JP2007212176A - Automatic measuring apparatus for rf characteristics - Google Patents
Automatic measuring apparatus for rf characteristics Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007212176A JP2007212176A JP2006029793A JP2006029793A JP2007212176A JP 2007212176 A JP2007212176 A JP 2007212176A JP 2006029793 A JP2006029793 A JP 2006029793A JP 2006029793 A JP2006029793 A JP 2006029793A JP 2007212176 A JP2007212176 A JP 2007212176A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- terminal
- hand
- test body
- axis stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 46
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 101000911772 Homo sapiens Hsc70-interacting protein Proteins 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 101000760620 Homo sapiens Cell adhesion molecule 1 Proteins 0.000 description 1
- 101001139126 Homo sapiens Krueppel-like factor 6 Proteins 0.000 description 1
- 101000710013 Homo sapiens Reversion-inducing cysteine-rich protein with Kazal motifs Proteins 0.000 description 1
- 101000661807 Homo sapiens Suppressor of tumorigenicity 14 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 108090000237 interleukin-24 Proteins 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
Description
この発明は、高周波機器のRF(Radio Frequency)特性測定を自動的に測定する自動測定装置に関するものである。 The present invention relates to an automatic measuring apparatus that automatically measures RF (Radio Frequency) characteristic measurement of a high-frequency device.
従来のRF特性測定装置として、次のようなものが開示されている。
被測定物はVSAT(Very Small Aperture Terminal)装置で、その出力信号はカップラー部で2分岐され、一方はRFスイッチ部に入力され、他方はWGスイッチ部によりどれか一の信号のみが選択される。ミキサ部は入力信号をそれぞれ測定周波数に分離し、それぞれを測定器の測定に適した周波数帯にダウンコンバートする。RFスイッチ部は制御部の出力制御信号により、カップラー部及びミキサ部の各出力信号を試験項目に応じて選択し、かつ、測定器のうち、試験項目に応じた測定器に出力させることは既に開示されている(例えば、特許文献1参照。)。
The following is disclosed as a conventional RF characteristic measuring apparatus.
The object to be measured is a VSAT (Very Small Aperture Terminal) device, and its output signal is split into two at the coupler, one is input to the RF switch, and the other is selected by the WG switch. . The mixer section separates each input signal into measurement frequencies, and down-converts each to a frequency band suitable for measurement by the measuring instrument. The RF switch unit has already selected each output signal of the coupler unit and the mixer unit according to the test item according to the output control signal of the control unit, and has already output the measurement device according to the test item out of the measuring device. (For example, refer to Patent Document 1).
従来の自動測定装置においては、測定器を選択し、被測定物と測定器の間にあるRFスイッチ及びWG(Wave Guide)スイッチを切換えることで、自動測定を行っている。
例えば、特許文献1においては、被測定物の数量が4個の例で示されているが、この構成において、さらに多数(例えば100個)の被測定物を測定しようとした場合、被測定物数量の増加に比例し、RFスイッチやWGスイッチの設置数量を増設する必要があっため、自動測定装置の構成品が増加して装置が高額になるという問題があった。
In a conventional automatic measurement apparatus, automatic measurement is performed by selecting a measurement device and switching an RF switch and a WG (Wave Guide) switch between the object to be measured and the measurement device.
For example, Patent Document 1 shows an example in which the number of objects to be measured is four, but in this configuration, when an even larger number (for example, 100) of objects to be measured is to be measured, the objects to be measured In proportion to the increase in quantity, it was necessary to increase the number of RF switches and WG switches installed, resulting in a problem that the number of components of the automatic measuring apparatus increased and the apparatus was expensive.
以上の問題に鑑み、被測定端子が増えてもRFスイッチやWGスイッチを多数増設することなく自動で連続的に検査を行うRF特性自動測定装置を得ることを目的とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to obtain an automatic RF characteristic measuring apparatus that automatically and continuously inspects without increasing the number of RF switches and WG switches even if the number of terminals to be measured increases.
このRF特性自動測定装置は、試験体に取り付けられた複数の被測定端子(入力側)と、所定の上記被測定端子(入力側)に測定端子及び終端器を着脱するハンドと、上記ハンドを3軸方向で駆動させるスライダ部と、上記スライダ部を3軸方向で所定の位置へ駆動し、上記ハンドを開閉制御する駆動軸制御部と、上記試験体の被測定端子(出力側)から特性データを取得する計測器を管理する計算機と、当該試験体を設置可能な構造を有し、当該試験体から放射される電波が伝播する空間を有する装置筐体とを具備したものである。 This RF characteristic automatic measuring apparatus includes a plurality of terminals to be measured (input side) attached to a specimen, a hand for attaching / detaching a measurement terminal and a terminator to a predetermined terminal to be measured (input side), and the hand Characteristics from a slider section driven in three axis directions, a drive axis control section for driving the slider section to a predetermined position in three axis directions, and controlling the opening and closing of the hand, and a terminal to be measured (output side) of the specimen A computer that manages a measuring instrument that acquires data, and a device housing that has a structure in which the test body can be installed and has a space in which radio waves radiated from the test body propagate.
この発明によれば、RFスイッチ部にプッシュオンコネクタ型の被測定端子を設け、この高周波コネクタを3軸ステージで差し代えることによって多数の高周波接続部を自動で切り換えることが可能になり、自動で連続的に検査を行えるような安価な自働検査装置を得ることができるとういう効果がある。 According to the present invention, a push-on connector type terminal to be measured is provided in the RF switch section, and a large number of high-frequency connection sections can be automatically switched by replacing this high-frequency connector with a three-axis stage. There is an effect that an inexpensive automatic inspection apparatus capable of continuous inspection can be obtained.
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1におけるRF特性自動測定装置100の構成を示すものであり、1は試験体、2は終端器、3は測定端子、4は被測定端子(入力側)、5は被測定端子(出力側)、6はハンド、7は装置筐体、8はX軸スライダ、9はY軸スライダ、10はZ軸ユニットホルダ、11はZ軸スライダ、12はホルダ、13は計算機、14は計測器、15はハンド制御部、16は駆動軸制御部、17は装置筐体壁面、18a、18bは同軸ケーブル、19は制御ケーブル、20a〜20cは制御ケーブルである。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 shows a configuration of an automatic RF characteristic measuring apparatus 100 according to Embodiment 1 of the present invention. 1 is a test body, 2 is a terminator, 3 is a measuring terminal, 4 is a terminal to be measured (input side), 5 is a terminal to be measured (output side), 6 is a hand, 7 is an apparatus housing, 8 is an X-axis slider, 9 is a Y-axis slider, 10 is a Z-axis unit holder, 11 is a Z-axis slider, 12 is a holder, 13 Is a computer, 14 is a measuring instrument, 15 is a hand control unit, 16 is a drive shaft control unit, 17 is an apparatus housing wall surface, 18a and 18b are coaxial cables, 19 is a control cable, and 20a to 20c are control cables.
このRF特性自動測定装置100は、複数の被測定端子(入力側)4を有する試験体1、または単一の被測定端子(入力側)4を有する複数個の試験体1を一旦設置した後は着脱すること無く、測定の自動化を図ることができる。 This RF characteristic automatic measuring apparatus 100 once installs a test body 1 having a plurality of terminals to be measured (input side) 4 or a plurality of test bodies 1 having a single terminal to be measured (input side) 4. Can be automated without attaching and detaching.
従来のRF特性の自動測定装置においては、上述したような試験体1と計測器14の間にRFスイッチや、WGスイッチを挿入し、試験項目に応じて計測器14を選択し、また、RFスイッチとWGスイッチにより測定経路を選択することにより複数の試験項目を自動的に測定する構成にしている。 In a conventional automatic measuring apparatus for RF characteristics, an RF switch or a WG switch is inserted between the test body 1 and the measuring instrument 14 as described above, and the measuring instrument 14 is selected according to the test item. A plurality of test items are automatically measured by selecting a measurement path using a switch and a WG switch.
また、従来の試験方法では、装置内構成品が増加することにより、測定系が複雑になり、測定系の校正作業工数が増大すると共に、RFスイッチ及びWGスイッチによるスイッチングが測定装置内の多数箇所で発生するため、測定再現性が低下していた。 Further, in the conventional test method, the measurement system becomes complicated due to an increase in the number of components in the apparatus, the number of calibration work for the measurement system increases, and switching by the RF switch and the WG switch is performed in many places in the measurement apparatus. Therefore, the measurement reproducibility was reduced.
しかし、本発明による実施の形態1のRF特性自動測定装置100においては、試験体1は、試験体1上面側の全ての被測定端子(入力側)4を終端するように終端器2が取付られ、装置筐体7に設置されている。また、試験体1は、APAA(Active Phased Array Antenna)の主要構成品であり、各々の試験体1は、多数の被測定端子(入力側)4(数十〜数百個程度)を有している。このため、従来の装置構成では不可能であった多数の被測定端子を有して、試験体のRF特性自動試験を可能にしている。
However, in the RF characteristic automatic measuring apparatus 100 according to the first embodiment of the present invention, the terminator 2 is attached so that the test body 1 terminates all the measured terminals (input side) 4 on the upper surface side of the test body 1. Installed in the
また、RF特性自動測定装置100は、試験体1の所定の被測定端子(入力側)4に、測定端子3を挿入するため、被測定端子(入力側)4の終端器2を着脱するためのハンド6を有したことを特徴としている。
測定端子3は同軸ケーブル18aを介して、計測器14に接続され、ハンド6は制御ケーブル19を介して、ハンド制御部15に接続されている。
Further, the RF characteristic automatic measuring apparatus 100 is for inserting and removing the terminator 2 of the measured terminal (input side) 4 in order to insert the measuring terminal 3 into the predetermined measured terminal (input side) 4 of the test body 1. It is characterized in that it has a hand 6.
The measurement terminal 3 is connected to the measuring instrument 14 via the coaxial cable 18 a, and the hand 6 is connected to the
測定端子3とハンド6はホルダ12に設置されており、ホルダ12はZ軸ステージ11に設置されている。
Z軸ステージ11はZ軸ユニットホルダ10に設置されており、ホルダ10はX軸ステージ8及びY軸ステージ9上に設置されている。
X軸ステージ8は制御ケーブル20cを、Y軸ステージ9は制御ケーブル20bを、Z軸ステージ11は制御ケーブル20aを介して駆動軸制御部16に接続されている。
The measurement terminal 3 and the hand 6 are installed on a
The Z-axis stage 11 is installed on the Z-axis unit holder 10, and the holder 10 is installed on the
The
試験体1下面側の被測定端子(出力側)5は、同軸ケーブル18bを介して、計測器14に接続されている。 The terminal to be measured (output side) 5 on the lower surface side of the test body 1 is connected to the measuring instrument 14 via the coaxial cable 18b.
計測器14、ハンド制御部15、駆動軸制御部16は、制御ケーブルを介して、計算機13と接続されている。
The measuring instrument 14, the
図2は実施の形態1に適用される試験体の概略図を示すものであり、2a〜2iは終端器、4a〜4iは被測定端子(入力側)、5は被測定端子(出力側)、21は高周波線路である。
実施の形態1に適用される試験体は、機器同士を直接接続することが可能なプッシュオンコネクタ型の被測定端子を有する高周波の分配・合成回路機器である。
FIG. 2 shows a schematic diagram of a test body applied to the first embodiment, 2a to 2i are terminators, 4a to 4i are terminals to be measured (input side), and 5 is a terminal to be measured (output side). , 21 are high-frequency lines.
The test body applied to the first embodiment is a high-frequency distribution / synthesis circuit device having a push-on connector type terminal to be measured that can directly connect the devices.
試験体1はAPAA(Active Phased Array Antenna)の構成品である、高周波の分配・合成回路である。試験体1の内部は高周波信号を分配・合成するための、高周波線路21が形成されている。被測定端子(入力側)4はプッシュオンコネクタ型の被測定端子(4a〜4i)となっており、全ての被測定端子を終端するように終端器(2a〜2i)が設置されている。また同様に被測定端子(出力側)5もプッシュオンコネクタ型の被測定端子となっている。 The test body 1 is a high-frequency distribution / synthesis circuit that is a component of APAA (Active Phased Array Antenna). A high frequency line 21 for distributing and synthesizing high frequency signals is formed inside the test body 1. The terminals to be measured (input side) 4 are push-on connector type terminals to be measured (4a to 4i), and terminators (2a to 2i) are installed so as to terminate all the terminals to be measured. Similarly, the measured terminal (output side) 5 is a push-on connector type measured terminal.
試験体1は、例えば、APAAの主要構成品であり、各々の試験体1は、多数の入力測定端子4a〜4i(数十〜数百個程度)を有している。 The test body 1 is, for example, a main component of APAA, and each test body 1 has a large number of input measurement terminals 4a to 4i (about several tens to several hundreds).
図3は本発明の実施の形態1により、RF特性自動測定装置100を用いてRF特性を測定する動作を示すフロチャートである。 FIG. 3 is a flowchart showing an operation of measuring the RF characteristic using the RF characteristic automatic measuring apparatus 100 according to the first embodiment of the present invention.
予め、供試体の被測定端子(出力側)5を同軸ケーブル18bを介して計測器14を接続する。(ST1)次に、全ての被測定端子(入力側)4には、終端器2a〜2iを接続する。(ST2) The measuring instrument 14 is connected to the terminal under test (output side) 5 of the specimen beforehand via the coaxial cable 18b. (ST1) Next, the terminators 2a to 2i are connected to all the terminals to be measured (input side) 4. (ST2)
実施の形態1のように構成されたRF特性自動測定装置100において、試験体1のRF特性を測定する場合、被測定端子4a〜4iの終端器2a〜2iを取り外すため、ハンド6を終端器2a〜2iの上空に移動させるために、計算機13から駆動軸制御部16に対し移動指示を送信し、駆動軸制御部16は、X軸ステージ8、Y軸ステージ9、Z軸ステージ11に接続されているACサーボモータを駆動させ移動させる。
In the RF characteristic automatic measuring apparatus 100 configured as in the first embodiment, when measuring the RF characteristics of the test body 1, the hand 6 is terminated in order to remove the terminators 2a to 2i of the terminals 4a to 4i to be measured. In order to move it over 2a to 2i, the
Z軸ステージ11の移動完了後に、計算機13からハンド制御部15に対して、ハンド把持指示を送信し、ハンド6は被測定箇所の終端器2を外して把持する。(ST3)
After the movement of the Z-axis stage 11 is completed, a hand grip instruction is transmitted from the
ハンド6が終端器2を把持した状態で、計算機13から駆動軸制御部16に対して移動指示を送信し、Z軸ステージ11は所定量上昇方向に移動する。(ST4)
With the hand 6 holding the terminator 2, a movement instruction is transmitted from the
Z軸ステージ11の移動完了後に、測定端子3を被測定端子上空に移動させるために、計算機13から駆動軸制御部16に対し移動指示を送信し、X軸ステージ8、Y軸ステージ9を移動させる。
After the movement of the Z-axis stage 11 is completed, a movement instruction is transmitted from the
X軸ステージ8、Y軸ステージ9の移動完了後に、計算機13から駆動軸制御部16に対し移動指示を送信し、Z軸ステージ11を下降方向に移動させる。
被測定端子4はプッシュオンコネクタ型のものを使用しており、測定端子3の先端を高精度に位置決めして、Z軸ステージ11を所定量下降させることによって、測定端子3が被測定端子4へ挿入する。(ST5)
After the movement of the
The terminal to be measured 4 is of a push-on connector type, and the measuring terminal 3 is moved to the terminal 4 to be measured by positioning the tip of the measuring terminal 3 with high accuracy and lowering the Z-axis stage 11 by a predetermined amount. Insert into. (ST5)
図1に示す計測器に接続されている測定経路に設定した後に、計算機13から計測器14にGPIBを使用して測定指示を送信することによりRF特性測定を行う。具体的には、計算機13から測定指示を受けて、所定の被測定端子(入力側)4のSパラメータ測定を計測器14が実施し、測定完了後、計算機13は計測器14からGPIBを使用して測定結果を得て、所定の被測定端子(入力側)4に対応した保管エリアに記憶保管し、次の動作ST7へ移行する。(ST6)
After setting the measurement path connected to the measuring instrument shown in FIG. 1, RF characteristics are measured by transmitting a measurement instruction from the
被測定箇所が全て完了したかどうかを判断し(ST7)、完了(Yes)ならば終了し、完了していな(No)ければ次に、ST3から同様の動作を繰り返す。 It is determined whether or not all the measured points have been completed (ST7). If the measurement is completed (Yes), the process ends. If not (No), the same operation is repeated from ST3.
実施の形態1によれば、従来であれば多数設置していたRFスイッチ及びWGスイッチを増設する必要が無く、X軸スライダ8、Y軸スライダ9の移動量を可変するだけで被測定端子の切換えが可能になり、結果として装置の低コスト化を図ることが可能になるという効果があり、また同時に測定系の簡略化を実現し、測定再現性の向上も可能となるという効果がある。
According to the first embodiment, it is not necessary to add a large number of RF switches and WG switches, which are conventionally installed, and only the amount of movement of the
実施の形態2.
図4はこの発明の実施の形態2におけるRF特性自動測定装置100を示すものであり、24は放射電波、25は装置筐体壁面17の内側に設置された電波吸収体、1〜17は図1と同じものである。
本実施の形態に適用される試験体22は、機器同士を直接接続することが可能なプッシュオンコネクタ型の被測定端子を有する、素子アンテナである。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 4 shows an RF characteristic automatic measuring apparatus 100 according to Embodiment 2 of the present invention, in which 24 is a radiated radio wave, 25 is a radio wave absorber installed inside the apparatus housing wall surface 17, and 1 to 17 are diagrams. Same as 1.
The
実施の形態2における試験体22は、APAA(Active Phased Array Antenna)の主要構成品であり、各々の試験体1は、多数の被測定端子(入力側)4a〜4i(数十〜数百個程度)を有している。
被測定物がアレーアンテナなどに使用される素子アンテナである場合、その性能評価のために、空間中に被測定物から高周波信号を放射した上で被測定物の反射特性を測定する必要がある。
The
When the device under test is an element antenna used for an array antenna or the like, it is necessary to measure the reflection characteristics of the device under test after radiating a high-frequency signal from the device under test to evaluate its performance. .
従来のRF特性の自動測定装置においては閉回路の特性測定にのみ対応可能であることから、被測定物から放射された高周波信号を減衰させる機構が装置内には無いので、従来の自動測定装置の構成において、素子アンテナの反射特性測定は不可能であった。 Since the conventional automatic measurement apparatus for RF characteristics can only handle closed circuit characteristic measurement, there is no mechanism in the apparatus for attenuating the high-frequency signal radiated from the object to be measured. In the configuration, the reflection characteristics of the element antenna could not be measured.
しかし、本実施例のRF特性自動測定装置100において、試験体22は、試験体22上面側の全ての被測定端子を終端するように終端器2が取付られ、装置筐体7に設置されている。
However, in the RF characteristic automatic measuring apparatus 100 of the present embodiment, the
また、試験体22の所定の被測定端子に、測定端子3を挿入するため、被測定端子の終端器2を着脱するためのハンド6を有している。
測定端子3は同軸ケーブル18aを介して、計測器14に接続され、ハンド6は制御ケーブル19を介して、ハンド制御部15に接続されている。
Further, in order to insert the measuring terminal 3 into a predetermined terminal to be measured of the
The measurement terminal 3 is connected to the measuring instrument 14 via the coaxial cable 18 a, and the hand 6 is connected to the
測定端子3とハンド6はホルダ12に設置されており、ホルダ12はZ軸ステージ11に設置されている。
Z軸ステージ11はZ軸ユニットホルダ10に設置されており、ホルダ10はX軸ステージ8及びY軸ステージ9上に設置されている。
X軸ステージ8は制御ケーブル20cを、Y軸ステージ9は制御ケーブル20bを、Z軸ステージ11は制御ケーブル20aを介して駆動軸制御部16に接続されている。
The measurement terminal 3 and the hand 6 are installed on a
The Z-axis stage 11 is installed on the Z-axis unit holder 10, and the holder 10 is installed on the
The
計測器14、ハンド制御部15、駆動軸制御部16は、制御ケーブルを介して、計算機13と接続されている。
The measuring instrument 14, the
ここで、試験体22の下側面については装置筐体壁面17の内側に電波吸収体25を設置することによって、試験体22の性能評価のために、素子アンテナ出力部23から空間中に放射した電波が、装置筐体7内部を伝搬し、電波の振幅レベルを電波吸収体25で減衰させることが可能になり、試験体22の反射特性を測定することができるようになる。
Here, the lower surface of the
図5は実施の形態2に適用される試験体の概略図を示すものであり、22は試験体、23a〜23iは素子アンテナ出力部であり、2a〜2iは終端器、4a〜4iは測定端子は図2と同じものである。 FIG. 5 shows a schematic diagram of a test body applied to the second embodiment, 22 is a test body, 23a to 23i are element antenna output units, 2a to 2i are terminators, and 4a to 4i are measurement. The terminals are the same as in FIG.
試験体22の被測定端子に対応する素子アンテナ出力部23a〜23iから放射電波24が放射されるが、装置筐体壁面17に設置されている電波吸収体25により、試験体22の被測定端子に対応する出力部に入力される装置筐体7内部での反射波の振幅レベルを、計測器14の測定感度下限以下に減衰させることにより、試験体22の反射測定を可能にしている。
The radiated
図6は本発明の実施の形態2により、RF特性を測定する動作を示すフロチャートである。 FIG. 6 is a flowchart showing an operation for measuring RF characteristics according to the second embodiment of the present invention.
実施の形態2のように構成された測定装置において、試験体22の反射特性を測定する場合、被測定端子の終端器2を外して把持する。
In the measuring apparatus configured as in the second embodiment, when measuring the reflection characteristic of the
予め、全ての被測定端子には、終端器を接続する。(ST12) In advance, terminators are connected to all the terminals to be measured. (ST12)
ハンド6を終端器2の上空に移動させるために、計算機13から駆動軸制御部16に対し移動指示を送信し、駆動軸制御部16は、X軸ステージ8、Y軸ステージ9、Z軸ステージ11に接続されているACサーボモータを駆動させを移動させる。(ST14)
In order to move the hand 6 over the terminator 2, a movement instruction is transmitted from the
Z軸ステージ11の移動完了後に、計算機13からハンド制御部15に対して、ハンド把持指示を送信し、ハンド6は終端器2を把持する。(ST13)
After the movement of the Z-axis stage 11 is completed, a hand grip instruction is transmitted from the
ハンド6が終端器2を把持した状態で、計算機13から駆動軸制御部16に対して移動指示を送信し、Z軸ステージ11は所定量上昇方向に移動する。
With the hand 6 holding the terminator 2, a movement instruction is transmitted from the
Z軸ステージ11の移動完了後に、測定端子3を被測定端子上空に移動させるために、計算機13から駆動軸制御部16に対し移動指示を送信し、X軸ステージ8、Y軸ステージ9を移動させる。
After the movement of the Z-axis stage 11 is completed, a movement instruction is transmitted from the
X軸ステージ8、Y軸ステージ9の移動完了後に、計算機13から駆動軸制御部16に対し移動指示を送信し、Z軸ステージ11を下降方向に移動させる。
被測定端子4はプッシュオンコネクタ型のものを使用しており、測定端子3の先端を高精度に位置決めして、Z軸ステージ11を所定量下降させることによって、測定端子3が被測定端子4へ挿入する。(ST15)
After the movement of the
The terminal to be measured 4 is of a push-on connector type, and the measuring terminal 3 is moved to the terminal 4 to be measured by positioning the tip of the measuring terminal 3 with high accuracy and lowering the Z-axis stage 11 by a predetermined amount. Insert into. (ST15)
図4に示す計測器に接続されている測定経路に設定した後に、計算機13から計測器14にGPIBを使用して測定指示を送信することによりRF特性測定を行う。具体的には、計算機13から測定指示を受けて、所定の被測定端子(入力側)4のSパラメータ測定を計測器14が実施し、測定完了後、計算機13は計測器14からGPIBを使用して測定結果を得て、所定の被測定端子(入力側)4に対応した保管エリアに記憶保管し、次の動作ST7へ移行する。(ST16)
After setting the measurement path connected to the measuring instrument shown in FIG. 4, the RF characteristics are measured by transmitting a measurement instruction from the
被測定箇所が全て完了したかどうかを判断し(ST17)、完了(Yes)ならば終了し、完了していな(No)ければ次に、ST13から同様の動作を繰り返す。 It is determined whether or not all the locations to be measured are completed (ST17). If the measurement is completed (Yes), the process ends. If not (No), the same operation is repeated from ST13.
実施の形態2によれば、従来の自動測定装置では不可能であった素子アンテナの測定が可能になるという効果があり、また試験体22の測定周波数帯域に応じて、電波吸収体25の種類を変更することにより広帯域な周波数帯域を測定することが可能になるという効果がある。
According to the second embodiment, there is an effect that it is possible to measure the element antenna which is impossible with the conventional automatic measuring apparatus, and the type of the radio wave absorber 25 is set according to the measurement frequency band of the
なお、上記説明では、この発明によるRF特性自動測定装置は、複数の被測定端子を有する一つの試験体を測定する場合について述べたが、単一の被測定端子を有する複数の試験体を測定する場合についても利用できることはいうまでもない。 In the above description, the RF characteristic automatic measuring apparatus according to the present invention has been described for the case of measuring one test body having a plurality of terminals to be measured. Needless to say, it can also be used when doing so.
1 試験体、 2 終端器、 3 測定端子、 4 被測定端子(入力側)、 5 被測定端子(出力側) 、 6 ハンド、 7 装置筐体、 8 X軸スライダ、 9 Y軸スライダ、 10 Z軸ユニットホルダ、 11 Z軸スライダ、 12 ホルダ、 13 計算機、 14 計測器、 15 ハンド制御部、 16 駆動軸制御部、 17 装置筐体壁面、 18 同軸ケーブル、 19 制御ケーブル、 20 制御ケーブル、 21 高周波線路、 22 試験体、 23 素子アンテナ出力部、 24 放射電波、 25 電波吸収体、 100 RF特性自動測定装置。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test body, 2 Terminator, 3 Measurement terminal, 4 Terminal to be measured (input side), 5 Terminal to be measured (output side), 6 Hand, 7 Apparatus housing, 8 X-axis slider, 9 Y-axis slider, 10 Z Axis unit holder, 11 Z-axis slider, 12 holder, 13 computer, 14 measuring instrument, 15 hand control unit, 16 drive shaft control unit, 17 device housing wall surface, 18 coaxial cable, 19 control cable, 20 control cable, 21 high frequency Line, 22 test body, 23 element antenna output section, 24 radiated radio wave, 25 radio wave absorber, 100 RF characteristic automatic measuring device.
Claims (3)
所定の上記被測定端子(入力側)に測定端子及び終端器を着脱するハンドと、
上記ハンドを3軸方向で駆動させるスライダ部と、
上記スライダ部を3軸方向で所定の位置へ駆動し、上記ハンドを開閉制御する駆動軸制御部と、
上記試験体の被測定端子(出力側)から計測器が特性データを取得し、そのデータ取得処理を制御し、取得したデータを記録保管する計算機と、
当該試験体を設置可能な構造を有し、当該試験体から放射される電波が伝播する空間を有する装置筐体と、
を具備したことを特徴とするRF(Radio Frequency)特性自動測定装置。 A plurality of terminals to be measured (input side) attached to the specimen;
A hand for attaching / detaching the measurement terminal and the terminator to the predetermined measured terminal (input side);
A slider portion for driving the hand in three axial directions;
A drive shaft control unit that drives the slider unit to a predetermined position in three axis directions and controls the opening and closing of the hand;
A measuring instrument acquires characteristic data from the measured terminal (output side) of the test specimen, controls the data acquisition process, and records and stores the acquired data;
An apparatus housing having a structure in which the test body can be installed and having a space in which radio waves radiated from the test body propagate;
An RF (Radio Frequency) characteristic automatic measuring device characterized by comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006029793A JP4802744B2 (en) | 2006-02-07 | 2006-02-07 | RF characteristic automatic measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006029793A JP4802744B2 (en) | 2006-02-07 | 2006-02-07 | RF characteristic automatic measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007212176A true JP2007212176A (en) | 2007-08-23 |
JP4802744B2 JP4802744B2 (en) | 2011-10-26 |
Family
ID=38490775
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006029793A Active JP4802744B2 (en) | 2006-02-07 | 2006-02-07 | RF characteristic automatic measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4802744B2 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008161994A (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic connector insertion/removal device and connector insertion/removal method |
JP2011140099A (en) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic inserting and withdrawing device for connector |
CN103605033A (en) * | 2013-11-29 | 2014-02-26 | 北京无线电计量测试研究所 | Cross-frequency-band electromagnetic property measuring device and method of X band antennas |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6486467A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-31 | Nippon Telegraph & Telephone | Method and device for changeover of wiring code |
JPH0738512A (en) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Nec Corp | Automatic measuring instrument |
JPH0915282A (en) * | 1995-06-30 | 1997-01-17 | Japan Radio Co Ltd | Array antenna diagnostic method and apparatus thereof |
JPH09107234A (en) * | 1995-10-11 | 1997-04-22 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | Array antenna measurement fittings |
JP2003156514A (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Tdk Corp | Measuring apparatus |
-
2006
- 2006-02-07 JP JP2006029793A patent/JP4802744B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6486467A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-31 | Nippon Telegraph & Telephone | Method and device for changeover of wiring code |
JPH0738512A (en) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Nec Corp | Automatic measuring instrument |
JPH0915282A (en) * | 1995-06-30 | 1997-01-17 | Japan Radio Co Ltd | Array antenna diagnostic method and apparatus thereof |
JPH09107234A (en) * | 1995-10-11 | 1997-04-22 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | Array antenna measurement fittings |
JP2003156514A (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Tdk Corp | Measuring apparatus |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008161994A (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic connector insertion/removal device and connector insertion/removal method |
JP4650411B2 (en) * | 2006-12-29 | 2011-03-16 | 三菱電機株式会社 | Connector automatic insertion / extraction device and connector insertion / extraction method |
JP2011140099A (en) * | 2010-01-08 | 2011-07-21 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic inserting and withdrawing device for connector |
CN103605033A (en) * | 2013-11-29 | 2014-02-26 | 北京无线电计量测试研究所 | Cross-frequency-band electromagnetic property measuring device and method of X band antennas |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4802744B2 (en) | 2011-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101995520B (en) | Antenna testing device and antenna testing method | |
KR101360280B1 (en) | Multichannel absorberless near field measurement system | |
US8203348B1 (en) | Autonomous impedance tuner with human control interface | |
CN112154331A (en) | Over-the-air testing of millimeter wave integrated circuits with integrated antennas | |
CA2549698A1 (en) | Signal measurement systems and methods | |
US8405475B2 (en) | Harmonic impedance tuner with four wideband probes and method | |
WO2010083152A1 (en) | High frequency analysis of a device under test | |
US10686239B1 (en) | Slide screw tuners with offset tuning probes and method | |
CN103809100B (en) | Wafer Auto-Test System | |
CN110416681B (en) | Broadband adaptive adjusting device and method for resonant cavity coupling quantity | |
CN211374898U (en) | Antenna test system | |
JP4802744B2 (en) | RF characteristic automatic measuring device | |
WO2015123212A1 (en) | System and method for automated loss testing | |
KR100594192B1 (en) | Phased array antenna measurement system and method | |
CN210665889U (en) | Probe slide rail test system | |
CN110470973B (en) | Automatic on-chip test system for noise coefficient of low-noise amplifier chip | |
KR20220153023A (en) | interface board calibration | |
JP2022078723A (en) | Dielectric constant measuring device, dielectric constant measuring method, program, and storage medium | |
US20180323888A1 (en) | Test system and method for testing multiple input multiple output capabilities | |
Mokthari et al. | Exploring Nanorobotics Integration with Microwave and Millimeter-Wave Techniques for Advanced On-wafer Measurement | |
KR101474337B1 (en) | Gps receiving apparatus to provide reference clock signal and control method thereof | |
CN118962301A (en) | A S parameter testing device, system and method | |
CN216051949U (en) | A Multi-User Electromagnetic Wave Imaging and Measurement System | |
US12265101B1 (en) | Load pull tuner for waveguide wafer probe | |
US11662364B1 (en) | Integrated waveguide tuner |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080821 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110322 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110531 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110621 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110712 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110725 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4802744 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |