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JP2007103440A - Wiring board and method of manufacturing the same - Google Patents

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JP2007103440A
JP2007103440A JP2005288043A JP2005288043A JP2007103440A JP 2007103440 A JP2007103440 A JP 2007103440A JP 2005288043 A JP2005288043 A JP 2005288043A JP 2005288043 A JP2005288043 A JP 2005288043A JP 2007103440 A JP2007103440 A JP 2007103440A
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layer
wiring board
base film
conductive metal
conductor pattern
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JP2005288043A
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Inventor
Teruaki Yagi
輝明 八木
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Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring board wherein a conductor pattern with a very fine pitch can be formed and the conductive pattern transferred to an insulating substrate is high in peeling intensity, and to provide a method of manufacturing the same. <P>SOLUTION: First, an ultra-thin conductive metal layer 12 is formed on the surface of a supporting substrate 10, and a resist pattern is formed on the surface of the ultra-thin conductive metal layer. A plating layer having the nearly same thickness as the resist pattern is formed on the surface of the ultra-thin conductive metal layer not covered with the resist pattern, by electric plating, and then a nodule 20 is formed on the surface of the formed plating layer by electric plating. Next, the adhesive layer of a substrate film having an adhesive layer 22 is brought into contact with the surface of an insulating film, thus allowing the nodule to invade the adhesive layer. Then, the supporting substrate is peeled off, and a resist pattern formed on the supporting substrate and the plating layer are transferred to the side of a substrate film, the resist pattern transferred to the side of the substrate film is removed, and a conductor pattern 18 made of copper is formed on the surface of the substrate film. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は転写法による配線基板の製造方法およびこの製造方法により形成される配線基板に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing a wiring board by a transfer method and a wiring board formed by the manufacturing method.

一般に、配線基板は、基材表面に積層された金属層の表面に感光性樹脂の塗膜を形成し、この感光性樹脂塗膜を露光・現像することにより、感光性樹脂硬化体を所望の形状に残したマスキング材を形成し、次いで、このマスキング材が設けられていない部分の金属層をエッチングする方法(サブトラクティブ法)により形成されている。このような従来の方法では、形成される配線パターンの上部断面長さが短く、絶縁フィルム側(下部)断面長さが長い、所謂断面形状が台形の配線パターンが形成されるのが一般的である(アンダーカット現象)。また、上記のような従来の方法では、形成される配線パターンの幅に限度があり、最近のファインピッチの配線パターンよりもさらに細い配線パターンを形成する方法としては限界に近づきつつある。   In general, a wiring board forms a photosensitive resin coating on the surface of a metal layer laminated on the surface of a base material, and exposes and develops the photosensitive resin coating to obtain a desired photosensitive resin cured body. The masking material left in the shape is formed, and then the portion of the metal layer not provided with the masking material is etched (subtractive method). In such a conventional method, it is common to form a wiring pattern having a so-called cross-sectional trapezoidal cross-sectional shape in which the upper cross-sectional length of the formed wiring pattern is short and the insulating film side (lower) cross-sectional length is long. Yes (undercut phenomenon). Further, the conventional method as described above has a limit on the width of the wiring pattern to be formed, and is approaching the limit as a method of forming a wiring pattern thinner than the recent fine pitch wiring pattern.

上記のようなサブトラクティブ法による全く別の方法として、絶縁フィルムとは別体として形成された導体パターンを絶縁フィルム上に貼着する転写法が知られている。
しかしながら、この転写法では、例えば特許文献1(特開2000−71387号公報)あるい
は特許文献2(特開平9-64514号公報)に示されるように、導体パターンが絶縁基板など
の基材に埋没し、例えば上記のような転写法で製造された配線基板は異方導電性接着ができないなど、従来の配線基板で確立されている方法を採用することができないという問題がある。
As a completely different method based on the subtractive method as described above, there is known a transfer method in which a conductor pattern formed separately from an insulating film is bonded onto the insulating film.
However, in this transfer method, for example, as shown in Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-71387) or Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 9-64514), a conductor pattern is buried in a base material such as an insulating substrate. However, for example, a wiring board manufactured by the transfer method as described above has a problem that a method established by a conventional wiring board cannot be adopted, such as an anisotropic conductive adhesion.

また、特許文献3(特開平11-251722号公報)あるいは特許文献4(特開平4-260389号
公報)に示されるように、絶縁基板の表面に凸状に導体パターンを形成できたとしても、このような特許文献3あるいは特許文献4に記載されている方法では、絶縁基板に対する導体パターンのピール強度が充分には高くならない。また、特許文献5(特開平11-266069号公報)および特許文献6(特開平11-266070号公報)にはピール強度に着目した転写法の発明が開示されているが、これらの公報に記載されている方法ではファインピッチの導体パターンを形成することは甚だ困難である。
特開2000-71387号公報 特開平9-64514号公報 特開平11-251722号公報 特開平4-260389号公報 特開平11-266069号公報 特開平11-266070号公報
Further, as shown in Patent Document 3 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-251722) or Patent Document 4 (Japanese Patent Laid-Open No. 4-260389), even if a conductor pattern can be formed in a convex shape on the surface of an insulating substrate, In such a method described in Patent Document 3 or Patent Document 4, the peel strength of the conductor pattern with respect to the insulating substrate is not sufficiently high. Further, Patent Document 5 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-266069) and Patent Document 6 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-266070) disclose inventions of a transfer method focusing on peel strength. However, it is very difficult to form a fine pitch conductor pattern by the conventional method.
JP 2000-71387 A Japanese Patent Laid-Open No. 9-64514 Japanese Patent Laid-Open No. 11-251722 JP-A-4-260389 Japanese Patent Laid-Open No. 11-266069 Japanese Patent Laid-Open No. 11-266070

本発明は新規な転写法による配線基板およびその製造方法を提供することを目的としている。
さらに詳しくは本発明は、非常にファインピッチの導体パターンを形成することができ、しかも絶縁基板に対する転写された導体パターンのピール強度の高い配線基板およびその製造方法を提供することを目的としている。
An object of the present invention is to provide a wiring board by a novel transfer method and a manufacturing method thereof.
More specifically, an object of the present invention is to provide a wiring board capable of forming a very fine-pitch conductor pattern and having a high peel strength of the transferred conductor pattern with respect to an insulating substrate, and a method for manufacturing the same.

また、本発明は、非常にファインピッチの導体パターンを形成することができ、しかも絶縁基板に対する転写された導体パターンのピール強度の高い配線基板であって、導体パ
ターンが絶縁基板表面に凸状に形成されており、従来の配線基板と同様に、異方導電接着により電子装置に組み込みが可能な配線基板およびその製造方法を提供することを目的としている。
In addition, the present invention is a wiring board that can form a very fine-pitch conductor pattern and has a high peel strength of the transferred conductor pattern with respect to the insulating substrate, and the conductor pattern has a convex shape on the surface of the insulating substrate. An object of the present invention is to provide a wiring board that can be incorporated into an electronic device by anisotropic conductive bonding and a method for manufacturing the same, as in the case of a conventional wiring board.

本発明の配線基板の製造方法は、支持基材の表面に極薄導電性金属層を形成し、該極薄導電性金属層の表面に、レジストパターンを形成し、該レジストパターンによって被覆されていない極薄導電性金属層の表面に、該レジストパターンと略同一の厚さのメッキ層を電気メッキにより形成した後、該形成されたメッキ層の表面に電気メッキによりノジュールを形成し、次いで、絶縁フィルムの表面に接着剤層を有する基材フィルムの接着剤層を接触させて、該接着剤層に、上記ノジュールを侵入させた後、支持基材を剥離して支持基材上に形成されたレジストパターンおよびメッキ層を基材フィルム側に転写し、次いで、基材フィルム側に転写されたレジストパターンを除去して、基材フィルムの表面に銅製の導体パターンを形成することを特徴としている。   In the method for producing a wiring board of the present invention, an ultrathin conductive metal layer is formed on the surface of a support base material, a resist pattern is formed on the surface of the ultrathin conductive metal layer, and the resist pattern is covered. After forming a plating layer having the same thickness as the resist pattern on the surface of the non-thin conductive metal layer by electroplating, nodules are formed on the surface of the formed plating layer by electroplating; An adhesive layer of a base film having an adhesive layer is brought into contact with the surface of the insulating film, and the nodule is intruded into the adhesive layer, and then the support base is peeled off to be formed on the support base. Transfer the resist pattern and plating layer to the base film side, and then remove the resist pattern transferred to the base film side to form a copper conductor pattern on the surface of the base film. It is a symptom.

上記のように本発明の配線基板の製造方法では、導体パターンの表面にノジュールを形成し、このノジュールが基材フィルムの接着剤層内に侵入することにより、接着剤との接触表面が大きくなると共に、このノジュールの投錨効果によって、導体パターンが基材フィルムに対して高いピール強度を有する。   As described above, in the method for manufacturing a wiring board according to the present invention, a nodule is formed on the surface of the conductor pattern, and the nodule penetrates into the adhesive layer of the base film, thereby increasing the contact surface with the adhesive. At the same time, due to the nodule throwing effect, the conductor pattern has a high peel strength with respect to the base film.

本発明によれば、転写法により非常にファインピッチの導体パターンを形成することができる。しかも、この導体パターンは、転写法により形成されているにも拘らず、基材フィルムに対して高ピール強度を有する。   According to the present invention, a very fine pitch conductor pattern can be formed by a transfer method. And although this conductor pattern is formed by the transfer method, it has high peel strength with respect to a base film.

さらに、本発明の方法では、感光性樹脂を所望の形状に露光・現像して形成された凹部にメッキして導体パターンを形成し、この導体パターンの表面にノジュールを形成した後、基材フィルムに導体パターンを転写しているので、導体パターンの断面の側面が絶縁フィルムの表面に対してほぼ直角に形成され、したがって本発明の方法で製造された配線基板の導体パターンの断面形状は矩形に形成される。このように導体パターンの断面形状が矩形であり、従来の方法で製造した配線パターンにおけるようなアンダーカット現象などは現れないので、非常に微細な導体パターンを密に形成することができる。   Furthermore, in the method of the present invention, a conductive resin is plated on a recess formed by exposing and developing a photosensitive resin into a desired shape to form a conductor pattern, and after forming nodules on the surface of the conductor pattern, a base film Since the conductor pattern is transferred to the wiring board, the side surface of the cross section of the conductor pattern is formed substantially at right angles to the surface of the insulating film. Therefore, the cross sectional shape of the conductor pattern of the wiring board manufactured by the method of the present invention is rectangular. It is formed. Thus, since the cross-sectional shape of the conductor pattern is rectangular and the undercut phenomenon or the like does not appear in the wiring pattern manufactured by the conventional method, a very fine conductor pattern can be formed densely.

次に本発明の配線基板の製造方法およびこのようにして得られる配線基板について具体的に説明する。
図1は、本発明の配線基板の製造方法において、各工程における基板の断面の例を示す断面図である。
Next, the manufacturing method of the wiring board of the present invention and the wiring board obtained in this way will be specifically described.
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a cross section of a substrate in each step in the method for manufacturing a wiring board of the present invention.

図1(a),(b)に示すように、本発明の配線基板の製造方法では、支持基材10の表面に極
薄導電性金属層12を形成する。
ここで、支持基材10としては、通常は合成樹脂フィルム、合成樹脂板などの絶縁性樹脂から形成されたフィルム、シート、板などを使用することができる。このような支持基材10の厚さ、形状に特に制限はないが、本発明で連続的に配線基板を製造する場合には、自己形態支持性を有すると共に可撓性を有する合成樹脂フィルムあるいはシートが好ましく、このような支持基材10として合成樹脂シートあるいは合成樹脂フィルムを使用する場合には、この支持基材10の厚さは通常は15〜50μm、好ましくは35〜70μmの範囲内にある。また、この支持基材10の表面にはスパッタリングなどにより、極薄導電性金属層12を形成することから、ある程度の耐熱性を有することが好ましく、このような支持体基材10を形成する樹脂の例として、ポリイミド、ポリイミドアミド、ポリアミド;PETお
よびPENなどのポリエステルを挙げることができる。特に本発明ではPETあるいはポリイミドから形成されたフィルムあるいはシートを使用することが好ましい。
As shown in FIGS. 1A and 1B, in the method for manufacturing a wiring board according to the present invention, an ultrathin conductive metal layer 12 is formed on the surface of a support base 10.
Here, as the support substrate 10, a film, a sheet, a plate, or the like that is usually formed from an insulating resin such as a synthetic resin film or a synthetic resin plate can be used. The thickness and shape of the support base 10 are not particularly limited, but when a wiring board is continuously manufactured in the present invention, a synthetic resin film having self-form supportability and flexibility or A sheet is preferable, and when a synthetic resin sheet or a synthetic resin film is used as such a supporting substrate 10, the thickness of the supporting substrate 10 is usually within a range of 15 to 50 μm, preferably 35 to 70 μm. is there. Further, since the ultrathin conductive metal layer 12 is formed on the surface of the support base material 10 by sputtering or the like, it is preferable that the support base material 10 has a certain degree of heat resistance. Examples of these include polyimide, polyimide amide, polyamide; polyesters such as PET and PEN. In particular, in the present invention, it is preferable to use a film or sheet formed from PET or polyimide.

上記のような支持基材10の表面に極薄導電性金属層12を形成する。本発明において極薄導電性金属層12は、電気メッキにより導体パターン16を形成する際の導体金属を析出させる電極となるものであり、銅、ニッケル、クロムなどの導電性金属から形成されている。このような極薄導電性金属層12は、上記のような導電性金属を、例えばスパッタリング、蒸着、メッキなどの析出方法を利用して支持基材10の表面に析出させることにより形成することができる。この極薄導電性金属層12は、後の工程で導体金属をメッキするのに充分な電力を供給できるものであればよく、その厚さに特に制限はないが、通常は5×10-3〜5μm、好ましくは5×10-3〜3μm程度である。特に本発明では、この極薄導電性金属層12を、スパッタリングにより形成することが好ましく、このようにスパッタリングにより極薄導電性金属層12を形成するに際しては、導電性金属として銅あるいはニッケルを用いて、厚さ5×10-3〜5μm、好ましくは5×10-3〜0.1μmの導電性金属層とすることが望ましい。 An ultrathin conductive metal layer 12 is formed on the surface of the support substrate 10 as described above. In the present invention, the ultrathin conductive metal layer 12 serves as an electrode for depositing a conductive metal when the conductive pattern 16 is formed by electroplating, and is formed from a conductive metal such as copper, nickel, or chromium. . Such an ultrathin conductive metal layer 12 can be formed by depositing the conductive metal as described above on the surface of the support substrate 10 using a deposition method such as sputtering, vapor deposition, or plating. it can. The ultrathin conductive metal layer 12 is not particularly limited as long as it can supply sufficient power for plating a conductor metal in a later step, but is usually 5 × 10 −3. It is about 5 μm, preferably about 5 × 10 −3 to 3 μm. Particularly in the present invention, it is preferable to form the ultrathin conductive metal layer 12 by sputtering. In forming the ultrathin conductive metal layer 12 by sputtering in this way, copper or nickel is used as the conductive metal. Thus, a conductive metal layer having a thickness of 5 × 10 −3 to 5 μm, preferably 5 × 10 −3 to 0.1 μm is desirable.

このようにして極薄導電性金属層12を形成した後、この極薄導電性金属層12の表面に感光性樹脂層を形成して、この感光性樹脂層を露光・現像することにより、凹部16を形成する。感光性樹脂には、露光することにより硬化するタイプの感光性樹脂と、露光することにより溶解性となるタイプの感光性樹脂があるが、本発明ではどちらのタイプの感光性樹脂を使用することができる。このような感光性樹脂の塗布厚さは、形成しようとする導体パターンの厚さと略同一とすることが望ましく、こうして形成される感光性樹脂層の厚さは、通常は5〜30μm、好ましくは8〜20μmの範囲内にある。上記のような感光性樹脂層を露光現像した状態の断面を図1(c)に示す。図1(c)には、感光性樹脂層を露光・現像することにより感光性樹脂の硬化体14に囲まれて凹部16が形成されており、この凹部16の底部には上記の極薄導電性金属層12が露出している。   After forming the ultrathin conductive metal layer 12 in this way, a photosensitive resin layer is formed on the surface of the ultrathin conductive metal layer 12, and the photosensitive resin layer is exposed and developed to form a recess. Form 16. The photosensitive resin includes a type of photosensitive resin that cures upon exposure and a type of photosensitive resin that becomes soluble upon exposure. In the present invention, which type of photosensitive resin is used. Can do. The coating thickness of the photosensitive resin is desirably substantially the same as the thickness of the conductor pattern to be formed, and the thickness of the photosensitive resin layer thus formed is usually 5 to 30 μm, preferably It exists in the range of 8-20 micrometers. FIG. 1C shows a cross section of the photosensitive resin layer as described above exposed and developed. In FIG. 1 (c), the photosensitive resin layer is exposed and developed to form a recess 16 surrounded by a cured body 14 of the photosensitive resin. The conductive metal layer 12 is exposed.

このようにして感光性樹脂を露光・現像して凹部16を形成した後、この凹部16に金属を析出させて導体パターンを形成する。図1(d)には、上記のようにして感光性樹脂層を露光・現像して形成された凹部16に導電性金属が電気メッキにより析出して導体パターン18を形成した状態の断面が示されている。ここで導体パターン18は、例えば、銅、ニッケル、アルミニウム、銀、金などの種々の導電性金属で形成することができるが、本発明では銅あるいは銅合金で形成することが好ましい。このときの導体パターン18の厚さは、感光性樹脂の硬化体16の厚さと略同一にすることができるが、次の工程で導体パターン18の表面にノジュール20を形成することにより導体パターン18の厚さがわずかに厚くなることから、感光性樹脂の硬化体16よりわずかに薄く形成することが望ましい。   After the photosensitive resin is exposed and developed in this manner to form the recess 16, a metal is deposited in the recess 16 to form a conductor pattern. FIG. 1 (d) shows a cross-section in a state in which a conductive metal is deposited by electroplating in the recess 16 formed by exposing and developing the photosensitive resin layer as described above to form a conductor pattern 18. Has been. Here, the conductive pattern 18 can be formed of various conductive metals such as copper, nickel, aluminum, silver, and gold. However, in the present invention, the conductive pattern 18 is preferably formed of copper or a copper alloy. The thickness of the conductor pattern 18 at this time can be made substantially the same as the thickness of the cured body 16 of the photosensitive resin, but the conductor pattern 18 is formed by forming the nodules 20 on the surface of the conductor pattern 18 in the next step. Therefore, it is desirable to form it slightly thinner than the cured body 16 of the photosensitive resin.

このような導体パターン18は、電気メッキにより形成される。すなわち、極薄導電性金属層12を一方の電極として、この極薄導電性金属層12の表面に電気メッキにより導電性金属を析出させる。このときの電気メッキ条件は、例えば導体パターン18を銅で形成する場合、メッキ電流密度0.5〜8A/dm2、メッキ液中の銅イオン濃度10〜100g/リ
ットル、メッキ温度20〜60℃、メッキ時間6〜80分間とすることが好ましい。このような条件で電気メッキを行うことにより、緻密な銅メッキ層を形成することができる。なお、ここで使用する導体パターンの形成に使用されるメッキ液は、一般に使用されているメッキ液である。なお、本発明において、この導体パターン18を形成する金属と極薄導電性金属層12を形成する金属とは、同一であっても異なっていてもよい。
Such a conductor pattern 18 is formed by electroplating. That is, using the ultrathin conductive metal layer 12 as one electrode, a conductive metal is deposited on the surface of the ultrathin conductive metal layer 12 by electroplating. The electroplating conditions at this time are, for example, when the conductor pattern 18 is made of copper, the plating current density is 0.5 to 8 A / dm 2 , the copper ion concentration in the plating solution is 10 to 100 g / liter, and the plating temperature is 20 to 60 ° C. The plating time is preferably 6 to 80 minutes. By performing electroplating under such conditions, a dense copper plating layer can be formed. The plating solution used for forming the conductor pattern used here is a plating solution that is generally used. In the present invention, the metal forming the conductor pattern 18 and the metal forming the ultrathin conductive metal layer 12 may be the same or different.

上記のようにして導体パターン18を形成した後、図1(e)に示すように、導体パターン18の表面にノジュール20を形成する。ノジュール20は、通常は0.1〜15μmの高さを
有する樹枝状の金属メッキであり、上記の導体パターン18の製造と同様に電気メッキによ
り形成することができる。このノジュール20は導体パターン18を強固に固定するためのものであり、上記導体パターン18を形成する金属と同一であることを特に必要とするものではないが、ノジュール20と導体パターン18とを一体的に形成するためには、同一の金属で形成することが好ましい。例えば、導体パターンを銅あるいは銅合金で形成した場合には、このノジュール20も銅あるいは銅合金で形成することが好ましい。
After the conductor pattern 18 is formed as described above, a nodule 20 is formed on the surface of the conductor pattern 18 as shown in FIG. The nodules 20 are typically dendritic metal plating having a height of 0.1 to 15 μm, and can be formed by electroplating in the same manner as the conductor pattern 18 described above. This nodule 20 is for firmly fixing the conductor pattern 18 and does not particularly need to be the same as the metal forming the conductor pattern 18, but the nodule 20 and the conductor pattern 18 are integrated. In order to form the target, it is preferable to form the same metal. For example, when the conductor pattern is formed of copper or a copper alloy, the nodule 20 is preferably formed of copper or a copper alloy.

このノジュール20を銅あるいは銅合金で形成する場合のメッキ条件は、メッキ電流密度3〜30A/dm2、メッキ液中の銅イオン濃度1〜50g/リットル、メッキ温度20〜
60℃、メッキ時間5〜600時間、好ましくは5〜480秒間とすることが望ましい。
When this nodule 20 is formed of copper or a copper alloy, the plating conditions are: a plating current density of 3 to 30 A / dm 2 , a copper ion concentration in the plating solution of 1 to 50 g / liter, and a plating temperature of 20 to
It is desirable that the temperature is 60 ° C. and the plating time is 5 to 600 hours, preferably 5 to 480 seconds.

ノジュール20を銅あるいは銅合金で形成する場合に使用される銅メッキ浴としては、硫酸銅メッキ浴、ピロリン酸銅メッキ浴などが好適である。
上記のようにして電気メッキを行うことにより、銅が樹枝状に析出してノジュール20を形成する。このノジュール20の高さは、導体パターン18を接着剤層22内に固定するものであり、通常は0.1〜15μm、好ましくは1〜10μmの範囲内にある。こうして形成されたノジュール20は次の工程で貼着される基材フィルムの接着剤層中に侵入して導体パターンを接着剤層に強固に固定するものである。
As the copper plating bath used when the nodule 20 is formed of copper or a copper alloy, a copper sulfate plating bath, a copper pyrophosphate plating bath, or the like is suitable.
By performing electroplating as described above, copper precipitates in a dendritic form to form nodules 20. The height of the nodule 20 is for fixing the conductor pattern 18 in the adhesive layer 22 and is usually in the range of 0.1 to 15 μm, preferably 1 to 10 μm. The nodule 20 formed in this way penetrates into the adhesive layer of the base film to be stuck in the next step and firmly fixes the conductor pattern to the adhesive layer.

このようにしてノジュール20を形成した後、必要により、形成されたノジュールにこぶ付けメッキおよびかぶせメッキを行うこともできる。こぶ付けメッキは、形成されたノジュール20に微細な粒状の金属を析出させるメッキ方法であり、かぶせメッキは、こうしてこぶ付けメッキにより析出した微細なる粒状金属を被覆固定するメッキ方法である。   After forming the nodule 20 in this manner, if necessary, the plated nodule may be subjected to bump plating and cover plating. The bump plating is a plating method in which fine granular metal is deposited on the formed nodules 20, and the cover plating is a plating method in which the fine granular metal thus deposited by the bump plating is covered and fixed.

上記のようにしてノジュール20を形成した後、絶縁フィルム24と接着剤層22とを有する基材フィルム30を貼着して、接着剤層22内部に上記のようにして形成したノジュール20を侵入させる。   After forming the nodule 20 as described above, the base film 30 having the insulating film 24 and the adhesive layer 22 is pasted, and the nodule 20 formed as described above enters the adhesive layer 22 Let

図1(f)には、ノジュール20が形成された面に、絶縁フィルム24およびこの絶縁フィル
ム24の表面に接着剤層22が形成された基材フィルム30が貼着された状態の断面が示されている。ここで貼着する基材フィルム30は、絶縁フィルム24と接着剤層22とを有しており、絶縁フィルム24を形成する樹脂素材の例としては、ポリイミド、ポリイミドアミド、ポリエステル、ポリフェニレンサルファイド、ポリエーテルイミド、フッ素樹脂、液晶ポリマー、エポキシ樹脂、ガラス-エポキシ樹脂複合体などを挙げることができる。このような
絶縁フィルム24の厚さには特に制限はなく、板状であっても可撓性のフィルム状であってもよい。
FIG. 1 (f) shows a cross-section in a state where an insulating film 24 and a base film 30 having an adhesive layer 22 formed on the surface of the insulating film 24 are attached to the surface on which the nodules 20 are formed. Has been. The base film 30 to be attached here has an insulating film 24 and an adhesive layer 22, and examples of the resin material forming the insulating film 24 include polyimide, polyimide amide, polyester, polyphenylene sulfide, Examples include ether imide, fluororesin, liquid crystal polymer, epoxy resin, and glass-epoxy resin composite. The thickness of the insulating film 24 is not particularly limited, and may be a plate shape or a flexible film shape.

この基材フィルム30が板状である場合には、例えばエポキシ樹脂、ガラス-エポキシ樹
脂複合体などを用いて板状の基板を形成することができる。
また、基材フィルム30が、可撓性を有するフィルム状である場合には、上記のような樹脂からフィルムを形成して使用することができる。このときのフィルムの厚さは、使用する樹脂により異なるが、通常は70μm以下、好ましくは5〜70μmの範囲内にある。
特に本発明ではポリイミドフィルムを使用することが好ましく、このときに使用されるポリイミドフィルムは通常は5〜70μm、好ましくは3〜70μm、特に好ましくは30〜45μmの範囲内の厚さを有している。
When the base film 30 is plate-shaped, a plate-shaped substrate can be formed using, for example, an epoxy resin, a glass-epoxy resin composite, or the like.
Moreover, when the base film 30 is a film having flexibility, it can be used by forming a film from the resin as described above. The thickness of the film at this time varies depending on the resin used, but is usually 70 μm or less, preferably 5 to 70 μm.
In particular, in the present invention, it is preferable to use a polyimide film, and the polyimide film used at this time usually has a thickness in the range of 5 to 70 μm, preferably 3 to 70 μm, particularly preferably 30 to 45 μm. Yes.

この絶縁フィルム24は、単層であっても複数の層が積層された積層体であってもよい。また、この絶縁フィルム24が複数の層が積層された積層体である場合、複数の層が接着剤成分で積層されており、必要により積層された最外層(導体パターンが形成されていない側の最外層)を剥離して使用することもできる。この場合に、剥離を容易にするために、接着剤によって積層される絶縁フィルムの表面に離型剤からなる層を介在させて、絶縁フ
ィルム本体/離型層/接着剤/補強用フィルムのような複数の層構成を有する絶縁フィルム24を用いることができる。
The insulating film 24 may be a single layer or a laminated body in which a plurality of layers are laminated. In addition, when the insulating film 24 is a laminated body in which a plurality of layers are laminated, the plurality of layers are laminated with an adhesive component, and if necessary, the outermost layer laminated (on the side where no conductor pattern is formed) The outermost layer) can be peeled off and used. In this case, in order to facilitate peeling, an insulating film layer / release layer / adhesive / reinforcing film is used by interposing a layer made of a release agent on the surface of the insulating film laminated with an adhesive. An insulating film 24 having a plurality of layer configurations can be used.

このように補強用フィルムを剥離すると、接着剤は補強用フィルムと共に剥離されるが、多くの場合、珪素化合物あるいはケイ素樹脂からなる離型層は、絶縁フィルム本体の裏面に転写されて、絶縁フィルム本体側に残存することが多い。このように離型層を残存させることによりボンディングツールの表面に基材フィルム形成成分が融着するのを防止することができる。   When the reinforcing film is peeled in this way, the adhesive is peeled off together with the reinforcing film, but in many cases, the release layer made of a silicon compound or a silicon resin is transferred to the back surface of the insulating film body, and the insulating film It often remains on the main body. By leaving the release layer in this way, it is possible to prevent the base film forming component from being fused to the surface of the bonding tool.

本発明で使用する基材フィルム30を形成する接着剤層22は、前の工程で形成したノジュール20を侵入させて導体パターン18を固定するものであり、このために基材フィルム30に形成される接着剤層22は、ノジュール20の高さを参照してその厚さが決定される。上述のようにノジュール20の高さは、通常は0.1〜15μm、好ましくは1〜10μmの範囲内にあることから、接着剤層22の厚さは、このノジュールの高さと同等かまたはこれ以上であることが望ましく、通常は1〜24μm、好ましくは2〜15μmの厚さを有している。   The adhesive layer 22 forming the base film 30 used in the present invention is to infiltrate the nodules 20 formed in the previous step and fix the conductor pattern 18, and for this purpose, it is formed on the base film 30. The thickness of the adhesive layer 22 is determined with reference to the height of the nodule 20. As described above, the height of the nodule 20 is usually in the range of 0.1 to 15 μm, preferably 1 to 10 μm. Therefore, the thickness of the adhesive layer 22 is equal to or higher than the height of the nodule. Desirably, the thickness is usually 1 to 24 μm, preferably 2 to 15 μm.

本発明において、この基材フィルム30を構成する接着剤層は、熱硬化性接着剤を使用することが好ましい。このような熱硬化性接着剤としては、エポキシ樹脂系の接着剤、ポリイミド系の接着剤、アクリル系の接着剤、ウレタン系の接着剤などを挙げることができる。特に本発明ではエポキシ系の接着剤、および/またはポリイミド系の接着剤を使用することが好ましい。すなわち、エポキシ系の接着剤およびポリイミド系の接着剤は、硬化する前の前駆体の状態では、加熱することにより、ノジュール20が侵入する程度に軟化するが、ノジュール20が侵入した後、さらに加熱することにより、これらの接着剤は硬化して堅牢は接着剤の硬化体を形成する。このような接着剤の硬化体は、良好な耐酸性を示すと共に、後の工程で加熱しても軟化することがなく、ノジュール20のアンカー効果によって導体パターン18を強固に保持する。   In the present invention, it is preferable to use a thermosetting adhesive for the adhesive layer constituting the base film 30. Examples of such thermosetting adhesives include epoxy resin adhesives, polyimide adhesives, acrylic adhesives, urethane adhesives, and the like. In particular, in the present invention, it is preferable to use an epoxy adhesive and / or a polyimide adhesive. That is, the epoxy adhesive and the polyimide adhesive soften to the extent that the nodules 20 penetrate by heating in the state of the precursor before curing, but after the nodules 20 penetrate, further heating By doing so, these adhesives harden and form a hardened body of the adhesive. Such a cured product of the adhesive exhibits good acid resistance and does not soften even when heated in a later step, and firmly holds the conductor pattern 18 by the anchor effect of the nodule 20.

上記のような基材フィルム30をノジュール20が形成された支持基材に貼着するには、基材フィルム30の接着剤層22と、ノジュール20が形成された面とが対面するように基材フィルム30を配置して、通常は加熱下に加圧して積層する。このように加熱することにより、接着剤層22は軟化してノジュール20が接着剤層22内に侵入しやすくなり、さらに加圧することにより、軟化した接着剤層22中にノジュールが侵入する。さらに、加熱することにより、ノジュール20が侵入した状態で、接着剤層22を形成する接着剤の少なくとも一部が硬化する。   In order to attach the base film 30 as described above to the support base on which the nodules 20 are formed, the adhesive layer 22 of the base film 30 and the surface on which the nodules 20 are formed face each other. The material film 30 is disposed and usually laminated by pressing under heating. By heating in this way, the adhesive layer 22 is softened, and the nodules 20 are liable to enter the adhesive layer 22, and further pressurization causes the nodules to enter the softened adhesive layer 22. Furthermore, by heating, at least a part of the adhesive forming the adhesive layer 22 is cured while the nodule 20 has entered.

なお、接着剤層22の軟化に要する温度は、通常は100〜200℃であり、このような接着剤層22にノジュール20を侵入させるのに要する圧力は、線圧で0.5〜4.0kg/cm2の範囲内にある。なお、接着剤層22をより確実に硬化させるために上記のようにして基材フィルムを接着した後、100〜300℃の範囲内の温度に調整された加熱庫で保存することもできる。 The temperature required for softening the adhesive layer 22 is normally 100 to 200 ° C., and the pressure required to allow the nodule 20 to enter the adhesive layer 22 is 0.5 to 4. It is in the range of 0 kg / cm 2 . In addition, in order to harden the adhesive bond layer 22 more reliably, after adhering the base film as described above, it can be stored in a heating chamber adjusted to a temperature within the range of 100 to 300 ° C.

上記のようにして積層された積層体は図1(f)に示すように、支持基材10/極薄導電性
金属層12/感光性樹脂硬化体14・導体パターン18(ノジュール20付き)/接着剤層22/基材フィルム24の層構成を有している。
As shown in FIG. 1 (f), the laminated body laminated as described above is a supporting substrate 10 / ultra thin conductive metal layer 12 / cured photosensitive resin body 14 / conductor pattern 18 (with nodules 20) / It has a layer structure of adhesive layer 22 / base film 24.

本発明の配線基板の製造方法では、上記のようにして形成した積層体から支持基材10を剥離する。図1の(g)に支持基材10が剥離された断面図が示されており、支持基材10が剥
離されたことによって片面に極薄導電性金属層12が露出する。
In the method for manufacturing a wiring board according to the present invention, the support substrate 10 is peeled from the laminate formed as described above. FIG. 1 (g) shows a cross-sectional view of the support substrate 10 peeled off, and the ultrathin conductive metal layer 12 is exposed on one side when the support substrate 10 is peeled off.

本発明では、この極薄導電性金属層12を除去するために、図1(g)で示される積層体を
エッチングして極薄導電性金属層12を溶解除去する。
この極薄導電性金属層12は、銅、銅合金、ニッケルなどで形成されており、しかも極薄導電性金属層12は非常に薄いことから、一般に使用されているエッチング液を用いて容易に除去することができる。図1(h)には、極薄導電性金属層12が除去されて、導体パター
ン18の表面が露出した状態が示されている。このように極薄導電性金属層12を除去することにより、導体パターン18はそれぞれが電気的に独立した状態になる。
In the present invention, in order to remove the ultrathin conductive metal layer 12, the laminate shown in FIG. 1 (g) is etched to dissolve and remove the ultrathin conductive metal layer 12.
The ultra-thin conductive metal layer 12 is formed of copper, copper alloy, nickel, etc., and the ultra-thin conductive metal layer 12 is very thin, so it can be easily used with a commonly used etching solution. Can be removed. FIG. 1 (h) shows a state where the ultrathin conductive metal layer 12 is removed and the surface of the conductor pattern 18 is exposed. By removing the ultrathin conductive metal layer 12 in this way, the conductor patterns 18 become electrically independent from each other.

なお、本発明において、基材フィルム30の導体パターン18が形成されていない面には珪素化合物などの離型製樹脂からなる層が配置されていることが好ましい。電子部品を実装する際にこのような層があると、ボンディングツール基材フィルム形成成分の融着が防止できる。   In the present invention, it is preferable that a layer made of a release resin such as a silicon compound is disposed on the surface of the base film 30 where the conductor pattern 18 is not formed. If such a layer is present when an electronic component is mounted, the bonding tool base film forming component can be prevented from being fused.

このようにして極薄導電性金属層12を除去した後、導体パターン18間にある感光性樹脂の硬化体14を除去して、導体パターン18を独立させる。感光性樹脂の硬化体14は種々の方法で除去することができるが、溶媒を用いて溶出する方法、あるいはアルカリ洗浄液を用いて剥離除去する方法が有利である。ここで使用する有機溶媒は、基材フィルム30を構成する絶縁フィルム24および接着剤層22を侵すことのない有機溶媒を使用することができる。また、感光性樹脂の硬化体14は、通常はアルカリ洗浄液を用いると容易に剥離するので、アルカリ洗浄液を用いて除去する方法が最も現実的であり、また低コストで大変有利である
上記のようにして感光性樹脂の硬化体14を除去して導体パターンを独立された状態の配線基板の断面を図1(i)に示す。
After the ultrathin conductive metal layer 12 is removed in this way, the photosensitive resin cured body 14 between the conductor patterns 18 is removed to make the conductor patterns 18 independent. The photosensitive resin cured body 14 can be removed by various methods, but a method of elution using a solvent or a method of stripping and removing using an alkaline cleaning solution is advantageous. As the organic solvent used here, an organic solvent that does not attack the insulating film 24 and the adhesive layer 22 constituting the base film 30 can be used. Further, since the cured body 14 of the photosensitive resin is usually easily peeled off using an alkaline cleaning liquid, the method of removing it using the alkaline cleaning liquid is the most realistic and is very advantageous at low cost. FIG. 1 (i) shows a cross section of the wiring board in a state in which the cured body 14 of the photosensitive resin is removed and the conductor pattern is made independent.

本発明の方法では、図1(f)の段階から、支持基材10を剥離する際に極薄導電性金属層12を支持基材10と共に剥離してもよい。極薄導電性金属層12は、支持基材10の表面にスパ
ッタリングなどの方法により形成されているが、このときの支持基材10に対する極薄導電性金属層12の密着性が高くならないように、スパッタリング条件等を変えるか、あるいは極薄導電性金属層12の形成条件を変えることにより、支持基材10に対して極薄導電性金属層12の密着性を上げることができる。このように極薄導電性金属層12を支持基材10の表面に強固に接合することにより、支持基材10を剥離すると、この支持基材10と共に極薄導電性金属層12も剥離され、図1(g)の状態を介することなく、図2(h’)で示す状態にな
る。このように支持基材10の剥離の際に極薄導電性金属層12が共に剥離される場合には、極薄導電性金属層12を除去するためのエッチング工程を省略しても図2(i’)に示す配
線基板を製造することができる。
In the method of the present invention, the ultrathin conductive metal layer 12 may be peeled off together with the supporting substrate 10 when the supporting substrate 10 is peeled off from the stage of FIG. The ultrathin conductive metal layer 12 is formed on the surface of the support substrate 10 by a method such as sputtering, but the adhesion of the ultrathin conductive metal layer 12 to the support substrate 10 at this time is not increased. The adhesion of the ultrathin conductive metal layer 12 to the support substrate 10 can be improved by changing the sputtering conditions or the like, or by changing the formation conditions of the ultrathin conductive metal layer 12. By firmly bonding the ultrathin conductive metal layer 12 to the surface of the support base material 10 in this way, when the support base material 10 is peeled off, the ultrathin conductive metal layer 12 is also peeled off together with the support base material 10, The state shown in FIG. 2 (h ′) is obtained without going through the state of FIG. 1 (g). As described above, when the ultrathin conductive metal layer 12 is peeled together when the support substrate 10 is peeled off, even if the etching step for removing the ultrathin conductive metal layer 12 is omitted, FIG. The wiring board shown in i ′) can be manufactured.

また、図1(f)において、接着剤層22および絶縁フィルム24からなる基材フィルム30を
貼着する代わりに、図3(f’’)に示すように、接着剤層32を厚塗りして、この接着剤層32を硬化させることにより図3(i’’)に示すように、絶縁フィルムとすることができる。この態様では接着剤層32の硬化体を接着剤層として使用すると共に絶縁フィルムとしても使用しており、上述の配線基板よりも層構成が一層少ない配線基板とすることができる。このような接着剤層32を形成する樹脂としては、例えば、ポリイミドの前駆体などを用いることができる。
Further, in FIG. 1 (f), instead of attaching the base film 30 composed of the adhesive layer 22 and the insulating film 24, as shown in FIG. 3 (f ″), the adhesive layer 32 is thickly applied. Then, by curing the adhesive layer 32, an insulating film can be obtained as shown in FIG. In this embodiment, the cured body of the adhesive layer 32 is used as an adhesive layer as well as an insulating film, and a wiring board having a layer configuration much smaller than that of the above-described wiring board can be obtained. As a resin for forming such an adhesive layer 32, for example, a polyimide precursor or the like can be used.

上記のようにして形成された本発明の配線基板においては、図1(i)、図2(i’)、図3(i’’)に示すように導体パターン18が基材フィルム30あるいは基材フィルム30と同等に作
用する接着剤層32の硬化体の表面から、略直角に形成されており、形成される導体パターンが、アンダーカットすることがない。
In the wiring board of the present invention formed as described above, the conductor pattern 18 is formed on the base film 30 or the substrate as shown in FIGS. 1 (i), 2 (i ′), and 3 (i ″). From the surface of the cured body of the adhesive layer 32 that acts in the same way as the material film 30, it is formed substantially at right angles, and the formed conductor pattern does not undercut.

したがって、本発明の方法によれば、形成される導体パターンの矩形度が高く、アンダ
ーカットによる導体パターン間スペース26の狭まりを考慮する必要がないので、導体パターン間に余分なスペースを確保する必要はない。また、本発明では感光性樹脂を露光して導体パターンを形成すべき空間を形成してこの空間に導電性金属を析出させて導体パターンを形成しており、感光性樹脂の露光精度は非常に高く、しかも導体パターンが感光性樹脂の硬化体によって形成された空間に金属が析出することにより形成されるため、感光性樹脂の露光は、露光に用いる光の波長まで細かく形成することが可能であり、この点と、感光性樹脂が支持基材に対して略直角の空間を形成することが可能である点から、従来の方法では製造することができなかった線幅が1μmを大きく下回るような非常に微細な導体パターンを形成することが可能になる。
Therefore, according to the method of the present invention, since the rectangularity of the formed conductor pattern is high and it is not necessary to consider the narrowing of the space 26 between the conductor patterns due to undercut, it is necessary to secure an extra space between the conductor patterns. There is no. Further, in the present invention, a photosensitive resin is exposed to form a space in which a conductor pattern is to be formed, and a conductive metal is deposited in this space to form a conductor pattern. The exposure accuracy of the photosensitive resin is very high. In addition, since the conductive pattern is formed by depositing metal in the space formed by the cured body of the photosensitive resin, the photosensitive resin can be exposed to the wavelength of light used for exposure. In view of this point and the fact that the photosensitive resin can form a space substantially perpendicular to the support substrate, the line width that could not be manufactured by the conventional method is much less than 1 μm. It is possible to form a very fine conductor pattern.

しかもこうして形成された導体パターン18は、ノジュール20のアンカー効果によって、接着剤層に強固に固着されているので、導体パターン18が非常に高いピール強度を有する。   Moreover, since the conductor pattern 18 formed in this way is firmly fixed to the adhesive layer by the anchor effect of the nodule 20, the conductor pattern 18 has a very high peel strength.

さらに、本発明の方法により得られる配線基板は、基材フィルム表面に導体パターンが凸状に形成されており、従来のプリント配線基板のように、異方導電接着剤を用いた電子装置に組み込むことが可能となる。
〔実施例〕
次に本発明の配線基板の製造方法およびこの方法により製造される配線基板について実施例を示して本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらによって限定されるべきではない。
Furthermore, the wiring board obtained by the method of the present invention has a conductor pattern formed in a convex shape on the surface of the base film, and is incorporated into an electronic device using an anisotropic conductive adhesive like a conventional printed wiring board. It becomes possible.
〔Example〕
Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples of the method for manufacturing a wiring board of the present invention and the wiring board manufactured by this method, but the present invention should not be limited thereto.

支持基材として厚さ38μmのポリイミドフィルム使用し、この支持基材であるポリイミドフィルムの一方の表面に、スパッタリングにより平均厚さ0.1μmの極薄銅層を形成した。   A polyimide film having a thickness of 38 μm was used as a supporting substrate, and an ultrathin copper layer having an average thickness of 0.1 μm was formed on one surface of the polyimide film as the supporting substrate by sputtering.

次いで、この極薄銅層の表面に感光性樹脂層(平均乾燥厚さ:13μm)を形成し、この感光性樹脂層を露光・現像することにより、所定のパターンを形成した。こうして形成されたパターンの感光性樹脂層が除去された部分の底部には上記極薄銅層が露出していた。   Next, a photosensitive resin layer (average dry thickness: 13 μm) was formed on the surface of the ultrathin copper layer, and a predetermined pattern was formed by exposing and developing the photosensitive resin layer. The ultrathin copper layer was exposed at the bottom of the portion where the photosensitive resin layer of the pattern thus formed was removed.

次いで、上記のようにパターンが形成された積層体を市販の硫酸銅メッキ浴(銅濃度:24g/リットル)に入れ、メッキ電流密度2.0A/dm2、メッキ温度30℃、メッキ
時間20分間の条件で電気銅メッキを行い、感光性樹脂が形成されていない部分に平均厚さ8μmの厚さで銅を析出させて導体パターンを形成した。なお、析出した銅の厚さは、感光性樹脂層の厚さ13μmよりも5μmだけ薄く形成した。
Next, the laminate on which the pattern was formed as described above was placed in a commercially available copper sulfate plating bath (copper concentration: 24 g / liter), plating current density 2.0 A / dm 2 , plating temperature 30 ° C., plating time 20 minutes. Electro copper plating was performed under the above conditions, and copper was deposited at an average thickness of 8 μm on the portion where the photosensitive resin was not formed to form a conductor pattern. Note that the thickness of the deposited copper was 5 μm thinner than the thickness 13 μm of the photosensitive resin layer.

次に得られた積層体を硫酸銅メッキ浴(銅濃度:8g/リットル)に入れ、メッキ電流密度1A/dm2、メッキ温度30℃、メッキ時間480秒間の条件で電気銅メッキを行い
導体パターンの表面に平均高さ3μmのノジュールを形成した。
Next, the obtained laminate is placed in a copper sulfate plating bath (copper concentration: 8 g / liter) and subjected to electro copper plating under conditions of a plating current density of 1 A / dm 2 , a plating temperature of 30 ° C. and a plating time of 480 seconds. Nodules having an average height of 3 μm were formed on the surface of the film.

次いで、このノジュールが形成されている面に基材フィルムを貼着した。この基材フィルムは、厚さ38μmのポリイミドフィルムとこのポリイミドフィルムの一方の面に形成された厚さ8μmのエポキシ系接着剤層とを有しており、加熱することにより、エポキシ系接着剤が軟化して上記の導体パターンの表面に形成されたノジュールがエポキシ系接着剤層内に侵入可能な程度に軟化する。なお、接着剤層が形成されている面とは反対の面に極薄い珪素樹脂層が形成されている。   Next, a base film was attached to the surface where the nodules were formed. The base film has a polyimide film having a thickness of 38 μm and an epoxy adhesive layer having a thickness of 8 μm formed on one surface of the polyimide film. The nodules softened and formed on the surface of the conductor pattern are softened to such an extent that they can enter the epoxy adhesive layer. An extremely thin silicon resin layer is formed on the surface opposite to the surface on which the adhesive layer is formed.

このエポキシ系粘着剤層と、ノジュールが形成された面とが対面するように基材フィル
ムを配置して、温度150℃×線圧2.0kgf/cmの条件で圧着し、さらに加圧下に16
0℃の温度で5時間保持した。
The base film is arranged so that the epoxy adhesive layer and the surface on which the nodules are formed, and pressure-bonded under the conditions of a temperature of 150 ° C. and a linear pressure of 2.0 kgf / cm.
The temperature was maintained at 0 ° C. for 5 hours.

上記のようにして接着剤層を硬化させた後、支持基材を剥離することにより、この剥離面に極薄銅層を露出させた。
この積層体を、銅エッチング液を用いて極薄銅層をエッチングして導体パターンを露出させた。
After the adhesive layer was cured as described above, the ultrathin copper layer was exposed on the peeled surface by peeling the support substrate.
This laminate was etched with an ultrathin copper layer using a copper etchant to expose the conductor pattern.

次いで、アルカリ洗浄液を用いて洗浄することにより感光性樹脂の硬化体を剥離して導体パターンを独立させた。
上記のようにして形成された導体パターンのピール強度を測定したところ、このピール強度は1.4kgf/cmであった。ノジュールを形成しない以外は同様にして形成した配線
基板の導体パターンのピール強度が0.33kgf/cmであったことと対比すると、本発明
によって得られた配線基板における導体パターンのピール強度が著しく高いことがわかる。またポリイミドフィルム表面に銅箔を配置して、この銅箔を選択的にエッチングして得られるプリント配線版における配線パターンのピール強度は、通常は1.0〜2.5kgf
/cm程度であり、本発明の方法によれば、これと同等あるいはそれ以上のピール強度の導体パターンを有する配線基板を製造することができる。
Subsequently, by washing with an alkali washing liquid, the cured body of the photosensitive resin was peeled off to make the conductor pattern independent.
When the peel strength of the conductor pattern formed as described above was measured, the peel strength was 1.4 kgf / cm. Contrary to the fact that the peel strength of the conductor pattern of the wiring board formed in the same manner except that no nodules were formed was 0.33 kgf / cm, the peel strength of the conductor pattern in the wiring board obtained by the present invention was remarkably high. I understand that. Moreover, the peel strength of the wiring pattern in the printed wiring board obtained by arranging copper foil on the polyimide film surface and selectively etching this copper foil is usually 1.0 to 2.5 kgf.
According to the method of the present invention, it is possible to manufacture a wiring board having a conductor pattern having a peel strength equivalent to or higher than this.

また、上述のように本発明の方法で形成されている導体パターンは、絶縁フィルムの表面から凸状に飛び出して形成されている。したがって、上記のようにして得られた配線パターンを用いて異方導電接着を行ったところ、加圧方向に良好な電気的導通を確保することができ、また幅方向における絶縁性も良好であった。   In addition, as described above, the conductor pattern formed by the method of the present invention is formed so as to protrude in a convex shape from the surface of the insulating film. Therefore, when anisotropic conductive bonding is performed using the wiring pattern obtained as described above, good electrical conduction in the pressing direction can be secured, and insulation in the width direction is also good. It was.

実施例1において、支持基材に対するスパッタリング条件を変えることにより、スパッタリング金属と支持基材との密着性を高くした以外は同様に操作した。
ノジュール形成後、基材フィルムを貼着した後、支持基材を剥離したところ、極薄銅箔層が支持基材と共に剥離された。したがって、支持基材を剥離することにより極薄銅層も剥離され、その剥離面に導体パターンが露出したので、極薄銅層を除去するためのエッチング工程の実施を省略した。
In Example 1, the same operation was performed except that the adhesion between the sputtering metal and the supporting substrate was increased by changing the sputtering conditions for the supporting substrate.
After forming the nodule, the substrate film was adhered, and then the support substrate was peeled off. As a result, the ultrathin copper foil layer was peeled off together with the support substrate. Therefore, the ultrathin copper layer was also peeled off by peeling the supporting substrate, and the conductive pattern was exposed on the peeled surface, so that the etching process for removing the ultrathin copper layer was omitted.

次いで、アルカリ洗浄液を用いて洗浄することにより感光性樹脂の硬化体を剥離して導体パターンを独立させた。
上記のようにして形成された導体パターンのピール強度を測定したところ、このピール強度は1.4kgf/cmであった。ノジュールを形成しない以外は同様にして形成した配線
基板の導体パターンのピール強度が0.33kgf/cmであったことと対比すると、本発明
によって得られた配線基板における導体パターンのピール強度が著しく高いことがわかる。またポリイミドフィルム表面に銅箔を配置して、この銅箔を選択的にエッチングして得られるプリント配線版における配線パターンのピール強度は、通常は1.0〜2.5kgf
/cm程度であり、本発明の方法によれば、これと同等あるいはそれ以上のピール強度の導体パターンを有する配線基板を製造することができる。
Subsequently, by washing with an alkali washing liquid, the cured body of the photosensitive resin was peeled off to make the conductor pattern independent.
When the peel strength of the conductor pattern formed as described above was measured, the peel strength was 1.4 kgf / cm. Contrary to the fact that the peel strength of the conductor pattern of the wiring board formed in the same manner except that no nodules were formed was 0.33 kgf / cm, the peel strength of the conductor pattern in the wiring board obtained by the present invention was remarkably high. I understand that. Moreover, the peel strength of the wiring pattern in the printed wiring board obtained by arranging copper foil on the polyimide film surface and selectively etching this copper foil is usually 1.0 to 2.5 kgf.
According to the method of the present invention, it is possible to manufacture a wiring board having a conductor pattern having a peel strength equivalent to or higher than this.

また、上述のように本発明の方法で形成されている導体パターンは、絶縁フィルムの表面から凸状に飛び出して形成されている。したがって、上記のようにして得られた配線パターンを用いて異方導電接着を行ったところ、加圧方向に良好な電気的導通を確保することができ、また幅方向における絶縁性も良好であった。   In addition, as described above, the conductor pattern formed by the method of the present invention is formed so as to protrude in a convex shape from the surface of the insulating film. Therefore, when anisotropic conductive bonding is performed using the wiring pattern obtained as described above, good electrical conduction in the pressing direction can be secured, and insulation in the width direction is also good. It was.

本発明によれば、転写法により非常にファインピッチの導体パターンを形成することが
できる。しかも、この導体パターンは、転写法により形成されているにも拘らず、基材フィルムに対して高ピール強度を有する。
According to the present invention, a very fine pitch conductor pattern can be formed by a transfer method. And although this conductor pattern is formed by the transfer method, it has high peel strength with respect to a base film.

しかも、導体パターンが基材フィルム表面から凸状に形成されていることから、従来のフィルムキャリアテープと同様に、異方導電接着により電子装置に組み込むことができる。   In addition, since the conductor pattern is formed in a convex shape from the surface of the base film, it can be incorporated into an electronic device by anisotropic conductive adhesion as in the case of a conventional film carrier tape.

さらに、本発明の方法では、感光性樹脂を所望の形状に露光・現像して形成された凹部にメッキして導体パターンを形成し、この導体パターンの表面にノジュールを形成した後、基材フィルムに導体パターンを転写しているので、導体パターンの断面の側面が絶縁フィルムの表面に対してほぼ直角に形成され、したがって本発明の方法で製造された配線基板の導体パターンの断面形状は矩形に形成される。このように導体パターンの断面形状が矩形であり、従来の方法で製造した配線パターンにおけるようなアンダーカット現象などは現れないので、非常に微細な導体パターンを密に形成することができる。   Furthermore, in the method of the present invention, a conductive resin is plated on a recess formed by exposing and developing a photosensitive resin into a desired shape to form a conductor pattern, and after forming nodules on the surface of the conductor pattern, a base film Since the conductor pattern is transferred to the wiring board, the side surface of the cross section of the conductor pattern is formed substantially at right angles to the surface of the insulating film. Therefore, the cross sectional shape of the conductor pattern of the wiring board manufactured by the method of the present invention is rectangular. It is formed. Thus, since the cross-sectional shape of the conductor pattern is rectangular and the undercut phenomenon or the like does not appear in the wiring pattern manufactured by the conventional method, a very fine conductor pattern can be formed densely.

また、本発明の方法で得られた配線基板は、絶縁フィルム表面に導体パターンが凸状に突出して形成されているために、従来の方法で製造したプリント配線基板と同様に、異方導電性接着剤を用いて電子装置に組み入れることができる。   In addition, since the wiring board obtained by the method of the present invention has a conductive pattern protruding on the surface of the insulating film, it is anisotropically conductive like the printed wiring board manufactured by the conventional method. It can be incorporated into an electronic device using an adhesive.

図1は、本発明の配線基板の製造方法の各工程における断面を模式的に示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a cross section in each step of the method for manufacturing a wiring board of the present invention. 図2は、本発明の配線基板の製造方法の他の態様における各工程における断面を模式的に示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a cross section in each step in another aspect of the method for manufacturing a wiring board of the present invention. 図3は、本発明の配線基板の製造方法の他の態様における各工程における断面を模式的に示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a cross section in each step in another aspect of the method for manufacturing a wiring board of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・支持基材
12・・・極薄導電性金属層
14・・・感光性樹脂の硬化体
16・・・凹部
18・・・導体パターン
20・・・ノジュール
22・・・接着剤層
24・・・絶縁フィルム
30・・・基材フィルム
32・・・接着剤層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Support base material 12 ... Ultra-thin electroconductive metal layer 14 ... Hardened body 16 of photosensitive resin ... Recess 18 ... Conductor pattern 20 ... Nodule 22 ... Adhesive layer 24 ... Insulating film 30 ... Base film 32 ... Adhesive layer

Claims (9)

支持基材の表面に極薄導電性金属層を形成し、該極薄導電性金属層の表面に、レジストパターンを形成し、該レジストパターンによって被覆されていない極薄導電性金属層の表面に、該レジストパターンと略同一の厚さのメッキ層を電気メッキにより形成した後、該形成されたメッキ層の表面に電気メッキによりノジュールを形成し、次いで、絶縁フィルムの表面に接着剤層を有する基材フィルムの接着剤層を接触させて、該接着剤層に、上記ノジュールを侵入させた後、支持基材を剥離して支持基材上に形成されたレジストパターンおよびメッキ層を基材フィルム側に転写し、次いで、基材フィルム側に転写されたレジストパターンを除去して、基材フィルムの表面に銅製の導体パターンを形成することを特徴とする配線基板の製造方法。   An ultrathin conductive metal layer is formed on the surface of the support substrate, a resist pattern is formed on the surface of the ultrathin conductive metal layer, and the surface of the ultrathin conductive metal layer not covered with the resist pattern is formed. After the plating layer having the same thickness as the resist pattern is formed by electroplating, nodules are formed by electroplating on the surface of the formed plating layer, and then an adhesive layer is provided on the surface of the insulating film. The adhesive layer of the base film is brought into contact, the nodule is allowed to enter the adhesive layer, the support base is peeled off, and the resist pattern and the plating layer formed on the support base are used as the base film. A method for producing a wiring board, comprising: transferring a conductive pattern on a surface of a base film by removing the resist pattern transferred to the base film side and then transferring to the base film side. 上記極薄導電性金属層が、導電性金属をスパッタリングあるいは析出反応により、支持基材の表面に形成された厚さ5×10-3〜5μmの導電性層であることを特徴とする請求項第1項記載の配線基板の製造方法。 The ultrathin conductive metal layer is a conductive layer having a thickness of 5 × 10 −3 to 5 μm formed on the surface of the support base material by sputtering or precipitation reaction of the conductive metal. A method for manufacturing a wiring board according to item 1. 上記レジストパターンを、極薄導電性金属層の表面に感光性樹脂層を形成し、該感光性樹脂層を露光・現像することにより形成することを特徴とする請求項第1項記載の配線基
板の製造方法。
2. The wiring board according to claim 1, wherein the resist pattern is formed by forming a photosensitive resin layer on a surface of an ultrathin conductive metal layer, and exposing and developing the photosensitive resin layer. Manufacturing method.
上記ノジュールが銅ノジュールであり、該ノジュールを形成する際の電気メッキ条件が、電流密度3〜30A/dm2、メッキ液温度20〜60℃、メッキ液中のCuイオン濃度1〜50g/リットル、メッキ時間5〜600秒間であることを特徴とする請求項第1項記載
の配線基板の製造方法。
The nodule is a copper nodule, and electroplating conditions for forming the nodule are as follows: current density 3 to 30 A / dm 2 , plating solution temperature 20 to 60 ° C., Cu ion concentration 1 to 50 g / liter in the plating solution, 2. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the plating time is 5 to 600 seconds.
上記基材フィルムが、平均厚さ15〜150μmのポリイミドフィルムであり、該基材フィルム表面にエポキシ系熱硬化性樹脂からなる平均厚さ1〜24μmの接着剤層が形成されていることを特徴とする請求項第1項記載の配線基板の製造方法。   The base film is a polyimide film having an average thickness of 15 to 150 μm, and an adhesive layer having an average thickness of 1 to 24 μm made of an epoxy-based thermosetting resin is formed on the surface of the base film. The method of manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein 上記支持基材上に形成されたレジストパターンおよびメッキ層を基材フィルム側に転写し、該支持体を除去した後、転写されたレジストパターンおよびメッキ層の表面に残存する極薄導電性金属層をエッチングにより除去することを特徴とする請求項第1項記載の配
線基板の製造方法。
The resist pattern and the plating layer formed on the support substrate are transferred to the substrate film side, and after removing the support, the ultrathin conductive metal layer remaining on the surface of the transferred resist pattern and the plating layer 2. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the step is removed by etching.
配線パターンの基材フィルム側底部に該導体パターンと一体化したノジュールが形成されており、該ノジュールが基材フィルムを構成する樹脂硬化体中に侵入して、該導体パターンを基材フィルムに固定されていることを特徴とする配線基板。   A nodule integrated with the conductor pattern is formed at the base film side bottom of the wiring pattern, and the nodule penetrates into the cured resin body constituting the base film, and the conductor pattern is fixed to the base film. A wiring board characterized by being made. 上記導体パターンの断面における側面が、基材フィルムの表面に対して、略直角に形成されていることを特徴とする請求項第7項記載の配線基板。   8. The wiring board according to claim 7, wherein a side surface in the cross section of the conductor pattern is formed substantially at right angles to the surface of the base film. 上記基材フィルムが、平均厚さ5〜70μmのポリアミドフィルムと該ポリイミドフィルム上に積層された平均厚さ1〜24μmの熱硬化性接着剤とからなることを特徴とする請求項第7項記載の配線基板。   8. The substrate film according to claim 7, wherein the base film comprises a polyamide film having an average thickness of 5 to 70 μm and a thermosetting adhesive having an average thickness of 1 to 24 μm laminated on the polyimide film. Wiring board.
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