over the entire length of the ultrathin shaft body. is there.
This is because the distance between the first and second elongated shafts becomes narrower, and the plasma generation region (gap length) needs to be held more stably and accurately. Then, the sputter target is likely to be bent due to thermal expansion due to a temperature rise during the sputtering operation or thinning of the sputter target due to the progress of sputtering, and the distance between the ultrafine sputter target and the inner peripheral surface of the ultrafine tube. May become non-uniform or unstable, and the film formation may be non-uniform or unstable.
However, according to the above-described method and apparatus of the present invention, by arranging the microtubules along the direction of gravity, the expansion and contraction is mainly performed in the direction of gravity, that is, in the axial direction. The variation in the distance between the long axis bodies is effectively improved.
また、本発明においては、磁気共鳴によるプラズマ発生によってターゲット材のスパッタを行なうものであるが、この磁気共鳴は、ミラー磁界でプラズマを発生させる態様としたことによって管軸方向の電子の閉じ込めが良好になされ、イオン発生率を高め、低気圧で高密度イオンが得られ、スパッタ効率を高めることができる。 Further, in the present invention, sputtering of the target material is performed by generating plasma by magnetic resonance, but this magnetic resonance has a mode in which plasma is generated by a mirror magnetic field, so that electron confinement in the tube axis direction is good. Thus, the ion generation rate can be increased, high density ions can be obtained at low pressure, and the sputtering efficiency can be increased.
また、この磁気共鳴は、マイクロ波の導入側とこれから離間した位置とで共鳴条件が変化するものであり、特に上述したように、軸方向の長さが大きくなるとその相違が顕著となるが、本発明においては、ミラー磁界を軸心方向に移動させ、かつその通電制御を行うことによって、各部において最適なプラズマ発生を制御することができ、上述したスパッタターゲットと極細管の内周面との距離の均一化および安定化が得られることが相俣って成膜の均一性、制御性を高めることができる。 In addition, the resonance condition of the magnetic resonance changes between the microwave introduction side and the position away from the microwave, and as described above, the difference becomes significant as the axial length increases. In the present invention, by moving the mirror magnetic field in the axial direction and controlling the energization, optimal plasma generation can be controlled in each part, and the above-described sputter target and the inner peripheral surface of the microtubule can be controlled. In combination with the uniformity and stabilization of the distance, the uniformity and controllability of the film formation can be improved.
更に、本発明においては、ミラー磁界の移動を、装置の機械的移動によらず、軸心方向に複数の磁場発生コイルを配列した構成とし、これら複数のコイルを選択的に通電し、その通電の制御によってミラー磁界の軸方向の磁界分布を得ることから、ミラー磁界発生装置自体を移動させる構成による場合に比し、装置の簡易化が図られ、精度、制御性を高めることができる。 Further, in the present invention, the movement of the mirror magnetic field is configured such that a plurality of magnetic field generating coils are arranged in the axial direction irrespective of the mechanical movement of the apparatus, and the plurality of coils are selectively energized, and the energization is performed. Since the magnetic field distribution in the axial direction of the mirror magnetic field is obtained by this control, the apparatus can be simplified and accuracy and controllability can be improved as compared with the case where the mirror magnetic field generator itself is moved.
本発明による極細長軸体へのコーティング方法および極細長軸体へのコーティング装置の実施の形態を例示するが、本発明はこの形態例に限定されるものではない。
図1AおよびBは、本発明によるコーティング方法を実施する本発明によるコーティング装置の基本的動作の説明に供するコーティング装置の要部の縦断面図およびそのB−B線上の断面図である。
Although the embodiment of the coating method and the coating apparatus for the ultra-thin shaft body according to the present invention is illustrated, the present invention is not limited to this embodiment.
1A and 1B are a longitudinal sectional view of a main part of a coating apparatus and a sectional view taken along line BB for explaining the basic operation of the coating apparatus according to the present invention for performing the coating method according to the present invention.
この本発明によるコーティング方法を実施する本発明装置の実施形態例においては、真空空間を構成する真空容器1内に、重力方向に沿って極細管による第1の極細長軸体4と、この第1の極細長軸体4の内に、この第1の極細長軸体4の内径に比して外径が小さい極細管もしくはワイヤによる第2の極細長軸体5とが同軸心上に配置される配置部が構成される。これら第1および第2の極細長軸体4および5間に所要のギャップGが形成される。
In the embodiment of the apparatus of the present invention for carrying out the coating method according to the present invention, the first ultra-long
これら第1および第2の極細長軸体のいずれか一方はスパッタターゲットであり、他方が被スパッタ体となる。
この実施の形態例においては、第1の極細長軸体4が、被スパッタ体である場合を例示している。
そして、そのスパッタターゲット側の第2の極細長軸を負側とする電圧を印加し、ギャップG内に、プラズマソースガスを導入するとともに、マイクロ波導入とミラー磁場印加により、例えば2次高調波によるハーモニックECRプラズマを発生させる。
Either one of the first and second very long shafts is a sputter target, and the other is a sputter target.
In this embodiment, the case where the first ultra-long
Then, a voltage having the second very long axis on the sputter target side as a negative side is applied, a plasma source gas is introduced into the gap G, and, for example, by introducing a microwave and applying a mirror magnetic field, second harmonics are applied. Harmonic ECR plasma is generated.
すなわちミラー磁場内において、
he(=ωce/νe)>1 (1)
かつ、ωce/ω=0.5 (2)
ここで、heは、電子のホールパラメータ
ωceは、電子のサイクロトロン周波数
νeは、電子の平均衝突時間
ωは、マイクロ波周波数
の条件下でのプラズマ生成を行う。
このように、前記(1)式および(2)式を満足する条件を形成することによって2次高調波ECRを生じさせる。
この場合、heは、磁束密度Bと気圧Pとの比B/Pに比例することから、磁束密度Bと気圧Pの選定によってheの選定を行うことができる。
That is, in the mirror magnetic field,
he (= ωce / νe)> 1 (1)
And ωce / ω = 0.5 (2)
Where he is the electron Hall parameter
ωce is the electron cyclotron frequency
νe is the average collision time of electrons
ω performs plasma generation under microwave frequency conditions.
In this way, the second harmonic ECR is generated by forming a condition that satisfies the expressions (1) and (2).
In this case, since he is proportional to the ratio B / P between the magnetic flux density B and the atmospheric pressure P, he can be selected by selecting the magnetic flux density B and the atmospheric pressure P.
そして、極細管による第1の極細長軸体4内の少なくとも均一なスパッタ成膜を必要とする領域の全長に渡って上述したミラー磁場内で発生させた2次高調波プラズマを、ミラー磁場の移動によって、移動させる。
Then, the second harmonic plasma generated in the mirror magnetic field over the entire length of the region requiring the uniform sputter film formation in the first
このコーティング装置においては、真空容器1内に、図1Aに矢印aをもって示す重力方向に沿って、同軸心上に筒状の外側電極2と、中心電極3とが配置される。
外側電極2内には、上述した極細管による第1の極細長軸体4が配置される。
中心電極3には、例えばスパッタターゲットとなる第2の極細長軸体5が配置される。この第2の極細長軸体5が導電性材である場合には、この第2の極細長軸体5を中心電極3の先端に電気的機械的に結合して配置するか、あるいはこの第2の極細長軸体5自体によって中心電極3を構成することができる。
In this coating apparatus, a cylindrical
In the
In the center electrode 3, for example, a second very
また、ターゲット材が絶縁性である場合は、中心電極3もしくは第2の極細長軸体5の導電性軸芯の外周にスパッタターゲット材を被着形成するとか筒状スパッタターゲッを配置するなどの構成とすることができる。
いずれの場合においても、第2極細長軸体5のスパッタターゲットの構成部が、被スパッタ体の第1の極細長軸体4の少なくとも均一なスパッタ成膜を必要とする領域の全長、例えば第1の極細長軸体4の全長に渡って対向するように配置する。
Further, when the target material is insulative, a sputter target material is deposited on the outer periphery of the conductive electrode core of the center electrode 3 or the second extra
In any case, the total length of the region where the sputter target component of the second very
スパッタターゲットを構成する第2の極細長軸体5の下端には、その長軸方向沿って、すなわち重力方向aに所要の張力を付与する重錘あるいはバネ等の張力付与手段50を連結する。
また、真空容器1の外周には、ミラー磁場を形成する複数の電磁コイルC1,C2,C3・・・を第1および第2の極細長軸体4および5と同軸心上に、その軸心方向に順次配置する。
A
Further, on the outer periphery of the
このコーティング装置によって、極細管による第1の極細長軸体4の内周面にコーティングを行なうに当たっては、真空容器1内を排気して、第1および第2の極細長軸体4および5間のギャップG内の空間を一旦排気して真空空間とし、その後、所要の低気圧をもってプラズマガスソースを導入する。
When coating the inner peripheral surface of the first very
そして、第1および第2の極細長軸体4および5間に、スパッタターゲット側、この例では第2の極細長軸体5側に繰り返し負電圧パルスバイアス電圧を印加する。
また、中心電極3あるいは第2の極細長軸体5に、例えば2.45GHzのマイクロ波を同軸モード(TEMモード)で整合回路を通じて供給する。
一方、所要のミラー磁場を印加する。
このミラー磁場は、例えば隣り合う対のコイルC1およびC2を組みとして、これら対のコイルに同方向の電流を通電することによって形成することができる。この場合、これら対のコイルC1およびC2内で、それぞれ磁界のピークすなわちミラーを形成し、これらの中間部に磁界の谷が形成されることによって、此処に電子の閉じ込めがなされる。あるいは3つのコイルC1,C2,C3を組としてコイルC1およびC3に同方向の電流を通電してミラー磁場を形成し、中間部のコイルC2の通電を制御することによってミラー磁場の分布を制御することもできる。
Then, a negative voltage pulse bias voltage is repeatedly applied between the first and second very
In addition, a microwave of 2.45 GHz, for example, is supplied to the center electrode 3 or the second very
On the other hand, a required mirror magnetic field is applied.
This mirror magnetic field can be formed, for example, by pairing adjacent pairs of coils C1 and C2 and passing a current in the same direction through these pairs of coils. In this case, in the pair of coils C1 and C2, a magnetic field peak, that is, a mirror is formed, and a magnetic field valley is formed at an intermediate portion thereof, thereby confining electrons. Alternatively, three coils C1, C2, and C3 are combined to form a mirror magnetic field by energizing coils C1 and C3 in the same direction, and the distribution of the mirror magnetic field is controlled by controlling the energization of the intermediate coil C2. You can also.
このようにして、マイクロ波パワー、ミラー磁場の強さ等の所要の条件下で、ミラー磁場内に、上述した2次高調波プラズマを発生させることができ、このミラー磁場内に電子が閉じ込められることによって、此処で高い効率をもってイオンを発生させることができる。
これにより、図1AおよびBに模式的に示すように、この2次高調波(2nd Harmonic )ECRによるプラズマ生成によって発生したイオン7がターゲットの第2の極細長軸体5に引き寄せられることによってターゲットを衝撃し、ターゲットの原子8が叩き出され、このターゲット材が極細管による第1の極細長軸体4の内周面に被着し、成膜がなされる。
このようにして、極細管による極細長軸体4の内周面に第2の極細長軸体5のスパッタターゲットから目的とするターゲット材がスパッタされ、このターゲット材のコーティングがなされる。
In this manner, the above-described second harmonic plasma can be generated in the mirror magnetic field under the required conditions such as the microwave power and the strength of the mirror magnetic field, and the electrons are confined in the mirror magnetic field. Thus, ions can be generated here with high efficiency.
Thereby, as schematically shown in FIGS. 1A and 1B, the
In this manner, the target material is sputtered from the sputter target of the second
上述したコーティングにおいて、軸方向に配列された電磁コイルC1,C2,C3……Cnの上述した2つもしくは3つを組として、例えばその配置位置が、プラズマ発生が生じやすい条件下の位置にある組に関して所要の通電を行なって主たるプラズマを発生させ、順次、隣接するコイルに通電を切り換えることによって、この主たるプラズマを軸方向に移動させ、さらに必要に応じて、その通電量を制御することによって、プラズマ密度を極細管の軸方向に関して変化させることによって、各部位における成膜条件の相違を補償して、全域に渡って均一、均質な成膜を行なうことができる。 In the above-described coating, the above-described two or three electromagnetic coils C1, C2, C3,. By performing the required energization for the set to generate the main plasma, and sequentially switching the energization to the adjacent coils, the main plasma is moved in the axial direction, and the energization amount is controlled as necessary. By changing the plasma density with respect to the axial direction of the ultrathin tube, it is possible to compensate for the difference in the film forming conditions at each part and perform uniform and uniform film formation over the entire region.
図1で示した構成では、外側電極2に密着して極細管の第1の極細長軸体4が配置された状態が示されているが、例えば一定の内径を有する外側電極2に対して、これより小径の極細管による第1の極細長軸体4に対して成膜を行なう場合には、両者間に誘電体、例えばセラミックを配置することによって電界強度を阻害することなく、外側電極2が、外径を異にする極細管4に対して互換性を有するようにすることができる。
In the configuration shown in FIG. 1, a state is shown in which the first
なお、この2nd Harmonic(2次高調波)ECRについては、本出願人による前記特願2005−121592号出願で提案されているところである。
前記特許文献1および2におけるECR(ωce/ω=1)および本発明における例えば2nd Harmonic ECR(ωce/ω=0.5)は、磁場印加における高周波放電によるプラズマ生成によるものであり、このプラズマ生成は、放電開始条件、電子捕捉条件、電子のイオン化エネルギー条件に依存するものであるが、上述したECRにおいては、放電開始電界を低下させる効果を有する。特に、高調波ECRにおいては、電子の閉じ込めによる共鳴的な捕捉効果が得られるものであり、これによって狭ギャップ長でのプラズマ形成を可能にし、低気圧化によって、良好な膜質、被着強度の高いコーティングを行うことができる。
具体的には、例えばPDP(Plasma Display Panel)における通常のプラズマ発生によるに比して、4桁低い気圧でプラズマ生成がなされる。
The 2nd Harmonic (second harmonic) ECR has been proposed in the Japanese Patent Application No. 2005-121592 filed by the present applicant.
The ECR (ωce / ω = 1) in
Specifically, for example, plasma is generated at a pressure that is four orders of magnitude lower than that of normal plasma generation in a PDP (Plasma Display Panel).
図2Aおよび図Bは2nd Harmonic ECR(ωce/ω=0.5)と、ECR(ωce/ω=1)とによる場合の電子の軌跡を示す図であり、図2Aと図2Bとを比較して明らかなように、2nd Harmonic ECRによるときは、電子の閉じ込めが強くなされているものであり、これによって、狭ギャップにおいて有効に電子がプラズマソースガスの原子と衝突してイオン化することができることがわかる。 2A and 2B are diagrams showing electron trajectories in the case of 2nd Harmonic ECR (ωce / ω = 0.5) and ECR (ωce / ω = 1). FIG. 2A and FIG. 2B are compared. As is apparent from the above, when the 2nd Harmonic ECR is used, electrons are strongly confined, so that electrons can effectively collide with atoms of the plasma source gas and ionize in a narrow gap. Recognize.
また、図3は、中心電極と外側電極との間にセラミックが配置されたモデルにおける隣接する電磁コイルに同方向通電を行なった場合の磁界分布を示す図である。この場合、横軸の位置(position)の“0”点が対の電磁コイル間の中央で、この中央において、磁界の谷が形成されていることによって、此処で電子の閉じ込めがなされるものである。 FIG. 3 is a diagram showing a magnetic field distribution when the adjacent electromagnetic coil is energized in the same direction in a model in which a ceramic is disposed between the center electrode and the outer electrode. In this case, the “0” point on the position of the horizontal axis is the center between the pair of electromagnetic coils, and a magnetic field valley is formed at this center, so that the electrons are confined here. is there.
したがって、本発明によれば、ハーモニックECRによる電子と閉じ込めと、ミラー磁場による電子の閉じ込めが相俣って、電子密度が高まり、イオン濃度が高まり、スパッタによる成膜速度が高まる。 Therefore, according to the present invention, the electrons and confinement by the harmonic ECR and the electron confinement by the mirror magnetic field combine to increase the electron density, increase the ion concentration, and increase the deposition rate by sputtering.
図4は、本発明によるコーティング装置の一実施形態例の概略構成図である。
このコーティング装置は、例えば円筒状の真空容器1を有し、真空容器1内には、例えば内周面にコーティングを行う極細管による第1の極細長軸体4を配置する極細管の配置部と、その中心軸上にスパッタターゲットを構成する第2の極細長軸体5を配置する配置部が設けられる。
真空容器1には、その排気を行う例えばターボ分子ポンプ9Mとロータリーポンプ9Rとによる排気装置9が結合される。
更に、真空容器1に、上述したプラズマソースガスを供給するプラズマソースガス供給源10がマスフローコントローラ11を介して連結される。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of an embodiment of a coating apparatus according to the present invention.
This coating apparatus has, for example, a
The
Furthermore, a plasma source
また、真空容器1の外周に前述した複数の電磁コイルC1,C2,C3・・・Cnが配列されたミラー磁場発生装置12が配置される。
この磁場発生装置12の電磁コイルC(C1,C2,C3・・・Cn)に対しての励磁電流源13が設けられる。
この励磁電流源13は、前述したように、ミラー磁場を、所要位置、例えば一端から、他端へと通電もしくは通電量を切り換えて主たるプラズマ生成位置を、真空容器1の軸方向に沿って移動させるようになされる。
Further, the mirror magnetic field generator 12 in which the plurality of electromagnetic coils C1, C2, C3,.
An exciting
As described above, the exciting
更に、マイクロ波発生装置14と、そのパワーモニタ15、安定化チューナ16とが設けられ、同軸ケーブル17を通じて中心電極3あるいはターゲットが構成される第2の極細長軸体5に、TEM波の例えば2.45GHzのマイクロ波が供給される。
また、外側電極2および中心電極3間、すなわち第1の極細長軸体4と第2の極細長軸体5との間に、上述した所要の電圧を印加する電源部6例えば上述したパルスバイアス供給源が設けられる。
Further, a microwave generator 14, its
Further, a
この構成によるコーティング装置によって、極細管による第1の極細長軸体4の内周面に、第2の極細長軸体5のスパッタターゲット材のスパッタがなされて、目的とするスパッタターゲット材によるコーティング層の成膜がなされる。すなわち、第1および第2の極細長軸体4および5間のギャップG内に、プラズマソースガスを導入するとともに、上述したマイクロ波導入とミラー磁場印加により、ハーモニックECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマを発生させて第1の極細長軸体4の極細管の内周面にスパッタターゲット材のスパッタリングによるコーティングを行なう。
By the coating apparatus having this configuration, the sputter target material of the second extra
図5は、その手順を示すフロー図である。すなわち真空容器1内を、排気装置9によって排気し、プラズマソースガスをその供給源10から所要量供給し、マイクロ波発生装置14の電源をオンにし、パワーモニタ15によってパワー電力の調整を行いマイクロ波の導入を行なう。そしてミラー磁場発生装置20を動作させ、電源部6からパルスバイアスを印加する。そして、ミラー磁場発生装置20のコイルC1〜Cnを順次動作させ、スパッタ成膜を極細管による第1の極細長軸体4の内面に行う。
FIG. 5 is a flowchart showing the procedure. That is, the inside of the
マイクロ波は強磁場側から入射されることにより、プラズマ生成する上でマイクロ波電力を効率よくプラズマに吸収させることができる。さらにマイクロ波電源には数W程度の電力を高精度に供給できるものを使用することにより、電力を高精度に設定可能であり、内部電極、極細管への無駄な熱照射を防ぐことができ、熱による極細管4へのダメージ、内部電極の熱による変形を効果的に回避できる。
When the microwave is incident from the strong magnetic field side, the microwave power can be efficiently absorbed by the plasma when generating the plasma. Furthermore, by using a microwave power supply that can supply power of several watts with high accuracy, the power can be set with high accuracy, and unnecessary heat irradiation to the internal electrodes and ultrathin tubes can be prevented. It is possible to effectively avoid damage to the
図6は、本発明によるミラー磁場によってハーモニックECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマを形成してスパッタを行った場合の、バイアス電圧Vbを、−100V、−200V、−300Vに選定したときのそれぞれのイオン電流密度の測定結果を示す。 FIG. 6 shows respective ions when the bias voltage Vb is selected to be −100 V, −200 V, and −300 V when sputtering is performed by forming a harmonic ECR (Electron Cyclotron Resonance) plasma by the mirror magnetic field according to the present invention. The measurement result of current density is shown.
図7および図8は、ミラー磁場によらない均一磁場としたときの同様のバイアス電圧に対するイオン電流密度の測定結果を示す。
図6および図7は、パイレックスガラス管にスパッタを行なった場合において、導入ガスとしてArを用い、真空容器内を70mTorr、マイクロ波投入電力30Wとし、磁場強度を、コイル中心で、438ガウス、ターゲット径2mm、ギャップ長(第1および第2の極細長軸体4および5の間隔)を1.8mm、パルス周波数2kHz、パルス幅35μmとした場合であり、図8は、同様の条件で、ギャップ長を3.5mmという大きな間隔とした場合である。
図8に示すように、ギャップ長が大なる場合は、均一磁場であっても、バイアス電圧−500Vで、ある程度のイオン電流が得られるが、図7に示すように、ギャップ長が1.8mmという小さい間隔とすると、均一磁場によるときは、バイアス電圧が−300Vで、イオン電流が極めて小さい値となって、スパッタが生じない。
これに対して、本発明によるミラー磁場によるときは、図6で明らかなように、バイアス電圧Vbを−300Vとしてもイオン電流が得られており、スパッタが可能なことがわかる。このように、バイアス電圧を大とすることができることによってスパッタのエネルギーを高めることができ、スパッタ効率を高めることができる。
7 and 8 show the measurement results of the ion current density with respect to the same bias voltage when a uniform magnetic field independent of the mirror magnetic field is used.
6 and 7 show that when sputtering is performed on a Pyrex glass tube, Ar is used as an introduction gas, the inside of the vacuum vessel is 70 mTorr, the microwave input power is 30 W, the magnetic field strength is 438 gauss at the center of the coil, the target FIG. 8 shows a case where the diameter is 2 mm, the gap length (interval between the first and second extra
As shown in FIG. 8, when the gap length is large, a certain ion current can be obtained with a bias voltage of −500 V even with a uniform magnetic field. However, as shown in FIG. 7, the gap length is 1.8 mm. Assuming that the interval is small, when the uniform magnetic field is used, the bias voltage is −300 V, the ion current is extremely small, and sputtering does not occur.
On the other hand, when the mirror magnetic field according to the present invention is used, as is apparent from FIG. 6, an ion current is obtained even when the bias voltage Vb is −300 V, and it can be seen that sputtering is possible. Thus, by increasing the bias voltage, the energy of sputtering can be increased, and the sputtering efficiency can be increased.
図9は、ミラー磁場を使用した場合の効果を軸方向均一性について吸収分光法で評価した図である。この場合、パイレックスガラス管にスパッタを行なった場合で、導入ガスとしてArを用い、真空容器内を70mTorr、マイクロ波投入電力30Wとし、磁場強度を、コイル中心で、438ガウス、ターゲット径2mm、ギャップ長(ターゲット5と極細管4との間隔)を1.8mm、パルス周波数2kHz、パルス幅35μmとした。
この場合、パイレックスガラス管を透過する光を分光器で検出し、成膜されていない場合の光強度と成膜がなされている場合の光の強度を比較することで膜厚を相対的に評価した。
このときの磁界は、中心点での値であり、マイクロ波入射口(0mm)から25mmの位置である。さらにマイクロ波はマイクロ波入射口側から同軸モードで投入されている。
FIG. 9 is a diagram in which the effect in the case of using a mirror magnetic field is evaluated by absorption spectroscopy for axial uniformity. In this case, sputtering is performed on a Pyrex glass tube, Ar is used as an introduction gas, the inside of the vacuum vessel is 70 mTorr, the microwave input power is 30 W, the magnetic field strength is 438 gauss at the center of the coil, the target diameter is 2 mm, the gap The length (interval between the
In this case, the light transmitted through the Pyrex glass tube is detected by a spectrometer, and the film thickness is relatively evaluated by comparing the light intensity when the film is not formed and the light intensity when the film is formed. did.
The magnetic field at this time is a value at the center point, and is a position 25 mm from the microwave entrance (0 mm). Furthermore, the microwave is input in the coaxial mode from the microwave entrance side.
図9の曲線Aは、ミラー比(最大磁束密度/最小磁束密度)が1.51の場合、曲線Bは、ミラー磁場としない単なるソレノイドによる磁場とした場合である。曲線Bによってあきらかなように、ミラー磁場によらない場合、マイクロ波導入部に多くスパッタ材が堆積していて均一性に劣ることがわかる。これはプラズマが共鳴を起こさずマイクロ波の電力によりマイクロ波放電に移行していることが原因と考えられる。
マイクロ波放電に移行しやすい条件としては、弱磁場からのマイクロ波入射、マイクロ波電力、動作気圧が高い等の理由が考えられる。また、ミラー比を変化させた場合ではミラー比を高く設定するとマイクロ波導入部付近での磁場強度が強くなり、放電を抑制し、強磁場側からのマイクロ波入射により効率よくプラズマに電力が投入され共鳴現象を起こし、プラズマの均一性が向上したためと考えられる。以上の結果により、ミラー磁場を使用することにより、プラズマの密度向上のみならず、軸方向の均一性も向上することが分かった。
A curve A in FIG. 9 is a case where the mirror ratio (maximum magnetic flux density / minimum magnetic flux density) is 1.51, and a curve B is a magnetic field by a simple solenoid that is not a mirror magnetic field. As is apparent from the curve B, it can be seen that when the magnetic field does not depend on the mirror magnetic field, a large amount of sputtered material is deposited on the microwave introduction portion, resulting in poor uniformity. This is considered to be caused by the fact that the plasma does not resonate and is shifted to the microwave discharge by the power of the microwave.
As conditions for easily shifting to microwave discharge, there may be reasons such as microwave incidence from a weak magnetic field, microwave power, and high operating pressure. In addition, when the mirror ratio is changed, setting the mirror ratio high will increase the magnetic field intensity near the microwave introduction part, suppress the discharge, and efficiently power the plasma by microwave incidence from the strong magnetic field side. This is thought to be due to the phenomenon of resonance and improved plasma uniformity. From the above results, it was found that the use of a mirror magnetic field not only improves the plasma density but also improves the axial uniformity.
上述した実施形態例においては、中心軸上の第2の極細長軸体5側をスパッタターゲットもしくは外周にスパッタターゲットを配置した構成とし、外側の極細管の第1の極細長軸体4を被スパッタとして、その内周にコーティング材のスパッタを行う場合について主として説明したが、この配置関係を逆として、外側の第1の極細長軸体4をスパッタターゲットもしくは内周にスパッタターゲットを配置した構成とし、中心軸上の極細管もしくはワイヤ状の第2の極細長軸体5を被スパッタ体とし、この被スパッタ体の外周面にスパッタ材のコーティングを行なう実施形態とすることもできる。
In the embodiment described above, the second
上述したように、本発明によれば、ミラー磁場を使用することにより、プラズマの密度向上のみならず、軸方向の均一性の向上を図ることができると共に、上述したハーモニックECRによる電子の閉じ込めと、ミラー磁場によるプラズマの密度向上とが相俣って、長軸長の極細管内周面に対するスパッタコーティングを均質に行なうことができる。
また、本発明においては、第1および第2の極細長軸体4および5を重力方向に配置したことにより、その自重によってもしくは張力付与手段50を結合することによって常時所要の張力をもって緊張させることができる。したがって、第1および第2の極細長軸体4および5の相互の位置関係を安定して保持することができ、これによって更に安定した条件下のスパッタを行なうことができる。
As described above, according to the present invention, by using the mirror magnetic field, not only the plasma density but also the axial uniformity can be improved, and the electron confinement by the harmonic ECR described above can be achieved. Combined with the improvement of the plasma density by the mirror magnetic field, the sputter coating can be performed uniformly on the inner surface of the long tube.
Further, in the present invention, the first and second very
すなわち、通常におけるように、これら第1および第2の極細長軸体4および5を水平方向に配置する場合、動作時の温度上昇等による熱膨張によって、特に中心の第2の極細長軸体5が、第1の径より更に細いことによって撓みやすく、またこれがスパッタターゲットである場合は、スパッタによる細りによってより不安定になる。
ところが、上述したように、本発明構成においては、第1および第2の極細長軸体4および5を重力方向に配置したことにより、その自重もしくは張力付与手段50を結合することによって常時所要の張力をもって緊張させることができることから、第1および第2の極細長軸体4および5の相互の位置関係を安定して保持することができる。
したがって、安定して均一なスパッタ成膜を行なうことができるものである。
That is, when these first and second
However, as described above, in the configuration of the present invention, the first and second very
Therefore, stable and uniform sputtering film formation can be performed.
上述した本発明による極細長軸体へのコーティング方法および極細長軸体へのコーティング装置における被スパッタ体としては、例えばカテーテル、ガイドワイヤ、ステント等に代表される生体もしくは生体成分と接触する医療用器具を形成する医療用材料の母材であり、金属材料、セラミックス材料、ゴムもしくは樹脂等の高分子材料、またはこれらの複合体等によることができる。
また、その形状は、例えば医療用器具に用いるワイヤ、チューブ等の素材並びにこれらの素材を医療用器具の形状に形成したものおよび形成途中形状による。
Examples of the object to be sputtered in the above-described coating method and coating apparatus for an ultra-long shaft according to the present invention include medical devices that come into contact with living bodies or biological components represented by, for example, catheters, guide wires, and stents. It is a base material of a medical material that forms an instrument, and can be a metal material, a ceramic material, a polymer material such as rubber or resin, or a composite thereof.
The shape depends on materials such as wires and tubes used for medical instruments, and those formed in the shape of medical instruments and in the middle of formation.
被スパッタ体は特に限定されるものではないが例えば、鉄、ニッケル、クロム、銅、チタン、白金、タングステン、またはタンタル等の金属を用いることができる。また、これらの合金である、SUS316L等のステンレス鋼、Ti−Ni合金もしくはCu−Al−Mn合金等の形状記憶合金、Cu−Zn合金、Ni−Al合金、チタン合金、タンタル合金、プラチナ合金またはタングステン合金等の合金を用いることもできる。また、アルミ、シリコンもしくはジルコン等の酸化物、窒化物もしくは炭化物等の生体不活性なセラミックスまたはアパタイトもしくは生体ガラス等の生体活性を有するセラミックスでもよい。さらに、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)、高密度ポリエチレンもしくはポリアセタール等の高分子樹脂またはポリジメチルシロキサン等のシリコンポリマーもしくはポリテトラフルオロエチレン等のフッ素系ポリマー等であってもよい。
被スパッタ体が、誘電体である場合、被スパッタ体とこれに対向する外側電極2もしくは中心電極との間に誘電体材料を介在させることにより、実質的に両電極間の距離を調整することができるものである。
The object to be sputtered is not particularly limited. For example, a metal such as iron, nickel, chromium, copper, titanium, platinum, tungsten, or tantalum can be used. Further, these alloys are stainless steel such as SUS316L, shape memory alloy such as Ti—Ni alloy or Cu—Al—Mn alloy, Cu—Zn alloy, Ni—Al alloy, titanium alloy, tantalum alloy, platinum alloy or An alloy such as a tungsten alloy can also be used. Further, it may be a bioactive ceramic such as oxide such as aluminum, silicon or zircon, nitride or carbide, or a bioactive ceramic such as apatite or biological glass. Further, it may be a polymer resin such as polymethyl methacrylate (PMMA), high density polyethylene or polyacetal, a silicon polymer such as polydimethylsiloxane, or a fluorine polymer such as polytetrafluoroethylene.
When the object to be sputtered is a dielectric, the distance between the electrodes can be substantially adjusted by interposing a dielectric material between the object to be sputtered and the
また、本発明においては、各種スパッタ材の適用が可能となった。このスパッタターゲットとしては、金、銀、チタン、銅、プラチナ、クロム、ニッケルまたは他の金属を含むターゲット 、およびセラミック材料のような非導体材料も使用することができる。しかし非導体材料を使用する場合は導体に非導体材料を付けるなどしてマイクロ波導入を妨げず、さらにバイアスにはRFバイアスを利用することが必要である。さらに、チタン/アルミニウム等の混合ターゲットでも良い。また、炭素系材料等を使用することができる。 In the present invention, various sputter materials can be applied. As the sputter target, targets including gold, silver, titanium, copper, platinum, chromium, nickel or other metals, and non-conductive materials such as ceramic materials can also be used. However, when a non-conductive material is used, it is necessary to use a non-conductive material on the conductor to prevent the introduction of microwaves and to use an RF bias as a bias. Furthermore, a mixed target such as titanium / aluminum may be used. Moreover, a carbon-type material etc. can be used.
なお、本発明によるコーティング方法およびコーティング装置は、上述した例に限定されるものではなく、使用目的等に応じて種々の変更を行うことができることはいうまでもない。 In addition, the coating method and coating apparatus by this invention are not limited to the example mentioned above, It cannot be overemphasized that a various change can be performed according to a use purpose.
1……真空容器、2……外側電極、3……中心電極、4……極細管、5……スパッタターゲット、6……電源部〈パルスバイアス供給源〉、7……イオン、8……原子、9……真空排気装置、10……プラズマソースガス供給源、11……マスフローコントローラ、12……ミラー磁場発生装置、13……励磁電流源、14……マイクロ波発生装置、15……パワーモニタ、16……安定化チューナ、17……同軸ケーブル、C(C1,C2,C3,……Cn)……コイル、50……張力付与手段
DESCRIPTION OF
Claims (7)
この状態で、上記第1および第2の極細長軸体のいずれか一方をスパッタターゲットとし、他方を被スパッタ体として、そのスパッタターゲット側を負側とする電圧を印加し、
上記ギャップ内に、プラズマソースガスを導入するとともに、マイクロ波導入とミラー磁場印加により、ハーモニックECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマを発生させて上記第1の極細長軸体の内周面もしくは上記第2の極細長軸体の外周面に上記スパッタターゲット材のコーティングを施すことを特徴とする極細長軸体へのコーティング方法。 In the vacuum region, the first and second elongated shaft bodies by the ultrathin tubes are arranged on the same axis in the gravity direction while maintaining a required gap between the two elongated shaft bodies. ,
In this state, one of the first and second very long shafts is used as a sputter target, the other is used as a sputter target, and a voltage with the sputter target side as a negative side is applied.
A plasma source gas is introduced into the gap, and a harmonic ECR (Electron Cyclotron Resonance) plasma is generated by introducing a microwave and applying a mirror magnetic field, thereby generating an inner peripheral surface of the first very long shaft body or the second And coating the sputter target material on the outer peripheral surface of the extra-long elongate shaft body.
該真空容器の外周に配置されたミラー磁場発生装置と、
プラズマソースガス供給源と、
マイクロ波発生装置と、
上記真空容器内に、
重力方向に沿って極細管による第1の極細長軸体と第2の極細長軸体を同軸心上に、かつ両極細長軸体間に所要のギャップを保持して配置する極細長軸体の配置部と、
上記第1および第2の極細長軸体間に、所要の電圧を印加する電源部とを有し、
上記第1および第2の極細長軸体のいずれか一方をスパッタターゲットとし、他方を被スパッタ体としてそのスパッタターゲット側を負側とする電圧を印加し、上記ギャップ内に、上記プラズマソースガス源からのプラズマソースガスを導入するとともに、上記マイクロ波発生装置と上記ミラー磁場発生装置とによりマイクロ波導入とミラー磁場印加により、ハーモニックECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマを発生させて上記第1の極細長軸体の内周面もしくは上記第2の極細長軸体の外周面に上記スパッタターゲット材のコーティングを施すことを特徴とする極細長軸体へのコーティング装置。 A vacuum vessel;
A mirror magnetic field generator disposed on the outer periphery of the vacuum vessel;
A plasma source gas supply source;
A microwave generator;
In the vacuum vessel,
A very long shaft body in which a first ultra long shaft body and a second ultra long shaft body by a micro tube are arranged coaxially along the direction of gravity and with a required gap between the two long shaft bodies. A placement section;
A power supply unit for applying a required voltage between the first and second elongated shafts;
A voltage is applied with one of the first and second ultrathin shafts as a sputtering target, the other as a sputter target and the sputtering target side as a negative side, and the plasma source gas source in the gap. The plasma source gas is introduced from the above, and a harmonic ECR (Electron Cyclotron Resonance) plasma is generated by the introduction of the microwave and the application of the mirror magnetic field by the microwave generator and the mirror magnetic field generator, thereby generating the first ultra-long slit. An apparatus for coating an ultra-long elongate shaft body, wherein the sputter target material is coated on an inner circumferential surface of the shaft body or an outer circumferential surface of the second ultra-long elongate shaft body.
5. The power supply unit that applies a required voltage between the microtubule and the sputter target is a power supply unit that applies a negative voltage pulse bias to the sputter target side. A coating device for ultra-thin shafts.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006071324A JP4693120B2 (en) | 2006-03-15 | 2006-03-15 | Coating method for extra-long shaft body and coating apparatus for extra-long shaft body |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006071324A JP4693120B2 (en) | 2006-03-15 | 2006-03-15 | Coating method for extra-long shaft body and coating apparatus for extra-long shaft body |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007246974A true JP2007246974A (en) | 2007-09-27 |
| JP4693120B2 JP4693120B2 (en) | 2011-06-01 |
Family
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006071324A Expired - Fee Related JP4693120B2 (en) | 2006-03-15 | 2006-03-15 | Coating method for extra-long shaft body and coating apparatus for extra-long shaft body |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| US11298293B2 (en) | 2013-03-11 | 2022-04-12 | Sio2 Medical Products, Inc. | PECVD coated pharmaceutical packaging |
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| US10016338B2 (en) | 2013-03-11 | 2018-07-10 | Sio2 Medical Products, Inc. | Trilayer coated pharmaceutical packaging |
| US9937099B2 (en) | 2013-03-11 | 2018-04-10 | Sio2 Medical Products, Inc. | Trilayer coated pharmaceutical packaging with low oxygen transmission rate |
| US12239606B2 (en) | 2013-03-11 | 2025-03-04 | Sio2 Medical Products, Llc | PECVD coated pharmaceutical packaging |
| US9863042B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-01-09 | Sio2 Medical Products, Inc. | PECVD lubricity vessel coating, coating process and apparatus providing different power levels in two phases |
| US11066745B2 (en) | 2014-03-28 | 2021-07-20 | Sio2 Medical Products, Inc. | Antistatic coatings for plastic vessels |
| US11077233B2 (en) | 2015-08-18 | 2021-08-03 | Sio2 Medical Products, Inc. | Pharmaceutical and other packaging with low oxygen transmission rate |
| CN111050626A (en) * | 2017-08-02 | 2020-04-21 | 国立大学法人长崎大学 | Rigid endoscope cover and endoscope unit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4693120B2 (en) | 2011-06-01 |
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Legal Events
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|
| A977 | Report on retrieval |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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