[go: up one dir, main page]

JP2007088115A - Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor - Google Patents

Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor Download PDF

Info

Publication number
JP2007088115A
JP2007088115A JP2005273167A JP2005273167A JP2007088115A JP 2007088115 A JP2007088115 A JP 2007088115A JP 2005273167 A JP2005273167 A JP 2005273167A JP 2005273167 A JP2005273167 A JP 2005273167A JP 2007088115 A JP2007088115 A JP 2007088115A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
organic
organic semiconductor
general formula
semiconductor material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005273167A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Rie Katakura
利恵 片倉
Katsura Hirai
桂 平井
Hiroshi Kita
弘志 北
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP2005273167A priority Critical patent/JP2007088115A/en
Publication of JP2007088115A publication Critical patent/JP2007088115A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To form an organic semiconductor film by applying an organic semiconductor material whose solvent solubility is improved, and to provide an organic semiconductor device, an organic thin-film transistor, and an organic EL element having the device or the transistor, having high carrier mobility by using the obtained organic semiconductor film. <P>SOLUTION: The organic semiconductor material contains a compound having a partial structure expressed by an expression 1. In the expression 1, R<SB>1</SB>indicates a substituent, and R<SB>2</SB>-R<SB>6</SB>indicate a hydrogen atom or a substituent. However, at least one of R<SB>3</SB>-R<SB>6</SB>is an alkenyl group, an alkyl group, an aromatic hydrocarbon group, or an aromatic heterocyclic group. No rings are formed by R<SB>3</SB>and R<SB>4</SB>' and R<SB>5</SB>and R<SB>6</SB>each; and n1+n2 indicates an integer of 0-2 or smaller. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、有機半導体材料、有機半導体膜、有機半導体デバイス及び有機薄膜トランジスタに関する。   The present invention relates to an organic semiconductor material, an organic semiconductor film, an organic semiconductor device, and an organic thin film transistor.

情報端末の普及に伴い、コンピュータ用のディスプレイとしてフラットパネルディスプレイに対するニーズが高まっている。また、さらに情報化の進展に伴い、従来、紙媒体で提供されていた情報が電子化される機会が増え、薄くて軽い、手軽に持ち運びが可能なモバイル用表示媒体として、電子ペーパーあるいはデジタルペーパーへのニーズも高まりつつある。   With the widespread use of information terminals, there is an increasing need for flat panel displays as computer displays. In addition, with the progress of computerization, information that has been provided in paper media has been increasingly digitized. As a mobile display medium that is thin, light, and portable, electronic paper or digital paper can be used. The need for is increasing.

一般に平板型のディスプレイ装置においては、液晶、有機EL(有機エレクトロルミネッセンス)、電気泳動等を利用した素子を用いて表示媒体を形成している。また、こうした表示媒体では画面輝度の均一性や画面書き換え速度等を確保するために、画像駆動素子としてアクティブ駆動素子(TFT素子)を用いる技術が主流になっている。例えば、通常のコンピュータディスプレイではガラス基板上にこれらTFT素子を形成し、液晶、有機EL素子等が封止されている。   In general, in a flat panel display device, a display medium is formed using elements utilizing liquid crystal, organic EL (organic electroluminescence), electrophoresis, or the like. In such display media, a technique using an active drive element (TFT element) as an image drive element has become mainstream in order to ensure uniformity of screen brightness, screen rewrite speed, and the like. For example, in a normal computer display, these TFT elements are formed on a glass substrate, and liquid crystal, organic EL elements, etc. are sealed.

ここでTFT素子には主にa−Si(アモルファスシリコン)、p−Si(ポリシリコン)等の半導体を用いることができ、これらのSi半導体(必要に応じて金属膜も)を多層化し、ソース、ドレイン、ゲート電極を基板上に順次形成していくことでTFT素子が製造される。こうしたTFT素子の製造には通常、スパッタリング、その他の真空系の製造プロセスが必要とされる。   Here, semiconductors such as a-Si (amorphous silicon) and p-Si (polysilicon) can be mainly used for the TFT element, and these Si semiconductors (and metal films as necessary) are formed into a multilayer structure. The TFT element is manufactured by sequentially forming the drain and gate electrodes on the substrate. The manufacture of such a TFT element usually requires sputtering or other vacuum manufacturing processes.

しかしながら、このようなTFT素子の製造では、真空チャンバーを含む真空系の製造プロセスを何度も繰り返して各層を形成せざるを得ず、装置コスト、ランニングコストが非常に膨大なものとなっていた。例えば、TFT素子では、通常それぞれの層の形成のために真空蒸着、ドープ、フォトリソグラフ、現像等の工程を何度も繰り返す必要があり、何十もの工程を経て素子を基板上に形成している。スイッチング動作の要となる半導体部分に関しても、p型、n型等、複数種類の半導体層を積層している。こうした従来のSi半導体による製造方法ではディスプレイ画面の大型化のニーズに対し、真空チャンバー等の製造装置の大幅な設計変更が必要とされる等、設備の変更が容易ではない。   However, in the manufacture of such a TFT element, the vacuum system manufacturing process including the vacuum chamber must be repeated many times to form each layer, and the apparatus cost and running cost have become enormous. . For example, in a TFT element, it is usually necessary to repeat processes such as vacuum deposition, dope, photolithography, development, etc. many times to form each layer, and the element is formed on a substrate through tens of steps. Yes. As for the semiconductor portion that is the key to the switching operation, a plurality of types of semiconductor layers such as p-type and n-type are stacked. In such a conventional manufacturing method using a Si semiconductor, it is not easy to change the equipment, for example, a design change of a manufacturing apparatus such as a vacuum chamber is required in response to the need for a large display screen.

また、このような従来からのSi材料を用いたTFT素子の形成には高い温度の工程が含まれるため、基板材料には工程温度に耐える材料であるという制限が加わることになる。このため実際上はガラスを用いざるをえず、先に述べた電子ペーパーあるいはデジタルペーパーといった薄型ディスプレイを、こうした従来知られたTFT素子を利用して構成した場合、そのディスプレイは重く、柔軟性に欠け、落下の衝撃で割れる可能性のある製品となってしまう。ガラス基板上にTFT素子を形成することに起因するこれらの特徴は、情報化の進展に伴う手軽な携行用薄型ディスプレイへのニーズを満たすにあたり望ましくないものである。   In addition, since the formation of such a conventional TFT element using a Si material includes a process at a high temperature, the substrate material is restricted to be a material that can withstand the process temperature. Therefore, in practice, glass must be used, and when the above-described thin display such as electronic paper or digital paper is configured using such a conventionally known TFT element, the display is heavy and flexible. Products that may break due to chipping or dropping impact. These characteristics resulting from the formation of TFT elements on a glass substrate are undesirable in satisfying the need for an easy-to-carry-type thin display accompanying the progress of computerization.

一方、近年において高い電荷輸送性を有する有機化合物として、有機半導体材料の研究が精力的に進められている。これらの化合物は有機EL素子用の電荷輸送性材料のほか、有機レーザー発振素子(例えば、非特許文献1参照。)や、多数の論文にて報告されている有機薄膜トランジスタ素子(有機TFT素子)への応用が期待されている(例えば非特許文献2参照。)。   On the other hand, in recent years, organic semiconductor materials have been energetically studied as organic compounds having high charge transport properties. In addition to charge transport materials for organic EL devices, these compounds can be used for organic laser oscillation devices (for example, see Non-Patent Document 1) and organic thin film transistor devices (organic TFT devices) reported in many papers. Is expected (see, for example, Non-Patent Document 2).

これら有機半導体デバイスを実現できれば、比較的低い温度での真空ないし低圧蒸着による製造プロセスの簡易化や、さらにはその分子構造を適切に改良することによって、溶液化できる半導体を得る可能性があると考えられ、有機半導体溶液をインク化することによりインクジェット方式を含む印刷法による製造も考えられる。これらの低温プロセスによる製造は、従来のSi系半導体材料については不可能と考えられてきたが、有機半導体を用いたデバイスにはその可能性があり、従って前述の基板耐熱性に関する制限が緩和され、透明樹脂基板上にも例えばTFT素子を形成できる可能性がある。透明樹脂基板上にTFT素子を形成し、そのTFT素子により表示材料を駆動させることができれば、ディスプレイを従来のものよりも軽く、柔軟性に富み、落としても割れない(もしくは非常に割れにくい)ディスプレイとすることができるであろう。   If these organic semiconductor devices can be realized, there is a possibility of obtaining a semiconductor that can be made into a solution by simplifying the manufacturing process by vacuum or low-pressure deposition at a relatively low temperature and further improving the molecular structure appropriately. It is conceivable that the organic semiconductor solution is made into an ink and manufactured by a printing method including an ink jet method. Manufacturing by these low-temperature processes has been considered impossible for conventional Si-based semiconductor materials, but there is a possibility for devices using organic semiconductors, so the above-mentioned restrictions on substrate heat resistance are relaxed. For example, a TFT element may be formed on the transparent resin substrate. If a TFT element is formed on a transparent resin substrate and the display material can be driven by the TFT element, the display is lighter and more flexible than conventional ones, and will not crack even if dropped (or very difficult to break) It could be a display.

しかしながら、こうしたTFT素子を実現するための有機半導体としてこれまでに検討されてきたのは、ペンタセンやテトラセンといったアセン類(例えば、特許文献1参照。)、鉛フタロシアニンを含むフタロシアニン類、ペリレンやそのテトラカルボン酸誘導体といった低分子化合物(例えば、特許文献2参照。)や、α−チエニールもしくはセクシチオフェンと呼ばれるチオフェン6量体を代表例とする芳香族オリゴマー(例えば、特許文献3参照。)、ナフタレン、アントラセンに5員の芳香族複素環が対称に縮合した化合物(例えば、特許文献4参照。)、モノ、オリゴ及びポリジチエノピリジン(例えば、特許文献5参照。)、更には、ポリチオフェン、ポリチエニレンビニレン、ポリ−p−フェニレンビニレンといった共役高分子等限られた種類の化合物(例えば、非特許文献1〜3参照。)でしかなく、溶剤への十分な溶解性を保持しながら、十分なキャリア移動度・ON/OFF比を示す材料は見出されていない。   However, organic semiconductors for realizing such TFT elements have been studied so far such as acenes such as pentacene and tetracene (see, for example, Patent Document 1), phthalocyanines including lead phthalocyanine, perylene and its tetra. Low molecular weight compounds such as carboxylic acid derivatives (see, for example, Patent Document 2), aromatic oligomers typically represented by thiophene hexamers called α-thienyl or sexithiophene (for example, see Patent Document 3), naphthalene, Compounds in which 5-membered aromatic heterocycles are condensed symmetrically on anthracene (for example, see Patent Document 4), mono-, oligo- and polydithienopyridines (for example, see Patent Document 5), polythiophene, polythienylene vinylene Conjugated high such as poly-p-phenylene vinylene A material that exhibits a sufficient carrier mobility / ON / OFF ratio while maintaining sufficient solubility in a solvent is not limited to a limited number of compounds (eg, non-patent documents 1 to 3). Not found.

最近、溶解性の高いアセン類であるルブレンの単結晶によって非常に高い移動度が報告されているが(例えば、非特許文献4参照。)、溶液キャストで成膜したルブレンの膜はこのような単結晶構造を取らず、十分な移動度は得られていない。   Recently, a very high mobility has been reported by a single crystal of rubrene, which is a highly soluble acene (see, for example, Non-Patent Document 4), but a rubrene film formed by solution casting is like this. A single crystal structure is not taken and sufficient mobility is not obtained.

また、高いキャリア移動度と優れた半導体デバイス特性を発現することが報告されているペンタセンは、有機溶媒に対して不溶、もしくは難溶という課題があった。この点を改良するために、ペンタセンに官能基を付与した化合物等も開示され、溶液塗布によって比較的良好なキャリア移動度が得られるとの報告もされている(例えば、特許文献6参照。)。   Further, pentacene, which has been reported to exhibit high carrier mobility and excellent semiconductor device characteristics, has a problem that it is insoluble or hardly soluble in organic solvents. In order to improve this point, a compound having a functional group added to pentacene is also disclosed, and it has been reported that relatively good carrier mobility can be obtained by solution coating (for example, see Patent Document 6). .

しかし、これらルブレンやペンタセン等のアセン系の化合物は、空気によって容易に酸化されエンドペルオキシドのような酸化体や二量体などへの転化を起こし、電界効果トランジスタとしての性能が大きく劣化してしまうことが知られており、溶液での保存安定性や、塗布膜の安定性についてはいまだ解決すべき課題が残されている。   However, these acene-based compounds such as rubrene and pentacene are easily oxidized by air and are converted into oxidants and dimers such as endoperoxide, and the performance as a field effect transistor is greatly deteriorated. It is known that there are still problems to be solved regarding the storage stability in solution and the stability of the coating film.

酸化に対して比較的安定なアセン系化合物の例としては、ペンタセンの6、13位をシリルエチニル基で置換した一部の化合物が、塗布膜の安定性が良いとの報告がある(例えば、非特許文献5、6及び特許文献7参照。)。   As an example of an acene compound that is relatively stable against oxidation, there is a report that some compounds in which the 6th and 13th positions of pentacene are substituted with silylethynyl groups have good coating film stability (for example, (See Non-Patent Documents 5 and 6 and Patent Document 7.)

しかしながら、これらの報告においては、酸化に対する安定性が向上したと定性的な性状を述べているのみであり、いまだ実用に耐えうる程度の安定性は得られていない。   However, these reports only describe the qualitative properties that the stability against oxidation has been improved, and the stability to the extent that it can withstand practical use has not yet been obtained.

従って、工程適性を有する溶媒に高濃度に溶解し、かつ十分なキャリア移動度、on/off比を有し、さらには溶液状態での安定性を有するような、新規な電荷輸送性材料を用いた半導体性組成物の開発が待望されている。
特開平5−55568号公報 特開平5−190877号公報 特開平8−264805号公報 特開平11−195790号公報 特開2003−155289号公報 国際公開第03/016599号パンフレット 米国特許第6690029号明細書 『サイエンス』(Science)誌289巻、599ページ(2000) 『ネイチャー』(Nature)誌403巻、521ページ(2000) 『アドバンスド・マテリアル』(Advanced Material)誌、2002年、第2号、99ページ Science,2004,303,5664,1644−1646 Org.Lett.,vol.4(2002),15ページ J.Am.Chem.Soc.,vol.127(2005),4986ページ
Therefore, a novel charge transporting material that dissolves in a high concentration in a solvent having process suitability, has sufficient carrier mobility, on / off ratio, and stability in a solution state is used. Development of a semiconducting composition that has been long-awaited is highly desired.
JP-A-5-55568 Japanese Patent Laid-Open No. 5-190877 JP-A-8-264805 JP-A-11-195790 JP 2003-155289 A International Publication No. 03/016599 Pamphlet US Pat. No. 6690029 Specification “Science” 289, 599 (2000) “Nature” 403, 521 (2000) Advanced Material, 2002, No. 2, page 99 Science, 2004, 303, 5664, 1644-1646. Org. Lett. , Vol. 4 (2002), 15 pages J. et al. Am. Chem. Soc. , Vol. 127 (2005), 4986 pages

本発明の目的は、酸化安定性、経時安定性及び溶剤溶解性が向上した有機半導体材料を提供し、該有機半導体材料を塗布することによって有機半導体膜が形成可能であり、得られた有機半導体膜を用いて、キャリア移動度が高い、有機半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ及び、該デバイスまたは該トランジスタを具備する有機EL素子を提供することである。   An object of the present invention is to provide an organic semiconductor material having improved oxidation stability, stability over time, and solvent solubility, and an organic semiconductor film can be formed by applying the organic semiconductor material. An object of the present invention is to provide an organic semiconductor device, an organic thin film transistor, and an organic EL element including the device or the transistor having high carrier mobility by using a film.

本発明の上記目的は下記の構成(1)〜(12)により達成された。   The above object of the present invention has been achieved by the following constitutions (1) to (12).

(1)
下記一般式(1)で表される部分構造を有する化合物を含有することを特徴とする有機半導体材料。
(1)
An organic semiconductor material comprising a compound having a partial structure represented by the following general formula (1).

Figure 2007088115
Figure 2007088115

〔式中、R1は置換基を表し、R2〜R6は水素原子または置換基を表す。ただし、R3〜R6の少なくとも1つはアルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素環基または芳香族複素環基を表し、また、R3とR4、及び、R5とR6で、各々環を形成することはない。n1+n2は0〜2以下の整数を表す。〕
(2)
前記一般式(1)のR2が下記一般式(a)で表される基であることを特徴とする前記(1)に記載の有機半導体材料。
[Wherein, R 1 represents a substituent, and R 2 to R 6 represent a hydrogen atom or a substituent. Provided that at least one of R 3 to R 6 represents an alkenyl group, an alkynyl group, an aromatic hydrocarbon ring group or an aromatic heterocyclic group, and R 3 and R 4 , and R 5 and R 6 , Each does not form a ring. n1 + n2 represents an integer of 0 to 2 or less. ]
(2)
The organic semiconductor material as described in (1) above, wherein R 2 in the general formula (1) is a group represented by the following general formula (a).

Figure 2007088115
Figure 2007088115

〔式中、R1’は置換基を表す。〕
(3)
前記一般式(1)のR3またはR4、R5またはR6が、各々芳香族炭化水素環基または芳香族複素環基であることを特徴とする前記(1)または(2)に記載の有機半導体材料。
[Wherein R 1 'represents a substituent. ]
(3)
In the above (1) or (2), R 3, R 4 , R 5 or R 6 in the general formula (1) is an aromatic hydrocarbon ring group or an aromatic heterocyclic group, respectively. Organic semiconductor materials.

(4)
前記一般式(1)のR1、R1’が、各々分岐状アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基、またはSi(R)3基(Rは、置換基を表す。)で表されることを特徴とする前記(2)または(3)に記載の有機半導体材料。
(4)
R 1 and R 1 ′ in the general formula (1) are each a branched alkyl group, cycloalkyl group, alkenyl group, alkynyl group, aromatic hydrocarbon group, aromatic heterocyclic group, or Si (R) 3 group. (R represents a substituent.) The organic semiconductor material according to (2) or (3), which is represented by

(5)
前記一般式(1)のR1、R1’が、各々Si(R)3基(Rは置換基を表す。)で表される基であることを特徴とする前記(2)または(3)に記載の有機半導体材料。
(5)
In the general formula (1), R 1 and R 1 ′ are groups represented by Si (R) 3 groups (R represents a substituent), respectively (2) or (3 ) Organic semiconductor material.

(6)
下記一般式(2)で表される部分構造を有する化合物を含有することを特徴とする有機半導体材料。
(6)
An organic semiconductor material comprising a compound having a partial structure represented by the following general formula (2).

Figure 2007088115
Figure 2007088115

〔式中、R1及びR1’は置換基を表し、R7〜R10は、各々水素原子または置換基を表し、各々互いに結合して環を形成しても良い。n1+n2は0〜2の整数を表す。〕
(7)
前記一般式(2)のR1、R1’が、各々分岐状アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基、またはSi(R)3基(Rは、置換基を表す。)で表されることを特徴とする前記(6)に記載の有機半導体材料。
[Wherein, R 1 and R 1 ′ represent a substituent, and R 7 to R 10 each represents a hydrogen atom or a substituent, and may be bonded to each other to form a ring. n1 + n2 represents an integer of 0-2. ]
(7)
R 1 and R 1 ′ in the general formula (2) are each a branched alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an aromatic hydrocarbon group, an aromatic heterocyclic group, or a Si (R) 3 group. (R represents a substituent.) The organic semiconductor material according to (6), which is represented by

(8)
前記一般式(2)のR1及びR1’が、各々Si(R)3(Rは置換基を表す。)で表される基であることを特徴とする前記(6)に記載の有機半導体材料。
(8)
R 1 and R 1 ′ in the general formula (2) are each a group represented by Si (R) 3 (R represents a substituent), and the organic according to (6) Semiconductor material.

(9)
前記(1)〜(8)のいずれか1項に記載の有機半導体材料を含有することを特徴とする有機半導体膜。
(9)
An organic semiconductor film comprising the organic semiconductor material according to any one of (1) to (8).

(10)
前記(1)〜(8)のいずれか1項に記載の有機半導体材料を、有機溶媒に溶解し、得られた溶液を塗布・乾燥することによって形成されることを特徴とする有機半導体膜。
(10)
An organic semiconductor film formed by dissolving the organic semiconductor material according to any one of (1) to (8) in an organic solvent, and applying and drying the obtained solution.

(11)
前記(1)〜(8)のいずれか1項に記載の有機半導体材料を用いることを特徴とする有機半導体デバイス。
(11)
The organic-semiconductor device characterized by using the organic-semiconductor material of any one of said (1)-(8).

(12)
前記(1)〜(8)のいずれか1項に記載の有機半導体材料を半導体層に用いることを特徴とする有機薄膜トランジスタ。
(12)
An organic thin film transistor using the organic semiconductor material according to any one of (1) to (8) in a semiconductor layer.

本発明により、酸化安定性、経時安定性及び溶剤溶解性が向上した有機半導体材料を提供し、該有機半導体材料を塗布することによって有機半導体膜が形成可能であり、得られた有機半導体膜を用いて、キャリア移動度が高い、有機半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ及び、該デバイスまたは該トランジスタを具備する有機EL素子を提供することができた。   According to the present invention, an organic semiconductor material having improved oxidation stability, stability over time, and solvent solubility is provided, and an organic semiconductor film can be formed by applying the organic semiconductor material. It was possible to provide an organic semiconductor device having high carrier mobility, an organic thin film transistor, and an organic EL element including the device or the transistor.

本発明の有機半導体材料においては、請求項1〜8のいずれか1項に規定される構成を用いることにより、薄膜トランジスタ用途に有用な有機半導体膜を得ることが出来る。また、該有機半導体膜を用いて作製した有機薄膜トランジスタ(有機TFTともいう)は、キャリア移動度が高く、良好なON/OFF特性を示す等、優れたトランジスタ特性を示すことがわかった。また、有機TFTを具備した有機エレクトロルミネッセンス素子は、良好な発光特性を示すことが判った。   In the organic semiconductor material of the present invention, an organic semiconductor film useful for thin film transistor applications can be obtained by using the configuration defined in any one of claims 1 to 8. In addition, it was found that an organic thin film transistor (also referred to as an organic TFT) manufactured using the organic semiconductor film has excellent transistor characteristics such as high carrier mobility and good ON / OFF characteristics. Moreover, it turned out that the organic electroluminescent element provided with organic TFT shows a favorable light emission characteristic.

以下、本発明に係る各構成要素の詳細について、順次説明する。   Hereinafter, details of each component according to the present invention will be sequentially described.

《有機半導体材料》
本発明の有機半導体材料について説明する。
《Organic semiconductor material》
The organic semiconductor material of the present invention will be described.

従来公知の有機半導体材料としては、ペンタセンに代表されるアセン類などのように、芳香環が2環以上直線的に縮合した化合物は高移動度材料としてよく知られている。   As a conventionally known organic semiconductor material, a compound in which two or more aromatic rings are linearly condensed, such as acenes represented by pentacene, is well known as a high mobility material.

しかし、従来公知のアセン類等は、環数が増加するにつれて酸化や二量体への転化が起きやすい傾向があり、また、縮合環数の多い芳香環は分子間凝集力が強く、そのため溶媒溶解性が低く溶液を用いたプロセスに適用することが難しいという問題点があった。   However, conventionally known acenes and the like tend to be easily oxidized and converted to a dimer as the number of rings increases, and aromatic rings with many condensed rings have a strong intermolecular cohesive force. There was a problem that it was difficult to apply to a process using a solution because of low solubility.

上記課題について本発明の研究者らが検討を重ねた結果、従来公知のアセン類の中でも環数3以下のアセンを骨格として用いることにより、酸化に対してより安定性の高い化合物が得られることを見出した。   As a result of repeated investigations by the researchers of the present invention on the above problems, a compound having higher stability against oxidation can be obtained by using acene having a ring number of 3 or less as a skeleton among conventionally known acenes. I found.

更に、環数が3以下のアセン誘導体骨格に、電子的に吸引性のエチニル基を置換させることにより、酸化安定性がさらに向上し、また、前記エチニル基以外に、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基(芳香族炭素環基、アリール基等ともいう)または、芳香族複素環基(ヘテロアリール基ともいう)等を置換基として持たせることにより、π電子雲の拡大したπ共役面の大きい、且つ、酸化に対し安定な化合物が得られた。   Furthermore, by substituting an electronically attractive ethynyl group into an acene derivative skeleton having 3 or less rings, oxidation stability is further improved. In addition to the ethynyl group, an alkenyl group, alkynyl group, aromatic Π conjugate plane with an expanded π electron cloud by having an aromatic hydrocarbon group (also referred to as aromatic carbocyclic group, aryl group, etc.) or aromatic heterocyclic group (also referred to as heteroaryl group) as a substituent. And a compound which is stable against oxidation was obtained.

また、チオフェン環のように、分子の平面性が維持されるような基を導入することにより、分子間のπスタックがより促進され、密に分子が配列した膜を得ることができた。   In addition, by introducing a group such as a thiophene ring that maintains the planarity of the molecule, the π stack between molecules was further promoted, and a film in which molecules were closely arranged could be obtained.

また、従来公知のアセン類の一例であるペンタセンやセクシチオフェンのような平面性が高い分子は難溶であることが多いが、本発明の有機半導体材料に係る、上記一般式(1)で表される部分構造を有する化合物や、上記一般式(2)で表される部分構造を有する化合物は、いずれもアセン骨格のペリ位に置換エチニル基を導入することによって溶媒に対する溶解性が大きく向上させることができた。   In addition, molecules having high planarity such as pentacene and sexualthiophene, which are examples of conventionally known acenes, are often insoluble, but are represented by the above general formula (1) relating to the organic semiconductor material of the present invention. The compound having the partial structure and the compound having the partial structure represented by the general formula (2) greatly improve the solubility in the solvent by introducing a substituted ethynyl group into the peri-position of the acene skeleton. I was able to.

更に、エチニル基の置換基として、シリル基を導入することにより ペンタセンに代表されるようなヘリングボーン構造ではなく“Face−to−face”構造をとることが可能となった。   Furthermore, by introducing a silyl group as a substituent of the ethynyl group, it has become possible to adopt a “Face-to-face” structure instead of a herringbone structure typified by pentacene.

以上から、酸化安定性が高く、高移動度の材料を提供することが可能となった。   From the above, it has become possible to provide a material with high oxidation stability and high mobility.

ここで、本発明における芳香環とは、特に記載がない場合、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環を示す。芳香族炭化水素環、芳香族複素環については、後で詳細に説明する。   Here, the aromatic ring in the present invention refers to an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocyclic ring unless otherwise specified. The aromatic hydrocarbon ring and aromatic heterocyclic ring will be described in detail later.

《一般式(1)で表される部分構造を有する化合物》
本発明に係る一般式(1)で表される部分構造を有する化合物について説明する。
<< Compound having a partial structure represented by the general formula (1) >>
The compound having a partial structure represented by the general formula (1) according to the present invention will be described.

本発明の有機半導体材料は、一般式(1)で表される部分構造を有することが特徴であり、前記一般式(1)で表される部分構造を有する化合物が少なくとも主成分として含まれていることが特徴である。ここで、主成分とは有機半導体材料の総質量の50質量%以上含まれていることを示す。もちろん、一般式(1)で表される部分構造を有する化合物が、本発明の有機半導体材料において、100質量%の含有量で含まれていてもよい。   The organic semiconductor material of the present invention is characterized by having a partial structure represented by the general formula (1), and includes at least a compound having a partial structure represented by the general formula (1) as a main component. It is a feature. Here, the main component means that 50% by mass or more of the total mass of the organic semiconductor material is contained. Of course, the compound which has the partial structure represented by General formula (1) may be contained by content of 100 mass% in the organic-semiconductor material of this invention.

一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基としては、アルキル基(例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、tert−ブチル基、ペンチル基、tert−ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、tert−オクチル基、ドデシル基、トリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基等)、シクロアルキル基(例えば、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等)、アルケニル基(例えば、例えば、ビニル基、アリル基、1−プロペニル基、2−ブテニル基、1,3−ブタジエニル基、2−ペンテニル基、イソプロペニル基等)、アルキニル基(例えば、エチニル基、プロパルギル基等)、芳香族炭化水素基(芳香族炭素環基、アリール基等ともいい、例えば、フェニル基、p−クロロフェニル基、メシチル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基、アントリル基、アズレニル基、アセナフテニル基、フルオレニル基、フェナントリル基、インデニル基、ピレニル基、ビフェニリル基等)、芳香族複素環基(ヘテロアリール基ともいい、例えば、ピリジル基、ピリミジニル基、フリル基、ピロリル基、イミダゾリル基、ベンゾイミダゾリル基、ピラゾリル基、ピラジニル基、トリアゾリル基(例えば、1,2,4−トリアゾール−1−イル基、1,2,3−トリアゾール−1−イル基等)、オキサゾリル基、ベンゾオキサゾリル基、チアゾリル基、イソオキサゾリル基、イソチアゾリル基、フラザニル基、チエニル基、キノリル基、ベンゾフリル基、ジベンゾフリル基、ベンゾチエニル基、ジベンゾチエニル基、インドリル基、カルバゾリル基、カルボリニル基、ジアザカルバゾリル基(前記カルボリニル基のカルボリン環を構成する炭素原子の一つが窒素原子で置き換わったものを示す)、キノキサリニル基、ピリダジニル基、トリアジニル基、キナゾリニル基、フタラジニル基等)、複素環基(例えば、ピロリジル基、イミダゾリジル基、モルホリル基、オキサゾリジル基等)、アルコキシ基(例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロピルオキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、オクチルオキシ基、ドデシルオキシ基等)、シクロアルコキシ基(例えば、シクロペンチルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基等)、アリールオキシ基(例えば、フェノキシ基、ナフチルオキシ基等)、アルキルチオ基(例えば、メチルチオ基、エチルチオ基、プロピルチオ基、ペンチルチオ基、ヘキシルチオ基、オクチルチオ基、ドデシルチオ基等)、シクロアルキルチオ基(例えば、シクロペンチルチオ基、シクロヘキシルチオ基等)、アリールチオ基(例えば、フェニルチオ基、ナフチルチオ基等)、アルコキシカルボニル基(例えば、メチルオキシカルボニル基、エチルオキシカルボニル基、ブチルオキシカルボニル基、オクチルオキシカルボニル基、ドデシルオキシカルボニル基等)、アリールオキシカルボニル基(例えば、フェニルオキシカルボニル基、ナフチルオキシカルボニル基等)、スルファモイル基(例えば、アミノスルホニル基、メチルアミノスルホニル基、ジメチルアミノスルホニル基、ブチルアミノスルホニル基、ヘキシルアミノスルホニル基、シクロヘキシルアミノスルホニル基、オクチルアミノスルホニル基、ドデシルアミノスルホニル基、フェニルアミノスルホニル基、ナフチルアミノスルホニル基、2−ピリジルアミノスルホニル基等)、アシル基(例えば、アセチル基、エチルカルボニル基、プロピルカルボニル基、ペンチルカルボニル基、シクロヘキシルカルボニル基、オクチルカルボニル基、2−エチルヘキシルカルボニル基、ドデシルカルボニル基、フェニルカルボニル基、ナフチルカルボニル基、ピリジルカルボニル基等)、アシルオキシ基(例えば、アセチルオキシ基、エチルカルボニルオキシ基、ブチルカルボニルオキシ基、オクチルカルボニルオキシ基、ドデシルカルボニルオキシ基、フェニルカルボニルオキシ基等)、アミド基(例えば、メチルカルボニルアミノ基、エチルカルボニルアミノ基、ジメチルカルボニルアミノ基、プロピルカルボニルアミノ基、ペンチルカルボニルアミノ基、シクロヘキシルカルボニルアミノ基、2−エチルヘキシルカルボニルアミノ基、オクチルカルボニルアミノ基、ドデシルカルボニルアミノ基、フェニルカルボニルアミノ基、ナフチルカルボニルアミノ基等)、カルバモイル基(例えば、アミノカルボニル基、メチルアミノカルボニル基、ジメチルアミノカルボニル基、プロピルアミノカルボニル基、ペンチルアミノカルボニル基、シクロヘキシルアミノカルボニル基、オクチルアミノカルボニル基、2−エチルヘキシルアミノカルボニル基、ドデシルアミノカルボニル基、フェニルアミノカルボニル基、ナフチルアミノカルボニル基、2−ピリジルアミノカルボニル基等)、ウレイド基(例えば、メチルウレイド基、エチルウレイド基、ペンチルウレイド基、シクロヘキシルウレイド基、オクチルウレイド基、ドデシルウレイド基、フェニルウレイド基ナフチルウレイド基、2−ピリジルアミノウレイド基等)、スルフィニル基(例えば、メチルスルフィニル基、エチルスルフィニル基、ブチルスルフィニル基、シクロヘキシルスルフィニル基、2−エチルヘキシルスルフィニル基、ドデシルスルフィニル基、フェニルスルフィニル基、ナフチルスルフィニル基、2−ピリジルスルフィニル基等)、アルキルスルホニル基(例えば、メチルスルホニル基、エチルスルホニル基、ブチルスルホニル基、シクロヘキシルスルホニル基、2−エチルヘキシルスルホニル基、ドデシルスルホニル基等)、アリールスルホニル基(フェニルスルホニル基、ナフチルスルホニル基、2−ピリジルスルホニル基等)、アミノ基(例えば、アミノ基、エチルアミノ基、ジメチルアミノ基、ブチルアミノ基、シクロペンチルアミノ基、2−エチルヘキシルアミノ基、ドデシルアミノ基、アニリノ基、ナフチルアミノ基、2−ピリジルアミノ基等)、ハロゲン原子(例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等)、フッ化炭化水素基(例えば、フルオロメチル基、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、ペンタフルオロフェニル基等)、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、シリル基(例えば、トリメチルシリル基、トリイソプロピルシリル基、トリフェニルシリル基、フェニルジエチルシリル基等)、等が挙げられる。 In the general formula (1), examples of the substituent represented by R 1 to R 6 include an alkyl group (for example, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, and a tert-pentyl group). Group, hexyl group, octyl group, tert-octyl group, dodecyl group, tridecyl group, tetradecyl group, pentadecyl group, etc.), cycloalkyl group (for example, cyclopentyl group, cyclohexyl group, etc.), alkenyl group (for example, vinyl group, for example) Allyl group, 1-propenyl group, 2-butenyl group, 1,3-butadienyl group, 2-pentenyl group, isopropenyl group, etc.), alkynyl group (for example, ethynyl group, propargyl group, etc.), aromatic hydrocarbon group (Also called aromatic carbocyclic group, aryl group, etc., for example, phenyl group, p-chlorophenyl group, mesityl , Tolyl group, xylyl group, naphthyl group, anthryl group, azulenyl group, acenaphthenyl group, fluorenyl group, phenanthryl group, indenyl group, pyrenyl group, biphenylyl group, etc.), aromatic heterocyclic group (also called heteroaryl group, for example, Pyridyl group, pyrimidinyl group, furyl group, pyrrolyl group, imidazolyl group, benzoimidazolyl group, pyrazolyl group, pyrazinyl group, triazolyl group (for example, 1,2,4-triazol-1-yl group, 1,2,3-triazole- 1-yl group, etc.), oxazolyl group, benzoxazolyl group, thiazolyl group, isoxazolyl group, isothiazolyl group, furazanyl group, thienyl group, quinolyl group, benzofuryl group, dibenzofuryl group, benzothienyl group, dibenzothienyl group, indolyl Group, carbazolyl group, cal Borinyl group, diazacarbazolyl group (indicating that one of the carbon atoms constituting the carboline ring of the carbolinyl group is replaced by a nitrogen atom), quinoxalinyl group, pyridazinyl group, triazinyl group, quinazolinyl group, phthalazinyl group, etc. , Heterocyclic groups (for example, pyrrolidyl group, imidazolidyl group, morpholyl group, oxazolidyl group, etc.), alkoxy groups (for example, methoxy group, ethoxy group, propyloxy group, pentyloxy group, hexyloxy group, octyloxy group, dodecyloxy group) Group), cycloalkoxy group (eg cyclopentyloxy group, cyclohexyloxy group etc.), aryloxy group (eg phenoxy group, naphthyloxy group etc.), alkylthio group (eg methylthio group, ethylthio group, propylthio group, pentylthio). Group, Xylthio group, octylthio group, dodecylthio group, etc.), cycloalkylthio group (eg, cyclopentylthio group, cyclohexylthio group, etc.), arylthio group (eg, phenylthio group, naphthylthio group, etc.), alkoxycarbonyl group (eg, methyloxycarbonyl group, etc.) , Ethyloxycarbonyl group, butyloxycarbonyl group, octyloxycarbonyl group, dodecyloxycarbonyl group, etc.), aryloxycarbonyl group (eg, phenyloxycarbonyl group, naphthyloxycarbonyl group, etc.), sulfamoyl group (eg, aminosulfonyl group) Methylaminosulfonyl group, dimethylaminosulfonyl group, butylaminosulfonyl group, hexylaminosulfonyl group, cyclohexylaminosulfonyl group, octylaminosulfonyl group Group, dodecylaminosulfonyl group, phenylaminosulfonyl group, naphthylaminosulfonyl group, 2-pyridylaminosulfonyl group, etc.), acyl group (for example, acetyl group, ethylcarbonyl group, propylcarbonyl group, pentylcarbonyl group, cyclohexylcarbonyl group, octyl) Carbonyl group, 2-ethylhexylcarbonyl group, dodecylcarbonyl group, phenylcarbonyl group, naphthylcarbonyl group, pyridylcarbonyl group, etc.), acyloxy group (for example, acetyloxy group, ethylcarbonyloxy group, butylcarbonyloxy group, octylcarbonyloxy group) , Dodecylcarbonyloxy group, phenylcarbonyloxy group, etc.), amide group (for example, methylcarbonylamino group, ethylcarbonylamino group, dimethylcarbonylamino group) Group, propylcarbonylamino group, pentylcarbonylamino group, cyclohexylcarbonylamino group, 2-ethylhexylcarbonylamino group, octylcarbonylamino group, dodecylcarbonylamino group, phenylcarbonylamino group, naphthylcarbonylamino group, etc.), carbamoyl group ( For example, aminocarbonyl group, methylaminocarbonyl group, dimethylaminocarbonyl group, propylaminocarbonyl group, pentylaminocarbonyl group, cyclohexylaminocarbonyl group, octylaminocarbonyl group, 2-ethylhexylaminocarbonyl group, dodecylaminocarbonyl group, phenylamino Carbonyl group, naphthylaminocarbonyl group, 2-pyridylaminocarbonyl group, etc.), ureido group (for example, methylureido group, ethyl) Ureido group, pentylureido group, cyclohexylureido group, octylureido group, dodecylureido group, phenylureido group, naphthylureido group, 2-pyridylaminoureido group, etc.), sulfinyl group (for example, methylsulfinyl group, ethylsulfinyl group, butylsulfinyl group) , Cyclohexylsulfinyl group, 2-ethylhexylsulfinyl group, dodecylsulfinyl group, phenylsulfinyl group, naphthylsulfinyl group, 2-pyridylsulfinyl group, etc.), alkylsulfonyl group (for example, methylsulfonyl group, ethylsulfonyl group, butylsulfonyl group, cyclohexyl) Sulfonyl group, 2-ethylhexylsulfonyl group, dodecylsulfonyl group, etc.), arylsulfonyl group (phenylsulfonyl group, naphthylsulfonyl) Group, 2-pyridylsulfonyl group, etc.), amino group (for example, amino group, ethylamino group, dimethylamino group, butylamino group, cyclopentylamino group, 2-ethylhexylamino group, dodecylamino group, anilino group, naphthylamino group) , 2-pyridylamino group, etc.), halogen atom (eg, fluorine atom, chlorine atom, bromine atom etc.), fluorinated hydrocarbon group (eg, fluoromethyl group, trifluoromethyl group, pentafluoroethyl group, pentafluorophenyl group) Etc.), cyano group, nitro group, hydroxy group, mercapto group, silyl group (for example, trimethylsilyl group, triisopropylsilyl group, triphenylsilyl group, phenyldiethylsilyl group, etc.).

これらの置換基は、上記の置換基によって更に置換されていてもよい。また、これらの置換基は複数が互いに結合して環を形成していてもよい。   These substituents may be further substituted with the above substituents. In addition, a plurality of these substituents may be bonded to each other to form a ring.

中でも、一般式(1)において、R2で表される置換基は、前記一般式(a)で表される基であることが好ましく、ここで、一般式(a)において、R1’で表される置換基は、上記一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基と同義である。 Among them, in the general formula (1), the substituent represented by R 2 is preferably a group represented by the general formula (a). Here, in the general formula (a), R 1 ′ The substituent represented is synonymous with the substituent represented by R < 1 > -R < 6 > in the said General formula (1).

更に、一般式(1)においては、R1、R1’が、各々分岐状アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基、またはSi(R)3基(Rは、置換基を表す。)で表されることが好ましい。 Further, in the general formula (1), R 1 and R 1 ′ are each a branched alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an aromatic hydrocarbon group, an aromatic heterocyclic group, or Si (R It is preferably represented by 3 groups (R represents a substituent).

一般式(1)において、R1、R1’で各々表される分岐状アルキル基としては、一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基のアルキル基の中で、例えば、イソプロピル基、tert−ブチル基、tert−ペンチル基、tert−オクチル基等が挙げられる。 In the general formula (1), examples of the branched alkyl groups represented by R 1 and R 1 ′ include the alkyl groups of the substituents represented by R 1 to R 6 in the general formula (1). Examples thereof include isopropyl group, tert-butyl group, tert-pentyl group, tert-octyl group and the like.

一般式(1)において、R1、R1’で各々表される、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基は、上記一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基として記載されている、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基と各々同義である。 In the general formula (1), the cycloalkyl group, alkenyl group, alkynyl group, aromatic hydrocarbon group, and aromatic heterocyclic group represented by R 1 and R 1 ′ It is synonymous with a cycloalkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an aromatic hydrocarbon group, and an aromatic heterocyclic group, which are described as substituents represented by R 1 to R 6 , respectively.

一般式(1)において、R1、R1’で各々表されるSi(R)3基のRで表される置換基は、上記一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基と同義である。 In the general formula (1), the substituents represented by R of the Si (R) 3 group represented by R 1 and R 1 ′ are represented by R 1 to R 6 in the general formula (1), respectively. It is synonymous with the substituent made.

また、一般式(1)においては、R3またはR4、R5またはR6が、各々前記芳香族炭化水素環基または前記芳香族複素環基であることが好ましく、ここで、前記芳香族炭化水素基、前記芳香族複素環基は、各々、上記一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基として記載されている、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基と各々同義である。 In the general formula (1), it is preferable that R 3 or R 4 , R 5 or R 6 is the aromatic hydrocarbon ring group or the aromatic heterocyclic group, respectively. The hydrocarbon group and the aromatic heterocyclic group are each described as a substituent represented by R 1 to R 6 in the general formula (1), respectively. Each group has the same meaning.

《一般式(2)で表される部分構造を有する化合物》
本発明に係る一般式(1)で表される部分構造を有する化合物としては、本発明に係る一般式(2)で表される部分構造を有する化合物が好ましい。
<< Compound having a partial structure represented by the general formula (2) >>
The compound having a partial structure represented by the general formula (1) according to the present invention is preferably a compound having a partial structure represented by the general formula (2) according to the present invention.

一般式(2)において、R1、R1’で各々表される置換基は、上記一般式(1)において、R1、R1’で各々表される置換基と同義である。 In the general formula (2), R 1, R 1 ' substituent represented by each of the in the above general formula (1), R 1, R 1' is synonymous with the substituent represented by each of.

一般式(2)において、R7〜R10で各々表される置換基は、上記一般式(1)において、R1〜R6で各々表される置換基と同義である。 In the general formula (2), the substituents represented by R 7 to R 10 have the same meanings as the substituents represented by R 1 to R 6 in the general formula (1).

以下、本発明に係る一般式(1)または(2)で表される部分構造を有する化合物の具体例を示すが、本発明はこれらに限定されない。   Hereinafter, although the specific example of the compound which has the partial structure represented by General formula (1) or (2) based on this invention is shown, this invention is not limited to these.

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

Figure 2007088115
Figure 2007088115

《合成例》
本発明に係る一般式(1)または(2)で表される部分構造を有する化合物の合成は、従来公知の複素環化合物の合成法を参照することにより合成可能であるが、ここで、上記に具体例としてあげた例示化合物13の合成例を一例として示すが、本発明はこれらに限定されない。
<Synthesis example>
The compound having a partial structure represented by the general formula (1) or (2) according to the present invention can be synthesized by referring to a conventionally known synthesis method of a heterocyclic compound. Examples of the synthesis of the exemplified compound 13 given as specific examples are shown as an example, but the present invention is not limited thereto.

《例示化合物13の合成》   << Synthesis of Exemplified Compound 13 >>

Figure 2007088115
Figure 2007088115

上記化合物の合成スキームの概要を以下に示す。   The outline of the synthesis scheme of the above compound is shown below.

まず、J.Am.Chem.Soc.,vol.127(2005),4986−4987頁を参考に中間体2を合成した。更に、中間体2と2−thienyl−5−thiopheneboronic acidよりSuzuki Couplingによって中間体3を合成した。中間体3をNBSによってブロモ化し中間体4とした後、フェニルボロン酸とのSuzuki Couplingによって例示化合物13を合成した。   First, J.H. Am. Chem. Soc. , Vol. 127 (2005), pages 4986-4987, and intermediate 2 was synthesized. Furthermore, Intermediate 3 was synthesized by Suzuki Coupling from Intermediate 2 and 2-thienyl-5-thiopheneboronic acid. After intermediate 3 was brominated with NBS to give intermediate 4, exemplary compound 13 was synthesized by Suzuki Coupling with phenylboronic acid.

《有機半導体膜》
本発明に係る有機半導体膜について説明する。
<Organic semiconductor film>
The organic semiconductor film according to the present invention will be described.

本発明の有機半導体材料は適当な有機溶媒(後述する)と混合し、溶液または分散液として用いることができる。   The organic semiconductor material of the present invention can be mixed with an appropriate organic solvent (described later) and used as a solution or dispersion.

本発明の有機半導体材料を含有する溶液を用いて有機半導体膜を作製する場合、使用する有機溶媒は何を用いても構わず、また2種以上の有機溶媒を混合して用いてもよいが、好ましくは非ハロゲン系の溶媒を1種以上含んでおり、より好ましくは非ハロゲン系の溶媒のみで構成されていることが望ましい。   When producing an organic semiconductor film using a solution containing the organic semiconductor material of the present invention, any organic solvent may be used, or two or more organic solvents may be mixed and used. Preferably, it contains at least one non-halogen solvent, and more preferably only non-halogen solvent.

《室温で溶液または分散液》
本発明の有機半導体膜は、本発明の有機半導体材料を下記に示す有機溶媒と混合して調製した、室温で溶液または分散液を用いて膜形成する工程を経て作製されることが好ましい。ここで、室温で溶液または分散液とは、有機半導体材料と有機溶媒とを10℃〜80℃の条件下で混合した時に、溶液または分散液が形成されることが好ましく、分散液とは、有機半導体材料が粒子状に分散された状態を表すが、分散液中に、有機半導体材料が部分的溶解している状態も含まれる。
<< Solution or dispersion at room temperature >>
The organic semiconductor film of the present invention is preferably produced through a step of forming a film using a solution or a dispersion at room temperature, prepared by mixing the organic semiconductor material of the present invention with the organic solvent shown below. Here, the solution or dispersion at room temperature preferably forms a solution or dispersion when the organic semiconductor material and the organic solvent are mixed under conditions of 10 ° C. to 80 ° C. Although the organic semiconductor material represents a state where the organic semiconductor material is dispersed in the form of particles, a state where the organic semiconductor material is partially dissolved in the dispersion is also included.

また、分散液の一態様としては、例えば、80℃の温度条件下では溶解し、溶液を形成するが、室温(通常25℃前後の温度を示す)に戻すと有機半導体材料の粒子、凝集体、析出物等が有機溶媒中に分散されている状態等を挙げることが出来る。   Further, as one embodiment of the dispersion, for example, it dissolves under a temperature condition of 80 ° C. to form a solution, but when returned to room temperature (usually showing a temperature of about 25 ° C.), particles or aggregates of organic semiconductor material And a state in which precipitates are dispersed in an organic solvent.

(有機溶媒)
上記の溶液または分散液の調製に用いる有機溶媒としては、特に制限はなく、単一溶媒でも混合溶媒でもよいが、好ましくは、非ハロゲン系溶媒が用いられる。本発明に用いられる非ハロゲン系溶媒としては、ヘキサン、オクタンなどの脂肪族系、シクロヘキサンなどの脂環式系溶媒、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族系溶媒、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコールジエチルエーテル、アニソール、ベンジルエチルエーテル、エチルフェニルエーテル、ジフェニルエーテル、メチル−t−ブチルエーテル等のエーテル系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチル、エチルセロソルブ等のエステル系溶媒、メタノール、エタノール、イソプロパノール等のアルコール系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、2−ヘキサノン、2−ヘプタノン、3−ヘプタノン等のケトン系溶媒、その他ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、ジエチルホルムアミド、1,3−ジオキソラン等が挙げられる。
(Organic solvent)
There is no restriction | limiting in particular as an organic solvent used for preparation of said solution or dispersion liquid, Although a single solvent or a mixed solvent may be sufficient, Preferably, a non-halogen-type solvent is used. Non-halogen solvents used in the present invention include aliphatic solvents such as hexane and octane, alicyclic solvents such as cyclohexane, aromatic solvents such as benzene, toluene and xylene, tetrahydrofuran, dioxane, and ethylene glycol diethyl ether. , Ether solvents such as anisole, benzyl ethyl ether, ethyl phenyl ether, diphenyl ether, and methyl-t-butyl ether, ester solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, and ethyl cellosolve, alcohol solvents such as methanol, ethanol, and isopropanol, acetone , Ketone solvents such as methyl ethyl ketone, cyclohexanone, 2-hexanone, 2-heptanone and 3-heptanone, other dimethylformamide, dimethylsulfoxide, diethylformamide, 1,3- Oxolane, and the like.

また、併用される有機溶剤は、特に制限されるものではないが、好ましいものとしては、メタノール、エタノール、イソプロパノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ピロリドン、N−メチルピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、β−メトキシプロピオン酸メチル、β−エトキシプロピオン酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、トルエン、キシレン、ヘキサン、リモネン、シクロヘキサンなどが挙げられる。これらの有機溶媒は2種類以上を組合せて用いることもできる。   Further, the organic solvent used in combination is not particularly limited, but preferred examples include methanol, ethanol, isopropanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, pyrrolidone, N-methylpyrrolidone, dimethylformamide, dimethylacetamide, Examples include methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl lactate, ethyl lactate, butyl lactate, methyl β-methoxypropionate, ethyl β-ethoxypropionate, propylene glycol monomethyl ether acetate, toluene, xylene, hexane, limonene, cyclohexane, etc. It is done. Two or more of these organic solvents can be used in combination.

また、エステル系溶剤としては、オキシイソ酪酸アルキルエステル等を用いてもよく、オキシイソ酪酸エステルとしては、α−メトキシイソ酪酸メチル、α−メトキシイソ酪酸エチル、α−エトキシイソ酪酸メチル、α−エトキシイソ酪酸エチルなどのα−アルコキシイソ酪酸アルキルエステル;β−メトキシイソ酪酸メチル、β−メトキシイソ酪酸エチル、β−エトキシイソ酪酸メチル、β−エトキシイソ酪酸エチルなどのβ−アルコキシイソ酪酸アルキルエステル;およびα−ヒドロキシイソ酪酸メチル、α−ヒドロキシイソ酪酸エチルなどのα−ヒドロキシイソ酪酸アルキルエステルが挙げられ、特にα−メトキシイソ酪酸メチル、β−メトキシイソ酪酸メチル、β−エトキシイソ酪酸メチルまたはα−ヒドロキシイソ酪酸メチル等を用いることができる。   Further, as the ester solvent, oxyisobutyric acid alkyl ester or the like may be used, and as oxyisobutyric acid ester, α-methoxyisobutyrate methyl, α-methoxyisobutyrate ethyl, α-ethoxyisobutyrate methyl, α-ethoxyisobutyrate ethyl, etc. α-alkoxyisobutyric acid alkyl esters; β-alkoxyisobutyric acid alkyl esters such as methyl β-methoxyisobutyrate, ethyl β-methoxyisobutyrate, methyl β-ethoxyisobutyrate, ethyl β-ethoxyisobutyrate; and methyl α-hydroxyisobutyrate, α Α-hydroxyisobutyric acid alkyl esters such as ethyl-hydroxyisobutyrate, and in particular, methyl α-methoxyisobutyrate, methyl β-methoxyisobutyrate, methyl β-ethoxyisobutyrate or methyl α-hydroxyisobutyrate may be used. it can.

《有機半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ(有機TFTともいう)》
本発明の有機半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ(本願では、有機TFTともいう)について説明する。
<< Organic semiconductor device, organic thin film transistor (also called organic TFT) >>
The organic semiconductor device and organic thin film transistor (also referred to as organic TFT in the present application) of the present invention will be described.

本発明の有機半導体材料は、有機半導体膜、有機半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ(有機TFT)等の半導体層に用いられることにより、良好に駆動する有機半導体デバイス、有機TFTを提供することができる。   The organic semiconductor material of the present invention can be used for a semiconductor layer such as an organic semiconductor film, an organic semiconductor device, and an organic thin film transistor (organic TFT), thereby providing an organic semiconductor device and an organic TFT that are driven well.

有機TFT(有機薄膜トランジスタ)は、支持体上に、半導体層として有機半導体チャネルで連結されたソース電極とドレイン電極を有し、その上にゲート絶縁層を介してゲート電極を有するトップゲート型と、支持体上にまずゲート電極を有し、ゲート絶縁層を介して有機半導体チャネルで連結されたソース電極とドレイン電極を有するボトムゲート型に大別される。   An organic TFT (organic thin film transistor) has a source electrode and a drain electrode connected by an organic semiconductor channel as a semiconductor layer on a support, and a top gate type having a gate electrode via a gate insulating layer thereon, A bottom gate type having a gate electrode on a support and having a source electrode and a drain electrode connected by an organic semiconductor channel through a gate insulating layer is roughly classified.

本発明の有機半導体材料を有機TFTの半導体層に設置するには、真空蒸着により基板上に設置することもできるが、適切な溶剤に溶解し必要に応じ添加剤を加えて調製した溶液をキャストコート、スピンコート、印刷、インクジェット法、アブレーション法等によって基板上に設置するのが好ましい。   In order to install the organic semiconductor material of the present invention on the semiconductor layer of the organic TFT, it can be installed on the substrate by vacuum deposition, but a solution prepared by dissolving in an appropriate solvent and adding additives as necessary is cast. It is preferable to install on the substrate by coating, spin coating, printing, ink jet method, ablation method or the like.

この場合、本発明に係る有機半導体化合物を溶解する溶剤は、該有機半導体化合物を溶解して適切な濃度の溶液が調製できるものであれば格別の制限はないが、具体的にはジエチルエーテルやジイソプロピルエーテル等の鎖状エーテル系溶媒、テトラヒドロフランやジオキサンなどの環状エーテル系溶媒、アセトンやメチルエチルケトン等のケトン系溶媒、クロロホルムや1,2−ジクロロエタン等のハロゲン化アルキル系溶媒、トルエン、o−ジクロロベンゼン、ニトロベンゼン、m−クレゾール等の芳香族系溶媒、N−メチルピロリドン、2硫化炭素等を挙げることができる。これらの溶媒のうち、非ハロゲン系溶媒を含む溶媒が好ましく、非ハロゲン系溶媒で構成することが好ましい。   In this case, the solvent for dissolving the organic semiconductor compound according to the present invention is not particularly limited as long as the organic semiconductor compound can be dissolved to prepare a solution with an appropriate concentration. Chain ether solvents such as diisopropyl ether, cyclic ether solvents such as tetrahydrofuran and dioxane, ketone solvents such as acetone and methyl ethyl ketone, alkyl halide solvents such as chloroform and 1,2-dichloroethane, toluene, o-dichlorobenzene And aromatic solvents such as nitrobenzene and m-cresol, N-methylpyrrolidone, carbon disulfide and the like. Of these solvents, a solvent containing a non-halogen solvent is preferable, and a non-halogen solvent is preferable.

本発明において、ソース電極、ドレイン電極及びゲート電極を形成する材料は導電性材料であれば特に限定されず、白金、金、銀、ニッケル、クロム、銅、鉄、錫、アンチモン鉛、タンタル、インジウム、パラジウム、テルル、レニウム、イリジウム、アルミニウム、ルテニウム、ゲルマニウム、モリブデン、タングステン、酸化スズ・アンチモン、酸化インジウム・スズ(ITO)、フッ素ドープ酸化亜鉛、亜鉛、炭素、グラファイト、グラッシーカーボン、銀ペーストおよびカーボンペースト、リチウム、ベリリウム、ナトリウム、マグネシウム、カリウム、カルシウム、スカンジウム、チタン、マンガン、ジルコニウム、ガリウム、ニオブ、ナトリウム、ナトリウム−カリウム合金、マグネシウム、リチウム、アルミニウム、マグネシウム/銅混合物、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム混合物、リチウム/アルミニウム混合物等が用いられるが、特に、白金、金、銀、銅、アルミニウム、インジウム、ITOおよび炭素が好ましい。あるいはドーピング等で導電率を向上させた公知の導電性ポリマー、例えば、導電性ポリアニリン、導電性ポリピロール、導電性ポリチオフェン、ポリエチレンジオキシチオフェンとポリスチレンスルホン酸の錯体なども好適に用いられる。中でも半導体層との接触面において電気抵抗が少ないものが好ましい。   In the present invention, the material for forming the source electrode, the drain electrode and the gate electrode is not particularly limited as long as it is a conductive material. Platinum, gold, silver, nickel, chromium, copper, iron, tin, antimony lead, tantalum, indium , Palladium, tellurium, rhenium, iridium, aluminum, ruthenium, germanium, molybdenum, tungsten, tin oxide / antimony, indium tin oxide (ITO), fluorine-doped zinc oxide, zinc, carbon, graphite, glassy carbon, silver paste and carbon Paste, lithium, beryllium, sodium, magnesium, potassium, calcium, scandium, titanium, manganese, zirconium, gallium, niobium, sodium, sodium-potassium alloy, magnesium, lithium, aluminum, magnesi A copper / gold mixture, a magnesium / silver mixture, a magnesium / aluminum mixture, a magnesium / indium mixture, an aluminum / aluminum oxide mixture, a lithium / aluminum mixture, etc., in particular, platinum, gold, silver, copper, aluminum, indium, ITO and carbon are preferred. Alternatively, known conductive polymers whose conductivity is improved by doping or the like, for example, conductive polyaniline, conductive polypyrrole, conductive polythiophene, a complex of polyethylenedioxythiophene and polystyrenesulfonic acid, and the like are also preferably used. Among them, those having low electrical resistance at the contact surface with the semiconductor layer are preferable.

電極の形成方法としては、上記を原料として蒸着やスパッタリング等の方法を用いて形成した導電性薄膜を、公知のフォトリソグラフ法やリフトオフ法を用いて電極形成する方法、アルミニウムや銅などの金属箔上に熱転写、インクジェット等によるレジストを用いてエッチングする方法がある。また導電性ポリマーの溶液あるいは分散液、導電性微粒子分散液を直接インクジェットによりパターニングしてもよいし、塗工膜からリソグラフやレーザーアブレーションなどにより形成してもよい。更に導電性ポリマーや導電性微粒子を含むインク、導電性ペーストなどを凸版、凹版、平版、スクリーン印刷などの印刷法でパターニングする方法も用いることができる。   As a method for forming an electrode, a method for forming an electrode using a known photolithographic method or a lift-off method, using a conductive thin film formed by a method such as vapor deposition or sputtering using the above as a raw material, or a metal foil such as aluminum or copper There is a method of etching using a resist by thermal transfer, ink jet or the like. Alternatively, a conductive polymer solution or dispersion, or a conductive fine particle dispersion may be directly patterned by ink jetting, or may be formed from a coating film by lithography or laser ablation. Furthermore, a method of patterning an ink containing a conductive polymer or conductive fine particles, a conductive paste, or the like by a printing method such as relief printing, intaglio printing, planographic printing, or screen printing can also be used.

ゲート絶縁層としては種々の絶縁膜を用いることができるが、特に比誘電率の高い無機酸化物皮膜が好ましい。無機酸化物としては、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化チタン、酸化スズ、酸化バナジウム、チタン酸バリウムストロンチウム、ジルコニウム酸チタン酸バリウム、ジルコニウム酸チタン酸鉛、チタン酸鉛ランタン、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム、フッ化バリウムマグネシウム、チタン酸ビスマス、チタン酸ストロンチウムビスマス、タンタル酸ストロンチウムビスマス、タンタル酸ニオブ酸ビスマス、トリオキサイドイットリウムなどが挙げられる。それらのうち好ましいのは酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化チタンである。窒化ケイ素、窒化アルミニウム等の無機窒化物も好適に用いることができる。   Various insulating films can be used as the gate insulating layer, and an inorganic oxide film having a high relative dielectric constant is particularly preferable. Inorganic oxides include silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, titanium oxide, tin oxide, vanadium oxide, barium strontium titanate, barium zirconate titanate, lead zirconate titanate, lead lanthanum titanate, strontium titanate, Examples thereof include barium titanate, barium magnesium fluoride, bismuth titanate, strontium bismuth titanate, strontium bismuth tantalate, bismuth tantalate niobate, and yttrium trioxide. Of these, silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, and titanium oxide are preferable. Inorganic nitrides such as silicon nitride and aluminum nitride can also be suitably used.

上記皮膜の形成方法としては、真空蒸着法、分子線エピタキシャル成長法、イオンクラスタービーム法、低エネルギーイオンビーム法、イオンプレーティング法、CVD法、スパッタリング法、大気圧プラズマ法などのドライプロセスや、スプレーコート法、スピンコート法、ブレードコート法、デイップコート法、キャスト法、ロールコート法、バーコート法、ダイコート法などの塗布による方法、印刷やインクジェットなどのパターニングによる方法などのウェットプロセスが挙げられ、材料に応じて使用できる。   Examples of the method for forming the film include a vacuum process, a molecular beam epitaxial growth method, an ion cluster beam method, a low energy ion beam method, an ion plating method, a CVD method, a sputtering method, an atmospheric pressure plasma method, and a spray process. Wet processes such as coating methods, spin coating methods, blade coating methods, dip coating methods, casting methods, roll coating methods, bar coating methods, die coating methods, and other wet processes such as printing and ink jet patterning methods, etc. Can be used depending on the material.

ウェットプロセスは、無機酸化物の微粒子を、任意の有機溶剤あるいは水に必要に応じて界面活性剤などの分散補助剤を用いて分散した液を塗布、乾燥する方法や、酸化物前駆体、例えば、アルコキシド体の溶液を塗布、乾燥する、いわゆるゾルゲル法が用いられる。これらのうち好ましいのは、大気圧プラズマ法とゾルゲル法である。   The wet process is a method of applying and drying a liquid in which fine particles of inorganic oxide are dispersed in an arbitrary organic solvent or water using a dispersion aid such as a surfactant as required, or an oxide precursor, for example, A so-called sol-gel method in which a solution of an alkoxide body is applied and dried is used. Among these, the atmospheric pressure plasma method and the sol-gel method are preferable.

大気圧下でのプラズマ製膜処理による絶縁膜の形成方法は、大気圧または大気圧近傍の圧力下で放電し、反応性ガスをプラズマ励起し、基材上に薄膜を形成する処理で、その方法については特開平11−61406号公報、同11−133205号公報、特開2000−121804号公報、同2000−147209号公報、同2000−185362号公報等に記載されている(以下、大気圧プラズマ法とも称する)。これによって高機能性の薄膜を、生産性高く形成することができる。   The method for forming an insulating film by plasma film formation under atmospheric pressure is a process in which a reactive gas is discharged under atmospheric pressure or a pressure near atmospheric pressure to excite reactive gas to form a thin film on a substrate. The method is described in JP-A-11-61406, JP-A-11-133205, JP-A-2000-121804, JP-A-2000-147209, JP-A-2000-185362 (hereinafter referred to as atmospheric pressure). Also called plasma method). Accordingly, a highly functional thin film can be formed with high productivity.

また有機化合物皮膜としては、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、ポリアクリレート、光ラジカル重合系、光カチオン重合系の光硬化性樹脂、あるいはアクリロニトリル成分を含有する共重合体、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ノボラック樹脂、およびシアノエチルプルラン等を用いることもできる。有機化合物皮膜の形成法としては、前記ウェットプロセスが好ましい。無機酸化物皮膜と有機酸化物皮膜は積層して併用することができる。またこれら絶縁膜の膜厚としては、一般に50nm〜3μm、好ましくは100nm〜1μmである。   In addition, as the organic compound film, polyimide, polyamide, polyester, polyacrylate, photo radical polymerization type, photo cation polymerization type photo curable resin, or a copolymer containing an acrylonitrile component, polyvinyl phenol, polyvinyl alcohol, novolac resin, Also, cyanoethyl pullulan or the like can be used. As the method for forming the organic compound film, the wet process is preferable. An inorganic oxide film and an organic oxide film can be laminated and used together. The thickness of these insulating films is generally 50 nm to 3 μm, preferably 100 nm to 1 μm.

また、支持体はガラスやフレキシブルな樹脂製シートで構成され、例えば、プラスチックフィルムをシートとして用いることができる。前記プラスチックフィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、ポリイミド、ボリカーボネート(PC)、セルローストリアセテート(TAC)、セルロースアセテートプロピオネート(CAP)等からなるフィルム等が挙げられる。このように、プラスチックフィルムを用いることで、ガラス基板を用いる場合に比べて軽量化を図ることができ、可搬性を高めることができるとともに、衝撃に対する耐性を向上できる。   Moreover, a support body is comprised with glass or a flexible resin-made sheet | seat, for example, a plastic film can be used as a sheet | seat. Examples of the plastic film include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyethersulfone (PES), polyetherimide, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, polyarylate, polyimide, polycarbonate (PC). And a film made of cellulose triacetate (TAC), cellulose acetate propionate (CAP), or the like. Thus, by using a plastic film, the weight can be reduced as compared with the case of using a glass substrate, the portability can be improved, and the resistance to impact can be improved.

以下に、本発明に係る有機半導体化合物を用いて形成された有機薄膜を用いた有機薄膜トランジスタ(有機TFT)について説明する。   Below, the organic thin-film transistor (organic TFT) using the organic thin film formed using the organic-semiconductor compound concerning this invention is demonstrated.

図1は、本発明に係る有機TFTの構成例を示す図である。同図(a)は、支持体6上に金属箔等によりソース電極2、ドレイン電極3を形成し、両電極間に本発明の有機薄膜トランジスタ材料からなる有機半導体層1を形成し、その上に絶縁層5を形成し、更にその上にゲート電極4を形成して電界効果トランジスタを形成したものである。同図(b)は、有機半導体層1を、(a)では電極間に形成したものを、コート法等を用いて電極及び支持体表面全体を覆うように形成したものを表す。(c)は、支持体6上に先ずコート法等を用いて、有機半導体層1を形成し、その後ソース電極2、ドレイン電極3、絶縁層5、ゲート電極4を形成したものを表す。   FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an organic TFT according to the present invention. In FIG. 2A, a source electrode 2 and a drain electrode 3 are formed on a support 6 by a metal foil or the like, an organic semiconductor layer 1 made of the organic thin film transistor material of the present invention is formed between the two electrodes, and on that, An insulating layer 5 is formed, and a gate electrode 4 is further formed thereon to form a field effect transistor. FIG. 2B shows the organic semiconductor layer 1 formed between the electrodes in FIG. 1A so as to cover the entire surface of the electrode and the support using a coating method or the like. (C) shows that the organic semiconductor layer 1 is first formed on the support 6 by using a coating method or the like, and then the source electrode 2, the drain electrode 3, the insulating layer 5, and the gate electrode 4 are formed.

同図(d)は、支持体6上にゲート電極4を金属箔等で形成した後、絶縁層5を形成し、その上に金属箔等で、ソース電極2及びドレイン電極3を形成し、該電極間に本発明の有機薄膜トランジスタ材料により形成された有機半導体層1を形成する。その他同図(e)、(f)に示すような構成を取ることもできる。   In FIG. 4D, after forming the gate electrode 4 on the support 6 with a metal foil or the like, the insulating layer 5 is formed, and the source electrode 2 and the drain electrode 3 are formed on the metal foil or the like on the insulating layer 5. An organic semiconductor layer 1 made of the organic thin film transistor material of the present invention is formed between the electrodes. In addition, the configuration as shown in FIGS.

図2は、有機TFTシートの概略等価回路図の1例を示す図である。   FIG. 2 is a diagram showing an example of a schematic equivalent circuit diagram of an organic TFT sheet.

有機TFTシート10はマトリクス配置された多数の有機TFT11を有する。7は各TFT11のゲートバスラインであり、8は各TFT11のソースバスラインである。各TFT11のソース電極には、出力素子12が接続され、この出力素子12は例えば液晶、電気泳動素子等であり、表示装置における画素を構成する。画素電極は光センサの入力電極として用いてもよい。図示の例では、出力素子として液晶が、抵抗とコンデンサからなる等価回路で示されている。13は蓄積コンデンサ、14は垂直駆動回路、15は水平駆動回路である。   The organic TFT sheet 10 has a large number of organic TFTs 11 arranged in a matrix. 7 is a gate bus line of each TFT 11, and 8 is a source bus line of each TFT 11. An output element 12 is connected to the source electrode of each TFT 11, and the output element 12 is, for example, a liquid crystal or an electrophoretic element, and constitutes a pixel in the display device. The pixel electrode may be used as an input electrode of the photosensor. In the illustrated example, a liquid crystal as an output element is shown by an equivalent circuit composed of a resistor and a capacitor. 13 is a storage capacitor, 14 is a vertical drive circuit, and 15 is a horizontal drive circuit.

また、本発明の有機半導体材料を用いた有機TFTは、例えばSID2005, session49−1,2,3で紹介されている技術に適用することができ、a−Siトランジスタを本発明の有機半導体トランジスタに置き換えることで良好な特性を得ることが可能である。   Moreover, the organic TFT using the organic semiconductor material of the present invention can be applied to the technology introduced in, for example, SID2005, sessions 49-1, 2 and 3, and an a-Si transistor is used as the organic semiconductor transistor of the present invention. By replacing it, it is possible to obtain good characteristics.

以下、技術適用の一例として、本発明の有機TFTを具備している有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)について記載する。   Hereinafter, as an example of the technology application, an organic electroluminescence element (organic EL element) including the organic TFT of the present invention will be described.

《有機EL素子(有機エレクトロルミネッセンス素子)》
本発明の有機半導体デバイスまたは有機薄膜トランジスタは、有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子ともいう)に具備することができ、本発明の有機EL素子は、例えば、陽極と陰極との間に有機EL層(有機化合物層ともいう)が挟まれた状態のものが挙げられるが、これらの構成としては、従来公知の層構成、有機EL層の材料等を用いて作製することが出来る。例えば、Nature,395巻,151〜154頁の文献等が参照出来る。
<< Organic EL element (Organic electroluminescence element) >>
The organic semiconductor device or the organic thin film transistor of the present invention can be provided in an organic electroluminescence element (also referred to as an organic EL element). The organic EL element of the present invention has, for example, an organic EL layer (between an anode and a cathode) The organic compound layer) may be sandwiched between them, and these structures can be prepared using a conventionally known layer structure, a material of an organic EL layer, or the like. For example, the literature etc. of Nature, 395 volumes, 151-154 pages can be referred.

本発明の有機EL素子を発光(例えば、表示装置、照明装置等に適用)させるにあたっては、高い発光輝度を得、且つ、発光寿命が長い等の効果を得る観点から、本発明の有機半導体デバイスまたは、本発明の有機薄膜トランジスタを具備していることが好ましい。   In light emitting the organic EL element of the present invention (for example, applied to a display device, a lighting device, etc.), the organic semiconductor device of the present invention is obtained from the viewpoint of obtaining high light emission luminance and a long light emission lifetime. Or it is preferable to have the organic thin-film transistor of this invention.

以下、実施例により本発明を説明するが、本発明はこれらに限定されない。ここで、実施例に用いる、比較用の有機半導体材料(有機半導体化合物ともいう)の構造式を以下に示す。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention, this invention is not limited to these. Here, structural formulas of comparative organic semiconductor materials (also referred to as organic semiconductor compounds) used in the examples are shown below.

Figure 2007088115
Figure 2007088115

実施例1
《有機薄膜トランジスタ1の作製》
ゲート電極としての比抵抗0.01Ω・cmのSiウェハーに、厚さ2000Åの熱酸化膜を形成してゲート絶縁層とした後、オクタデシルトリクロロシランによる表面処理を行った。
Example 1
<< Production of Organic Thin Film Transistor 1 >>
A Si oxide having a specific resistance of 0.01 Ω · cm as a gate electrode was formed with a thermal oxide film having a thickness of 2000 mm to form a gate insulating layer, and then surface treatment with octadecyltrichlorosilane was performed.

このような表面処理を行ったSiウェハー上に、比較化合物(1)(ポリ(3−ヘキシルチオフェン)(regioregular、アルドリッチ社製、平均分子量89000、PHT))を窒素雰囲気下で窒素を30分間バブリングしたトルエンに対して0.5質量%の濃度で溶解させ、窒素雰囲気下でスピンコート塗布(回転数2500rpm、15秒)し、自然乾燥することによりキャスト膜を形成して、窒素雰囲気下で50℃、30分間の熱処理を施した。   A comparative compound (1) (poly (3-hexylthiophene) (regioregular, manufactured by Aldrich, average molecular weight 89000, PHT)) was bubbled in a nitrogen atmosphere for 30 minutes on the Si wafer subjected to such surface treatment. The cast film was formed by dissolving at a concentration of 0.5% by mass with respect to toluene, spin-coating under a nitrogen atmosphere (rotation speed 2500 rpm, 15 seconds), and air-drying to form a cast film 50 under a nitrogen atmosphere. A heat treatment was carried out at 30 ° C. for 30 minutes.

更に、この膜の表面にマスクを用いて金を蒸着してソースおよびドレイン電極を形成した。ソースおよびドレイン電極は幅100μm、厚さ200nmで、チャネル幅W=3mm、チャネル長L=20μmの有機薄膜トランジスタ1を作製した。   Furthermore, gold was deposited on the surface of this film using a mask to form source and drain electrodes. An organic thin film transistor 1 having a width of 100 μm, a thickness of 200 nm, a channel width W = 3 mm, and a channel length L = 20 μm was prepared.

《有機薄膜トランジスタ2の作製》
有機薄膜トランジスタ1の作製において、比較化合物(1)を比較化合物(2)(ペンタセン、アルドリッチ社製市販試薬を昇華精製して用いた)に変更した以外は同様にして、有機薄膜トランジスタ2を作製した。
<< Production of Organic Thin Film Transistor 2 >>
An organic thin film transistor 2 was produced in the same manner as in the production of the organic thin film transistor 1, except that the comparative compound (1) was changed to the comparative compound (2) (pentacene, a commercially available reagent manufactured by Aldrich was used after sublimation purification).

《有機薄膜トランジスタ3の作製》
比較化合物3は、に記載の方法で合成した。
<< Production of Organic Thin Film Transistor 3 >>
Comparative compound 3 was synthesized by the method described in 1.

有機薄膜トランジスタ1の作製において、比較化合物2を比較化合物3に変更した以外は同様にして、有機薄膜トランジスタ3を作製した。   An organic thin film transistor 3 was produced in the same manner as in the production of the organic thin film transistor 1, except that the comparative compound 2 was changed to the comparative compound 3.

《有機薄膜トランジスタ4の作製》
有機薄膜トランジスタ1の作製において、比較化合物2を比較化合物4(ルブレン、アルドリッチ社製、市販試薬を昇華製精して用いた)に変更した以外は同様にして、有機薄膜トランジスタ4を作製した。
<< Production of Organic Thin Film Transistor 4 >>
In the production of the organic thin film transistor 1, the organic thin film transistor 4 was produced in the same manner except that the comparative compound 2 was changed to the comparative compound 4 (Lubrene, manufactured by Aldrich, and used by sublimation and refinement of a commercially available reagent).

《有機薄膜トランジスタ5の作製》
比較化合物5は、J.Am.Chem.Soc.,vol.123(2001),p9486,supporting informationに記載の方法で合成した。
有機薄膜トランジスタ1の作製において、比較化合物2を比較化合物5に変更した以外は同様にして、有機薄膜トランジスタ5を作製した。
<< Production of Organic Thin Film Transistor 5 >>
Comparative compound 5 is described in J. Org. Am. Chem. Soc. , Vol. 123 (2001), p9486, supporting information.
An organic thin film transistor 5 was produced in the same manner as in the production of the organic thin film transistor 1, except that the comparative compound 2 was changed to the comparative compound 5.

《有機薄膜トランジスタ6〜10の作製》
有機薄膜トランジスタ2の作製において、比較化合物1の代わりに、表1に記載の本発明の有機半導体材料に変更した以外は同様にして、有機薄膜トランジスタ6〜10を作製した。
<< Production of Organic Thin Film Transistor 6-10 >>
In the production of the organic thin film transistor 2, organic thin film transistors 6 to 10 were produced in the same manner except that the organic semiconductor material of the present invention described in Table 1 was used instead of the comparative compound 1.

《キャリア移動度及びON/OFF値の評価》
得られた有機薄膜トランジスタ1〜10について、各素子のキャリア移動度とON/OFF値を、素子作成直後に測定した。尚、本発明では、I−V特性の飽和領域からキャリア移動度を求め、さらに、ドレインバイアス−50Vとし、ゲートバイアス−50V及び0Vにしたときのドレイン電流値の比率からON/OFF比を求めた。
<< Evaluation of carrier mobility and ON / OFF value >>
About the obtained organic thin-film transistors 1-10, the carrier mobility and ON / OFF value of each element were measured immediately after element preparation. In the present invention, the carrier mobility is obtained from the saturation region of the IV characteristic, and the ON / OFF ratio is obtained from the ratio of the drain current values when the drain bias is −50 V and the gate bias is −50 V and 0 V. It was.

また同様の評価を、各素子を40℃、90%RHの環境室に48時間投入したのち、キャリア移動度・ON/OFF比の再測定を行った。   In addition, the same evaluation was carried out for 48 hours after putting each element in an environmental chamber at 40 ° C. and 90% RH, and then the carrier mobility / ON / OFF ratio was measured again.

Figure 2007088115
Figure 2007088115

表1から、本発明の有機半導体材料を用いて作製した有機薄膜トランジスタ5〜10では、作製直後においてキャリア移動度・ON/OFF比ともに優れた特性を示し、かつ、耐久試験後においても、移動度が10-2台以上、ON/OFF比も105以上であり,経時劣化が少なく高い耐久性を併せ持つということが分かる。 From Table 1, the organic thin film transistors 5 to 10 produced using the organic semiconductor material of the present invention show excellent characteristics in both carrier mobility and ON / OFF ratio immediately after production, and also after the durability test. Is 10 -2 or more, and the ON / OFF ratio is 10 5 or more.

実施例2
《有機EL素子の作製》
有機EL素子の作製は、Nature,395巻,151〜154頁に記載の方法を参考にして、図3に示したような封止構造を有するトップエミッション型の有機EL素子を作製した。尚、図3において、101は基板、102aは陽極、102bは有機EL層(具体的には、電子輸送層、発光層、正孔輸送層等が含まれる)、102cは陰極を示し、陽極102a、有機EL層102b、陰極102cにより、発光素子102が形成されている。103は封止膜を示す。尚、本発明の有機EL素子は、ボトムエミッション型でもトップエミッション型のどちらでもよい。
Example 2
<< Production of organic EL element >>
The organic EL element was produced by referring to the method described in Nature, Vol. 395, pages 151 to 154, and producing a top emission type organic EL element having a sealing structure as shown in FIG. 3, 101 is a substrate, 102a is an anode, 102b is an organic EL layer (specifically, an electron transport layer, a light emitting layer, a hole transport layer, etc. are included), 102c is a cathode, and an anode 102a The light emitting element 102 is formed by the organic EL layer 102b and the cathode 102c. Reference numeral 103 denotes a sealing film. The organic EL element of the present invention may be either a bottom emission type or a top emission type.

本発明の有機EL素子と本発明の有機薄膜トランジスタ(ここで、本発明の有機薄膜トランジスタは、スイッチングトランジスタや駆動トランジスタ等として用いられる)を組み合わせて、アクティブマトリクス型の発光素子を作製したが、その場合は、例えば、図4に示すように、ガラス基板601上にTFT602(有機薄膜トランジスタ602でもよい)が形成されている基板を用いる態様が一例として挙げられる。ここで、TFT602の作製方法は公知のTFTの作製方法が参照できる。勿論、TFTとしては、従来公知のトップゲート型TFTであってもボトムゲート型TFTであっても構わない。   The organic EL element of the present invention and the organic thin film transistor of the present invention (herein, the organic thin film transistor of the present invention is used as a switching transistor, a driving transistor, etc.) were produced to produce an active matrix light emitting element. For example, as shown in FIG. 4, a mode in which a substrate in which a TFT 602 (or an organic thin film transistor 602 may be formed) is formed on a glass substrate 601 is used as an example. Here, a known TFT manufacturing method can be referred to for the TFT 602 manufacturing method. Of course, the TFT may be a conventionally known top gate TFT or bottom gate TFT.

上記で作製した有機EL素子は、単色、フルカラー、白色等の種々の発光形態において、良好な発光特性を示した。   The organic EL device produced above showed good light emission characteristics in various light emission forms such as single color, full color, and white.

本発明に係る有機TFTの構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the organic TFT which concerns on this invention. 本発明の有機TFTの概略等価回路図の1例である。It is an example of the schematic equivalent circuit schematic of the organic TFT of this invention. 封止構造を有する有機EL素子の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the organic EL element which has a sealing structure. 有機EL素子に用いる、TFTを有する基板の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the board | substrate which has TFT used for an organic EL element.

符号の説明Explanation of symbols

1 有機半導体層
2 ソース電極
3 ドレイン電極
4 ゲート電極
5 絶縁層
6 支持体
7 ゲートバスライン
8 ソースバスライン
10 有機TFTシート
11 有機TFT
12 出力素子
13 蓄積コンデンサ
14 垂直駆動回路
15 水平駆動回路
101、201 基板
102 有機EL素子
102a、202 陽極
102b 有機EL層
102c、204 陰極
103 封止膜
205 駆動用素子
206 正孔輸送層
207 発光層
208 電子輸送層
601 基板
602 TFT
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Organic-semiconductor layer 2 Source electrode 3 Drain electrode 4 Gate electrode 5 Insulating layer 6 Support body 7 Gate bus line 8 Source bus line 10 Organic TFT sheet 11 Organic TFT
DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 Output element 13 Storage capacitor 14 Vertical drive circuit 15 Horizontal drive circuit 101, 201 Substrate 102 Organic EL element 102a, 202 Anode 102b Organic EL layer 102c, 204 Cathode 103 Sealing film 205 Drive element 206 Hole transport layer 207 Light emitting layer 208 Electron transport layer 601 Substrate 602 TFT

Claims (12)

下記一般式(1)で表される部分構造を有する化合物を含有することを特徴とする有機半導体材料。
Figure 2007088115
〔式中、R1は置換基を表し、R2〜R6は水素原子または置換基を表す。ただし、R3〜R6の少なくとも1つはアルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素環基または芳香族複素環基を表し、また、R3とR4、及び、R5とR6で、各々環を形成することはない。n1+n2は0〜2以下の整数を表す。〕
An organic semiconductor material comprising a compound having a partial structure represented by the following general formula (1).
Figure 2007088115
[Wherein, R 1 represents a substituent, and R 2 to R 6 represent a hydrogen atom or a substituent. Provided that at least one of R 3 to R 6 represents an alkenyl group, an alkynyl group, an aromatic hydrocarbon ring group or an aromatic heterocyclic group, and R 3 and R 4 , and R 5 and R 6 , Each does not form a ring. n1 + n2 represents an integer of 0 to 2 or less. ]
前記一般式(1)のR2が下記一般式(a)で表される基であることを特徴とする請求項1に記載の有機半導体材料。
Figure 2007088115
〔式中、R1’は置換基を表す。〕
The organic semiconductor material according to claim 1, wherein R 2 in the general formula (1) is a group represented by the following general formula (a).
Figure 2007088115
[Wherein R 1 'represents a substituent. ]
前記一般式(1)のR3またはR4、R5またはR6が、各々芳香族炭化水素環基または芳香族複素環基であることを特徴とする請求項1または2に記載の有機半導体材料。 3. The organic semiconductor according to claim 1, wherein R 3, R 4 , R 5, or R 6 in the general formula (1) is an aromatic hydrocarbon ring group or an aromatic heterocyclic group, respectively. material. 前記一般式(1)のR1、R1’が、各々分岐状アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基、またはSi(R)3基(Rは、置換基を表す。)で表されることを特徴とする請求項2または3に記載の有機半導体材料。 R 1 and R 1 ′ in the general formula (1) are each a branched alkyl group, cycloalkyl group, alkenyl group, alkynyl group, aromatic hydrocarbon group, aromatic heterocyclic group, or Si (R) 3 group. The organic semiconductor material according to claim 2, wherein R represents a substituent. 前記一般式(1)のR1、R1’が、各々Si(R)3基(Rは置換基を表す。)で表される基であることを特徴とする請求項2または3に記載の有機半導体材料。 The R 1 and R 1 ′ in the general formula (1) are groups each represented by a Si (R) 3 group (R represents a substituent). Organic semiconductor materials. 下記一般式(2)で表される部分構造を有する化合物を含有することを特徴とする有機半導体材料。
Figure 2007088115
〔式中、R1及びR1’は置換基を表し、R7〜R10は、各々水素原子または置換基を表し、各々互いに結合して環を形成しても良い。n1+n2は0〜2の整数を表す。〕
An organic semiconductor material comprising a compound having a partial structure represented by the following general formula (2).
Figure 2007088115
[Wherein, R 1 and R 1 ′ represent a substituent, and R 7 to R 10 each represents a hydrogen atom or a substituent, and may be bonded to each other to form a ring. n1 + n2 represents an integer of 0-2. ]
前記一般式(2)のR1、R1’が、各々分岐状アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、芳香族炭化水素基、芳香族複素環基、またはSi(R)3基(Rは、置換基を表す。)で表されることを特徴とする請求項6に記載の有機半導体材料。 R 1 and R 1 ′ in the general formula (2) are each a branched alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an aromatic hydrocarbon group, an aromatic heterocyclic group, or a Si (R) 3 group. The organic semiconductor material according to claim 6, wherein R represents a substituent. 前記一般式(2)のR1及びR1’が、各々Si(R)3(Rは置換基を表す。)で表される基であることを特徴とする請求項6に記載の有機半導体材料。 The organic semiconductor according to claim 6, wherein R 1 and R 1 ′ in the general formula (2) are groups each represented by Si (R) 3 (R represents a substituent). material. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の有機半導体材料を含有することを特徴とする有機半導体膜。 An organic semiconductor film comprising the organic semiconductor material according to claim 1. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の有機半導体材料を、有機溶媒に溶解し、得られた溶液を塗布・乾燥することによって形成されることを特徴とする有機半導体膜。 An organic semiconductor film formed by dissolving the organic semiconductor material according to any one of claims 1 to 8 in an organic solvent, and applying and drying the obtained solution. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の有機半導体材料を用いることを特徴とする有機半導体デバイス。 The organic-semiconductor device using the organic-semiconductor material of any one of Claims 1-8. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の有機半導体材料を半導体層に用いることを特徴とする有機薄膜トランジスタ。 An organic thin film transistor, wherein the organic semiconductor material according to claim 1 is used for a semiconductor layer.
JP2005273167A 2005-09-21 2005-09-21 Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor Pending JP2007088115A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005273167A JP2007088115A (en) 2005-09-21 2005-09-21 Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005273167A JP2007088115A (en) 2005-09-21 2005-09-21 Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007088115A true JP2007088115A (en) 2007-04-05

Family

ID=37974823

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005273167A Pending JP2007088115A (en) 2005-09-21 2005-09-21 Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007088115A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007123030A1 (en) * 2006-04-19 2007-11-01 Konica Minolta Holdings, Inc. Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
WO2008120839A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-09 Gyeongsang National University Industrial And Academic Collaboration Foundation Novel organic semiconductor compound, and organic thin film transistor using the same
JP2011508967A (en) * 2007-12-17 2011-03-17 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Solution processable organic semiconductors based on anthracene
JP2011524908A (en) * 2008-06-19 2011-09-08 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Solution-processable organic semiconductors
JP5228907B2 (en) * 2006-03-10 2013-07-03 コニカミノルタ株式会社 Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
KR101736920B1 (en) 2009-12-15 2017-05-18 엘지디스플레이 주식회사 Aryl-substituted anthracene compound, preparation method thereof, and organic thin film transistor comprising the same

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187060A (en) * 1997-09-10 1999-03-30 Asahi Glass Co Ltd New organic electroluminescent device
JP2004018510A (en) * 2002-06-20 2004-01-22 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> Compound, and optical device, electronic device, electroluminescent element, transistor, display device, and display device using the compound
JP2005120296A (en) * 2003-10-20 2005-05-12 Toray Ind Inc Material for light-emitting element and light-emitting element using the same

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187060A (en) * 1997-09-10 1999-03-30 Asahi Glass Co Ltd New organic electroluminescent device
JP2004018510A (en) * 2002-06-20 2004-01-22 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> Compound, and optical device, electronic device, electroluminescent element, transistor, display device, and display device using the compound
JP2005120296A (en) * 2003-10-20 2005-05-12 Toray Ind Inc Material for light-emitting element and light-emitting element using the same

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5228907B2 (en) * 2006-03-10 2013-07-03 コニカミノルタ株式会社 Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
WO2007123030A1 (en) * 2006-04-19 2007-11-01 Konica Minolta Holdings, Inc. Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
WO2008120839A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-09 Gyeongsang National University Industrial And Academic Collaboration Foundation Novel organic semiconductor compound, and organic thin film transistor using the same
JP2011508967A (en) * 2007-12-17 2011-03-17 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Solution processable organic semiconductors based on anthracene
US8178873B2 (en) 2007-12-17 2012-05-15 3M Innovative Properties Company Solution processable organic semiconductors
JP2011524908A (en) * 2008-06-19 2011-09-08 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Solution-processable organic semiconductors
KR101736920B1 (en) 2009-12-15 2017-05-18 엘지디스플레이 주식회사 Aryl-substituted anthracene compound, preparation method thereof, and organic thin film transistor comprising the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007088222A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2007067263A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JPWO2006059486A1 (en) Organic thin film transistor material, organic thin film transistor, field effect transistor, switching element, organic semiconductor material, and organic semiconductor film
JP2007019294A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor element, and organic thin film transistor
JP2007088016A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, organic thin-film transistor, and organic electroluminescent element
JPWO2005122278A1 (en) Organic semiconductor thin film, organic semiconductor device, organic thin film transistor, and organic electroluminescence element
JP5157079B2 (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2006216814A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor thin film, organic thin film transistor, field effect transistor, and switching element
JP5228907B2 (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP4992202B2 (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic thin film transistor, organic semiconductor film manufacturing method, and organic thin film transistor manufacturing method
JP2007208032A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor film manufacturing method, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2007067262A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device and organic semiconductor thin-film transistor
JP2007288033A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2007311609A (en) Material, film, and device for organic semiconductor and organic thin-film transistor
JP2007088115A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor
JP2007317984A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2007088224A (en) Organic semiconductor material and organic semiconductor film using same, organic semiconductor device, and organic thin-film transistor
JP2006339577A (en) Organic semiconductor thin film and organic thin film transistor
JP2007158062A (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2006060116A (en) Organic thin film transistor material, organic thin film transistor, field effect transistor and switching element
JPWO2007066466A1 (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JPWO2006098121A1 (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, organic thin film transistor, and method for forming organic thin film transistor
JP5157053B2 (en) Organic semiconductor material, organic semiconductor film, organic semiconductor device, and organic thin film transistor
JP2006222251A (en) Organic semiconductor material, organic thin film transistor, field effect transistor, and switching element
JP2006028054A (en) Organic thin film transistor material, organic thin film transistor, field effect transistor and switching element

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080917

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120207

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120612