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JP2007035988A - Chip feeding apparatus and chip mounting apparatus - Google Patents

Chip feeding apparatus and chip mounting apparatus Download PDF

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JP2007035988A
JP2007035988A JP2005218288A JP2005218288A JP2007035988A JP 2007035988 A JP2007035988 A JP 2007035988A JP 2005218288 A JP2005218288 A JP 2005218288A JP 2005218288 A JP2005218288 A JP 2005218288A JP 2007035988 A JP2007035988 A JP 2007035988A
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JP
Japan
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chip
substrate
chips
bonding
face
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Pending
Application number
JP2005218288A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeto Koike
滋人 小池
Takashi Uenishi
孝史 上西
Koji Nishimura
幸治 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Engineering Co Ltd
Original Assignee
Toray Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toray Engineering Co Ltd filed Critical Toray Engineering Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chip feeding apparatus and a chip mounting apparatus whereby chip components can be fed efficiently to the glass substrate of a liquid crystal panel, etc. <P>SOLUTION: A chip transferring means takes out chips successively from a chip tray or a wafer present faceup, and it transfers the chips to a chip inverting means while holding the chips faceup. Then the chip inverting means so holds the chip that a head capable of rotating around its horizontal axis rotates the chip by 180°, and that it converts the chip facedown. Next, a driving means so positions the facedown converted chip in the loading position of a slider every kind of the chip that the slider receives the chip, and the slider so transfers the chip to a predetermined position that it feeds thereto the chip facedown. The chip transferring means transfers the chip efficiently both from the chip tray, etc. to the chip inverting means, and from the chip inverting means to the predetermined position, even though the kinds of the chips are different from each other. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、樹脂基板やガラス基板などの基板上に半導体素子や表面実装部品などのチップを実装する工程に用いられるチップ供給装置およびチップ実装装置において、チップトレイにフェースアップで収納されたチップを取り出して姿勢変換する技術に関する。   The present invention relates to a chip supply device and a chip mounting device used in a process of mounting a chip such as a semiconductor element or a surface mounting component on a substrate such as a resin substrate or a glass substrate. The present invention relates to a technique for taking out and changing the posture.

複数個のチップをフェイスアップ状態で収納したチップトレイまたはフェイスアップ状態のウエハーからチップを1個または複数個同時に順次取り出して、チップ反転テーブルに移送し、このチップ反転テーブルに設置された位置決め部材でチップのセンタリングを行い、チップ反転テーブルがチップを保持して表裏反転することによりチップをフェイスダウン状態に姿勢変換して、チップにエアーを吹き付けて洗浄した後、そのチップを所定位置にフェイスダウン状態で供給するチップ供給装置が知られている(例えば、特許文献1)。   One or a plurality of chips are sequentially taken out from a chip tray containing a plurality of chips face-up or a wafer in a face-up state, transferred to a chip reversing table, and a positioning member installed on the chip reversing table. The chip is centered, and the chip reversing table holds the chip and flips the front and back to change the attitude of the chip to the face-down state. After blowing the air to the chip and cleaning it, the chip is face-down to the specified position. There is known a chip supply device that supplies a chip (for example, Patent Document 1).

また、チップトレイに隣接して設けられたチップ載置テーブルにチップをフェイスアップ状態で供給し、チップ載置テーブルに軽く保持されたチップを4方向からプッシャーレバーで押し当ててセンタリングを行い、チップを先端部がL字状の供給アームに吸着して供給アームを反転させてフェイスアップ状態でボンディングツールに供給するチップ供給装置が知られている(例えば、特許文献2)。   In addition, the chip is supplied face-up to a chip mounting table provided adjacent to the chip tray, and the chip lightly held on the chip mounting table is pressed with a pusher lever from four directions to perform centering. A chip supply device is known in which a tip is adsorbed to a supply arm having an L-shape and the supply arm is inverted and supplied to the bonding tool in a face-up state (for example, Patent Document 2).

特開2002−313844号公報JP 2002-313844 A 特開平2−226737号公報JP-A-2-226737

近年、携帯電話や携帯端末のPDAなどの小型の機器においては、液晶パネルを搭載しつつも、小型かつ軽量化が要求されてきている。そのため、液晶ガラス基板には面実装タイプの異なった種類のチップ部品やLSIが実装されている。このような異なったチップ部品を小型の液晶ガラス基板に自動実装する場合、特許文献1のような構成を有するチップ供給装置では、チップ部品のサイズが違う場合、例えば1台のチップ移送機構で2種類のチップ部品を搬送・反転しようとすると、反転が完了するまでチップ移送機構が待機することになる。そのため、タクトタイムがアップする問題がある。   In recent years, small devices such as cellular phones and PDAs of portable terminals have been required to be small and light while mounting a liquid crystal panel. Therefore, different types of chip components and LSIs with different surface mounting types are mounted on the liquid crystal glass substrate. When such different chip parts are automatically mounted on a small liquid crystal glass substrate, in the chip supply device having the configuration as in Patent Document 1, if the chip parts have different sizes, for example, two chip transfer mechanisms can be used. When trying to convey / reverse types of chip parts, the chip transfer mechanism waits until the reversal is completed. Therefore, there is a problem that the tact time is increased.

また、特許文献2のような構成を有するチップ供給装置でも、異なった種類のチップ部品ごとにチップ載置テーブルを準備しセンタリングを行った後、L字状の供給アームに吸着して反転するので、煩雑な作業を余儀なくされている。   Further, even in the chip supply device having the configuration as in Patent Document 2, after the chip mounting table is prepared and centered for each of different types of chip parts, it is attracted to the L-shaped supply arm and reversed. Have been forced to do complicated work.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、液晶ガラス基板などにチップ部品を効率よく供給できるチップ供給装置およびチップ実装装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a chip supply device and a chip mounting device that can efficiently supply chip components to a liquid crystal glass substrate or the like.

本発明は、上記目的を達成するために次の様な構成をとる。   In order to achieve the above object, the present invention has the following configuration.

請求項1に記載の発明は、複数個のチップをフェイスアップ状態で収納したチップトレイまたはフェイスアップ状態のウエハーからチップを順次取り出して姿勢変換し、そのチップを所定位置にフェイスダウン状態で供給するチップ供給装置であって、前記チップトレイ内またはフェイスアップ状態のウエハーのチップを順次取り出し、そのチップをフェイスアップ状態で保持して移送するチップ移送手段と、前記チップ移送手段からチップを受け取り、そのチップを保持して水平方向の軸廻りに回転可能なヘッドが180度回転することにより、そのチップをフェイスダウン状態に姿勢変換するチップ反転手段と、前記チップ反転手段を相対的に水平移動させる駆動手段と、前記チップ反転手段からチップを受け取り、そのチップをチップの種類ごとに位置決めしてフェイスダウン状態で保持して移送することにより、そのチップを所定の位置に供給するスライダとを備えたことを特徴とする。   According to the first aspect of the present invention, the chips are sequentially taken out from the chip tray storing a plurality of chips in a face-up state or from a wafer in the face-up state, the posture is changed, and the chips are supplied to a predetermined position in a face-down state. A chip supply device for sequentially taking out the chips of the wafer in the chip tray or face-up state, holding the chips in a face-up state, and transferring the chips; receiving the chips from the chip transfer means; A chip reversing means for changing the posture of the chip into a face-down state by rotating a head capable of rotating around a horizontal axis while holding the chip, and a drive for relatively horizontally moving the chip reversing means. A chip from the chip reversing means and the chip By transferring the held face down state by positioning each type, characterized by comprising a slider supplying the chip in place.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のチップ供給装置において、前記スライダが、チップを位置決めするチップ位置決め手段を備えている。   According to a second aspect of the present invention, in the chip supply device according to the first aspect, the slider includes a chip positioning means for positioning the chip.

請求項3に記載の発明は、請求項1から請求項2までのいずれかに記載のチップ供給装置を備えたチップ実装装置である。   A third aspect of the present invention is a chip mounting apparatus including the chip supply device according to any one of the first to second aspects.

請求項1に記載の発明によれば、チップ移送手段がチップトレイまたはフェイスアップ状態のウエハーからチップを順次取り出して、そのチップをフェイスアップ状態に保持してチップ反転手段に移送する。チップ反転手段は、そのチップを保持して水平方向の軸廻りに回転可能なヘッドが180度回転することにより、チップをフェイスアップ状態に姿勢変換する。姿勢変換されたチップをチップの種類ごとに駆動手段がスライダの搭載位置に位置決めしてスライダが受け取り、そのチップを所定位置に移送してフェイスダウン状態で供給する。以上のように、チップトレイなどからチップ反転手段へのチップ移送と、チップ反転手段から所定位置へのチップ移送とが、チップの種類が違ってもチップ移送手段によって効率よく行われる。   According to the first aspect of the present invention, the chip transfer means sequentially takes out the chips from the chip tray or the wafer in the face-up state, holds the chips in the face-up state, and transfers them to the chip inversion means. The chip reversing means changes the posture of the chip to the face-up state when the head holding the chip and rotating around the horizontal axis rotates 180 degrees. For each type of chip, the driving means positions the chip whose posture has been changed at the slider mounting position, and the slider receives the chip. The chip is transferred to a predetermined position and supplied in a face-down state. As described above, the chip transfer from the chip tray or the like to the chip inverting means and the chip transfer from the chip inverting means to the predetermined position are efficiently performed by the chip transferring means even if the types of chips are different.

請求項2に記載の発明によれば、チップ反転手段からチップを受け取る際、スライダは、チップ位置決め手段でチップを位置決めした後、そのチップをスライダに受け取る。   According to the second aspect of the present invention, when receiving the chip from the chip inverting means, the slider positions the chip by the chip positioning means and then receives the chip on the slider.

請求項3に記載の発明によれば、請求項1に記載のチップ供給装置によって所定位置にフェイスダウン状態で供給されたチップが基板上に実装される。   According to the invention described in claim 3, the chip supplied in a face-down state at a predetermined position by the chip supply device according to claim 1 is mounted on the substrate.

以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。図1は本発明に係るチップ供給装置を備えたチップ実装装置の一実施形態の概略構成を示した斜視図である。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of an embodiment of a chip mounting apparatus provided with a chip supply apparatus according to the present invention.

本実施の形態に係るチップ実装装置は、大きく分けて、装置基台10と、この装置基台10の一端側(図1では左端)に配設された基板供給ユニット20と、装置基台10の奥側に配設されたチップ供給ユニット30と、基板供給ユニット20の隣に配設された導電材料供給ユニット40と、その隣に配設された仮圧着ユニット50と、さらにその隣に配設された本圧着ユニット60と、装置基台10の他端側(図1では右側)に配設された基板収納ユニット70と、装置基台10の手前側に配設された4つの基板搬送機構80A〜80Dとから構成されている。   The chip mounting apparatus according to the present embodiment is roughly divided into an apparatus base 10, a substrate supply unit 20 disposed on one end side (left end in FIG. 1) of the apparatus base 10, and the apparatus base 10. A chip supply unit 30 disposed on the back side of the substrate, a conductive material supply unit 40 disposed adjacent to the substrate supply unit 20, a temporary pressure bonding unit 50 disposed adjacent thereto, and further disposed adjacent thereto. The main crimping unit 60 provided, the substrate storage unit 70 disposed on the other end side (right side in FIG. 1) of the apparatus base 10, and four substrate transports disposed on the front side of the apparatus base 10 It is comprised from mechanism 80A-80D.

基板供給ユニット20は、チップ実装前の複数枚の基板1を一定間隔で多段に収納する基板収納マガジン21と、この基板収納マガジン21から基板1を順に取り出す昇降および水平移動可能な昇降テーブル22とを備えている。また、基板供給ユニット20は、基板1を順に供給可能であれば、その構造は特に限定されず、例えば、複数枚の基板1を水平面内に整列配置したトレイ構造であっても良い。   The substrate supply unit 20 includes a substrate storage magazine 21 that stores a plurality of substrates 1 before chip mounting in multiple stages at regular intervals, and a lift table 22 that can sequentially lift and horizontally move the substrates 1 from the substrate storage magazine 21. It has. Further, the structure of the substrate supply unit 20 is not particularly limited as long as the substrates 1 can be sequentially supplied. For example, the substrate supply unit 20 may have a tray structure in which a plurality of substrates 1 are arranged in a horizontal plane.

チップ供給ユニット30は、図2に示すように、基板1に実装すべき複数個のチップ2Aおよびサイズの異なるチップ2Bをフェイスアップ状態で縦横に整列配置したチップトレイ3Aおよび3Bと、それぞれのチップトレイ3Aおよび3Bからチップ2Aおよび2Bを1個ずつ順に取り出し、そのチップ2Aおよび2Bをフェイスアップ状態で移送するチップ移送機構31Aと、このチップ移送機構31Aからチップ2Aまたは2Bを受け取り、そのチップ2Aまたは2Bを保持してX方向の軸心P周りに回転可能なヘッド33A,33Bが180度回転することにより、そのチップ2Aまたは2Bをフェイスダウン状態に姿勢変換するチップ反転機構32とを備えている。   As shown in FIG. 2, the chip supply unit 30 includes chip trays 3A and 3B in which a plurality of chips 2A to be mounted on a substrate 1 and chips 2B having different sizes are arranged in a vertical and horizontal manner in a face-up state. The chips 2A and 2B are taken out one by one from the trays 3A and 3B one by one, the chip transfer mechanism 31A for transferring the chips 2A and 2B in a face-up state, the chip 2A or 2B is received from the chip transfer mechanism 31A, and the chip 2A Alternatively, a head reversing mechanism 32 that holds 2B and rotates around the axis P in the X direction by rotating the heads 33A and 33B by 180 degrees to change the posture of the chip 2A or 2B to a face-down state is provided. Yes.

チップ搬送機構31Aは具体的には、チップトレイ3Aおよび3Bの一辺に沿う方向(Y方向)に固定レール35Aが設けられており。この固定レール35A上を、X方向に延びる可動レール35Bが走行するようになっている。この可動レール35B上を走行する可動ベース36に上述したチップ移送機構31Aが取り付けられている。チップ移送機構31Aの下端部には、チップを吸着保持するチップ吸着部が設けられている。なお、チップ移送機構31Aは、本発明のチップ移送手段に相当する。   Specifically, the chip transport mechanism 31A is provided with a fixed rail 35A in a direction (Y direction) along one side of the chip trays 3A and 3B. A movable rail 35B extending in the X direction runs on the fixed rail 35A. The tip transfer mechanism 31A described above is attached to the movable base 36 that travels on the movable rail 35B. A chip adsorbing unit that adsorbs and holds the chip is provided at the lower end of the chip transfer mechanism 31A. The chip transfer mechanism 31A corresponds to the chip transfer means of the present invention.

チップ反転機構32は、チップ2A,2Bを吸着保持するヘッド33A,33Bと、ヘッド33A,33BをX方向の軸心P周りに回転させる回転機構37Aと、ヘッド33A,33BをX方向の軸心Pの円周方向に伸縮させる伸縮機構37Bと、回転機構37Aを駆動機構37C上で支持する支持部材37Dと、ヘッド33A,33Bおよび回転機構37AをXY方向に移動させる駆動機構37Cとから構成されている。なお、チップ反転機構32は、本発明のチップ反転手段に相当し、駆動機構37Cは駆動手段に相当する。ヘッド33Aと33Bは軸心Pの円周上で対称な位置に配設されている(ヘッド33Aが回転機構37Aの上側にあるとき、ヘッド33Bは下側となる)。   The chip reversing mechanism 32 includes the heads 33A and 33B that suck and hold the chips 2A and 2B, the rotation mechanism 37A that rotates the heads 33A and 33B around the axis P in the X direction, and the heads 33A and 33B that are in the X direction. An expansion / contraction mechanism 37B that expands and contracts in the circumferential direction of P, a support member 37D that supports the rotation mechanism 37A on the drive mechanism 37C, and a drive mechanism 37C that moves the heads 33A and 33B and the rotation mechanism 37A in the XY directions. ing. The chip reversing mechanism 32 corresponds to the chip reversing means of the present invention, and the driving mechanism 37C corresponds to the driving means. The heads 33A and 33B are disposed at symmetrical positions on the circumference of the axis P (when the head 33A is on the upper side of the rotation mechanism 37A, the head 33B is on the lower side).

ヘッド33A,33Bには吸着孔38が形成されている。吸着孔38は図示しない減圧ポンプとホースを介して連通接続されている。そして、減圧ポンプの作動により吸着孔として作用し、チップ2Aまたは2Bを吸着保持する。回転機構37Aには2つのエアー供給孔39A、39Bが形成されている。エアー供給孔は、図3に示すようにホース39Cを介してポンプ39Hと連通接続されている。エアー供給孔に向かって分岐しているホース39Cの途中には電磁弁E1、E2が設けられており、各電磁弁E1、E2の開閉動作に応じてヘッド33A,33BがX方向の軸心P周りに180度の範囲で左右方向に回転可能に構成されている。伸縮機構37Bにはエアー供給孔39Dが形成されている。エアー供給孔39Dは、図3に示すようにホース39Eを介してポンプ39Hと連通接続されている。エアー供給孔39Dに向かってホース39Eの途中には電磁弁E3が設けられており、電磁弁E3の開動作に応じてヘッド33A,33Bが軸心Pの円周方向にストッパ39Fの位置まで伸びるように構成されている。電磁弁E3が閉動作すると、ストッパ39Fと伸縮機構37Bの間に設けられているバネ39Gのバネ力により軸心Pの中心方向に縮むように構成されている。   Adsorption holes 38 are formed in the heads 33A and 33B. The suction hole 38 is connected in communication with a decompression pump (not shown) through a hose. And it acts as an adsorption hole by the operation of the decompression pump, and adsorbs and holds the chip 2A or 2B. Two air supply holes 39A and 39B are formed in the rotation mechanism 37A. As shown in FIG. 3, the air supply hole is connected to the pump 39H through a hose 39C. Solenoid valves E1 and E2 are provided in the middle of the hose 39C branching toward the air supply hole, and the heads 33A and 33B move in the X-direction axis P in accordance with the opening and closing operations of the solenoid valves E1 and E2. It is configured to be rotatable in the left-right direction within a range of 180 degrees around. An air supply hole 39D is formed in the expansion / contraction mechanism 37B. As shown in FIG. 3, the air supply hole 39D is connected to the pump 39H through a hose 39E. An electromagnetic valve E3 is provided in the middle of the hose 39E toward the air supply hole 39D, and the heads 33A and 33B extend to the position of the stopper 39F in the circumferential direction of the axis P according to the opening operation of the electromagnetic valve E3. It is configured as follows. When the electromagnetic valve E3 is closed, it is configured to contract toward the center of the axis P by the spring force of the spring 39G provided between the stopper 39F and the expansion / contraction mechanism 37B.

駆動機構37CはモータM1を正逆回転駆動させることにより、ガイドレール37Eに沿ってねじ送りされチップ反転機構32をX方向に移動するようになっている。また、駆動機構37CはモータM2を正逆回転駆動させることにより、ガイドレール37Fに沿ってねじ送りされチップ反転機構32をY方向に移動するようになっている。   The drive mechanism 37C is screwed along the guide rail 37E to move the tip reversing mechanism 32 in the X direction by driving the motor M1 to rotate forward and backward. The drive mechanism 37C is driven to rotate forward and reverse by the motor M2, thereby being screwed along the guide rail 37F to move the tip reversing mechanism 32 in the Y direction.

スライダ34は装置基台1のY方向に配設された固定レール35Cに沿って往復移動可能に構成されている。スライダ34にはチップ2Aおよび2Bを位置決めするL字型の位置決めプレート34Aが配設されている。なお、位置決めプレート34Aは、本発明のチップ位置決め手段に相当する。スライダ34は待機位置(図2の状態)にあるとき、チップ反転機構32の下側に180度回転したヘッド33A,33Bからチップ2Aおよび2Bをフェイスダウン状態で載置され、そのチップ2Aおよび2Bを仮圧着ユニット50に供給する。チップ2Aおよび2Bを載置する際、スライダ34の位置決めプレート34Aにチップ2Aまたは2Bを押し当てるように、駆動機構37Cがチップ反転機構32をXY方向に動作させる。なお、チップ2Aおよび2Bは、ヘッド33A,33Bに位置ずれが可能なように吸着保持されている。これにより、位置決めプレート34AのL字型の各面にチップ2Aまたは2Bが当接されて、チップ2Aまたは2Bとヘッド33A,33Bのスライダ34における位置が目標とする所定の位置関係に決められる。   The slider 34 is configured to reciprocate along a fixed rail 35 </ b> C disposed in the Y direction of the apparatus base 1. The slider 34 is provided with an L-shaped positioning plate 34A for positioning the chips 2A and 2B. The positioning plate 34A corresponds to the chip positioning means of the present invention. When the slider 34 is in the standby position (the state shown in FIG. 2), the chips 2A and 2B are placed face down from the heads 33A and 33B rotated 180 degrees below the chip reversing mechanism 32, and the chips 2A and 2B. Is supplied to the temporary pressure bonding unit 50. When the chips 2A and 2B are placed, the drive mechanism 37C operates the chip reversing mechanism 32 in the XY directions so that the chip 2A or 2B is pressed against the positioning plate 34A of the slider 34. The chips 2A and 2B are held by suction so that the heads 33A and 33B can be displaced. Thus, the chip 2A or 2B is brought into contact with each L-shaped surface of the positioning plate 34A, and the positions of the chip 2A or 2B and the heads 33A and 33B on the slider 34 are determined to have a predetermined predetermined positional relationship.

その際、チップ1Aおよび1Bはその下面が、 スライダ34の上面に接触しないような高さに(ボンディング面が非接触の状態で)ヘッド33A,33Bに吸着保持されているので、チップ2Aおよび2Bのボンディングしようとする方の面(ボンディング面)、すなわち、下面の損傷を防止することができる。   At this time, since the lower surfaces of the chips 1A and 1B are held by the heads 33A and 33B so as not to contact the upper surface of the slider 34 (with the bonding surface not in contact), the chips 2A and 2B It is possible to prevent damage to the surface to be bonded (bonding surface), that is, the lower surface.

第1図に戻って、導電材料供給ユニット40は、基板供給ユニット20から搬送されてきた基板1を水平姿勢で保持する可動テーブル41と、基板1にチップ1Aを実装する部位であるボンディング部位1aと、基板1にチップ1Bを実装する部位であるボンディング部位1bとに異方導電性フイルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)から導電材料を各部位に転写する、フイルム幅の異なる2つのヘッド42A、42Bを備えている。可動テーブル41は、基板1を吸着保持する基板保持ステージ43を備え、この基板保持ステージ43が水平2軸(X,Y)方向および上下(Z)方向に移動自在に構成されている。基板1の一端である各ボンディング部位1a、1bは基板保持ステージ43から前方に延び出ている。ヘッド42A,42Bの下方には、異方導電性フイルムを転写するときに、基板1のボンディング部位1a,1bを下側から支持する固定部材であるバックアップ44が配設されている。   Returning to FIG. 1, the conductive material supply unit 40 includes a movable table 41 that holds the substrate 1 conveyed from the substrate supply unit 20 in a horizontal posture, and a bonding portion 1a that is a portion on which the chip 1A is mounted on the substrate 1. And two heads 42A and 42B having different film widths, which transfer a conductive material from an anisotropic conductive film (ACF) to each part to a bonding part 1b which is a part where the chip 1B is mounted on the substrate 1. It has. The movable table 41 includes a substrate holding stage 43 that holds the substrate 1 by suction, and the substrate holding stage 43 is configured to be movable in two horizontal axes (X, Y) and up and down (Z). Each bonding part 1 a, 1 b that is one end of the substrate 1 extends forward from the substrate holding stage 43. Below the heads 42A and 42B, there is disposed a backup 44 which is a fixing member for supporting the bonding portions 1a and 1b of the substrate 1 from below when transferring the anisotropic conductive film.

なお、この異方性導電性フイルムは接着・導電・絶縁という3つの機能を同時にもつ接続材料で、熱圧着することにより、膜の厚み方向には導電性、面方向には絶縁性という電気的異方性をもつ高分子膜であり、接着性のあるバインダー内に導電粒子が混在している。   This anisotropic conductive film is a connecting material that has the three functions of adhesion, conduction and insulation at the same time. By thermocompression bonding, it is electrically conductive in the thickness direction of the film and insulative in the surface direction. It is a polymer film having anisotropy, and conductive particles are mixed in an adhesive binder.

仮圧着ユニット50は、導電材料供給ユニット40から搬送されてきた基板1を水平姿勢で保持する可動テーブル51と、導電材料が転写された基板1の各ボンディング部位1a、1bにチップ2Aおよびチップ2Bを仮圧着する仮圧着する仮圧着ヘッド52と、仮圧着時に基板1とチップ2Aおよびチップ2Bとの位置合わせを行う上下2方向の認識視野をもつ2視野の認識手段(例えば、2視野カメラ)53とを備えている。   The temporary press-bonding unit 50 includes a movable table 51 that holds the substrate 1 conveyed from the conductive material supply unit 40 in a horizontal posture, and chips 2A and 2B on the bonding portions 1a and 1b of the substrate 1 to which the conductive material is transferred. A two-field recognition means (for example, a two-field camera) having a two-field recognition field for aligning the substrate 1 with the chip 2A and the chip 2B at the time of the temporary pressure bonding. 53.

また、仮圧着ヘッド52の下方にバックアップ55が固定設置されている。可動テーブル51は、基板1を吸着保持する基板保持ステージ54を備え、この基板保持ステージ54が水平2軸(X,Y)方向、上下(Z)方向、およびZ軸周り(θ)方向に、それぞれ移動自在に構成されている。   In addition, a backup 55 is fixedly installed below the temporary pressure bonding head 52. The movable table 51 includes a substrate holding stage 54 that holds the substrate 1 by suction, and the substrate holding stage 54 is arranged in two horizontal axes (X, Y), up and down (Z), and around the Z axis (θ). Each is configured to be freely movable.

仮圧着ヘッド52は昇降自在であって、チップ供給ユニット30の スライダ34で移送されてきたフェイスダウン状態のチップ2A、2Bを下端に吸着保持し、このチップ2A、2Bを加熱して所定圧力で基板1のボンディング部位1a、1bに押しつける。これにより接着剤が半硬化状態になって、チップ2A、2Bが基板1に仮圧着される。なお、仮圧着ヘッド52の保持構造は吸着式に限らず、静電気を使った静電吸着、磁石を使った磁気吸着など、任意の保持構造を用いることもできる。   The temporary press-bonding head 52 is movable up and down, and holds the chips 2A and 2B in the face-down state, which are transferred by the slider 34 of the chip supply unit 30, at the lower end, and heats the chips 2A and 2B by a predetermined pressure. The substrate 1 is pressed against the bonding parts 1a and 1b. As a result, the adhesive is in a semi-cured state, and the chips 2A and 2B are temporarily bonded to the substrate 1. The holding structure of the temporary press-bonding head 52 is not limited to an adsorption type, and any holding structure such as electrostatic adsorption using static electricity or magnetic adsorption using magnets can be used.

図1に戻り、2視野の認識手段53は、水平2軸(X,Y)方向および上下(Z)方向に移動可能であって、仮圧着ヘッド52に吸着保持されたチップ2Aおよび2Bの認識マークと、可動テーブル51上に移送された基板1の認識マークとをそれぞれ認識して、両認識マークの位置ズレを検出する。この位置ズレを無くすように仮圧着時に可動テーブルがX,Yおよびθ方向に駆動制御される。   Returning to FIG. 1, the two-field recognition means 53 is movable in two horizontal (X, Y) directions and up and down (Z) directions, and recognizes the chips 2 </ b> A and 2 </ b> B sucked and held by the temporary pressure bonding head 52. The mark and the recognition mark of the substrate 1 transferred onto the movable table 51 are respectively recognized, and the positional deviation between the both recognition marks is detected. The movable table is driven and controlled in the X, Y, and θ directions during provisional pressure bonding so as to eliminate this positional deviation.

本圧着ユニット60は2つの本圧着ブロック60A、60Bからなり、各本圧着ブロック60A,60Bは、仮圧着ユニット50から搬送されてきた基板1を水平姿勢で保持する可動テーブル61A,61Bと、基板1の各ボンディング部位1a,1bに各実装部材を本圧着する本圧着ヘッド62A,62Bとを備えている。各本圧着ヘッド62A,62Bのそれぞれの下方にバックアップ63A,63Bが固定設置されている。また、可動テーブル61A,61Bは導電材料供給ユニット40の可動テーブル41と同様の基板保持ステージ64A,64Bを備えている。さらに、各本圧着ブロック60A,60Bは、本圧着ヘッド62Aでチップ2Aを、本圧着ヘッド62Bでチップ2Bを加圧するときに、基板1に付着された導電材料に含まれる接着剤が各本圧着ヘッド62A,62Bに付着するのを防止するために、フッソ樹脂製の保護テープTを供給する機構をそれぞれの本圧着ブロック60A,60Bに備えている。保護テープTは、本圧着ユニット60の本体フレームに取り付けられた供給ローラ65A,65Bから繰り出されて、巻き取りローラ66A,66Bに巻き取られる。なお、本実施例では、本圧着ブロック60Aでチップ2Aを本圧着し、その後に基板1に本圧着ブロック60Bに搬送し、チップ2Bの本圧着を行う。   The main crimping unit 60 includes two main crimping blocks 60A and 60B. The main crimping blocks 60A and 60B each include a movable table 61A and 61B that holds the substrate 1 conveyed from the temporary crimping unit 50 in a horizontal posture, and a substrate. 1 is provided with main pressure-bonding heads 62A and 62B for main-bonding each mounting member to each bonding portion 1a and 1b. Backups 63A and 63B are fixedly installed below the main pressure bonding heads 62A and 62B, respectively. The movable tables 61A and 61B include substrate holding stages 64A and 64B similar to the movable table 41 of the conductive material supply unit 40. Further, in each of the main press-bonding blocks 60A and 60B, when the chip 2A is pressed by the main press-bonding head 62A and the chip 2B is pressed by the main press-bonding head 62B, the adhesive contained in the conductive material attached to the substrate 1 is subjected to the main press-bonding. In order to prevent the heads 62A and 62B from adhering to the heads 62A and 62B, the main pressure-bonding blocks 60A and 60B are provided with a mechanism for supplying a protective tape T made of fluorine resin. The protective tape T is unwound from supply rollers 65A and 65B attached to the main body frame of the main pressure bonding unit 60, and is wound around the winding rollers 66A and 66B. In this embodiment, the chip 2A is finally pressure-bonded by the main pressure-bonding block 60A, and then the chip 2B is conveyed to the main pressure-bonding block 60B on the substrate 1 and the chip 2B is finally pressure-bonded.

基板収納ユニット70は、各実装部材の実装された複数枚の基板1を一定間隔で多段に収納する基板収納マガジン71と、この基板収納マガジン71に基板1を順に収納する昇降および水平移動可能な昇降テーブル72とを備えている。この基板収納マガジン71に代えて、基板供給ユニット20で説明したと同様に、トレイ構造の収納構造を備えてもよい。また、基板供給ユニット20と基板収納ユニット70とは必ずしも個別である必要はなく、これらを単一のユニットとして、チップ2A,2Bが実装された基板1を元の基板供給ユニットに戻すようにしてもよい。   The substrate storage unit 70 is capable of moving up and down and horizontally moving the substrate storage magazine 71 that stores a plurality of substrates 1 mounted with each mounting member in multiple stages at regular intervals, and that sequentially stores the substrates 1 in the substrate storage magazine 71. Elevating table 72 is provided. Instead of the substrate storage magazine 71, a tray structure storage structure may be provided as described in the substrate supply unit 20. Further, the substrate supply unit 20 and the substrate storage unit 70 do not necessarily have to be separate. By using these as a single unit, the substrate 1 on which the chips 2A and 2B are mounted is returned to the original substrate supply unit. Also good.

基板搬送機構80A〜80Dは、装置基台10の長手方向に配設されたレール81と、このレール81に沿って走行する支柱82と、この支柱82に昇降自在に取り付けられて基板1を吸着保持する基板保持具83とを備えている。   The substrate transport mechanisms 80A to 80D are attached to the rail 81 arranged in the longitudinal direction of the apparatus base 10, the support 82 that runs along the rail 81, and the support 82 that can be moved up and down to adsorb the substrate 1. And a substrate holder 83 to be held.

次に上述した構成を備えたチップ実装装置の動作を説明する。   Next, the operation of the chip mounting apparatus having the above-described configuration will be described.

基板搬送機構80Aは、基板供給ユニット20から処理対象の基板1を取り出して、この基板1を導電材料供給ユニット40に搬送する。この基板1は可動テーブル41の基板保持ステージ43上に移載されて吸着保持される。基板保持ステージ43が前方(Y方向)に移動して、基板1のボンディング部位をバックアップ44上に載せる。   The substrate transport mechanism 80A takes out the substrate 1 to be processed from the substrate supply unit 20 and transports the substrate 1 to the conductive material supply unit 40. The substrate 1 is transferred onto the substrate holding stage 43 of the movable table 41 and held by suction. The substrate holding stage 43 moves forward (Y direction), and the bonding portion of the substrate 1 is placed on the backup 44.

基板1のチップ2Aを実装するボンディング部位1aがバックアップ44によって水平に支持された状態で、ヘッド42Aが下降しボンディング部位1a上にチップ2Aの電極幅に応じた導電材料が転写される。その後、基板1を図中の右水平方向に移動させてチップ2Bを実装するボンディング部位1bに位置合わせを行い、ヘッド42Bを下降しチップ2Bの電極幅に応じた導電材料をボンディング部位1bに転写する。各ボンディング部位1a,1bへの導電材料の転写が終わると、基板保持ステージ43が基板1の受け渡し位置に水平移動する。受け渡し位置に戻された基板1は基板搬送機構80Bによって、仮圧着ユニット50に搬送される。   In a state where the bonding part 1a for mounting the chip 2A on the substrate 1 is horizontally supported by the backup 44, the head 42A is lowered and a conductive material corresponding to the electrode width of the chip 2A is transferred onto the bonding part 1a. Thereafter, the substrate 1 is moved to the right horizontal direction in the figure to align with the bonding part 1b where the chip 2B is mounted, and the head 42B is lowered to transfer the conductive material corresponding to the electrode width of the chip 2B to the bonding part 1b. To do. When the transfer of the conductive material to each bonding site 1a, 1b is completed, the substrate holding stage 43 moves horizontally to the delivery position of the substrate 1. The substrate 1 returned to the delivery position is transported to the temporary pressure bonding unit 50 by the substrate transport mechanism 80B.

仮圧着ユニット50に搬送された基板1は可動テーブル51の基板保持ステージ54上に移載されて吸着保持される。基板保持ステージ54が前方(Y方向)に移動して、先ず基板1のボンディング部位1aをバックアップ55上に位置させる。   The substrate 1 transported to the temporary pressure bonding unit 50 is transferred onto the substrate holding stage 54 of the movable table 51 and held by suction. The substrate holding stage 54 moves forward (Y direction), and the bonding portion 1 a of the substrate 1 is first positioned on the backup 55.

一方、チップ供給ユニット30では、可動レール35Bと可動ベース36とがX,Y方向にそれぞれ移動することにより、チップ移送機構31Aがチップトレイ3Aの所定のチップ2A上に移動する。続いてチップ移送機構31Aが下降して、チップトレイ3A内のチップ2Aをチップ吸着部で吸着保持する。チップ移送機構31Aが上昇してチップ2Aをチップトレイ3Aから取り出した後、可動レール35Bと可動ベース36とがX,Y方向にそれぞれ移動することにより、チップ移送機構31Aがチップ反転機構32上に移動する。このときチップ反転機構32のヘッド33Aが軸心Pの上方を向いた待機姿勢(図2に示す状態)にある。また、ヘッド33A,33Bは電磁弁E3を開放させ伸縮機構37Bにより軸心Pの円周方向に伸び、ストッパ39Fに当て止めされた状態にある。   On the other hand, in the chip supply unit 30, when the movable rail 35B and the movable base 36 move in the X and Y directions, the chip transfer mechanism 31A moves onto the predetermined chip 2A on the chip tray 3A. Subsequently, the chip transfer mechanism 31A descends, and the chips 2A in the chip tray 3A are sucked and held by the chip suction portion. After the chip transfer mechanism 31A rises and the chip 2A is taken out from the chip tray 3A, the movable rail 35B and the movable base 36 move in the X and Y directions, respectively, so that the chip transfer mechanism 31A is placed on the chip reversing mechanism 32. Moving. At this time, the head 33A of the chip reversing mechanism 32 is in a standby posture (state shown in FIG. 2) with the axis P facing upward. Further, the heads 33A and 33B are in a state in which the electromagnetic valve E3 is opened and extended in the circumferential direction of the shaft center P by the expansion / contraction mechanism 37B and is stopped against the stopper 39F.

チップ反転機構32のヘッド33Aにチップ2Aが載置されて吸着保持されると、電磁弁E3を閉じ伸縮機構37Bのバネ39Gによりヘッド33A,33Bは軸心Pの中心方向に縮む。続いて、電磁弁E1を開放しE2を閉じると、ヘッド33A,33Bが回転機構37Aにより軸心P周りに180度回転しフェイスアップ状態のチップ2Aをフェイスダウン状態に姿勢変換する。反転したチップ反転機構32のヘッド33Aの下にスライダ34が進入する。   When the chip 2A is placed and sucked and held on the head 33A of the chip reversing mechanism 32, the electromagnetic valve E3 is closed and the heads 33A and 33B are contracted in the center direction of the axis P by the spring 39G of the expansion / contraction mechanism 37B. Subsequently, when the electromagnetic valve E1 is opened and E2 is closed, the heads 33A and 33B are rotated 180 degrees around the axis P by the rotation mechanism 37A to change the posture of the face-up chip 2A to the face-down state. The slider 34 enters under the head 33A of the inverted chip reversing mechanism 32.

続いて、電磁弁E3を開放すると、チップ反転機構32の伸縮機構37Bによりヘッド33A,33Bが軸心Pの円周方向に伸びストッパ39Fに当て止めされる。伸びた状態で、チップ2Aの角部がスライダ34に配設されている位置決めプレート34Aに接触する高さとなる。駆動機構37CがX,Y方向に動作し、チップ2Aの角部が位置決めプレート34Aに当接することにより、チップ2Aを位置決めする。位置決めが完了すると、チップ2Aの吸着保持が解除され、チップ2Aがヘッド33Aから スライダ34に受け渡される。チップ2Aの受け渡しが完了すると、駆動機構37Cは待機位置に戻る。   Subsequently, when the electromagnetic valve E3 is opened, the heads 33A and 33B extend in the circumferential direction of the axis P by the expansion / contraction mechanism 37B of the chip reversing mechanism 32 and are stopped against the stopper 39F. In the extended state, the corners of the chip 2 </ b> A are in contact with the positioning plate 34 </ b> A disposed on the slider 34. The drive mechanism 37C operates in the X and Y directions, and the corners of the chip 2A come into contact with the positioning plate 34A, thereby positioning the chip 2A. When the positioning is completed, the suction holding of the chip 2A is released, and the chip 2A is transferred from the head 33A to the slider 34. When the delivery of the chip 2A is completed, the drive mechanism 37C returns to the standby position.

チップ2Aの反転・受け渡しが行われている間、チップ搬送機構31Aは、チップ2Bをトレイ3Bから取り出している。駆動機構37Cが待機位置に戻ると、搬送機構31Aがチップ反転機構32のヘッド33Bの上方に移動する。   While the chip 2A is being reversed / delivered, the chip transport mechanism 31A takes out the chip 2B from the tray 3B. When the drive mechanism 37C returns to the standby position, the transport mechanism 31A moves above the head 33B of the chip reversing mechanism 32.

チップ搬送機構31Aはチップ吸着部に保持していたチップ2Bを反転機構32のヘッド33Bに載置されて吸着保持される。このように、チップ搬送機構31Aとチップ反転機構32の動作を同時並列して行うことができるので、装置の処理効率を向上させることができる。   The chip transport mechanism 31 </ b> A places the chip 2 </ b> B held in the chip suction unit on the head 33 </ b> B of the reversing mechanism 32 and sucks and holds it. Thus, since the operations of the chip transport mechanism 31A and the chip reversing mechanism 32 can be performed simultaneously in parallel, the processing efficiency of the apparatus can be improved.

チップ2Aをフェイスダウン状態で受け取った スライダ34は仮圧着ユニット50に向けて移動し、そのチップ2Aを仮圧着ヘッド52の下方にまで移送する。その間、チップ反転機構32は、チップ2Aと同じ手順でチップ2Bの反転を行う。   The slider 34 that has received the chip 2 </ b> A in the face-down state moves toward the temporary press-bonding unit 50, and transfers the chip 2 </ b> A to below the temporary press-bonding head 52. Meanwhile, the chip reversing mechanism 32 performs the reversal of the chip 2B in the same procedure as the chip 2A.

スライダ34で移送されたチップ2Aを仮圧着ヘッド52が吸着保持する。( スライダ34は受け渡しが完了すると、チップ反転機構32のヘッド33Bの下側に戻る。)続いて、仮圧着ヘッド52とバックアップ55で支持された基板1のボンディング部位1aとの間に2視野の認識手段53が進出してきて、仮圧着ヘッド52に吸着保持されたチップ2Aと基板1との位置ズレを検出する。この位置ズレを無くすように可動テーブル51がX,Yおよびθ方向に制御されて、チップ2Aと基板1の位置合わせが行われる。位置合わせが終わると、2視野の認識手段53は元の位置まで後退する。続いて、仮圧着ヘッド52が下降して、導電材料が転写された基板1のボンディング部位1aにチップ2Aを仮圧着する。    The temporary press-bonding head 52 sucks and holds the chip 2 </ b> A transferred by the slider 34. (When the transfer is completed, the slider 34 returns to the lower side of the head 33B of the chip reversing mechanism 32.) Subsequently, two fields of view are provided between the temporary press-bonding head 52 and the bonding portion 1a of the substrate 1 supported by the backup 55. The recognizing means 53 advances and detects a positional deviation between the chip 2A sucked and held by the temporary pressure bonding head 52 and the substrate 1. The movable table 51 is controlled in the X, Y, and θ directions so as to eliminate this positional deviation, and the chip 2A and the substrate 1 are aligned. When the alignment is completed, the two-field recognition means 53 moves back to the original position. Subsequently, the temporary pressure bonding head 52 is lowered to temporarily pressure-bond the chip 2A to the bonding portion 1a of the substrate 1 to which the conductive material is transferred.

チップ2Aの仮圧着が終わると、 スライダ34で移送されてきたチップ2Bが仮圧着ヘッド52に吸着保持される。続いて、仮圧着ヘッド52とバックアップ55で支持された基板1のボンディング部位1bとの間に2視野の認識手段53が進出してきて、仮圧着ヘッド52に吸着保持されたチップ2Bと基板1の位置ズレを検出する。この位置ズレを無くすように可動テーブル51がX,Yおよびθ方向に制御されて、チップ2Bと基板1との位置合わせが行われる。位置合わせが終わると、2視野の認識手段53は元の位置まで後退する。続いて、仮圧着ヘッド52が下降して、導電材料が転写された基板1のボンディング部位1bにチップ2Bを仮圧着する。   When the temporary pressure bonding of the chip 2A is completed, the chip 2B transferred by the slider 34 is sucked and held by the temporary pressure bonding head 52. Subsequently, a two-view recognition means 53 advances between the temporary press-bonding head 52 and the bonding portion 1b of the substrate 1 supported by the backup 55, and the chip 2B and the substrate 1 held by the temporary press-bonding head 52 are held by suction. Detect misalignment. The movable table 51 is controlled in the X, Y, and θ directions so as to eliminate this positional deviation, and the alignment between the chip 2B and the substrate 1 is performed. When the alignment is completed, the two-field recognition means 53 moves back to the original position. Subsequently, the temporary pressure bonding head 52 is lowered to temporarily pressure-bond the chip 2B to the bonding portion 1b of the substrate 1 to which the conductive material is transferred.

両実装部材の仮圧着が終了すると、基板保持ステージ54が基板1の受け渡し位置に水平移動する。受け渡し位置に移動した基板は基板搬送機構80Cによって、本圧着ユニット60に搬送される。   When the temporary pressure bonding of both the mounting members is completed, the substrate holding stage 54 moves horizontally to the delivery position of the substrate 1. The substrate that has moved to the delivery position is transported to the main pressure bonding unit 60 by the substrate transport mechanism 80C.

本圧着ブロック60Aに搬送された基板1は可動テーブル61Aの基板保持ステージ64A上に移載されて吸着保持される。基板保持ステージ64Aが前方(Y方向)に移動して、基板1のボンディング部位1aをバックアップ63A上に位置させる。ボンディング部位1aがバックアップ63Aで支持されると、本圧着ヘッド62Aが下降して、仮圧着されたチップ2Aを保護テープTを介して加熱および加圧する。これによりチップ2Aのバンプが導電材料を介して基板1の電極に電気的に接続する。   The substrate 1 transported to the main press-bonding block 60A is transferred and held on the substrate holding stage 64A of the movable table 61A. The substrate holding stage 64A moves forward (Y direction), and the bonding portion 1a of the substrate 1 is positioned on the backup 63A. When the bonding part 1a is supported by the backup 63A, the main pressure-bonding head 62A descends, and the temporarily pressure-bonded chip 2A is heated and pressurized via the protective tape T. As a result, the bumps of the chip 2A are electrically connected to the electrodes of the substrate 1 through the conductive material.

チップ2Aの本圧着が終わると、基板保持ステージ64が基板1の受け渡し位置に水平移動する。受け渡し位置に移動した基板1は基板搬送機構80Cで移送されて本圧着ブロック60Bに搬送される。   When the final pressure bonding of the chip 2A is completed, the substrate holding stage 64 moves horizontally to the delivery position of the substrate 1. The substrate 1 moved to the delivery position is transferred by the substrate transfer mechanism 80C and transferred to the main press block 60B.

本圧着ブロック60Bに搬送された基板1は可動テーブル61Bの基板保持ステージ64B上に移載されて吸着保持される。基板保持ステージ64Bが前方(Y方向)に移動して、基板1のボンディング部位1bをバックアップ63B上に位置させる。ボンディング部位1bがバックアップ63Bで支持されると、本圧着ヘッド62Bが下降して、仮圧着されたチップ2Bを保護テープTを介して加熱および加圧する。これによりチップ2Bのバンプが導電材料を介して基板1の電極に電気的に接続する。   The substrate 1 conveyed to the main press-bonding block 60B is transferred and held on the substrate holding stage 64B of the movable table 61B. The substrate holding stage 64B moves forward (Y direction), and the bonding portion 1b of the substrate 1 is positioned on the backup 63B. When the bonding part 1b is supported by the backup 63B, the main pressure bonding head 62B is lowered, and the temporarily pressure-bonded chip 2B is heated and pressurized via the protective tape T. As a result, the bumps of the chip 2B are electrically connected to the electrodes of the substrate 1 through the conductive material.

チップ2Bの本圧着が終わると、基板保持ステージ64Bが基板1の受け渡し位置に水平移動する。受け渡し位置に移動して基板1は基板搬送機構80Dで移送されて基板収納ユニット70の昇降テーブル72に受け渡され、この昇降テーブル72によって基板収納マガジン71に収納される。   When the final press-bonding of the chip 2B is completed, the substrate holding stage 64B moves horizontally to the delivery position of the substrate 1. After moving to the delivery position, the substrate 1 is transferred by the substrate transport mechanism 80D and transferred to the lifting table 72 of the substrate storage unit 70, and is stored in the substrate storage magazine 71 by the lifting table 72.

以上で一枚の基板のチップ実装が終了する。なお、基板1が仮圧着ユニット50でチップ2A,2Bを仮圧着されている間に、導電材料供給ユニット40では次の基板1へ導電材料が転写されている。このように各ユニットでは基板1への導電材料の転写、チップ2A,2Bの仮圧着、チップ2A,2Bの本圧着が並列して行われている。また、仮圧着ユニット50から搬送される基板1は、各1組の本圧着ブロック60A,60Bのタクトタイムを調整して基板1の処理が滞ることなくスムーズに処理できるようにしている。   This completes the chip mounting of one substrate. The conductive material is transferred to the next substrate 1 in the conductive material supply unit 40 while the substrate 1 is temporarily pressure-bonded to the chips 2A and 2B by the temporary pressure bonding unit 50. As described above, in each unit, the transfer of the conductive material to the substrate 1, the provisional pressure bonding of the chips 2A and 2B, and the main pressure bonding of the chips 2A and 2B are performed in parallel. Further, the substrate 1 transported from the temporary press-bonding unit 50 can be processed smoothly without delaying the processing of the substrate 1 by adjusting the tact time of each pair of main press-bonding blocks 60A and 60B.

上述の本実施の形態に係るチップ実装装置は、チップ反転機構32を駆動機構37CによってX,Y方向に水平移動することことができる。これにより、 スライダ34の位置決めプレート34Aにチップ2Aおよび2Bの角部が当接し、チップ2Aおよび2Bを位置決めできる。従って、チップの種類が違ってもチップの移送が効率よく行うことができる。   In the chip mounting apparatus according to the above-described embodiment, the chip reversing mechanism 32 can be horizontally moved in the X and Y directions by the driving mechanism 37C. Thereby, the corner | angular part of chip | tip 2A and 2B contact | abuts to the positioning plate 34A of the slider 34, and chip | tip 2A and 2B can be positioned. Therefore, even if the type of chip is different, the chip can be transferred efficiently.

なお、本発明は上述した実施の形態に限らず、次のように変形実施することができる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be modified as follows.

(1)上記実施の形態では、処理効率を上げるために圧着ユニットを仮圧着ユニット50と本圧着ユニット60との2つのユニットに分割したが、チップの位置合わせと電気的接続を一つの圧着ユニットで行うようにしてもよい。   (1) In the above embodiment, the crimping unit is divided into two units of the temporary crimping unit 50 and the main crimping unit 60 in order to increase the processing efficiency. However, the chip alignment and electrical connection are performed by one crimping unit. You may make it carry out.

(2)本発明に係るチップ実装装置は、チップ搭載のための単なるマウント装置や、加熱加圧プロセスを有したボンディング装置など、種々の形態のものを含む。   (2) The chip mounting apparatus according to the present invention includes various forms such as a simple mounting apparatus for chip mounting and a bonding apparatus having a heating and pressing process.

(3)実施の形態では、チップ2A,2Bをフェイスアップ状態でチップトレイ3A,3Bに収納したが、本発明はこれに限らず、ウエハをダイシングした状態で、かつフェイスアップで供給してもよい。   (3) In the embodiment, the chips 2A and 2B are stored in the chip trays 3A and 3B in the face-up state. However, the present invention is not limited to this, and the wafer may be diced and supplied face-up. Good.

本実施の形態に係るチップ実装装置の斜視図である。It is a perspective view of the chip mounting apparatus concerning this embodiment. チップ供給ユニットの概略構成を示した斜視図である。It is the perspective view which showed schematic structure of the chip | tip supply unit. チップ反転機構の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of a chip | tip inversion mechanism.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
10 装置基台
1a ボンディング部位
1b ボンディング部位
20 基板供給ユニット
21 基板収納マガジン
22 昇降テーブル
2A チップ
2B チップ
30 チップ供給ユニット
32 チップ反転機構
34 スライダ
36 可動ベース
38 吸着孔
3A チップトレイ
3B チップトレイ
40 導電材料供給ユニット
41 可動テーブル
43 基板保持ステージ
44 バックアップ
50 仮圧着ユニット
51 可動テーブル
52 仮圧着ヘッド
53 2視野の認識手段
54 基板保持ステージ
55 バックアップ
60 本圧着ユニット
70 基板収納ユニット
71 基板収納マガジン
72 昇降テーブル
81 レール
82 支柱
83 基板保持具
E1 電磁弁
E2 電磁弁
E3 電磁弁
M1 モータ
M2 モータ
31A チップ移送機構
33A ヘッド
33B ヘッド
34A 位置決めプレート
35A 固定レール
35B 可動レール
35C 固定レール
37A 回転機構
37B 伸縮機構
37C 駆動機構
37D 支持部材
37E ガイドレール
37F ガイドレール
39A 供給孔
39B 供給孔
39C ホース
39D 供給孔
39E ホース
39F ストッパ
39G バネ
39H ポンプ
42A ヘッド
42B ヘッド
60A 本圧着ブロック
60B 本圧着ブロック
61A 可動テーブル
61B 可動テーブル
62A 本圧着ヘッド
62B 本圧着ヘッド
63A バックアップ
63B バックアップ
64A 基板保持ステージ
64B 基板保持ステージ
65A 供給ローラ
65B 供給ローラ
66A 巻き取りローラ
66B 巻き取りローラ
80A 基板搬送機構
80B 基板搬送機構
80C 基板搬送機構
80D 基板搬送機構
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 10 Device base 1a Bonding part 1b Bonding part 20 Substrate supply unit 21 Substrate storage magazine 22 Lifting table 2A Chip 2B Chip 30 Chip supply unit 32 Chip reversing mechanism 34 Slider 36 Movable base 38 Adsorption hole 3A Chip tray 3B Chip tray 40 Conductive material supply unit 41 Movable table 43 Substrate holding stage 44 Backup 50 Temporary pressure bonding unit 51 Movable table 52 Temporary pressure bonding head 53 Two-field recognition means 54 Substrate holding stage 55 Backup 60 Main pressure bonding unit 70 Substrate storage unit 71 Substrate storage magazine 72 Elevation Table 81 Rail 82 Post 83 Board holder E1 Solenoid valve E2 Solenoid valve E3 Solenoid valve M1 Motor M2 Motor 31A Chip transfer mechanism 33A Head 3B Head 34A Positioning plate 35A Fixed rail 35B Movable rail 35C Fixed rail 37A Rotating mechanism 37B Telescopic mechanism 37C Drive mechanism 37D Support member 37E Guide rail 37F Guide rail 39A Supply hole 39B Supply hole 39C Hose 39D Supply hole 39E Hose 39F Stopper 39F Pump 42A Head 42B Head 60A Main press block 60B Main press block 61A Movable table 61B Movable table 62A Main press head 62B Main press head 63A Backup 63B Backup 64A Substrate holding stage 64B Substrate holding stage 65A Supply roller 65B Supply roller 66A Take-up roller 66B Winding roller 80A Substrate transport mechanism 80B Substrate transport mechanism 80C Substrate transport mechanism 80 The substrate transport mechanism

Claims (3)

複数個のチップをフェイスアップ状態で収納したチップトレイまたはフェイスアップ状態のウエハーからチップを順次取り出して姿勢変換し、そのチップを所定位置にフェイスダウン状態で供給するチップ供給装置であって、前記チップトレイ内またはフェイスアップ状態のウエハーのチップを順次取り出し、そのチップをフェイスアップ状態で保持して移送するチップ移送手段と、前記チップ移送手段からチップを受け取り、そのチップを保持して水平方向の軸廻りに回転可能なヘッドが180度回転することにより、そのチップをフェイスダウン状態に姿勢変換するチップ反転手段と、前記チップ反転手段を相対的に水平移動させる駆動手段と、前記チップ反転手段からチップを受け取り、そのチップをチップの種類ごとに位置決めしてフェイスダウン状態で保持して移送することにより、そのチップを所定の位置に供給するスライダとを備えたことを特徴とするチップ供給装置。   A chip supply device that sequentially takes out chips from a chip tray or a wafer in a face-up state and stores the chips in a face-up state, and supplies the chips to a predetermined position in a face-down state. Chips of wafers in the tray or face-up state are sequentially taken out, chip transfer means for holding and transferring the chips in the face-up state, and receiving a chip from the chip transfer means, holding the chip and holding a horizontal axis A reversing head rotates 180 degrees to change the posture of the chip into a face-down state, a driving means for relatively moving the chip reversing means, and a chip reversing means to a chip. And position the chip by chip type By transferring the held in Eisudaun state, the chip supply apparatus characterized by comprising a slider supplying the chip in place. 請求項1に記載のチップ供給装置において、前記スライダは、チップを位置決めするチップ位置決め手段を備えているチップ供給装置。   2. The chip supply apparatus according to claim 1, wherein the slider includes chip positioning means for positioning the chip. 請求項1から請求項2までのいずれかに記載のチップ供給装置を備えたチップ実装装置。   A chip mounting apparatus comprising the chip supply apparatus according to claim 1.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009194306A (en) * 2008-02-18 2009-08-27 Juki Corp Parts supply device
JP2012156222A (en) * 2011-01-25 2012-08-16 Panasonic Corp Part mounting device
CN114388390A (en) * 2020-10-22 2022-04-22 均华精密工业股份有限公司 Production equipment and picker

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