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JP2007042786A - Microdevice and packaging method thereof - Google Patents

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JP2007042786A
JP2007042786A JP2005224068A JP2005224068A JP2007042786A JP 2007042786 A JP2007042786 A JP 2007042786A JP 2005224068 A JP2005224068 A JP 2005224068A JP 2005224068 A JP2005224068 A JP 2005224068A JP 2007042786 A JP2007042786 A JP 2007042786A
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plate
connection pad
plate electrode
electrode
connection
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JP2005224068A
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Japanese (ja)
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Yoichi Oya
洋一 大矢
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
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    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

【課題】MEMSなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するデバイス基板とキャップを異なるサイズにとした0―レベルパッケージを実装基板にハンダを介してマウント可能な形態にパッケージ化されたマイクロデバイス及びその製造方法を提供する。
【解決手段】一主面に可動部または振動子を有する機能素子12が形成されたデバイス基板11の一主面に、機能素子に接続する接続パッド15が形成され、一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、接続パッドの形成領域を除いて機能素子の形成領域を保護するキャビティCを構成する保護部材13,14が設けられ、接続部22により接続パッドと板状電極21aが電気的に接続され、板状電極の表面の一部を露出して少なくとも接続部と板状電極の接点、接続部、接続パッド及び保護部材を封止する絶縁樹脂層23が形成され、露出した板状電極の表面から外部接続される形態のパッケージとする。
【選択図】図1
A device substrate having a functional element having a vibrator or a movable portion on a functional surface such as MEMS and a 0-level package having caps of different sizes are packaged in a form that can be mounted on a mounting substrate via solder. A micro device and a method for manufacturing the same are provided.
A connection pad 15 connected to a functional element is formed on one main surface of a device substrate 11 on which a functional element 12 having a movable portion or a vibrator is formed on one main surface. Protective members 13 and 14 constituting a cavity C that protects the functional element formation region except for the connection pad formation region are provided, and the connection pad 22 and the plate-like electrode 21a are connected by the connection portion 22. An insulating resin layer 23 that is electrically connected and exposes a part of the surface of the plate electrode to seal at least the contact between the connection portion and the plate electrode, the connection portion, the connection pad, and the protective member is formed and exposed. The package is configured to be externally connected from the surface of the plate electrode.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、マイクロデバイス及びそのパッケージング方法に関し、特に、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)、SAW(Surface Acoustic Wave)素子、あるいはF−BAR(Thin Film Bulk Acoustic Wave Resonators)などの機能面に可動部または振動子を持つ機能素子を有するマイクロデバイス及びそのパッケージング方法に関する。   The present invention relates to a microdevice and a packaging method thereof, and in particular, a movable portion on a functional surface such as a micro electro mechanical system (MEMS), a surface acoustic wave (SAW) element, or a thin film bulk acoustic wave resonator (F-BAR). Alternatively, the present invention relates to a microdevice having a functional element having a vibrator and a packaging method thereof.

近年、携帯電話やパーソナルコンピュータに代表されるモバイル機器においては、小型軽量化や多機能および高機能化が進んでおり、これらの機器を構成する部品や基板も同様に小型、薄型、軽量化や高密度実装化が進んでいる。また、半導体等のデバイスの実装に関しても、実装面積の小型化や伝達信号の高速化に伴い、モールドやセラミックパッケージによる実装から、いわゆるフリップチップ実装技術によりデバイスのベアチップを直接基板に実装し、封止する試みがとられている。   In recent years, mobile devices typified by mobile phones and personal computers have been reduced in size and weight, and have increased functionality and functionality, and the components and substrates that make up these devices have been similarly reduced in size, thickness, and weight. High-density mounting is progressing. As for the mounting of devices such as semiconductors, as the mounting area is reduced and the transmission signal speed is increased, the bare chip of the device is mounted directly on the substrate by the so-called flip chip mounting technology from the mounting by the mold or the ceramic package, and sealed. Attempts have been made to stop.

ところが、このフリップチップによるデバイスのダイレクト実装方法は、たとえば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)、SAW(Surface Acoustic Wave)素子あるいはF−BAR(Thin Film Bulk Acoustic Wave Resonators)などの機能面に可動部または振動子を持つマイクロデバイスの場合、機能面を封止材等で覆うことができないため、セラミックや金属、あるいはガラスなどの基板を用いて気密封止するパッケージ構造がとられている。   However, this flip chip direct mounting method uses, for example, a movable part or a functional part such as a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), a SAW (Surface Acoustic Wave) element, or an F-BAR (Thin Film Bulk Acoustic Wave Resonators). In the case of a microdevice having a vibrator, since the functional surface cannot be covered with a sealing material or the like, a package structure is adopted that is hermetically sealed using a substrate such as ceramic, metal, or glass.

従来、上記のSAW素子やMEMSは、キャビティ基板内に実装、パッケージングされているため、本来のデバイスのサイズより大きな実装エリアが必要であった。
また、デバイスの可動部分が浮いた状態で、個片化して取り扱うので、製造工程中にデバイスを破壊する問題も発生していた。
そこで、小型化とハンドリングを容易にする方法として、ウェハレベルのパッケージングが提案されている。
Conventionally, the above-mentioned SAW element and MEMS are mounted and packaged in a cavity substrate, so that a mounting area larger than the original device size has been required.
Further, since the movable part of the device is floated and handled separately, there has been a problem of breaking the device during the manufacturing process.
Therefore, wafer level packaging has been proposed as a method for facilitating miniaturization and handling.

ウェハレベルでのパッケージングができるSAW素子などのパッケージ構造として、特許文献1には、圧電基板上にIDTパターンでSAW素子を形成し、この際、IDTパターン上にキャビティが形成されるようにキャップに凹部を設け、さらにキャップにはSAW素子に電気信号を導入するための貫通穴を設けてなる構造及び製造方法が開示されている。   As a package structure such as a SAW element that can be packaged at a wafer level, Patent Document 1 discloses that a SAW element is formed with an IDT pattern on a piezoelectric substrate, and a cap is formed so that a cavity is formed on the IDT pattern. A structure and a manufacturing method are disclosed in which a recess is provided in a cap and a through hole for introducing an electric signal into a SAW element is provided in a cap.

しかしながら、特許文献1に記載の方法では、ウェハレベルのパッケージングに際して、デバイス基板とキャップとなる部分を、その集合体であるウェハの状態で張り合わせてキャビティ構造を形成するが、個片化するときには、ダイシングにより基板となるウェハとキャップとなるウェハを同時に同じサイズに切断しており、異なるサイズに切断することが困難であった。これは、基板とキャップの張り合わせ部分の厚みが非常に薄いため、基板のウェハを切断せずにキャップを切断することが困難であるためである。   However, in the method described in Patent Document 1, a cavity structure is formed by bonding a device substrate and a cap part together in the state of a wafer that is an assembly when packaging at a wafer level. The wafer serving as the substrate and the wafer serving as the cap are simultaneously cut into the same size by dicing, and it is difficult to cut into different sizes. This is because it is difficult to cut the cap without cutting the wafer of the substrate because the thickness of the bonded portion of the substrate and the cap is very thin.

上記のデバイス基板とキャップが同じサイズとなっている構成では、気密性を保持するためにデバイスの周りを囲むようにシールしていることから、上記のようにデバイスからの電気的な配線をデバイス基板またはキャップを貫通するようにして引き出す必要があり、これに起因して新たな技術課題や製造工程の追加によるコストアップなどの問題が発生している。
特開2004−80221号公報
In the configuration in which the device substrate and the cap have the same size, since the device is sealed to surround the device in order to maintain hermeticity, the electrical wiring from the device is connected to the device as described above. It is necessary to pull out the substrate or cap so as to cause problems such as new technical problems and cost increase due to the addition of a manufacturing process.
JP 2004-80221 A

本発明の目的は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスのパッケージングに際して、基板とキャップを異なるサイズにしてパッケージ化した0―レベルパッケージを、実装基板などにハンダを介してマウント可能な形態にパッケージ化されたマイクロデバイス及びそのパッケージング方法を提供することである。   The object of the present invention is to package a microdevice having a functional element having a vibrator or a movable part on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR, and packaging the substrate and the cap with different sizes. To provide a microdevice in which a level package is packaged in a form that can be mounted on a mounting substrate or the like via solder, and a packaging method thereof.

上記の課題を解決するため、本発明のマイクロデバイスは、一主面に可動部または振動子を有する機能素子が形成されたデバイス基板と、前記機能素子に接続するように前記デバイス基板の前記一主面に形成された接続パッドと、前記一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、前記接続パッドの形成領域を除いて前記機能素子の形成領域を保護するキャビティを構成するように前記一主面上に設けられた保護部材と、前記接続パッドに電気的に接続するように設けられた板状電極と、前記接続パッドと前記板状電極を接続する接続部と、前記板状電極の表面の一部を露出し、かつ、少なくとも前記接続部と前記板状電極の接点、前記接続部、前記接続パッド及び前記保護部材を封止するように形成された絶縁樹脂層とを有し、露出した前記板状電極の表面から外部接続されるようにパッケージ化された構成である。   In order to solve the above-described problems, a microdevice of the present invention includes a device substrate on which a functional element having a movable portion or a vibrator is formed on one main surface, and the one of the device substrates connected to the functional element. A connection pad formed on the main surface and a step shape protruding at a predetermined height from the one main surface, and forming a cavity that protects the functional element formation region except for the connection pad formation region A protective member provided on the one main surface; a plate-like electrode provided so as to be electrically connected to the connection pad; a connection portion for connecting the connection pad and the plate-like electrode; A part of the surface of the electrode is exposed, and at least an insulating resin layer formed so as to seal the connection portion and the contact of the plate electrode, the connection portion, the connection pad, and the protection member is provided. And exposed A packaged configured to be externally connected from the surface of the plate-shaped electrode.

上記の本発明のマイクロデバイスは、一主面に可動部または振動子を有する機能素子が形成されたデバイス基板において、機能素子に接続するように一主面に接続パッドが形成されており、さらに一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、接続パッドの形成領域を除いて機能素子の形成領域を保護するキャビティを構成するように保護部材が一主面上に設けられている。
また、接続パッドに電気的に接続された板状電極と、接続パッドと板状電極を接続する接続部とが設けられており、板状電極の表面の一部を露出し、かつ、少なくとも接続部と板状電極の接点、接続部、接続パッド及び保護部材を封止するように絶縁樹脂層が形成されている。
さらに、露出した板状電極の表面から外部接続されるようにパッケージ化された構成となっている。
In the above-described microdevice of the present invention, in the device substrate in which the functional element having the movable portion or the vibrator is formed on one main surface, the connection pad is formed on the one main surface so as to be connected to the functional element. A protective member is provided on one main surface so as to form a step shape projecting from the one main surface at a predetermined height and to form a cavity that protects the functional element formation region except for the connection pad formation region.
Further, a plate-like electrode electrically connected to the connection pad, and a connection portion for connecting the connection pad and the plate-like electrode are provided, a part of the surface of the plate-like electrode is exposed, and at least connected An insulating resin layer is formed so as to seal the contact between the part and the plate electrode, the connection part, the connection pad, and the protective member.
Furthermore, it is packaged so as to be externally connected from the exposed surface of the plate electrode.

また、上記の課題を解決するため、本発明のマイクロデバイスのパッケージング方法は、一主面に可動部または振動子を有する機能素子が形成され、前記機能素子に接続するように前記一主面に接続パッドが形成されたデバイス基板に、前記一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、前記接続パッドの形成領域を除いて前記機能素子の形成領域を保護するキャビティを構成するように前記一主面上に保護部材を設ける工程と、板状電極がフレームに一体に成形されたリードフレームを前記デバイス基板に対して所定の位置に配置し、接続部を介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程と、前記板状電極の表面の一部を露出し、かつ、少なくとも前記接続部と前記板状電極の接点、前記接続部、前記接続パッド及び前記保護部材を封止するように絶縁樹脂層を形成する工程と、前記フレームから前記板状電極を切断する工程とを有し、露出した前記板状電極の表面から外部接続されるようにパッケージ化する。   Further, in order to solve the above-described problem, the microdevice packaging method of the present invention is such that a functional element having a movable portion or a vibrator is formed on one main surface, and the one main surface is connected to the functional element. The device substrate on which the connection pad is formed has a stepped shape protruding at a predetermined height from the one main surface, and forms a cavity that protects the functional element formation region except for the connection pad formation region. A step of providing a protective member on the one main surface, and a lead frame in which a plate-like electrode is formed integrally with the frame is disposed at a predetermined position with respect to the device substrate, and the plate-like electrode is connected via a connecting portion. Electrically connecting the connection pad, exposing a part of the surface of the plate electrode, and at least a contact point between the connection portion and the plate electrode, the connection portion, the connection pad, and A package having a step of forming an insulating resin layer so as to seal the protective member, and a step of cutting the plate electrode from the frame, and being externally connected from the exposed surface of the plate electrode Turn into.

上記の本発明のマイクロデバイスのパッケージング方法は、一主面に可動部または振動子を有する機能素子が形成され、機能素子に接続するように一主面に接続パッドが形成されたデバイス基板に、一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、接続パッドの形成領域を除いて機能素子の形成領域を保護するキャビティを構成するように一主面上に保護部材を設ける。
次に、板状電極がフレームに一体に成形されたリードフレームをデバイス基板に対して所定の位置に配置し、接続部を介して板状電極と接続パッドを電気的に接続する。
次に、板状電極の表面の一部を露出し、かつ、少なくとも接続部と板状電極の接点、接続部、接続パッド及び保護部材を封止するように絶縁樹脂層を形成する。
さらに、フレームから板状電極を切断する。
上記のようにして、露出した板状電極の表面から外部接続されるようにパッケージ化する。
In the above-described microdevice packaging method of the present invention, a functional substrate having a movable part or a vibrator is formed on one main surface, and a connection pad is formed on one main surface so as to be connected to the functional device. A protective member is provided on the one main surface so as to form a cavity that protrudes from the one main surface at a predetermined height and forms a cavity that protects the functional element formation region excluding the connection pad formation region.
Next, a lead frame in which the plate electrode is integrally formed with the frame is disposed at a predetermined position with respect to the device substrate, and the plate electrode and the connection pad are electrically connected through the connection portion.
Next, an insulating resin layer is formed so that a part of the surface of the plate electrode is exposed and at least the contact point between the connection portion and the plate electrode, the connection portion, the connection pad, and the protective member are sealed.
Further, the plate electrode is cut from the frame.
As described above, it is packaged so as to be externally connected from the exposed surface of the plate electrode.

本発明のマイクロデバイスは、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスとして、リードフレームから製造できる安価な板状電極として用いており、露出した板状電極の表面の側において、絶縁樹脂層の表面やデバイス基板の他主面で構成することで容易に平坦化された構成とすることが可能な、通常の実装基板にハンダで容易に実装できるパッケージ形態である。   The microdevice of the present invention is used as an inexpensive plate-like electrode that can be manufactured from a lead frame as a microdevice having a functional element having a vibrator or a movable part on a functional surface such as MEMS, SAW element or F-BAR, It can be easily flattened by configuring the surface of the exposed plate-like electrode on the surface of the insulating resin layer or the other main surface of the device substrate. It is a package form that can be mounted on.

また、本発明のマイクロデバイスのパッケージング方法は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスのパッケージングに際して、安価なリードフレームを板状電極として用いており、露出した板状電極の表面の側において、絶縁樹脂層の表面やデバイス基板の他主面で構成することで容易に平坦化することができ、通常の実装基板にハンダで容易に実装できるパッケージ形態に安価に製造することができる。   In addition, the microdevice packaging method of the present invention provides an inexpensive lead frame for packaging a microdevice having a functional element having a vibrator or a movable portion on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR. It can be easily flattened by using the surface of the insulating resin layer and the other main surface of the device substrate on the exposed surface of the plate electrode. Thus, it can be manufactured inexpensively in a package form that can be easily mounted.

以下、本発明の実施形態に係るマイクロデバイス及びそのパッケージング方法について図面を参照して説明する。   Hereinafter, a micro device and a packaging method thereof according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1実施形態
図1(a)は本実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスの斜視図であり、図1(b)は図1(a)中のX−X’における断面図である。
図1(a)及び(b)に示すマイクロデバイスは、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの可動部または振動子を持つ機能素子を備えたマイクロデバイス20である。
First Embodiment FIG. 1A is a perspective view of a packaged microdevice according to this embodiment, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line XX ′ in FIG.
The microdevice shown in FIGS. 1A and 1B is a microdevice 20 including a functional element having a movable part or a vibrator such as a MEMS, a SAW element, or an F-BAR.

例えば、半導体からなるデバイス基板11の一主面に、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの可動部または振動子を持つ機能素子12が形成されており、機能素子12に接続するように一主面に接続パッド15が形成されており、さらに一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、接続パッド15の形成領域を除いて機能素子12の形成領域を保護するキャビティCを構成するようにガラスなどからなるキャップ13が樹脂などの接着層14で接着されて構成される保護部材が、デバイス基板11の一主面上に設けられている。
上記の一主面と保護部材の内面から構成されるキャビティCは、例えば、真空、減圧、還元雰囲気、あるいは不活性ガス雰囲気に保持されている。
For example, a functional element 12 having a movable portion or a vibrator such as a MEMS, SAW element, or F-BAR is formed on one main surface of a device substrate 11 made of a semiconductor, and is mainly connected to the functional element 12. The connection pad 15 is formed on the surface, and further has a step shape protruding at a predetermined height from one main surface, thereby forming a cavity C that protects the formation region of the functional element 12 except for the formation region of the connection pad 15. Thus, a protective member configured by bonding a cap 13 made of glass or the like with an adhesive layer 14 such as a resin is provided on one main surface of the device substrate 11.
The cavity C composed of the one main surface and the inner surface of the protective member is maintained in, for example, a vacuum, a reduced pressure, a reducing atmosphere, or an inert gas atmosphere.

例えば、リードフレームから切断されて構成された複数の板状電極21aの接点が、接続パッド15と対向するように配置されており、接続部として接続パッド15に形成されたバンプ(突起電極)22によって、接続パッド15と板状電極21aが電気的に接続されている。バンプ22は、板状電極21a側に形成されていてもよい。
ここで、例えば、上記の構成において、複数の板状電極21aが所定の距離で離間して配置されており、離間した複数の板状電極21aの間に、段差形状となっている保護部材(13,14)が入り込むような配置となっている。
For example, the contacts of a plurality of plate-like electrodes 21a configured by cutting from the lead frame are arranged so as to face the connection pads 15, and bumps (projection electrodes) 22 formed on the connection pads 15 as connection portions. Thus, the connection pad 15 and the plate electrode 21a are electrically connected. The bumps 22 may be formed on the plate electrode 21a side.
Here, for example, in the above-described configuration, the plurality of plate-like electrodes 21a are spaced apart by a predetermined distance, and a protective member having a step shape between the plurality of separated plate-like electrodes 21a ( 13, 14).

さらに、例えば、板状電極21aの表面の一部を露出し、かつ、少なくとも接続部であるバンプ22と板状電極21aの接点、バンプ22、接続パッド15及び保護部材(13,14)を封止するように、絶縁樹脂層23が形成されている。   Further, for example, a part of the surface of the plate electrode 21a is exposed, and at least the contact between the bump 22 and the plate electrode 21a as the connection portion, the bump 22, the connection pad 15, and the protective member (13, 14) are sealed. An insulating resin layer 23 is formed so as to stop.

ここで、例えば、露出した板状電極21aの表面の側において、絶縁樹脂層の表面と、露出した板状電極21aの表面が実質的に同一の面となるように形成されている。実質的に同一の面であるとは、板状電極21aの表面がハンダづけで実装基板に実装されるときに、ハンダ接続の障害とならない程度の多少の段差は許容するものである。
上記のようにパッケージ化されたマイクロデバイス20が構成されており、露出した板状電極21aの表面から外部接続される構成となっている。
Here, for example, on the surface side of the exposed plate-like electrode 21a, the surface of the insulating resin layer and the exposed surface of the plate-like electrode 21a are formed to be substantially the same surface. “Substantially the same surface” allows a slight level difference that does not hinder the solder connection when the surface of the plate-like electrode 21a is mounted on the mounting substrate by soldering.
The packaged microdevice 20 is configured as described above, and is externally connected from the exposed surface of the plate electrode 21a.

上記の機能素子12が形成されたデバイス基板11、接続パッド15及び保護部材(13,14)の構成は、例えばウェハレベルでのプロセスでこの形態まで加工されたものであり、0−レベルパッケージと称せられる。   The configuration of the device substrate 11 on which the functional element 12 is formed, the connection pad 15 and the protection members (13, 14) is processed up to this form by a process at the wafer level, for example. Be called.

図2(a)は上記の0−レベルパッケージ10の斜視図であり、図2(b)は図2(a)中のX−X’における断面図である。
例えば、デバイス基板11の一主面に可動部または振動子を持つ機能素子12が形成されており、機能素子12に接続する接続パッド15が一主面に形成されている。
また、上記の一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、接続パッド15の形成領域を除いて機能素子12の形成領域を保護するキャビティCを構成するように、ガラスなどからなるキャップ13が樹脂などの接着層14で接着されて構成される保護部材が設けられている。
0−レベルパッケージは、パッケージングやマウント工程におけるアクティブエリアのダメージを防ぐことができる構造となっている。この状態で気密性が確保され、可動部分も保護された状態で、パッケージ部品と同等の取り扱いができる。
FIG. 2A is a perspective view of the above-described 0-level package 10, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along the line XX ′ in FIG.
For example, a functional element 12 having a movable portion or a vibrator is formed on one main surface of the device substrate 11, and a connection pad 15 connected to the functional element 12 is formed on one main surface.
Further, a cap made of glass or the like is formed in a stepped shape protruding at a predetermined height from the one main surface, and constitutes a cavity C that protects the formation region of the functional element 12 except for the formation region of the connection pad 15. A protective member is formed by bonding 13 with an adhesive layer 14 such as a resin.
The 0-level package has a structure that can prevent the active area from being damaged during the packaging or mounting process. In this state, airtightness is ensured and the movable part is protected, and the same handling as a package component can be performed.

図3(a)は、図1(a)及び(b)に示すマイクロデバイスの絶縁樹脂層中における板状電極21aとバンプ22のレイアウトを示す模式平面図である。
パッケージの中央部にキャビティCを構成するキャップ13などの保護部材が配置され、この外周部を取り囲むように、複数(図面上は18個)の板状電極21aが配置されており、それぞれにバンプ22が接続して形成されている。
FIG. 3A is a schematic plan view showing a layout of the plate-like electrodes 21a and the bumps 22 in the insulating resin layer of the microdevice shown in FIGS. 1A and 1B.
A protective member such as a cap 13 constituting the cavity C is disposed at the center of the package, and a plurality (18 in the drawing) of plate-like electrodes 21a are disposed so as to surround the outer peripheral portion, and bumps are provided on each of them. 22 are connected.

図3(b)は、図1(a)及び(b)に示すマイクロデバイスを構成する0−レベルパッケージのレイアウトを示す模式平面図である。
デバイス基板11の中央部にキャビティCを構成するキャップ13などの保護部材が配置され、この外周部を取り囲むように、板状電極21aに対応する個数の接続パッド15が配置されており、それぞれにバンプ22が接続して形成されている。
FIG. 3B is a schematic plan view showing the layout of the 0-level package constituting the microdevice shown in FIGS. 1A and 1B.
A protective member such as a cap 13 that constitutes the cavity C is disposed at the center of the device substrate 11, and a number of connection pads 15 corresponding to the plate-like electrodes 21a are disposed so as to surround the outer peripheral portion. Bumps 22 are connected and formed.

図4は本実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイス20の実装形態を示す断面図である。
実装基板30は、例えば3層の樹脂層(31,32,33)及びパターン加工された配線(34,35,36,37)が交互に積層し、樹脂層(31,32,33)のうちの1層または複数の層を貫通して各配線(34,35,36,37)間を接続する垂直配線(38,39,40)が形成されて構成されている。
上記のような実装基板30の表面に形成された配線37上に、本実施形態のパッケージ化されたマイクロデバイス20が、板状電極21aの表面に露出している側を実装基板30に向けて、ハンダ50により接続されて実装されている。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a mounting form of the packaged microdevice 20 according to the present embodiment.
The mounting substrate 30 has, for example, three resin layers (31, 32, 33) and patterned wirings (34, 35, 36, 37) alternately stacked, and the resin layer (31, 32, 33). Vertical wirings (38, 39, 40) that connect the wirings (34, 35, 36, 37) through one layer or a plurality of layers are formed.
On the wiring 37 formed on the surface of the mounting substrate 30 as described above, the side of the packaged microdevice 20 of the present embodiment exposed on the surface of the plate electrode 21 a faces the mounting substrate 30. The solder 50 is connected and mounted.

上記の本実施形態に係るマイクロデバイスは、好ましくは、パッケージ化されたマイクロデバイスのトータルの厚みが400μm以下である。
上記のように、パッケージの総厚は0−レベルパッケージの厚みと、保護部材等を被覆する部分の絶縁樹脂層の厚みの和に相当し、0−レベルパッケージを薄く加工することで、パッケージのトータルでも400μm以下の厚みにすることができる。
In the microdevice according to the present embodiment, the total thickness of the packaged microdevice is preferably 400 μm or less.
As described above, the total thickness of the package corresponds to the sum of the thickness of the 0-level package and the thickness of the insulating resin layer covering the protective member or the like. The total thickness can be 400 μm or less.

本実施形態のパッケージ化されたマイクロデバイス20は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスとして、リードフレームから製造できる安価な板状電極として用いており、露出した板状電極の表面の側が絶縁樹脂層の表面で構成されて容易に平坦化されており、通常の実装基板にハンダで容易に実装できるパッケージ形態となっている。   The packaged micro device 20 of the present embodiment is an inexpensive plate-like device that can be manufactured from a lead frame as a micro device having a functional element having a vibrator or a movable part on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR. It is used as an electrode, and the surface side of the exposed plate-like electrode is constituted by the surface of the insulating resin layer and is easily flattened, and has a package form that can be easily mounted on a normal mounting board with solder.

次に、本実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスのパッケージング方法について説明する。
図5は、本実施形態で使用するリードフレームの平面図である。
例えば、所定の厚みの金属板が打ち抜きなどでパターン加工されており、板状電極21が所定の間隔で離間して配置され、フレームFと一体に形成された構成となっている。
通常のリードフレームで中央部に設けられる、内蔵部品を支持する部分は設けられていない。
Next, a packaging method for packaged microdevices according to the present embodiment will be described.
FIG. 5 is a plan view of a lead frame used in the present embodiment.
For example, a metal plate having a predetermined thickness is patterned by punching or the like, and the plate-like electrodes 21 are arranged at a predetermined interval and are formed integrally with the frame F.
A portion for supporting a built-in component, which is provided in the central portion of a normal lead frame, is not provided.

図5に示すリードフレームを用いてマイクロデバイスをパッケージ化する工程について、工程の断面図である図6(a)〜(c)を参照して説明する。
図6(a)は図5のX−X’における断面図に相当し、例えば、上記のリードフレームにおける複数の板状電極21が所定の間隙をもって配置されている状態を示している。
A process of packaging a microdevice using the lead frame shown in FIG. 5 will be described with reference to FIGS. 6A to 6C which are cross-sectional views of the process.
FIG. 6A corresponds to a cross-sectional view taken along the line XX ′ of FIG. 5, and shows, for example, a state in which a plurality of plate-like electrodes 21 in the lead frame are arranged with a predetermined gap.

一方で、例えば、一主面に可動部または振動子を有する機能素子12が形成され、機能素子12に接続するように一主面に接続パッド15が形成されたデバイス基板11に、一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、接続パッドの形成領域を除いて機能素子12の形成領域を保護するキャビティCを構成するように一主面上に保護部材(13,14)を設け、さらに接続パッド15にハンダボールバンプやスタッドバンプなどのバンプ22を設けて、図2(a)及び(b)に示す形態の0−レベルパッケージ10を形成しておく。   On the other hand, for example, on the device substrate 11 in which the functional element 12 having a movable part or a vibrator is formed on one main surface and the connection pad 15 is formed on one main surface so as to be connected to the functional element 12, A protective member (13, 14) is provided on one main surface so as to form a cavity C that protrudes at a predetermined height from the surface and forms a cavity C that protects the formation region of the functional element 12 except for the connection pad formation region. Further, bumps 22 such as solder ball bumps and stud bumps are provided on the connection pads 15 to form the 0-level package 10 having the configuration shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b).

次に、図6(b)に示すように、例えば、板状電極21がフレームFに一体に成形されたリードフレームを0−レベルパッケージ10のデバイス基板11に対して、接続パッド15と板状電極21を対向させて、所定の位置に配置し、バンプ22を介して板状電極21と接続パッド15を電気的に接続して、0−レベルパッケージをリードフレームにマウントする。
ここで、例えば、上記のリードフレームの板状電極21をデバイス基板11に対して所定の位置に配置し、バンプ22を介して板状電極21と接続パッド15を電気的に接続するときに、離間した複数の板状電極21の間に、段差形状となっている保護部材(13,14)が入り込むように配置して、マウントする。
Next, as shown in FIG. 6B, for example, the lead frame in which the plate-like electrode 21 is formed integrally with the frame F is connected to the device substrate 11 of the 0-level package 10 with the connection pad 15 and the plate-like shape. The electrodes 21 are arranged to face each other at a predetermined position, and the plate-like electrodes 21 and the connection pads 15 are electrically connected via the bumps 22 to mount the 0-level package on the lead frame.
Here, for example, when the plate-like electrode 21 of the lead frame is arranged at a predetermined position with respect to the device substrate 11 and the plate-like electrode 21 and the connection pad 15 are electrically connected via the bumps 22, It arrange | positions so that the protection member (13,14) used as a level | step difference may enter between the several plate-shaped electrodes 21 spaced apart, and it mounts.

次に、図6(c)に示すように、例えば射出成形により、板状電極21の表面の一部を露出し、かつ、少なくともバンプ22と板状電極21の接点、バンプ22、接続パッド15及び保護部材(13,14)を封止するように絶縁樹脂層23を形成する。   Next, as shown in FIG. 6C, a part of the surface of the plate-like electrode 21 is exposed by, for example, injection molding, and at least the contact between the bump 22 and the plate-like electrode 21, the bump 22, and the connection pad 15 The insulating resin layer 23 is formed so as to seal the protective members (13, 14).

上記の射出成形での絶縁樹脂層23の形成工程において、例えば、露出した板状電極21の表面の側において、絶縁樹脂層23の表面と、露出した板状電極21の表面が実質的に同一の面となるように、形成する。
次に、フレームFから板状電極21を切断する。これにより、板状電極21aはフレームから独立され、バンプ22に接続して絶縁樹脂層23中に埋め込まれたブロック状の導電体として構成される。
In the step of forming the insulating resin layer 23 in the above injection molding, for example, the surface of the insulating resin layer 23 and the surface of the exposed plate electrode 21 are substantially the same on the surface side of the exposed plate electrode 21. It forms so that it may become the surface.
Next, the plate electrode 21 is cut from the frame F. Thereby, the plate-like electrode 21a is independent of the frame, and is configured as a block-like conductor connected to the bump 22 and embedded in the insulating resin layer 23.

上記のようにして、本実施形態に係るマイクロデバイスは、露出した板状電極21aの表面から外部接続されるようにパッケージ化することができる。   As described above, the microdevice according to this embodiment can be packaged so as to be externally connected from the exposed surface of the plate electrode 21a.

本実施形態のマイクロデバイスのパッケージング方法は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスのパッケージングに際して、安価なリードフレームを板状電極として用いており、露出した板状電極の表面の側において、絶縁樹脂層の表面やデバイス基板の他主面で構成することで容易に平坦化することができ、通常の実装基板にハンダで容易に実装できるパッケージ形態に安価に製造することができる。   The microdevice packaging method according to the present embodiment uses an inexpensive lead frame in the form of a plate when packaging a microdevice having a functional element having a vibrator or a movable part on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR. It is used as an electrode, and on the exposed surface of the plate-like electrode, it can be easily flattened with the surface of the insulating resin layer and the other main surface of the device substrate. It can be manufactured inexpensively in a package form that can be easily mounted.

第2実施形態
図7(a)は本実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスの斜視図であり、図7(b)は図7(a)中のX−X’における断面図である。
図7(a)及び(b)に示すマイクロデバイスは、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの可動部または振動子を持つ機能素子を備えたマイクロデバイス20’である。
Second Embodiment FIG. 7A is a perspective view of a packaged microdevice according to this embodiment, and FIG. 7B is a cross-sectional view taken along line XX ′ in FIG. 7A.
The microdevice shown in FIGS. 7A and 7B is a microdevice 20 ′ having a functional element having a movable part or a vibrator such as a MEMS, SAW element, or F-BAR.

第1実施形態と同様にして、機能素子12が形成されたデバイス基板11、接続パッド15及び保護部材(13,14)からなる0−レベルパッケージ10のデバイス基板11の外周部において、複数の板状電極21aが所定の距離で離間して配置されており、離間した複数の板状電極21aの間に、デバイス基板11が入り込むような配置となっている。   In the same manner as in the first embodiment, a plurality of plates are provided on the outer periphery of the device substrate 11 of the 0-level package 10 including the device substrate 11 on which the functional elements 12 are formed, the connection pads 15 and the protective members (13, 14). The electrode 21a is spaced apart by a predetermined distance, and the device substrate 11 is placed between the spaced apart plate electrodes 21a.

また、デバイス基板11の接続パッド15と板状電極21aの接続部との接点が同じ側を向くように配置されており、接続部としてボンディングワイヤ24により接続パッド15と板状電極21aが電気的に接続されている。
さらに、例えば、板状電極21aの表面の一部を露出し、かつ、少なくとも接続部であるボンディングワイヤ24と板状電極21aの接点、ボンディングワイヤ24、接続パッド15及び保護部材(13,14)を封止するように、絶縁樹脂層23が形成されている。
Further, the contact point between the connection pad 15 of the device substrate 11 and the connection part of the plate electrode 21a is arranged to face the same side, and the connection pad 15 and the plate electrode 21a are electrically connected by the bonding wire 24 as the connection part. It is connected to the.
Further, for example, a part of the surface of the plate-like electrode 21a is exposed, and at least the contact between the bonding wire 24 and the plate-like electrode 21a as the connection portion, the bonding wire 24, the connection pad 15, and the protective member (13, 14). An insulating resin layer 23 is formed so as to seal.

ここで、例えば、露出した板状電極21aの表面の側において、絶縁樹脂層23の表面及びデバイス基板11の他主面と、露出した板状電極21aの表面が実質的に同一の面となるように形成されている。実質的に同一の面であるとは、板状電極21aの表面がハンダづけで実装基板に実装されるときに、ハンダ接続の障害とならない程度の多少の段差は許容するものである。
上記のようにパッケージ化されたマイクロデバイス20’が構成されており、露出した板状電極21aの表面から外部接続される構成となっている。
Here, for example, on the surface side of the exposed plate-like electrode 21a, the surface of the insulating resin layer 23 and the other main surface of the device substrate 11 and the surface of the exposed plate-like electrode 21a are substantially the same surface. It is formed as follows. “Substantially the same surface” allows a slight level difference that does not hinder the solder connection when the surface of the plate-like electrode 21a is mounted on the mounting substrate by soldering.
The packaged microdevice 20 ′ is configured as described above, and is configured to be externally connected from the exposed surface of the plate electrode 21a.

図8は、図7(a)及び(b)に示すマイクロデバイスの絶縁樹脂層中における板状電極21aと接続パッド15及びそれらを接続するボンディングワイヤ24のレイアウトを示す模式平面図である。
パッケージの中央部にキャビティCを構成するキャップ13などの保護部材が配置され、この外周部を取り囲むように、デバイス基板11上に、複数(図面上は18個)の接続パッド15が配置されている。
上記の接続パッド15に対応するように、その外周部において板状電極21aが配置されており、それぞれボンディングワイヤ24で接続されている。
FIG. 8 is a schematic plan view showing the layout of the plate-like electrode 21a, the connection pad 15, and the bonding wire 24 that connects them in the insulating resin layer of the microdevice shown in FIGS. 7 (a) and 7 (b).
A protective member such as a cap 13 constituting the cavity C is disposed at the center of the package, and a plurality (18 in the drawing) of connection pads 15 are disposed on the device substrate 11 so as to surround the outer peripheral portion. Yes.
Plate electrodes 21 a are arranged on the outer peripheral portion so as to correspond to the connection pads 15, and are connected by bonding wires 24.

図9は本実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイス20’の実装形態を示す断面図である。
実装基板30は、第1実施形態と同様に、例えば3層の樹脂層(31,32,33)及びパターン加工された配線(34,35,36,37)及び垂直配線(38,39,40)などから構成されている。
上記のような実装基板30の表面に形成された配線37上に、本実施形態のパッケージ化されたマイクロデバイス20’が、板状電極21aの表面に露出している側を実装基板30に向けて、ハンダ50により接続されて実装されている。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a mounting form of the packaged microdevice 20 ′ according to the present embodiment.
As in the first embodiment, the mounting substrate 30 includes, for example, three resin layers (31, 32, 33), patterned wiring (34, 35, 36, 37), and vertical wiring (38, 39, 40). ) Etc.
On the wiring 37 formed on the surface of the mounting substrate 30 as described above, the side of the packaged microdevice 20 ′ of the present embodiment exposed on the surface of the plate electrode 21a faces the mounting substrate 30. The solder 50 is connected and mounted.

上記の本実施形態に係るマイクロデバイスは、好ましくは、パッケージ化されたマイクロデバイスのトータルの厚みが400μm以下である。
上記のように、パッケージの総厚は0−レベルパッケージの厚みと、保護部材を被覆する部分の絶縁樹脂層の厚みの和に相当し、0−レベルパッケージを薄く加工することで、パッケージのトータルでも400μm以下の厚みにすることができる。
In the microdevice according to the present embodiment, the total thickness of the packaged microdevice is preferably 400 μm or less.
As described above, the total thickness of the package corresponds to the sum of the thickness of the 0-level package and the thickness of the insulating resin layer covering the protective member. However, the thickness can be 400 μm or less.

本実施形態のパッケージ化されたマイクロデバイス20’は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスとして、リードフレームから製造できる安価な板状電極を用いており、露出した板状電極の表面の側が絶縁樹脂層の表面及びデバイス基板の他主面で構成されて容易に平坦化されており、通常の実装基板にハンダで容易に実装できるパッケージ形態となっている。   The packaged micro device 20 ′ of this embodiment is an inexpensive plate that can be manufactured from a lead frame as a micro device having a functional element having a vibrator or a movable part on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR. The surface side of the exposed plate electrode is composed of the surface of the insulating resin layer and the other main surface of the device substrate and is easily flattened, and can be easily mounted on a normal mounting board with solder. It can be packaged.

次に、本実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスのパッケージング方法について説明する。
リードフレームとしては、第1実施形態と同様のものを使用する。
即ち、例えば、所定の厚みの金属板が打ち抜きなどでパターン加工されており、板状電極21が所定の間隔で離間して配置され、フレームFと一体に形成された構成となっている。
Next, a packaging method for packaged microdevices according to the present embodiment will be described.
A lead frame similar to that of the first embodiment is used.
That is, for example, a metal plate having a predetermined thickness is patterned by punching or the like, and the plate-like electrodes 21 are arranged at a predetermined interval and are formed integrally with the frame F.

上記のようなリードフレームを用いてマイクロデバイスをパッケージ化する工程について、工程の断面図である図10(a)〜(c)及び図11(a)及び(b)を参照して説明する。
まず、図10(a)に示すように、リードフレームにモールドシート25を貼り合わせる。図10(a)は、上記のリードフレームにおける複数の板状電極21が所定の間隙をもって配置されている状態を示している。
A process of packaging a microdevice using the above lead frame will be described with reference to FIGS. 10A to 10C and FIGS. 11A and 11B which are cross-sectional views of the process.
First, as shown in FIG. 10A, a mold sheet 25 is bonded to the lead frame. FIG. 10A shows a state in which a plurality of plate electrodes 21 in the lead frame are arranged with a predetermined gap.

一方で、第1実施形態と同様に、図2(a)及び(b)に示す形態の0−レベルパッケージ10を形成しておく。   On the other hand, as in the first embodiment, the 0-level package 10 having the form shown in FIGS. 2A and 2B is formed.

次に、図10(b)に示すように、例えば、上記のリードフレームの離間した複数の板状電極21の間に0−レベルパッケージ10のデバイス基板11が入り込むように、また、接続パッド15と板状電極21の接続部との接点が同じ側を向くようにして、0−レベルパッケージ10をモールドシート25上に配置する。   Next, as shown in FIG. 10B, for example, the device substrate 11 of the 0-level package 10 enters between the plurality of spaced apart plate-like electrodes 21 of the lead frame, and the connection pads 15 The 0-level package 10 is arranged on the mold sheet 25 so that the contact point between the contact point and the connecting portion of the plate electrode 21 faces the same side.

次に、図10(c)に示すように、ボンディングワイヤ24を形成して板状電極21と接続パッド15を電気的に接続する。
上記のようにして、0−レベルパッケージとリードフレームを接続する。
Next, as shown in FIG. 10C, a bonding wire 24 is formed to electrically connect the plate electrode 21 and the connection pad 15.
As described above, the 0-level package and the lead frame are connected.

次に、図11(a)に示すように、例えば射出成形により、板状電極21の表面の一部を露出し、かつ、少なくともボンディングワイヤ24と板状電極21の接点、ボンディングワイヤ24、接続パッド15及び保護部材(13,14)を封止するように絶縁樹脂層23を形成する。   Next, as shown in FIG. 11A, a part of the surface of the plate electrode 21 is exposed by, for example, injection molding, and at least the contact between the bonding wire 24 and the plate electrode 21, the bonding wire 24, and the connection An insulating resin layer 23 is formed so as to seal the pad 15 and the protective members (13, 14).

上記の射出成形での絶縁樹脂層23の形成工程において、上記のようにモールドシート25を用いているので、露出した板状電極21の表面の側において、絶縁樹脂層23の表面及びデバイス基板の他主面と、露出した板状電極21の表面が実質的に同一の面となる。   Since the mold sheet 25 is used as described above in the step of forming the insulating resin layer 23 in the injection molding, the surface of the insulating resin layer 23 and the surface of the device substrate are exposed on the exposed surface side of the plate electrode 21. The other main surface and the exposed surface of the plate-like electrode 21 are substantially the same surface.

次に、図11(b)に示すように、モールドシート25を剥離し、さらに、フレームFから板状電極21を切断する。これにより、板状電極21aはフレームから独立され、ボンディングワイヤ24に接続して絶縁樹脂層23中に埋め込まれたブロック状の導電体として構成される。   Next, as shown in FIG. 11B, the mold sheet 25 is peeled off, and the plate electrode 21 is cut from the frame F. Thereby, the plate-like electrode 21 a is configured as a block-like conductor that is independent of the frame and is connected to the bonding wire 24 and embedded in the insulating resin layer 23.

上記のようにして、本実施形態に係るマイクロデバイスは、露出した板状電極21aの表面から外部接続されるようにパッケージ化することができる。   As described above, the microdevice according to this embodiment can be packaged so as to be externally connected from the exposed surface of the plate electrode 21a.

本実施形態のマイクロデバイスのパッケージング方法は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に振動子または可動部を持つ機能素子を有するマイクロデバイスのパッケージングに際して、安価なリードフレームを板状電極として用いており、露出した板状電極の表面の側において、絶縁樹脂層の表面やデバイス基板の他主面で構成することで容易に平坦化することができ、通常の実装基板にハンダで容易に実装できるパッケージ形態に安価に製造することができる。   The microdevice packaging method according to the present embodiment uses an inexpensive lead frame in the form of a plate when packaging a microdevice having a functional element having a vibrator or a movable part on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR. It is used as an electrode, and on the exposed surface of the plate-like electrode, it can be easily flattened with the surface of the insulating resin layer and the other main surface of the device substrate. It can be manufactured inexpensively in a package form that can be easily mounted.

以上の本実施形態のマイクロデバイスによれば、以下の効果を享受できる。
0−レベルパッケージで気密封止された部品を、リードフレームを用いてパッケージ化することにより、中空構造を要求されるような部品の、薄型チップサイズパッケージングが可能になり、チップサイズに近く、且つ、安価な平面基板への実装が可能になる。その結果、より高密度の実装が可能となり、製品の小型化が実現する。
0−レベルパッケージをそのまま実装しようとすると、実装基板にキャップ用の凹部を設ける必要が生じたり、実装基板上でキャップを封止する樹脂層により実装の高さや面積が大きくなってしまうことがあるが、本実施形態のようにパッケージ化することにより、小さい実装面積で、通常の実装基板に実装可能となる。
According to the micro device of the present embodiment described above, the following effects can be enjoyed.
By packaging a component hermetically sealed with a 0-level package using a lead frame, a component requiring a hollow structure can be packaged in a thin chip size, close to the chip size, In addition, it can be mounted on an inexpensive flat substrate. As a result, higher-density mounting is possible, and the product can be downsized.
If the 0-level package is to be mounted as it is, it may be necessary to provide a recess for the cap on the mounting substrate, or the mounting height and area may increase due to the resin layer sealing the cap on the mounting substrate. However, by packaging as in the present embodiment, mounting on a normal mounting board is possible with a small mounting area.

また、このパッケージは、実装基板にはんだ付け実装が可能であり、接続信頼性も向上し、さらに、実装基板への実装のハンダづけを他の表面実装用部品と一括リフローにより実装することができ、製造加工費の低減も実現できる。
さらに、ベアチップの実装基板へのダイレクト実装と比較して、ヒートサイクル等の実装信頼性の面でも有利である。
以上のことから、総じて、製品のコストダウンを実現できる。
In addition, this package can be soldered to the mounting board, improving connection reliability, and soldering to the mounting board can be mounted with other surface mounting components by batch reflow. In addition, the manufacturing cost can be reduced.
Furthermore, it is advantageous in terms of mounting reliability such as heat cycle as compared with direct mounting of a bare chip on a mounting substrate.
As a result, the cost of the product can be reduced as a whole.

本発明は上記の実施形態に限定されない。
例えば、MEMSの他、SAW素子やF−BARなどの機能素子を有するマイクロデバイスを内蔵した半導体装置とすることも可能である。
実装基板としては上記で一例を挙げているだけであり、種々のインタポーザなどの実装基板やチップなどに実装できる。
0−レベルパッケージの製造方法には限定はなく、種々の方法を適用できる。
その他、本発明の観点を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment.
For example, a semiconductor device including a micro device having a functional element such as a SAW element or F-BAR in addition to the MEMS can be used.
The mounting board is only given as an example above, and can be mounted on mounting boards or chips such as various interposers.
There is no limitation on the manufacturing method of the 0-level package, and various methods can be applied.
In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

本発明のパッケージ化されたマイクロデバイスは、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に可動部または振動子を持つ機能素子を有してパッケージ化されたマイクロデバイスに適用できる。
本発明のマイクロデバイスのパッケージング方法は、MEMS、SAW素子あるいはF−BARなどの機能面に可動部または振動子を持つ機能素子を有するマイクロデバイスをパッケージングする方法に適用できる。
The packaged micro device of the present invention can be applied to a packaged micro device having a functional element having a movable part or a vibrator on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR.
The microdevice packaging method of the present invention can be applied to a method of packaging a microdevice having a functional element having a movable part or a vibrator on a functional surface such as a MEMS, SAW element, or F-BAR.

図1(a)は本発明の第1実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスの斜視図であり、図1(b)は図1(a)中のX−X’における断面図である。FIG. 1A is a perspective view of a packaged micro device according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line X-X ′ in FIG. 図2(a)は0−レベルパッケージ10の斜視図であり、図2(b)は図2(a)中のX−X’における断面図である。2A is a perspective view of the 0-level package 10, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line X-X ′ in FIG. 図3(a)は、図1(a)及び(b)に示すマイクロデバイスの絶縁樹脂層中における板状電極とバンプのレイアウトを示す模式平面図であり、図3(b)は、図1(a)及び(b)に示すマイクロデバイスを構成する0−レベルパッケージのレイアウトを示す模式平面図である。3A is a schematic plan view showing the layout of the plate-like electrodes and bumps in the insulating resin layer of the microdevice shown in FIGS. 1A and 1B. FIG. 3B is a plan view of FIG. It is a schematic top view which shows the layout of the 0-level package which comprises the microdevice shown to (a) and (b). 図4は本発明の第1実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスの実装形態を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a packaged microdevice mounting form according to the first embodiment of the present invention. 図5は本発明の第1実施形態で使用するリードフレームの平面図である。FIG. 5 is a plan view of the lead frame used in the first embodiment of the present invention. 図6(a)〜(c)は本発明の第1実施形態の係るマイクロデバイスのパッケージング方法の工程の断面図である。6A to 6C are cross-sectional views of the steps of the microdevice packaging method according to the first embodiment of the present invention. 図7(a)は本発明の第2実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスの斜視図であり、図7(b)は図7(a)中のX−X’における断面図である。FIG. 7A is a perspective view of a packaged microdevice according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 7B is a cross-sectional view taken along line X-X ′ in FIG. 図8は、図7(a)及び(b)に示すマイクロデバイスの絶縁樹脂層中における接続パッド、板状電極及びボンディングワイヤのレイアウトを示す模式平面図である。FIG. 8 is a schematic plan view showing a layout of connection pads, plate electrodes, and bonding wires in the insulating resin layer of the microdevice shown in FIGS. 7A and 7B. 図6は本発明の第2実施形態に係るパッケージ化されたマイクロデバイスの実装形態を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a packaged microdevice mounting form according to the second embodiment of the present invention. 図10(a)〜(c)は本発明の第2実施形態の係るマイクロデバイスのパッケージング方法の工程の断面図である。FIGS. 10A to 10C are cross-sectional views of the steps of the microdevice packaging method according to the second embodiment of the present invention. 図11(a)及び(b)は本発明の第2実施形態の係るマイクロデバイスのパッケージング方法の工程の断面図である。FIGS. 11A and 11B are cross-sectional views of the steps of the microdevice packaging method according to the second embodiment of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

10…0−レベルパッケージ、11…デバイス基板、12…機能素子、13…キャップ、14…接着層、15…接続パッド、20,20’…マイクロデバイス、21,21a…板状電極、22…バンプ(突起電極)、23…絶縁樹脂層、24…ボンディングワイヤ、25…モールドシート、30…実装基板、31,32,33…樹脂層、34,35,36,37…配線、38,39,40…垂直配線、50…ハンダ、C…キャビティ、F…フレーム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... 0-level package, 11 ... Device substrate, 12 ... Functional element, 13 ... Cap, 14 ... Adhesive layer, 15 ... Connection pad, 20, 20 '... Micro device, 21, 21a ... Plate electrode, 22 ... Bump (Projection electrode), 23 ... insulating resin layer, 24 ... bonding wire, 25 ... mold sheet, 30 ... mounting substrate, 31, 32, 33 ... resin layer, 34, 35, 36, 37 ... wiring, 38, 39, 40 ... Vertical wiring, 50 ... Solder, C ... Cavity, F ... Frame

Claims (12)

一主面に可動部または振動子を有する機能素子が形成されたデバイス基板と、
前記機能素子に接続するように前記デバイス基板の前記一主面に形成された接続パッドと、
前記一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、前記接続パッドの形成領域を除いて前記機能素子の形成領域を保護するキャビティを構成するように前記一主面上に設けられた保護部材と、
前記接続パッドに電気的に接続するように設けられた板状電極と、
前記接続パッドと前記板状電極を接続する接続部と、
前記板状電極の表面の一部を露出し、かつ、少なくとも前記接続部と前記板状電極の接点、前記接続部、前記接続パッド及び前記保護部材を封止するように形成された絶縁樹脂層と
を有し、露出した前記板状電極の表面から外部接続されるようにパッケージ化された
マイクロデバイス。
A device substrate on which a functional element having a movable part or a vibrator is formed on one main surface;
A connection pad formed on the one main surface of the device substrate to connect to the functional element;
A protection provided on the one main surface so as to form a step that protrudes from the one main surface at a predetermined height and forms a cavity that protects the functional element formation region except for the connection pad formation region. A member,
A plate-like electrode provided to be electrically connected to the connection pad;
A connection part for connecting the connection pad and the plate electrode;
An insulating resin layer formed so as to expose a part of the surface of the plate electrode and seal at least the contact between the connection portion and the plate electrode, the connection portion, the connection pad, and the protection member And a microdevice packaged so as to be externally connected from the exposed surface of the plate electrode.
露出した前記板状電極の表面の側において、前記絶縁樹脂層の表面及び/または前記デバイス基板の他主面と、露出した前記板状電極の表面が実質的に同一の面となるように形成されている
請求項1に記載のマイクロデバイス。
Formed so that the surface of the insulating resin layer and / or the other main surface of the device substrate and the exposed surface of the plate electrode are substantially the same surface on the exposed surface side of the plate electrode. The micro device according to claim 1.
前記接続パッドと前記板状電極の前記接続部との接点が対向して配置されており、
前記接続部が突起電極である
請求項1に記載のマイクロデバイス。
Contact points between the connection pads and the connection portions of the plate-like electrodes are arranged to face each other,
The microdevice according to claim 1, wherein the connection portion is a protruding electrode.
複数の前記板状電極が所定の距離で離間して配置されており、
離間した前記複数の板状電極の間に前記段差形状となっている前記保護部材が入り込むように配置されている
請求項3に記載のマイクロデバイス。
A plurality of the plate-like electrodes are arranged apart by a predetermined distance,
The microdevice according to claim 3, wherein the protection member having the step shape is interposed between the plurality of spaced apart plate-like electrodes.
前記接続パッドと前記板状電極の前記接続部との接点が同じ側を向くように配置されており、
前記接続部がボンディングワイヤである
請求項1に記載のマイクロデバイス。
The contact point between the connection pad and the connection part of the plate electrode is arranged to face the same side,
The micro device according to claim 1, wherein the connection portion is a bonding wire.
複数の前記板状電極が所定の距離で離間して配置されており、
離間した前記複数の板状電極の間に前記デバイス基板が入り込むように配置されている
請求項5に記載のマイクロデバイス。
A plurality of the plate-like electrodes are arranged apart by a predetermined distance,
The microdevice according to claim 5, wherein the device substrate is disposed so as to enter between the plurality of plate-like electrodes spaced apart from each other.
一主面に可動部または振動子を有する機能素子が形成され、前記機能素子に接続するように前記一主面に接続パッドが形成されたデバイス基板に、前記一主面から所定の高さで突出する段差形状となり、前記接続パッドの形成領域を除いて前記機能素子の形成領域を保護するキャビティを構成するように前記一主面上に保護部材を設ける工程と、
板状電極がフレームに一体に成形されたリードフレームを前記デバイス基板に対して所定の位置に配置し、接続部を介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程と、
前記板状電極の表面の一部を露出し、かつ、少なくとも前記接続部と前記板状電極の接点、前記接続部、前記接続パッド及び前記保護部材を封止するように絶縁樹脂層を形成する工程と、
前記フレームから前記板状電極を切断する工程と
を有し、
露出した前記板状電極の表面から外部接続されるようにパッケージ化する
マイクロデバイスのパッケージング方法。
A functional substrate having a movable part or a vibrator is formed on one main surface, and a device substrate having a connection pad formed on the one main surface so as to be connected to the functional element is formed at a predetermined height from the one main surface. Providing a protective member on the one main surface so as to form a cavity that protrudes and forms a cavity that protects the formation region of the functional element except the formation region of the connection pad;
A step of arranging a lead frame in which a plate electrode is formed integrally with the frame at a predetermined position with respect to the device substrate, and electrically connecting the plate electrode and the connection pad via a connection portion;
An insulating resin layer is formed so that a part of the surface of the plate electrode is exposed and at least the contact between the connection portion and the plate electrode, the connection portion, the connection pad, and the protection member are sealed. Process,
Cutting the plate electrode from the frame, and
A method of packaging a microdevice, wherein packaging is performed so that external connection is made from the exposed surface of the plate electrode.
前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程及び/または前記絶縁樹脂層を形成する工程において、露出した前記板状電極の表面の側において、前記絶縁樹脂層の表面及び/または前記デバイス基板の他主面と、露出した前記板状電極の表面が実質的に同一の面となるように、形成する
請求項7に記載のマイクロデバイスのパッケージング方法。
In the step of electrically connecting the plate electrode and the connection pad and / or the step of forming the insulating resin layer, on the exposed surface side of the plate electrode, the surface of the insulating resin layer and / or the The method for packaging a microdevice according to claim 7, wherein the other main surface of the device substrate and the exposed surface of the plate electrode are formed to be substantially the same surface.
前記接続パッドまたは前記板状電極に突起電極を形成する工程とさらに有し、
前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程においては、前記接続パッドと前記板状電極を対向させて、前記接続部として前記突起電極を介して前記板状電極と前記接続パッドを接続する
請求項7に記載のマイクロデバイスのパッケージング方法。
And further forming a protruding electrode on the connection pad or the plate electrode,
In the step of electrically connecting the plate electrode and the connection pad, the connection pad and the plate electrode are opposed to each other, and the plate electrode and the connection pad are connected via the protruding electrode as the connection portion. The microdevice packaging method according to claim 7.
板状電極がフレームに一体に成形されたリードフレームとして、複数の前記板状電極が所定の距離で離間して配置された構成のリードフレームを用い、
前記リードフレームを前記デバイス基板に対して所定の位置に配置し、接続部を介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程においては、離間した前記複数の板状電極の間に前記段差形状となっている前記保護部材が入り込むように配置して、前記突起電極を介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する
請求項9に記載のマイクロデバイスのパッケージング方法。
As a lead frame in which plate electrodes are formed integrally with a frame, a lead frame having a configuration in which a plurality of the plate electrodes are arranged separated by a predetermined distance is used.
In the step of disposing the lead frame at a predetermined position with respect to the device substrate and electrically connecting the plate electrode and the connection pad via a connection portion, the plurality of plate electrodes separated from each other are connected. 10. The micro device packaging according to claim 9, wherein the step-shaped protective member is disposed so as to enter and the plate-like electrode and the connection pad are electrically connected via the protruding electrode. Method.
前記リードフレームを前記デバイス基板に対して所定の位置に配置し、接続部を介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程においては、前記接続パッドと前記板状電極の前記接続部との接点が同じ側を向くように配置し、前記接続部としてボンディングワイヤを介して前記板状電極と前記接続パッドを接続する
請求項7に記載のマイクロデバイスのパッケージング方法。
In the step of disposing the lead frame at a predetermined position with respect to the device substrate and electrically connecting the plate electrode and the connection pad via a connection portion, the connection pad and the plate electrode The micro device packaging method according to claim 7, wherein the contact point with the connection portion is arranged so as to face the same side, and the plate electrode and the connection pad are connected as a connection portion via a bonding wire.
板状電極がフレームに一体に成形されたリードフレームとして、複数の前記板状電極が所定の距離で離間して配置された構成のリードフレームを用い、
前記リードフレームを前記デバイス基板に対して所定の位置に配置し、接続部を介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する工程においては、離間した前記複数の板状電極の間に前記デバイス基板が入り込むように配置して、前記ボンディングワイヤを介して前記板状電極と前記接続パッドを電気的に接続する
請求項11に記載のマイクロデバイスのパッケージング方法。
As a lead frame in which plate electrodes are formed integrally with a frame, a lead frame having a configuration in which a plurality of the plate electrodes are arranged separated by a predetermined distance is used.
In the step of disposing the lead frame at a predetermined position with respect to the device substrate and electrically connecting the plate electrode and the connection pad via a connection portion, the plurality of plate electrodes separated from each other are connected. The method of packaging a microdevice according to claim 11, wherein the device substrate is disposed so as to be inserted into and electrically connected to the plate electrode and the connection pad via the bonding wire.
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